CN102420929A - 双面扫描装置及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种双面扫描装置及其检测方法。该双面扫描装置包括：第一图像传感器，该第一图像传感器包括：第一发光器，用于发射光；第一基白区域；第一感光器阵列，第二图像传感器，该第二图像传感器包括：第二发光器，与第一基白区域相对设置，用于发射光；第二基白区域，与第一发光器相对设置；第二感光器阵列，第一存储器，用于存储基准数据；控制器，用于接收来自第一感光器阵列和/或第二感光器阵列的测试数据，并将测试数据和基准数据进行比较以对第一图像传感器和/或第二图像传感器进行检测。通过本发明，能够实现方便地对双面扫描装置进行检测。

Description

双面扫描装置及其检测方法

技术领域

本发明涉及一种双面扫描装置及其检测方法。

背景技术

随着人们处理大量信息的需求，扫描仪得到广泛的应用，如支票扫描、身份信息扫描、纸币扫描等，现有技术中，扫描仪中用于获取扫描介质图像的光学器件通常有电荷耦合图像传感器(简称CCD)和接触式图像传感器(简称CIS)等。随着使用时间的延长，扫描仪的光学器件的光源会发生衰减，降低了扫描图像的灰度，而图像灰度的下降会影响图像质量和对扫描图像的准确识别；另外，在使用过程中光学器件的透光板表面残留灰尘或介质的残渣或刮痕，从而导致在扫描图像中出现暗线甚至黑条。因此，在扫描仪的使用过程中需要对光学器件进行及时检测，出现问题时进行维护，以保证图像的扫描质量。

传统的单面扫描仪包括一个光学器件和与光学器件相对的白条，利用白条可以对光学器件进行检测。然而，对于两个光学器件相对设置的双面扫描仪来说，由于没有空间在扫描仪内部设置分别与两个光学器件相对的白条，因此只能通过人工定期使用校准介质对光学器件进行检测。这种方法的缺点是操作复杂，及时性不强。

针对相关技术中双面扫描装置检测难度比较大的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中双面扫描装置检测难度比较大的问题而提出本发明，为此，本发明的主要目的在于提供一种双面扫描装置及其检测方法，以解决上述问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种双面扫描装置。该双面扫描装置包括：第一图像传感器，该第一图像传感器包括：第一发光器，用于发射光；第一基白区域；第一感光器阵列，第二图像传感器，该第二图像传感器包括：第二发光器，与第一基白区域相对设置，用于发射光；第二基白区域，与第一发光器相对设置；第二感光器阵列，第一存储器，用于存储基准数据；控制器，用于接收来自第一感光器阵列和/或第二感光器阵列的测试数据，并将测试数据和基准数据进行比较以对第一图像传感器和/或第二图像传感器进行检测，其中，第一基白区域用于将第二发光器发射的光反射至第二感光器阵列，第二基白区域用于将第一发光器发射的光反射至第一感光器阵列，第一感光器阵列和/或第二感光阵列用于根据接收到的反射光得到测试数据。

为了实现上述目的，根据本发明的另一方面，提供了一种双面扫描装置的检测方法。该检测方法包括：第一图像传感器经由第二图像传感器上的第二基白区域对自身进行检测，得到第一测试数据，其中，所述第二基白区域用于将所述第一图像传感器上的第一发光器发射的光反射至所述第一图像传感器上的第一感光器阵列，和/或第二图像传感器经由第一图像传感器上的第一基白区域对自身进行检测，得到第二测试数据，其中，所述第一基白区域用于将所述第二图像传感器上的第二发光器发射的光反射至所述第二图像传感器上的第二感光器阵列，将所述第一测试数据和/或所述第二测试数据与基准数据相比较以对所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器进行检测。

通过本发明，采用上述提到的双面扫描装置及其检测方法，解决了相关技术中双面扫描装置检测难度比较大的问题，进而达到了方便高效地对双面扫描装置进行检测的效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明第一实施例的双面扫描装置的示意图；

图2是根据本发明第二实施例的双面扫描装置的示意图；

图3是根据本发明实施例的图像传感器的示意图；

图4是根据本发明实施例的两个图像传感器相对安装的示意图；

图5是根据本发明第一实施例的图像传感器检测方法流程图；

图6是根据本发明第二实施例的图像传感器检测方法流程图；

图7是根据本发明第三实施例的图像传感器检测方法流程图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

图1是根据本发明第一实施例的双面扫描装置的示意图。

如图1所示，该双面扫描装置包括：控制器12，第一存储器和光学器件，其中，该光学器件包括第一图像传感器40和第二图像传感器30，该第一存储器可以为FLASH存储器16。

其中，FLASH存储器16与控制器12连接，用于存储图像传感器的各种测试数据，如初始基准数据、历史基准数据等。

第一图像传感器40包括：第一发光器，用于发射光；第一基白区域；第一感光器阵列。

第二图像传感器30包括：第二发光器，与第一基白区域相对设置，用于发射光；第二基白区域，与第一发光器相对设置；第二感光器阵列。

第一存储器，用于存储基准数据。

控制器12用于接收来自第一感光器阵列和/或第二感光器阵列的测试数据，并将测试数据和基准数据进行比较以对第一图像传感器和/或第二图像传感器进行检测，其中，第一基白区域用于将第二发光器发射的光反射至第二感光器阵列，第二基白区域用于将第一发光器发射的光反射至第一感光器阵列，第一感光器阵列和/或第二感光阵列用于根据接收到的反射光得到测试数据。

在该实施例中，第一图像传感器和第二图像传感器通过利用对方的基白区域作为扫描介质进行检测，不需要使用额外的扫描介质，既节省了附加白条的成本，又不需要人工的参与，不仅可以方便地对双面扫描装置进行检测，而且保证了扫描图像的扫描质量。

需要说明的是，在本发明中，可以仅针对第一图像传感器或第二图像传感器进行检测，也可以对二者均进行检测。

图2是根据本发明第二实施例的扫描装置的示意图。下面依图进行说明。

如图2所示，扫描装置包括：控制器12，通信单元18，FLASH存储器16，RAM存储器14，提示单元20和光学器件。

其中，控制器12，控制各模块动作的执行。比如，控制通信单元18与主机或网络设备(图中未示出)等之间的数据通信，控制光学器件进行图像扫描、图像传感器检测，控制提示单元20发出提示信息等。

光学器件包括第一图像传感器40和第二图像传感器30，二者相对安装。图像传感器可以是CCD，也可以是CIS。扫描装置通过第一图像传感器40扫描介质一面的信息、第二图像传感器30扫描介质另一面的信息，生成的双面扫描图像信息通过通信单元18传送到主机或网络设备等。

图3是根据本发明实施例的图像传感器的示意图。图4是根据本发明实施例的两个图像传感器相对安装的示意图。

下面结合图3和图4，以CIS为例说明图像传感器安装方式。如图3所示，第一图像传感器40包括：发光器42，感光器阵列41，基白区域43。其中，发光器42通常为沿着方向46延伸的线光源，该线光源可以是点光源阵列，也可以是点光源经导光条或导光板转换的线光源；感光器阵列41由多个感光器排列而成，感光器的数量由图像传感器的扫描像素数确定；基白区域43，通常是由纯白的材料制成，表面光滑均匀，其主要作用是阻挡发光器42的光线散射，使其从一个确定的角度发射出来，当利用基白区域进行光线反射时，其作用相当于校正白条。如图4所示，第一图像传感器40和第二图像传感器30相对安装；其中，第二图像传感器30的发光器32与第一图像传感器40的基白区域43相对，第一图像传感器40的发光器42与第二图像传感器30的基白区域33相对；第二图像传感器30的发光器32发射的发光器光线照射在第一图像传感器40的基白区域43上时，由其上的反射区域44进行反射，反射的光线通过第二图像传感器30的感光器阵列31接收，同样的，第一图像传感器40的发光器42发射的发光器光线由第二图像传感器30的基白区域33反射后，通过第一图像传感器40的感光器阵列41接收。

通信单元18，为控制器12和主机或网络设备(图中未示出)等之间的数据交互提供通信通路，如接收主机发送的扫描指令，发送扫描介质的扫描数据等。

FLASH存储器16，与控制器12连接，用于存储图像传感器的各种测试数据，如初始基准数据、历史基准数据等。例如，把图像传感器在正常状态下、经初始校正后、扫描相对图像传感器基白区域生成的明输出数据作为初始基准数据，把图像传感器经上次校正后、扫描相对图像传感器基白区域生成的明输出数据作为历史基准数据，把本次扫描相对图像传感器基白区域生成的明输出数据作为测试数据，把测试数据与初始基准数据进行比较，并根据比较结果生成相应的提示信息，例如，如果测试数据的亮度值相对历史基准数据的亮度值衰减幅度大于或等于第一阈值，则需要对图像传感器进行重新校正，其他的情况将在以下实施例中进行详细描述；把测试数据与历史基准数据进行比较，并根据比较结果生成相应的提示信息，例如，如果测试数据中新增变劣像素点占扫描像素点的比例超过第三阈值，则需要对图像传感器进行维护，其他的情况将在以下实施例中进行详细描述。

RAM存储器14，临时存储通过通信单元18接收的各种扫描指令、扫描装置的扫描图像数据及2个图像传感器的测试数据等。

提示单元20，对扫描装置在图像传感器检测过程中生成的各种提示信息进行指示，提示单元可以是显示设备，如LED(发光二极管)或LCD(液晶显示器)，也可以是声音提示设备，如蜂鸣器、喇叭等，也可以是显示设备和声音提示设备的组合，如液晶显示设备和蜂鸣器的组合等。

图5是根据本发明第一实施例的图像传感器检测方法流程图。

如图5所示，该方法包括以下步骤：

步骤S10，第一图像传感器经由第二图像传感器上的第二基白区域对自身进行检测，得到第一测试数据，其中，第二基白区域用于将第一图像传感器上的第一发光器发射的光反射至第一图像传感器上的第一感光器阵列。

步骤S12，第二图像传感器经由第一图像传感器上的第一基白区域对自身进行检测，得到第二测试数据，其中，第一基白区域用于将第二图像传感器上的第二发光器发射的光反射至第二图像传感器上的第二感光器阵列，

步骤S16，将第一测试数据和/或第二测试数据与基准数据相比较以对第一图像传感器和/或第二图像传感器进行检测。

该处的基准数据可以包括：初始基准数据，其中，该初始基准数据为第一图像传感器和/或第二图像传感器在初始状态下的测试数据；或，历史基准数据，其中，该历史基准数据为第一图像传感器和/或第二图像传感器在上一次检测时得到的测试数据。

在得到测试数据(第一测试数据和/或第二测试数据)之后，该测试方法还可以包括，计算所述初始基准数据的亮度值H0、所述历史基准数据的亮度值H1、所述测试数据的亮度值H2，并计算所述H2相对于所述H1的变化率，得到第一亮度变化率，计算所述H2相对于所述H0的变化率，得到第二亮度变化率；计算所述初始基准数据的缺陷像素比例B0、所述历史基准数据的缺陷像素比例B1、所述测试数据的缺陷像素比例B2；在所述第一亮度变化率大于等于第一阈值时发出第一提示信息，例如，图像传感器的校正信息，用于指示需要对图像传感器进行校正，在所述第一亮度变化率小于所述第一阈值并且所述第二亮度变化率大于等于第二阈值时发出第二提示信息，例如，图像传感器的故障信息，用于指示图像传感器存在故障，在所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B1之差大于等于第三阈值时发出第三提示信息，例如，清洁图像传感器的信息，用于指示需要对图像传感器进行清洁，以及在所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B1之差小于第三阈值并且所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B0之差大于等于第四阈值时发出第四提示信息，例如，图像传感器异常信息，用于指示图像传感器存在异常。

通过使用相对图像传感器的基白区域作为扫描介质对2个相对放置的图像传感器进行测试，通过测试数据与基准数据的亮度值对比确定图像传感器的明输出衰减，通过测试数据中异常数据的比例判定图像传感器中像素缺陷程度和透光板表面损伤程度；不需要使用额外的扫描介质，既节省了附加白条的成本，又能自动完成对2个图像传感器的检测，保证了扫描图像的扫描质量。

在获得第一测试数据和/或第二测试数据之后，还可以对第一测试数据和/或第二测试数据进行保存。

需要说明的是，上述步骤S10和步骤S12的顺序是可变的，而且该方法也可以仅包括步骤S10或步骤S12，此时，仅需要对将第一测试数据或第二测试数据与基准数据相比较以对第一图像传感器或第二图像传感器进行检测。

图6为本发明第二实施例的图像传感器检测方法流程图，具体的检测方法如下：

步骤S20，比较测试数据和初始基准数据检测图像传感器的明输出衰减。

在图像传感器的检测过程中，使用3种扫描数据，分别是初始基准数据、历史基准数据及测试数据；初始基准数据是图像传感器在完好状态下并且通过校正后，扫描相对图像传感器生成的明输出数据；图像传感器的完好状态是指其表面没有损伤、没有灰尘，发光器未发生衰减，感光器无缺陷的情况；历史基准数据是图像传感器在上次校正后、扫描相对图像传感器生成的明输出数据；测试数据是本次进行测试时生成的明输出数据，此时图像传感器可能会出现不良的变化，如发光器发光能力衰减，表面有擦痕或粘有灰尘、感光器出现缺陷等；通过对测试数据和初始基准数据的比较，能够检测图像传感器在使用一段时间后的明输出衰减，根据明输出的衰减程度确定图像传感器的状态并进行相应的提示。

步骤S22，比较测试数据和历史基准数据检测图像传感器的均匀性变化。

对测试数据与历史基准数据的每个像素点数据进行处理，可以确定自上次校正到本次测试之间图像传感器的均匀性变化，主要指感光器阵列是否发生新的缺陷等、表面是否有新的擦痕等；扫描装置根据图像传感器的均匀性变化，进行相应的信息提示。

步骤S24，根据检测结果进行相应的操作。

根据步骤S20和步骤S22的检测结果，确定扫描装置需要进行的操作，如当图像传感器的明输出衰减超过一定阈值后，将提示扫描装置需要进行校正操作，以消除明输出衰减对扫描图像的影响；当感光器阵列有新的缺陷时，提示扫描装置需要进行图像传感器校正；当表面粘有灰尘时时，提示扫描装置需要清洁图像传感器等。需要说明的是，步骤S20和步骤S22的执行顺序可以调整，除了本实施例列出的执行顺序外，还可以先执行步骤S22，比较测试数据和历史基准数据检测图像传感器的均匀性变化，根据图像传感器的均匀性变化进行相应的信息提示，再执行步骤S20，比较测试数据和初始基准数据检测图像传感器的明输出衰减，根据明输出的衰减程度确定图像传感器的状态并进行相应的提示。

下面以图7来说明本发明第三实施例的图像传感器检测方法，图中以2个相对安装的图像传感器中的一个为例来说明检测方法的实施流程，另一图像传感器的检测方法与此完全相同，此处不再赘述。

如图7所示，该方法包括：

步骤S30，读取初始基准数据(A0)及其亮度值(H0)、历史基准数据(A1)及其亮度值(H1)。

控制器10读取存储在FLASH存储器16中的初始基准数据(A0)及其亮度值(H0)和历史基准数据(A1)及其亮度值(H1)；初始基准数据及其亮度值是判断图像传感器光源衰减的参考数据，其一直保存在FLASH存储器16中，除非更换图像传感器，否则初始基准数据及其亮度值不会进行修改；历史基准数据及其亮度值是判断图像传感器在使用过程中是否出现新的刮痕、或光源出现明显衰减的参考数据，该数据为上一次校正后的测试数据，该数据一直保存，只有在图像传感器再次校正后，才由新的测试数据及其亮度值来替代历史基准数据及其亮度值。测试数据的亮度值可以为所有像素的测试数据的平均值，也可以为按照其他算法对所有像素测试数据进行处理后得到的数值。

步骤S32，对相对图像传感器进行扫描，生成测试数据(A2)及其亮度值(H2)。

对相对图像传感器进行扫描，如利用相对图像传感器的基白区域作为扫描介质进行扫描，生成的明输出数据为测试数据(A2)并计算其亮度值(H2)；通过测试数据及其亮度值与初始基准数据及其亮度值、历史基准数据及其亮度值的比较，判断图像传感器的状态变化。

步骤S34，计算亮度值变化率。

根据初始基准数据亮度值H0、历史基准数据亮度值H1和测试数据亮度值H2计算第一亮度值变化率V1、第二亮度值变化率V2，其中，V1为测试数据亮度值H2相对历史基准数据亮度值H1的变化率(以下简称第一亮度变化率)，计算公式为：V1＝(H1-H2)/H1*100％；V2为测试数据亮度值H2相对初始基准数据亮度值H0的变化率(以下简称第二亮度变化率)，计算公式为：V2＝(H0-H2)/H0*100％。

步骤36，判断第一亮度值变化率V1是否大于等于第一阈值，如果是，执行步骤S46，否则，执行步骤S38。

对第一亮度值变化率V1是否大于等于第一阈值进行判断，能够确定图像传感器自上次校正后，其光源的发光能力、感光器的感光能力是否发生变化；如果第一亮度值变化率V1大于等于第一阈值，如第一阈值为3％，则说明扫描图像的灰度变化明显，则转到步骤S46；如果第一亮度值变化率V1小于第一阈值，则说明扫描图像的灰度未明显变化，转到步骤S38进行下一步的处理；第一阈值的具体数值，可以根据图像传感器的类型来确定，也可以根据要扫描图像的灰度特性，对第一阈值进行修改。

步骤S38，判断第二亮度值变化率V2是否大于等于第二阈值，如果是，执行步骤S48，否则，执行步骤S40。

对第二亮度值变化率V2是否大于等于第二阈值进行判断，能够确定图像传感器在使用过程，其光源的发光能力、感光器的感光能力是否发生了显著的变化，从而使测试数据的亮度值差别很大；如果第二亮度值变化率V2大于等于第二阈值，如第二阈值为30％，说明扫描图像的灰度变化很大，已经影响到扫描图像的正常识别和使用，需要进行报警提示，进一步处理转到步骤S48；如果第二亮度值变化率V2小于第二阈值，说明图像传感器还可以继续使用，则转到步骤S40；通常情况下，第一阈值明显小于第二阈值，大约是第二阈值的1/10左右。

需要说明的是，步骤S36和步骤S38的执行的先后顺序可以调整，除了本实施例列举的执行顺序外，还可以先执行步骤S38，判断第二亮度值变化率V2是否大于等于第二阈值，如果是，执行步骤S48，否则，执行步骤S36，判断第一亮度值变化率V1是否大于等于第一阈值，如果是，执行步骤S46，否则，执行步骤S40。

步骤S40，计算缺陷像素比例。

根据初始基准数据A0、历史基准数据A1和测试数据A2计算初始基准数据的缺陷像素比例B0、历史基准数据的缺陷像素比例B1和测试数据的缺陷像素比例B2，方法包括：a)分别确定初始基准数据、历史基准数据和测试数据中图像传感器的缺陷像素数，分别记做T1、T2和T3。确定像素点是否有缺陷的方法为：像素点的扫描数据相对于所有像素点扫描数据的平均值的变化率，高于第一设定值或低于第二设定值，则该像素为缺陷像素；不同型号的图像传感器、不同厂家生产的图像传感器，判断缺陷像素的设定值可能略有不同；b)根据计算公式为Bx＝(Tx/总测试像素)*100％，x＝0、1、2，分别计算初始基准数据的缺陷像素比例B0、历史基准数据的缺陷像素比例B1及测试数据的缺陷像素比例B2，正常情况下，B0＜B1＜B2，B0接近或等于零。

步骤S42，判断测试数据的缺陷像素比例B2与历史基准数据的缺陷像素比例B1之差是否大于等于第三阈值。

对测试数据的缺陷像素比例B2与历史基准数据的缺陷像素比例B 1之差进行判断，即判断从上次校正后，图像传感器的状况是否发生明显的变化，如个别感光器的感光能力明显变差、透光板是否出现新的擦痕或粘有灰尘等；如果该差值大于等于第三阈值，如第三阈值等于1％，说明新增加了1％的缺陷像素，则转到步骤S50；如果差值小于第三阈值，则转到步骤S44，进行下一步判断。

步骤S44，判断测试数据的缺陷像素比例B2与初始基准数据的缺陷像素比例B0之差是否大于等于第四阈值。

对测试数据的缺陷像素比例B2与初始基准数据的缺陷像素比例B0之差进行判断，即从图像传感器使用开始，其状况是否明显变劣，如部分感光器发生缺陷、透光板多处出现擦痕等；如果该差值大于等于第四阈值，如第四阈值等于10％，则说明图像传感器共有10％左右的像素出现缺陷，已经影响到扫描装置的正常扫描，转到步骤S52进行下一步处理；否则，说明自上次校正后，图像传感器的状况基本不变，可以继续使用。

需要说明的是，步骤S42和步骤S44的执行顺序可以调整，除了本实施例列举的执行顺序外，还可以先执行步骤S44，判断测试数据的缺陷像素比例B2与初始基准数据的缺陷像素比例B0之差是否大于等于第四阈值，如果是，执行步骤S52，否则执行步骤S42，判断测试数据的缺陷像素比例B2与历史基准数据的缺陷像素比例B1之差是否大于等于第三阈值，如果是，执行步骤S50，否则，说明自上次校正后，图像传感器的状况基本不变，可以继续使用。

步骤S46，发出图像传感器校正信息。

图像传感器校正信息，可以通过提示单元20进行提示，可以通过通信单元18传送到主机等设备；扫描装置在发出图像传感器校正信息后，对图像传感器进行校正，以减小或消除图像传感器变化对扫描图像质量的影响；扫描装置在对图像传感器校正后，用新的测试数据对历史基准数据进行更新。

步骤S48，发出图像传感器故障信息。

图像传感器故障信息，可以通过提示单元20进行提示，可以通过通信单元18传送到主机等设备；图像传感器故障信息，表示图像传感器中发光器的发光能力、感光器的感光能力明显下降，或者透光板大面积擦伤，导致扫描图像的灰度明显下降、扫描图像模糊等，即图像传感器处于其使用寿命的后期，此时需要人工参入，确认其能否继续使用。

步骤S50，发出图像传感器清洁信息。

图像传感器清洁信息，表示其透光板表面附有灰尘，需要进行清理；该信息可以通过提示单元20进行信息提示，也可以通过通信单元18传送到主机等设备。

步骤S52，发出图像传感器异常信息。

图像传感器异常信息，表示图像传感器的透光板表面有多处擦伤，已经明显地影响到图像的扫描效果，如表面擦伤处影响了发射光线或反射光线的聚焦，需要采取进一步措施进行补偿处理，如对扫描图像中擦伤处的像素进行补偿，或对校正数据进行必要的修正等处理。

需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

通过测试数据与历史基准数据的比较，发现从上次校正到本次测试的间隔时间内，图像传感器在使用过程中是否出现发光器发光能力变弱现象、是否出现新的像素缺陷点、透光板表面是否有新的擦痕等；通过测试数据与初始基准数据的比较，发现从图像传感器开始使用一直到当前为止，其明输出衰减是否已经超过图像扫描可接受的程度、其透光板表面是否多处划伤、是否有比较多的像素点出现缺陷等。通过把相对传感器的基白区域作为扫描介质进行测试，自动检测2个相对放置图形传感器的使用状况，向扫描装置发出各种提示信息，不仅节省了附加测试白条的设备成本及扫描设备的维护成本，还保证了扫图像描的质量。

本发明的双面扫描装置，可以通过使用相对图像传感器的基白区域作为测试介质使相对放置的2个图像传感器相互扫描、检测，从而能够对图像传感器状态进行自动检测，进而实现了方便地对图像扫描装置进行检测。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (12)

1.一种双面扫描装置，其特征在于，包括：

第一图像传感器，包括：

第一发光器，用于发射光；

第一基白区域；

第一感光器阵列，

第二图像传感器，包括：

第二发光器，与所述第一基白区域相对设置，用于发射光；

第二基白区域，与所述第一发光器相对设置；

第二感光器阵列，

第一存储器，用于存储基准数据；

控制器，用于接收来自所述第一感光器阵列和/或所述第二感光器阵列的测试数据，并将所述测试数据和所述基准数据进行比较以对所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器进行检测，

其中，所述第一基白区域用于将所述第二发光器发射的光反射至所述第二感光器阵列，所述第二基白区域用于将所述第一发光器发射的光反射至所述第一感光器阵列，所述第一感光器阵列和/或所述第二感光阵列用于根据接收到的反射光得到所述测试数据。

2.根据权利要求1所述的双面扫描装置，其特征在于，还包括第二存储器，用于存储所述测试数据。

3.根据权利要求1所述的双面扫描装置，其特征在于，还包括：

提示机构，用于在所述控制器对所述测试数据和所述基准数据进行比较之后，根据比较结果进行提示。

4.根据权利要求3所述的双面扫描装置，其特征在于，所述基准数据包括：

初始基准数据，其中，该初始基准数据为所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器在初始状态下的测试数据；

历史基准数据，其中，该历史基准数据为所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器在上一次检测时得到的测试数据。

5.根据权利要求4所述的双面扫描装置，其特征在于：

所述控制器还用于通过对所述测试数据和所述初始基准数据进行比较检测所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器的明输出衰减，以及通过对所述测试数据和所述历史基准数据进行比较检测所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器的均匀性变化；

所述提示机构还用于根据所述明输出衰减的程度和/或所述均匀性变化进行相应的提示。

6.根据权利要求5所述的双面扫描装置，其特征在于：

所述控制器还用于计算所述初始基准数据的亮度值H0、所述历史基准数据的亮度值H1、所述测试数据的亮度值H2、所述初始基准数据的缺陷像素比例B0、所述历史基准数据的缺陷像素比例B1、所述测试数据的缺陷像素比例B2，并计算所述H2相对于所述H1的变化率，得到第一亮度变化率，计算所述H2相对于所述H0的变化率，得到第二亮度变化率；

所述提示机构还用于在所述第一亮度变化率大于等于第一阈值时发出图像传感器校正信息，在所述第一亮度变化率小于所述第一阈值并且所述第二亮度变化率大于等于第二阈值时发出图像传感器故障信息，在所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B1之差大于等于第三阈值时发出清洁图像传感器信息，以及在所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B1之差小于第三阈值并且所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B0之差大于等于第四阈值时发出图像传感器异常信息。

7.一种双面扫描装置的检测方法，其特征在于，包括：

第一图像传感器经由第二图像传感器上的第二基白区域对自身进行检测，得到第一测试数据，其中，所述第二基白区域用于将所述第一图像传感器上的第一发光器发射的光反射至所述第一图像传感器上的第一感光器阵列，和/或，第二图像传感器经由第一图像传感器上的第一基白区域对自身进行检测，得到第二测试数据，其中，所述第一基白区域用于将所述第二图像传感器上的第二发光器发射的光反射至所述第二图像传感器上的第二感光器阵列，

将所述第一测试数据和/或所述第二测试数据与基准数据相比较以对所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器进行检测。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述基准数据包括：

初始基准数据，其中，该初始基准数据为所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器在初始状态下的测试数据；

历史基准数据，其中，该历史基准数据为所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器在上一次检测时得到的测试数据。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过对所述测试数据和所述初始基准数据进行比较检测

所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器的明输出衰减；

通过对所述测试数据和所述历史基准数据进行比较检测

所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器的均匀性变化；

根据所述明输出衰减的程度和/或所述均匀性变化进行相应的提示。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，

通过对所述测试数据和所述初始基准数据进行比较检测

所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器的明输出衰减包括：

计算所述初始基准数据的亮度值H0、所述历史基准数据的亮度值H1、所述测试数据的亮度值H2，并计算所述H2相对于所述H1的变化率，得到第一亮度变化率，计算所述H2相对于所述H0的变化率，得到第二亮度变化率，

通过对所述测试数据和所述历史基准数据进行比较检测所述第一图像传感器和/或所述第二图像传感器的均匀性变化包括：

计算所述初始基准数据的缺陷像素比例B0、所述历史基准数据的缺陷像素比例B1、所述测试数据的缺陷像素比例B2，

根据所述明输出衰减的程度和/或所述均匀性变化进行相应的提示包括：

在所述第一亮度变化率大于等于第一阈值时发出第一提示信息，在所述第一亮度变化率小于所述第一阈值并且所述第二亮度变化率大于等于第二阈值时发出第二提示信息，在所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B1之差大于等于第三阈值时发出第三提示信息，以及在所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B1之差小于第三阈值并且所述缺陷像素比例B2与所述缺陷像素比例B0之差大于等于第四阈值时发出第四提示信息。

11.根据权利要求10所述的检测方法，其特征在于，

所述第一提示信息为图像传感器的校正信息；

所述第二提示信息为图像传感器的故障信息；

所述第三提示信息为清洁图像传感器信息；

所述第四提示信息为图像传感器异常信息。

12.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，在得到所述第一测试数据所述第二测试数据之后，所述方法还包括：

对所述第一测试数据和所述第二测试数据进行保存。

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