CN101672878B - 芯片测试装置及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片测试装置及其测试方法，该芯片测试装置包含指令产生模块、传送/接收模块及控制模块。在指令产生模块产生一第一测试指令后，传送/接收模块将该第一测试指令传送至射频识别标签芯片并自射频识别标签芯片接收一目标测试结果。控制模块用以判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。若控制模块的判断结果为否，控制模块控制指令产生模块产生一第二测试指令以重新测试射频识别标签芯片。本发明其可达到自动化随机重复测试RFID标签芯片的功效，除省去使用者编辑测试指令所花费的时间与精力外，还可以提升RFID标签芯片的测试指令范围的涵盖率。

Description

芯片测试装置及其测试方法

技术领域

本发明涉及一种射频识别技术，尤指一种应用于射频识别标签芯片的测试装置及其测试方法。

背景技术

对于射频识别(Radio Frequency Identification，RFID)标签制造商而言，如何验证其本身所设计出的RFID标签芯片没有错误存在并且符合一种(或多种)RFID协议的定义，是件相当重要的课题。于先前技术中，每次进行RFID标签芯片测试之前，均必须先确认该芯片所支持的RFID协议，才能透过人工方式编辑相对应的测试指令以供该芯片进行测试。

然而，采用此种RFID标签芯片测试方法进行RFID标签芯片的测试，不仅使用者必须花费相当多的时间与精力进行测试指令的编辑，而且只能就数种较常见的测试指令进行测试，除了无法提供多样化的测试项目以提升测试指令范围的涵盖率外，亦不能真正达到自动化随机测试RFID标签芯片的功效。

因此，本发明的主要范畴在于提供一种芯片测试装置及其测试方法，以解决上述问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种应用于射频识别标签芯片的测试装置及其测试方法，其可达到自动化随机重复测试RFID标签芯片的功效，除省去使用者编辑测试指令所花费的时间与精力外，还可以提升RFID标签芯片的测试指令范围的涵盖率。

为了解决以上技术问题，本发明提供了如下技术方案：

根据本发明的一具体实施例，本发明提供了一芯片测试装置。该芯片测试装置用以测试一RFID标签芯片。

该芯片测试装置包含一指令产生模块、一传送/接收模块及一控制模块。该指令产生模块用以产生一第一测试指令。该传送/接收模块耦接至该指令产生模块，并用以于该指令产生模块产生该第一测试指令后，将该第一测试指令传送至该RFID标签芯片并自该RFID标签芯片接收一目标测试结果。该控制模块耦接至该传送/接收模块及该指令产生模块，并用以判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。若该控制模块的判断结果为否，该控制模块控制该指令产生模块产生一第二测试指令以重新测试该RFID标签芯片。

根据本发明的另一具体实施例，本发明又提供了一芯片测试方法。该芯片测试方法用以测试一RFID标签芯片。

首先，该方法产生一第一测试指令。然后，该方法将该第一测试指令传送至该RFID标签芯片并自该RFID标签芯片接收一目标测试结果。接着，该方法判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。若判断结果为否，该方法产生一第二测试指令以重新测试该RFID标签芯片。

相较于先前技术，本发明采用的芯片测试装置及其测试方法可达到自动化随机重复测试RFID标签芯片的功效。在先前技术中，RFID标签芯片所支持的协议种类必须先被确认，才能透过人工方式编辑相对应的测试指令以供该RFID标签芯片测试之用。根据本发明的芯片测试装置除了可省去使用者编辑测试指令所花费的时间与精力外，还能藉由随机重复测试的方式提升RFID标签芯片的测试指令范围的涵盖率。

关于本发明的优点与精神可以藉由以下的发明详述及所附图式得到进一步的了解。

附图说明

图1是绘示根据本发明第一具体实施例的芯片测试装置的功能方块图。

图2绘示芯片测试装置的一范例。

图3是绘示根据本发明第二具体实施例的芯片测试方法的流程图。

【主要组件符号说明】

Si0~S20：流程步骤

1：芯片测试装置                 2：RFID标签芯片测试装置

9：目标芯片                     10、20：指令产生模块

12、22：传送/接收模块           14、24：控制模块

16、26：仿真模块                102：数据库

144：记录单元                   146：分析单元

7：RFID标签芯片                 122：转换单元

具体实施方式

根据本发明第一具体实施例为一芯片测试装置。请参照图1，图1是绘示该芯片测试装置的功能方块图。如图1所示，芯片测试装置1包含指令产生模块10、传送/接收模块12及控制模块14。于本实施例中，芯片测试装置1的功能在于测试一目标芯片9。实际上，目标芯片9可以是一RFID标签芯片或其它芯片。

指令产生模块10的功用在于根据控制模块14的一控制讯号产生一第一测试指令。在实际应用中，指令产生模块10可以随机地产生该第一测试指令。因此，该第一测试指令可以是一随机数或符合某个RFID协议所定义的指令。

传送/接收模块12耦接至指令产生模块10，其功用在于将该第一测试指令传送至目标芯片9并自目标芯片9接收一目标测试结果。在实际应用中，传送/接收模块12可以是一芯片读取器，例如RFID标签芯片读取器。如图1所示，传送/接收模块12可以藉由一天线与目标芯片9间进行包含第一测试指令或目标测试结果讯号的传输。除此之外，传送/接收模块12亦可透过有线的方式耦接至目标芯片9以进行讯号的传输。

此外，由于目标芯片9与芯片测试装置1所支持的讯号格式可能不同，因此，传送/接收模块12可以包含一转换单元122。转换单元122的功用即在于将该第一测试指令传送至目标芯片9之前，先把该第一测试指令的讯号格式转换成符合目标芯片9的目标讯号格式。举例而言，若目标芯片9为RFID标签芯片，转换单元122即会将该第一测试指令的讯号格式转换成RFID讯号格式。

控制模块14耦接至传送/接收模块12及指令产生模块10。控制模块14的功用在于判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。也就是说，控制模块14是用以根据目标测试结果判定目标芯片9是否通过该第一测试指令的测试。若控制模块14的判断结果为否，表示目标芯片9并未通过该第一测试指令的测试，控制模块14将会控制指令产生模块10产生第二测试指令以重新测试目标芯片9。另一方面，若控制模块14的判断结果为是，表示目标芯片9已通过该第一测试指令的测试。此时，控制模块14亦可控制指令产生模块10产生第二测试指令以继续进行目标芯片9的测试。

在实际应用中，该第二测试指令可与该第一测试指令不同并且可以由指令产生模块10随机地产生。至于上述该参考测试结果则可藉由下列各种不同的方式产生。

第一种情形是透过模拟的方式以得到该参考测试结果。若采用此方式，芯片测试装置1可进一步包含一仿真模块16。如图1所示，仿真模块16耦接至指令产生模块10及控制模块14。仿真模块16的功用在于根据该第一测试指令仿真一标准芯片的反应来产生该参考测试结果。

第二种情形则是透过查找的方式以得到该参考测试结果。若采用此方式，指令产生模块10可包含一数据库102。数据库102可以储存有包含该参考测试结果的复数个测试结果，指令产生模块10可以于产生该第一测试指令时，同时至数据库102中由该等测试结果里选取该参考测试结果。实际上，数据库102所储存的该等测试结果可以是先前进行测试时所得到的测试结果或是原本已预设的测试结果。

至于另一种情形则是透过对照的方式以得到该参考测试结果。详细地说，此方式是藉由相对于目标芯片9的一标准的对照芯片以达成。该对照芯片于接收该第一测试指令后，会做出反应并产生一对照测试结果，此一对照测试结果即可被视为该参考测试结果。实际上，若目标芯片9为尚未测试过的RFID标签芯片，则目标芯片9所产生的目标测试结果将不同于该对照芯片所产生的参考测试结果。

如图1所示，在实际应用中，控制模块14包含记录单元144及分析单元146。无论控制模块14的判断结果为是或否，控制模块14的记录单元144均会把此次测试中目标芯片9的一识别码、该第一测试指令、该目标测试结果及该参考测试结果均记录下来以作为一芯片测试历程的信息。至于分析单元146则可根据记录单元144所记录的这些信息针对目标芯片9所支持的RFID协议种类以及符合该RFID协议所定义的测试指令进行统计分析，以作为日后测试时的参考。

接下来，将以一个实际的例子来说明根据本发明的芯片测试装置的实际运作情形。如图2所示，假设该芯片测试装置为用以测试RFID标签芯片7的RFID标签芯片测试装置2。除了可以藉由无线射频讯号进行信息的传递外，RFID标签芯片测试装置2与RFID标签芯片7之间亦可透过有线的方式耦接。

刚开始进行测试时，RFID标签芯片测试装置2的控制模块24将会产生一控制讯号并传送该控制讯号至指令产生模块20以控制指令产生模块20产生一第一测试指令。由于指令产生模块20可以随机地产生该第一测试指令，因此实际上，该第一测试指令可能是符合一个(或以上)RFID协议的合理指令，但亦可能是违反任何RFID协议的不合理指令。

在指令产生模块20产生该第一测试指令后，控制模块24接收及记录该第一测试指令，并且将该第一测试指令传送至仿真模块26。仿真模块26于接到该第一测试指令后，即会仿真RFID标签芯片7对于该第一测试指令可能产生的一反应，并且产生一个参考测试结果。

接着，控制模块24会接收并记录该参考测试结果，而且控制模块24会将包含该第一测试指令的讯号传送至传送/接收模块22。由于RFID标签芯片测试装置2与RFID标签芯片7所采用的讯号格式可能不同，因此，当传送/接收模块22接收到包含该第一测试指令的讯号后，会先将其讯号格式转换成与RFID标签芯片相符的讯号格式，并且透过无线或有线的方式将包含该第一测试指令的讯号传送至RFID标签芯片7。在此范例中，假设传送/接收模块22与RFID标签芯片7是透过有线的方式形成耦接。

当RFID标签芯片7接收到包含该第一测试指令的讯号后，RFID标签芯片7针对该第一测试指令作出反应以产生一目标测试结果。接着，RFID标签芯片7会把包含该目标测试结果的讯号传送回RFID标签芯片测试装置2。当RFID标签芯片测试装置2的传送/接收模块22接收到包含该目标测试结果的讯号后，会先将其讯号格式转换成与RFID标签芯片测试装置2相符的讯号格式，并且将该目标测试结果传送至控制模块24。此时，控制模块24即会判断该目标测试结果是否符合之前所记录的该参考测试结果，并根据两者是否符合来判定RFID标签芯片7是否通过该第一测试指令的测试。

若控制模块24的判断结果为是，也就是说，RFID标签芯片7所响应的该目标测试结果与仿真所得的该参考测试结果相符，控制模块24即据此判定RFID标签芯片7通过该第一测试指令的测试。另一方面，若控制模块24的判断结果为否，也就是说，RFID标签芯片7所响应的该目标测试结果与仿真所得的该参考测试结果并不相符，因此，控制模块24即判定RFID标签芯片7并未通过该第一测试指令的测试。

无论控制模块24的判断结果为是或否，也就是说，不管RFID标签芯片7所响应的该目标测试结果与仿真所得的该参考测试结果是否相符，控制模块24均可继续产生一个新的控制讯号控制指令产生模块20产生一个第二测试指令以重新测试RFID标签芯片7。实际上，该第二测试指令可以不同于该第一测试指令。

由上述实例可知，根据本发明的芯片测试装置不仅可藉由持续不断地重复进行测试以达到自动化随机测试RFID标签芯片的功效，同时亦能提供范围更广泛的芯片测试指令项目以提升RFID标签芯片测试的涵盖率。

根据本发明的第二具体实施例为一芯片测试方法。该芯片测试方法用以测试一目标芯片(例如RFID标签芯片)。请参照图3，图3是绘示该芯片测试方法的流程图。如图3所示，该方法首先执行步骤S10，产生一第一测试指令。在实际应用中，由于第一测试指令与目标芯片所支持的讯号格式可能不同，故该方法可以执行步骤S11，将该第一测试指令的讯号格式转换成符合该目标芯片的目标讯号格式。

接着，该方法执行步骤S12，将该第一测试指令传送至该目标芯片。该目标芯片在接收到该第一测试指令后，将会响应于该第一测试指令并产生一目标测试结果。然后，该方法执行步骤S14，自该目标芯片接收该目标测试结果。

另一方面，在执行完步骤S10以产生该第一测试指令后，该方法可执行步骤S15，根据该第一测试指令仿真一标准芯片的反应以产生该参考测试结果。标准芯片为与该目标芯片同种类、同规格的芯片，也就是说，若该目标芯片为一合格的芯片，则目标芯片所产生的目标测试结果将会与模拟出来的参考测试结果相同，亦即目标芯片可以通过测试。

由于该目标芯片所响应的该目标测试结果与仿真所得的该参考测试结果均已经产生，此时，该方法即可执行步骤S16，判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果。该方法执行步骤S16的目的在于判定该目标芯片是否通过该第一测试指令的测试。

若步骤S16的判断结果为是，表示该目标芯片所响应的该目标测试结果与仿真所得的该参考测试结果相符，故该方法执行步骤S20，判定该目标芯片通过该第一测试指令的测试。若步骤S16的判断结果为否，则该方法执行步骤S18，判定该目标芯片未通过该第一测试指令的测试。不论目标芯片是否通过该第一测试指令的测试，该方法可于步骤S18或S20之后，产生一第二测试指令以重新测试该目标芯片。实际上，该第二测试指令可以不同于该第一测试指令。

相较于先前技术，根据本发明的芯片测试装置及其测试方法可达到自动化随机重复测试RFID标签芯片的功效。在先前技术中，RFID标签芯片所支持的协议种类必须先被确认，才能透过人工方式编辑相对应的测试指令以供该芯片测试之用。根据本发明的芯片测试装置除了可省去使用者编辑测试指令所花费的时间与精力外，还能藉由随机重复测试的方式提升RFID标签芯片的测试指令范围的涵盖率。

藉由以上较佳具体实施例的详述，是希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭露的较佳具体实施例来对本发明的范畴加以限制。相反地，其目的是希望能将各种改变及具相等性的安排涵盖于本发明的权利要求范畴内。因此，本发明的权利要求范畴应该根据上述的说明作最宽广的解释，以致使其涵盖所有可能的改变以及具相等性的安排。

Claims (15)

1.一种芯片测试装置，用以测试一射频识别卷标(RFID tag)芯片，其特征在于，它包含：

一指令产生模块，用以产生一第一测试指令；

一传送/接收模块，耦接至该指令产生模块，用以将该第一测试指令传送至该射频识别卷标芯片并自该射频识别卷标芯片接收一目标测试结果；以及

一控制模块，耦接至该传送/接收模块及该指令产生模块，用以判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果，并控制该指令产生模块产生一第二测试指令以测试该射频识别卷标芯片。

2.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，其中该第二测试指令不同于该第一测试指令。

3.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，其中该射频识别卷标芯片是以有线的方式耦接至该传送/接收模块以接收该第一测试指令或传送该目标测试结果。

4.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，其中该传送/接收模块包含：

一转换单元，用以将该第一测试指令的一讯号格式转换成符合该射频识别卷标芯片的目标讯号格式。

5.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，它进一步包含：

一仿真模块，耦接至该指令产生模块及该控制模块，用以根据该第一测试指令仿真产生该参考测试结果。

6.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，它进一步包含：

一对照芯片，用以接收该第一测试指令以产生该参考测试结果。

7.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，其中该指令产生模块包含：

一数据库，储存有复数个测试结果，该指令产生模块于产生该第一测试指令时同时至该数据库中选取相对应的该参考测试结果。

8.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，其中该指令产生模块随机地产生该第一测试指令及该第二测试指令。

9.一种芯片测试方法，用以测试一射频识别卷标芯片，其特征在于，它含下列步骤：

(a)随机产生一第一测试指令；

(b)将该第一测试指令传送至该射频识别卷标芯片；

(c)自该射频识别卷标芯片接收一目标测试结果；

(d)判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果；以及

(e)随机产生一第二测试指令以测试该射频识别卷标芯片。

10.如权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，其中该第二测试指令不同于该第一测试指令。

11.如权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述步骤(a)和所述步骤(b)之间进一步包含下列步骤：

将该第一测试指令的一讯号格式转换成符合该射频识别卷标芯片的目标讯号格式。

12.如权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述步骤(a)和所述步骤(d)之间进一步包含下列步骤：

根据该第一测试指令仿真产生该参考测试结果。

13.如权利要求12所述的芯片测试方法，其特征在于，它进一步包含下列步骤：

将该第一测试指令传送至一对照芯片，并根据该对照芯片的一反应来产生该参考测试结果。

14.如权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，其中该步骤(a)进一步包含：

至一数据库中选取对应该第一测试指令的该参考测试结果。

15.如权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，其中该第一测试指令及该第二测试指令随机产生。

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