JPH01140045A - インキ乳化検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、オフセット印刷等において水とインクの乳化
状態を検出するために用いられるインキ乳化検出装置に
関する。

〔従来の技術〕

オフセット印刷では、インキと水のバランスが印刷品質
を変化させるといわれている。長年この点の研究がなさ
れてきた結果、上記バランスは、単にインキと水との量
の比率だけではなく、両者の乳化状態が問題であり、そ
の乳化状態が印刷品質に大きく影響するものと考えられ
るに至っている。しかし、この乳化状態を定量的に検出
し得る手段はいまのところ見当らない。

実運転中のインキ乳化状態を非接触で把握する手段とし
て、顕微鏡等による観察や、インキ中の状態を透視して
内部の状態を観察する等の手段等が考えられる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、顕微鏡等による観察手段では、印刷機の
Ｍ／Ｃ速度が速いので、画像を静止状態で見ることがで
きない。また、インキ中の状態を透視しで観察す、る手
段は技術的に極めて難しく、実現困難である。

そこで本発明の目的は、インキ、湿し水、印刷機材等の
種類及びその調整の変化により左右される乳化状態を、
容易かつ適確に検出できるインキ乳化検出装置を提供す
ることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は上記問題点を解決するために、インキローラ上
でのインキと水の膜厚がほぼ同位相で変動していること
に着目し、その各膜厚の変動と平均値より幾何的に乳化
率（インキ中の水／インキ）と表面水（乳化インキ上の
水）を摘出し、乳化状態を乳化率と表面水とで表示する
ようした。

〔作用〕

このような手段をＪ１ζじたことにより、インキ、湿し
水、印刷機材等の種類及びその調整の変化により左右さ
れる乳化状態を、定量的に捕らえることができ、インキ
乳化状態を、容易かつ適確に検出可能となる。

〔実施例〕

第１図は、本発明を特願昭５８−１２４４１８号に記載
されたインキ膜厚含水率計に適用した一実施例の構成を
示す図である。

光源としては赤外発光体１を用いる。この赤外発光体１
より放射される赤外線は、レンズ２にて集光されたのち
、干渉フィルタ３を通る。干渉フィルタ３にはインキ用
の吸収波長フィルタと、湿し水用の吸収波長フィルタと
、インキや湿し水では吸収されない参照光フィルタの３
種類のフィルタが取付けられている。参照光フィルタは
、ローラ５上での赤外線の吸収による測定値の修正を行
なったり、機械振動による光導管４とローラ５との測定
距離の変動に伴う測定値の修正を行なったりする為に用
いられる。これらの各フィルタは、チオツバ−ホイール
に取付けられており、チオツバ−ホイールの回転により
交互に光軸内に挿入され、光を通過照射するしくみにな
っている。干渉フィルタ３を通過した光は光導管４を通
り、ローラ５上の乳化インキ６（インキと湿し水の混合
液）に照射する。この光の一部は吸収され、残りの光は
反射して光電素子７に集光される。光電素子７では光の
強さが電気信号に変えられ、増幅器８にて増幅されたの
ち、Ａ／Ｄ変換器９に導かれる。

Ａ／Ｄ変換器９には干渉フィルタ３に付設された回転セ
ンサ１０からの回転信号も導入される。かくして干渉フ
ィルタ３の回転に同期して、増幅器８の出力信号のうち
の必要な信号だけが選択抽出されるものとなっている。

このようにして得られた必要な信号は計算機１１にイン
プットされ、インキ膜厚及び水膜厚を計算される。その
計算結果は、表面水と乳化率に変換されたのち、プロッ
タ１２にアウトプットされる。

第２図は、計算機１１にインプットされる？ｆＰＩＪ定
信号から、ブロック１２で表面水と乳化率を表示するま
での計算の流れを表わすフロー図である。

ここでステップ２４におけるインキ水膜厚の演算は、特
願昭５８−１２４４１８号で記述しているとおりのもの
である。ステップ２７における時系列データのＦＦＴ演
算の結果は、第３図に示すようなものとなる。第３図は
実際に計４−１シた実測例を示す図である。この図でわ
かるように、インキローラ５上のインキ膜厚及び水膜厚
の変動は、周波数Ｑ　Ｈｚの点で顕著に生じている。第
３図中、１、は平均のインキ膜厚、Ｗｏは平均の水膜厚
、ＩはＱ　Ｈｚ酸成分変動膜厚、ＷはＱ　Ｈｚ酸成分変
動膜厚を示している。

この様に平均膜厚と、顕著に生じた変動膜厚とに基づい
て、ステップ２８において表面水及びインキ中の乳化率
の演算を行なえば、表面水と乳化率とが得られ、これを
表示することが可能となる。

第４図および第５図は、上記演算によって表面水と乳化
率とが得られ、かつ表示され得ることを示す図である。

第４図は乳化状態を幾何的に表示した図であり、横軸は
時間ｔ、縦軸は膜厚Ｔを示している。そしてＷは表面水
、ｉは単体インキ、ｇは乳化率（インキ中の水／ｉ）、
ｉ＋ｇｉは乳化インキ、１／Ｑは変動の周期を示してい
る。

第５図は、第４図の状態においての水だけの変化を取出
した図である。第５図における下方の波形は乳化インキ
中の水の変化を示し、上方の波形は表面水の変化を示し
ている。ここで、ｇＩｏは乳化インキ中の平均水膜厚、
ｇＩは乳化インキ中の変動水膜厚、Ｗａは表面水の変動
膜厚である。

この様に分解した測定膜厚Ｉ。、Ｗ。、Ｉ、Ｗと、乳化
表示ｆｌｉｔＷａ、ｇの関係式を立るとＡ部：平均の水
膜厚のバランス式 ＷＯ−Ｗａ　＋　ｇ　Ｉ　□ ８部：変動（ＱＨｚ）の水膜厚のバランス式％式％ と表現できる。この連立方程式を解くと、ｇ　＝　（Ｗ
ｏ　−Ｗ）　／　（１０１）及び Ｗａ　−ＷＯ−ｇ　Ｉ　□ となる。かくしてインキローラ５上のインキ膜厚及び水
膜厚の時系列データを用いて所定演算を行なうことによ
り、表面水Ｗａ及びインキの乳化率ｇを表示することが
できる。

なお本発明は前記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能である
のは勿論である。

〔発明の効果〕

本発明によれば、インキの乳化状態が検出されるので、
印刷機の種類あるいはその組合せの選択を定量的に行な
い得、印刷品質と印刷機械の関係を適確に評価すること
が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第５図は本発明の一実施例を示す図で、第１図
は本装置の構成を示す図、第２図は表面水と乳化率を表
示するまでの計算の流れを表すフロー図、第３図は時系
列データの実際の計測例を示す図、第４図は乳化状態の
変化を幾何的に表示した図、第５図は表面水及び乳化イ
ンキ中の水の変化を示す波形図である。 １・・・赤外発光体、２・・・レンズ、３・・・干渉フ
ィルタ、４・・・光導管、５・・・ローラ、６・・・乳
化インキ、７・・・光電素子、８・・・増幅器。 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦 第１図 第３図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. インキや水が赤外線を吸収する性質を利用したインキ膜
   厚及び水膜厚の検出器と、この検出器で検出されたイン
   キ膜厚及び水膜厚の時系列データを用いて各膜厚の変動
   と平均値より幾何的に乳化率（インキ中の水／インキ）
   と表面水（乳化インキ上の水）とを摘出する手段と、こ
   の手段により摘出された乳化率と表面水とに基づいて乳
   化状態を表示する手段とを具備したことを特徴とするイ
   ンキ乳化検出装置。