CN101976712A - 一种增强led出光效率的粗化方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种增强LED出光效率的粗化方法,用于对LED的ITO层、P型层、N型层和衬底背面进行纳米级粗化,以提高LED的出光效率,该方法包括:步骤1:在需要粗化的薄膜上旋涂光刻胶;步骤2:用氧等离子体刻蚀该光刻胶,在该需要粗化的薄膜上形成一层纳米尺寸胶点;步骤3:以形成的该纳米尺寸胶点为掩膜刻蚀该需要粗化的薄膜;步骤4:湿法去除光刻胶并清洗,完成薄膜的粗化。本发明提供的这种粗化方法,具有低温、低成本、低污染及与传统的LED工艺相兼容等优点,在LED领域具有广阔的应用前景。
Description
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,尤其是涉及一种增强LED出光效率的粗化方法。
背景技术
由于氮化物基LED具有节能、寿命长、体积小、低电压和环保等优点,所以它将引发照明产业的革命。如同半导体晶体管替代电子管一样,在若干年后,LED作为新光源的固态照明灯,将有机会逐渐取代传统的照明灯而进入每一个角落。
但是,氮化物外延材料的折射率与空气的折射率相差很大,光的出射角很小,绝大部分光被全反射回LED器件内部,导致器件的外量子效率低。采用粗化技术,通过对N型GaN、P型GaN和ITO进行粗化,可以有效提高LED的发光效率。此外相关研究[Nanotechnology,16(2005)1844]表明纳米级的表面粗化比微米粗化更有利于提高发光效率。
目前,主要存在以下几种进行纳米粗化的方法。第一,可以采用光刻技术进行纳米粗化,但由于分辨率的限制,传统的光刻技术很难制备纳米图形衬底,必须借助于分辨率极高的先进光刻技术,例如电子束光刻和极紫外光刻,进行纳米粗化,生产成本很高。第二,公开号为CN 101373714A的专利公开了一种采用金属自组装技术制备纳米级图形衬底的方法,但是需要淀积氧化硅、淀积金属、氮气高温退火等多步工艺,工艺过程比较复杂,此外高温退火工艺对LED外延层质量也会产生不利的影响,因此此工艺不适用于进行P型GaN和ITO的粗化。第三,可以通过旋涂纳米颗粒的方法制备纳米尺度硬掩模,然后进行薄膜材料的粗化,但是,这些材料本身可能对LED生产线造成污染。总之,目前存在的纳米级粗化技术都存在一些问题,迫切需要一种低成本、低温和与传统LED工艺相兼容的纳米级粗化技术。
文献[Nanotechnology,20(2009)445304]中发现,采用氧等离子体干法去胶时在衬底表面很容易形成纳米级胶点,他们利用这一现象并结合侧墙工艺,成功制备出MEMS领域中所需要的各种纳米结构。
本发明提出了可以基于这种现象对LED的ITO层、P型层、N型层和衬底背面进行纳米级粗化,从而达到提高LED的出光效率的目的。这种低成本、低温和与传统LED工艺相兼容的纳米级粗化技术在LED领域具有广阔的应用前景。
发明内容
(一)要解决的技术问题
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种增强LED出光效率的粗化方法,以提高LED的出光效率。
(二)技术方案
为达到上述目的,本发明提供了一种增强LED出光效率的粗化方法,用于对LED的ITO层、P型层、N型层和衬底背面进行纳米级粗化,以提高LED的出光效率,该方法包括:
步骤1:在需要粗化的薄膜上旋涂光刻胶;
步骤2:用氧等离子体刻蚀该光刻胶,在该需要粗化的薄膜上形成一层纳米尺寸胶点;
步骤3:以形成的该纳米尺寸胶点为掩膜刻蚀该需要粗化的薄膜;
步骤4:湿法去除光刻胶并清洗,完成薄膜的粗化。
上述方案中,所述LED包括蓝光LED、紫外LED或绿光LED。
上述方案中,所述衬底为蓝宝石衬底、硅衬底、碳化硅衬底、氮化镓衬底或氮化铝衬底。
上述方案中,步骤1中所述光刻胶为正胶或负胶。
上述方案中,步骤1中所述在需要粗化的薄膜上旋涂光刻胶之后,还包括对该光刻胶进行后烘。
上述方案中,步骤2中所述的纳米尺寸胶点,其尺寸和间距通过刻蚀时间来控制,刻蚀时间越长,纳米胶点尺寸越小,胶点之间的间距越大。
(三)有益效果
本发明提供的这种增强LED出光效率的粗化方法,具有低温、低成本、低污染和与传统的LED工艺相兼容等优点,在LED领域具有广阔的应用前景。
附图说明
图1是本发明提供的增强LED出光效率的粗化方法的流程图;
图2是依照本发明实施例对P型GaN层粗化的制备流程示意图,其中:
图2(a)为在P型GaN层上旋涂光刻胶,并对光刻胶进行后烘;
图2(b)为对旋涂的光刻胶进行氧等离子体干法刻蚀,在P型GaN层上形成一层纳米级胶点;
图2(c)为以形成的胶点为掩膜,干法刻蚀P型GaN层;
图2(d)为湿法去胶清洗,形成所需的P型GaN粗化层。
图2中各层材料情况如下:1为蓝宝石衬底;2为成核层;3为N型GaN层;4为量子阱;5为电子阻挡层;6为P型GaN层;7为光刻胶;8为纳米尺寸胶点。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
如图1所示,图1是本发明提供的增强LED出光效率的粗化方法的流程图,通过这种方法可以对LED的ITO层、P型层、N型层和衬底背面进行纳米级粗化,从而达到提高LED出光效率的目的,该方法包括:
步骤1:在需要粗化的薄膜上旋涂光刻胶;
步骤2:用氧等离子体刻蚀该光刻胶,在该需要粗化的薄膜上形成一层纳米尺寸胶点;
步骤3:以形成的该纳米尺寸胶点为掩膜刻蚀该需要粗化的薄膜;
步骤4:湿法去除光刻胶并清洗,完成薄膜的粗化。
以下实施例以对P型GaN粗化为例并结合附图对本发明作进一步说明。主要包括以下工艺步骤:
1)在衬底上生长LED全结构材料,包括成核层、N型GaN、量子阱、电子阻挡层、P型GaN;
2)在P型GaN层上旋涂光刻胶;并对胶进行后烘,如图2(a)所示;
3)用氧等离子体刻蚀光刻胶,P型GaN层上形成一层纳米尺寸胶点,如图2(b)所示;
4)以形成的胶点为掩膜刻蚀P型GaN层,如图2(c)所示;
5)湿法去胶清洗,完成P型GaN的粗化,如图2(d)所示;
6)最后采用常规工艺完成LED制备。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种增强LED出光效率的粗化方法,用于对LED的ITO层、P型层、N型层和衬底背面进行纳米级粗化,以提高LED的出光效率,其特征在于,该方法包括:
步骤1:在需要粗化的薄膜上旋涂光刻胶;
步骤2:用氧等离子体刻蚀该光刻胶,在该需要粗化的薄膜上形成一层纳米尺寸胶点;
步骤3:以形成的该纳米尺寸胶点为掩膜刻蚀该需要粗化的薄膜;
步骤4:湿法去除光刻胶并清洗,完成薄膜的粗化。
2.根据权利要求1所述的增强LED出光效率的粗化方法,其特征在于,所述LED包括蓝光LED、紫外LED或绿光LED。
3.根据权利要求1所述的增强LED出光效率的粗化方法,其特征在于,所述衬底为蓝宝石衬底、硅衬底、碳化硅衬底、氮化镓衬底或氮化铝衬底。
4.根据权利要求1所述的增强LED出光效率的粗化方法,其特征在于,步骤1中所述光刻胶为正胶或负胶。
5.根据权利要求1所述的增强LED出光效率的粗化方法,其特征在于,步骤1中所述在需要粗化的薄膜上旋涂光刻胶之后,还包括对该光刻胶进行后烘。
6.根据权利要求1所述的增强LED出光效率的粗化方法,其特征在于,步骤2中所述的纳米尺寸胶点,其尺寸和间距通过刻蚀时间来控制,刻蚀时间越长,纳米胶点尺寸越小,胶点之间的间距越大。
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