CN102282616B - 用于在存储介质上确定缺陷位置的方法和装置 - Google Patents

Abstract

在盘驱动器的存储介质上检测缺陷。在存储介质上存储的数据的最小可寻址单元内确定缺陷的位置。位置的指示存储在存储器中。监视盘驱动器的传感器相对于存储介质上存储的数据的位置。基于传感器相对于存储介质上存储的数据的位置和存储的缺陷位置的指示，改变盘驱动器的缺陷检测器、盘驱动器的读通道控制器和盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应。

Description

用于在存储介质上确定缺陷位置的方法和装置

相关申请的交叉引用

本申请要求于2009年1月14日提交的、名称为“DEFECTBOUNDARY CONROLLER”的美国临时申请No.61/144,602的优先权，在此通过引用合并其全部内容。

技术领域

本公开总体上涉及盘存储设备，并且更特别地，涉及在盘上检测缺陷的位置。

背景技术

出于总体上提供该公开的上下文的目的，在此提供了背景描述。对于当前具名的发明人的工作，在该背景部分对其描述的程度中、以及在提交时可能不作为现有技术的描述的多个方面，对于本公开而言，既不明示地也不暗示地被承认为现有技术。

可以使用激光器向光存储介质写入数据，该激光器在光存储介质的聚碳酸酯衬底的顶部形成极小的刻痕或凹痕的图案。凹痕之间的区域被称为凸面，并且凹痕和凸面一起表示写到光存储介质的数据。将可以包括激光器和光传感器的光学拾取单元(OPU)用于读取数据。例如，可以将OPU的激光引导到期望从其读取数据的光存储介质上的轨道处。凹痕相对于凸面的刻痕使得光从凹痕的反射与从凸面的反射不同。在读取操作期间，光存储介质由主轴马达/进给马达(FM)驱动器旋转，以允许光传感器读取凹痕和凸面。该光传感器感测来自于凹痕和凸面的反射中的差异，以便读取由凹痕和凸面表示的数据。

因为从光存储介质准确读取数据取决于对反射中的差异的准确感测，并且因为凹痕是极小的刻痕，所以写在光存储介质上的数据的完整性容易受到诸如划痕或指印之类的缺陷的影响。此类缺陷可以干扰凸面和凹痕的图案，并且可以损害光存储介质的反射性质，从而阻止准确地读取数据或甚至根本无法读取数据。结果可以包括在对光存储介质用户的音频或视频回放中的“跳过”或“尖峰信号(blip)”以及难于读取数据以供处理。

图1示出了具有缺陷108(诸如划痕或指印)的光存储介质104(诸如数字多功能盘(DVD)介质)，该缺陷108始于光存储介质104上的缺陷起始区域112中。缺陷起始区域112可以包括多个轨道116，如图1中缺陷起始区域112的放大视图中所示。多个轨道116中的每个其上写有数据。稍后，可以从多个轨道116读取数据以供进一步处理、向光存储介质104的用户显示、向用户进行音频或视频回放等。

随着缺陷径向延伸跨越光存储介质，光存储介质上的缺陷有时会增加大小。如图1中所示，随着缺陷108径向延伸跨越缺陷起始区域112内的多个轨道116，其在大小上增加。缺陷108引起光存储介质104上的数据层的劣化，在该光存储介质104上的多个轨道116上写有数据，尤其是当缺陷108在大小上增加时更是如此，并且不利地影响读通道(诸如DVD播放器的读通道)从缺陷108所延伸跨越的每个轨道读取数据的能力。

图2示出了来自于光存储设备的输出信号200。输出信号200可以是例如读通道信号，该读通道信号对应于通过从光存储介质(诸如光存储介质104)读取数据而生成的信号。输出信号200包括具有由指印引起的劣化的劣化区域204。劣化区域204的特征在于低信号水平和对应于指印脊部的脊部208。图3示出了来自光存储设备的另一输出信号300。输出信号300包括具有由划痕引起的严重劣化的劣化区域304。劣化区域304的特征在于几乎完全劣化的信号水平和因此损失几乎全部数据。

可以根据纠错编码(ECC)方案(诸如Reed-Solomon编码方案)对写在光存储介质104上的数据进行编码。在某些情况中，尽管存在缺陷108，但是ECC的使用将允许读通道确定在缺陷(诸如缺陷108)位置处的写在光存储介质104上的数据。然而，如果缺陷108足够严重或足够大，则ECC可能不足以补偿数据的损失。而且，即使ECC足以补偿数据的损失，缺陷108也可能引起附加的问题。即，读通道使用各种控制环路以持续监视并调整参数，诸如按照其从光存储介质104读取数据的定时以及应用于读取信号的增益和dc偏移量。例如，根据光存储介质104的通道时钟来读取数据。光数据获取系统基于例如光存储介质104的旋转速度来确定期望的通道时钟。然而，各种因素可以使得期望的通道时钟不准确。例如，光存储介质104偏心或椭圆旋转、光存储介质104旋转速度的变化，并且正在被读取的轨道的曲率中心与光存储介质104的旋转轴之间的差异都可能促成定时误差。因此，使用定时控制环路来恢复实际的通道时钟，以确保读取操作期间的适当信号定时。类似地，使用增益和dc偏移控制控制来自OPU的读取信号的放大并且补偿dc偏移，该dc偏移可能被引入到读取信号中，以作为包括一个或多个引起定时控制问题的因素的因素结果。

然而，在存在缺陷108时，光存储介质104上的数据的劣化引起对定时、增益和dc偏移控制环路的非期望输入，并且因此引起对信号定时、增益和dc偏移补偿的非期望和不准确的控制。作为结果，甚至在已经通过了包括缺陷108的光存储介质104的区域之后，缺陷108的不利影响(即，跳过、尖峰信号等)可能继续，直到基于足够的可靠数据量更新了控制环路以再次生成适合的输出为止。

就控制OPU的定位以从光存储介质104读取数据而言，当存在缺陷108时可能出现类似的问题。由于包括例如关于定时控制的以上讨论的那些因素的因素，OPU的位置可能发生不期望的改变。因此，正如定时、增益和dc偏移一样，OPU的定位也可以由附加的控制环路监视并且更新。然而，正如定时、增益和dc偏移控制环路一样，可能基于存在缺陷108时的不准确的数据来更新用于定位OPU的控制环路，这引起对OPU的位置的不准确调整，其甚至在OPU已经通过了缺陷108结尾之后也可能继续。

一个已知的系统可以检测诸如缺陷108之类的缺陷，并且对例如由读通道使用的控制环路进行某些改变。例如，可以禁用定时环路以便最小化利用源自缺陷108的不准确数据对定时环路的更新。该系统还可以确定ECC块的光存储介质104上的地址，在该ECC块内检测到缺陷108。如果稍后尝试重新读取ECC块，则系统对缺陷的灵敏度在ECC块的开始处开始增加，以便增加将较早检测到缺陷108的可能性，其结果在于将较早禁用定时环路并且将进一步减少利用不准确数据对其进行的更新。

发明内容

在一个实施方式中，一种方法，包括在盘驱动器的存储介质上检测缺陷。该方法还包括在存储介质上存储的数据的最小可寻址单元内确定缺陷的位置。此外，该方法包括在存储器中存储位置的指示。该方法还包括监视盘驱动器的传感器相对于存储介质上存储的数据的位置。该方法还包括基于传感器相对于存储介质上存储的数据的位置和存储的缺陷的位置的指示，改变盘驱动器的缺陷检测器、盘驱动器的读通道控制器和盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应。

在另一实施方式中，改变读通道控制器对缺陷的响应包括增加应用于读取信号的增益。在一个实施方式中，增加应用于读取信号的增益包括响应于确定存储介质上缺陷位置处存储的数据的幅度高于阈值来增加增益。

在其他实施方式中，一种装置，包括：计数器，被配置用于生成与盘驱动器的存储介质上的不同位置相关联的计数。该装置还包括缺陷检测器，被配置用于在存储介质上检测缺陷。该装置还包括缺陷边界控制器，被配置用于确定对应于缺陷的位置的计数器的计数。该缺陷边界控制器还被配置用于基于计数和计数器来改变缺陷检测器、盘驱动器的读通道控制器以及盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应。

在一个实施方式中，该装置还包括计数器重置模块，被配置用于在一个或多个计数器重置位置处重置计数器。缺陷边界控制器还被配置用于确定对应于缺陷的特定计数器重置位置。此外，该缺陷边界控制器被配置用于基于对应于缺陷的计数器重置位置，改变缺陷检测器、读通道控制器以及伺服器控制器中至少一个的响应。

在另一实施方式中，计数指示对应于缺陷的计数器重置位置和缺陷位置之间的、存储介质的通道时钟的周期数量。

在又一实施方式中，缺陷边界控制器还被配置用于在计数器重置位置处对计数器重置之后，当计数器达到对应于缺陷的位置的调整计数时，使得读通道控制器进入缺陷模式。

在又一实施方式中，缺陷边界控制器还被配置用于在计数器重置位置处对计数器重置之后，当计数器指示接近缺陷时，改变缺陷检测器的缺陷检测灵敏度。

在又一实施方式中，缺陷的位置在存储介质的第一轨道上。缺陷边界控制器还被配置用于基于缺陷的位置计算补偿值。缺陷边界控制器还被配置用于将该补偿值与对应于缺陷的位置的计数相加，以在存储介质的第二轨道上预测缺陷的第二位置。

在进一步的实施方式中，一种方法，包括：运行计数器。计数器的计数与盘驱动器的存储介质上的不同位置相关联。该方法还包括使用缺陷检测器在存储介质上检测缺陷。此外，该方法包括确定对应于缺陷的位置的计数器的计数。该方法还包括基于计数和计数器，改变缺陷检测器、盘驱动器的读通道控制器以及盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应。

在另一实施方式中，该方法还包括在一个或多个计数器重置位置处重置计数器，以及确定对应于缺陷的计数器重置位置。此外，进一步基于对应于缺陷的计数器重置位置，改变缺陷检测器、读通道控制器以及伺服器控制器中至少一个的响应。

在又一实施方式中，计数指示对应于缺陷的计数器重置位置和缺陷位置之间发生的、存储介质的通道时钟的周期数量。

在又一实施方式中，对应于缺陷的计数器重置位置是存储介质上的纠错编码块的边界。

在又一实施方式中，对应于缺陷的计数器重置位置是存储介质上的数据扇区的边界。

在又一实施方式中，对应于缺陷的计数器重置位置是存储介质上的预定角度位置。

在又一实施方式中，改变缺陷检测器的响应包括在计数器重置位置处对计数器重置之后，当计数器指示接近缺陷时，改变缺陷检测器的缺陷检测灵敏度。

在又一实施方式中，改变读通道控制器的响应包括在计数器重置位置处对计数器重置之后，当计数器达到对应于缺陷的位置的调整计数时，使得读通道控制器进入缺陷模式。

附图说明

图1示出了具有缺陷的光存储介质；

图2示出了来自包括由指印引起的劣化的光存储设备的输出信号；

图3示出了来自包括由划痕引起的严重劣化的光存储设备的输出信号；

图4是根据一个实施方式的盘驱动系统的框图；

图5是根据另一实施方式的、管理盘驱动系统的光存储介质上的缺陷的方法的流程图；

图6是根据另一实施方式的、包括缺陷管理模块的实现的盘驱动系统的框图；

图6A示出了根据又一实施方式的、缺陷管理模块的缺陷边界控制器的详细视图；

图7是根据又一实施方式的、在盘驱动系统的光存储介质上确定缺陷位置的方法的流程图；

图8描绘了根据又一实施方式的、光存储介质的轨道的两个图示；

图9是根据另一实施方式的、改变对盘驱动系统的光存储介质上的缺陷的响应的方法的流程图；

图10是根据另一实施方式的、包括缺陷管理模块的另一实现的备选盘驱动系统的框图；

图11是根据又一实施方式的、用于在光存储介质的第三轨道上预测缺陷位置的方法的流程图；

图12示出了根据又一实施方式的、具有多个轨道的光存储介质；以及

图13示出了根据另一实施方式的、光存储介质的两个轨道上的计数器重置位置和缺陷检测位置。

具体实施方式

虽然将在此描述的缺陷检测和响应技术公开为在使用一个或多个数字多功能盘(DVD)格式规范(例如，DVD只读存储器(DVD-ROM)、可记录格式DVD-R和DVD+R、可重写格式DVD-RW和DVD+RW以及DVD随机访问存储器(DVD-RAM))的光盘驱动系统中使用，但是这些技术也可以在各种其他类型的光盘驱动系统中使用，诸如使用蓝光盘(BD)格式规范和压缩盘(CD)格式规范的那些光盘驱动系统，并且不被限制到符合DVD格式规范的一个或多个光盘驱动系统。而且，在此描述的技术还可以应用于其他数据存储设备和驱动系统，诸如磁盘驱动系统。

图4是根据一个实施方式的盘驱动系统400的框图。盘驱动系统400可以是例如蓝光盘驱动系统、DVD盘驱动系统等，诸如可以在蓝光盘播放器、DVD播放器、个人计算机或膝上型计算机、或可以使用光驱动器的多个设备和装置的任意一个中找到的。盘驱动系统400包括光存储介质104、OPU 408附接到的移动臂404、伺服器412、伺服器控制器416、读通道420、存储器424、读通道控制器432、缺陷管理模块436、盘控制器440和接口444。读通道控制器432包括偏移和增益控制器432a以及定时控制器432b。在另一实施方式中，偏移和增益控制器432a被实现为两个不同的控制器；即，一个dc偏移控制器(未示出)和一个增益控制器(未示出)。在又一实施方式中，如以下详细讨论的，压控振荡器(VCO)(图4中未示出)可以与定时控制器432b结合或通信地耦合到定时控制器432b。

此外，参考图5，现在将更详细地描述盘驱动系统400的操作。图5是根据一个实施方式的、管理盘驱动系统的光存储介质上的缺陷的方法500的流程图。为了解释的简便性，将参考盘驱动系统400描述方法500。然而，应该理解，方法500可以由除盘驱动系统400之外的系统实现。

在504处，从光存储介质104检测数据。在一个实施方式中，上述计算设备(可以在其中找到盘驱动系统400)中的一个的微处理器(未示出)可以向接口444提供指示待读取数据的读取数据请求，诸如将从其读取数据的光存储介质104上第一轨道的指示。接口444向盘控制器440传输待读取数据的指示，该盘控制器440继而向伺服器控制器416传输信号以指示例如将从其读取数据的第一轨道。响应于来自于盘控制器440的信号，伺服器控制器416控制伺服器412的操作以将移动臂404和OPU 408定位在第一轨道上。尽管在此的讨论指的是将OPU 408定位在第一轨道上，但是应该理解，伺服器控制器416和伺服器412可以被用于将OPU 408定位在如由读取数据请求所指示的光存储介质104的任何合适位置上，诸如第一轨道上的特定数据扇区。OPU 408可以包括激光器和光传感器，以感测来自于第一轨道上凸面和凹痕的不同反射，并且从而读取光存储介质104上存储的数据。

继续参考504，在一个实施方式中，对光存储介质104上存储的数据的检测可以进一步如下实现。读通道420从OPU 408接收模拟读取信号、基于该模拟读取信号生成数字信号，以及检测由该数字信号表示的数据。在一个实施方式中，可以将检测的数据写入存储器424，以供由其中布置有盘驱动系统400的计算设备进一步使用，存储器424可以包括RAM、ROM、闪存和/或任何其他合适的电子数据存储介质。在另一实施方式中，可以向盘控制器440提供检测的数据，并且转而可以从盘控制器440向接口444提供该检测的数据。接口444继而可以进一步向上述微处理器提供该检测的数据。读通道420可以基于从光存储介质104读取的位置信息来进一步生成位置信号，并且向伺服器控制器416提供这些位置信号。因此，伺服器控制器416可以响应于来自读通道420的位置信号来进一步地控制伺服器412的操作。

接着，在508处，更新盘驱动系统400内的控制器以便调整向读通道420提供的各种参数。这些参数可以包括例如用于在读操作期间确保适合的定时、放大和dc偏移补偿的信号定时、增益和dc偏移参数。在盘驱动系统400中，数字信号和检测的数据中的一个或两者被用于更新读通道控制器432内的控制器432a和432b。控制器432a和432b响应于来自数字信号和/或检测的数据的更新，调整向读通道420提供的上述参数。可以响应于变化来调整这些参数，该变化是由例如光存储介质104的偏心或椭圆旋转、光存储介质104旋转速度的变化、光存储介质104的旋转轴与第一轨道或正被读取的任何其他轨道的曲率中心之间的差异等引起的。此外，数字信号和检测的数据中的一个或两者可以被用于响应于例如前述因素的一个或多个，更新伺服器控制器416，以便提供对伺服器412的准确控制。

接下来，在512处，确定在光存储介质104上是否已经检测到缺陷的第一边缘，诸如关于图1讨论的缺陷108的开始。可以按照各种方式中的任意方式在盘驱动系统400内检测缺陷108的第一边缘。例如，可以向缺陷管理模块436提供来自于读通道420的数字信号和检测的数据之一或两者。而且，在一个实施方式中，定时控制器432b可以向缺陷管理模块436提供定时控制。而且，盘控制器440可以向缺陷管理模块436提供缺陷检测设置，并且缺陷管理模块436可以使用该缺陷检测设置来检测缺陷108的第一边缘。盘控制器440可以是例如执行机器可读指令的控制器。机器可读指令可以被存储为固件、软件等。缺陷检测设置可以指定例如数字信号中指示缺陷的劣化量。在一个实施方式中，缺陷管理模块436基于以下确定检测缺陷108的第一边缘，该确定例如是光存储介质104的特定位置处的数字信号的包络的幅度低于由盘控制器440设置的阈值。在另一实施方式中，可以通过基于从伺服器412接收的信号的幅度、使用伺服器控制器416检测缺陷，来在盘驱动系统400内检测缺陷108的第一边缘。

如果在512处确定已经检测到缺陷108的第一边缘，则流程进行到516。如果尚未检测到缺陷108的第一边缘，则流程返回到504，如在此所述，方法可以从该点继续。

在516处，盘驱动系统400对缺陷108的第一边缘进行响应。在一个实施方式中，缺陷管理模块436可以通过响应于检测到缺陷108的第一边缘而禁用控制器432a和432b中的一个或多个，对缺陷108的第一边缘进行响应，以便避免向控制器432a和432b中的一个或多个引入不准确的更新。在另一实施方式中，如果缺陷管理模块436基于来自读通道420的检测的数据或基于从伺服器412接收的信号幅度，确定缺陷108正引起OPU 408的操作中的径向追踪问题，则代替或除了控制器432a和432b中的一个或多个之外，响应于缺陷108的第一边缘的检测而类似地禁用伺服器控制器416。如在此参考控制器432a和432b中的一个或多个以及参考伺服器控制器416，而使用的术语“禁用”指的是防止对控制器416、432a和432b中的一个或多个控制器的输出的进一步更新，从而防止信号定时、增益、dc偏移等的进一步调整。

接下来，在520处，确定检测到缺陷108的第一边缘的位置。在一个实施方式中，缺陷管理模块436在光存储介质104上存储的数据的最小可寻址单元内确定检测到缺陷108的第一边缘的位置。缺陷管理模块436可以但不必确定或标识在其中检测到缺陷108的第一边缘的数据的特定最小可寻址单元。例如，在DVD介质中，数据的最小可寻址单元是八到十四调制(EFM)帧，其包括1,488比特。因此，举例来说，缺陷管理模块436可以使用以下更详细地讨论的技术来确定EFM帧内的位置或比特号，但是不必是特别标识的EFM帧，在该帧处，在第一轨道上检测到缺陷108的第一边缘。

接着，在524处，确定是否已经检测到缺陷108的第二边缘或结尾。可以按照各种方式中的任意一种在盘驱动系统400内检测缺陷108的第二边缘。例如，缺陷管理模块436可以如上所述使用由盘控制器440提供的缺陷检测设置来检测缺陷108的第二边缘。更特别地，在一个实施方式中，缺陷管理模块436基于以下确定来检测缺陷108的第二边缘，该确定为从读通道420提供的数字信号的包络的幅度处于或高于用于在512处检测缺陷108的第一边缘的阈值。在另一实施方式中，伺服器控制器416可以基于例如从伺服器412所接收信号的幅度的增加来检测缺陷108的第二边缘，其中该幅度是相对于OPU处于检测到缺陷108第一边缘的位置处时从伺服器412所接收信号的幅度而增加的。如果在524处确定了已经检测到缺陷108的第二边缘，则流程进行到528。如果尚未检测到缺陷108的第二边缘，则流程保持在524处直到检测到第二边缘。

在528处，盘驱动系统400对缺陷108的第二边缘进行响应。在一个实施方式中，缺陷管理模块436可以通过重新使能在516处被禁用的控制器432a和432b中的一个或多个，对缺陷的第二边缘进行响应。如参考控制器432a和432b中的一个或多个在此使用的，术语“重新使能”或“重新使能的”指的是允许在禁用控制器432a和432b中的一个或多个之后对控制器432a和432b中的一个或多个的输出的进一步更新。在另一实施方式中，如果缺陷管理模块436基于来自于读通道420的检测的数据或基于从伺服器412所接收的信号的幅度，确定缺陷108不再在OPU 408的操作中引起径向追踪问题，则缺陷管理模块436类似地响应于检测到缺陷108的第二边缘来重新使能伺服器控制器416。

接着，在532处，确定检测到缺陷108的第二边缘的位置。如在520中一样，如以下一步描述的，缺陷管理模块436可以在光存储介质104上存储的数据的最小可寻址单元内确定检测到缺陷的108第二边缘的位置。缺陷管理模块436可以但不必确定或标识数据的特定最小可寻址单元，缺陷108的第二边缘位于该单元内。

接着，在536处，预测缺陷108的实际位置。为了缺陷管理模块436检测缺陷108的第一边缘，读通道420必须处理从光存储介质104读取的数据。因此，缺陷管理模块436一般将不检测缺陷108的第一边缘，直到缺陷108实际开始的稍后位置。类似地，由于该处理延迟，缺陷管理模块436一般将不检测缺陷108的第二边缘，直到缺陷108实际结束的稍后位置。因此，缺陷管理模块436可以在光存储介质104上存储的数据的最小可寻址单元内预测缺陷108的实际位置。例如，缺陷管理模块436可以预测缺陷108第一边缘的实际位置和缺陷108第二边缘的实际位置。缺陷管理模块436存储所预测位置的指示以供稍后使用，如下所述。缺陷管理模块436可以根据在下面更详细讨论的技术来进行该预测。

接着，在540处，在随后尝试从受到缺陷108影响的光存储介质104的区域读取数据的期间，盘驱动系统400改变其对于缺陷108的响应。更具体地，在一个实施方式中，在随后的尝试期间，盘驱动系统400可以基于OPU 408的位置来改变其对于缺陷108的响应，该OPU 408的位置相对于存储介质上存储的数据和存储的缺陷108位置的指示。如以下进一步讨论的，盘驱动系统400因此可以在例如OPU 408处于缺陷108的预测位置处时(如关于536所讨论的)或当OPU 408处于光存储介质104中接近该预测位置的位置处时，改变其响应。

在一个实施方式中，并且继续参考540，在即使在利用纠错编码(ECC)方案之后也无法读取在缺陷108的位置处存储的数据的情况下，读通道控制器432可以向伺服器控制器416提供重新读取信号，以便控制伺服器412的操作来使得OPU 408尝试重新读取受到缺陷108影响的数据。因此，在重新读取的尝试期间，缺陷管理模块436可以监视OPU 408相对于光存储介质104上存储数据的位置，如以下进一步讨论的一样。在一个实施方式中，当OPU 408处于缺陷108的预测位置处时、或当OPU 408处于光存储介质104中接近该预测位置的位置处时，缺陷管理模块436在重新读取尝试期间改变其自身对缺陷108的响应。在另一实施方式中，除了或代替改变其自身对缺陷108的响应，缺陷管理模块436还改变读通道控制器432和伺服器控制器416中一个或两者的响应。

仍参考540，缺陷管理模块436可以按照各种方式中的任意一个改变其自身、和/或读通道控制器432响应和/或伺服器控制器416对于缺陷108的响应。例如，当在尝试重新读取期间OPU 408处于缺陷108第一边缘的预测位置处时，缺陷管理模块436可以生成缺陷检测信号。而且，在一个实施方式中，缺陷检测信号使得读通道控制器432和伺服器控制器416中一个或两者进入缺陷模式。缺陷模式可以是或可以不是读通道控制器432的相同操作模式、或伺服器控制器416的相同操作模式，该缺陷模式用于在初始数据读取期间对缺陷108的第一边缘进行响应。例如，响应于缺陷检测信号，可以禁用控制器432a和432b中的一个或多个。在另一实施方式中，代替或除了控制器432a和432b中的一个或多个，可以禁用伺服器控制器416。作为结果，可以最小化对伺服器控制器416和/或控制器432a和432b中的一个或多个的不准确更新，从而增加读通道420将在重新读取尝试期间准确检测受到缺陷108影响的数据的可能性。此外，由于对伺服器控制器416和/或控制器432a和432b中的一个或多个的不准确更新的最小化，在缺陷108结束之后，对伺服器控制器416和/或控制器432a和432b中的一个或多个的准确更新将变得更快。

在另一实施方式中，控制器432a和432b中的一个或多个可以从缺陷管理模块436接收强制更新。在又一实施方式中，代替或除了控制器432a和432b中的一个或多个，伺服器控制器416可以从缺陷管理模块436接收强制更新。此类更新可以是对伺服器控制器416和/或控制器432a和432b中的一个或多个的适合输入，其将例如在进行了对在缺陷108位置处重新读取数据的尝试之后，优化读通道420的性能和/或伺服器控制器416和伺服器412的性能。

仍然关于540，读通道控制器432和伺服器控制器416的各种缺陷模式(诸如上述模式)可以受到控制器432a和432b和/或伺服器控制器416的一个或多个设置的影响，例如可以由盘控制器440向控制器432a和432b和/或伺服器控制器416提供这些设置。通过适当地生成缺陷检测信号，缺陷管理模块436选择将使用哪个设置或哪些设置。

在关于540的另一实施方式中，如果对来自于光存储介质104的数据的音频或视频回放的连续性的要求规定不能进行重新读取操作，则缺陷管理模块436可以在合适的时段内(或无限期地)存储缺陷108第一边缘的预测位置存储该预测位置，并且在稍后尝试重新读取受到缺陷108影响的数据期间，OPU 408处于例如缺陷108第一边缘的预测位置处时，生成缺陷检测信号。

在关于540的又一实施方式中，并且如以下更详细地讨论的那样，缺陷管理模块436可以通过在OPU 408处于缺陷108第一边缘的预测位置处时或处于接近缺陷108的第一边缘的预测位置的位置处时改变其检测灵敏度，来改变其对于缺陷108的响应。例如，接近缺陷108的第一边缘的预测位置的位置可以是远离缺陷108第一边缘的预测位置大约10或100比特数量级的位置。在一个实施方式中，可以凭经验确定接近的位置。以这种方式，可以针对所使用类型的光存储介质104上的某些普通类型的缺陷来优化性能。在另一实施方式中，缺陷管理模块436可以在尝试读取受到缺陷108影响的数据期间尝试附近的不同位置。例如，在某些情况下，由缺陷108引起的错误数量可能多于纠错码可以处理的数量。通过作为重新读取策略的部分的对附近的位置的调整，缺陷管理模块436在尝试找到对于缺陷108而言工作良好的附近位置中尝试附近的不同位置。在缺陷108的第一边缘的预测位置与附近位置之间的默认比特数量对于某些缺陷而不是其他缺陷(诸如缺陷108)而言工作良好时，这可能是有帮助的。

在一个实施方式中，缺陷管理模块436可以根据由例如盘控制器440向其提供的设置、通过指定在数字信号中指示缺陷的降级的减少量来改变其缺陷检测灵敏度。以这种方式，在尝试重新读取受到缺陷108影响的数据期间，缺陷管理模块436将比缺陷管理模块436处于常规响应时更可能检测到更靠近缺陷108实际开始位置处的缺陷108的第一边缘。此外，缺陷管理模块436可以例如禁用更靠近缺陷108的第一边缘的实际位置的控制器432a和432b中的一个或多个。在另一实施方式中，代替或除了控制器432a和432b中的一个或多个，缺陷管理模块436可以禁用更靠近缺陷108的第一边缘的实际位置的伺服器控制器416。因而，可以最小化对控制器432a和432b和/或416的不准确更新，并且避免了此类不准确更新的负面后果。

在关于540的又一实施方式中，并且如以下更详细地讨论的那样，缺陷管理模块436可以基于以下确定来改变其对缺陷108的响应、和/或读通道控制器432的响应、和/或伺服器控制器416的响应，该确定为缺陷108具有相对最小的严重性(诸如由指印引起)并且受缺陷108影响的数据更可能通过调整或维持控制器432a和432b的设置和/或调整或维持伺服器控制器416的设置，来被成功地重新读取。例如，缺陷管理模块436可以使能偏移和增益控制器432a的设置，在OPU 408处于缺陷108的第一边缘的预测位置处时、或处于接近缺陷108的第一边缘的预测位置的位置处时，该设置引起由偏移和增益控制器432a向读取信号应用的增益的增加。例如，接近缺陷108的第一边缘的预测位置的位置可以是远离缺陷的第一边缘的预测位置大约10或100比特数量级的位置，并且可以按照类似于关于在其中缺陷管理模块436可以改变其缺陷检测灵敏度的实施方式的以上描述的方式来确定该位置。例如，如果检测到缺陷108的第一边缘的位置处的数字信号的包络的幅度高于由盘控制器440设置的阈值，则缺陷管理模块436可以确定缺陷108具有相对最小的严重性。在一个实施方式中，缺陷管理模块436虽然禁用定时控制器432b和伺服器控制器416中的一个或两者，但是增加由偏移和增益控制器432a应用的增益。在另一实施方式中，鉴于缺陷108的相对最小严重性，不禁用伺服器控制器416和定时控制器432b中的一个或两者。此外，在将偏移和增益控制器432a实现为两个不同的控制器(即，一个dc偏移控制器和一个增益控制器)的实施方式中，缺陷管理模块436可以禁用dc偏移控制器而增加由增益控制器应用的增益。

在关于540的又一实施方式中，并且如以下关于图11-图13更详细地讨论的那样，缺陷管理模块436可以相对于光存储介质104的其他数据轨道(诸如第二轨道)，改变其对缺陷108的响应、和/或读通道420的响应、和/或伺服器控制器416的响应。例如，如上所述，缺陷管理模块436可以确定在第一轨道上检测到缺陷108的第一边缘的EFM帧内的位置或比特号，以及确定在第一轨道上检测到缺陷108的第二边缘的同一EFM帧或另一EFM帧内的位置或比特号。可能期望利用关于在第一轨道上检测的缺陷108的位置的信息，来准确预测在光存储介质104的另一轨道上该缺陷的另一位置，诸如第二轨道上该缺陷的第二位置。即，缺陷管理模块436可以利用在第一轨道上检测到缺陷108的第一边缘和第二边缘的位置，预测第二轨道上缺陷108的第二位置。以下详细讨论除了用于预测在另一轨道(诸如第二轨道)上的缺陷108的位置方法之外的方法。然而，仅作为一个示例，可以通过假设缺陷108从第一轨道上的缺陷108的检测位置径向跨越光存储介质104传播来预测第二轨道上缺陷108的第二位置。可以通过结合根据例如以下关于图6和图7描述的一个或多个实施方式的对光存储介质104的旋转角的追踪而在第一轨道上检测缺陷108，来确定假设缺陷108跨越其传播的光存储介质104的半径。

进一步参考540，在预测第二轨道上的缺陷108的第二位置之后，缺陷管理模块436可以按照上述方式之一或按照任何合适的方式来对第二轨道上的缺陷108进行响应。例如，在第二轨道上，缺陷管理模块436可以在OPU 408被定位在缺陷108的预测的第二位置处时，生成缺陷检测信号并且禁用伺服器控制器416和/或控制器432a和432b中的一个或多个。备选地，缺陷管理模块436在OPU 408被定位在预测的第二位置处或附近时增加其缺陷检测灵敏度，或可以在当OPU 408被定位在预测的第二位置处或附近时增加由偏移和增益控制器432a应用的增益。根据以下的教示，对第二轨道上的缺陷108的第二位置的准确预测在从第二轨道读取数据时可以产生益处，诸如上述那些。例如，如关于图1所讨论的，缺陷108随着其径向跨越多个轨道116延伸而在大小上频繁增加。因此，缺陷管理模块436可以确定：当缺陷108对第一轨道上的稳定操作施加较小威胁时缺陷108从何处开始；并且随着读取光存储介质104的第二和随后轨道、并且缺陷108随着其大小的增加而变成更大问题，可以因而改变其对缺陷108的响应。

现在参考图6，其示出了根据一个实施方式的、包括缺陷管理模块436的实现的盘驱动系统600。如图6中所示，盘驱动系统600包括光存储介质104、移动臂404、OPU 408、伺服器412、伺服器控制器416、读通道420、读通道控制器432、缺陷管理模块436以及盘控制器440。为了简便起见，已经从图6省略了存储器424和接口444，但是应该理解，盘驱动系统600可以诸如以关于盘驱动系统400所讨论的方式进一步包括存储器424和接口444中的一个或两者。在盘驱动系统600中，读通道420包括模拟前端(AFE)604、模数转换器(ADC)608以及数据检测器612。读通道控制器432包括偏移和增益控制器432a、定时控制器432b以及压控振荡器(VCO)620。此外，在盘驱动系统600中，缺陷管理模块436包括缺陷响应模块628和缺陷边界控制器632。缺陷响应模块628还包括缺陷管理器636、计数器640以及计数器重置模块644。

再次参考504，现在将更详细地描述读通道420的操作。如以上关于图4所讨论的，当从光存储介质104读取数据时，从OPU 408接收模拟读取信号。更特别地，在盘驱动系统600中，在AFE 604处接收模拟读取信号。偏移和增益控制器432a通信地耦合至AFE604，以将模拟读取信号的幅度调整到适于由读通道420的其余部分处理的水平，并且移除由例如OPU 408在轨道上的偏心位置引入到模拟读取信号中的dc偏移。继而，由ADC 608接收AFE 604的模拟输出，该ADC 608根据通道时钟对模拟输出进行采样。通道时钟是基于写在光存储介质104上的比特间隔生成的，并且因此对应于从光存储介质104所读取的数据的定时。例如，在图6中示出的实施方式中，VCO 620生成向ADC 608提供的通道时钟。在该实施方式中，定时控制器432b可以将合适的电压应用于VCO 620的输入，以响应于光存储介质104上的比特间隔的变化来改变VCO 620的振荡频率。在一个实施方式中，VCO 620不向伺服器控制器416提供时钟。而是，伺服器控制器416可以包括由固定时钟(未示出)控制的独立的ADC(未示出)。

继续参考504，ADC 608对AFE 604的模拟输出进行采样，以生成以上关于图4所讨论的数字信号。该数字信号表示从光存储介质104读取的数据，继而向数据检测器612提供该数字信号。数据检测器612对数字信号进行解调以检测最初写到光存储介质104的数据比特。

再次参考508，数字信号和检测的数据中的一个或两者被用于更新伺服器控制器416、偏移和增益控制器432a以及定时控制器432b中的一个或多个。在图6的盘驱动系统600中，将来自ADC 608的数字信号用于更新伺服器控制器416以及偏移和增益控制器432a。伺服器控制器416监视数字信号的幅度，并且偏移和增益控制器432a监视数字信号的幅度和dc偏移，以确定将分别输入到伺服器412和AFE 604的合适信号，从而分别确保发生在光存储介质104的后续读取期间发生的适合的追踪和适合的放大和dc偏移补偿。此外，在图6中示出的实施方式中，从数据检测器612向定时控制器432b输入检测的数据。定时控制器432b基于该检测的数据确定确保ADC608在合适的时间对AFE 604的模拟输出进行采样所必需的定时调整，确保ADC 608在合适的时间对AFE 604的模拟输出进行采样是为了数据检测器612适当地解调ADC 608的数字输出。在确定必需的定时调整之后，定时控制器432b因而调整对VCO 620的电压输入，从而调整由VCO 620向ADC 608提供的通道时钟。

继续参考508，尽管已经公开的盘驱动系统600将来自ADC 608的数字信号用于调整伺服器控制器416以及偏移和增益控制器432a，并且将来自数据检测器612的检测的数据用于调整定时控制器432b，但是本领域普通技术人员将按照在此提供的公开和教示构思出合适的变化。例如，可以由定时控制器432b评估来自ADC 608的数字信号的质量，以便确定必需的定时调整，而不是基于来自数据检测器612的检测的数据确定此类调整。

此外参考图6A、图7和图8，现在将更详细地描述盘驱动系统600的操作。图7是根据一个实施方式的、在盘驱动系统的光存储介质上确定缺陷位置的方法700的流程图。为了解释的简便性，将参考盘驱动系统600来描述方法700。然而，应该理解，方法700可以由除盘驱动系统600之外的系统实现。

在704处，确定是否已经在光存储介质104上检测到缺陷的第一边缘，诸如缺陷108的开始。在一个实施方式中，在盘驱动系统600中，来自ADC 608的数字信号和来自数据检测器612的检测的数据两者都输入到缺陷管理器636。缺陷管理器636检查数字信号和检测的数据两者以检测缺陷。更特别地，缺陷管理器636可以包括缺陷检测器(未示出)，该缺陷检测器使用由盘控制器440提供的设置来检测缺陷，如关于图4和图5所进一步讨论的那样。使用由盘控制器440提供的设置，缺陷管理器636可以检测缺陷的第一边缘。备选地，缺陷管理器636可以检查数字信号或检测的数据，而不是同时检验两者来检测缺陷。在又一实施方式中，可以通过将伺服器控制器416用于基于从伺服器412接收的信号幅度来检测缺陷，而在盘驱动系统600内检测缺陷108的第一边缘。如果在704处确定已经检测到缺陷108的第一边缘，则流程进行到708。如果尚未检测到缺陷108的第一边缘，则流程保持在704处，直到检测到缺陷108的第一边缘。

在708处，缺陷管理器636可以通过禁用偏移和增益控制器432a以及定时控制器432b中的一个或两者，对缺陷108的第一边缘进行响应；而在一个实施方式中，伺服器控制器416代替或除了控制器432a以及定时控制器432b中的一个或两者。

接着，在712处，确定计数器640的第一计数和第一计数器重置位置。第一计数对应于检测到缺陷108的第一边缘的光存储介质104上的位置。更具体地，计数器640可以生成与光存储介质104上的不同位置相关联的计数。特别地，如以下更详细讨论的，计数器640的每个计数都可以对应于光存储介质104的通道时钟的预定数量的周期。

继续参考712，可以由计数器重置模块644确定第一计数器重置位置，如图8中最佳示出的。图8示出了光存储介质104(未示出)的轨道800的两个图示。将在以下解释第二或底部图示的重要性。关于第一图示，图8示出了轨道800上的位置804、808、812、816和820。在一个实施方式中，位置804是第一计数器重置位置，并且位置808和812是附加的计数器重置位置。更具体地，计数器重置位置804、808和812中的每个都可以是光存储介质104上的可识别数据边界的位置。例如，在DVD介质上，将数据布置到每个都为1488比特长的帧中。将帧布置到每个都包括26个帧的扇区中，并且将扇区进一步布置到ECC块中，每个ECC块包括16个扇区。通过监视如由数据检测器612提供的来自光存储介质104的检测的数据，计数器重置模块644可以确定数据的任何此类分组的边界何时出现，并且随即在相应的计数器重置位置处执行计数器640的重置，将计数器640的计数返回到零。而且，将认识到，此类边界的检测既不限于对帧、扇区和ECC块的边界的检测，也不限于在DVD介质上对此类边界的检测。而是，本发明的一个或多个实施方式预期了对任何可识别数据边界的检测，该可识别数据边界诸如DVD-RAM介质上的报头的边界、蓝光盘介质上的ECC簇的边界、或在任何合适的数据存储介质上的任何合适的边界。

图8的轨道800上的位置816和820是分别检测到缺陷108的第一边缘和第二边缘的位置。如图8中所示，在检测到缺陷108的第一边缘的位置816之前定位第一计数器重置位置804(即，在该位置816之前读取)。以下将解释图8中的计数器640的各种描述的重要性。

进一步参考712和图8，在本发明的另一实施方式中，计数器重置位置804、808和812可以是在光存储介质104的第一轨道上的预定角位置。例如，用于驱动主轴/进给(FM)驱动器的主轴马达在读取操作期间可以生成周期性脉冲，该主轴/进给(FM)驱动器旋转光存储介质104。计数器重置模块644可以电耦合至主轴马达/进给马达驱动器以检测并处理脉冲，以便追踪光存储介质104的旋转角度并在光存储介质104的第一轨道上的预定角位置处执行计数器640的重置。在一个实施方式中，可以响应于每90度旋转之后的脉冲来重置计数器640，并且因此计数器重置位置804、808和812可以对应于第一轨道上关于彼此呈90度角的位置(虽然未在图8中没有这样示出)。在另一实施方式中，可以代之以使用计数器640来追踪光存储介质104的旋转角，诸如通过将计数器的计数与光存储介质104的已知数量的通道时钟进行比较，该已知数量的通道时钟发生在光存储介质104的特定旋转角度。

继续参考712和图8，当在第一计数器重置位置804处重置计数器640之后，计数器的计数为零，如图8中在第一计数器重置位置804下面的计数器640的描述中指明的。计数器640从第一计数器重置位置804开始计数。如上所述，计数器640的每个计数都对应于光存储介质104的通道时钟的预定数量的周期。例如，计数器640可以从VCO 620的输出接收通道时钟。在该实施方式中，计数器640的每个计数指示通道时钟的一个周期的发生。备选地，可以通过在计数器640内包括时钟分频器而将计数器640实现为更小并且因此更便宜的计数器，时钟分频器可以例如将到计数器640的通道时钟输入分频为2、4、8、16等。在该实施方式中，计数器640的每个计数分别指示通道时钟的2、4、8、16等个周期。然而，优选地，如果第一计数器重置位置804是光存储介质104的第一轨道上的预定角位置(如通过追踪光存储介质104的旋转角而确定的)，则计数器640不包括时钟分频器。在该实施方式中可以省略该时钟分频器。例如，上述用于追踪光存储介质104的旋转角的一个或多个技术，可能不能够利用足够高的解析度来实现此类追踪以支持计数器640的精度的降低。

继续712和图8，将缺陷管理器636检测到缺陷108的第一边缘时的计数器640的计数确定为第一计数，该第一计数对应于检测到缺陷108的第一边缘的位置816。更特别地，由于第一计数对应于光存储介质104通道时钟的周期数量(该通道时钟的周期是由于计数器重置模块644在第一计数器重置位置804处执行计数器640的重置而发生的)，所以应该理解，第一计数因此指示光存储介质104上第一计数器重置位置804与检测到缺陷108的第一边缘的位置816之间存储的数据量，诸如数据比特的数量。因此，计数器640的第一计数对应于光存储介质104上存储的数据的最小可寻址单元内的位置，在该位置检测到缺陷108的第一边缘。例如，在图8的实施方式中，计数器的第一计数是十进制数400,000，如由图8中的位置816下面的计数器640的描述所示，因此其指示400,000数据比特存储在光存储介质104的上第一计数器重置位置804与位置816之间。

作为参考图6A的最佳描述，第一计数器重置位置804和计数器640的第一计数可以存储在存储器中。图6A示出了根据一个实施方式的缺陷边界控制器632的详细视图。如图6A中所示，缺陷边界控制器632包括处理器648和存储器652。存储器652包括第一寄存器(“寄存器1”)656和第二寄存器(“寄存器2”)660。在操作中，当缺陷管理器636检测到缺陷108的第一边缘时，缺陷管理器636可以例如向缺陷边界控制器632的处理器648提供缺陷检测信号。该缺陷检测信号可以由前述缺陷检测器(未示出)来生成，该缺陷检测器可以包括在缺陷管理器636内。处理器648从缺陷管理器636接收缺陷检测信号并且随即在存储器652(诸如在第一寄存器656)中记录如从计数器640接收的第一计数。

进一步关于图6A，每次重置计数器640并且向处理器648提供所得的零计数，处理器648都可以将相应的计数器重置位置的指示存储在存储器652中(诸如第二寄存器660中)。在一个实施方式中，处理器648结合关于正在从其读取数据的轨道长度的已知信息来处理关于计数器640的重置的信息，以便确定相应的计数器重置位置。对应于计数器640的每个重置的计数器重置位置的指示的该存储可以是临时的或无限期的。然而，在一个实施方式中，当处理器648从缺陷管理器636接收缺陷检测信号时，处理器648使得无限地存储对应于计数器640的最近重置的计数器重置位置的指示。如本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将认识到的那样，该计数器重置位置是第一计数器重置位置804。

在712之后，在716处，确定是否已经在光存储介质104上检测到了缺陷的第二边缘，诸如缺陷108的结尾。例如，可以使用由盘控制器440向缺陷管理器636或其缺陷检测器(未示出)提供的设置，或使用伺服器控制器416来进行该确定，如以上关于704所讨论的。如果在716处确定已经检测到缺陷108的第二边缘，则流程进行到720。如果尚未检测到缺陷108的第二边缘，则流程保持在716处，直到检测到缺陷108的第二边缘。

在720处，缺陷管理器636可以通过重新使能在708处被禁用的伺服器控制器416和/或控制器432a和432b中的一个或两者，以对缺陷108的第二边缘进行响应。

接着，在724处，确定计数器640的第二计数和第二计数器重置位置。取决于缺陷108的位置和缺陷108的宽度，第一计数器重置位置804和第二计数器重置位置可以是相同的或不同的。通过示例的方法，在其中第一计数器重置位置804对应于数据边界的一个或多个实施方式中，第二数据边界以及因此的不同的第二计数器重置位置(诸如计数器重置位置808)可以偶尔地被定位在光存储介质104的、受到缺陷108影响的区域内；即，在分别检测到缺陷108的第一边缘和第二边缘的位置816和820之间。在该情况下，在确定对应于缺陷检测位置的计数器640的第一计数之后，计数器重置模块644检测第二数据边界，并且在检测到缺陷108的第二边缘并确定计数器640的第二计数之前重置计数器640。如果没有数据边界或其他计数器重置位置定位在位置816和820之间，则第一计数器重置位置804和第二计数器重置位置相同。在一个实施方式中，当第二计数器重置位置以上述方式不同于第一计数器重置位置804时，缺陷边界控制器632可以在存储器652中(诸如在寄存器660中)进一步记录第二计数器重置位置。

计数器640的第二计数指示光存储介质104上的第二计数器重置位置与检测到缺陷108的第二边缘的位置之间存储的数据量，诸如数据比特的数量。计数器640的第二计数可以进一步记录在存储器652中，诸如在寄存器660中。

接着，在728处，确定第一调整计数，以供在从光存储介质104中受到缺陷108影响的区域读取数据的后续尝试中使用。更特别地，第一调整计数对应于缺陷108第一边缘的预测位置(在图8中的轨道800的第二图示中被示出为824)，或对应于接近于缺陷108的第一边缘的预测位置的位置。如在位置824下面的计数器640的描述中所示，第一调整计数稍小于第一计数。如图8中所示，第一调整计数是十进制数399,985，而如图8中所示的第一计数是400,000。因此，第一调整计数可以被用于确定在后续尝试期间何时改变缺陷管理器636的响应。在一个实施方式中，缺陷边界控制器632可以通过首先确定第一计数调整值与计数器640的第一计数相加来确定第一调整计数，其中计数器640的第一计数对应于检测到缺陷108第一边缘的位置。第一计数调整值和第一计数的和是第一调整计数。第一计数调整值表示检测到缺陷108的第一边缘的位置与缺陷108的第一边缘的实际位置之间的比特或通道时钟的估计数量。第一计数调整值可以是例如10比特或100比特数量级，并且可以依赖于所使用的光存储介质104的类型来改变。例如，可以凭经验确定第一计数调整值，从而使得针对所使用的光存储介质104的类型上的某些普通类型的缺陷来优化性能。在另一实施方式中，缺陷边界控制器632可以在尝试读取受到缺陷108影响的数据期间尝试不同的计数调整值。例如，在某些情况下，由缺陷108引起的错误数量可以多于纠错码可以处理的数量。通过调整作为重新读取策略的部分的计数调整值，缺陷边界控制器632可以在尝试找到对于缺陷108而言工作良好的第一计数调整值中尝试不同的计数调整值。当默认的计数调整值对于某些缺陷而不是其他缺陷(诸如缺陷108)而言工作良好时，这可能是有帮助的。而且，第一计数调整值可以是负的或正的。在一个实施方式中，第一计数调整值是负的，从而使得第一调整计数低于计数器640的第一计数。

继续参考728，第一调整计数可以存储在缺陷边界控制器632的存储器652中，诸如第一寄存器656中。

接着，在732处，确定第二调整计数，以供在从光存储介质104中受到缺陷108影响的区域读取数据的后续尝试中使用。更特别地，第二调整计数对应于缺陷108的第二边缘的预测位置(在图8中的轨道800的第二图示中示出为828)，或对应于接近于缺陷108的第二边缘的预测位置的位置。如位置828下面的计数器640的描述中所示的，第二调整计数稍小于第二计数。如图8中所示，第二调整计数是十进制数449,987，而如图8中所示的第二计数是450,000。因此，第二调整计数可以被用于确定在后续尝试期间何时改变缺陷管理器636的响应。与关于728所描述的对第一调整计数的确定类似，缺陷边界控制器632可以通过首先确定第二计数调整值与计数器640的第二计数相加来确定第二调整计数，其中计数器640的第二计数对应于检测到缺陷108第二边缘的位置。第二计数调整值和第二计数的和是第二调整计数。第二计数调整值表示检测到缺陷108的第二边缘的位置与缺陷108的第二边缘的实际位置之间的比特或通道时钟的估计数量。正如关于728所描述的第一计数调整值，第二计数调整值可以是例如10比特或100比特数量级(如以关于728所描述的方式确定的)，并且可以依赖于所使用的光存储介质104的类型来改变。此外，第二计数调整值可以是负的或正的。在一个实施方式中，第二计数调整值是负的，从而使得第二调整计数低于计数器640的第二计数。

继续参考732，第二调整计数可以存储在缺陷边界控制器632的存储器652中，诸如第一寄存器656中。

现在参考图9，现在将更详细地描述盘驱动系统600的进一步的操作。图9是根据一个实施方式的、改变对盘驱动系统的光存储介质上的缺陷的响应的方法900的流程图。为便于示出，将参考盘驱动系统600来描述方法900。然而，应该理解，方法900可以由除盘驱动系统600之外的系统实现。

在904处，确定在数据读取操作之后从光存储介质104读取数据的操作期间，是否已经达到第一计数器重置位置804，其中该数据读取操作导致对缺陷108的检测。通过示例的方式，并且再次参考图6A，缺陷边界控制器632的处理器648可以接收计数器640的计数，并且从而确定何时重置计数器640。如关于图6A所进一步讨论的，第一计数器重置位置804的指示可以存储在缺陷边界控制器632的存储器652中。通过使用存储的第一计数器重置位置，并且结合关于正从其重新读取数据的轨道的长度的已知信息来监视计数器的计数，处理器648可以确定是否已经达到第一计数器重置位置804。如果确定已经达到第一计数器重置位置804，则流程进行到908。如果尚未达到第一计数器重置位置804，则流程保持在904，直到已经达到第一计数器重置位置804。

在908处，确定计数器640的计数是否已经达到以上讨论的第一调整计数。例如，处理器648可以接收计数器640的计数，并且从而确定计数器640的计数何时达到第一调整计数。如上所述，第一调整计数可以存储在缺陷边界控制器的存储器652中，并且因此由处理器648使用以供与由处理器648接收的计数器640的计数进行比较。如本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将认识到的那样，当计数器640达到第一调整计数时，OPU 408被定位在缺陷108的第一边缘的预测位置处、或定位在接近于缺陷108的第一边缘的预测位置的位置处。如果确定计数器640的计数已经达到第一调整计数，则流程进行到912。如果计数器640的计数尚未达到第一调整计数，则流程保持在908处，直到计数器640的计数已经达到第一调整计数。

在912处，根据定位在缺陷108的第一边缘的预测位置处或定位在接近于缺陷108第一边缘的预测位置的位置处的OPU 408，改变缺陷管理模块436对于缺陷108的响应。因此，在图6的实施方式中，并且如关于图4和图5所讨论的，缺陷边界控制器632可以使得缺陷管理器636在随后从光存储介质104中受到缺陷108影响的区域尝试读取数据期间改变其对缺陷108的响应。在一个实施方式中，代替或除了改变缺陷管理器636自身的响应，缺陷边界控制器632可以使得缺陷管理器636改变读通道控制器432和/或伺服器控制器416中一个或两者的响应。如本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将认识到的那样，缺陷边界控制器632因此基于计数器640的第一计数并且基于计数器640本身，确定何时改变缺陷管理器636和/或读通道控制器432和/或伺服器控制器416的响应；即，在随后尝试读取受到缺陷108影响的数据期间生成的计数器640的计数。

继续参考912，盘驱动系统600使得缺陷管理器636和/或包括在其中的缺陷检测器(未示出)和/或读通道控制器432和/或伺服器控制器416能够按照各种方式中的任意方式，在随后从受到缺陷108影响的光存储介质104中的区域尝试读取数据期间，改变其对缺陷108的响应，其中该各种方式包括诸如关于图4和图5所讨论的那些方式。

继续关于912，在一个实施方式中，如上所述，缺陷边界控制器632可以使得缺陷管理器636在缺陷108的第一边缘的预测位置处生成缺陷检测信号。更具体地，缺陷边界控制器632可以使得缺陷管理器636生成缺陷检测信号。缺陷管理器636可以适当地生成缺陷检测信号，以便选择由盘控制器440提供的合适设置(如关于图4和图5所讨论的)，以供用于操作伺服器控制器416、偏移和增益控制器432a以及定时控制器432b中的一个或多个，以最小化对其引入的不准确数据。以这种方式，缺陷管理器636的灵敏度不必增加并且可以降低检测假缺陷的危险。在一个实施方式中，缺陷边界控制器632还可以确定不同的计数调整值以确定计数器640的不同调整计数，该计数器640的不同调整计数可以由缺陷边界控制器632使用，以使得缺陷管理器636独立于偏移和增益控制器432a以及定时控制器432b的操作，改变伺服器控制器416的操作。

继续参考912，并且如上所述，缺陷边界控制器632可以改变缺陷管理器636的缺陷检测灵敏度。更特别地，在其中缺陷管理器636包括缺陷检测器(未示出)的实施方式中，如上所述，缺陷边界控制器632可以改变缺陷检测器的缺陷检测灵敏度。在其中更难精确预测缺陷108的实际位置的使用光存储介质104的某些应用中，诸如在缺陷108的第一边缘相对较小或并未明确限定的应用中，可以优选地改变缺陷管理器636的缺陷检测灵敏度，而不是使得缺陷管理器636在计数器640达到调整计数时生成缺陷检测信号。以这种方式，方法900提供对缺陷108的更灵活的检测。

进一步关于912，在又一实施方式中，如上所述，缺陷边界控制器632可以基于以下确定来改变缺陷管理器636的响应、和/或读通道控制器432的响应和/或伺服器控制器416的响应，其中该确定为缺陷108具有相对最小的严重性，并且受到缺陷108影响的数据可以通过调整或维持盘驱动系统600的控制器416、432a和432b中的一个或多个的设置来成功重新读取。该确定可以基于来自ADC 608的数字信号、和/或来自数据检测器612的检测数据。控制器416、432a和432b中的一个或多个的设置可以按照例如以上关于方法500所讨论的方式来调整。在该实施方式中，如在之前的示例中一样，缺陷边界控制器632可以通过确定在计数器重置模块644已经在第一计数器重置位置处执行了计数器640的重置之后计数器640何时达到调整计数，来确定OPU 408定位在接近于缺陷108第一边缘的预测位置的位置处。在缺陷边界控制器632的控制下，缺陷管理器636可以随即调整控制器416、432a和432b中的一个或多个的设置。在一个实施方式中，缺陷管理器636内的缺陷检测器(未示出)可以生成合适的信号，以调整控制器416、432a和432b中的一个或多个的设置。

接着，在916处，确定计数器640的计数是否已经达到以上讨论的第二调整计数。例如，处理器648可以接收计数器640的计数，并且从而确定计数器640的计数何时达到第二调整计数。如上所述，第二调整计数可以存储在缺陷边界控制器632的存储器652中，并且因此由处理器648使用以供与由处理器648接收的计数器640的计数进行比较。如本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将认识到的那样，当计数器640达到第二调整计数时，OPU408定位在缺陷108的第一边缘的预测位置处或定位在接近于缺陷108的第一边缘的预测位置的位置处。

进一步参考916并且再次参考724，计数器640可以在不同于关于框904所讨论的第一计数器重置位置804的第二计数器重置位置处被重置。在该实施方式中，计数器640从不同的第二计数器重置位置开始计数，以便达到第二调整计数。

如果在916处确定计数器640的计数已经达到第二调整计数，则流程进行到920。如果计数器640的计数尚未达到第二调整计数，则流程保持在916处，直到计数器640的计数已经达到第二调整计数。

在920处，根据定位在缺陷108的第一边缘的预测位置处或定位在接近于缺陷108的第一边缘的预测位置的位置处的OPU 408，来改变缺陷管理模块436对于缺陷108的响应。

更具体地，缺陷边界控制器632可以使得缺陷管理器636在随后尝试从光存储介质104的受到缺陷108影响的区域读取数据期间改变其对缺陷108的响应。在一个实施方式中，代替或除了改变缺陷管理器636自身的响应，缺陷边界控制器632可以使得缺陷管理器636改变读通道控制器432和/或伺服器控制器416中一个或两者的响应，诸如通过生成合适的信号以重新使能任何被禁用的控制器，或通过降低之前增加的缺陷检测灵敏度，以便将盘驱动系统600返回到没有缺陷108时的其常规操作模式。

现在参考912和920两者，除了重新读取数据的任何立即尝试之外，盘驱动系统600可以进一步被用于改进对读取受到缺陷108影响的数据的稍后尝试。例如，缺陷边界控制器632可以在合适的时间长度内或无限期地存储第一计数器重置位置804、第一调整计数、第二计数器重置位置和第二调整计数，并且按照上述方式在读取受到缺陷108影响的数据的稍后尝试期间，改变缺陷管理器636和/或读通道620和/或伺服器控制器416的响应。在一个实施方式中，如果对重新读取数据已经进行了预定数量的尝试，并且音频和/或视频回放连续性要求在当前回放会话期间禁止任何附加的尝试，则缺陷边界控制器632可以存储第一计数器重置位置804、第一调整计数、第二计数器重置位置和第二调整计数，以供在读取数据的稍后尝试中使用。

继续参考912和920，在又一备选实施方式中，如图10的备选盘驱动系统1000的框图中所示，缺陷边界控制器632可以改变其自身对缺陷108的响应，而不是改变缺陷管理器636的响应。例如，缺陷边界控制器632自身可以选择由盘控制器440提供的适当设置，以用于操作伺服器控制器416、偏移和增益控制器432a以及定时控制器432b中的每个，以便实现关于用于管理光存储介质104上的缺陷检测的方法500所公开的功能中的任意一个或多个。

如以上进一步所述，可以诸如由缺陷边界控制器632通过假设缺陷108从第一轨道上的缺陷108的检测位置跨越光存储介质104径向传播，来预测第二轨道上的缺陷108的第二位置。然而，在另一实施方式中，缺陷边界控制器632可以利用关于多个轨道上的缺陷108的检测位置的信息，以便准确地预测另一轨道上的缺陷108的另一位置。例如，缺陷边界控制器632可以利用关于第一轨道上的缺陷108的检测位置和第二轨道上的缺陷108的第二检测位置的信息，来预测光存储介质104的第三轨道上的缺陷108的第三位置。

图11是可以被用于例如在光存储介质104的第三轨道上预测缺陷108的第三位置的方法1100的流程图。为便于示出，将参考盘驱动系统600来描述方法1100。然而，应该理解，方法1100可以由除盘驱动系统600之外的系统实现。

在1104处，确定第一轨道和第三轨道之间的轨道长度差。例如，在圆形光存储介质104的情况下，可以将两个连续轨道之间的轨道长度差表示为：

2·π·Tp                (公式1)

其中Tp是轨道间距。

参考图12，图12示出了具有多个轨道的光存储介质104，该多个轨道包括可以是上述第一轨道的第一轨道1204，以及第二轨道1208。径向线1212的长度是轨道间距。例如，在DVD介质上，轨道间距Tp是0.74μm，并且因此两个连续轨道之间的轨道长度差是：

2·π·0.74μm＝4.65μm。

继续参考1104，取决于第一轨道和第三轨道之间的轨道数量，两个连续轨道之间的轨道长度差的合适倍数被用于确定第一轨道和第三轨道之间的轨道长度差。如果是第一轨道、第二轨道和第三轨道被连续地布置在光存储介质104上，则该倍数是二。

接着，在1108处，计算第三轨道上的第三计数器重置位置。第三计数器重置位置在光存储介质104上可以不处于与第一计数器重置位置804相同的角位置处。即，光存储介质104上的轨道可以按照螺旋形状布置，诸如图12中所示。因此，如上所述，在其中光存储介质104上的每个计数器重置位置都是光存储介质104上的可识别数据边界的位置的实施方式中，该螺旋布置以及随着该布置向光存储介质104的外缘发展的每个螺旋的长度增加，可以使得不同轨道上的计数器重置位置具有不同的角位置。

例如，图13示出了图8的轨道800以及第二轨道1300。轨道800和第二轨道1300可以是例如上述的第一轨道和第二轨道。第二轨道1300包括计数器重置位置1304、1308和1312，以及在第二轨道1300上分别检测到缺陷108的第一边缘和第二边缘的位置1316和1320。如可以从图13中看到的，虽然轨道800上的位置816和820以及第二轨道1300上的位置1316和1320可以在径向方向上对齐，但是轨道800上的计数器重置位置804、808和812以及第二轨道1300上的计数器重置位置1304、1308和1312可以不在径向方向上对齐。

继续参考1108，缺陷边界控制器632可以利用第一轨道和第三轨道之间的轨道长度差(如在1104处确定的)，计算第三轨道上的第三计数器重置位置。缺陷边界控制器632可以基于以下计算第三轨道上的第三计数器重置位置：(i)第一轨道上的上述第一计数器重置位置804；(ii)数据块的已知长度，诸如ECC块，其边界由计数器重置模块644检测，以便重置计数器640；以及(iii)第一轨道和第三轨道之间的轨道长度差。备选地，在其中第一计数器重置位置是光存储介质104的第一轨道上的预定角位置的实施方式中，缺陷边界控制器632可以基于第一轨道上的计数器重置位置来对第三轨道上的第三计数器重置位置执行更简单的计算。

接着，在1112处，在第一轨道上检测缺陷108。通过示例的方式，可以删除缺陷108，并且可以确定并存储第一计数器重置位置804和第一计数，正如方法700中那样。类似地，如方法700中那样，可以确定并存储第二计数器重置位置和第二计数。

接着，在1116处，在第二轨道上检测缺陷108。如本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将认识到的那样，可以按照类似于关于方法700描述的方式来确定第二轨道上的缺陷108的第一边缘和第二边缘，以及第二轨道上的相应的计数器重置位置。

接着，在1120处，计算第一轨道补偿值。第一轨道补偿值可以是负的或正的，并且表示以下之间估计的比特数量差：(i)第三轨道上的第三计数器重置位置与第三轨道上的缺陷108的第一边缘的实际位置；以及(ii)第一轨道上的第一计数器重置位置804与在第一轨道上检测到缺陷108的第一边缘的位置。以下详细描述用于计算第一轨道补偿值的各种技术。

接着，在1124处，计算第二轨道补偿值。第二轨道补偿值可以是负的或正的，并且表示以下之间估计的比特数量差：(i)第三轨道上的第三计数器重置位置与第三轨道上的缺陷108的第二边缘的实际位置；以及(ii)第一计数器重置位置与在第一轨道上检测到缺陷108的第二边缘的位置。

参考1120和1124，现在将描述用于计算第一和第二轨道补偿值的各种技术。在一个实施方式中，读通道420可以从第二轨道读取数据。缺陷管理器636可以按照与可以关于第一轨道发生的此类检测相同的方式来在第二轨道上检测缺陷108的第一边缘。缺陷管理器636可以以与缺陷管理器636在第一轨道上检测缺陷108的第二边缘的位置的相同方式，类似地在第二轨道上检测缺陷108的第二边缘。缺陷边界控制器632继而可以记录对应于在第二轨道上检测的缺陷108的第一边缘的位置的计数器640的计数，并且可以记录相应的计数器重置位置。此外，缺陷边界控制器632可以记录对应于在第二轨道上检测的缺陷108的第二边缘的位置的计数器640的计数，并且可以记录相应的计数器重置位置。缺陷边界控制器632随即可以计算轨道补偿值，并且如果期望，则作为变量的函数来计算第二轨道补偿值，变量包括但不限于：(i)以下中的一个或多个：在第一轨道上检测到缺陷108的第一边缘的位置、在第一轨道上检测到缺陷108的第二边缘的位置、在第二轨道上检测到缺陷108的第一边缘的位置以及在第二轨道上检测到缺陷108的第二边缘的位置，以及(ii)第一轨道和第三轨道之间的轨道数量。

继续参考1120和1124，缺陷边界控制器632可以基于以下假设来计算第一轨道补偿值和第二轨道补偿值，该假设是缺陷108径向地、非径向地或以直线或弯曲的方式传播。例如，缺陷边界控制器632可以假设缺陷108非径向地、但仍是线性地传播，这是因为当关于光存储介质104的其他轨道进行预测时，所讨论的缺陷类型通常相对于轨道间距相对较长。因此，举例来说，缺陷边界控制器632可以假设缺陷108在由以下位置限定的方向上线性地传播，在该位置处在第一轨道上检测到缺陷108的第一边缘，并且在该位置处在第二轨道上检测到缺陷108的第一边缘。缺陷边界控制器632可以构造用于计算轨道补偿值和/或相应的第二轨道补偿值的函数，诸如通过使用第一轨道和第三轨道之间的轨道数量，作为在第一轨道上检测到缺陷108的第一边缘的位置与在第二轨道上检测到缺陷108的第一边缘的位置之间距离的倍数。在另一实施方式中，缺陷边界控制器632可以使用上述变量构造例如多项式函数，以计算轨道补偿值和/或第二轨道补偿值。

在另一实施方式中，缺陷边界控制器632可以通过利用存储的历史数据和附加数据(诸如在光存储介质104的第四轨道上的缺陷108的检测位置，该第四轨道无需以关于第一轨道、第二轨道和第三轨道连续的方式进行布置)中的一个或两者来构造用于确定轨道补偿值和/或第二轨道补偿值的函数。例如，缺陷边界控制器632可以利用此类数据来构造另一线性函数，或备选地可以利用此类数据来构造更复杂但是更精确的函数，诸如多项式函数，以确定轨道补偿值。而且，如本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将认识到的那样，可以利用任何合适的数据来构造任何合适的函数，以利用期望水平的精确度和复杂性来针对任何特定轨道计算轨道补偿值。此外，尽管在此具体描述的实施方式涉及结合预测第三轨道上的缺陷108的位置来计算轨道补偿值，但是本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将认识到，可以如在此所述来计算并且结合在光存储介质104的其他轨道(诸如第二轨道)上预测缺陷108的位置来使用轨道补偿值。

接着，在1128处，确定第一轨道调整计数。该第一轨道调整计数表示：第三轨道上的第三计数器重置位置与第三轨道上的缺陷108的第一边缘的实际位置之间的估计的比特数量。因此，由于在第一轨道上检测到缺陷108的第一边缘的位置对应于上述计数器640的第一计数，所以如关于1120所公开的第一轨道补偿值可以与计数器640的第一计数相加，以确定第一轨道调整计数。

接着，在1132处，确定第二轨道调整计数。第二轨道调整计数表示：第三轨道上的第三计数器重置位置与第三轨道上的缺陷108的第二边缘的实际位置之间的估计的比特数量。因此，由于在第一轨道上检测到缺陷108的第二边缘的位置对应于上述计数器640的第二计数，所以如关于1124所公开的第二轨道补偿值可以与计数器640的第二计数相加，确定第二轨道调整计数。

一旦已经在1130和1132处计算了第一轨道调整计数和第二轨道调整计数，则缺陷边界控制器632可以在尝试从受到缺陷108影响的第三轨道的区域读取数据期间，在如由第一轨道调整计数和第二轨道调整计数指示的、第三轨道上的缺陷108的预测第三位置处或附近，改变缺陷管理器636的响应、和/或读通道420的响应和/或伺服器控制器416的响应。可以按照例如关于方法500讨论的类似方式，改变缺陷管理器636的响应、和/或读通道420的响应和/或伺服器控制器416的响应。例如，在计数器640已经由计数器重置模块644在第三计数器重置位置重置之后，当计数器640达到第一轨道调整计数时，缺陷边界控制器632可以使得缺陷管理器636在第三轨道上生成缺陷检测信号。如本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将认识到的那样，当计数器640达到第一轨道调整计数时，OPU 408被定位在第三轨道上的缺陷108的预测第三位置处。

在各种其他实施方式中，当计数器640以此方式达到第一轨道调整计数时，缺陷边界控制器632可以代之以改变缺陷管理器636的缺陷检测灵敏度、控制缺陷管理器636以引起由偏移和增益控制器432a应用的增益和/或dc偏移的增加，或以任何其他合适的方式改变缺陷管理器636对缺陷108的响应。在每个实施方式中，缺陷边界控制器632可以按照上述方式，通过使得缺陷管理器636从由例如盘控制器440向控制器416以及432a和432b提供的合适设置中进行选择，以操作控制器416以及432a和432b，来改变缺陷管理器636的响应，以便实现上述功能中的任意一个或多个。

备选地，如关于图10所讨论的，缺陷边界控制器632可以改变其自身对于缺陷108的响应，而不是改变例如缺陷管理器636的响应。例如，缺陷边界控制器632自身可以选择由盘控制器440提供的合适的设置，以用于操作伺服器控制器416、偏移和增益控制器432a以及定时控制器432b中的每个。

关于在此描述的方法500、700、900和1100中的每个，应当理解，本领域普通技术人员按照在此提供的公开和教示将构思出多个附加变化。特别地，上述方法中任意一个或多个的步骤可以按照任何特定顺序实现，并且可以按需从上述方法中的任意一个或多个省略一个或多个步骤。仅作为一个示例，方法500、700、900和1100可以不包括涉及以下内容的步骤中的一个或多个：检测缺陷108的第二边缘、确定第二调整计数、确定第二轨道调整计数等。例如，在此类实施方式中，在预定时间周期流逝之后，可以将缺陷管理器636的响应、和/或读通道420的响应、和/或伺服器控制器416的响应，返回到它们在没有缺陷108的情况下的状态。

上述各种框、操作和技术可以以硬件、固件、软件或硬件、固件和/或软件的任何组合来实现。当以软件实现时，软件可以存储在任何计算机可读存储器中，诸如磁盘、光盘、或其他存储介质，可以存储在计算机的RAM或ROM或闪存、处理器、硬盘驱动器、光盘驱动器、磁带驱动器等中。同样，可以经由任何已知的或期望的递送方法来向用户或系统递送软件，递送方法包括例如在计算机可读盘或其他可传输计算机存储机制上或经由通信介质。通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或经调制的数据信号中的其他数据，诸如载波或其他传输机制。术语“经调制的数据信号”表示具有其特性集合中的一个或多个，或以关于信号中的编码信息的此类方式改变的信号。通过示例的方式并且并非限制，通信介质包括有线介质(诸如有线网络或直线连接)，以及无线介质(诸如听觉、射频、红外和其他无线介质)。因此，可以经由通信信道向用户或系统递送软件，通信信道诸如电话线、DSL线、有线电视线、无线通信信道、因特网等(它们被视为与经由可传输存储介质来提供此类软件是相同的或可互换的)。当以硬件实现时，硬件可以包括分立组件、集成电路、专用集成电路(ASIC)等的一个或多个。

虽然已经参考具体示例描述了本发明，这些具体示例仅旨在示范并且不限制本发明，但是本领域普通技术人员应该理解，除了以上明确描述的那些，可以对公开的实施方式进行改变、添加或删除而不脱离本发明的精神和范围。

Claims (20)

1.一种用于改变盘驱动器的缺陷检测器、盘驱动器的读通道控制器和盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应、以处理所述盘驱动器的存储介质上的缺陷的方法，包括：

在所述盘驱动器的所述存储介质上检测所述缺陷；

在所述存储介质上存储的数据的最小可寻址单元内，确定所述缺陷的位置；

在存储器中存储所述位置的指示；

监视所述盘驱动器的传感器相对于在所述存储介质上存储的所述数据的位置；以及

基于所述传感器相对于在所述存储介质上存储的所述数据的所述位置和存储的所述缺陷的位置的指示，改变所述盘驱动器的所述缺陷检测器、所述盘驱动器的所述读通道控制器和所述盘驱动器的所述伺服器控制器中至少一个的所述响应。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述缺陷的位置在所述存储介质的第一轨道上，其中所述方法还包括：基于存储的所述缺陷位置的指示，预测所述存储介质的第二轨道上的所述缺陷的第二位置，并且其中改变所述缺陷检测器、所述读通道控制器和所述伺服器控制器中所述至少一个的所述响应包括：当所述传感器在所述第二轨道上的所述第二位置处时改变所述响应。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述缺陷的位置在所述存储介质的第一轨道上，并且其中所述方法还包括：

在所述存储介质的第二轨道上确定所述缺陷的第二位置；以及

基于存储的所述缺陷位置的指示和所述第二位置，在所述存储介质的第三轨道上预测所述缺陷的第三位置。

4.根据权利要求1所述的方法，其中改变所述读通道控制器对所述缺陷的响应包括：增加应用于所读取信号的增益。

5.根据权利要求4所述的方法，其中增加所述增益包括：响应于确定在所述存储介质上所述缺陷的位置处存储的数据的幅度高于阈值，增加所述增益。

6.一种用于改变盘驱动器的缺陷检测器、盘驱动器的读通道控制器和盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应、以处理所述盘驱动器的存储介质上的缺陷的装置，包括：

计数器，被配置用于在数据的最小可寻址单元内生成与所述盘驱动器的所述存储介质上的不同位置相关联的计数；

缺陷检测器，被配置用于在所述存储介质上检测缺陷；以及

缺陷边界控制器，被配置用于：

确定对应于所述缺陷的位置的所述计数器的计数；以及

基于确定的所述计数和所述计数器，改变所述缺陷检测器、所述盘驱动器的所述读通道控制器以及所述盘驱动器的所述伺服器控制器中至少一个的所述响应。

7.根据权利要求6所述的装置，还包括：计数器重置模块，被配置用于在一个或多个计数器重置位置处重置所述计数器；

其中所述缺陷边界控制器被配置用于：

确定对应于所述缺陷的特定计数器重置位置；以及

进一步基于对应于所述缺陷的所述计数器重置位置，改变所述缺陷检测器、所述读通道控制器以及所述伺服器控制器中所述至少一个的响应。

8.根据权利要求7所述的装置，其中所述计数指示对应于所述缺陷的所述计数器重置位置和所述缺陷位置之间的、所述存储介质的通道时钟的周期数量。

9.根据权利要求7所述的装置，其中所述缺陷边界控制器被配置用于在所述计数器重置位置处对所述计数器重置之后，当所述计数器达到对应于所述缺陷位置的调整计数时，使得所述读通道控制器进入缺陷模式。

10.根据权利要求7所述的装置，其中所述缺陷边界控制器被配置用于在所述计数器重置位置处对所述计数器重置之后，当所述计数器指示接近所述缺陷时，改变所述缺陷检测器的缺陷检测灵敏度。

11.根据权利要求7所述的装置，其中所述缺陷的位置在所述存储介质的第一轨道上，并且其中所述缺陷边界控制器被配置用于：

基于所述缺陷的位置来计算补偿值；以及

将所述补偿值与对应于所述缺陷位置的计数相加，以在所述存储介质的第二轨道上预测所述缺陷的第二位置。

12.一种用于改变盘驱动器的缺陷检测器、盘驱动器的读通道控制器和盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应、以处理所述盘驱动器的存储介质上的缺陷的方法，包括：

运行计数器，其中所述计数器的计数在数据的最小可寻址单元内与所述盘驱动器的所述存储介质上的不同位置相关联；

使用缺陷检测器在所述存储介质上检测所述缺陷；

确定对应于所述缺陷的位置的所述计数器的计数；以及

基于确定的所述计数和所述计数器，改变所述缺陷检测器、所述盘驱动器的所述读通道控制器以及所述盘驱动器的所述伺服器控制器中至少一个的所述响应。

13.根据权利要求12所述的方法，还包括：

在一个或多个计数器重置位置处重置所述计数器；以及

确定对应于所述缺陷的计数器重置位置；

其中进一步基于对应于所述缺陷的所述计数器重置位置，改变所述缺陷检测器、所述读通道控制器以及所述伺服器控制器中所述至少一个的响应。

14.根据权利要求13所述的方法，其中所述计数指示对应于所述缺陷的所述计数器重置位置和所述缺陷位置之间发生的、所述存储介质的通道时钟的周期数量。

15.根据权利要求13所述的方法，其中对应于所述缺陷的所述计数器重置位置是所述存储介质上的纠错编码块的边界。

16.根据权利要求13所述的方法，其中对应于所述缺陷的所述计数器重置位置是所述存储介质上的数据扇区的边界。

17.根据权利要求13所述的方法，其中对应于所述缺陷的所述计数器重置位置是所述存储介质上的预定角度位置。

18.根据权利要求12所述的方法，其中改变所述缺陷检测器的响应包括：在所述计数器重置位置处对所述计数器重置之后，当所述计数器指示接近所述缺陷时，改变所述缺陷检测器的缺陷检测灵敏度。

19.根据权利要求12所述的方法，其中改变所述读通道控制器的响应包括：在所述计数器重置位置处对所述计数器重置之后，当所述计数器达到对应于所述缺陷位置的调整计数时，使得所述读通道控制器进入缺陷模式。

20.根据权利要求12所述的方法，其中所述缺陷的位置在所述存储介质的第一轨道上，并且其中所述方法还包括：

确定所述计数器的计数，所述计数器的计数对应于所述存储介质的第二轨道上所述缺陷的第二位置；以及

基于对应于所述第二轨道上的所述缺陷的所述第二位置的所述计数，改变所述缺陷检测器、所述读通道控制器以及所述伺服器控制器中至少一个的响应。