CN108521571B - Sdi芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端 - Google Patents

Sdi芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端 Download PDF

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Abstract

一种SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端,所述方法包括:获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库;比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库;根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。通过本发明提供的方案能够提高生产过程中对SDI芯片的筛片效率,节约时间成本。

Description

SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端
技术领域
本发明涉及芯片检测技术领域,具体地涉及一种SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端。
背景技术
数字分量串行接口(Serial Digital Interface,简称SDI)是一种实时无压缩的高清广播级摄像机,是安防监控领域的又一科技进步。通过75欧姆同轴电缆来传输未压缩的数字视频,SDI芯片能够为监控中心提供高清晰的图像。
为了能够确保SDI芯片能够输出高质量的图像数据,对SDI芯片的合格率检测就显得尤为重要。
但是,在目前的出厂检测阶段,对SDI芯片的合格率检测不但耗时长而且效率低,不利于SDI芯片的批量生产。
发明内容
本发明解决的技术问题是如何提高SDI芯片在生产过程中的筛片效率。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种SDI芯片自动检测方法,包括:获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库;比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库;根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。
可选的,所述信道数据包括对所述SDI芯片的多路图像输出检测结果。
可选的,所述多路图像输出检测结果为4路图像输出检测结果。
可选的,所述根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格包括:当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时,确定所述待检测SDI芯片合格;否则,确定所述待检测SDI芯片不合格。
可选的,所述标准值是通过对多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的。
可选的,所述SDI芯片自动检测方法还包括:在显示界面输出所述信道数据和检测结果。
可选的,所述信道数据和标准值选自如下维度:支持长度;帧率。
可选的,所述支持长度根据所述待检测SDI芯片在示波器上的输出幅度确定。
为解决上述技术问题,本发明实施例还提供一种SDI芯片自动检测装置,包括:获取模块,用于获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库;比较模块,用于比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库;确定模块,用于根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。
可选的,所述信道数据包括对所述SDI芯片的多路图像输出检测结果。
可选的,所述多路图像输出检测结果为4路图像输出检测结果。
可选的,所述确定模块包括:第一确定子模块,当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时,确定所述待检测SDI芯片合格;或者第二确定子模块,当所述多路图像输出检测结果中的任一路检测结果低于所述标准值时,确定所述待检测SDI芯片不合格。
可选的,所述标准值是通过对多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的。
可选的,所述SDI芯片自动检测装置还包括:显示模块,用于在显示界面输出所述信道数据和检测结果。
可选的,所述信道数据和标准值选自如下维度:支持长度;帧率。
可选的,所述支持长度根据所述待检测SDI芯片在示波器上的输出幅度确定。
为解决上述技术问题,本发明实施例还提供一种存储介质,其上存储有计算机指令,所述计算机指令运行时执行上述方法的步骤。
为解决上述技术问题,本发明实施例还提供一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机指令,所述处理器运行所述计算机指令时执行上述方法的步骤。
与现有技术相比,本发明实施例的技术方案具有以下有益效果:
本发明实施例提供一种SDI芯片自动检测方法,包括:获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库;比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库;根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。较之现有人工逐一比对进行筛片的方案,本发明实施例的方案通过预先建立的预设标准数据库实现对待检测SDI芯片的自动检测,有效提高筛片效率,节约时间成本。
进一步,所述标准值是通过对多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的,以根据历史数据综合分析出合格芯片和不合格芯片之间的差异,进而根据分析结果确定标准值作为后续自动检测的检测基准,实现对SDI芯片的自动化检测。
附图说明
图1是本发明实施例的一种SDI芯片自动检测方法的流程图;
图2是图1中步骤S102和步骤S103的一个具体实施方式的流程图;
图3是本发明实施例的一种SDI芯片自动检测装置的结构示意图。
具体实施方式
本领域技术人员理解,如背景技术所言,现有技术在对数字分量串行接口(SerialDigital Interface,简称为SDI)芯片进行出厂检测时,需人工对各SDI芯片的待测试项进行逐一比对,耗时长而且效率低,不利于SDI芯片的批量生产。
例如,根据现有的测试方案,需要人工在高清示波器上测量和监视SDI信号的电平范围,还需通过眼图仪检查输出信号的幅度大小及信号质量,在筛选SDI芯片时需要通过串口连接行外设接口(Serial Peripheral Interface,简称SPI)实时读取4路图像的当前帧率,观察连接多个接口的图像显示和丢帧情况,整个检测过程耗时长并效率低。
为了解决上述技术问题,本发明实施例提供一种SDI芯片自动检测方法,包括:获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库;比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库;根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。本领域技术人员理解,本发明实施例的方案通过预先建立的预设标准数据库实现对待检测SDI芯片的自动检测,有效提高筛片效率,节约时间成本。
为使本发明的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
图1是本发明实施例的一种SDI芯片自动检测方法的流程图。其中,所述SDI芯片可以包括高清(High Definition,简称HD)SDI(简称HD-SDI)芯片。
具体地,在本实施例中,所述SDI芯片自动检测方法可以包括如下步骤:
步骤S101,获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库。
步骤S102,比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库。
步骤S103,根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。
更为具体地,所述信道数据可以包括对所述SDI芯片的多路图像输出检测结果。
作为一个非限制性实施例,所述多路图像输出检测结果各自对应的多路图像输出可以是采用相同类型的接口连接该SDI芯片的多路图像输出。
优选地,所述多路图像输出检测结果可以为4路图像输出检测结果。在实际应用中,本领域技术人员也可以根据需要(如根据所需的SDI芯片的图像输出精度等)调整所述多路图像输出检测结果具体包括的输出线路数量。
进一步地,所述信道数据和标准值可以选自如下维度:支持长度;帧率。
具体地,所述支持长度可以指所述SDI芯片支持的最长距离,也即所述SDI芯片能够连接的电缆长度。例如,可以将前期通过仪器测得的所述待检测SDI芯片的SDI信号强度转换为所述支持长度。优选地,所述支持长度越长,所述SDI芯片的质量越好。
作为一个非限制性实施例,前期测量时,可以批量测试多个待检测SDI芯片的SDI信号强度并存储至一数据库,以供后续多芯片筛选时采用本实施例所述方案进行自动检测操作。其中,所述SDI信号强度可以通过示波器测出的幅度(反馈率和信号强度的关系)衡量,也即,所述支持长度可以根据所述待检测SDI芯片在示波器上的输出幅度确定。
优选地,所述数据库与前述预设标准数据库可以为同一个库,也可以为相互独立的两个库。
具体地,所述帧率可以用于判断所述多路图像输出中是否存在丢帧现象,这同样可以预先通过仪器测量并存储至所述数据库。优选地,对于合格的SDI芯片要求其不能出现丢帧和显示延迟,而显示延迟则与丢帧情况密切关联。
进一步地,所述标准值可以是通过对多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的以根据历史数据综合分析出合格芯片和不合格芯片之间的差异,进而根据分析结果确定标准值作为后续自动检测的检测基准,实现对SDI芯片的自动化检测。
优选地,所述预设时间段可以为1天、1周或1个月。在实际应用中,本领域技术人员可以根据需要灵活调节所述预设时间段的具体时间长度,例如,所述预设时间段也可以根据所述待检测SDI芯片所属的生产批次确定。
例如,针对所述支持长度,可以根据对历史上预设时间段内的检测结果确定长度阈值,在后续自动检测过程中,所有支持长度低于该长度阈值的SDI芯片被判定为不合格。
又例如,针对所述帧率,可以通过标准值设定标准帧率(如25帧/秒或30帧/秒),在后续自动检测过程中,所有测出的实际帧率低于所述标准帧率的SDI芯片被判定为不合格。
在一个典型的应用场景中,通过建立所述数据库,能够将历史上预设时间段内检测的所有待检测SDI芯片的信道数据,以及当前需要检测的待检测SDI芯片的信道数据整合到一起(如整合到一个表格内),通过与所述标准值的对比挑出合格的SDI芯片和不合格的SDI芯片。
进一步地,随着待检测SDI芯片的数据(即其信道数据和合格与否)的不断增加,还能反过来优化所述标准值的具体数值,实现对SDI芯片的筛片合格率的动态调整。
优选地,所述数据库可以存储于设备管理器中,所述设备管理器可以设置于所述待检测SDI芯片的生产现场。
进一步地,参考图2,所述步骤S102和步骤S103可以包括如下步骤:
步骤S1021,比较所述多路图像输出检测结果是否均高于所述标准值;
当所述步骤S1021的判断结果为肯定的,亦即当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时,执行步骤S1031,确定所述待检测SDI芯片合格。
否则,当所述步骤S1021的判断结果为否定的,也即当所述多路图像输出检测结果中的任一路(或任多路)图像输出检测结果低于所述标准值时,执行步骤S1032,确定所述待检测SDI芯片不合格。
进一步地,所述标准值可以包括总线接口型界面的标准值和通用串行总线型界面的标准值,两者的区别在于待检测SDI芯片的输出连接方式不同,但两者的标准值的具体数值可以相同。
作为一个非限制性实施例,所述步骤S1021可以包括:判断所述待检测SDI芯片的4路图像输出检测结果各自的支持长度是否均大于所述长度阈值,并且,判断所述4路图像输出检测结果各自的帧率是否均大于所述标准帧率,当前述两个判断的判断结果均为肯定的时,确定所述待检测SDI芯片合格;否则,若所述4路图像输出检测结果各自的支持长度中的任一个小于所述长度阈值,和/或,所述4路图像输出检测结果各自的帧率中的任一个小于所述标准帧率,则确定所述待检测SDI芯片不合格。
进一步地,本实施例所述SDI芯片自动检测方法还可以包括步骤:存储所述步骤S103的检测结果,以备后用。
例如,在获得检测结果后,还可以将所述检测结果上传至现场控制系统(如后台服务器)进行保存。
进一步地,本实施例所述SDI芯片自动检测方法还可以包括步骤:在显示界面输出所述信道数据和检测结果。
例如,可以在所述显示界面显示所述4路图像输出检测结果包括的所有参数信息(如各路图像输出的支持长度和帧率),以及最终的检测结果(即改待检测SDI芯片合格/不合格)。
由上,采用本实施例的方案,通过预先建立的预设标准数据库实现对待检测SDI芯片的自动检测,有效提高筛片效率,节约时间成本。
进一步地,基于本实施例的方案,在筛片时无需使用仪器实时进行测试,也无需通过串口连接读取待检测SDI芯片的实时帧率,通过观察所述显示界面上输出的信道图像显示情况,可以通过输出的各信道图像直观的获取该待检测SDI芯片的各信道参数和丢帧结果。
本领域技术人员理解,相较于现有技术,本实施例所述SDI芯片自动检测方案能够实现一套程序能够测试不同信号等级芯片的目的,极大提高工作效率。同时,本实施例所述方案于测试过程中还增加了屏幕显示功能的测试,很大程度上保证了产品的质量。此外,基于本实施例所述方案还能够保存检测结果,通过上传现场控制系统可进行后续的追踪。
图3是本发明实施例的一种SDI芯片自动检测装置的结构示意图。本领域技术人员理解,本实施例所述SDI芯片自动检测装置3用于实施上述图1和图2所示实施例中所述的方法技术方案。
具体地,在本实施例中,所述SDI芯片自动检测装置3可以包括:获取模块31,用于获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库;比较模块32,用于比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库;确定模块33,用于根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。
进一步地,所述信道数据可以包括对所述SDI芯片的多路图像输出检测结果。
优选地,所述多路图像输出检测结果可以为4路图像输出检测结果。
进一步地,所述确定模块33可以包括:第一确定子模块331,当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时,确定所述待检测SDI芯片合格;或者第二确定子模块332,当所述多路图像输出检测结果中的任一路检测结果低于所述标准值时,确定所述待检测SDI芯片不合格。
进一步地,所述标准值可以是通过对多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的。
进一步地,所述SDI芯片自动检测装置3还可以包括:显示模块34,用于在显示界面输出所述信道数据和检测结果。
进一步地,所述信道数据和标准值可以选自如下维度:支持长度;帧率。
进一步地,所述支持长度可以根据所述待检测SDI芯片在示波器上的输出幅度确定。
关于所述SDI芯片自动检测装置3的工作原理、工作方式的更多内容,可以参照上述图1和图2中的相关描述,这里不再赘述。
进一步地,本发明实施例还公开一种存储介质,其上存储有计算机指令,所述计算机指令运行时执行上述图1和图2所示实施例中所述的方法技术方案。优选地,所述存储介质可以包括诸如非挥发性(non-volatile)存储器或者非瞬态(non-transitory)存储器等计算机可读存储介质。所述存储介质可以包括ROM、RAM、磁盘或光盘等。
进一步地,本发明实施例还公开一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机指令,所述处理器运行所述计算机指令时执行上述图1和图2所示实施例中所述的方法技术方案。优选地,所述终端可以是计算机等执行设备。
虽然本发明披露如上,但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,均可作各种更动与修改,因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims (14)

1.一种SDI芯片自动检测方法,其特征在于,包括:
获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库;
比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库;
根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格;
其中,所述待测芯片库包括批量测试的多个待检测SDI芯片的信道数据;
所述标准值是通过对所述多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的,所述检测结果包括合格和不合格,并且,所述标准值还随着待检测SDI芯片的数据的数据量的增加而变化,所述待检测SDI芯片的数据包括其信道数据和合格与否;
所述信道数据和标准值选自如下维度:支持长度、帧率,其中,所述支持长度是指所述SDI芯片连接的电缆的最大长度。
2.根据权利要求1所述的SDI芯片自动检测方法,其特征在于,所述信道数据包括对所述待检测SDI芯片的多路图像输出检测结果,其中,所述多路图像输出检测结果包括各路图像输出的支持长度和帧率。
3.根据权利要求2所述的SDI芯片自动检测方法,其特征在于,所述多路图像输出检测结果为4路图像输出检测结果。
4.根据权利要求2所述的SDI芯片自动检测方法,其特征在于,所述根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格包括:
当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时,确定所述待检测SDI芯片合格;
否则,确定所述待检测SDI芯片不合格。
5.根据权利要求1所述的SDI芯片自动检测方法,其特征在于,还包括:
在显示界面输出所述信道数据和所述待检测SDI芯片的检测结果。
6.根据权利要求1所述的SDI芯片自动检测方法,其特征在于,所述支持长度根据所述待检测SDI芯片的输出信号在示波器上的输出幅度确定。
7.一种SDI芯片自动检测装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取待检测SDI芯片的信道数据,所述信道数据预存于待测芯片库;
比较模块,用于比较所述信道数据与标准值,所述标准值预存于预设标准数据库;
确定模块,用于根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格;
其中,所述待测芯片库包括批量测试的多个待检测SDI芯片的信道数据;
所述标准值是通过对所述多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的,所述检测结果包括合格和不合格,并且,所述标准值还随着待检测SDI芯片的数据的数据量的增加而变化,所述待检测SDI芯片的数据包括其信道数据和合格与否;
所述信道数据和标准值选自如下维度:支持长度、帧率,其中,所述支持长度是指所述SDI芯片连接的电缆的最大长度。
8.根据权利要求7所述的SDI芯片自动检测装置,其特征在于,所述信道数据包括对所述待检测SDI芯片的多路图像输出检测结果,其中,所述多路图像输出检测结果包括各路图像输出的支持长度和帧率。
9.根据权利要求8所述的SDI芯片自动检测装置,其特征在于,所述多路图像输出检测结果为4路图像输出检测结果。
10.根据权利要求8所述的SDI芯片自动检测装置,其特征在于,所述确定模块包括:
第一确定子模块,当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时,确定所述待检测SDI芯片合格;或者
第二确定子模块,当所述多路图像输出检测结果中的任一路检测结果低于所述标准值时,确定所述待检测SDI芯片不合格。
11.根据权利要求7所述的SDI芯片自动检测装置,其特征在于,还包括:
显示模块,用于在显示界面输出所述信道数据和所述待检测SDI芯片的检测结果。
12.根据权利要求7所述的SDI芯片自动检测装置,其特征在于,所述支持长度根据所述待检测SDI芯片的输出信号在示波器上的输出幅度确定。
13.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,其特征在于,所述计算机指令运行时执行权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
14.一种终端,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够在所述处理器上运行的计算机指令,其特征在于,所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1至6任一项所述方法的步骤。
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