CN101458301A - 自动测试设备实现匹配测试的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种自动测试设备实现匹配测试的方法，所述方法包括下列步骤：第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出；第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件；第3步，分析输出文件，当至少有一个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。本发明可以使不具有或仅具有简单匹配测试功能的自动测试设备实现匹配测试功能，从而满足某些特殊芯片的测试要求，扩展自动测试设备的应用范围。

Description

自动测试设备实现匹配测试的方法
技术领域
本发明涉及一种自动测试设备的测试方法，特别是涉及一种自动测试设备对于时钟异步电路的测试方法。
背景技术
数字电路通过测试向量(test vector)进行测试，测试向量由一个输入和对应该输入的期待输出组成。针对一个测试向量，将其中的输入作为待测电路的输入，如果实际输出与期待输出一致，表示测试通过；否则表示测试失败。通常，待测电路的输入或输出都可以用1位或n位的二进制数表示。在最坏的情况下，一个n输入的组合电路需要2n个测试向量，以穷举所有可能出现的输入。
对于某些特殊的数字电路，例如时钟异步电路，其对于同一个输入可能有多种不同输出，因此只要在允许的次数内出现至少一次期待输出即可。针对这些特殊的数字电路需要采用匹配测试，请参阅图1。所谓匹配测试就是对同一个测试向量进行多次重复测试，重复测试的次数为该待测电路允许该输入的匹配次数，其中只要有一次实际输出与期待输出一致即表示匹配测试通过；否则表示匹配测试失败。
现有的自动测试设备(ATE，Automated Testing Equipment)中，有些根本没有匹配测试功能，有些仅具有简单的匹配测试功能，例如限制同一输入的匹配测试次数等，这对芯片的测试造成了很大的制约。如果采用具有完备匹配测试功能的自动测试设备，则需要高昂的购买及维护费用，操作也较为复杂、繁琐。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种自动测试设备实现匹配测试的方法。
为解决上述技术问题，本发明自动测试设备实现匹配测试的方法包括下列步骤：
第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出；
第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件；
第3步，分析输出文件，当至少有一个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。
本发明可以使不具有或仅具有简单匹配测试功能的自动测试设备实现匹配测试功能，从而满足某些特殊芯片的测试要求，扩展自动测试设备的应用范围。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细的说明：
图1是现有的自动测试设备实现匹配测试的方法的流程图；
图2是本发明自动测试设备实现匹配测试的方法的流程图；
图3是本发明自动测试设备实现匹配测试的方法的示意图。
具体实施方式
请参阅图2，本发明自动测试设备实现匹配测试的方法包括下列步骤：
第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出。传统的匹配测试是对一个向量段进行多次重复测试，本发明的这一步构建的测试向量是将一个向量段多次重复形成的。
第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件。传统的匹配测试需要得到自动测试设备的支持，对于不支持匹配测试的自动测试设备，运行本发明第1步形成的测试向量实质上相当于多次重复运行其中的向量段。
第3步，分析输出文件，当一个或多个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。传统的匹配测试中只要有一次通过即表示匹配测试成功，本发明的测试向量中只要有一个向量段通过即表示匹配测试成功。
下面兹以一具体实施例对本发明所述方法进行详细的说明。
请参阅图3，需要对某时钟异步电路进行匹配测试，测试的向量段为
Figure A200710094440D00061
其中
Figure A200710094440D00062
为该电路的一个输入，
Figure A200710094440D00063
为该电路对输入
Figure A200710094440D00064
的期待输出。如果该电路是一个m输入n输出的电路结构，那么就是一个m位的二进制数，
Figure A200710094440D00066
就是一个n位的二进制数。该电路允许对向量段进行匹配的次数为3次，可是自动测试设备不支持匹配测试，按照下列步骤即可由该自动测试设备实现匹配测试：
第1步，形成测试向量
Figure A200710094440D00071
测试向量
Figure A200710094440D00072
是按照匹配次数3次重复向量段
Figure A200710094440D00073
得到的。测试向量
Figure A200710094440D00074
存储在自动测试设备中，并且每个向量段
Figure A200710094440D00075
存储在不同的存储地址。
第2步，由自动测试设备运行测试向量
Figure A200710094440D00076
在运行过程中将每个向量段的实际输出
Figure A200710094440D00078
和期待输出
Figure A200710094440D00079
的比较结果
Figure A200710094440D000710
实时传输到指定的存储器。在运行结束后再将该比较结果
Figure A200710094440D000711
输出为文件。
输出文件
Figure A200710094440D000712
可以包括每个向量段的实际输出与期待输出一致和不一致的部分，或者仅包括每个向量段的实际输出与期待输出一致的部分，或者仅包括每个向量段的实际输出与期待输出不一致的部分。例如，
Figure A200710094440D000713
和
Figure A200710094440D000714
都是n位二进制数，其中
Figure A200710094440D000715
和仅有1位不同，
Figure A200710094440D000717
和
Figure A200710094440D000718
仅有3位不同，
Figure A200710094440D000719
和
Figure A200710094440D000720
各位均相同。那么输出文件
Figure A200710094440D000721
可以包括和
Figure A200710094440D000723
Figure A200710094440D000724
和
Figure A200710094440D000725
和
Figure A200710094440D000726
的全部比较结果；或者仅包括和
Figure A200710094440D000728
和
Figure A200710094440D000729
和
Figure A200710094440D000730
的不一致的结果即
Figure A200710094440D000731
和
Figure A200710094440D000732
不相同的1位、
Figure A200710094440D000733
和
Figure A200710094440D000734
不相同的3位；或者仅包括
Figure A200710094440D000735
和
Figure A200710094440D0007152955QIETU
、
Figure A200710094440D000736
和
Figure A200710094440D000737
和
Figure A200710094440D000738
的一致的结果即
Figure A200710094440D000739
和相同的n-1位、
Figure A200710094440D000741
和相同的n-3位、
Figure A200710094440D000743
和
Figure A200710094440D000744
相同的n位。
输出文件
Figure A200710094440D000745
还包括一个或多个向量段的存储地址，并将每个向量段的实际输出与期待输出的比较结果指向该向量段的存储地址。例如，输出文件
Figure A200710094440D000746
还包括每个向量段的存储地址，并且将和的比较结果指向第一个向量段
Figure A200710094440D000750
的存储地址，将
Figure A200710094440D000751
和
Figure A200710094440D000752
的比较结果指向第二个向量段的存储地址，将和
Figure A200710094440D000755
的比较结果指向第二个向量段
Figure A200710094440D000756
的存储地址。
第3步，分析输出文件发现只有第三个向量段
Figure A200710094440D00082
的实际输出
Figure A200710094440D00083
和期待输出相同，那么匹配测试成功。
由此，本发明可以使不支持匹配测试的自动测试设备实现匹配测试功能，从而扩展了这些设备的应用范围，避免了购置新设备的花费。

Claims (6)

1.一种自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是：所述方法包括下列步骤：
第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出；
第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件；
第3步，分析输出文件，当至少有一个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。
2.根据权利要求1所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是：所述测试向量包括向量段的数目等于待测电路允许该向量段进行匹配的次数。
3.根据权利要求1所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是：该方法的第2步中，所述自动测试设备先将所述比较结果实时传输到指定的存储器，待测试向量运行完毕后再将所述比较结果输出为文件。
4.根据权利要求1所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是：所述输出文件仅包括每个向量段的实际输出与期待输出一致的部分，或者仅包括每个向量段的实际输出与期待输出不一致的部分。
5.根据权利要求1所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是：该方法的第2步中，所述测试向量存储在自动测试设备中，并且每个向量段存储在不同的存储地址。
6.根据权利要求5所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是：该方法的第2步中，所述输出文件还包括一个或多个向量段的存储地址，并将每个向量段的实际输出与期待输出的比较结果指向该向量段的存储地址。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105138440A (zh) * 2015-09-24 2015-12-09 北京工业大学 一种自带对比功能的标准单元库功能测试方法
CN106324483A (zh) * 2016-08-30 2017-01-11 歌尔科技有限公司 一种复位电路检测系统和检测方法
CN106405373A (zh) * 2016-08-29 2017-02-15 北京自动测试技术研究所 一种主动式测试向量匹配方法
CN106771982A (zh) * 2017-01-20 2017-05-31 珠海全志科技股份有限公司 芯片自动测试方法及系统
CN108008284A (zh) * 2017-11-28 2018-05-08 上海华力微电子有限公司 一种芯片测试系统
CN112255531A (zh) * 2020-12-23 2021-01-22 上海伟测半导体科技股份有限公司 一种测试机匹配系统及其匹配方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5650938A (en) * 1995-12-13 1997-07-22 Synopsys, Inc. Method and apparatus for verifying asynchronous circuits using static timing analysis and dynamic functional simulation
US5822226A (en) * 1996-04-02 1998-10-13 Lsi Logic Corporation Hardware system verification environment tool
CN100368818C (zh) * 2003-12-10 2008-02-13 上海华虹Nec电子有限公司 一种芯片内建电可擦除存储器的测试模块及其测试方法
CN1330972C (zh) * 2004-02-26 2007-08-08 中国科学院计算技术研究所 一种快速的集成电路测试流程优化方法
CN100516913C (zh) * 2005-10-31 2009-07-22 中兴通讯股份有限公司 一种数字测试向量处理方法
CN101038325B (zh) * 2007-02-14 2010-11-10 北京中星微电子有限公司 一种测试芯片的方法及装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105138440A (zh) * 2015-09-24 2015-12-09 北京工业大学 一种自带对比功能的标准单元库功能测试方法
CN105138440B (zh) * 2015-09-24 2017-09-12 北京工业大学 一种自带对比功能的标准单元库功能测试方法
CN106405373A (zh) * 2016-08-29 2017-02-15 北京自动测试技术研究所 一种主动式测试向量匹配方法
CN106405373B (zh) * 2016-08-29 2019-06-21 北京自动测试技术研究所 一种主动式测试向量匹配方法
CN106324483A (zh) * 2016-08-30 2017-01-11 歌尔科技有限公司 一种复位电路检测系统和检测方法
CN106324483B (zh) * 2016-08-30 2019-07-30 歌尔科技有限公司 一种复位电路检测系统和检测方法
CN106771982A (zh) * 2017-01-20 2017-05-31 珠海全志科技股份有限公司 芯片自动测试方法及系统
CN106771982B (zh) * 2017-01-20 2019-12-10 珠海全志科技股份有限公司 芯片自动测试方法及系统
CN108008284A (zh) * 2017-11-28 2018-05-08 上海华力微电子有限公司 一种芯片测试系统
CN112255531A (zh) * 2020-12-23 2021-01-22 上海伟测半导体科技股份有限公司 一种测试机匹配系统及其匹配方法

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