CN102163445A - 光记录介质系列 - Google Patents

Abstract

提供一种光记录介质系列。通过导入多个光记录介质之间统一的概念，使光读写头侧的负担变轻。该光记录介质系列备有光记录介质(10、20、30)，该光记录介质包括不具有循轨控制用凹凸的平面结构的多层记录再现层、形成有循轨控制用凹凸的伺服层，其中，记录再现层的层叠数目在多个光记录介质(10、20、30)之间互不相同，相对于光入射面的上述伺服层的位置，在多个上述光记录介质(10、20、30)之间彼此相等。

Description

光记录介质系列

技术领域

本发明涉及一种备有多种光记录介质的光记录介质系列，这些光记录介质具有多层记录再现层。

背景技术

在现有技术中，为了视听数字动画内容或记录数字数据，广泛利用着CD-DA、CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-R、DVD+/-RW、DVD-RAM、Blu-ray Disc(BD)等光记录介质。其中，就所谓下一代DVD标准之一的BD而言，将用于记录再现的激光的波长缩短至405nm，将物镜的数值孔径设定为0.85。就符合BD标准的光记录介质而言，以0.32μm的间距形成轨道。这样，通过光记录介质上的1层记录再现层，能够实现25GB以上的记录再现。

然而，预计今后动画或数据的容量会日益增大。因此，正研究着如下方法：使光记录介质采用多层的记录再现层，从而使光记录介质的容量增大。关于BD标准的光记录介质，也已提出了如下技术：设置6层～8层的记录再现层，以此实现都达到200GB的超大容量(参照非专利文献1、2)。

另一方面，就光记录介质采用多层记录再现层而言，在各记录再现层上形成有凹槽(groove)/平台(land)等循轨控制(tracking control)用凹凸，所以每设置各层都必须使用用于形成该凹凸的作为母版的压模。因此，其层数越多则该压模的使用次数越多，所以可能会使制造成本增大。

于是，近年来提出了如下技术：在光记录介质上分别独立地设置伺服层和记录再现层，一边利用伺服专用激光从伺服层获取循轨信号，一边利用记录用激光在记录再现层上记录信息(参照专利文献1、2)。若采用这个技术，则各记录再现层不再需要用于赋予循轨信息的凹凸(沟槽)，所以在制造时也无需使用记录再现层用压模，从而能够大幅度地降低成本。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2002-63738号公报

专利文献2：JP特开2009-104717号公报

非专利文献

非专利文献1：I.Ichimura et.al.，Appl.Opt，45，1974-1803(2006)

非专利文献2：K.Mishima et.al，，Proc.of SPIE，6282，62820I(2006)

发明要解决的课题

在专利文献1、2所记载的光记录介质中，有必要根据所需的记录容量来改变记录再现层的层叠数目。然而，若生产出记录再现层的层叠数目不同的各种各样的光记录介质，则在用于信息的记录再现的光读写头侧难以判断记录再现层或伺服层光到底位于记录介质的厚度方向上的哪一处。

具体地说，在专利文献1、2所记载的光记录介质中，若记录再现层的层叠数目不同，则伺服层的位置会根据间隔层等的厚度而变化。因此，每当安放光记录介质时，都需要使记录用激光的焦点向聚焦方向(focus direction)移动来读取各记录再现层或伺服层的位置，所以存在记录再现的准备动作所需的时间长的问题。

另外，就该光记录介质而言，利用设置于光读写头侧的光学系统中的光束扩展器(beam expander)，修正因间隔层的厚度在各记录再现层之间不同而引起的像差，以实现对各记录再现层的记录再现，但在光读写头侧的像差修正的容许量显然具有局限性。因此，若在光记录介质侧今后日趋多层化，则可能会发生如下情形：记录再现层设在像差修正的容许范围之外，所以在光读写头侧无法正确进行像差修正。同样地，若伺服层配置在光读写头的像差修正的容许范围之外，则也会发生完全无法进行对于记录再现最重要的循轨控制的问题。

发明内容

本发明是鉴于上述问题而提出的，其目的在于提供一种光记录介质系列，该光记录介质系列通过导入多个光记录介质之间统一的概念，使光读写头侧的负担变轻。

用于解决课题的手段

本发明的发明者们通过专心研究，利用如下手段来实现了上述目的。

用于实现上述目的的本发明是一种光记录介质系列，备有多个光记录介质，该光记录介质包括不具有循轨控制用凹凸的平面结构的多层记录再现层、形成有循轨控制用凹凸的伺服层，能够在利用上述伺服层来进行循轨控制的同时，在上述记录再现层上记录信息，其特征在于，上述记录再现层的层叠数目在多个上述光记录介质之间互不相同，相对于光入射面的上述伺服层的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等。

用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，离上述光入射面最近的上述记录再现层相对于该光入射面的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等。

用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，离上述光入射面最远的上述记录再现层相对于该光入射面的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等。

用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，上述光记录介质上的上述伺服层配置在比多个上述记录再现层更远离上述光入射面的位置。

用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，就多个上述光记录介质中的各光记录介质上的多个上述记录再现层的层间距离而言，交替地设定有第一距离和与该第一距离不同的第二距离。

用于实现上述目的的光记录介质系列的特征在于，在上述发明中，上述伺服层上的上述循轨控制用凹凸的轨道间距设定为想要记录在上述记录再现层上的记录标记的轨道间距的2倍。

发明效果

根据本发明，则通过导入多个光记录介质之间统一的概念，能够得到在光读写头侧能可靠地实现记录再现的光记录介质系列。

附图说明

图1是示出了对本实施方式的光记录介质系列进行记录再现的光读写头的结构的框图。

图2是示出了属于上述光记录介质系列的光记录介质的叠层结构的剖视图。

具体实施方式

下面，参照附图，对本发明的实施方式进行说明。

图1示出了属于本实施方式的光记录介质系列的第一光记录介质10、用于对该第一光记录介质10进行记录再现的光读写头90的结构。光读写头90具有第一光学系统100和第二光学系统200。第一光学系统100是对第一光记录介质10的记录再现层组14进行记录再现的光学系统。第二光学系统200是指，在利用第一光学系统100对记录再现层组14记录信息时，利用后述的伺服层18来进行循轨控制的光学系统。

从第一光学系统100的光源101出射且具有相对短的蓝色波长380～450nm(在此为405nm)的发散光束170，透过具有球面像差修正单元193的准直透镜153，并透过第二光学系统200的波长选择滤光片260后入射至偏振分束器152。入射至偏振分束器152的光束170透过偏振分束器152，进而透过1/4波片154而变换为圆偏振光，然后被物镜156变换为会聚光束。该光束170会聚于在第一光记录介质10的内部所形成的多层记录再现层组14中任一层记录再现层上。

物镜156的口径受到光阑155的限制，其数值孔径NA为0.70～0.90(在此为0.85)。例如，被记录再现层组14反射的光束170透过物镜156、1/4波片154，变换为与往路相差90度的直线偏振光，然后被偏振分束器152反射。此外，该偏振分束器152具有波长选择特性，反射来自第一光学系统100的光源101的光束170，而始终使后述的第二光学系统200的具有相对长的红色波长的光束270透过。

被偏振分束器152反射的光束170透过聚光透镜159而变换为会聚光，并经由柱面透镜157入射至光检测器132。光束170在透过柱面透镜157时被赋予像散(astigmatism)。

光检测器132具有未图示的4个受光部，各受光部分别输出与接收到的光量相对应的电流信号。利用这些电流信号来能够生成如下信号，即，借助像散法来测得的聚焦误差(下面，称之为“FE”)信号、借助只限于再现时的推挽方式(push-pull method)来测得的循轨误差(下面，称之为“TE”)信号、在第一光记录介质10上记录的信息的再现信号等。将FE信号及TE信号放大至所期望的电平以及接受相位补偿，然后反馈至致动器(actuator)191及192来执行聚焦控制及循轨控制。此外，只在再现时利用借助第一光学系统100的循轨控制。

第二光学系统200的光源201出射的波长为630～680nm(在此为650nm)的发散光束270，透过具有球面像差修正单元293的准直透镜253，并入射至偏振分束器252。入射至偏振分束器252的光束270透过偏振分束器252，进而透过第二光学系统用的1/4波片254而变换为圆偏振光，然后被波长选择滤光片260反射，并透过与第一光学系统100共享的偏振分束器152。该光束270进而被物镜156变换为会聚光束，会聚于在第一光记录介质10的内部形成的伺服层18上。被伺服层18反射的光束270透过物镜156及偏振分束器152后被第二光学系统200的波长选择滤光片260反射，并在1/4波片254变换为与往路相差90度的直线偏振光，然后被偏振分束器252反射。被偏振分束器252反射的光束270透过聚光透镜259而变换为会聚光，并经由柱面透镜257入射至光检测器232。光束270在透过柱面透镜257时被赋予像散。

光检测器232具有未图示的4个受光部，各受光部分别输出与接收到的光量相对应的电流信号。利用这些电流信号来能够生成如下信号，即，借助像散法来测得的聚焦误差(FE)信号、借助推挽方式来测得的循轨误差(TE)信号。此外，在伺服层18上也记录有信息的情况下，也能够生成再现信号。

在利用第一光学系统100对记录再现层组14记录信息时，将第二光学系统200的TE信号放大至所期望的电平以及进行相位补偿，然后反馈至致动器191及192来进行循轨控制。其结果，基于第二光学系统200的循轨控制，第一光学系统100对记录再现层组14记录信息。此外，本实施方式中，当对已记录在记录再现层组14中的信息进行再现时，第一光学系统100利用记录再现层组14上的记录标记来独自进行循轨控制。另一方面，当然也可以利用该第二光学系统200的循轨控制来进行再现。

图2放大示出了属于本实施方式的光记录介质系列的第一～第三光记录介质10、20、30的剖面结构。此外，在本实施方式中，详细说明第一光记录介质10，而对于第二、第三光记录介质20、30，只重点说明其与第一光记录介质10的不同点。此外，针对在第一～第三光记录介质10、20、30之间彼此相关的部件，使附图标记的最后一行彼此相同。

第一光记录介质10采用外径约为120mm且厚度约为1.2mm的圆盘形状。该光记录介质10从光入射面10A侧起依次具有覆盖层11、记录再现层组14及中间层组16、间隔层17、伺服层18、支撑基板12。

在本实施方式中，记录再现层组14具有第一～第六记录再现层14A～14F，分别采用能够记录信息的结构。该第一～第六记录再现层14A～14F采用不具有循轨控制用凹凸的平面结构，若从第一光学系统100向该平面结构照射高能量的记录用光束170，则在该平面结构上形成记录标记。此外，该记录再现层组14的种类，有虽能够追加记录信息但无法擦写的写一次型记录再现层和能够擦写信息的可擦写型记录再现层。

支撑基板12是厚度为1.0mm且直径为120mm的圆盘形状的基板，用于确保光记录介质应具备的厚度(约1.2mm)，在该支撑基板12的光入射面10A一侧的面上形成有伺服层18。具体地说，在支撑基板12的光入射面10A一侧，从其中心部附近向外缘部以螺旋状形成有凹槽及平台。该凹槽及平台成为循轨控制用凹凸(沟槽)，用于引导第二光学系统200的光束270。

此外，支撑基板12可以采用各种各样的材料，例如，可以采用玻璃、陶瓷、树脂。从成型容易的观点来看，在这些材料中应优先采用树脂。树脂可以采用聚碳酸酯树脂、烯烃树脂、丙烯酸树脂、环氧树脂、聚苯乙烯树脂、聚乙烯树脂、聚丙烯树脂、硅树脂、氟类树脂、ABS树脂、聚氨酯树脂等。从可加工性等观点来看，在这些树脂中，应更优先采用聚碳酸酯树脂或烯烃树脂。此外，支撑基板12不会成为光束270的光路，所以该支撑基板12没有必要具有高的透光特性。

通过在支撑基板12的表面上形成循轨控制用凹凸(凹槽及平台)和具有反射特性的层，来在支撑基板12上形成伺服层18。就该伺服层18而言，只要形成Ag等金属层来使该金属层发挥光反射膜的功能即可。另外，根据需要，也可以设置能够实现记录且具有反射特性的记录层。

在本实施方式中，将伺服层18上的循轨控制用凹凸的轨道间距P，设定为想要记录在记录再现层14A～14F上的记录标记的轨道间距的2倍。具体地说，为了确保与BD标准的兼容性，将想要记录在记录再现层14A～14F上的轨道间距设定为0.32μm左右，所以将伺服层18的凹槽/平台的轨道间距P设定为0.64μm左右。若采用0.64μm左右的轨道间距P，则即使是相对长的红色波长区域的光束270，也足够能够实现循轨。尤其是在本实施方式中，利用凹槽和平台这两者来进行循轨，其结果，虽凹凸的间距为0.64μm左右，但能够将记录在记录再现层14A～14F上的记录标记的轨道间距设定为该凹凸的间距的一半的值即0.32μm左右。因此，即使不缩小伺服层18的轨道间距，也能够使记录再现层组14的记录标记的轨道间距变为一半，所以能够使记录容量增大。

间隔层17由具有透光特性的丙烯酸类紫外线固化树脂构成，在本实施方式中，将其膜厚设定为90μm。

在间隔层17的光入射面10A一侧所层叠的第一～第六记录再现层14A～14F，分别采用在写一次型记录膜的两外侧层叠有介电膜的3层结构(省略图示)。此外，就该第一～第六记录再现层14A～14F而言，这些记录再现层对于第一光学系统100的蓝色波长区域(短波长)的光束170的光反射率、吸收率、透过率等得以优化，另一方面，能够使第二光学系统200的红色波长区域(长波长)的光束270充分地透过。

各记录再现层的介电膜除了保护写一次型记录膜的基本功能之外，还发挥使在形成记录标记之前和之后的光学特性之差扩大的作用。

此外，在照射了光束170的情况下，若被介电膜吸收的能量多，则容易使记录灵敏度降低。因此，为了防止这样的问题，这些介电膜优先选用在380nm～450nm(尤其是405nm)的波长区域内具有低吸收系数(k)的材料。此外，在本实施方式中，作为介电膜的材料采用TiO2。

夹在介电膜之间的写一次型记录膜是用于形成不可逆的记录标记的膜，形成有记录标记的部分和此外的部分(空白区域)对光束170的反射率大不相同。其结果，能够对数据进行记录再现。此外，该写一次型记录膜也在循轨用的第二光学系统200的光束270的红色波长区域内具有高透光性。

写一次型记录膜的主要成分为含有Bi及O的材料。该写一次型记录膜发挥无机反应膜的功能，因接收激光的热量而发生化学变化或物理变化，使得在发生变化前后的反射率大不相同。作为其具体的材料，优先将Bi-O作为主要成分，或者将Bi-M-O(其中，M是选自Mg、Ca、Y、Dy、Ce、Tb、Ti、Zr、V、Nb、Ta、Mo、W、Mn、Fe、Zn、Al、In、Si、Ge、Sn、Sb、Li、Na、K、Sr、Ba、Sc、La、Nd、Sm、Gd、Ho、Cr、Co、Ni、Cu、Ga、Pb中的至少一种元素)作为主要成分。此外，在本实施方式中，作为写一次型记录膜的材料采用Bi-Ge-O。

此外，在此，示出了第一～第六记录再现层14A～14F采用写一次型记录膜的情形，但也可以采用能够实现反复记录的相变记录膜。在这样的情况下的相变记录膜优先将SbTeGe作为主要成分。

中间层组16从离光入射面10A远的一侧起依次具有第一～第五中间层16A～16E，这些中间层分别层叠在第一～第六记录再现层14A～14F之间。各中间层16A～16E由丙烯酸类或环氧类的紫外线固化树脂构成。该中间层16A～16E的膜厚分别为：第一中间层16A为16μm；第二中间层16B为12μm；第三中间层16C为16μm；第四中间层16D为12μm；第五中间层16E为16μm。也就是说，交替层叠有两种膜厚(16μm、12μm)的中间层。其结果，就第一～第六记录再现层14A～14F的层间距离而言，从光入射面一侧起依次交替地设定有第一距离(16μm)及与该第一距离不同的第二距离(12μm)。另外，将第一距离和第二距离之差设定为4μm。这样，能够降低层间串扰。

覆盖层11也与中间层组16同样地由具有透光特性的丙烯酸类紫外线固化树脂构成，而且其膜厚设定为38μm。

第一光记录介质10如上所述那样构成，其结果，伺服层18位于与光入射面10A相距0.2mm(200μm)处，而且，在记录再现层组14中离光入射面10A最远的第一记录再现层14A位于与光入射面10A相距0.11mm(110μm)处，离光入射面10A最近的第六记录再现层14F位于与光入射面10A相距38μm处。另外，记录再现层组14整体的厚度(第一记录再现层14A～第六记录再现层14F间的距离)为72μm。

接下来，对第二光记录介质20进行说明。该第二光记录介质20除了如下两个不同点之外，其结构与第一光记录介质10相同：记录再现层组24采用4层结构(第一～第四记录再现层24A～24D)；分别插入至记录再生层组24之间的第一～第三中间层26A～26C的膜厚不同。具体地说，第一～第三中间层26A～26C的膜厚分别为：第一中间层26A为26μm；第二中间层26B为20μm；第三中间层26C为26μm。其结果，就第一～第四记录再现层24A～24D的层间距离而言，从光入射面一侧起依次交替设定有第一距离(26μm)及与该第一距离不同的第二距离(20μm)。另外，将第一距离和第二距离之差设定为6μm。

因此，伺服层28位于与光入射面20A相距0.2mm处，另外，在记录再现层组24中离光入射面20A最远的第一记录再现层24A位于与光入射面20A相距0.11mm处，离光入射面20A最近的第四记录再现层24D位于与光入射面20A相距38μm处。还有，记录再现层组24整体的厚度(第一记录再现层24A～第四记录再现层24D间的距离)为72μm。

接下来，对第三光记录介质30进行说明。该第三光记录介质30除了如下两个不同点之外，其结构与第一光记录介质10的结构相同，这两个不同点是：记录再生层组34采用5层结构(第一～第五记录再现层34A～34E)；分别插入至记录再生层组34之间的第一～第四中间层36A～36D的膜厚不同。具体地说，第一～第四中间层36A～36D的膜厚分别为：第一中间层36A为20μm；第二中间层36B为16μm；第三中间层36C为20μm；第四中间层36D为16μm。其结果，就第一～第五记录再现层34A～34E的层间距离而言，从光入射面侧起依次交替设定有第一距离(16μm)和与该第一距离不同的第二距离(20μm)。另外，第一距离和第二距离之差设定为4μm。

因此，伺服层38位于与光入射面30A相距0.2mm处，另外，在记录再现层组34中离光入射面30A最远的第一记录再现层34A位于与光入射面30A相距0.11mm处，离光入射面30A最近的第五记录再现层34E位于与光入射面30A相距38μm处。另外，记录再现层组34整体的厚度(第一记录再现层34A～第五记录再现层34E间的距离)为72μm。

因此，在本实施方式的光记录介质系列中，虽然记录再现层的层叠数目在第一～第三光记录介质10、20、30之间互不相同，但伺服层相对于光入射面的位置、离光入射面最近的记录再现层相对于光入射面的位置、离光入射面最远的记录再现层相对于光入射面的位置，分别在第一～第三光记录介质10、20、30之间彼此相等。

只要是属于该光记录介质系列的光记录介质，则伺服层的位置都得以统一，所以光读写头90的第二光学系统200能够容易地找到伺服层的位置，从而能够快速地执行循轨。

另外，就本实施方式的光记录介质系列而言，由于离光入射面最近的记录再现层的位置在第一～第三光记录介质10、20、30之间得以统一，所以光读写头90的第一光学系统100能够快速聚焦于离光入射面最近的记录再现层上。同样地，离光入射面最远的记录再现层的位置也在第一～第三光记录介质10、20、30之间得以统一，所以第一光学系统100也能够快速聚焦于该记录再现层上。

进而，在本实施方式的光记录介质系列中，离光入射面最近的记录再现层的位置及离光入射面最远的记录再现层的位置均都得以统一，所以能够对记录再现用光学系统的像差修正量进行限定。即，只要设定为在光读写头90侧可以容许该范围内的像差修正，则只要是属于该光记录介质系列的光记录介质就能够可靠地进行记录再现。

接下来，对属于光记录介质系列的第一～第三光记录介质10、20、30的制造方法进行说明。而且，在该实施方式中，只对第一光记录介质10的制造方法进行说明，而省略对第二、第三光记录介质20、30的制造方法的说明。

首先，通过使用金属压模的聚碳酸酯树脂的射出成型法，制作出形成有凹槽及平台的支撑基板12。此外，支撑基板12的制作并不仅限定于射出成型法，也可以通过2P法或其他方法来制作。

然后，在支撑基板12的设有凹槽及平台的一侧的表面上形成伺服层18。通过使用Ag合金的溅射法来形成具有光反射特性的金属层，由此形成该伺服层18。进而，在伺服层18之上形成间隔层17。例如，通过旋涂法等来将调整过粘度的丙烯酸类或环氧类的紫外线固化树脂涂敷成膜，并利用紫外线照射该膜以使其固化，由此形成间隔层17。此外，也可以采用由透光树脂而成的透光片来代替紫外线固化树脂，并使用粘接剂或胶黏剂等来将该透光片粘贴在伺服层18之上，由此形成间隔层17。

接下来，形成第一记录再现层14A。具体地说，通过气相生长法来依次形成介电膜、写一次型记录膜、介电膜。其中，优先采用溅射法。然后，在第一记录再现层14A之上形成第一中间层16A。例如，通过旋涂法等来将调整过粘度的紫外线固化树脂涂敷成膜，然后利用紫外线照射该紫外线固化树脂以使其固化，由此形成第一中间层16A。通过重复执行该步骤，依次层叠第二记录再现层14B、第二中间层16B、……。

若到第六记录再现层14F为止形成完毕，则在其上形成覆盖层11，由此完成该第一光记录介质10。其中，例如，通过旋涂法等来将调整过粘度的丙烯酸类或环氧类的紫外线固化树脂涂敷成膜，并利用紫外线照射该膜以使其固化，由此形成覆盖层11。此外，在本实施方式中对上述制造方法进行了说明，但本发明并不特别限定于上述制造方法，而也可以采用其他制造技术。

接下来，说明利用光读写头90来对属于光记录介质系列的第一光记录介质10进行信息的记录再现的步骤。

在向该第一光记录介质10的第一记录再现层14A上记录信息的情况下，首先，利用第二光学系统200的红色波长区域的光束270来照射伺服层18以进行循轨。在进行该动作的同时，利用第一光学系统100的蓝色波长区域的记录用光束170来照射第一记录再现层14A。此外，就该伺服层18而言，光记录介质系列的基本规格、信息记录层组14的叠层数目的信息预先记录在记录凹坑、BCA(Burst Cutting Area：烧录区)内，以便在开始执行循轨时始终能够读取这些信息。在本实施方式中，光记录介质系列的基本信息包括伺服层的位置、离光入射面最近的记录再现层的位置、离光入射面最远的记录再现层的位置、与记录再现层组的层间距离相关的规则。

如已说明过那样，在该光记录介质系列中，伺服层18、第一记录再现层14A的位置预先在光记录介质之间得以统一(标准化)。由此，只要读取光记录介质系列的基本规格，使得光读写头90侧能够与该基本规格相匹配，则能够将各光束270、170分别快速聚焦在伺服层18及第一记录再现层14A上。

然后，一边利用伺服层18来进行循轨，一边在第一记录再现层14A上记录信息。在记录完毕后，将这次的追加记录相关信息(与记录相关的地址信息、内容信息等)记录在伺服层18侧并结束动作。此外，在伺服层18不具有记录层的情况下，优先将该追加记录相关信息记录在离光入射面10A最远的第一记录再现层14A上或离光入射面10A最近的第六记录再现层14F上并结束动作。

在对第二记录再现层14B记录信息的情况下，首先，光读写头90对第二记录再现层14B的位置进行推测。该光记录介质系列所采用的规格为：从离光入射面10A远的一侧起交替地层叠有第一膜厚的中间层、比该第一膜厚薄的第二膜厚的中间层。进而，第一膜厚和第二膜厚之差例如为：在第一及第三光记录介质10、30中统一成4μm；而在第二光记录介质20中统一成6μm。因此，在将第一记录再现层14A作为基准的情况下，基于该规则，能够通过程序来推测出第二记录再现层14B的位置。例如，在第一光记录介质10中，第一记录再现层14A和第六记录再现层14F之间的间隔为72μm，记录再现层组14采用6层(也就是说，中间层组16为5层结构)结构，所以利用膜厚差4μm，能够计算出第一、第三、第五中间层16A、16C、16E为16μm，第二、第四中间层16B、16D为12μm。基于该计算结果，能够直接将第一光学系统100的光束170聚焦在第二记录再现层14B上来记录信息。此外，在这样的情况下，也继续进行利用第二光学系统200的循轨动作。若记录完毕，则将其追加记录相关信息记录在伺服层18上并结束记录动作。

接下来，例如，在对记录于第一记录再现层14A上的信息进行再现的情况下，首先，利用第二光学系统200的光束270来对伺服层18进行再现，以此读取上述的基本规格、基于记录的追加记录相关信息(例如，记录在第一记录再现层14A上的内容信息等)。然后，基于这些信息，利用第一光学系统100的光束170来访问第一记录再现层14A的规定地址并进行再现。此时，在第一记录再现层14A上显然已记录有信息，所以只要利用其记录标记来进行循轨即可。因此，在对第一记录再现层14A进行内容再现的过程中，可以不利用第二光学系统200的光束270。

根据本实施方式的光记录介质系列，则记录再现层的数目互不相同的各光记录介质10、20、30，采用包括平面结构的多层记录再现层、形成有循轨控制用凹凸的伺服层的结构，进而，相对于光入射面的伺服层的位置在这些多个光记录介质10、20、30之间互不相等。因此，只要是属于该系列的光记录介质，则光读写头90能够利用第二光学系统200来直接聚焦于伺服层上，所以能够快速地开始循轨动作。同时，离光入射面最近的记录再现层相对于光入射面的位置在这些光记录介质10、20、30之间彼此相等，所以能够利用第一光学系统100来直接聚焦于该记录再现层上。加之与上述的循轨控制之间的增强效应，能够可靠且快速地进行记录。

另外，若采用该光记录介质系列，则离光入射面最远的记录再现层相对于光入射面的位置在光记录介质10、20、30之间彼此相等，所以第一光学系统100能够直接聚焦于该记录再现层上。就光读写头90而言，即使设置有记录再现层的数目不同的光记录介质10、20、30，也因为预先已掌握离光入射面最近的记录再现层的位置及最远的记录再现层的位置，所以不依赖于记录再现层的数目就能够大幅度地抑制记录再现出错率。另外，记录再现层所存在的位置范围预先得以限定，所以只要预先准备容许该范围内的像差修正的光读写头90，则能够提高所有的光记录介质10、20、30的记录再现精度。这也关系到光读写头90的制造成本的降低。

特别是，就在第一～第三光记录介质10、20、30中的各光记录介质上的相邻的记录再现层的层间距离而言，交替地设定有第一距离及与该第一距离不同的第二距离。这样，预先对记录再现层的层间距离定义了规定的规则，所以光读写头90能够通过计算来推测出记录再现层的位置，从而能够提高记录再现速度。

另外，若采用该光记录介质系列，则由于光记录介质上的伺服层配置在比记录再现层组更远离光入射面的位置上，所以能够减弱循轨控制用凹凸给用于对记录再现层进行记录再现的记录再现用光束170所带来的不良影响，从而能够进一步提高记录再现精度。

进而，若采用该光记录介质系列，则伺服层上的循轨用凹凸的轨道间距设定为想要记录在记录再现层上的记录标记的轨道间距的2倍。由此，伺服层采用廉价的长波长的红色光束270，通过平台及凹槽来进行循轨，同时，记录再现层能够以1/2轨道间距进行记录。尤其是，将伺服层侧的轨道间距设定为0.64μm，所以第二光学系统200几乎可以直接使用符合DVD标准的现有制品。另一方面，记录再现层的轨道间距为0.32μm，所以第一光学系统100几乎可以直接使用符合BD标准的现有制品。即，就光读写头90侧而言，不存在重新开发的负担，所以在有效利用现有部件的情况下，能够与本光记录介质系列相匹配。

此外，在本实施方式的光记录介质系列中，只示出了具有记录再现层组的叠层数目不同的3种光记录介质的情形，但本发明并不仅限定于此，而可以具有记录再现层组的叠层数目不同的2种光记录介质，也可以具有记录再现层组的叠层数目不同的4种以上的光记录介质。另外，在本实施方式中，也只示出了记录再现层组的叠层数目为4～6层的情形，但本发明并不仅限定于此。

另外，在本实施方式的光记录介质系列中，示出了伺服层配置在比记录再现层组更远离光入射面的位置上的情形，但本发明并不仅限定于此，也可以将伺服层配置在比记录再现层组更靠近光入射面的一侧。

进而，在本实施方式的光记录介质系列中，关于记录再现层的层间距离，只示出了交替地设定有第一距离和第二距离的情形，但并不仅限定于此，而也可以适当地设定3种以上的层间距离。

产业上的可利用性

本发明的光记录介质系列能够应用于具有伺服层和记录再现层的各种光记录介质中。

Claims (6)

1.一种光记录介质系列，备有多个光记录介质，该光记录介质包括不具有循轨控制用凹凸的平面结构的多层记录再现层、形成有循轨控制用凹凸的伺服层，能够在利用上述伺服层来进行循轨控制的同时，在上述记录再现层上记录信息，其特征在于，

上述记录再现层的层叠数目在多个上述光记录介质之间互不相同，

相对于光入射面的上述伺服层的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等。

2.如权利要求1所述的光记录介质系列，其特征在于，离上述光入射面最近的上述记录再现层相对于该光入射面的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等。

3.如权利要求1或2所述的光记录介质系列，其特征在于，离上述光入射面最远的上述记录再现层相对于该光入射面的位置，在多个上述光记录介质之间彼此相等。

4.如权利要求1至3中任一项所述的光记录介质系列，其特征在于，上述光记录介质上的上述伺服层配置在比多个上述记录再现层更远离上述光入射面的位置。

5.如权利要求1至4中任一项所述的光记录介质系列，其特征在于，就多个上述光记录介质中的各光记录介质上的多个上述记录再现层的层间距离而言，交替地设定有第一距离和与该第一距离不同的第二距离。

6.如权利要求1至5中任一项所述的光记录介质系列，其特征在于，上述伺服层上的上述循轨控制用凹凸的轨道间距设定为想要记录在上述记录再现层上的记录标记的轨道间距的2倍。

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