CN101330294A - 键控制电路、电子设备、便携式装置及键控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及键控制电路、电子设备、便携式装置及键控制方法,提供了具有多个键的键矩阵电路的键控制,以降低键搜索中由非预期键按压导致的能量消耗。在以矩阵排列具有多个行和列的键(键开关)的键矩阵电路上的键控制中,通过由键选择装置(打开/闭合检测电路、打开/闭合检测单元、键选择开关、键选择单元)执行的键选择,以任一条线使键矩阵电路上的行线或列线上的键无效或有效。在键选择之后,响应于包括在有效键中的键的按压检测事件,控制装置(控制单元)将键按压检测保持为等待状态达预定时间,并在预定时间经过之后恢复键按压检测。
Description
相关申请的交叉参考
本申请以2007年6月19日提交的日本在先专利申请No.2007-161580为基础,并要求该在先申请的优先权,该在先申请的全部内容通过引用合并于此。
技术领域
本发明主要涉及具有键矩阵电路(key matrix circuit)的电子设备、便携式装置等中的键控制,更具体地涉及能够抑制由非预期的键按压导致的电流消耗的键控制电路、电子设备、便携式装置及键控制方法。
背景技术
便携式终端装置是这样一种形式的电子设备,其具有多个键和内置的、用于检测任一键的按压的键矩阵电路。这种便携式终端装置已发展到第三代便携式装置,其功能得到扩展并具有更小、更薄的壳体。将便携式终端装置放入包或衣服的口袋中就可将其随身携带,且在随身携带时其可能处于压力负载的状态下。除了便携式终端装置被携带时产生的自然负载之外,便携式终端装置还可能受到由用户所贴的“防脱落片”或“键上表面封皮”所产生的额外的压力负载。由于便携式终端装置除了在呼叫功能和信息处理功能上取得改进之外在时尚方面也取得了改进,所以这种额外压力负载的趋势被认为变得更强和更广泛。
日本专利申请特开公布No.2006-4052公开了一种键矩阵电路装置,其涉及使用在例如便携式装置的电子设备中的键矩阵电路。该键矩阵电路装置包括具有矩阵布线的键矩阵电路单元,其中所述矩阵布线由具有键开关的m×n条(m,n≥3)线组成,且所述键开关均位于线之间的交叉点处;并且,该键矩阵电路装置通过CPU的I/O端口的状态变化检测键的状态,以识别由任意指定的一个或两个输入事件导致的三个或更多个键的同时按压(参见摘要和图1等)。
日本专利申请特开公布No.H09-64803公开了一种蜂窝电话,其涉及防止键盘等上的键误操作。该蜂窝电话具有键误操作防止功能,该键误操作防止功能以如下方式工作,即当键盘上的键被按压时,键按压检测单元检测该键的按压,并且在误操作防止键处于打开时,误操作防止检测单元将误操作防止信号发送至控制单元,以促使控制单元使键盘上该键的按压无效。因此,如果键在误操作防止键处于工作状态下被按压,该蜂窝电话将开启发光二极管(参见摘要和图1等)。
日本专利申请特开公布No.2004-128814公开了,在具有携带键的操作单元的可折叠便携式装置中,防止操作单元与显示单元之间接触的方法。在该便携式装置中,在壳体位于显示单元侧的壳体接触面上形成凹部,该凹部比操作单元的凸操作装置的高度更深,以防止操作单元与显示单元之间的接触(参见摘要和图1等)。
一些便携式装置可在形状上发生变化。这些便携式装置包括如下变化,一种变化是从闭合状态(折叠状态)变为打开状态以及与之相反,一种变化是允许操作单元滑出,以及一种变化是在闭合时允许壳体部分旋转和暴露。当可打开/可闭合便携式装置在其壳体变得更薄,以及所谓的无间隙努力(effort)向降低固定侧壳体单元与可移动侧壳体单元之间的空隙发展时,该可打开/可闭合便携式装置存在以下问题。该问题就是异物(foreign matter)可能进入到固定侧壳体与可移动侧壳体之间,从而导致非预期的键按压。发生键按压会引起键按压检测,从而消耗不必要的电流。这种电流消耗加速了电池的耗竭。
将参考图1描述具有这种键矩阵电路的常规便携式装置。图1描绘了具有键矩阵电路的常规便携式装置。这种便携式装置400包括键矩阵电路402、控制单元404和打开/闭合检测电路406。为了检测键按压,键矩阵电路402具有硬件配置,以及将对包括在控制单元404中的CPU的输入集中在单个中断线(interruption line)中。该CPU搜索中断因素,即被按压的键。
键矩阵电路402具有多个键开关K11、K12…K66,这些键开关排列成由六行和六列组成的矩阵。设有键矩阵电路402的便携式装置400可被打开和闭合,所以在便携式装置400闭合(闭合状态)时不使用的键作为内部键,而不论壳体单元的状态如何均能被使用的键(例如侧部键)作为外部键。例如,外部键是暴露在闭合壳体之外的键,并且希望即使在便携式装置400处于闭合状态时外部键仍能使用。在这种情况下,在键矩阵电路402中,将选自键开关K11、K12…K66的键开关K14a、K24a、K33a、K43a、K53a和K64a确定为外部键,而将除了外部键之外的其它键开关K11、K12……K66确定为内部键。在键开关K33a、K43a和K53a的线上,设置有用作内部键的键开关K13b、K23b和K63b。在键开关K14a、K24a和K64a的线上,设置有用作内部键的键开关K34b、K44b和K54b。这说明,当便携式装置400处于闭合状态以掩蔽(mask)内部键时,由于必须允许外部键的按压检测,所以在承载外部键的线上的键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b不会被掩蔽。
控制单元404执行键矩阵电路402上的键按压,并且也执行被按压键的检测。控制单元404通过公共矩阵集中中断线(common matrix concentrativeinterruption line)408检测键矩阵电路402上的键按压,从而搜索作为中断因素(即被按压的键)的键按压位置,并通过键检测控制线410将键检测控制信号发送给键矩阵电路402的列线,然后通过键检测线412从键矩阵电路402的行线侧接收表示被按压键的键检测信号。
由于便携式装置400能够被打开和闭合,打开/闭合检测电路406检测壳体的打开和闭合,以及控制单元404从打开/闭合检测电路406接收打开/闭合检测信号,以执行键矩阵电路402上的掩蔽控制。
将参考图2描述具有这种键矩阵电路402的便携式装置400的操作。图2是键控制过程的流程图。
在该过程中,当打开/闭合检测电路406检测闭合状态时,执行用作内部键的键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中任一个的按压(键中断(key interruption))检测(步骤S1)。如果键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中任一个被按压时(步骤S1为是),则忽略键中断(步骤S2),并执行键释放检测(轮询(polling)),直到被按压的键被释放(步骤S3)。
将参考图3描述由控制单元404执行的控制。图3是键控制的时序图。
在图3中,A代表来自打开/闭合检测电路406的检测输出,通过将打开状态表示为“打开(opened)”以及将闭合状态表示为“闭合(closed)”来表示便携式装置400的打开/闭合状态。在便携式装置400处于闭合状态的情况下,如B所示,当处于释放状态的键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中的任一个被按压时,如C所示,响应于键按压事件发生键按压中断,其中该键按压事件使控制单元404的CPU(中央处理单元)的操作状态从等待状态变为唤醒状态。结果,如D所示,键检测从闭合状态下的中断状态改变为轮询状态,保持该轮询状态直到被按压的键被释放。当取消轮询状态时,CPU变为等待状态,此时键检测变为中断状态。
一旦内部键被按压,开始轮询以检测被按压的内部键的释放,并且一直继续轮询直到被按压的键被释放。由于CPU维持唤醒状态以保持轮询,所以在CPU端消耗电流。如果在这种情况下按压外部键,正在进行的轮询能够检测外部键的按压。当通过轮询检测到内部键的释放时,键检测随着CPU返回至等待状态而返回至中断键检测。
在这种情况下,即使便携式装置400是闭合的,也必须检测到外部键的按压,从而使得,当键矩阵电路402中同时存在内部键和外部键时,不能掩蔽所有的键按压事件。
因此,根据便携式装置400,当被假定为在闭合状态下不被使用的内部键由于任何原因被按压时,在轮询过程中一直进行着该内部键的按压检测,从而消耗了电流。为了抑制CPU端在这种情况下的不必要的电流消耗,例如可将内部键和外部键设置成分离的键矩阵电路。这种方法允许仅掩蔽内部键,但是其使得电路结构复杂化并且使得键搜索(searching)功能的负担加倍。所以这种方法是不可取的。
因此,在不增大键矩阵电路的尺寸的情况下,为了有效地使用单个键矩阵电路上的键,有必要将外部键(其即使在闭合状态下也允许按压检测)和内部键(其在闭合状态下无需按压检测)设置在一起。在这种配置下,当全部内部键中的大部分被掩蔽时,允许按压检测的内部键以与允许按压检测的外部键相同的方式存在。因此,当允许按压检测的内部键中的任一个被按压时,如上所述地执行按压检测,这导致了不必要的能量消耗。
关于这些问题,日本专利申请特开公布No.2006-4052、No.H09-64803和No.2004-128814没有任何公开或暗示,并且也没有公开关于这些问题的任何解决方案。
发明内容
本发明的一个目的涉及具有多个键的键矩阵电路上的键控制,并旨在降低在键搜索中由非预期的键按压导致的能量消耗。
本发明的另一目的涉及具有多个键的键矩阵电路上的键控制,并旨在通过键操作模式的选择来改善变化功能。
本发明的又一个目的涉及可打开/可闭合的便携式装置,并旨在提供一种便携式装置,该便携式装置能够抑制在其处于闭合状态时由用户的非预期键按压导致的不必要的电流消耗,并能够耐受恶劣的服务条件。
为了实现上述目的,本发明涉及以矩阵排列的形式具有多个行和列的键的键矩阵电路上的键控制,并包括结构、方法和步骤;根据本发明,键选择装置通过任一条线执行键选择,以使键矩阵电路上的行线或列线中的键无效或有效;以及在键选择之后,响应于包括在有效键中的键的按压检测事件,控制装置将键按压检测保持为等待状态达预定时间,并在经过预定时间之后恢复键按压检测。由键选择装置确定的“有效键(enabled key)”是指例如在壳体进入闭合状态时需要键检测的外部键,并且包括键矩阵电路上与外部键位于相同线上由此成为有效键的内部键。由键选择装置确定的“无效键(disabled key)”是指例如在壳体进入闭合状态时不需要键检测的内部键,并且不包括键矩阵电路上与外部键位于相同线上的内部键。本发明不局限于,在假设壳体为可打开和可闭合时,对外部键或内部键执行的键控制。
根据这种结构,能够在键选择之后降低由排除在多个有效键的目标键检测之外的键的非预期按压检测导致的能量消耗,并且包括在有效键中的特定键的按压检测在处理上与键选择之前所执行的相同键的检测不同。这降低了键搜索中的搜索时间密度,从而降低了能量消耗。此外,从具有多个键的键矩阵电路中进行键选择的附加使用提供了如下优点,即改善了用于键操作和键按压的变化功能。
因此,为了实现上述目的,本发明的第一方案提供了一种键控制电路,用于控制其中以多个行和列的形式排列有多个键的键矩阵电路。该键控制电路包括:键选择装置,其通过以所述键矩阵电路上的所述行或所述列的线为单位,使所述键有效或无效;以及控制装置,当由所述键选择装置执行键选择时,所述控制装置检测有效键的按压,从所述有效键的按压的时间点起将键按压检测保持为等待状态达预定时间,以及在经过所述预定时间之后恢复所述键按压检测。
根据上述结构,响应于由键选择装置进行的键选择事件,键按压检测从有效键的按压时间点开始进入等待状态达预定时间,并在经过预定时间之后恢复特定键的按压检测。这增大了在键选择之后由非预期的键按压等导致的键检测的时间间隔,从而降低了能量消耗。如上所述,从具有多个键的键矩阵电路中进行键选择的附加使用提供了如下优点,即改善了用于键操作和键按压的变化功能。
为了实现上述目的,优选地,在该键控制电路中,在不由所述键选择装置执行所述键选择时,所述控制装置可响应于所述键矩阵电路上的键的按压事件来检测被按压的键;以及在由所述键选择装置执行所述键选择时,所述控制装置可响应于所述有效键的按压事件来检测被按压的键。
根据上述结构,当不执行键选择时,响应于键矩阵电路上的键按压事件来执行被按压键的检测。当执行键选择时,响应于有效键的按压事件来执行被按压键的检测。这根本不妨碍正常的键检测,所以与用于键检测的时间间隔一致,能够降低键搜索的能量消耗。
为了实现上述目的,优选地,该键控制电路包括时间计数装置,所述时间计数装置响应于所述有效键的按压事件开始时间计数,并且在从所述时间计数的开始起经过了所述预定时间时,输出用于表示预定时间经过的时间计数信号。
如果提供了这种时间计数装置,在时间计数开始时停止由控制装置执行的键检测操作,并且在经过预定时间之后基于表示预定时间经过的时间计数信号恢复由控制装置执行的检测操作。由控制装置进行的检测操作的停止,持续由时间计数装置设定的预定时间,从而降低了能量消耗。
为了实现上述目的,本发明的第二方案提供了一种具有上述键控制电路的电子设备。根据这种结构,通过例如个人计算机的各种电子设备实现键控制电路的操作和功能,从而实现了上述目的。
为了实现上述目的,本发明的第三方案提供了一种具有上述键控制电路的便携式装置。根据这种结构,通过例如蜂窝电话和便携式终端单元的便携式装置实现键控制电路的操作和功能,从而实现了上述目的。
为了实现上述目的,本发明的第四方案提供了一种配备有具有接收器和显示单元的第一壳体和具有发射器和键操作单元的第二壳体的便携式装置,所述第一壳体和所述第二壳体通过连接单元可折叠,以及所述第二壳体配备有在折叠状态下存在于内部的内部操作键和在折叠状态下存在于外部的外部操作键。该便携式装置包括:折叠检测装置,其检测所述第一壳体和所述第二壳体是否折叠;第一键检测单元,当所述内部操作键或所述外部操作键被按压时,所述第一键检测单元检测哪个键被按压;以及第二键检测单元,当通过所述折叠检测装置检测到所述第一壳体和所述第二壳体的折叠以及检测到所述内部操作键的按压时,所述第二键检测单元以预定间隔检测所述外部操作键的按压。
根据上述结构,在处于闭合状态的例如蜂窝电话的便携式装置中执行节能的键控制。例如,当由于异物进入到键排列面和与之相对的壳体之间的空隙中引起、而非由用户引起的键按压状态持续长的时间时,通过节能的键控制抑制了由这种键按压导致的非必要的电流消耗。
为了在该便携式装置中实现上述目的,优选地,如果通过所述折叠检测装置检测到所述第一壳体和所述第二壳体的折叠并且检测到所述外部操作键的按压,所述第二键检测单元可以以预定间隔检测所述外部操作键的按压。
在上述结构中,在处于闭合状态的例如蜂窝电话的便携式装置中执行节能的键控制。例如,当由于异物进入到键排列面和与之相对的壳体之间的空隙中引起、而非由用户引起的键按压状态持续长的时间时,通过节能的键控制抑制了由这种键按压导致的非必要的电流消耗。
为了实现上述目的,优选地,在该便携式装置中,所述第一壳体和/或所述第二壳体可配备有检测装置,用于检测所述第一壳体和所述第二壳体是否折叠。
根据上述结构,在具有折叠功能的便携式装置中,从检测装置获取用于表示闭合状态的控制信号。
为了实现上述目的,本发明的第五方案提供了一种用于控制其中以多个行和列的形式排列有多个键的键矩阵电路的键控制方法,该方法包括如下步骤:通过以所述键矩阵电路上的所述行或所述列的线为单位使所述键无效或有效,来选择所述键;并且,当不执行所述键选择时,以预定时间间隔检测被按压的键;以及当执行所述键选择时,在从有效键的按压开始到经过预定时间为止的时间段内停止键按压检测,并在所述预定时间经过之后恢复所述键按压检测。
根据上述控制方法,响应于键选择事件,在有效键的按压和经过预定时间之间的时间段内停止键按压检测,而在预定时间经过之后恢复键按压检测。这在键选择之后增大了由于非预期的键按压等引起的键检测的时间间隔,从而降低了能量消耗。此外,从具有多个键的键矩阵电路中进行键选择的附加使用提供了如下优点,即改善了用于键操作和键按压的变化功能。
为了实现上述目的,优选地,该键控制方法可包括如下步骤:当不执行所述键选择时,响应于所述键矩阵电路上的键的按压事件检测被按压的键;以及在执行所述键选择时,响应于所述有效键的按压事件检测被按压的键。
根据上述结构,当不执行键选择时,响应于键矩阵电路上的键按压事件执行被按压键的检测。当执行键选择时,响应于除特定键之外的任一有效键的按压事件执行被按压键的检测。这根本不妨碍正常的键检测,而仅扩大了用于键检测的时间间隔,所以能够降低键搜索的能量消耗。
为了实现上述目的,优选地,该键控制方法可包括如下步骤:响应于所述有效键的按压事件开始时间计数;以及,当从所述时间计数的开始经过了所述预定时间时,输出用于表示预定时间经过的时间计数信号。
根据上述结构,通过由时间计数装置设置的预定时间间隔,降低了能量消耗。
列出本发明的特征和优点如下:
(1)通过用于确定有效或无效的键选择装置进行的键选择,确定键矩阵电路上的键有效或无效;然后,响应于有效键的按压事件,以预定时间间隔执行键检测。这与时间间隔相一致地降低了电流消耗,从而实现了节能操作。
(2)在键矩阵电路上的键中确定键按压的有效和无效。这使得能够通过有效和无效确定的键选择和键按压,从而改善了键操作的变化。
(3)在键矩阵电路上的键中确定无效键,以及设置用于键检测的时间间隔以执行有效键的键检测。这降低了由非预期的键按压导致的能量消耗。
(4)在具有折叠功能等的便携式装置中,抑制了由非预期的键按压导致的非必要的电流消耗。
(5)在装配有电池的设备中,抑制了非必要的电流消耗,从而制止了由于电池的非必要电流消耗导致的额外能量消耗,这延长了电池的服务时间。
通过阅读附图和实施例,将更清楚地了解本发明的其它目的、特征和优点。
附图说明
图1示出具有键矩阵电路的便携式装置;
图2是便携式装置的控制操作的流程图;
图3是便携式装置的键搜索操作的时序图;
图4示出本发明第一实施例的便携式装置;
图5示出键矩阵电路的结构实例;
图6示出键检测控制单元的结构实例;
图7示出键检测单元的结构实例;
图8示出处于打开状态的可折叠便携式装置;
图9示出处于闭合状态的可折叠便携式装置;
图10是处于闭合状态的便携式装置的控制操作实例的流程图;
图11是处于打开状态的便携式装置的控制操作实例的流程图;
图12是键检测控制的流程图;
图13是便携式装置的控制操作实例的时序图;
图14是便携式装置的控制操作实例的时序图;
图15示出键矩阵电路的键组的结构的另一实例;
图16示出本发明第二实施例的键控制电路;
图17示出本发明另一实施例的便携式装置;
图18示出本发明再一实施例的便携式装置;
图19示出本发明又一实施例的便携式装置;
图20示出本发明又一实施例的PDA;以及
图21示出本发明又一实施例的数码相机。
具体实施方式
第一实施例
将参考图4、图5、图6和图7描述本发明的第一实施例。图4示出第一实施例的便携式装置的结构实例。图5示出键矩阵电路的放大视图,图6示出键检测控制电路的结构实例,以及图7示出键检测单元的结构实例。
便携式装置2是本发明键控制电路、电子设备、便携式装置及键控制方法的具体实施例,并被配备为例如装配有计算机以提供通信功能和信息处理功能的蜂窝电话形式。便携式装置2包括键矩阵电路4、打开/闭合检测电路6和控制单元8。
键矩阵电路4是一种开关电路,该开关电路由以矩阵排列形式的多行和多列键构成并识别被按压的键。在该实施例中,键矩阵电路4具有多个键开关K11、K12…K66(参见图5),这些键开关排列成六行和六列。在该实施例中,多个键开关K11、K12…K66被分成由第一、第二、第三键组41、42和43组成的多个键组。
例如,键组41和42是由“内部键”组成的组,所述内部键为在便携式装置2处于闭合状态时预期不被使用的内部操作键。“内部键”是在便携式装置2处于闭合状态(图9)时被掩蔽的键,即在闭合状态时其按压是无效的键。“掩蔽(masking)”是指这样一种状态,即在该状态下,当键被按压时,该键按压被忽略并因此不被检测。这种状态由控制单元8电实现。如图5所示,键组41包括键开关K11、K21…K61和K12、K22…K62,而键组42包括键开关K15、K25…K65和K16、K26…K66。
例如,键组43包括“外部键”和部分上述“内部键”,所述外部键为无论在闭合状态还是打开状态均预期被使用的外部操作键,例如在闭合状态下暴露在便携式装置2的壳体外部的侧键(side key),包括部分内部键是为了改善键矩阵电路4的使用。如图5所示,键组43包括键开关K13b、K23b、K33a、K43a、K53a和K63b,以及K14a、K24a、K34b、K44b、K54b和K64b。键开关K14a、K24a、K33a、K43a、K53a和K64a是外部键;键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b是内部键,但这些内部键起有效键的作用,也即它们在即使便携式装置2处于闭合状态时仍是可检测的。具体地,键开关K13b、K23b和K63b与键开关K33a、K43a和K53a在同一条线上,同样,键开关K34b、K44b、K54b与键开关K14a、K24a和K64a在同一条线上。因此,与键组41和42的情况不同,键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b没有被掩蔽,使得外部键是有效的。基于这个理由,在该实施例中,响应于例如闭合状态事件的给定条件的发生,通过非预期的键按压启动轮询处理,并通过插置CPU 10的等待状态扩大键检测的间隔,从而抑制能量消耗。
打开/闭合检测电路6是一种折叠检测装置,其检测可打开/可闭合的便携式装置2的第一壳体52和第二壳体54(图8)是否折叠;同时,打开/闭合检测电路6也是一种键选择装置,其响应于壳体52和54的打开或闭合事件来选择有效键和无效键。来自打开/闭合检测电路6的检测信号被接收到控制单元8中,用于控制掩蔽处理。
控制单元8是具有计算机的控制装置,执行键矩阵电路4上的键按压以及被按压键的检测。当便携式装置2处于闭合状态时,控制单元8执行掩蔽键组41和42中的键的检测的掩蔽处理,执行键组43中的键的检测,以及执行在键组43中的键检测中的轮询处理等。控制单元8包括CPU 10、存储器12、计时器14、计时器控制单元16、键检测控制单元18、键检测单元20、键中断检测单元22和打开/闭合检测单元24。这些部件通过总线26连接。键中断检测单元22是第一键检测单元,当内部操作键(内部键)或外部操作键(外部键)被按压时,该第一键检测单元检测哪个键被按压。键检测单元20是第二键检测单元,当通过折叠检测装置检测到便携式装置2的折叠以及检测到内部操作键的按压时,该第二键检测单元以预定间隔检测外部操作键的按压。
CPU 10是执行例如键检测、掩蔽控制和运算处理的各种控制的处理器的实例,并运行存储在存储器12中的程序以控制各功能单元。存储器12具有程序存储器单元、数据存储器单元、RAM(随机存取存储器)等。程序存储器单元存储OS(操作系统)程序和应用程序,数据存储器单元存储固定数据和半成品数据(semiprocessed data),RAM构成工作区。应用程序包括用于在便携式装置2打开或闭合时确定键是内部键还是外部键的程序,以及用于在两个或更多个的键被按压时确定被按压的键的数量以及在被按压的键中是否包括内部键或外部键的程序。
计时器14是在轮询过程中计数间隔时间的时间计数装置。计时器14计数CPU 10的运行时间间隔和CPU 10的停止时间间隔。通过计时器控制单元16控制由计时器14进行的时间计数的起点,并且当计数了预设的预定时间时,将来自计时器14的时间计数信号输入计时器控制单元16。
计时器控制单元16是一种控制装置,其控制CPU 10的运行时间,以使所述运行时间与预定时间间隔相匹配。计时器控制单元16使计时器14开始时间计数,并从计时器14接收时间计数信号。
键检测控制单元18通过键检测控制线28(由六条控制线281、282、283、284、285和286组成)向键矩阵电路4的列线发出键检测控制信号。键检测控制单元20通过键检测线30(由六条检测线301、302、303、304、305和306组成)从键矩阵电路4的行线接收表示被按压的键的键检测信号。由此,表示所检测到的被按压的键的键信息以键检测信号的形式被CPU 10接收。
键中断检测单元22是接收表示键按压的键按压信号的装置,其中该键按压信号被发送到设置在键矩阵电路4的行或列上的矩阵集中中断线(matrixconcentrative interruption line)32。键中断检测单元22接收到的键按压信号构成引起被按压键的检测的事件。在该实施例中,由于键矩阵电路4由六行和六列键组成,所以矩阵集中中断线32由六条线组成。将这六条矩阵集中中断线32在逻辑和(或(OR))电路34处加在一起,在逻辑和(或)电路34中获得了通过这六条线中任一条线进入的键按压信号。
打开/闭合检测单元24是在打开/闭合检测电路6工作时用于检测便携式装置2的打开/闭合状态的检测装置,同时还用作键选择装置。将通过打开/闭合检测电路6检测到的、表示打开状态或闭合状态的检测信号输入到打开/闭合检测单元24中,并响应于该检测信号事件执行内部键的掩蔽处理控制。
接下来,将参考图6描述键检测控制单元18。图6是便携式装置的部分电路图,其包括键检测控制单元的结构的具体实例。在图6中,用相同的附图标记表示与图4和图5中所描述相同的组成元件。
在键检测控制单元18中,对应于线的行或列的数目,即对应于六条键检测控制线281、282、283、284、285和286布置有六个键控制电路(KC)181、182、183、184、185和186。在KC 181、182、183、184、185和186的输出部上,分别设置有三态电路(tristate circuit)191、192、193、194、195和196。三态电路191、192、193、194、195和196产生高阻抗输出(Hi-z)或低阻抗输出(低(Low)),以及在正常状态下产生H-z输出。当在掩蔽状态下进行键检测时,三态电路191、192、193、194、195和196变为Hi-z输出情形;而当键被检测时,三态电路191、192、193、194、195和196以递增的顺序一个接一个地依次变为低输出情形。例如,当三态电路191处于低输出情形时,如果键开关K61被按压,则通过键开关K61将低输出发送至键检测单元20,并且键检测单元20检测出被按压的键为键开关K61。
接下来,将参考图7描述键检测单元20。图7是便携式装置的部分电路图,其包括键检测单元的结构的具体实例。在图7中,用相同的附图标记表示与图4和图5中所描述相同的组成元件。
在键检测单元20中,对应于线的行或列的数目,即对应于六条键检测线301、302、303、304、305和306,布置有六个状态寄存器(KR)201、202、203、204、205和206。在KR 201、202、203、204、205和206的输入部上,分别设置有缓冲电路211、212、213、214、215和216。缓冲电路211、212、213、214、215和216的输入部通过电阻221、222、223、224、225和226连接至电源的正极侧,以保持处于上拉状态。在这种上拉状态下,通过缓冲电路211、212、213、214、215和216将高输入应用至KR 201、202、203、204、205和206。例如,当三态电路191(图6)处于低输出情形时,如果键开关K61被按压,则通过键开关K61将低输出发送至键检测单元20。这将使上拉状态变为低状态,从而检测到被按压的键为键开关K61。其它键也以相同的方式被检测。
当从键检测控制单元18产生低输出以及键开关K11、K12…K66中的任一键(例如键开关K61)被按压时,通过矩阵集中中断线32和或电路34将低输出发送至键中断检测单元22,而键中断检测单元22根据接收低输出检测键按压事件。
接下来,将参考图8和图9描述便携式装置2。图8是便携式装置2的结构实例,其示出了处于打开状态的便携式装置2;以及,图9描述了处于闭合状态的便携式装置2。在图8和图9中,用相同的附图标记表示与图4和图5中所描述相同的组成元件。
便携式装置2包括由第一壳体52和第二壳体54构成的装置壳体50,第一壳体52和第二壳体54通过用作连接单元的绞链56可被折叠。壳体52具有显示单元58和接收器60。壳体54具有键操作单元62和发射器64。壳体52和54分别具有检测元件68和66,检测元件68和66连接至打开/闭合检测电路6。例如,键操作单元62携带上述键开关K11、K12……K66,由此携带包括在键组43中的键开关K13b、K23b、K33a、K43a、K53a、K63b等。示出在键操作单元62上的键开关K13b、K23b、K33a、K43a、K53a、K63b代表键布置的一种情况,而键开关的布置并不局限于这种情况。
根据这种便携式装置2,处于打开状态(图8所示的打开状态)的壳体52和54可变为折叠状态(图9所示的闭合状态),并且也可以从闭合状态变为打开状态,如图8和图9所示。通过打开/闭合检测电路6检测这些打开和闭合状态,并且将表示打开或闭合状态的信号通过打开/闭合检测单元24发送至CPU 10中。
接下来,将参考图10和图11描述决定于便携式装置2的打开和闭合的键控制。图10为在闭合状态的情况下键控制方法的实例流程图,图11为在打开状态的情况下键控制方法的实例流程图。
如图10所示,当便携式装置2处于闭合状态时,执行的键控制包括:掩蔽控制步骤(F1),其以便携式装置2的闭合状态为基础;以及控制步骤(F2),其以通过轮询进行的外部键的按压检测为基础。
在掩蔽控制(F1)中,当便携式装置2被设置处于闭合状态(图9)时,通过打开/闭合检测电路6和打开/闭合检测单元24进行“闭合”状态检测。响应于该闭合状态检测事件,执行内部键专用线的中断掩蔽(步骤S11),这导致执行使属于键组41的键开关K11、K21…K61和K12、K22…K62以及属于键组42(图4)键开关K15、K25…K65和K16、K26…K66(图5)的按压无效的掩蔽中断。
当异物进入到处于闭合状态(图9)的便携式装置2的壳体52和壳体54之间,引起键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b(图5)中的一个或两个或更多个非预期按压检测(键中断)时(步骤S12),由于没有功能被分配给这些在便携式装置2处于闭合状态时预期不被按压的键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中的被按压的键,所以忽略键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b上的键中断(步骤S13)。在这种情况下,因为便携式装置2处于“闭合”状态,并且分配给被按压键的功能没有被激活,所以忽略键中断(key interruption)。
然而,键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b与键按压是有效的外部键在同一条线上,所以不忽略键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b上的按压检测。这引起CPU 10的搜索操作,增加了能量消耗。为了防止这种情况,运行通过轮询(下一个步骤(F2))执行的外部键按压检测。
在步骤(F2)中,当内部键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中的一个或两个或更多个键被连续按压时,来自矩阵集中中断线的输入被忽略,以使外部键的按压检测无效。然而,即使在便携式装置2处于“闭合”状态时,外部键检测也是必须的,所以通过以规定间隔执行轮询来执行外部键检测。在这种情况下,被按压的内部键的释放导致轮询程序(sequence)的取消。
在步骤(F2)中,由于便携式装置2处于闭合状态,即使属于键组43的任一个键开关被按压,键中断检测单元22停止其在矩阵集中中断掩蔽下的检测功能,且CPU 10执行控制以忽略键按压。在这种情况下,响应于键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中的一个或两个或更多个按压事件,由CPU 10执行的控制变为用于执行定期键检测的控制,从而降低由于键的连续按压导致的能量消耗。
在矩阵集中中断掩蔽(步骤S14)之后,执行关于外部键的按压和关于任一内部键的按压的释放的检查(轮询)(步骤S15),其中任一内部键的按压就是键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中的任一个的按压,即引起转变为轮询控制的事件。如果预期被按压的外部键中的任一个(即键开关K14a、K24a、K33a、K43a、K53a和K64a中的任一个)被按压,则启动响应于该按压事件而开始的功能(步骤S16)。
在这种情况下,当键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中的一个或两个或更多个被按压时,或者键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中一个或两个或更多个的按压与外部键的按压有关时,确定所述键按压是否被释放(步骤S17)。如果所述按压被释放(步骤S17中为是),则处理流程返回到步骤S12,在步骤S12中CPU 10变为等待状态。
相反,如果所述键按压没有被释放(步骤S17中为否),则响应于键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中一个或两个或更多个的按压事件启动用于轮询的计时器14(步骤S18)。在这种情况下,键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b的瞬时按压或释放不需要启动计时器14。
当计时器14启动时,与计时器14的启动同步,CPU 10的状态变为等待状态(步骤S19),并且计时器14进行时间计数。在计数预设的预定时间中,计数器14一直进行时间计数直到已经经过了预设的预定时间,并且确定是否计数器14已经完成了计数,即确定是否已经经过了预定时间(步骤S20)。在计时器14进行时间计数期间保持为等待状态的CPU 10,根据从计时器14输出的时间计数信号返回至唤醒状态(步骤S21)。然后处理流程返回至步骤S15,在步骤S15恢复键按压检测。
以这种方式,CPU 10在预定时间内保持为等待状态。与CPU 10保持唤醒状态以持续检测键按压的情况相比,这大大降低了电流消耗。根据CPU 10保持为等待状态的时间段(time span)和已从等待状态返回的CPU 10保持为唤醒状态的时间段,电流消耗被降低。
在便携式装置2处于打开状态时执行的键控制中,取消在闭合状态下执行的内部键专用线上的中断掩蔽,如图11所示。在用于这种情况的控制中,当便携式装置2被置于打开状态(图8)时,由打开/闭合检测电路6和打开/闭合检测单元24执行“打开”状态检测,并响应于打开状态的检测事件,取消内部键专用线上的中断掩蔽(步骤S13),以执行正常键检测。
接下来将参考图12描述键检测。图12为用于检测被按压键的键检测方法的实例流程图。
在这种键检测中,键检测控制单元18使所有线有效,以使KC181、KC182…KC186处于低输出状态(步骤S41)。在这种情况下,执行矩阵集中中断的检测(步骤S42),并且跟随用于等待键按压的等待状态,直到键开关K11、K21…K66中的任一个的按压发生。当键开关K11、K21……K66中的任一个被按压时,“中断”被识别。
此时,键检测控制单元18开始搜索(在步骤S43中n=0),并响应于键按压事件掩蔽所有的线,这意味着来自KC181、KC182…KC186的每一个输出均暂时变为Hi-z输出(步骤S44)。然后,键检测控制单元18仅有效键矩阵电路4中的一条线。具体地,来自KC181、KC182…KC186的每一个输出依次连续地变为低输出(步骤S45),并且键检测单元20从KR201、KR202…KR206读取输出(步骤S46)。
在该实施例中,用于键检测的线的数目N被指定为N=6,所以连续执行键检测控制,直到经过键检测的线的数目达到N=6(在这种情况下,n=0至5)。换句话说,确定是否满足n>5(步骤S47),并且键检测控制单元18继续搜索(n=n+1),直到线的数目达到N=6(步骤S48)。因此,当满足n>5时,结束被按压键的检测。
在这种键检测中,当键按压导致的来自KC181、KC182…KC186中任一个的低输出和来自键检测线301至306中任一个的低输出同时有效时,被按压的键被识别,并且所识别出的被按压键为键检测的结果。
接下来,将参考图13和图14描述键检测控制。图13为表示伴随有轮询操作的键控制的时序图,图14为表示不伴随有轮询操作的键控制(等待状态)的时序图。
在图13中,A表示便携式装置2的状态从打开状态向闭合状态的变化,“opened(打开)”代表打开状态,而“closed(闭合)”代表闭合状态。B表示这样的动作,即在闭合状态下,用作内部键的未被按压的键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中的任一个被按压而变为被按压状态,以及从被按压状态被释放。
内部键的按压引起键按压中断的启动。如C所示,这导致CPU 10以预定的间隔重复唤醒状态和等待状态。如D所示,键检测状态从中断状态变为轮询状态,其中在CPU 10处于唤醒状态的时间段内,通过轮询检测外部键的按压和内部键的释放。
通过这种方式,CPU 10进入等待状态的周期性状态变化抑制了CPU 10的电流消耗。当在轮询中检测到内部键的释放时,键检测变为中断检测状态,并且CPU 10返回至等待状态。
通过上述方式,当在闭合状态下按压了内部键时,CPU 10变为唤醒状态,该唤醒状态下消耗的电流与连续键按压期间正常操作下消耗的电流一样多。然而,通过如上所述的操作能够抑制CPU 10的这种电流消耗。
如图14中的A所示,当便携式装置2从打开状态变为闭合状态时,并且如图14中的B所示,如果在闭合状态下没有内部键被按压,则便携式装置2执行闭合状态下的正常操作。在该正常操作下,如图14中C所示,CPU10保持其等待状态,这不会导致不必要的电流消耗。
当键在便携式装置2处于闭合状态的情况下被按压时,由CPU 10通过基于程序的处理执行该键是内部键还是外部键的判定。当该键被判定为外部键时,跟随正常的键按压检测。当该键被判定为内部键时,跟随用于释放该键的轮询操作。如果内部键和外部键同时被按压,将优先级指定给轮询操作,以此检测内部键的释放。
接下来将参考图15描述键组43。图15示出内部键和外部键的布置变化。在上述实施例中,在键组43中,键开关K14a、K24a、K33a、K43a、K53a和K64a被设置为外部键,而键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b被设置为内部键。可以以如下方式改变这种键布置,即将键开关K13a、K14a、K24a、K33a、K43a、K44a、K53a和K64a设置为外部键,将键开关K23b、K34b、K54b和K63b设置为内部键,如图15所示。
在第一实施例中,当内部键和外部键共同位于键矩阵电路4中的同一条线上时,响应于在便携式装置2“闭合”之后的内部键的按压事件,掩蔽矩阵集中中断,并且将操作程序变为通过软轮询检测外部键的按压的程序。
然后,响应于由便携式装置2的打开/闭合检测单元24进行的“闭合”状态检测事件,掩蔽键矩阵电路4中除了包括外部键的线之外的所有线。在保持闭合状态时,当包括外部键的线上的内部键被连续按压时,例如用户通过粘贴封条非预期地连续按压了键之类的情况,继续中断状态以避免通过中断不能检测该线上外部键的情形。换句话说,即使在这种掩蔽情形下,外部键的检测仍是必需的,所以通过以预定间隔执行的软轮询来检测外部键的按压。在轮询中,将CPU 10保持为稳定唤醒状态会导致更多的电流消耗。为此,在轮询中所需的最少处理完成的位置处,将CPU 10的状态改变为等待状态。通过这种方式,执行软操作(轮询扫描),作为以预定间隔重复唤醒状态(轮询)和等待状态的操作。
在该轮询扫描过程中,位于包括外部键的线上的内部键的释放检测导致轮询扫描停止,从而恢复用于等待中断的正常检测状态。因此,在执行键检测时降低了能量消耗。
第二实施例
接下来将参考图16描述本发明的第二实施例。图16示出了第二实施例的键控制电路的实例。在图16中,用相同的附图标记表示与图4中所描述相同的组成元件。
在第一实施例中,当便携式装置2处于闭合状态时,为了能够进行键开关K14a、K24a、K33a、K43a、K53a和K64a以及键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b的键按压检测,掩蔽了键组41和42中键的键按压功能,其中键开关K14a、K24a、K33a、K43a、K53a和K64a为属于键组43的外部键,键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b为属于键组43的内部键。由此,响应于属于键组43的键开关K13b、K23b、K34b、K44b、K54b和K63b中的任一个按压事件,执行轮询,并以预定间隔检测键按压。
在第二实施例中,键组41、42和43中的任一个键或所有键被选择作为有效键;并且,对于这些有效键,通过如上所述执行轮询来以预定间隔进行键按压的检测或被按压键的检测。通过按压检测中的键选择和间隔控制,这种键选择以及键按压和被按压键的搜索,使得具有多个键的键矩阵电路4能够满足诸如各种功能选择的变化要求。
如图16所示,键控制电路70包括由多个开关组成的键选择开关72等,并且将来自键选择开关72的选择输入输入到控制单元8的键选择单元74中。例如,通过这种键选择,从键矩阵电路4的多个键组41、42和43中选择键组43。在键选择之前,允许对键组41、42和43中的键开关进行按压检测;然而,在选择键组43之后,键组41和42被置于掩蔽状态,在该掩蔽状态下忽略属于键组41和42的键开关的按压检测。由此,仅对键组43执行键按压检测和轮询。不但以集中选择的形式从键组41、42和43中进行这种键选择,而且可以以逐行选择键开关的形式进行这种键选择。
在这种情况下,通过从选自键开关K13a、K23a…K63a和K14a、K24a…K64a中的特定键来开始上述轮询,其中键开关K13a、K23a…K63a和K14a、K24a…K64a属于选定的键组43。
其它实施例
本发明不局限于上述实施例,而包括如下的其它实施例。
(1)尽管如上述实施例中的实例所述,便携式装置2具有可折叠的壳体,但本发明不局限于可折叠的便携式装置2。例如,本发明可应用于包括可滑动壳体的便携式装置。图17示出了可滑动便携式装置的实例。如图17所示,便携式装置2的装置壳体50包括两个壳体52和54,这两个壳体被配置为可滑动。壳体54具有被壳体52遮住的内部键,这些内部键包括在键矩阵电路4(图5)上与外部键位于同一条线上的键开关K13b、K23b、K63b等。通过这种方式,以与第一实施例相同的方式配置可滑动的便携式装置2,从而通过轮询来检测非预期地被按压的内部键的释放,进而降低了CPU 10的电流消耗。
(2)本发明可应用于包括多个可折叠壳体,且其中一个可折叠壳体能够横向旋转的便携式装置。图18示出了包括允许折叠和横向旋转的装置壳体的便携式装置的实例。如图18所示,便携式装置2的装置壳体50具有可通过铰链56折叠的壳体52和54;并且,当处于折叠状态时,壳体52能够横向旋转。图18示出了处于旋转状态的壳体52。壳体54具有被壳体52遮住的内部键,这些内部键包括在键矩阵电路4(图5)上与外部键位于同一条线上的键开关K63b等。通过这种方式,以与第一实施例相同的方式配置该可旋转的便携式装置2,从而通过轮询来检测非预期地被按压的内部键的释放,进而降低了CPU 10的电流消耗。
(3)本发明可应用于包括单个壳体的扁平便携式装置。图19描述了扁平便携式装置的实例。如图19所示,该便携式装置2包括单个壳体53,壳体53具有显示部58、键操作单元62等。在这种情况下,如在第二实施例所说明的,键操作单元62设有键选择开关232,以允许键选择,所述键选择用于确定多个键开关中的键按压是有效的还是无效的。通过用于键释放的轮询操作,降低了键操作单元62上的非预期键按压导致的CPU 10的电流消耗。
(4)当上述实施例中便携式装置2的实例表现为蜂窝电话时,本发明可应用于电子设备,例如图20所示的便携式信息终端(PDA:个人数字助理)240、图21所示的数码相机、以及未示出的个人计算机(PC)。在图20和图21中,用相同的附图标记表示与图8所述相同的组成元件,并且不再对其作进一步描述。
虽然在上面已经描述了本发明的最优选实施例,然而本发明并不局限于上述实施例,当然,本领域技术人员可在权利要求的范围内进行各种变化和修改,而不脱离此处所公开的本发明的精神,且不必说这种变化和修改也包括在本发明的范围内。
本发明涉及键控制电路、电子设备、便携式装置和键控制方法。根据本发明,在键选择之后,能够降低由非预期键按压检测导致的能量消耗,其中所述非预期键按压检测被排出在多个有效键中的键检测对象之外;并且,包括在有效键中的特定键的按压检测,在处理上与键选择之前执行的该特定键的按压检测不同。这降低了键搜索过程中的搜索时间密度,从而降低了能量消耗。此外,从具有多个键的键矩阵电路中进行键选择的附加使用提供了如下优点,即改善了用于键操作和键按压的变化功能。具有这些优点的本发明是有益的。
Claims (15)
1.一种用于控制键矩阵电路的键控制电路,在所述键矩阵电路中以多个行和列的形式排列有多个键;该键控制电路包括:
键选择装置,其通过以所述键矩阵电路上所述行或所述列的线为单位,使所述键有效或无效;以及
控制装置,当由所述键选择装置执行键选择时,所述控制装置检测有效键的按压,从所述有效键的按压的时间点起将键按压检测保持为等待状态达预定时间,以及在经过所述预定时间之后恢复所述键按压检测。
2.如权利要求1所述的键控制电路,其中
当不由所述键选择装置执行所述键选择时,所述控制装置响应于所述键矩阵电路上的键的按压事件来检测被按压的键;以及
当由所述键选择装置执行所述键选择时,所述控制装置响应于所述有效键的按压事件来检测被按压的键。
3.如权利要求1所述的键控制电路,还包括
时间计数装置,其响应于所述有效键的按压事件开始时间计数,以及当从所述时间计数的开始经过了所述预定时间时,输出用于表示预定时间经过的时间计数信号。
4.一种具有键矩阵电路的电子设备,在所述键矩阵电路中以多个行和列的形式排列有多个键;该电子设备包括:
键选择装置,其通过以所述键矩阵电路上所述行或所述列的线为单位,使所述键无效或有效;以及
控制装置,当由所述键选择装置执行键选择时,所述控制装置检测有效键的按压,从所述有效键的按压的时间点起将键按压检测保持为等待状态达预定时间,以及在经过所述预定时间之后恢复所述键按压检测。
5.如权利要求4所述的电子设备,其中
当不由所述键选择装置执行所述键选择时,所述控制装置响应于所述键矩阵电路上的键的按压事件来检测被按压的键;以及
当由所述键选择装置执行所述键选择时,所述控制装置响应于所述有效键的按压事件来检测被按压的键。
6.如权利要求4所述的电子设备,还包括
时间计数装置,其响应于所述有效键的按压事件开始时间计数,以及当从所述时间计数的开始经过了所述预定时间时,输出用于表示预定时间经过的时间计数信号。
7.一种具有键矩阵电路的便携式装置,在所述键矩阵电路中以多个行和列的形式排列有多个键,该便携式装置包括:
键选择装置,其通过以所述键矩阵电路上所述行或所述列的线为单位,使所述键有效或无效;以及
控制装置,当由所述键选择装置执行键选择时,所述控制装置检测有效键的按压,从所述有效键的按压的时间点起将键按压检测保持为等待状态达预定时间,以及在经过所述预定时间之后恢复所述键按压检测。
8.如权利要求7所述的便携式装置,其中
当不由所述键选择装置执行所述键选择时,所述控制装置响应于所述键矩阵电路上的键的按压事件来检测被按压的键,以及
当由所述键选择装置执行所述键选择时,所述控制装置响应于所述有效键的按压事件来检测被按压的键。
9.如权利要求7所述的便携式装置,还包括
时间计数装置,其响应于所述有效键的按压事件开始时间计数,以及当从所述时间计数的开始经过了所述预定时间时,输出用于表示预定时间经过的时间计数信号。
10.一种便携式装置,其配备有具有接收器和显示单元的第一壳体和具有发射器和键操作单元的第二壳体,所述第一壳体和所述第二壳体通过连接单元可折叠,以及所述第二壳体配备有在折叠状态下存在于内部的内部操作键和在折叠状态下存在于外部的外部操作键,该便携式装置包括:
折叠检测装置,其检测所述第一壳体和所述第二壳体是否折叠;
第一键检测单元,如果所述内部操作键或所述外部操作键被按压,所述第一键检测单元检测哪个键被按压;以及
第二键检测单元,如果通过所述折叠检测装置检测到所述第一壳体和所述第二壳体的折叠以及检测到所述内部操作键的按压,所述第二键检测单元以预定间隔检测所述外部操作键的按压。
11.如权利要求10所述的便携式装置,其中
如果通过所述折叠检测装置检测到所述第一壳体和所述第二壳体的折叠以及检测到所述外部操作键的按压,所述第二键检测单元以预定间隔检测所述外部操作键的按压。
12.如权利要求10所述的便携式装置,其中
所述第一壳体和/或所述第二壳体配备有用于检测所述第一壳体和所述第二壳体是否折叠的检测装置。
13.一种用于控制键矩阵电路的键控制方法,在所述键矩阵电路中以多个行和列的形式排列有多个键;该方法包括如下步骤:
通过以所述键矩阵电路上的所述行或所述列的线为单位使所述键无效或有效,来选择所述键;以及
当不执行所述键选择时,以预定时间间隔检测被按压的键;以及当执行所述键选择时,在从有效键的按压开始到经过预定时间为止的时间段内停止键按压检测,并且在所述预定时间经过之后恢复所述键按压检测。
14.如权利要求13所述的键控制方法,还包括如下步骤:
当不执行所述键选择时,响应于所述键矩阵电路上的键的按压事件检测被按压的键;以及在执行所述键选择时,响应于所述有效键的按压事件检测被按压的键。
15.如权利要求13所述的键控制方法,还包括如下步骤:
响应于所述有效键的按压事件开始时间计数;以及当从所述时间计数的开始经过了所述预定时间时,输出用于表示预定时间经过的时间计数信号。
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