KR20080045877A

KR20080045877A - 메모리모듈의 테스트용 지그

Info

Publication number: KR20080045877A
Application number: KR1020060115105A
Authority: KR
Inventors: 류상지; 채근영
Original assignee: 에이에스피 반도체(주)
Priority date: 2006-11-21
Filing date: 2006-11-21
Publication date: 2008-05-26

Abstract

본 발명은 메모리모듈의 테스트용 지그에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 마더보드 상에 마련된 접속커넥터에 테스트를 위한 메모리모듈의 인입 및 인출작업을 사람의 손으로 수행하지 않고도 원활히 이룰 수 있도록 하여, 메모리모듈과 마더보드의 파손방지와 함께 보다 극대화된 테스트공정을 실시함이 가능토록 한 메모리모듈의 테스트용 지그에 관한 것이다.

본 발명에 따르면, 마더보드 상에 마련된 접속커넥터에 실장되는 메모리모듈을 테스트하기 위한 통상의 메모리모듈의 테스트용 지그에 있어서, 상기 접속커넥터에 삽입되는 메모리모듈의 고정상태를 유지시켜주기 위한 하우징과; 상기 하우징의 양측단부에 회전 가능하게 일측이 힌지결합되는 복수의 구동핸들 및 연동핸들과; 상기 구동핸들과 연동핸들의 일단에 연결 결합되어 그들의 연동을 이룰 수 있도록 하는 연동바와; 그리고, 상기 구동핸들 및 연동핸들의 하단면에 밀접한 채, 메모리모듈의 삽입 및 분리를 이루도록 회동가능하게 결합된 다수의 이젝트핀을 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.

메모리모듈, 마더보드, 접속커넥터, 구동핸들, 연동핸들, 이젝트핀

Description

메모리모듈의 테스트용 지그{A JIG FOR MEMORY-MODULE TEST}

도 1은 종래 기술에 따른 메모리모듈 테스터의 구성관계를 나타낸 분해사시도.

도 2는 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그의 결합관계를 나타낸 분해사시도.

도 3은 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그의 구성관계를 나타낸 분해사시도.

도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그의 작동관계를 나타낸 작동상태도.

도 5는 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그와 연동바의 구동관계를 나타낸 작동상태도.

도 6은 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그가 마더보드에 장착된 상태를 나타낸 사용예시도.

*** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명***

A : 지그, B : 마더보드, C : 접속커넥터

C-1 : 접속홀, 1 : 하우징, 2 : 구동핸들

3 : 연동핸들, 4 : 이젝트핀, 5 : 연동바

11 : 끼움홀, 12, 12' : 구동공간부, 21 : 파지부

22 : 회동부, 23, 32 : 가압부, 23a : 제1푸시로울러

31 : 연동부, 32a : 제2푸시로울러, 41 : 절곡단

42 : 들림들기, 43 : 회동축, 121, 121' : 힌지공

221, 311 : 힌지축, 231, 321 : 로울러수용부

마더보드(Mother board)의 사전적 의미는, 컴퓨터(Computer)의 기본적인 부품을 장착한 기판으로써, 컴퓨터 내에서 기본회로와 부품들을 담고 있는 가장 기본적이면서도 물리적인 하드웨어이며, 메인보드(mainboard) 또는 주기판(主基板)이라고도 칭한다.

한편, 상기 마더보드 상에 실장(實裝 : 간단한 조작으로 즉시 현용될 수 있는 상태)된 채, 상주된 프로그램의 연산처리 속도를 증가시켜 컴퓨터의 사용성능을 높혀주는 메모리모듈(Memory-module)이 사용되고 있는바, 상기 메모리모듈의 종류 로는, 싱크로너스 다이나믹 랜덤 엑세스 메모리(SDRAM)나 램버스디램(RAMBUS DRAM) 또는 스터딕 랜덤 엑세스 메모리(SRAM) 등의 제조생산으로 상용화되고 있다.

상술한 각종 메모리모듈은 하나의 마더보드 기판(基板, substrate)상에 고정되어 독립적인 회로를 구성하는 것으로, 이러한 메모리모듈은 마더보드에 실장되는 각종 모듈 중에서도 중요한 역할을 수행하기 때문에 그 제조공정이 완료된 후 마더보드 상에 실장되기 전 내부회로의 특성이나 신뢰성을 검사하게 된다.

그에 따라, 국내 등록특허 제10-607546호에 의해 개시된 '컴퓨터용 메모리 자동 실장테스트장치'와 같은 별도의 전문장비를 사용하여 메모리모듈의 테스트를 실시하여 왔으나, 그를 위해 고가의 전문장비를 구입하여야 하는 경제적 부담감과 장비의 설치공간을 별도로 마련하여야 하는 등의 폐단으로 메모리모듈 생산에 필요한 원가보다 더 높은 비용이 소요되어 실질적인 이윤의 목적을 얻는데 어려움이 따를 수밖에 없었다.

또한, 상기 메모리모듈이 테스트되는 조건이 실제의 마더보드 상에서 실시되는 것이 아니라, 별도의 전문장비에 의해서 진행되기 때문에 최적의 조건에서 실험결과를 얻을 수 없어 품질상의 문제점 개선을 완벽하게 극복하지 못하는 단점이 있어왔다.

이에 따라 근래에는, 메모리모듈이 실장되는 마더보드를 직접 적용한 자체 테스트방식을 주로 사용하고 있으며, 이를 위해 국내 등록특허 제10-483196호에서는, 상술한 고가의 실험장비를 이용하지 않고 마더보드 상에 설치된 반도체소자 슬롯을 통하여 간단히 메모리모듈을 테스트할 수 있도록 한 반도체 메모리 테스터가 개시된바 있다.

도 1은 종래 기술에 따른 메모리모듈 테스터의 구성관계를 나타낸 분해사시도로써, 도면에 도시된 바와 같이, 종래의 반도체 메모리 테스터는, 컴퓨터의 마더보드에 마련되고, 상면에 매개슬롯(510)이 형성된 설치소켓(500)과; 상기 설치소켓(500)의 매개슬롯(510) 내에 일단부가 끼워져 접속되는 매개보드(600)와; 상기 매개보드(600)의 다른 일단부와 접속되는 연결커넥터(700)와; 상기 연결커넥터(700) 상부에 결합되고, 접속슬롯(810)이 그 상면에 형성되어 상기 접속슬롯(810) 내부로 반도체 메모리모듈(M)이 끼움 접속되는 테스트소켓(800);으로 이루어져 있다.

또한, 상기 설치소켓(500)과 테스트소켓(800)의 양 끝단에는 매개보드(600) 및 메모리모듈(M)의 분리 또는 결합을 위한 복수의 이젝터(520)(820)가 외측방에 각각 힌지결합되어 있다.

종래 기술에 따른 메모리모듈 테스터의 결합 및 작용관계를 구체적으로 살펴보면, 상기 설치소켓(500)의 매개슬롯(510) 내로 매개보드(600)의 일단부가 소정깊이 끼워져 접속된 후, 상기 매개보드(600)의 상단부로 연결커넥터(700)가 결합 접속되며, 다시 상기 연결커넥터(700)의 상단으로 테스트소켓(800)이 끼움 접속됨과 동시에 상기 테스트소켓(800)의 접속슬롯(810) 내로 내부회로의 특성이나 신뢰성을 테스트하기 위한 메모리모듈(M)의 그 하단부가 삽입 접속된다.

즉, 상기 매개보드(600) 및 메모리모듈(M)을 사람의 손을 이용하여 하방으로 가압시켜 실장시키게 되면, 상기 이젝터(520)(820)가 설치소켓(500) 및 테스트소 켓(800)의 내측방으로 강제 회동되어 상기 매개보드(600) 및 메모리모듈(M)의 고정결합을 이루게 하거나, 상기 다수의 이젝터(520)(820)를 양방향 외측으로 회동시켜 고정상태를 해제시킨 다음 다시 사람의 손으로 끄집어내는 방식으로 분리 탈거시키는 것이다.

하지만, 고가의 실험장비를 이용하지 않고도 마더보드 상에 직접 결합하는 방식으로 메모리모듈을 테스트할 수 있는 장점이 있는 반면, 상기 설치소켓(500)의 매개슬롯(510) 내에 매개보드(600)를 끼우거나 테스트소켓(800)의 접속슬롯(810) 내에 메모리모듈(M)을 가압하여 끼움 접속시키거나 그들을 강제로 끄집어내 탈거시키는 모든 작업공정을 사람의 손으로 직접 수행함에 의해 상기 매개보드(600)와 메모리모듈(M)에 하중 및 충격(Damage)이 가해질 수밖에 없고, 또한 그들을 포함한 능동소자 및 수동소자와 같은 각종 모듈을 간섭하여 제품의 파손률이 증가되며, 손이 직접 닿게 됨에 따른 이물질의 흡착현상으로 전기적 특성의 불량을 유발하는 문제점이 있어왔다.

또한, 메모리모듈(M)을 테스트하기 위하여, 다수의 소켓과 커넥터 및 별도의 매개보드(600) 등을 더 구비함과 함께 그들을 상호 간 적층되도록 하는 조립구성으로, 각 구성요소들 간의 접속상태가 불량하게 되는 문제로 인한 완벽한 검사결과값을 얻을 수 없을 뿐만 아니라, 그러한 적층된 조합체의 구성에 필요한 다수 부품의 제작비용 소요 및 추가적인 조립공정을 더 실시하여야만 하는 폐단이 있어왔다.

본 발명의 목적은 상기와 같은 제반 문제점을 해결하기 위한 것으로, 사람이 직접 손으로 강제 삽입하거나 끄집어내지 않고도 메모리모듈을 접속커넥터 내에 간접적으로 인입/인출시킬 수 있도록 하는 구동핸들 및 연동핸들과 그들의 작동으로 연동되는 다수의 이젝트핀을 구비하여, 메모리모듈의 실장 또는 분리작업을 용이하게 실시할 수 있도록 한 메모리모듈의 테스트용 지그를 제공함에 있다.

상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 메모리모듈의 테스트용 지그는, 마더보드 상에 마련된 접속커넥터에 실장되는 메모리모듈을 테스트하기 위한 통상의 메모리모듈의 테스트용 지그에 있어서, 상기 접속커넥터에 삽입되는 메모리모듈의 고정상태를 유지시켜주기 위한 하우징과; 상기 하우징의 양측단부에 회전 가능하게 일측이 힌지결합되는 복수의 구동핸들 및 연동핸들과; 상기 구동핸들과 연동핸들의 일단에 연결 결합되어 그들의 연동을 이룰 수 있도록 하는 연동바와; 그리고, 상기 구동핸들 및 연동핸들의 하단면에 밀접한 채, 메모리모듈의 삽입 및 분리를 이루도록 회동가능하게 결합된 다수의 이젝트핀을 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.

이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.

첨부도면 중 도 2는 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그의 결합관계를 나타낸 분해사시도이고, 도 3은 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그의 구성관계를 나타낸 분해사시도이며, 도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 메모리모듈 의 테스트용 지그의 작동관계를 나타낸 작동상태도이고, 도 5는 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그와 연동바의 구동관계를 나타낸 작동상태도이며, 도 6은 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그가 마더보드에 장착된 상태를 나타낸 사용예시도이다.

도 2와 도 3 및 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그(A)는, 마더보드(B) 상에 안착된 접속커넥터(C)에 삽입되는 메모리모듈(M)의 고정상태를 유지시켜주기 위한 하우징(1)과, 상기 하우징(1)의 양측단부에 회전 가능하게 일측이 힌지결합되는 복수의 구동핸들(2) 및 연동핸들(3)과, 상기 구동핸들(2)과 연동핸들(3)의 하단면에 밀접한 채 메모리모듈(M)의 삽입 및 분리를 이룰 수 있도록 회동가능하게 결합된 다수의 이젝트핀(4)으로 구성된다.

또한, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 구동핸들(2)의 작동시, 연동하여 상기 연동핸들(3)이 자동적으로 일방향 회동하여 메모리모듈(M)의 상단부를 함께 하방향으로 가압시킬 수 있도록 하는 연동바(5)가 상기 구동핸들(2)과 연동핸들(3)의 일단에 연결 결합되어 있다.

하우징(1)은, 마더보드(B)에 마련된 접속커넥터(B)에 끼워진 상기 메모리모듈(M)의 접속상태를 유지시켜주기 위한 것으로, 상기 접속커넥터(B)를 내부에 수용함이 가능토록 하단이 개방되어 있고, 마감된 상단면으로 길이방향의 장공형으로 관통된 끼움홀(11)과, 상기 복수의 구동핸들(2)과 연동핸들(3) 및 다수의 이젝트핀(4)이 회동가능하게 결합되는 구동공간부(12)(12')가 양단부에 각각 형성되어 있다.

한편, 상기 각각의 구동공간부(12)(12')를 이루는 하우징(1)의 양단부에는, 상기 구동핸들(2) 및 연동핸들(3)의 힌지결합을 위한 힌지공(121)(121')이 더 형성되어 있다.

구동핸들(2) 및 연동핸들(3)은, 상기 메모리모듈(M)이 하우징(1)의 끼움홀(11)을 관통한 후, 그 하측 내부에 수용된 접속커넥터(B)의 접속홀(B-1) 내로 접속(실장)되게 억지끼움하거나 분리되게 탈거시키기 위한 수단으로써,

먼저, 상기 구동핸들(2)은, 사람이 손으로 파지하여 그를 회전 구동시키기 위한 파지부(21)와, 상기 구동핸들(2)의 회전 중심점을 기준하기 위한 회동부(22)와, 상기 회동부(22)의 회전에 따라 메모리모듈(M)의 일 상단부를 하방으로 가압시키는 가압부(23)로 구성된다.

상기 연동핸들(3)은, 하우징(1)의 다른 일단에 결합되어 구동핸들(2)의 역방향으로 회동하여 메모리모듈(M)의 다른 상단부을 가압하기 위한 것으로, 상기 구동핸들(2)의 작동시 연동되는 상기 연동바(5)에 의해 함께 회동하는 연동부(31)와, 상기 연동부(31)의 회동시 메모리모듈(M)의 일 상단부를 가압하는 가압부(32)로 구성된다.

한편, 상기와 같이 메모리모듈(M)이 가압될 때에 그가 손상되거나 파손되지 않도록 하기 위하여, 상기 가압부(23)(32) 내로 제1푸시로울러(23a) 및 제2푸시로울러(32a)가 구비되되, 그들의 수용결합을 위한 로울러수용부(231)(321)가 상기 가압부(23)(32) 내측에 더 마련된다.

또한, 상기 구동핸들(2)의 회동부(22) 말단 및 연동핸들(3)의 연동부(31) 말 단 양측에는, 상기 각각의 힌지공(121)(121')에 끼워지는 힌지축(221)(311)이 돌출형성되어 있다. 따라서, 상기 구동핸들(2)과 연동핸들(3)이 하우징(1)의 구동공간부(12)(12') 내에서 회전가능하게 결합될 수 있는 것이다.

이젝트핀(4)은, 도 3 내지 도 4b에 도시된 바와 같이, 상기 접속커넥터(B) 내에 메모리모듈(M)이 용이하게 끼워질 수 있도록 하단을 받쳐주거나 들어올려 간단히 분리시키기 위한 것으로, 소정길이의 핀형태이고, 상기 구동핸들(2) 및 연동핸들(3)의 회동시에 동일하게 회동될 수 있도록 그들의 하단면에 밀접되는 "ㄱ"자형의 절곡단(41)과, 상기 메모리모듈(M)의 양 하단 모서리를 받쳐 삽입안내 및 분리를 가능케 하는 들림돌기(42)와, 상기 하우징(1)의 구동공간부(12)(12') 내측 하단에 회동가능하게 힌지결합되는 회동축(43)으로 구성된다.

미설명부호 (B)는 컴퓨터 내에 결합되는 마더보드이고, (C)는 메모리모듈이 마더보드에 연결되어 전기적으로 접속될 수 있도록 하는 접속커넥터이며, (C-1)은 메모리모듈이 접속될 수 있도록 접속커넥터 상단에 길이방향으로 형성된 접속홀이다.

상기와 같은 구성으로 되는 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그의 작용을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.

먼저, 도 2 및 도 6에 도시된 바와 같이, 마더보드(B) 상에 메모리모듈(M)이 전기적으로 접속될 수 있도록 하는 접속커넥터(C)가 우선 결합되고, 그 상단으로 상기 메모리모듈(M)이 끼움된 채 그 고정상태를 유지시켜주도록 하거나 반대로 접속커넥터(C)로부터 분리 탈거될 수 있도록 하는 하우징(1)이 결합되며, 다시 상기 하우징(1) 양측의 구동공간부(12)(12')로 구동핸들(2) 및 연동핸들(3)이 회동되게 일체로 결합된다.

또한, 도 3 및 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 구동핸들(2)의 회전 작동시에, 연동핸들(3)이 함께 회동하여 메모리모듈(M)의 양측 상단부를 일정하게 가압할 수 있도록 그들의 일 외측에 결합되는 연동바(5)가 결합된다.

이와 함께, 도 4a에 도시된 바와 같이, 상기 하우징(1) 각각의 구동공간부(12)(12')의 하측에 힌지결합된 채로 상기 구동핸들(2) 및 연동핸들(3)의 회전동작시 함께 회동하는 다수의 이젝트핀(4)이 상기 구동핸들(2)과 연동핸들(3)의 하단에 밀접하게 더 결합된다.

이와 같이, 접속커넥터(C)를 포함하는 본 발명에 따른 메모리모듈의 테스트용 지그(A)가 마더보드(B) 상에 결합되면, 메모리모듈(M)을 상기 하우징(1) 상단면에 형성된 복수의 끼움홀(11)에 관통시켜 상기 접속커넥터(C)의 접속홀(C-1) 부위에 닿도록 위치시킨다.

다음으로, 상기 메모리모듈(M) 측방으로 구동핸들(2)의 파지부(21)를 손으로 잡고 회동시킨다. 이때, 상기 구동핸들(2)의 가압부(23) 내에 수용된 제1푸시로울러(23a)가 메모리모듈(M)의 일 상단부를 하방향으로 가압하게 되는 것이며, 상기 구동핸들(2) 및 연동핸들(3)의 외측 일단에 결합된 연동바(5)의 연계 작동으로 연동핸들(3)이 구동핸들(2)의 역방향으로 함께 회동하여 제2푸시로울러(32a)가 메모리모듈(M)의 다른 상단부를 가압하게 된다.

그로 인해, 상기 접속커넥터(C)의 접속홀(C-1) 내로 메모리모듈(M)이 용이한 삽입 및 그를 통한 접속을 이루게 된다.

한편, 상기와 같은 과정으로 메모리모듈(M)이 접속커넥터(C)의 접속홀(C-1) 내로 끼움되는 과정 중, 상기 다수의 이젝트핀(4)이 구동핸들(2)과 연동핸들(3)에 의해 회동되는 것이며, 다수의 이젝트핀(4) 각각의 들림돌기(42) 상면에 메모리모듈(M)의 양 하단부가 받쳐진 상태로 접속홀(C-1) 내부로 안전히 삽입 접속되게 된다.

상술한 바와 같은 구성관계 및 구동과정을 거쳐 도 6에 도시된 바와 같이, 마더보드(B)에 접속된 메모리모듈(M)의 테스트과정을 이룰 수 있다.

반면, 도 4b에 도시된 바와 같이, 테스트를 마무리한 상기 메모리모듈(M)을 마더보드(B)의 접속커넥터(C)로부터 분리하게 되는데, 상기 구동핸들(2)을 외측방으로 회전 작동시켜 그와 연관된 연동바(5)가 작동하여 연동핸들(3) 역시 회전되는 것이며, 구동핸들(2)과 연동핸들(3)의 하단에 밀접한 다수의 이젝트핀(4)이 함께 회동됨으로 상기 메모리모듈(M)의 양 하단부를 받치고 있던 들림돌기(42)가 상방으로 들려짐으로 접속홀(C-1)로부터 메모리모듈(M)이 용이하게 분리되는 것이다.

이상에서와 같이 본 발명을 바람직한 실시 예를 이용하여 상세히 설명하였으나, 본 발명의 범위는 특정 실시 예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의하여 해석되어야 할 것이다. 또한, 이 기술분야에서 통상의 지식을 습득한 자라면, 본 발명의 범주와 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변형실시가 가능함은 물론이다.

이상의 설명에서 분명히 알 수 있듯이, 본 발명의 메모리모듈의 테스트용 지그는, 마더보드 상에 마련된 접속커넥터 내로 메모리모듈을 사람이 직접 손으로 가압하여 실장하거나 강제로 분리시키지 않고도 구동핸들과 연동핸들 및 다수의 이젝트핀을 이용하여 간접적으로 메모리모듈의 인입 및 인출을 이룰 수 있어, 메모리모듈의 장착 또는 분리시 발생될 수 있는 하중 및 충격이 마더보드를 포함한 주변모듈에 영향을 미치지 않아 제품파손의 우려를 해소할 수 있도록 하는 효과가 있다.

또한, 상기 구동핸들과 연동핸들 및 다수의 이젝트핀을 통해 간접적으로 메모리모듈을 접속커넥터에 착탈시킴이 가능함으로, 사람의 손에 의해 메모리모듈에 이물질이 흡착될 수밖에 없었던 폐단을 미연에 차단할 수 있어 보다 극대화된 테스트공정을 수행함을 가능케 하는 유용한 발명인 것이다.

Claims

마더보드 상에 마련된 접속커넥터에 실장되는 메모리모듈을 테스트하기 위한 통상의 메모리모듈의 테스트용 지그에 있어서,

상기 접속커넥터에 삽입되는 메모리모듈의 고정상태를 유지시켜주기 위한 하우징과;

상기 하우징의 양측단부에 회전 가능하게 일측이 힌지결합되는 복수의 구동핸들 및 연동핸들과;

상기 구동핸들과 연동핸들의 일단에 연결 결합되어 그들의 연동을 이룰 수 있도록 하는 연동바와; 그리고,

상기 구동핸들 및 연동핸들의 하단면에 밀접한 채, 메모리모듈의 삽입 및 분리를 이루도록 회동가능하게 결합된 다수의 이젝트핀을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 메모리모듈의 테스트용 지그.
제 1항에 있어서,

상기 하우징은, 상기 접속커넥터를 내부에 수용함이 가능토록 하단이 개방되어 있고, 마감된 상단면으로 길이방향의 장공형으로 관통된 끼움홀과, 상기 복수의 구동핸들과 연동핸들 그리고 다수의 이젝트핀이 회동가능하게 결합되는 구동공간부와, 상기 구동핸들 및 연동핸들의 힌지결합을 위한 힌지공이 형성됨을 특징으로 하는 메모리모듈의 테스트용 지그.
제 1항에 있어서,

상기 구동핸들은, 그를 회전 구동시키기 위한 파지부와, 상기 구동핸들의 회전 중심점을 기준하기 위한 회동부와, 상기 회동부의 회전에 따라 메모리모듈의 일 상단부를 하방으로 가압시키는 가압부와, 상기 가압부 내에 수용되는 제1푸시로울러로 구성됨을 특징으로 하는 메모리모듈의 테스트용 지그.
제 1항에 있어서,

상기 연동핸들은, 상기 구동핸들의 작동시 연동되는 상기 연동바에 의해 함께 회동되는 연동부와, 상기 연동부의 회동시 메모리모듈의 일 상단부를 가압하는 가압부와, 상기 가압부 내에 수용되는 제2푸시로울러로 구성됨을 특징으로 하는 메모리모듈의 테스트용 지그.
제 1항에 있어서,

상기 이젝트핀은, 소정길이의 핀형태이고, 상기 구동핸들 및 연동핸들의 회동시에 함께 회동될 수 있도록 그들의 하단면에 밀접되는 "ㄱ"자형의 절곡단과, 상기 메모리모듈의 양 하단 모서리를 받쳐 삽입을 안내하거나 분리 탈거를 이룰 수 있도록 들림돌기와, 상기 하우징의 구동공간부 내측 하단에 회동가능하게 힌지결합되는 회동축으로 구성됨을 특징으로 하는 메모리모듈의 테스트용 지그.