CN102290078A - 磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置 - Google Patents

磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置。通过对磁记录再现磁道写入高频信号、接着检测进行了DC擦除或AC擦除后的冒脉冲再现信号，或通过对磁记录再现磁道写入高频信号、检测漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号，从而确定具有微小突起的磁记录再现磁道，一边进行控制一边使磁头移动以使得回避读写该磁记录再现磁道的信息。通过采用该方法，提高了磁记录再现装置的可靠性和寿命。

Description

磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置
技术领域
本发明涉及以硬盘驱动器为代表的磁记录介质的检查方法，尤其涉及适用于认证检查的检查方法和利用该检查方法的磁记录介质的制造方法。进一步，本发明还涉及利用该检查方法来控制磁记录再现装置的磁头的移动的方法、及控制磁头的移动的磁记录再现装置。 
背景技术
以硬盘驱动器为代表的磁记录介质装置正被广泛用作计算机等信息处理装置的外部记录装置。近年来，也被用作运动图像的录像装置等。 
硬盘驱动器通常包括：(i)轴，其使中央有开口部的圆盘状(环形形状)的磁盘记录介质一片单独地、或者层叠多片磁盘记录介质而以相同轴为中心地同步旋转；(ii)马达，其经由轴承与该轴接合，使磁记录介质旋转；(iii)磁头，其在磁记录介质的两面用于记录和/或再现；(iv)安装该磁头的多个支撑臂；(v)磁头悬臂组件(head stack assembly)，其使上述多个支撑臂同步可动，且使磁头移动到磁记录介质上的任意位置。此外，用于磁记录再现的磁头通常是浮起型磁头，在磁记录介质上具有一定的浮起量而进行移动。 
一般，在搭载于硬盘驱动器的磁记录介质中，在半径方向形成有多个磁道，进一步，在磁道的延伸方向上形成有多个被称为扇区的记录区域。通常，磁记录介质中的信息读写以磁道和扇区为单位来进行。 
一般，磁记录介质通过下面的工序来制造。即，在由铝合金和/或玻璃基板等形成的基板表面，使用溅射法等，依次形成基底层、磁性层、保护 层、润滑层等，由此来制作磁记录介质。然后，对得到的磁记录介质依次进行滑行检查和认证检查。 
所谓滑行检查是检测磁记录介质的表面有无突起的检查。即，当使用磁头对磁记录介质进行记录再现时，当在磁记录介质的表面存在比磁头的浮起量(介质与磁头之间的间隙)高的突起时，则磁头会碰到突起，将损伤磁头，会在磁记录介质产生缺陷。在滑行检查中检查有无这种高的突起(例如，参见专利文献1)。 
对通过(pass)了滑行检查的磁记录介质实施认证检查。所谓认证检查是指与通常的硬盘驱动器的记录再现同样地，在用磁头对磁记录介质记录了预定的信号之后，再现该信号，根据得到的再现信号，检查是否正常地记录于磁记录介质，由此确认磁记录介质的电特性和/或有无缺陷等的介质的质量(例如，参见专利文献2)。 
作为认证检查提出了一种检测方法，该检测方法利用来自具有热敏元件的检查头的起因于热粗糙(thermal asperity)的信号(例如，参见专利文献3)。 
通过(pass)了认证检查的磁记录介质使用被称为伺服记录器的装置写入伺服信息，然后被内置在硬盘驱动器中。作为硬盘驱动器中使用的磁头，提出了磁阻效应型磁头(MR头)。并且，伴随着磁记录介质的高密度化，MR头从磁记录介质的浮起量变小。 
现有技术文献 
专利文献1：日本特开平11-260014号公报 
专利文献2：日本特开2003-257016号公报 
专利文献3：日本特开平10-105908号公报 
如上所述，伴随着磁记录介质的高密度化，MR头从磁记录介质的浮起量变小，所以MR头与作为在磁记录介质上不可避免地存在的缺陷的微小突起物发生冲撞而会促使MR头元件部磨损，容易发生输出下降和/或特性劣化等磁头劣化故障。由于成为这些故障的原因的缺陷的尺寸微小，所以对磁记录介质制造质量进行改善需要很长时间，多会使新机型的市场推 出计划产生延迟。另外，由这种微小突起物引起的故障会使得硬盘驱动器的可靠性降低。 
发明内容
本发明是鉴于上述问题而完成的发明，本发明的目的在于提供一种磁记录介质的检查方法、尤其是适用于认证检查的检查方法、以及使用了该检查方法的磁记录介质的制造方法。根据这些检查方法和制造方法，能得到可靠性显著提高的磁记录介质。 
进一步，其他的目的在于提供一种利用上述检查方法来控制磁记录再现装置的磁头的移动的方法、以及控制磁头的移动的磁记录再现装置。 
本发明的发明人为了解决上述问题而进行了认真努力的研究，结果发现：具有以前的滑行检查、认证检查中难以检测的等级的微小突起物、具体而言具有高度15nm以下且宽度500nm以下的突起物的磁记录介质成为磁记录再现装置的长期使用中的MR头磨损的原因。进一步，对于该微小突起物，发现通过分析从MR头输出的信号能够检测其存在。本发明是基于这种发现而完成的。 
这样，根据本发明能提供下述的磁记录介质的检查方法、磁记录介质的制造方法、磁记录再现装置的磁头的移动控制方法以及磁记录再现装置。 
一种磁记录介质的检查方法，一边使记录了预定的信号的圆盘状的磁记录介质旋转，一边使用磁头再现上述信号，根据得到的再现信号检查磁记录介质，其特征在于，(1)在磁记录再现磁道写入高频信号，接着进行DC擦除或AC擦除，对从进行了擦除后的磁道再现的冒脉冲再现信号进行检测，或者(2)在磁记录再现磁道写入高频信号，对来自写入了高频信号的磁道的漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号进行检测，通过上述(1)或(2)的检测来对该磁道的缺陷位置进行检测。 
一种磁记录介质的制造方法，具有使用了上述的对磁记录介质的磁记录再现磁道的缺陷位置进行检测的方法的工序。 
一种磁记录再现装置中的磁头的移动方法，该磁记录再现装置在圆盘 状的磁记录介质的圆周方向上具有多个磁记录再现磁道，一边使上述磁记录介质旋转，一边移动磁头来读取信息，该移动方法的特征在于，(1)在磁记录再现磁道写入高频信号，接着进行DC擦除或AC擦除，对从进行了擦除后的磁道再现的冒脉冲再现信号进行检测，或者(2)在磁记录再现磁道写入高频信号，对来自写入了高频信号的磁道的漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号进行检测，将通过上述(1)或(2)的步骤检测出的再现信号写入到存储器，基于进行了写入的存储器，一边进行控制一边移动磁头而进行信息的读写，使得回避读写具有缺陷的特定的磁记录再现磁道中的信息。 
一种磁记录再现装置，使用了上述的磁头的移动方法。 
一种磁记录再现装置，其特征在于，包括：通过上述的磁记录介质的制造方法制造的磁记录介质；写入了对具有缺陷的特定的磁记录再现磁道进行表示的再现信号的存储器；以及进行上述磁记录介质的记录再现的磁头。 
根据本发明的磁记录再现装置中的磁头的移动控制方法，能够避免磁头与磁记录介质上存在的微小突起物冲撞而损耗磁头元件部、以及输出降低等的特性劣化。 
采用了本发明的磁头的移动控制方法的磁记录再现装置具有磁头元件部磨损、输出降低等的特性劣化少、产品寿命长、可靠性高的优点。 
根据本发明的磁记录介质的检查方法，能提供一种能够检测出以往的滑行检查、认证检查无法检测出的或难以检测出的微小突起物，且比现有技术可靠高的磁记录介质的检查方法。 
本发明的磁记录介质的制造方法能够生产出比现有技术可靠性高的磁记录介质。 
对于采用了由本发明的制造方法制造的磁记录介质的磁记录再现装置，因为磁头元件部的磨损、输出降低等的特性劣化少，所以产品寿命长，可靠性高。 
附图说明
图1是表示本发明的磁记录再现装置的立体图。 
图2是说明本发明中检测出的漏脉冲再现信号(1)、尖峰脉冲再现信号(2)、以及冒脉冲再现信号(3)的模式图。 
图3是在本发明的磁头检查方法中表示进行了DC擦除后的冒脉冲再现信号的图。 
图4是在本发明的磁头检查方法中表示进行了AC擦除后的冒脉冲再现信号的图。 
图5是在本发明的磁头检查方法中表示写入高频信号后的漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号的图。 
图6是为了比较而表示写入低频后的漏脉冲再现信号的图。 
图7是表示本发明中能够检测出的微小突起缺陷的一例的放大剖面TEM照片。 
图8是表示本发明中使用的磁记录介质的多层构造的一例的剖视图。 
图9是表示本发明的检查方法中使用的检查装置的一例的立体图。 
图10是用于说明在本发明中使用的伺服图案的图，图10的(a)是示出了整体的俯视图，图10的(b)是放大示出了图10的(a)的一部分的放大俯视图。 
图11是表示本发明的实施例中的磁头元件部的磨损状态的照片。
图12是表示与本发明对比的比较例中的磁头元件部的磨损状态的照片。 
具体实施方式
下面详细说明本发明。 
本发明在一方面涉及以硬盘驱动器为代表的磁记录再现装置的磁头移动控制方法。
图1是本发明的磁记录再现装置的一例。磁记录再现装置具有：磁记录介质50；使磁记录介质50旋转驱动的介质驱动部51；在磁记录介质50记录 再现信息的磁头52；使该磁头52相对于磁记录介质50进行相对运动的磁头驱动部53；以及记录再现信号处理系统54。记录再现信号处理系统54能够处理从外部输入的数据而将记录信号输送到磁头52，处理来自磁头52的再现信号而将数据输送到外部。磁头52是在1mm见方左右的磁头滑动器的一部分设置的20μm见方左右的部位。 
以往，在磁记录再现装置中，作为将磁头52移动控制到磁记录介质50的表面的特定位置的方式采用扇区伺服方式、索引伺服方式等。即，采用如下方法：在磁记录介质50的圆周方向上设置多个磁记录再现磁道，进而在该磁记录再现磁道上预先每一周各记录整数个伺服信号，通过磁头52再现该伺服信号，由记录再现信号处理系统54生成磁道偏离信号，基于该信号通过磁头驱动部53进行磁道(track)伺服。 
在本发明中，在磁记录再现装置中的磁头52的移动控制方法中，预先在记录再现信号处理系统54中登记特定的磁记录再现磁道，根据该登记信息来执行磁头52的移动控制，由此尽量防止磁头52与微小突起物之间的冲撞，减少设置于磁头52的元件部的磨损和/或来自磁头52的输出信号的降低等的特性劣化，所述特定的磁记录再现磁道是包含成为磁头52磨损的原因的、在以往的滑行检查和认证检查中难以检测出的高度15nm以下且宽度500nm以下的微小突起物的磁道。 
一般，磁记录介质50每分钟几千转到1万几千转的高速进行旋转。因此，即使假设存在于该表面的突起是微小的尺寸，如果在跟踪中(on track)与磁头52直接撞击，其破坏也是很大的。与之相对，在本发明中，通过一边进行控制以使得不会与磁道上的微小的突起冲撞，一边使磁头52移动，从而极大降低了对磁头52的破坏。 
本发明中，作为检测磁道上的缺陷位置、即微小突起的第1方法，在磁记录再现磁道写入高频信号，然后执行DC擦除或AC擦除，这样一来对从进行了擦除的磁道再现的冒脉冲再现信号进行检测。作为检测微小的突起的第2方法，在磁记录再现磁道写入高频信号，这样一来对来自写入了高频信号的磁道的漏(missing)脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号进行检测。 
这样，预先登记检测出冒(extra)脉冲再现信号的磁记录再现磁道、或检测出漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号的磁记录再现磁道。 
可以通过向磁记录介质内置的存储器或独立于磁记录介质的存储器进行写入来进行登记。 
图2示出了本发明中用于检测包含微小突起部的磁记录再现磁道的来自磁头52的再现信号。图2中，(1)是漏脉冲再现信号、(2)是尖峰脉冲再现信号、(3)是冒脉冲再现信号，(1)与(2)的信号在接连的状态下连续的信号是漏脉冲与尖峰脉冲的并发再现信号。在此，漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号包括接着漏脉冲产生尖峰脉冲的情况、接着尖峰脉冲产生漏脉冲的情况、在漏脉冲的内部产生尖峰脉冲的情况以及在尖峰脉冲的内部产生漏脉冲的情况。最后的两个并发再现信号也可以定义为漏脉冲、尖峰脉冲、漏脉冲的连续信号；尖峰脉冲、漏脉冲、尖峰脉冲的连续信号。这些信号都包含在本发明的并发再现信号中。 
在检测微小突起的第2方法中检测并预先登记如下的磁记录再现磁道：对磁记录再现磁道写入高频信号，然后在DC擦除或AC擦除后，在由磁头52对该磁记录再现磁道进行了再现时，除了本来输出的低振幅的DC擦除信号或AC擦除信号之外，还产生图2的(3)中示出的作为大振幅的未消除信号的冒脉冲信号。并且，一边进行控制以使得回避该被登记的磁道，一边进行磁记录再现装置中的磁头的移动。 
图3示出了在本来输出的低振幅的DC擦除信号产生了作为大振幅的未消除信号的冒脉冲信号的一例，另外，图4示出了在本来输出的低振幅的AC擦除信号产生了作为大振幅的未消除信号的冒脉冲信号的一例。 
另外，在检测微小突起的第2方法中检测并预先登记如下的磁记录再现磁道：在磁记录再现磁道写入高频信号后，在通过磁头52对该磁记录再现磁道进行了再现时，在本来输出的高频信号内产生漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号。并且，一边进行控制以使得回避该被登记的磁道，一边进行磁记录再现装置中的磁头的移动。 
图5示出了在本来输出的高频信号内产生了漏脉冲和尖峰脉冲的并发 再现信号的一例。 
图6中为了进行比较而示出在与图5相同的磁记录再现磁道中写入低频信号后，通过磁头对该磁记录再现磁道进行了再现的情况下的再现信号。图6的情况下，在低频信号内产生漏脉冲但没有并发尖峰脉冲。 
在本发明中，所谓AC擦除是指频率1000kFCI(0.025μm/比特)～3000kFCI(0.008μm/比特)范围内的擦除，优选是指2000kFCI(0.013μm/比特)的擦除。 
另外，本发明的高频信号写入是指频率600kFCI(0.042μm/比特)～1000kFCI(0.025μ/比特)的范围内的信号写入，优选写入800kFCI(0.032μm/比特)的信号。与此相对，低频信号写入是指频率100kFCI(0.254μm/比特)～300kFCI(0.085μm/比特)的范围内的信号写入，优选写入200kFCI(0.127μm/比特)的信号。 
图7是包含以往的滑行检查和认证检查中难以检测出的微小突起的缺陷部的剖视TEM图像。发明人认为该缺陷部的形成过程为如下那样。 
首先，在向基板表面(箭头2)形成磁薄膜之前、或成膜过程中，以附着在表面的微小的异物(箭头3～5的范围内)为核而堆积薄膜，形成瘤状的突起物。在瘤状突起物与正常部分的边界，因由成为核的异物导致的成膜期间中的遮蔽效应，形成弧坑(crater，弹坑)状的谷(箭头8)。成膜后的瘤状突起物的高度与本来的核粒子的大小相对应，但是在之后的涂剂(varnish)工序中顶部被除去。这样产生的缺陷(箭头9)的高度低到了15nm以下，所以滑行检查和/或认证检查中难以检测出来。另一方面，因为宽度最大有500nm，所以与磁头冲撞时的破坏较大。本发明中，这种突起部的检测使用尖峰脉冲再现信号、冒脉冲再现信号，但是发明人发现这些信号受到弧坑的斜面或瘤状突起物的磁性膜构造发生错乱的残留磁场的影响。需说明的是，漏脉冲再现信号是由于通过涂剂而除去瘤状突起物的顶部、也即是磁性膜发生磨损而产生的。 
本发明的特征在于，在一边使记录有预定的信号的圆盘状的磁记录介质旋转、一边用磁头再现上述信号而根据得到的再现信号检查磁记录介质 的所谓的认证检查中，在第一检测法中，通过在磁记录介质写入高频信号之后，通过对从DC擦除或AC擦除后的磁记录介质输出的冒脉冲再现信号进行检测，从而对缺陷位置进行检测，在第二检测法中，根据从写入高频信号后的磁记录介质输出的漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号，对缺陷位置进行检测。 
图8是示出使用本发明的磁记录介质的检查方法进行认证检查的磁记录介质的多层构造的一例的剖视图。图1所示的磁记录介质是在非磁性基板1的上下两面依次层叠非磁性基底层2、磁层3、保护层4、液体润滑层5而成的圆盘状的记录介质。作为本发明中检查的磁记录介质，除了图1所示的双面类型之外，也可以是仅在非磁性基板1的一面上依次层叠非磁性基底层、磁层、保护层、液体润滑层而成的单面型的记录介质。 
在对图8所示的磁记录介质进行认证检查前，优选如下所述那样进行滑行检查。在滑行检查中，使检查头在旋转的磁记录介质上浮起，通过用检查头扫描磁记录介质表面，从而根据来自检查头的信号检查磁记录介质的表面有无突起物。通过在认证检查前进行滑行检查工序，能够防止损坏认证检查中的检查头。 
作为滑行检查中能够使用的检查头，可以是例如具有热敏元件的磁头、使用AE传感器和/或压电传感器的磁头。当使用具有热敏元件的磁头时，在检查头与高速旋转的磁记录介质上存在的突起物接触时，会在检查头瞬间产生热，热敏元件检测出该热而输出信号，从而能够实施滑行检查。滑行检查中的检查头的浮起量优选比硬盘驱动器中常用的磁记录再现磁头的浮起量低的浮起量。 
接着，针对图9和图10说明磁记录介质的认证检查方法。图9是示出了用于在本发明的磁记录介质的认证检查方法中使用的认证检查装置的一例的立体图。 
在本实施方式中，以对具有图8所示的多层结构的三块磁记录介质构成的被检查介质连续进行认证检查为例进行说明。 
图9中的附图标记21、附图标记22表示被检查介质。在本实施方式中， 作为被检查介质而设置有三块被检查介质21、22a、22b。在本实施方式中，由于连续进行被检查介质21、22a、22b的检查，所以下面的说明主要仅针对被检查介质21进行。 
被检查介质21、22a、22b具有圆盘状的形状，分别由图8所示的磁记录介质构成。被检查介质21、22a、22b被设置在俯视重叠的位置，如图9所示，通过具有主轴马达的旋转机构23以相同的轴为中心而同步旋转。 
32、33(33a、33b)是支撑臂，分别与被检查介质21、22(22a、22b)对应。支撑臂轴支于枢轴6，31表示磁头悬臂组件。在支撑臂的顶端设置磁头25a。23表示旋转机构，26表示挠性印刷基板，27表示信号处理电路，28表示磁头驱动装置，29表示退避区域。 
图10是用于说明本实施方式中使用的被检查介质的磁道、扇区的图，图10的(a)是表示整体的俯视图，图10的(b)是放大示出了图10的(a)的一部分的放大俯视图。在图10中，附图标记T表示磁道，附图标记S表示扇区。如图10所示，在被检查介质21中，通过基于伺服记录器或磁转写工序的写入，从中心开始呈放射状连续地具有多个伺服信息区域21a，相邻的伺服信息21a之间为数据信息区域21b。伺服信息区域21a是将包括磁道位置信息和扇区位置信息的伺服信息记录到与各自的位置对应的记录区域而成的区域。 
在图9的认证检查装置中，在被检查介质21、22a、22b的认证检查结束后，能够将已检查过的检查介质21、22a、22b与下次要被认证检查的被检查介质进行交换。并且，在图9所示的检查装置设置有退避区域29，该退避区域29用于在交换被检查介质21、22a、22b时使构成磁头悬臂组件31的磁头25a进行退避。因此，在交换被检查介质21、22a、22b时，通过使磁头25a移动到退避区域29，能够防止构成磁头悬臂组件的支撑臂32、33妨碍交换被检查介质。 
本发明的特征在于，使用图9中例示的认证检查装置，用磁头对被检查介质21写入高频信号之后，进行DC擦除或AC擦除，然后，通过检测从磁记录介质输出的冒脉冲再现信号，或根据从写入了高频信号的磁记录介质 输出的漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号，检测被检查介质21的表面的缺陷位置。 
关于具体的检测方法如前面所述。根据本发明的磁记录介质的检查方法，能够检测出含有以前的滑行检查、认证检查中难以检测出的微小的缺陷的扇区、磁道，基于该检查结果，能够判断被检查介质的合格、不合格，另外，能够通过涂剂工序等对不合格的被检查介质实施再加工而将其再次送到检查工序。 
另外，通过按每个被检查介质而登记被检查介质的不合格扇区、磁道信息，能够在装入该被检查介质的磁记录再现装置中进行该不合格部位的避让处理。 
在本实施方式中，举例说明了被检查介质是3块的情况，但本发明的磁记录介质的检查方法不限定为上述例子。 
[实施例] 
下面，记述实施例来具体说明本发明，但是本发明不限于此。 
(实施例1) 
制造外径为2.5英寸的具有图8所示的多层构造的磁记录介质，对磁记录介质进行了滑行检查和认证检查。 
[滑行检查] 
滑行检查中，将检查头与磁记录介质表面之间的机械间距设定为0.25微英寸，在从检查头输出因其与磁记录介质表面的突起物冲撞而产生的信号的情况下，判定该磁记录介质不合格，除此以外判定为合格。 
[伺服信息的写入工序] 
对通过(pass)了滑行检查的磁记录介质使用伺服记录器写入伺服信息。伺服图案从磁记录介质的中心开始为放射状，磁道间距(pitch)为0.1μm，每单面设有100000条磁道，磁道每一周的伺服扇区数为256。 
[认证检查] 
使用图9所示的装置进行了认证检查。作为磁头使用在2.5″120G字节(1块)对应的硬盘驱动器中使用的TuMR(隧道磁阻)头。作为磁头悬臂 组件使用被用于硬盘驱动器的通用的磁头悬臂组件。 
在认证检查中，一边使三块被检查介质以相同轴为中心同步地以3600rpm旋转，一边使用磁头一块块地进行了检查。检查中，首先在被检查介质的全部磁道、扇区写入800kFCI的高频信号，之后分析从被检查介质的全部磁道、扇区输出的输出信号，对周向宽度0.5μm以下所对应的漏脉冲和相对于写入的高频信号的平均振幅为1.4倍以上的尖峰脉冲的并发再现信号进行检测，将检测出该并发再现信号的磁道记录为避让磁道。 
[磁记录再现装置的制造] 
制造了组合有经认证检查后的磁记录介质和使用了TuMR头的磁头悬臂组件等的磁记录再现装置。在磁记录再现装置中组装的磁记录介质为1块。 
(实施例2) 
对制造出的磁记录再现装置进行100小时的搜索测试。在搜索测试中，将认证检查中登记的避让磁道和以该磁道为中心的半径方向宽度±25μm的范围的磁道作为避让磁道，使磁头不加以搜索。图11中示出了搜索测试后的磁头元件部的照片。图11中上侧的白色部分是写入元件，下侧白色部分是读出元件，实施例2的磁头元件部中没有观察到磨损。 
(比较例) 
对与实施例2同样地制造的磁记录再现装置进行了100小时的搜索测试。在搜索测试中，仅搜索通过认证检查登记的避让磁道。图12示出了搜索测试后的磁头元件部的照片。与图11的照片对比，观察到磁头元件部的写入元件和读入元件之间的碳保护膜发生磨损，露出了其下的氧化铝陶瓷部分。 

Claims (6)

1.一种磁记录介质的检查方法，一边使记录了预定的信号的圆盘状的磁记录介质旋转，一边使用磁头再现上述信号，根据得到的再现信号检查磁记录介质，其特征在于，
(1)在磁记录再现磁道写入高频信号，接着进行DC擦除或AC擦除，对从进行了擦除后的磁道再现的冒脉冲再现信号进行检测，或者
(2)在磁记录再现磁道写入高频信号，对来自写入了高频信号的磁道的漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号进行检测，
通过上述(1)或(2)的检测来对该磁道的缺陷位置进行检测。
2.一种磁记录介质的制造方法，具有使用了权利要求1所述的对磁记录介质的磁记录再现磁道的缺陷位置进行检测的方法的工序。
3.一种磁记录再现装置中的磁头的移动方法，该磁记录再现装置在圆盘状的磁记录介质的圆周方向上具有多个磁记录再现磁道，一边使上述磁记录介质旋转，一边移动磁头来读写信息，该移动方法的特征在于，
(1)在磁记录再现磁道写入高频信号，接着进行DC擦除或AC擦除，对从进行了擦除后的磁道再现的冒脉冲再现信号进行检测，或者
(2)在磁记录再现磁道写入高频信号，对来自写入了高频信号的磁道的漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号进行检测，
将通过上述(1)或(2)的步骤检测出的再现信号写入到存储器，
基于进行了写入的存储器，一边进行控制一边移动磁头而进行信息的读写，使得回避读写具有缺陷的特定的磁记录再现磁道中的信息。
4.一种磁记录再现装置，使用了权利要求3所述的磁头的移动方法。
5.一种磁记录再现装置，其特征在于，包括：
通过权利要求2所述的磁记录介质的制造方法制造的磁记录介质；
写入了对具有缺陷的特定的磁记录再现磁道进行表示的再现信号的存储器；以及
进行上述磁记录介质的记录再现的磁头。
6.根据权利要求5所述的磁记录再现装置，其特征在于，
写入了对具有缺陷的特定的磁记录再现磁道进行表示的再现信号的存储器内置于该磁记录介质中，或是独立于该磁记录介质的部件。
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