CN110998335A - 自动分析装置 - Google Patents

自动分析装置 Download PDF

Info

Publication number
CN110998335A
CN110998335A CN201880048138.5A CN201880048138A CN110998335A CN 110998335 A CN110998335 A CN 110998335A CN 201880048138 A CN201880048138 A CN 201880048138A CN 110998335 A CN110998335 A CN 110998335A
Authority
CN
China
Prior art keywords
reagent
shaped member
rod
reagent dispensing
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201880048138.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110998335B (zh
Inventor
佐佐木俊辅
大草武德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Publication of CN110998335A publication Critical patent/CN110998335A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110998335B publication Critical patent/CN110998335B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01L—CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L3/00—Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware; Droppers
    • B01L3/52—Containers specially adapted for storing or dispensing a reagent
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N35/1002—Reagent dispensers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N2035/00178—Special arrangements of analysers
    • G01N2035/00306—Housings, cabinets, control panels (details)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
    • G01N2035/1027—General features of the devices
    • G01N2035/1048—General features of the devices using the transfer device for another function
    • G01N2035/1058—General features of the devices using the transfer device for another function for mixing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N31/00—Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Clinical Laboratory Science (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

本发明的自动分析装置在使用者接近自动分析装置时容易从装置前面接近装置背面侧并且能减小因接触分注探针等棒状构件而损坏棒状构件的风险。试剂分注机构的臂部(134)的轨道(107t)上配置：试剂吸引位置(136)；试剂喷出位置(137)；试剂分注喷嘴清洗部(138)；以及使试剂分注机构退让的试剂分注机构退让部(139)试剂分注机构退让部(139)配置于自动分析装置上表面盖板，具有：收纳试剂分注机构的喷嘴导向件的喷嘴导向件收纳部；以及收纳试剂分注喷嘴的喷嘴收纳部。试剂分注机构退让部(139)是朝自动分析装置上表面盖板下方突出的圆筒状构件，通过使试剂分注喷嘴位于试剂分注机构退让部(139)的喷嘴收纳部内能防止试剂分注喷嘴与使用者等直接接触。

Description

自动分析装置
技术领域
本发明涉及对血液等样本进行分析的自动分析装置。
背景技术
现有的自动分析装置为了将性能保持在一定水平，要求使用者清扫分注试料或试剂的喷嘴、探针、搅拌试剂的搅拌器。此外，为了搭载试剂瓶，有时要求由使用者将试剂瓶取出插入到自动分析装置内部的试剂保管部。
然而，根据自动分析装置内的单元配置、设置检查室等自动分析装置的环境，有时使用者必须从装置前面接近配置于背面的单元(例如B/F分离单元)。在该情况下，使用者考虑到为使不接触装置前面的单元(例如试剂分注机构)，需要手动使成为障碍的单元避开。在使用者接触单元的情况下，存在损坏单元的风险，需要加以注意地实施作业，以使得不接触装置前面的单元。
因此，专利文献1所记载的技术中，构成为使在更换试剂瓶时成为使用者的作业的障碍的分注探针从试剂瓶的更换区域避开，从而使得使用者能顺利地实施试剂瓶的更换。
也就是说，专利文献1所记载的技术是使用试剂来测定检体的检体分析装置，包括：具备了用于进行检体的吸引及喷出的分注管的分注机构；在上方设置有开放的开口部并且从开口部收纳并清洗分注管的清洗部；在容器取出区域可装拆试剂容器的试剂容器保持部；接收试剂的更换指示的接收单元；以及该接收单元接收到更换指示时，使分注管退让到不会与由操作者进行的从容器取出区域更换试剂容器的更换发生干涉的退让位置的退让单元。而且，分注机构构成为能使分注管移动至吸引检体的吸引位置、喷出检体的喷出位置、以及利用清洗部清洗分注管的清洗位置，退让单元使分注管退让到吸引位置、喷出位置、以及与清洗位置间的分注机构的驱动路径不同的退让位置。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利特许第5553554号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
所述的专利文献1所记载的技术中，通过在更换试剂瓶时，使分注探针从试剂容器取出区域退让至吸引位置、喷出位置、以及与清洗位置间的分注机构的驱动路径不同的退让位置，从而提升到存在于分注探针的移动轨道上的试剂取出区域的访问性。
然而，记载在专利文献1的结构中，未考虑到即使在分注探针移动的退让位置，使用者也可能与分注探针接触，此时存在探针损坏的风险。
本发明的目的是实现一种自动分析装置，在使用者接近自动分析装置时，从装置前面接近装置背面侧变得容易，并且能减小由于接近时接触分注探针等棒状构件而导致棒状构件损坏的风险。
解决技术问题所采用的技术方案
本发明为了达成所述目的，构成如下。
在自动分析装置中，包括：试剂容器保持机构，该试剂容器保持机构对试剂容器进行保持；反应机构，该反应机构使试剂和检体在反应容器内进行反应；分析部，该分析部对所述反应容器内的检体进行分析；检体分注机构，该检体分注机构具有从检体容器吸引检体并喷出至所述反应容器内的检体分注喷嘴；试剂分注机构，该试剂分注机构具有从所述试剂容器吸引试剂并喷出至所述反应容器内的试剂分注喷嘴；试剂搅拌机构，该试剂搅拌机构具有对所述试剂容器内的试剂进行搅拌的搅拌器；上表面盖板，该上表面盖板位于配置有所述试剂容器保持机构、所述反应机构、所述分析部、所述检体分注机构、所述试剂分注机构以及所述试剂搅拌机构的面上；棒状构件退让部，该棒状构件退让部位于所述上表面盖板的下方，并具有收纳棒状构件移动机构的棒状构件的收纳部，所述检体分注机构、所述试剂分注机构以及所述试剂搅拌机构是该棒状构件移动机构；以及控制部，该控制部对所述试剂容器保持机构、所述反应机构、所述分析部、所述检体分注机构、所述试剂分注机构、以及所述试剂搅拌机构的动作进行控制，所述退让部的所述收纳部的垂直方向尺寸大于所述棒状构件的垂直方向尺寸。
发明效果
根据本发明，能实现一种自动分析装置，在使用者接近自动分析装置时，从装置前面接近装置背面侧变得容易，并且能减小由于接近时接触分注探针等棒状构件而导致棒状构件损坏的风险。
附图说明
图1是应用了本发明的实施例1的分注机构退让方式的自动分析装置的简要结构图。
图2是本发明的实施例1的自动分析装置的简要外观立体图。
图3是试剂分注机构的示意图。
图4是本发明的实施例1中的试剂分注机构的轨道和设置在轨道上的单元的示意图。
图5是表示实施例1中的试剂分注机构退让部的主视图、俯视图的图。
图6是表示实施例1中的试剂分注机构退让到试剂分注机构退让部的状态以及喷嘴导向件收纳部的放大图的图。
图7是实施例1中的试剂分注机构的退让动作的流程图。
图8是表示将排水管连接在试剂分注机构退让部的喷嘴收纳部的下部的示例的图。
图9是本发明的实施例2中的试剂分注机构退让部的简要结构图。
图10A是本发明的实施例2中的退让时的试剂分注机构和试剂分注机构退让部的动作流程图。
图10B是本发明的实施例2中的退让时的试剂分注机构和试剂分注机构退让部的动作流程图。
图11是表示本发明的实施例2中的实施特别清洗时的操作部的显示画面例的图。
图12是本发明的实施例3中的具备多个试剂分注机构的自动分析装置的简要结构图。
图13A是本发明的实施例3中的多个试剂分注机构共用试剂分注退让位置时的试剂分注机构退让部的结构说明图。
图13B是本发明的实施例3中的多个试剂分注机构共用试剂分注退让位置时的试剂分注机构退让部的结构说明图。
图14是表示本发明的实施例3中的试剂分注机构退让到试剂分注机构退让部的状态的图。
图15是本发明的实施例4中的从自动分析装置的装置侧面观察到的简要剖视图。
图16是本发明的实施例5中的试剂保冷单元的简要俯视图。
图17是表示将四棱柱状的试剂容器规则地进行配置的示例的图。
图18是本发明的实施例5中的对试剂保冷单元设置试剂分注机构退让部时的简要结构图。
图19是本发明的实施例5中的试剂分注机构退让到试剂分注机构退让部时的动作流程图。
具体实施方式
以下，参照附图对于本发明的实施方式进行说明。
在本实施例中，将自动分析装置作为一个示例进行说明。自动分析装置，例如能例举出生化学自动分析装置、免疫自动分析装置等。然而，这些仅是本发明的一个示例，本发明并不限定于以下说明的实施方式，而是广泛包含使样本与试剂发生反应并基于该反应的结果进行样本的分析的装置。例如，还包含用于临床检查的质量分析装置、测定血液的凝固时间的凝固分析装置等。此外，还能应用于这些装置与生化学自动分析装置、免疫自动分析装置构成的复合系统、或者应用了这些装置的自动分析系统。
实施例
(实施例1)
图1是应用了本发明的实施例1的分注机构退让方式的自动分析装置101的简要结构图。
在图1中，自动分析装置101包括传送支架102的支架传送线103、试剂保冷单元104、恒温箱盘(反应盘)105、样本分注机构(试料分注机构)106、试剂分注机构107、试剂搅拌机构108、消耗品传送机构109、B/F分离单元110、以及检测部单元111。
支架102中收纳有血液、尿等生物样本(样本)的多个样本容器(试料容器)，支架102在收纳有样本容器的状态下在传送线上进行传送。
在作为试剂容器保管部的试剂保冷单元104中，对收纳有用于样本(试料)分析的各种试剂的多种试剂容器112进行收纳、保冷。试剂保冷单元104的上表面的至少一部分被试剂盘盖板113覆盖。试剂盘盖板113的一部分能进行开闭，并能取出插入试剂容器112。
恒温箱盘105具有配置有用于使样本和试剂进行反应的多个反应容器114的反应容器配置部115、将反应容器114的温度调节到希望的温度的温度调节机构(未图示)。样本分注机构106具有旋转驱动机构、上下驱动机构，利用这些驱动机构，能从样本容器吸引样本，将样本移动至收纳于恒温箱盘105的反应容器114上，并将样本分注至反应容器114内。
此外，试剂分注机构107同样具有旋转驱动机构、上下驱动机构，利用这些驱动机构，能从试剂容器112吸引试剂，将试剂移动至收纳于恒温箱盘105的反应容器114上，并将试剂分注至反应容器114内。
试剂搅拌机构108具有旋转驱动机构、上下驱动机构，通过使棒状的搅拌棒(搅拌器)108a旋转从而进行试剂容器112内的试剂搅拌。此外，自动分析装置101具有用于清洗搅拌棒的试剂搅拌棒清洗部161。
消耗品供给机构109将未使用的多个反应容器114或分注针头116从反应容器分注针头收纳容器117传送至恒温箱盘105或样本分注机构106接近的分注针头设置位置118，将装有反应液的反应容器114从恒温箱盘105传送至搅拌机构119。
B/F分离单元110包括：对磁性粒子进行集磁的分离部120；进行反应液的吸引、缓冲液的喷出的B/F分离探针121；清洗B/F分离探针121的B/F分离探针清洗部122；用于使暂时集磁的磁性粒子再分散的B/F分离搅拌部123；以及将设置于恒温箱盘105的反应容器114传送至B/F分离单元110或检测部单元111的传送部124。
检测部单元111包括吸引反应容器114内的反应液的反应液吸引喷嘴125、光电子倍增管或光源灯、分光器、光电二极管，具有调节这些装置的温度的功能，并进行反应液的分析。
并且，自动分析装置101除了以上说明的分析动作部，还包括：试剂保冷单元104、恒温箱盘105、检测部单元111、样本分注机构106、试剂分注机构107、试剂搅拌机构108等、控制自动分析装置101整体的动作的控制部126、以及操作部127。
控制部126例如由硬件基板构成，连接至计算机等控制装置、硬盘等存储装置。操作部127例如由显示器即显示部、鼠标、键盘等输入装置构成。连接至控制部126的控制装置可以通过专用的电路基板构成为硬件，也可以由连接至自动分析装置101的计算机所执行的软件构成。
在由硬件构成的情况下，能通过将执行处理的多个运算器集成到布线基板上、或集成到半导体芯片或封装内来实现。
在由软件构成的情况下，能通过将高速的通用CPU搭载于计算机，并执行用于执行所希望的运算处理的程序来实现。还能利用存储有该程序的存储介质，对现有的装置进行升级。此外，这些装置、电路在计算机之间以有线或无线的网络进行连接，收发适当的数据。
图2是本发明的实施例1的自动分析装置101的简要外观立体图。如图2所示，自动分析装置101包括在上部覆盖自动分析装置101整体的顶盖200、以及对该顶盖200的开闭进行锁定的锁定单元(未图示)，并构成为在顶盖200内的各种单元进行动作期间，无法打开顶盖200。
此外，配置有位于配置有自动分析装置101的试剂保冷单元(试剂容器保持机构)104、恒温箱盘105(反应机构)、检测部单元111(分析部)、样本分注机构106(检体分注机构)、试剂搅拌机构108以及试剂分注机构107的面上的上表面盖板201。该上表面盖板201与试剂保冷单元104的试剂盘盖板113等分离。安装有图2的样本分注机构106的前端部的样本(检体)分注喷嘴106a。
图3是试剂分注机构107的示意图。在图3中，试剂分注机构107包括上下驱动用电动机128；能与机构轴129独立地进行上下动作的轴130；以及连接上下驱动用电动机128和轴130的上下驱动用皮带131，从而能进行试剂分注喷嘴135的上下驱动。
并且，试剂分注机构107包括旋转驱动用电动机132；连接旋转驱动用电动机132和机构轴129的旋转驱动用皮带133，从而能进行试剂分注喷嘴135的旋转驱动。
此外，试剂分注机构107包括：安装于轴130的上部并沿着水平方向延伸的臂部134；形成在臂部134前端的下表面并固定试剂分注喷嘴135的位置的喷嘴导向件(棒状构件导向件)140。喷嘴导向件140具有侧面部140w、底面部140b，试剂分注喷嘴135从底面部140b朝下方延伸。试剂分注喷嘴135通过流路与用于将液体从试剂分注喷嘴135前端吸引或喷出的注射器或泵等压力源相连接。图3所示的示例是试剂分注机构107的驱动方向为θ－Z方向的机构，但也可以使用能在X-Y-Z方向移动的机构。底面部14b的直径为γ。
图4是实施例1中的试剂分注机构107的轨道和设置在轨道上的单元的示意图。
在图4中，由于试剂分注机构107是图3所示的上下驱动机构和旋转驱动机构的组合，能接近设置在臂部134的轨道107t上的多个单元。在臂部134的轨道107t上，配置有：用于从试剂保冷单元104内的试剂容器112吸引试剂的试剂吸引位置136；用于将试剂喷出至恒温箱盘105上的反应容器114的试剂喷出位置137；用于清洗试剂分注喷嘴135的试剂分注喷嘴清洗部138；以及用于试剂分注机构107进行退让的试剂分注机构退让部139。
试剂分注机构退让部139的位置也可以是在通常的试剂分注动作中连接所使用的试剂吸引位置136、试剂喷出位置137、试剂分注喷嘴清洗部138的轨道107t上、或该轨道107t上的外侧。
另外，在图4中试剂吸引位置136、试剂喷出位置137分别仅图示1个，但也可以分别具有多个。
图5是表示实施例1中的试剂分注机构107进行退让的试剂分注机构退让部139的从自动分析装置正面方向观察到的主视图、以及从自动分析装置上部观察到的俯视图的图。试剂分注机构退让部139配置于自动分析装置101的上表面盖板201，并具有：收纳试剂分注机构107的喷嘴导向件140的喷嘴导向件收纳部(棒状构件导向件收纳部)141、以及收纳试剂分注喷嘴135的喷嘴收纳部(棒状构件收纳部)142。
试剂分注机构退让部139是朝上表面盖板201的下方突出的筒状构件。试剂分注机构退让部139的筒状构件内部成为喷嘴收纳部142，通过使试剂分注喷嘴135位于喷嘴收纳部142内，从而能防止试剂分注喷嘴135与使用者等的直接接触。
此外，喷嘴收纳部142的垂直方向的尺寸大于试剂分注喷嘴135的垂直方向的尺寸，从而防止试剂分注喷嘴135的前端部与喷嘴收纳部142的底面接触。
喷嘴导向件140的底面140b的直径γ小于喷嘴导向件收纳部141的上方开口部的直径α，大于喷嘴导向件收纳部141的下方开口部的直径(＝喷嘴收纳部142的底面的直径β)。喷嘴导向件收纳部141的下方开口部成为喷嘴收纳部142的上方开口部，与喷嘴收纳部142连通。喷嘴导向件收纳部141的下方开口部的周边形成环状的水平部(底面部)H。
此外，试剂分注机构退让部139构成为能从自动分析装置101的上表面盖板201拆下。例如，自动分析装置101具备试剂分注机构退让部收纳部，喷嘴导向件收纳部141外壁与试剂分注机构退让部收纳部上部形成有能彼此嵌合地构成的螺丝牙(未图示)，能通过使试剂分注机构退让部139一边旋转一边插入试剂分注机构退让部收纳部，从而固定到自动分析装置101。通过构成为能从上表面盖板201拆下试剂分注机构退让部139，容易地实施试剂分注机构退让部139的清扫。
并且，试剂分注机构退让部139具有如下结构：在试剂分注机构107退让到试剂分注机构退让部139的状态下，即使使用者与臂部134接触，试剂分注喷嘴135也不会与喷嘴收纳部142的内壁面接触。
图6是表示实施例1中的试剂分注机构107退让到试剂分注机构退让部139的状态(图6(A))以及喷嘴导向件收纳部141的放大图(图6(B))的图。
在图6中，试剂分注机构退让部139构成为在试剂分注机构107进行退让的状态下，与喷嘴导向件140的外表面(侧面140w)和喷嘴导向件收纳部141的内壁面之间的间隙(间隙A)相比，试剂分注喷嘴135的侧面和喷嘴收纳部142的内壁面之间的间隙(间隙B)更大(间隙A<间隙B)。
由此，在维护时使用者与臂部134接触的情况下，能通过喷嘴导向件140与喷嘴导向件收纳部141的内壁面相接触，来防止试剂分注喷嘴135与喷嘴收纳部142的内壁面相接触。
此外，喷嘴导向件收纳部141的水平部(底面部)H与喷嘴导向件140的底面部140b之间的间隙(间隙C)构成为小于喷嘴135的前端与喷嘴收纳部142的底面之间的间隙(间隙D)(间隙C<间隙D)。
由此，构成为即使试剂分注喷嘴135在试剂分注机构退让部139中下降到最低时，喷嘴导向件140与喷嘴导向件收纳部141的水平部H相接触，试剂分注喷嘴135的前端也不会接触喷嘴收纳部142的底面。
本实施例1中，对于喷嘴导向件140、试剂分注机构退让部139以及喷嘴导向件收纳部141的从装置上方观察到的截面形状构成为圆形的情况进行说明。然而，喷嘴导向件140及喷嘴导向件收纳部141的从装置上方观察到的截面形状不需要是圆形，只要喷嘴导向件140及喷嘴导向件收纳部141具有相同的截面形状，则截面形状也可以是多边形。
并且，喷嘴收纳部142的截面形状可以与喷嘴导向件140及喷嘴导向件收纳部141的截面形状相同。喷嘴收纳部142的截面形状为多边形的情况下，与喷嘴导向件140的外表面与喷嘴导向件收纳部141内壁面之间的间隙(间隙A)相比，试剂分注喷嘴135与喷嘴收纳部142内壁面最接近的多边形的顶点或者一边的间隙(间隙B)需要构成为更大(间隙A<间隙B)。
接着，用图7对使所述自动分析装置101所具备的试剂分注机构107实施退让动作、使用者实施了自动分析装置101的维护时的示例进行说明。
图7是实施例1中的试剂分注机构107的退让动作的流程图。在图7的步骤S101中，利用显示在操作部127上的按钮或维护用的硬开关来指示试剂分注机构107的退让请求，并且当接收该请求时，控制部126利用锁定单元对顶盖200进行锁定。而且，在步骤S102中，实施试剂分注机构107的机构复位，在步骤S103中使试剂分注机构107移动至与试剂分注机构退让部139不同的起始位置(例如试剂分注喷嘴清洗部138)。起始位置只要不是试剂分注机构退让部139即可以是任何位置，可以是设置在图4所示的试剂分注机构107的轨道上的单元上、或不存在单元的轨道上的特定位置。
并且，在步骤S104中，控制部126使试剂分注机构107旋转，并向试剂分注机构退让部139的上空移动，在步骤S105中使试剂分注机构107下降，使试剂分注机构107收纳到试剂分注机构退让部139。若由使用者进行的B/F分离探针121的清扫等维护结束，则在步骤S106中，再次通过显示在操作部127上的按钮或维护用的硬开关来接收试剂分注机构107的退让解除请求，在S107中试剂分注机构107上升至退让位置上空。而且，在步骤S108中试剂分注机构107朝起始位置旋转，若解除顶盖200的锁定则结束退让动作。
实施例1中说明的自动分析装置101具有与试剂分注机构107相对应的试剂分注机构退让部139，但在有多个试剂分注机构107的情况下，也可以具有多个分别对应的试剂分注退让部139。
此外，也可以在试剂分注机构退让部139连接有对从试剂分注喷嘴135滴下的液体进行排出的排水管。例如，如图8简化示出，构成为在试剂分注机构退让部139的喷嘴收纳部142的下部连接有与自动分析装置101的装置外部连通的排水管144，能将液体排出至自动分析装置101的装置外部。使用者通过将箱体设置在排水管144的正下方，或者将设施管道直接与排水管144连接来处理废液。此外，排水管144也可以构成为在自动分析装置101的内部与从其他单元排出的废液所流过的流路合流，从而将废液排出至自动分析装置101外。
此外，也可以在排水管144的中途具备阀。
在设为将排水管144连接至喷嘴收纳部142的下部的结构、需要清扫试剂分注机构退让部139时，从试剂分注喷嘴135喷出系统水，或者通过使用者将清洗水滴下来清洗喷嘴收纳部142的内壁。由此，能实施清扫而不会从自动分析装置101拆下试剂分注机构退让部139。
此外，在实施例1中，以试剂分注机构107的试剂分注喷嘴135(棒状构件)为例进行说明，但试剂搅拌机构108或样本分注机构106的棒状构件(搅拌器或检体分注喷嘴)也可以具备与试剂分注机构退让部139相同的结构的退让部。在该情况下，也能获得与试剂分注机构退让部139相同的效果。样本分注机构106和试剂搅拌机构108具有与图3所示的试剂分注机构107相同的结构。其中，试剂搅拌机构108安装有棒状的搅拌器来代替试剂分注喷嘴135那样的喷嘴。试剂分注机构107、样本分注机构106、以及试剂搅拌机构108能定义为棒状构件移动机构。
此外，在实施例1中，将试剂分注机构退让部139作为与其他单元独立的结构体来进行说明，但也可以与其他单元成为一体。例如，通过将试剂分注机构退让部139设为与试剂分注喷嘴清洗部138一体的结构体，从而能缩小试剂分注机构107的动作范围，能简化机构的结构。
此外，在实施例1中，示出了在由使用者进行自动分析装置101的清扫时执行退让动作的示例，但也可以在由服务人员进行的各种单元的更换作业时实施退让动作。
根据本发明的实施例1，在实施配置于自动分析装置背面侧的B/F分离单元110或检测部单元111等单元的清扫或维护、各单元更换作业时，配置于自动分析装置101的正面侧的试剂分注机构107朝旋转方向移动，并退让至试剂分注机构退让部139，从而操作者等能容易地接近目标单元。
此外，通过试剂分注机构107朝上下方向移动，并退让至试剂分注机构退让部139，从而能提高清扫等的目标单元的视觉识别性，能安全地实施作业。
并且，利用试剂分注机构退让部139的结构，即使使用者等与位于试剂分注机构退让部139的试剂分注机构107接触，也能减小试剂分注喷嘴135损坏的风险。
也就是说，根据本发明的实施例1，能实现一种自动分析装置，在使用者接近自动分析装置时，从装置前面接近装置背面侧变得容易，并且能减小由于接近时接触分注探针等棒状构件导致棒状构件损坏的风险。
(实施例2)
接着，对于作为实施例1的变形例的实施例2进行说明。
实施例1的试剂分注机构退让部139由收纳试剂分注机构107的臂部134的喷嘴导向件收纳部141、以及收纳试剂分注喷嘴135的喷嘴收纳部142构成，并且构成为在退让后使用者的作业结束并移动至起始位置为止的期间，控制部126不实施各机构的动作。
对此，实施例2中，通过在试剂分注机构107退让时，将清洗液送至喷嘴收纳部142，将试剂分注喷嘴135浸到清洗液中，从而实施试剂喷嘴的特别清洗。
实施例2中除了试剂分注机构退让部139以外的结构都与实施例1相同，因此省略其他结构的图示及详细说明。
用图9对实施例2中的试剂分注机构退让部139的结构进行说明。图9是实施例2中的试剂分注机构退让部139的简要结构图。在图9中，试剂分注机构退让部139包括：收纳试剂分注机构107的喷嘴导向件140的喷嘴导向件收纳部141、以及收纳试剂分注喷嘴135的喷嘴收纳部142。并且，试剂分注机构退让部139包括：排水管144，该排水管144与喷嘴收纳部142的下部相连接，并且排出从试剂分注喷嘴135滴下的液体；排水阀145，该排水阀145配置于该排水管144并且用于储存和排出喷嘴收纳部142的清洗液；供给流路146，该供给流路146为了将清洗液提供到喷嘴收纳部142，而与喷嘴收纳部142的侧面相连接，并与喷嘴收纳部142的内部连通；清洗瓶148，该清洗瓶148收纳清洗液；液体供应源149，该液体供应源149将清洗液从该清洗瓶148经由供给流路146送到喷嘴收纳部142；以及流路阀147，该流路阀147配置于供给流路146，并且对将清洗液提供和停止提供给喷嘴收纳部142进行切换的供给流路阀147。
图10A及图10B是实施例2的退让时的试剂分注机构107和试剂分注机构退让部139的动作流程图。
图10A的步骤S201中，若接收到试剂分注机构107的退让请求，则控制部126实施自动分析装置101的顶盖200的锁定，在步骤S202中实施各机构的复位动作。之后，控制部126在步骤S203中使试剂分注机构107移动至起始位置，接着在步骤S204、S205中使试剂分注机构107退让至试剂分注机构退让部139。
之后，控制部126在步骤S206中关闭排水阀145，在步骤S207中使用液体供应源149，从清洗瓶148吸引清洗液，向喷嘴收纳部142输送一定量的液体。控制部126所具有的存储装置对清洗液的送液结束时刻进行存储。
在步骤S208中控制部126使清洗液被吸引至试剂分注喷嘴135。而且，控制部126在图10B的步骤S209中判断是否有来自使用者的退让解除请求，在存在退让解除请求时，接收该请求，在步骤S210中，询问从控制部126的存储装置所存储的清洗液的送液结束时刻开始经过的时间。在步骤S210中，经过了规定时间的情况下，实施步骤S211之后的动作。在步骤S210中未经过规定时间的情况下，定期地询问经过时间，在经过规定时间后实施S211之后的动作。
控制部126在步骤S211中打开阀145，将清洗液从喷嘴收纳部142排出到排水管144。在完成排出后，控制部126在步骤S212中使试剂分注机构107移动至试剂分注机构退让部139的上空，在步骤S213中使试剂分注机构107向试剂喷嘴清洗部138旋转移动。控制部126在步骤S214中，在试剂喷嘴清洗部138上实施在步骤S208中吸引到的清洗液的喷出和试剂喷嘴135的清洗，结束后，在步骤S215中使试剂分注机构107移动至起始位置(在起始位置为试剂喷嘴清洗部138的情况下不移动)，解除自动分析装置101的顶盖200的锁定，结束退让动作。
这里，特别清洗可以使用与由试剂喷嘴清洗部138使用的清洗液相同的清洗液，也可以使用不同的清洗液。此外，在特别清洗中，通过实施时间比由试剂喷嘴清洗部138清洗时的清洗时间更长时间的清洗，从而能对在由试剂喷嘴清洗部138实施的通常清洗中无法完全清洗的污垢进行清洗。此外，如图11所示，关于特别清洗，也可以在操作部127的显示画面上显示在由使用者请求退让时是否实施特别清洗的选择，并能利用显示画面进行选择。
根据本发明的实施例2，除了能获得与实施例1相同的效果，还能在由使用者进行的维护过程中并行地实施试剂分注喷嘴135的特别清洗，能缩短自动分析装置的维护所需的时间，能减小自动分析装置的停机时间。
(实施例3)
接着，对本发明的实施例3进行说明。实施例3是实施例1和实施例2的变形例，是多个试剂分注机构共有一个退让位置的结构的示例。关于与实施例1和2共通的结构，省略图示及其详细说明。
图12是作为本发明的实施例3的具备多个试剂分注机构的自动分析装置150的简要结构图。除了具备多个试剂分注机构的结构以外的结构与实施例1中所说明的自动分析装置101相同，因此省略说明。
图12所示的示例是X-θ轨道的试剂分注机构的示例。图12中，2个试剂分注机构107及151配置成它们的进行驱动的圆弧轨道107t及151t彼此靠近。在各个试剂分注机构107及151的轨道107t及151t上，配置有：用于从试剂保冷单元104内的试剂容器112及152吸引试剂的试剂吸引位置136及153；用于将试剂喷出至恒温箱盘105上的反应容器114的试剂喷出位置137及154；用于清洗试剂分注喷嘴135的试剂分注喷嘴清洗部138及155；以及用于试剂分注机构107及151进行退让的试剂分注机构退让部139。
试剂分注机构退让部139配置在2个试剂分注机构107及151的圆弧轨道107t及151t相接的场所。由此，2个试剂分注机构107及151能共用1个试剂分注机构退让部139。图12中，对于各个试剂分注机构107及151的试剂吸引位置136、153或试剂喷出位置137、154虽然分别仅图示1个，但也可以分别具有多个。
接着，用图13A、图13B对多个试剂分注机构107及151共用试剂分注退让位置时的试剂分注机构退让部139的结构进行说明。
实施例3中的试剂分注机构退让部139由以下构成：配置在自动分析装置101的上表面盖板201的喷嘴收纳部142、以及能从上表面盖板201拆下地构成的喷嘴导向件收纳部141。
图13A是示出喷嘴导向件收纳部141(图13B)和喷嘴收纳部142(图13A)的结构的图。
在图13B中，喷嘴导向件收纳部141收纳2个圆锥状的喷嘴导向件140，因此具有贯通的2个圆锥孔141a。在图13A中，在喷嘴收纳部142的上部具有呈与喷嘴导向件收纳部141相同的形状的喷嘴导向件收纳部设置部156，喷嘴收纳部142具有椭圆柱状的形状。
由此，具有2个试剂分注机构107、151，试剂分注机构退让部139的喷嘴导向件收纳部具有：一个喷嘴导向件收纳部141，该一个喷嘴导向件收纳部141收纳2个试剂分注机构107、151中的1个试剂分注机构107的试剂喷嘴135的喷嘴导向件140；和另一个喷嘴导向件收纳部141，该另一个喷嘴导向件收纳部141收纳2个试剂分注机构107、151中的另1个试剂分注机构151的试剂喷嘴135的喷嘴导向件140，所述试剂分注机构退让部139的喷嘴收纳部142被2个试剂分注机构107、151各自的分注喷嘴135共用。
图14是表示实施例3中的试剂分注机构107及151退让到试剂分注机构退让部139的状态的图。其中，简化地示出试剂分注机构退让部139与上表面盖板201的关系。
在图14中，为了不使试剂分注机构107及151的试剂分注喷嘴135与喷嘴收纳部142的内壁相接触，试剂分注机构退让部139在试剂分注机构107及151退让的状态下，构成为试剂分注喷嘴135与喷嘴收纳部142内壁面之间的间隙(间隙B)宽于喷嘴导向件140的外表面与喷嘴导向件收纳部141的内壁面之间的间隙(间隙A)(间隙A<间隙B)。
而且，2个试剂分注机构107及151的臂部134彼此的间隙(间隙E)构成为宽于喷嘴导向件140的外表面与喷嘴导向件收纳部141内壁面之间的间隙(间隙A)(间隙A<间隙E)，因此能避免臂部134彼此接触。
本实施例3是以X－θ轨道的试剂分注机构107、151为例进行说明，但也能适用X-Y轨道的试剂分注机构。在该情况下，构成为在2个试剂分注机构彼此的轨道相交的位置或者轨道的起点(终点)相接的位置具备试剂分注机构退让部139。
此外，如图9所示的实施例2那样，实施例3的试剂分注机构107及151具有排水管144、供给流路146等，并能清洗试剂分注机构107及151的各自的试剂分注喷嘴135。
根据本发明的实施例3，除了具有与实施例1和实施例2相同的效果以外，通过多个试剂分注喷嘴(探针)135共用试剂分注机构退让部139，从而不需要具备多个退让部139，能防止由于追加退让部139导致的机构或单元的布局的设计自由度降低。
(实施例4)
接着，对作为本发明的实施例1和实施例2的变形例的实施例4进行说明。
实施例1和实施例2中，对降低由于使用者接触试剂分注机构107导致试剂分注喷嘴135损坏的风险、并且使试剂分注机构退让部139的清扫变得容易的结构进行了说明。
在实施例4中，对于与实施例1和实施例2同样地使试剂分注机构退让部139的清扫变得容易的结构进行说明。
在实施例1中，通过能将试剂分注机构退让部139从上表面盖板201拆下地构成，或者将排水管144连接到试剂分注机构退让部139，从而使试剂分注机构退让部139的清扫变得容易。
用图15对实施例4中的试剂分注机构退让部139进行说明。图15是实施例4中的从自动分析装置101的装置侧面观察到的简要剖视图。其中，简化地示出试剂分注机构退让部139与上表面盖板201、自动分析装置101的其他结构部分。
如图15所示，试剂分注机构退让部139被上下分割成试剂分注机构退让部上部157和试剂分注机构退让部下部158，试剂分注机构退让部下部158是将喷嘴收纳部142的下方部分割而得到的结构。试剂分注机构退让部上部157与自动分析装置101的上表面盖板201一体构成或者能拆下地构成，试剂分注机构退让部下部158构成为能与试剂分注机构退让部上部157独立地从自动分析装置101拆下。
如实施例1所说明的那样，试剂分注机构退让部上部157中，喷嘴导向件收纳部141的外壁与试剂分注机构退让部收纳部上部17形成有能彼此嵌合地构成的螺丝牙(未图示)，能通过使试剂分注机构退让部上部157一边旋转一边插入试剂分注机构退让部收纳部上部157，从而固定到自动分析装置101。
另一方面，试剂分注机构退让部下部158配置于设置在自动分析装置101内的导轨上，构成为能从自动分析装置101的正面、背面、或者侧面引出。
实施例4除了能获得与实施例1相同的效果以外，还能获得通过将试剂分注机构退让部下部158引出到自动分析装置101外，从而能容易地执行试剂分注机构退让部139的清扫这样的效果。
(实施例5)
接着，对于作为实施例1的变形例的实施例5进行说明。
实施例1中，将试剂分注机构退让部139作为与其他单元独立的单元来构成。实施例5中，对在试剂保冷单元104内具备试剂分注机构退让部的结构进行说明。
用图16对在试剂保冷单元104内保持试剂容器112的方法进行说明。图16是实施例5中的试剂保冷单元的简要俯视图。
在图16中，在试剂保冷单元104内保持试剂容器112，具备使试剂容器112移动至目标位置的试剂盘160。试剂盘160将试剂容器112整齐排列并进行保持，整齐排列方法可以是从试剂盘160的中心呈放射状地设置，也可以在试剂盘160内规则地保持。
试剂盘160的试剂容器112的保持结构可以是将试剂容器112设置在具有与试剂容器112的外表面形状相同的形状的孔中的结构，也可以固定在试剂盘160内，以使得不会在试剂盘160旋转时由于离心力等力而导致位置偏移。
在环状的试剂盘160中，将外形为四棱柱状的试剂容器、例如如图17所示的试剂容器112规则地进行配置的情况下，如图16所示地保持试剂容器112的保持结构彼此的一部分互相相邻，但除此以外的部分不相邻而产生空间。对于该空间，通过设置试剂分注机构退让部139，从而能使试剂分注喷嘴(探针)135退让到试剂保冷单元104。
其中，与实施例1不同，试剂分注机构退让部139被分割成2个构成要素，喷嘴导向件收纳部141形成在试剂盘盖板113上的分注口159，喷嘴收纳部142配置在试剂保冷单元104上。
图18是对试剂保冷单元104设置试剂分注机构退让部139时的简要结构图。在图18中，试剂分注喷嘴135在吸引试剂容器112内的试剂时，通过配置在试剂盘盖板113上的分注口159，接近试剂容器112。在试剂分注喷嘴135退让到试剂分注机构退让部139时，也经由分注口159。因此，分注口159具有与实施例1所示的喷嘴导向件收纳部141相同的结构。
此外，即使配置在试剂保冷单元104内的试剂分注机构退让部139的喷嘴收纳部142也具有与实施例1所示的喷嘴收纳部142相同的结构，喷嘴导向件收纳部141和喷嘴导向件140之间的间隙(间隙A)与分注喷嘴135和喷嘴导向件收纳部142的内壁面之间的间隙(间隙B)的关系构成为间隙A<间隙B。
此外，即使试剂喷嘴135在试剂分注机构退让部139中下降到最低时，喷嘴导向件140与喷嘴导向件收纳部142的内壁相接触，喷嘴135的前端不会接触喷嘴收纳部142的底面。也就是说，喷嘴导向件收纳部142的水平部H与喷嘴导向件140的底面部之间的间隙(间隙C)窄于喷嘴135的前端与喷嘴收纳部142的底面之间的间隙(间隙D)(间隙C<间隙D)。
接着，对试剂分注机构107退让至试剂保冷单元104内的试剂分注机构退让部139时的动作流程进行说明。图19是试剂分注机构107退让到试剂分注机构退让部139时的动作流程图。
在图19的步骤S501中，使用者利用显示在操作部127上的按钮或维护用的硬开关来指示试剂分注机构107的退让请求，并且当控制部126接收该请求时，控制部126利用锁定单元对顶盖200进行锁定。而且，在步骤S502中，实施试剂分注机构107的机构复位，在步骤S503中使试剂分注机构107移动至与试剂分注机构退让部139不同的起始位置(例如试剂分注喷嘴清洗部138)。与实施例1相同，起始位置只要不是试剂分注机构退让部139即可以是任何位置，可以是设置在图16所示的试剂分注机构107的轨道上的单元上、或不存在单元的轨道上的特定位置。
并且，在步骤S504中，控制部126驱动试剂盘160的旋转轴160a，使试剂盘160旋转，将喷嘴收纳部142移动至分注口159的正下方。并且，在步骤S505中，使试剂分注机构107旋转，并向分注口159的上空移动，在步骤S506中使试剂分注机构107下降，并使试剂分注机构107收纳到喷嘴导向件收纳部141和喷嘴收纳部142。
之后，若由使用者进行的B/F分离探针121的清扫等维护结束，则在步骤S507，再次通过显示在操作部127上的按钮或维护用的硬开关从使用者接收被请求的试剂分注机构107的退让解除请求。而且，在步骤S508中，使试剂分注机构107上升至分注口159的上空，在步骤S509中实施机构复位，若解除顶盖200的锁定(机构复位)则结束退让动作。
在本发明的实施例5中，除了获得与实施例1相同的效果以外，通过在试剂保冷单元104内设置试剂分注机构退让部139，从而即使在将试剂分注机构107的退让部单独地设置在配置有试剂保冷单元104等单元的部分以外的其他位置的场所无法在自动分析装置101内或试剂分注机构107的轨道上的情况下，也能进行试剂分注机构107的退让。由此，能设置试剂分注机构107的退让部，而不会使自动分析装置101大型化。并且，除了能设置试剂分注机构107的退让部而不会妨碍自动分析装置101的小型化以外，还能使分注机构的机构简化。
另外，在所述的实施例5中，以试剂分注机构107为例进行了说明，但对于试剂搅拌机构108，也可以在试剂保冷单元104内具备与试剂分注机构退让部139相同的结构的试剂搅拌机构退让部。在该情况下，也能获得与试剂分注机构退让部107的退让相同的效果。
此外，在实施例5中，示出了在由使用者进行自动分析装置101的清扫时执行试剂分注机构107的退让动作的示例，但也可以在由服务人员进行的各种单元的更换作业时实施试剂分注机构107的退让动作。
101、150…自动分析装置
102…支架
103…支架传送线
104…试剂保冷单元
105…恒温箱盘
106…样本(检体)分注机构
106a…样本(检体)分注喷嘴
107、151…试剂分注机构
107t…臂部的轨道
108…试剂搅拌机构
108a…搅拌器
109…消耗品传送机构
110…B/F分离单元
111…检测部单元
112、152…试剂容器
113…试剂盘盖板
114…反应容器
115…反应容器配置部
116…分注针头
117…反应容器分注针头收纳容器
118…分注针头设置位置
119…搅拌机构
120…分离部
121…B/F分离探针
122…B/FF分离探针清洗部
123…B/F分离搅拌部
124…传送部
125…反应液吸引喷嘴
126…控制部
127…操作部
128…上下驱动用电动机
129…机构轴
130…轴
131…上下驱动用皮带
132…旋转驱动用电动机
133…旋转驱动用皮带
134…臂部
135…试剂分注喷嘴
136、153…试剂吸引位置
137、154…试剂喷出位置
138、155…试剂分注喷嘴清洗部
139…试剂分注机构退让部
140…喷嘴导向件
141…喷嘴导向件收纳部
141a…圆锥孔
142…喷嘴收纳部
144…排水管
145…排水阀
146…供给流路
147…供给流路阀
148…清洗瓶
149…液体供应源
156…喷嘴导向件收纳部设置部
157…试剂分注机构退让部上部
158…试剂分注机构退让部下部
159…分注口
160…试剂盘
160a…旋转轴
161…搅拌棒清洗部
200…顶盖
201…上表面盖板。

Claims (11)

1.一种自动分析装置，其特征在于，包括：
试剂容器保持机构，该试剂容器保持机构对试剂容器进行保持；
反应机构，该反应机构使试剂与检体在反应容器内进行反应；
分析部，该分析部对所述反应容器内的检体进行分析；
检体分注机构，该检体分注机构具有从检体容器吸引检体并喷出至所述反应容器内的检体分注喷嘴；
试剂分注机构，该试剂分注机构具有从所述试剂容器吸引试剂并喷出至所述反应容器内的试剂分注喷嘴；
试剂搅拌机构，该试剂搅拌机构具有对所述试剂容器内的试剂进行搅拌的搅拌器；
上表面盖板，该上表面盖板位于配置有所述试剂容器保持机构、所述反应机构、所述分析部、所述检体分注机构、所述试剂分注机构以及所述试剂搅拌机构的面上；
棒状构件退让部，该棒状构件退让部位于所述上表面盖板的下方，并具有收纳棒状构件移动机构的棒状构件的收纳部，所述检体分注机构、所述试剂分注机构以及所述试剂搅拌机构是该棒状构件移动机构；以及
控制部，该控制部对所述试剂容器保持机构、所述反应机构、所述分析部、所述检体分注机构、所述试剂分注机构、以及所述试剂搅拌机构的动作进行控制，
所述退让部的所述收纳部的垂直方向尺寸大于所述棒状构件的垂直方向尺寸。
2.如权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述棒状构件移动机构具有沿水平方向延伸的臂部以及形成在该臂部的前端的下表面处的棒状构件导向件，所述棒状构件退让部具有：棒状构件导向件收纳部，该棒状构件导向件收纳部收纳所述棒状构件导向件；棒状构件收纳部，该棒状构件收纳部与所述棒状构件导向件收纳部的下方开口部连通并收纳所述棒状构件，所述棒状构件导向件的底面的直径小于所述棒状构件导向件收纳部的上方开口部的直径，并且大于所述棒状构件导向件收纳部的下方开口部的直径。
3.如权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，
在所述棒状构件移动机构的所述棒状构件收纳于所述棒状构件退让部的所述棒状构件收纳部的状态下，所述棒状构件的侧面与所述棒状构件收纳部内壁面之间的间隙大于所述棒状构件导向件的侧面与所述棒状构件导向件收纳部的内壁面之间的间隙，所述棒状构件的前端与所述棒状构件收纳部的底面之间的间隙大于所述棒状构件导向件的底面与所述棒状构件导向件收纳部的水平部之间的间隙。
4.如权利要求3所述的自动分析装置，其特征在于，
所述棒状构件退让部配置在所述试剂分注机构的移动轨迹上、并且在所述试剂容器保持机构与所述反应机构之间，所述试剂分注机构的试剂分注喷嘴收纳于所述棒状构件收纳部。
5.如权利要求4所述的自动分析装置，其特征在于，
具有排水管，该排水管与所述棒状构件退让部的所述棒状构件收纳部的下部相连接，并与所述自动分析装置的外部连通。
6.如权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，
所述棒状构件退让部包括：排水阀，该排水阀配置于所述排水管，用于对将清洗液储存于所述棒状构件收纳部和从所述棒状构件收纳部排出进行切换；供给流路，该供给流路为了将清洗液提供至所述棒状构件收纳部而连接至所述棒状构件收纳部的侧面，并且与所述棒状构件收纳部的内部连通；清洗瓶，该清洗瓶收纳清洗液；液体供应源，该液体供应源将清洗液从所述清洗瓶经由所述供给流路输送至所述棒状构件收纳部；以及供给流路阀，该供给流路阀配置在所述供给流路上，对将所述清洗液提供至所述棒状构件收纳部和停止将所述清洗液提供至所述棒状构件收纳部进行切换。
7.如权利要求4所述的自动分析装置，其特征在于，
具有2个所述试剂分注机构，所述棒状构件退让部的所述棒状构件导向件收纳部具有一个棒状构件导向件收纳部，该一个棒状构件导向件收纳部对所述2个试剂分注机构中的1个试剂分注机构的试剂分注喷嘴的棒状构件导向件进行收纳；以及另一个棒状构件导向件收纳部，该另一个棒状构件导向件收纳部对所述2个试剂分注机构中的另1个试剂分注机构的试剂分注喷嘴的棒状构件导向件进行收纳，所述棒状构件退让部的所述棒状构件收纳部被所述2个试剂分注机构的各个试剂分注喷嘴共用。
8.如权利要求4所述的自动分析装置，其特征在于，
所述棒状构件退让部被分割成上部和下部，所述下部与所述上部独立并且构成为能从所述自动分析装置拆下。
9.如权利要求3所述的自动分析装置，其特征在于，
所述棒状构件退让部配置在所述试剂分注机构的移动轨迹上、并且在所述试剂容器保持机构内，所述试剂分注机构的试剂分注喷嘴收纳于所述棒状构件收纳部。
10.如权利要求3所述的自动分析装置，其特征在于，
所述棒状构件退让部是所述检体分注机构的退让部，并且所述检体分注机构的所述检体分注喷嘴收纳于所述棒状构件收纳部。
11.如权利要求3所述的自动分析装置，其特征在于，
所述棒状构件退让部是所述试剂搅拌机构的退让部，并且所述试剂搅拌机构的所述搅拌器收纳于所述棒状构件收纳部。
CN201880048138.5A 2017-08-01 2018-06-29 自动分析装置 Active CN110998335B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017-149246 2017-08-01
JP2017149246 2017-08-01
PCT/JP2018/024799 WO2019026498A1 (ja) 2017-08-01 2018-06-29 自動分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110998335A true CN110998335A (zh) 2020-04-10
CN110998335B CN110998335B (zh) 2024-01-09

Family

ID=65233803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201880048138.5A Active CN110998335B (zh) 2017-08-01 2018-06-29 自动分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11446668B2 (zh)
EP (1) EP3663768B1 (zh)
JP (1) JP6841916B2 (zh)
CN (1) CN110998335B (zh)
WO (1) WO2019026498A1 (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220404382A1 (en) * 2019-11-13 2022-12-22 Hitachi High-Tech Corporation Automatic Analyzer
JP7298449B2 (ja) * 2019-11-14 2023-06-27 株式会社島津製作所 血液凝固分析装置、及び分注ノズルの洗浄方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6003531A (en) * 1996-08-21 1999-12-21 Jeol Ltd. Pipette-washing device for automatic biochemical analyzer
CN101324631A (zh) * 2007-06-15 2008-12-17 希森美康株式会社 试样分析仪及试样分析方法
CN101632025A (zh) * 2007-03-14 2010-01-20 奥林巴斯株式会社 清洗装置及自动分析装置
JP2010085097A (ja) * 2008-09-29 2010-04-15 Olympus Corp 分析装置およびプローブ洗浄方法
JP2010160078A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Toshiba Corp 自動分析装置
CN102004156A (zh) * 2009-08-27 2011-04-06 希森美康株式会社 样本分析装置
CN102066949A (zh) * 2008-06-17 2011-05-18 株式会社日立高新技术 自动分析装置
JP2013253993A (ja) * 2013-09-26 2013-12-19 Sysmex Corp 検体分析装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5357893U (zh) * 1976-10-16 1978-05-17
JP2834200B2 (ja) 1989-08-02 1998-12-09 株式会社日立製作所 液体試料の分析装置および分析方法
JPH04166768A (ja) * 1990-10-30 1992-06-12 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置における撹拌装置
JP2950698B2 (ja) 1993-01-11 1999-09-20 株式会社日立製作所 洗浄機能付き自動分析装置
US6815198B2 (en) 2000-04-27 2004-11-09 Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. Apparatus for automated preparation of DNA samples and reactor for preparing DNA samples
US6537434B1 (en) 2000-07-21 2003-03-25 Large Scale Proteomics Corporation First dimension electrophoresis separation method and apparatus
JP2005241442A (ja) 2004-02-26 2005-09-08 Olympus Corp 洗浄装置、洗浄装置を用いた分析装置及び洗浄方法
JP2008058163A (ja) 2006-08-31 2008-03-13 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2008281480A (ja) 2007-05-11 2008-11-20 Olympus Corp ノズル洗浄方法およびノズル洗浄装置ならびに自動分析装置
JP2009041961A (ja) 2007-08-07 2009-02-26 Olympus Corp 液体ハンドリング用プローブの洗浄方法および分析装置
JP5357893B2 (ja) 2007-12-27 2013-12-04 ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション 迅速超長鎖ｐｃｒのための単一酵素系
WO2010013680A1 (ja) * 2008-07-31 2010-02-04 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2010216876A (ja) 2009-03-13 2010-09-30 Beckman Coulter Inc 分析装置および分注プローブ洗浄方法
CN102378915B (zh) 2009-04-09 2014-11-26 株式会社日立高新技术 自动分析装置以及分注装置
US9063107B2 (en) 2009-11-20 2015-06-23 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Apparatus, systems, and methods adapted to rinse and dry clinical analyzer sample probes
JP2011257386A (ja) 2010-05-10 2011-12-22 Toshiba Corp 自動分析装置
US9086395B2 (en) 2010-05-28 2015-07-21 Kabushiki Kaisha Toshiba Automatic analysis apparatus
WO2012105398A1 (ja) 2011-01-31 2012-08-09 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2014228318A (ja) * 2013-05-20 2014-12-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置および自動分析方法
JP6346072B2 (ja) * 2014-11-18 2018-06-20 日本電子株式会社 自動分析装置および自動分析装置における棒状部材の昇降動作方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6003531A (en) * 1996-08-21 1999-12-21 Jeol Ltd. Pipette-washing device for automatic biochemical analyzer
CN101632025A (zh) * 2007-03-14 2010-01-20 奥林巴斯株式会社 清洗装置及自动分析装置
CN101324631A (zh) * 2007-06-15 2008-12-17 希森美康株式会社 试样分析仪及试样分析方法
CN102066949A (zh) * 2008-06-17 2011-05-18 株式会社日立高新技术 自动分析装置
JP2010085097A (ja) * 2008-09-29 2010-04-15 Olympus Corp 分析装置およびプローブ洗浄方法
JP2010160078A (ja) * 2009-01-08 2010-07-22 Toshiba Corp 自動分析装置
CN102004156A (zh) * 2009-08-27 2011-04-06 希森美康株式会社 样本分析装置
JP2013253993A (ja) * 2013-09-26 2013-12-19 Sysmex Corp 検体分析装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3663768A1 (en) 2020-06-10
JP6841916B2 (ja) 2021-03-10
EP3663768B1 (en) 2024-01-10
EP3663768A4 (en) 2021-05-05
WO2019026498A1 (ja) 2019-02-07
CN110998335B (zh) 2024-01-09
US20200164377A1 (en) 2020-05-28
JPWO2019026498A1 (ja) 2020-07-09
US11446668B2 (en) 2022-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6466846B2 (ja) ノズル洗浄方法及び自動分析装置
JP5744923B2 (ja) 自動分析装置
JP7499918B2 (ja) 自動分析装置
CN110998335A (zh) 自动分析装置
EP3422017A1 (en) Automated analysis device and cleaning method
JP6913253B2 (ja) 自動診断分析装置のためのプローブ先端排出デバイスおよびその方法
WO2022244380A1 (ja) 容器廃棄ユニット、およびそれを備えた自動分析装置、並びに自動分析装置での使用済み反応容器の廃棄方法
EP3971583B1 (en) Automatic analyzing device
JP2009236929A (ja) 試料分注機構及びそれを備えた自動分析装置
CN115769079A (zh) 自动分析装置
JP4416763B2 (ja) 自動分析装置
JP7490893B2 (ja) 自動分析装置
JP6991335B2 (ja) 自動診断分析装置のためのプローブ先端廃棄物シュートおよびその方法
WO2024062751A1 (ja) 自動分析装置
JP2006250957A (ja) 自動分析装置
CN115803637A (zh) 自动分析装置
CN113994215A (zh) 自动分析装置
JP2014190809A (ja) 検体分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant