CN101213437A - 分析仪 - Google Patents

分析仪 Download PDF

Info

Publication number
CN101213437A
CN101213437A CNA2006800240850A CN200680024085A CN101213437A CN 101213437 A CN101213437 A CN 101213437A CN A2006800240850 A CNA2006800240850 A CN A2006800240850A CN 200680024085 A CN200680024085 A CN 200680024085A CN 101213437 A CN101213437 A CN 101213437A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
signal
filter
analyte
analyser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2006800240850A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101213437B (zh
Inventor
德永一敏
山本典正
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
Publication of CN101213437A publication Critical patent/CN101213437A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101213437B publication Critical patent/CN101213437B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251Colorimeters; Construction thereof
    • G01N21/253Colorimeters; Construction thereof for batch operation, i.e. multisample apparatus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
    • G01N21/77Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
    • G01N21/82Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator producing a precipitate or turbidity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
    • G01N35/025Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G01N2021/317Special constructive features
    • G01N2021/3174Filter wheel
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
    • G01N21/77Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
    • G01N21/82Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator producing a precipitate or turbidity
    • G01N2021/825Agglutination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/08Optical fibres; light guides
    • G01N2201/0826Fibre array at source, distributing

Abstract

一种分析仪,包括:光照装置,它包含光源和有透光性各异的数个滤光片的可旋转滤光器,通过旋转滤光器依次切换配置在光源光路上的滤光片,在滤光器旋转中将透过滤光片的光照射到分析物上;分析装置,根据从在所述滤光器旋转过程中受所述光照装置照射的分析物上获得的光学信息,分析该分析物的特性。

Description

分析仪
技术领域:
本发明涉及一种分析仪,特别是涉及一种具有切换配置在光源光路上的滤光片、将透过滤光片的光照射到分析物上的光照装置的分析仪。
背景技术:
用于生化检查、凝血检查等的光学式分析仪,迄今人们已知具有光照装置的分析仪,该光照装置可根据用于分析试剂的特性、分析方法等更换配置在光源光路上的滤光片,将有一定波长特性的光照射到分析物上(比如参照专利公开2003-83884号公报)。上述专利公开2003-83884号公报上发表的过去的分析仪是通过旋转设置有透光性各异的数个滤光片的旋转板来更换配置在光源光路上的滤光片,切换光源通过滤光片照射到分析物上的光的波长特性的。上述专利公开2003-83884号公报上发表的分析仪在光照并分析分析物时,将具有所希望的透光性的滤光片停在光源的光路上,将透过该滤光片的具有一定波长特性的光照射到分析物上进行分析。
然而,上述专利公开2003-83884号公报上公开的这种传统的分析仪在光照并分析分析物时,是将滤光片停在光源光路上后,将透过该滤光片的光照射到分析物上的。即,对分析物的分析仅限于在规定时刻(时间上的一点)以具有特定波长特性的光进行分析。有些分析是需要不仅仅在规定时间,而是要连续或以短促间隔频繁进行光学分析的。比如,凝血时间分析法就要求连续光照、或以1秒钟以内的短暂间隔断断断续续地进行光照并分析的。还有些分析要求照射具有特定波长特性的多种光进行分析。此时,如果是分析反应过程中的试样,则希望实质上同时照射有第一特定波长特性的光和有第二特定波长特性的光。
以往的分析仪由于需要反复旋转和停止旋转板,因此有难以在短时间内频繁更换滤光片的问题。此外,切换滤光片时,需要反复旋转和停止旋转板,还会造成旋转板控制复杂的问题。另由于必须将滤光片准确停在光源的光路上,因此,需要定位精度高的高价监视器,同时需要调整滤光片对光源光路的位置。
发明内容:
本发明即为解决上述课题,本发明的目的之一是提供一种比以往的分析仪更便宜、可在短时间内频繁切换滤光片、可抑制切换滤光片时滤光片切换控制复杂化、无需调整滤光片位置的分析仪。
为实现上述目的,本发明第一部分的分析仪具有以下部分:光照装置,它包含光源和有透光性各异的数个滤光片的可旋转滤光器,通过旋转滤光器依次切换配置在光源光路上的滤光片,在滤光器旋转中将透过滤光片的光照射到分析物上;分析装置,根据从在上述滤光器旋转过程中受上述光照装置照射的分析物上获得的光学信息,分析该分析物的特性。
本发明第二部分的分析仪具有以下部分:光源;透光性各异的数个滤光片;移动数个滤光片,使数个滤光片以一定速度顺序从光源光路通过的滤光片移动设备;根据透过滤光片的光源光照射分析物所获得的光学信息分析该分析物特性的分析设备。
本发明第三部分的分析仪具有以下部分:光照装置,它包含光源和有透光性各异的数个滤光片的可旋转滤光器,通过旋转滤光器以1秒以内的时间间隔依次切换配置在光源光路上的滤光片,将透过滤光片的光照射到分析物上;分析装置,根据从光照装置光照的分析物上获得的光学信息,分析该分析物特性。
附图说明:
[图1]为包含本发明第一实施方式的分析仪及其扩展用分析仪的分析系统整体结构平面图。
[图2]为部分显示图1所示包含本发明第一实施方式的分析仪及其扩展用分析仪的分析系统的斜视图。
[图3]为说明图1所示第一实施方式的分析仪中所含照明单元结构的斜视图。
[图4]为图3所示第一实施方式的分析仪中所含照明单元的结构略图。
[图5]为图3所示第一实施方式的分析仪中所含照明单元的滤光器平面图。
[图6]为说明图1所示第一实施方式的分析仪的第一光学信息获取单元结构的框图。
[图7]为说明图1所示第一实施方式的分析仪的第二光学信息获取单元结构的框图。
[图8]为图7所示第一实施方式的第二光学信息获取单元检测器的结构略图。
[图9]为说明本发明第一实施方式的分析仪的第二光学信息获取单元和控制底板结构要素的框图。
[图10]为说明本发明第一实施方式的分析仪的检测器及信号处理部分结构的框图。
[图11]为本发明第一实施方式的分析仪的控制底板记录器用存储卡结构的说明图。
[图12]为本发明第一实施方式的分析仪的控制底板放大电路和微分电路的线路结构的电路图。
[图13]为本发明第一实施方式运用PC主机控制的方法的简要流程图。
[图14]为显示在图13的步骤S1所示初始设定中用控制器对PC主机获取的n时钟进行计算处理的方法的流程图。
[图15]为显示图14所示n时钟的计算处理方法中使用的参考光的光量和参照信号的微分信号的变化的波形图。
[图16]为图13的步骤S3中PC主机进行分析处理的详细(子程序)流程图。
[图17]为显示本发明第一实施方式的分析仪在信号处理单元进行信号处理的方法的附图。
[图18]为显示本发明第一实施方式分析系统绘制的凝固曲线的附图。
[图19]为说明本发明第一实施方式的控制单元获取数据处理的方法的流程图。
[图20]为说明本发明第一实施方式的PC主机获取数据处理的方法的流程图。
[图21]为显示本发明第一实施方式的控制单元监视滤光器旋转情况的处理中监视检出原点狭缝的时间间隔处理的流程图。
[图22]为显示用于检测旋转滤光器狭缝的传感器输出的信号和根据传感器输出的信号生成的积分信号的波形的波形图。
[图23]为显示在本发明第一实施方式的控制单元监视滤光器旋转情况的处理中监视检出相邻两个狭缝(原点狭缝或普通狭缝)的时间间隔处理的流程图。
[图24]为显示在本发明第一实施方式的控制单元监视滤光器旋转情况的处理中监视检出两个原点狭缝时所检普通狭缝数量的处理流程图。
[图25]为本发明第一实施方式中不包含扩展用分析仪的分析系统的整体结构平面图。
[图26]为本发明第二实施方式控制单元的p时钟计算处理的流程图。
[图27]为显示图26所示p时钟计算处理方法中使用的狭缝检测信号和参考光光量及参考信号微分信号的变化的波形图。
[图28]为说明本发明第二实施方式控制单元进行数据获取处理的方法的流程图。
[图29]为说明用参考信号监视滤光器旋转情况的旋转滤光器模式图。
[图30]为就使用参考信号监视滤光器旋转进行说明的参考信号模式图。
具体实施方式:
以下根据附图,说明本发明的实施方式。
(第一实施方式)
首先,参照图1~图12就本发明第一实施方式的分析系统1的结构进行说明。
本发明第一实施方式的分析系统1为对与血液的凝固、线溶功能有关的特定物质的量和活性程度进行光学测定并分析的系统,标本使用血浆。第一实施方式的分析系统1通过用凝固时间法对标本进行光学测定。第一实施方式运用的凝固时间法是一种作为透射光变化来检测标本凝固过程的测定方法。
分析系统1可根据所设置的设施的规模改变其结构。比如,当设置在标本数不多的设施内时,分析系统1如图25所示,由分析装置3和向分析装置3提供标本的运送装置200构成。而当设置于标本数量多的设施内时,分析系统1如图1所示,增设扩展用分析装置4,运送装置200被运送装置2取代,因此,由运送装置2、分析装置3和扩展用分析装置4构成。如此,可通过在分析系统1增设扩展用分析装置4来增强分析系统1的标本处理能力。
图1所示运送装置2具有为了向分析装置3和扩展用分析装置4提供标本,将承载着数个(在第一实施方式中为10个)装有标本的试管150的管架151运送到分析装置3和扩展用分析装置4的各个吸移分装位置2a和2b(参照图1)的功能。运送装置2具有管架放置区2c和管架收存区2d,其中管架放置区2c用来放置装未处理标本的试管150的管架151,管架收存区2d用于存放装已处理标本的试管150的管架151。
分析装置3和扩展用分析装置4通过对运送装置2提供的各标本进行光学测定,可以分别取得有关所供标本的光学信息。在第一实施方式中,将标本从放置在运送装置2的试管150分装到分析装置3和扩展用分析装置4的反应杯152(参照图1)内,分别对该标本进行光学测定。分析装置3有信息处理终端3a、照明单元5和控制底板6。扩展用分析装置4具有与分析装置3上配置的同样的控制基板6、反应杯供应器20、旋转运送器30、标本分装臂40、两个试剂分装臂50、反应杯运送器60、第一光学信息获取系统70和第二光学信息获取系统80。这些单元的配置分析装置3和扩展用分析装置4是一样的。
在此,在第一实施方式中,信息处理终端3a和照明单元5只配置在分析装置3,扩展用分析装置4没有。
信息处理终端3a不仅连接分析装置3的装置主机,也通过通信电缆连接扩展用分析装置4。即,分析装置3的信息处理终端3a可由分析装置3和扩展用分析装置4共享。分析装置3和扩展用分析装置4通过将从标本中获取的光学信息输送到信息处理终端3a的功能。信息处理终端3a由个人电脑(PC)组成,如图2所示,包含PC主机3b、显示器3c和键盘3d。PC主机3b可以根据在照明单元5发出具有一定波长特性的光照射标本(待测试样)时控制底板6的后述信号处理器111和控制单元112获取的信号(光学信息)分析标本特性。在第一实施方式中,信息处理终端3a的PC主机3b可分析从试剂混入标本后的一定时刻到标本达到一定凝固状态的时间(凝固时间)。PC主机3b具有由CPU、ROM、RAM和硬盘等构成的控制器(无图示)。显示器3c为显示PC主机3b得出的分析结果等信息而设。如上所述,分析装置3和扩展用分析装置4除扩展用分析装置4不包含信息处理终端3a和照明单元5外,其余结构均相同,因此,在以下说明中,仅对分析装置3的结构进行说明。
照明单元5如图3和图4所示,有作为光源之一的卤素灯11、两个反射镜12a和12b、两组聚光镜13a~13c和13d~13f、一个圆盘形滤光器14、电机15、透光型传感器16、两组光纤17a、17b。照明单元5以卤素灯11、反射镜12b、聚光镜13d~13f和光纤17b构成分析装置3用的光学系统,同时,以卤素灯11、反射镜12a、聚光镜13a~13c和光纤17a构成扩展用分析装置4用的光学系统。
光纤17b的前端连接分析装置3的第二光学信息获取单元80。光纤17a的前端只有在设置有扩展用分析装置4时,连接扩展用分析装置4的第二光学信息获取单元80。
反射镜12a、聚光镜13a~13c和光纤17a在没有设置扩展用分析装置4时是未设置在照明单元5的,可以在增设扩展用分析装置4时将反射镜12a装到反射镜安装处12c、将聚光镜13a~13c安装到透镜安装处13g~13i。这样可以减轻未设置扩展用分析装置4时的照明单元5的成本。
光纤17a和17b分别由21根光纤17c和17d构成。21根光纤17c和17d分别由扎头17e和17f捆绑。卤素灯11如图4所示,含有可从两面发光的板状灯丝11a。这样可以使同样特性的光从板状灯丝11a两面分别照射。板状灯丝由于在板状灯丝发出的光的照射区域内光量偏差很小,因此通过使用板状灯丝可以使光照待测试样所获得的光(透射光和散射光)量稳定,减少测定误差。两个反射镜12a和12b分别用于反射从卤素灯11照射的光,将光引导到所规定的光路。即反射镜12a和12b分别设于灯丝11a两侧,反射镜12a配置于正对灯丝11a的一面的位置,反射镜12b配置于正对灯丝11b的另一面的位置。反射镜12a和12b相对于灯丝11a倾斜配置,以便将灯丝11a发出的光的走向改变90度。
在反射镜12a反射卤素灯11板状灯丝11a的一面发出的光的同时,反射镜12b反射板状灯丝11a的另一面发出的光。由此,反射镜12a反射的光和反射镜12b反射的光形成两条光路。反射镜12a和12b如图3所示,分别可拆卸地安装在反射镜安装处12c和12d。聚光镜13a~13c如图4所示,配置于被反射镜12a改向的光的光路上,从反射镜12a起按透镜13a、13b、13d顺序依次配置。聚光镜13d~13f与聚光镜13a~13c一样,配置于由反射镜12b改向的光的光路上,从反射镜12b起按透镜13d、13e和13f顺序依次配置。两组聚光镜配置为聚光镜13a~13c的排列方向与聚光镜13d~13f的排列方向平行。
另,两组聚光镜13a~13c和13d~13f如图4所示,分别将反射镜12a和12b反射的两束光聚集、引导到光纤17a和17b。反射镜12a和12b反射的两束光分别被聚光镜13a~13c和13d~13f聚光,通过滤光片14b~14f中的一个引导到光纤17a和17b。聚光镜13a~13c如图3所示,分别可拆卸地安装在透镜安装处13g~13i。聚光镜13d~13f也分别可拆卸地安装在分别相应的透镜安装处(无图示)。
在第一实施方式中,照明单元5的滤光器14如图5所示,以轴14a为中心设置,可旋转。此滤光器14由具有五个透光性(透射波长)各异的滤光片14b~14f的滤光板14g和固定滤光板14g、露出滤光片14b~14f两面的滤光板固定件14h构成。滤光板14g固定在滤光板固定件14h上。滤光板14g上设有五个孔14i,用于设置滤光片14b~14f。这五个孔14i分别设置有透光性(透射波长)各异的五个滤光片14b、14c、14d、14e和14f。滤光板14g还设有孔14j。孔14j被堵塞,不透光。孔14i和孔14j沿滤光器14的旋转方向以一定角度间隔(在第一实施方式中为60°等间隔)而设。孔14j为预备孔,用于需要追加滤光片时安装滤光片。
滤光片14b、14c、14d、14e和14f分别只透射波长为340nm、405nm、575nm、660nm和800nm的光,其他波长的光不透射。因此,透过滤光片14b、14c、14d、14e和14f的光线分别具有340nm、405nm、575nm、660nm和800nm的波长特性。
滤光板固定件14h为圆环形,滤光板14g配置于其中心的孔处。滤光板固定件14h沿圆周方向等间隔(60°)设有6个狭缝。这6个狭缝中有1个是滤光板固定件14h旋转方向上的隙缝宽度比其他5个狭缝14l大的原点狭缝14k。
原点狭缝14K和普通狭缝14l以60°等间隔形成于相邻的孔14i和14j之间的中间角度位置(与孔14i和14j错开30°的位置)。电机15(参照图3)连接滤光器14的轴14a。以此,滤光器14可在电机15驱动下以轴14a为中心旋转。
在此,第一实施方式中,当照明单元5照射透过滤光片14b~14f中某一个的光线时,电机15的驱动受控制底板6(参照图1)控制,使滤光器14实际上匀束旋转。随着滤光器14旋转,透光性各异的五种滤光片14b~14f和一个被遮光的孔14j(参照图5)陆续被分别依次配置到被聚光镜13a~13c(参照图4)聚光的光路和被聚光镜13d~13f(参照图4)聚光的光路上。因此,波长特性不同的五种光源被陆续依次照射出来。
透光型传感器16如图3所示,用于检测随着滤光器14的旋转而经过的原点狭缝14k和普通狭缝141。即,传感器16以光源和集光部分夹滤光器14设置。此传感器16设置在与原点狭缝14k和普通狭缝14l通过的位置相对应的位置。
因此,当原点狭缝14k和普通狭缝14l经过时,集光部分透过狭缝检测出光源发出的光,输出检测信号。因为原点狭缝14k缝隙比普通狭缝14l大,所以,原点狭缝14k通过时,传感器16输出的检测信号也比普通狭缝14l通过时的检测信号输出时间长。传感器16输出的检测信号输送到控制底板6(参照图1),同时,控制底板6的后述滤光器旋转监视器112b根据传感器16输出的检测信号监视滤光器14是否运转正常。
两组光纤17a和17b用于分别将照明单元5发出的光引导到放置在分析装置3和扩展用分析装置4的第二光学信息获取单元80中的反应杯152内的待测试样。光纤17a如图1所示,由照明单元5,通过设置在扩展用分析装置4的扩展用连接端子7向扩展用分析装置4的第二光学信息获取单元80延伸设置。光纤17b由照明单元5向分析装置3的第二光学信息获取单元80延伸设置。以此,用一个照明单元5即可向分析装置3和扩展用分析装置4各自的第二光学信息获取单元80提供光源。
光纤17a和17b结构如图4所示,分别透过滤光片14b~14f的某一个而射出的光线从被扎头17e(17f)捆绑的一端射入。21根光纤17c分别向扩展用分析装置4(参照图1)的第二光学信息获取单元80中的后述20个插孔81a和一个参考光用测定孔81b提供光源。21根光纤17d分别向分析装置3(参照图1)的第二光学信息获取单元80中的后述20个插孔81a和一个参考光用测定孔81b提供光源。
反应杯供应装置20可以将用户随意放入的数个反应杯152整齐排列,逐个配置于位置152a。配置于位置152a的反应杯152被反应杯移送器60a逐个移送到运送转盘30。此运送转盘30有圆盘形运送台30a,运送台30a上设有放置反应杯152的数个孔152b和放置试剂容器(无图示)的数个孔152c。该试剂容器用于装添加在反应杯152的标本中的试剂。运送转盘30通过旋转运送台30a,运送反应杯152和试剂容器。
标本分装臂40可从被运送装置2运到吸移分装位置2a(2b)的试管150中吸移标本,并将吸移的标本分装至运送转盘30移送的反应杯152中。试剂分装臂50用于通过将装在运送转盘30的试剂容器(无图示)内的试剂分装到放置在运送转盘30的反应杯152中,将试剂与反应杯152内的标本混合。反应杯移送器60用于在运送转盘30和第二光学信息获取单元80的后述反应杯放置处81之间运送反应杯152。
第一光学信息获取单元70为测定添加试剂前标本中有无干涉物质(乳糜、血红蛋白和胆红素)、种类及其浓度等而从标本中获取光学信息。此第一光学信息获取单元70获取标本的光学信息在第二光学信息获取单元80对标本进行光学测定之前进行。第一光学信息获取单元70如图6所示,有作为光源的发光二极管(LED)71、光电转换元件72、前置放大器73和基板74。第一光学信息获取单元70如下所述,通过光照放置在运送转盘30上的反应杯152,从标本获取光学信息。
发光二极管71可用光照射放置在运送转盘30上的反应杯152。此发光二极管71在基板74(参照图6)的控制器74c的控制下,周期性地依次发射有三种波长特性的光。具体而言,此发光二极管71周期性地依次发出有430nm波长特性的兰光、有565nm波长特性的绿光和有627nm波长特性的红光。光电转换元件72可检测出发光二极管71发出的透过反应杯152的光,将其转换为电子信号。前置放大器73用于放大光电转换元件72发出的电子信号。基板74用于放大光电转换元件72发出的电子信号,将其转换为数字形式,送到信息处理终端3a的PC主机3b。基板74如图6所示,设有放大器74a、A/D转换器74b和控制器74c。放大器74a有放大器74d和电子调节器(volume)74e。放大器74d用于放大来自前置放大器73的电信号。放大器74d可通过将控制器74c发出的控制信号输入电子调节器(volume)74e,调整放大器74d的放大率(增益率)。A/D转换器74b用于将放大器74d放大的电信号(模拟信号)转换成数字信号。
控制器74c可根据发光二极管71发出的光的波长特性(430nm、565nm和627nm)的周期性变化,调整放大器74d的放大率(增益率)。此外,控制器74c与PC主机3b电路连接,可以将A/D转换器74b进行了数字转换的数字信号输送到PC主机3b。据此,PC主机3b对来自第一光学信息获取单元70的数字信号进行分析(解析),求出反应杯152内的标本对发光二极管71发出的三种光的吸光度(透射光强度),并分析标本中干涉物质的有无和种类及其含量等。根据分析结果,判断是否需要第二光学信息获取单元80对标本进行测定,并控制第二光学信息获取单元80的检测信号的分析方法和分析结果的显示方式。
第二光学信息获取单元80用于对在标本中添加试剂制备出的测定用试样进行加温,并从测定用试样检测出光学信息。此第二光学信息获取单元80由反应杯放置处81和反应杯放置处81下面的检测器82(参照图7)组成。反应杯放置处81如图1所示,设有20个插反应杯152用的插孔81a和一个不插反应杯152而测定参考光的参考光用测定孔81b。反应杯放置处81内藏加热装置(无图示),用于将插在插孔81a的反应杯152加热到一定温度。
检测器82可对插在插孔81a的反应杯152内的测定用试样进行光学测定。此检测器82如图7和图8所示,相对于插反应杯152的各插孔81a设有准直镜83a、光电转换元件84a和前置放大器85a。对应于参考光测定孔81b(参照图1)设有参考光用准直镜83b、参考光用光电转换元件84b和参考光用前置放大器85b。参考光用准直镜83b、参考光用光电转换元件84b和参考光用前置放大器85b的结构分别与准直镜83a、光电转换元件84a和前置放大器85a的结构相同。
准直镜83a如图8所示,设置在诱导照明单元5(参照图1)照射光源的光纤17d(17c)的顶端和与之相对应的插孔81a之间。此准直镜83a用于将光纤17d(17c)射出的光转换成平行光。光电转换元件84a安装在隔插孔81a与光纤17d(17c)的顶端相对而设的底板86a的插孔81a一侧。前置放大器85a则安装于底板86a的插孔81a反面一侧。光电转换元件84a可以检测光照插在插孔81a的反应杯152内的测定用试样时透过待测试样的光线(以下称透射光),并可以输出与检测透射光对应的电信号(模拟信号)。检测器82的前置放大器85a用于放大光电转换元件84a输出的电信号(模拟信号)。
对应于参考光测定孔81b而设置在检测器82的参考光用准直镜83b、参考光用光电转换元件84b、参考光用前置放大器85b和参考光用底板86b其结构分别与对应于插孔81a设置在检测器82的准直镜83a、光电转换元件84a、前置放大器85a和底板86a相同。参考光用光电转换元件84b由光纤17d(17c)射出的光线作为参考光透过参考光用准直镜83b后直接射入。即参考光用光电转换元件84b不通过装测定用试样的反应杯152直接检测射入的参考光,并输出对应于检出参考光的电信号(模拟信号)。
控制底板6配置于第二光学信息获取单元80的下方。此控制底板6可以控制分析装置3和照明单元5等的操作,并对第二光学信息获取单元80输出的光学信息(电信号)进行处理和记忆等。控制底板6如图7和图9所示,设有信号处理器111、控制单元112、放大电路113、微分电路114和温控器115。信号处理器111用于照明单元5用光照射测定用试样时对光电转换元件84a检出透射光而输出的信号进行处理。此信号处理器111如图9所示,有三个多路模拟开关(MUX)111a、三个自动校正电路111b、三个放大器111c和三个A/D转换器111d。而且,一条信号处理线L0分别由一个多路模拟开关111a、一个自动校正(offset)电路111b、一个放大器111c和一个A/D转换器111d组成。信号处理器111除信号处理线L0外,还设有与信号处理线L0同样结构的信号处理线L1和L2。即,信号处理器111设有三条信号处理线L0~L2用于处理检测器82输出的数个模拟信号。
如图10所示,多路模拟开关111a接数个前置放大器85a(参考光用前置放大器85b)。此多路模拟开关111a从数个光电转换元件84a(参考光用光电转换元件84b)通过前置放大器85a(参考光用前置放大器85b)输入的数个模拟信号中逐个选择,依次输出到自动校正电路111b。自动校正电路111b具有对多路模拟开关111a输出的信号进行校正的功能。具体而言,自动校正电路111b与测定用插孔81a或参考光测定孔81b对应的校正值由控制单元112(参照图9)提供。自动校正电路111b从多路模拟开关111a输出的与透射光对应的信号中减去上述校正值,以此对多路模拟开关111a输出的与透射光对应的信号进行校正。
放大器111c具有放大自动校正电路111b输出的模拟信号的功能。此放大器111c的放大率(增益率)在控制单元112的控制下可以在L放大率和比L放大率高的H放大率两种之间进行切换。放大器111c放大的L放大率(增益率)信号和H放大率(增益率)信号分别以互不相同的时机输入A/D转换器111d。A/D转换器111d接放大器111c,用于分别将放大器111c放大为L放大率和H放大率的信号(模拟信号)的已处理模拟信号转换成数字信号(数据)。
在第一实施方式中,如图10所示,对应于通道CH0~CH47的48个(一个A/D转换器16个)数据由A/D转换器111d输出。通道CH0~CH47中通道CH0~CH41的42个通道的数据分别对应于基于各光电转换元件84a或参考光用光电转换元件84b获得的电信号的数据。即从20个光电转换元件84a获得的20个数据分别由信号处理器111的放大器111c以L放大率(增益率)和H放大率(增益率)放大,从而变成40个数据。从一个参考光用光电转换元件84b获得的一个数据在信号处理器111(参照图9)的放大器111c以L放大率(增益率)和H放大率(增益率)放大,从而变成2个数据。这40个数据和对应于参考光的2个数据合计42个数据对应于通道CH0~CH41的数据。通道CH0~CH47中剩余的6个通道CH42~CH47在第一实施方式中为不使用的预备通道,此通道CH42~CH47的数据未对应于光电转换元件84a或参考光用光电转换元件84b的电信号。
控制单元112具有控制分析装置3运行的功能和获取并储存由A/D转换器111d输出的数字信号(数据)的功能。此控制单元112如图9所示,包括:控制器112a、滤光器旋转监视器112b、电机控制器112c、多路模拟开关控制器112d、自动校正电路接口112e、放大器接口112f、A/D转换器接口112g、记录器用存储器112h、设定用存储器112i、控制器状态寄存器112j和本地总线接口112k。
控制器112a具有将控制单元112的各种控制操作集于一身的功能。滤光器旋转监视器112b用于监视照明单元5的滤光器14是否运转正常。传感器16检测随着滤光器14旋转而通过的原点狭缝14k(参照图5)或普通狭缝14l,将该检测信号输出到滤光器旋转监视器112b。通过滤光器旋转监视器112b监视传感器16输出原点狭缝14k(参照图5)检出信号的时间间隔、传感器16输出普通狭缝141(参照图5)检出信号的时间间隔以及传感器16输出原点狭缝14k检出信号后到再次输出原点狭缝14k检出信号期间普通狭缝14l检出信号的输出次数,来实现对滤光器14是否运转正常的监视。电机控制器112c具有控制驱动滤光器14旋转的电机15旋转次数的功能。多路模拟开关控制器112d具有控制多路模拟开关111a动作的功能。具体而言,多路模拟开关控制器112d控制多路模拟开关111a动作,使数个多路模拟开关111a选择模拟信号的时间各不相同。
控制器112a如图9所示,通过自动校正电路接口112e、放大器接口112f和A/D转换器接口112g分别控制信号处理器111的自动校正电路111b、放大器111c和A/D转换器111d。具体而言,控制器112a通过自动校正电路接口112e向自动校正电路111b提供一定的校正值,并控制自动校正电路111b从数个多路模拟开关111a发出的信号中减去该校正值进行校正处理。控制器112a通过放大器接口112f使放大器111c放大为L放大率和H放大率,并控制放大器111c对自动校正电路111b输出信号的放大处理。控制器112a通过A/D转换器接口112g控制A/D转换器111d对放大器111c输出信号(模拟信号)进行的模数信号转换处理。A/D转换器111d取得的数字信号(数据)通过A/D转换器接口112g和控制器112a输出并存储到记录器用存储器112h。此时,控制器112a通过A/D转换器接口112g控制A/D转换器111d,使数个A/D转换器111d输出数个数字信号时互不重复。
控制器112a在一定信号处理线(L0~L2的某一条)的多路模拟开关111a、自动校正电路111b和放大器111c进行模拟信号处理期间,可以在各信号线L0~L2中的多路模拟开关111a、自动校正电路111b、放大器111c、A/D转换器111d和记录器用存储器112h中切换实施处理,使与该一定信号处理线不同的其他信号处理线的A/D转换器111d进行转换处理、控制单元112进行向记录器用存储器112h存储数据的处理。关于这一点,在下面的分析操作的说明中详述。
记录器用存储器112h用于记录器用存储器112h地址可识别地存储与一定光电转换元件84a输出的模拟信号相应的数字信号(数据)。此记录器用存储器112h如图11所示,由32个128位的区0~31构成。区0~31分别存储对应于5个滤光片14b~14f(参照图5)的透射光的数据和对应于堵塞的孔14j的数据。即,滤光器14每旋转一圈都有对应于反映五种不同透光性的滤光片14b~14f的透射光的数据发生。这5个数据分别被从0区开始依次存储到记录器用存储器112h(参照图11)的每个区。第六个区作为对应于孔14j的数据存储“0”。这样,滤光器14每旋转一圈(约100msec)都有记录器用存储器112h的6个区被使用,直至使用到31区后,又回到0区,以前的数据被覆盖。
记录器用存储器112h的各区0~31各有128个地址,比如,0区有000h~00Fh、010h~01Fh、020h~02Fh、030h~03Fh、040h~04Fh、050h~05Fh、060h~06Fh和070h~07Fh128个地址。而且,000h~05Fh的96个地址存储上述通道CH0~CH47(参照图10)的数据。通道CH0~CH47的各个数据分别存储在2个地址中。如上所述,在第一实施方式,从通道CH42~CH47无数据输出,因此对应于这些通道的地址无存储的数据。
图11所示记录器用存储器112h的0区地址060h~06Fh和070h~07Eh在第一实施方式中为不存储数据的预备地址。另外,0区的最后一个地址07Fh存储滤光片号(0~4)。此滤光片号(0~4)是用于识别五个滤光片14b~14f(参照图5)的号码。滤光片可以通过检测原点狭缝14k通过的时间来识别。对应于这五个滤光片14b~14f的滤光片号(0~4)存储在地址07Fh中,这样就可以知道存储在0区的数据为对应于哪个滤光片(14b~14f)的透射光的数据。
图9所示设定用存储器112i用于存储提供给自动校正电路111b的校正值和提供给放大器111c的放大率(增益率)等设定值。控制器状态寄存器112j用于临时储存有关滤光器14是否正常运转、A/D转换器111d的模数信号转换有无错误、PC主机3b从记录器用存储器112h获取数据的情况以及PC主机3b有无发出开始测定指示等信息。控制单元112可以通过本地总线接口112k和接口116将存储在记录器用存储器112h中的测定用试样的数据(光学信息)输送到PC主机3b。
图9所示控制底板6的放大电路113的作用在于输入参考光用光电转换元件84b(参照图10)通过参考光用前置放大器85b输出的信号并放大该输入信号。此放大电路113如图12所示,由两个电阻113a和113b、一个运算放大器(Operational Amplifier)113c组成。电阻113a的一端输入参考光用前置放大器85b发出的与参考光对应的信号,另一端接运算放大器113c的反相输入端子。电阻113b接在运算放大器113c的输出端子和反相输入端子之间。运算放大器113c的非反相输入端子接地。运算放大器113c的输出分别被输入到信号处理器111(参照图9)的多路模拟开关111a和微分电路114。
控制底板6的微分电路114具有生成对应于来自放大电路113的参考光信号(以下称参考信号)的微分信号的功能。微分电路114如图12所示,由两个电阻114a和114b、两个电容器114c和114d以及一个运算放大器114e组成。电阻114a的一端输入来自放大电路113的参考信号,另一端接电容器114c的一端电极。电容器114c的另一端电极接运算放大器114e的反相输入端子。电阻114b和电容器114d都接于运算放大器114e的输出端子和反相输入端子之间。运算放大器114e的非反相输入端子接地。运算放大器114e的输出通过无图示的比测仪输入到控制单元112(参照图9)的控制器112a。
图9所示控制底板6的温控器115具有通过控制内藏于第二光学信息获取单元80的加热装置(无图示),控制放有反应杯152的反应杯放置处81(参照图1)的温度的功能。温控器115如图9所示,通过接口116根据PC主机3b输入的设定温度(约37°)控制第二光学信息获取单元80的加热装置(无图示)加温操作。
下面参照图2、图3和图13就PC主机3b控制分析装置3的概要进行说明。由于对分析装置3的控制和对扩展用分析装置4的控制相同,因此,在以下说明中,仅就对分析装置3的控制进行说明。
分析系统1的启动从接通信息处理终端3a、分析装置3的装置主机和扩展用分析装置4的电源开始。
接通这些电源后,首先在图13所示步骤S1由PC主机3b进行初始化设定。在此初始化设定步骤中,PC主机3b进行存储软件的初始化和从分析装置3的控制单元112获取后述n时钟的处理等。当接通分析装置3主机电源进行步骤S1的初始化设定时,照明单元5(参照图3)的卤素灯11发光照射,滤光器14开始以10转/秒的旋转速度匀速旋转。卤素灯11发光照射和滤光器14匀速旋转一直持续到分析装置3主机电源切断为止。在步骤S2,进行接受使用者对标本分析信息输入的处理。即使用者用信息处理终端3a(参照图2)的键盘3d向信息处理终端3a的显示器3c上显示的标本分析一览表的标本号和测定项目等栏输入信息。这些标本分析信息保存到PC主机3b中。
在步骤S3,PC主机3b下达分析处理的指示。分析装置3据此进行分析处理。然后,在步骤S4,PC主机3b判断是否接到分析系统1关机的指示。在步骤S4,如果PC主机3b判断没有接到分析系统1关机指示,则返回步骤S2接受使用者输入其他标本分析信息。如果PC主机3b在步骤S4判断接到分析系统1关机指示,则在步骤S5进行关机处理。据此,分析系统1电源自动关闭,分析系统1结束工作。
下面,参照图3、图7~图9、图14和图15,就控制单元112的n时钟计算处理的方法进行详细说明。
如图15所示,在滤光器14(参照图3)匀速旋转中,照明单元5射入参考光用光电转换元件84b(参照图8)的参考光光量变化如作为“参考光光量”所示的波形。图15中的A期指在照明单元5(参照图3)中,旋转中的滤光器14的滤光片14b~14f其中之一配置在卤素灯11发光光路的时间。在此A期,当滤光片14b~14f一点点进入卤素灯11的光路,参考光的光量便开始渐渐增大。当卤素灯11光路尽收滤光片14b~14f之内时,参考光光量达到恒定。然后,当滤光片14b~14f开始离开卤素灯11的光路时,参考光的光量开始渐渐减少,当滤光片14b~14f完全离开卤素灯11光路时,参考光的光量为0。
参考光如图7所示,当被参考光用光电转换元件84b转换成电信号的同时,转换后的电信号被参考光用前置放大器85b和放大电路113放大。放大电路113输出与参考光相应的信号(以下称参考信号),同时此参考信号被输入到微分电路114。然后,微分电路114生成参考信号的微分信号,它具有图15显示为“参考信号的微分信号”的波形。此参考信号的微分信号通过比测仪(无图示)从微分电路114(参照图9)输入到控制单元112。
在图14的步骤S11,控制单元112检测出此参考信号的微分信号达到所定负阈值(+)时的时钟数N1。具体而言,如图15所示,参考信号的微分信号随着参考光光量的增加而增强。当微分信号达到所定正阈值(+)时,作为对其的响应,从微分电路114(参照图9)接收到微分信号的无图示比测仪输出上升为H电平的脉冲信号。这个脉冲信号输入到控制单元112的控制器112a,同时,控制器112a检测出脉冲信号达到H点时的时钟数N1。控制单元112的控制器112a就是这样检测参考信号的微分信号达到所定正阈值(+)时的时钟数N1的。
此后,如图15所示,参考光光量进一步增加,在一定值上达到恒定。随后参考光光量逐渐减少,参考信号的微分信号随之逐渐减弱。在图14的步骤S12,控制单元112检出参考信号的微分信号达到所定负阈值(-)时的时钟数(N2)。具体而言,参考信号的微分信号逐渐减弱,达到所定负阈值(-)时,作为对此的响应,无图示比测仪从微分电路114(参照图9)接收到微分信号,其脉冲信号升至H电平。这一脉冲信号由比测仪输出,传输到控制单元112的控制器112a,控制器112a检测出脉冲信号达到H电平时的时钟数N2。控制单元112的控制器112a就是如此检测参考信号的微分信号达到所定负阈值(-)时的时钟数N2的。
在图14的步骤S13,控制单元112根据N=N2-N1公式计算出从时钟数N1到时钟数N2期间计数的时钟数(N时钟)。在步骤S14,控制单元112用n=(N-m)/2公式计算出用于决定开始获取测定用试样透射光相应信号的时刻的时钟数(n时钟)。在此式中,m时钟为预设的时钟数,以此为控制单元112获取与测定用试样透射光相对应的信号时所需要的适当时间。在第一实施方式中,控制单元112使用不受测定用试样等影响的参考光计算获取对应于透射光的信号的开始时间。从图15可以知道,从时钟N1开始在经过如上计算出的n时钟之后,如果通过多路模拟开关111a仅在m时钟段获取检测器82输出的对应于测定用试样透射光的信号的话,即可获得照明单元5照射光光量稳定期间的信号。
下面参照图1、图2、图5~图11、图13和图16~图18,详细阐述上述图13中的步骤S3的处理过程。首先,在图16的步骤S21,PC主机3b下达一次测定的指示。根据这个指示,上述第一光学信息获取单元70测定标本中的干涉物质。第一光学信息获取单元70获得的光学信息通过控制器74c传送到PC主机3b。
然后,在步骤S22,PC主机3b分析输送来的光学信息,根据分析结果判断经一次测定的标本是否为第二光学信息获取单元80的二次测定对象。如判断该标本并非二次测定对象,则在显示器3c上显示如下信息(步骤S28):标本所含干涉物质影响大,难以进行可靠分析。另一方面,如果在步骤S22判断标本为二次测定对象,则PC主机3b下达吸移标本的指示。根据这个指示,标本分装臂40从运送转盘30上的反应杯152吸移标本。
然后,在步骤S24,PC主机3b下达制备测定用试样的指示。根据这个指示,在分析装置3,标本分装臂40吸移的标本分装到数个反应杯152,同时,试剂分装臂50向上述数个反应杯152内的标本中添加试剂容器(无图示)内的用于凝固血液的试剂,如此制备测定用试样。装有测定用试样的反应杯152由反应杯移送器60移到第二光学信息获取单元80的反应杯放置处81的插孔81a。
在步骤S25,PC主机3b下达二次测定指示。分析装置3据此开始对测定用试样进行二次测定。以下就二次测定进行详细说明。
如上所述,照明单元5向移到插孔81a的反应杯152陆续依次照射5种不同波长特性(340nm、405nm、575nm、660nm及800nm)的光。透过反应杯152的光通过光电转换元件84a、前置放大器85a、多路模拟开关111a、自动校正电路111b、放大器111c和A/D转换器11d转换为数字信号,存储到记录器用存储器112h。
在此,参照图1 就信号处理器111的工作进行说明。
多路模拟开关111a、自动校正电路111b、放大器111c和A/D转换器111d对电信号的处理是在由多路模拟开关111a、自动校正电路111b、放大器111c和A/D转换器111d构成的三条信号处理线L0~L2上部分并行地进行的。即,如图10所示,信号处理线L0上的多路模拟开关111a、自动校正电路111b和放大器111c对电信号的处理与信号处理线L1上的A/D转换器111d的模数转换处理和控制单元112向记录器用存储器112h(参照图9)储存数据的处理是并行的。同样,信号处理线L1上的多路模拟开关111a、自动校正电路111b和放大器111c对电信号的处理与信号处理线L2上的A/D转换器111d的模数转换处理和控制单元112向记录器用存储器112h(参照图9)储存数据的处理是并行的。信号处理线L2上的多路模拟开关111a、自动校正电路111b和放大器111c对电信号的处理与信号处理线L0上的A/D转换器111d的模数转换处理和控制单元112向记录器用存储器112h(参照图9)储存数据的处理是并行的。
这些电信号的部分并行处理如图17所示,依次使用三条信号处理线L0~L2以48μsec为单位进行。具体而言,首先在图17所示步骤S0,在信号处理线L0由多路模拟开关111a进行向通道CH0的切换处理、由自动校正电路111b进行校正处理、由放大器111c进行放大处理。在此步骤S0,信号处理线L1和L2处于电信号稳定等待的状态(等待信号处理),不进行电信号处理。在图17的步骤S1,在信号处理线L1,由多路模拟开关111a进行向通道CH16的切换处理、由自动校正电路111b进行校正处理、由放大器111c进行放大处理。在此步骤S1,信号处理线L0和L2处于电信号稳定等待的状态,不进行电信号处理。
在图17的步骤S2,在信号处理线L0,A/D转换器111d进行的通道CH0的电信号A/D转换处理和向记录器用存储器112h储存数据的处理与信号处理线L2上多路模拟开关111a进行的向通道CH32的切换处理、自动校正电路111b进行的校正处理和放大器111c进行的放大处理并行。在此步骤S2,信号处理线L1处于电信号稳定等待的状态,不进行电信号处理。
在图17的步骤S3,信号处理线L0上多路模拟开关111a进行的向通道CH1的切换处理、自动校正电路111b进行的校正处理和放大器111c进行的放大处理与信号处理线L1上A/D转换器111d进行的通道CH16的电信号A/D转换处理和向记录器用存储器112h储存数据的处理并行。在此步骤S3,信号处理线L2处于电信号稳定等待的状态,不进行电信号处理。
在图17的步骤S4,信号处理线L1上多路模拟开关111a进行的向通道CH17的切换处理、自动校正电路111b进行的校正处理和放大器111c进行的放大处理与信号处理线L2上A/D转换器111d进行的通道CH32的电信号A/D转换处理和向记录器用存储器112h储存数据的处理并行。在此步骤S4,信号处理线L0处于电信号稳定等待的状态,不进行电信号处理。
与上述步骤S2~4处理同样的并行处理在信号处理线L0~L2中边切换进行信号处理的通道边反复进行,直至步骤S49。在步骤S50,在信号处理线L2,由多路模拟开关111a进行向通道CH32的切换处理、由自动校正电路111b进行校正处理、由放大器111c进行放大处理。在此步骤S50,信号处理线L0和L1处于电信号稳定等待的状态,不进行电信号处理。
多路模拟开关111a、自动校正电路111b和放大器111c都会出现信号处理刚结束时输出信号不稳定的情况。在第一实施方式中,为了防止这种不稳定信号用于分析物的分析,特设了上述电信号稳定等待时间。
如上所述,以步骤S0~50这51个步骤进行所有通道CH0~47的电信号处理。这51个步骤的电信号处理在2.45msec(=48μsec×51步)内完成。这51个步骤的电信号处理在后述m时钟的数据获取处理期间内进行一遍。
在向记录器用存储器112h存储数据处理中,如上所述,数据存储在一定的地址内,以便可以特定卤素灯11的光源透过的滤光片和通道。如此存储到记录器用存储器112h的数据在所规定的时间输送到PC主机3b。
在图16的步骤S26,PC主机3b根据在步骤S22获取的第一光学信息获取单元70输出的光学信息(数据)分析结果,从第二光学信息获取单元80输出的波长特性和放大率不同的10种光学信息(数据)、即分别对应于5种滤光片14b~14f的L放大率和H放大率的数据中选择适于分析的光学信息(数据),对该光学信息进行分析。步骤S27向显示器3c输出测定用试样的分析结果(在第一实施方式,图18所示凝固曲线和凝固时间等)。
下面,参照图9、图13、图15、图17和图19就第一实施方式的控制单元112所进行的数据获取处理进行说明。此数据获取处理由PC主机3b发出分析处理指示(步骤S3)开始。
首先,在图19所示步骤S31,由控制单元112(参照图9)进行等待检测出对应于图15的N1的参考信号的微分信号上升沿的处理。一检测出参考信号的微分信号上升沿,控制单元112便在步骤S32等待从检出参考信号的微分信号上升沿时刻起经过初始设定时算出的n时钟。
接着,在步骤S33,控制单元112开始获取三个A/D转换器11d分别输出的数字数据。在步骤S34,控制单元112从获取数字数据开始等待m时钟。m时钟一过,则控制单元112在步骤S35结束数字数据获取处理。在步骤S36,控制单元112判断从PC主机3b接到分析指示后是否过了所定时间。如果所定时间已过,则结束数据获取处理,如果未过,则返回步骤S31的处理。
下面参照图1、图9、图11、图18和图20就第一实施方式的PC主机3b所进行的数据提取处理进行说明。此处理与信息处理终端3a接通电源同时开始。
首先,在步骤S40,PC主机3b监视记录器用存储器112h有无新的数据,等到存储100msec(滤光器14旋转一次)的数据止。具体而言,记录器用存储器112h一存够100msec的数据,控制单元112就会发出通知,因此,PC主机3b等待其发出该通知。在步骤S41,PC主机3b通过接口116和本地总线接口112k从记录器用存储器112h提取其100msec的数据(部分时系列数据)。即,如图11所示,当记录器用存储器112h的0~5区储存了相当于滤光器14转一圈的100msec的数据时,PC主机3b就提取存储在此0~5区的数据。
在步骤S42,PC主机3b判断信息处理终端3a是否接受关机指示。如果没有接受关机指示,则返回步骤S40的处理。如果接受了关机指示,则结束数据提取处理。另外,在步骤S41,如果是第二次提取数据,则提取第一次提取数据的记录器用存储器112h0~5区的后6个6~11区的数据。如此,PC主机3b从记录器用存储器112h提取数据时,总是依次提取每六个区的数据。
另外,PC主机3b选择在步骤S41从记录器用存储器112h提取的数个部分时系列数据中装有测定用试样的反应杯152(参照图1)插入第二光学信息获取单元80插孔81a后的部分时系列数据,按时系列顺序组合起来,生成所需要的时系列数据。然后,PC主机3b根据生成的时系列数据绘制如图18所示凝固曲线。PC主机3b从该凝固曲线求测定用试样的凝固时间。具体而言,在图18所示凝固曲线图中,求透射光强度达到100%和0%中间的50%时的时间t,并以该时间t为起点计算经过时间作为凝固时间。此凝固时间如前所述,在步骤S27(图16)显示在显示器3c。
下面就滤光器14的旋转监视处理进行说明。
控制单元112在滤光器旋转过程中同时并连续进行下述三个监视处理。即使这三个监视处理中有一个发生错误,也会停止滤光器14的旋转。下面,就上述三个滤光器14旋转监视处理的方法进行详细说明。
首先参照图2、图3、图9、图21和图22说明监视检测出原点狭缝14k的时间间隔的处理方法。在第一实施方式中,只要分析装置3(参照图2)接通电源,照明单元5(参照图3)的滤光器14就会不停地匀速旋转。此时,传感器16检测出旋转的滤光器14的狭缝的信号被输入控制单元112(参照图9)的滤光器旋转监视器112b。传感器16检测出狭缝时,将输出图22波形图所示那种上升为ON状态的信号。在图21的步骤S51,滤光器旋转监视器112b根据传感器16输出的信号判断传感器16是否检测到狭缝。当滤光器旋转监视器112b在步骤S51判断传感器16没有检测到狭缝时,滤光器旋转监视器112b再次在步骤S51重复判断传感器16是否检测到狭缝。
另一方面,在图21的步骤S51,当控制单元112的滤光器旋转监视器112b判断传感器16检测出狭缝时,在步骤S52由滤光器旋转监视器112b判断该狭缝是不是原点狭缝14k。此判断是否为原点狭缝14k的处理是根据滤光器旋转监视器112b内的缝宽计算器(无图示)生成的信号进行的。缝宽计算器(无图示)生成图22所示传感器16输出的信号的微分信号。由于原点狭缝14k宽于其他普通狭缝141,故检测到原点狭缝14k时传感器16输出的信号为ON状态的期间比检测到普通狭缝141时传感器16输出的信号为ON状态的期间长。因此,滤光器旋转监视器112b内的缝宽计算器(无图示)生成的微分信号在传感器16检测到原点狭缝14k时比检测到其他普通狭缝14l时上升到更高水平。据此,滤光器旋转监视器112b在检出普通狭缝14l时积分信号的上升沿与检出原点狭缝14k时的积分信号的上升沿之间设定一定的阈值,当积分信号达到该设定阈值时就判断传感器16检测到的狭缝是原点狭缝14k,而积分信号未达到该设定阈值时则判断传感器16检测到的狭缝不是原点狭缝14k(是普通狭缝14l)。
在图21的步骤S52,当判断传感器16检测到的狭缝不是原点狭缝14k时,返回步骤S51。而当判断传感器16检测到的狭缝是原点狭缝14k时,在步骤S53由滤光器旋转监视器112b将传感器16检出原点狭缝14k的时间T1存储起来。接着,在步骤S54,与上述步骤S51同样,由滤光器旋转监视器112b判断传感器16是否检测到狭缝。当滤光器旋转监视器112b在步骤S54判断传感器16没有检测出狭缝时,则重复步骤S54的判断操作。另一方面,当滤光器旋转监视器112b在步骤S54判断传感器16检测出狭缝,则在步骤S55与上述步骤S52同样判断传感器16检测到的狭缝是否为原点狭缝14k。
如果判断传感器16检测到的狭缝不是原点狭缝14k,返回步骤S54的处理。而当步骤S55判断传感器16检测到的狭缝是原点狭缝14k时,则在步骤S56,由滤光器旋转监视器112b存储传感器16检出该原点狭缝14k的时间T(n)。在此,n表示原点狭缝14k检测出的次数。因此,在此,原点狭缝14k的检出次数为2次,故n=2。
接下来,在步骤S57,由滤光器旋转监视器112b计算T(n)-T(n-1)。在此,n=2,因此,滤光器旋转监视器112b是计算T2-T1。即,在步骤S57,计算第一次检出原点狭缝14k的时间T1和第二次检出原点狭缝14k的时间T2之间的时间间隔。在步骤S58,由滤光器旋转监视器112b判断步骤S57算出的时间间隔T2-T1是否在预设的滤光器14旋转一周所需时间间隔的范围内。如果在步骤S58判断时间间隔T2-T1不在所定时间间隔的范围内,则在步骤S59,滤光器旋转监视器112b通过控制器112a向控制器状态寄存器112j输出滤光器14旋转异常这一故障信息。此时,滤光器14被中止旋转。故障信息临时存在控制器状态寄存器112j中。寄存在控制器状态寄存器112j中的故障信息通过本地总线接口112k和接口116输送到PC主机3b。滤光器14旋转异常这一故障信息由PC主机3b显示到信息处理终端3a的显示器3c。
另一方面,在步骤S58,如果判断时间间隔T2-T1在所定时间间隔范围内,则在步骤S60,控制单元112判断是否收到滤光板停止旋转的指示。如果在步骤S60判断未接到滤光器14停止旋转的指示,则返回步骤S54。而如果在步骤S60判断收到滤光器14停止旋转的指示,则滤光器旋转监视器112b监视滤光器14旋转的处理结束。步骤S54~S60的一系列处理反复进行,直至在步骤S60,滤光器旋转监视器112b判断接到停止滤光器14旋转的指示为止。
下面参照图2、图5、图9、图21和图23就控制单元112在滤光器14旋转监视处理中监视分别检测出相邻两个狭缝(原点狭缝或普通狭缝)的时间间隔时的处理过程进行说明。
首先,在图23的步骤S61中,与图21所示步骤S51同样,控制单元112(参照图9)的滤光器旋转监视器112b根据传感器16输出的信号判断传感器16是否检测到狭缝(原点狭缝14k(参照图5)或普通狭缝141)。如果在步骤S61判断传感器16(参照图9)未检测到狭缝,则再次进行步骤S61的处理。而如果判断传感器16检测到狭缝,则在步骤S62滤光器旋转监视器112b存储该狭缝被传感器16检测到的时间t1。
接着,在步骤S63,与上述步骤S61同样,再次判断传感器16是否检测到狭缝的通过。如果在步骤S63判断传感器16未检测到狭缝的通过,则重复步骤S63的处理。而如果在步骤S63判断传感器16检测到狭缝的通过,则在步骤S64,滤光器旋转监视器112b存储该狭缝被传感器16检测到的时间t(n)。在此,n表示传感器16检出狭缝的次数。因此,在此,狭缝的检出次数为2次,故n=2。
接下来,在步骤S65,滤光器旋转监视器112b计算t(n)-t(n-1)。在此,n=2,故滤光器旋转监视器112b实为计算t2-t1。即,在步骤S65计算第一个狭缝的检出时间t1与第二个狭缝的检出时间t2之间的时间间隔。在步骤S66,滤光器旋转监视器112b判断步骤S65算出的时间间隔t2-t1是否在预设的分别检出相邻两个狭缝的所定时间间隔范围内。此时间间隔有两种,一种是从滤光片14f通过后到滤光片14e正常通过所需的第一时间间隔,另一种是从滤光片14b通过到滤光片14f正常通过所需的第二时间间隔。
在步骤S66,若判断时间间隔t2-t1既不在上述第一时间间隔范围内,也不在上述第二时间间隔范围内,则在步骤S67由滤光器旋转监视器112b通过控制器112a向控制器状态寄存器112j输出滤光器14旋转异常的故障信息。此时,滤光器14停止旋转。故障信息临时寄存在控制器状态寄存器112j。寄存在控制器状态寄存器112j的故障信息通过本地总线接口112k和接口116传输到PC主机3b。PC主机3b将滤光器14旋转异常的故障信息显示在信息处理终端3a(参照图2)的显示器3c上。
另一方面,如果在步骤S66判断时间间隔t2-t1在一定时间间隔范围内,则在步骤S68由滤光器旋转监视器112b判断是否收到滤光器14停止旋转的指示。如果在步骤S68判断未接到滤光器14停止旋转的指示,则返回步骤S63。若在步骤S68判断接到滤光器14停止旋转的指示,则中止滤光器旋转监视器112b对滤光器14旋转的监视处理。步骤S61~S68一系列处理反复进行,直至在步骤S68滤光器旋转监视器112b判断接到滤光器14停止旋转的指示。
下面,参照图2、图5、图9、图21和图24说明在第一实施方式的控制单元112进行滤光器14旋转监视处理过程中,监视检出两个原点狭缝14k期间检出的普通狭缝14l数量的处理过程。
首先,在图24的步骤S71,与图21所示步骤S51同样,控制单元112(参照图9)的滤光器旋转监视器112b根据传感器16输出的信号判断传感器16是否检测到旋转的滤光器14(参照图5)的狭缝。当在步骤S71判断传感器16(参照图9)没有检测到狭缝时,再次重复步骤S71的处理。
另一方面,在步骤S71,如果判断传感器16检测出狭缝,则在步骤S72与图21所示步骤S52同样,由滤光器旋转监视器112b判断传感器16检测出的狭缝是不是原点狭缝14k。在步骤S72,如果判断传感器16检测到的狭缝不是原点狭缝14k,就返回步骤S71的处理。而当步骤S72判断检测到的狭缝是原点狭缝14k时,则在步骤S73,由滤光器旋转监视器112b存储传感器16检出原点狭缝14k的信息。
然后,在步骤S74,与上述步骤S71同样,再次进行传感器16检出狭缝的判断。在步骤S74,如果判断未检出狭缝,则再次进行步骤S74的处理。而如果在步骤S74判断检出狭缝,则在步骤S75与上述步骤S72同样,判断检出的狭缝是否为原点狭缝14k。如果在步骤S75判断检出的狭缝不是原点狭缝14k(是普通狭缝14l),则在步骤S76对步骤S75检出的狭缝(普通狭缝14l)计数。之后返回步骤S74。
另一方面,如果在步骤S75判断检出的狭缝是原点狭缝14k,则在步骤S77由滤光器旋转监视器112b存储传感器16检出原点狭缝14k的信息。在步骤S78,由滤光器旋转监视器112b获取步骤S76计数的普通狭缝14l数作为检出两个原点狭缝14k之间检出的普通狭缝14l数。在步骤S79,滤光器旋转监视器112b判断在步骤S78获取的普通狭缝14l数是否为所规定的数(5)。如果在步骤S79判断获取的普通狭缝14l数非所规定的数(5),则在步骤S80,由滤光器旋转监视器112b通过控制器112a向控制器状态寄存器112j输出滤光器14旋转异常的故障信息。此时,滤光器14停止旋转。故障信息临时寄存在控制器状态寄存器112j。寄存在控制器状态寄存器112j的故障信息通过本地总线接口112k和接口116传输到PC主机3b。PC主机3b将滤光器14旋转异常的故障信息显示在信息处理终端3a(参照图2)的显示器3c上。
另一方面,在步骤S79,当判断获取的普通狭缝14l的数量为所规定的数(5)时,则在步骤S81,滤光器旋转监视器112b判断是否接到指示停止滤光器14旋转。如果在步骤S81判断未接到滤光器14停止旋转的指示,则返回步骤S74。而如果在步骤S81判断收到滤光器14停止旋转的指示,则滤光器旋转监视器112b对滤光器14旋转的监视处理结束。步骤S74~S81的一系列处理反复进行,直至在步骤S81滤光器旋转监视器112b判断得到停止滤光器14旋转的指示为止。
在第一实施方式,如上所述,设置有照明单元5,通过实质上匀速旋转有五个不同的滤光片14b~14f的滤光器14,依次替换配置于卤素灯11的光路上的五个滤光片14b~14f,来依次向测定用试样照射不同波长的光。这样,既可以不同于每次切换照射波长都要先停止滤光器14旋转再照射光源的情况,在100msec这样短的时间内频繁切换滤光片14b~14f;也可以避免切换滤光片14b~14f时滤光器14旋转控制装置的复杂化。
在第一实施方式,如上所述,实质上匀速旋转有五个不同的滤光片14b~14f的滤光器14,可以不必将滤光片14b~14f停在卤素灯11光源的光路上,因此,可不必调整滤光片14b~14f相对于卤素灯11光源的光路上的位置。由于不必将滤光片14b~14f停在卤素灯11光源的光路上,也不必使用高定位度的昂贵电机,从而得以提供一种便宜的分析装置。
在第一实施方式,如上所述,由光电转换元件84a检测照明单元5光照分析物所发出的光,同时输出所检光对应的信号,由PC主机3b根据光电转换元件84a输出的信号分析该分析物的特性。这样,仅通过光电转换元件84a和PC主机3b即可轻松地根据照明单元5照射分析物所发出的光分析该分析物的特性。
在第一实施方式,如上所述,当照明单元5向分析物照射透过滤光片14b~14f的光线时由光电转换元件84a检测出这些光线,并输出相应的信号,由控制单元112有选择地从光电转换元件84a获取特定信号,由PC主机3b根据控制单元112获取的特定信号分析该分析物的特性。由此,可以很容易地根据光电转换元件84a在照明单元5向分析物照射透过滤光片14b~14f的光线时所检光的特定信号分析被分析物的特性。
在第一实施方式,如上所述,由控制单元112检测滤光片14b~14f配置于卤素灯11照射的光路上的时间,并根据这一时间开始获取特定信号。这样,可以切实获取滤光片14b~14f配置于卤素灯11的光路时通过分析物所检测出的光的对应光。
在第一实施方式,如上所述,控制单元112从传感器16探测到狭缝时起过一定时间后开始获取特定信号,以此统计检出狭缝后的时间。由此可正确地检测出滤光片14b~14f配置于卤素灯11照射的光路上的时间。
在第一实施方式,如上所述,由控制单元112根据参考光用光电转换元件84b输出的参考信号检测滤光片14b~14f配置于卤素灯11照射的光路上的时间,将此时间与使用透过被分析物照射光的相应信号时的情况进行比较,使滤光片14b~14f轮番配置于卤素灯11发出光光路所造成的光量变化更清晰地表现出来,从而得以更准确地检测出滤光片14b~14f配置于卤素灯11照射的光路上的时间。
在第一实施方式,如上所述,PC主机3b根据标本的特性选择不同波长和放大率的十种光学信息中适于分析的光学信息,对被分析物进行分析。以此提高了PC主机3b对标本特性的分析精度。
在第一实施方式,如上所述,PC主机3b根据控制单元112获取的特定信号绘制时系列数据,并根据制成的时系列数据分析被分析物的特性。由此,分析系统1可以轻松地基于时系列数据分析被分析物的特性。
在第一实施方式,如上所述,PC主机3b是从记录器用存储器112h存储的特定信号每隔一定时间获取一定量的部分时系列数据,并将所获取的部分时系列数据组合成时系列数据的,因此,PC主机3b很容易绘制出时系列数据。
在第一实施方式,如上所述,根据滤光器旋转监视器112b对滤光器14的旋转情况的监视结果来控制滤光器14的旋转,因此得以维持滤光器14的正常旋转。
在第一实施方式,如上所述,滤光器旋转监视器112b根据传感器16的检测结果监视滤光器14是否正常旋转。如此可以轻松地监视滤光器14是否正常旋转。
在第一实施方式,如上所述,PC主机3b通过分析试剂分装臂50将试剂混入被分析物后从装测定用试样的反应杯152(参照图1)插入第二光学信息获取单元80的插孔81a时起到分析物变化为一定凝固状态为止的时间,可以通过透过实质上匀速旋转的滤光片14b~14f的光在一定时间内连续获取大量分析物的光学信息,因此,根据这些大量的光学信息即可正确地分析分析物的凝固时间。
(第二实施方式)
下面,就本发明第二实施方式的分析系统的运行情况进行说明。第二实施方式的分析系统的结构与上述第一实施方式的分析系统1的结构一样,故省略说明。第二实施方式的分析系统不同于上述第一实施方式的分析系统1,不是由控制单元112用参考信号的微分信号获取数据,而是用滤光器14狭缝检出信号获取数据。
下面就第二实施方式的分析系统的初始设定进行说明。第二实施方式的分析系统如下计算检出狭缝到开始获取数据的经过时钟数p。图26为第二实施方式控制器的p时钟计算处理流程图。首先,在滤光器14旋转的状态下,控制单元112(参照图9)根据传感器16输出的信号检测滤光器14检出狭缝时的时钟数N21(步骤S201)。再与上述第一实施方式的步骤S11~S14一样,由控制单元112检测参考信号的微分信号达到一定负阈值(+)时的时钟数N1(步骤S202),检测参考信号的微分信号达到一定负阈值(-)时的时钟数(N2)(步骤S203),再用公式N=N2-N1计算从时钟数N1到时钟数N2之间所计数的时钟数(N时钟)(步骤S204),用n=(N-m)/2公式计算出参考信号上升到开始获取测定用试样透射光的相应信号时的n时钟(步骤S205)。在步骤S206,由控制单元112用P=N1-N21公式计算从检测出狭缝到参考信号上升的时钟数(P时钟)。在步骤S207,由控制单元112用p=P+n公式计算出用于决定开始获取测定用试样透射光的相应信号的时刻的时钟数(p时钟)。如此,在第二实施方式中,用设在滤光器14上的狭缝计算控制单元112开始获取透射光对应信号的时刻。从图27可以看出,从时钟N21过如上计算出的p时钟后,由多路模拟开关111a仅在m时间内获取检测器82输出的与测定用试样透射光对应的信号,即可获得照明单元5发出的照射光光量稳定期间内的信号。
下面就第二实施方式控制单元112进行数据获取处理的情况进行说明。此数据获取处理由PC主机3b下达分析处理指示开始。
图28为第二实施方式的控制器获取数据过程的流程图。首先,在图28所示步骤S231中,由控制单元112根据传感器16输出的信号,判断传感器16是否检测出狭缝。一旦检测出狭缝,则在步骤S232,控制单元112等待从检出狭缝经过初始设定中算出的p时钟。此后的S233~S236的处理同上述第一实施方式中的步骤S33~S36的处理,故省略说明。
关于此第二实施方式的分析系统的其他操作,因均与上述第一实施方式的分析系统1相同,故省略说明。
另外,第二实施方式的效果也与上述第一实施方式相同。
此次公开的实施方式可以认为在所有方面均为例示,绝无限制性。本发明的范围不受上述实施方式的说明所限,仅由权利要求书的范围所示,而且包括与权利要求范围具有同样意义、及范围内的所有变形。
比如,在上述第一和第二实施方式中,检测单元和信号处理单元输出的数据临时寄存在控制单元的记录器用存储卡中,由PC主机依次从存在记录器用存储卡中的数据中获取一定时间内的部分时系列数据。但本发明不限于此,也可以采取不在记录器用存储卡中临时寄存数据而由检测单元或信号处理单元直接向PC主机输出数据的结构。
上述第一实施方式根据参考信号的微分信号计算出开始获取信号的时刻(n时钟),并从参考信号的微分信号达到所定阈值时起,由控制单元开始获取算出的n时钟之后的数据。本发明不限于此,控制单元也可以从预设的时刻开始获取数据。
上述第一实施方式从与参考光对应的参考信号的微分信号上升时刻起经过n时钟后由控制单元开始获取数据。本发明不限于此,也可以从传感器检测出狭缝时刻起经过一定时间后由控制单元开始获取数据。
上述第二实施方式就根据用参考信号进行的初始设定计算p时钟的结构进行阐述,但不限于此,比如既可以预先给出固定的p时钟,也可以由用户自由设定p时钟。
在上述第一实施方式,用滤光器14上的狭缝监视滤光器14的旋转,但不限于此,也可以用参考信号对滤光器14的旋转情况进行监视。比如,也可以如图29所示,在透过一个滤光片(以下称原点滤光片)时的参考光光量与透过原点滤光片以外的其他滤光片(以下称其他滤光片)时的参考光光量不同的情况下,监视参考信号水平,特定原点滤光片的通过(比如如图30所示,使用只有原点滤光片通过时小于参考信号水平、其他滤光片通过时均大于参考信号水平的阈值),计算、测量从原点滤光片通过时到下一个原光滤光片通过时的经过时间,以此监视滤光器14的旋转。
在上述第一和第二实施方式中,以本发明用于凝固测定的分析仪为例进行了说明,本发明不限于此,本发明也可应用于凝固测定以外的需要用有数个波长特性的光的各种测定中使用的分析仪(分析系统)。比如,本发明也可以应用于生化分析仪(分析系统)等。
上述第一和第二实施方式中,信息处理终端与分析仪的仪器主机是分别而设的,但本发明不限于此,也可以将信息处理终端与分析仪主机放在一起。
在上述第一和第二实施方式中,分析仪可以通过扩展用分析仪进行扩展,以便可以应对标本的增加。本发明不限于此,也可以采用分析仪不能通过扩展用分析仪进行扩展的结构。
在上述第一和第二实施方式中,列举了使用从数个光电转换元件输出的数个模拟信号逐一选择、依次输出到自动校正电路的多路模拟开关的例子,但本发明不限于此,也可以使用从数个光电转换元件输出的数个模拟信号中同时选择两个以上模拟信号的模拟信号选择器。

Claims (21)

1.一种分析仪,包括:光照装置,它包含光源和有透光性各异的数个滤光片的可旋转滤光器,通过旋转滤光器依次切换配置在光源光路上的滤光片,在滤光器旋转中将透过滤光片的光照射到分析物上;
分析装置,根据从在所述滤光器旋转过程中受所述光照装置照射的分析物上获得的光学信息,分析该分析物的特性。
2.权利要求1所述分析仪,其特征在于:它还有检测器,在检出所述光照装置照射所述分析物所得光线的同时,输出检出光线的相应信号;
所述分析装置根据所述检测器输出的信号分析所述分析物的特性。
3.权利要求2所述分析仪,其特征在于:本分析仪还有信号获取单元,当所述光照装置将透过所述滤光片的光照射到所述分析物时,由所述光检测器获取与该光检测器检出的光相对应的特定信号;
所述分析装置根据所述信号获取单元获取的特定信号分析所述分析物的特性。
4.权利要求3所述分析仪,其特征在于:所述信号获取单元在检测出所述滤光片配置在所述光源的光路上的同时,开始以该时刻获取所述特定信号。
5.权利要求4所述分析仪,其特征在于:所述滤光器有分别设于对应于所述数个滤光片的一定位置的数个标识,还配有检测该标识的标识检测器。
所述信号获取单元从该标识检测器检出标识时起经过一定时间后开始获取所述特定信号。
6.权利要求4所述分析仪,其特征在于:还包括参考光用光检测器,用于检测所述光照装置不通过所述分析物照射的参考光,并输出检出的所述参考光的相应参考信号;
所述信号获取单元根据所述参考光用光检测器输出的该参考信号,检测所述滤光片配置在所述光源的光路上的时间。
7.权利要求4所述分析仪,其特征在于:所述信号获取单元根据所述光检测器输出的信号,检测所述滤光片配置在所述光源的光路上的所述时间。
8.权利要求3~7中之一所述分析仪,其特征在于:所述信号获取单元获取的特定信号包括所述光照装置透过第一滤光片发出的光照射到前述分析物时所述信号获取单元获取的第一信号和所述光照装置透过第二滤光片发出的光照射到所述分析物时所述信号获取单元获取的第二信号;
所述分析装置根据标本的特性选择所述第一信号或所述第二信号之一,分析所述分析物。
9.权利要求3~8中之一所述分析仪,其特征在于:所述分析装置根据所述信号获取单元获取的特定信号绘制时系列数据,并根据绘制的该时系列数据分析所述分析物的特性。
10.权利要求9所述分析仪,其特征在于:还具备存储所述信号获取单元获取的特定信号的信号存储器,所述分析装置每隔一定时间从所述信号存储器存储的特定信号获取一定量的部分时系列数据,并将获取的所述部分时系列数据组合起来,绘制所述时系列数据。
11.权利要求1~10之一所述分析仪,其特征在于:还具有监视所述滤光器是否正常旋转的监视器。
12.权利要求11所述分析仪,其特征在于:所述滤光器有沿所述滤光器旋转方向隔一定间隔配置的数个开口;
还有传感器检测随该滤光器旋转经过的所述开口;
所述监视器根据所述传感器的检测结果判断所述滤光器是否旋转正常。
13.权利要求12所述分析仪,其特征在于:所述数个开口包括单一的原点开口和形状不同于所述原点开口的普通开口;
所述监视器根据所述传感器检测所述原点开口的结果和所述传感器检测所述普通开口的结果监视所述滤光器是否旋转正常。
14.权利要求1~13之一所述分析仪,其特征在于:还包括将试剂混入所述分析物的试剂混合部分;
所述分析装置分析从所述试剂混合部分将所述试剂混入所述分析物后的一定时间到所述分析物变化为一定状态所需时间。
15.权利要求14所述分析仪,其特征在于:所述一定状态指所述分析物达到一定固态的状态。
16.一种分析仪,包括:
光源;
透光性各异的数个滤光片;
移动数个滤光片,使数个滤光片以一定速度顺序从光源的光路通过的滤光片移动设备;
根据透过滤光片的光源光照射分析物所获得的光学信息分析该分析物特性的分析设备。
17.权利要求16所述分析仪,其特征在于:所述滤光片移动设备包括固定所述数个滤光片的滤光片固定器和旋转所述滤光片固定器的驱动源。
18.权利要求16或17所述分析仪,其特征在于:还包括光检测器,用来检测所述光源光照所述分析物所获得的光,并输出检出光的相应信号;
所述分析装置根据所述光检测器输出的信号分析所述分析物的特性。
19.权利要求18所述分析仪,其特征在于:还包括信号获取单元,用于从所述光检测器获取与透过所述滤光片的光线照射所述分析物时所述光检测器检出的光相应的特定信号;
所述分析装置根据所述信号获取单元获取的特定信号,分析所述分析物的特性。
20.权利要求19所述分析仪,其特征在于:所述信号获取单元检测所述滤光片配置于所述光源光路的时间,并根据该时间开始获取所述特定信号。
21.一种分析仪,包括:光照装置,它包含光源和有透光性各异的数个滤光片的可旋转滤光器,通过旋转滤光器以1秒以内的时间间隔依次切换配置在光源光路上的滤光片,将透过滤光片的光照射到分析物上;
分析装置,根据从光照装置照射的分析物上获得的光学信息,分析该分析物特性。
CN2006800240850A 2005-07-01 2006-06-27 分析仪 Active CN101213437B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005193936 2005-07-01
JP193936/2005 2005-07-01
PCT/JP2006/312783 WO2007004466A1 (ja) 2005-07-01 2006-06-27 分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101213437A true CN101213437A (zh) 2008-07-02
CN101213437B CN101213437B (zh) 2011-10-12

Family

ID=37604335

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2006800240850A Active CN101213437B (zh) 2005-07-01 2006-06-27 分析仪

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7876442B2 (zh)
EP (1) EP1901056B1 (zh)
JP (2) JPWO2007004466A1 (zh)
CN (1) CN101213437B (zh)
WO (1) WO2007004466A1 (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102893161A (zh) * 2010-05-14 2013-01-23 株式会社日立高新技术 自动分析系统以及装置管理服务器
CN104350386A (zh) * 2012-06-11 2015-02-11 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN104730054A (zh) * 2015-04-10 2015-06-24 中国科学院烟台海岸带研究所 一种一体化探头式光电水质多参数在线测量系统
CN107300624A (zh) * 2016-04-15 2017-10-27 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析设备及其样本架运输装置
CN107741533A (zh) * 2012-05-21 2018-02-27 扩音器研究股份有限公司 场分析仪
CN109738393A (zh) * 2019-01-10 2019-05-10 上海奥普生物医药有限公司 光学检测装置及特定蛋白分析仪
CN110730910A (zh) * 2017-06-16 2020-01-24 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN113167996A (zh) * 2018-12-25 2021-07-23 日本电信电话株式会社 光波长选择滤波器模块及光波长选择方法

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2098867B1 (en) * 2008-03-07 2019-12-11 Sysmex Corporation Analyzer and transportation device
JP2010266236A (ja) * 2009-05-12 2010-11-25 Sysmex Corp 試料分析装置
JP5984290B2 (ja) * 2012-07-20 2016-09-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US9645287B2 (en) * 2012-12-17 2017-05-09 Kla-Tencor Corporation Flexible optical aperture mechanisms
CN105745546B (zh) * 2013-03-15 2017-10-13 雅培制药有限公司 具有后面可进入轨道系统的自动化诊断分析仪及相关方法
CN103196833B (zh) * 2013-04-09 2015-01-07 山东博科生物产业有限公司 滤光片多路智能选择装置
WO2015098473A1 (ja) * 2013-12-25 2015-07-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及び分析方法
WO2016130964A1 (en) 2015-02-13 2016-08-18 Abbott Laboratories Decapping and capping apparatus, systems and methods for use in diagnostic analyzers
JP6602873B2 (ja) * 2015-09-11 2019-11-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP6689597B2 (ja) * 2015-11-27 2020-04-28 シスメックス株式会社 血液凝固分析装置
JP6657882B2 (ja) * 2015-12-07 2020-03-04 東洋紡株式会社 検査システム、検査方法、および、検査用プログラム
JP6813953B2 (ja) 2016-02-29 2021-01-13 シスメックス株式会社 血液凝固分析装置および血液凝固分析方法
JP6709241B2 (ja) * 2018-02-26 2020-06-10 株式会社Subaru 診断装置
WO2019204840A1 (de) * 2018-04-23 2019-10-31 Meon Medical Solutions Gmbh & Co Kg Optische messeinheit und optisches messverfahren zur gewinnung von messsignalen von flüssigen medien
CN108872615B (zh) * 2018-04-26 2021-08-06 迪瑞医疗科技股份有限公司 一种耦合式凝血测试系统及方法
CN114787608A (zh) * 2020-04-13 2022-07-22 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 一种抗干扰检测方法及样本分析仪
JP7170026B2 (ja) 2020-12-18 2022-11-11 シスメックス株式会社 血液凝固分析方法および血液凝固分析装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3703336A (en) * 1970-06-12 1972-11-21 Instrumentation Labor Inc Analysis system employing a plural chamber cuvette structure
US3861788A (en) * 1972-08-24 1975-01-21 Neotec Corp Optical analyzer for agricultural products
US4082464A (en) * 1976-10-07 1978-04-04 Neotec Corporation Optical analysis system having rotating filters
JPS5761922A (en) * 1980-10-01 1982-04-14 Toshiba Corp Spectrophotometer
US4477190A (en) * 1981-07-20 1984-10-16 American Hospital Supply Corporation Multichannel spectrophotometer
JPS6017304A (ja) * 1983-07-08 1985-01-29 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 不溶性液の薄膜厚測定法
JPS6188158A (ja) * 1985-09-03 1986-05-06 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置
JP2505190B2 (ja) * 1987-03-03 1996-06-05 オリンパス光学工業株式会社 化学分析装置
JPH01140045A (ja) * 1987-11-26 1989-06-01 Mitsubishi Heavy Ind Ltd インキ乳化検出装置
JPH01145552A (ja) * 1987-12-02 1989-06-07 Olympus Optical Co Ltd 自動分析装置
JPH0297297A (ja) * 1988-09-30 1990-04-09 Mita Ind Co Ltd 駆動系の異常検出装置
JPH04348258A (ja) * 1991-05-27 1992-12-03 Kowa Co 多チャンネル光学測定装置
JPH05240782A (ja) * 1992-02-27 1993-09-17 Shimadzu Corp 油分濃度測定装置
US6743596B1 (en) * 2000-10-27 2004-06-01 Biomerieux, Inc. Method of determining global coagulability hemostatic potential
JP2003083884A (ja) 2001-09-11 2003-03-19 Fuji Photo Film Co Ltd 分析装置における光学測定部の自動調整装置
JP2003090794A (ja) * 2001-09-20 2003-03-28 Furuno Electric Co Ltd 比色吸光度測定装置
US7118916B2 (en) * 2002-10-21 2006-10-10 Lifescan, Inc. Method of reducing analysis time of endpoint-type reaction profiles

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102893161A (zh) * 2010-05-14 2013-01-23 株式会社日立高新技术 自动分析系统以及装置管理服务器
CN102893161B (zh) * 2010-05-14 2015-02-11 株式会社日立高新技术 自动分析系统以及装置管理服务器
CN107741533A (zh) * 2012-05-21 2018-02-27 扩音器研究股份有限公司 场分析仪
CN104350386A (zh) * 2012-06-11 2015-02-11 株式会社日立高新技术 自动分析装置
US11209448B2 (en) 2012-06-11 2021-12-28 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analyzer
CN104350386B (zh) * 2012-06-11 2016-03-30 株式会社日立高新技术 自动分析装置
US9696329B2 (en) 2012-06-11 2017-07-04 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
US10416179B2 (en) 2012-06-11 2019-09-17 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
CN104730054B (zh) * 2015-04-10 2018-08-21 中国科学院烟台海岸带研究所 一种一体化探头式光电水质多参数在线测量系统
CN104730054A (zh) * 2015-04-10 2015-06-24 中国科学院烟台海岸带研究所 一种一体化探头式光电水质多参数在线测量系统
CN107300624A (zh) * 2016-04-15 2017-10-27 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析设备及其样本架运输装置
CN110554209A (zh) * 2016-04-15 2019-12-10 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析设备及其样本架运输装置
CN110554209B (zh) * 2016-04-15 2024-05-03 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 样本分析设备及其样本架运输装置
CN110730910A (zh) * 2017-06-16 2020-01-24 株式会社日立高新技术 自动分析装置
CN113167996A (zh) * 2018-12-25 2021-07-23 日本电信电话株式会社 光波长选择滤波器模块及光波长选择方法
CN113167996B (zh) * 2018-12-25 2023-02-21 日本电信电话株式会社 光波长选择滤波器模块及光波长选择方法
CN109738393A (zh) * 2019-01-10 2019-05-10 上海奥普生物医药有限公司 光学检测装置及特定蛋白分析仪

Also Published As

Publication number Publication date
US20080158552A1 (en) 2008-07-03
JPWO2007004466A1 (ja) 2009-01-29
EP1901056B1 (en) 2015-08-05
US7876442B2 (en) 2011-01-25
WO2007004466A1 (ja) 2007-01-11
CN101213437B (zh) 2011-10-12
JP5520350B2 (ja) 2014-06-11
JP2012252014A (ja) 2012-12-20
EP1901056A1 (en) 2008-03-19
EP1901056A4 (en) 2010-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101213437B (zh) 分析仪
CN101126761B (zh) 凝血分析仪及凝血分析方法
JP4638775B2 (ja) 分析装置
JP5164388B2 (ja) 試料測定装置
US5478750A (en) Methods for photometric analysis
JP4999679B2 (ja) 検体分析装置
EP1840559B1 (en) Blood analyzer and blood analyzing method
CN101151521A (zh) 试样分析方法及试样分析装置
EP1840555A1 (en) Sample analyzer and sample analyzing method
JP3524419B2 (ja) 吸光度測定装置
CN101419156A (zh) 分光光度检测方法与装置以及检测系统
JP5312834B2 (ja) 血液凝固分析装置、血液凝固分析方法、及び、コンピュータプログラム
JPH04130248A (ja) 自動分析装置
JP5312835B2 (ja) 血液凝固分析装置、血液凝固分析方法、及びコンピュータプログラム
CN114417690A (zh) 血液受试体的分析方法、分钟析装置、及分析程序
JP4795733B2 (ja) 分析装置
JP2604043B2 (ja) 自動分析装置
CN115280155A (zh) 一种样本分析装置及方法
JPH0643996B2 (ja) 自動尿検査装置
JPH0677015B2 (ja) 自動尿検査装置
JPH0130100B2 (zh)
JPH0213962Y2 (zh)
JPH01250737A (ja) 自動化学分析装置
JPS62226059A (ja) 自動化学分析装置
JPS63302368A (ja) 自動化学分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant