CN103038620A - 滚动轴承的异常诊断装置 - Google Patents
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Abstract
异常诊断装置包括:用于测定滚动轴承的振动的传感器;及用于基于利用传感器测定的振动波形、对滚动轴承的异常进行诊断的处理部。处理部包含变换部和诊断部。变换部将因滚动轴承的异常而在振动波形中周期性出现的脉冲状波形(k1)变换为反向锯齿波状波形(k2),该反向锯齿波状波形(k2)的信号宽度比各脉冲状波形的包络线要宽且固定。诊断部基于反向锯齿波状波形(k2),对滚动轴承的异常进行诊断。
Description
技术领域
本发明涉及滚动轴承的异常诊断装置及齿轮的异常诊断装置,特别涉及通过测定滚动轴承或齿轮在旋转时产生的振动或声音、从而对滚动轴承的瑕疵或剥离等异常、齿轮的缺齿等异常进行诊断的技术。
背景技术
作为对滚动轴承中产生的瑕疵或剥离等异常进行诊断的方法,已知有如下方法:利用振动传感器或麦克风测定滚动轴承在旋转时产生的振动或声音,生成该测定出的信号的包络波形(包络线),并评价对其进行频率分析而得到的频谱的峰值电平(例如参照日本专利特开2000-146762号公报(专利文献1)、日本专利特开2001-21453号公报(专利文献2))。
另外,关于生成包络波形的方法,已知有通过在绝对值检波后应用低通滤波器(LPF)来生成包络波形的方法,还广泛装载于市售的测量设备。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2000-146762号公报
专利文献2:日本专利特开2001-21453号公报
发明内容
由于滚动轴承中产生的瑕疵或剥离等,在滚动轴承旋转时周期性产生脉冲状振动。因该瑕疵或剥离等而产生的脉冲状波形的宽度(脉冲宽度)大多较窄,为数毫秒~数十毫秒,其信号功率非常小。因此,特别在瑕疵或剥离的程度较小的情况下,对包络波形进行频率分析而得到的频谱的峰值电平较低,有时会无法获得足够的S/N比。
此外,因瑕疵或剥离等缺陷而产生的脉冲状波形的脉冲宽度会根据缺陷的形状而变化。此处,频谱的峰值电平大体与脉冲状波形的振幅、脉冲宽度成比例,在脉冲宽度发生变化时,频谱的峰值电平也发生变化。因而,因缺陷形状的差异而导致频谱的峰值电平有偏差,其结果是,有可能对异常诊断进行误判定。
另外,这种问题可普遍适用于因发生异常而周期性产生脉冲状振动的设备,例如,在齿轮中产生缺齿等缺陷时,也会产生同样的问题。
因而,本发明是为了解决上述问题而完成的,其目的在于提供一种能高灵敏度且正确地诊断瑕疵或剥离等滚动轴承的异常的滚动轴承的异常诊断装置。
此外,本发明的另一目的在于提供一种能高灵敏度且正确地诊断齿轮的缺齿等异常的齿轮的异常诊断装置。
根据本发明,滚动轴承的异常诊断装置包括:传感器,该传感器用于测定滚动轴承的振动;及处理部,该处理部用于基于振动波形,对滚动轴承的异常进行诊断,该振动波形利用传感器所测定。处理部包含变换部和诊断部。变换部将因滚动轴承的异常而在振动波形中周期性出现的脉冲状波形变换为反向锯齿波状波形,该反向锯齿波状波形的信号宽度比各脉冲状波形的包络线(包络波形)要宽且固定。诊断部基于反向锯齿波状波形,对滚动轴承的异常进行诊断。
优选为,变换部包含对振动波形进行整流的整流部和具有规定的时间常数的包络线检波部。包络线检波部接收整流部的输出。将时间常数设定成使得包络线检波部的输出波形中产生对角削波失真(也称为“斜切失真”)。反向锯齿波状波形是在包络线检波部的输出波形中产生对角削波失真的波形。
进一步优选为,将时间常数设定为脉冲状波形的产生周期的0.1~2.0倍。
优选为,整流部及包络线检波部由模拟电子电路构成,该模拟电子电路包含与整流部对应的整流电路、形成包络线检波部的电阻器及电容器。
进一步优选为,电阻器是能变更电阻值的可变电阻器。而且,通过调整可变电阻器的电阻值,来设定时间常数。
进一步优选为,基于滚动轴承的规格及转速来调整可变电阻器的电阻值。
此外,优选为,处理部还包含A/D转换器。A/D转换器将来自传感器的模拟信号转换为数字信号,并输出到变换部。整流部及包络线检波部由根据预先准备的程序而动作的软件处理构成。
进一步优选为,包络线检波部具有用于设定时间常数的调整参数。
进一步优选为,基于滚动轴承的规格及转速来对调整参数进行自动调整。
优选为,整流部包含全波整流电路。
此外,优选为,整流部包含半波整流电路。
优选为,处理部还包含频率分析部。频率分析部输出反向锯齿波状波形的频谱。诊断部基于频谱的峰值电平,对滚动轴承的异常进行诊断。
此外,优选为,处理部还包含有效值运算部。有效值运算部输出反向锯齿波状波形的交流分量的有效值。诊断部基于反向锯齿波状波形的交流分量的有效值,对滚动轴承的异常进行诊断。
优选为,传感器包含加速度传感器、速度传感器及位移传感器中的任意传感器。
此外,优选为,传感器包含检测滚动轴承的振动声音的麦克风。
此外,优选为,传感器包含检测滚动轴承的转矩的转矩传感器。
此外,根据本发明,齿轮的异常诊断装置包括:传感器,该传感器用于测定齿轮的振动;及处理部,该处理部用于基于振动波形,对齿轮的异常进行诊断,该振动波形利用传感器所测定。处理部包含变换部和诊断部。变换部将因滚动轴承的异常而在振动波形中周期性出现的脉冲状波形变换为反向锯齿波状波形,该反向锯齿波状波形的信号宽度比各脉冲状波形的包络线(包络波形)要宽且固定。诊断部基于反向锯齿波状波形,对齿轮的异常进行诊断。
在本发明中,将因滚动轴承或齿轮的异常而在振动波形中周期性出现的脉冲状波形变换为反向锯齿波状波形,该反向锯齿波状波形的信号宽度比各脉冲状波形的包络线(包络波形)要宽且固定。这种反向锯齿波状波形作为对角削波失真,在以往是应避免的,但在本发明中,积极活用该失真。
即,由于利用变换部进行变换后的反向锯齿波状波形的信号宽度比包络波形要宽,因此,信号功率要大。由此,进行频率分析而得到的频谱的峰值电平变高,S/N比(信噪比)提高。
此外,由于反向锯齿波状波形的信号宽度固定,因此,频谱的峰值电平仅受到脉冲状波形的振幅(脉冲高度)的影响,而不受脉冲状波形的脉冲宽度的影响。即,频谱的峰值电平仅受缺陷大小的影响,而不受缺陷形状的影响。由此,可降低因缺陷形状的差异而导致的频谱峰值电平的偏差。
因而,根据本发明,能高灵敏度且正确地诊断瑕疵或剥离等滚动轴承的异常、缺齿等齿轮的异常。
附图说明
图1是在功能上表示本发明的实施方式1所涉及的滚动轴承的异常诊断装置的结构的框图。
图2是图1所示的变换部的电路图。
图3是表示时间常数与脉冲状波形的产生周期之比、和反向锯齿波状波形的交流分量的有效值的关系的图。
图4是表示从变换部输出的反向锯齿波状波形的图。
图5是表示现有的包络波形的图。
图6是表示图4所示的反向锯齿波状波形的频谱的图。
图7是表示图5所示的包络波形的频谱的图。
图8是表示反向锯齿波状波形的频谱中的峰值电平相对于脉冲宽度不同的脉冲状波形的变化的图。
图9是表示现有的包络波形的频谱中的峰值电平相对于脉冲宽度不同的脉冲状波形的变化的图。
图10是实施方式1的变形例中的变换部的电路图。
图11是在功能上表示实施方式2所涉及的滚动轴承的异常诊断装置的结构的框图。
图12是用于说明图11所示的包络线检波部中由软件执行的处理步骤的流程图。
图13是在功能上表示实施方式3所涉及的滚动轴承的异常诊断装置的结构的框图。
图14是图13所示的有效值计算部的电路图。
图15是表示齿轮的异常诊断装置的结构的框图。
具体实施方式
以下,参照附图,详细说明本发明的实施方式。此外,对于图中相同或相当的部分标注相同标号,不再重复说明。
[实施方式1]
图1是在功能上表示本发明的实施方式1所涉及的滚动轴承的异常诊断装置的结构的框图。参照图1,异常诊断装置包括振动传感器20和信号处理部30。
振动传感器20固定设置于滚动轴承10。而且,振动传感器20检测出滚动轴承10的振动,并将检测信号输出到信号处理部30。振动传感器20例如由利用了压电元件的加速度传感器构成。滚动轴承10对未图示的旋转构件的转轴进行支承,使其旋转自如。滚动轴承10例如由自动调心滚子轴承、圆锥滚子轴承、圆柱滚子轴承、球轴承等构成。另外,滚动轴承10可以是单列的,也可以是多列的。
信号处理部30包含放大器32、带通滤波器34、变换部36、频率分析部42、及诊断部44。放大器32接收从振动传感器20输出的检测信号,以规定的增益放大该接收到的检测信号。带通滤波器34接收放大器32的输出,仅取出预先确定的频带的信号,并输出到变换部36。
变换部36将从带通滤波器34输出的振动波形中周期性出现的脉冲状波形变换为反向锯齿波状波形,该反向锯齿波状波形的信号宽度比该脉冲状波形的包络线(包络波形)要宽且固定。更详细而言,变换部36包含整流部38和包络线检波部40。整流部38将从带通滤波器34输出的振动波形整流为绝对值。包络线检波部40接收整流部38的输出,具有规定的时间常数。
此处,将包络线检波部40的时间常数设定成使得包络线检波部40的输出波形中产生对角削波失真(diagonal clipping distortion)。所谓对角削波失真,是指输出波形的下降沿的倾斜比本来的包络线的倾斜要缓和的失真,一般而言,应避免对角削波失真,但在本实施方式1中,积极活用该对角削波失真。然后,包络线检波部40输出使脉冲状波形的包络线产生对角削波失真后的反向锯齿波状的波形。
之所以将包络线检波部40的时间常数设定成积极产生对角削波失真,是为了使提供给频率分析部42的信号的功率增加,且使信号宽度固定。即,利用对角削波失真,可扩大与脉冲状波形对应的输出波形的信号宽度,信号功率增加。由此,由频率分析部42得到的频谱的峰值电平变高,S/N比提高。
此外,利用对角削波失真,与脉冲状波形对应的输出波形的信号宽度成为由时间常数决定的一定宽度。因而,频谱的峰值电平不受脉冲状波形的脉冲宽度的影响,即不受缺陷形状的影响。由此,可降低因缺陷形状的差异而导致的频谱峰值电平的偏差。
频率分析部42计算出从变换部36输出的反向锯齿波状波形的频谱,并将其计算结果输出到诊断部44。作为一例,频率分析部42对从变换部36接收到的反向锯齿波状波形进行快速傅里叶变换(FFT)处理,从而计算出反向锯齿波状波形的频谱。
诊断部44基于从频率分析部42接收到的反向锯齿波状波形的频谱,诊断滚动轴承10的异常。具体而言,若在滚动轴承10的内部产生瑕疵或剥离等损伤,则对应于损伤部位(内轮、外轮、转动体),由轴承内部的几何学结构及转速在理论上决定的特定频率下,产生振动的峰值。因而,诊断部44基于频谱的峰值频率及峰值电平,能诊断出异常发生部位。
图2是图1所示的变换部36的电路图。参照图2,如上所述,变换部36包含整流部38和包络线检波部40。整流部38是包含多个运算放大器、二极管及电阻元件的全波整流电路。包络线检波部40设置在整流部38的输出侧,包含电容器50和电阻器52。
电容器50及电阻器52并联连接在整流部38的输出线与接地节点之间。利用该电容器50的电容值及电阻器52的电阻值来决定包络线检波部40的时间常数。而且,设定电容器50的电容值及电阻器52的电阻值,从而将时间常数设定成使得包络线检波部40的输出波形产生对角削波失真。
此处,由于脉冲状波形的产生周期因滚动轴承10的规格和转速而变化,因此,需要根据脉冲状波形的产生周期的变化来变更时间常数。因而,在本实施方式1中,电阻器52由可变电阻器构成,根据滚动轴承10的规格和转速来调整电阻器52的电阻值。作为一例,可以预先确定轴承的规格和转速、与时间常数、电阻器52的电阻值之间的关系,基于滚动轴承10的规格和转速来自动调整电阻器52的电阻值,使得时间常数成为所希望的值。
另外,取代使电阻器52为可变电阻器、或者在使电阻器52由可变电阻器构成的同时,也可以使电容器50由可变电容器构成,根据滚动轴承10的规格和转速来调整电容器50的电容值。
图3是表示时间常数与脉冲状波形的产生周期之比、和反向锯齿波状波形的交流分量的有效值的关系的图。参照图3,若使包络线检波部40的时间常数发生变化,则在反向锯齿波状波形的交流分量的有效值中产生峰值。而且,反向锯齿波状波形的交流分量的有效值越大,由频率分析部42得到的频谱的峰值电平越高。
如图3所示,时间常数优选为接近脉冲状波形的产生周期的值。若时间常数相对于脉冲状波形的产生周期过小,则无法生成反向锯齿波状波形(接近包络线),若时间常数过大,则成为脉冲状波形的峰值被保持的波形(变动变小)。因而,例如,包络线检波部40的时间常数优选设定为在脉冲状波形的产生周期的0.1~2.0倍的范围内。
图4是表示从变换部36输出的反向锯齿波状波形的图。参照图4,实线k1表示由变换部36进行变换前的脉冲状波形,虚线k2表示由变换部36得到的反向锯齿波状波形。另外,实线k1中的脉冲状波形间的零碎的振动是噪声,不相当于此处所说的脉冲状波形。
此外,作为比较例,在图5中示出现有的包络波形。参照图5,虚线k3表示通过对实线k1进行包络处理而得到的包络波形(包络线)。
参照图4、5,反向锯齿波状波形(虚线k2)的信号宽度比包络波形(虚线k3)的信号宽度要宽。此外,虽未特别图示,但即使因缺陷形状与图的状况时不同而导致实线k1中的脉冲状波形的脉冲宽度发生变化,反向锯齿波状波形(虚线k2)的信号宽度也固定(另一方面,包络波形(虚线k3)的信号宽度则发生变化)。
图6是表示图4所示的反向锯齿波状波形的频谱的图。另外,作为比较例,在图7中示出图5所示的包络波形的频谱。
参照图6、图7,反向锯齿波状波形的频谱中的峰值电平比包络波形的频谱中的峰值电平要高。这是因为,如图4、图5所示,反向锯齿波状波形的信号宽度比包络波形的信号宽度要宽,反向锯齿波状波形的信号功率比包络波形的信号功率要大。由此,通过利用反向锯齿波状波形,与利用现有的包络波形相比,可提高S/N比。
图8是表示反向锯齿波状波形的频谱中的峰值电平相对于脉冲宽度不同的脉冲状波形的变化的图。另外,作为比较例,在图9中示出现有的包络波形中的频谱的峰值电平的变化。
参照图8、图9,相对于脉冲宽度不同的脉冲状波形,反向锯齿波状波形的频谱中的峰值电平的变化较小。另一方面,对于包络波形的情况,相对于脉冲宽度不同的脉冲状波形,频谱的峰值电平的变化较大。这是因为,反向锯齿波状波形的信号宽度在脉冲宽度变化时也固定,另一方面,包络波形的信号宽度对应于脉冲宽度的变化而发生变化。
如上所述,在本实施方式1中,因滚动轴承10的异常而周期性产生的脉冲状波形由变换部36变换为反向锯齿波状波形。反向锯齿波状波形的信号宽度比包络波形要宽,信号功率要大。由此,进行频率分析而得到的频谱的峰值电平变高,S/N比提高。
此外,由于反向锯齿波状波形的信号宽度固定,因此,频谱的峰值电平仅受到脉冲状波形的振幅(脉冲高度)的影响,而不受脉冲状波形的脉冲宽度的影响。即,频谱的峰值电平仅受缺陷大小的影响,而不受缺陷形状的影响。由此,可降低因缺陷形状的差异而导致的频谱峰值电平的偏差。
因而,根据本实施方式1,能高灵敏度且正确地诊断滚动轴承10的瑕疵或剥离等异常。
[实施方式1的变形例]
在上述实施方式1中,设变换部36的整流部38由全波整流电路构成,但也可以利用半波整流电路代替全波整流电路来构成整流部38。
图10是实施方式1的变形例中的变换部36的电路图。参照图10,变换部36的整流部38包含半波整流用二极管。另外,包络线检波部40的结构与图2所示的实施方式1相同。
根据本实施方式1的变形例,能使变换部36小型化,还能廉价地实现信号处理部。
[实施方式2]
在实施方式1及其变形例中,设变换部36由图2所示的模拟电子电路构成,但在本实施方式2中,利用软件处理来实现。
图11是在功能上表示实施方式2所涉及的滚动轴承的异常诊断装置的结构的框图。参照图11,该异常诊断装置包括振动传感器20和信号处理部30A。信号处理部30A在图1所示的实施方式1的信号处理部30的结构中,进一步包含A/D转换器46,且代替变换部36而包含变换部36A。
A/D转换器46以规定的采样频率对通过带通滤波器34后的模拟信号进行采样,以转换成数字信号。变换部36A将在振动波形中周期性出现且由A/D转换器46转换成数字信号的脉冲状波形变换为反向锯齿波状波形,该反向锯齿波状波形的信号宽度比该脉冲状波形的包络线(包络波形)要宽且固定。该变换部36A也包含整流部38和包络线检波部40。整流部38及包络线检波部40各自的功能与实施方式1中说明的一样。
图12是用于说明图11所示的包络线检波部40中由软件执行的处理步骤的流程图。另外,该流程图所示的处理按照预先确定的运算周期来执行。
参照图12,包络线检波部40判定从整流部38接收到的输入信号X[i](i表示信号被离散化,[i]表示本次值,[i-1]表示上次运算时的值)是否在将上次运算时的输出信号Y[i-1]乘以系数α而得到的值以上(步骤S10)。另外,系数α是用于确定包络线检波部40的时间常数的值,Y[i-1]×α表示以与系数α相对应的时间常数进行衰减的信号。
若在步骤S10中判定为输入信号X[i]在Y[i-1]×α以上(步骤S10中为“是”),则包络线检波部40将输入信号X[i]代入输出信号Y[i](步骤S20)。另一方面,若在步骤S10中判定为输入信号X[i]小于Y[i-1]×α(步骤S10中为“否”),则包络线检波部40将Y[i-1]×α的值代入输出信号Y[i](步骤S30)。即,包络线检波部40将以与系数α相对应的时间常数进行衰减的信号Y[i-1]×α与输入信号X[i]进行比较,将值较大的一方设为输出信号Y[i]。
之后,包络线检波部40将输出信号Y[i]代入Y[i-1](步骤S40)。另外,在下次运算时使用Y[i-1]。
另外,系数α可基于下式来计算。
α=(1/e)1/(τ×fs)…(1)
此处,e是自然对数的底数,τ表示时间常数,fs表示A/D转换器46的采样频率。例如,由于可基于滚动轴承10的规格及转速来推定脉冲状波形的产生周期,因此,可基于滚动轴承10的规格及转速来调整时间常数τ以使得包络线检波部40的时间常数为脉冲状波形的产生周期的0.1~2.0倍,并可基于上述(1)式来调整系数α。
根据该实施方式2,与实施方式1同样,也能高灵敏度且正确地诊断滚动轴承10的瑕疵或剥离等异常。
[实施方式3]
在上述各实施方式中,对由变换部36生成的反向锯齿波状波形进行频率分析,从而进行滚动轴承10的异常诊断。在本实施方式3中,计算出反向锯齿波状波形的交流分量的有效值(也称为“RMS(Root Mean Square:均方根)值”)来代替频率分析,基于该计算结果来进行滚动轴承10的异常诊断。
图13是在功能上表示实施方式3所涉及的滚动轴承的异常诊断装置的结构的框图。参照图13,该异常诊断装置包括振动传感器20和信号处理部30B。信号处理部30B在图1所示的实施方式1的信号处理部30的结构中,代替频率分析部42而包含有效值计算部48。
有效值计算部48计算出由变换部36生成的反向锯齿波状波形的交流分量的有效值。然后,诊断部44基于从有效值计算部48接收到的反向锯齿波状波形的交流分量的有效值,诊断滚动轴承10的异常。
图14是图13所示的有效值计算部48的电路图。参照图14,该电路包括将输入信号整流成绝对值的整流部及设置在整流部的输出侧的低通滤波器(LPF)。
另外,虽未特别图示,但对有效值计算部48也可以使用市售的有效值变换用IC。此外,也可以通过软件处理来实现有效值计算部48。例如,从变换部36的输出数据减去直流分量(平均值),从而计算出反向锯齿波状波形的交流分量,对该计算出的交流分量的数据的均方根进行计算,从而能在软件层面上计算出反向锯齿波状波形的交流分量的有效值。
另外,对于变换部36,可以像实施方式1及其变形例那样由模拟电子电路构成,也可以像实施方式2那样由软件处理构成。
根据本实施方式3,与实施方式1同样,也能高灵敏度且正确地诊断滚动轴承10的瑕疵或剥离等异常。
另外,虽然在上述各实施方式中说明了对滚动轴承10的异常进行诊断的异常诊断装置,但本发明可普遍适用于因发生异常而周期性产生脉冲状振动的设备。例如,如图15所示,通过对安装有齿轮12的基座、存放齿轮的齿轮箱(未图示)等设置振动传感器20,从而也能对齿轮12的缺齿等异常进行诊断。
此外,虽然在上述各实施方式中,设振动传感器20由加速度传感器构成,但也可以利用速度传感器、位移传感器来代替加速度传感器。此外,也可以利用用于检测振动声音的麦克风、检测转轴的转矩变动的转矩传感器等来代替振动传感器20。
另外,在上述内容中,振动传感器20对应于本发明中的“传感器”的一实施例,信号处理部30、30A、30B对应于本发明中的“处理部”的一实施例。
应该认为这里所揭示的实施方式在各个方面是举例表示,而不是限制性的。本发明的范围并不是由上述实施方式的说明表示,而是由权利要求书表示,旨在包含与权利要求书同等的意义及范围内的所有变更。
标号说明
10滚动轴承,12齿轮,20振动传感器,30、30A、30B信号处理部,32放大器,34带通滤波器,36、36A变换部,38整流部,40包络线检波部,42频率分析部,44诊断部,46A/D转换器,48有效值计算部,50电容器,52电阻器。
Claims (14)
1.一种滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,包括:
传感器(20),该传感器用于测定滚动轴承(10)的振动;及
处理部(30、30A、30B),该处理部用于基于振动波形,对所述滚动轴承的异常进行诊断,该振动波形利用所述传感器所测定,
所述处理部包含:
变换部(36、36A),该变换部将因所述滚动轴承的异常而在所述振动波形中周期性出现的脉冲状波形变换为反向锯齿波状波形,该反向锯齿波状波形的信号宽度比所述脉冲状波形各自的包络线要宽且固定;及
诊断部(44),该诊断部基于所述反向锯齿波状波形,对所述滚动轴承的异常进行诊断。
2.如权利要求1所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述变换部包含:
整流部(38),该整流部对所述振动波形进行整流;及
包络线检波部(40),该包络线检波部接收所述整流部的输出,具有规定的时间常数,
将所述时间常数设定成使得所述包络线检波部的输出波形中产生对角削波失真,
所述反向锯齿波状波形是在所述包络线检波部的输出波形中产生对角削波失真的波形。
3.如权利要求2所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
将所述时间常数设定为所述脉冲状波形的产生周期的0.1~2.0倍。
4.如权利要求2所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述整流部及所述包络线检波部由模拟电子电路构成,该模拟电子电路包含与所述整流部对应的整流电路、形成所述包络线检波部的电阻器(52)及电容器(50)。
5.如权利要求4所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述电阻器是能变更电阻值的可变电阻器(52),
通过调整所述可变电阻器的电阻值,来设定所述时间常数。
6.如权利要求5所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
基于所述滚动轴承的规格及转速来调整所述可变电阻器的电阻值。
7.如权利要求2所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述处理部(30A)还包含A/D转换器(46),该A/D转换器将来自所述传感器的模拟信号转换为数字信号,并输出到所述变换部,
所述整流部及所述包络线检波部由根据预先准备的程序而动作的软件处理构成。
8.如权利要求7所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述包络线检波部具有用于设定所述时间常数的调整参数。
9.如权利要求8所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
基于所述滚动轴承的规格及转速来调整所述调整参数。
10.如权利要求2所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述整流部包含全波整流电路。
11.如权利要求2所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述整流部包含半波整流电路。
12.如权利要求1所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述处理部(30、30A)还包含频率分析部(42),该频率分析部输出所述反向锯齿波状波形的频谱,
所述诊断部基于所述频谱的峰值电平,对所述滚动轴承的异常进行诊断。
13.如权利要求1所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述处理部(30B)还包含有效值计算部(48),该有效值计算部计算所述反向锯齿波状波形的交流分量的有效值,
所述诊断部基于所述反向锯齿波状波形的交流分量的有效值,对所述滚动轴承的异常进行诊断。
14.如权利要求1所述的滚动轴承的异常诊断装置,其特征在于,
所述传感器包含加速度传感器、速度传感器、位移传感器、麦克风、及转矩传感器中的任意传感器。
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