CN102004156A - 样本分析装置 - Google Patents

样本分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102004156A
CN102004156A CN2010102347615A CN201010234761A CN102004156A CN 102004156 A CN102004156 A CN 102004156A CN 2010102347615 A CN2010102347615 A CN 2010102347615A CN 201010234761 A CN201010234761 A CN 201010234761A CN 102004156 A CN102004156 A CN 102004156A
Authority
CN
China
Prior art keywords
reagent
container
sample
tubulature
analyzing samples
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2010102347615A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102004156B (zh
Inventor
山登隆司
黑野浩志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
Publication of CN102004156A publication Critical patent/CN102004156A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102004156B publication Critical patent/CN102004156B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1004Cleaning sample transfer devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1002Reagent dispensers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00594Quality control, including calibration or testing of components of the analyser
    • G01N35/00613Quality control
    • G01N35/00663Quality control of consumables
    • G01N2035/00673Quality control of consumables of reagents
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/00722Communications; Identification
    • G01N35/00732Identification of carriers, materials or components in automatic analysers
    • G01N2035/00792Type of components bearing the codes, other than sample carriers
    • G01N2035/00801Holders for sample carriers, e.g. trays, caroussel, racks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/0439Rotary sample carriers, i.e. carousels
    • G01N2035/0443Rotary sample carriers, i.e. carousels for reagents
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/04Details of the conveyor system
    • G01N2035/046General conveyor features
    • G01N2035/0465Loading or unloading the conveyor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1009Characterised by arrangements for controlling the aspiration or dispense of liquids
    • G01N35/1011Control of the position or alignment of the transfer device
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T436/00Chemistry: analytical and immunological testing
    • Y10T436/11Automated chemical analysis
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T436/00Chemistry: analytical and immunological testing
    • Y10T436/11Automated chemical analysis
    • Y10T436/111666Utilizing a centrifuge or compartmented rotor

Abstract

本发明公开一种用试剂测定样本的样本分析装置,包括:具有吸移和吐出液体的分装管的分装装置;可在容器取出区装卸试剂容器的试剂容器固定部件;接收试剂更换指示的指示接受部件;及所述指示接受部件收到所述更换指示后控制所述分装装置从所述容器取出区撤出所述分装管的控制部件。

Description

样本分析装置
技术领域:
本发明涉及一种对样本进行测定处理的样本分析装置。
背景技术:
人们早已知道一种用试剂测定样本的样本分析装置。在这种样本分析装置中,由测定部件测定通过混合样本和试剂而制得的测定试样。混合制备测定试样时,样本和试剂分别由相应的吸移管等吸移、分装。试剂装在试剂容器中放在样本分析装置内。装在试剂容器的试剂变得较少时,使用者就要更换试剂容器。
比如美国专利公报No.2008/0014118上记载的样本分析装置,通过将固定有试剂容器的容器架装到试剂台,使试剂容器放入样本分析装置内。此时,试剂容器的更换可以通过将固定有要更换的试剂容器的容器架置于可向外打开的容器更换位来实现。
以此结构可以按照使用者发出的试剂更换指示驱动试剂台,将固定有要更换试剂容器的容器架运送到容器更换位。使用者取出置于容器更换位的容器架,将要更换的试剂容器换为新装入试剂的试剂容器。然后,使用者将固定有新试剂容器的容器架装到试剂台上。这样就完成了试剂更换。
然而,在上述结构中,为了防止使用者在更换试剂作业中接触分装装置的吸移管,必须让分装装置的吸移管在够不到容器更换位的范围移动。因此,分装装置布局的自由度受到容器更换位的限制。
发明内容:
本发明的范围只由后附权利要求书所规定,在任何程度上都不受这一节发明内容的陈述所限。
本发明提供以下内容:
(1)一种用试剂测定样本的样本分析装置,包括:
具有吸移和吐出液体的分装管的分装装置;
能够在容器取出区装卸试剂容器的试剂容器固定部件;
接收试剂更换指示的指示接受部件;及
所述指示接受部件收到所述更换指示后控制所述分装装置从所述容器取出区撤出所述分装管的控制部件。
根据上述(1)所述结构,收到试剂更换指示后,分装管从容器取出区退出。以此操作者可以顺畅地更换试剂容器。此外,因为在收到试剂更换指示之前分装管可以在容器取出区移动,故可以提高分装装置布局的自由度。
(2)上述(1)所述样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件使所述分装管从所述容器取出区退到不妨碍操作者更换所述试剂容器的退避位。
(3)上述(2)所述样本分析装置,还包括:
至少覆盖所述分装装置和所述试剂容器固定部件的本体机罩;
其中,所述退避位为所述分装管不妨碍在所述本体机罩打开时从打开一侧空间到所述容器取出区上方空间的所述操作者更换所述试剂容器的更换路径的位置。
根据上述(3)所述结构,当操作者更换试剂时,分装管避开试剂容器更换路径,即从本体机罩打开时打开一侧空间到所述容器取出区上方空间之间的区域。以此操作者可以顺畅地通过此更换路径更换试剂。
(4)上述(3)所述样本分析装置,其特征在于:
所述分装装置进行测定作业时,在包括所述更换路径的范围内移动所述分装管进行所述吸移和吐出。
根据上述(4)所述结构,在收到试剂更换指示前,分装管在此更换路径范围移动,从而得以提高分装装置的布局自由度。
(5)上述(3)所述样本分析装置,还包括:
配置在离开所述更换路径的路径外位置的清洗部件,其有一向上打开的开口,用于从所述开口放入所述分装管进行清洗,
其中,所述退避位在所述清洗部件的所述开口上方。
根据上述(5)所述结构,清洗分装管的位置和此分装管退避的位置相同,因此能更加简便地控制此分装管的移动。
(6)上述(2)所述样本分析装置,其特征在于
所述分装装置能够将所述分装管移到原点位、吸移位、注样位及所述退避位;
所述退避位是与所述原点位不同的位置。
(7)上述(1)所述样本分析装置,还包括:
固定反应容器的反应容器固定部件,所述反应容器中装有从样本容器分装的样本;其中,如果在所述反应容器固定部件固定有已加样的所述反应容器时所述指示接受部件收到所述更换指示,则所述控制部件控制所述分装装置在固定在所述试剂容器固定部件上的所述试剂容器中的所述试剂分装到已加样反应容器后,将所述分装管移开所述容器取出区。
根据上述(7)所述结构,在测定处理中途中断时也可防止已加样本因放置而变质。
(8)上述(7)所述样本分析装置,还包括:
检测由所述样本和所述试剂制备的测定试样中所含成分的相关成分信息的检测部件;
将装所述测定试样的反应容器移到所述检测部件的移送部件,其中,当已加入所述测定试样的反应容器由所述移送部件移到所述检测部件后,所述控制部件控制所述分装装置将所述分装管退到所述退避位,当已加入所述测定试样的反应容器由所述移送部件移到所述检测部件时,所述检测部件检测已装所述测定试样的所述反应容器内的所述测定试样中所含成分相关的所述成分信息。
(9)上述(3)所述样本分析装置,还包括:
闭锁所述本体机罩的锁具;及
当所述分装管退到所述退避位时,所述控制部件解除所述锁具对所述本体机罩的闭锁。
根据上述(9)所述结构,更加有效地控制了试剂更换时操作者与分装管的接触。
(10)上述(1)所述样本分析装置,其特征在于
配置有与所述分装装置不同的其他分装装置,
当所述指示接受部件收到所述更换指示时,所述控制部件控制所述分装装置在将所述分装装置的分装管从所述容器取出区移开的同时,将所述其他分装装置的分装管也从所述容器取出区移开。
(11)上述(1)所述样本分析装置,其特征在于:
所述分装管是吸移和吐出所述样本的样本分装管或吸移或吐出所述试剂的试剂分装管。
(12)上述(2)所述样本分析装置,还包括:
所述分装管退到所述退避位时通知能够进行所述试剂更换的通知部件。
根据(12)所述结构,操作者可以轻松地确认何时可以开始试剂更换作业。
(13)一种用试剂测定样本的样本分析装置,包括:
具有吸移和吐出液体的分装管的分装装置;
能够在容器取出区装卸试剂容器的试剂容器固定部件;
检测固定在所述试剂容器固定部件上的所述试剂容器内所述试剂的余量的余量检测部件;及
当根据所述余量检测部件的检测结果判断固定在所述试剂容器固定部件上的所述试剂容器内所述试剂的余量不足时,控制所述分装装置从所述容器取出区移开所述分装管的控制部件。
根据上述(13)所述结构,当根据检测系统的检测结果发现固定在试剂容器固定部件上的试剂容器内试剂余量不足时,分装管退出容器取出区。以此,操作者可以顺利地更换试剂容器。在发现试剂余量不足之前分装管可以在容器取出区移动,从而提高了分装装置的布局自由度。
(14)上述(13)所述样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件使所述分装管从所述容器取出区退避到不妨碍操作者更换所述试剂容器的退避位。
(15)上述(14)所述样本分析装置,还包括:
至少覆盖所述分装装置和所述试剂容器固定部件的本体机罩,其中,所述退避位为所述分装管不妨碍在所述本体机罩打开时从打开一侧空间到所述容器取出区上方空间的所述操作者更换所述试剂容器的更换路径的位置。
(16)上述(15)所述样本分析装置,其特征在于:
所述分装装置进行测定作业时,在包括所述更换路径的范围内移动所述分装管进行所述吸移和所述吐出。
(17)上述(15)所述样本分析装置,还包括:
配置在避开所述更换路径的路径外位置的清洗部件,其有一向上打开的开口,用于从所述开口放入所述分装管进行清洗,其中,
所述退避位在所述清洗部件的所述开口上方。
(18)上述(14)所述样本分析装置,其特征在于:
所述分装装置能够将所述分装管移到原点位、吸移位、注样位及所述退避位,所述退避位是与所述原点位不同的位置。
(19)上述(13)所述样本分析装置,还包括:
通知部件,当根据所述余量检测部件的检测结果判断固定在所述试剂容器固定部件上的所述试剂容器内的所述试剂的余量不足时,发出通知敦促更换所述试剂。
根据上述(19)所述结构,可以迅速地更换试剂容器。
(20)一种用试剂测定样本的样本分析装置,包括:
具有吸移和吐出液体的分装管的分装装置;
能够在试剂追加区追加试剂的试剂容器固定部件;
接收试剂追加指示的指示接受部件;及
所述指示接受部件收到所述追加指示后控制所述分装装置从所述试剂追加区移开所述分装管的控制部件。
附图说明:
图1为本实施方式涉及的样本分析装置的结构图;
图2为本实施方式涉及测定装置内部简要结构的平面图;
图3A为本实施方式涉及的容器架的结构图;
图3B为本实施方式涉及的容器架的结构图;
图4A为本实施方式涉及的试剂更换或追加步骤的说明图;
图4B为本实施方式涉及的试剂更换或追加步骤的说明图;
图5为本实施方式涉及的测定装置的线路结构图;
图6为本实施方式涉及的信息处理装置的线路结构图;
图7为本实施方式涉及的信息处理装置显示器显示画面的例示图;
图8为本实施方式涉及的测定中断处理的流程图;
图9A为本实施方式涉及的测定中断处理的流程图;
图9B为本实施方式涉及的测定中断处理的流程图;
图10为本实施方式涉及的分装单元移动到退避位的流程图;
图11A为本实施方式涉及的原点复位作业处理内容的说明图;
图11B为本实施方式涉及的原点复位作业处理内容的说明图;
图11C为本实施方式涉及的原点复位作业处理内容的说明图;
图11D为本实施方式涉及的原点复位作业处理内容的说明图。
具体实施方式:
下面参照附图就本实施方式涉及的样本分析装置进行说明。
图1为本实施方式涉及的样本分析装置1的结构图。样本分析装置1是一种用光照射向样本(血浆)中添加试剂而制备的测定试样,用凝固法、合成基质法、免疫比浊法和凝集法对样本进行光学测定和分析的凝血分析装置。样本分析装置1由对样本(血浆)中所含成分进行光学测定的测定装置2和分析测定装置2的测定数据并向测定装置2下达操作指示的信息处理装置3构成。
图2为俯视测定装置2内部时的简要结构平面图。测定装置2由测定单元10、检测单元40和运送单元50构成。此外,该图一并显示表示位置的坐标。
测定单元10有第一试剂台11、第二试剂台12、第一容器架13、第二容器架14、供杯台15、加温台16、工作台罩17、第一样本分装组件21、第二样本分装组件22、第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24、第三试剂分装组件25、第一抓取组件26、第二抓取组件27、第三抓取组件28、试剂条码读取器31、运杯器32、稀释液运送器33、反应杯供应口34、废弃口35、废弃口36和吸移管清洗器38a~38e。测定单元10还有覆盖内部的本体机罩29(参照图1)。
第一试剂台11、第二试剂台12、供杯台15和加温台16是圆形工作台,可分别独立地向顺时针和逆时针两个方向旋转驱动。这些工作台的旋转分别由配置在其下面背后的步进电机311a、311b、313、314(参照图5)驱动。
如图2所示,第一试剂台11和第二试剂台12的上面分别可拆装地配置了五个第一容器架13和五个第二容器架14。第一容器架13和第二容器架14中形成了固定试剂容器用的固定部件。试剂条码读取器31位于第二试剂台外侧,第一试剂台11位于第二试剂台12的内侧。
如图2所示,五个第二容器架14配置到第二试剂台12时,第二容器架14相邻各间隙中间隙12a有一个比其他间隙大的间隔。据此,试剂条码读取器31可以通过间隔比其他间隙大的间隙12a读取配置在第一试剂台11上的第一容器架13和放在其中的试剂容器的条形码信息。
在此,参照图3A和图3B所示斜视图说明第一容器架13和第二容器架14的结构以及读取这些容器架上所贴条形码信息的步骤。
如图3A所示,第一容器架13由固定圆筒形试剂容器200的二个固定部件131、132、分别设在固定部件131、132前方的缺口131a、132a和向上伸出的突起部件133构成。固定部件131、132可收纳部分从上看略呈圆形,以便能固定试剂容器200。第一容器架13固定外径小于固定部件131、132内径的容器时,另行通过适配器等稳定固定此种容器。
固定部件131、132的外侧分别贴有条形码标签131b、132b。固定部件131、132内侧也分别贴有条形码标签。试剂容器200贴有条形码标签200a。另,图3A中仅图示了贴在固定部件131、132内侧的条形码中贴在固定部件132内侧的条形码标签132c。
如图3B所示,第二容器架14由固定圆筒形试剂容器200的六个固定部件141~146、分别设在固定部件141~146前侧的缺口141a~146a和向上伸出的突起部件147构成。固定部件141~146可收纳部分从上看略呈圆形,以便能固定试剂容器200。第二容器架14固定外径小于固定部件141~146内径的容器时,另行通过适配器等稳定固定此种容器。
固定部件141~146的外侧分别贴有条形码标签141b~146b。固定部件141~146内侧也分别贴有条形码标签。试剂容器200贴有条形码标签200a。另,图3B中仅图示了贴在固定部件141~146内侧的条形码中贴在固定部件142和143内侧的条形码标签142c、143c。
下面就读取贴在第一容器架13、第二容器架14和试剂容器200上的条形码标签的步骤进行说明。试剂条码读取器31从图3A和图3B的前方开始读取条形码标签。
第一试剂台和第二试剂台以一定方向和速度旋转,读码器31首先读取预定固定部件外侧贴的条形码标签。以此可以识别此固定部件是哪个容器架上的哪个固定部件。
接着,读取位于此固定部件缺口处的条形码。此时,如果有试剂容器200,则读取贴在试剂容器200的条码标签,如果没有试剂容器200,则读取贴在固定部件内侧的条码标签。如此可以识别固定部件中有无试剂容器200。而且当固定部件中有试剂容器200时,根据从条形码标签200a读取的条码信息,还可识别装在试剂容器200里的试剂种类。
如图2所示,供杯台15和加温台16上分别沿圆周有数个持杯孔15a、16a。当反应杯插到持杯孔15a、16a时,此反应杯分别随供杯台15和加温台16的旋转,在圆周位置上移动。加温台16以一定温度对插在持杯孔16a中的反应杯进行加热。
工作台罩17罩在第一试剂台11、第二试剂台12和供杯台15的上面。工作台罩17中央部位有翻折装置,仅前半部分(Y坐标反方向)能够打开。工作台罩17上设有数个孔。第一样本分装组件21、第二样本分装组件22、第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25的分装通过这些孔进行。
第一样本分装组件21如图2所示,由支撑部件21a、旋臂21b和分装部件21c构成。支撑部件21a由配制在下面里侧的步进电机312a(参照图5)驱动旋转。支撑部件21a支撑着旋臂21b,旋臂21b由上述步进电机312a向上下方向(Z坐标方向)驱动。分装部件21c安装在旋臂21b顶端,有吸移管。用此吸移管吸吸或吐出样本。
当支撑部件21a旋转时,分装部件21c就会以支撑部件21a为中心沿圆周方向移动。分装部件21c在吸移位吸移在吸移位正下方的样本,在注样位将样本吐出到在注样位正下方的反应杯中。
第一样本分装组件21有一个向分装部件21c的吸移管供应清洗液的管。此管从支撑部件21a沿旋臂21b至分装部件21c的吸移管上部配置。清洗液从支撑部件21a侧通过此管输向吸移管内。
第二样本分装组件22、第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25也与第一样本分装组件21结构相同。即,第二样本分装组件22有支撑部件22a,支撑部件22a由配制在下面里侧的步进电机312b(参照图5)驱动旋转。第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25也分别有支撑部件23a、支撑部件24a和支撑部件25a。支撑部件23a、支撑部件24a和支撑部件25a分别由配制在下面里侧的步进电机312c、步进电机312d和步进电机312e(参照图5)旋转驱动。
另外,第一样本分装组件21和第三试剂分装组件25的旋转驱动范围与其他分装组件的旋转驱动范围不重叠。第二试剂分装组件24在与第二样本分装组件22和第一试剂分装组件23的旋转驱动范围不重叠的范围内旋转驱动。第二样本分装组件22和第一试剂分装组件23在控制下互不重叠地旋转驱动。
第一抓取组件26如图2所示,由支撑旋臂26b的支撑部件26a、可伸缩的旋臂26b和夹钳26c构成。支撑部件26a由配制在下面里侧的步进电机315a(参照图5)驱动旋转。夹钳26c安装在旋臂26b的顶端,可以夹住反应杯。第二抓取组件27也与第一抓取组件26结构相同,通过配置在下面里侧的步进电机315b(参照图5)驱动旋转。
第三抓取组件28如图2所示,由支撑旋臂28b的支撑部件28a、可伸缩的旋臂28b和安装在旋臂28b顶端的夹钳28c构成。支撑部件28a沿左右方向(X坐标方向)配置的轨道驱动。夹钳28c可以夹住反应杯。
试剂条码读取器31用于读取贴在第一容器架13和第二容器架14上的条形码标签以及贴在放在这些容器架上的试剂容器200的条形码标签200a。第一试剂台11和第二试剂台12可分别独立旋转。当第二试剂台12的间隙12a绕到试剂条码读取器31正面时,通过间隙12a读取贴在第一容器架13的条形码标签和贴在放在第一容器架13上的试剂容器200的条形码标签200a。
运杯器32和稀释液运送器33被驱动着在轨道上向左右方向(X坐标方向)移动。运杯器32和稀释液运送器33分别设有固定反应杯和稀释液容器的孔。
反应杯供应口34总是有新的反应杯供应。新反应杯由第一抓取组件26和第二抓取组件27插入运杯器32的固定反应杯的孔中和供杯台15的持杯孔15a中。废弃口35和36是用于丢弃完成分析不要的反应杯的孔。
吸移管清洗器38a~38e分别用于清洗第一样本分装组件21、第二样本分装组件22、第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25的吸移管。吸移管清洗器38a~38e在上下方向(Z坐标方向)形成清洗吸移管用孔。当吸移管放入孔内时,吸移管清洗器38a~38e向孔内灌满清洗液,清洗吸移管外侧。
图1所示本体机罩29以转轴29a为中心旋转,可开合测定单元10。本体机罩29在测定单元10进行测定作业时一般覆盖着第一试剂台11、第二试剂台12、第一样本分装组件21、第二样本分装组件22、第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25等测定单元10内部的各装置部件。本体机罩29有锁具29b,当覆盖测定单元10内部的各装置部件时,通过锁具29b可以禁止打开机罩。当中断测定单元10的测定作业更换试剂容器等时,本体机罩29被打开,可以从试剂台取出试剂容器。
检测单元40上面设置有20个放置反应杯的固定孔41,下面背面配置有检测部件。固定孔41上一插入反应杯,检测部件就检测反映反应杯中的测定试样中所含成分的光学信息。比如,检测单元40用光照射测定试样,测定透射光的变化来检测测定试样中纤维蛋白原转化为纤维蛋白时的浊度变化。
运送单元50有运送通道51和样本条码读取器52。运送通道51底部右侧有右区,中央有连接区,左侧有左区,形成C字型。样本条码读取器52读取在连接区运送的样架60上的样本容器61上所贴条码标签。
下面就样本分析的一系列操作进行说明。
将载有数个样本容器61的样架60放置到运送通道51的右区(X坐标正向区域)。样架60在右区先向后(Y坐标正向)移动后,在连接区向左(X坐标反方向)移动。此时,贴在样本容器61的条形码标签被样本条码读取器52读取。接着,样架60被置于连接区的预定位置。在连接区完成吸样动作,样架60先在连接区左移(X坐标反方向),再在左区(X坐标反方向区域)前移(Y坐标反方向)。
第一样本分装组件21从被置于运送通道51的连接区预定吸移位53的样本容器61中吸移样本。第一样本分装组件21吸移的样本吐出到插到供样台15前方(Y坐标反方向)的注样位18的持杯孔15a中的反应杯。
第二样本分装组件22从供杯台15前方(Y坐标反方向)的吸移位19的反应杯或运送通道51连接区预定吸移位54的样本容器61中吸移样本。第二样本分装组件22吸移的样本吐出到插在运杯器32的反应杯中。第二样本分装组件22可以吸移在稀释液运送器33的稀释液。此时,第二样本分装组件22在吸样前先在稀释液吸移位37吸移稀释液,再在吸移位19或54吸移样本。
第一样本分装组件21和第二样本分装组件22一完成分装作业,便分别旋转驱动,使吸移管位于吸移管清洗器38a、38b正上方(原点位置)。然后,这些分装组件再向下(Z坐标反方向)驱动,将吸移管放入吸移管清洗器38a、38b的孔中。于是,第一样本分装组件21和第二样本分装组件22转入待机状态。
第一样本分装组件21和第二样本分装组件22的吸移管每次分装样本都分别放入吸移管清洗器38a、38b清洗一次吸移管内侧和外侧。吸移管内侧的清洗如上所述,通过配置在分装组件上的管向吸移管内供应清洗液,清洗后的清洗液排到吸移管清洗器。吸移管外侧的清洗如上所述,通过将清洗液灌满吸移管清洗器来清洗。
运杯器32当所载反应杯中被吐出样本后,以预定的时间在轨道上向右(X坐标正向)驱动。接着由第一抓取组件26夹住插在运杯器32上的装有样本的反应杯,放在加温台16的持杯孔16a中。
然后,第二抓取组件27夹住插在持杯孔16a中装有样本的反应杯,移到吸移管清洗器38c的正上方区域。在此,第一试剂分装组件23从配置在第一试剂台11或第二试剂台12上的预定试剂容器200内吸移试剂(第一试剂),在吸移管清洗器38c的正上方吐出试剂。于是,当试剂吐出后,第二抓取组件27搅拌此反应杯,并再次插入加温台的持杯孔16a中。
固定在加温台16持杯孔16a中的反应杯由第三抓取组件28夹着移到吸移管清洗器38d的正上方或吸移管清洗器38e的正上方。在此,第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25从配置在第一试剂台11或第二试剂台12上的预定试剂容器200内吸移试剂(第二试剂),分别在吸移管清洗器38d的正上方和吸移管清洗器38e的正上方吐出试剂。于是,当试剂吐出后,第三抓取组件28将注入试剂的反应杯插入检测单元40的固定孔41。此后,在检测单元40,从装在反应杯中的测定试样检测光学信息。
第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25也和第一样本分装组件21、第二样本分装组件22一样,分装作业结束后,便将各吸移管移到吸移管清洗器38c、38d、38e的正上方(原点位置)。然后,将各吸移管放入吸移管清洗器38c、38d、38e,进入待机状态。这些分装组件的吸移管也以与清洗第一样本分装组件21和第二样本分装组件22的吸移管同样的步骤在每次分装不同试剂时进行清洗。
在此,第一试剂分装组件23混合了试剂(第一试剂),第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25也混合了试剂(第二试剂),但根据分析内容,有时不混合第一试剂。此时,上述第一试剂的混合步骤跳过,只进行第二试剂的混合步骤,然后检测光学信息。
检测单元40完成检测后不再需要的反应杯由第三抓取组件28夹着移到废弃口35的正上方,扔进废弃口35。供杯台15持杯孔15a中的反应杯也在分析结束不再需要时,随供杯台15的旋转,到达第二抓取组件27附近。第二抓取组件27夹住持杯孔15a中不要的反应杯,扔进废弃口36。
第二抓取组件27进行弃杯作业时,第一试剂分装组件23从弃杯作业经过线路回避,以免妨碍第二抓取组件27的弃杯作业。比如,当处于第一试剂分装组件23的吸移管放在吸移管清洗器38c中的状态(待机状态)时,第一试剂分装组件23从吸移管清洗器38c适当向上提起,旋转驱动,以免妨碍第二抓取组件27的弃杯作业。
图4A和图4B为说明测定作业中断时更换或追加试剂的操作步骤的附图。图4A为样本或试剂正在进行分装的状态的示图,图4B为测定作业中断时进行试剂更换或追加的状态的示图。
如图4A所示,在样本或试剂正在进行分装的状态下,工作台罩17罩在第一试剂台11、第二试剂台12(以下称“试剂台群”)和供杯台15上面。此时,第一样本分装组件21、第二样本分装组件22、第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24、第三试剂分装组件25(以下称“分装组件群”)通过工作台罩17上的数个孔进行分装。
如图4B所示,当测定作业中断时进行试剂更换或追加时,分装组件群旋转驱动到够不着工作台罩17覆盖区域的位置(以下称“退避位”)。然后,工作台罩17在中央部分翻折。以此如图4B所示,只有试剂台群和供杯台15后方(Y坐标正向)的半圆区域处于工作台罩17覆盖下。虚线部分表示工作台罩17覆盖区域,点划线部分表示工作台罩17未覆盖区域。
此时,工作台罩17未覆盖区域(以下称“更换区”)出现在试剂台群前方(Y坐标反方向)的半圆区域,使用者可以通过此更换区更换或追加试剂。即使用者通过更换区取出第一试剂架13和第二试剂架14,更换或追加试剂后,再将试剂架放回试剂台。或使用者直接对放在试剂架上的试剂容器200更换或追加试剂。
在本实施例,分装组件群的所谓退避位指各分装组件在X-Y平面内旋转驱动,到达图4B所示旋转位置的状态。在此状态下分装组件群中第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25的吸移管在X-Y平面内的位置分别与相应吸移管清洗器在X-Y平面内的位置相同。
在本发明中各分装组件的退避位不仅限于图4B所示退避位,只要在离开从图4B所示开放一侧空间(打开本体机罩29使用者可以伸进手的空间)到上述更换区上方的空间,即使用者更换试剂容器路径R的位置,在哪里都可以。因此,比如第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25也可以退避到除上述更换区上方空间以外的工作台罩17的上方空间。
图5为测定装置2的线路结构图。
测定装置2由控制部件300、试剂条码读取器31、样本条码读取器52、试剂台步进电机组311、分装组件步进电机组312、供杯台步进电机313、加温台步进电机314、抓取组件步进电机组315、试剂台旋转编码器组321、分装组件旋转编码器组322、试剂台原点传感器组331、分装组件原点传感器组332和锁具29b构成。控制部件300包括CPU301、ROM302、RAM303、硬盘304、通信接口305和I/O接口306。
CPU301可执行ROM302存储的计算机程序和下载到RAM303的计算机程序。RAM303用于读取存在ROM302和硬盘304的计算机程序。当执行这些计算机程序时,RAM303还作为CPU301的工作空间使用。硬盘304装有操作系统和应用程序等供CPU301执行的各种计算机程序及其执行计算机程序所用数据。通过通信接口305可以向信息处理装置3传输数据或从信息处理装置3获取数据。
CPU301通过I/O接口306控制试剂条码读取器31、样本条码读取器52、试剂台步进电机组311、分装组件步进电机组312、供杯台步进电机313、加温台步进电机314、抓取组件步进电机组315、试剂台旋转编码器组321、分装组件旋转编码器组322、试剂台原点传感器组331、分装组件原点传感器组332、余量检测部件333以及锁具29b。
试剂台步进电机组311由旋转驱动第一试剂台11的步进电机311a和与第一试剂台11分开旋转驱动第二试剂台12的步进电机311b构成。分装组件步进电机组312由分别独立旋转驱动第一样本分装组件21的支撑部件21a、第二样本分装组件22的支撑部件22a、第一试剂分装组件23的支撑部件23a、第二试剂分装组件24的支撑部件24a和第三试剂分装组件25的支撑部件25a的步进电机312a、312b、312c、312d、312e构成。抓取组件步进电机组315由旋转驱动第一抓取组件26的支撑部件26a的步进电机315a和旋转驱动第二抓取组件27的步进电机315b构成。
试剂台旋转编码器组321由配置在第一试剂台11的步进电机311a上的旋转编码器321a和配置在第二试剂台12的步进电机311b上的旋转编码器321b构成。分装组件旋转编码器组322由分别配置在第一样本分装组件21、第二样本分装组件22、第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25的各步进电机312a、312b、312c、312d、312e上的旋转编码器322a、322b、322c、322d、322e构成。另外,在此使用增量式旋转编码器。此旋转编码器根据步进电机的旋转位移量输出相应脉冲信号,计算旋转编码器输出的脉冲数,就可检测出步进电机的旋转量。
试剂台原点传感器组331由检测第一试剂台11的步进电机311a和第二试剂台12的步进电机311b各自的旋转位置处于原点位置的原点传感器331a、331b构成。分装组件原点传感器组332由分别检测第一样本分装组件21、第二样本分装组件22、第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25的各步进电机312a、312b、312c、312d、312e旋转位置处于原点位置的原点传感器332a、332b、332c、332d、332e构成。
余量检测部件333有液面传感器,用于检测第一试剂台11和第二试剂台12上的试剂容器内试剂的余量。
锁具29b配备在本体机罩29上。锁具29b用于在本体机罩29覆盖测定单元10内部的装置部件时,锁住和打开锁本体机罩29。
图6为信息处理装置3的线路结构图。
信息处理装置3由电脑构成,由本体400、输入设备408和显示器409构成。本体400包括CPU401、ROM402、RAM403、硬盘404、读取装置405、输出输入接口406、图像输出接口407、通信接口410。
CPU401用于执行ROM402存储的计算机程序和下载到RAM403的计算机程序。RAM403用于读取存在ROM402和硬盘404的计算机程序。RAM403在执行这些计算机程序时,还作为CPU401的工作空间使用。
硬盘404装有操作系统和应用程序等供CPU401执行的各种计算机程序以及执行计算机程序所需的数据。即硬盘404中装有接收测定装置2的试剂状态、将试剂余量等信息显示在显示器409上的显示程序和按照试剂更换或追加操作指示操作测定装置2的操作程序。
读取装置405由CD驱动器或DVD驱动器等构成,可读取存储于存储介质的计算机程序及其数据。输出输入接口406上连接由键盘和鼠标构成的输入设备408,用户可以用输入设备408直接向信息处理装置3输入数据。图像输出接口407与由显示屏等构成的显示器409连接,向显示器409输出图像数据相应的映象信号。通信接口410可与测定装置2之间传输数据。
图7为信息处理装置3的显示器409显示画面的例示图。显示在信息处理装置3显示器409的画面有配置显示区510、详细信息显示区520、操作指示显示区530和测定指示显示区540。
配置显示区510显示配置在第一试剂台11和第二试剂台12的第一容器架13和第二容器架14的位置以及试剂容器200的配置状态。
配置显示区510上显示与试剂在第一试剂台11配置状况相应的最多10个第一试剂标识511和与试剂在第二试剂台12配置状况相应的最多30个第二试剂标识512。第一试剂标识511包含表示位置的位置显示区511a和表示试剂名的名称显示区511b。同样,第二试剂标识512包含表示位置的位置显示区512a和表示试剂名的名称显示区512b。
第一试剂标识511的位置显示区511a和第二试剂标识512的位置显示区512a上显示的试剂位置信息是通过试剂条码读取器31读取贴在第一容器架13和第二容器架14的条形码标签而显示的。名称显示区511b和名称显示区512b上显示的试剂名称是通过试剂条码读取器31读取贴在装有试剂的试剂容器200上的条形码标签200a而显示的。即,根据含在条形码标签200a的条码信息,参照存在硬盘404中的试剂参数等在名称显示区511b、512b上显示试剂名称。
第一试剂标识511按照与配置在第一试剂台11上的五个第一容器架13相应的第一容器架标识513分割显示。第二试剂标识512按照与配置在第二试剂台12上的五个第二容器架14相应的第二容器架标识514分割显示。以此,指定试剂配置在哪个试剂台、配置在哪个容器架、配置在哪个位置一目了然。
第一试剂台11和第二试剂台12上未配置容器架时,显示内侧为空的圆形容器架未配置标识515。在第一试剂台11和第二试剂台12配置有容器架但没有配置装试剂的试剂容器200的位置相应区域显示试剂未配置标识516。试剂未配置标识516有表示位置信息的位置显示区516a。
当第一试剂标识511或第二试剂标识512被选择时,详细信息显示区520显示有关所选标识位置上固定的试剂容器200的内容物的详细信息。
操作指示显示区530有数个指示类别按钮531。使用者选择指示类别按钮531,则实施所选指示类别按钮531的相应操作。
测定指示显示区540有测定中断按钮541和测定开始按钮542。使用者一按测定中断按钮541,则进行测定中断处理。当测定中断时,使用者按测定开始按钮542,则实施测定重启处理。测定开始按钮542在可实施时为有效显示,在不可实施时按下测定开始按钮542,则画面上显示信息,通知使用者不可实施。
图8和图9A和图9B为本实施方式涉及的测定中断处理的处理流程图。当使用者通过信息处理装置3下达试剂更换或追加指示时、或在进行测定中按测定中断按钮541时、或者当测定装置2的CPU301发现试剂余量不足时实施测定中断处理。即测定动作的中断在图8的步骤S101,根据使用者是否输入更换或追加试剂指示来判断,在S102根据是否输入测定中断指示来判断。但是,除此之外测定装置2的CPU301判断试剂余量不足时(S1011)也启动S103以后的测定中断处理。此测定中断处理由控制部件300控制实施。试剂的余量不足由图5所示余量检测部件333检测。余量检测部件333用液面传感器检测配置在第一试剂台11和第二试剂台12的试剂容器内的试剂余量,将检测结果输出到CPU301。据此,测定装置2的CPU301了解到各试剂容器内的试剂余量。当测定装置2的CPU301判断试剂余量不足时,最好向使用者发出通知,督促更换试剂。比如,也可以在信息处理装置3的显示器409上显示“试剂余量不足。请更换试剂。”等信息。以此可以迅速更换试剂容器,重开测定。
测定进行中,选择图7所示操作指示显示区530内的“试剂更换·追加”指示类别按钮531,指示更换或追加试剂(步骤S101:是),进入S103。无此指示(S101:否)则处理流程进入S102。另,测定进行中选择图7所示操作指示显示区530内的测定中断按钮541,(步骤S102:是),进入S103。无此指示(S102:否)则处理流程结束。如果在S101下达试剂更换或追加指示或者在S102下达中断指示,则第一样本分装组件21和第二样本分装组件22中止吸移新的样本。
第一样本分装组件21和第二样本分装组件22中止吸移新的样本后,如果向已加样的反应杯添加完试剂(S103:是),则进入S104。当未向已加样反应杯添加完试剂时(S103:否),处理流程等待直至此试剂添加完成。具体而言,向已加样反应杯添加必要的试剂后,该反应杯插入检测单元40的固定孔41时,进入S104。该反应杯插入检测单元40的固定孔41、实施S104以后的处理时,也照样从插在固定孔41的反应杯内的测定试样中检测光学信息。这样,即使测定处理中途中断,也可以防止已分装样本因放置而发生变质。
一旦向已加样反应杯添加完试剂,试剂台群和分装组件群无需再驱动。此时,如上所述,分装组件群被驱动,分别将吸移管放入吸移管清洗器38a~38e,进入待机状态。此时,如上所述,当第二抓取组件27要进行弃杯作业时,第一试剂分装组件23可适当从吸移管清洗器38c抬高,旋转驱动。
在S104,向试剂台群的步进电机311a和311b(参照图5)分别提供脉冲信号,驱动试剂台群旋转,使指定更换或追加试剂的试剂容器位于图4B所示更换区内。当没有指定更换或追加试剂容器而下达了更换或追加试剂指示时,则不向试剂台群的步进电机提供脉冲信号。当测定装置2认为试剂容器的试剂用完时,驱动试剂台群旋转,使此试剂容器位于更换区内。
在S105,向试剂台群的步进电机提供脉冲信号,直至在S104试剂台群被旋转驱动到更换区。根据此时提供的脉冲数更新原点位置到旋转位置相应的脉冲数计数值。此计数值随时在测定装置2的RAM303中更新并存储。这样,移动到更换区的试剂台群的旋转位置就可从存在RAM303的计数值识别。
如果试剂台群被旋转驱动,指定要更换或追加试剂的试剂容器未移动到更换区(S106:否),就进入S110。试剂容器是否移到更换区可通过上述距原点位置的脉冲数计数值是否达到更换区相应值来判断。如果此试剂容器移到更换区(S106:是),则进入S107。在S107分装组件群移动到图4B所示退避位。
在此,参照图10就图8的S107所示“分装组件群移到退避位处理”的处理内容进行说明。
在S201,第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25向上(Z坐标正向)移动一定距离。第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25的吸移管如上所述在图8的S103已放入吸移管清洗器38d、38e。即,在本实施方式中,这些分装组件被置于退避位。在此状态下,这些分装组件向上(Z坐标正向)移动一定距离。如此一来,将不易出现使用者更换或追加试剂时碰触这些分装组件,使吸移管位移而碰到测定装置2底座上的装置等情况。以此可以防止这些分装组件的吸移管受损。
在S202,第一样本分装组件21和第二样本分装组件22向上(Z坐标正向)移动一定距离。于是,这些分装组件的吸移管分别被置于吸移管清洗器38a、38b的正上方。这样,在以后的步骤中,这些分装组件就可以旋转驱动了。
在S203,向第一样本分装组件21的步进电机312a(参照图5)发送脉冲信号,第一样本分装组件21被旋转驱动,移至退避位。
在S204,判断第一试剂分装组件23是否位于退避位。当第一试剂分装组件23位于退避位(S204:是)时,进入S205。如果第一试剂分装组件23不在退避位(S204:否),则进入S207。
第一试剂分装组件23在图8的S103完成向已加样反应杯添加试剂后,原则上将吸移管放入吸移管清洗器38c,进入待机状态。此时,S204判断第一试剂分装组件23位于退避位。然而,如上所述,如果在待机中第二抓取组件27要进行弃杯处理,则第一试剂分装组件23从弃杯作业的路径回避,以免妨碍第二抓取组件27的弃杯作业。此时,S204判断第一试剂分装组件23不在退避位。
当在S204判断第一试剂分装组件23位于退避位时,在S205第一试剂分装组件23向上(Z坐标方向)移动一定距离。如此,与第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25一样,可以防止因更换或追加试剂时碰触而造成第一试剂分装组件23的吸移管受损。
在S206,向第二样本分装组件22的步进电机312b(参照图5)发出脉冲信号,第二样本分装组件22被旋转驱动至退避位。至此“分装组件群的退避位移动处理”结束。
另一方面,当在S204判断第一试剂分装组件23不在退避位时,在S207向第一试剂分装组件23的步进电机312c(参照图5)发出脉冲信号,第一试剂分装组件23被旋转驱动至退避位。此后转入S204。
如此,当第一试剂分装组件23退避后,第二样本分装组件22向退避位移动,这样可以防止第二样本分装组件22和第一试剂分装组件23接触。即,第一试剂分装组件23如上所述旋转驱动以免妨碍第二抓取组件27的弃杯作业,因此,当分装组件群向退避位移动同时开始时,旋转驱动路径相互重叠的第二样本分装组件22和第一试剂分装组件23有可能接触。然而,如上所述,要让第二样本分装组件22位于退避位时,第一试剂分装组件23先移至退避位后,第二样本分装组件22再移向退避位,因此,可以避免这些分装组件相互接触。
返回图8,在S108,当在S107分装组件群移动到退避位时,计数向分装组件群的步进电机312a~312e(参照图5)提供的脉冲数,据此脉冲数更新从原点位置到旋转位置相应的脉冲数计数值。此计数值随时在测定装置2的RAM303中更新并存储。这样,移动到退避位后的分装组件群的旋转位置就可从存在RAM303的计数值识别。
分装组件群移到退避位后(S109:是),进入S112。如果分装组件群没有移到退避位(S109:否),则进入S110。分装组件群是否移到退避位可通过上述距原点的脉冲数计数值是否达到退避位相应值来判断。
在S110,试剂台群移到更换区或分装组件群移到退避位均作为故障状态,向信息处理装置3的显示器409输出故障信息。在S111,为了能够重新开始测定中断处理的处理流程,进行故障修复处理,结束处理流程。
如上所述,试剂台群移到更换区,分装组件群移到退避位后,在S112,本体机罩29解锁,在S113,本体的指示灯亮。据此,使用者知道可以打开测定装置2的机罩,更换或追加试剂。然后,使用者打开测定装置2的机罩29,打开工作台罩17,更换或追加试剂。
使用者更换或追加试剂完成,工作台罩17一关闭(S114:是),便进入S115。只要工作台罩17不关闭(S114:否),处理流程就一直待机至工作台罩17关闭。
然后,工作台罩17一关闭(S114:是),判断使用者是否通过信息处理装置3输入了读取条形码标签的指示(S115)。若输入了读取条形码标签的指示(S115:是),就进入S116,若未输入读取条形码标签的指示(S115:否),则处理流程一直等到输入读取条形码标签的指示。
在此,本体的指示灯亮后(S113)到S116期间(以下称“监视区间”)同时进行以下处理。此处理以100毫秒一次的间隔反复进行。
图9B是监视区间进行处理的流程图。
在S301,将测定装置2的RAM303中储存的标记值设为0。在S302,获取试剂台群旋转编码器组321输出的脉冲数的计数值。在S303,读取S104存储的计数值、即向试剂台群步进电机311a和311b提供的脉冲数的计数值。
比较基于在S302获取的试剂台群旋转编码器组321输出的脉冲数计数值算出的旋转位置和基于S104存储的向试剂台群步进电机311a和311b提供的脉冲数计数值算出的旋转位置,判断试剂台群的旋转位置是否距更换区有变化(S304)。在此,当至少有一个试剂台的旋转位置距更换区有变化时(S304:是),进入S305。即,当判断自从能更换或追加试剂后试剂台群有位移时,进入S305。在S305,标记值设为1,处理流程结束。如果任何试剂台的旋转位置距更换区均无变化时(S304:否),标记值不变为1,结束处理流程。
在监视区间,这种处理以每100毫秒一次的极短间隔反复进行。每次处理进行之中,当使用者的手指等碰触使试剂台群位移时,在相应一次的处理中标记值就变为1。如果在监视区间试剂台群位置毫无变化,则标记值始终为0。
返回图8,在S115判断为是,则在S116判断标记值是否为1。如果标记值为1(S116:是),则进入S117,若标记值非1(S116:否),则进入S119。
在S117,进行第二原点复位处理,进行试剂台群的原点对位。以此调正试剂台群的旋转位置。关于第二原点复位处理,将参照图11C和图11D进行说明。此原点复位作业可以只针对旋转位置相对更换区有变化的试剂台进行,也可以针对所有试剂台进行。
在S118,读取配置在试剂台群上的所有试剂架和试剂容器200的条形码标签。在S119,读取在更换区的所有试剂架和试剂容器200的条形码标签。
图9A是图8所示S118和S119连续处理的流程图。
当使用者按测定指示显示区540内的测定开始按钮542(参照图7),输入重开测定指示时(S120:是),进入S121。若无重开测定指示(S120:否),则处理流程一直等到下达指示。
在S121,闭锁本体机罩。在S122,获取分装组件群的旋转编码器组322输出的脉冲数计数值。在S123,读取在S108存储的计数值、即向分装组件群的步进电机312a~312e提供脉冲数的计数值。
比较基于在S122获取的分装组件群旋转编码器组322输出的脉冲数计数值的旋转位置和基于S108存储的向分装组件群步进电机312a~312e提供的脉冲数计数值的旋转位置,判断分装组件群的旋转位置是否距退避位有变化(S124)。在此,当至少有一个分装组件的旋转位置距退避位有变化时(S124:是),进入S125。即,当判断自从能更换或追加试剂后分装组件群有位移时,进入S125。如果任何分装组件的旋转位距退避位均无变化时(S124:否),进入S126。
在S125,进行第二原点复位处理,进行分装组件群的原点对位。以此调正分装组件群的旋转位置。在S126,进行第一原点复位处理,进行分装组件群的原点对位。以此调正分装组件群的旋转位置。第一原点复位处理比第二原点复位处理更简单地进行原点对位。
即,当使用者更换或追加试剂时接触分装组件群,使分装组件群的旋转位置发生变化时,进行更精确的第二原点复位处理。另一方面,分装组件群的旋转位置无变化时,分装组件群的旋转位置被认为适当,因此,进行可在短时间内完成原点对位的第一原点复位处理。下面参照图11A和图11B就第一原点复位处理进行说明。
在S127,重开测定作业,处理流程结束。
图11A~图11D为第一原点复位处理和第二原点复位处理的处理内容示图。图11A和图11B分别是第一原点复位处理的处理流程及具体处理内容的显示图,图11C和图11D分别是第二原点复位处理的处理流程及具体处理内容的显示图。在图11B和图11D横坐标表示时间,纵坐标表示速度。
首先,参照图11B就梯形驱动和定速驱动进行说明。
所谓梯形驱动如图11B和图11D所示,指步进电机随着时间的推移而加速,达到一定速度后转为匀速,达到一定条件后又随着时间的推移而减速的驱动方式。所谓定速驱动如图11B和图11D所示,指步进电机以一定速度驱动,达到一定条件后停止的驱动方式。
如图11A所示,第一原点复位处理在S11梯形驱动步进电机,步进电机的旋转位置移到接近(near)原点位置。在此,所谓接近原点位置指此后步进电机从接近原点位置转为定速驱动时,步进电机的旋转位置能对准原点位置的位置。步进电机在接近原点位置前的一定旋转位减速。如此,梯形驱动一结束,步进电机的旋转位置就能到达接近原点位置。
步进电机的旋转位置对准接近原点位置后,接着在S12,步进电机定速驱动,最终步进电机的旋转位置对准原点位置。第一原点复位处理如图9A的S126所示,在分装组件群旋转位置无变化时进行。即,分装组件群的旋转位置无变化时,步进电机的位置信息被认为是准确的,故采取可以在更短时间内完成原点对位的第一原点复位处理。
如图11C和图11D所示,第二原点复位处理在S21梯形驱动步进电机,当探知步进电机的旋转位置已通过原点位置(原点探知)时,步进电机减速,然后步进电机反转。
在S22,步进电机朝着与S21的旋转方向相反的方向梯形驱动,再次探知原点时,步进电机减速,接着步进电机反转,并转为定速驱动。
在S23,步进电机向与S22旋转方向相反的方向定速驱动,当再次探知原点时,步进电机的旋转方向反转。此时,步进电机的速度为0的位置正是第一接近原点位置。在此,所谓第一接近原点位置指步进电机从第一接近原点位置开始梯形驱动时,步进电机的旋转位置能对准略同于图11B的接近原点位置的第二接近原点位置的位置。
在S24,步进电机梯形驱动,当探知原点时,步进电机反向旋转。此时,步进电机速度为0的位置为第二接近原点位置。在S25,步进电机定速驱动,最终步进电机的旋转位置对准原点位置。
如此,第二原点复位处理有比第一原点复位处理多的步骤,因此可以更准确地对准原点位置。因此,如图8的S117和图9A的S125所示,在试剂台群和分装组件群的编码值变化时进行。
如上所述,根据本实施方式,测定作业如果中断,分装组件群便移至退避位,从而在试剂台群上方(Z坐标正向)到测定装置2前方形成可进行试剂更换或追加的空间。因此,使用者可以在测定作业中断时不触碰分装组件群,通过图4B所示更换区更换或追加试剂。
而且,根据本实施方式,测定作业若中断,分装组件群便退到图4A所示工作台罩17的区域外侧,以方便使用者更换或追加试剂。因此,也可以让各分装组件在测定时如上所述,达到试剂台群上方(Z坐标正向)到测定装置2前方的空间,从而得以提高配置在试剂台群周围的分装组件群的配置布局自由度。
此外,根据本实施方式,分装组件群到退避位后,本体机罩解锁,因此可以有效防止使用者进行试剂更换或追加作业时碰触到分装组件。
另外,根据本实施方式,第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25的退避位分别与各自分装组件的清洗位相同,因此可以更简便地控制这些分装组件的旋转。
以上就本发明的实施方式进行了说明,但本发明不受上述实施方式的限制。本发明的实施方式除上述外也可以有各种变革。
比如,在上述实施方式,分装组件群的退避位如图4B所示设定,但只要不妨碍使用者更换或追加试剂,退避位可以是任何位置。如也可以预先在装置底座开孔,让一个以上的分装臂下降到该孔。如此可以避免在使用者更换或追加试剂时使用者碰到分装组件群。
在上述实施方式,在退避位的第一试剂分装组件23、第二试剂分装组件24和第三试剂分装组件25的旋转位置分别与各分装组件位于相应吸移管清洗器位置时的旋转位置相同。然而,在退避位的这些分装组件的旋转位置也可以是与位于相应吸移管清洗器时不同的旋转位置。
在上述实施方式,分装组件群的灌注位为清洗各分装组件吸移管的吸移管清洗器38a~38e的正上方区域,但也可以是其他区域。
在上述实施方式,测定中断时,仅分装组件群退到退避位,但也可以让第一抓取组件26、第二抓取组件27和第三抓取组件28也退避到预定退避位。
在上述实施方式,当有试剂更换指示或测定中断指示时,让全部分装组件退到退避位。然而对于不经过更换试剂容器的上述更换区域上方、不会妨碍试剂容器更换作业的分装组件,也可以不移动到退避位。而且对于即使有试剂更换指示或测定中断指示时也不会妨碍试剂容器更换作业的分装组件也可以让其继续分装作业。
在上述实施方式,当在连续测定中收到试剂更换指示或测定中断指示时,让分装组件退到退避位,但当不在连续测定时收到试剂更换指示时,也可以让分装组件退到退避位。比如,测定装置处于待机状态时收到试剂更换指示,也可以让分装组件退到退避位。
在上述实施方式,向已加样反应杯添加必要的试剂,将此反应杯插入检测单元40的固定孔41后,分装组件群移到退避位。然而,不限于此,也可以在已加样反应杯添加必要的试剂后,分装组件群随之移到退避位。
在上述实施方式,当收到重开测定指示时,重新开始中断的测定作业(参照图9A的S120),但也可以当检出测定装置2的本体机罩29已关闭时,自动重启中断的测定作业。
在上述实施方式,覆盖试剂台群的工作台罩17中只有一半能够开合,但也可以使覆盖试剂台群的工作台罩17全部都能开合。比如采取可拆下工作台罩17的结构。
在上述实施方式,当使用者下达更换或追加试剂的指示时或测定装置2认为试剂用完时,实施上述测定中断处理的处理流程。然而,本发明不限于此,比如在测定装置2检出故障而中断测定时,也可以让分装组件群退到图4B所示退避位。
在上述实施方式,样本分析装置1为凝血分析装置,但不限于此。样本分析装置1只要是用试剂测定临床样本的装置即可,比如也可以是测定血清的免疫分析装置、计数全血中血细胞的血细胞计数装置、测定尿液的尿液分析装置或分析骨髓液的分析装置。
在上述实施方式,通过更换区更换或追加试剂,但也可以通过容器更换区进行取出试剂、安放试剂、追加试剂至少其中之一。比如也可以安放和追加试剂在容器更换区域以外进行,取出试剂通过容器更换区进行。或者取出试剂在容器更换区域以外进行,安放和追加试剂在容器更换区进行。
此外,本发明的实施方式在专利要求保护范围所示技术性思想的范围内可适当有各种变更。

Claims (20)

1.一种用试剂测定样本的样本分析装置,包括:
具有吸移和吐出液体的分装管的分装装置;
能够在容器取出区装卸试剂容器的试剂容器固定部件;
接收试剂更换指示的指示接受部件;及
所述指示接受部件收到所述更换指示后控制所述分装装置从所述容器取出区撤出所述分装管的控制部件。
2.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件使所述分装管从所述容器取出区退到不妨碍操作者更换所述试剂容器的退避位。
3.根据权利要求2所述样本分析装置,还包括:
至少覆盖所述分装装置和所述试剂容器固定部件的本体机罩;
其中,所述退避位为所述分装管不妨碍在所述本体机罩打开时从打开一侧空间到所述容器取出区上方空间的所述操作者更换所述试剂容器的更换路径的位置。
4.根据权利要求3所述的样本分析装置,其特征在于:
所述分装装置进行测定作业时,在包括所述更换路径的范围内移动所述分装管进行所述吸移和吐出。
5.根据权利要求3所述的样本分析装置,还包括:
配置在离开所述更换路径的路径外位置的清洗部件,其有一向上打开的开口,用于从所述开口放入所述分装管进行清洗,其中,
所述退避位在所述清洗部件的所述开口上方。
6.根据权利要求2所述的样本分析装置,其特征在于:
所述分装装置能够将所述分装管移到原点位、吸移位、注样位及所述退避位;
所述退避位是与所述原点位不同的位置。
7.根据权利要求1所述的样本分析装置,还包括:
固定反应容器的反应容器固定部件,所述反应容器中装有从样本容器分装的样本;其中,如果在所述反应容器固定部件固定有已加样的所述反应容器时所述指示接受部件收到所述更换指示,则所述控制部件控制所述分装装置在固定在所述试剂容器固定部件上的所述试剂容器中的所述试剂分装到已加样反应容器后,将所述分装管移开所述容器取出区。
8.根据权利要求7所述的样本分析装置,还包括:
检测由所述样本和所述试剂制备的测定试样中所含成分的相关成分信息的检测部件;
将装所述测定试样的反应容器移到所述检测部件的移送部件,其中,当已加入所述测定试样的反应容器由所述移送部件移到所述检测部件后,所述控制部件控制所述分装装置将所述分装管退到所述退避位,当已加入所述测定试样的反应容器由所述移送部件移到所述检测部件时,所述检测部件检测已装所述测定试样的所述反应容器内的所述测定试样中所含成分相关的所述成分信息。
9.根据权利要求3所述的样本分析装置,还包括:
闭锁所述本体机罩的锁具;及
当所述分装管退到所述退避位时,所述控制部件解除所述锁具对所述本体机罩的闭锁。
10.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
配置有与所述分装装置不同的其他分装装置,
当所述指示接受部件收到所述更换指示时,所述控制部件控制所述分装装置在将所述分装装置的分装管从所述容器取出区移开的同时,将所述其他分装装置的分装管也从所述容器取出区移开。
11.根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述分装管是吸移和吐出所述样本的样本分装管或吸移或吐出所述试剂的试剂分装管。
12.根据权利要求2所述的样本分析装置,还包括:
所述分装管退到所述退避位时通知能够进行所述试剂更换的通知部件。
13.一种用试剂测定样本的样本分析装置,包括:
具有吸移和吐出液体的分装管的分装装置;
能够在容器取出区装卸试剂容器的试剂容器固定部件;
检测固定在所述试剂容器固定部件上的所述试剂容器内所述试剂的余量的余量检测部件;及
当根据所述余量检测部件的检测结果判断固定在所述试剂容器固定部件上的所述试剂容器内所述试剂的余量不足时,控制所述分装装置从所述容器取出区移开所述分装管的控制部件。
14.根据权利要求13所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件使所述分装管从所述容器取出区退避到不妨碍操作者更换所述试剂容器的退避位。
15.根据权利要求14所述的样本分析装置,还包括:
至少覆盖所述分装装置和所述试剂容器固定部件的本体机罩,其中,所述退避位为所述分装管不妨碍在所述本体机罩打开时从打开一侧空间到所述容器取出区上方空间的所述操作者更换所述试剂容器的更换路径的位置。
16.根据权利要求15所述的样本分析装置,其特征在于:
所述分装装置进行测定作业时,在包括所述更换路径的范围内移动所述分装管进行所述吸移和所述吐出。
17.根据权利要求15所述的样本分析装置,还包括:
配置在避开所述更换路径的路径外位置的清洗部件,其有一向上打开的开口,用于从所述开口放入所述分装管进行清洗,其中,
所述退避位在所述清洗部件的所述开口上方。
18.根据权利要求14所述的样本分析装置,其特征在于:
所述分装装置能够将所述分装管移到原点位、吸移位、注样位及所述退避位,所述退避位是与所述原点位不同的位置。
19.根据权利要求13所述的样本分析装置,还包括:
通知部件,当根据所述余量检测部件的检测结果判断固定在所述试剂容器固定部件上的所述试剂容器内的所述试剂的余量不足时,发出通知敦促更换所述试剂。
20.一种用试剂测定样本的样本分析装置,包括:
具有吸移和吐出液体的分装管的分装装置;
能够在试剂追加区追加试剂的试剂容器固定部件;
接收试剂追加指示的指示接受部件;及
所述指示接受部件收到所述追加指示后控制所述分装装置从所述试剂追加区移开所述分装管的控制部件。
CN201010234761.5A 2009-08-27 2010-07-23 样本分析装置 Active CN102004156B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009196460A JP5553554B2 (ja) 2009-08-27 2009-08-27 検体分析装置
JP2009-196460 2009-08-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102004156A true CN102004156A (zh) 2011-04-06
CN102004156B CN102004156B (zh) 2015-04-08

Family

ID=43357160

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010234761.5A Active CN102004156B (zh) 2009-08-27 2010-07-23 样本分析装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9157924B2 (zh)
EP (1) EP2290372B1 (zh)
JP (1) JP5553554B2 (zh)
CN (1) CN102004156B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109998597A (zh) * 2018-01-05 2019-07-12 广州莲印医疗科技有限公司 一种胎儿监护传感器管理装置
CN110998335A (zh) * 2017-08-01 2020-04-10 株式会社日立高新技术 自动分析装置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5478360B2 (ja) * 2010-05-20 2014-04-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5808634B2 (ja) * 2011-09-30 2015-11-10 シスメックス株式会社 検体処理装置
JP5805486B2 (ja) * 2011-09-30 2015-11-04 シスメックス株式会社 検体分析装置
JP6026753B2 (ja) * 2012-02-23 2016-11-16 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
WO2016130964A1 (en) 2015-02-13 2016-08-18 Abbott Laboratories Decapping and capping apparatus, systems and methods for use in diagnostic analyzers
CN108430636B (zh) 2015-08-06 2020-11-13 基础科学公司 自动取样机的样本及样本架识别系统
ES2928575T3 (es) * 2017-02-15 2022-11-21 Fujifilm Corp Analizador bioquímico y método para su funcionamiento
JP7133911B2 (ja) * 2017-07-14 2022-09-09 株式会社堀場製作所 検体分析装置
CN109254132B (zh) * 2018-10-12 2023-11-21 中国环境科学研究院 一种模拟池塘生态系统的微宇宙实验装置
CN115244405A (zh) * 2020-03-19 2022-10-25 豪夫迈·罗氏有限公司 自动分析仪

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5827479A (en) * 1996-01-19 1998-10-27 Hitachi, Ltd. Apparatus for analyzing a plurality of analysis items
US6090630A (en) * 1996-11-15 2000-07-18 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for automatically analyzing reaction solutions of samples
CN101097222A (zh) * 2006-06-30 2008-01-02 希森美康株式会社 试样分析仪
CN101097223A (zh) * 2006-06-30 2008-01-02 希森美康株式会社 试样分析仪
CN101126762A (zh) * 2006-08-18 2008-02-20 希森美康株式会社 试样分析仪

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2585741B2 (ja) * 1988-08-26 1997-02-26 株式会社日立製作所 複数項目測定用自動分析装置
JP2886894B2 (ja) * 1989-07-24 1999-04-26 株式会社日立製作所 自動分析装置
JP2834200B2 (ja) * 1989-08-02 1998-12-09 株式会社日立製作所 液体試料の分析装置および分析方法
JP2867619B2 (ja) * 1990-05-31 1999-03-08 株式会社島津製作所 試薬分注装置
JPH0666813A (ja) * 1992-08-17 1994-03-11 Toshiba Corp 自動分析装置
ATE254762T1 (de) * 1998-03-16 2003-12-15 Partec Partikelzaehlgeraete Gm Elektronisches gerät zur präzisen abgabe kleiner flüssigkeitsmengen
JP3584799B2 (ja) * 1999-09-20 2004-11-04 株式会社日立製作所 液体分注装置
US7584019B2 (en) * 2003-12-15 2009-09-01 Dako Denmark A/S Systems and methods for the automated pre-treatment and processing of biological samples
JP5009684B2 (ja) 2006-06-30 2012-08-22 シスメックス株式会社 試料分析装置
JP4817181B2 (ja) * 2006-07-13 2011-11-16 シスメックス株式会社 検体分析装置および識別子読取方法
JP5122797B2 (ja) * 2006-12-06 2013-01-16 株式会社東芝 自動分析装置
JP4916328B2 (ja) * 2007-02-02 2012-04-11 ベックマン コールター, インコーポレイテッド 自動分析装置
JP2008216173A (ja) * 2007-03-07 2008-09-18 Toshiba Corp 自動分析装置
JP4876010B2 (ja) * 2007-03-29 2012-02-15 シスメックス株式会社 検体分析装置および試薬吸引方法
JP4672034B2 (ja) 2008-02-12 2011-04-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP3141576U (ja) * 2008-02-27 2008-05-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP5523723B2 (ja) * 2009-03-13 2014-06-18 株式会社東芝 自動分析装置
JP5441544B2 (ja) * 2009-07-24 2014-03-12 シスメックス株式会社 試料分析装置および準備方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5827479A (en) * 1996-01-19 1998-10-27 Hitachi, Ltd. Apparatus for analyzing a plurality of analysis items
US6090630A (en) * 1996-11-15 2000-07-18 Hitachi, Ltd. Method and apparatus for automatically analyzing reaction solutions of samples
CN101097222A (zh) * 2006-06-30 2008-01-02 希森美康株式会社 试样分析仪
CN101097223A (zh) * 2006-06-30 2008-01-02 希森美康株式会社 试样分析仪
CN101126762A (zh) * 2006-08-18 2008-02-20 希森美康株式会社 试样分析仪

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110998335A (zh) * 2017-08-01 2020-04-10 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN110998335B (zh) * 2017-08-01 2024-01-09 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN109998597A (zh) * 2018-01-05 2019-07-12 广州莲印医疗科技有限公司 一种胎儿监护传感器管理装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2290372A3 (en) 2017-11-15
EP2290372B1 (en) 2018-09-05
US9157924B2 (en) 2015-10-13
JP5553554B2 (ja) 2014-07-16
EP2290372A2 (en) 2011-03-02
US20110053277A1 (en) 2011-03-03
JP2011047793A (ja) 2011-03-10
CN102004156B (zh) 2015-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102004156A (zh) 样本分析装置
CN101963621B (zh) 样本处理装置及样本处理装置的控制方法
JP5600487B2 (ja) 検体分析装置及び液体吸引方法
CN101275965B (zh) 标本分析仪及试剂吸移方法
CN101806806B (zh) 标本分析仪、标本分析方法及计算机系统
JP5178830B2 (ja) 自動分析装置
EP1087231B1 (en) Automatic analysis apparatus
JP5431755B2 (ja) 検体分析装置および検体分析方法
WO2007139212A1 (ja) 自動分析装置
JP2004333259A (ja) 自動分析装置
US20120148447A1 (en) Specimen processing device, specimen conveyance device, and specimen conveyance method
JPWO2007132630A1 (ja) 自動分析装置
US9329193B2 (en) Sample processing apparatus and sample processing method
JP5336555B2 (ja) 検体分析装置
JPH0694729A (ja) 臨床用複合分析装置
JP2010217047A (ja) 自動分析装置とその検体搬送方法
JP2019027954A (ja) 自動分析装置
JP3632537B2 (ja) 自動分析装置及びそれを用いる分析方法
JP7304969B2 (ja) 自動分析装置及び自動分析装置用の制御プログラム
WO2022163275A1 (ja) 分析装置
JP3189586B2 (ja) 自動分析装置
JP5726993B2 (ja) 検体分析装置および検体分析方法
JP3728811B2 (ja) 生化学分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant