CH643359A5 - Verfahren zum pruefen von produktproben und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens. - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Prüfen von Produktproben, und eine Anordnung zur Durchführung des Verfahrens.

Unter Verwendung von harter Strahlung arbeitende Prüfsyste-me zur Bestimmung bestimmter Eigenschaften, wie Dicke, Dichte oder Masse einer in hohen Stückzahlen gefertigten Produktprobe sind bekannt. Üblicherweise werden die Produktproben nacheinander zu einer Prüfstation gefördert und dort der harten Strahlung ausgesetzt. Ein Detektor ist so positioniert, dass er die von der Probe normalerweise entweder nicht absorbierte oder zerstreute Strahlung empfängt. Die Strahlungsart hängt von der Art der vorgenommenen Messung ab. Der Detektor liefert ein Signal, repräsentativ für die von ihm empfangene Strahlung, wobei das Signal je nach Art der durchgeführten Messung weiterverarbeitet oder interpretiert werden kann. Der Signalausgang der zur Durchführung des Prüfverfahrens verwendeten Anordnung ist häufig gegenüber Schwankungen anfällig, die als Folge von Veränderungen in der Leistungsversorgung oder auch aufgrund eines Detektordriftens auftreten können, beides üblicherweise herbeigeführt als ein Ergebnis von Temperatur- und Zeitschwankungen. Weitere Ausgangswertschwankungen entstehen durch Veränderungen in der Verstärkung der Signalverstärkungsschleifen und in der Folge von Leistungsversorgungs-schwankungen in Abhängigkeit von Zeit, Temperatur und verketteter Spannung. In bestimmten Anwendungsfällen können diese Schwankungen am Ausgang in etwa der selben Grössen-ordnung liegen, wie die Messwerte des Ausgangssignals der Anordnung für die gemessene Eigenschaft, wodurch ein wesentlicher Fehler erzeugt werden kann. Für entsprechende Korrekturen wurden bei den Vorrichtungen nach dem Stand derTechnik Eichmethoden angewendet, mit denen der Ausgang des Systems von Zeit zu Zeit auf Normwerte bezogen wird. Solche Verfahren können relativ zeitraubend sein, wenn bei wiederholter Eichung das System immer wieder aus seiner Testposition zur Nachstel-lung der Quelle entfernt und eine Nullpunkteichung ausgeführt wird. Auch sind andere Arten der Eichung bekannt. Beispielsweise ist im US-Patent 3 729 632 ein linearisierendes Netzwerk zur Eichung verwendet worden.

Aufgabe dieser Erfindung ist es, ein Verfahren zum Prüfen von Produktproben und eine Anordnung zur Durchführung des Verfahrens vorzuschlagen, wobei das Verfahren ein rasches und automatisches Eichen des Ausgangs der Prüfungsanordnung ermöglichen soll. Ausserdem soll das Verfahren die periodische

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Eichung des Signalausganges der genannten Anordnung ermöglichen, welche zur Messung von in Massenproduktion hergestellten Produktproben harte Strahlung verwendet, ohne dass der Prüfvorgang wesentlich unterbrochen zu werden braucht.

Die erfindungsgemässe Lösung dieser Aufgaben geht aus den Patentansprüchen 1 und 7 hervor. Ausführungsformen des Verfahrens sind durch die abhängigen Ansprüche 2 bis 6 und der Prüfanordnung durch abhängige Ansprüche 9 bis 21 definiert. Der Patentanspruch 22 betrifft eine Anwendung des Verfahrens nach Anspruch 1.

Ausführungsbeispiele, Details und Vorteile der Erfindung werden nachstehend anhand von Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 eine Aufsieht auf eine Ausführungsform einer Produktproben-Prüfanordnung mit einem ein analoges Ausgangssignal liefernden Detektor, nach den Merkmalen der Erfindung;

Fig. 2 eine Querschnittsansicht der Anordnung mit einer Schnittführung längs der Linie 2-2 in Fig. 1, mit einer inspektionsbereit positionierten Produktprobe;

Fig. 3 eine Aufsicht auf eine Ausführungsform einer Produkt-probe-Prüfanordnung mit einem ein digitales Ausgangssignal liefernden Detektor;

Fig. 4 eine teil-perspektivische Schnittansicht nach einer Schnittführung längs der Linie 4-4 in Fig. 1;

Fig. 5 eine Querschnittsansicht der Anordnung bei einer Schnittführung längs der Linie 2-2 in Fig. 1 mit einem untersuchungsbereit positionierten Referenzobjekt;

Fig. 6 ein Blockschaltbild einer vollständigen Anordnung der Analogsignalbauart nach den Merkmalen der Erfindung, und

Fig. 7 ein Blockschaltbild einer vollständigen Anordnung nach der Digitalsignalbauart und den Merkmalen der Erfindung.

In den Zeichnungen werden zur Kennzeichnung gleicher Bauteile übereinstimmende Bezugszeichen verwendet.

Anhand der Zeichnungen wird die vorliegende Erfindung unter Bezugnahme auf eine Ausführungsform einer Prüfanordnung beschrieben, die vorzugsweise einen Teil eines Systems darstellt, mit dem ermittelt wird, ob die Masse einer Produktprobe, wie einer Munitionskartusche oder einer Arzneimittelkapsel innerhalb vorgeschriebener Grenzen liegt. Es ist mithin einleuchtend , dass die Erfindung auch bei anderen Prüfsystemen, wie solche, die zur Ermittlung der Dicke oder Dichte eines Materials verwendet werden, eingesetzt werden kann.

Nach den Fig. 1,2 und 4 umfasst die gezeigte Apparatur im einzelnen ein Gehäuse 12 zur Halterung einer Quelle 14 elektromagnetischer Strahlung, einen Pulsübertrager 16, dem über eine Stromversorgung 18 (in Fig. 6 als Schaltungsblock dargestellt) Energie zugeführt wird und der seinerseits zur Erregung der Quelle 14 dient sowie ein Strahlungsdetektor 20. Das Gehäuse 12 umfasst eine Abstützung22 zur Halterung des Übertragers 16, eine Kammer 24, in der die Quelle 14 abgestützt ist, und eine Öffnung 26, die sich in einer Position befindet, dass ein von der Quelle 14 ausgesandter Strahl 28 aus der Kammer 24 zu einer Prüfstellung 10 hin austreten kann.

Die Quelle 14 ist vorzugsweise eine von mehreren Vorrichtungen zur Erzeugung niederenergetischer Röntgenstrahlung oder niederenergetischer Gammastrahlung, wie eine Röntgenstrahl-röhre (wie z. B. in der McGraw Hill Encyclopedia of Science and Technologie, McGraw-Hill Book Company, Inc. 1960, Vol. 14, Seiten 587-590 illustriert) oder einem mit Americium 241, Gadolinium 143 oder Kobalt 57 angefüllten Behälter. Bei dem in den Fig. 1 und 2 gezeigten Ausführungsbeispiel ist die Quelle 14 eine Röntgenstrahlröhre, die selektiv für eine vorbestimmte Zeitspanne eingeschaltet wird, um eine Produktprobe 8 in der Prüfstellung 10 mit einer vorbestimmten Strahlungsmenge zu bestrahlen. Auch kann, wie dies noch genauer unter Bezugnahme auf die Fig. 3 und 7 beschrieben werden wird, die Quelle 14 von einer Bauart sein, welche den Strahl 28 kontinuierlich aussendet, wobei die Produktprobe 8 sich für eine vorbestimmte

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worin R2, Ry und B ' die vorher angegebenen Bedeutungen haben, mit einer Verbindung der Formel

CH2 = CH-R5

worin R3 die vorher angegebene Bedeutung hat, umsetzt und gegebenenfalls das Produkt in ein pharmazeutisch annehmbares Säureadditionssalz überführt.

15. Verfahren zur Herstellung einer TriazafluoranthenVerbindung der allgemeinen Formel

N

0=1

R

N-A' 2

-R

1*

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! ( B '-COOR

worin bedeuten: R1' Wasserstoff, Phenyloder Cycloalkylmit3 bis 6 Kohlenstoffatomen, R2 Wasserstoff oder Niedrigalkyl, A' Alkylen mit 1 bis 5 Kohlenstoffatomen, und B ' Alkylen mit 1 bis 5 Kohlenstoffatomen, oder eines pharmazeutisch annehmbaren Säureadditionssalzes davon, dadurch gekennzeichnet, dass man eine Verbindung der allgemeinen Formel worin R1', R2, A' und B' die vorher angegebenen Bedeutungen haben, hydrolysiert und gegebenenfalls das Produkt in ein pharmazeutisch annehmbares Säureadditionssalz überführt.

16. V erfahren zur Herstellung eines T riazafluoranthenverbin-dung der allgemeinen Formel f^\

worin R6 Niedrigalkyl darstellt und R1, R2, A' und B' die vorher angegebenen Bedeutungen haben, hydrolysiert und gegebenenfalls das Produkt in ein pharmazeutisch annehmbares Säureadditionssalz überführt.

15 17. Verfahren zur Herstellung einer Triazafluoranthenverbin-dung der allgemeinen Formel

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worin bedeuten: R2 Wasserstoff oder Niedrigalkyl, R3' Wasserstoff, R7 Niedrigalkyl, und B' Alkylen mit 1 bis 5 Kohlenstoffato-30 men, oder eines pharmazeutisch annehmbaren Säureadditionssalzes davon, dadurch gekennzeichnet, dass man eine Verbindung der allgemeinen Formel

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worin R2, R3 und B ' die vorher angegebenen Bedeutungen 45 haben, mit einer Verbindung der Formel

(R7C0)20 oder R7COX

worin X Halogen bedeutet und R7 die vorher angegebene 50 Bedeutung hat, umsetzt und gewünschtenfalls das Produkt in ein pharmazeutisch annehmbares Säureadditionssalz überführt.

18. Arzneimittel, gekennzeichnet durch einen Gehalt an einer Verbindung der allgemeinen Formel

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worin b edeuten: R1' Wasserstoff, Phenyl oder Cycloalkyl mit 3 .bis 6 Kohlenstoffatomen, R2 Wasserstoff oder Niedrigalkyl, A' Alkylen mit 1 bis 5 Kohlenstoffatomen, und B' Alkylen mit 1 bis 5 Kohlenstoffatomen, oder eines pharmazeutisch annehmbaren Säureadditionssalzes davon, dadurch gekennzeichnet, dass man eine Verbindung der allgemeinen Formel

65 worin bedeuten: R1 Wasserstoff, Phenyl, Cycloalkyl mit 3 bis 6 Kohlenstoffatomen, (Niedrigalkoxy)carbonyl, Niedrigalkoxy-oder (Niedrigalkyl)carbonyl, R2 Wasserstoff oder Niedrigalkyl, RJ Wasserstoff, Phenyl, (Niedrigalkoxy)carbonyl, Niedrigalko-

sehe an der ebenfalls nicht vom Strahl erreichten Sortierstelle 78 wieder entfernt werden.

Wahlweise können die Mittel zum Halten einer jeden Kartusche am Drehtisch eine Vakuumeinrichtung umfassen, welche die Produkte am Umfang des Drehtisches 72 hält. Im einzelnen ist gemäss den Fig. 1,2 und 4 jeder Schlitz 74 mit einem Kartuschenaufnahmehalter 80 versehen, der mehrere kleine Löcher 82 besitzt, durch die Luft in ein Rohr 84 eingesaugt werden kann. Jede Kartusche 8 kann über einen zugehörigen Halter durch eine Vakuumbeaufschlagung über die Rohrleitung 84 gehalten werden. Jede Rohrleitung 84 ist mit einem in seiner Betriebslage geschlossenen Druckfreigabeventil 86 versehen. Jedes Ventil 86 wiederum ist auf geeignete Weise mit einem Hebel 88 verbunden, der vorzugsweise in vertikaler Richtung nach abwärts vom Drehtisch absteht, wenn das Ventil 86 geschlossen ist und der mit dem Ventil 86, um es zu öffnen, um einen Schwenkzapfen 90 herum drehbar ist. Jede Rohrleitung 84 steht auf geeignete Weise mit einer nicht gezeigten Vakuumquelle in Verbindung, die zu jedem Aufnahmehalter 80 einen genügend starken Unterdruck liefert, so dass der Halter eine Kartusche ohne Rücksicht darauf, ob die anderen Halter ähnliche Kartuschen enthalten, solange wie das dem speziellen Halter zugeordnete Ventil 86 geschlossen ist, festhalten kann. Wenn das zugehörige Ventil geöffnet ist, wird Luft in die Rohrleitung 84 über einen im Ventil vorgesehenen Lüftungskanal 91 eingesaugt, wodurch die Beaufschlagung der Löcher 82 im zugehörigen Halter mit einem Vakuum verhindert wird, was zu einem Loslassen der Kartusche führt. Es wird betont, dass jeweils der Halter 80, die Rohrleitung 84, das Ventil 86, der Hebel 88 und auch der Drehtisch 72 selbst entsprechend positioniert sind, so dass sämtliche Bauteile ausserhalb des Strahls 28 angeordnet und diesem Strahl nicht ausgesetzt sind, wodurch keine messbare Streustrahlungsmenge dieser Bauelemente vom Detektor 20 ermittelt werden kann.

Andere Arten rotierender Drehtische mit Vakuumeinrichtungen zum Halten von Produkten entlang ihres Umfangs sind beispielsweise aus den US-Patenten 3 366236,3 709 598 und 3 838766 bekannt. Auch sind andere Fördereinrichtungen bekannt. Zum Beispiel kann jede Kartusche auf einem Kettenge-lenkförderer zugeführt werden. Diese Art einer Fördervorrichtung besitzt eine Transportkapazität von bis zu 1200 Kartuschen pro Minute, die sie an der Prüfstelle 10 vorbeifördert. Eine solche Vorrichtung wird bevorzugt mit der Röntgenstrahlungs-Ausführungsform gemäss den Fig. 1 und 2 verwendet. Wenn mit einer derart hohen Prüfrate gearbeitet wird, kann der Förderer so betrieben werden, dass er sich mit einer konstanten Geschwindigkeit bewegt, wobei die Kartuschen durch die Prüfstellung 10 jeweils einzeln hintereinander in vorbestimmten Zeitintervallen hindurchlaufen. Wahlweise kann dann, wenn langsamere Prüfzeiten verlangt werden, wie dies bei den Niedrigaktivitätsquellen gemäss der Ausführungsform in Fig. 3 der Fall ist, die Fördereinrichtung so betrieben werden, dass sie die einzelnen Kartuschen intermittierend bewegt und eine neue Kartusche jeweils dann in die Prüfstellung 10 einführt, wenn der Förderer betätigt wird. Im letztgenannten Fall ist der Motor 73 vorzugsweise ein Schrittmotor, eine Antriebsart, die hinreichend bekannt ist.

Die Kartuschen können an der Ladestelle 76 automatisch am Drehtisch angebracht werden. Beispielsweise können die Kartuschen durch einen entsprechenden Zufahrmechanismus 90, der in Fig. 1 schematisch gezeigt ist, an der Stelle 76 zugeführt werden, wobei dieser Mechanismus ein federbelastetes Magazin sein kann, welches die Kartuschen federnd gegen den Rand des Drehtisches andrückt. Wenn der Drehtisch rotiert, kommt jeder Schlitz 74 mit einer Kartusche in Berührung und das durch den Halter 80 aufgebrachte Vakuum hält die jeweilige Kartusche am Drehtisch, bis sie geprüft ist.

In Fig. 1 ist eine Detektoranordnung vorgesehen, über die festgestellt wird, wenn eine Kartusche in der Prüfstellung positio643 359

niert ist. Dieses System umfasst eine Lichtquelle 92 und einen Lichtstrahlempfänger 94, die aneinander gegenüberliegenden Seiten zu dem von den Kartuschen 8 durch die Prüfstellung 10 genommenen Bewegungsweg angeordnet sind. Der Lichtstrahlempfänger arbeitet in einer bekannten Art und Weise; die Lichtquelle 92 richtet einen Lichtstrahl 96 auf den Lichtstrahlempfänger 94. Wenn sich eine Kartusche in die Prüfstellung 10 hineinbewegt, unterbricht sie den Lichtstrahl 96, so dass der Lichtstrahlempfänger ein Signal zu einem Steuerschaltkreis, z. B. der Einheit 100A in Fig. 6, liefert, welche ihrerseits die Betätigung der Quelle 14 auslöst.

Jede Kartusche, welche die Stellung 10 passiert hat und gemessen ist, kann anschliessend in drei getrennten Gruppen folgendennassen gesammelt werden:

1. Produktproben, deren Masse innerhalb eines vorbestimmten Bereiches liegt;

2. Proben, deren Masse unterhalb des vorbestimmten Bereiches liegt, und

3. Proben, deren Masse oberhalb des vorbestimmten Bereiches liegt.

Wenn die einzelnen Proben, z. B. von Hand, auf das Fördersystem aufgebracht werden, kann die Sortierung ebenfalls manuell vorgenommen werden. Es wird jedoch betont, dass das Sortiersystem auch automatisch arbeiten kann. Als Beispiel ist gemäss Fig. 1 eine automatische Sortiereinrichtung mit zwei Ausschuss-solenoiden 102A und 102B und einem Abnahmestössel 103 versehen. Jedes Solenoid befindet sich unterhalb des Drehtisches 72 und ist selektiv erregbar, derart, dass sein beweglicher Schaft oder Anker in die Bewegungsbahn der einzelnen Hebel 88, wenn diese mit dem Drehtisch 72 mitbewegt werden, hineinragt. Der Stössel 103 ist feststehend angebracht und so positioniert, um die einzelnen Hebel 88, nachdem sie an den Solenoiden vorbeigelaufen sind, abzufangen. Die Hebel verschwenken sich, wenn sie irgendeinen der Schäfte 102 eines erregten Solenoids oder den feststehenden Abnahmestössel 103 berühren, aufgrund dessen das zugehörige Ventil 86 geöffnet und damit die Kartusche freigegeben wird. Es sind zwei voneinander getrennte Gleitrinnen 104A und 104B vorgesehen, um die aufgrund einer Erregung der zugehörigen Solenoide 102A und 102B freigegebenen Kartuschen aufzunehmen sowie eine dritte Gleitrinne 104C, welche die über den Abnahmestössel 103 freigegebenen Kartuschen dann, wenn keines der Solenoide erregt wurde, aufnimmt. Die jeweiligen Gleitrinnen führen zu drei Vorratsbehältern entsprechend der drei Klassifikationsgruppen.

Das bisher beschriebene Prüfsystem ist brauchbar zur Ermittlung der Masse einer jeden Produktprobe 8, die in eine Position in der Prüfstellung 10 gefördert wurde, solange der Ausgang des Detektors 20 genau der Masse der der Strahlung ausgesetzten Probe entspricht. Es können aber für ein und dieselbe Masse Schwankungen am Ausgang des Detektors aufgrund einer Veränderung von Variablen auftreten. Solche Variablen können sein: (1) Schwankungen der von der Strahlungsquelle 14 gelieferten Strahlungsmenge als Folge von Zeit- und Temperaturänderungen; (2) eine durch die Ungleichförmigkeit von Input-Out-put-Kennwerten des Detektors 20 hervorgebrachte Detektordrift als Folge von Zeit- und Temperaturänderungen; (3) Verstärkungsschwankungen der Signalverstärkungsschleifen und (4) Veränderungen der zur Strahlungsquelle 14 und zum Detektor 20 geleiteten Energie, die aufgrund von Zeit, Temperatur und Zeilenspannungsschwankungen auftreten.

Unter Bezugnahme auf Fig. 1 und spezieller auf Fig. 5 wird erfindungsgemäss ein Bezugsobjekt 110 auf dieselbe Weise periodisch geprüft wie jede Produktprobe 8. Da das bislang beschriebene System zur Messung der Masse einer jeden Produktprobe 8 ausgelegt ist, wird das Objekt 110 so ausgestaltet, dass der Bereich des Objektes, der dem Strahl 28 ausgesetzt ist, und der zum Detektor 20 eine zerstreute Strahlung liefert, eine vorbestimmte Masse aufweist. Wie gezeigt, ist das Objekt 110 in

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bekannter Weise an dem Drehtisch 72 des Förderers 70 in einem der Schlitze 74 zwischen zwei Produktproben 8 angebracht. Das Objekt kann z.B. durch Unterdruck in einem der Halter 80 festgehalten bleiben, indem das Freigabeventil 86 unwirksam gemacht wird, was dadurch erfolgen kann, dass entweder das Ventil ganz weggelassen wird oder der Abschnitt des Hebels 88 entfernt wird, der in die Bahn der Schäfte der erregten Solenoide oder des Stössels 103 hineinsteht. Das Objekt kann ein aus den Produktproben 8 ausgesuchtes Objekt mit einer bekannten Masse sein oder es kann eine unterschiedliche Art eines Objektes Verwendungfinden, das aus einem verschiedenartigen Werkstoff gefertigt ist. Beispielsweise sollte dann, wenn Munitionskartuschen mit einer Niedrigenergie-Röntgen- oder Gammastrahlungsquelle untersucht werden, das Objekt 110 aus einem Werkstoff mit niedriger Dichte, wie Aluminium oder Kunststoff, hergestellt sein. Als Kunststoff kann ein Methacrylatester-Poly-mer, welches unter dem Warenzeichen «Lucite» hergestellt wird, Verwendung finden.

Wie in den Fig. 2 und 5 dargestellt, ist eine Bezugsobjektdetektor-Anordnung vorgesehen, um zu ermitteln, wann sich ein von einer Produktprobe 8 unterscheidendes Bezugsobjekt 110 in der Prüfstellung 10 befindet. Diese Anordnung umfasst eine Bezugsobjekt-Lichtquelle 112 und einen Bezugsobjekt-Lichtstrahlemp-fänger 114, die an einander gegenüberliegenden Seiten der Bewegungsbahn, die das Bezugsobjekt 110 durch die Prüfstellung 10 hindurch nimmt, angeordnet sind. Die Quelle 112 und der Empfänger 114 arbeiten in derselben Weise wie die Lichtquelle 92 und der Lichtstrahlempfänger 94, wobei die Quelle 112 einen Lichtstrahl 116 in Richtung auf den Empfänger 114 lenkt. Der Strahl 116 befindet sich in einer Ebene, durch die die Produktproben 8 nicht hindurchtreten, so dass die Proben den Strahl 116 nicht unterbrechen, wenn sie die Prüfstellung 10 passieren. Es sind darum Mittel vorgesehen, dieden Strahl 116 nur dann unterbrechen, wenn sich ein Objekt 110 in der Stellung 10 befindet. Ein solches Mittel kann z. B. ein Abschnitt des Objekts 110 selbst sein, der sich durch die Ebene hindurch erstreckt, in der, wie in Fig. 5 gezeigt, der Strahl 116 verläuft oder es kann wahlweise am Drehtisch 72 ein Objekt wie ein vorstehender Zapfeno. ä. vorgesehen sein. In jedem Fall bewegt sich das Objekt 110 in die Prüfstellung 10, der Strahl 116 wird unterbrochen, so dass der Empfänger 114 ein Signal an den Steuerkreis 100 (vgl. Fig. 6 und 7) liefert, um diesem die Anwesenheit des Bezugsobjekts 110 anzuzeigen. Auch unterbricht das Objekt 110 den Strahl 96, so dass der Lichtstrahlempfänger 94 ein Signal zum Steuerkreis 100 liefert, welches wiederum die Betätigung der Quelle 14 auslöst.

Die Bestrahlung des Bezugsobjekts 110 und der Empfang der Streustrahlung von diesem Objekt über den Detektor 20 findet auf dieselbe Weise statt, wie bei jeder Produktprobe 8, die sich in der Prüfstellung 10 befindet. Der von Detektor 20 gelieferte Signalausgang, welcher nachstehend als Stabilisierungssignal bezeichnet wird, ist repräsentativ für die Masse des bestrahlten Abschnittes des Objekts 110. Im Gegensatz zu Signalen, die über die Bestrahlung einer jeden Produktprobe 8 erhalten werden, wird das Stabilisierungssignal verglichen mit einem Bezugssignal, das einen vorbestimmten Wert besitzt. Wenn die Verstärkung der Anordnung konstant bleibt, wird das Stabilisierungssignal gegenüber diesem Bezugssignal im wesentlichen konstant bleiben. Wo die Verstärkung der Anordnung jedoch schwankt, kann ein Vergleich des Stabilisierungs- mit dem Bezugssignal zur Regelung der Systemverstärkung verwendet werden. Diese Verstärkungsregelung der Anordnung wird zwischen jeder Stabilisierungsmessung durch den Einsatz eines Integrationsverfahrens konstant gehalten.

Das Vorstehende wird mit dem Verständnis der Steuerschaltkreise 100A (Fig. 6) und 100B (Fig. 7) und deren Wirkungsweise einsichtiger.

In Fig. 6 ist ein Steuerschaltkreis 100A dargestellt, der für einen Detektor, der einen Analogsignalausgang liefert, verwendbar ist. Die Anordnung umfasst eine Einrichtung zum Messen der Masse einer jeden Produktprobe 8 und klassifiziert im Anschluss daran jede Probe entsprechend ihrer gemessenen Masse sowie eine Anordnung 106A zur Stabilisierung der Systemverstärkung. Im einzelnen ist die Leistungszufuhr 18 mit dem Impulsübertrager 16, dem Strahlungsdetektor 20 und den Lichtquellen 92 und 112 verbunden. Der Lichtstrahlempfänger 94 steht mit der Lichtquelle 92 durch den Lichtstrahl 96 in Verbindung und liefert ein Ausgangssignal an eine Kippschaltung 146. Der Ausgang der Kippschaltung 146 ist mit dem Impulsübertrager 16 verbunden, der seinerseits mit der Strahlungsquelle 14 in Verbindung steht. Kippschaltungen sind in der Fachwelt hinreichend bekannt. Die Kippschaltung 146 arbeitet so, dass dann, wenn der Lichtstrahl 96 unterbrochen und der Detektor 94 ein Ausgangssignal zu der Kippschaltung liefert, diese einen Ausgangsimpuls an den Übertrager 16 gibt. Dies bewirkt, dass die Quelle 14 kurz erregt wird, wodurch für eine kurze Zeitspanne, z. B. 5 msek der Strahl 28 von der Röntgen-strahlröhre erzeugt wird. Der Detektor 20 stellt eine durch die in der Prüfstellung 10 abgesetzte Produktprobe zerstreute Strahlung fest. Der Detektor 20 arbeitet vorzugsweise in einer Strombetriebsart und liefert mithin einen analogen Stromausgang von gebündelter Energie, deren Grösse für die Masse der in der Stellung 10 abgesetzten Produktprobe indikativist. In einer bekannten Art und Weise wird dieses Stromausgangssignal von einem Integrator 148 integriert, um ein Signal zu liefern, dessen Grösse die vom Detektor 20 empfangene Strahlungsenergiemenge repräsentiert und damit ein Mass für die Masse der Produktprobe in der Prüfstellung 10. Auch sind Integratoren in der Fachwelt hinreichend bekannt und werden mithin nicht mehr beschrieben. Beispielsweise kann der Integrator ein RC-Glied enthalten, indem die Energiemenge im Ausgangssignal des Detektors 20 in einer Kapazität gespeichert und in Form einer Spannung gemessen wird. Der Signalausgang des Integrators 148 ist mit dem Eingang eines Verstärkers 150 verbunden, der seinerseits über eine Schaltanordnung 152 ein Signal zu einem ersten bzw. einem zweiten Komparator 154 bzw. 160 liefert. Die Schalteranordnung 152 ist normalerweise geschlossen, d.h. der Ausgang des Verstärkers 150 ist mit dem Eingang des ersten und des zweiten Komparators verbunden, solange keine Messung der Masse des Bezugsobjektes stattfindet. In diesem Fall wird ein Signal vom UND-Gatter 172 der Stabilisierungsanordnung 106 A (die im einzelnen nachstehend noch beschrieben wird) erhalten, wodurch die Schalteranordnung 152 geöffnet wird, so dass der Ausgang des Verstärkers 150 mit keinem der Komparatoren verbunden ist. Wenn die Schalteranordnung 152 geschlossen ist, wird das über den Verstärker 150 verstärkte Signal mit einem niedrigeren Bezugssignal verglichen, das von einer niedrigeren Bezugsquelle 156 geliefert wird. Das niedrigere Bezugssignal ist repräsentativ für die untere Grenze des Bereiches von akzeptierbaren Massen zuzüglich der Masse irgendeiner Umgebungsstruktur , die vom Strahl 28 bestrahlt wird und auch, wenn es angebracht ist zuzüglich der durchschnittlichen Masse eines jeden Behälters, in dem die gemessene Produktmasse enthalten ist, z. B. die Produktmasse im Leerzustand. Dieses niedrigere Bezugssignal wird in geeigneter Weise, z. B. durch ein Abgreifen einer geeigneten Spannung oder eines Stromes von einem einstellbaren Spannungs- oder Stromteilernetzwerk erzeugt und sein Ende wird auf dasselbe Potential gelegt wie auch der Ausgang des Integrators 148 während derBestrahlung eines Produktbehälters durch den Strahl 28 in der Prüfstellung 10.

Wenn die Grösse des vom Integrator 148 und dem Verstärker 150 gelieferten Signals geringer ist als das untere Bezugssignal, steht am Ausgang des ersten Komparators 154 ein Ausstosssignal an. Das Ausstosssignal kann derBedienungsperson in Form einer Einzellichtanzeige (nicht gezeigt) mitgeteilt werden oder

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über einen Verzögerungskreis 158 entsprechend verzögert werden, um das Solenoid 102A zu erregen und die Produktprobe vom Karussell freizugeben, wenn sie sich neben der Gleitrinne 104A befindet, die zu einem Vorrat führt, der diese Kartuschen mit einer ungenügenden Pulvermenge aufnimmt. Wenn hingegen das vom Verstärker 150 gelieferte Signal gleich ist dem von der unteren Bezugsquelle 156 bestimmten unteren Bezugssignal oder oberhalb dieses Bezugssignals liegt, wird der Komparator 154 kein Ausstosssignal liefern und das Solenoid 102A wird nicht erregt.

Der Ausgang des Verstärkers 150 ist auch an den zweiten Komparator 160 angeschlossen, wo der Verstärkerausgang mit einem von einer oberen Bezugssignalquelle 162 kommenden oberen Bezugssignal verglichen wird. Das von der Quelle 162 gelieferte obere Bezugssignal ist repräsentativ für die maximal annehmbare Masse des Materials, welches in irgendeiner Produktprobe enthalten ist, einschliesslich der durchschnittlichen Masse irgendeiner Umgebungsstruktur und, falls notwendig, der Masse des Behälters. Wenn die Grösse des am zweiten Komparator 160 angenommenen Eingangssignals oberhalb des oberen Bezugssignals liegt, liefert der Komparator 160 ein Ausstoss-Ausgangssignal zu einem geeigneten Sichtanzeiger (nicht dargestellt) für die Bedienungsperson oder zu einem Verzögerungskreis 164, der seinerseits das Solenoid 102B erregt, um die Probe dann, wenn sie sich neben der Gleitrinne 104B befindet, freizugeben, so dass sie über die Gleitrinne zu einem Vorrat gelangen kann, der solche Proben mit einer zu grossen Materialmenge aufnimmt. Wenn jedoch das vom Verstärker 150 gelieferte Signal gleich ist dem von der oberen Bezugssignalquelle 162 gesetzten oberen Bezugssignal oder unterhalb dieses Signals liegt, wird der Komparator 160 kein Ausstosssignal liefern und das Solenoid 102B wird nicht erregt.

Wenn andererseits der verstärkte Signaleingang zum zweiten Komparator 160 unterhalb des von der Quelle 162 gelieferten oberen Bezugssignals liegt, kann dies der Bedienungsperson als eine akzeptable Probe über eine geeignete Anzeige (nicht dargestellt) mitgeteilt werden, die über ein über den Ausgang beider Komparatoren erzeugtes Signal betrieben wird. Vorzugsweise wird, wie dargestellt, dann, wenn das Signal oberhalb des über die Quelle 156 erzeugten unteren Bezugssignals liegt oder gleich gross wie dieses Bezugssignal ist und unterhalb des über die Quelle 162 erzeugten oberen Bezugssignals ist oder gleich ist wie dieses Bezugssignal, keines der Solenoide 102A und 102B erregt und der Hebel 88 wird durch den Schaft 103 berührt und verschwenkt, wenn er an den Solenoiden 102A und 102B vorbeigedreht ist, um die Probe freizugeben, wenn sie sich neben der Gleitrinne 104C befindet, die zu einem Vorrat zur Aufnahme von akzeptablen Proben führt. Es ist einsehbar, dass dann, wenn ein automatisches Sortiersystem vorgesehen ist und mehrere Proben zwischen den laufenden geprüften Proben und den zu sortierenden Proben angeordnet sind, auch andere geeignete Einrichtungen anstelle der Verzögerungskreise 158 und 162 Verwendung finden können. Beispielsweise kann eine elektrische Speicheranordnung wie ein Speicherregister verwendet werden, um die Klassifizierung einer bestimmten Probe, bis sie sortierbereit ist, zu speichern. Die Anzahl der in einem solchen Schieberegister gespeicherten Signale wird gleich sein der Anzahl von Proben zwischen der geprüften und der zu sortierenden Probe. Diese Signale werden gespeichert und nacheinander weitergeschoben, so dass die Probe an der Sortierstelle 28 richtig sortiert werden kann. Wahlweise kann auch eine mechanische Einrichtung, wie ein Nockentrieb vorgesehen sein, welche so zugeordnet ist, dass sie jeder Probe nachfolgt und ihre Freigabe in die geeignete Gleitrinne vornimmt.

Die Anordnung 106 A zur Stabilisierung der Systemverstärkung wird nun beschrieben. Der Ausgang der Kippschaltung 146 ist mit dem Eingang eines OD ER-Gatters 170 und einem Eingang eines Univibrators 168 verbunden, während der Ausgang

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des Univibrators mit einem zweiten Eingang des ODER-Gatters 170 in Verbindung steht. Univibratoren sind in der Fachwelt bekannt und liefern im allgemeinen einen Impuls einer vorbestimmten Dauer, wenn an ihren Eingang ein Puls angelegt wird. Somit liefert der Univibrator 168 einen positiven Impuls einer vorbestimmten Dauer, wenn ein Puls von der Kippschaltung 146 geliefert wird. Auch sind ODER-Gatter hinreichend bekannt und liefern im allgemeinen ein hohes Logiksignal an ihrem Ausgang, wenn an irgendeinem oder an beiden seiner Eingänge ein hohes Signal ansteht und ein niedriges Logiksignal nur dann, wenn sämtliche Eingänge auf einem niedrigen Logikniveau liegen. Der Ausgang des ODER-Gatters 170 ist mit einer zweiten Schalteranordnung 176 verbunden, welche ihrerseits mit dem Ausgang des Integrators 148 in Verbindung steht und ausserdem auf Nullpotential liegt, um den Integrator 148 zu löschen, nachdem jede Produktprobe 8 in der Prüfstellung 10 untersucht wurde und bevor die Prüfung der nächsten Probe erfolgt. Die Schalteranordnung 176 ist üblicherweise geschlossen (und legt dabei den Ausgang des Integrators 148 auf Null-Potential), wenn der Eingang zur Schalteranordnung vom ODER-Gatter 170 niedrig ist und geöffnet (so dass der Ausgang des Integrators 148 am Eingang des Verstärkers 150 liegt), wenn der Ausgang des ODER-Gatters 170 ein hohes Signal aufweist.

Der Ausgang des Univibrators 168 ist zusätzlich mit einem Eingang des UND-Gatters 172 verbunden (welches seinerseits mit seinem Ausgang an eine dritte Schalteranordnung 178 angeschlossen ist) und mit dem Rest-Eingang eines RS-Flip-Flops 174 (dessen Ausgang mit einem zweiten Eingang des UND-Gatters 172 verbunden ist). Der Set-Eingang des RS-Flip-Flops 174 ist so geschaltet, dass er das Ausgangssignal vom Bezugsobjekt-Lichtstrahlempfänger 114empfängt, welcher mit der Lichtquelle 112 über den Lichtstrahl 116 in Verbindung steht. Der Ausgang des RS-Flip-Flops 174 nimmt ein hohes Logiksignal an, wenn der Anfang (bei positiver Übertragungsfunktion) des Ausgangssignals des Bezugsobjekt-Detektors am Set-Eingang des Flip-Flops ankommt und bleibt solange hoch, bis das Ende (negativer Übertragungsfunktion) des Impulsausgangs des Univibrators 168 am Rest-Eingang empfangen wird, worauf der Ausgang des Flip-Flops niedrig wird.

Der Ausgang des Verstärkers 150 ist mit einem Eingang eines Differentialverstärkers 180 verbunden. Der andere Eingang des Verstärkers 180 ist an einen Referenzspannungspegel VI angeschlossen, dessen Spannungspegel repräsentativ für die Masse des Bezugsobjektes ist, wenn die Anordnung im wesentlichen stabilisiert ist. Der Verstärker 180 vergleicht die beiden an die Eingänge angelegten Spannungssignale und liefert ein Fehlersignal am Ausgang, das repräsentativ ist für die Differenz zwischen den beiden Eingängen. Der Ausgang des Verstärkers 180 ist mit dem Eingang der dritten Schalteranordnung 178 verbunden, welche wiederum mit ihrem Ausgang an einen Integrationskreis 182 mit einer festen Zeitkonstante angeschlossen ist. Die Integratorzeitkonstante wird über den mittleren Widerstand 183 gesteuert, ausser während der anfänglichen Stabilisierung der Anordnung, wo die Dioden 186A und 186B betrieben werden, was zu einer Verringerung der Integratorzeitkonstante führt. Die dritte Schalteranordnung 178 liefert einen geschlossenen Weg zwischen dem Ausgang des Verstärkers 180 und dem Integratorkreis 182, wenn der Ausgang des UND-Gatters 172 ein hohes Signal führt. Wenn der Ausgang des UND-Gatters 172 jedoch niedrig ist, wird der Weg zwischen dem Verstärker 180 und dem Integratorkreis 182 offen geschaltet. Der Ausgang des Integrationskreises 182 ist mit dem Eingangeines Integrators 184 verbunden und dient zur Beschleunigung des Integrationsvorgangs, wenn vom Verstärker 180 ein Fehlersignal geliefert wird, welches vergleichsweise gross ist. Der Integrator 184 bewirkt einen wesentlichen Ausgleich des vom Verstärker 180 gelieferten Fehlersignals für jede Bezugsobjektmessung, um dadurch im wesentlichen auszuschliessen, dass Hochfrequenz-Einschwingvorgänge stattfinden, die eine sehr

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geringe Signalenergie vom Fehlersignal besitzen. Der Ausgang des Integrators 184 ist an einen Hochspannungs-Gleichspan-nungswandler 188 angelegt, dessen Ausgang vorzugsweise an die Anode des Detektors 20 angeschlossen ist, um somit die Verstärkung des Detektors 20 zu regeln.

Die Stabilisierungsanordnung 106A umfasst vorzugsweise auch eine Eichabweichanzeigeschaltung 190, die der Bedienungsperson angibt, wenn der Schaltkreis 106A die Verstärkung des Systems nicht stabilisiert. Im einzelnen ist der Ausgang des Verstärkers 150 mit je einem Eingang der Komparatoren 192 und 194 verbunden. Die Bezugseingänge der Komparatoren 192 und 194 werden so gelegt, dass sie um den gesamten Betrag einer annehmbaren Drift differieren. Somit liegt der unter Bezugseingang des Komparators 192 auf dem kleinsten akzeptierbaren Pegel des Signalausgangs des Verstärkers 150, wenn die Masse des Bezugsobjekts gemessen wird, während der obere Bezugseingang eines Komparators 194 die obere Grenze des Verstärkerausgangs 150 angibt, wenn die Masse des Bezugsobjekts gemessen wird. Wenn beispielsweise nur grosse Fehler angesprochen werden sollen, z. B. ein 3 %-Fehler, werden die Bezugsspannungspegel der Eingänge der Komparatoren 192 und 194 so weit auseinandergelegt, dass sie eine 3 %ige Drift in der Systemverstärkung erlauben. Die Ausgänge der Komparatoren 192 und 194 sind mit zwei entsprechenden Eingängen eines UND-Gatters 196 verbunden, dessen Ausgang an einen Eingang eines UND-Gatters 198 angelegt ist. Der Ausgang des UND-Gatters 198 ist mit einem Löscheingang eines Schieberegisters 200 verbunden. Der andere Eingang des UND-Gatters 198 ist so angeschlossen, dass er den Ausgang des UND-Gatters 202 empfängt. An dieses Gatter ist an einen Eingang eine positive Spannung angelegt, so dass dieser Eingang stets ein hohes Signal führt, während der andere Eingang mit dem Ausgang des UND-Gatters 172 in Verbindung steht. Der Ausgang des UND-Gatters 202 ist ebenfalls mit dem Eingangsanschluss des Schieberegisters 200 verbunden, während der Ausgang dieses Schieberegisters an eine geeignete Anzeigesignalvorrichtung, wie einen Licht- oder Akustikmelder angeschlossen ist. Schieberegister sind in der Fachwelt bekannt und im allgemeinen liefert das Register 200 einen Null-Spannungsausgang, solange es nicht voll ist. Das Register umfasst eine vorbestimmte Anzahl von Speicherbits. Jedesmal dann, wenn ein Puls am Eingang des Registers ansteht, schiebt dieses die Pulse um ein Bit zum nächsten Bit, bis das Register voll ist. In diesem Betriebszustand gibt das Register dann ein Signal an die Bedienungsperson. Sämtliche Bits des Registers sind jedoch gelöscht, wenn ein hohes Logiksignal über den Ausgang des UND-Gatters 198 an den Löscheingang des Registers angelegt wird. Beispielsweise wird dann, wenn das System so ausgelegt ist, dass es eine 3%ige Drift in der Systemverstärkung erlaubt und das Schieberegister eine Kapazität von 3 Bits besitzt, ein Eich-Abweichsignal bereitgestellt, wenn drei aufeinanderfolgende Messungen durchgeführt wurden, bei denen der Fehler grösser als 3 % war. Für grössere Fehler kann es wünschenswert sein, die Kapazität des Schieberegisters (auf einen oder zwei Bits) herabzusetzen, während es für geringere Fehler erwünscht sein kann; die Kapazität des Schieberegisters zu erhöhen.

Im Betrieb wird jede Produktprobe 8 zur Prüfstellung 10 gefördert, wo sie den Lichtstrahl 96 unterbricht und den Lichtstrahlempfänger 94 veranlasst, ein Ausgangssignal zu liefern. Es wird daraufhingewiesen, dass nicht jede Probe den Strahl 116 unterbricht und kein Signal über den Bezugsobjekt-Lichtstrahlempfänger 114 geliefert wird, weil der Strahl in einer bezüglich der Probe unterschiedlichen Ebene liegt. Das Ausgangssignal des Detektors 94 wird an die Kippschaltung 146 angelegt, welche ein Pulssignal zum Impulsübertrager 16 liefert, der bewirkt, dass die Quelle 14 kurz erregt wird. Dabei wird eine kurze Zeitspanne der Strahl 28 erzeugt, um die Probe zu bestrahlen und die Streustrahlung wird vom Detektor 20 festgestellt. Der Signalausgang wird in den Integrator 148 geleitet, integriert und im

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Anschluss daran über den Verstärker 150 verstärkt. Wie nachstehend erläutert, wird dann, wenn eine Produktprobe geprüft wurde und nicht das Bezugsobjekt 110 der Signalausgang des UND-Gatters 172 niedrig sein, so dass (1) die Schalteranordnung 5 152 geschlossen ist; (2) die Schalteranordnung 178 offen ist und (3) das UND-Gatter 202 keinen Impuls an das Schieberegister 200 liefert. Der Ausgang des Verstärkers 150 ist somit lediglich an den zweiten und ersten Komparator 154 und 160 angelegt. Die Vergleiche werden vorgenommen um zu bestimmen, ob das an 10 die Komparatoren angelegte Signal unterhalb des von der Quelle 156 aufgebrachten unteren Bezugssignals, oberhalb des von der Quelle 162 aufgebrachten oberen Bezugssignals oder zwischen diesen Signalen auf einem akzeptablen Pegel liegt. Wenn es zu einem Ausstoss kommen soll, wird das entsprechende Signal 15 erzeugt und an eines der zugeordneten Verzögerungskreise 158 und 164 angelegt und daraufhin zur Erregung des jeweiligen Solenoids 102A und 102B verwendet. Sobald eines der Solenoide erregt wird, erstreckt sich der Schaft des jeweiligen Solenoids in die Bahn des speziellen Hebels 88 des Freigabeventils 86, wo-20 durch, wenn das Karussell in die Stellung eindreht, das Ventil geöffnet wird und einen Lufteintritt durch den Belüftungskanal 91 erlaubt und damit eine Freigabe der Probe in die geeignete Gleitrinne 104A oder 104B vornimmt. Wenn die Probe akzeptierbar ist, wird keines der Solenoide erregt, der Hebel wird um den Stössel 103 herumgeschwenkt und die Probe in die entsprechende Gleitrinne 104C freigegeben.

Sobald ein Impuls über die Kippschaltung 146 geliefert wird, steht dieser am Eingang des ODER-Gatters 170 und am Eingang des Univibrators 168 an. Der Ausgang dieses Vibrators ist auch 30 mit dem ODER-Gatter 170 verbunden. Der Ausgang des ODER-Gatters 170 behält solange ein hohes Signal, wie eine oder beide Impulse am Eingang des Gatters anstehen. Das hohe Ausgangssignal des ODER-Gatters 170 hält die zweite Schalteranordnung 176 über diese Zeitspanne offen. Am Ende der Pulsdauer beider Impulse, nachdem ein zum Ausgang des Verstärkers 150 geliefertes Messsignal an die Komparatoren 154 und 160 gelegt wird, entsteht am Ausgang des Gatters 170 ein niedriges Signal und die Schalteranordnung schliesst und legt damit den Ausgang des Integrators 148 auf Null-Potential. Dies 40 löscht den Integrator für das nächste Signal.

Die Probe 8 unterbricht nicht den Lichtstrahl 116, so dass der Detektor 114 kein Signal zu dem Set-Eingang des RS-Flip-Flops 174 liefert. Somit bleibt der Ausgang des RS-Flip-Flops niedrig. Der Ausgang des UND-Gatters 172 wird unabhängig davon, ob 45 ein Impuls über den Ausgang des Univibrators 168 geliefert und an den anderen Eingang des UND-Gatters gelegt wird, niedrig bleiben. Weil der Ausgang des UND-Gatters 172 auf diesem niedrigen Signal liegt, bleibt die dritte Schalteranordnung 178 offen, so dass die Stabilisierungsschaltung unwirksam gemacht 50 wird. Ähnlich bleibt das UND-Gatter 202 unwirksam, so dass das Schieberegister 200 keinen Puls zählt.

Wenn das Bezugsobjekt 110 jedoch in die Prüfstellung 10 gefördert wird, werden beide Strahlen 96 und 116 unterbrochen, so dass beide Empfänger 94 und 114 Ausgangssignale liefern. 55 Auf dieselbe Weise wie vorstehend beschrieben wird der Ausgang des Detektors 94 an die Kippschaltung 146 angelegt. Der Ausgang dieser Kippschaltung liefert ein Impulssignal zum Impulsübertrager 16, was bewirkt, dass die Quelle 14 erregt wird und einen Strahl 28 erzeugt. Somit wird das Bezugsobjekt 110 in 60 der Prüfstellung 10 dem Strahl ausgesetzt und die von diesem Objekt zerstreute Strahlung wird über den Detektor 20 empfangen, der einen Signalausgang erzeugt, der am Integrator 148 ansteht. Der Ausgang des Integrators wird danach an den Verstärker 150 angelegt.

65 Der Ausgang des Lichtstrahlempfängers 114 liefert einen Impuls zu dem Set-Eingang des RS-Flip-Flops 174, wodurch am Ausgang dieses Flip-Flops ein hohes Signal erscheint. Während dieser Zeit, wenn beide Impulsausgänge des Univibrators 168

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und des RS-Flip-Flops ein hohes Signal führen, besitzt auch der Ausgang des UND-Gatters 172 ein hohes Signal. Das hohe Ausgangssignal dieses Gatters 172 wird angelegt an (1) die Schalteranordnung 152, so dass der Ausgang des Verstärkers 150 nicht an die Eingänge der ersten und zweiten Komparatoren 154 und 160 angeschlossen ist, (2) die Schalteranordnung 178, so dass diese geschlossen ist und (3) an den Eingang des UND-Gatters 202 der Abweichanzeige 190.

Der Ausgang des Verstärkers 150 wird mit dem Bezugseingang des Differentialverstärkers 180 verglichen. Wenn eine Differenz besteht, liefert der Verstärker 180 ein Ausgangssignal, das zu dieser Differenz proportional ist. Der Ausgang des Verstärkers 180 wird über die geschlossene Schalteranordnung 178 und den Integrationskreis 182 an den Eingang des Integrators 184 angelegt. Der Integrator 184integriert das Fehlersignal, welches an den Hochspannungswandler 188 übertragen, dort verstärkt und danach an den Detektor 20 zur Regelung der Systemverstärkung angelegt wird. Gleichzeitig mit dieser Einstellung der Systemverstärkung wird der Ausgang des Verstärkers 150 an die Eingänge der Komparatoren 192 und 194 der Abweichanzeige 190 angelegt. Wenn das an diese Komparatoren angelegte Signal sich innerhalb des über die Bezugssignale ermittelten zulässigen Fehlers liegt, nehmen beide Ausgänge der Komparatoren 192 und 194 ein hohes Signal an und das UND-Gatter 196 schaltet durch. Der Ausgang des Gatters 196 liefert damit ein hohes Signal an den Eingang des UND-Gatters 198. Im wesentlichen gleichzeitig schaltet der Ausgang des Gatters 172 das Gatter 202 durch. Der Ausgang dieses Gatters 202 ist im wesentlichen ein Impuls mit einer Impulsdauer, die in etwa gleich ist der vom Univibrator 168 gelieferten Impulslänge. Der von dem Ausgang des Gatters 202 gelieferte Impuls wird auf den Eingang des Schieberegisters 200 gelegt, wo er gezählt wird. Auch wird dieser Impuls an das Gatter 168 angelegt und macht dieses wirksam. Wenn der Ausgang des Gatters 196 ein hohes Signal einnimmt, wodurch angezeigt wird, dass der Ausgang des Verstärkers 150 sich innerhalb einer zulässigen Drift, die über die Bezugseingänge zu den Komparatoren gesetzt wird, befindet, führen beide Eingänge zum Gatter 198 ein hohes Signal und der Ausgangsimpuls wird auf den Löscheingang des Registers 200 gelegt, so dass dieses ohne Rücksicht auf den über den Ausgang des Gatters 202 an den Eingang des Registers angelegten Impuls gelöscht wird.

Wenn jedoch das vom Ausgang des Verstärkers 150 an den Eingang der Komparatoren 192 und 194 angelegte Signal ausserhalb der Bezugsgrenzen liegt, führt einer der Ausgänge der Komparatoren ein niedriges Signal, so dass das UND-Gatter 196 nicht wirksam wird. In diesem Fall verbleibt der Ausgang des UND-Gatters 196 auf niedrigem Signal, so dass der Ausgang des UND-Gatters 198 ebenfalls niedrig bleibt. Somit wird kein Löschimpuls an das Schieberegister 200 geliefert. Der Impulsaus-gang des UND-Gatters 202 wird dadurch in das Register 200 eingeschoben. Es ist leicht ersichtlich, dass dann, wenn das Register 200 beispielsweise ein Drei-Bit-Register ist und drei aufeinanderfolgende Signale am Ausgang des Verstärkers 150 erzeugt werden, welche oberhalb oder unterhalb der zulässigen Grenzen, wie sie über die Bezugseingänge an den Komparatoren 192 und 194 gesetzt sind, liegen, das Schieberegister überlaufen und ein Anzeigesignal für dieBedienungsperson liefern wird, welches angibt, dass die Systemverstärkungsabweichungen nicht adäquat kompensiert sind.

Bei der Messung der Produktproben führt schliesslich der Ausgang des ODER-Gatters 170 während der Dauer der Pulsausgänge der Kippschaltung 146 und des Univibrators 168 ein hohes Signal, wobei die Schalteranordnung 176 geöffnet ist, um zu ermöglichen, dass das Signal an den Eingang des Komparators 180 und die Eingänge der Komparatoren 192 und 194 angelegt wird. Am Ende der Impulsdauer nimmt der Ausgang des ODER-Gatters 170 ein niedriges Signal ein und die Schalteranordnung 176 schliesst und legt damit den Ausgang des Integrators 148 auf

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Null-Potential. Am Ende eines Impulsausgangs des Univibrators 168 befindet sich das RS-Flip-Flop 164 in seiner Reset-Stellung, so dass der Ausgang dieses Flip-Flops ein niedriges Signal einnimmt, was das UND-Gatter 172 unwirksam macht und die Schalteranordnung 178 öffnet. Dies findet statt, nachdem der Ausgang des Komparators 180 an den Integrator 184 angelegt wurde.

In Fig. 7 ist eine Steuerungsanordnung 100B beschrieben, welche bei einem Detektor mit einer niedrigaktiven Quelle gemäss Fig. 3 einsetzbar ist. Der Detektor 20A liefert einen Ausgang in Form einer Serie digitaler Impulse, deren Amplitude jeweils abhängig ist von dem für die Quelle 14A verwendeten spezifischen Isotop und die Pulsfrequenz ist proportional zur Masse der speziellen Probe oder des geprüften Objekts. Im allgemeinen ist die Anordnung 100B so ausgelegt, dass sie die Impulsfolgefrequenz misst und darüber eine Anzeige der Masse der speziellen Probe oder des geprüften Objektes liefert. Dies erfolgt unter Anwendung eines Pulsamplituden-Selektionsver-fahrens, welches relativ unempfindlich ist gegenüber den Effekten von Schaltelementabweichungen nach der Zeit, der Temperatur und der Spannung. Eine zusätzliche Stabilisierung kann mittels der Anordnung 106B zur Veränderung der Systemverstärkung erhalten werden.

Im einzelnen ist die Strahlungsquelle 14A als eine einen kontinuierlichen Niedrigenergie-Strahl 28 A liefernde Anordnung dargestellt, so dass dann, wenn eine Probe 8 oder ein Objekt 110 dem Strahl ausgesetzt wird, eine Streustrahlung zum Strahlungsdetektor 20A geliefert wird. Der Ausgang des Detektors 20 A ist an die Eingänge eines unteren und eines oberen Diskriminators 220 bzw. 222 angelegt, welche ihrerseits mit einem Fenstergatter 224 verbunden sind. Die Diskriminatoren legen im allgemeinen den Amplitudenbereich für die Impulse des Ausgangs des Detektos 20A fest, welche durch das Fenstergatter 224 hindurchtreten und zu einem Zeitgatter 226 gelangen. Im einzelnen wird der untere Diskriminator220 so eingestellt, dass durch das Fenstergatter 224 nur diejenigen Impulse hindurchtreten, deren Amplitude über einen vorbestimmten Pegel hinausgehen, was das Anordnungsrauschen verringern hilft, indem diejenigen Impulse, deren Amplituden unterhalb des niedrigsten Pegels liegen, abgehalten werden. Der obere Diskriminator 222 wird so eingestellt, dass zum Fenstergatter 224 nur solche Impulse gelangen, deren Amplitude unterhalb eines vorbestimmten Maximalpegels liegen und damit werden Pulse, welche eine höhere Energiestrahlung repräsentieren (als die, welche von einer Probe 8 oder dem Objekt 110 zerstreut wird) abgehalten. Eine höhere Energiestrahlung könnte nämlich über den Detektor 20A empfangen werden, wie z. B. irgendwelche unmittelbar an der Quelle 14A unbeabsichtigterweise empfangene Strahlung. Wenn die Amplitude eines Pulses innerhalb der vorbestimmten Grenzen, wie sie über die Diskriminatoren 220 und 222 gesetzt werden, liegen, wird das Fenstergatter 224 durchgeschaltet, um die Pulse zum Zeitgatter 226 zu übertragen. Dieses Zeitgatter ist so ausgelegt, dass es für eine vorbestimmte Zeitspanne, während der der Ausgang des Fenstergatters 224 mit dem Eingang eines Digitalpulszählers 230 verbunden ist, geschlossen bleibt. Die Schliesszeit für das Zeitgatter 226 ist abhängig von der Dauer des wirksamen Taktsignals, welches vom Ausgang eines Taktgebers 228 zum Zeitgatter geliefert wird. Der Taktgeber 228 wird durch ein vom Ausgang des Lichtstrahlempfängers 94 erhaltenes Signal ausgelöst, wobei dieser Empfänger unwirksam wird, wenn der von der Lichtquelle 92 erzeugte Lichtstrahl 96 unterbrochen wird.

Während der Schliesszeit des Zeitgatters 226 werden die durch dieses Gatter hindurchgeleiteten Pulse im Pulszähler 230 gezählt. Der Ausgang des Zählers 230 liefert ein Signal, welches repräsentativ für die Stellung des Zählers ist und welches an ein Verriegelungsschaltglied 232 weitergegeben wird, wenn der Zähler an seinem Übertragungseingang einen Impuls empfängt und wel9

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ches gelöscht wird, wenn ein Impuls am Löscheingang des Zählers erscheint. Um den Übertragungsimpuls zu liefern, löst das Ende eines jeden Signals (bei negativ lauf ender Übertragungsfunktion) , welches vom Taktgeber 228 kommt, einen Univibrator 234 aus, der seinerseits den Übertragungsimpuls am Ende der Massenmessung zum Zähler 230 führt (nachdem das Zeitgatter geöffnet hat). Das von dem Univibrator 234 gelieferte Pulsende löst einen zweiten Univibrator 236 aus, der seinerseits das Löschsignal für den Zähler 230, bereitstellt, nachdem die Übertragung zum Verriegelungsschaltglied 232 erfolgt ist.

Wenn eine Probe 8 geprüft wurde, wird der Ausgang des Verriegelungsschaltglieds 232 über den Schalter 238 auf den ersten und den zweiten Komparator 154 und 160 gelegt, wo das Signal gemessen wird, um zu bestimmen, ob es sich unterhalb, zwischen oder oberhalb der Grenzen, wie sie durch die unteren und oberen Bezugsquellen 156 und 162 festgelegt werden, befindet, wobei dann, wenn die Grenzen überschritten werden, gleich das geeignete Solenoid erregt wird, wie dies vorstehend beschrieben wurde. Der Schalter 238 ist ähnlich dem Schalter 152 in Fig. 6, so dass er nur dann offen ist, wenn das Bezugsobjekt 110 geprüft und die Anordnung stabilisiert wird. Somit hat der Messvorgang für die Masse des Objektes 110 keine Auswirkungen auf die Sortieranordnung, welche die ersten und zweiten Komparatoren 154 und 160 umfassen.

Der Ausgang des Verriegelungsschaltgliedes 232 ist mit der Anordnung 106B zur Stabilisierung der Systemverstärkung verbunden. Im einzelnen steht der Ausgang des Verriegelungsschaltgliedes 232 mit einem Subtrahierer 240 in Verbindung. Dieser ist im wesentlichen ein Komparator für einen Vergleich der digitalen Zählung, wie sie über den Ausgang des Verriegelungsschaltgliedes 232 geliefert wird, mit der Stabilisierungs-Bezugszählung, welche an der Bezugsquelle 242 über die Bedienungsperson festgelegt wird. Der Subtrahierer arbeitet lediglich dann, wenn er von einem Ausgangssignal vom Bezugsobjekt-Lichtstrahlempfänger 114 beaufschlagt wird, was beim Unterbrechen des Strahls 116 geliefert wird. Wenn bei einer Wirksamkeit eine Differenz zwischen dem Ausgang des Verriegelungsschaltgliedes 232 und der Quelle 242 besteht, wird an den digitalen Integrator 224 ein Differenzsignal angelegt. Der Integrator integriert die Fehlersignale nach der Zeit, um ein Korrektursignal zum Taktgeber 228 zu liefern, damit das über den Taktgeber angebotene Signal verstellt wird, derart, dass die Zeitspanne in der das Zeitgatter 226 wirksam wird, entsprechend entweder verlängert oder verkürzt wird. Das Korrektursignal verringert den Fehler zwischen dem Digitalausgang des Verriegelungsschaltgliedes 232 und der Stabilisierungs-Bezugszählung jedesmal dann, wenn die Masse des Bezugsobjekts 110 gemessen wird.

Im Betrieb wird jede Produktprobe 8 zur Prüfstellung 10 gefördert, wo sie den Lichtstrahl 96 unterbricht, was bewirkt,

dass der Lichtstrahlempfänger 94 ein Ausgangssignal liefert. Auch hier wird daraufhingewiesen, dass nicht jede Probe den Lichtstrahl 116 unterbricht, da dieser in einer unterschiedlichen Ebene zur Probe liegt, so dass über den Bezugsobjekt-Lichtstrahlempfänger 114 kein Signal geliefert wird. Zur selben Zeit wird die Probe der Strahlung durch den Strahl 28A ausgesetzt, so dass sie eine Streustrahlung zum Strahlungsdetektor 20A liefert. Der Signalausgang des Detektors 20A führt eine Serie von Impulsen, von denen jeder an den oberen und den unteren Diskriminator 220 und 222 angelegt wird. Diejenigen Impulse, deren Amplituden innerhalb der vorbestimmten Grenzen liegen, wie sie von den Diskriminatoren festgesetzt werden, laufen zum Zeitgatter 226 weiter. Da der Ausgang des Lichtstrahlempfängers 94 den Taktgeber 228 erregt, ist das Zeitgatter 226 für die vorbestimmte Zeitspanne geöffnet, welche über das Zeitsignal vom Taktgeber 228 bestimmt ist. Während dieser Zeitspanne werden die vom Fenstergatter 224 gelieferten Impulse im Digitalpulszähler 230 gezählt. Am Ende einer Zählperiode, wenn das Taktsignal des Taktgebers 228 endet, wird das Zeitgatter 226

geschlossen und der Univibrator 234 erregt, der einen Übertragungsimpuls zum Zähler230 liefert, um die gezählten Daten an das Verriegelungsschaltglied 232 zu übertragen. Ein anschliessender Impuls, der vom Univibrator 236 kommt, löscht den 5 Zähler 230. Weil der Bezugsobjekt-Lichtstrahlempfänger 114 nicht erregt wurde, bleibt der Schalter 238 geschlossen, während der Subtrahierer 240 des Stabilisierungsschaltkreises unwirksam bleibt. Der Signalausgang des Verriegelungsschaltgliedes 232, repräsentativ für die Zählung vom Zähler 230, ist an den ersten 10 und den zweiten Komparator 154 und 160 angelegt, woraufhin die Sortierung der Proben entsprechend ihrer gemessenen Masse, wie vorstehend beschrieben, durchgeführt wird.

Wenn jedoch in die Prüfstellung 10 das Bezugsobjekt 110 gefördert wird, werden beide Strahlen 96 und 116 unterbrochen, 15 so das beide Lichtstrahlempfänger 94 und 114 Ausgangssignale liefern. Auf dieselbe Weise wie vorstehend beschrieben, wird der Ausgang des Lichtstrahlempfängers 94 an den Taktgeber 228 angelegt, welcher seinerseits ein Taktsignal zum Zeitgatter 226 gibt, so dass dieses für eine vorbestimmte Zeitspanne geschlossen 20 wird. Während dieser Zeit werden die vom Strahlungsdetektor 20A gelieferten Impulsserien, welche sich innerhalb der durch die oberen und unteren Diskriminatoren festgelegten Grenzen befinden, an das Fenstergatter 224 angelegt. Am Ende der Messzeit, wenn das Taktgebersignal vom Taktgeber228 endet, 25 öffnet das Zeitgatter 226 und der Univibrator 234 wird aktiviert, um einen Übertragungsimpuls zum Zähler 230 zu liefern. Die Zählung wird dann zum Verriegelungsschaltglied 232 übertragen und der Univibrator236 wird erregt, um anschliessend den Zähler 230 zu löschen.

30 Da der Bezugsobjekt-Lichtstrahlempfänger 114 erregt wurde, ist der Schalter 238 offen und der Ausgang des Verriegelungsschaltgliedes 232 wird nicht an den ersten und zweiten Komparator 154 und 160 angelegt. Jedoch wird der Ausgang des Lichtstrahlempfängers 114 den Subtrahierer 240 erregen, damit der 35 Ausgang des Verriegelungsschaltgliedes 232 mit der Stabilisie-rungs-Bezugszählung der Quelle 242verglichen werden kann. Jeder Fehler zwischen den beiden Signalen, der eine Signaldrift anzeigt, wird über den digitalen Integrator 244 integriert und anschliessend dem Taktgeber 228 zugeführt. Die Zeitdauer, in 40 der das vom Taktgeber 228 gelieferte Taktsignal zur Verfügung steht, wird entsprechend eingestellt.

Aus der vorstehenden Beschreibung ist es für einen Fachmann einsehbar, dass die vorliegende Erfindung eine rasche und genaue Messung der Massen verschiedenartiger Produkte durch-4d führen kann, während eine periodische Eichung oder Standardisierung des Signalausgangs des Systems erfolgt. Ferner wird durch die Integration der Fehlersignale, welche von der Signaldrift abgeleitet werden, irgendwelche statistischen Signalschwankungen im wesentlichen aufgehoben. Ausserdem nimmt dieses 5C Verfahren während der Verfallszeit der Strahlungsquelle, speziell bei Gamma-Strahlungsquellen, über lange Zeitspannen einen Ausgleich vor.

Andere Vorteile und mögliche Abwandlungen der Erfindung können vorgenommen werden, ohne dass dadurch der Erfin-55 dungsbereich verlassen wird. Zum Beispiel wurde die Erfindung beschrieben als ein Verfahren, bei dem das Bezugsobjekt 110 auf dem Drehtisch 72 anstelle einer Produktprobe 8 angeordnet wird. Wahlweise kann auch jeder Schlitz 74 mit einer Produktprobe 8 versehen werden und das Bezugsobjekt könnte zwischen 60 zwei aufeinanderfolgenden Proben plaziert werden, solange zwischen der Messung der Proben und dem Bezugsobjekt eine genügend lange Messzeit vorgesehen ist. Eine andere Abwandlung besteht darin, das Bezugsobjekt 110 bei in der Prüfstellung 10 befindlicher Probe an der der Strahlungsquelle 20 gegenüber-65 liegenden Seite der Probe 8 anzubringen. Wenn eine Produktprobe dem Strahl 28 ausgesetzt wird, kommt im wesentlichen die gesamte über den Detektor empfangene Streustrahlung von dieser Probe. Wenn jedoch bei nicht in der Prüfstellung 10

befindlicher Produktprobe ein Stabilisierungssignal verlangt wird, durchdringt der Strahl 28 das Bezugsobjekt und die gesamte Streustrahlung, welche vom Detektor empfangen wird, stammtim wesentlichen von diesem Bezugsobjekt. Schliesslich wurde die Anordnung gemäss Fig. 6 in ihrer bevorzugten Ausführungsform beschrieben, in der die Systemverstärkung über eine Einstellung der Versorgungsspannung zum Detektor 20 stabilisiert wird, da dieses Verfahren eine vergleichsweise weite dynamische Schwankungsbreite vorsieht. Ähnlich wird bei der Anordnung nach Fig. 7 eine Einstellung der Systemverstärkung durch eine Verstellung der Zeitdauer, während der das Zeitgatter geschlossen ist, erreicht. Es ist einsehbar, dass das zur Stabilisierung des Ausgangssignals der Anordnung gelieferte Korrektursignal auch andersartig erhalten werden kann. So z. B. kann der Ausgang des Konverters 188 gemäss Fig. 6 verwendet

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werden, um den Verstärkungsfaktor des Verstärkers 150 einzustellen, oder es kann der Taktgeberausgang des Taktgebers 228 gemäss Fig. 7 verwendet werden, um die Öffnung eines Verschlusses zu steuern, damit die Zeitspanne kontrolliert wird, 5 während der eine Produktprobe oder das Bezugsobjekt dem Strahl 28A ausgesetzt ist.

Obwohl gewisse weitere Abwandlungen an der vorstehend beschriebenen Apparatur und an dem beschriebenen Verfahren vorgenommen werden können, ohne dass dadurch der von der 10 Erfindung abgedeckte Bereich verlassen werden würde, ist beabsichtigt, dass sämtliche Ausführungen in der vorstehenden Beschreibung oder die Darstellungen in den Zeichnungen als Erläuterungen angesehen und nicht im einschränkenden Sinne verstanden werden sollen.

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5 Blatt Zeichnungen

Claims (20)

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   PATENTANSPRÜCHE

   1. Verfahren zum Prüfen von Produktproben (8), um zu bestimmen, ob jede der Proben eine gemessene Quantität einer physikalischen Eigenschaft innerhalb vorbestimmter Grenzen eines Bereichs besitzt, bei welchem die Proben (8) entlang einer vorbestimmten Bahn durch eine Prüfstation (10) gefördert werden, bei welchen ein Strahl (28) einer harten Strahlung quer zu dieser Bahn so gerichtet wird, dass jede der Proben diesem Strahl ausgesetzt ist, die von jeder dem Strahl durchstrahlten Probe zerstreute Strahlung festgestellt und ein elektrisches Signal erzeugt wird, welches repräsentativ ist für die Menge der in Abstimmung auf eine vorbestimmte Signalverstärkung festgestellten Streustrahlung, und bei welchem eine Stabilisierung des Signalausgangs erfolgt, gekennzeichnet durch

   - periodisches Bestrahlen zumindest eines Abschnitts eines Bezugsobjektes (110) mit einer vorbestimmten Quantität einer physikalischen Eigenschaft durch den Strahl harter Strahlung,

   - Feststellen der von dem durch den genannten Strahl (28) durchstrahlten Bezugsobjekt (110) ausgehenden Strahlung,

   - Erzeugung eines Stabilisierungssignals als Antwort auf die festgestellte Strahlung vom Bezugsobjekt (110),

   - Bereitstellung eines vorbestimmten Bezugssignals,

   - Vergleichen des Stabilisierungssignals mit dem Bezugssignal,

   - Erzeugung eines Differenzsignals, repräsentativ für die Differenz zwischen dem Stabilisierungs- und dem Bezugssignal, und

   - Einstellen der Signalverstärkung als Antwort auf das Diffe-renzsignal.
2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Bezugsobjekt periodisch durch die Prüfstation zwischen zwei Proben gefördert wird.
3. 3. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch ein Integrieren des Differenzsignals zur Ausbildung eines integrierten Signals und die Verwendung dieses integrierten Signals zur Einstellung der Signalverstärkung.
4. 4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die von jeder Probe (8) und dem Bezugsobjekt (110), sobald diese von dem genannten Strahl durchstrahlt werden, festgestellte Strahlung eine Streustrahlung ist und dass das elektrische und das Stabilisierungssignal repräsentativ für die Masse des Abschnitts der Probe bzw. des Bezugsobjektes sind, von welchem die Streustrahlung festgestellt wird.
5. 5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das elektrische und das Stabilisierungssignal jeweils eine Pulsserie sind, und dass die Pulsfrequenz einer jeden Serie von der festgestellten Strahlungsmenge abhängig ist.
6. 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Pulse der Serie über eine vorbestimmte Zeitspanne gezählt werden und dass diese vorbestimmte Zeit in Abhängigkeit von dem genannten Differenzsignal entsprechend verlängert oder verkürzt wird.
7. 7. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 mit einem zum Empfang der Streustrahlung von jeder von dem Strahl durchstrahlten Probe ausgebildeten Detektor (20), einer auf diesen Detektor (20) ansprechende Anordnung (100A, 100B) zur Erzeugung des für die vom Detektor (20) empfangene Strahlungsmenge repräsentativen elektrischen Signals , einer auf eine vorgegebene Signalverstärkung abgestimmte Einrichtung sowie mit einer Einrichtung (154,160) zur Bestimmung der Quantität der genannten physikalischen Eigenschaft einer jeden vom Strahl durchstrahlten Probe als Funktion des elektrischen Signals, gekennzeichnet durch

   - eine Einrichtung (70), die zumindest einen Abschnitt des Bezugsobjekts (110) mit einer gegebenen Quantität der genannten physikalischen Eigenschaft dem Strahl (28) der harten Strahlung periodisch aussetzt, derart, dass der Detektor (20) Strahlung vom Bezugsobjekt (110) empfängt und dass von der auf den

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   Detektor (20) ansprechenden Anordnung (100A, 100B) ein der am Detektor vom Bezugsobjekt (110) empfangenen Strahlungsmenge repräsentatives Stabilisierungssignal erzeugt wird,

   - eine ein vorbestimmtes Bezugssignal liefernde Einrichtung

   5 (VI, 242),

   - eine Vergleichsanordnung (180,240) zum Vergleichen des Stabilisierungssignals mit dem Bezugssignal,

   - eine auf die Vergleichsanordnung ansprechende Einrichtung (180,183,184,240) zur Erzeugung eines, die Differenz zwischen

   10 dem Stabilisierungs- und dem Bezugssignal repräsentierendes Differenzsignal und

   -eine Einrichtung (188,228) zur Einstellung der Signälverstär-kung als Antwort auf dieses Differenzsignal.
8. 8. Anordnungnach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass

   15 die Einrichtung zum Fördern der Proben (8) Mittel zum Fördern des Bezugsobjekts (110) durch die Prüfstation (10) umfasst.
9. 9. Anordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Bezugsobjekt (110) zwischen zwei Produkten periodisch durch die Prüfstation (10) geführt wird.

   20 10. Anordnungnach Anspruch 7, mit einer Einrichtung (184, 244) zum Integrieren des Differenzsignals zur Schaffung eines integrierten Signals, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung (184,244) zum Einstellen der Signalverstärkung auf das integrierte Signal ansprechend ausgebildet ist.
10. 11. Anordnungnach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor (20) so positioniert ist, dass er Streustrahlung von jeder der von dem genannten Strahl durchstrahlten Proben (8) oder dem Bezugsobjekt (110) empfängt und dass das elektrische und das Stabilisierungssignal für diejenige Masse des Ab-

    30 schnitts der Probe bzw. des Bezugsobjektes, von welchem Streustrahlung über die Detektoreinrichtung empfangen wird, repräsentativ sind.
11. 12. Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung (154,160) zur Bestimmung der Quantität der physikalischen Eigenschaft einer jeden Probe Mittel zur Bestimmung umfasst, ob diese Quantität innerhalb eines vorbestimmten Bereiches liegt.
12. 13. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung (154,160) zur Bestimmung der Quantität

    40 der physikalischen Eigenschaft nur dann wirksam ist, wenn sich eine Probe in der Prüfstation befindet, und dass die Vergleichsanordnung nur dann wirksam ist, wenn das Bezugsobjekt in die Prüfstation eingesetzt ist.
13. 14. Anordnung nach Anspruch 13, gekennzeichnet durch eine

    43 Detektoreinrichtung (92,94) zur Erzeugung eines zweiten elektrischen Signals nur dann, wenn sich entweder das Bezugsobjekt oder eine der Produktproben in der Prüfstation befindet, und eine auf dieses zweite elektrische Signal ansprechende Schaltungseinrichtung (176,178,226,238), um entweder das erstge-

    50 nannte elektrische Signal, repräsentativ für die von der Detektoreinrichtung (92,94) empfangene Strahlungsmenge zu der Einrichtung (154,160) zur Bestimmung der Quantität der physikalischen Eigenschaft zu lenken, wenn jede Produktprobe von dem harten Strahl durchstrahlt wird, oder das Stabilisierungssignal

    55 zur Vergleichseinrichtung zu lenken, wenn das Bezugsobjekt von dem harten Strahl durchstrahlt wird.
14. 15. Anordnungnach Anspruch7, dadurch gekennzeichnet, dass das elektrische Signal und das Stabilisierungssignal jeweils eine Pulsserie sind und die Pulsfrequenz einer jeden Serie von der

    60 über den Detektor empfangenen Strahlungsmenge abhängt.
15. 17. Anordnung nach Anspruch 16, umfassend ferner einen Zähler (230) zum Zählen der Pulse der Pulsserie und ein Zeitgatter (226) zur Übertragung einer jeden Pulsserie für eine vorbestimmte Zeitspanne von der Detektoreinrichtung, dadurch ge-

    65 kennzeichnet, dass die Einrichtung zur Einstellung der Signalverstärkung eine das Differenzsignal an das Zeitgatter anlegende Anordnung (228) umfasst, um die vorbestimmte Zeitspanne einzustellen, damit die im wesentlichen gleiche Pulsanzahl durch

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    das Zeitgatter jedesmal wenn das Bezugsobjekt (110) dem Strahl ausgesetzt ist, übertragen wird.
16. 18. Anordnung nach Anspruch 16, gekennzeichnet durch einen Amplitudendiskriminator (220,222) zur Ausscheidung derjenigen Pulse aus der genannten Pulsserie, deren Amplituden ausserhalb einer vorbestimmten Grenze liegen.
17. 19. Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass das elektrische und das Stabilisierungssignal Analogsignale sind.
18. 20. Anordnung nach Anspruch 7, gekennzeichnet durch eine Überwachungseinrichtung (22), welche anzeigt, wenn die Signalverstärkung nicht entsprechend eingestellt ist.
19. 21. Anordnung nach Anspruch 7 mit einer Einrichtung (18) zur Lieferung der Versorgungsspannung für den Detektor (20), dadurch gekennzeichnet, dass die Einrichtung zur Einstellung der Signalverstärkung Mittel zur Einstellung des Versorgungs-spannungspegels umfasst.
20. 22. Anwendung des Verfahrens nach Anspruch 1, zum Aussondern derjenigen Proben, deren gemessene Quantität der physikalischen Eigenschaft innerhalb des vorbestimmten Bereiches liegt, von denjenigen Proben, deren gemessene Quantität der physikalischen Eigenschaft ausserhalb des vorbestimmten Bereiches liegt.