CN101672878A - 芯片测试装置及其测试方法 - Google Patents
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN 200810148802 CN101672878B (zh) | 2008-09-12 | 2008-09-12 | 芯片测试装置及其测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 200810148802 CN101672878B (zh) | 2008-09-12 | 2008-09-12 | 芯片测试装置及其测试方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101672878A true CN101672878A (zh) | 2010-03-17 |
CN101672878B CN101672878B (zh) | 2013-07-03 |
Family
ID=42020190
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN 200810148802 Active CN101672878B (zh) | 2008-09-12 | 2008-09-12 | 芯片测试装置及其测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN101672878B (zh) |
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CN108521571B (zh) * | 2018-04-11 | 2021-01-01 | 上海小蚁科技有限公司 | Sdi芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端 |
CN110031746A (zh) * | 2019-04-19 | 2019-07-19 | 中国南方电网有限责任公司 | 芯片测试远程监控方法、装置、计算机设备和存储介质 |
CN112285446A (zh) * | 2019-07-12 | 2021-01-29 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 执行多种测试的测试系统、传送装置与接收装置 |
CN112285446B (zh) * | 2019-07-12 | 2024-05-31 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 执行多种测试的测试系统、传送装置与接收装置 |
CN113009318A (zh) * | 2021-02-25 | 2021-06-22 | 合肥宏晶微电子科技股份有限公司 | 视频处理芯片的测试设备及测试方法 |
CN113009318B (zh) * | 2021-02-25 | 2023-07-18 | 宏晶微电子科技股份有限公司 | 视频处理芯片的测试设备及测试方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
CN101672878B (zh) | 2013-07-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
TR01 | Transfer of patent right |
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TR01 | Transfer of patent right |