CN103091271A - 测定四氟化硅气体中杂质碘含量的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了测定四氟化硅气体中杂质碘含量的方法,包括以下步骤:第一步,配置100mLNaOH或KOH吸收液;第二步,连接好冷冻装置;第三步,用惰性气体置换整个管路中的空气,然后抽真空,反复5次;第四步,将经浓硫酸吸收、含氟化氢的浓硫酸吸收、活性炭、硅藻土净化后的SiF4气体引入冷冻装置,除去HI以及I2;第五步,将冷冻后的SiF4气体引入吸收瓶吸收,控制增重量m;第六步,用紫外分光光度法分析气体中的碘含量。本发明方法用于四氟化硅中杂质碘的分析,可以准确、迅速地测定碘杂质的含量,有利于高纯度四氟化硅的生产。适用于生产四氟化硅的企业。
Description
技术领域
本发明涉及卤化硅,尤其涉及四氟化硅,也涉及碘,具体而言,涉及四氟化硅中杂质碘的测定方法。
背景技术
近年来,四氟化硅作为生产硅烷、晶体硅、非晶体硅、硅氧化物原料的研究与应用方兴未艾,以四氟化硅为原料的新硅烷法为多晶硅行业带来的变革,引起了人们的广泛关注。据测定,磷肥工业中的磷矿石中的碘含量约为0.0057%~0.0076%,在生产过程中,杂质碘以HI的形式存在于湿法磷酸浓缩的副产品氟硅酸中,碘含量在115mg/L左右。在利用氟硅酸和浓硫酸反应生产四氟化硅气体时,部分HI和浓硫酸反应生成碘单质,因此,四氟化硅气体中 碘是以HI和I2单质的状态存在。工业上对四氟化硅的纯化方法有物理法和化学法两大类。物理法主要包括吸附法和冷冻法,其中冷冻法可以除去不凝性杂质。
碘的分析方法主要包括光度法,电化学法等,但光度法居首位。四氟化硅中的碘杂质通过在适度酸度条件下利用溴水定量氧化I-成为IO3 -,过量的溴水用加热、加甲酸钠除去,然后加入过量的KI溶液,使IO3 -和I-反应生成I3 --,其反应方程式可表示为:
3Br2+I-+3H20 = IO3 -+6Br-+6H+
IO3 -+8I-+6H+=3I3 -+3H20
由于I3 -在紫外光区的350nm(288nm)处具有最大吸收峰,有很高的灵敏度,可进行吸光光度的测定。
迄今为止,尚无四氟化硅气体中杂质碘的检测技术的报道。
发明内容
本发明的目的在于提供测定四氟化硅气体中杂质碘含量的方法,为高纯度四氟化硅的生产服务。
为有效地测定四氟化硅气体中的碘含量,发明人提供的测定四氟化硅中的碘含量的方法,包括如下步骤:
第一步,配置100mL NaOH或KOH吸收液;
第二步,连接好冷冻装置;
第三步,用惰性气体置换整个管路中的空气,然后抽真空,反复5次;
第四步,将经浓硫酸吸收、含氟化氢的浓硫酸吸收、活性炭、硅藻土净化后的SiF4气体引入冷冻装置,除去HI以及I2;
第五步,将冷冻后的SiF4气体引入吸收瓶吸收,控制增重量m;
第六步,用紫外分光光度法分析气体中的碘含量。
上述方法的第一步中,所述的NaOH或KOH吸收液的质量分数为20%。
上述方法的第二步中,所述冷冻介质为液氮或冷阱。
上述方法的第三步中,所述的惰性气体为Ar或He。
上述方法的第四步中,所述的冷冻温度控制在-85℃~-40℃之间。
上述方法的第五步中,所述增重量m的控制在用NaOH吸收时≤8.6g,在用KOH吸收时≤6.1g。
根据反应方程式来控制增重量:
SiF4+6NaOH=Na2SiO3+4NaF+3H2O
同上,若吸收液为KOH,则应控制增重量为:
上述方法的第六步中,所述紫外分光光度法的具体操作如下:
(1)用移液管准确量取V1的100ug/mL KI储备液于200mL的棕色容量瓶中,稀释至刻度,得KI=C1ug/mL的KI标准溶液;分别移取KI标准工作溶液0mL,1mL,2mL,3mL,4mL,5mL于50mL的1,2,3,4,5,6号容量瓶中,加少量纯水,然后依次加入5mL的混酸,即4mL浓硫酸与4mL浓磷酸配置的100mL溶液 、1mL含量为100g/L的NaOH或KOH溶液、1mL的NaCl饱和溶液和2mL3%溴水;加入各种试剂后摇匀,置于沸水浴中1~2min,取出;立即加入1滴含量为200g/L 的CHOONa溶液,不能过量;再次置于沸水中加热1~2min,取出在冷水浴中冷却至室温,再加入1mL 含量为10g/L的KI溶液,呈黄色;以1号溶液为参比溶液,在350nm或288nm处测定其紫外吸光光度,得标准曲线;
(2) 吸取V2mL样品于100mL容量品中,定容摇匀,得试样;吸取试样0mL,V3mL试样于50mL容量瓶1、2中,加入V4mL混酸溶液,保证溶液在酸性范围内,摇匀,以下操作同(1)。在波长350nm(288nm)处以1号溶液为空白参比,测定吸光度。
(3) 将(2)中测定的吸光度通过标准曲线查得与之相对应的溶液浓度,通过以下公式计算吸收液中的碘含量以及四氟化硅气体中的碘含量。
吸收液中的碘的质量:
其中,C溶液浓度—由标准曲线查的的值,MI=127g/ml,MKI=166g/ml
发明人指出:大量的实验证明,当碘的浓度小于0.01ug/mL,达到仪器的检测限度,扫描图谱为一条直线。
本发明方法用于四氟化硅中杂质碘的分析,可以准确、迅速地测定碘杂质的含量,有利于高纯度四氟化硅的生产。适用于生产四氟化硅的企业。
具体实施方式
下面的实施例对本发明做进一步说明:
实施例1 吸收经浓硫酸吸收、含氟化氢的浓硫酸吸收、活性炭、硅藻土净化后但未经冷冻的四氟化硅吸收液5.89g ,用紫外分光光度法测定碘含量为0.01%~0.04%;控制经冷冻后的气体吸收液增重5.89g,用紫外分光光度法检测在最大吸光度处无吸收值,进行光谱扫描为一条直线,说明吸收液中碘的含量< 0.01ug/mL,经由V2=50mL、V3=30mL计算,可知样品气中含碘的质量分数量﹤5×10-7,或含碘的体积分数﹤1×10-6(1ppm)。
实施例2 吸收经浓硫酸吸收、含氟化氢的浓硫酸吸收、活性炭、硅藻土净化后但未经冷冻的四氟化硅吸收液6.91g ,用紫外分光光度法测定碘含量为0.01%~0.04%范围;控制经冷冻后的气体吸收液增重6.91g,用紫外分光光度法检测在最大吸光度处无吸收值,进行光谱扫描为一条直线,说明吸收液中碘的含量< 0.01ug/mL,经由V2=50mL、V3=30mL计算,可知样品气中含碘的质量分数量﹤5×10-7,或含碘的体积分数﹤1×10-6(1ppm)。
实施例3 吸收经浓硫酸吸收、含氟化氢的浓硫酸吸收、活性炭、硅藻土净化后但未经冷冻四氟化硅吸收液5.15g,用紫外分光光度法测定碘含量为0.01%~0.04%;控制经冷冻后的气体吸收液增重5.15g,用用紫外分光光度法检测在最大吸光度处无吸收值,进行光谱扫描为一条直线,说明吸收液中碘的含量< 0.01ug/mL,经由V2=50mL、V3=30mL计算,可知样品气中含碘的质量分数量﹤5×10-7,或含碘的体积分数﹤1×10-6(1ppm)。
Claims (7)
1.测定四氟化硅中的碘含量的方法,其特征包括如下步骤:
第一步,配置100mL NaOH或KOH吸收液;
第二步,连接好冷冻装置;
第三步,用惰性气体置换整个管路中的空气,然后抽真空,反复5次;
第四步,将经浓硫酸吸收、含氟化氢的浓硫酸吸收、活性炭、硅藻土净化后的SiF4气体引入冷冻装置,除去HI以及I2;
第五步,将冷冻后的SiF4气体引入吸收瓶吸收,控制增重量m;
第六步,用紫外分光光度法分析气体中的碘含量。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于第一步中,所述的NaOH或KOH吸收液的质量分数为20%。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于第二步中,所述冷冻介质为液氮或冷阱。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于第三步中,所述的惰性气体为氩气或氦气。
5. 如权利要求1所述的方法,其特征在于第四步中,所述的冷冻温度控制在-85℃~-40℃。
6. 如权利要求1所述的方法,其特征在于第五步中,所述增重量m控制在用NaOH吸收时≤8.6g,在用KOH吸收时≤6.1g。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于第六步中,所述紫外分光光度法的具体操作如下:
(1)用移液管准确量取V1的KI储备液与200mL的棕色容量瓶中,稀释至刻度,得KI=C1ug/mL的KI标准溶液1;分别移取KI标准工作溶液0mL,1mL,2mL,3mL,4mL,5mL于50mL的1,2,3,4,5,6号容量瓶中,加少量纯水,然后依次加入5mL的混酸,即4mL浓硫酸与4mL浓磷酸配置的100mL溶液、1mL的NaOH或KOH溶液1、1mL的NaCl饱和溶液和2mL3%溴水;加入各种试剂后摇匀,置于沸水浴中1~2min,取出;立即加入1滴CHOONa溶液,不能过量;再次置于沸水中加热1~3min,取出在冷水浴中冷去至室温,在加入1mL含量为10g/L的KI溶液呈黄色;以1号溶液为参比溶液,在350nm处测定其紫外吸光光光度,得标准曲线1和2;
(2) 吸取V2mL样品于100mL容量品中,定容摇匀,得试样; 吸取试样0mL,V3mL试样于50mL容量瓶1、2中,加入V4mL混酸,即4mL浓硫酸与4mL浓磷酸配置的100mL溶液,保证溶液在酸性范围内,摇匀,以下操作同上一步,在波长350nm或288nm处以1号溶液为空白参比,测定吸光度;
(3) 将测定的吸光度通过标准曲线查得与之相对应的溶液浓度,通过以下公式计算吸收液中的碘含量以及四氟化硅气体中的碘含量;
吸收液中的碘的质量:
其中,C溶液浓度—由标准曲线查的的值,MI=127g/mL,MKI=166g/mL。
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