CN101969086A - 一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法 - Google Patents

一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101969086A
CN101969086A CN2010102445980A CN201010244598A CN101969086A CN 101969086 A CN101969086 A CN 101969086A CN 2010102445980 A CN2010102445980 A CN 2010102445980A CN 201010244598 A CN201010244598 A CN 201010244598A CN 101969086 A CN101969086 A CN 101969086A
Authority
CN
China
Prior art keywords
chip
edge
solar cell
blade
cutter cutting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2010102445980A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101969086B (zh
Inventor
吴志敏
梁兆煊
林桂江
熊伟平
许文翠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tianjin Sanan Optoelectronics Co Ltd
Original Assignee
Xiamen Sanan Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xiamen Sanan Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Xiamen Sanan Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN2010102445980A priority Critical patent/CN101969086B/zh
Publication of CN101969086A publication Critical patent/CN101969086A/zh
Priority to EP11171502.5A priority patent/EP2413372B1/en
Application granted granted Critical
Publication of CN101969086B publication Critical patent/CN101969086B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/184Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof the active layers comprising only AIIIBV compounds, e.g. GaAs, InP
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/544Solar cells from Group III-V materials

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法,采用精确半刀切割方法,采用刀口具有倾斜侧面的半刀切割刀片沿电池芯片的切割道开槽,所开槽侧壁同样具有一定倾斜角度;对开槽侧壁进行化学抛光;在电池芯片表面覆盖充当减反射膜的透明绝缘材料,将电池芯片表面钝化防止漏电;用刀口宽度小于半刀切割刀片宽度的常规刀片将芯片划裂,形成单个太阳电池芯片。采用刀口具有倾斜角度的切割刀片对芯片先进行半刀切割,使切割道侧壁具有同样的倾斜角度,可避免芯片在划裂时受损,同时有利于在其上制备高质量及高反射性能的钝化膜;芯片划裂使用的刀片宽度小于半刀切割用刀片,防止划裂时钝化膜被破坏;以得到优良的太阳电池芯片钝化边缘,防止边缘漏电。

Description

一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法
技术领域
本发明涉及一种制备太阳电池芯片的方法,特别是一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法。
背景技术
目前聚光型太阳能发电技术多采用砷化镓材料系多结太阳能电池,其聚光倍数随材料性能与工艺技术的进步可达到500乃至数千倍,而芯片尺寸相比传统的硅材料电池要小很多,大大降低了半导体材料耗费,是一种最有前途的太阳能电池技术。但因芯片尺寸减小,电池边缘周长相比电池芯片面积的比例大为提高,由此导致边缘漏电流对电池的性能有着很大影响,而传统平面型太阳电池由于芯片尺寸较大,边缘漏电流对电池性能的影响则很小。因此,聚光型多结太阳能电池芯片特别是高倍聚光型的芯片必须要防止边缘漏电流,以提高电池性能。
边缘漏电流产生的主要原因是半导体材料表面晶体结构与体内不同而在半导体能带的禁带中引入新的能级,这些新的能级被称为表面态,可能成为载流子复合中心。造成表面复合中心形成的原因主要有:半导体表面晶格周期被破坏,表面原子受力情况与体内原子不同,晶格会发生变形;表面被污染;制备时受到损伤,特别是晶片划裂时刀片对切割道侧壁会造成严重损伤,造成的表面悬挂键易与环境杂质结合,如砷化镓表面易形成镓和砷的不稳定氧化物,而砷的氧化物会进一步与更深层的镓产生化学反应,进一步氧化深层半导体材料,砷和镓的氧化物都会引入大量表面态。在太阳电池芯片大电流操作中,这些因素都会增加漏电状况。因此有必要提出一种方法尽量降低切割刀片对芯片的损伤,同时对半导体材料表面损伤进行修复,及去除砷化镓材料表面氧化物,最后沉积钝化膜保护表面,降低表面态密度。通常在半导体光电器件中,一般切割道边缘表面粗糙,沉积钝化膜比较困难,难以形成较好质量的钝化膜,且在切割时容易损伤钝化膜,甚至导致钝化膜脱落。
发明内容
为解决上述太阳能电池芯片边缘漏电,提高电池性能,本发明旨在提出一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法。
本发明解决解决上述问题采用的技术方案是:一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法,其特征在于:采用精确半刀切割方法,沿电池芯片的切割道开槽,所开槽侧壁同样具有一定倾斜角度;对开槽侧壁化学抛光;在电池芯片表面覆盖充当减反射膜的透明绝缘材料,将表面钝化防止漏电;最后用刀口宽度小于半刀切割刀片宽度的常规刀片将芯片划裂,形成单个太阳电池芯片。
本发明工艺中,上述的半刀切割方法采用刀口具有一定倾斜侧面的切割刀片,其倾斜角度为10°~80°;首先沿预留的切割道切半刀,且切割用的刀片经特殊加工,其刀口具有一定的倾斜侧面,因此,切割道经半刀开槽后,其侧面同样具有一定倾斜角度,在以后的芯片划裂时不会与刀片接触到,避免损伤;同时,倾斜的侧面更易在其上制备致密的接触良好的钝化膜。
上述切割道开槽侧壁化学抛光时,经半刀切割的芯片尚未完全划裂,采用湿法或干法腐蚀的方法对切割道倾斜侧壁进行抛光,进一步减小侧壁损伤,然后用大量去离子水冲洗,清洗残余的腐蚀剂,同时去除切割道残留的切割残渣。在上述电池芯片表明覆盖可充当减反射膜的绝缘材料,在清洁的芯片表面覆盖透明绝缘膜,透明绝缘材料选自氮化硅、二氧化硅、二氧化钛,氧化铝、氮化铝,氟化镁或前述的任意组合之一,其厚度根据减反射原理精确控制,以达到减反射的目的。同时,该绝缘透明薄膜可作为电池表面钝化膜,降低表面态密度的同时保护表面不会重新受损伤和污染。上述在最后沿所开槽将芯片划裂时芯片划裂用刀片的刀口宽度略小于半刀切割用的刀片,防止在划裂时破坏切割道侧壁的绝缘膜。
本发明的有益效果是:首次采用刀口具有一定倾斜角度的切割刀片对芯片先进行半刀切割,具有倾斜侧面的刀口使得切割道侧壁同样具有一定倾斜角度,可避免芯片在划裂时受到损伤,同时有利于在其上制备高质量及高反射性能的钝化膜;芯片划裂使用的刀片宽度小于半刀切割用刀片,防止划裂时钝化膜被破坏。以上优点可以得到优良的太阳电池芯片钝化边缘,防止边缘漏电。
附图说明
图1至图6为防止聚光太阳能电池边缘漏电的主要工艺流程图。
图中:100:太阳电池外延结构        101:锗或砷化镓衬底
      102:半刀切割刀片            103:高透明钝化膜
      104:芯片划裂刀片
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法,其工艺步骤为:
如图1所示,用丙酮、异丙醇超声去除芯片表面沾污,大量去离子水冲洗后用柠檬酸、双氧水或硫酸、双氧水的混合溶液去除表面氧化层,露出新鲜的表面,氮气吹干,烘干;
经上胶、前烘、曝光、后烘、显影、冲洗、坚膜等步骤光刻正面电极图形;
采用电子束蒸发或磁控溅射等方法蒸镀正面电极金属;
丙酮溶液中超声剥离金属,形成正面电极图形;
去胶液去除表面残留光刻胶,大量去离子水冲洗,吹干;
正面电极熔合合金形成欧姆接触;
正面上胶,以保护芯片表面在后面的半刀切割、边缘腐蚀钝化等步骤中不被损伤;
如图2所示,采用刀口具有一定倾斜侧面的切割刀片对芯片切半刀,倾斜角度为10°~80°,切割深度为10-50微米,以切穿整个太阳能电池外延结构为宜,得到的切割道侧壁同样具有一定倾斜角度,如图3所示;
采用冰乙酸、硝酸、氢氟酸混合溶液对切割道侧面进行腐蚀钝化,以修复半刀切割时刀片对切割道侧面的损伤,然后用大量去离子水冲洗;
去胶液去除表面起保护作用的光刻胶;
用柠檬酸、双氧水去除表面无金属电极部分的盖帽层,避免盖帽层吸收太阳光;
如图4所示,蒸镀氮化硅钝化膜,其厚度根据减反射原理精确控制,使钝化膜兼具减反射膜的作用;
蒸镀背面金属电极,合金形成欧姆接触;
正面蒸镀多层减反射膜,尽量降低太阳光反射率;
如图5所示,采用刀口宽度比半刀切割刀片略窄的刀片将芯片划裂,形成单个太阳能电池芯片,其最终效果如图6所示。
本发明采用精确半刀切割方法,沿电池芯片切割道开槽,利用刀口具有一定倾斜侧面的刀片使切割道侧面同样具有一定倾斜侧面,有利于钝化膜的沉积,并避免芯片划裂时,划裂刀片对钝化膜的损伤;对开槽侧壁化学抛光,然后在电池芯片表面覆盖可充当减反射膜的绝缘材料,将表面钝化防止漏电,最后用刀口宽度较小的刀片将芯片划裂。
以上实施例仅供说明本发明之用,而非对本发明的限制,本领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以作出各种变换或变化。因此,所有等同的技术方案也应该属于本发明的范畴,应由各权利要求限定。

Claims (4)

1.一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法,其工艺步骤为:
采用精确半刀切割方法,采用刀口具有倾斜侧面的半刀切割刀片沿电池芯片的切割道开槽,所开槽侧壁同样具有一定倾斜角度;
对开槽侧壁进行化学抛光;
在电池芯片表面覆盖充当减反射膜的透明绝缘材料,将电池芯片表面钝化防止漏电;
用刀口宽度小于半刀切割刀片宽度的常规刀片将芯片划裂,形成单个太阳电池芯片。
2.如权利要求1所述的一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法,其特征在于:半刀切割方法采用刀口具有一定倾斜侧面的切割刀片,其倾斜角度为10°~80°。
3.如权利要求1所述的一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法,其特征在于:开槽侧壁化学抛光方式可采用湿法腐蚀或干法腐蚀。
4.如权利要求1所述的一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法,其特征在于:透明绝缘材料选自氮化硅、二氧化硅、二氧化钛,氧化铝、氮化铝,氟化镁或前述的任意组合之一。
CN2010102445980A 2010-07-29 2010-07-29 一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法 Active CN101969086B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010102445980A CN101969086B (zh) 2010-07-29 2010-07-29 一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法
EP11171502.5A EP2413372B1 (en) 2010-07-29 2011-06-27 Method for fabricating concentrated solar cell chip without edge current leakage

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010102445980A CN101969086B (zh) 2010-07-29 2010-07-29 一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101969086A true CN101969086A (zh) 2011-02-09
CN101969086B CN101969086B (zh) 2012-11-14

Family

ID=43548207

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010102445980A Active CN101969086B (zh) 2010-07-29 2010-07-29 一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP2413372B1 (zh)
CN (1) CN101969086B (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102254960A (zh) * 2011-07-18 2011-11-23 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 一种晶体硅太阳能电池p型硅表面的钝化层及其制备方法
CN103680951A (zh) * 2013-12-13 2014-03-26 大连天壹电子有限公司 干式积层陶瓷电容器的外部电极制造方法
CN105762227A (zh) * 2014-12-19 2016-07-13 天津恒电空间电源有限公司 一种砷化镓太阳电池钝化边缘的方法
WO2019140606A1 (en) * 2018-01-18 2019-07-25 Flex, Ltd. Method of manufacturing shingled solar modules
CN110416156A (zh) * 2019-07-31 2019-11-05 常州时创能源科技有限公司 太阳能电池分片的制备工艺
CN112582489A (zh) * 2020-11-27 2021-03-30 上海空间电源研究所 具有防侧壁短路结构的柔性薄膜太阳电池及其制备方法
CN114628546A (zh) * 2020-12-14 2022-06-14 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 太阳能电池裂片方法、分片电池及叠瓦组件

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104201240B (zh) * 2014-08-29 2016-08-17 四川钟顺太阳能开发有限公司 一种太阳电池的生产工艺及其采用该工艺生产的太阳电池
WO2020134537A1 (zh) 2018-12-25 2020-07-02 芯思杰技术(深圳)股份有限公司 光电芯片、制备方法和安装方法
US11348798B2 (en) * 2020-02-07 2022-05-31 Akoustis, Inc. Methods of forming integrated circuit devices using cutting tools to expose metallization pads through a cap structure and related cutting devices
CN111952414B (zh) * 2020-08-21 2023-02-28 晶科绿能(上海)管理有限公司 硅基半导体器件的切割后钝化方法和硅基半导体器件
CN113903827B (zh) * 2021-09-08 2024-03-15 宁波瑞元天科新能源材料有限公司 一种太阳能电池切割面抛光钝化方法和装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2958203B2 (ja) * 1992-12-15 1999-10-06 京セラ株式会社 太陽電池素子の製造方法
JP2004047825A (ja) * 2002-07-12 2004-02-12 Honda Motor Co Ltd 太陽電池
CN1608785A (zh) * 2003-10-23 2005-04-27 郑元龙 切割装置
CN1967851A (zh) * 2005-11-16 2007-05-23 昂科公司 具有旁路二极管的太阳能电池中的通路结构
CN101017863A (zh) * 2007-02-08 2007-08-15 深圳市拓日新能源科技股份有限公司 非晶硅太阳能电池周边电极绝缘激光刻蚀的处理方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4836861A (en) * 1987-04-24 1989-06-06 Tactical Fabs, Inc. Solar cell and cell mount
US5882986A (en) * 1998-03-30 1999-03-16 General Semiconductor, Inc. Semiconductor chips having a mesa structure provided by sawing
JP4243075B2 (ja) * 2002-06-13 2009-03-25 パナソニック株式会社 半導体装置およびその製造方法
JP4911883B2 (ja) * 2004-07-28 2012-04-04 シャープ株式会社 光電変換素子の製造方法
US7566634B2 (en) * 2004-09-24 2009-07-28 Interuniversitair Microelektronica Centrum (Imec) Method for chip singulation
JP4717545B2 (ja) * 2005-08-01 2011-07-06 シャープ株式会社 光電変換素子の製造方法
JP2009146923A (ja) * 2007-12-11 2009-07-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 化合物半導体装置の製造方法
TW200933899A (en) * 2008-01-29 2009-08-01 Sanyo Electric Co Mesa type semiconductor device and method for making the same

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2958203B2 (ja) * 1992-12-15 1999-10-06 京セラ株式会社 太陽電池素子の製造方法
JP2004047825A (ja) * 2002-07-12 2004-02-12 Honda Motor Co Ltd 太陽電池
CN1608785A (zh) * 2003-10-23 2005-04-27 郑元龙 切割装置
CN1967851A (zh) * 2005-11-16 2007-05-23 昂科公司 具有旁路二极管的太阳能电池中的通路结构
CN101017863A (zh) * 2007-02-08 2007-08-15 深圳市拓日新能源科技股份有限公司 非晶硅太阳能电池周边电极绝缘激光刻蚀的处理方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102254960A (zh) * 2011-07-18 2011-11-23 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 一种晶体硅太阳能电池p型硅表面的钝化层及其制备方法
CN103680951A (zh) * 2013-12-13 2014-03-26 大连天壹电子有限公司 干式积层陶瓷电容器的外部电极制造方法
CN103680951B (zh) * 2013-12-13 2016-09-28 大连天壹电子有限公司 干式积层陶瓷电容器的外部电极制造方法
CN105762227A (zh) * 2014-12-19 2016-07-13 天津恒电空间电源有限公司 一种砷化镓太阳电池钝化边缘的方法
WO2019140606A1 (en) * 2018-01-18 2019-07-25 Flex, Ltd. Method of manufacturing shingled solar modules
CN110416156A (zh) * 2019-07-31 2019-11-05 常州时创能源科技有限公司 太阳能电池分片的制备工艺
CN112582489A (zh) * 2020-11-27 2021-03-30 上海空间电源研究所 具有防侧壁短路结构的柔性薄膜太阳电池及其制备方法
CN114628546A (zh) * 2020-12-14 2022-06-14 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 太阳能电池裂片方法、分片电池及叠瓦组件

Also Published As

Publication number Publication date
EP2413372A2 (en) 2012-02-01
EP2413372A3 (en) 2014-11-12
CN101969086B (zh) 2012-11-14
EP2413372B1 (en) 2017-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101969086B (zh) 一种防止边缘漏电的聚光太阳电池芯片制作方法
Abdullah et al. Research and development efforts on texturization to reduce the optical losses at front surface of silicon solar cell
TWI669830B (zh) 一種局部背接觸太陽能電池的製造方法
US9722106B2 (en) Method of manufacturing a solar cell with local back contacts
JP5478726B2 (ja) シリコンの表面処理
JP2014511038A (ja) 太陽電池の製造方法
CN117153953B (zh) 开膜式双面TOPCon电池的制备方法
CN112466986A (zh) 一种选择性发射极电池的碱抛光制造方法
CN107293606A (zh) P型ibc电池结构及其制作方法
CN208970515U (zh) 双氧化层perc电池
CN111341880A (zh) 太阳能电池的制造方法
CN102593241A (zh) 晶硅太阳能电池及晶硅太阳能电池边缘刻蚀的方法
Watanabe et al. Evaluation of a new acid solution for texturization of multicrystalline silicon solar cells
CN103924306B (zh) 一种硅异质结太阳电池的制绒方法
CN104681652A (zh) 一种倒装多结太阳能电池及其制备方法
CN113241391A (zh) 一种减少背场复合损失的perc电池加工工艺
CN113013293A (zh) 一种异质结电池的制备方法
Beaucarne et al. Etching, texturing and surface decoupling for the next generation of Si solar cells
JP4646584B2 (ja) 太陽電池の製造方法
CN104009128A (zh) 用于太阳能电池的非晶硅薄膜陷光结构制备方法
Choi et al. Enhanced efficiency of multicrystalline silicon solar cells made via UV laser texturing
Simashkevich et al. Efficient ITO-n Si solar cells with a textured silicon surface
Ho et al. Advanced selective emitter structures by laser opening technique for industrial mc-Si solar cells
CN220774381U (zh) 光伏电池
CN110444616A (zh) 一种超薄晶硅太阳电池及其制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20231030

Address after: No.20 Haitai South Road, Huayuan Industrial Zone, Xiqing District, Tianjin 300384

Patentee after: Tianjin Sanan Optoelectronics Co.,Ltd.

Address before: 361009 no.1721-1725, Luling Road, Siming District, Xiamen City, Fujian Province

Patentee before: XIAMEN SANAN OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY Co.,Ltd.