CN101135714A - 描画式电路基板检查装置 - Google Patents

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清水智久
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Abstract

本发明提供一种描画式电路基板检查装置，其能够防止电极的单方磨损。若接通触点(I)和(N)、断开其它触点，来自恒流源(31)的电流流经触点(I)、探针(11)、电路图案(51)、探针(13)和触点(N)，探针(11)极性为正，探针(13)极性为负。电压测量器测量探针(11)与(13)间的电压，判定装置进行异常/正常的判定。若接通触点(M)和(J)、断开其它触点，来自恒流源的电流流经触点(M)、探针(13)、电路图案(51)、探针(11)和触点(J)，且可使探针(13)极性为正，使探针(11)极性为负。对开关矩阵的极性切换根据控制装置(5)的指令进行，且对应于操作者的指示或其他指令等进行。

Description

描画式电路基板检查装置
技术领域
本发明涉及描画式(なぞり式)电路基板检查装置。
背景技术
作为检查液晶基板等基板的电路图案的短路和开路等的装置，称为“描画式”的检查装置由本申请的申请人通过例如日本专利第2670655号(韩国专利0216240、台湾专利申请83103711)或者日本特开2003-255010号(台湾专利1272391号、中国专利ZL02158683.7、韩国专利申请10-2002-0071934)等提出。
该描画式检查装置构成为在使多个针状的电极(称为“探针”)与电路图案依次接触(描画)的同时，检查多个电路图案的短路和开路等。
在作为检查对象的基板中，液晶面板、有机EL面板和STN面板等中小型液晶显示器用的基板进一步向小型化、高精细化发展，向图案间隔的窄间距化发展。另外，在一块大型玻璃基板等上形成多个电路图案的称为描画“多面安装”的手法也已普及，为了在一次中检查经精细化的大量的图案，逐渐构成为具有多个电极和电源以及检测装置。
随着所述多面安装和图案数量的增加，存在作为描画用电极的探针的磨损也变大的问题，另外，正极侧的探针的磨损大，即所谓的单方磨损的现象逐渐成为问题。当像这样的探针的磨损和单方磨损增加时，不仅探针的更换频率变高，而且还存在在批量生产中途需要更换探针等、导致生产效率降低的问题。
此外，在描画式检查装置中，需要根据作为被测量对象的基板配线的形状来改变探针的配线，但是如上所述，随着多面安装和图案数量的增加，存在以下问题：检查装置的探针的数量也增加，大量的配线和配线确认的作业非常麻烦，而且检查的准备需要时间。
发明内容
本发明以解决这些现有的问题为目的。
为达成上述目的，本发明的描画式电路基板检查装置的特征在于，该描画式电路基板检查装置具有：与被检查对象滑动接触的多个电极；向该电极供给电源的电源；判定该电极之间的导通和非导通的测量装置；以及极性切换装置，其设在所述电极与所述电源之间，对供给向该电极的电源的极性进行切换。
另外，第二方面的本发明的特征在于，该描画式电路基板检查装置具有：与被检查对象滑动接触的多个电极；向该电极供给电源的电源；以及判定该电极之间的导通和非导通的测量装置，所述多个电极并联连接于所述电源，该描画式电路基板检查装置还具有设在所述电极与所述电源之间的开关矩阵。
另外，第三方面的本发明的特征在于，所述描画式电路基板检查装置还具有：升降装置，其使所述电极在上下方向上移动，以使电极与被检查对象接触或者不接触；以及控制装置，其通过所述开关矩阵控制该升降装置，以使不与所述电源连接的电极与被检查对象不接触。
根据本发明的描画式电路基板检查装置，具有以下效果：能够简单地切换电极的极性，且由此能够维持电极的磨损平衡，能够防止电极的单方磨损，无需在批量生产的中途进行电极更换等。
另外，在第二方面的本发明中，除了上述效果之外，由于通过开关矩阵自由切换电极和电源的连接，因此，即使在基板尺寸或电极图案不同的批量中，也无需人工进行配线切换，具有能够缩短准备时间的效果。
此外，在第三方面的本发明中，由于通过利用开关矩阵进行切换能够与不使用的电极不接触，因此能够抑制电极的磨损。
附图说明
图1是表示本发明的一个实施方式的概略主视图。
图2是表示本发明的一个实施方式的探针装置1的说明图。
图3是表示本发明的一个实施方式的探针装置1的概略侧视图。
图4是本发明的一个实施方式的框图。
标号说明
1：探针装置；2：开关矩阵；3：测量装置；4：判定装置；5：控制装置；6：触点控制装置；9：滑动工作台；11：探针；12：探针；13：探针；14：探针；15：探针保持器；16：导向件；17：气缸(air cylinder)；18：前后移动螺钉；19：上下螺钉；30：恒流源；31：恒流源；35：电压测量器；36：电压测量器；50：被检查基板；51：电路图案；52：电路图案；53：短路部。
具体实施方式
以下参照附图对本发明的实施方式进行说明。
图1是表示检查装置A的整体结构的主视图，该检查装置A构成为：将作为检查对象的被检查基板50载置于滑动工作台9上，通过探针装置1与被检查基板50的电路图案51、52接触，从而进行短路和开路的检查。滑动工作台9能够沿附图上的左右方向移动，当其向左方向移动时，构成为探针装置1与电路图案51、52描画地接触来进行检查。因此，附图上的右方向为描画方向(なぞ り方向)。
检查装置A还是极性切换装置，其具有作为开关装置的开关矩阵2、测量装置3以及判定装置4。
如图2所示，探针装置1具有多个探针11，它们与开关矩阵2连接。
如图3所示，各探针11保持在各探针保持器15上。探针保持器15构成为通过气缸17在导向件16上升降，以使各探针11与被检查基板50接触或不接触。另外，19是微调用的上下螺钉。
另外，通过前后移动螺钉18能够使探针11在前后方向(描画方向)上移动，如图4所示，探针11能够在描画方向上错开位置地与被检查基板50接触。
在该实施方式中，探针装置1以四根探针11为一组，通过该4根探针11进行一次检查。
在如图1所示的实施方式中，构成为通过多个探针11同时检查多个被检查基板50，以下，说明通过四根探针11对一个被检查基板50进行检查的实施例。
图4表示框图。
如上所述，该实施方式的探针装置1的四根探针11～14成为一组，而且具有多组，以下仅对一组的结构进行说明。探针11～14经由开关矩阵2与测量装置3连接。另外，一组探针不限定于四根，可以根据需要进行增减。
探针11～13排列在同一直线上，对电路图案5 1的开路进行检查，探针14构成为在描画方向上错开配置，以便与不同于电路图案51的电路图案52接触，该探针14检测电路图案51与电路图案52之间的短路部53。
开关矩阵2构成为具有触点A～触点P的触点，触点A～触点H与测量装置3的恒流源30和电压测量器35连接，触点I～触点P与恒流源31和电压测量器36连接。
电压测量器35和电压测量器36测量两个探针11～14之间的电压，该电压信号被发送到判定装置4，以便对该探针11～14之间的导通/非导通进行检测。
另外，作为开关矩阵2，优选使用光耦合继电器(Photo MOS Relay)等半导体开关。
判定装置4的判定结果被发送到控制装置5，并在这里进行显示、报告或者其他数据处理。控制装置5还根据操作者的指示等输出开关矩阵2的切换指示信号，并通过触点控制装置6执行切换。
探针11～13根据电路图案51的长度使用三根中的两根来检查电路图案51的开路。
现在，说明通过探针11和探针13对电路图案51的开路进行检查的情况。
在开关矩阵2中，如果接通触点I和触点N、断开其它触点，则来自恒流源31的电流流经触点I、探针11、电路图案51、探针13和触点N。此时探针11的极性为正，探针13的极性为负。电压测量器36测量此时的探针11与探针13之间的电压。当在电路图案51上没有缺损部位或断开部位的情况下，则为与电路通常的电阻值所对应的电压，如果有缺损等，则检测电压会变大，因此判定装置4会检测出缺损从而进行异常/正常的判定。
如果在探针11为正极性的状态下继续描画式检查，除了探针11和电路图案51的相互摩擦之外，在正极侧会因电子离子而引起氧化，导致磨损比负极侧增加。由此产生正极侧的电极的磨损大的所谓的“单方磨损”。
在本发明的实施方式中，由于能够通过开关矩阵2简单地切换极性，所以能够防止该单方磨损。即，在开关矩阵2中，如果接通触点M和触点J、断开其它触点，则来自恒流源31的电流流经触点M、探针13、电路图案51、探针11和触点J，而且能够使探针13的极性为正，使探针11的极性为负。
极性切换由触点控制装置6根据来自控制装置5的指令进行，并且对应于操作者的指示或其他指令等进行。
另外，以上关于使用探针11和探针13的情况已进行了说明，在使用探针11和探针12或者使用探针12和探针13的情况下，也通过适当地进行开关矩阵2的开关切换来进行极性的切换。
如上所述，能够根据电路图案51的长度有选择地使用探针11～探针13。例如在图4中，在上述内容中使用了探针11和探针13，但是在电路图案51较短的情况下，通过使用探针11和探针12就能够应对。不仅是极性的切换，像这样的所使用的探针11～13的切换也能够通过开关矩阵2简单地进行。
该切换若为在开关矩阵2中接通触点I和触点L、断开其它触点，则来自恒流源31的电流从触点I流经探针11、电路图案51、探针12和触点L，从而能够检查探针11与探针12之间的电路图案51的开路。
另外，在该情况下，如果接通触点K和触点J，则能够进行极性的切换。
另外，在该实施方式中，对应于开关矩阵2的切换，控制装置5使不使用的探针通过气缸17上升，以使其与基板50不接触。例如在图3中，由于在上述设定中不使用探针12，因此控制装置5向气缸17发出指令，使探针12上升，以使其与基板50不接触。通过该结构，能够排除探针的不必要的磨损。
在图4的实施方式中，还能够进一步使用探针14来检查短路部53的有无。使用该探针14的设定也能够使用开关矩阵2简单地进行。
对通过探针11和探针13对电路图案51的开路进行检查、同时通过探针13和探针14对短路部53进行检查的情况进行说明。
与上述一样，在开关矩阵2中，接通触点I和触点N，来自恒流源31的电流流经触点I、探针11、电路图案51、探针13和触点N，以检查电路图案51的开路。同时，接通触点E和触点H，检查有无短路部53。如果存在短路部53，则来自恒流源30的电流流经触点E、探针13、短路部53、探针14和触点H，由电压测量器35检测到预定的电压，因此能够检查短路部53的存在。
如上所述的探针组和测量装置3的切换在以往通过配线的切换来进行，其作业负担由于探针的大量化和基板尺寸的多样化而增大，但是，通过上述结构，不需要进行人工的配线切换，能够实现大幅度的高效化。
另外，在上述实施方式中，将四根探针作为一组来使用，但并不限定于此，探针的数目、配线的连接关系等根据检查的内容可采用多种多样的方式，所述日本专利第2670655号所公开的检查方法也完全可以。像这样的多种多样的检查能够通过开关矩阵2在无需进行配线切换等的情况下实施。

Claims (3)

1.一种描画式电路基板检查装置，其特征在于，该描画式电路基板检查装置具有：
与被检查对象滑动接触的多个电极；
向该电极供给电源的电源；
判定该电极之间的导通和非导通的测量装置；以及
极性切换装置，其设在所述电极与所述电源之间，对供给向该电极的电源的极性进行切换。
2.一种描画式电路基板检查装置，该描画式电路基板检查装置具有：
与被检查对象滑动接触的多个电极；
向该电极供给电源的电源；以及
判定该电极之间的导通和非导通的测量装置，
所述多个电极并联连接于所述电源，
该描画式电路基板检查装置还具有设在所述电极与所述电源之间的开关矩阵。
3.根据权利要求2所述的描画式电路基板检查装置，所述描画式电路基板检查装置还具有：
升降装置，其使所述电极在上下方向上移动，以使电极与被检查对象接触或者不接触；以及
控制装置，其通过所述开关矩阵控制该升降装置，以使不与所述电源连接的电极与被检查对象不接触。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101937030A (zh) * 2009-06-26 2011-01-05 日本电产理德株式会社 基板检查方法
CN105319476A (zh) * 2014-07-29 2016-02-10 雅马哈精密科技株式会社 印刷基板检查装置以及检查方法
CN105445557A (zh) * 2015-01-04 2016-03-30 宁波英飞迈材料科技有限公司 一种高通量电阻率测试装置
CN112212782A (zh) * 2019-06-25 2021-01-12 合肥欣奕华智能机器有限公司 一种玻璃基板检测方法、装置及系统
CN117753690A (zh) * 2023-12-18 2024-03-26 江苏富乐华功率半导体研究院有限公司 一种自定位式陶瓷基板缺陷检测装置及方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5391819B2 (ja) * 2009-05-14 2014-01-15 日本電産リード株式会社 タッチパネル検査装置
CN105467169B (zh) * 2015-12-17 2018-03-06 中国民航大学 航空发动机电气附件导通性测量回路连接方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0213861A (ja) * 1988-06-30 1990-01-18 Fujitsu Ltd プリント基板布線試験機のフィクスチャー
JPH0654338B2 (ja) * 1989-12-20 1994-07-20 日置電機株式会社 多層プリント配線基板のショート位置検出装置
JPH05343484A (ja) * 1992-06-04 1993-12-24 Oputo Syst:Kk 回路パターン検査装置
JP2670655B2 (ja) * 1992-11-04 1997-10-29 株式会社アドテックエンジニアリング 回路パターン検査装置及び検査方法
JPH08189939A (ja) * 1995-01-10 1996-07-23 Iwaki Electron Corp Ltd プロービング特性試験装置
JP2003279595A (ja) * 2002-01-17 2003-10-02 Murata Mfg Co Ltd 検査装置用測定プローブのクリーニング装置、このクリーニング装置を備える検査装置、および、検査装置用測定プローブのクリーニング方法、ならびに、被検体の検査方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101937030A (zh) * 2009-06-26 2011-01-05 日本电产理德株式会社 基板检查方法
CN101937030B (zh) * 2009-06-26 2013-03-27 日本电产理德株式会社 基板检查方法
CN105319476A (zh) * 2014-07-29 2016-02-10 雅马哈精密科技株式会社 印刷基板检查装置以及检查方法
CN105319476B (zh) * 2014-07-29 2018-05-08 雅马哈精密科技株式会社 印刷基板检查装置以及检查方法
CN105445557A (zh) * 2015-01-04 2016-03-30 宁波英飞迈材料科技有限公司 一种高通量电阻率测试装置
CN112212782A (zh) * 2019-06-25 2021-01-12 合肥欣奕华智能机器有限公司 一种玻璃基板检测方法、装置及系统
CN117753690A (zh) * 2023-12-18 2024-03-26 江苏富乐华功率半导体研究院有限公司 一种自定位式陶瓷基板缺陷检测装置及方法

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