BRPI0813142B1

BRPI0813142B1 - dispositivo de formação de imagem

Info

Publication number: BRPI0813142B1
Application number: BRPI0813142A
Authority: BR
Inventors: Spartiotis Konstantinos; Schulman Tom; Pantsar Tuomas
Original assignee: Oy Ajat Ltd
Priority date: 2007-06-25
Filing date: 2008-06-19
Publication date: 2019-01-15
Also published as: EP3206051A1; BRPI0813142A2; KR101185084B1; WO2009027776A2; US7742560B2; EP2902808A1; EP2174163A2; KR101252143B1; KR20120027062A; US20080019477A1; KR20100013333A; WO2009027776A3; EP2902808B1; ES2625764T3; JP2010531163A

Description

DISPOSITIVO DE FORMAÇÃO DE IMAGEM

REFERÊNCIA CRUZADA E PEDIDOS DE PATENTES

CORRELACIONADOS [001]O presente pedido de patente reivindica os benefícios do pedido de patente U.S. 11/673.583, depositado em 11 de fevereiro de 2007, o qual reivindicou os benefícios do pedido de patente U.S. 11/277.530, depositado em 27 de março de 2006, o qual reivindicou os benefícios do pedido de patente U.S. 60/677.020, depositado em 02 de maio de 2005, todos incorporados aqui para referência, e para o qual o presente pedido de patente é um pedido de patente de utilidade, do tipo continuação em parte, não-provisório. ANTECEDENTES DA PRESENTE INVENÇÃO

1. Campo técnico da presente invenção [002]A presente invenção refere-se à formação de imagem digital por radiação. Em particular, a invenção refere-se à efetiva construção de áreas de formação de imagens otimizadas, de diversos tamanhos e formatos, mediante combinação de detectores de pixel semicondutores separados lado a lado, como um mosaico, de maneira que o formato da área ativa do sensor é feito para se equiparar o mais exatamente possível ao formato (ou formatos) do feixe de raios X de uma aplicação específica.

2. Descrição do Estado da Técnica [003]Um principal problema que ocorre na construção de dispositivos de formação de imagem

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2/19 digital por raios X é a fabricação de grandes áreas de sensores. Os dispositivos que consistem de grandes áreas divulgados pelo estado da técnica, geralmente, são baseados na tecnologia de painel plano. Os sensores à base de outras tecnologias, tais como, sensores cintiladores (CCD) ou, especificamente, sensores semi-condutores (CMOS), produzem uma melhor qualidade de imagem, porém apresentam o inconveniente da possibilidade de fabricação de uma área limitada de formação de imagem ativa.

[004]A área máxima continua ativa de sensores baseados em CCD e CMOS de chip de detector único, tipicamente, é de poucos centímetros quadrados (cm²) . Esses chips de detector único podem ser combinados, mediante montagem dos mesmos lado a lado, como um mosaico, para formar áreas maiores. Essas construções tipo mosaico têm sido aplicadas com sucesso em sistemas de escaneamento, em que a área de formação de imagem ativa apresenta um formato de fenda, formando uma disposição linear de elementos de formação de imagem. Áreas de formação de imagem de formato retangular de algumas dezenas de cm² têm sido fabricadas com sucesso. Áreas retangulares maiores de sensores à base de CCD e CMOS são limitadas pelo fato de que um lado dos chips de CCD e CMOS únicos é sempre exigido para conexões elétricas externas e impede a montagem lado a lado naquele lado. Os benefícios de construção de áreas de formação de imagem a partir

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3/19 de elementos detectores pequenos separados incluem a flexibilidade para a formação de áreas de formato irregular e produção rentável. Entretanto, os sensores descritos no estado da técnica não têm sido capazes de atender a essas necessidades.

[005]Algumas aplicações podem exigir diferentes áreas de formação de de sensores para diferentes modos imagem. Por exemplo, na formação atual de imagem digital dental extra-oral por meio de raios

X, o mesmo sistema de formação de imagem deve ser capaz de executar formação de imagem tridimensional (3D) por aquisição de varredura panorâmica de feixe tipo leque e feixe tipo cônico.

No modo de varredura, é preferida uma área de formação de imagem como uma longa fenda relativamente vertical, fim de equiparar a área do sensor feita por raios

X com o formato de feixe tipo leque e otimizar a velocidade de saida de dados. No modo 3D, uma área de sensor mais curta verticalmente, porém mais larga horizontalmente é considerada como ótima ao proporcionar uma cobertura do feixe tipo cônico.

[006]No estado da técnica, para se combinar essas exigências de área de sensor que se contradizem parcialmente, os fabricantes de modernos sistemas de raios X dental extra-oral são obrigados a usar dois sensores digitais separados disponibilizados pelo estado da técnica, ou um sensor grande (tipicamente de painel plano), com uma área de formato retangular suficiente para

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4/19 cobrir ambos os formatos de feixe tipo leque e feixe tipo cônico. Ambas as opções introduzem desvantagens em termos de custo, compactação e uso efetivo. A presente invenção trata desse inconveniente mediante introdução de um novo sensor digital de raios X, de específico formato irregular de área ativa, otimizado para ambos os modos de formação de imagem mencionados acima. A formação de imagem dental extra-oral por meio de raios X é aqui apresentada apenas a titulo de exemplo. A invenção pode ser usada para beneficio em qualquer outra aplicação de formação de imagem por raios X com exigências similares de área de formação de imagem.

A invenção pode ser especificamente bem implementada com tecnologia de detector de semicondutor tipo

CMOS, porém pode também ser implementada com outras tecnologias, como, por exemplo, tecnologia de cintilador CCD.

[007]Diversas idéias e métodos de construção de áreas maiores de formação de imagem ativa tipo mosaico de elementos de detector único foram introduzidas e patenteadas [U.S. 6.207.744,

U.S. 5.812.191, EP 0421869, WO 97/08751, EP

0138647] . O objetivo de tais métodos é, em geral, implementar uma grande área de formação de imagem suficientemente regular, de formato retangular ou de fenda. A maioria dos métodos apresentados ensina técnicas para minimizar o espaço morto inevitável ou a região cega entre os elementos de detector separados. O espaçamento minimo entre as áreas

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5/19 ativas de elementos detectores adjacentes é, obviamente, alcançado através da montagem dos elementos em contato físico entre si. Enquanto a eliminação ou minimização do espaço morto entre elementos de sensores de múltiplos elementos seja o ideal para aquisição de imagens de raios X uniformes, pode não ser factível, do ponto de vista de fabricação, a montagem de elementos detectores separados, que fisicamente se tocam entre si. Além do formato irregular ótimo da área ativa mencionada acima, a presente invenção introduz uma técnica de fabricação efetiva para sensores de múltiplos elementos. Essa técnica é especialmente aplicável a sensores baseados na tecnologia de semicondutores CMOS, tendo importância específica para os detectores de pixel CdTe-CMOS.

SUMÁRIO DA PRESENTE INVENÇÃO [008]A presente invenção proporciona um sensor de formação de imagem por raios X com um formato irregular específico de área ativa, de formato diferente do retangular, o formato sendo otimizado para as exigências de aplicação do sensor. Conforme ilustrado na figura 1, o formato da área ativa do sensor pode ser mais largo em uma extremidade 16 e mais estreito na outra extremidade 17. Alternativamente, o sensor pode ser estreito em ambas as extremidades da área ativa e mais largo no centro 18 ou vice-versa. O formato pode ser simétrico ou assimétrico, em relação às linhas de centro da área ativa. A área ativa do sensor,

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6/19 conforme mostrado na figura 1, é construída, preferivelmente, de elementos detectores separados 1, em uma maneira tipo mosaico. Portanto, o formato da área ativa pode ser qualquer combinação de pequenos retângulos de diversos tamanhos. 0 formato pode ainda incluir descontinuidades ou espaços abertos 2, na metade da área ativa, dependendo das exigências da aplicação.

[009]Um importante aspecto da presente invenção é que o formato da área ativa do sensor seja feito para se equiparar o mais exatamente possível com o formato (ou formatos) do feixe de raios X de uma aplicação específica. Se o formato do feixe de raios X diferir significativamente de um formato de feixe tipo cônico ou de leque, ou se a aplicação exigir o uso de dois ou mais feixes de raios X com formatos diferentes, nenhum sensor convencional de formato linear ou retangular se equiparará efetivamente com os formatos dos feixes de raios X. Por exemplo, em uma aplicação usando um feixe de formato tipo leque e um feixe cônico retangular, para diferentes modos de formação de imagem, um sensor de formato irregular de área ativa proporciona uma cobertura de feixe muito mais eficiente do que um sensor convencional com uma grande área ativa retangular. Os benefícios de uma área de sensor otimizada incluem economia de custos de material, saída de dados mais rápida e a possibilidade de se usar um sensor, ao invés do uso

Petição 870180130658, de 14/09/2018, pág. 14/30 de diversos sensores, para diferentes formatos de feixes.

[0010] Outro aspecto da presente invenção se refere ao método de fabricação de uma estrutura de sensor tipo mosaico, ao se deixar um espaçamento físico finito entre os elementos detectores adjacentes. Essa estrutura é um desvio dos ensinamentos do estado da técnica para a eliminação do espaço morto entre chips de detectores individuais. Esse método de fabricação da presente invenção de não proporcionar o mínimo espaço morto dentro da área de formação de imagem ativa traz vantagens definitivas em termos de rendimento de produção e resistência de longo prazo do detector. Uma vez que os semicondutores em estado sólido são geralmente cristais frágeis, a montagem dos mesmos com contato físico aumenta acentuadamente o risco de danificar as bordas do cristal com fissuras ou fraturas durante a produção. Além disso, deixa os elementos detectores muito mais vulneráveis aos danos causados pela expansão térmica ou choque mecânico, comparado com o método de montagem de elementos com um espaçamento físico intermediário. Além disso, o contato físico entre os cristais detectores semicondutores pode ocasionar distorções no campo elétrico de coleta de sinal aplicado aos cristais. O espaçamento entre os elementos detectores pode ser um espaço simplesmente vazio ou o espaço pode ser criado mediante colocação de algum material,

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8/19 tal como, um filme de Mylar entre os elementos detectores. 0 tamanho do espaçamento, preferivelmente, mas não necessariamente, é igual ou é um múltiplo de tamanho de pixel dos elementos detectores.

[0011] Outro aspecto adicional da presente invenção é o método efetivo de fabricação de diversos e diferentes sensores tipo mosaico, com áreas ativas de formato irregular e não-similares, sobre idênticos substratos de sensores, os substratos sendo, geralmente, uma placa de circuito impresso (PCB). Uma vez que os esquemas de controle e saida de sinal dos elementos detectores separados são idênticos, é possível se projetar uma PCB para acomodar diferentes combinações de elementos detectores. Assim, com um tipo de uma placa de circuito impresso (PCB) e um (ou mais) tipos de um elemento detector, podem ser facilmente produzidos sensores com diversos formatos de áreas ativas para diferentes aplicações, sem a necessidade de modificações onerosas e demoradas do projeto do substrato. Alternativamente, um formato desejado da área ativa de sensor pode ser construído mediante combinação lado a lado de dois ou mais substratos de sensores idênticos ou não-idênticos, cada substrato apresentando um ou mais elementos detectores de tamanho ou formato similar ou nãosimilar.

[0012] A invenção presente especialmente se aplica a sensores de formação de

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9/19 imagem por raios X, feitos de detectores de pixel de CdTe-CMOS, porém não se limitando a essa tecnologia, encontrando também importância em outras tecnologias, como, por exemplo, na tecnologia de cintilador-CCD.

[0013] A invenção deve ser usada, em particular, na formação de imagem dental extra-oral sendo, entretanto, também é vantajosa em outras aplicações.

BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS [0014] A figura 1 ilustra diversas opções de formato irregular de área ativa do sensor de raios X da presente invenção.

[0015] A figura 2 ilustra um formato preferido da área ativa do sensor de raios X da presente invenção, projetado para formação de imagem dental extra-oral por meio de raios X.

[0016] A figura 3 ilustra formatos preferidos de área ativa do sensor de raios X da presente invenção, projetado para formação de imagem dental extra-oral por meio de raios X.

[0017] A figura 4 ilustra um formato preferido de área ativa de área ativa do sensor de raios X da presente invenção, projetado para formação de imagem dental extra-oral por meio de raios X.

[0018] A figura 5 ilustra diversas vistas de um elemento detector.

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[0019]	A	figura 6 ilustra um sensor do
tipo fenda, com		três elementos detectores
separados.
[0020]	A	figura 7 ilustra dois

substratos de sensores idênticos, compreendendo elementos detectores, para formar diferentes áreas ativas de sensores.

[0021] A figura 8 ilustra um sensor construído de dois substratos separados de sensor.

[0022] A figura 9 representa um esquema de um sistema de formação de imagem dental extra-oral por meio de raios X.

DESCRIÇÃO DE MODALIDADES PREFERIDAS [0023] Um dispositivo de formação de imagem por radiação da presente invenção inclui uma pluralidade de detectores individuais, que definem uma área ativa retangular irregular responsiva a raios X, com diferentes larguras ao longo de um comprimento da área ativa. Os detectores individuais podem ser de diferentes formatos retangulares, sendo montados em uma placa mãe. A placa mãe pode ser formada de um primeiro módulo, no qual é montado o primeiro dos dois detectores individuais, e um segundo módulo destacável, conectado ao primeiro módulo e no qual é montado o segundo dos dois detectores individuais.

[0024] Um formato preferido 5 de área ativa do sensor de raios X da presente invenção é mostrado na figura 2. O formato 5, no presente exemplo, é construído de nove elementos detectores

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11/19 individuais 8, sendo projetado para atender as necessidades de uma moderna formação de imagem

extra-oral	por	meio	de	raios	X, em	que	um	feixe
tipo leque	3 é	usado,	ao	mesmo	tempo,	para	formação
de imagem	por	varredura panorâmica,	e	um	feixe

cônico retangular 4 é usado para formação de imagem tomográfica tridimensional (3D) . As dimensões tipicas da área ativa preferida são fornecidas na figura 2. Conforme pode ser observado da figura 2, a cobertura do feixe da preferida área ativa 5 de sensor de formato irregular é muito melhor que aquela de uma grande área retangular convencional 6. 0 formato retangular 6 deixa muito mais área de sensor 7 inutilizável, tanto no modo panorâmico (feixe tipo leque) , como no modo tridimensional (3D) (feixe tipo cônico).

[0025] Conforme ilustrado nas figuras 1-2, em cada caso, o dispositivo de formação de imagem por radiação da invenção inclui uma área ativa responsiva a raios X. A área ativa apresenta um formato retangular irregular, com um comprimento total y (150 mm na figura 2) e uma largura total x (50 mm na figura 2) . Vantajosamente, cada dispositivo de formação de imagem apresenta diferentes larguras locais (50 mm, 6 mm, na figura 2) para diferentes faixas correspondentes ao longo do comprimento (respectivamente, as metades de disposição inferior e superior do dispositivo da figura 2).

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12/19 [0026] A figura 3 mostra três outros formatos preferidos 19, 20 e 21 de área ativa de sensor na aplicação de formação de imagem dental extra-oral por meio de raios X. Muitos outros formatos similares podem também ser usados na formação de imagem dental extra-oral. A escolha do formato depende dos formatos de feixe de raios X, da respectiva aplicação. O formato 19 proporciona cobertura para um feixe cônico maior, o qual pode ser desejado para adquirir dados de imagem a partir de uma maior área para formação de imagem de modo mais global (3D), ou em fatias transversais (tomográfica). Os formatos 20 e 21 proporcionam uma menor cobertura de feixe cônico, o que resulta em uma solução de sensor mais econômica. No formato 21, a área de feixe cônico 22 é levantada mais acima que no formato 20. O formato 21 é um formato desejável de sensor, se o feixe cônico de raios X for centralizado mais acima do queixo, para cobrir de modo mais eficiente a região dos dentes.

[0027] A figura 4 mostra outro formato preferido 9 de área ativa, otimizado não apenas para formação de imagem panorâmica e tomográfica dental, como também para formação de imagem cefalométrica. Na formação de imagem cefalométrica, é adquirida uma imagem de todo o crânio humano e, portanto, a dimensão vertical de parte da fenda da área ativa de sensor deve ser maior. Novamente, o formato de área ativa mostrado na figura 4 é somente um exemplo e deve ser considerado como uma

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13/19 opção dentre diversas possibilidades de construção dos seguintes princípios ensinados pela presente invenção.

[0028] A figura 5 mostra um desenho de um elemento detector 10, usado para construir áreas maiores de formação de imagem. Vistas de topo e laterais 23 e 24, respectivamente, do elemento 10 são mostradas. A estrutura do elemento 10 reflete a estrutura de um detector tipo CdTe-CMOS, que compreende um cristal de CdTe 16 conectado a um circuito de saida de dados CMOS 17. Entretanto, a invenção não está limitada à tecnologia de CdTeCMOS. O elemento 10 apresenta conexões elétricas 11 (tipicamente, ligações de fios por ultrassom) em um lado, evitando a montagem lado a lado de elementos nesse lado. Outros elementos podem ser montados bastante próximos ou em contato fisico com o referido elemento 10, em todos os outros lados 12.

[0029] A figura 6 ilustra a técnica de fabricação da presente invenção, montagem de elementos detectores 13 com um espaçamento fisico finito referente à lado a lado, entre os elementos 13. O espaçamento 14 entre as bordas mais externas dos elementos detectores pode ser esvaziado ou preenchido, mediante colocação de um material eletricamente isolante 15, como, por exemplo, um filme de Mylar, entre os elementos 13. A largura do espaçamento 14, preferivelmente, é considerada em relação ao tamanho da dimensão do pixel do detector, podendo ser menor que o tamanho

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14/19 do pixel, enquanto o isolamento elétrico é mantido e o contato físico evitado. Esse aspecto é importante, uma vez que as bordas podem ser ásperas ou em aparadas com algum grau aceitável de lascas e, portanto, a distância entre as bordas pode ser mais apropriadamente referida como uma distância média. Portanto, o espaçamento (espaçamento médio) deve ser uma porcentagem do tamanho do pixel do detector.

A largura do espaçamento, preferivelmente, mas não necessariamente, é uma função da porcentagem do tamanho do pixel, isto é, de 5% a

400% do tamanho do pixel. Um tamanho de pixel típico pode ser de 0,1 mm. Entretanto, a invenção também se aplica a pixéis dimensionados de 0,05 mm a 0,4 mm. Para um pixel de 0,1 mm, o espaçamento, vantajosamente, se situa dentro da faixa de 0,005 mm a 0,4 mm, com a faixa de 0,005 mm a 0,05 mm sendo mais vantajosa, e com a faixa de

0,005 mm a 0,10 mm sendo a mais vantaj osa, adequado, uma vez que oferece um espaçamento mas também um espaçamento pequeno suficiente comparado ao tamanho do pixel.

[0030] Em uma modalidade, o dispositivo de formação de imagem por radiação da presente invenção é feito de detectores individuais, detectores de Cd(Zn)Te, seguintes e justapostos entre si, com um espaçamento fisico médio de pelo menos 0,005 mm entre as bordas dos detectores de Cd(Zn)Te, onde é preferido um espaçamento fisico médio entre as bordas de 0,005

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15/19 mm - 0,4mm. Esse espaçamento pode ser provido por um filme, tal como um filme de Mylar de espessura de 0,005 mm - 0,4mm, ou, alternativamente, mediante uma precisa colocação dos detectores de Cd(Zn)Te, usando um microscópio tendo um espaçamento médio na faixa acima.

[0031] A figura 7 mostra como dois diferentes formatos 32 e 33 de área ativa de sensor podem ser construídos sobre idênticos substratos de sensor 34 (também referidos como módulo(s) de detector). Nessa ilustração, o módulo de substrato/detector 34 é uma placa de circuito impresso (PCB). O mesmo substrato pode acomodar um número variável de elementos detectores de formato e tamanho diferentes ou idênticos, para formar uma desejada área ativa de sensor. A vantagem desse aspecto da invenção é a produção lucrativa de custo e de economia de tempo.

[0032] dos substratos de

A figura 7 mostra, para cada um sensor/módulos de detector 34 idênticos, uma pluralidade de detectores individuais que definem uma área ativa responsiva a raios X. Cada uma das áreas ativas apresenta um formato retangular, com um comprimento total y e uma largura total x. Em cada caso, o substrato/módulo de detector 34 serve como uma placa mãe comum, em que a área ativa compreende detectores individuais de diferentes formatos retangulares, montados de modo usual sobre a placa mãe. Conforme mostrado, o primeiro dos dois

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16/19 detectores apresenta um primeiro comprimento ativo yl e uma primeira largura ativa xl, e o segundo dos dois detectores apresenta um segundo comprimento ativo y2 e uma segunda largura ativa x2. Como os dois tipos de detectores individuais apresentam diferentes formatos retangulares, pelo menos um dentre o primeiro comprimento ativo yl e segundo comprimento ativo y2 são diferentes, ou a primeira largura ativa xl e segunda largura ativa x2 são diferentes. Isso permite a construção da área ativa, de tal modo que a largura ativa x varia ao longo do comprimento ativo y (por exemplo, ver a largura ativa x e x' na figura 7).

[0033] A figura 8 mostra como uma área de sensor desejada pode ser construída, mediante combinação de dois diferentes substratos de sensor 35 e 36, lado a lado, de uma maneira destacável. Nesse exemplo, o substrato 35 acomoda um sensor de disposição linear tipo fenda e o substrato 36 acomoda um sensor de formato quadrado. A vantagem desse aspecto da invenção é, conforme mencionado acima, uma produção efetiva e desenvolvimento do produto. Usando uma pluralidade de substratos, se permite que os substratos separados sejam usados de modo independente e com flexibilidade nas aplicações em que um formato irregular de área de sensor não é exigido ou, em combinação, proporcionar um formato de área ativa de acordo com a presente invenção.

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17/19 [0034] A figura 8 mostra um dispositivo de formação de imagem por radiação, compreendendo um primeiro módulo 35 (isto é, um primeiro substrato de um primeiro detector detector), no qual é montado individual 37, e um segundo módulo 36 (isto é, um segundo substrato de detector) destacável, conectado ao primeiro módulo e no qual é montado um segundo detector individual

38. Juntos, o primeiro e o segundo detectores definem a área ativa responsiva aos raios X. Conforme mostrado, o primeiro e o segundo detectores são de formato retangular diferente, em que pelo menos um dentre seus comprimentos e larguras é diferente.

[0035] A figura 9 ilustra a aplicação da invenção para formação de imagem dental extraoral, por meio de raios X. Um paciente 25 é colocado entre uma fonte de raios X 26 e um sensor de formação de imagem por raios X 27, de um projeto de acordo com a presente invenção. A aquisição de imagem é executada como uma varredura rotacional, em volta da cabeça do paciente. O formato de feixe de raios X 28, na presente ilustração, é otimizado para uma aquisição simultânea de uma imagem panorâmica e uma imagem tomográfica. Os dados de imagem tomográfica são coletados pela parte inferior e mais larga 29 da área de sensor, enquanto que a extensão total 30 mais estreita e tipo fenda da área ativa é usada para coletar os dados de imagem panorâmica.

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18/19 [0036] Os dados são adquiridos com uma taxa predeterminada, na forma de quadros de imagens, cada quadro correspondendo a uma determinada posição da fonte e sensor de raios X, ao longo da trajetória rotacional da varredura. Os dados são enviados para um computador 31 para reconstrução e exibição de imagem. Uma camada panorâmica completa ou uma parte local de uma camada panorâmica, assim como uma fatia transversal ou uma imagem tridimensional (3D) correspondendo a uma parte local de uma camada panorâmica podem ser reconstruídas a partir das estruturas de dados.

[0037] Assim, o sistema da figura 9 proporciona um sistema de formação de imagem dental extra-oral por meio de raios X. A fonte de raios X 26 gera raios X, para exposição desses raios X sobre o paciente a ter a imagem formada. Os dispositivos 28 de formação de imagem por meio de raios X da presente invenção, conforme discutido acima, são usados para produzir múltiplas estruturas, durante pelo menos parte da exposição. Pelo menos uma das fontes de raios X e dispositivo de formação de imagem giram em volta de pelo menos um eixo rotativo 37, definido por uma ranhura 38, o eixo sendo localizado entre o ponto focal da fonte de raios X e o dispositivo de formação de imagem, mudando a posição ao longo das direções 39 e 40 durante a varredura.

[0038] O computador 31, um processador, processa as estruturas de uma única

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19/19 exposição, de modo a compor, seletivamente, pelo menos dois de um grupo de elementos, os elementos compreendendo: (a) uma imagem predeterminada de (b) uma parte local de panorâmica dental não fatia transversal em de uma imagem de camada (d) uma reconstrução volume que corresponde a camada panorâmica dental.

camada panoramica dental; uma imagem de camada predeterminada; (c) uma relação a uma parte local panorâmica dental; e tridimensional (3D) de um alguma parte local de uma

Claims

1. Dispositivo de formação de imagem, compreendendo:

uma pluralidade de detectores individuais posicionados de modo adjacente e que definem uma área ativa responsiva a raios X;

- cada detector individual (37, 38) tendo um formato retangular e no conjunto, definindo, juntos, uma área total ativa com um comprimento (y) e uma largura (x); e

- pelo menos um módulo de detector (34), sobre o qual os detectores individuais são montados, em que os detectores individuais compreendem pelo menos dois detectores de Cd(Zn)Te,

seguintes e justapostos entre si, com um espaçamento físico médio de pelo menos 0,005 mm entre as bordas mais externas dos detectores de Cd(Zn)Te, e cada detector compreendendo um cristal de Cd(Zn)Te conectado a um circuito de leitura e pixels com dimensões de 0,05mm a 0,lmm,

o dispositivo sendo caracterizado pelo fato de que o espaçamento físico médio é de 5% a 100% da dimensão do pixel.

2. Dispositivo de formação de imagem, de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que apresenta pelo menos dois módulos (35, 36) de detectores individuais de formato retangular, nos quais os detectores individuais (37, 38) são montados, e em que os módulos de detectores individuais são mecanicamente dispostos próximos entre si, de modo a existir um espaçamento

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2/2 físico médio de pelo menos 0,005 mm e não mais que

0,4 mm entre as bordas mais externas dos detectores de Cd(Zn)Te.