CN101729680A - 具有可间歇动作电路的装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种具有在待机模式下可间歇动作的电路的装置。该装置设有具备周期性地设定动作状态和待机状态的间歇动作电路的电路部。其中，动作模式控制部，生成指定上述间歇动作电路的间歇动作测试模式和与所述间歇动作电路的连续动作或规定期间动作对应的动作测试模式中的某一个的模式控制信号；动作定时生成部，输入上述模式控制信号，根据上述模式控制信号生成使上述间歇动作电路动作或待机的动作控制信号，向上述电路部输出上述动作控制信号。

Description

具有可间歇动作电路的装置
技术领域
本发明涉及一种具有在待机模式下可间歇动作的电路的装置。
背景技术
近年来，伴随半导体元件的微型化、集成化、高速动作化的进展，在高集成化的系统LSI和SoC(System on a Chip)等半导体装置中，待机(stand-by)时的泄漏电流引起的消耗电力正在增大。在要求低消耗电力化的移动体设备等中，需要减小等待时的消耗电力。为了降低待机时的消耗电力，在各种领域中，多采用间歇性地对在待机时不需要动作的电路进行电力的切断和供应的技术。采用这样的技术的半导体装置，已被日本特开2003-188798号公报公开。
在进行这样的半导体装置的测试的情况下，由于在待机期间中不能进行动作测试，所以在测试装置中会产生待机时间，作为测试工序(process)整体的时间将变长。
进而，存在需要根据半导体装置的种类来考虑间歇动作的定时并进行测试，对测试设备或测试的控制软件产生制约的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种具有测试所需的时间较少、可以进行间歇动作的电路的装置。
根据本发明的一个方面，提供一种具有可间歇动作电路的装置，其特征在于，具备：电路部，具有周期性地设定动作状态和待机状态的间歇动作电路；动作模式控制部，生成指定上述间歇动作电路的间歇动作测试模式和与所述间歇动作电路的连续动作或规定期间动作相对应的动作测试模式中的某一个的模式控制信号；动作定时生成部，输入上述模式控制信号，根据上述模式控制信号生成使上述间歇动作电路动作或待机的动作控制信号，向上述电路部输出上述动作控制信号。
根据本发明的另一个方面，提供一种具有可间歇动作电路的装置，其特征在于，包括：可选择性进行通常动作和间歇动作的信号处理电路，上述间歇动作交替地执行动作状态和待机状态；作为生成场测试模式控制信号的动作模式控制部，上述测试模式控制信号，指定上述信号处理电路的通常动作测试模式以及间歇动作测试模式；作为接受上述测试模式控制信号的动作定时生成部，上述动作定时生成部，向上述信号处理电路输出动作控制信号，该上述动作控制信号根据上述测试模式控制信号而使上述通常动作和上述间歇动作进行。
附图说明
图1是表示本发明的第1实施例的传感器LSI的框图。
图2是表示第1实施例的传感器LSI的动作的图。
图3是表示第1实施例的传感器LSI的测试工序的图。
图4是表示本发明的第2实施例的收发模块的框图。
图5是表示本发明的第2实施例的收发模块的测试工序的图。
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明的(多个)实施例。
参照图1说明作为本发明的第1实施例的半导体装置的传感器LSI、即包含传感器的集成电路。图1是表示本发明的第1实施例的传感器LSI的框图。
如图1所示，在传感器LSI50中设有传感器部1、控制部2、存储部3、动作模式控制部4以及动作定时生成部5。传感器LSI50感测磁场，输出与磁场的强度相应的信号。传感器LSI50在没有感测到磁场的待机时切断对不需要动作的电路的电力供应。传感器部1、控制部2以及存储部3构成信号处理电路8。后文中，“信号处理电路”意味着进行包含信号的放大、A/D变换、运算、传送或者存储在内的处理的电路部。
传感器部1，在电源被切断时，或在根据后述的动作控制信号Sds而停止动作时，进入待机状态。传感器部1选择性地进行通常动作与间歇动作。在间歇动作中，传感器1的动作状态和待机状态被周期性地设定。在传感器LSI50中感测磁场，但也可以感测温度、光、移位(位置)、压力、电场、重力(加速度)等，或感测多个种类。
动作模式控制器4用于传感器LSI50的测试时。动作模式控制部4生成指定间歇动作测试模式和动作测试模式中的某一个的模式控制信号Sms，并向动作定时生成部5输出所生成的模式控制信号Sms。
动作定时生成部5用于传感器LSI50的测试时。动作定时生成部5根据上述模式控制信号Sms生成使传感器部1以及控制部2动作或待机的动作控制信号Sds。
动作控制信号Sds，除了传感器部1以及控制部2以外，也可以向存储部3输出。这种情况下，在传感器LSI50的测试时，存储部3动作或待机。
传感器部1中设有传感器11、放大电路12以及比较器13。
传感器11，在感测到磁场时，对磁场产生反应，发生与磁场强度成比例的输出电压，并向放大电路12输出发生的输出电压。传感器11使用例如霍尔元件或者MR元件等。
放大电路12输入从传感器11输出的输出电压，并放大该输出电压。
比较器13比较放大器12的输出电压和规定的基准电压，并将比较结果向控制部2输出。比较器13根据上述与规定的基准电压的比较，进行是“高”电平还是“低”电平的判定。也可以预备多个基准电压，将与磁场强度对应的放大器12的输出电压分为多档。
控制部2向传感器部1输出控制传感器部1的动作的控制信号Scnt。来自比较器13的输出信息被输入到控制部2。控制部2把从该比较器13输入的信息作为输出信号Sout向外部输出。输入信号Sin从外部输入到控制部2。输入信号Sin包含用于控制传感器部1的动作的信息。
通过控制部2，与由传感器部1感测到的磁场强度对应的信息输入到存储部3，并由存储部3保存该信息。被保存的信息，可以通过控制部2向外部输出。存储部3保存通过控制部2输入的输入信号Sin。
图2是表示传感器LSI50的动作的图。如图2所示，在T0时刻，如果从电源向传感器LSI50供应电力，则传感器LSI50开始连续动作，成为通常动作模式。具体而言，传感器部1感测磁场，感测到的信息从传感器部1发送到控制部2。
开始上述传感器动作后，在经过了规定时间后的T1时刻，根据图1所示的控制部2的控制信号Scnt，传感器部1进入间歇动作模式。该间歇动作模式中，动作模式和待机模式交替地、周期性地重复。进行动作模式的时间Ta是传感器部1的电路启动时间Tkt和由传感器部1感测到的信息的通信时间Tsu之和。
发送了感测到的信息后，传感器部被设定为待机模式。该待机模式中，传感器部1停止动作。设定为待机模式的时间为待机时间Tm。间歇动作模式的动作时间Ta和间歇动作模式的待机时间Tm之和为循环时间Ts。待机时间Tm和循环时间Ts由从图1所示的控制部2输出的控制信号Scnt进行设定。
这里，如下式所示，设定间歇动作模式的动作时的消耗电力Pa与待机时的消耗电力Ps的关系。
Pa＞＞Ps    (1)
另外，通过如下式所示地设定间歇动作模式的动作时间Ta与待机时间Tm的关系，能够对进行间歇动作的传感器LSI50进一步低消耗电力化。
Tm＞＞Ta    (2)
接下来，参照图3说明传感器LSI50的测试工序。
如图3所示，在传感器LSI50的测试中，在测试开始时，向图1的传感器部1、控制部2、存储部3、动作模式控制部4以及动作定时生成部5供应电源。
从动作模式控制部4向动作定时生成部5输出模式控制信号Sms。根据模式控制信号Sms从动作定时生成部5向传感器部1输出使传感器部1连续动作的动作控制信号Sds。在T0时刻，传感器部1开始连续动作。
这时，通过向控制部2输入动作控制信号Sds，而不从控制部2输出使传感器部1间歇动作的信号Scnt。从测试开始到模式切换前的T2时刻，进行通常动作测试模式。通常动作测试模式中，连续地执行传感器部1、控制部2以及存储部3的测试，利用未图示的测试装置进行传感器LSI50是否合格的判定。
接下来，在上述通常动作测试模式中的测试结束后，根据来自动作定时生成部5的动作控制信号Sds，从控制部2向传感器部1输出控制信号Scnt。根据该控制信号Scnt，开始传感器部1的间歇动作，执行间歇动作测试模式，利用上述测试装置，进行传感器LSI50是否合格的判定。间歇动作测试模式中的循环时间Ts、动作时间Ta、间歇动作模式的待机时间Tm与传感器LSI50的上述间歇动作测试模式的各个相同。
如上所述，在本实施例中，由于通常动作测试模式的结束时刻T2可以比图2的通常动作模式结束时刻T1早，所以可以减少测试装置的待机时间，快速地结束测试。因此，能够缩短测试工序所需要的时间。
进而，根据作为测试对象的传感器LSI50的种类，不需要考虑间歇动作的定时而进行测试，所以不会对测试设备和控制软件产生制约。为了进行测试，传感器LSI50自律动作，所以不需要特殊的测试人员。进而，在传感器LSI50中不需要用于从外部控制测试模式的测试端子。
在本实施例中，作为半导体装置，使用可以进行间歇动作的传感器LSI。也可以使用能够各自进行间歇动作的、PLL合成器(synthesizer)LSI、无线接收LSI、移动体基带LSI、位置检测LSI、电动机控制LSI或者转换器控制LSI来代替传感器LSI。也可以使用滤波器电路间歇动作的模拟基带LSI、或者CPU间歇动作的微型计算机或处理器。
参照图4说明本发明的第2实施例的收发模块。
如图4所示，在收发模块60中设有作为电路部的收发部6、动作模式控制部4a、以及动作定时生成部5a。收发部6也可以是发送部或者接收部。收发模块60例如作为移动体通信的收发模块使用。收发模块60，在不输入通过未图示的天线输入的高频信号的待机时，切断对不需动作的电路的电力供应，并且进行间歇接收等待动作。收发部6、动作模式控制部4a以及动作定时生成部5a形成在同一个模块基板上。
收发部6具备RF(无线频率信号)部21以及基带信号部22，并且构成信号处理电路。RF部21以及基带信号部22具有选择性地进行通常动作和间歇接收等待动作的功能。在间歇接收等待动作中，设于RF部21的PLL电路进行间歇动作，设于基带信号部22的处理器进行间歇动作。在这些间歇动作中，上述PLL电路以及处理器的动作状态和待机状态被周期性地设定。
动作模式控制部4a用于收发模块60的测试时。动作模式控制部4a生成指定间歇动作测试模式和通常动作测试模式中的某一个的模式控制信号Sms，并向动作定时生成部5a输入所生成的模式控制信号Sms。
动作定时生成部5a用于收发模块60的测试时。动作定时生成部5a根据模式控制信号Sms生成使收发部6动作或待机的动作控制信号Sds。生成的动作控制信号Sds，作为控制信号被输入到收发部6的RF部21以及基带信号部22。
收发部6的RF部21可以由多个半导体芯片构成。向RF部21输入通过上述天线接收的微弱的高频信号。该输入信号在RF部21中进行放大。放大后的信号在RF部21中进行频率变换。频率变换后的信号被输入到基带信号部22。而RF21具有对从基带信号部22输出的信号进行频率变换，对该高输出化后的高频信号通过未图示的天线进行输出的功能。
基带信号部22，对通过RF部21进行频率变换后的上述信号进行信号处理，作为输出信号Sout向外部输出。向基带信号部22输入从外部输入的基带的输入信号Sin。基带信号部22对该输入信号进行信号处理，并向RF部21输出。
参照图5说明上述收发模块60的测试动作。
如图5所示，在收发模块60的测试工序中，根据T0时刻处的通常动作测试模式的开始，从电源向图4所示的收发部6、动作模式控制部4a以及动作定时生成部5a间歇地供应电力。在该通常动作测试模式中，根据从动作模式控制部4a输出的模式控制信号Sms，从动作定时生成部5a输出动作控制信号Sds。根据该动作控制信号Sds，如下式设定收发模块60的动作时间Tac、待机时间Tmc、循环时间Tsc。
Tac＞Tmc        (3)
Tsc＝Tac+Tmc    (4)
在收发模块60的动作时间Tac期间，执行收发模块60的通常动作测试。在通常动作测试中，使用未图示的测试装置，进行收发模块60是否合格的判定。该通常动作测试至少执行一个循环。
在上述通常动作测试模式中的测试结束后，在t3时刻，根据从动作模式控制部4a输出的模式控制信号Sms，从动作定时生成部5a输出动作控制信号Sds。根据输出的动作控制信号Sds，收发模块60成为间歇接收等待动作测试模式，如下式设定动作时间Tab、待机时间Tmb、循环时间Tsb。
Tab＜Tmb        (5)
Tsb＝Tab+Tmb    (6)
间歇接收等待动作测试模式的待机时间Tmb，被任意地设定为比收发模块60的间歇接收等待动作模式中的待机时间要短。循环时间Tsb被设定为比间歇接收等待动作模式的循环时间要短。
在收发模块60的动作时间Tab期间，执行收发模块60的间歇接收等待动作测试。使用未图示的测试装置，进行收发模块60是否合格的判定。该间歇接收等待动作测试至少执行一个循环。
在本实施例中，通过在收发模块60内设置动作模式控制部和动作定时生成部，而在执行通常动作测试模式之后执行间歇接收等待动作测试模式。其结果，与不设动作模式控制部和动作定时生成部的情况下的测试工序相比，能够缩短收发模块60的测试时间。
在图5的测试工序中，从模式切换到间歇接收等待动作测试开始期间，设定规定的时间。也可以不设该规定时间，而紧接着模式切换之后开始间歇接收等待动作测试。
在本实施例中，间歇接收等待动作测试模式的待机时间Tmb比收发模块60的间歇等待接收动作模式中的待机时间要短。因此，能够缩短测试工序所需的时间。
进而，不需要根据作为测试对象的收发模块60的种类考虑间歇接收等待动作的定时而进行测试，所以不会对测试设备和控制软件产生制约。
收发模块60自律动作，所以不需要特殊的测试人员。在收发模块60中不需要用于控制测试模式的测试端子。
本实施例适用于进行间歇接收等待动作的收发模块60。也可以适用于各个进行间歇动作的、传感模块、位置检测模块、电动机控制模块，或者转换器控制模块、滤波器电路进行间歇动作的模拟基带模块等。
对于本领域技术人员而言通过考虑这里所公开的本发明的说明书及其实施方案，本发明的其他实施方式和变形就是显而易见的。应当指出本说明书和实施例应被认为仅仅是示例而已，同时本发明的真正范围和精神将通过权利要求书而得以阐明。

Claims (20)

1.一种具有可间歇动作电路的装置，其特征在于，具备：
电路部，具有周期性地设定动作状态和待机状态的间歇动作电路；
动作模式控制部，生成指定上述间歇动作电路的间歇动作模式和与所述间歇动作电路的连续动作或规定期间动作对应的动作测试模式中的某一个的模式控制信号；
动作定时生成部，输入上述模式控制信号，根据上述模式控制信号生成使上述间歇动作电路动作或待机的动作控制信号，向上述电路部输出上述动作控制信号。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
在上述间歇动作电路的间歇动作中，动作状态的期间设定为比待机状态的期间短。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
上述电路部具备作为上述间歇动作电路的传感器部、控制部，上述控制部接受上述动作控制信号而使上述传感器部间歇动作。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
上述传感器部具备传感器、接受该传感器的输出的放大电路和接受该放大电路的输出的比较器。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，
上述控制部向外部输出从上述比较器中得到的信号，并且从外部接受包含用于控制上述传感器部的动作的信息的输入。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
上述电路部、动作模式控制部以及动作定时生成部构成传感器集成电路。
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
上述电路部包含选自发送部、接收部、收发部中的一个的电路，上述电路具备构成上述间歇动作电路的基带信号部和连接于上述基带信号部的无线频率信号部，上述基带信号部以及上述无线频率信号部接受上述动作控制信号，进行间歇动作。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，
上述基带信号部从外部输入信号，或者向外部输出信号。
9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
上述基带信号部以及上述无线频率信号部构成收发模块。
10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，
上述规定期间动作使动作状态和待机状态交替地执行间歇动作。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，
在上述规定期间动作中，动作状态的期间设定为比待机状态的期间长。
12.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，
上述间歇动作测试模式的间歇动作的循环时间比间歇动作模式的间歇动作的循环时间短。
13.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
上述电路部、动作模式控制部以及动作定时生成部搭载在一个模块基板上。
14.一种具有可间歇动作电路的装置，其特征在于，包括：
可选择性地进行通常动作和间歇动作的信号处理电路，其中，上述间歇动作交替地执行动作状态和待机状态；
生成测试模式控制信号的动作模式控制部，其中，上述测试模式控制信号指定上述信号处理电路的通常动作测试模式以及间歇动作测试模式；
接受上述测试模式控制信号的动作定时生成部，其中，上述动作定时生成部向上述信号处理电路输出动作控制信号，上述动作控制信号根据上述测试模式控制信号而使上述通常动作和上述间歇动作进行。
15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，
上述间歇动作测试模式被设定在上述通常动作测试模式之后。
16.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，
上述间歇动作中的动作状态和待机状态交替且周期性地进行。
17.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，
在上述通常动作中进行连续动作。
18.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，
上述通常动作交替执行动作状态和待机状态。
19.根据权利要求18所述的装置，其特征在于，
在上述通常动作中，动作状态的期间设定为比待机状态的期间长。
20.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，
上述间歇动作测试模式的间歇动作的循环时间比间歇动作模式的间歇动作的循环时间短。
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