KR101535852B1 - 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드 - Google Patents
나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101535852B1 KR101535852B1 KR1020140015396A KR20140015396A KR101535852B1 KR 101535852 B1 KR101535852 B1 KR 101535852B1 KR 1020140015396 A KR1020140015396 A KR 1020140015396A KR 20140015396 A KR20140015396 A KR 20140015396A KR 101535852 B1 KR101535852 B1 KR 101535852B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- nanostructure
- substrate
- semiconductor layer
- spherical
- emitting diode
- Prior art date
Links
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 title claims abstract description 86
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 238000013518 transcription Methods 0.000 title abstract description 5
- 230000035897 transcription Effects 0.000 title abstract description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 50
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 24
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 claims abstract description 9
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 claims description 9
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 claims description 9
- -1 polydimethylsiloxane Polymers 0.000 claims description 7
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 claims description 6
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 claims description 6
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 3
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 claims description 3
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000005641 methacryl group Chemical group 0.000 claims description 3
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 claims description 3
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 claims description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 3
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 claims description 3
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 claims description 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N zinc oxide Inorganic materials [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 abstract description 9
- 230000004913 activation Effects 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 36
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 4
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000000609 electron-beam lithography Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000007779 soft material Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/26—Materials of the light emitting region
- H01L33/30—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table
- H01L33/32—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table containing nitrogen
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
- H01L33/22—Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
- H01L33/24—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate of the light emitting region, e.g. non-planar junction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0033—Processes relating to semiconductor body packages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
본 발명은 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 구 모양의 나노구조체 전사를 통해 넓은 면적에 균일하게 나노구조체를 코팅하고 이를 통해 광추출 효율이 극대화된 발광다이오드를 제조하는 방법과 이 방법에 의해 제조된 광추출 효율이 우수한 발광다이오드에 관한 것이다.
본 발명은 제1반도체층, 활성층 및 제2반도체층이 형성된 발광다이오드 제조방법에 있어서,
제1기판 상에 구 모양의 나노구조체를 코팅하는 단계와, 상기 나노구조체가 코팅된 제1기판에서 제2기판으로 나노구조체를 전사하는 단계와, 상기 제2기판에 전사된 나노구조체를 제2반도체층에 전사하는 단계, 및 상기 제2반도체층에 전사된 나노구조체를 마스크로 이용하여 제2반도체층을 건식 에칭하여 요철부를 형성하는 단계를 포함하여 구성된다.
본 발명은 제1반도체층, 활성층 및 제2반도체층이 형성된 발광다이오드 제조방법에 있어서,
제1기판 상에 구 모양의 나노구조체를 코팅하는 단계와, 상기 나노구조체가 코팅된 제1기판에서 제2기판으로 나노구조체를 전사하는 단계와, 상기 제2기판에 전사된 나노구조체를 제2반도체층에 전사하는 단계, 및 상기 제2반도체층에 전사된 나노구조체를 마스크로 이용하여 제2반도체층을 건식 에칭하여 요철부를 형성하는 단계를 포함하여 구성된다.
Description
본 발명은 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 구 모양의 나노구조체 전사를 통해 넓은 면적에 균일하게 나노구조체를 코팅하고 이를 통해 광추출 효율이 극대화된 발광다이오드를 제조하는 방법과 이 방법에 의해 제조된 광추출 효율이 우수한 발광다이오드에 관한 것이다.
백색광원 질화갈륨계 발광다이오드는 에너지 변환 효율이 높고, 수명이 길며, 빛의 지향성이 높고, 저전압 구동이 가능하며, 예열 시간과 복잡한 구동회로가 필요하지 않고, 충격 및 진동에 강하기 때문에 다양한 형태의 고품격 조명 시스템의 구현이 가능해, 가까운 미래에 백열등, 형광등, 수은등과 같은 기존의 광원을 대체할 고체 조명(solid-state lighting) 광원으로 기대되고 있다.
질화갈륨계 발광다이오드가 기존의 수은등이나 형광등을 대체하여 백색광원으로서 쓰이기 위해서는 열적 안정성이 뛰어나야 할 뿐만 아니라 낮은 소비 전력에서도 고출력 빛을 발할 수 있어야 한다.
현재 백색광원으로 널리 이용되고 있는 수평구조의 질화갈륨계 발광다이오드는 상대적으로 제조단가가 낮고 제작 공정이 간단하다는 장점이 있으나, 인가전류가 높고 면적이 큰 고출력의 광원으로 쓰이기에는 부적절하다는 단점이 있다.
이러한 수평구조 발광다이오드의 단점을 극복하고 대면적의 고출력 발광다이오드 적용이 용이한 소자가 수직구조 발광다이오드이며, 수직구조 발광다이오드는 기존의 수평구조 소자와 비교하여 여러 가지 장점이 있다.
예를 들어 수직구조 발광다이오드에서는 전류 확산 저항이 작아 매우 균일한 전류 확산을 얻을 수 있어, 더 낮은 작동 전압과 큰 광출력을 얻을 수 있으며, 열전도성이 좋은 금속 또는 반도체 기판을 통해 원활한 열방출이 가능하기 때문에 보다 긴 소자 수명과 월등히 향상된 고출력 작동이 가능하다.
이러한 수직구조 발광다이오드에서는 최대 인가전류가 수평구조 발광다이오드에 비해 증가하므로 조명용 백색광원으로 널리 이용될 것으로 전망된다.
질화갈륨계 수직형 발광다이오드의 제조에 있어 소자의 광출력을 크게 향상시킬 수 있는 부분은 소자 상부의 n형 반도체층이다.
매끄러운 평면으로 이루어진 n형 반도체층의 굴절률과 대기의 굴절률에 큰 차이가 있기 때문에, 대기/반도체층 계면에서 일어나는 전반사가 발생하여 활성층에서 발생된 빛의 상당부분이 외부로 빠져나올 수 없기 때문에 높은 광출력을 기대할 수 없다.
따라서 n형 반도체층 표면에 대기/반도체층 계면에서 나노구조물을 인위적으로 형성하여 전반사가 일어나는 것을 방지하여 최소한의 손실로 빛을 외부로 빠져나오게 하는 것이 필요하다.
이에 따라 종래에는 n형 반도체 표면을 KOH, NaOH와 같은 염기성 용액을 이용한 습식 식각을 통해 n형 반도체 표면에 피라미드 형태의 나노 구조물을 형성함으로써, 발광다이오드의 광추출을 크게 개선하고 있다.
그런데 습식 식각을 이용한 피라미드 구조물 형성 방법의 경우, 습식 에칭 과정 중에 n형 전극, 전도성 기판, 발광다이오드 메사 구조 등이 손상되는 것을 방지하기 위한 보호막의 형성이 요구될 뿐 아니라, 습식에칭 과정을 통해서는 기술적으로 대면적의 나노구조물을 균일하게 형성하기 어려운 문제점이 있었다.
다른 방법으로는 원형의 나노구조체를 n형 반도체 표면에 코팅 후 건식 식각을 통해 원뿔 형태의 나노 구조물을 형성함으로써 발광다이오드의 광추출을 크게 개선하고 있다.
그런데 원형의 나노구조물을 코팅하는 방법은 넓은 면적에 균일하게 단층으로 코팅하기 어렵고 반복적으로 나노구조물을 형성하기 어려운 문제점이 있었다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 구형의 나노구조체를 발광다이오드 표면에 넓게 단층으로 코팅할 수 있는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드를 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명의 다른 목적은 코팅된 나노구조체를 이용하여 광추출에 매우 효과적인 패턴을 형성할 수 있는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드를 제공하는데 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법은 제1반도체층, 활성층 및 제2반도체층이 형성된 발광다이오드 제조방법에 있어서,
(a) 제1기판 상에 구 모양의 나노구조체를 코팅하는 단계;
(b) 상기 나노구조체가 코팅된 제1기판에서 제2기판으로 나노구조체를 전사하는 단계;
(c) 상기 제2기판에 전사된 나노구조체를 제2반도체층에 전사하는 단계; 및
(d) 상기 제2반도체층에 전사된 나노구조체를 마스크로 이용하여 제2반도체층을 건식 에칭하여 요철부를 형성하는 단계; 를 포함하여 구성된다.
또한, 상기 구 모양의 나노구조체는 SiO2, ZnO, Al203, MgO, TiO2, SnO2, TiO2, In2O3, CuO 중 적어도 어느 하나의 산화물을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 구 모양의 나노구조체는 폴리스티렌(polystyrene), PMMA(Polymethyl Methacryl), PVA(Polyvinyl alcohol) 중 적어도 어느 하나의 유기화합물을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 구 모양의 나노구조체의 직경은 100nm ~ 3㎛인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 구 모양의 나노구조체는 서로 다른 직경을 갖는 2 종 이상의 것이 혼합된 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 (a)단계 전에 상기 제1기판을 표면 처리하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1기판의 표면처리는 피라나(piranah), 산소 플라즈마, 자외선 오존 처리 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제2기판은 PDMS(polydimethylsiloxane), PMMA, 폴리이미드, 폴리카보네이트 중 적어도 어느 하나의 화합물을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 (b)단계와 (c)단계에서 압력을 가하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 (b)단계와 (c)단계에서 80 ~ 150℃의 온도를 가하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 요철부는 원뿔형인 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 발광다이오드는 상술한 어느 하나에 의해 제조된 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 발광다이오드는 제1반도체층 상에 활성층 및 제2반도체층이 순차적으로 형성되는 수직 발광다이오드인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1반도체층과 제2반도체층은 질화갈륨으로 이루어진 것을 특징으로 한다.
그리고 상기 제2반도체층이 N-face를 갖는 n형인 것을 특징으로 한다.
상술한 과제의 해결 수단에 의하면, 종래의 평편한 n형 반도체 표면을 가지는 수직 발광다이오드에 비해 광출력을 3 배 이상 증가할 수 있고, 종래 광추출에 가장 효과적으로 알려진 습식 식각과 동일한 광추출 결과를 나타내기 때문에, 고출력 발광다이오드에 적합하게 사용될 수 있다.
또한, 현재 널리 사용되고 있는 질화갈륨계 발광다이오드의 제조공정에 즉시 적용할 수 있고, 수직형뿐만 아니라 수평형 발광다이오드 구조에도 적용할 수 있다.
또한, 제조단가가 높고 대면적 웨이퍼 공정에의 적용이 어려운 전자선 리소그라피 패터닝을 사용하지 않고, 건식 에칭 조건 변화에 의해 다양한 형태의 나노구조물을 형성할 수 있어, 대면적 적용, 제조단가의 절감, 공정시간 단축 등의 효과를 얻을 수 있다,
도 1은 본 발명에 따른 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법을 나타내는 순서도이다.
도 2 내지 도 9는 도 1에 나타낸 발광다이오드 제조공정을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 1에 의해 제2반도체층에 코팅된 구 모양의 나노구조체의 직경에 따른 주사전자현미경(SEM) 사진이다.
도 11은 도 10에 나타낸 직경이 다른 구 모양의 나노구조체를 건식에칭을 통해 형성한 나노구조물을 보여주는 주사전자현미경(SEM) 사진이다.
도 2 내지 도 9는 도 1에 나타낸 발광다이오드 제조공정을 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 1에 의해 제2반도체층에 코팅된 구 모양의 나노구조체의 직경에 따른 주사전자현미경(SEM) 사진이다.
도 11은 도 10에 나타낸 직경이 다른 구 모양의 나노구조체를 건식에칭을 통해 형성한 나노구조물을 보여주는 주사전자현미경(SEM) 사진이다.
이하에서는, 본 발명의 바람직한 실시예에 기초하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명한다. 그러나 하기 실시예는 본 발명의 이해를 돕기 위한 일 예에 불과한 것으로 이에 의해 본 발명의 권리범위가 축소 및 한정되는 것은 아니다.
본 발명에 있어서, '구(sphere) 모양'이란 한 점에서 같은 거리에 있는 모든 점으로 이루어진 입체 모양이라는 수학적 정의의 구뿐 아니라, 외견상 둥글게 생긴 형상의 것을 모두 포괄하는 의미로 사용한다.
도 1은 본 발명에 따른 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법을 나타내는 순서도이고, 도 2 내지 도 9는 도 1에 나타낸 발광다이오드 제조공정을 설명하기 위한 도면이다.
먼저 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 예를 들어 스핀 코터(spin coater)를 이용하여 구 모양의 나노구조체(20)를 제1기판(10) 표면에 떨어뜨려 놓은 후 스핀 코팅을 한다(S104).
이때 구 모양의 나노구조체(20)는 산화물 예를 들어 실리카(SiO2), ZnO, Al203, MgO, TiO2, SnO2, TiO2, In2O3, CuO으로 이루어질 수도 있다.
또한, 구 모양의 나누구조체(20)는 폴리스티렌(polystyrene), PMMA(Polymethyl Methacryl), PVA(Polyvinyl alcohol) 등의 유기화합물로 이루어질 수도 있다.
또한, 구 모양의 나노구조체(20) 직경은 100㎚ ~ 3㎛인 것이 바람직하다.
상기 구 모양의 나노구조체(20) 직경이 100㎚ 미만인 경우 나노구조체 사이의 응집력이 강해져서 형성하기 힘들고, 반대로 3㎛ 이상인 경우 이후 공정인 건식에칭을 행한 후 패턴의 크기가 너무 커서 제2반도체층이 반도체로서의 기능을 상실할 수 있다.
또한, 상기 구 모양의 나노구조체(20)는 서로 다른 직경을 갖는 2종 이상의 것이 혼합될 수도 있다.
또한, 상기 제1기판(10)에 구 모양의 나노구조체(20)를 코팅하기 전에, 제1기판(10)의 표면을 친수성 개질로 균일하게 만들어 구 모양의 나노구조체(20)가 균일하게 코팅되도록 하기 위해 제1기판(10)을 표면 처리할 수도 있다(S102).
이때 제1기판(10)의 표면처리는 예를 들어 피라나(piranah) 처리, 산소 플라즈마 처리, 자외선 오존 처리 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
다음 도 1 및 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 전사용 제2기판(30)을 구 모양의 나노구조체(20)가 코팅된 제1기판(10) 상에 위치하고 소정의 온도를 가해주면서 0.1 x 105 ~ 1 x 105pa의 압력을 가해 나노구조체(20)를 다른 제2기판(30)에 전사한다(S106).
상기 제2기판(20)은 제1기판(10)보다 소프트(soft)한 재질 예를 들어, PDMS(polydimethylsiloxane), PMMA, 폴리이미드(Polyimide), 폴리카보네이트(polycarbonate) 중 적어도 하나 이상의 화합물로 이루어질 수 있다.
상기 소정의 온도는 80 ~ 150℃인 것이 바람직하다.
즉, 80℃ 미만인 경우에는 구 모양의 나노구조체(20)와 제1기판(10) 사이에 결합을 끊기가 어려워 부분적인 구 모양의 나노구조체(20) 전사가 원활히 이루어지지 않고, 150℃ 이상인 경우에는 PDMS 등 플라스틱 재질로 이루어진 제2기판(30)의 변형이 야기될 수 있다.
이와 같은 전사에 의해 구 모양의 나노구조체(20)는 단층으로 제2기판(20)에 균일하게 형성할 수 있다.
다음 도 1 및 도 6 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 구 모양의 나노구조체(20)가 전사된 제2기판(30)을 예를 들어 수직 발광다이오드(50)의 제2반도체층(58) 상에 위치하여 소정의 온도를 가해주면서 0.1 x 105 ~ 1 x 105pa의 압력을 가해 나노구조체(20)를 제2반도체층(58)에 전사한다(S108).
상기 수직 발광다이오드(50)는 전도성 기판(52) 상에, 제1반도체층(54), 활성층(56) 및 제2반도체층(58)이 순차적으로 형성되어 이루어진다.
또한, 상기 제1반도체층(54)과 제2반도체층(58)은 질화갈륨(GaN)으로 이루어질 수 있다.
상기 전사시 소정의 온도는 전술한 바와 같이 80 ~ 150℃인 것이 바람직하다.
이와 같은 전사에 의해 구 모양의 나노구조체(20)는 질화갈륨으로 이루어진 제2반도체층(58)에 단층으로 균일하게 형성된다.
도 10은 도 1에 의해 제2반도체층에 코팅된 구 모양의 나노구조체의 직경에 따른 주사전자현미경(SEM) 사진으로, 직경이 150nm, 300nm, 400nm, 500nm, 1㎛인 나노구조체가 균일하게 형성됨을 알 수 있다.
이상에서는 수직 발광다이오드(50)의 제2반도체층(58)에 나노구조체(20)를 전사하는 것을 예를 들어 설명하였으나, 수평 발광다이오드의 반도체층에도 전사할 수 있음은 물론이다.
다음 도 1 및 도 8 내지 도 9에 도시된 바와 같이, 제2반도체층(58)에 코팅된 구 모양의 나노구조체(20)를 마스크로 이용하여 제2반도체층(58) 표면을 건식 에칭하여 요철부를 갖도록 한다(S110).
즉, 구 모양의 나노구조체(20)가 코팅된 질화물반도체 표면 즉 제2반도체층(58) 표면을 ICP(Inductive Coupled Plasma) 식각장비를 이용하여 건식 에칭을 통해 요철부, 예를 들어 원뿔 모양의 나노구조물(60)을 형성한다.
도 11은 도 10에 나타낸 직경이 다른 구 모양의 나노구조체를 건식에칭을 통해 형성한 나노구조물을 보여주는 주사전자현미경(SEM) 사진으로, 원뿔형태의 나노구조물(60)이 형성된 것을 알 수 있다.
<실시예>
먼저, 구형의 나노구조체(20)를 코팅할 제1기판(10)으로 ITO가 코팅된 유리를 사용한다.
이때 구형의 나노구조체(20)가 코팅이 잘되고 UVO(자외선 오존) 처리를 통해 친수성을 가질 수 있도록 제1기판(10)을 표면 처리한다(S102).
상기 제1기판(10) 상에 실리카(SiO2)로 이루어진 구 모양의 나노구조체를 스핀코팅 방법을 이용하여 코팅하고(S104), PDMS로 이루어진 제2기판(30) 상에 압력과 온도를 가하면서 구 모양의 나노구조체(20)를 전사한다(S106).
상기 PDMS로 이루어진 제2기판(30)에 전사된 나노구조체(20)를 압력과 온도를 가하면서 수직 발광다이오드(50)의 제2반도체층(58) 상에 전사하고(S108), 전사된 구 모양의 나노구조체(20)를 마스크로 하여 ICP 식각장비를 이용해 건식 에칭을 진행하여 원뿔 형태의 나노구조물(60)을 형성한다(S110).
본 발명에서 상기 제2반도체층은 N면(face)을 갖는 n형이다.
마지막으로 전극형성 공정(S112)은 공지의 리소그라피 방법을 이용하여 패턴을 형성한 이후 Cr/Au을 전자선 증착법으로 사용하여 n형 전극을 형성한다.
종래 매끈한 표면의 반도체 기판의 경우, 질화갈륨 반도체 기판의 굴절률(n~2.5)과 대기의 굴절률(n=1)이 크게 다르기 때문에 전반사에 대한 임계각이 23.5°에 불과하다.
이에 따라 반도체 내부에서 발생한 빛이 외부로 빠져나오지 못하고, 내부에서 소멸하여 광추출 효율이 낮은 문제점이 있다.
반면에 본 발명에 의하면, 제2반도체층(58) 표면에 원뿔 형태의 나노구조물(60)이 형성되어 내부에서 발생한 빛이 대기 중으로 방출될 확률이 급격하게 증가하여 수직 발광다이오드(50)의 광추출 효율을 크게 향상시킬 수 있다.
이상에서 본 발명에 대한 기술 사상을 첨부 도면과 함께 서술하였지만, 이는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한, 이 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 누구나 본 발명의 기술 사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다.
10: 제1기판 20: 나노구조체
30: 제2기판 50: 발광다이오드
60: 나노구조물
30: 제2기판 50: 발광다이오드
60: 나노구조물
Claims (15)
- 제1반도체층, 활성층 및 제2반도체층이 형성된 발광다이오드 제조방법에 있어서,
(a) 제1기판 상에 구 모양의 나노구조체를 코팅하는 단계;
(b) 상기 나노구조체가 코팅된 제1기판에서 제2기판으로 나노구조체를 전사하는 단계;
(c) 상기 제2기판에 전사된 나노구조체를 제2반도체층에 전사하는 단계; 및
(d) 상기 제2반도체층에 전사된 나노구조체를 마스크로 이용하여 제2반도체층을 건식 에칭하여 요철부를 형성하는 단계; 를 포함하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 구 모양의 나노구조체는 SiO2, ZnO, Al203, MgO, TiO2, SnO2, TiO2, In2O3, CuO 중 적어도 어느 하나의 산화물을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 구 모양의 나노구조체는 폴리스티렌(polystyrene), PMMA(Polymethyl Methacryl), PVA(Polyvinyl alcohol) 중 적어도 어느 하나의 유기화합물을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 구 모양의 나노구조체의 직경은 100nm ~ 3㎛인 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 구 모양의 나노구조체는 서로 다른 직경을 갖는 2 종 이상의 것이 혼합된 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 (a)단계 전에 상기 제1기판을 표면 처리하는 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제6항에 있어서,
상기 제1기판의 표면처리는 피라나(piranah), 산소 플라즈마, 자외선 오존 처리 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 제2기판은 PDMS(polydimethylsiloxane), PMMA, 폴리이미드, 폴리카보네이트 중 적어도 어느 하나의 화합물을 포함하는 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 (b)단계와 (c)단계에서 압력을 가하는 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 (b)단계와 (c)단계에서 80 ~ 150℃의 온도를 가하는 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 제1항에 있어서,
상기 요철부는 원뿔형인 것을 특징으로 하는 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법. - 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140015396A KR101535852B1 (ko) | 2014-02-11 | 2014-02-11 | 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드 |
US15/118,079 US20160372634A1 (en) | 2014-02-11 | 2015-02-06 | Light-emitting diode production method using nanostructure transfer, and light-emitting diode obtained thereby |
PCT/KR2015/001222 WO2015122652A1 (ko) | 2014-02-11 | 2015-02-06 | 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140015396A KR101535852B1 (ko) | 2014-02-11 | 2014-02-11 | 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101535852B1 true KR101535852B1 (ko) | 2015-07-13 |
Family
ID=53793045
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140015396A KR101535852B1 (ko) | 2014-02-11 | 2014-02-11 | 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20160372634A1 (ko) |
KR (1) | KR101535852B1 (ko) |
WO (1) | WO2015122652A1 (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019005031A1 (en) * | 2017-06-28 | 2019-01-03 | Intel Corporation | GROUP III POLAR NITRIDE HETERONJUNCTION DIODES |
US11373995B2 (en) | 2017-09-29 | 2022-06-28 | Intel Corporation | Group III-nitride antenna diode |
US11545586B2 (en) | 2017-09-29 | 2023-01-03 | Intel Corporation | Group III-nitride Schottky diode |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10886437B2 (en) | 2016-11-03 | 2021-01-05 | Lumileds Llc | Devices and structures bonded by inorganic coating |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090114653A (ko) * | 2008-04-30 | 2009-11-04 | 성균관대학교산학협력단 | 액상 증착 기술을 이용한 나노구조체의 제조방법 및 그에의해 제조된 나노구조체 |
KR20110013047A (ko) * | 2009-07-31 | 2011-02-09 | 고려대학교 산학협력단 | 나노 공동을 포함하는 전도성 기판의 제조 방법, 나노 공동을 포함하는 표시 패널과 태양 전지 및 이의 제조 방법 |
KR20120084838A (ko) * | 2011-01-21 | 2012-07-31 | 포항공과대학교 산학협력단 | 발광다이오드 제조방법 및 이에 의해 제조된 발광다이오드 |
KR20130131348A (ko) * | 2010-10-28 | 2013-12-03 | 레이브 엔.피., 인크. | 통합형 기판 세정 시스템 및 방법 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7265374B2 (en) * | 2005-06-10 | 2007-09-04 | Arima Computer Corporation | Light emitting semiconductor device |
WO2007117698A2 (en) * | 2006-04-07 | 2007-10-18 | Qd Vision, Inc. | Composition including material, methods of depositing material, articles including same and systems for depositing material |
TWI338387B (en) * | 2007-05-28 | 2011-03-01 | Delta Electronics Inc | Current spreading layer with micro/nano structure, light-emitting diode apparatus and its manufacturing method |
KR101097878B1 (ko) * | 2009-02-11 | 2011-12-23 | 전북대학교산학협력단 | 질화물계 반도체 발광 소자의 제조 방법 |
KR101130363B1 (ko) * | 2010-06-09 | 2012-03-27 | 고려대학교 산학협력단 | 발광 다이오드 소자 및 그 제조방법 |
KR101731056B1 (ko) * | 2010-08-13 | 2017-04-27 | 서울바이오시스 주식회사 | 오믹 전극 구조체를 갖는 반도체 발광 소자 및 그것을 제조하는 방법 |
KR101215299B1 (ko) * | 2010-12-30 | 2012-12-26 | 포항공과대학교 산학협력단 | 나노 임프린트 몰드 제조방법, 이 방법에 의해 제조된 나노 임프린트 몰드를 이용한 발광다이오드 제조방법 및 이 방법에 의해 제조된 발광다이오드 |
KR20120077534A (ko) * | 2010-12-30 | 2012-07-10 | 포항공과대학교 산학협력단 | 나노 구조체를 이용한 발광다이오드 제조 방법과 이에 의해 제조된 발광다이오드 |
US8723159B2 (en) * | 2011-02-15 | 2014-05-13 | Invenlux Corporation | Defect-controlling structure for epitaxial growth, light emitting device containing defect-controlling structure, and method of forming the same |
WO2012138992A2 (en) * | 2011-04-06 | 2012-10-11 | The Trustees Of The University Of Pennsylvania | Design and manufacture of hydrophobic surfaces |
KR20130009399A (ko) * | 2011-07-15 | 2013-01-23 | 포항공과대학교 산학협력단 | 발광다이오드용 기판의 제조방법, 이에 의해 제조된 발광다이오드용 기판 및 이 발광다이오드용 기판을 구비한 발광다이오드의 제조방법 |
SG10201605287QA (en) * | 2012-12-27 | 2016-08-30 | Agency Science Tech & Res | Vertical light emitting diode with photonic nanostructures and method of fabrication thereof |
-
2014
- 2014-02-11 KR KR1020140015396A patent/KR101535852B1/ko active IP Right Grant
-
2015
- 2015-02-06 WO PCT/KR2015/001222 patent/WO2015122652A1/ko active Application Filing
- 2015-02-06 US US15/118,079 patent/US20160372634A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090114653A (ko) * | 2008-04-30 | 2009-11-04 | 성균관대학교산학협력단 | 액상 증착 기술을 이용한 나노구조체의 제조방법 및 그에의해 제조된 나노구조체 |
KR20110013047A (ko) * | 2009-07-31 | 2011-02-09 | 고려대학교 산학협력단 | 나노 공동을 포함하는 전도성 기판의 제조 방법, 나노 공동을 포함하는 표시 패널과 태양 전지 및 이의 제조 방법 |
KR20130131348A (ko) * | 2010-10-28 | 2013-12-03 | 레이브 엔.피., 인크. | 통합형 기판 세정 시스템 및 방법 |
KR20120084838A (ko) * | 2011-01-21 | 2012-07-31 | 포항공과대학교 산학협력단 | 발광다이오드 제조방법 및 이에 의해 제조된 발광다이오드 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019005031A1 (en) * | 2017-06-28 | 2019-01-03 | Intel Corporation | GROUP III POLAR NITRIDE HETERONJUNCTION DIODES |
US11373995B2 (en) | 2017-09-29 | 2022-06-28 | Intel Corporation | Group III-nitride antenna diode |
US11545586B2 (en) | 2017-09-29 | 2023-01-03 | Intel Corporation | Group III-nitride Schottky diode |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2015122652A1 (ko) | 2015-08-20 |
US20160372634A1 (en) | 2016-12-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI528584B (zh) | 製造供高效率氮化物系發光二極體用之奈米圖案化基材之方法 | |
KR101233062B1 (ko) | 나노 급 패턴이 형성된 고효율 질화물계 발광다이오드용 기판의 제조방법 | |
KR101535852B1 (ko) | 나노구조체 전사를 이용한 발광다이오드 제조방법과 그 발광다이오드 | |
CN106206895A (zh) | 一种具有双电流扩展层的led及其制作方法 | |
US8951820B2 (en) | Method of fabricating nano-imprint mold for a light emitting diode | |
JP5632081B2 (ja) | ナノインプリントモールドを用いた発光ダイオードの製造方法、及びこの方法により製造された発光ダイオード | |
WO2012091325A2 (ko) | 나노 구조체를 이용한 발광다이오드 제조 방법과 이에 의해 제조된 발광다이오드 | |
CN112885933B (zh) | 一种深紫外发光二极管及其制备方法 | |
KR20160092635A (ko) | 나노 임프린트 몰드 제조방법, 이 방법에 의해 제조된 나노 임프린트 몰드를 이용한 발광다이오드 제조방법 및 이 방법에 의해 제조된 발광다이오드 | |
KR101383097B1 (ko) | 광추출 효율을 높인 질화갈륨계 발광다이오드 소자, 광추출 효율을 높인 유기 발광다이오드 소자의 제조방법 | |
Huang et al. | GaN-based light-emitting diodes with hybrid micro/nano-textured indium-tin-oxide layer | |
Byeon et al. | High-brightness vertical GaN-based light-emitting diodes with hexagonally close-packed micrometer array structures | |
KR20140036403A (ko) | 발광 다이오드의 패턴 형성 방법 | |
JP2016021428A (ja) | 半導体発光素子用基板、半導体発光素子、モールド及び半導体発光素子の製造方法 | |
KR101229063B1 (ko) | 발광다이오드 제조방법 및 이에 의해 제조된 발광다이오드 | |
KR101221075B1 (ko) | 나노 임프린트를 이용한 질화갈륨계 발광 다이오드 제조방법과 이를 통해 제조된 발광 다이오드 소자 | |
KR101325641B1 (ko) | 나노 임프린트 몰드 제조방법, 이 방법에 의해 제조된 나노 임프린트 몰드를 이용한 발광다이오드 제조방법 및 이 방법에 의해 제조된 발광다이오드 | |
KR101743351B1 (ko) | 반도체 발광 소자의 제조 방법 및 그 반도체 발광 소자 | |
KR101720864B1 (ko) | 반도체 발광 소자의 제조 방법 및 그 반도체 발광 소자 | |
TWI513030B (zh) | 發光二極體及其製造方法 | |
KR101464282B1 (ko) | 반도체 소자 | |
KR20140039414A (ko) | 나노 임프린트 몰드를 이용한 발광다이오드 제조방법 및 이 방법에 의해 제조된 발광다이오드 | |
Kim et al. | Enhanced light extraction from GaN-based vertical light-emitting diodes with a nano-roughened N-GaN surface using dual-etch | |
TW201334201A (zh) | 類腦海綿狀之半導體發光元件 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180702 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190617 Year of fee payment: 5 |