KR20100044099A

KR20100044099A - 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치

Info

Publication number: KR20100044099A
Application number: KR1020090098267A
Authority: KR
Inventors: 가나마루 겐지; 스가와라 미츠루; 가와노 아키히로
Original assignee: 가부시끼가이샤 도시바
Priority date: 2008-10-21
Filing date: 2009-10-15
Publication date: 2010-04-29
Also published as: CN101729680A; KR101126445B1; JP2010101644A; US20100097130A1

Abstract

동작상태와 대기상태가 주기적으로 설정되는 간헐동작회로를 갖춘 회로부가 설치되어 있다.

동작모드 제어부는, 상기 간헐동작회로의 간헐동작 테스트 모드와, 상기 간헐동작회로의 연속동작 또는 소정기간 동작에 대응하는 동작 테스트 모드의 어느 하나를 지정하는 모드 제어신호를 생성한다. 동작타이밍 생성부는, 상기 모드 제어신호가 입력되고, 상기 모드 제어신호에 기초해서 상기 간헐동작회로를 동작 혹은 대기시키는 동작 제어신호를 생성하며, 상기 동작 제어신호를 상기 회로부로 출력한다.

Description

간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치 {DEVICE HAVING CIRCUIT CAPABLE OF INTERMITTENT OPERATION}

본 발명은, 대기모드에 있어서 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치에 관한 것이다.

근래, 반도체소자의 미세화, 집적도화, 고속동작화가 진전됨에 따라, 고집적화된 시스템 LSI나 SoC(System on a Chip)와 같은 반도체 장치에서는, 대기(stand-by) 시의 누설전류에 의한 소비전력이 증대하고 있다. 저소비전력화가 요구되는 이동체 기기 등에서는, 대기 시의 소비전력을 삭감할 필요가 있다. 대기 시의 소비전력을 줄이기 위해, 대기 시에 동작이 불필요한 회로로의 전력공급의 차단과 공급을 간헐적으로 실행하는 기술이 여러 분야에서 많고 이용되고 있다. 이러한 기술을 이용한 반도체 장치는, 일본국 특개 2003-188798호 공보에 개시되어 있다.

이와 같은 반도체 장치의 테스트를 행하는 경우, 대기기간 중에는 동작 테스트를 할 수 없기 때문에 테스트 장치에서 대기시간이 발생해 버려, 테스트 공정 전체로서의 시간이 길어지게 된다.

더욱이, 반도체 장치의 종류에 따라 간헐동작의 타이밍을 고려해서 테스트를 행할 필요가 있어, 테스트 설비나 테스트의 제어 소프트웨어에 제약이 생긴다고 하는 문제점이 있다.

본 발명의 목적은, 테스트에 요하는 시간이 짧고, 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치를 제공하는 데에 있다.

본 발명의 한 태양에 의하면, 동작상태와 대기상태가 주기적으로 설정되는 간헐동작회로를 갖춘 회로부와; 상기 간헐동작회로의 간헐동작 테스트 모드와, 상기 간헐동작회로의 연속동작 또는 소정기간 동작에 대응하는 동작 테스트 모드 중 어느 하나를 지정하는 모드 제어신호를 생성하는 동작모드 제어부와; 상기 모드 제어신호가 입력되고, 상기 모드 제어신호에 기초해서 상기 간헐동작회로를 동작 또는 대기시키는 동작 제어신호를 생성하며, 상기 동작 제어신호를 상기 회로부로 출력하는 동작타이밍 생성부를 구비하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치가 제공된다.

본 발명의 다른 태양에 의하면, 통상동작과 간헐동작을 선택적으로 실행할 수 있는 신호처리회로로서, 상기 간헐동작이 동작상태와 대기상태를 교대로 실행하는 것과; 테스트 모드 제어신호를 생성하는 동작모드 제어부로서, 상기 테스트 모드 제어신호가 상기 신호처리회로의 통상동작 테스트 모드 및 간헐동작 테스트 모드를 지정하는 것과; 상기 테스트 모드 제어신호를 수신하는 동작타이밍 생성부로서, 상기 동작타이밍 생성부가 상기 테스트 모드 제어신호에 기초해서 상기 통상동작과 상기 간헐동작을 실행시키는 동작 제어신호를 상기 신호처리회로로 출력하는 것을 구비한 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치가 제공된다.

이상과 같이 구성된 본 발명에 의하면, 테스트에 요하는 시간이 짧고, 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치를 제공할 수 있게 된다.

이하, 본 발명의 (복수의) 실시예에 대해 도면을 참조하면서 설명한다.

본 발명의 제1 실시예에 따른 반도체 장치로서의 센서 LSI, 즉 센서를 포함한 집적회로에 대해, 도 1을 참조해서 설명한다. 도 1은 제1 실시예에 따른 센서 LSI를 나타낸 블록도이다.

도 1에 나타낸 바와 같이, 센서 LSI(50)에는 센서부(1), 제어부(2), 기억부(3), 동작모드 제어부(4) 및 동작타이밍 생성부(5)가 설치된다. 센서 LSI(50) 는, 자계(磁界)를 감지해서 자계의 강도에 따른 신호를 출력한다. 센서 LSI(50)는, 자계를 감지하지 않는 대기 시에는 동작이 불필요한 회로로의 전력공급을 차단한다. 센서부(1), 제어부(2) 및 기억부(3)는 신호처리회로(8)를 구성하고 있다. 이후에 있어서, 「신호처리회로」라고 하는 것은 신호의 증폭, A/D 변환, 연산, 전송, 또는 기억을 포함한 처리를 실행하는 회로부를 의미한다.

센서부(1)는, 전원이 차단되었을 때, 또는 뒤에 설명되는 동작 제어신호(Sds)에 의해 동작을 정지했을 때에 대기상태로 들어간다. 센서부(1)는 통상동작과 간헐동작을 선택적으로 행한다. 간헐동작에 있어서, 센서부(1)의 동작상태와 대기상태가 주기적으로 설정된다. 센서 LSI(50)에서는 자계를 감지하고 있으나, 온도, 광, 변위(위치), 압력, 전계, 중력(가속도) 등을 감지하거나, 혹은 복수 종류를 감지하거나 해도 좋다.

동작모드 제어부(4)는, 센서 LSI(50)를 테스트할 때에 이용된다. 동작모드 제어부(4)는, 간헐동작 테스트 모드와 동작 테스트 모드 중 어느 하나를 지정하는 모드 제어신호(Sms)를 생성하고, 생성된 모드 제어신호(Sms)를 동작타이밍 생성부(5)로 출력한다.

동작타이밍 생성부(5)는, 센서 LSI(50)를 테스트할 때에 이용된다. 동작타이밍 생성부(5)는, 상기 모드 제어신호(Sms)에 기초해서 센서부(1) 및 제어부(2)를 동작 혹은 대기시키는 동작 제어신호(Sds)를 생성한다.

동작 제어신호(Sds)는, 센서부(1) 및 제어부(2)에 더하여, 기억부(3)로 출력되어도 좋다. 이 경우, 센서 LSI(50)의 테스트 시에, 기억부(3)가 동작 혹은 대기 된다.

센서부(1)에는, 센서(11), 증폭회로(12) 및 비교기(13)가 설치된다.

센서(11)는, 자계를 감지했을 때, 자계에 반응해서 자계의 강도에 비례한 출력전압을 발생하고, 발생한 출력전압을 증폭회로(12)로 출력한다. 센서(11)에는, 예컨대 홀 소자 또는 MR 소자 등이 이용된다.

증폭회로(12)는, 센서(11)로부터 출력되는 출력전압이 입력되고, 이 출력전압을 증폭한다.

비교기(13)는, 증폭기(12)의 출력전압과 소정의 기준전압을 비교해서 비교 결과를 제어부(2)로 출력한다. 비교기(13)는, 상기 소정의 기준전압과의 비교에 의해, "하이(High)" 레벨인지 "로우(Low)" 레벨인지의 판정을 행하고 있다. 복수의 기준전압을 준비해서, 자계의 강도에 대응하는 증폭기(12)의 출력전압을 복수 랭크(rank)로 나누어도 좋다.

제어부(2)는, 센서부(1)의 동작을 제어하는 제어신호(Scnt)를 센서부(1)로 출력한다. 제어부(2)에는, 비교기(13)로부터의 출력정보가 입력된다. 제어부(2)는 이 비교기(13)로부터 입력된 정보를, 출력신호(Sout)로서 외부로 출력한다. 제어부(2)에는, 입력신호(Sin)가 외부로부터 입력된다. 입력신호(Sin)는, 센서부(1)의 동작을 제어하기 위한 정보를 포함한다.

기억부(3)는, 제어부(2)를 매개로, 센서부(1)에서 감지된 자계의 강도에 대응하는 정보가 입력되고, 그 정보를 격납한다. 격납된 정보는, 제어부(2)를 매개로 외부로 출력할 수 있다. 기억부(3)는, 제어부(2)를 매개로 입력되는 입력신 호(Sin)를 격납한다.

도 2는 센서 LSI(50)의 동작을 나타낸 도면이다. 도 2에 나타낸 바와 같이, 시각(時刻) TO에 있어서, 센서 LSI(50)에 전원으로부터 전력이 공급되면, 센서 LSI(50)는 연속동작을 개시하고, 통상동작모드로 된다. 구체적으로는, 센서부(1)가 자계를 감지하고, 감지된 정보가 센서부(1)로부터 제어부(2)로 송신된다.

상기 감지동작을 개시한 후, 소정의 시간을 경과한 시각 T1에 있어서, 도 1에 나타낸 제어부(2)의 제어신호(Scnt)에 기초해서, 센서부(1)가 간헐동작모드로 들어간다. 이 간헐동작모드에서는, 동작모드와 대기모드가 교대로 주기적으로 반복된다. 동작모드가 행해지는 시간 Ta는, 센서부(1)의 회로의 시동시간 Tkt와 센서부(1)로부터 감지된 정보의 통신시간 Tsu의 합이다.

감지된 정보가 송신된 후, 센서부는 대기모드로 설정된다. 이 대기모드에서는, 센서부(1)는 동작을 정지한다. 대기모드로 설정되는 시간은 대기시간 Tm이다. 간헐동작모드의 동작시간 Ta와 간헐동작모드의 대기시간 Tm의 합이 사이클 타임(cycle time: 주기 시간) Ts로 된다. 대기시간 Tm과 사이클 타임 Ts는, 도 1에 나타낸 제어부(2)로부터 출력되는 제어신호(Scnt)에 의해 설정된다.

여기서, 간헐동작모드에서의 동작 시의 소비전력 Pa와, 대기 시의 소비전력 Ps의 관계는, 다음의 식과 같이 설정된다.

Pa >> Ps … … … … … … (1)

한편, 간헐동작모드의 동작시간 Ta와 대기시간 Tm의 관계를, 다음의 식과 같이 설정함으로써, 간헐동작하는 센서 LSI(50)를 보다 저소비전력화할 수 있다.

Tm >> Ta … … … … … … (2)

다음에는 센서 LSI(50)의 테스트 공정에 대해 도 3을 참조해서 설명한다.

도 3에 나타낸 바와 같이, 센서 LSI(50)의 테스트에서는, 테스트를 개시할 때에, 도 1의 센서부(1), 제어부(2), 기억부(3), 동작모드 제어부(4) 및 동작타이밍 생성부(5)에 전원이 공급된다.

동작모드 제어부(4)로부터 동작타이밍 생성부(5)로 모드 제어신호(Sms)가 출력된다. 모드 제어신호(Sms)에 의해, 동작타이밍 생성부(5)로부터, 센서부(1)를 연속적으로 동작시키는 동작 제어신호(Sds)가 센서부(1)로 출력된다. 시각 TO에 있어서, 센서부(1)가 연속동작을 개시한다.

이때, 동작 제어신호(Sds)가 제어부(2)로 입력됨으로써, 센서부(1)를 간헐동작시키는 신호(Scnt)는 제어부(2)로부터 출력되지 않는다. 테스트 개시로부터 모드 절환 전의 시각 T2까지, 통상동작 테스트 모드가 실행된다. 통상동작 테스트 모드에서는, 센서부(1), 제어부(2) 및 기억부(3)의 테스트가 연속적으로 실행되고, 도시하지 않은 테스트 장치에 의해 센서 LSI(50)의 양부(良否) 판정이 행해진다.

다음에, 상기 통상동작 테스트 모드에서의 테스트 종료 후, 동작타이밍 생성부(5)로부터의 동작 제어신호(Sds)에 의해, 제어부(2)로부터 제어신호(Scnt)가 센서부(1)로 출력된다. 이 제어신호(Scnt)에 기초해서, 센서부(1)의 간헐동작이 개시되고, 간헐동작 테스트 모드가 실행되어 상기 테스트 장치에 의해 센서 LSI(50)의 양부 판정이 행해진다. 간헐동작 테스트 모드에서의 사이클 타임 Ts, 동작시간 Ta, 간헐동작모드의 대기시간 Tm은, 센서 LSI(50)의 상기 간헐동작 테스트 모드의 각각과 같다.

앞에서 설명한 바와 같이, 본 실시예에서는 통상동작 테스트 모드의 종료시각 T2는 도 2의 통상동작모드 종료시각 T1보다 빠르게 할 수 있기 때문에, 테스트 장치의 대기시간을 적게 해서, 테스트를 신속하게 종료할 수 있다. 따라서, 테스트 공정에 요하는 시간을 단축화할 수 있다.

더욱이, 테스트 대상으로서의 센서 LSI(50)의 종류에 따라, 간헐동작의 타이밍을 고려해서 테스트를 행할 필요가 없기 때문에, 테스트 설비나 제어 소프트웨어에의 제약이 발생하지 않는다. 테스트를 위해 센서 LSI(50)가 자율 동작하기 때문에, 특수한 테스터(tester)를 필요로 하지 않는다. 더욱이, 센서 LSI(50)에 있어서, 외부에서 테스트 모드를 제어하기 위한 테스트 단자가 불필요하게 된다.

본 실시예에서는, 반도체 장치로서 간헐동작하는 것이 가능한 센서 LSI를 이용하고 있다. 센서 LSI 대신, 각각 간헐동작하는 것이 가능한, PLL 센서 LSI, 무선수신 LSI, 이동체 베이스밴드(mobile baseband) LSI, 위치검출 LSI, 모터제어 LSI, 혹은 컨버터제어 LSI를 이용해도 좋다. 필터회로가 간헐동작하는 아날로그 베이스밴드 LSI나, CPU가 간헐동작하는 마이크로컴퓨터나 프로세서를 이용해도 좋다.

다음에는 본 발명의 제2 실시예에 따른 송수신 모듈에 대해 도 4를 참조해서 설명한다.

도 4에 나타낸 바와 같이, 송수신 모듈(60)에는 회로부인 송수신부(6), 동작모드 제어부(4a) 및 동작타이밍 생성부(5a)가 설치된다. 송수신부(6)는 송신부 또 는 수신부이어도 좋다. 송수신 모듈(60)은, 예컨대 이동체 통신의 송수신 모듈로서 이용된다. 송수신 모듈(60)은, 도시하지 않은 안테나를 매개로 입력되는 고주파 신호가 입력되지 않는 대기 시에, 동작이 불필요한 회로로의 전력의 공급을 차단함과 더불어, 간헐수신을 기다리는 간헐수신 대기동작을 행한다. 송수신부(6), 동작모드 제어부(4a) 및 동작타이밍 생성부(5a)는, 동일한 모듈 기판에 형성된다.

송수신부(6)는, RF(무선주파수신호)부(21) 및 베이스밴드 신호부(22)를 갖추고 있으면서, 신호처리회로를 구성하고 있다. RF부(21) 및 베이스밴드 신호부(22)는, 통상동작과 간헐수신 대기동작을 선택적으로 실행하는 기능을 갖고 있다. 간헐수신 대기동작에서는, RF부(21)에 설치되는 PLL 회로가 간헐동작을 행하고, 베이스밴드 신호부(22)에 설치되는 프로세서가 간헐동작을 행한다. 이들의 간헐동작에서는, 상기 PLL 회로 및 프로세서의 동작상태와 대기상태가 주기적으로 설정된다.

동작모드 제어부(4a)는, 송수신 모듈(60)을 테스트할 때 이용된다. 동작모드 제어부(4a)는, 간헐동작 테스트 모드와 통상동작 테스트 모드의 어느 하나를 지정하는 모드 제어신호(Sms)를 생성한다. 생성된 모드 제어신호(Sms)는, 동작타이밍 생성부(5a)로 입력된다.

동작타이밍 생성부(5a)는, 송수신 모듈(60)를 테스트할 때에 이용된다. 동작타이밍 생성부(5a)는, 모드 제어신호(Sms)에 기초해서, 송수신부(6)를 동작 또는 대기시키는 동작 제어신호(Sds)를 생성한다. 생성된 동작 제어신호(Sds)는, 제어신호로서 송수신부(6)의 RF부(21) 및 베이스밴드 신호부(22)로 입력된다.

송수신부(6)의 RF부(21)는 복수의 반도체 칩으로 구성되어 있어도 좋다. RF 부(21)에는 상기 안테나를 매개로 수신되는 미약한 고주파 신호가 입력된다. 이 입력신호는 RF부(21)에서 증폭된다. 증폭된 신호는 RF부(21)에서 주파수 변환된다. 주파수 변환된 신호는 베이스밴드 신호부(22)로 입력된다. 한편, RF부(21)는, 베이스밴드 신호부(22)로부터 출력되는 신호를 주파수 변환해서, 고출력화된 고주파 신호를 도시하지 않은 안테나를 매개로 출력하는 기능을 가진다.

베이스밴드 신호부(22)는, RF부(21)에 의해 주파수 변환된 상기 신호를 신호처리해서, 출력신호(Sout)로서 외부로 출력한다. 베이스밴드 신호부(22)로는, 외부로부터 입력되는 베이스밴드의 입력신호(Sin)가 입력된다. 베이스밴드 신호부(22)는 이 입력신호를 신호처리해서 RF부(21)로 출력한다.

다음에는, 상기 송수신 모듈(60)의 테스트 동작에 대해 도 5를 참조해서 설명한다.

도 5에 나타낸 바와 같이, 송수신 모듈(60)의 테스트 공정에서는, 시각 TO에서의 통상동작 테스트 모드의 개시에 의해, 도 4에 나타낸 송수신부(6), 동작모드 제어부(4a) 및 동작타이밍 생성부(5a)로 전원으로부터 전력이 간헐적으로 공급된다. 이 통상동작 테스트 모드에서는, 동작모드 제어부(4a)로부터 출력되는 모드 제어신호(Sms)에 기초해서 동작타이밍 생성부(5a)로부터 동작 제어신호(Sds)가 출력된다. 이 동작 제어신호(Sds)에 의해, 송수신 모듈(60)의 동작시간 Tac, 대기시간 Tmc, 사이클 타임 Tsc가, 다음 식과 같이 설정된다.

Tac > Tmc … … … … … … (3)

Tsc = Tac + Tmc … … … … (4)

송수신 모듈(60)의 동작시간 Tac의 사이에 송수신 모듈(60)의 통상동작 테스트가 실행된다. 통상동작 테스트에 있어서, 도시하지 않은 테스트 장치를 이용해서 송수신 모듈(60)의 양부 판정이 행해진다. 이 통상동작 테스트는, 적어도 1사이클 실행된다.

상기 통상동작 테스트 모드에서의 테스트의 종료 후, 시각 t3에 있어서, 동작모드 제어부(4a)로부터 출력되는 모드 제어신호(Sms)에 기초해서 동작타이밍 생성부(5a)로부터 동작 제어신호(Sds)가 출력된다. 출력된 동작 제어신호(Sds)에 의해, 송수신 모듈(60)은 간헐수신 대기동작 테스트 모드로 되고, 동작시간 Tab, 대기시간 Tmb, 사이클 타임 Tsb가 다음 식과 같이 설정된다.

Tab > Tmb … … … … … … (5)

Tsb = Tab + Tmb … … … … (6)

간헐수신 대기동작 테스트 모드의 수신대기시간 Tmb는, 송수신 모듈(60)의 간헐수신 대기동작모드에서의 수신대기시간보다도 짧게, 임의로 설정되어 있다. 사이클 타임 Tsb는, 간헐수신 대기동작모드의 사이클 타임보다도 짧게 설정된다.

송수신 모듈(60)의 동작시간 Tab의 사이에 송수신 모듈(60)의 간헐수신 대기동작 테스트가 실행된다. 도시하지 않은 테스트 장치를 이용해서, 송수신 모듈(60)의 양부 판정이 행해진다. 이 간헐수신 대기동작 테스트는, 적어도 1사이클 실행된다.

본 실시예에서는, 송수신 모듈(60) 내에 동작모드 제어부와 동작타이밍 생성부를 설치함으로써, 통상동작 테스트 모드를 실행한 후에, 간헐수신 대기동작 테스 트 모드를 실행하고 있다. 이 결과, 동작모드 제어부와 동작타이밍 생성부를 설치하지 않은 경우의 테스트 공정과 비교해서, 송수신 모듈(60)의 테스트 시간을 단축할 수 있다.

도 5의 테스트 공정에서는, 모드 절환으로부터 간헐수신 대기동작 테스트 개시까지의 사이에 소정의 시간을 설정하고 있다. 이 소정시간을 설정하지 않고, 모드 절환 직후에 간헐수신 대기동작 테스트를 개시시켜도 좋다.

본 실시예에서는, 간헐수신 대기동작 테스트 모드의 대기시간 Tmb가, 송수신 모듈(60)의 간헐수신 대기동작모드에서의 대기시간보다도 짧다. 따라서, 테스트 공정에 요하는 시간을 단축할 수 있다.

더욱이, 테스트 대상으로서의 송수신 모듈(60)의 종류에 따라 간헐수신 대기동작의 타이밍을 고려해서 테스트를 행할 필요가 없기 때문에, 테스트 설비나 제어 소프트웨어로의 제약이 생기지 않는다.

송수신 모듈(60)이 자율 동작하기 때문에, 특수한 테스터를 필요로 하지 않는다. 송수신 모듈(60)에 있어서, 테스트 모드를 제어하기 위한 테스트 단자가 불필요하게 된다.

본 실시예는, 간헐수신 대기동작하는 송수신 모듈(60)에 적용되어 있다. 각각 간헐동작하는, 센서 모듈, 위치검출 모듈, 모터제어 모듈, 또는 컨버터제어 모듈이나, 필터회로가 간헐동작하는 아날로그 베이스밴드 모듈 등에 적용해도 좋다.

본 발명의 명세서에서는 최선의 실시예에 대해 설명하였으나, 본 발명에 관련된 기술자라면 적절히 변경해서 실시할 수 있음은 명백하다. 따라서, 본 발명의 기술적 요지를 벗어나지 않는 한 모두 다음에 기재되는 특허청구범위에 속하는 것으로 이해되어야 할 것이다.

도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 센서 LSI를 나타낸 블록도이다.

도 2는 제1 실시예에 따른 센서 LSI의 동작을 나타낸 도면이다.

도 3은 제1 실시예에 따른 센서 LSI의 테스트 공정을 나타낸 도면이다.

도 4는 본 발명의 제2 실시예에 따른 송수신 모듈을 나타낸 블록도이다.

도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 송수신 모듈의 테스트 공정을 나타낸 도면이다.

Claims

동작상태와 대기상태가 주기적으로 설정되는 간헐동작회로를 갖춘 회로부와,

상기 간헐동작회로의 간헐동작 테스트 모드와, 상기 간헐동작회로의 연속동작 또는 소정기간 동작에 대응하는 동작 테스트 모드의 어느 하나를 지정하는 모드 제어신호를 생성하는 동작모드 제어부와,

상기 모드 제어신호가 입력되고, 상기 모드 제어신호에 기초해서 상기 간헐동작회로를 동작 또는 대기시키는 동작 제어신호를 생성하며, 상기 동작 제어신호를 상기 회로부로 출력하는 동작타이밍 생성부를 구비한 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제1항에 있어서, 상기 간헐동작회로에 의한 간헐동작에서, 동작상태의 기간이 대기상태의 기간보다 짧게 설정되는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제1항에 있어서, 상기 회로부가 상기 간헐동작회로인 센서부 및 제어부를 갖추되, 상기 제어부는 상기 동작 제어신호를 받아 상기 센서부를 간헐동작시키는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제1항에 있어서, 상기 센서부는, 센서와, 이 센서의 출력을 받는 증폭회로와, 이 증폭회로의 출력을 받는 비교기를 구비하는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제4항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 비교기로부터 얻어지는 신호를 외부로 출력함과 더불어, 외부로부터 상기 센서부의 동작을 제어하기 위한 정보를 포함한 입력을 받는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제1항에 있어서, 상기 회로부, 동작모드 제어부 및 동작타이밍 생성부가, 센서 집적회로를 구성하는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제1항에 있어서, 상기 회로부는 송신부, 수신부, 송수신부로부터 선택되는 하나의 회로를 포함하고, 상기 회로는 상기 간헐동작회로를 구성하는 베이스밴드 신호부와 상기 베이스밴드 신호부에 접속되는 무선 주파수 신호부를 갖추되, 상기 베이스밴드 신호부 및 상기 무선 주파수 신호부가 상기 동작 제어신호를 받아 간헐동작하는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제7항에 있어서, 상기 베이스밴드 신호부는, 외부로부터 신호가 입력되거나 또는 외부로 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제1항에 있어서, 상기 베이스밴드 신호부 및 상기 무선 주파수 신호부가, 송수신 모듈을 구성하는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제7항에 있어서, 상기 소정기간 동작이, 동작상태와 대기상태의 간헐동작을 실행하는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제10항에 있어서, 상기 소정기간 동작에서, 동작상태의 기간이 대기상태의 기간보다 길게 설정되는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제10항에 있어서, 상기 간헐동작 테스트 모드의 간헐동작의 사이클 타임이, 간헐동작모드의 간헐동작의 사이클 타임보다 짧은 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제1항에 있어서, 상기 회로부, 동작모드 제어부 및 동작타이밍 생성부가 하나의 모듈 기판상에 탑재되는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
통상동작과 간헐동작을 선택적으로 실행할 수 있는 신호처리회로로서, 상기 간헐동작이 동작상태와 대기상태를 교대로 실행하는 것과,

테스트 모드 제어신호를 생성하는 동작모드 제어부로서, 상기 테스트 모드 제어신호가 상기 신호처리회로의 통상동작 테스트 모드 및 간헐동작 테스트 모드를 지정하는 것과,

상기 테스트 모드 제어신호를 받는 동작타이밍 생성부로서, 상기 동작타이밍 생성부가 상기 테스트 모드 제어신호에 기초해서 상기 통상동작과 상기 간헐동작을 실행시키는 동작 제어신호를 상기 신호처리회로로 출력하는 것을 구비한 것을 특징 으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제14항에 있어서, 상기 간헐동작 테스트 모드가, 상기 통상동작 테스트 모드 후에 설정되는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제14항에 있어서, 상기 간헐동작에서의 동작상태와 대기상태가 교대로 주기적으로 행해지는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제14항에 있어서, 상기 통상동작에서는, 연속동작이 행해지는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제14항에 있어서, 상기 통상동작이, 동작상태와 대기상태를 교대로 실행하는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제18항에 있어서, 상기 통상동작에서, 동작상태의 기간이 대기상태의 기간보 다 길게 설정되는 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.
제14항에 있어서, 상기 간헐동작 테스트 모드의 간헐동작의 사이클 타임이, 간헐동작모드의 간헐동작의 사이클 타임보다 짧은 것을 특징으로 하는 간헐동작이 가능한 회로를 가진 장치.