JPH0213861A - プリント基板布線試験機のフィクスチャー - Google Patents
プリント基板布線試験機のフィクスチャーInfo
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- JPH0213861A JPH0213861A JP16439588A JP16439588A JPH0213861A JP H0213861 A JPH0213861 A JP H0213861A JP 16439588 A JP16439588 A JP 16439588A JP 16439588 A JP16439588 A JP 16439588A JP H0213861 A JPH0213861 A JP H0213861A
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- Japan
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- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 14
- 239000004744 fabric Substances 0.000 claims description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 7
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 241001092070 Eriobotrya Species 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
プリント基板布線試験機のフィクスチャーに関し、
プローブが必要以上にプレス機構によって圧縮されるこ
とを防止してプローブ群全体としての寿命を長くするこ
とを目的とし、 プローブ群を複数の小プローブ群に分割し、各小プロー
ブ群をプローブヘッドの互いに独立したブロックに支持
させるとともに、各ブロックをそれぞれ小シリンダを用
いて、プリント基板を装着したプレスプレートに向かっ
て進退可能に支持させ、 あるいは、プレスプレートに試験に供されるプリント基
板に対応する大きさのスペーサを脱着自在に支持させ、
プレスプレート面とプリント基板面の間に所定の間隔を
持たせ、プローブヘッドに支持されたプローブ群のうち
試験に必要とされるプローブ群のみにプレス機構の押圧
力が作用する構成とした。
とを防止してプローブ群全体としての寿命を長くするこ
とを目的とし、 プローブ群を複数の小プローブ群に分割し、各小プロー
ブ群をプローブヘッドの互いに独立したブロックに支持
させるとともに、各ブロックをそれぞれ小シリンダを用
いて、プリント基板を装着したプレスプレートに向かっ
て進退可能に支持させ、 あるいは、プレスプレートに試験に供されるプリント基
板に対応する大きさのスペーサを脱着自在に支持させ、
プレスプレート面とプリント基板面の間に所定の間隔を
持たせ、プローブヘッドに支持されたプローブ群のうち
試験に必要とされるプローブ群のみにプレス機構の押圧
力が作用する構成とした。
本発明は、プリント基板布線試験機のフィクスチャーに
関し、特に、基板に押圧されるプローブ群の全体として
の寿命を長くできるようにしたプリント基板布線試験機
のフィクスチャーに関するものである。
関し、特に、基板に押圧されるプローブ群の全体として
の寿命を長くできるようにしたプリント基板布線試験機
のフィクスチャーに関するものである。
一般に、プリント基板布線試験機は、第5図に示すよう
に、格子状に配設されたプローブ群1を、プレスプレー
ト5に装着されたプリント基板2にプレス機構3によっ
て押圧する構造とを有しており、上記プローブ群1はプ
レス機構3のプローブヘッド4に支持されている。プロ
ーブ群1は通常2.54mm間隔の多数のプローブ10
からなり、各プローブ10は第7図に示すように例えば
前記プローブヘッド4に固定される取付シリンダ11と
、これに進退可能に挿入されたプローブピン12と、プ
ローブピン12を進出付勢するスプリング13からなっ
ている。
に、格子状に配設されたプローブ群1を、プレスプレー
ト5に装着されたプリント基板2にプレス機構3によっ
て押圧する構造とを有しており、上記プローブ群1はプ
レス機構3のプローブヘッド4に支持されている。プロ
ーブ群1は通常2.54mm間隔の多数のプローブ10
からなり、各プローブ10は第7図に示すように例えば
前記プローブヘッド4に固定される取付シリンダ11と
、これに進退可能に挿入されたプローブピン12と、プ
ローブピン12を進出付勢するスプリング13からなっ
ている。
この従来のプリント基板布線試験機においては、押圧時
には、第6図に示すように、プローブヘッド4とプレス
プレート5との間隔Hをプローブ10の自由高さhより
も狭くなるようにしているので、全てのプローブ10の
先端がプレスプレート5あるいはプリント基板2に接触
し、圧縮されることになる。
には、第6図に示すように、プローブヘッド4とプレス
プレート5との間隔Hをプローブ10の自由高さhより
も狭くなるようにしているので、全てのプローブ10の
先端がプレスプレート5あるいはプリント基板2に接触
し、圧縮されることになる。
即ち、試験に使用されないプローブ10もプレス機構3
によって圧縮され、プローブピン12の先端の摩耗、ス
プリング13の劣化等を招き、寿命が短縮されるという
難点がある。
によって圧縮され、プローブピン12の先端の摩耗、ス
プリング13の劣化等を招き、寿命が短縮されるという
難点がある。
本発明は、上記の事情を考慮してなされたものであって
、プローブが必要以上にプレス機構3によって圧縮され
ることを防止してプローブ群全体としての寿命を長くで
きるようにしたプリント基板布線試験機のフィクスチャ
ーを提供することを目的とするものである。
、プローブが必要以上にプレス機構3によって圧縮され
ることを防止してプローブ群全体としての寿命を長くで
きるようにしたプリント基板布線試験機のフィクスチャ
ーを提供することを目的とするものである。
本願第1発明に係るプリント基板布線試験機のフィクス
チャーは、上記の目的を達成するために、例えば第1図
及び第2図に示すように、格子状に配設されたプローブ
群lをプレスプレート5に装着したプリント基板2にプ
レス機構3によって押圧するプリント基板布線試験機の
フィクスチャーにおいて、プローブ群1を分割した小プ
ローブ群1aをプローブヘッド4のブロック4aに支持
させるとともに、各ブロック4aをそれぞれプレス機構
3の機枠に支持させた小シリンダ6aを用いてプレスプ
レート5に向かって進退可能に支持させ、試験に必要な
小プローブ群1aの小シリンダ6aを伸長させることに
より、押圧時に試験に必要な小プローブ群1aのみに押
圧力が作用するように構成したことを特徴としている。
チャーは、上記の目的を達成するために、例えば第1図
及び第2図に示すように、格子状に配設されたプローブ
群lをプレスプレート5に装着したプリント基板2にプ
レス機構3によって押圧するプリント基板布線試験機の
フィクスチャーにおいて、プローブ群1を分割した小プ
ローブ群1aをプローブヘッド4のブロック4aに支持
させるとともに、各ブロック4aをそれぞれプレス機構
3の機枠に支持させた小シリンダ6aを用いてプレスプ
レート5に向かって進退可能に支持させ、試験に必要な
小プローブ群1aの小シリンダ6aを伸長させることに
より、押圧時に試験に必要な小プローブ群1aのみに押
圧力が作用するように構成したことを特徴としている。
また、本願第2発明に係るプリント基板布線試験機のフ
ィクスチャーは、上記の目的を達成するために、例えば
第3図及び第4図に示すように、プローブヘッド4にプ
ローブ群1を支持させる一方、試験に供されるプリント
基板2に対応した大きさのスペーサ8をプレスプレート
5に脱着自在に支持させ、プレスプレート5面とプリン
ト基板2面との間に所定の間隔を持たせ、押圧時に試験
に必要なプローブ群1のみにプレス機構3の押圧力が作
用するように構成したことを特徴としている。
ィクスチャーは、上記の目的を達成するために、例えば
第3図及び第4図に示すように、プローブヘッド4にプ
ローブ群1を支持させる一方、試験に供されるプリント
基板2に対応した大きさのスペーサ8をプレスプレート
5に脱着自在に支持させ、プレスプレート5面とプリン
ト基板2面との間に所定の間隔を持たせ、押圧時に試験
に必要なプローブ群1のみにプレス機構3の押圧力が作
用するように構成したことを特徴としている。
〔作用〕
本願第1発明に係るプリント基板布線試験機のフィクス
チャーにおいては、押圧時に試験に必要な小プローブ群
1aの小シリンダ6aのみを伸長させることにより、試
験に必要のない他の小プローブ群1aをプレスプレート
5に接触させないようにできる。これにより、試験に必
要のない小プローブ群1aのプローブビン12の摩耗や
スプリング13の劣化を減少させることができ、プロー
ブ群1の全体的な寿命を延長することができる。
チャーにおいては、押圧時に試験に必要な小プローブ群
1aの小シリンダ6aのみを伸長させることにより、試
験に必要のない他の小プローブ群1aをプレスプレート
5に接触させないようにできる。これにより、試験に必
要のない小プローブ群1aのプローブビン12の摩耗や
スプリング13の劣化を減少させることができ、プロー
ブ群1の全体的な寿命を延長することができる。
また、本願第2発明に係るプリント基板布線試験機のフ
ィクスチャーにおいては、試験に供されるプリント基板
2の大きさに対応するスペーサ8をプレスプレート5に
脱着自在に固定することにより、試験に必要なプローブ
群1とスペーサ8との間隔を、その他のプローブ群lと
プレスプレート4との間隔よりも狭くすることができ、
これらの間隔の差をプリント基板2の厚さより一定以上
大きく設定しておばば、押圧時に試験に必要なプローブ
群1が基板2に押圧されても他のプローブ群lをプロー
ブヘッド4に接触させないようにできる。これにより、
試験に不要な他のプローブ群1のプローブビン12の摩
耗やスプリング13の劣化を減少させることができ、プ
ローブ群1の全体的な寿命を延長することができる。
ィクスチャーにおいては、試験に供されるプリント基板
2の大きさに対応するスペーサ8をプレスプレート5に
脱着自在に固定することにより、試験に必要なプローブ
群1とスペーサ8との間隔を、その他のプローブ群lと
プレスプレート4との間隔よりも狭くすることができ、
これらの間隔の差をプリント基板2の厚さより一定以上
大きく設定しておばば、押圧時に試験に必要なプローブ
群1が基板2に押圧されても他のプローブ群lをプロー
ブヘッド4に接触させないようにできる。これにより、
試験に不要な他のプローブ群1のプローブビン12の摩
耗やスプリング13の劣化を減少させることができ、プ
ローブ群1の全体的な寿命を延長することができる。
以下、本第1発明の一実施例に係るプリント基板布線試
験機のフィクスチャーを第1図及び第2図に基づき詳細
に説明する。
験機のフィクスチャーを第1図及び第2図に基づき詳細
に説明する。
プローブ群1は、所定の数づつ小プローブ群1aに分割
され、各小プローブ群1aは、例えば約400本のプロ
ーブ10を備え、それぞれ互いに独立したプローブヘッ
ド4のブロック4aに支持されている。また、各ブロッ
ク4aはそれぞれ機枠に固定されたブレス機構3を構成
する小シリンダ6aでプレスプレート5向かって進退可
能に支持されている。更に、上記構成に加えて、小プロ
ーブ群1aのうちプリント基板2に対応する小プローブ
群1aの小シリンダ6aのみをオペレータの指示によっ
て伸長させる図示しない制御装置が設けられている。
され、各小プローブ群1aは、例えば約400本のプロ
ーブ10を備え、それぞれ互いに独立したプローブヘッ
ド4のブロック4aに支持されている。また、各ブロッ
ク4aはそれぞれ機枠に固定されたブレス機構3を構成
する小シリンダ6aでプレスプレート5向かって進退可
能に支持されている。更に、上記構成に加えて、小プロ
ーブ群1aのうちプリント基板2に対応する小プローブ
群1aの小シリンダ6aのみをオペレータの指示によっ
て伸長させる図示しない制御装置が設けられている。
このプリント基板布線試験機のフィクスチャーによれば
、第2図に示すように上記小プローブ群1aのうちプリ
ント基板2に対応する小プローブ群1aの小シリンダ6
のみをオペレータの指示によって伸長させる。これによ
り、押圧時に試験に必要な小プローブ群1aのみが基板
2を押圧し、その他の小プローブ群1aはプリント基板
2にもプレスプレート5にも接触せず、小シリンダ6a
よりなプレス機構3の押圧力が作用しなくなる。
、第2図に示すように上記小プローブ群1aのうちプリ
ント基板2に対応する小プローブ群1aの小シリンダ6
のみをオペレータの指示によって伸長させる。これによ
り、押圧時に試験に必要な小プローブ群1aのみが基板
2を押圧し、その他の小プローブ群1aはプリント基板
2にもプレスプレート5にも接触せず、小シリンダ6a
よりなプレス機構3の押圧力が作用しなくなる。
従って、試験に不必要な小プローブ群1aのプローブl
Oの寿命が摩耗やスプリング13の劣化等によって縮め
られることを防止でき、プローブ群1全体としての寿命
を延長させることができる。
Oの寿命が摩耗やスプリング13の劣化等によって縮め
られることを防止でき、プローブ群1全体としての寿命
を延長させることができる。
第3図及び第4図に示された本願第2発明の一実施例に
係るプリント基板布線試験機のフィクスチャーにおいて
は、ブレス機構3のプローブヘッド4の上面にプローブ
群1が取付られる。また、プレスプレート5の下面には
前後方向に互いに平行に延びる係止突条15が形成され
、試験に供されるプリント基板2に対応した大きさのス
ペーサ8が係止突条15に脱着自在に係止される。スペ
ーサ8の前後動は必要に応じて図示しないネジ等の固定
手段によりプレスプレート5に固定され、更に、該スペ
ーサ8の下面にプリント基板2が取付られる。
係るプリント基板布線試験機のフィクスチャーにおいて
は、ブレス機構3のプローブヘッド4の上面にプローブ
群1が取付られる。また、プレスプレート5の下面には
前後方向に互いに平行に延びる係止突条15が形成され
、試験に供されるプリント基板2に対応した大きさのス
ペーサ8が係止突条15に脱着自在に係止される。スペ
ーサ8の前後動は必要に応じて図示しないネジ等の固定
手段によりプレスプレート5に固定され、更に、該スペ
ーサ8の下面にプリント基板2が取付られる。
第4図に示すように、係止突条15下縁とプローブヘッ
ド4め上面との非押圧時の間隔Hと、係止突条15下縁
からスペーサ8の下面までの高さhb1各プローブ10
のプローブヘッド4上面からの最高高さh、各プローブ
10の伸縮ストロークh、、基板2の厚さtとの間には
次のような関係が与えられている。
ド4め上面との非押圧時の間隔Hと、係止突条15下縁
からスペーサ8の下面までの高さhb1各プローブ10
のプローブヘッド4上面からの最高高さh、各プローブ
10の伸縮ストロークh、、基板2の厚さtとの間には
次のような関係が与えられている。
H−(hh+t)≧h−h、、
H−hb<h。
尚、第3図に示すように、ブレス機構3にはプローブヘ
ッド4を昇降駆動するシリンダ9が設けられる点は従来
と同じである。
ッド4を昇降駆動するシリンダ9が設けられる点は従来
と同じである。
このプリント基板布線試験機のフィクスチャーによれば
、プレス機構3によって基板2を押圧する時に、プロー
ブヘッド4はスペーサ8上に取付られたプリント基板2
の位置に対応する各プローブ10が最小寸法になるまで
上昇されて停止される。この時に、スペーサ8に対応す
るプローブ群1以外のプローブ群1はプレスプレート5
に接触することなく、プレスプレート5との接触による
プローブ10の摩耗やスプリング13の劣化が防止され
ることなる。その結果、プローブ群l全体としての寿命
が延長されることになる。
、プレス機構3によって基板2を押圧する時に、プロー
ブヘッド4はスペーサ8上に取付られたプリント基板2
の位置に対応する各プローブ10が最小寸法になるまで
上昇されて停止される。この時に、スペーサ8に対応す
るプローブ群1以外のプローブ群1はプレスプレート5
に接触することなく、プレスプレート5との接触による
プローブ10の摩耗やスプリング13の劣化が防止され
ることなる。その結果、プローブ群l全体としての寿命
が延長されることになる。
以上のように、本願第1発明によれば、試験に必要とさ
れる小プローブ群のプローブのみをプローブヘッドから
プレスプレート側に小シリンダによって押し出し、必要
とされる小プローブ群のプローブを基板に押圧させる一
方、その他の小プローブ群のプローブをプレスプレート
あるいはプローブヘッドに接触しないようにすることが
できる。
れる小プローブ群のプローブのみをプローブヘッドから
プレスプレート側に小シリンダによって押し出し、必要
とされる小プローブ群のプローブを基板に押圧させる一
方、その他の小プローブ群のプローブをプレスプレート
あるいはプローブヘッドに接触しないようにすることが
できる。
その結果、プローブが必要以上にプレスプレートあるい
はプローブヘッドに接触されなくなり、摩耗やスプリン
グの劣化によってプローブの寿命が短縮されることを防
止でき、プローブ群全体としての寿命を延長できる。
はプローブヘッドに接触されなくなり、摩耗やスプリン
グの劣化によってプローブの寿命が短縮されることを防
止でき、プローブ群全体としての寿命を延長できる。
また、本第2発明によれば、試験に必要とされる小プロ
ーブ群に対応するスペーサをプレスプレートに設けるこ
とにより、基板をスペーサと試験に必要とされる小プロ
ーブ群との間に挟圧する一方、その他の小プローブ群を
プレスプレートに接触しないようにすることができる。
ーブ群に対応するスペーサをプレスプレートに設けるこ
とにより、基板をスペーサと試験に必要とされる小プロ
ーブ群との間に挟圧する一方、その他の小プローブ群を
プレスプレートに接触しないようにすることができる。
その結果、プローブが必要以上にプレスヘッドに接触さ
れなくなり、摩耗やスプリングの劣化によってプローブ
の寿命が短縮されることを防止でき、プローブ群全体と
しての寿命を延長することができる。
れなくなり、摩耗やスプリングの劣化によってプローブ
の寿命が短縮されることを防止でき、プローブ群全体と
しての寿命を延長することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本願第1発明の一実施例に係るプリント基板布
線試験機のフィクスチャーの要部の斜視図、第2図はプ
リント基板押圧時の模式図、第3図は本願第2発明の一
実施例に係るプリント基板布線試験機のフィクスチャー
の要部の斜視図、第4図はその基板押圧時の模式図、第
5図は従来のプリント基板布線試験機のフィクスチャー
の要部の斜視図、第6図はその基板押圧時の模式図、第
7図はプローブの断面図である。 図中、 1・・・プローブ群、 1a・・・小プローブ群、2
・・・基板、3・・・プレス機構、4・・・プローブヘ
ッド、4a・・・ブロック、5・・・プレスプレート、
6・・・小シリンダ、8・・・スペーサ。 3ニア5人利1木1 第14シ計エリ可o7−褒プI覧とイゲリ第1図 、f−竿2を枦の一衷杷伊1 第3図 従来の布祿試謝1欲の軒H叶攬図 第5図 従来イ列の不良式゛図 第6図 10−フ゛のli狛圓 第7図
線試験機のフィクスチャーの要部の斜視図、第2図はプ
リント基板押圧時の模式図、第3図は本願第2発明の一
実施例に係るプリント基板布線試験機のフィクスチャー
の要部の斜視図、第4図はその基板押圧時の模式図、第
5図は従来のプリント基板布線試験機のフィクスチャー
の要部の斜視図、第6図はその基板押圧時の模式図、第
7図はプローブの断面図である。 図中、 1・・・プローブ群、 1a・・・小プローブ群、2
・・・基板、3・・・プレス機構、4・・・プローブヘ
ッド、4a・・・ブロック、5・・・プレスプレート、
6・・・小シリンダ、8・・・スペーサ。 3ニア5人利1木1 第14シ計エリ可o7−褒プI覧とイゲリ第1図 、f−竿2を枦の一衷杷伊1 第3図 従来の布祿試謝1欲の軒H叶攬図 第5図 従来イ列の不良式゛図 第6図 10−フ゛のli狛圓 第7図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 〔1〕格子状に配設されたプローブ群(1)を、プレス
プレート(5)に装着したプリント基板(2)にプレス
機構(3)によって押圧する構成としたプリント基板布
線試験機のフィクスチャーにおいて、プローブ群(1)
を所定の数ごとに分割した各小プローブ群(1a)を互
いに独立したプローブヘッド(4)のブロック(4a)
に支持させるとともに、該各ブロック(4a)を小シリ
ンダ(6a)を用いてプレスプレート(5)に向かって
進退可能に支持させ、試験に必要な小プローブ群(1a
)の小シリンダ(6a)を伸長させることにより、押圧
時に試験に必要な小プローブ群(1a)のみをプリント
基板(2)に押圧できる構成としたことを特徴とするプ
リント基板布線試験機のフィクスチャー。 〔2〕格子状に配設されたプローブ群(1)をプレスプ
レート(5)に装着したプリント基板(2)にプレス機
構(3)によってプローブ群(1)を押圧する構成とし
たプリント基板布線試験機のフィクスチャーにおいて、 プローブヘッド(4)にプローブ群(1)を支持させる
一方、プリント基板(2)の大きさに対応したスペーサ
(8)をプレスプレート(5)に脱着自在に支持させて
、プレスプレート(5)面とプリント基板(2)面との
間に所定の間隔持たせ、押圧時に試験に必要なプローブ
群(1)のみにプレス機構(3)の押圧力が作用するよ
うに構成したことを特徴とするプリント基板布線試験機
のフィクスチャー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16439588A JPH0213861A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | プリント基板布線試験機のフィクスチャー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16439588A JPH0213861A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | プリント基板布線試験機のフィクスチャー |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0213861A true JPH0213861A (ja) | 1990-01-18 |
Family
ID=15792314
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16439588A Pending JPH0213861A (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | プリント基板布線試験機のフィクスチャー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0213861A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6613247B1 (en) | 1996-09-20 | 2003-09-02 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Wavelength-converting casting composition and white light-emitting semiconductor component |
JP2008051727A (ja) * | 2006-08-28 | 2008-03-06 | Adtec Engineeng Co Ltd | なぞり式回路基板検査装置 |
CN102645559A (zh) * | 2011-10-28 | 2012-08-22 | 东风襄樊仪表系统有限公司 | 一种夹具 |
DE102015102740B4 (de) * | 2014-02-28 | 2016-10-27 | Fanuc Corporation | Vorrichtung und Verfahren zum Anordnen von Gegenständen mittels Roboter und Gegenstandübertragungssystem |
-
1988
- 1988-06-30 JP JP16439588A patent/JPH0213861A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6613247B1 (en) | 1996-09-20 | 2003-09-02 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Wavelength-converting casting composition and white light-emitting semiconductor component |
JP2008051727A (ja) * | 2006-08-28 | 2008-03-06 | Adtec Engineeng Co Ltd | なぞり式回路基板検査装置 |
CN102645559A (zh) * | 2011-10-28 | 2012-08-22 | 东风襄樊仪表系统有限公司 | 一种夹具 |
DE102015102740B4 (de) * | 2014-02-28 | 2016-10-27 | Fanuc Corporation | Vorrichtung und Verfahren zum Anordnen von Gegenständen mittels Roboter und Gegenstandübertragungssystem |
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