CN101900605A - 荧光相关光谱设备和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种荧光相关光谱设备和方法,对于检测样品中所包含的共存的各组分的存在比时通过FCS的测量,所述荧光相关光谱设备和方法能够尽可能减少对照样品的荧光测量次数。在本发明的用于通过FCS检测溶液样品中所包含的具有荧光标记的各组分的存在比的设备和方法中,基于在不同测量条件等下各组分的平移扩散时间的比保持不变的知识,采用各组分的平移扩散时间的比的值。

Description

荧光相关光谱设备和方法
技术领域
本发明涉及一种利用荧光相关光谱法(FCS)的荧光分析设备和荧光分析方法,更具体地,涉及一种通过FCS来进行例如蛋白质、肽、核酸、类脂、糖链、氨基酸和其它生物分子等各种分子的相互作用、结合和/或离解状态的检测和分析的设备和方法。
背景技术
根据近年来光学测量技术的发展,已可利用能够以分子水平测量和分析荧光的荧光相关光谱法(FCS)(非专利文献1和2)。简言之,在FCS中,通过使用激光共聚焦显微镜以及能够光子计数(单光子检测)的超高敏感光子检测装置的光学系统,测量来自通过溶液样品中的微区域(称为“共聚焦体积”,显微镜的激光光束会聚的聚焦区域)的例如荧光分子、荧光标记分子等荧光粒子的荧光强度,然后,计算所得到的荧光强度的自相关函数。可以将自相关函数认为是来自荧光粒子的荧光强度涨落的指数,并且荧光强度的涨落对应于微区域中荧光粒子数量的涨落,因此,在自相关函数的值中,反映了微区域中荧光粒子的平均停留时间(平移扩散时间)和荧光粒子的平均停留数量(粒子平均数量)。结果,自相关函数的值提供了关于荧光分子的运动速度、尺寸和浓度等的信息,并且基于该信息,可以检测例如分子的结构或大小变化、分子的结合和/或离解反应或者分散和聚集等各种现象。
此外,在生物科学、医学或药学领域,已尝试在生物分子等的状态和运动的检测或观察中使用FCS来阐明处于细胞或分子水平的生物分子等的各种现象或反应(专利文献1和2,非专利文献3)。例如,在具有连接于一对可相互结合的分子(抗原和抗体、DNA和蛋白质等)中的至少之一的荧光标记的这一对分子的反应中,在来自荧光标记的荧光强度的涨落中,反映了该至少一个分子上的荧光标记的运动和/或状态变化,以致可以检测蛋白质、DNA等中的分子间结合。特别地,已提出了一种模型公式,其给出针对多个荧光分子组分进出观察荧光的微区域的状态的荧光强度的自相关函数值,并且利用该模型公式,确定溶液样品中的多个荧光分子组分的存在比,并且基于所确定的比率,可以计算离解常数、结合常数等(非专利文献2)。另外,由于与传统的生化方法相比,在FCS中可以利用更少的样品量并在更短的时间内进行测量,所以在医学、药学等领域中还期望将FCS应用于各种疾病的临床诊断或者生物活性物质的筛选。
专利文献1:日本特开专利2005-098876号公报
专利文献2:日本特开专利2008-292371号公报
非专利文献1:Masataka Kaneshiro,Protein,Nucleic acidEnzyme,Vol.44,No.9,p.1431-1438(1999)
非专利文献2:F.J.Meyer-Alms,Fluorescence CorrelationSpectroscopy、R.Rigler,edit.Springer,Berlin,2000,p.204-224
非专利文献3:Noriko Kato,et.al.Gene Medicine,Vol.6,No.2,p.271-277
发明内容
在通过上述的荧光相关光谱法来检测包含共存的多种分子组分的样品中各组分的存在比(分子数之比),例如,为了检测至少两种组分的分子间结合比率或者检测伴随着分子量变化等的反应进度,通常,首先进行要测试样品的荧光强度的测量和自相关函数的计算,随后,进行针对所计算出的自相关函数C(τ)拟合下列公式的处理,以确定各组分的存在比yi,
C ( τ ) = 1 + 1 N Σ i yi ( 1 + τ τi ) - 1 ( 1 + τ A R 2 τi ) - 1 / 2 . . . ( 1 )
其中,N是在共聚焦体积中存在的荧光粒子的平均数量;AR是共聚焦体积的纵向长度wz与横向半径wo之比(AR=wz/wo),称为结构参数(参见图1(B));以及τi是各组分的平移扩散时间。因此,为了通过根据公式(1)的自相关函数的拟合来确定各组分的存在比,优选预先确定结构参数AR和各组分的平移扩散时间值τi(由于N是由C(0)给出的,因此通过拟合给出N)。在这方面,结构参数AR和平移扩散时间τi的值可以依赖于测量条件或设备调整条件而变化。因此,通常,为了以高精确度进行测量,在每次测量测试样品(要测试样品)的荧光强度时,针对连接有该测试样品中的组分的荧光标记(通常为荧光染料)的样品,进行荧光强度的测量和其自相关函数的计算,以由所计算出的自相关函数的值确定结构参数AR;此外针对只包含测试样品中的各组分的样品,进行荧光强度的测量和其自相关函数的计算,以计算出各组分的平移扩散时间。(下文中,将其中仅存在测试样品中所包含的一种组分的样品称为“对照样品”)。例如,在某些荧光分子与其它分子结合反应的情况下,各自制备了具有所有某些荧光分子已结合至其它分子的样品以及具有所有某些荧光分子已从其它分子离解的样品,并且无论何时进行测试样品的荧光测量和分析,都分别进行这些样品的荧光测量以及自相关函数和扩散平移时间值的计算。
然而,在每次对测试样品进行荧光强度测量时进行荧光标记的样品和对照样品的荧光测量和自相关函数计算需要较长的时间和更多劳动。尽管连接于测试样品中的组分的荧光标记的样品的获取和/或制备相对容易(通常,预先制备足够量的荧光标记),但对照样品通常可能是昂贵或稀少的,并且其制备还需要一些劳动,因此,优选这类对照样品的荧光测量次数尽可能少。
因此,本发明的目的之一在于提供一种荧光相关光谱设备和/或方法,在通过FCS以检测包含共存的多种组分的样品中各组分的存在比的测量中,所述荧光相关光谱设备和方法能够尽可能减少对对照样品进行荧光测量的次数。
在这点上,根据本发明的发明人的研究,已通过实验证实,尽管任意多种组分中各组分的平移扩散时间的绝对值随测量条件和设备调整而变化,但是在相同的测量条件和相同的设备调整状态下检测的多个组分的平移扩散时间值的比即使在不同的测量条件和/或不同的设备调整状态下也几乎恒定。因此,利用该知识,提出了本发明以实现上述目的。
在本发明的一方面,提供了一种荧光相关光谱设备,采用其能够检测溶液样品中所包含的具有荧光标记的至少两种组分中各组分的存在比,所述荧光相关光谱设备包括:数据存储区,其存储所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值;以及检测部,其使用所存储的所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值,由用所述溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值检测所述至少两种组分中各组分的存在比。
如已表明的,任意分子或粒子的平移扩散时间值依赖于荧光测量中的测量条件例如温度、溶液的粘度和设备的调整状态,尤其是依赖于激光光束的会聚状态、溶液容器的盖玻片的厚度等而变化的共聚焦体积的尺寸而变化。然而,根据本发明的发明人所做的实验,已证实,不管测量条件和设备的调整状态如何,任意多种分子或分子组装的平移扩散时间值的比几乎是恒定的(保持不变)。因此,在本发明中,溶液样品中所包含的至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值已预先准备并存储在该设备中,然后,参照平移扩散时间比的值,由用溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值,检测溶液样品中的至少两种组分的各组分的存在比。根据该结构,可以省略对照样品的平移扩散时间值的检测,即,每次改变测量条件或设备调整都进行的溶液样品中至少两种组分中各组分的平移扩散时间值的检测,从而可以显著地减轻用于制备、测量和分析对照样品的负担。就此而论,通常,至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值可以是至少两种组分中各组分的平移扩散时间与具有要连接于这些组分的荧光标记的标准物质的平移扩散时间之比的值(通常,具有荧光标记的标准物质可以是荧光染料分子本身,但不限于此)。在这种情况下,通过将标准物质的平移扩散时间乘以至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值来给出至少两种组分中各组分的平移扩散时间的绝对值。至于该设备的结构参数,无论测量条件和/或设备的调整状态何时改变,都可以由用标准物质测量出的荧光强度的自相关函数值确定该值,然后,将该值存储在该设备中。
在上述本发明设备的结构中,可以由用至少两种组分中各组分测量出的荧光强度的自相关函数值所确定的至少两种组分中各组分的平移扩散时间,计算出至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值,然后,将该值存储在上述数据存储区中。在这点上,一旦确定的至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值,该值在不同的测量条件和/或不同的设备调整状态下都会保持不变,因此,对于各组分,在相同的测量条件和设备的调整状态下以足够的精度进行至少一次荧光测量、自相关函数的计算和平移扩散时间的计算是足够的,从而将显著减少现有技术中所需要的时间和劳动。因此,本发明的设备进一步可以包括:由针对所述至少两种组分中各组分测量出的荧光强度的自相关函数值确定所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的部;计算所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值的部;以及将至少所述两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值存储在所述数据存储区中的部。另外,由于在各种测量条件和设备的调整状态下至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值保持不变,作为至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的要存储在数据存储区中的值可以是未在同一设备中而是在不同设备中已用实验方法或理论上预先确定的值。因此,本发明的设备还可以包括将所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的预定值存储在所述数据存储区中的部。
在本发明的设备的一个实施方案中,可以通过针对用包含至少两种组分的溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值,拟合自相关函数的理论公式,检测要测试溶液样品中的至少两种组分中各组分的存在比。理论公式包括至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值作为其参数,其中,可以将通过使至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值乘以具有荧光标记的标准物质的平移扩散时间而获得的值用作至少两种组分中各组分的平移扩散时间。
此外,在上述拟合中,至少两种组分中各组分的平移扩散时间不是检测值,而是估计值,从而,可能降低拟合的精确度。因此,可以设计本发明的设备包括在拟合的卡方值大于预定阈值时产生拟合精度不足的警告,从而可以忽略具有低拟合精度的检测结果的部。另外,由于拟合的精度会依赖于激发波长和所检测到的荧光波长而变化(因为激光光束的聚光度和光电检测器的灵敏度可依赖于波长而改变),因此,优选可以针对不同标准物质设置不同的预定阈值。
另外,根据上述本发明的设备,提出了一种通过使用至少两种组分中各组分的“平移扩散时间比”来确定溶液样品中所包含的被荧光标记的至少两种组分中各组分的存在比的方法。因此,本发明的用于通过荧光相关光谱法检测溶液样品中所包含的具有荧光标记的至少两种组分中各组分的存在比的方法包括以下步骤:使用存储在数据存储区中的所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值,由针对溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值检测所述至少两种组分中各组分的存在比。
此外,在该方法中,所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值可以是所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间与具有所述荧光标记的标准物质的平移扩散时间之比的值。另外,通过将针对荧光强度的自相关函数值拟合包括至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值作为参数的自相关函数的理论公式,由所述用包含至少两种组分的溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值,可以检测至少两种组分中各组分的存在比,并且在该理论公式中,可以使用通过将具有荧光标记的标准物质的平移扩散时间乘以至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值而得到的值作为至少两种组分中各组分的平移扩散时间。而且,在上述方法中,存储溶液样品中所包含的至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值可以通过以下任一步骤来进行:在由针对所述至少两种组分中各组分测量出的荧光强度的自相关函数值确定至少两种组分中各组分的平移扩散时间,并且计算所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间比的值之后,将所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值存储在所述数据存储区中的步骤;以及将至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的预定值存储在数据存储区中的步骤。
根据上述本发明的结构,可以实质上减少针对对照样品的荧光测量、计算自相关函数值和检测平移扩散时间的次数。因此,不必在每次测量荧光强度时针对使用要测试样品制备对照样品,因而,会缩短测量的时间。另外,在通过具有要分配各个样品的多个孔的微型板进行测量的情况下,不必过多地使用用于对照样品的孔。
此外,在本发明中,可以基于由以足够精度针对各组分进行的测量获得的平移扩散时间的比来确定要测试样品中至少两种组分中各组分的平移扩散时间,因此,期望改善关于要测试样品的检测结果的可靠性。在FCS中,通过统计地处理荧光测量结果来计算平移扩散时间,因而,本质上,所计算出的平移扩散时间的结果中存在相当大的离散(dispersion)。即,仅通过在对要测试样品的每次荧光测量时进行的对于对照样品的极少次或有限次测量而检测到的平移扩散时间值的可靠性并不会一直高,因此,利用那些平移扩散时间所获得的要测试样品的检测结果几乎不准确。然而,在本发明中,通过使用已在足够的时间内确定的各对照样品的平移扩散时间的比,可以实现改善对于要测试样品的检测结果的精度。
根据以下对本发明的优选实施方案的说明,本发明的其它目的和优点将变得显而易见。
附图说明
图1A是根据本发明的荧光相关光谱设备的内部结构的示意图。图1B是共聚焦体积(共聚焦显微镜的观察区)的示意图。
图2示出示意性地表示本发明的荧光相关光谱设备中所计算出的荧光强度的自相关函数的曲线图(左图)以及在测量样品中分子的示意图(右图)。图2A、图2B、图2C各自示出针对要测试样品中所包含的一种组分的对照样品1所获得的自相关函数、针对要测试样品中所包含的另一种组分的对照样品2所获得的自相关函数、以及针对要测试样品所获得的自相关函数。在附图中,箭头表示要测试样品中的各组分的平移扩散时间(τ1,τ2)。
具体实施方式
以下,详细地描述根据本发明的优选实施方案。
荧光相关光谱设备的结构和分析方法
参考图1A,根据本发明的荧光相关光谱设备1的优选实施方案包括光学系统2-17和计算机18,该计算机18控制光学系统中各个部的操作,并且还获取并分析数据。荧光相关光谱设备1的光学系统可以与普通共聚焦显微镜的光学系统相同。简言之,首先,照射从光源2发射并通过单模光纤3传播的激光(Ex),作为从在光纤的出射端以光纤端的NA确定的角度发散的光。然后,该光通过平行光管4形成为平行光束,并且在分色镜5和反光镜6和7上反射,以引导到物镜8中。在物镜8上方,通常,放置了具有排列于其上的多个样品容器或孔(well)10的微型板9,其中,每个容器或孔10中分配一至几十微升的溶液样品。在一个样品容器或孔10中的溶液样品中,从物镜8发射的激光聚焦以形成具有强烈光强度的区域(激发区域)。溶液样品中的组分(分子)设置有荧光标记,例如荧光染料等,因此,当溶液样品中的这些组分通过布朗运动移动以进入激发区域中时,激发荧光标记,以发射荧光,直到这些组分从激发区域中移出。然后,所发射的荧光(Em)通过物镜8和分色镜5,在镜11上反射,通过聚光透镜12会聚,并通过针孔13,以通过阻断滤片(barrierfilter)14(其中,仅选择特定波长带区域中的光组分)引导到多模光纤15中。在这点上,如本领域的技术人员已知,将针孔13放置在物镜8的聚焦位置的共轭位置(conjugate position)处,从而,仅从聚焦区域,即如图1B示意性示出的物镜8的激发区域发射的荧光可以到达光电检测器16,并且截断来自除了激发区域外的光。将由如图1B所示的物镜8的聚焦区域称为“共聚焦体积”,其体积通常为约1毫微微升(fL)。
然后,将利用光电检测器16检测到的荧光依次改变为电信号时序并通过控制器17输入到计算机18中。在计算机18中,根据存储在存储设备(未示出)中的程序,通过使用下列公式来进行荧光强度I(t)的自相关函数C(τ)的计算:
C ( τ ) = ( ΣI ( t ) · I ( t + τ ) ) / n ( ΣI ( t ) ) 2 / n 2 . . . ( 2 )
(其中,t,τ和n分别是测量时间、相关时间和总项数),并且进行各种分析。在分析中,原则上,针对荧光的自相关函数值拟合下列公式(3),以确定平移扩散时间τD,即,荧光发射粒子进入到共聚焦体积中的平均停留时间,以及停留在共聚焦体积中的荧光发射粒子的平均数N:
C ( τ ) = 1 + 1 N ( 1 + τ τD ) - 1 ( 1 + τ AR 2 τD ) 2 . . . ( 3 )
其中,AR是表示该设备的调整状态的特征值,称为“结构参数”,其对应于如图1B所示的共聚焦体积的纵向长度wz与半径wo之比(=wz/wo)。此外,在溶液样品包含多种(至少两种)组分的情况下,通过针对自相关函数拟合下列公式来确定各组分的存在比yi:
C ( τ ) = 1 + 1 N Σ i yi ( 1 + τ τi ) - 1 ( 1 + τ A R 2 τi ) - 1 / 2 . . . ( 4 )
其中,τi是各组分的平移扩散时间。
在使用如上所述的荧光相关光谱设备1来针对任意溶液样品进行测量时,通常,在约几秒到几十秒内进行几次荧光测量,并且对于各测量,通过自相关函数的计算及其拟合来运算出平移扩散时间、平均粒子数和/或各组分的存在比,然后,采用这些几次计算出的值的平均值作为各最终值。
此外,在通过如上所述的荧光相关光谱法来对任意溶液样品进行测量时,通常,在所有荧光测量之前进行设备的调整状态的检验。具体地,共聚焦体积的尺寸(半径wo和纵向长度wz)依赖于激光的共聚焦状态或功率(power)、构成放置在物镜8上方的微型板的样品容器或孔的底部的盖玻片的厚度、物镜的补偿环的设置状态、针孔13的位置和/或大小等而变化,并且共聚焦体积的尺寸变化影响检测值,例如自相关函数值、平移扩散时间和平均粒子数。因此,通常,针对标准物质的溶液进行荧光测量和自相关函数值的计算,所述标准物质包括添加到要测试溶液样品的组分中的荧光标记(通常,标准物质可以是荧光染料分子本身),并且通过针对所计算出的自相关函数值拟合公式(3)来确定标准物质的结构参数AR和平移扩散时间τD。而且,如果所得到的结构参数值AR落入预定范围内,则将设备的调整状态判断为正常,并且在随后进行的测量和分析中使用所获取的AR(如果设备的调整状态是不能接受的,则将重复该调整)。
另外,当进行用于确定溶液样品中所包含的多种组分中各组分的存在比的测量和分析时,确定各组分的平移扩散时间τi(参见图2A和图2B)。为此,首先,制备仅包含各组分的对照样品,并且对于这些对照样品中的每一种,进行荧光测量和自相关函数值的计算。随后,通过使用以上所获取的结构参数A作为已知量,针对各对照样品计算出的自相关函数值拟合公式(3),计算各组分的平移扩散时间τi。然后,在针对包含要检测存在比的组分的样品的荧光强度的自相关函数值拟合公式(4)时,使用结构参数AR和各组分的平移扩散时间τi作为已知量(参见图2C)。
在这点上,通常,各自进行几次针对荧光标记的溶液和对照样品的用于确定结构参数AR和各组分的平移扩散时间τi的荧光测量,并且采用由所得到的荧光自相关函数值计算出的AR的平均值和τi的平均值作为各最终值。
本发明对荧光相关光谱法的改进
如“发明内容”章节中所述,在通过如上所述的荧光相关光谱法对溶液样品中所包含的多种组分中各组分的存在比的测量和分析中,在公式(4)的拟合中所使用的结构参数AR和各组分的平移扩散时间τi是随着例如温度和溶液粘度等测量条件以及设备的调整状态(尤其是共聚焦体积的尺寸等)而变化的参数。因此,在现有技术中,无论何时进行包含多种组分的特定样品的测量和分析,都需要制备标准物质溶液和要测试样品中的各组分的对照样品(例如,当将如图1A所示的具有其上排列多个孔10的微型板9用作样品容器时,将标准物质溶液和各组分的对照样品分配给几个孔),并且分别对于标准物质溶液和各对照样品进行荧光测量和自相关函数的计算。然而,特别地,对照样品通常是昂贵和/或稀有的,并且其制备也是麻烦和/或耗时的。因此,在本发明中,如下文所述,改进了荧光相关光谱法的处理,使得可以尽量减少对对照样品的荧光测量的次数。
(i)改进原理
对于某一组分i,将其平移扩散时间τi定义为:
τi=wo2/4Di--(5)
其中,Di是组分i的扩散常数。当假设在水溶液中该组分作为具有半径ri的球时,通过下式给出扩散常数:
Di=kB·T/6π·ri·η(T)--(6)
[其中,kB是波尔兹曼常数;T是溶液样品的绝对温度;η(T)是作为温度T的函数的溶液样品的粘度系数。]
因此,通过下式给出平移扩散时间τi:
τi=(3π/2kB)·wo2·(η(T)/T)·ri--(7)
然后,考虑到进行包含多个组分的溶液样品的荧光测量,在公式(7)中,wo是共聚焦体积的尺寸,以及η(T)/T是在测量时的环境条件,因此,这些值对于溶液样品中的所有组分而言是通用的。因此,即使当共聚焦体积或测量时的环境条件变化时,也能通过下式给出组分1,2,...,i,...的平移扩散时间之比τ1∶τ2∶...τi∶...∶
τ1∶τ2∶...∶τi∶...=r1∶r2∶...∶ri∶...--(8)
并且这些比值保持不变。因此,当在相同的共聚焦体积并在相同的环境条件下使用对应的对照样品来进行至少一次测量各组分的平移扩散时间并且存储各组分的比率时,即使共聚焦体积和/或环境条件在测量期间变化,也可以估计各组分的平移扩散时间的值,而不用进行各对照样品的荧光测量和自相关函数的计算。
(ii)确认原理的实验
在以下实验中,已确认在如上所述的荧光相关光谱法中溶液样品中所包含的多种组分的各组分的平移扩散时间比保持不变。在实验中,在不同温度条件下针对以下溶液样品进行如上所述的荧光测量:只包含荧光染料ATT0633的溶液样品、只包含具有ATT0633的肽的溶液样品(图2A,右边)、以及只包含与具有ATT0633的肽结合的抗体的溶液样品(图2B,右边),然后,由对应的所测量出的荧光强度的自相关函数计算各组分的平移扩散时间。结果如下:
表1
平移扩散时间(微秒)
  第一次试验   第二次实验   第三次实验
  ATT0633   137   132   128
  具有ATT0633的肽   290   273   270
  与具有ATT0633的肽结合的抗体   880   861   830
根据以上结果,可以看出,相同样品的绝对平移扩散时间值在不同温度条件下会改变。然而,利用各次试验的ATT0633的平移扩散时间的值对所得到的值进行归一化时,即,当计算平移扩散时间的比率时,如表2所示,证实尽管绝对平移扩散时间值变化,各组分的平移扩散时间的比仍保持不变。
表2
(相对于AT0633(标准物质)的平移扩散时间)平移扩散时间的比
  第一次试验   第二次实验   第三次实验
  ATT0633   1   1   1
  具有ATT0633的肽   2.12   2.07   2.11
  与具有ATT0633的肽结合的抗体   6.42   6.52   6.48
(iii)结构的改进
在本实施方案中,利用尽管测量条件等变化但溶液样品中所包含的多个组分的各组分的平移扩散时间的比仍保持不变的知识,改进了通过荧光相关光谱法确定溶液样品中所包含的各组分的存在比的方法和用于该方法的荧光相关光谱设备1的结构、以及控制设备1的操作的计算机程序的一部分。
在确定某一溶液样品中所包含的多个组分的各组分的存在比时,仅当未知各组分的平移扩散时间的比时,制备各组分的对照样品,并且针对各组分的对照样品,进行荧光测量、自相关函数的计算并通过公式(3)的拟合计算平移扩散时间(在对照样品的荧光测量之前,类似于现有技术,用标准物质的溶液确定结构参数AR和标准物质的平移扩散时间)。然后,通过如下利用标准物质的平移扩散时间对所计算出的各组分的平移扩散时间归一化,确定各组分的平移扩散时间(相对于标准物质的平移扩散时间)的比κi:
κi=τi/τ0--(9)
(τ0是标准物质的平移扩散时间),并且将所得到的比存储在任意数据存储区中。例如,当要测试的溶液样品包含荧光标记标准物质0的两种组分即组分1和组分2时,分别对组分1的对照样品1和组分2的对照样品2进行荧光测量,并且计算其自相关函数,如图2A和图2B所示,从而分别确定平移扩散时间τ1、τ2。然后,通过下式确定平移扩散时间比κ1和κ2:
κ1=τ1/τ0--(10a)
κ2=τ2/τ0--(10b)
并且将所得到的比值存储在数据存储区中。
在确定溶液样品中的各组分的存在比时,制备标准物质溶液和要测试的溶液样品,并且在当前条件下确定结构参数AR和标准物质的平移扩散时间τ0后,对溶液样品进行荧光测量和自相关函数的计算。然后,针对溶液样品的自相关函数拟合包括各组分的平移扩散时间比κi与标准物质的平移扩散时间τ0的乘积作为各组分的平移扩散时间的公式(11),从而,确定各组分的存在比yi:
C ( τ ) = 1 + 1 N Σ i yi ( 1 + τ κi · τ 0 ) - 1 ( 1 + τ A R 2 κi · τ 0 ) - 1 / 2 . . . ( 11 )
例如,当要测试的溶液样品包含荧光标记有标准物质0的组分1和组分2时,仅制备标准物质0的溶液和要测试的溶液样品,并且进行标准物质0的溶液和要测试的溶液样品的荧光测量。然后,针对如图2C所示获得的自相关函数拟合下列公式(12):
C ( τ ) = 1 + 1 N [ y 1 ( 1 + τ κ 1 · τ 0 ) ( 1 + τ AR 2 κ 1 · τ 0 ) 1 / 2 1 - y 1 ( 1 + τ κ 2 · τ 0 ) ( 1 + τ AR 2 κ 2 · τ 0 ) 1 / 2 ] . . . ( 12 )
从而,确定组分1的存在比y 1和组分2的存在比y2=1-y1。就此而论,使用共聚焦体积中的平均粒子数N,可以通过下式给出组分1和组分2的各粒子数N1和N2:
N1=N·y1--(13a)
N2=N·y2--(13b)
另外,当以任意方式确定共聚焦体积Vc时,将组分1和组分2的浓度分别作为N·y1/Vc;N·y2/Vc给出。
为了实现如上所述的荧光相关光谱法,计算机18配备有存储了平移扩散时间比κi的数据存储区,以及配备有如下结构:用于由针对各组分测量出的荧光强度的自相关函数值确定多种组分中各组分的平移扩散时间,并且计算并存储比κi。另外,在用于计算机18运行的计算机程序中,安装了由针对各组分测量出的荧光强度的自相关函数值确定多种组分中各组分的平移扩散时间,并计算和存储由对照样品的自相关函数计算出的平移扩散时间的比κi的程序,以及利用存储在数据存储区中的平移扩散时间比κi执行上述公式(11)或(12)的拟合的程序。
此外,由于在各种测量条件等下各组分的平移扩散时间比κi保持不变,所以这些比可以不是通过相同的荧光相关光谱设备1测量出的值。因而,荧光相关光谱设备1和计算机程序可以包括能够使操作者将在设备1的外部独立确定的各组分的平移扩散时间的比κi输入到数据存储区中的部分。要输入的平移扩散时间比κi的值可以是通过例如分子动力学等的任意计算方法确定的值。
(iv)防止拟合精度的劣化
在如上所述针对由荧光测量获得的自相关函数拟合具有平移扩散时间比κi的公式(11)或(12)时,各组分的平移扩散时间不是实际测量值,而是估计值,因此,其中的拟合精度可能劣化。因而,在本实施方案中,可以提供用于能够使操作者检验公式(11)或(12)的拟合时的精度的结构。更具体地,在执行公式(11)或(12)的拟合时,计算卡方值:表示实际的自相关函数值与拟合函数值之差的特征参数(简言之,卡方值是实际自相关函数值与拟合函数值之差的总和)。然后,如果卡方值大于预定阈值,则对于操作者,例如通过在监控器上显示产生指示拟合精度不够的警告。另外,由于在该设备中激光的聚光度和光电检测器的灵敏度随着光波长而变化,所以拟合是否成功可取决于激发波长或检测到的荧光波长。所以,优选可以对不同的标准物质设置对于该卡方值的不同预定阈值。
因此,在上述实施方案中,考虑以下知识:如上所述,即使测量条件等变化,溶液样品中所包含的各组分的平移扩散时间的比也保持不变,因此,在通过荧光相关光谱法检测任意溶液样品中的各组分的存在比时,一旦获取了各组分的平移扩散时间的比,就可以省略对各组分的对照样品的荧光测量和自相关函数的计算。该策略能够节省对照样品的消耗量并显著缩短对照样品的测量和分析持续时间,从而提供处理量的改进(在对分配到排列在一个微型板上的多个孔中的溶液样品进行测量的情况下,将减少分配对照样品的孔的数量)。
此外,作为要测试样品中的组分的平移扩散时间的比,优选采用组分的平移扩散时间与连接于所述组分的荧光染料分子(标准物质)的平移扩散时间之比。在这种情况下,已获得相对于标准物质平移扩散时间的比的任意组分的平移扩散时间可以仅通过将该组分平移扩散时间的比乘以在进行包含该组分的样品的荧光测量时标准物质的平移扩散时间来确定,因此,在测量包含任意组分的任意组合的溶液样品时,有利地,不需要每次都进行各组分的平移扩散时间的检测。例如,假设已获得组分1、组分2和组分3的平移扩散时间与标准物质的平移扩散时间之比,将确定包含组分1和组分2的组合的溶液样品、组分1和组分3的组合的溶液样品、组分2和组分3的组合的溶液样品、或组分1、组分2、组分3的组合的溶液样品中的各组分的存在比,而不用重复检测组分1、组分2和组分3中的各组分的平移扩散时间。
上述本发明的方法有利地用于确定任何多个分子的结合或离解的倾向性以及/或者结合常数或离解常数。

Claims (14)

1.一种荧光相关光谱设备,其能够检测溶液样品中所包含的具有荧光标记的至少两种组分中各组分的存在比,所述设备包括:
数据存储区,其存储所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值;以及
检测部,其使用所存储的所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值,由用所述溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值检测所述至少两种组分中各组分的存在比。
2.根据权利要求1所述的荧光相关光谱设备,其中,所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值是所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间与具有所述荧光标记的标准物质的平移扩散时间之比的值。
3.根据权利要求1所述的荧光相关光谱设备,其中,所述荧光相关光谱设备进一步包括:
由针对所述至少两种组分中各组分测量出的荧光强度的自相关函数值,确定所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的部;
计算所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值的部;以及
将所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值存储在所述数据存储区中的部。
4.根据权利要求1所述的荧光相关光谱设备,其中,所述荧光相关光谱设备进一步包括将所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的预定值存储在所述数据存储区中的部。
5.根据权利要求1所述的荧光相关光谱设备,其中,所述检测部通过将用包含所述至少两种组分的所述溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值拟合所述自相关函数值的理论公式,由所述用包含所述至少两种组分的所述溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值检测所述至少两种组分中各组分的存在比,所述理论公式包括所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值作为参数。
6.根据权利要求5所述的荧光相关光谱设备,其中,在所述理论公式中,使用通过将具有所述荧光标记的标准物质的平移扩散时间乘以所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值而获得的值作为所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间。
7.根据权利要求5所述的荧光相关光谱设备,其中,所述荧光相关光谱设备进一步包括在所述拟合中的卡方值大于预定阈值时产生所述拟合精度不足的警告的部。
8.根据权利要求7所述的荧光相关光谱设备,其中,针对不同的标准物质可以设置不同值作为所述预定阈值。
9.一种用于通过荧光相关光谱法检测溶液样品中所包含的具有荧光标记的至少两种组分中各组分的存在比的方法,所述方法包括以下步骤:
使用存储在数据存储区中的所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值,由用所述溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值检测所述至少两种组分中各组分的存在比。
10.根据权利要求9所述的方法,其中,所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值是所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间与具有所述荧光标记的标准物质的平移扩散时间之比的值。
11.根据权利要求9所述的方法,其中,所述方法进一步包括以下步骤:
由针对所述至少两种组分中各组分测量出的荧光强度的自相关函数值,确定所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间;
计算所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值;以及
将所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值存储在所述数据存储区中。
12.根据权利要求9所述的方法,其中,所述方法进一步包括以下步骤:将所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的预定值存储在所述数据存储区中。
13.根据权利要求9所述的方法,其中,在检测所述至少两种组分中各组分的存在比的步骤中,通过将用包含所述至少两种组分的所述溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值拟合所述自相关函数值的理论公式,由所述用包含所述至少两种组分的所述溶液样品测量出的荧光强度的自相关函数值检测所述至少两种组分中各组分的存在比,所述理论公式包括所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值作为参数。
14.根据权利要求13所述的方法,其中,在所述理论公式中,使用通过将具有所述荧光标记的标准物质的平移扩散时间乘以所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间的比的值而获得的值作为所述至少两种组分中各组分的平移扩散时间。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103765196A (zh) * 2011-08-26 2014-04-30 奥林巴斯株式会社 利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序
CN104736999A (zh) * 2012-10-25 2015-06-24 奥林巴斯株式会社 目标粒子的检测方法
CN106770108A (zh) * 2016-12-13 2017-05-31 吉林出入境检验检疫局检验检疫技术中心 一种基于纳米光纤生物传感器检测有毒物质的方法
CN109187450A (zh) * 2018-08-01 2019-01-11 傅英 一种基于量子点的生物分子浓度检测方法
CN109520982A (zh) * 2018-11-20 2019-03-26 东南大学 一种荧光相关光谱测量系统
CN113295662A (zh) * 2021-05-21 2021-08-24 上海交通大学 一种用于三种分子间结合作用解析的荧光三元相关光谱系统

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2615445B1 (en) * 2010-10-13 2014-05-21 Olympus Corporation Method of measuring a diffusion characteristic value of a particle
EP2620763A4 (en) 2010-10-19 2015-05-27 Olympus Corp OPTICAL ANALYSIS DEVICE FOR OBSERVING THE POLARIZATION CHARACTERISTICS OF A SINGLE LIGHT-EMITTING PARTICLE, OPTICAL ANALYSIS METHOD, AND OPTICAL ANALYSIS COMPUTER PROGRAM
JP5856983B2 (ja) 2011-01-20 2016-02-10 オリンパス株式会社 単一発光粒子からの光の検出を用いた光分析方法及び光分析装置
JP5885738B2 (ja) * 2011-04-13 2016-03-15 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
WO2013021687A1 (ja) 2011-08-11 2013-02-14 オリンパス株式会社 標的粒子の検出方法
WO2013024637A1 (ja) * 2011-08-12 2013-02-21 オリンパス株式会社 蛍光粒子の検出方法
WO2013024650A1 (ja) * 2011-08-15 2013-02-21 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
EP2752655A4 (en) 2011-08-30 2015-06-17 Olympus Corp PROCEDURE FOR DETECTING TARGET PARTICLES
US9366677B2 (en) * 2011-09-06 2016-06-14 Max-Planck-Gesellshaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. Methods for analyzing biological macromolecular complexes and use thereof
JP5941923B2 (ja) 2011-11-10 2016-06-29 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
WO2013125124A1 (ja) 2012-02-22 2013-08-29 オリンパス株式会社 標的粒子の検出方法
JP6095645B2 (ja) 2012-03-21 2017-03-15 オリンパス株式会社 標的核酸分子の検出方法
CN102902056B (zh) * 2012-09-25 2015-05-27 中国科学技术大学 基于量子统计的高精度光学成像装置与方法
CN102879373A (zh) * 2012-10-12 2013-01-16 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 一种采用原子荧光光谱法测定纯铬中硒、碲含量的方法
JP6590244B2 (ja) * 2015-05-20 2019-10-16 国立研究開発法人産業技術総合研究所 値付けされた物質量濃度標準物質の製造方法
CN105044164A (zh) * 2015-07-14 2015-11-11 泸州品创科技有限公司 一种白酒沉淀物形成前后酒体特性的分析检测方法
WO2017098597A1 (ja) 2015-12-09 2017-06-15 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析方法及び光分析装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005098876A (ja) * 2003-09-25 2005-04-14 Institute Of Physical & Chemical Research 2成分相互作用分析方法
US20050191705A1 (en) * 2004-03-01 2005-09-01 Werner James H. High throughput screening using fluorophore labeled lipid membranes and fluorescence correlation spectroscopy
US20080174776A1 (en) * 2003-02-13 2008-07-24 Hamamatsu Photonics K.K. Fluorescence correlation spectroscopy analyzer

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2132635C1 (ru) * 1996-09-30 1999-07-10 Алексеев Сергей Григорьевич Способ диагностики онкологических заболеваний и устройство для его осуществления
US6376843B1 (en) * 1999-06-23 2002-04-23 Evotec Oai Ag Method of characterizing fluorescent molecules or other particles using generating functions
JP4425098B2 (ja) * 2004-09-06 2010-03-03 浜松ホトニクス株式会社 蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20080174776A1 (en) * 2003-02-13 2008-07-24 Hamamatsu Photonics K.K. Fluorescence correlation spectroscopy analyzer
JP2005098876A (ja) * 2003-09-25 2005-04-14 Institute Of Physical & Chemical Research 2成分相互作用分析方法
US20050191705A1 (en) * 2004-03-01 2005-09-01 Werner James H. High throughput screening using fluorophore labeled lipid membranes and fluorescence correlation spectroscopy

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103765196A (zh) * 2011-08-26 2014-04-30 奥林巴斯株式会社 利用单个发光粒子检测的光分析装置、光分析方法以及光分析用计算机程序
CN103765196B (zh) * 2011-08-26 2016-03-02 奥林巴斯株式会社 利用单个发光粒子检测的光分析装置及光分析方法
CN104736999A (zh) * 2012-10-25 2015-06-24 奥林巴斯株式会社 目标粒子的检测方法
CN104736999B (zh) * 2012-10-25 2017-04-12 奥林巴斯株式会社 目标粒子的检测方法
CN106770108A (zh) * 2016-12-13 2017-05-31 吉林出入境检验检疫局检验检疫技术中心 一种基于纳米光纤生物传感器检测有毒物质的方法
CN106770108B (zh) * 2016-12-13 2023-10-27 长春海关技术中心 一种基于纳米光纤生物传感器检测有毒物质的方法
CN109187450A (zh) * 2018-08-01 2019-01-11 傅英 一种基于量子点的生物分子浓度检测方法
CN109187450B (zh) * 2018-08-01 2020-10-27 傅英 一种基于量子点的生物分子浓度检测方法
CN109520982A (zh) * 2018-11-20 2019-03-26 东南大学 一种荧光相关光谱测量系统
CN113295662A (zh) * 2021-05-21 2021-08-24 上海交通大学 一种用于三种分子间结合作用解析的荧光三元相关光谱系统
CN113295662B (zh) * 2021-05-21 2022-04-12 上海交通大学 一种用于三种分子间结合作用解析的荧光三元相关光谱系统
US11530988B1 (en) 2021-05-21 2022-12-20 Shanghai Jiao Tong University Fluorescence triple-correlation spectroscopy system for analyzing interaction between three kinds of molecules

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Publication number Publication date
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JP2010276380A (ja) 2010-12-09

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