CN101833179B - 检测治具与检测方法 - Google Patents

Abstract

一种检测治具，适于检测一显示面板。检测治具包括一透明握持部以及一透明放置部。透明放置部邻接透明握持部，其中透明放置部具有一凹槽，以使显示面板能放置于凹槽内。

Description

检测治具与检测方法

技术领域

本发明涉及一种检测治具与检测方法，尤其涉及一种检测显示面板的检测治具及使用此检测治具的检测方法。

背景技术

近年来，随着光电技术与半导体制造技术的成熟，带动了平面显示器(Flat Panel Display)的蓬勃发展，其中液晶显示器(Liquid CrystalDisplay，LCD)基于低电压操作、无辐射线散射、重量轻以及体积小等优点，逐渐取代传统的阴极射线管显示器而成为近年来显示器产品的主流。

目前液晶显示面板(LCD panel)的制程大致如下：下基板制作、上基板制作、胶框涂布工程、压合密封工程以及偏光片贴附工程。而在贴附偏光片之后，此液晶显示面板接着会进行一液晶显示面板的封装制程，其主要是利用外引脚接合技术(Outer lead bonding)、胶卷自动贴合技术(Tape Automated Bonding，TAB)或晶粒-玻璃接合技术(Chip OnGlass，COG)，以使液晶显示面板、驱动芯片(如闸极驱动芯片或源极驱动芯片)以及电路板彼此电性连接。

值得注意的是，现有液晶显示面板在贴附偏光片之后，且在进行液晶显示面板的封装制程之前，会对尚未进行封装制程的液晶显示面板进行一点亮测试(Light On Test，LOT)作业，也即尚未将液晶面板接上电源并在特定频率下驱动，以观察液晶面板上是否出现异常黑影。

另外，现有液晶显示面板的点亮测试作业与出现异常黑影后的修补作业是在不同机台上进行。由于需使用多个机台进行作业，而导致液晶显示面板的成本提高并拉长产品制作的时间。此外，液晶显示面板是通过人力搬运至各机台上，作业人员手持面板的次数增加，液晶显示面板受损的机率也相对增加，进而影响产品良率。

发明内容

本发明的目的是提供一种检测治具，可直接放置于显微镜下与雷射修补机上，同时对显示面板进行确认及修补作业。

本发明之另一目的是提供一种检测方法，可以降低生产成本并提升产品的生产良率。

为达上述或是其他目的，本发明提出一种检测治具，适于检测一显示面板。检测治具包括一透明握持部以及一透明放置部。透明放置部邻接透明握持部，其中透明放置部具有一凹槽，以使显示面板能放置于凹槽内。

在本发明的一实施例中，上述检测治具，更包括一探针，探针由凹槽处贯穿透明放置部。

在本发明的一实施例中，上述探针与显示面板电性连接。

在本发明的一实施例中，上述透明握持部与透明放置部为一体成型。

在本发明的一实施例中，上述透明握持部的厚度大于等于透明放置部的厚度。

在本发明的一实施例中，上述透明放置部的凹槽包括一上凹槽以及一下凹槽，上凹槽的尺寸大于下凹槽的尺寸。

本发明提出一种检测方法，适于检测一显示面板。检测方法包括提供一检测治具、将显示面板放置于透明放置部的凹槽内、输入一信号至显示面板以及提供显示面板一光源。提供一检测治具，其中检测治具包括一透明握持部及一透明放置部。透明放置部邻接透明握持部，且透明放置部具有一凹槽。提供显示面板一光源以检测显示面板是否有缺陷。

在本发明的一实施例中，上述输入信号至显示面板的方法包括：在检测治具设置一探针，当显示面板放置于透明放置部的凹槽内之后，探针会与显示面板电性连接。

在本发明的一实施例中，上述提供显示面板光源的方法包括在显示面板的上方设置光源。

在本发明的一实施例中，上述提供显示面板光源的方法包括在透明放置部的下方设置光源。

在本发明的一实施例中，上述当显示面板检测出有缺陷时，更包括直接对显示面板的缺陷进行修补。

在本发明的一实施例中，上述检测治具的透明握持部与透明放置部为一体成型。

在本发明的一实施例中，上述检测治具的透明握持部的厚度大于等于透明放置部的厚度。

在本发明的一实施例中，上述检测治具的透明放置部的凹槽包括一上凹槽以及一下凹槽，且上凹槽的尺寸大于下凹槽的尺寸。

由于本发明的检测治具为一体成型之透明治具，其结构简单、体积小且重量轻，因此可以直接将此检测治具放于显微镜下与雷射修补机上，同时对显示面板进行确认及修补作业，可以避免不透光材质所造成的阴影或遮蔽而影响检测作业，以提升显示面板的生产良率，并降低显示面板的生产成本。

为让本发明之上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1A为本发明一实施例的一种检测治具的侧面示意图；

图1B为本发明另一实施例的一种检测治具的侧面示意图；

图1C为本发明另一实施例的一种检测治具的侧面示意图；

图2A为本发明另一实施例的一种检测治具的侧面示意图；

图2B为本发明另一实施例的一种检测治具的侧面示意图；

图3A～图3D为利用图1A的检测治具对显示面板进行检测的检测方法。

具体实施方式

图1A为本发明一实施例的一种检测治具的侧面示意图。请参考图1A，在本实施例中，检测治具100a适于检测一显示面板10a，其中显示面板10a例如为一液晶显示面板。检测治具100a包括一透明握持部110以及一透明放置部120。透明放置部120邻接透明握持部110，其中透明放置部120具有一凹槽122，以使显示面板10a能放置于凹槽122内。

详细而言，检测治具100a更包括一探针130。探针130由凹槽122处贯穿透明放置部120。当液晶显示面板10a放置于凹槽122中时，探针130的一端会与显示面板10a电性连接。此外，探针130的另一端与电源供应器20相连接，电源供应器20透过探针130可将信号传递至显示面板10a，以驱动显示面板10a。

特别是，在本实施例中，检测治具100a的透明握持部110与透明放置部120为一体成型，且透明握持部110的厚度大于透明放置部120的厚度，其中检测治具100a的整体厚度小于3cm。简言之，由于检测治具100a为一体成型的透明治具，因此可以避免不透光材料所造成的阴影或遮蔽而影响检测作业。

此外，由于本发明的检测治具100a为一结构简单、体积小且重量轻的透明治具，所以可以直接将此检测治具100a放于显微镜下与雷射修补机上，因此可同时对显示面板10a进行确认及修补作业，以降低显示面板10a的生产成本并提升显示面板10a的生产良率。

图1B为本发明另一实施例的一种检测治具的侧面示意图。请参考图1B，在本实施例中，图1B的检测治具100a’与图1A的检测治具100a相似，其不同在于：透明握持部110a’的厚度等于透明放置部120的厚度。

图1C为本发明另一实施例的一种检测治具的侧面示意图。请参考图1C，在本实施例中，图1C额检测治具100a”与图1A的检测治具100a相似，其不同在于：透明放置部120a的具有一挖空区124，可减轻检测治具100a”的重量及更易检视显示面板10a。

图2A为本发明另一实施例一种检测治具的侧面示意图。请参考图2A，在本实施例中，图2A的检测治具100b与图1A的检测治具100a相似，其不同在于：透明放置部120的凹槽122包括一上凹槽122a以及一下凹槽122b，上凹槽122a的尺寸大于下凹槽122b的尺寸。

一般而言，显示面板10b例如为一液晶显示面板，其具有一薄膜晶体管数组基板12、一液晶层14与一彩色滤光基板16。当显示面板10b放置于透明放置部120的凹槽122内时，显示面板10b的彩色滤光基板16与液晶层14会配置于下凹槽122b内，而薄膜晶体管数组基板12会配置于上凹槽122a内，以使显示面板10b能固定于凹槽122内。

此外，由于本发明的检测治具100b为一机构简单、体积小且重量轻的透明治具，所以可以直接将此检测治具100b放于显微镜下与雷射修补机上，透过探针130将电源供应器20的信号传递至显示面板10b，以驱动显示面板10b，即可同时对显示面板10b进行确认及修补作业，以降低显示面板10b的生产成本并提升显示面板10b的生产良率。

图2B为本发明另一实施例的一种检测治具的侧面示意图。请参考图2B，在本实施例中，图2B的检测治具100b’与图2A的检测治具100b相似，其不同在于：透明握持部110b’的厚度等于透明放置部120的厚度。

图3A～图3D为利用图1A的检测治具对显示面板进行检测的检测方法。本发明额检测方法适于检测一显示面板10a，首先提供一检测治具100a，其中检测治具100a包括一透明握持部110及一透明放置部120，透明放置部120邻接透明握持部110，且透明放置部120具有一凹槽122。

详细而言，检测治具100a的透明握持部110与透明放置部120为一体成型，且检测治具100a的透明握持部110的厚度大于透明放置部120的厚度，以方便使用者操作。简言之，由于检测治具100a为一体成型的透明治具，因此可以避免不透光材质所造成的阴影或遮蔽而影响检测作业。

值得一提的是，本发明并不限定检测治具100a与显示面板10a的型态与固定方式，其也可为图2A所述之检测治具100b与显示面板10b，但已知的其他能达到同等定位固定效果的结构设计，仍属于本发明可采用的技术方案，不脱离本发明所欲保护的范围。

接着，请参考图3B，将显示面板10a放置于透明放置部120的凹槽122内，并输入一信号至显示面板10a。输入信号至显示面板10a的方法包括：在检测治具100a设置一探针130，当显示面板10a放置于透明放置部120的凹槽122内之后，探针130会与显示面板10a电性连接。

详细而言，探针130会由凹槽122处贯穿透明放置部120，其中探针130的一端与显示面板10a电性连接，探针130的另一端与电源供应器20相连接，电源供应器20透过探针130可将信号传递至显示面板10a，以驱动显示面板10a。

最后，请参考图3C，提供显示面板10a一光源30a。提供显示面板10a光源30a的方法包括在显示面板10a的上方设置光源30a。由于检测治具100a为一机构简单、体积小且重量轻之透明治具，因此可以直接将此检测治具100a架设于显微镜下与雷射修补机上，而在此说明的光源30a可以是来自于显微镜所提供或是另外提供的光源。另外，由于检测治具100a是透明材质，因此光源也可以设置于检测治具100a的下方，例如，请参考图3D，光源30b是设置在透明放置部120的下方。

详细而言，提供显示面板10光源30a以检测显示面板10a是否有缺陷。因此，当显示面板10a检测出有缺陷时，可以直接在雷射修补机上对显示面板10a的缺陷(亮点)进行修补。因此，将检测治具100a放于显微镜下与雷射修补机上，可同时对显示面板10a进行确认及修补作业，可以降低显示面板10a的生产成本并提升显示面板10a的生产良率。

综上所述，本发明的检测治具为一体成型之机构简单、体积小且重量轻的透明治具，因此可以直接将此检测治具放于显微镜下与雷射修补机上，透过探针将电源供应器的信号传递至显示面板以驱动显示面板，即可同时对显示面板进行确认及修补作业。此外，薄型化检测的透明性，可以避免因不透光材质所造成的阴影或遮蔽而影响显示面板的检测作业，以提升显示面板的生产良率。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明之精神和范围内，当可作些许之更动与润饰，因此本发明的保护范围当以权利要求所界定的为准。

Claims (8)

1.一种检测治具，适于检测一显示面板，其特征在于，包括：

一透明握持部；

一透明放置部，邻接该透明握持部，其中该透明放置部具有一凹槽，以使该显示面板能放置于该凹槽内；以及

一探针，其由该凹槽处贯穿该透明放置部，所述探针和该显示面板电性连接。

2.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，其中该透明握持部与该透明放置部为一体成型，且该透明握持部的厚度大于等于该透明放置部的厚度。

3.如权利要求1所述的检测治具，其特征在于，其中该透明放置部的该凹槽包括一上凹槽以及一下凹槽，该上凹槽的尺寸大于该下凹槽的尺寸。

4.一种检测方法，适于检测一显示面板，其特征在于，包括：

提供一检测治具，其中该检测治具包括一透明握持部及一透明放置部，该透明放置部邻接该透明握持部，且该透明放置部具有一凹槽；

将该显示面板放置于该透明放置部的该凹槽内；

输入一信号至该显示面板；在该检测治具设置一探针，当该显示面板放置于该透明放置部的该凹槽内之后，该探针会与该显示面板电性连接；以及

提供该显示面板一光源，以检测该显示面板是否有缺陷。

5.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，其中提供该显示面板光源的步骤包括在该显示面板的上方或者下方设置该光源。

6.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，其中当该显示面板检测出有缺陷时，更包括直接对该显示面板的缺陷进行修补。

7.如申权利要求4所述的检测方法，其特征在于，其中该检测治具的该透明握持部与该透明放置部为一体成型，且该透明握持部的厚度大于等于该透明放置部的厚度。

8.如权利要求4所述的检测方法，其特征在于，其中该检测治具的该透明放置部的该凹槽包括一上凹槽以及一下凹槽，且该上凹槽的尺寸大于该下凹槽的尺寸。

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