CN102956844A - 显示面板的修复方法及实施修复的装置 - Google Patents

Abstract

在显示面板的修复方法中，仅启动显示面板的缺陷部分。检测在所述所启动的缺陷部分中产生的热，以获取所述缺陷的位置。向所述缺陷部分照射激光以修复所述缺陷。由于可以正确地修复短路，因此可以提高显示面板的制造成品率。

Description

显示面板的修复方法及实施修复的装置

技术领域

本发明涉及显示面板的修复方法及用于实施修复的装置。具体地，本发明涉及修复有机发光显示装置的显示面板的缺陷的方法及用于实施这种方法的装置。

背景技术

通常，有机发光显示（organic light emitting display，简称为OLED）装置是指，可以利用从阳极（anode）和阴极（cathode）分别提供的空穴和电子在位于所述阳极和所述阴极之间的有机发光层得以结合而生成的光来显示影像、文字等信息的显示装置。这种有机发光显示装置具有视角广、响应速度块、厚度薄、功耗低等多种优点，因此作为下一代显示装置而受人瞩目。

有机发光显示装置的缺陷使得有机发光显示装置的性能、等级等降低。从而，对通过启动检查以发现有机发光显示装置的缺陷的工序产生了需求。通常，有机发光显示装置的缺陷包含在有机发光层内存在的导电性异物。这种导电性异物可以电连接阳极和阴极来引发短路，并且发生短路的有机发光显示装置的像素将起到暗斑的作用。从而，为了提高有机发光显示装置的制造成品率，应实施修复缺陷的工序。

但是，以现有的修复方法很难正确地检测不能以肉眼确认的尺寸非常小的异物。由此，通过修复工序来去除缺陷的比率变得非常低。结果，产生了有机发光显示装置的制造成品率降低的问题。

发明内容

本发明的一目的在于提供正确地检测不能以肉眼确认的显示面板的小尺寸缺陷以能够实施修复的方法。

本发明的另一目的在于提供正确地检测显示面板的细微尺寸的缺陷以能够实施修复的装置。

根据本发明一方面的显示面板的修复方法，可以仅启动显示面板的缺陷部分。检测在所述所启动的缺陷部分中产生的热，从而可以获得所述缺陷的位置。可以向所述缺陷部分照射激光来修复所述缺陷。

根据示例性的实施例，修复方法可以进一步包括：将所述显示面板设置在不存在可视光的修复腔室内。检测在被启动的所述缺陷部分中产生的热的步骤可以包括：利用红外线来检测所述热。

根据另一示例性的实施例，仅启动所述显示面板的缺陷部分的步骤可以包括：向所述显示面板施加反向偏压（reverse bias）。

根据再一示例性的实施例，修复方法可以进一步包括：以高倍率放大显示所述缺陷部分。

根据本发明另一方面的有机发光显示面板的修复方法，可以将有机发光显示面板设置在不存在可视光的修复腔室内。向所述有机发光显示面板施加反向偏压，从而可以仅启动所述有机发光显示面板的短路部分。利用红外线检测在所述所启动的短路部分中产生的热，从而可以获得所述短路部分的位置。向所述短路部分照射激光，从而可以修复所述短路。

根据示例性的实施例，所述修复方法可以进一步包括：以高倍率放大显示所述短路部分。

根据本发明再一方面的显示面板的修复装置可以包括：启动单元、热检测单元以及激光照射单元。所述启动单元可以仅启动显示面板的缺陷部分。所述热检测单元检测在被启动的所述缺陷部分中产生的热，从而可以获得所述缺陷的位置。所述激光照射单元向所述缺陷部分照射激光，从而可以修复所述缺陷。

根据示例性的实施例，所述修复装置可以进一步包括：容纳所述启动单元、所述热检测单元以及所述激光照射单元并且不存在可视光的修复腔室。所述热检测单元可以包括利用红外线来检测所述热的红外线检测部件。

根据另一示例性的实施例，所述启动单元可以包括：用于安放所述显示面板的夹具；以及用于向安放在所述夹具上的所述显示面板施加反向偏压（reverse bias）的偏压施加部件。

根据再一示例性的实施例，所述修复装置还可以包括：用于以高倍率放大显示所述缺陷部分的显示单元。

根据再一示例性的实施例，所述修复装置可以进一步包括：向所述缺陷部分移送所述热检测单元与所述激光照射单元的移送单元。

根据本发明再一方面的有机发光显示面板的修复装置可以包括：修复腔室、启动单元、红外线检测单元以及激光照射单元。所述修复腔室可以容纳有机发光显示面板，并且可以具有不存在可视光的内部空间。所述启动单元可以设置在所述修复腔室内，并且可以仅启动所述有机发光显示面板的短路部分。在所述修复腔室内，所述红外线检测单元可以设置在所述启动单元的上部，并且利用红外线检测在所述所启动的短路部分产生的热，从而可以获得所述短路部分的位置。在所述修复腔室内，所述激光照射单元可以设置在所述启动单元的上部，并且可以通过向所述短路部分照射激光来修复所述短路。

根据示例性的实施例，所述启动单元可以包括：用于安放所述有机发光显示面板的夹具；以及用于向安放在所述夹具上的所述有机发光显示面板施加反向偏压（reverse bias）的偏压施加部件。

根据另一示例性的实施例，所述修复装置可以进一步包括：在所述修复腔室内，设置在所述启动单元的上部并且用于以高倍率放大显示所述缺陷部分的显示单元。

根据再一示例性的实施例，所述修复装置可以进一步包括：设置在所述修复腔室内，并且向所述缺陷部分移送所述热检测单元与所述激光照射单元的移送单元。

根据本发明示例性的实施例，向显示面板施加反向偏压，从而可以仅启动发生短路的部分。利用红外线检测在启动的短路部分产生的热，从而可以正确地掌握发生短路的位置。从而，可以正确地修复未被肉眼确认的细微的短路部分，因此可以提高显示面板的制造成品率。

附图说明

图1是显示根据本发明示例性实施例的显示面板的修复装置的截面图；

图2是依次显示利用图1的装置修复显示面板的方法的流程图；

图3是显示以图1的装置摄像的显示面板的短路部分的照片；

图4是显示利用图1的装置将图3的短路部分修复的状态的照片。

附图标记说明

110：修复腔室；120：控制部；

130：启动单元；140：移送单元；

150：显示单元；160：热检测单元；

170：激光照射单元。

具体实施方式

以下将参考附图详细地说明根据本发明示例性实施例的显示面板的修复方法及用于实施修复的装置，但是本发明并不限于下述实施例，所属领域的技术人员在不脱离本发明的技术思想的范围内，能够以多种形态实施本发明。

就本发明的说明书，其特定的结构或功能性说明仅以示例性地说明本发明的实施例为目的，本发明能够以多种形式实施，不能解释为仅限于本文中说明的实施例，应理解为包括本发明的思想以及技术范围的所有变更、等同物以及代替物。某种组成要素与其它的组成要素“连接”或“接触”，则表示其与其它的组成要素直接连接或接触，也应理解为中间还可以存在其它组成要素。相反，某种组成要素与其它组成要素“直接连接”或“直接接触”，则应理解为中间不存在其它组成要素。就描述组成要素之间关系的其他表述方式，即“…之间”、“就在…之间”或者“与…相邻”和“…直接相邻”也应进行相同的解释。

在本说明书中所使用的用语仅用于说明示例性的实施例，并不用于限定本发明。对于单数用语，在文字上没有冲突的解释的前提下，则应当包括多个的含义。在本说明书中，“包括”、“具备”或“具有”等用语仅用于说明实施本发明时可以存在特征、数字、步骤、动作、结构要素、部件或者它们的组合，并且不应当理解为：对增加特征、数字、步骤、动作、结构要素、部件或者它们的组合的可能性予以排除。没有其他定义的前提下，包括技术术语或科学术语在内的在此使用的所有术语的含义与本发明所属领域的技术人员通常理解的含义相同。针对与在通常使用的词典所定义的术语相同的术语，应理解为与相关技术上下文所具有的含义一致，除本发明明确定义的以外，不应解释成理想或过于形式的含义。

虽然第一、第二、第三、第四等术语可以用于说明多种组成要素，但所述组成要素不限于所述术语。使用所述术语的目的在于区别一个组成要素与另一个组成要素。例如，在不脱离本发明的保护范围下，第一组成要素可以命名为第二至第四组成要素，类似地，第二至第四组成要素也可以交互命名。

显示面板的修复装置

图1是显示根据本发明示例性实施例的显示面板的修复装置的截面图。

如图1所示，根据示例性实施例的显示面板的修复装置100包括：修复腔室110、控制部120、启动单元130、移送单元140、显示单元150、热检测单元160以及激光照射单元170。

在本发明的示例性实施例中，所述显示面板可以包括有机发光显示（organic lighting emitting display，简称为OLED）面板。例如，所述显示面板可以包括有源有机发光显示（active matrix OLED，简称为AMOLED）面板。有机发光显示装置的显示面板可以包括：阳极、阴极以及设置在所述阳极和所述阴极之间的有机发光层。所述有机发光显示装置的显示面板的缺陷可以包括主要存在于所述有机发光层内并使所述阳极与所述阴极电连接从而可以引发短路的导电性异物。这种导电性异物可以具有不能用肉眼识别的非常小的尺寸。

修复腔室110可以具有能够容纳所述有机发光显示装置的显示面板的内部空间。在示例性的实施例中，在修复腔室110的内部空间可以不存在可视光。即，可以被构成为可视光不能向修复腔室110的内部渗透。考虑到这一点，修复腔室110可以具有能够隔离可视光的材质、颜色等。

控制部120可以控制启动单元130、移送单元140、显示单元150、热检测单元160以及激光照射单元170的动作。并且，控制部120可以输入有在所述有机发光显示装置的显示面板的启动检查中发现的非正常像素的位置。

启动单元130可以设置在修复腔室110的底面。在示例性的实施例中，启动单元130可以包括：基台（stage）132、夹具（jig）134以及偏压施加部件136。

基台132可以设置在修复腔室110的底面。夹具134可以设置在基台132的上面。所述有机发光显示装置的显示面板可以安放在夹具134上。偏压施加部件136可以与夹具134电连接，并且可以仅启动所述有机发光显示装置显示面板的发生短路的像素。

在本发明的示例性实施例中，若向所述有机发光显示装置的显示面板施加正向偏压，则不仅启动正常像素，还可以启动发生短路的非正常像素。相反，若向所述有机发光显示装置的显示面板施加反向偏压，则虽然不启动正常像素，但是可以启动发生短路的非正常像素。从而，偏压施加部件136通过夹具134向所述有机发光显示装置的显示面板施加反向偏压，从而可以仅启动发生短路的像素。并且，这样启动的发生短路的像素可以产生热。

移送单元140可以设置在修复腔室110的内部空间的上部。移送单元140可以沿着X-Y轴方向移送显示单元150、热检测单元160以及激光照射单元170。在示例性的实施例中，移送单元140可以根据控制部120的信号向非正常像素的上部移送显示单元150、热检测单元160以及激光照射单元170。例如，移送单元140可以包括：圆筒（cylinder）、导杆（lead screw）等。

显示单元150可以安装于移送单元140，并且可以设置在夹具134的上部。显示单元150可以以高倍率放大非正常像素并显示在控制部120的显示器中。在示例性的实施例中，显示单元150可以包括显微镜。

热检测单元160可以安装于移送单元140，并且可以设置在夹具134的上部。热检测单元160可以检测在根据启动单元130所启动的非正常像素内部产生的热，并且可以在所述非正常像素内正确地掌握发生短路的位置。

在本发明的示例性实施例中，热检测单元160可以包括利用红外线来检测热的红外线检测部件或者近红外线检测部件。由于红外线检测部件160对可视光是敏感的，因此，若在修复腔室110的内部空间中存在可视光，则红外线检测部件160不能正确地检测热。从而，为了使红外线检测部件160正确地检测在非正常像素内产生的热的位置，修复腔室110可以具有不存在可视光的内部空间。

激光照射单元170可以向根据热检测单元160检测到的热的位置、即发生短路的位置照射激光来消除缺陷。在示例性的实施例中，由于缺陷包括短路，因此，激光照射单元170以激光去除位于导电性异物上部的阴极部分，从而可以使阴极和阳极之间绝缘。例如，激光可以包括：Nd：YAG激光、Nd：YLF激光、Nd：YVO4激光、Ti：Sapphire激光等。

显示面板的修复方法

图2是依次显示利用图1的装置修复显示面板的方法的流程图，图3是显示以图1的装置摄像的显示面板的短路部分的照片，图4是显示利用图1的装置将图3的短路部分修复的状态的照片。

如图1与图2所示，在步骤ST200中，将有机发光显示装置的显示面板向修复腔室110内传输。在示例性的实施例中，修复腔室110可以具有不存在可视光的内部空间。所述有机发光显示装置的显示面板可以安放在夹具134上。

在步骤ST220中，移送单元140使显示单元150向具有非正常像素、即具有短路部分的非正常像素的上部移送。在示例性的实施例中，根据所述有机发光显示装置的显示面板的启动检查，可以预先向控制部120输入未启动的像素的位置。移送单元140根据控制部120传送的信号可以将显示单元150向非正常像素的上部移送。

显示单元150可以将非正常像素以高倍率放大以在控制部120的显示器中显示。作业人员看到显示的图像可以确认是否是非正常像素。

在步骤ST240中，偏压施加部件136将反向偏压向所述有机发光显示装置的显示面板施加，以仅启动发生短路的部分。若将这种反向偏压向所述有机发光显示装置的显示面板施加，则在非正常像素内可以不启动正常部分而是仅启动发生短路的部分。这样启动的短路部分可以产生热。

在步骤ST260中，热检测单元160利用红外线检测在启动的短路部分中产生的热。在示例性的实施例中，由于修复腔室110的内部空间中不存在可视光，因此如图3所示，热检测单元160利用红外线可以正确地检测产生热的位置。可以向控制部120输入检测的热的位置。

在步骤ST280中，作业人员确认输入到控制部120的热产生位置，从而确定将要照射激光的面积、深度、激光的种类等。

激光照射单元170将所确定的激光向短路部分照射，从而可以修复短路部分。在示例性的实施例中，向阴极照射激光，从而可以去除位于导电性异物上部的阴极部分。从而，可以使得通过导电性异物电连接的阴极与阳极得以绝缘。

若完成对短路部分的修复，则向所述有机发光显示装置的显示面板施加正向偏压，从而可以实施启动检查。如图4所示，可以确认修复的部分也得以正常启动的现象。

在本发明的示例性实施例中，示例性地说明了所述显示面板包括有机发光显示装置的显示面板的情况，但是根据本发明的修复方法及装置还可以适用于包括液晶显示面板的其他种类的平板显示装置的显示面板。

如上所述，根据本发明示例性的实施例，向显示面板施加反向偏压，从而可以仅启动发生短路的部分。利用红外线检测在所启动的短路部分中产生的热，从而可以正确地掌握发生短路的位置。从而可以正确地修复未以肉眼确认的细微的短路，因此可以提高显示面板的制造成品率。

以上，说明了本发明的示例性的实施例，但是本发明并不限于此，所属技术领域的技术人员能够明白，在不脱离所述权利要求书中说明的本发明的技术思想和技术领域的范围内能够对本发明进行多种修改和变形。

Claims (16)

1.一种显示面板的修复方法，包括：

仅启动显示面板的缺陷部分；

检测在被启动的所述缺陷部分中产生的热，以获得所述缺陷的位置；以及

向所述缺陷部分照射激光，以修复所述缺陷。

2.根据权利要求1所述的显示面板的修复方法，其特征在于，还包括：

将所述显示面板设置在不存在可视光的空间内；

其中，检测在被启动的所述缺陷部分中产生的热的步骤包括利用红外线来检测所述热。

3.根据权利要求1所述的显示面板的修复方法，其特征在于，仅启动所述显示面板的缺陷部分的步骤包括：

向所述显示面板施加反向偏压。

4.根据权利要求1所述的显示面板的修复方法，其特征在于，还包括：

以高倍率放大显示所述缺陷部分。

5.根据权利要求1所述的显示面板的修复方法，其特征在于，

所述显示面板包括有机发光显示面板，

所述缺陷包括在所述有机发光显示面板的阳极和阴极之间的有机发光层内发生的短路现象。

6.一种有机发光显示面板的修复方法，包括：

将有机发光显示面板设置在不存在可视光的空间内；

向所述有机发光显示面板施加反向偏压，以仅启动所述有机发光显示面板的短路部分；

利用红外线检测在被启动的所述短路部分中产生的热，以获得所述短路部分的位置；以及

向所述短路部分照射激光，以修复所述短路。

7.根据权利要求6所述的有机发光显示面板的修复方法，其特征在于，还包括：

以高倍率放大显示所述短路部分。

8.一种显示面板的修复装置，包括：

启动单元，用于仅启动显示面板的缺陷部分；

热检测单元，检测在被启动的所述缺陷部分中产生的热，以获得所述缺陷的位置；以及

激光照射单元，向所述缺陷部分照射激光，以修复所述缺陷。

9.根据权利要求8所述的显示面板的修复装置，其特征在于，还包括：

修复腔室，容纳所述启动单元、所述热检测单元以及所述激光照射单元，并且具有不存在可视光的内部空间；

其中，所述热检测单元包括：红外线检测部件，利用红外线来检测所述热。

10.根据权利要求8所述的显示面板的修复装置，其特征在于，所述启动单元包括：

夹具，用于安放所述显示面板；以及

偏压施加部件，用于向安放在所述夹具上的所述显示面板施加反向偏压。

11.根据权利要求8所述的显示面板的修复装置，其特征在于，还包括：

显示单元，以高倍率放大显示所述缺陷部分。

12.根据权利要求8所述的显示面板的修复装置，其特征在于，还包括：

移送单元，向所述缺陷部分移送所述热检测单元和所述激光照射单元。

13.一种有机发光显示面板的修复装置，包括：

修复腔室，容纳有机发光显示面板，并且具有不存在可视光的内部空间；

启动单元，设置在所述修复腔室内，并且用于仅启动所述有机发光显示面板的短路部分；

红外线检测单元，在所述修复腔室内，设置在所述启动单元的上部，并且利用红外线来检测在被启动的所述短路部分中产生的热，以获得所述短路部分的位置；以及

激光照射单元，在所述修复腔室内，设置在所述启动单元的上部，并且通过向所述短路部分照射激光来修复所述短路。

14.根据权利要求13所述的有机发光显示面板的修复装置，其特征在于，所述启动单元包括：

夹具，用于安放所述有机发光显示面板；以及

偏压施加部件，用于向安放在所述夹具上的所述有机发光显示面板施加反向偏压。

15.根据权利要求13所述的有机发光显示面板的修复装置，其特征在于，还包括：

显示单元，在所述修复腔室内，设置在所述启动单元的上部，并且以高倍率放大显示所述缺陷部分。

16.根据权利要求13所述的有机发光显示面板的修复装置，其特征在于，还包括：

移送单元，设置在所述修复腔室内，并且向所述缺陷部分移送所述热检测单元和所述激光照射单元。

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