JP2001023314A - 欠陥情報管理方法及び情報記憶装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の課題は、欠陥情報管理を高速に、短時
間で効率良く処理を行うことができる欠陥情報管理方法
及び情報記憶装置を提供することである。 【解決手段】新たな欠陥情報が検出された時に追加欠陥
情報を未使用領域に格納し、この格納された追加欠陥情
報と、追加欠陥情報が結合する既存の欠陥情報とを連結
して欠陥情報を管理することで解決される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は欠陥情報管理方法及
び情報記憶装置に係り、特に磁気ディスク装置における
欠陥情報を管理する欠陥情報管理方法及び情報記憶装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】図１は従来の磁気ディスク装置の一例の
ブロック構成図を示している。従来の磁気ディスク装置
１は、主に、磁気ディスク２、スピンドルモータ３、磁
気ヘッド４、ヘッドアーム５、ＶＣＭ（Ｖｏｉｃｅ Ｃ
ｏｉｌ Ｍｏｔｏｒ）６、回転軸７，８、ドライバ９、
ＭＣＵ（マイクロコントロールユニット）１０、フラッ
シュＲＯＭ１１、ＨＤＣ１２、インターフェース回路１
３、バッファ（ＤＲＡＭ）１４、リード・ライトチャン
ネル１５から構成される。

【０００３】磁気ディスク２は、スピンドルモータ３の
回転軸８に固定され、スピンドルモータ３によって、回
転される。磁気ディスク２には、磁気ヘッド４が対向し
て配置される。スピンドルモータ３は、ドライバ９を介
してＭＣＵ１０に制御される。磁気ヘッド４は、リード
・ライトチャネル１５から供給される記録信号に応じて
磁気ディスク２を磁化することによって、情報を記録す
る。

【０００４】ヘッドアーム５の他端は、回転軸７を介し
てＶＣＭ６に結合している。ＶＣＭ６は、ドライバ９を
介してＭＣＵ１０に制御されており、ヘッドアーム５を
磁気ディスク２の半径方向に揺動させる。ヘッドアーム
５がＶＣＭ６により揺動されることにより、磁気ヘッド
４が磁気ディスク２の半径方向に移動され、磁気ディス
ク２上の所望のトラックに追従される。

【０００５】ドライバ９は、スピンドルモータ３及びＶ
ＣＭ６を制御する。ＭＣＵ１０は、ＨＤＣ１２の命令に
より磁気ディスク装置１の制御を行う。フラッシュＲＯ
Ｍ／ＲＡＭ１１は、ＭＣＵ１０での処理情報を格納す
る。ＨＤＣ１２は、インターフェイスからの情報により
磁気ディスク２を制御する。インターフェイス回路１３
は、ＨＤＣ１２と接続されており、インターフェイスの
情報を取り込む。バッファ１４は、処理結果などを一時
的に情報を格納する。

【０００６】図２は、従来の磁気ディスク装置の一例の
磁気ディスクのデータ構成図を示している。図２（Ａ）
に示すように同心円状に複数のトラックＴｒ１〜Ｔｒｎ
が形成されている。トラックＴｒ１〜Ｔｒｎは、それぞ
れ複数のフレームＳ１〜Ｓｍに分割されている。複数の
セクタＳ１〜Ｓｍは、磁気ディスク２を所定の角度毎に
分割して構成されている。各フレームＳ１〜Ｓｍは、図
２（Ｂ）に示すようにサーボ情報領域ＳＢ及びデータ領
域Ｄから構成される。サーボ情報領域ＳＢには、磁気ヘ
ッド４が所望のトラックを走査するように制御するため
のサーボ情報が記録されている。

【０００７】このような磁気ディスク２上に欠陥情報
（ディフェクト）が検出された場合、そのディフェクト
を管理するためにディフェクト管理テーブルを用いてい
る。このディフェクト管理テーブルを作成するためにデ
ィフェクト配置図を用いる。図３に従来の一例のディフ
ェクト情報の位置を表すディフェクト配置図を示す。図
３において、縦軸は磁気ヘッドの位置を示すヘッド番号
が０〜３、横軸は磁気ディスクのセクタ番号が０〜６で
ある。テーブル内の値は、例えば、ヘッド番号が０の場
合、セクタ番号の０〜６までのテーブルに論理値０〜６
を格納する。次に、ヘッド番号１のセクタ番号０から、
次の論理値７から格納していく。

【０００８】そして、この表内にディフェクトが存在す
る場合、ディフェクトの種類を区別できる情報を格納す
る。このディフェクトは、欠陥部分を飛ばして追従する
スリップディフェクトと、ディフェクトを他のテーブル
に移動させる交代ディフェクトが存在する。スリップデ
ィフェクトは図３の｛ヘッド番号＝１、セクタ番号＝
１｝と｛２，５｝に示すように、先頭にＳを付加する。
交代ディフェクトは｛２，３｝に示すように、先頭にＲ
を付加する。また、ディフェクトの番号は論理値の順に
１から付加する。

【０００９】次に、図４に従来の一例のディフェクト管
理テーブルを示す。図４は、図３のディフェクト配置図
から各ディフェクトのヘッド番号とセクタ番号を示して
いる。スリップディフェクトであるＳ１とＳ３は、その
情報が格納されているヘッド番号とセクタ番号を、交代
ディフェクトであるＲ２は元の位置のヘッド番号とセク
タ番号と、移動先のヘッド番号とセクタ番号を示してい
る。

【００１０】上記ディフェクト情報が表内に格納され、
ディフェクト管理テーブルが作成された後、論理値にお
ける配置の決定方法を以下に示す。例えば図３の論理値
１０の配置の決定方法において、まずディフェクトが存
在しない場合の論理値１０は、仮ヘッド番号１、仮セク
タ番号３となる。次に、トラックの先頭からディフェク
ト別に検索し、仮ヘッド、セクタ番号を比較して論理値
１０の配置を決定する。この場合、スリップディフェク
トＳ１が検出され、このヘッド番号と仮ヘッド番号が１
で同じであるため、セクタ番号を比較する。Ｓ１のセク
タ番号が「１」で、仮セクタ番号の方が大きいため、論
理値１０は、そのディフェクトより後で追従されること
となり、仮セクタ番号に「１」を加算する。その後、交
代ディフェクトを検索する。ここでは、交代ディフェク
トは存在しないため、論理値１０は、ヘッド番号
「１」、セクタ番号「４」の位置となる。 また、論理
値１６の配置の決定について説明する。まず、同様に、
ディフェクト別に検索する。ここで、スリップディフェ
クトＳ１が検出され、このヘッド番号が「１」で、仮ヘ
ッド番号が「２」で仮ヘッド番号の方が大きいため、仮
セクタ番号に「１」を加算する。その後、交代ディフェ
クトを検索し、Ｒ２が検出され、その一次ヘッド、セク
タ番号が仮ヘッド、セクタ番号と一致するため、仮ヘッ
ドと仮セクタ番号は正しい位置にあるとされ、図４に示
すＲ２の移動先の２次ヘッド・セクタ番号が、論理値１
６の位置となる。

【００１１】次に、上記のような処理によりディフェク
ト管理テーブルが作成された後のディフェクトの追加処
理を以下に示す。まず、図５に従来の一例のディフェク
ト追加処理の図を示す。図５において、ディフェクト情
報を磁気ディスクのシリンダを単位として分割し、ディ
フェクト情報群とする（２１）。シリンダ毎の追加情報
を調べ、その追加情報を、対応するシリンダのディフェ
クト情報群の次に格納する（２２）。格納した後、図５
に示すように、その次からの全ディフェクト情報群（２
３）は、追加情報（２２）の次に移動される。

【００１２】図６に従来の一例のディフェクト追加処理
手順のフローチャートを示す。図６において、追加する
ディフェクト情報をディフェクト管理テーブルに挿入す
るため、ディフェクト配置図から追加情報のアドレスを
求める (ステップＳ１００)。そのアドレス以降の全デ
ィフェクト情報を、追加情報の長さ分だけ後方に移動す
る（ステップＳ１０１）。その処理で作成されたスペー
スに追加情報を挿入する（ステップＳ１０２）。挿入
後、移動した全ての情報のアドレスを更新する（ステッ
プＳ１０３）。従来は、追加ディフェクト情報と同一の
シリンダのディフェクト情報群の次にディフェクト情報
を追加し、それ以降の全ディフェクト情報群を写し換え
て、ディフェクト情報群をずらしていた。従って、図５
に示すようにディフェクト情報群の前方に追加ディフェ
クトが存在する場合、以降の全ディフェクト情報群を写
し換えなければならなかった。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】上記のように、欠陥情
報に追加の欠陥情報がある場合、その追加欠陥情報が結
合される欠陥情報の後方の全情報を、追加欠陥情報の領
域分だけ移動させ、その領域に追加欠陥情報を格納し、
追加処理を行っていた。そのため、追加情報が既存の欠
陥情報の上方に格納される場合、格納される位置から後
方の全欠陥情報を移動させなければならない。よって多
くの情報を移動させることとなり、追加処理における遅
延の原因となっていた。

【００１４】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、欠陥情報管理を高速に、短時間で効率良く処理を行
うことができる欠陥情報管理方法及び情報記憶装置を提
供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、請求項１に記載されるように、記憶媒体
上の欠陥位置を示す欠陥情報を管理する欠陥情報管理方
法において、新たに前記欠陥情報が検出されたときに追
加欠陥情報を未使用領域に格納する欠陥情報格納手順
と、前記欠陥情報格納手順で未使用領域に格納された前
記追加欠陥情報と、前記追加欠陥情報が結合する既存の
欠陥情報とを連結し、前記欠陥情報を管理する欠陥情報
連結手順とを有することを特徴とする。

【００１６】この欠陥情報管理方法は、欠陥情報格納手
順により、追加欠陥情報は、既存の全欠陥情報の後方な
どの未使用領域に追加欠陥情報を格納し、この格納され
た追加欠陥情報と、追加欠陥情報が結合する欠陥情報を
連結することで、追加欠陥情報を既存の欠陥情報の所定
位置に格納するために、その既存の欠陥情報を移動する
ことなく、追加欠陥情報を容易に、また高速に追加及び
管理することができる。

【００１７】また、本発明の請求項２に記載されるよう
に、上記の欠陥情報管理方法において、前記欠陥情報連
結手順は、前記欠陥情報としてアドレス情報を有し、前
記アドレス情報に前記追加欠陥情報が格納された領域に
対応するアドレスを格納して該アドレスを利用して前記
追加欠陥情報と前記既存の欠陥情報とを連結させること
を特徴とする。

【００１８】この欠陥情報管理方法は、欠陥情報毎にア
ドレス情報を有し、このアドレス情報に追加情報のアド
レスを格納して欠陥情報を連結させることにより、隣接
していない追加欠陥情報を連結させることができる。よ
って、追加処理を容易に、また高速に行うことができ
る。また、本発明は、請求項３に記載するように、記憶
媒体上の欠陥位置を示す欠陥情報を管理する欠陥情報管
理方法において、新たに検出された追加欠陥情報が連結
される位置に存在する既存の欠陥情報を未使用領域に格
納し、前記既存の欠陥情報が格納されていた格納領域に
前記追加欠陥情報を格納することを特徴とする。

【００１９】このように、追加情報が追加される位置に
存在する既存の欠陥情報を別の場所に移動させて作られ
た格納領域に追加情報を格納することにより、領域の移
動を減少させることができ、効率良く欠陥情報の管理を
行うことができる。また、本発明は、請求項４に記載す
るように、上記の欠陥情報管理方法において、前記格納
領域の情報が格納されていない複数の空き領域を前記欠
陥情報が格納可能となる領域に集約することを特徴とす
る。

【００２０】このように、格納領域内の情報が格納され
ていない空き領域が複数ある場合、その空き領域を集約
して欠陥情報格納可能にすることで、情報を格納する領
域を有効に使用でき、効率良く欠陥情報を管理すること
ができる。また、本発明は、請求項５に記載されるよう
に、記憶媒体上の欠陥位置を示す欠陥情報を管理する情
報記憶装置において、新たに前記欠陥情報が検出された
ときに追加欠陥情報を未使用領域に格納する欠陥情報格
納手段と、前記欠陥情報格納手段で未使用領域に格納さ
れた前記追加欠陥情報と、前記追加欠陥情報が結合する
既存の欠陥情報とを連結し、前記欠陥情報を管理する欠
陥情報連結手段とを有することを特徴とする。

【００２１】この情報記憶装置は、欠陥情報格納手段に
より、追加欠陥情報は、既存の全欠陥情報の後方などの
未使用領域に追加欠陥情報を格納し、この格納された追
加欠陥情報と、追加欠陥情報が結合する欠陥情報を連結
することで、追加欠陥情報を既存の欠陥情報の所定位置
に格納するために、その既存の欠陥情報を移動すること
なく、追加欠陥情報を容易に、また高速に追加及び管理
することができる。

【００２２】また、本発明は、請求項６に記載されるよ
うに、上記の情報記憶装置において、前記欠陥情報連結
手段は、前記欠陥情報としてアドレス情報を有し、前記
アドレス情報に前記追加欠陥情報が格納された領域に対
応するアドレスを格納して該アドレスを利用して前記追
加欠陥情報と前記既存の欠陥情報とを連結させることを
特徴とする。

【００２３】この情報記憶装置は、欠陥情報毎にアドレ
ス情報を有し、このアドレス情報に追加情報のアドレス
を格納して欠陥情報を連結させることにより、隣接して
いない追加欠陥情報を連結させることができる。よっ
て、追加処理を容易に、また高速に行うことができる。
また、本発明は、請求項７に記載されるように、上記の
情報記憶装置において、新たに検出された追加欠陥情報
が連結される位置に存在する既存の欠陥情報を未使用領
域に格納し、前記既存の欠陥情報が格納されていた格納
領域に前記追加欠陥情報を格納することを特徴とする。

【００２４】このように、追加情報が追加される位置に
存在する既存の欠陥情報を別の場所に移動させて作られ
た格納領域に追加情報を格納することにより、領域の移
動を減少させることができ、効率良く欠陥情報の管理を
行うことができる。また、本発明は、請求項８に記載さ
れるように、上記の情報記憶装置において、前記格納領
域の情報が格納されていない複数の空き領域を前記欠陥
情報が格納可能となる領域に集約することを特徴とす
る。

【００２５】このように、格納領域内の情報が格納され
ていない空き領域が複数ある場合、その空き領域を集約
して欠陥情報格納可能にすることで、情報を格納する領
域を有効に使用でき、効率良く欠陥情報を管理すること
ができる。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下に本発明の第一実施例から第
三実施例を説明する。尚、上記従来と同一構成部分に
は、同一符号を付し、その説明を省略する。同様に、磁
気ディスク装置の構成及び磁気ディスクも図１、図２と
同様であるため、説明を省略する。

【００２７】まず、本発明の第一実施例において、図１
の磁気ディスク２に新たなディフェクト情報が検出さ
れ、追加をするディフェクト追加処理を図７に示してい
る。図７（Ａ）において、例えば、オフセットアドレス
をディフェクト情報群毎に、その情報群の次に付加す
る。オフセットアドレスは次のディフェクト情報群のア
ドレスの値が格納されている。図７（Ａ）の状態で、新
たなディフェクト情報を追加された場合を同図（Ｂ）に
示す。その追加ディフェクト情報２２は、ディフェクト
情報群の最後に配置され、オフセットアドレス２７が付
加されている。また、追加ディフェクト情報２２は、シ
リンダ０に存在するディフェクト情報である。そのディ
フェクト情報群２１のオフセットアドレス２６に追加デ
ィフェクト情報２２のアドレスが格納されている。この
ように、追加ディフェクト情報２２を最後に配置し、追
加ディフェクトと同一のシリンダのディフェクト情報群
のオフセットアドレスに参照先のアドレスを格納するこ
とで、以降のシリンダ１〜ｎディフェクト情報群を写し
換える必要がなく、追加処理における時間の短縮とな
る。

【００２８】図８に、本発明の第一実施例であるディフ
ェクト追加処理における、ディフェクト情報群内のディ
フェクト管理テーブルを示している。このテーブルは図
３を参照している。従来と異なり、ヘッド番号、セクタ
番号毎にテーブルアドレス３０が付される。また、ディ
フェクトの種類毎に区分され、その次にオフセットアド
レス３１、３２が配置される。例えば、図８におけるス
リップディフェクトＳ１は、ヘッド番号、セクタ番号に
それぞれテーブルアドレス３０を０，１と付加される。
その次に、同様にしてスリップディフェクトＳ３のテー
ブルアドレス３０が２・３と付加され、その次にオフセ
ットアドレス３１のテーブルアドレス４が配置される。
この場合は、同一シリンダに交代アドレスが存在するた
め、オフセットアドレス３１の値は次のテーブルアドレ
ス５が格納される。そのオフセットアドレス３１の後方
に交代アドレスＲ２が配置される。そして、交代アドレ
スの最後にオフセットアドレス３２が配置される。ここ
でのオフセットアドレス３２は、アドレス値−１の内容
を指している。

【００２９】図９に上記ディフェクト追加処理手順のフ
ローチャートを示す。まず、追加ディフェクト情報を、
ディフェクト管理テーブルの最後に追加する（ステップ
Ｓ３０）。次に、同一のシリンダにディフェクトが存在
するか調べ（ステップＳ３１）、存在しない場合、同一
のシリンダのオフセットアドレスに、追加ディフェクト
情報のアドレスを格納し（ステップＳ３３）、そのアド
レスから、追加ディフェクト情報を参照する。 同一の
シリンダに、すでにディフェクト情報が存在する場合、
そのディフェクト情報に交代ディフェクトが存在するか
を調べる（ステップＳ３２）。存在しない場合は、ディ
フェクト情報はスリップディフェクトのみであり、その
オフセットアドレス値に、追加ディフェクト情報のアド
レスを格納する（ステップＳ３４）。交代ディフェクト
が存在する場合、交代ディフェクトのオフセットアドレ
ス値に、追加ディフェクト情報のアドレスを格納する
（ステップＳ３５）。

【００３０】上記処理により、新たなディフェクト情報
を最後に追加し、その追加ディフェクト情報の種類によ
って、同一シリンダのディフェクト情報群に付加したア
ドレス値を追加ディフェクト情報のアドレスとし、追加
ディフェクト情報を参照することができる。 従って、
ディフェクト情報群を写し換える処理が不要となり、処
理時間の短縮となる。よって、アクセス機能の向上を図
ることができる。

【００３１】また、上記第一実施例であるディフェクト
追加処理後の状態を最適化する処理を以下に詳述する。
図１０は、ディフェクト情報の最適化を示している。図
１０（Ｂ）と図７（Ｂ）は同一であり、ディフェクト情
報追加後の状態である。ここで、例えば初期化（フォー
マットユニット）コマンドが発行されると、その追加デ
ィフェクト情報２２を、対応するシリンダのディフェク
ト情報群２１の次に配置される（図１０（Ｃ）参照）。
追加ディフェクト情報２２のオフセットアドレス２７は
削除され、シリンダ毎にディフェクト情報が格納され
る。

【００３２】この最適化処理手順のフローチャートを図
１１に示す。図１１において、ディフェクト情報追加後
の状態で最適化を行うため、シリンダ毎に追加ディフェ
クト情報が存在するか調べる（ステップＳ４０）。追加
ディフェクト情報が存在する場合において、その追加デ
ィフェクト情報を同一のシリンダのディフェクト情報群
に挿入するため、そのディフェクト情報群のアドレスを
求める（ステップＳ４１）。その次に、追加ディフェク
ト情報の長さ分の領域を確保するために、求めたアドレ
ス以降のディフェクト情報を後方に移動する（ステップ
Ｓ４２）。その後、この領域に追加ディフェクト情報を
挿入する（ステップＳ４３）。

【００３３】このように、図９のディフェクト追加処理
によって、後方に追加されたディフェクト情報は、初期
化コマンドが発行された場合、同一のシリンダのディフ
ェクト情報の次に挿入され、オフセットアドレスが削除
されることにより、最適化を図ることができる。以上が
第一実施例である。次に、第一実施例に係る変形例を以
下に詳述する。

【００３４】第一実施例におけるディフェクト追加処理
において作成されたディフェクト情報、および更新され
た情報のみを保存する保存処理を図１２に示す。図１２
（Ａ）は図７（Ａ）と同一である。図１２（Ａ）に示
す、これらのディフェクト情報群にオフセットアドレス
を付加した状態から、追加ディフェクト情報２２の追加
処理後を図１２（Ｂ）に示す。この図１２（Ｂ）で新た
に更新されたのはオフセットアドレス２６、２７と追加
ディフェクト情報２２である。この更新、追加された情
報のみを不揮発性領域、例えばシステムエリアや、図１
に示しているフラッシュＲＯＭ１１に書き込む。そのこ
とにより、装置の電源が落ちた場合、データを失うこと
なく保存できる。また、追加処理を高速で行うことがで
きる。

【００３５】上記変形例の保存処理手順のフローチャー
トを図１３に示す。図１３において、まず追加処理が終
了した段階で、追加ディフェクト情報のオフセットアド
レス値のみが更新されているため、この情報のみを所定
の不揮発性領域に格納する（ステップＳ５０）。次に、
同一シリンダにおいて、ディフェクト情報群が存在する
かを調べる (ステップＳ５１) 。ディフェクト情報群が
存在する場合、そのディフェクト情報群のオフセットア
ドレスが更新されているため、このオフセットアドレス
値を所定の不揮発性領域に格納する（ステップＳ５
２）。その後、またはディフェクト情報群が存在しない
場合、全ての追加ディフェクト情報を所定の不揮発性領
域に格納する（ステップＳ５３）。

【００３６】このように、ディフェクト追加処理におい
て更新、追加されたディフェクト情報とオフセットアド
レスのみを、フラッシュＲＯＭ１１に格納して保存する
処理を行うことにより、電源が落ちてもデータが失われ
ることなく、また追加処理の高速化を図ることができ
る。以上が第一実施例の変形例である。次に、第二実施
例を以下に詳述する。

【００３７】ディフェクト情報毎にオフセットアドレス
を付加し、シリンダ・ヘッド・セクタの昇順にアドレス
更新して追加するディフェクト追加処理を図１４に示
す。図１４（Ａ）は、ディフェクト情報毎にオフセット
アドレスを付加し、ディフェクト情報を、昇順に番号を
付けて並べた状態である。この状態で、Ｎｏ．１とＮ
ｏ．２の間に存在するディフェクト情報を追加した場合
を図１４（Ｂ）に示す。図１４（Ｂ）において、追加の
ディフェクト情報は最後に配置し、その追加ディフェク
ト情報にオフセットアドレスを配置する。この追加ディ
フェクト情報は、昇順に並べた場合、Ｎｏ．２に位置す
るため、Ｎｏ．１のディフェクト情報のオフセットアド
レスの一次アドレスに、追加ディフェクト情報のアドレ
スを格納する。そして、追加ディフェクト情報をＮｏ．
２とし、追加ディフェクト情報のオフセットアドレス
に、次のディフェクト情報のアドレス値を格納する。そ
の次以降のディフェクト情報の番号は、ディフェクト情
報の追加により、１だけインクリメントされる。このよ
うに、昇順にディフェクト情報を並べることにより、デ
ィフェクト情報を容易に探索することができる。

【００３８】上記のディフェクト追加処理におけるディ
フェクト情報探索処理手順のフローチャートを図１５に
示す。昇順ディフェクト情報群であるディフェクト情報
を探索する場合、図１５に示すディフェクト情報探索処
理を行う。まず、所定のセクタ情報の論理アドレス（論
理値）を仮アドレス（ヘッド番号、セクタ番号）に変換
する（ステップＳ６００）。その後、仮アドレスの前方
の一番最初に登録されているディフェクト情報を取得す
る（ステップＳ６０１）。ディフェクト情報を取得でき
なかった場合（ステップＳ６０２、いいえ）、ディフェ
クト情報が存在しないこととなり、仮アドレスがそのま
ま求めるディフェクト情報のアドレスとなり（ステップ
Ｓ６０３）、ディフェクト情報検索は終了する。一方、
ディフェクト情報を取得できた場合（ステップＳ６０
２、はい）、そのディフェクト情報のアドレスと仮アド
レスを比較し、ディフェクト情報のアドレスの方が小さ
い場合（ステップＳ６０４、はい）、仮アドレスの前方
にディフェクト情報が存在することになり、そのディフ
ェクト情報がスリップディフェクトかを調べる（ステッ
プＳ６０５）。スリップディフェクトの場合、スリップ
ディフェクト自体を読み飛ばすため、仮アドレスのセク
タ番号を１インクリメントする（ステップＳ６０６）。
その後、次のディフェクト情報をオフセットアドレスに
格納されたアドレスから取得する。また、スリップディ
フェクトではなく交代ディフェクトである場合、その交
代ディフェクトのオフセットアドレス値の２次アドレ
ス、すなわち次のディフェクト情報のアドレスを取得す
る（ステップＳ６０７）。

【００３９】よって、上記ステップＳ６０２、ステップ
Ｓ６０４、ステップＳ６０５，ステップＳ６０６、ステ
ップＳ６０７の処理を繰り返す。ステップＳ６０４の処
理で、ディフェクト情報のアドレスより仮アドレスの方
が小さい、または等しいかを調べる（Ｓ６０８）。仮ア
ドレスの方が小さい場合、仮アドレスの前方にディフェ
クト情報が存在しないこととなり、仮アドレスが求める
アドレス値となり（ステップＳ６０９）、ディフェクト
情報検索は終了する。一方、ステップＳ６０８の処理
で、ディフェクト情報のアドレスと仮アドレスが等しい
場合、そのディフェクト情報が交代ディフェクトである
か調べる（ステップＳ６１０）。交代ディフェクトであ
る場合、オフセットアドレスの二次アドレスが求めるア
ドレスになり（ステップＳ６１１）、ディフェクト情報
検索は終了する。また、ステップＳ６１０の処理におい
て、ディフェクト情報が交代ディフェクトでない場合、
即ちスリップディフェクトであり、仮アドレスを１イン
クリメントする（ステップＳ６１２）。その仮アドレス
が求めるアドレスとなり（ステップＳ６１３）、ディフ
ェクト情報検索は終了する。

【００４０】上記の処理は、ディフェクト情報毎にオフ
セットアドレスを付加することにより、一つのディフェ
クト情報毎に付加されたオフセットアドレスを利用する
ことで、ディフェクト情報の探索を容易に行うことがで
きる。以上が第二実施例である。次に、第二実施例に係
る変形例を以下に詳述する。

【００４１】第二実施例である図７に示した追加処理を
行う手順を用いてディフェクト情報群を最適化する処理
を図１６に示す。図１６において、プライマリディフェ
クト情報群とオフセットアドレスを示している。プライ
マリディフェクト情報とは、工場出荷時において検出、
記録されたディフェクト情報のことで、所定の単位、例
えば１シリンダを一つのプライマリディフェクト情報群
として、オフセットアドレスを付加して格納する。

【００４２】上記のプライマリディフェクト情報群にお
けるディフェクト情報探索処理手順のフローチャートを
図１７に示す。プライマリディフェクト情報群の中から
一つのディフェクト情報を探索する場合、図１７に示す
ディフェクト情報探索処理を行う。まず、探索する一つ
の情報の論理アドレスを仮アドレスに変換する（ステッ
プＳ７００）。次に、プライマリディフェクト情報群の
一番最初に登録されているディフェクト情報を取得する
（ステップＳ７０１）。ディフェクト情報が取得できた
場合、そのディフェクト情報のアドレスと仮アドレスを
比較し、ディフェクト情報のアドレスの方が小さい場合
（ステップＳ７０３、いいえ）、仮アドレスの前方にデ
ィフェクト情報が存在することになり、仮アドレスのセ
クタ番号を１インクリメントし（ステップＳ７０４）、
次のスリップディフェクトの情報を取得する（ステップ
Ｓ７０５）。その後、上記の処理ステップＳ７０２，ス
テップＳ７０３，ステップＳ７０４，ステップＳ７０５
を再び行う。ステップＳ７０２でディフェクト情報を取
得できなかった場合（ステップＳ７０２，いいえ）、プ
ライマリディフェクト情報群にスリップディフェクトは
存在しないこととなり、そのスリップディフェクトのオ
フセットアドレスから交代ディフェクトの情報を取得す
る（ステップＳ７０６）。また、取得したディフェクト
情報のアドレスが仮アドレスより大きかった場合（ステ
ップＳ７０３、はい）もステップＳ７０６の処理が行わ
れる。その取得したアドレスがスリップディフェクトで
あれば仮アドレスより後方に存在することとなり、仮ア
ドレス値には影響しない。そのアドレスが交代ディフェ
クトである場合、２次アドレスの値が大きいことであ
り、２次アドレスの指定するアドレスが仮アドレスの後
方に存在する。

【００４３】ステップＳ７０６の処理から交代ディフェ
クトが取得されたか調べる（ステップＳ７０７）。交代
ディフェクトが取得されなかった場合、Ｓ７０６の処理
においてディフェクト情報が存在しなかったことにな
り、仮アドレスが求めるディフェクト情報のアドレスと
なる（ステップＳ７０８）。一方、交代ディフェクトが
取得された場合、その取得されたアドレスと仮アドレス
を比較する（ステップＳ７０９）。ディフェクト情報の
アドレスの方が小さい場合、仮アドレスの前方における
交代処理をする交代ディフェクトということであり、仮
アドレスには影響しない。よって、次の交代ディフェク
トを取得する（ステップＳ７１０）。その後、上記処理
ステップＳ７０７、ステップＳ７０９、ステップＳ７１
０を繰り返す。ステップＳ７０９の処理で、ディフェク
ト情報のアドレスの方が大きい場合、仮アドレスとディ
フェクト情報のアドレスが等しいかを調べる（ステップ
Ｓ７１１）。ここで、アドレス値が等しい場合、求める
ディフェクト情報の値は、取得した交代ディフェクトの
２次アドレスである（ステップＳ７１３）。ステップＳ
７１１で仮アドレスとディフェクト情報のアドレスとが
等しくない場合、取得した交代ディフェクトは仮アドレ
スに影響しないため、仮アドレスが求めるアドレスとな
る（ステップＳ７１２）。上記処理によりプライマリデ
ィフェクト情報群におけるディフェクト情報の検索をす
ることができ、また、プライマリディフェクト情報群を
利用することで、オフセットアドレスを減少させること
ができ、記憶容量を効率よく使用することができる。

【００４４】次に、新たなディフェクト情報を追加する
ために、ディフェクト情報群を移動させて空き領域を作
成する処理を行う手順を図１８に示す。図１８は、シリ
ンダを単位として、シリンダ０〜ｎのそれぞれにまとめ
られたディフェクト情報群へ、シリンダ０に存在する新
たなディフェクト情報を追加する場合の処理手順を示し
ている。この処理において、シリンダ０に追加ディフェ
クト情報を、シリンダ０のディフェクト情報群の次に追
加する。そのために、追加ディフェクト情報が追加され
る領域に存在するシリンダ１のディフェクト情報群を、
シリンダｎのディフェクト情報群の後方に写し換えて移
動させる。その結果、シリンダ１のディフェクト情報群
が存在していた領域が空き領域となる。この空き領域に
追加ディフェクト情報を追加し、残りの空き領域も追加
処理に利用する。

【００４５】上記のディフェクト情報群の移動処理にお
ける、新たなディフェクト情報の追加処理手順のフロー
チャートを図１９に示す。図１９において、ディフェク
ト情報群に新たなディフェクト情報を追加する場合、ま
ず追加するディフェクトが存在する同一シリンダのディ
フェクト情報群の次のディフェクト情報群を、配列の示
されている一次テーブルから検索する（ステップＳ８
０）。検索された後、空き領域を調べるため、追加する
ディフェクト情報群の最後から、検索されたディフェク
ト情報群の先頭までの領域の大きさを計算する（ステッ
プＳ８１）。空き領域に追加ディフェクトを格納するた
め、ステップＳ８１の計算から得られた領域の大きさが
追加ディフェクトの情報量より小さいか比較する（ステ
ップＳ８２）。空き領域の方が小さい場合、追加する容
量が不足しているため、以下の処理を行う。まず、検索
されたディフェクト情報群を、ディフェクト情報群（デ
ィフェクト管理テーブル）の最後に移動する（ステップ
Ｓ８３）。移動したディフェクト情報群の配置情報の一
次テーブル値を更新する（ステップＳ８４）。追加する
ための領域が確保されるまでステップＳ８０、ステップ
Ｓ８１、ステップＳ８２、ステップＳ８３、ステップＳ
８４の処理が繰り返される。

【００４６】一方Ｓ８２の領域の比較処理で、追加ディ
フェクト情報の領域より、空き領域の方が大きかった場
合、その空き領域に新たなディフェクト情報を追加し、
同一シリンダのディフェクト情報群に追加登録を行い
（ステップＳ８５）、追加処理が終了する。上記処理に
よって、同一シリンダのディフェクト情報群の次に空き
領域を設け、その空き領域に新たなディフェクト情報を
追加することで、ディフェクト情報群毎に集約してディ
フェクト情報を管理することができる。

【００４７】次に、本発明の第三実施例の変形例であ
る、空き容量の最適化処理を行う手順を図２０に示す。
図２０（Ａ）は、ディフェクト情報群３３に図１９に示
した空き領域における追加処理によってディフェクト情
報が追加された時に生じた空き領域と、次のディフェク
ト情報群３４を示している。これらのディフェクト情報
群の間と、ディフェクト情報群３４の後方に空き領域が
別々に存在するため、図２０（Ｂ）に示すように空き領
域を合わせ、領域を広く確保して空き領域の最適化を行
う。

【００４８】その空き領域の最適化処理のフローチャー
トを図２１に示す。図２１において、上記移動処理にお
けるディフェクト追加処理後において、空き領域が複数
存在する場合において、空き領域の最適化処理を行う。
まず、ディフェクト情報群が格納されているディフェク
ト管理テーブルの最初に登録されているディフェクト情
報群ｐ (図２０ではｐ＝３３、ｑ＝３４）を取得する
（ステップＳ９０）。次に、ディフェクト情報群ｐが取
得できたかを調べ（ステップＳ９１）、取得できない場
合、ディフェクト情報群が存在しないこととなり、最適
化処理は終了する。ディフェクト情報群ｐが取得できた
場合、その取得したディフェクト情報群ｐの次のディフ
ェクト情報群ｑを取得する（ステップＳ９２）。そのデ
ィフェクト情報群ｑを取得できたかを調べ（ステップＳ
９３）、ディフェクト情報群ｑが取得できなかった場
合、ディフェクト情報群はディフェクト情報群ｐのみで
あり、よって空き領域が存在しない。よって、最適化処
理は終了する。ディフェクト情報群ｑが取得できた場
合、ディフェクト情報群ｐとディフェクト情報群ｑの間
に空き領域が存在するかを調べ（ステップＳ９４）、空
き領域が存在する場合、ディフェクト情報群ｐの後方に
あるディフェクト情報群ｑを、ディフェクト情報群ｐの
次に移動し（ステップＳ９５）、移動したディフェクト
情報群ｑのアドレスを更新する（ステップＳ９６）。ス
テップＳ９６の処理後、又はステップＳ９４の処理で空
き領域が存在しない場合、後方のディフェクト情報ｑを
ディフェクト情報群ｐとして、ステップＳ９２、ステッ
プＳ９３、ステップＳ９４、ステップＳ９５、ステップ
Ｓ９６、ステップＳ９７の処理を繰り返す。上記処理に
より、空き領域をまとめることで領域を広く取ることが
でき、空き領域を有効に利用することができる。

【００４９】また、図２２に本発明の第三実施例の変形
例である最適化処理の一例を示している。図２２（ａ）
はシリンダ１とシリンダ２のディフェクト情報群に新た
なディフェクト情報を追加した後の状態を示している。
新たなディフェクト情報を追加するために、図１９に示
した処理を行い、シリンダ１とシリンダ３のディフェク
ト情報群が最後に移動され、シリンダ１と２のディフェ
クト情報の次の領域に空き領域が確保される。空き領域
はシリンダ１のディフェクト情報群の次と、シリンダ２
のディフェクト情報群の次に存在しており、図２２
（ｂ）に示すように、これらの空き領域をまとめること
で空き領域を広く確保できる。図２２（ｂ）の空き領域
に、最後に移動されたシリンダ３のディフェクト情報群
を移動する。この時の状態を図２２（ｃ）に示してい
る。このようにして、空き領域に最後に存在するディフ
ェクト情報群を移動させることで、ディフェクト情報群
の格納されているバッファメモリ１４の領域を少なくす
ることができ、空き領域の最適化を図ることができる。

【００５０】

【発明の効果】上記のように、本発明によれば、新たに
欠陥情報が検出された場合に追加欠陥情報を未使用領域
に格納し、その格納された追加欠陥情報と、追加欠陥情
報が結合する既存の欠陥情報とを連結することにより、
欠陥情報管理における処理を効率良く行うことができ
る。また、欠陥情報に付加されたアドレス情報を用い
て、上記の処理及び欠陥情報の探索を行うことで、高速
に処理でき、欠陥情報の管理機能の向上となる。

【００５１】一方、欠陥情報を移動し、格納領域に追加
欠陥情報を格納し、また、その格納領域を集約して格納
領域の最適化を行うことで、欠陥情報管理における処理
を効率良く行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の磁気ディスク装置の一例のブロック構成
図である。

【図２】従来の磁気ディスク装置の一例の磁気ディスク
におけるデータ構成図である。

【図３】従来の一例のディフェクト情報の位置を表すデ
ィフェクト配置図を示す図である。

【図４】従来の一例のディフェクト管理テーブルを示す
図である。

【図５】従来の一例のディフェクト追加処理を示した図
である。

【図６】従来の一例のディフェクト追加処理手順のフロ
ーチャートを示した図である。

【図７】本発明の第一実施例のディフェクト追加処理を
示した図である。

【図８】本発明の第一実施例のディフェクト管理テーブ
ルを示す図である。

【図９】本発明の第一実施例のディフェクト追加処理手
順のフローチャートを示した図である。

【図１０】本発明の第一実施例の初期化コマンド実行時
におけるディフェクト情報の最適化を示した図である。

【図１１】本発明の第一実施例の初期化コマンド実行時
におけるディフェクト情報の最適化手順のフローチャー
トを示した図である。

【図１２】本発明の第一実施例の変形例である不揮発性
領域への保存処理を示した図である。

【図１３】本発明の第一実施例の変形例である不揮発性
領域への保存処理手順のフローチャートを示した図であ
る。

【図１４】本発明の第二実施例のディフェクト情報毎に
オフセットアドレスを付加した方法におけるディフェク
ト追加処理を示した図である。

【図１５】本発明の第二実施例のディフェクト情報探索
手順のフローチャートを示した図である。

【図１６】本発明の第二実施例の変形例であるプライマ
リディフェクト情報群を示した図である。

【図１７】本発明の第二実施例の変形例であるプライマ
リディフェクト情報群の処理手順のフローチャートを示
した図である。

【図１８】本発明の第三実施例のディフェクト情報群の
移動処理を示した図である。

【図１９】本発明の第三実施例のディフェクト情報群の
移動処理におけるディフェクト追加処理手順のフローチ
ャートを示した図である。

【図２０】本発明の第三実施例の変形例である空き領域
の最適化処理を示した図である。

【図２１】本発明の第三実施例の変形例である空き領域
の最適化処理手順のフローチャートを示した図である。

【図２２】本発明の第三実施例の変形例である最適化処
理の一例を示した図である。

【符号の説明】

１ 磁気ディスク装置 ２ 磁気ディスク ３ スピンドルモータ ４ 磁気ヘッド ５ ヘッドアーム ６ ＶＣＭ ７、８ 回転軸 ９ ドライバ １０ マイクロコントロールユニット（ＭＣＵ） １１ フラッシュＲＯＭ／ＲＡＭ １２ ハードディスクコントローラー（ＨＤＣ） １３ インターフェース回路 １４ バッファメモリ（ＤＲＡＭ） １５ リードライトチャネル Ｔｒ１〜Ｔｒｎ トラック Ｓ１〜Ｓｍ フレーム

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記憶媒体上の欠陥位置を示す欠陥情報を
   管理する欠陥情報管理方法において、 新たに前記欠陥情報が検出されたときに追加欠陥情報を
   未使用領域に格納する欠陥情報格納手順と、 前記欠陥情報格納手順で未使用領域に格納された前記追
   加欠陥情報と、前記追加欠陥情報が結合する既存の欠陥
   情報とを連結し、 前記欠陥情報を管理する欠陥情報連結手順とを有するこ
   とを特徴とする欠陥情報管理方法。
2. 【請求項２】 請求項１記載の欠陥情報管理方法におい
   て、 前記欠陥情報連結手順は、前記欠陥情報としてアドレス
   情報を有し、 前記アドレス情報に前記追加欠陥情報が格納された領域
   に対応するアドレスを格納して該アドレスを利用して前
   記追加欠陥情報と前記既存の欠陥情報とを連結させるこ
   とを特徴とする欠陥情報管理方法。
3. 【請求項３】 記憶媒体上の欠陥位置を示す欠陥情報を
   管理する欠陥情報管理方法において、 新たに検出された追加欠陥情報が連結される位置に存在
   する既存の欠陥情報を未使用領域に格納し、 前記既存の欠陥情報が格納されていた格納領域に前記追
   加欠陥情報を格納することを特徴とする欠陥情報管理方
   法。
4. 【請求項４】 請求項３記載による欠陥情報管理方法に
   おいて、 前記格納領域の情報が格納されていない複数の空き領域
   を前記欠陥情報が格納可能となる領域に集約することを
   特徴とする欠陥情報管理方法。
5. 【請求項５】 記憶媒体上の欠陥位置を示す欠陥情報を
   管理する情報記憶装置において、 新たに前記欠陥情報が検出されたときに追加欠陥情報を
   未使用領域に格納する欠陥情報格納手段と、 前記欠陥情報格納手段で未使用領域に格納された前記追
   加欠陥情報と、前記追加欠陥情報が結合する既存の欠陥
   情報とを連結し、 前記欠陥情報を管理する欠陥情報連結手段とを有するこ
   とを特徴とする情報記憶装置。
6. 【請求項６】 請求項５記載の情報記憶装置において、 前記欠陥情報連結手段は、前記欠陥情報としてアドレス
   情報を有し、 前記アドレス情報に前記追加欠陥情報が格納された領域
   に対応するアドレスを格納して該アドレスを利用して前
   記追加欠陥情報と前記既存の欠陥情報とを連結させるこ
   とを特徴とする情報記憶装置。
7. 【請求項７】 記憶媒体上の欠陥位置を示す欠陥情報を
   管理する情報記憶装置において、 新たに検出された追加欠陥情報が連結される位置に存在
   する既存の欠陥情報を未使用領域に格納し、 前記既存の欠陥情報が格納されていた格納領域に前記追
   加欠陥情報を格納することを特徴とする情報記憶装置。
8. 【請求項８】 請求項７記載による情報記憶装置におい
   て、 前記格納領域の情報が格納されていない複数の空き領域
   を前記欠陥情報が格納可能となる領域に集約することを
   特徴とする情報記憶装置。