CN101924299B - 存储模块测试插座的单按式弹出装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及在计算机的实装环境下,为测试存储模块,能够安装具有高度差的各种存储模块,从用于测试的主板上制成的夹具本体中,插拔存储模块的弹出装置。提供一种在夹具本体上搭载存储模块时避开部件之间的干涉,为使存储模块的插入及拔出动作进行的顺利,在上端具备存储模块测试插座的单按式弹出装置,为防止与存储模块接触的部位的破损而对其结构进行了改进,从而提高具有存储模块的存储模块插入和拔出的作业性,进而提高了基于此的测试收率(yield),并且,使存储模块的在夹具本体上的插入和拔出动作通过物理性的力来完成,以保证每次都能施加恒定的力,从而避免给存储模块带来的损伤。

Description

存储模块测试插座的单按式弹出装置
技术领域
本发明涉及存储模块测试插座的单按式弹出装置,具体涉及在计算机实装环境中,为测试存储模块,在主板上,在两侧设有弹出装置的夹具本体上安装存储模块时,避免邻接部件间的干涉,并且为使存储模块的插入及拔出动作顺利,将弹出装置设在上端,为防止与存储模块接触部位的破损,其结构得到改进的存储模块测试插座的单按式弹出装置。
背景技术
众所周知,存储模块是为了扩充半导体存储器的容量,在印刷电路板上高密度进行实装多个用于半导体存储器的集成电路。存储模块根据其被实装在印刷电路板上的形态,制作成多种产品,最终插设到系统用印刷电路板的插座上使用。
当插入上述插座时,存储模块用印刷电路板的边缘连接部与上述插座的引线接触,构成电连接,从而在存储模块与系统之间传递信号。
如上述构成的存储模块,经过测试装置测定其不良与否的步骤。
图1为将以往存储模块用测试装置的一部分结构概略图示的图,如图所示,有实装多个插座1的测试板3,在上述多个插座1上,分别插入多个存储模块5进行测试作业。
上述存储模块5在印刷电路板5a的规定领域,实装有存储器集成电路5b,在印刷电路板5a的长边一侧,沿着边缘以一定间隔设有导电性连接部5c。
上述插座1在绝缘本体1a的上部面中央部,形成有用于插入存储模块5的凹槽的插槽1b,在上述插槽1b的长边的两侧面,设有引脚(未图示),随着上述存储模块5的插入,与上述连接部5c接触,从而构成电连接。
然而,在以往,工作人员直接一个一个地插入存储模块5到上述插座1上,而结束测试后,又重新一个一个地拔出,由此进行作业,而这种作业不仅其存储模块5的插入、拔出动作非常繁琐,并且会损伤作业者的手。
并且,如上所述,人工完成插入及拔出动作,不能保证每次都能以恒定的力度完成插入及拔出的动作,因此存在会损伤存储模块5的危险性。
发明内容
本发明是为解决上述问题而提出的,其目的在于提供一种在计算机实装环境下,为测试存储模块,为顺利完成连接到主板上夹具本体上的存储模块的插入及拔出动作,将推杆设在弹出装置的上端,防止与存储模块接触部位的破损,并且也能够安装高度具有变化的存储模块的结构进行测试的,可互换使用的存储模块测试插槽的单按式弹出装置。
为实现上述目的,本发明由以下结构构成:导向块体,对称配置在夹具本体两侧,一侧形成有轴孔,前侧形成有若干作为内部空间的垂直槽;导向提升件,在上述导向块体的内侧形成,垂直地插入在夹具本体上相互面对的垂直槽,直接内装存储模块的两侧,用于导引插入和分离;控制体,对称配置在夹具本体两侧,通过插销可左右旋转地缔结在导向提升件的上端轴孔上;锁存片,收容在控制体的内侧,下端与插销缔结,通过与控制体之间设置的锁存片弹簧的弹性能够以插销为中心左右游动;柄套,在上述控制体的上端用扭簧和连接销结合,以连接销为中心能够左右旋转,具有以连接销结合的推杆,推杆通过柄套的旋转按压安装在夹具本体上的存储模块的上端。
其中,所构成的弹出装置的结构为,上述夹具本体两侧安装有导向块体,在与插进上述导向块体的垂直槽多个导向提升件上端结合的控制体上,通过旋转轴以两关节的形态结合有柄套,通过分别以各自轴为中心旋转,导向提升件在与夹具本体结合的导向块体上作上下垂直移动,由此插入和拔出存储模块。
这种上述弹出装置,在将存储模块插入夹具本体时,存储模块进入具备在导向提升件上的滑槽,导向提升件在导向块体的垂直槽中垂直下降,同时与导向提升件连接的控制体垂直立起,从而位于接近存储模块侧面位置,结合在控制体上端的柄套向内侧方向旋转,同时柄套的推杆按压存储模块的上端以进行固定,从而存储模块插进夹具本体的插槽而与连接端连接。
并且,上述弹出装置,采用单按式(One touch)按压位于夹具本体两侧的控制体锁存片,锁存片以结合在锁存片收容空间下端插销为中心作后退旋转,同时锁存片的突条离开柄套的突条收容槽,从而固定在控制体上的柄套受扭簧弹性向外侧方向自动旋转以成为开启状态,通过控制体朝外侧的旋转,导向提升件与存储模块一起从导向块体垂直上升,从而从夹具本体的插槽拔出存储模块。
并且,在上述弹出装置中,当测试具有一定高度差的存储模块时,驱动控制体的锁存片打开后,将柄套插入导向提升件的滑槽,用外力垂直下压而装进插入插槽,向外侧旋转在夹具本体上处于朝两侧开启状态的控制体,使导向提升件带动插入插座上升,通过导向提升件拔出存储模块,从而仅仅利用导向提升件,就能够从插入插槽插入和拔出存储模块。
根据如上所述的本发明,在计算机的实装环境下,为存储模块的测试、被插入主板上夹具本体的存储模块,受导向块体、锁存片和推杆的引导,进入夹具本体,因而其接触柔滑,具有防止接触部破损的效果。
并且,当弹出装置的推杆从上端按压存储模块时,没有部件之间的干涉,因弹出装置的开启而向两侧张开的柄套和控制体上的力,不会直接将过度的力度施加到存储模块上,因而不会发生损坏,并且由导向提升件进行拔出,因而没有材料的碰撞。
并且,能够与插进夹具本体的存储模块的高度无关地、仅通过弹出装置的开/闭操作进行互换使用,因此是一项非常有用的发明。
附图说明
图1是以往存储模块测试装置的一部分结构斜视图;
图2是根据本发明的存储模块测试插座的单按式弹出装置的整体的斜视图;
图3是根据本发明存储模块测试插座的单按式弹出装置处于打开状态的斜视图;
图4是根据本发明存储模块测试插座的单按式弹出装置结构斜视图;
图5是根据本发明存储模块测试插座单按式弹出装置的导向块体和导向提升件的结构斜视图;
图6是根据本发明存储模块测试插座单按式弹出装置的控制体和柄套的结构斜视图;
图7是根据本发明存储模块测试插座单按式弹出装置的旋转状态图;
图8是根据本发明存储模块测试插座单按式弹出装置的插入和拔出的图;
图9是通过本发明存储模块测试插座单按式弹出装置的锁存片的动作,控制体和柄套以两关节分割的动作状态图;
图10是根据本发明的存储模块测试插座单按式弹出装置的另一实施例的插入和拔出的图。
图中:
10、存储模块;
20、夹具本体;
22、插槽;
30、插入插座(interpose socket);
40、联动杆;
102、轴孔;
104、插销;
106、连接销;
110、导向块体;
112、垂直槽;
114、分隔条;
120、导向提升件;
122、滑槽;
130、控制体;
140、锁存片;
142、锁存片弹簧;
144、锁存片收容空间;
146、旋转孔;
148、突条;
150、柄套;
152、扭簧;
156、突条收容部;
158、推杆;
200、弹出装置。
具体实施方式
为达到上述目的,本发明提供一种存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,由以下构成:
导向块体,对称配置在上述夹具本体两侧,一侧形成有轴孔,前侧形成有若干作为内部空间的垂直槽;
导向提升件,形成在上述导向块体的内侧,垂直插入到夹具本体上相互面对的垂直槽,直接内装存储模块的两侧,用于导引插入和分离;
控制体,对称配置在上述夹具本体两侧,通过插销可左右旋转地缔结在导向提升件上端轴孔上;
锁存片,收容在上述控制体的内侧,下端与插销缔结,通过与控制体之间设置的锁存片弹簧弹性能够以插销为中心左右游动;
柄套,在上述控制体上端用扭簧和连接销结合,以连接销为中心能够左右旋转,具有以连接销结合的推杆,推杆通过柄套的旋转按压安装在夹具本体上的存储模块上端。
以下,参照附图,对本发明的优选实施例进行详细说明。
在说明之前,本说明书及权利要求书所使用的用语或单词不能以通常性的或词典上的意思进行限定地解释,发明人为了用最佳的方法说明该发明,可以适当地定义用语的概念,因此基于此原则,应该以符合本发明技术主旨的意思和概念进行解释。
因此,本说明书所记载的实施例和附图所图示的结构仅仅是本发明最优选的实施例,并不能全部代表本发明的技术思想,在本发明申请之际,应理解可以有代替这些的多种均等物和变形例。
图2是本发明存储模块测试插槽的单按式弹出装置整体斜视图,图3是本发明所涉及的存储模块测试插槽单按式弹出装置打开状态斜
视图。
如图所示,根据本发明的弹出装置200可以与存储模块10的高度差无关地插入和拔出,当插入一般使用的存储模块10时,弹出装置200的推杆158从上端按压存储模块10时没有部件之间的干涉,弹出装置200的推杆158不会直接将过度的力度施加给存储模块10,通过具有弹性的锁存片140打开弹出装置150,通过导向提升件120,给存储模块10施加提取的力,从而安全地拔出存储模块10。
这种上述的弹出装置200在具有用于插入存储模块10接触端子侧的插入插槽22的夹具本体20两侧形成。
弹出装置200通过销可旋转地结合在易从上述夹具本体20拔出存储模块10的夹具本体20两侧端部,用于安装、拔出存储模块10。
存在于上述夹具本体20两侧的弹出装置200结构为,在上述夹具本体20两侧对称地配置有导向块体110,一侧形成有轴孔102,前侧形成有若干内部空间即垂直槽112。
并且,图4是本发明所涉及的存储模块测试插座单按式弹出装置的结构斜视图。
如图所示,上述导向块体110如图4和图5所示对称地结合在夹具本体20两侧,作为内部空间前侧形成有用于垂直地插入导向提升件120的垂直槽112。
并且,分割条114位于上述垂直槽112中间,指引导向提升件120的插入,并且将垂直槽112一分为二,以插入多个导向提升件120。
另外,垂直地插进形成于上述导向块体110内侧而在夹具本体20对向垂直槽112的导向提升件120,直接将存储模块10的两侧朝内侧引入,以导引插入和分离。
这种上述导向提升件120以多个安装在导向块体110上,将存储模块10两个末端朝内侧引入以进行导引,因而形成有朝下端方向纵向垂直地形成槽的滑槽122。
并且,如图6所示,形成有对称配置于夹具本体20两侧的、通过插销104可旋转地与导向提升件120上端轴孔102结合的控制体130。
并且,收容在上述控制体130内侧的锁存片140,其下端与插销104结合,通过置于控制体130之间的锁存片弹簧142的弹性,能够以插销104为中心,左右游动。
另外,由具有在上述控制体130上端与具有扭簧152的插销104轴结合,以插销104为中心左右转动,并且具有通过按压安装在夹具本体20上的存储模块10上端进行固定的、以连接销106结合的推杆158构成柄套150。
弹出装置200将该结构的上述导向提升件120、控制体130和柄套150对称地配置在夹具本体20两侧,分别以各自的轴,左右从外侧到内侧及从内侧到外侧,控制体130以两关节的形态在夹具本体20上旋转,柄套150在控制体130上旋转,并且通过导向提升件120上下移动,从夹具本体20插入和拔出存储模块10。
此时,在设置于上述夹具本体20两侧的弹出装置200的控制体130一侧,以联动连接的结构连接结合有联动杆40,使柄套150和控制体130向一个方向旋转,以加压和引出存储模块10。
其中,上述弹出装置200如图7所示,在位于夹具本体20两侧的导向块体110的导向提升件120上,插入有存储模块10,为将存储模块10对称地固定在夹具本体20两侧,在控制体130上端安装有柄套150,固定存储模块10时呈
Figure G2009101577937D00081
形状,当拔出与夹具本体20结合的存储模块10时,用于固定存储模块10的具有推杆158的柄套150,以插销104为轴,作朝外侧展开的左右旋转,控制体130以插销104为中心旋转,从夹具本体20开启弹出装置200,与控制体130连接的导向提升件120上升,带动存储模块10上升,从而拔出存储模块10。
并且,上述弹出装置200的控制体130在前方内侧形成一定的锁存片收容空间144,并且在上下部和锁存片收容空间144下端侧分别水平地形成能够收容插销104的轴孔102。
另外,上述控制体130的下部轴孔102,通过插销104固定在导向提升件120两侧,而能够在导向提升件120上以插销104为中心左右旋转。
并且,安装在上述控制体130上的锁存片140在其下端形成有旋转孔146,并形成水平地突出于上端末端部的突条148。
上述锁存片140将形成在其下端的旋转孔146置于与控制体130锁存片收容空间144下端轴孔102相同的水平线,通过插销104进行结合,从而能够在锁存片收容空间144内,以下端插销104为中心,左右旋转。
这种上述锁存片140,通过插销104安装在柄套130的锁存片收容空间144,并且在锁存片收容空间144内,将锁存片弹簧142附于后面,因此在锁存片收容空间144中,以规定范围内具有锁存片弹簧142的弹性移动,能够以下端的插销104为中心,左右旋转。
即,上述锁存片140通过插销104可旋转地安装在锁存片收容空间144内,后面粘贴有锁存片弹簧142,因此在按压锁存片140时,锁存片140与锁存片收容空间144侧面紧密接触,紧密接触后由于锁存片弹簧142的弹性重新回到原位,即在控制体130上左右旋转。
并且,可旋转地安装在上述控制体130上端的柄套150,在位于控制体130上端的轴孔102上,将结合有扭簧152的柄套150与控制体130进行结合,起到轴的作用,从而柄套150作从控制体130朝外侧展开的旋转运动。
另外,在结合上述控制体130与柄套150的插销104一侧柄套150上,设有由连接销106结合的推杆158,推杆158以连接销106为中心自行旋转。
并且,在上述控制体130上端旋转的与扭簧152结合的连接销106与一侧通过连接销106结合而旋转的推杆158之间,设有以一定的收容空间形成的突条收容部156。
如此,在夹具本体20两侧,通过插销104对称地结合控制体130下端轴孔102与导向提升件120轴孔102,在控制体130的锁存片收容空间144下端,通过插销104结合锁存片140,在上述控制体130的上端轴孔102上,通过连接销106结合柄套150,从而控制体130向与夹具本体20结合的导向提升件120两侧的外侧方向旋转,结合在控制体130上端的柄套150重新向外侧方向旋转,以这种两关节的形态,控制体130和柄罩150分别作旋转移动。
此时,当上述控制体130向外侧旋转时,由插销104与控制体130连接的导向提升件120,根据杠杆原理,从导向块体110的垂直槽112垂直上升,带动存储模块10上升以进行拔出。
并且,在上述控制体130上端,当柄套150从外侧朝内侧方向旋转时,控制体130的锁存片140进入突条收容部156内,从而突条148装入突条收容部156,控制体130和柄套150以形状稳定地结合。
以下,对如上所述结构的存储模块测试插座的单按式弹出装置进行详细说明。
首先,图8是根据本发明存储模块测试插座的单按式弹出装置的拔出和插入图,图9是根据本发明存储模块测试插座单按式弹出装置根据锁存片动作控制体和柄套以两关节进行分割动作的状态图。
如上述图所示,本发明的弹出装置200位于夹具本体20两侧,利用导向提升件120稳定地固定存储模块10,通过控制体130的旋转,以按压一次的方式轻易拔出。
即,弹出装置200在上述夹具本体20两侧安装导向块体110,在与插进上述导向块体110垂直槽112的多个导向提升件120上端结合的控制体130上,通过旋转轴以两关节的形态结合柄套150,因此通过以各自轴为中心的旋转,导向提升件120在与夹具本体20结合的导向块体110上作上下垂直移动,从而进行存储模块10的插入和拔出。
此时,结合多个导向提升件120,使导向块体110的轴孔102与将上述导向块体110垂直槽112的分隔条114置于其中而插入的多个导向提升件120处于一条水平线,在结合的多个导向提升件120之间结合控制体130,同时,在处于一条水平线的轴孔102上用插销104进行结合。并且,在上述夹具本体20的两侧具有导向提升件120的导向块体110上位置对称地结合控制体130,在该结合控制体130的上端安装柄套150,呈
Figure G2009101577937D00102
形状,与夹具本体20的导向提升件120结合的控制体130以插销104为中心旋转,同时通过连接销106结合在上述控制体130上端的具有扭簧152的柄套150,以连接销106为轴,朝外侧伸展,即能够左右旋转的两关节的形态进行结合。
这种弹出装置200的动作过程为,首先,基本上在没有存储模块10的状态下,控制体130和柄套150处于相对夹具本体20朝外侧旋转的开启状态。
当存储模块10沿着在上述夹具本体20两侧形成的包含于导向块体10的导向提升件120滑槽122插入时,导向提升件120将存储模块10朝下端插入,在导向提升件120两侧以插销104进行结合的控制体130以连接销106为轴竖直立起。
此时,具备在上述控制体130的锁存片140位于接近安装于夹具本体20上的存储模块10侧面。
之后,控制体130垂直立起,结合在控制体130上端的柄套150朝内侧方向旋转,处于在控制体130上呈直角的
Figure G2009101577937D00111
形状。
此时,柄套150的推杆158按压存储模块10上端的同时维持固定状态。
如此,当上述存储模块10插入夹具本体20时,位于两侧的弹出装置200以
Figure G2009101577937D00112
形状垂直立起,从而柄套150的推杆158固定存储模块10。
即,上述弹出装置200将存储模块10插进夹具本体20时,存储模块10进入具备在导向提升件120上的滑槽122,导向提升件120在导向块体110的垂直槽112上垂直下降,与导向提升件120连接的控制体130垂直立起,位于接近存储模块10侧面位置,结合在控制体130上端的柄套150朝内侧方向旋转,柄套150的推杆158按压存储模块10的上端以进行固定,存储模块10插进夹具本体20的插槽22而与连接端子连接。
并且,当从上述夹具本体20拔出存储模块10时,若将在夹具本体20的两侧垂直立起的控制体130的锁存片140,向锁存片收容空间144内侧以一次按压的方式按压时,位于控制体130上端的柄套150朝外侧方向展开、作朝外侧的旋转,同时控制体130也朝外侧旋转,从而以打开的状态从夹具本体20取出存储模块10。
即,当采用一次按压的方式按压构成在位于上述夹具本体20两侧的弹出装置200的控制体130锁存片140时,锁存片140以与锁存片收容空间144的下端结合的插销104为中心,后退旋转,锁存片140的突条148会离开柄套150的突条收容槽156,在一侧具有扭簧152而通过插销104固定在控制体130上的柄套150,由于受扭簧152的弹性,自动旋转,成为打开状态。
此时,从上述控制体130进行后退旋转的锁存片140,由于受锁存片弹簧142的弹性而回到原来的位置。
并且,柄套150从上述控制体130朝外侧旋转时,视为从夹具本体20打开存储模块10,因而位于夹具本体20两侧的控制体130产生以下端的插销104为中心朝外侧方向开启的旋转。
并且,上述控制体130在以与导向提升件120连接的插销为轴,朝外侧旋转时,导向提升件120将上升,带动存储模块10上升,以能够拽拉存储模块10进行拔出。
如此,位于上述夹具本体20两侧的弹出装置200可以将存储模块10一次性地固定在夹具本体20上,并且通过一次按压的方式按压控制体130,可一次性的脱离存储模块10。
即,上述弹出装置200以一次按压的方式按压位于夹具本体20两侧的控制体130两侧锁存片140,锁存片140以连接在锁存片收容空间144下端的插销104为中心后退旋转,带动锁存片140的突条148脱离柄套150的突条收容部156,固定在控制体130上的柄套150由于受扭簧152的弹性朝外侧方向自动旋转而成为打开状态,由于受控制体130的向外侧方向的旋转,导向提升件120与存储模块10一起从导向块体110的垂直槽112垂直上升,从而从夹具本体20的插槽22拔出存储模块10。
如此,上述弹出装置200的推杆158在进行从上端按压存储模块10的动作时,部件之间没有干涉,施加到受弹出装置200的开启而朝两侧张开的柄套150和控制体130上的力度不会直接给存储模块10施加过度的力,因而不会发生损伤,通过导向提升件120进行拔出,因而也没有材料的撞击。
并且,当拔出存储模块10时,通过抽出存储模块10的弹出装置200的导向提升件120,向存储模块10施加抽取的力,从而能够安全地拔出存储模块10。
并且,利用本发明的存储模块测试插座的单按式弹出装置的其他实施例,通过构成上述夹具本体20上的弹出装置200,与存储模块10的高度差无关地进行存储模块10的插入和拔出。
首先,图10为表示根据本发明的存储模块测试插座的单按式弹出装置的其他实施例的插入插座的拔出和插入的图。
如上图所示,导向块体110对称地位于夹具本体20两侧,在上述导向块体110上,导向提升件120可上下移动地插进垂直槽112,控制体130与上述导向提升件120结合,在上述控制体130上,柄套140可旋转地进行旋转,两关节旋转的弹出装置200从夹具本体20开启地构成。
在上述夹具本体20上以开启的形态构成的弹出装置200中,将具有一定高度差的存储器收容在构成在夹具本体20两侧的导向提升件120的滑槽122中,进行测试的插入插座30受垂直施加的外部力,沿着滑槽122下降,从而安装到插入插槽22上。
此时,与上述导向提升件120连接的控制体130和柄套150不产生旋转,而只有导向提升件120下降,使插入插座30与插入插槽22结合。
其中,上述插入插座30是为了在240DDR3 Socket上测试204soDIMM Socket而开发的插座,因此,根据制作方,高度有所不同。
此时,可以在弹出装置200上,插入或拔出有一定高度差的插入插座30或低轮廓模块(low profile)。
如此,在上述弹出装置200上,将具有一定高度差的插座30插进导向提升件120的滑槽122,受外力的垂直下压,而装进插入插槽22。
其中,当上述插座30沿着导向提升件120的滑槽122下降时,与导向提升件120连接的控制体130产生转动,转动导向提升件120下降的程度。
并且,当拔出有高度差的插入插座30时,向外侧旋转在夹具本体20上处于朝外侧开启状态的控制体130,导向提升件120带动插座30上升,通过导向提升件120拔出插座130,因而没有材料的碰撞。
如此,在上述夹具本体20上,将具有高度的插入插座30或低轮廓模块(low profile)沿着导向提升件120下降时,施加外部的垂直力进行插入,通过控制体130向外侧的旋转,同导向提升件120一起拔出插座30,因而能够与高度无关地进行具有多种高度的插入插座30的插入和拔出。
并且,可以与插入夹具本体20的存储模块10的高度差无关地、仅仅以柄套150的开/闭操作进行互换使用。
以上,对本发明的实施例进行了详细说明,但本发明的权利范围不限于此,本领域的普通技术人员使用权利要求书所定义的本发明基本概念进行的各种变形及改进形态都属于本发明的权利保护范围。

Claims (14)

1.一种存储模块测试插座的单按式弹出装置,具有用于插入存储模块接触端侧的插槽的夹具本体,通过销可旋转地结合在夹具本体两侧端部,用于存储模块的安装、拔出,易抽取存储模块,其特征在于,包括:
导向块体(110),对称配置在所述夹具本体(20)两侧,一侧形成有轴孔(102),前侧形成有若干作为内部空间的垂直槽(112);
导向提升件(120),在所述导向块体(110)内侧形成,垂直地插入到夹具本体(20)上相互面对的垂直槽(112)中,直接内装存储模块(10)两侧,用于导引插入和分离;
控制体(130),对称配置在所述夹具本体(20)两侧,通过插销(104)可左右旋转地缔结在导向提升件(120)的上端轴孔(102)上;
锁存片(140),收容在所述控制体(130)内侧,下端与插销(104)缔结,通过与控制体(130)之间设置的锁存片弹簧(142)的弹性能够以插销(104)为中心左右游动;
柄套(150),在所述控制体(130)上端用扭簧(152)和连接销(106)结合,以连接销(106)为中心左右旋转,具有按压安装在夹具本体(20)上的存储模块(10)上端固定的以连接销(106)结合的推杆(158)。
2.如权利要求1所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所述导向块体(110)包括:
垂直槽(112),对称地结合在夹具本体(20)两侧,利用前侧形成的若干内部空间垂直插入导向提升件(120);
分隔条(114),位于所述垂直槽(112)中央,导引插入导向提升件(120),并将垂直槽(112)一分为二,插入多个导向提升件(120)。
3.如权利要求1所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所述导向提升件(120)包括:
滑槽(122),以多个安放在导向块体(110)上,朝下端方向的纵向垂直地形成槽(122),用于指引内装存储模块(10)两末端上下移动。
4.如权利要求1所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所述控制体(130)在前方内侧形成有锁存片收容空间(144),在上下部和锁存片收容空间(144)下端侧分别水平地形成有能够容纳插销(104)的轴孔(102),控制体(130)的下部轴孔(102)通过插销(104)固定在导向提升件(120)的上端两侧,从而能够在夹具本体(20)上以插销(104)为中心左右旋转。
5.如权利要求1所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所述锁存片(140)在下端形成有旋转孔(146),形成从上端末端部水平突出的突条(148),旋转孔(146)与控制体(130)的锁存片收容空间(144)下端的轴孔(102)处于一条水平线以通过插销(104)结合,在锁存片收容空间(144)内,能够以下端插销(104)为中心左右旋转。
6.如权利要求5所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所述锁存片(140)通过插销(104)安装在控制体(130)的锁存片收容空间(144),在锁存片收容空间(144)内将锁存片弹簧(142)附于后面,在锁存片收容空间(144)以一定范围具有锁存片弹簧(142)的弹性移动,能够以下端的插销(104)为中心左右旋转。
7.如权利要求1所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所述柄套(150)包括,在控制体(130)的上端旋转地与扭簧(142)结合的插销(104)与在一侧通过连接销(106)结合而能够旋转的推杆(158)之间,以一定收容空间形成的突条收容部(156)。
8.如权利要求7所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,当柄套(150)在所述控制体(130)上端从外侧向内侧旋转时,控制体(130)锁存片(140)的突条(148)进入突条收容部(156)内,突条(148)装入突条收容部(156),控制体(130)和柄套(150)以
Figure FDA0000152170300000021
形状稳定地结合。
9.如权利要求1所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所构成的弹出装置(200)的结构为:
所述夹具本体(20)两侧安装有导向块体(110),在与插进所述导向块体(110)垂直槽(112)的多个导向提升件(120)上端结合的控制体(130)上,通过旋转轴以两关节的形态结合有柄套(150),通过分别以各自轴的旋转,导向提升件(120)在与夹具本体(20)结合的导向块体(110)上作上下垂直移动,由此插入和拔出存储模块(10)。
10.如权利要求9所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,结合多个导向提升件(120),以使导向块体(110)的轴孔(102)和将构成在所述导向块体(110)的垂直槽(112)的分隔条(114)置于其中而插入的多个导向提升件(120)处于一条水平线,在结合的多个导向提升件(110)之间结合控制体(130),并以插销(104)结合位于水平线上的轴孔(102)。
11.如权利要求9所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,在所述夹具本体(20)两侧具有导向提升件(120)的导向块体(110)上位置对称地结合有控制体(130),在该控制体(130)的上端安装有柄套(150),呈
Figure FDA0000152170300000031
形状,与夹具本体(20)结合的控制体(130)以连接轴(106)为中心旋转,同时通过连接销(106)结合在所述控制体(130)上端的柄套(150),以连接销(106)为轴,朝外侧伸展,以能够左右旋转的两关节的形态结合。
12.如权利要求9所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所述弹出装置(200),
将存储模块(10)插入夹具本体(20)时,存储模块(10)进入具备在导向提升件(120)上的滑槽(122),导向提升件(120)在导向块体(110)的垂直槽(112)中垂直下降,同时与导向提升件(120)连接的控制体(130)垂直立起,从而位于接近存储模块(10)侧面的位置,结合在控制体(130)上端的柄套(150)朝内侧方向旋转,同时柄套(150)的推杆(158)按压存储模块(10)上端以进行固定,从而存储模块(10)插进夹具本体(20)的插槽(22)而与连接端连接。
13.如权利要求12所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,所述弹出装置(200),
采用单按式按压位于夹具本体(20)两侧的控制体(130)的锁存片(140),锁存片(140)以结合在锁存片收容空间(144)下端的插销(104)为中心作后退旋转,锁存片(140)的突条(148)离开柄套(150)的突条收容槽(156),从而固定在控制体(130)上的柄套(150)受扭簧(152)的弹性而向外侧方向自动旋转以成为开启状态,通过控制体(130)朝外侧的旋转,导向提升件(120)与存储模块(10)一起从导向块体(110)垂直上升,从而从夹具本体(20)的插槽(22)拔出存储模块(10)。
14.如权利要求9所述的存储模块测试插座的单按式弹出装置,其特征在于,在所述弹出装置(200)中,将具有一定高度差的插入插座(30)插入导向提升件(120)的滑槽(122),用外力垂直下降而装进插入插槽(220),在夹具本体(20)上处于朝两侧开启状态的控制体(130)向外侧旋转,使导向提升件(120)带动插入插座(30)上升,通过导向提升件(120)拔出插入插座(30),从而仅仅利用导向提升件(120),就能够从插入插槽(22)插入和拔出插入插座(30)。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101782597A (zh) * 2010-03-02 2010-07-21 正文电子(苏州)有限公司 一种用于内存条检测设备的插拔装置
KR101485779B1 (ko) * 2013-06-28 2015-01-26 황동원 반도체 소자 테스트용 소켓장치
KR101526897B1 (ko) * 2014-03-26 2015-06-09 트윈테크(주) Pcb기판 메모리 테스트 모듈 탈장착용 지그장치
KR101659322B1 (ko) * 2014-12-22 2016-10-04 (주)솔리드메카 메모리 테스트용 소켓장치
US10192589B2 (en) * 2017-01-09 2019-01-29 Quanta Computer Inc. Compact tool-less hard drive disk carrier
KR101989967B1 (ko) * 2018-04-10 2019-06-17 주식회사 마이크로컨텍솔루션 메모리 모듈 테스트 소켓
KR102048448B1 (ko) * 2018-09-18 2019-11-25 주식회사 마이크로컨텍솔루션 반도체 테스트용 지그
KR102091155B1 (ko) * 2018-10-25 2020-03-19 주식회사 마이크로컨텍솔루션 젠더 장치
KR20200071357A (ko) * 2018-12-11 2020-06-19 (주)테크윙 전자부품 테스트용 핸들러
KR102192759B1 (ko) * 2019-10-16 2020-12-18 주식회사 오킨스전자 Key 스위치를 포함하는 SSD 메모리 테스트 소켓
CN111935587B (zh) * 2020-09-17 2021-02-19 深圳市科奈信科技有限公司 一种蓝牙耳机降噪集成结构
KR20240041640A (ko) * 2022-09-23 2024-04-01 주식회사 아이에스시 검사용 푸셔장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1812199A (zh) * 2005-02-14 2006-08-02 金士顿科技公司 内存模块及测试仪
US7125272B1 (en) * 2005-12-29 2006-10-24 Super Micro Computer, Inc. Modular case handle positioning device
CN101095266A (zh) * 2004-12-29 2007-12-26 Fci连接器新加坡有限公司 卡弹出机构

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001283976A (ja) 2000-03-29 2001-10-12 Kyocera Elco Corp メモリモジュールコネクタ
JP4349762B2 (ja) * 2000-10-26 2009-10-21 株式会社アマダ 上型装置
KR100566369B1 (ko) 2003-04-25 2006-03-31 니혼 앗사쿠단시세이조 가부시키가이샤 소형 프린트 배선판의 전기 커넥터
KR200387615Y1 (ko) 2005-04-07 2005-06-20 김태완 모듈 테스트 소켓
KR20100008201A (ko) * 2008-07-15 2010-01-25 김석태 액체 높이 측정 장치 및 이를 이용한 액체 높이 측정 방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101095266A (zh) * 2004-12-29 2007-12-26 Fci连接器新加坡有限公司 卡弹出机构
CN1812199A (zh) * 2005-02-14 2006-08-02 金士顿科技公司 内存模块及测试仪
US7125272B1 (en) * 2005-12-29 2006-10-24 Super Micro Computer, Inc. Modular case handle positioning device

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