CH677975A5 - - Google Patents

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CH677975A5
CH677975A5 CH352388A CH352388A CH677975A5 CH 677975 A5 CH677975 A5 CH 677975A5 CH 352388 A CH352388 A CH 352388A CH 352388 A CH352388 A CH 352388A CH 677975 A5 CH677975 A5 CH 677975A5
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
memory
data
bus
circuit
diagnostic
Prior art date
Application number
CH352388A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Guenter Poehnitzsch
Original Assignee
Siemens Ag
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Publication date
Application filed by Siemens Ag filed Critical Siemens Ag
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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/38—Response verification devices
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
CH352388A 1987-09-29 1988-09-23 CH677975A5 (enrdf_load_stackoverflow)

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DE19873732830 DE3732830A1 (de) 1987-09-29 1987-09-29 Schaltungsanordnung zur pruefung der funktionsfaehigkeit einer komplexen schaltung

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CH677975A5 true CH677975A5 (enrdf_load_stackoverflow) 1991-07-15

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH063424A (ja) * 1992-06-22 1994-01-11 Mitsubishi Electric Corp 集積回路装置、および集積回路装置に組込まれるテストデータ発生回路
DE59813158D1 (de) 1997-09-18 2005-12-08 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Testen einer elektronischen Schaltung

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