CN102879414A - 锡铅合金镀层铅含量的测定方法 - Google Patents
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Abstract
一种锡铅合金镀层铅含量的测定方法,其特征在于:该方法使用X荧光分析仪与计算机相连,通过配置锡铅合成标样,确定不同铅百分含量标样的X射线能量强度,建立铅含量—X射线能量强度分析曲线,利用Edx3000、exe全元素分析程序与锡铅分析曲线进行对比,测定得出产品或零部件锡铅合金镀层铅含量,本发明适用、简便、快捷,投入低,分析结果重现性好、精密度高、准确可靠,对所分析的产品无任何损伤。
Description
技术领域
本发明涉及锡铅合金镀层成分的测定方法,尤其是一种锡铅合金镀层中铅含量的测定方法。
技术背景
产品或零部件锡铅合金镀层中铅含量有严格的要求,如某平衡力继电器,是当今航空领域比较先进的继电器,该系列产品对锡铅镀层中的铅含量的要求是3%~10%。这是因为锡铅镀层中如果锡含量过高,镀层表面会产生晶须和氧化现象,影响产品表面质量;加入适当的铅能够控制锡的含量并能够起抗氧化作用,同时镀层中一定铅的存在还可提高产品在装配过程中的焊接性,但铅含量必须严格控制。目前国内是采用控制槽液成分的方法来控制产品镀层成分,但分析槽液成分铅含量的化学分析方法,其分析结果与实际镀层成分有较大偏差,不能直观准确反应产品镀层中铅含量。而国外是通过电镜、电子探针对镀层表面进行成分分析,而这种检测法所需仪器相当昂贵(100多万元)。如果采用化学分析方法对产品或零部件镀层成分进行分析,又存在无法进行取样的难题。目前国内还未曾见有简便成熟的锡铅合金镀层成分的测定分析方法。
发明内容:
本发明的目的是为了解决上述问题,提供一种利用现有的仪器(X荧光分析仪),即可进行的适用、简便、快捷无损的分析方法-X荧光分析法,解决产品或零部件锡铅合金镀层成分分析的难题。
本发明采用如技术方案:
本发明所述锡铅合金镀层铅含量的测定方法,是使用X荧光分析仪与计算机相连,通过配置锡铅合成标样建立锡铅分析曲线,利用Edx3000、exe全元素分析程序与锡铅分析曲线进行对比,测定得出产品或零部件锡铅合金镀层铅含量,具体步骤如下:
a)将X荧光分析仪与计算机相连;
b)根据待测试产品或零部件锡铅镀层含量允许数值范围,称取4~5组以上不同数值的锡、铅材料混合,熔炼配置合成标样,对每一熔炼后标样中铅百分含量用化学分析法进行计算,确定其数值,将上述所有标样用X荧光分析仪扫描后确定不同铅百分含量标样的X射线能量强度,建立铅含量—X射线能量强度分析曲线,输入计算机;
c)用X荧光分析仪扫描合成标样,通过Edx3000.exe全元素分析程序和所述分析曲线,计算机即可自动确定显示标样镀层中铅百分含量数值,将该数值与上述化学分析计算所得真值进行比较,验证X荧光分析仪和上述分析曲线的准确性;
d)用X荧光分析仪扫描待测产品或零部件,计算机即可显示其锡铅合金镀层铅含量。
附图说明
图1为本发明所述测定方法实施例中的铅含量—X射线能量强度分析曲线。
具体实施方式
下面结合某一继电器锡铅镀层铅含量要求(3%~10%),对本发明测试方法步骤进行详细说明:
X射线照射在物质上而产生的射线为次级X射线。用来照射的X射线叫原级X射线。任何物质受到原级X射线的照射时,都要产生相应特征的次级X射线,次级射线释放出的能量只与元素有关。本发明即是利用这一特性对镀层成分进行分析测定。
本发明所述锡铅合金镀层铅含量的测定方法的技术方案是:使用X荧光分析仪与计算机相连,通过配置锡铅合成标样建立锡铅分析曲线,利用Edx3000、exe全元素分析程序与锡铅分析曲线进行比,测定得出产品或零部件锡铅合金镀层铅含量,具体步骤是:
X荧光分析仪与计算机相连后,根据产品镀层成份范围建立锡铅分析曲线,该分析曲线建立方法如下:
第一步根据铅含量要求(3%~10%)配置五个锡铅合成标样:
在分析天平上准确称取纯铅(99.99%),纯锡(99.99%),本实施例根据技术要求配置相应的五个锡铅合成标样,其锡铅元素含量分别为:
1号称取Pb:1.0021g Sn:49.0056g 铅百分含量2%;
2号称取Pb:2.0012g Sn:48.0036g 铅百分含量4%;
3号称取Pb:3.0041g Sn:47.0016g 铅百分含量6.01%;
4号称取Pb:4.0036g Sn:46.0026g 铅百分含量8.01%;
5号称取Pb:5.0081g Sn:45.0066g 铅百分含量10.01%。
将上述五组标样混合材料分别置于1号、2号、3号、4号、5号瓷坩埚中,加热至350℃,待瓷坩埚中的锡铅充分溶解后,取出,用不锈钢棒充分搅拌,再次放入马费炉中加热350℃,保温10分钟。取出,倒入模具中冷却取出。
第二步自制锡铅合金标准试样中锡、铅化学成分分析计算:
由于进行高温加热溶解,锡、铅发生氧化,所以锡铅合金成分百分含量发生改变,不能按实际称取的重量进行计算。需采取化学分析和计算以确定其实际含量,分析计算步骤为:
称样溶解,分别称取1号、2号、3号、4号、5号自制标样0.2000g置于250毫升高脚烧杯中,加浓硝酸5毫升加热溶解,待试样充分溶解后,加50毫升水煮沸使生成的锡酸充分水解。趁热取下溶液并过滤,沉淀用热水洗涤5-6次。将沉淀转入已称重的瓷坩埚中,滤液转入250毫升高脚烧杯中电解铅用。将瓷坩埚放在高温电炉灰化,然后将瓷坩埚放入马费炉(800-900℃)中灼烧40分钟,在干燥器中冷却,称重。
在盛有滤液的250毫升高脚杯中,加入5毫升(1+1)硫酸,用已烘干、称重的铂电极插入高脚杯中,装在44B型电解分析仪上进行电解,电流为1.5-2A,电解一小时后用水洗涤高脚杯内壁;再电解20分钟,如在新浸入的电极上不再有沉积,表示电解完全,在通电状态下取下电极洗净,在120℃的烘箱内烘30分钟。
计算公式如下:
锡百分含量:Sn%=(G1-G2)x0.7877÷G
式中:G1—为灼烧后的坩埚重量
G2—为灼烧前的坩埚重量
G—为所称试样的重量
0.7877—二氧化锡中锡的换算系数
铅百分含量:Pb%=(G1-G2)x0.866÷G
式中:G1—为电解后电极重量
G2—为电解前电极重量
G—为所称试样的重量
0.866—二氧化铅中铅的换算系数
下表为通过化学分析方法计算得出的标样中锡、铅元素的百分含量
序号 项目 Pb% Sn%
1 2.28 97.71
2 4.36 95.62
3 6.28 93.71
4 8.56 91.43
5 10.72 89.26
第三步利用X荧光光谱仪分别对自制锡铅合成试样1号、2号、3号、4号、5号进行扫描,确定不同铅百分含量标样的X射线能量强度,连线建立铅含量—X射线能量强度分析曲线,如图1所示,输入计算机。并存入计算机Edx3000、exe全元素分析软件系统中。
再用X荧光分析仪对自制锡铅标准试样进行测试验证,计算机自动测出数据如下
表(一)1号标样5次所得数据
次数 Pb% 真值 测量值 绝对误差 相对误差 绝对偏差 相对偏差 平均值
1 2.28 2.34 +0.06 +2.63 +0.07 +3.08 2.27
2 2.28 2.32 +0.04 +1.75 +0.05 +2.020 2.27
3 2.28 2.22 -0.06 -2.63 -0.05 -2.20 2.27
4 2.28 2.20 -0.08 -3.51 -0.07 +3.08 2.27
5 2.28 2.25 -0.03 +1.32 -0.02 +0.88 2.27
表(二)2号标样5次所得数据
次数 Pb% 真值 测量值 绝对误差 相对误差 绝对偏差 相对偏差 平均值
1 4.36 4.30 -0.04 -0.92 -0.07 -1.60 4.37
2 4.36 4.34 -0.02 -0.46 -0.03 -0.69 4.37
3 4.36 4.38 +0.02 +0.46 +0.01 +0.23 4.37
4 4.36 4.40 +0.04 +0.92 +0.03 +0.69 4.37
5 4.36 4.42 +0.06 +1.38 +0.05 +1.14 4.37
表(三)3号标样5次所得数据
次数 Pb% 真值 测量值 绝对误差 相对误差 绝对偏差 相对偏差 平均值
1 6.28 6.36 +0.06 +0.96 +0.07 +1.11 6.29
2 6.28 6.30 +0.02 +0.32 +0.01 +0.16 6.29
3 6.28 6.25 -0.03 +0.48 -0.04 -0.64 6.29
4 6.28 6.32 +0.04 +0.64 -0.03 -0.48 6.29
5 6.28 6.24 -0.04 -0.64 -0.05 +0.79 6.29
表(四)4号标样5次所得数据
次数 Pb% 真值 测量值 绝对误差 相对误差 绝对偏差 相对偏差 平均值
1 8.56 8.62 +0.06 +0.70 +0.07 +0.82 8.55
2 8.56 8.49 -0.07 -0.82 -0.06 -0.70 8.55
3 8.56 8.52 -0.04 -0.47 -0.03 -0.35 8.55
4 8.56 8.50 -0.06 -0.07 -0.05 -0.58 8.55
5 8.56 8.60 +0.04 +0.47 +0.05 +0.58 8.55
表(五)5号标样5次所得数据
次数 Pb% 真值 测量值 绝对误差 相对误差 绝对偏差 相对偏差 平均值
1 10.72 10.69 -0.03 +0.28 -0.03 +0.28 10.72
2 10.72 10.76 +0.04 +0.37 +0.04 +0.37 10.72
3 10.72 10.68 -0.04 -0.37 -0.04 -0.37 10.72
4 10.72 10.66 -0.06 -0.56 -0.06 -0.56 10.72
5 10.72 10.80 +0.08 +0.75 +0.08 +0.75 10.72
验证分析曲线准确性后,采用同样的方法照射测试继电器的锡铅镀层中铅含量。
本发明所述锡铅镀层中铅百分含量测试方法,结果重现性好、精密度高、准确性可靠。并且测试速度快(2分钟)对所分析的产品无任何损伤。
注意事项:
1、 制备合成标样时成分含量不能按称量理论值计算,因为在熔炼过程中高温造成锡铅氧化,必须通过化学分析对合金中锡、铅进行分析计算,以确定实际含量。
2、 标样熔炼过程中温度应控制在350±5℃。
3、 采用X荧光分析锡铅镀层中铅时,镀层厚度应以X荧光不击穿为标准,因此被测产品或零件应电镀40分钟以上。
4、 为了保证测试结果的准确性,产品测试前应先对仪器进行校准(合成标样测试)。
Claims (1)
1.一种锡铅合金镀层铅含量的测定方法,其特征在于:该方法使用X荧光分析仪与计算机相连,通过配置锡铅合成标样,确定不同铅百分含量标样的X射线能量强度,建立铅含量—X射线能量强度分析曲线,利用Edx3000、exe全元素分析程序与锡铅分析曲线进行对比,测定得出产品或零部件锡铅合金镀层铅含量,具体步骤如下:
a)将X荧光分析仪与计算机相连;
b)根据等测试产品或零部件锡铅镀层含量允许数值范围,称取4~5组以上不同数值的锡、铅材料混合,熔炼配置合成标样,对每一熔炼后标样中铅百分含量用化学分析法进行计算,确定其真值,将上述所有标样用X荧光分析仪扫描后建立铅含量—X射线能量强度分析曲线,输入计算机;
c)用X荧光分析仪扫描合成标样,通过Edx3000.exe全元素分析程序和所述分析曲线,计算机即可自动确定显示标样镀层中铅百分含量数值,将该数值与上述化学分析计算所得真值进行比较,验证X荧光分析仪和上述分析曲线的准确性;
d)用X荧光分析仪扫描产品或零部件,计算机即可显示其锡铅合金镀层铅含量。
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