CN102024464A - 光盘介质、光盘及其读取方法、记录方法和再现方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光盘介质、光盘及其读取方法、记录方法和再现方法。该光盘介质，包括一个沿其记录主信息的磁道凹槽。将磁道凹槽分成多个块。多个块中的每一块包括多个帧。多个帧中的每一帧包括多个规定摆动形状中的指示子信息的一种摆动形状。多个块中的每一块具有地址信息。地址信息由至少一片由多个帧中的至少一个的摆动形状所代表的子信息所组成的串来表示。

Description

光盘介质、光盘及其读取方法、记录方法和再现方法

本申请是2001年8月29日提交的，中国专利申请号为01817886.3(国际申请号PCT/JP01/07449，分案申请的申请号200810215971.2)，发明名称为“光盘和物理地址格式”的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种用于以高密度记录信息(例如，数字视频信息)的光盘介质以及用于该光盘介质的一种光盘装置和一种光盘再现方法。

背景技术

近来，光盘介质的记录密度已经变得不断增高。一般地，可记录光盘介质在其中事先有磁道凹槽，信息沿磁道凹槽记录，即，记录在磁道凹槽或介于磁道凹槽之间的区域(称为“凸区”)上。磁道凹槽是正弦状的摆动(wobble)，并且与基于摆动周期产生的时钟同步地记录信息。沿着磁道凹槽提供地址，以便在光盘介质的记录表面上的规定位置上记录信息。下面将描述用于提供地址的三个例示结构。

(1)日本公开文本No.6-309672公开了一种光盘，其中，在局部间歇地形成磁道凹槽，并可以将地址信息再现为所谓的预凹坑(pre-pit)。在这种情况下，在磁道凹槽上存在用于记录信息的单地址区域和单数据区域。

(2)日本公开文本No.5-189934公开了一种光盘，其中，提供了频率调制摆动，并采用摆动频率记录地址信息(子信息)。在这种情况下，将数据信息重写在地址信息上。

(3)日本公开文本No.9-326138公开了一种光盘，其中，在相邻磁道凹槽之间形成预凹坑，并由预凹坑形成地址。

考虑到在将来可能需要的更高的记录密度，所有上述结构都有其自己的问题。

在(1)的结构中，用于数据的空间被地址所需的空间减少(所谓的“额外开销”)。于是，存储容量不可避免地被用于地址的空间所减少。

(2)的结构具有下列问题。摆动最初主要是为产生用于记录信息的时钟的目的而提供的，因此最好以一单个频率来形成。当摆动以一单个频率形成时，可以仅仅通过采用PLL等相乘并同步一个摆动再现信号来产生高度精确的记录时钟信号。然而，当摆动具有多个频率分量时，PLL自身可以适应的频带相对于摆动具有一单个频率的情况需要被减小，以避免PLL的伪锁定。然后，可能出现不希望的情况，即PLL不能充分地跟随盘马达抖动或例如由盘的偏心产生的抖动。这导致抖动留在一个记录信号中。

在在光盘的记录表面上形成的记录薄膜是一个相变薄膜的情况下，随着重写被重复，记录薄膜的S/N比会不合需要地被减小。即使在这个出现时，对于一个较窄频带，具有一单个频率的摆动允许采用带通滤波器去除噪声分量。然而，当摆动是频率调制的时，要通过的频带需要被放大，以便考虑所调制的频率。其结果是，噪声分量与一个摆动再现信号混合，因此进一步增大抖动。抖动的这样一种增大不可取，因为随着记录密度增大，抖动余量减小。

在(3)的结构中，预凹坑自然影响存储在相邻磁道凹槽中的信息的读。因此，难以提供足够数目的分别具有足够长度的预凹坑。因此，存在一种不希望的可能性，即检测误差的数目在记录密度相当高时尤其增大。

考虑到上述问题，本发明的目的是提供一种用于使额外开销最小并以具有单一频率的摆动描述地址的光盘介质、用于再现光盘介质的光盘装置和光盘再现方法。

发明内容

依据本发明的一个方面，光盘介质比较一个沿其记录主信息的磁道凹槽。将磁道凹槽分成多个块。多个块中的每一块包括多个帧。多个帧中的每一帧包括多个规定摆动形状中的指示子信息的一种摆动形状。多个块中的每一块具有地址信息。地址信息由至少一片由多个帧中的至少一个的摆动形状所代表的子信息所组成的串来表示。

在本发明的一个实施例中，多个块中的每一块包括多个扇区。多个扇区包括多个帧。地址信息由至少一片由至少一个扇区中包括的多个帧中的至少一个的摆动形状所代表的子信息所组成的串来表示。

在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多片地址信息。多片地址信息是相同的。多片地址信息中的每一个由所述至少一片子信息所组成的串来表示。

在本发明的一个实施例中，多片地址信息中的每一个包括一个序号，序号指示各片地址信息在多片地址信息中的次序。

在本发明的一个实施例中，地址信息由多个位表示，多个位由所述至少一个子信息串从低位到高位表示。

在本发明的一个实施例中，多个块中的每一块包括多个扇区。多个扇区包括多个帧。地址信息由多个扇区中包括的所述至少一个串表示。指示在多个扇区中的扇区次序的信息由所述至少一片子信息的一部分表示。

在本发明的一个实施例中，指示误差检测代码和误差校正代码中的至少一个的信息由所述至少一片子信息的一部分表示。

在本发明的一个实施例中，跟踪凹槽具有在其中提供的指示多个块中的每一块的前端的标识标记。

在本发明的一个实施例中，标识标记通过切断跟踪凹槽来提供。

在本发明的一个实施例中，标识标记通过局部改变跟踪凹槽的宽度来提供。

在本发明的一个实施例中，标识标记通过局部改变摆动形状的振幅来提供。

在本发明的一个实施例中，多个摆动形状包括在上升梯度和下降梯度的至少一个上彼此不同的第一摆动形状和第二摆动形状，第一摆动形状和第二摆动形状指示彼此不同的子信息片。

在本发明的一个实施例中，多个摆动形状包括在占空比上彼此不同的第一摆动形状和第二摆动形状，第一摆动形状和第二摆动形状指示彼此不同的子信息片。

在本发明的一个实施例中，多个摆动形状在跟踪凹槽的一个边缘上提供。

在本发明的一个实施例中，跟踪凹槽包括一个指示所述至少一个子信息串的前端和后端中的至少一个的标识标记。

在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多个所述至少一个子信息串。标识标记指示所述至少一个子信息串的前端。标识标记与一块中的所述至少一个子信息串中的另一个标识标记具有相同的形状。

在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多个所述至少一个子信息串。标识标记指示所述至少一个子信息串的前端。至少一个标识标记与一块中的所述至少一个子信息串中的另一个标识标记具有不同的形状。

在本发明的一个实施例中，标识标记指示所述至少一个子信息串的后端。标识标记通过将在上升梯度和下降梯度中的至少一个上彼此不同的第一摆动形状和第二摆动形状与具有正弦波形状的第三摆动形状组合来形成。

在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多个所述至少一个子信息串。标识标记指示所述至少一个子信息串的后端。标识标记与一块中的所述至少一个子信息串中的另一个标识标记具有相同的形状。

在本发明的一个实施例中，多个块中的至少一个包括多个所述至少一个子信息串。标识标记指示所述至少一个子信息串的后端。至少一个标识标记与一块中的所述至少一个子信息串中的另一个标识标记具有不同的形状。

在本发明的一个实施例中，标识标记通过切断磁道凹槽的相邻部分之间的凸区的一部分来提供。

在本发明的一个实施例中，标识标记通过切断磁道凹槽的相邻部分之间的凸区来提供。

在本发明的一个实施例中，将单个频率假数据记录在标识标记上。

在本发明的一个实施例中，指示地址信息的一个较低位的子信息的片数大于指示地址信息的一个较高位的子信息的片数。

依据本发明的另一个方面，光盘介质将一个记录再现区域和一个盘管理区域进行比较。记录再现区域包括沿其记录主信息的第一磁道凹槽。盘管理区域包括在光盘介质的内侧区域和外侧区域的至少一个中提供的第二磁道凹槽。第二磁道凹槽包括多个规定摆动形状。光盘介质的管理信息由多个规定摆动形状的组合来表示。

在本发明的一个实施例中，多个规定摆动形状包括在上升梯度和下降梯度中的至少一个上彼此不同的第一摆动形状和第二摆动形状、以及具有正弦波形状的第三摆动形状。

在本发明的一个实施例中，第一磁道凹槽包括多个规定摆动形状。与在记录和再现区域中相比，在盘管理区域中的指示1位信息的摆动形状的数目不同。

在本发明的一个实施例中，第一磁道凹槽包括多个规定摆动形状。第一磁道凹槽和第二磁道凹槽在摆动形状的频率上彼此不同。

在本发明的一个实施例中，第一磁道凹槽包括多个规定摆动形状。第二磁道凹槽具有比第一磁道凹槽大的摆动形状振幅。

在本发明的一个实施例中，第二磁道凹槽的相邻部分在π/2×(2n+1)的摆动形状上具有一个恒定的相差，其中n是一个整数。

在本发明的一个实施例中，第二磁道凹槽具有比第一磁道凹槽大的磁道间距。

在本发明的一个实施例中，标识标记通过改变磁道凹槽中的至少一个摆动形状的相位来提供。

在本发明的一个实施例中，标识标记通过改变磁道凹槽中的至少一个摆动形状的频率来提供。

在本发明的一个实施例中，多个摆动形状以相同的周期提供。

依据本发明的又一个方面，提供了一种用于再现一个光盘介质的光盘装置，所述光盘介质包括沿其记录主信息的磁道凹槽。将磁道凹槽分成多个块。多个块中的每一块包括多个帧。多个帧中的每一帧包括多个规定摆动形状中的指示子信息的一种摆动形状，多个块中的每一块具有地址信息。地址信息由至少一片由多个帧中的至少一个的摆动形状所代表的子信息所组成的串来表示。光盘装置包括一个变换部分，用于从光盘介质读取主信息和子信息并产生一个再现信号；一个再现信号计算部分，用于从再现信号产生一个TE信号和一个RF信号；一个基准时钟信号产生部分，用于从TE信号产生一个基准时钟信号；一个电平限幅脉冲信号产生部分，用于从TE信号产生一个电平限幅脉冲信号；一个块标记信号检测部分，用于从RF信号检测一个块标记信号；以及，一个子信息产生部分，用于从基准脉冲信号、电平限幅脉冲信号和块标记信号产生一个子信息信号。

依据本发明的又一个方面，提供了一种用于再现一个光盘介质的方法，所述光盘介质包括沿其记录主信息的磁道凹槽。将磁道凹槽分成多个块。多个块中的每一块包括多个帧。多个帧中的每一帧包括多个规定摆动形状中的指示子信息的一种摆动形状，多个块中的每一块具有地址信息。地址信息由至少一片由多个帧中的至少一个的摆动形状所代表的子信息所组成的串来表示。该方法包括如下步骤：从光盘介质读取主信息和子信息并产生一个再现信号；从再现信号产生一个TE信号和一个RF信号；从TE信号产生一个基准时钟信号；从TE信号产生一个电平限幅脉冲信号；从RF信号检测一个块标记信号；以及，从基准脉冲信号、电平限幅脉冲信号和块标记信号产生一个子信息信号。

附图说明

图1显示了依据本发明的例子1的光盘介质中的磁道凹槽；

图2显示了依据本发明的例子1的光盘介质；

图3显示了依据本发明的例子2的光盘介质中的磁道凹槽；

图4显示了依据本发明的例子3的光盘介质中的磁道凹槽；

图5显示了依据本发明的例子4的光盘介质中的磁道凹槽；

图6显示了依据本发明的例子5的光盘介质中的磁道凹槽；

图7显示了依据本发明的例子6的光盘介质中的磁道凹槽；

图8显示了依据本发明的例子7的光盘介质中的磁道凹槽；

图9显示了依据本发明的例子7的光盘介质；

图10显示了依据本发明的例子7的光盘介质的地址结构；

图11显示了依据本发明的例子8的光盘介质中的磁道凹槽；

图12显示了依据本发明的例子8的光盘介质的地址结构；

图13显示了依据本发明的例子9的光盘介质中的磁道凹槽；

图14显示了依据本发明的例子9的光盘介质的地址结构；

图15显示了依据本发明的例子10的光盘介质中的磁道凹槽；

图16显示了依据本发明的例子7的光盘介质的地址结构；

图17显示了依据本发明的例子12的光盘介质中的磁道凹槽；

图18显示了依据本发明的例子12的光盘介质中的磁道凹槽；

图19显示了依据本发明的例子12的光盘介质中的磁道凹槽；

图20显示了依据本发明的例子12的光盘介质中的磁道凹槽；

图21显示了依据本发明的例子13的光盘介质的地址结构；

图22显示了依据本发明的例子11的光盘介质的地址结构；

图23A显示了依据本发明的例子14的光盘装置的结构；

图23B是显示依据本发明的例子14的用于再现光盘介质上的信息的方法的流程图；

图24显示了依据本发明的例子15的光盘介质；

图25A显示了依据本发明的例子15的光盘介质中的磁道凹槽；

图25B显示了依据本发明的例子15的光盘介质中的磁道凹槽；

图26A显示了依据本发明的例子15的光盘介质中的磁道凹槽；

图26B显示了依据本发明的例子15的光盘介质中的磁道凹槽；

图27A显示了依据本发明的例子16的光盘介质中的磁道凹槽；

图27B显示了依据本发明的例子16的光盘介质中的磁道凹槽；

图28A显示了依据本发明的例子17的光盘介质中的磁道凹槽；

图28B显示了依据本发明的例子17的光盘介质中的磁道凹槽；

图29A显示了依据本发明的例子18的光盘介质中的磁道凹槽；

图29B显示了依据本发明的例子18的光盘介质中的磁道凹槽；

图30显示了一个常规光盘介质；

图31显示了依据本发明的例子20的光盘介质中的磁道凹槽；

图32显示了依据本发明的例子21的光盘介质中的磁道凹槽；

图33显示了依据本发明的例子22的光盘介质中的磁道凹槽；

图34显示了依据本发明的例子14的光盘装置；

图35显示了依据本发明的例子19的光盘介质中的磁道凹槽；以及

图36显示了依据本发明的例子15的光盘介质中的磁道凹槽。

具体实施方式

此后，将参考附图以例示方式描述本发明。

(例子1)

图2显示了依据本发明的例子1的光盘介质20。光盘介质20具有一个记录表面101，在记录表面101中形成有一个螺旋形磁道凹槽102。如图1所示，磁道凹槽102的形状在逐块基础上不同。在图1中，块标记(标识标记)210是磁道凹槽102中的一个切断部分，显示出一个指示每块的前端的附录。

将每块分成N个扇区25(N＝32或16)，将每个扇区25(子块)分成M个帧#0到#25(M＝26)。每帧(基本单元)以周期方式具有规定数目的摆动26或27。摆动26和27具有彼此不同的规定形状，并代表子信息(“0”、“1”或“S”)。一种类型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一种摆动形状26或27表示。子信息的类型和摆动形状(摆动26或27)是一对一的关系。更具体地，摆动26和27都具有通常为锯齿形的形状，并具有不同的上升形状(或上升梯度)和下降形状(下降梯度)。摆动26或27根据子信息的类型(“0”或“1”)来形成。一串子信息由摆动26和27的组合来表示。

摆动26和27之间的上升梯度和下降梯度上的差别可以容易地由一个差分推挽检测信号如下来检测。将一个扫描激光束指向磁道凹槽102，并产生一个差分信号(即，推挽信号)，该差分信号指示由沿垂直于光盘介质20的磁道凹槽102的方向(径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差。因此，获得一个具有根据子信息是“0”还是“1”而变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下降梯度上的这个差别例如可以通过对检测信号求差分来容易地识别。

于是，子信息的类型可以由作为差分结果而获得的值的尺寸来检测。然而，当使用差分时，噪声分量也自然增大。在具有较差S/N比的光盘介质中，检测误差被合理地预期。在这个例子中，摆动26和27的每个模式被重复多次，以便增强检测的可靠性。

主信息(例如，可重写用户数据)从块标记210开始沿磁道凹槽102被记录在块单元241中。块单元241具有一个规定长度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被记录为记录标记28。记录标记28通过执行记录层的相变来记录。块单元是用于信息处理的单元，例如是一个ECC块。当N＝32时，块单元241被分成32个扇区25(或当N＝16时是16个扇区25)。每个扇区25是一个具有2kB长度的子块。当M＝26时，将每个扇区25分成26个帧#0到#25。

一帧是在磁道凹槽102上记录的信息的基本单元。在图1中，帧#0由标号22表示，帧#1由标号23表示。如帧22和23所例示的，每帧包括事先以周期方式形成的一种摆动类型。这样，在每帧22和23中描述1位子信息“0”、“1”或“S”。在每个扇区25中包括的26位(M＝26)子信息组指示对应的块单元241的块ID(地址信息)。在帧#0到#25的每一个的前端，记录一个SYNC标记。SYNC标记是一个被记录的同步信号，在将主信息记录为记录标记28时表示每一帧主信息的前端。摆动周期用作用于使光盘介质20的旋转同步和记录信号的基准时钟，也用作再现地址信息的同步信号。

除了表示地址的信息之外，块ID可以包括用于校正或检测检测信号的误差校正代码、误差检测代码或奇偶校验码等。

帧22只包括具有平缓上升梯度和陡峭下降梯度的摆动26。帧23只包括具有陡峭上升梯度和平缓下降梯度的摆动27。例如，当一帧包括8个摆动时，一个扇区25包括8×26＝208个摆动(包括摆动26和27)。

只要208个摆动26和27之间的上升梯度和下降梯度中的差别可以被检测为由噪声引起的检测误差，记录在扇区25中的子信息组就可以被正确地识别。读的可靠性通过重复同一块ID 32次(当N＝32时)或16次(当N＝16时)来进一步提高。依据用于识别子信息组的例示特定技术，在每次上升和每次下降时采样和保持推挽信号的差分波形，并将上升梯度的逻辑积和下降梯度的逻辑积相互进行比较。这样，取消噪声分量，可以只提取出子信息分量。

这样，块标记210是磁道凹槽102中的切断部分，因此重写块标记210中的主信息不是最可取的。其原因是因为反射的光量根据是否有凹槽而变化非常大，这个显著差别充当对一个再现信号的外部干扰。在这个例子中，将包括块标记210的区域指定为VFO记录区域21。VFO记录区域21用于记录VFO 211，VFO 211是用于调整用于再现记录在VFO记录区域21之后的主信息的PLL的频率的一单个频率信号。即使在有轻微的外部波动时，VFO 211仅仅充当一个局部抖动，不直接引起任何误差。另外，VFO 211具有一单个频率，因此可以从频率上分离由块标记210引起的外部干扰。

在这个例子中，一个块单元241(一块)被分成32个(或16个)扇区25，每个扇区25被分成26帧(帧#0到#25)。在帧#0到#25的每一个中，事先形成具有对应于子信息的形状的摆动26或27。由于记录在一个扇区25中的子信息组表示一个块ID，所以可以在块单元241中包括的32个(或16个)扇区25中重复地形成同一块ID(地址信息)。

在这种情况下，子信息组可以包括一个指示重复的块ID(地址信息)的次序的序号，即每个块ID是否是第五、第十、等等。这种序号可用于根据大多数最终确定地址号。另外，这样一个号提供用于信号处理的有用信息，例如，块中的哪个扇区25现在在被读取，或块中的哪一子信息组是不正确的。

在具有多个记录表面或层的光盘介质的情况下，记录层的序号可以被包括在子信息组中。这样，记录表面可以被容易地识别。

如上所述，在这个例子中，将一个信息块分成32(N＝32)或16(N＝16)个扇区，将一个扇区分成26(M＝26)帧。在26帧的每一帧中，事先形成对应于子信息的摆动形状。在块中的32(或16)个扇区中重复地形成一个块ID(地址信息)。因此，没有任何额外开销地或不需要在凹槽之间所必需的预凹坑来形成一个地址。

虽然摆动根据子信息类型而具有不同的上升梯度和下降梯度，这个例子中所用的摆动具有一个恒定单个频率。因此，具有减少的抖动的用于记录的时钟信号可以首先采用一个只允许摆动频率通过以便去除噪声分量的带通滤波器然后使用PLL同步和相乘所得的频率来提取出来。

块ID的读取可靠性可以通过重复同一块ID来提高。

在这个例子中，与帧的数目一样，块ID具有26位。地址信息的位数并不限于26个，而是可以是例如依据要记录在光盘介质上的数据量或误差校正代码的类型和系统的任何所需数目。

在这个例子中，对于N＝32，将块单元分成32个扇区(或对于N＝16是16个扇区)。本发明并不限于这样一个扇区数。

在这个例子中，对于M＝26，子信息被记录在每个扇区中包括的26帧中。本发明并不限于这样一个帧数。

在这个例子中，子信息在被调制成锯齿形状的摆动之后被记录。本发明并不限于这样一个摆动形状。如下所述，子信息可以在被调制成具有例如如图4或7中所示形状的摆动之后被记录。

在这个例子中，块标记是磁道凹槽的切断部分。本发明并不限于这样一种形式的块标记。例如，如下所述，块标记可以被调制成具有例如如图5或6中所示形状的摆动。

(例子2)

图3显示了依据本发明的例子2的磁道凹槽10。代替图1所示的磁道凹槽102，磁道凹槽10可以在图2所示的光盘介质20中形成。在这个例子中，除了帧22中指示子信息“0”的摆动26和帧23中指示子信息“1”的摆动27之外，磁道凹槽10具有指示记录在帧24中的子信息“S”的摆动28。与在例子1中一样，地址信息由子信息“0”和子信息“1”的组合来表示。子信息“S”在块的前端提供，用于代替图1所示的块标记210来指示块的前端。这样，可以消除块标记210所需的额外开销。在这个例子中，表示子信息“S”的摆动28具有陡峭的上升梯度和陡峭的下降梯度。

(例子3)

图4显示了依据本发明的例子3的磁道凹槽11。代替图1所示的磁道凹槽102，磁道凹槽11可以在图2中所示的光盘介质20中形成。在第一和第二个例子中，对应于一种子信息类型周期性地重复一种摆动类型，将具有不同上升梯度和不同下降梯度的摆动用于不同类型的子信息。在这个例子中，形成摆动29和30，以便依据子信息的类型具有不同的占空比。更具体地，如图4所示，指示记录在帧32中的子信息“0”的摆动29在波峰或波谷中的一个上较宽(在图4的例子中是波谷)，指示记录在帧34中的子信息“1”的摆动30在波峰或波谷中的另一个上较宽(在图4的例子中是波峰)。这样一个特征消除了对用于识别子信息类型的再现信号差分的必要性。再现信号可以通过采用时钟定时器等测量占空比来简单地识别。因此，可以减轻噪声的影响。

(例子4)

图5显示了依据本发明的例子4的磁道凹槽200。代替图1所示的磁道凹槽102，磁道凹槽200可以在图2中所示的光盘介质20中形成。在例子1中，切断磁道凹槽102的一部分，以便形成块标记210。在这个例子中，采用通过局部增大磁道凹槽200的宽度而形成的块标记212来替代块标记210。为了记录或再现主信息，可以通过检测块标记212来识别块的前端。块标记212的使用避免磁道凹槽200被切断，因此主信息也可以被记录在块标记212中。其结果是，可以减少额外开销。

(例子5)

图6显示了依据本发明的例子5的磁道凹槽201。代替图1所示的磁道凹槽102，磁道凹槽201可以在图2中所示的光盘介质20中形成。在例子1中，切断磁道凹槽102的一部分，以便形成块标记210。在这个例子中，采用通过局部增大摆动的振幅而形成的块标记213来替代块标记210。为了记录或再现主信息，可以通过检测块标记213来识别块的前端。与在例子4中一样，块标记213的使用避免磁道凹槽201被切断，因此主信息也可以被记录在块标记213中。

(例子6)

图7显示了依据本发明的例6的磁道凹槽202和凸区203。在这个例子中，光盘介质具有仅仅沿磁道凹槽202的一个边缘形成的摆动220和230。例子1到5涉及凹槽记录类型的光盘介质，其中，主信息被记录在磁道凹槽中。被称为凸区-凹槽类型的另一种类型的光盘介质是可用的。在这种类型的光盘介质中，主信息沿磁道凹槽202被记录在凹槽和凸区(放在两个相邻凹槽中间的区域)中。例子1到5可以与在这个例子中描述的凹槽-凸区类型的光盘介质组合起来。

在图7中，子信息“0”和子信息“1”沿磁道凹槽202的一个边缘被记录。在帧221中形成的摆动220指示子信息“0”，在帧231中形成的摆动230指示子信息“1”。以这种方式，磁道凹槽202和与磁道凹槽202相邻的凸区203用相同的地址表示。主信息被记录在磁道凹槽202和凸区203中。通过以这种方式记录主信息，磁道间距变窄，这样实现了更高密度的记录。

(例子7)

图9显示了依据本发明的例7的光盘介质800。光盘介质800具有在其中形成有螺旋形磁道凹槽802的记录面801。如图8中所示，磁道凹槽802具有逐块不同的形状。在图8中，块标记(标识标记)810为磁道凹槽802中的一个切断部分并且显示指示每一个块的前端的附录。

每一个块被分成N个扇区825(N＝32或16)，并且每一个扇区825被分成M个帧#0到#25(M＝26)。每一个帧具有规定数量的周期方式的摆动826或827。摆动826和827具有彼此不同的规定的形状，表示子信息(“0”、“1”或“S”)。一种类型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一种摆动形状826或827来表示。子信息的类型和摆动形状(摆动826或827)是一一对应的关系。更具体地，摆动826或827都具有通常的锯齿形状并且具有不同的上升形状(或上升梯度)和下降形状(下降梯度)。摆动826或827依据子信息的类型(“0”或“1”)形成。子信息串由摆动826和827的组合表示。子信息串由摆动826和827的组合表示。

摆动826或827之间在上升梯度和下降梯度上的差别可以由差分推挽检测信号容易地检测如下。一个扫描激光束射向磁道凹槽802，产生了一个指示由沿垂直于光盘介质800的磁道凹槽802的方向(径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是“0”或“1”来变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下降梯度中的这个差别例如可以通过对检测信号进行差分来容易地识别。

这样，子信息的类型可以利用作为差分结果而获得的值的大小来检测。但是，当使用差分时，噪声分量自然地增加了。在具有较差S/N比的光盘介质中，检测错误被合理地预期到。在这个例子中，摆动826或827的每一种模式被重复多次以增强检测的可靠性。

主信息被记录在从块标记810起沿磁道凹槽802的块单元841中。块单元841具有规定的长度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被记录为记录标记28。块单元是用于信息处理的单元，例如是一个ECC块。当N＝32时块单元841被分成32个扇区825(或当N＝16时分成16个扇区)。每一个扇区25是具有2kB长度的子块。当M＝26时每一个扇区25被分成#0到#25的26个帧。在每一个帧#0到#25的前端，SYNC标记被记录为用于再现数据的同步信号。

帧是记录在磁道凹槽802上的信息的基本单元。在图8中，帧#0由标号822表示，帧#1由标号823表示。如帧822和823所示例，每一个帧包括预先以周期方式形成的一种类型的摆动。以这种方式，在每一个帧822和823中描述1位子信息“0”、“1”或“S”。包括在每一个扇区825中的26位(M＝26)子信息组指示对应的块单元841的块ID(地址信息)的至少一部分。

1位信息被分配给帧#0到#25中的每一个。例如，8帧(即8位)被分配作为块ID的1字节部分。接着的8帧被分配作为块ID的1字节奇偶校验。接着的5帧被分配作为5位字节扇区号。剩下的5帧被分配作为扇区号的5位奇偶校验。扇区号指示多个扇区中扇区的次序(即第5扇区、第10扇区等)。每一个奇偶校验指示误差检测码或误差校正码中的至少一个。

例如，如上面所描述的被分配的一个扇区的子信息被排列在4个扇区825(即扇区组825’)上。通过排列块ID的一部分，即4个扇区的每一个有1个字节，可以表示一个32位块ID(8位×4＝32位)。

图10显示了记录在块单元841中的扇区825和帧#0到#25中的子信息的示例格式。在图10中，最左部分显示了扇区号。其右边，显示了记录在每一个扇区的帧中的子信息。假设块单元841包括32个扇区。括号“( )”中的扇区号是在块单元841包括16个扇区的情况中的扇区号。帧#0到#25的每一个包括1位子信息。在这个例子中，块单元841是一个ECC块。

将描述扇区0的内容。在扇区0的帧#0到#25中，在帧#0到#7中，从LSB开始顺序地填盖了ECC块地址的4字节(32位)中第一个1字节。在帧#8到#15中，填盖了ECC块地址的奇偶校验的4字节中第一个1字节的子信息。在帧#16到#20中，填盖了代表扇区号的5位子信息。在帧#21到#25中，填盖了代表扇区号的奇偶校验的5位子信息。如图8中所示，在扇区0中，1字节“01h”被填盖为块ID的一部分。

将描述扇区1的内容。在扇区1的帧#0到#25中，在帧#0到#7中，从最低位开始顺序地填盖了ECC块地址的4字节(32位)中第二个1字节。在帧#8到#15中，填盖了ECC块地址的奇偶校验的4字节中第二个1字节的子信息。在帧#16到#20中，填盖了代表扇区号的5位子信息。在帧#21到#25中，填盖了代表扇区号的奇偶校验的5位子信息。如图8中所示，在扇区1中，1字节“23h”信息被填盖为块ID的一部分。

将描述扇区2的内容。在扇区2的帧#0到#25中，在帧#0到#7中，从最低位开始顺序地填盖了ECC块地址的4字节(32位)中第三个1字节。在帧#8到#15中，填盖了ECC块地址的奇偶校验的4字节中第三个1字节的子信息。在帧#16到#20中，填盖了代表扇区号的5位子信息。在帧#21到#25中，填盖了代表扇区号的奇偶校验的5位子信息。如图8中所示，在扇区2中，1字节“45h”信息被填盖为块ID的一部分。

将描述扇区3的内容。在扇区3的帧#0到#25中，在帧#0到#7中，从最低位开始顺序地填盖了ECC块地址的4字节(32位)中第四个1字节。在帧#8到#15中，填盖了ECC块地址的奇偶校验的4字节中第四个1字节的子信息。在帧#16到#20中，填盖了代表扇区号的5位子信息。在帧#21到#25中，填盖了代表扇区号的奇偶校验的5位子信息。如图8中所示，在扇区3中，1字节“67h”信息被填盖为块ID的一部分。

以这种方式，一个32位块ID“76543210h”通过组合来自4个扇区825中的每一个的1字节信息来表示。

扇区825中的4字节块ID最好以读取顺序排列，即顺序地从第一个被读取的扇区825到最后一个被读取的扇区825，并且从块ID的最低位到最高位。

将描述扇区4以及下列等等的内容。在扇区4到7中，扇区0到3的内容将被重复地描述。类似地，在扇区8到11，12到15，16到19，20到23，24到27以及28到31中，扇区0到3的内容将被重复描述。

以这种方式，在4个扇区中的信息被描述8次(当块单元841包括16个扇区时是4次)。这样用于实现误差校正的奇偶校验信息将被加到每一个块单元841。可以增强块ID的读取可靠性。

由于描述了扇区号，即使当块ID的1字节丢失，丢失的这个1字节也可以通过读取扇区号来容易地识别。这样，可以增强块ID的读取可靠性。

由于描述了扇区号，所以提供了下面的优点。例如当在搜索操作后数据没有被连续地读取时，在搜索操作后扇区825的扇区号可以立即被读取，替代了在前端从块标记810开始读取块单元841。由于这样的操作，块ID可以通过读取从任意扇区825开始的4个扇区825的子信息来最终确定。

由于通过仅仅读取每一个都包括4个扇区(8kB＝2kB×4)的扇区组825’的任意一个来最终确定块ID，后处理(数据读取、数据记录等)可以被迅速地完成。

即使当由于盘划痕(缺陷)造成块ID的大约4个扇区被不正确地读取时，正确的块ID也可以由没有缺陷的扇区组来读取。这样，保证了显著高水平读取块ID的可靠性。

替代扇区号，将描述指示一个扇区组825’中的4个扇区825中扇区的次序(即，第一扇区、第二扇区等)的ID号。其中图10显示了帧#16到#25中的5位扇区号和扇区号的5位奇偶校验，图16显示了帧#16到#25中的指示重复的块ID的次序的2位ID号、ID号的2位奇偶校验和6位序号。

当使用ID号时，每一个扇区号需要的5位子信息可以减少到2位。使用剩下的8位(帧#18到#25)，可以提高ID号的误差校正能力，或可以描述块ID的序号。

由于描述了ID号，可以提供如下的优点。例如当在搜索操作后数据没有被连续地读取时，在搜索操作后扇区825的扇区号可以立即被读取，替代了在前端从块标记810开始读取块单元841。由于这样的操作，块ID可以通过读取从任意扇区825开始的4个扇区825的子信息来最终确定。

在子信息包括块ID的序号的情况中，序号可以根据大多数被用于最终确定地址号。此外，这样一个号提供了用于信号处理的有用信息，例如，块中的哪一个扇区825现在被读取或块中哪一个子信息组是不正确的。

在具有多个记录面或层的光盘介质的情况中，记录层的序号可以包括在子信息组中。以这种方式，记录面可以被容易地识别。例如，图16中的四个相同序号中的一个可以用记录层的序号替代。这样，记录面可以容易地识别。

在这个例子中，块ID有32位。地址信息的位的数量不局限于32，而是可以是依据例如将要记录在光盘介质上的数据量或误差校正码的类型和系统的任何需要的数量。

在这个例子中，当N＝32时块单元被分为32个扇区(或当N＝16时分为16个扇区)。本发明不局限于这样数量的扇区。

在这个例子中，当M＝26时子信息被记录在包括在每一个扇区中的26个帧中。本发明不限于这样的一个数量的帧。

在这个例子中，子信息在被调制为锯齿状摆动之后被记录。本发明不局限于这样的一个摆动形状。子信息可以在被调制为具有例如图4或7中所示的形状的摆动后被记录。

在这个例子中，块标记是磁道凹槽的一个切断部分。本发明不局限于这样的一个块标记的形式。例如，块标记可以被调制为例如具有如图5或6中所示的形状的摆动。

(例子8)

图11显示了依据本发明的例8的磁道凹槽1102。磁道凹槽1102可以在图2中所示的光盘介质20中形成来代替图1中所示的磁道凹槽102。如图11中所示，磁道凹槽1102具有逐块不同的形状。在图11中，块标记(标识标记)1110为磁道凹槽1102中的一个切断部分并且显示指示每一个块的前端的附录。

每一个块被分成N个扇区1125(N＝32或16)，并且每一个扇区1125被分成M个帧#0到#25(M＝26)。每一个帧具有规定数量的周期方式的摆动1126或1127。摆动1126或1127具有彼此不同的规定的形状，表示子信息(“0”、“1”或“S”)。一种类型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一种摆动形状1126或1127来表示。子信息的类型和摆动的形状(摆动1126或1127)是一一对应的关系。更具体地，摆动1126和1127都具有通常的锯齿形状并且具有不同的上升形状(或上升梯度)和下降形状(下降梯度)。摆动1126或1127依据子信息的类型(“0”或“1”)形成。子信息串由摆动1126和1127的组合表示。

摆动1126和1127之间上升梯度和下降梯度中的差别可以由差分推挽检测信号容易地检测如下。一个扫描激光束射向磁道凹槽1102，产生了一个指示由沿垂直于光盘介质20的磁道凹槽1102的方向(径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是“0”或“1”来变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下降梯度中的差别例如可以通过差分检测信号容易地识别。

这样，子信息的类型可以利用作为差分的结果获得的值的大小来检测。但是当使用差分时，噪声成分自然地增加了。在具有较差S/N比的光盘介质中，检测错误被合理地预期到。在这个例子中，摆动1126和1127的每一种模式被重复多次以增强检测的可靠性。

主信息被记录在从块标记1110起沿磁道凹槽1102的块单元1141中。块单元1141具有规定的长度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被记录为记录标记28。块单元是用于信息处理的单元，例如是一个ECC块。当N＝32时块单元1141被分成32个扇区1125(或当N＝16时分成16个扇区)。每一个扇区1125是具有2kB长度的子块。当M＝26时每一个扇区1125被分成#0到#25的26个帧。在每一个帧#0到#25的前端，SYNC标记被记录为用于再现数据的同步信号。

帧是记录在磁道凹槽1102上的信息的基本单元。在图11中，帧#0由标号1122表示，帧#1由标号1123表示。如帧1122和1123所示例，每一个帧包括预先以周期方式形成的一种类型的摆动。以这种方式，1位子信息“0”、“1”或“S”在每一个帧1122和1123中描述。包括在每一个扇区1125中的26位(M＝26)子信息组指示了对应的块单元1141的块ID(地址信息)的至少一部分。

除指示地址的信息外，块ID可以包括用于校正或检测检测信号的误差校正码、误差检测码或奇偶校验码等。

例如，每一个扇区1125中的26个帧被分成第一个13帧(帧#0到#12；第一帧组)和第二个13帧(帧#13到#25；第二帧组)。1位子信息被记录在每13帧中作为块ID的一部分。这样，2位子信息被记录在每一个扇区1125中作为块ID的一部分。

图12显示了记录在块单元1141中的扇区1125和帧#0到#25中的子信息的示例格式。在图12中，最左部分显示了扇区号。其右边，显示了记录在每一个扇区的帧中的子信息。1位子信息被记录在第一个13帧中，以及1位子信息被记录在第二个13帧(帧组)中。在这个例子中，块单元1141是一个ECC块。B0到B31的每一个指示ECC块地址中的位的序号(即，对应的位是否是第一个位、第二个位等)。

将描述扇区0的内容。在扇区0的帧#0到#25中，在帧#0到#12(第一帧组)中，填盖了ECC块地址(LSB)的32位中第一个1位。在帧#13到#25(第个帧组)中，填盖了ECC块地址的3个位中第二个1位的子信息。如图11中所示，在扇区0中，2位信息(“0”或“1”)被填盖为块地址的一部分。

在扇区0的第一帧组中，指示ECC块地址的开始的SYNC码“S”被填盖来替代ECC块地址(LSB)的第一个1位。SYNC码“S”可以用作用于再现ECC块地址的同步信号或用于检测ECC块地址的开始的检测标记。

将描述扇区1的内容。在扇区1的帧#0到#25中，在帧#0到#12中，填盖了ECC块地址32位中的第三个1位。在帧#13到#25中，填盖了ECC块地址的32位中的第四个1位的子信息。如图11中所示，在扇区1中，2位信息(“0”或“1”)被填盖为块地址的一部分。

以这种方式，一个32位块ID通过组合来自16个扇区1125中的每一个的2位信息来表示。

在ECC块具有32kB的长度并且一个块单元1141被分成16个扇区1125的情况中，32位块可以通过在每一个扇区1125中记录2位子信息来获得。

在ECC块具有32kB的长度的情况中，一个块ID如上所述由16个扇区表示。在ECC块具有64kB的长度的情况中，一个块单元1141具有32个扇区1125。在扇区16到31中，扇区0到15的内容被重复地描述。即，在16个扇区中的信息(子信息组)被描述两次。

因为子信息被重复记录在块单元1141中，块ID通过仅仅读取16个扇区、即32kB(2k×16)来最终确定。因此，后处理(数据读取、数据记录等)可以迅速地完成。因为块ID在块单元1141中被重复两次，可以增强块ID的读取的可靠性。

替代在块单元1141中记录两次，可以包括除块ID之外的信息。例如，块ID的序号可以包括在子信息组中。序号可以用于基于大多数来最终确定地址数。另外，这样的一个数提供了对于信号处理有用的信息，例如，块中哪一个扇区1125现在被读取或块中哪一个子信息组是不正确的。

在具有多个记录面或层的光盘介质的情况中，记录层的序号可以包括在子信息组中。以这种方法，记录面可以如上面参照图16所描述的容易地被识别。

在这个例子中，块ID具有32位。地址信息的位数不局限于32，而可以是依据例如将要记录在光盘介质上的数据量或误差校正码的类型和系统的任意需要的数量。

在这个例子中，N＝32时块单元被分成32个扇区(或N＝16时分成16个扇区)。本发明不局限于这样的扇区数量。

在这个例子中，M＝26时子信息被记录在包括在每一个扇区中的26个帧中。本发明不不局限于这样的帧数量。

在这个例子中，子信息在被调制为锯齿形状的摆动后被记录。本发明不局限于这样的摆动形状。子信息可以在被调制为具有一个例如图4或7中显示的形状后被记录。

在这个例子中，块标记是磁道凹槽的切断部分。本发明不局限于这样一种形式的块标记。例如，块标记可以被调制为具有例如图5或6中显示的形状的摆动。

(例子9)

图13显示了依据本发明的例子9的磁道凹槽1302。磁道凹槽1302可以在图2中所示的光盘介质20中形成来代替图1中所示的磁道凹槽102。如图13中所示，磁道凹槽1302具有逐块不同的形状。在图13中，块标记(标识标记)1310为磁道凹槽1302中的一个切断部分并且显示指示每一个块的前端的附录。

每一个块被分成N个扇区1325(N＝32或16)，并且每一个扇区1325被分成M个帧#0到#25(M＝26)。每一个帧具有规定数量的周期方式的摆动1326或1327。摆动1326或1327具有彼此不同的规定的形状，表示子信息(“0”、“1”或“S”)。一种类型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一种形状的摆动1326或1327来表示。子信息的类型和摆动的形状(摆动1326或1327)是一一对应的关系。更具体地，摆动1326和1327都具有通常的锯齿形状并且具有不同的上升形状(上升梯度)和下降形状(下降梯度)。摆动1326或1327依据子信息的类型(“0”或“1”)形成。子信息串由摆动1326和1327的组合表示。

摆动1326和1327之间的上升梯度和下降梯度的差别可以容易地由差分推挽检测信号来检测如下。扫描激光束射到磁道凹槽1302，产生了指示由沿着垂直于光盘介质20的磁道凹槽1302的方向(径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即，推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是“0”或“1”来变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。例如，上升梯度和下降梯度中的这个差别可以通过差分检测信号容易地识别。

这样，子信息的类型可以利用作为差分的结果获得的值的大小来检测。但是，当使用差分时，噪声成分自然地增加了。在具有较差S/N比的光盘介质中，检测错误被合理地预期到。在这个例子中，摆动1326和1327的每一种模式被重复多次以增强检测的可靠性。

主信息被记录在从块标记1310开始沿磁道凹槽1302的块单元1341中。块单元1341具有规定的长度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被记录为记录标记28。块单元是用于信息处理的一个单元，例如是ECC块。当N＝32时块单元1341被分成32个扇区1325(或当N＝16时分成16个扇区1325)。每一个扇区1325是一个具有2kB长度的子块。当M＝26时每一个扇区1325被分成26个帧#0到#25。在每一个帧#0到#25的前端，SYNC标记被记录为用于再现数据的同步信号。

帧是记录在磁道凹槽1302上的信息的基本单元。在图13中，帧#0由标号1322表示，帧#1由标号1323表示。如帧1322和1323所示例的，每一个帧包括预先以周期的形式形成的一种类型的摆动。以这种方式，1位子信息“0”、“1”或“S”在每一个帧1322和1323中描述。包括在每一个扇区1325中的一个26位(M＝26)子信息组指示对应的块单元1341的块ID(地址信息)的至少一部分。

例如，每一个扇区1325中的26个帧被分成第一个13帧(帧#0到#12；第一帧组)和第二个13帧(帧#13到#25；第二帧组)。在第一帧组中的13个帧中，预先以周期的方式形成相同形状的摆动。在第二帧组中的13个帧中，预先以周期的方式形成相同形状的摆动。这样，2位子信息“0”、“1”或“S”在每一个扇区1325中描述。在每一个扇区1325中的32位子信息指示对应的块单元1341的块ID(地址信息)的至少一部分。

除指示地址的信息外，块ID还可以包括用于校正或检测检测信号的误差校正码、误差检测码或奇偶校验码等。

图14显示了记录在块单元1341中的扇区1325和帧#0到#25中的子信息的一个示例格式。在图14中，最左边部分显示了扇区号。其右边显示了记录在每一个扇区的帧中的子信息。

接着将描述扇区0的内容。在扇区0的所有帧#0到#25中，在ECC块地址(LSB)的32位中的第一个1位被填盖。如图14中所示，在扇区0中，1位子信息B0(“0”或“1”)被填盖。

接着将描述扇区1的内容。在扇区1的所有帧#0到#25中，在ECC块地址(LSB)的32位中的第一个1位被填盖。如图14中所示，在扇区1中，1位子信息B0(“0”或“1”)被填盖。

在扇区1中，填盖在扇区0中的子信息B0被重复描述。

接着将描述扇区2的内容。在扇区2的所有帧#0到#25中，在ECC块地址的32位中的第二个1位被填盖。如图14中所示，在扇区2中，1位子信息B1(“0”或“1”)被填盖。

接着将描述扇区3的内容。在扇区3的所有帧#0到#25中，在ECC块地址的32位中的第二个1位被填盖。如图14中所示，在扇区3中，1位子信息B1(“0”或“1”)被填盖。

在扇区3中，填盖在扇区2中的子信息B1被重复描述。

以这种方式，在直到扇区12的偶数扇区中，ECC块地址的32位中第三、第四、第五、第六和第七个1位分别地被填盖。在直到扇区13的奇数(N)扇区中，与偶数(N-1)扇区中相同的子信息被填盖。

扇区14到24的内容将被描述。

扇区14的内容将被描述。在扇区14的所有帧#0到#25中，在ECC块地址的32位中的第8个1位被填盖。如图14中所示，在扇区14中，1位子信息B7(“0”或“1”)被填盖。

扇区15的内容将被描述。在扇区15的所有帧#0到#25中，在ECC块地址的32位中的第9个1位被填盖。如图14中所示，在扇区15中，1位子信息B8(“0”或“1”)被填盖。

直到扇区24的1位子信息被类似地描述。

扇区25到31的内容将被描述。

扇区25的内容将被描述。在扇区25的帧#0到#25中，在帧#0到#12(第一帧组)中，在ECC块地址的32位中的第19个1位被填盖。如图14中所示，在扇区25的第一帧组中，1位子信息B 18(“0”或“1”)被填盖。

在扇区25的帧#0到#25中，在帧#13到#25(第二帧组)中，在ECC块地址的32个位中的第20个1位被填盖。如图14中所示，在扇区25的第二帧组中，1位子信息B19(“0”或“1”)被填盖。

扇区26的内容将被描述。在扇区26的帧#0到#25中，在帧#0到#12(第一帧组)中，在ECC块地址的32位中的第21个1位被填盖。如图14中所示，在扇区26的第一帧组中，1位子信息B20(“0”或“1”)被填盖。

在扇区26的帧#0到#25中，在帧#13到#25(第二帧组)中，在ECC块地址的32位中的第22个1位被填盖。如图14中所示，在扇区26的第二帧组中，1位子信息B21(“0”或“1”)被填盖。

直到扇区31的1位子信息被类似地描述。

如上所述，在这个例子中，其中描述子信息的扇区的数量和帧的数量依据块ID的位的位置(即，较低位或较高位)而变化。在这个例子中，子信息B0是LSB，子信息B31是HSB。

在用于读取存储在例如光盘中的连续数据的一个系统中，被连续读取的数据的块ID从较低位顺序地增大。在两个相邻块ID之间，块ID的值仅仅差“1”。因此，块ID可以仅仅通过读取所读取的块ID的几个较低位来确定，因为剩下的较高位可以由从紧挨着的前一个块ID读取的值或由从先于当前块ID一个确定数的块ID的值来估算。在这种情况中，块ID的几个较低位的读取可靠性很重要。在这个例子中，块ID的较低位被排列在多个扇区上，即以大于其他较高位的数目来排列，如图14所示。因此，可以提高块ID的较低位的读取可靠性，因而提高块ID的读取效率。

在这个例子中，块ID具有32位。地址信息的位数不局限于32，而可以是依据例如将要被记录在光盘介质上的数据量或误差校正码的类型和系统任意需要的数量。

在这个例子中，当N＝32时块单元被分成32个扇区(N＝16时为16个扇区)。本发明不局限于这样的扇区数量。

在这个例子中，M＝26时子信息被记录在包括在每一个扇区中的26个帧中。本发明不局限于这样的帧的数量。

在这个例子中，子信息在被调制为锯齿形状的摆动后被记录。本发明不局限于这样的摆动的形状。子信息可以在被调制为具有一个例如图4或7中显示的形状后被记录。

在这个例子中，块标记是磁道凹槽的切断部分。本发明不局限于这样一种形式的块标记。例如，块标记可以被调制为具有例如图5或6中显示的形状的摆动。

(例子10)

图15显示了依据本发明的例子10的磁道凹槽1502。磁道凹槽1502可以在图2中所示的光盘介质20中形成来代替图1中所示的磁道凹槽102。如图15中所示，磁道凹槽1502具有逐块不同的形状。在图15中，块标记(标识标记)1510为磁道凹槽1502中的一个切断部分并且显示指示每一个块的前端的附录。

每一个块被分成N个扇区1525(N＝32或16)，每一个扇区1525被分成M个帧#0到#25(M＝26)。每一个帧以周期的方式具有规定数量的摆动1526和1527。摆动1526和1527彼此具有不同的规定的形状，并且代表子信息(“0”、“1”或“S”)。一种类型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一种形状的摆动1526或1527来表示。子信息的类型和摆动的形状(摆动1526和1527)具有一一对应的关系。更具体地，摆动1526和1527都具有通常的锯齿形状，并且具有不同的上升形状(或上升梯度)和下降形状(或下降梯度)。摆动1526或1527依据子信息(“0”或“1”)的类型来形成。子信息串由摆动1526和1527的组合来表示。

在摆动1526和1527之间的上升梯度和下降梯度中的差别可以由差分推挽检测信号容易地检测如下。一个扫描激光束射向磁道凹槽1502，产生了一个指示由沿垂直于光盘介质20的磁道凹槽102的方向(径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是“0”或“1”来变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下降梯度中的差别例如可以通过差分检测信号容易地识别。

这样，子信息的类型可以通过作为差分的结果获得的值的大小来检测。但是，当使用差分时，噪声成分自然增加了。在具有较差S/N比的光盘介质中，检测错误被合理地预期到。在这个例子中，摆动1526和1527的每一个模式被重复多次以增强检测的可靠性。

主信息从块标记1510沿着磁道凹槽1502被记录在块单元1541中。块单元1541具有规定的长度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被记录为记录标记28。块单元是用于信息处理的单元，并且例如是一个ECC块。当N＝32时块单元1541被分成32个扇区1525(或当N＝16时分成16个扇区1525)。每一个扇区1525都是具有2kB长度的子块。当M＝26时每一个扇区1525被分为26个帧#0到#25。在每一个帧#0到#25的前端，SYNC标记被记录为用于再现数据的同步信号。

帧是记录在磁道凹槽1502上的信息的基本单元。在图15中，帧#0由标号1522表示，帧#1由标号1523表示。如帧1522和1523所示例，每一帧包括预先以周期的方式形成的一种类型的摆动。以这种方式，1位的子信息“0”、“1”或“S”在每一个帧1522和1523中描述。子信息被描述为SYNC信息。包括在每一个扇区1525中的26位(M＝26)子信息组指示了对应的块单元1541的块ID(地址信息)的至少一部分。

1位子信息被分配给一个帧，这样32位块ID被填盖在连续的32个帧(子信息组)中。

除了指示地址的信息外，块ID可以包括用于校正或检测检测信号的误差校正码、误差检测码或奇偶校验码等。

如上所述，块ID通过组合分配给32帧中的每一个的1位信息来表示。即整个块ID由32位子信息组来表示。

当ECC块具有64kB的长度时，每一个块包括32个扇区。因此，一个块包括832个帧(＝32×26)。当块ID由32个帧(一个帧组)来表示时，块ID可以在块单元1541中被重复26次(即相同的块ID在26个帧组中描述)。

当ECC块具有32kB的长度时，每一个块包括16个扇区。因此，一个块包括416个帧(＝16×26)。当块ID由32个帧(一个帧组)来表示时，块ID可以在块单元1541中被重复13次(即相同的块ID在13个帧组中描述)。

以这种方式，块ID由32个帧(一个帧组)来表示，并且该ID块在块单元1541中被描述很多次。

这样，块ID最后通过仅仅读取32个帧来确定。因此，可以很快地执行后处理(数据读取、数据记录等)。

由于块ID在块单元1541中被重复多次，可以增强块ID的读取可靠性。

如上面参照图16描述的，可以包括不同于块ID的信息，尽管在块单元1541中重复块ID的次数在这种情况中减少了。例如，块ID的序号可以包括在子信息组中。序号可以用于在大多数的基础上最后确定地址号。此外，这样一个号提供了用于信号处理的有用的信息，例如，块中的哪一个扇区1525现在被读取或块中哪一个子信息组是不正确的。

在具有多个记录面或层的光盘介质的情况中，记录层的序号可以包括在子信息组中。以这种方式，记录面可以容易地被识别。例如，图16中的四个相同序号中的一个可以用记录层的序号替代。这样，记录面可以容易地识别。

在这个例子中，块ID有32位。地址信息的位数不局限于32，而是可以是依据例如将要记录在光盘介质上的数据量或误差校正码的类型和系统的任何需要的数量。

在这个例子中，当N＝32时块单元被分为32个扇区(或当N＝16分为16个扇区)。本发明不局限于这样的扇区数量。

在这个例子中，当M＝26时子信息被记录在包括在每一个扇区中的26个帧中。本发明不限于这样的帧数量。

在这个例子中，子信息在被调制为锯齿状摆动后被记录。本发明不局限于这样的一个摆动形状。子信息可以在被调制为具有例如图4或7中所示的形状的摆动后被记录。

在这个例子中，块标记是磁道凹槽的一个切断部分。本发明不局限于这样的一种块标记的形式。例如，块标记可以被调制为具有例如图5或6中所示的形状的摆动。

(例子11)

图22显示了依据本发明的例子11的磁道凹槽1602。磁道凹槽1602可以在图2中所示的光盘介质20中形成来替代图1中所示的磁道凹槽102。如图22中所示，磁道凹槽1602具有逐块不同的形状。

参照图22，一个作为形成块地址的单元的ECC块被分成4个PID部分PID0到PID3。PID部分PID0、PID1、PID 2和PID3分别由标号2202、2204、2206和2208来指示。PID部分2202、2204、2206和2208的前面分别被加上附录部分0到3。附录部分0、1、2和3分别由标号2201、2203、2205和2207来指示。附录部分2201、2203、2205和2207的每一个都包括一个块标记(标识标记)2220。在图22中，块标记(标识标记)2220是磁道凹槽1602中的一个切断部分并且显示了指示每一个PID部分的前端的附录。

如上所述，块被分为四个PID部分(N＝4)，并且每一个PID部分进一步被分成M个帧(M＝52)。每一个帧(例如，每一个帧2222、2223、2224和2225)从块标记2220沿磁道凹槽1602具有规定数量的摆动2226、2227、2229或2230。摆动2226、2227、2229和2230具有彼此不同的规定的形状，代表子信息(“0”、“1”、“S”或“B”)。一种类型的子信息(“0”、“1”、“S”或“B”)由一种摆动形状2226、2227、2229或2230来表示。子信息的类型和摆动的形状(摆动2226、2227、2229或2230)是一一对应的关系。更具体地，摆动2226、2227和2228都具有通常的锯齿形状，摆动2230具有正弦波形状。摆动2226、2227、2228或2230具有不同的上升形状(或上升梯度)和下降形状(或下降梯度)。摆动2226、2227、2229或2230依据子信息(“0”、“1”、“S”或“B”)的类型来形成。

摆动2226、2227、2229和2230中的上升梯度和下降梯度中的差别可以通过差分推挽检测信号容易地检测如下。一个扫描激光束射向磁道凹槽1602，产生了一个指示由沿垂直于光盘介质20的磁道凹槽1602的方向(径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是“0”、“1”、“S”或“B”来变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。上升梯度和下降梯度中的差别例如可以通过差分检测信号容易地识别。

这样，子信息的类型可以通过作为差分结果的值的大小来检测。但是，当使用差分时，噪声成分自然地增加了。在具有较差S/N比的光盘介质中，检测错误被合理地预期到。在这个例子中，摆动2226、2227、2229和2230的每一个模式被重复多次以增强检测的可靠性。

PID部分的内容将被描述。每一个PID部分包括每一个都具有372个字节的52个帧，这样具有19344字节的长度(＝372字节×52)。PID部分2202(PID0)包括8位PID信息2209、24位块地址信息2210、16位IED信息2211和4位地址标记(AM)2212。

PID信息2209表示对应的PID部分的号(即，PID部分是否是PID0、PID1、PID2或PID3)。块地址信息2210是分配给每一个块的地址信息，并且在相同的ECC块的PID0到PID3中是共同的。IED信息2211是从PID信息2209和块地址信息2210产生的ID误差检测码。

地址标记2212位于PID部分2202的后端(后端)并且用于检测紧随PID部分2202的PID部分2204的前端。除子信息“0”、“1”或“S”之外，地址标记2211包括使用正弦波形状的摆动、例如在帧2225中的摆动2230的子信息“B”。地址标记2212通过组合由帧2224中的摆动2229记录的子信息“S”和子信息“B”来表示。例如，地址标记2212具有4位信息“SBBS”。当这种模式被检测时，准备下面的附录部分或PID部分的检测。

由于子信息“B”仅仅被用于地址标记，地址标记容易与具有其他信息的部分区别开。这样，可以增强地址标记的检测精度。

附录部分的内容将被描述。不象PID部分，每一个附录部分具有预先记录在盘上的块标记2220。块标记2220例如是一个镜像标记，它是如在下面描述的图17中所示的磁道凹槽1602中的切断部分。附录部分2201位于PID部分2202(PID0)之前并且也是ECC块的前端。

附录部分0到3预先分别在PID0到PID3之前被提供，并且每一个都具有93字节的长度。块标记(镜像标记)2220具有大约2个字节的长度。在每一个附录部分，假数据可以被记录以增加块标记2220的检测精度。

可使用的假数据例如可以是包括简单重复的4T标记和4T空间的信息。这样，单个频率分量的记录标记和块标记可以是在频率分开的，以便更容易检测。这样，块标记可以更容易地被检测。

如上所述，一个ECC块被分成4个PID部分，并且每一个PID部分前面加上了附录部分。在每一个附录部分，形成了指示PID部分的前端的块标记。在ECC块中重复这样的PID部分。因为块ID最终通过仅仅读取ECC块的1/4来确定，后处理(数据读取，数据记录等)可以快速地执行。

因为块ID在ECC块中重复多次，增强了块ID的读取的可靠性。

在这个例子中，一个ECC块被分成4个PID部分。本发明不局限于这样数量的PID部分。一个ECC块可以被分成任意整数多个PID部分。

在这个例子中，子信息在被调制成锯齿形状的摆动后被记录。本发明不局限于这样的摆动形状。子信息可以在被调制成具有例如图4或7中显示的形状的摆动后被记录。

在这个例子中，块标记是磁道凹槽的切断部分。本发明不局限于这样的块标记的形式。例如，块标记可以被调制成具有例如图5或6中显示的形状的摆动。或者，块标记可以被调制成具有例如图17、18或19中显示的形状的摆动。

(例子12)

图17显示了依据本发明的例子12的磁道凹槽1702。磁道凹槽1702通过改变图22中显示的磁道凹槽1602的附录部分来获得。

在图17中，标号1701表示附录部分0，1705表示附录部分1到3中的每一个。具有连续多个正弦波状摆动的形状的磁道凹槽1702预先在盘中形成，每一个附录部分具有93字节的长度。附录部分包括9个摆动。附录部分0具有每一个都作为磁道凹槽1702的切断部分的块标记1703和1704，附录部分1到3每一个都具有作为磁道凹槽1702的切断部分的块标记1706。

如例子11中所描述的，附录部分0到3先于各自的PID部分并且可以是地址信息的前端。因此，需要提供对附录部分0到3的令人满意的高水平的读取可靠性。在块标记在附录部分中重复多次(例如，两次)的情况中，即在附录部分中提供了多个相同的块标记的情况中，即使当一个块标记由于外部干扰例如噪声或故障而不能被检测时，块标记也能以高水平的稳定性被检测。在块标记以特定的间隔被重复多次的情况中，正确的块标记可以容易地区别于由噪声、故障等产生的假的块标记。

在附录部分0到3中形成的块标记的数量和形状可以相同。例如，一个块标记1703可以在附录部分1到3的每一个中提供。或者，如图17中所示，在附录部分0到3中形成的块标记的数量和形状可以在附录部分0到3之间不同。例如，附录部分0中的块标记的数量可以与附录部分1到3中的块标记的数量不同。在这种情况中，可以在附录部分0中提供比其他附录部分中更多数量的块标记，以增强作为ECC块的前端的附录部分0的读取的可靠性。在图17中，在附录部分0中提供了两个块标记1703和1704，而在附录部分1到3的每一个中提供了一个块标记1706。当在附录部分0中形成的块标记的数量或形状不同于附录部分1到3中形成的时，附录部分0中的块标记可以容易地区别于其他附录部分的块标记。这样，可以不用读取PID部分的全部而最终地确定ECC块的前端地址。

在图17中，按照摆动的相位在相同的位置提供多个块标记。或者，如图18中所示，块标记可以在具有摆动的180度相差的位置提供(块标记1703和1804)。

在这个例子中，每一个块标记具有2个字节的物理长度，但是本发明不局限于这样的长度。可以选择基于光点直径确定的最佳设计长度。例如，如图19中所示，块标记可以具有4个字节的物理长度。

当块标记可以具有如图19中所示的4个字节的物理长度时，附录部分0中的块标记的物理长度可以与附录部分1到3中的不同。这样，附录部分0中的块标记的读取可靠性可以被增强。当在附录部分0中形成块标记的长度与附录部分1到3中的不同时，附录部分0中的块标记可以容易地区别于其他附录部分的块标记。

参照图20，将描述其中块标记是在凸区中形成的预凹坑的光盘介质。图20显示了在这样的光盘介质中的磁道凹槽2002。磁道凹槽2002通过改变图22中显示的磁道凹槽1602的附录部分来获得。在图20中，标号2001表示附录部分0，2005表示附录部分1到3中的每一个。块标记2004在附录部分0的磁道凹槽2002的相邻部分之间的凸区2003中形成。块标记2004是凸区2003中的切断部分。当用光点2007扫描磁道凹槽2002时，块标记2004在从光点2007的中心偏移了半个磁道的状态中被扫描。

如图20中所示在凸区2003上形成的块标记2004可以使用指示由光接收元件的两个分开的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即，推挽信号)来检测。使用这样的一个差分信号来检测上述的PID部分。块地址可以使用一个类似的差分信号来检测。因此，块地址和PID部分可以被检测而不用将差分信号切换成一个总和信号。这样，一个信号检测部分可以具有更简单的电路配置。

在类似图20中的块标记2004的一个附录部分中提供多个相同的块标记的情况中，块标记的数量可以在附录部分0中的数量和附录部分1到3中的数量之间变化。

例如，当附录部分0包括两个块标记2204并且附录部分1到3中的每一个都具有一个块标记2204时，可以增强附录部分0中的块标记的读取稳定性。当在附录部分0中形成的块标记的数量不同于在附录部分1到3中形成的时，附录部分0中的块标记可以容易地区别于其他附录部分的块标记。

在每一个附录部分中，假数据可以被记录以增加块标记的检测精度。

可使用的假数据例如可以是包括简单地循环的4T标记和4T空间的信息。这样，单频率分量的记录标记和块标记可以是在频率分开的，以便更容易检测。这样，块标记可以更容易地被检测。

(例子13)

图21显示了依据本发明的例子13的光盘介质的PID部分2100。PID部分2100通过改变图22中所示的PID0到PID3来获得。PID部分2100包括每一个都具有372个字节的52个帧，这样具有19344字节的长度(＝372字节×52)。PID部分2100包括8位PID信息2209、24位块地址信息2210、16位IED信息2211和作为标识标记的4位地址标记(AM)2212。PID信息2209、块地址信息2210和IED信息2211类似于例子11中的对应部分。

地址标记2211位于PID部分2100的后端并且用于检测紧随PID部分2100的PID部分的前端。地址标记2211是除子信息“0”、“1”或“S”之外还包括子信息“B”的4个信息单元。地址标记2211通过组合子信息“S”和子信息“B”来表示。地址标记可以是每一个PID部分2100中的子信息的不同组合。例如，如图21中所示，PID3的地址标记2107包括4位信息“SSSS”。当这种组合被检测时，识别出这是PID3的地址标记2107。这样，可以准备紧随其后的PID0之前的附录部分中的标识标记或PID0的地址的检测。

PID0的地址标记2101、PID1的地址标记2103和PID2的地址标记2105中的每一个都包括不同于PID3的地址标记2107中的“SBBS”。由于PID3的地址标记的内容不同于地址标记PID0到PID2的内容，所以PID3的地址标记容易地区别于其他PID部分的地址标记。这样，增加了PID3的地址标记的检测精度。即，块的前端可以更容易地由子信息的这样一个不同的组合来检测。

PID0到PID2的地址标记可以由相同形状的摆动来形成(即，子信息的相同的组合)。例如，PID0到PID2的地址标记可以都包括“SBBS”。

图21中所示的具有用磁道凹槽的摆动表示的信息的地址标记2101、2103、2105和2107可以使用指示由光接收元件的两个分开的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即，推挽信号)来检测。使用这样的一个差分信号来检测PID信息2209、块地址信息2210和IED信息2211。在每一个PID部分之前的块地址或标识标记可以使用一个类似的差分信号来检测。因此，每一个PID部分的前端、块的前端和块地址都可以被检测而不用把差分信号切换成一个总和信号和一个差分信号。这样，一个信号检测部分可以具有一个更简单的电路配置。

为了增加地址标记2101、2103、2105和2107的检测精度，假数据可以被记录在对应于地址标记的磁道凹槽的部分。

可使用的假数据例如可以是包括简单地循环的4T标记和4T空间的信息。这样，单频率分量的记录标记和块标记可以在频率上分开，以便更容易检测。这样，块标记可以更容易地被检测。图21中显示的地址标记可以使用上述的差分信号来检测。因此，地址标记可以通过在对应于地址标记的磁道凹槽的部分中记录正确的用户数据以替代假数据来检测。

附录部分中的标识标记和地址标记可以组合使用。例如，附录部分中的标识标记是一个2字节的镜象标记，这样以非常高水平的位置精度来提供。因此，这样的一个组合使用可以增加在链接时开始记录的位置的精度以供额外地写或重写。

(例子13)

图23A显示了依据本发明的例子14的光盘装置2300。光盘装置2300再现利用前面的例子中描述的多个摆动形状的组合记录在光盘介质上的子信息，以便记录和再现主信息。图23是显示在图23A中显示的光盘装置2300的操作的流程图。

光盘装置2300包括变换部分2330、再现信号计算部分2308、聚焦位置控制部分2309、跟踪位置控制部分2310、子信息检测部分2312、激光驱动部分2313、再现信号处理部分2314和地址信息/盘管理信息处理部分2315。变换部分2330包括半导体激光器2302、准直透镜2303、光束分裂器2304、会聚部分2305、光收集透镜2306、光检测部分2307以及传动器2311。光盘装置2300将一个光束射向光盘介质2301使得读取记录在光盘介质2301上的主信息和子信息并且把该主信息和子信息转换为再现信号。

参照图23A和23B，半导体激光器2302发射出的光束在光盘介质2301的信息表面上通过准直透镜2303、光束分裂器2304和光会聚部分2305被收集。然后所收集的光被光盘介质2301反射和折射并且通过光会聚部分2305、光束分裂器2304和光收集透镜2306在光检测部分2307上被收集。光检测部分2307的光接收元件A、B、C和D的每一个都依据接收到的光的总量来输出一个电压信号作为再现信号2320(步骤S100)。

再现信号计算部分2308利用加、减、乘或除来处理再现信号2320。从再现信号计算部分2308输出的作为这样的计算结果的FE(聚焦误差)信号2321被发送到聚焦位置控制部分2309。从再现信号计算部分2308输出的作为这样的计算结果的TE(跟踪误差)信号2322被发送到跟踪位置控制部分2310。从再现信号计算部分2308输出的作为这样的计算结果的RF(射频)信号2323被发送到子信息检测部分2312和再现信号处理部分2314(步骤S200)。

聚焦位置控制部分2309通过依据FE信号2321输出的电压驱动传动器2311，以便控制在光盘介质2301的信息表面上的光点的聚焦位置。跟踪位置控制部分2310通过依据TE信号2322输出的电压驱动传动器2311，以便控制在光盘介质2301的信息表面上的光点的跟踪位置。根据聚焦位置和跟踪位置控制的光点被用于读取预凹坑或光盘介质2301上的标记和空间。作为一种相差类型的光盘介质2301中的标记和空间以不同的反射比反射光。这样，记录在光盘介质2301上的信息被读取。在推挽系统的情况中，TE信号2322是由光检测部分2307的两个光接收部分接收的光的总量之间的差的输出。这两个光接收部分的每一个都包括四个光接收元件A、B、C和D中的两个并且由平行于跟踪方向的一条线来定义。这里，差为(A+D)-(B+C)。RF信号2323是由四个光接收元件A、B、C和D接收的光的总量的和的输出。这里，和为(A+B+C+D)。在一个象散系统的情况中，FE信号2321是(A+C)-(B+D)的一个输出。

子信息用下面的方式再现。

由再现信号计算部分2308产生的TE信号2322和RF信号2323被输出到子信息检测部分2312并且被用于译码子信息。由子信息检测部分2312检测的子信息被输出到地址信息/盘管理信息处理部分2315和激光驱动部分2313。

如图34中所示，子信息检测部分2312包括基准时钟产生部分3410、电平限幅脉冲信号产生部分3411、作为块标记信号检测部分的第三BPF(带通滤波器)3403和子信息产生部分3412。

基准时钟产生部分3410包括第一BPF 3401和同步检测部分3404。电平限幅脉冲信号产生部分3411包括第二BPF 3402、比较器3405和积分器3408。子信息产生部分3412包括多数确定部分3406和子信息译码器3407。

第一BPF 3401被设计为具有这样的一个滤波常数，以便提取出调制成TE信号2322的摆动信号。基于TE信号2322，第一BPF 3401产生一个包含具有与磁道凹槽中的摆动同步的正弦波形的基波分量的输出信号3401’。同步检测部分3404接收输出信号3401’并且产生与从光盘介质2301(图23A)读取的信号同步的基准时钟信号3404’(步骤S300)。基准时钟信号3404’被用于同步子信息信号。

第二BPF 3402是用于检测被调制为TE信号2322的锯齿波形的陡边的差分滤波器。根据陡边的相位(或方向)，第二BPF 3402产生一个向上或向下差分脉冲信号3402’。差分脉冲信号3402’被输出到比较器3405。比较器3405比较通过积分器3408反馈的调节限幅电压和差分脉冲信号3402’，并且产生电平限幅脉冲信号3405’，差分脉冲信号3402’的向上状态和向下状态为“0”和“1”(步骤S400)。电平限幅脉冲信号3405’被输出到多数确定部分3406。

第三BPF 3403滤波RF信号2323以检测块标记信号3403’并且最终确定子信息组的前端(步骤S500)。所检测的块标记信号3403’被输出到多数确定部分3406，在那里所检测的块标记信号3403’被用于计时同步。

基于从基准时钟信号3404’和块标记信号3403’产生的同步信号，在特定的时间区间内，多数确定部分3406比较电平限幅脉冲信号3405’的“0”脉冲和“1”脉冲的数量。然后，多数确定部分3406把在特定的时间区间内占用所有脉冲的大多数的脉冲输出到子信息译码器3407作为电平限幅数据信号3406’。子信息译码器3407检查在电平限幅数据信号3406’中是否有错误。当在电平限幅数据信号3406’中没有错误时，子信息译码器3407输出电平限幅数据信号3406’作为子信息信号3420(例如，地址信息)(步骤S600)。

通过上述过程，记录在光盘介质2301上的子信息信号3420被再现。基于包括在再现的子信息信号3420中的地址信息，光盘装置2300可以确定在磁道凹槽中的信息的哪一块现在被再现。当在光盘介质2301上记录主信息时，确定紧挨在要记录主信息的块之前的块的地址，然后预测出下一块是要记录主信息的块。这样，可以从目标块的块的前端开始记录主信息。

(例子15)

将描述依据本发明的例子15的光盘介质的引入区域和引出区域。

参照图30，常规的光盘介质3001的引入区域和引出区域将被描述。光盘介质3001包括在内周边区域中提供的引入区域3003、在外周边区域中提供的引出区域3004和在引入区域3003和引出区域3004之间提供的记录和再现区域。在图30中，部分3007被放大了。引入区域3003具有预先形成的预凹坑3006。通过读取在预凹坑和保留区域之间的反射比之间的差，“0”和“1”的信息被读取。引入区域3003具有预先记录的盘管理信息。例如，盘管理信息包括盘再现功率信息、伺服信息和最佳记录功率的信息。记录和再现区域3004具有预先形成的磁道凹槽3002。通过沿磁道凹槽3002执行跟踪控制，可重写数据被记录在磁道凹槽3002中或记录在磁道凹槽3002中的数据被擦除。

在常规的光盘介质3001中，引入区域3003和引出区域3005与记录和再现区域3004在预凹坑3006的形状和磁道凹槽3002的形状方面不同。因此，两个跟踪系统不得不以切换的方式使用。更具体地，差分相位系统(DPD)被用于引入区域3003和引出区域3005，利用磁道凹槽3002的衍射的推挽系统的跟踪被用于记录和再现区域3004。

在本发明的例子15中，提供了允许同样的跟踪系统被用于引入区域、引出区域和记录和再现区域的光盘介质。这样的光盘介质可以简化跟踪操作。

下面，将描述依据例子15的光盘介质。

图24显示了依据例子15的光盘介质2400。光盘介质2400包括一个引入区域2401、一个记录和再现区域2402和一个引出区域2403。引入区域2401和引出区域2403具有预先记录的盘管理信息。引入区域2401和引出区域2403中的每一个可以进一步具有不同于用于记录用户数据的区域的一个区域，即用于试验记录的一个区域。在图24中，引入区域2401可以在从具有距光盘介质2400的中心22.59mm的半径的圆的边缘到具有距光盘介质2400的中心24.02mm的半径的圆的边缘的区域中提供。引入区域2401包括一个具有预先记录的盘管理信息的盘管理区域(从具有距中心22.59mm的半径的圆的边缘到具有距中心24.000mm的半径的圆的边缘的区域)。引入区域2401还可以包括一个用于在光盘介质或驱动器上试验记录的可重写区域。在盘管理区域中的信息原则上被禁止重写。在这个例子中，引入区域2401和引出区域2403意味着盘管理区域。

参照图36，将描述以螺旋方式在光盘介质2400的记录表面中形成的磁道凹槽3631。磁道凹槽3631在引入区域2401和引出区域2403中形成。磁道凹槽3631以周期方式带有规定形状的摆动3626、3627和3628。摆动3626、3627和3628具有彼此不同的规定的形状，表示子信息(“0”，“1”，“S”或“B”)。一种类型的子信息(“0”，“1”，“S”或“B”)由一种摆动形状3626、3627或3628来表示。子信息的类型和摆动的形状(摆动3626、3627或3628)是一一对应的关系。更具体地，具有通常的锯齿形状的摆动3626和3627和具有通常的正弦波形的摆动3628具有如图36中所示的不同的上升形状(或上升梯度)和下降形状(下降梯度)。盘管理信息由摆动3626、3627和3628的组合所示的子信息串表示。

在摆动3626、3627和3628中的上升梯度和下降梯度的差别可以容易地被差分推挽检测信号检测如下。扫描激光束直射到磁道凹槽3631，产生了指示由沿垂直于光盘介质3400的磁道凹槽3631的方向(径向)划分的光接收元件的检测区域接收的光量之间的差的差分信号(即，推挽信号)。这样，获得了具有依据子信息是“0”还是“1”变化的上升梯度和下降梯度的检测信号。例如，这个上升梯度和下降梯度的差可以由检测信号的差分容易地确定。子信息的类型可以由作为差分的结果获得的值的大小来检测。在引入区域2401和引出区域2403中，子信息被用作记录和再现区域2402的盘管理信息。

在图36中，包括块标记3630的帧3620具有预先形成的9个摆动3628以指示子信息“B”。在块标记3630后的52个帧3621的每一个具有总共36个摆动3626和3627以指示子信息“0”和子信息“1”。在CLV格式的这个例子中的光盘介质2400的情况中，形成摆动3626和3627的物理频率从最里面的磁道到最外面的磁道恒定在fb。

参照图25A和25B，引入区域2401和引出区域2403将与记录和再现区域2402比较。

图25A显示了记录和再现区域2402中的磁道凹槽2502。包括块标记2520的帧2510具有预先形成的9个摆动2528(正弦波形)以指示子信息“B”。在块标记2520后的52个帧2511的每一个具有总共36个摆动2526和2527(锯齿波形)以指示子信息“0”和子信息“1”。在CLV格式的这个例子中的光盘介质2400的情况中，形成摆动2526、2527和2528的物理频率从最里面的磁道到最外面的磁道(1个摆动：124个信道位)恒定在fa。摆动的摆动量恒定在22.5nmpp。

在记录和再现区域2402中，记录标记在调制后被记录。在这个例子中，运行周期被限制为2T(最小长度)的46D调制的信号被记录在磁道凹槽2502中。在这点上信道位长度为0.0771μm。用于记录和再现信号的激光具有405nm(+10nm，-5nm)的波长的平均值和0.85±0.01的数值孔径(NA)。

图25B显示了引入区域2401和引出区域2403中的磁道凹槽3631。磁道凹槽3631的细节如上述参照图36所描述的。形成引入区域2401和引出区域2403中的摆动2526、2527和2528的物理频率fb比形成记录和再现区域2402中的摆动2526、2527和2528的物理频率fa高10倍。通过把摆动的频率设置得更高，可以增加包括在单位区域中的信息量。

在引入区域2401和引出区域2403中，多个摆动指示1位子信息。在引入区域2401和引出区域2403与记录和再现区域2402之间，指示作为子信息的最小单元的1位信息的摆动的数量可以不同。与记录和再现区域2402相比，通过减小引入区域2401和引出区域2403中指示1位信息的摆动的数量，指示盘管理信息的摆动可以在引入区域2401和引出区域2403中相对小的区域中有效地形成。

如上所述，引入区域2401和引出区域2403包括具有规定的以周期形式形成的摆动形状的磁道凹槽3631，并且在磁道凹槽3631中每一个摆动形状表示盘管理信息。因为摆动也以周期形式在包括在记录和再现区域2402中的磁道凹槽2502中形成，因此相同系统的跟踪可以用于整个光盘介质2400。因为在引入区域2401和引出区域2403中摆动的频率比记录和再现区域2402中的高10倍，并且一个摆动指示1位子信息，所以记录在单位区域中的信息量增加了。这样，指示盘管理信息的摆动可以有效地记录在引入区域2401和引出区域2403中的有限的区域内。

在这个例子中，在引入区域2401和引出区域2403中的摆动的频率比记录和再现区域2402中的高10倍，本发明不局限于这样的数值。

在这个例子中，描述了锯齿形状的摆动。依据本发明摆动不局限于这样的形状。

在这个例子中，一个摆动指示1位信息。多个摆动可以指示1位信息。

或者，如图26A和26B中所示，引入区域2401和引出区域2403中的摆动的频率fb可以低于记录和再现区域2402中的摆动的频率fa。以这种方式，可以增大在检测引入区域2401和引出区域2403中的摆动时的S/N比。这样，在引入区域2401和引出区域2403中的盘管理信息的可靠性可以被增强。

在这个例子中，在引入区域2401和引出区域2403中的摆动有相同的频率，该频率与记录和再现区域2402中的摆动的频率不同。在盘管理信息仅仅记录在引入区域2401中的情况中，仅仅在引入区域2401中的摆动的频率可以与记录和再现区域2402中的摆动的频率不同。

在这个例子中，光盘介质2400包括引入区域2401和引出区域2403。除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括引入区域2401或仅仅包括引出区域2403。

(例子16)

图27A和27B显示了依据本发明的例子16的光盘介质的磁道凹槽2502和2731。

在图27A中所示的磁道凹槽2502与上面参照图25A描述的磁道凹槽2502相同，是在图24中所示的光盘介质2400的记录和再现区域2402中形成的。图27B中所示的磁道凹槽2731可以在引入区域2401和引出区域2403中形成。

包括块标记2520的帧2510具有9个正弦波形状的摆动2528’，以指示子信息“B”。跟在块标记2520之后的52帧2511中的每一个具有总共36个锯齿形状的摆动2526’和2527’，以指示子信息“0”和子信息“1”。在这个例子中的CLV格式的光盘介质2400的情况下，形成摆动2526、2527和2528的物理频率从最内侧磁道向最外侧磁道恒定为fa(1个摆动：124个信道位)。表示摆动的摆动量的摆动振幅恒定为Ca。

图27A和27B中所示的磁道凹槽在表示摆动的摆动量的摆动振幅上与图25A和25B中所示的不同。其中，图27A中的记录和再现区域2402中的磁道凹槽2502的摆动振幅为Ca，图27B中的引入区域2401和引出区域2403中的磁道凹槽2731的摆动振幅为为Cb，其中Cb＞Ca。

再现时的摆动信号振幅与摆动量成比例。因此，当引入区域2401和引出区域2403的摆动振幅大于记录和再现区域2402中的摆动振幅时，提高了在再现的时候检测摆动时的S/N比。这样，可以增强盘管理信息的读取可靠性。

在这个例子中，光盘介质2400包括引入区域2401和引出区域2403。除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括引入区域2401或仅仅包括引出区域2403。

(例子17)

图28A和28B显示了依据本发明的例子17的光盘介质的磁道凹槽2502和2831。

在图28A中，摆动2826用CLV格式形成，摆动2826的物理频率从最里面的磁道到最外面的磁道是恒定的。因此，两个相邻摆动2826的相位依据磁道位置和径向位置来偏移。在再现的时候，相邻磁道的干扰的影响由于相差而变得明显，由再现信号检测到的摆动信号振幅以周期的方式在相差上变化。在变化的摆动信号振幅为最小的摆动中，S/N比减小了。

在图28A和28B中所示的磁道凹槽与图25A和25B中所示的磁道凹槽有下面几点不同。在磁道凹槽2831中，摆动2827由CAV格式形成，这样两个相邻磁道之间的摆动2827的相差总是π/2。

当记录和再现区域2402、引入区域2401和引出区域2403中的摆动由CAV格式形成时，在再现时的摆动信号振幅为常数。这样，增强了摆动的检测可靠性。

在这个例子中，相差是π/2。在上升处在相位为0的位置上和在下降处相位为π的位置上摆动通常具有陡峭的边缘。当在π/2和3×π/2以及π/2×(2n+1)(n是一个整数)的位置安排陡峭边缘时，可以减小来自相邻磁道的串扰的影响。相差不局限于这样的值，而可以是任意其他的常数值。

在记录和再现区域2402、引入区域2401和引出区域2403中的摆动可以由在DVD-RAM中使用的ZCLV格式替代CAV格式来形成。

通过由CAV格式或ZCLV格式替代CLV格式形成摆动，从记录和再现区域2402再现的地址信息的可靠性可以被增强。

在这个例子中，光盘介质2400包括引入区域2401和引出区域2403。除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括引入区域2401或仅仅包括引出区域2403。

(例子18)

图29A和29B显示了依据本发明的例子18的光盘介质的磁道凹槽2502和2931。

图29A中所示的磁道凹槽2502与上面参照图25A描述的相同并且在图24中所示的光盘介质2400的记录和再现区域2402中形成。在图29B中所示的磁道凹槽2931可以在引入区域2401和引出区域2403中形成。

在图29A中所示的磁道凹槽2502具有TPa的磁道间距(两个相邻磁道之间的距离)。主信息通过凹槽记录系统记录在磁道凹槽2502中。

在图29A和29B中所示的磁道凹槽与图25A和25B中所示的磁道凹槽在磁道间距上不同。其中图29A中记录和再现区域2402中的磁道凹槽2502的磁道间距是TPa，图29B中引入区域2401和引出区域2403中的磁道凹槽2931的磁道间距是TPb，其中TPb＞TPa。例如，当使用具有405nm的波长和0.85的NA作为光学常数的光点来再现记录在具有磁道间距TPa＝0.32μm(两个相邻凹槽之间的距离)的凹槽记录系统光盘介质上的信息时，由推挽系统获得的跟踪误差信号的振幅相当小。当磁道间距增大时，跟踪误差信号的振幅因此而增大。当摆动的摆动量恒定时，摆动信号振幅基本上与跟踪误差信号的振幅成比例地增大。因此，当磁道间距增加时，再现时的摆动信号振幅增大了。

这样，与记录和再现区域2402中的磁道间距TPa相比，通过增加引入区域2401和引出区域2403中的磁道间距TPb，当检测摆动时的S/N比可以被增强。

或者，当TPb＜TPa时，指示盘管理信息的摆动可以有效地记录在引入区域2401和引出区域2403中的有限的区域中。

在例子15到18中，引入区域2401和引出区域2403中的摆动频率、摆动振幅、相对于相邻磁道中的相位的摆动相差、磁道间距等与记录和再现区域2402中的不同。引入区域和引出区域2401和2403与记录和再现区域2402之间的多个这样的因素可以不同。

在引入区域2401和引出区域2403的盘管理区域中的磁道中，没有形成记录标记。这样，盘管理区域的再现信号的S/N比可以被增加，其结果是，盘管理区域的读取可靠性可以被增强。

在这个例子中，光盘介质2400包括引入区域2401和引出区域2403。除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括引入区域2401或仅仅包括引出区域2403。

(例子19)

图35显示了依据本发明的例子19的光盘介质的磁道凹槽3531。

在图35中所示的磁道凹槽3531可以在图24中所示的光盘介质2400的引入区域2401和引出区域2403中形成。

在图35中所示的磁道凹槽3531与图25B中所示的磁道凹槽3631不同，因为磁道凹槽3531具有以一次写入的方式记录在引入区域2401和引出区域2403(即，磁道凹槽3531)中的单频率记录标记。例如，具有0.0771μm的记录信道位长度的记录标记以一次写入的方式通过提供具有在具有盘管理信息的磁道凹槽3531中重复的8T记录标记和8T空间的信号来记录。这样，信息可以由不允许推挽系统的跟踪的再现装置(DPD系统跟踪的装置)来再现。装置之间的兼容性可以提高。

在这个例子中，光盘介质2400包括引入区域2401和引出区域2403。除记录和再现区域2402之外，光盘介质2400可以仅仅包括引入区域2401或仅仅包括引出区域2403。

(例子20)

图31显示了依据本发明的例子20的光盘介质的磁道凹槽3101。

在例子1中，块标记210通过切断磁道凹槽102来提供。在这个例子中，块标记3104通过局部地反转磁道凹槽3101中的摆动3126的相位来形成。这样形成的块标记3104不切断磁道凹槽3101，这样信息可以被记录在块标记3104上。结果，额外开销可以被减小。

(例子21)

图32显示了依据本发明的例子21的光盘介质的磁道凹槽3201。

在例子1中，块标记210通过切断磁道凹槽102来提供。在这个例子中，多个块标记3204a和3204b通过局部地反转磁道凹槽3201中的摆动3226的相位来形成。这样形成的块标记3204a和3204b不切断磁道凹槽3201，另外，除在块标记3204a和3204b之间插入的部分外，保持摆动3226相位的连续性。因此，再现可以在没有实质地改变摆动的时钟的相位并且不在PLL中产生相差的情况下完成。主信息可以被记录在块标记3204a和3204b上。结果，额外开销可以被减小。

(例子22)

图33显示了依据本发明的例子22的光盘介质的磁道凹槽3301。

在例子1中，块标记210通过切断磁道凹槽102来提供。在这个例子中，块标记3304由具有比摆动26局部增大的频率的摆动3326来形成。这样形成的块标记3304不切断磁道凹槽3301，这样信息可以被记录在块标记3304上。结果，额外开销可以被减小。

在例子1、4、5、7到12、15、16以及19到22中，公开了具有块标记的磁道凹槽。磁道凹槽可以在不具有块标记的光盘介质上提供。

工业实用性

如上所述，依据本发明，在以逐块为基础记录主信息的磁道凹槽上形成多个规定形状的摆动。摆动显示出在通过以规定数K除所述块所获得的一帧中描述的特定子信息。通过在该块的多个帧中、即多次形成指示子信息的摆动，可以在没有或几乎没有额外开销的情况下形成地址信息。可以获得单频率摆动再现信号(即，同步信号)。这样，可以提供适合于高密度记录的光盘介质。

作为子信息组的一部分的子信息指示一个ID号的扇区号。当数据未被连续读取时，例如，在一个寻找操作之后，紧接在寻找操作之后的扇区的扇区号或ID号可以被读取，而不是在该块的前端的块标记。这样，可以从一个任意扇区读取块ID。通过仅仅读取包括块中的多个扇区的一个扇区组来最终确定块ID，可以迅速地执行后处理(数据读取、数据记录等等)。

块ID在一个块中被重复多次。这样，可以增强块ID的读取可靠性。

在引入区域和引出区域中，盘管理信息由预先形成的锯齿形状的摆动来指示。这样，相同的跟踪系统可以用于整个盘。光盘装置可以被简化。

使摆动频率在引入和引出区域和记录和再现区域之间不同。盘管理区域可以被有效地记录在盘内侧部分中的引入区域和盘外侧部分的引出区域的有限区域中。

Claims (6)

1.一种光盘介质，具有记录区域和盘管理区域，其特征在于，

所述记录区域包括第一轨道凹槽，

所述盘管理区域被配置在所述记录介质的内侧区域和外侧区域的至少某一方，并包括第二轨道凹槽，

所述第二轨道凹槽包括多种表示子信息且与形成在所述第一轨道凹槽上的摆动的形状不同的规定形状的摆动，

所述记录介质的管理信息由所述多种的规定形状的摆动的组合来表现。

2.一种光盘读取方法，读取光盘介质中记录的管理信息，其特征在于，

所述光盘具有记录区域和盘管理区域，

所述记录区域包括第一轨道凹槽，

所述盘管理区域被配置在所述记录介质的内侧区域和外侧区域的至少某一方，并包括第二轨道凹槽，

所述第二轨道凹槽包括多种表示子信息且与形成在所述第一轨道凹槽上的摆动的形状不同的规定形状的摆动，

所述记录介质的管理信息通过所述多种的规定形状的摆动的组合来表现；

所述光盘读取方法包括：

向所述光盘介质照射光束的步骤；

根据从所述光盘反射的光、生成电信号的步骤；以及

根据所述电信号检测出所述管理信息的一部分的步骤。

3.一种光盘记录方法，根据光盘介质中记录的管理信息，向光盘记录信息，其特征在于，

所述光盘具有记录区域和盘管理区域，

所述记录区域包括第一轨道凹槽，

所述盘管理区域被配置在所述记录介质的内侧区域和外侧区域的至少某一方，并包括第二轨道凹槽，

所述第二轨道凹槽包括多种表示子信息且与形成在所述第一轨道凹槽上的摆动的形状不同的规定形状的摆动，

所述记录介质的管理信息由所述多种的规定形状的摆动的组合来表现；

所述记录方法包括：

向所述光盘介质照射光束的步骤；

根据从所述光盘反射的光、生成电信号的步骤；

根据所述电信号检测出所述管理信息的一部分的步骤；以及

根据所述检测出的管理信息向所述光盘记录信息的步骤。

4.一种光盘，包括：

记录/再现区域，和

盘管理区域，

其中：

所述记录/再现区域包括第一轨道凹槽，

所述盘管理区域包括在所述光盘的内侧区域和外侧区域中的至少一个中提供的第二轨道凹槽，

所述第二轨道凹槽包括指示子信息的多种规定的摆动形状，以及

所述光盘的管理信息由所述多种规定的摆动形状的组合来表示。

5.一种再现方法，是权利要求4所述的光盘的再现方法，该方法包括：

从所述光盘读取信息以生成再现信号；以及

基于所述再现信号生成指示所述子信息的子信息信号。

6.一种记录方法，是权利要求4所述的光盘的记录方法，该方法包括：

从所述光盘读取信息以生成再现信号；

基于所述再现信号生成指示所述子信息的子信息信号；以及

基于所述子信息向所述光盘进行记录。

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