BRPI0607806A2 - processo de elaboração por projeção térmica, notadamente por via plasma, de um alvo, alvo de dispositivo de pulverização catódica, composição de um composto, camada obtida a partir de um alvo, e, conjunto que compreende um substrato e pelo menos uma camada - Google Patents

processo de elaboração por projeção térmica, notadamente por via plasma, de um alvo, alvo de dispositivo de pulverização catódica, composição de um composto, camada obtida a partir de um alvo, e, conjunto que compreende um substrato e pelo menos uma camada Download PDF

Info

Publication number
BRPI0607806A2
BRPI0607806A2 BRPI0607806-0A BRPI0607806A BRPI0607806A2 BR PI0607806 A2 BRPI0607806 A2 BR PI0607806A2 BR PI0607806 A BRPI0607806 A BR PI0607806A BR PI0607806 A2 BRPI0607806 A2 BR PI0607806A2
Authority
BR
Brazil
Prior art keywords
target
compound
layer
plasma
projection
Prior art date
Application number
BRPI0607806-0A
Other languages
English (en)
Inventor
Nicolas Nadaud
Dominique Billieres
Original Assignee
Saint Gobain
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Saint Gobain filed Critical Saint Gobain
Publication of BRPI0607806A2 publication Critical patent/BRPI0607806A2/pt
Publication of BRPI0607806B1 publication Critical patent/BRPI0607806B1/pt

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3411Constructional aspects of the reactor
    • H01J37/3414Targets
    • H01J37/3426Material
    • H01J37/3429Plural materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3488Constructional details of particle beam apparatus not otherwise provided for, e.g. arrangement, mounting, housing, environment; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
    • H01J37/3491Manufacturing of targets
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02TCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
    • Y02T50/00Aeronautics or air transport
    • Y02T50/60Efficient propulsion technologies, e.g. for aircraft
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/29Coated or structually defined flake, particle, cell, strand, strand portion, rod, filament, macroscopic fiber or mass thereof
    • Y10T428/2982Particulate matter [e.g., sphere, flake, etc.]

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Coating By Spraying Or Casting (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Silicates, Zeolites, And Molecular Sieves (AREA)

Abstract

PROCESSO DE ELABORAçãO POR PROJEçãO TéRMICA, NOTADAMENTE POR VIA PLASMA, DE UM ALVO, ALVO DE DISPOSITIVO DE PULVERIZAçãO CATóDICA, COMPOSIçãO DE UM COMPOSTO, CAMADA OBTIDA A PARTIR DE UM ALVO, E, CONJUNTO QUE COMPREENDE UM SUB STRATO E PELO MENOS UMA CAMADA. Processo de elaboração por projeção térmica, notadamente por via plasma, de um alvo, o dito alvo compreendendo pelo menos um composto à base de átomos de natureza diferente escolhidos notadamente entre os constituintes M que pertencem à família (Zr, Mo, Ti, Nb, Ta, Hf, Cr) e silício, caracterizado pelo fato de que injeta-se pelo menos uma fração do dito composto do qual os constituintes estão ligados por ligações covalentes e/ou iónicas e/ou metálicas em um propulsor de plasma, o dito propulsor de plasma projetando os constituintes do dito composto no alvo de maneira a obter uma colocação do dito composto ao nível de uma porção de superficie do dito alvo.

Description

"PROCESSO DE ELABORAÇÃO POR PROJEÇÃO TÉRMICA,NOTADAMENTE POR VIA PLASMA, DE UM ALVO, ALVO DEDISPOSITIVO DE PULVERIZAÇÃO CATÓDICA, COMPOSIÇÃO DEUM COMPOSTO, CAMADA OBTIDA A PARTIR DE UM ALVO, E,CONJUNTO QUE COMPREENDE UM SUBSTRATO E PELO MENOSUMA CAMADA"
A presente invenção se refere a um processo de elaboração deum alvo destinado a ser utilizado nos processos de colocação sob vácuo, ematmosfera neutra ou reativa, notadamente por pulverização catódica assistidapor campo magnético, por pulverização ou por fonte de íons.
De acordo com um outro aspecto da invenção, ela visa tambémum alvo obtido pela execução do dito processo, assim como a utilização deum tal alvo tendo em vista a obtenção de camadas à base do materialpulverizado a partir do dito alvo, assim como uma composição do compostoque permite a elaboração do dito alvo pelo processo objeto da invenção.
São conhecidas diversas técnicas que levam à fabricação dealvos a partir da utilização de uma mistura de pós. Assim, os alvos em questãopodem resultar de um processo de fundição, de sinterização da dita mistura,ou menos classicamente de uma técnica de projeção térmica, e maisespecialmente de uma técnica de projeção por maçarico de plasma (oucomumente chamado de spray plasma em inglês).
As técnicas de projeção térmica dão satisfação enquanto setrata de elaborar alvos mono constituinte, mas quando o alvo é à base devários constituintes, o alvo apresenta geralmente heterogeneidades estruturaisque levam a inomogeneidades ao nível da camada colocada.
Mais especialmente, os inventores constataram que paramisturas de pós que apresentam densidades sensivelmente diferentes, porexemplo uma mistura à base de pós que compreende silício (densidade =2,34), alumínio (densidade = 2,7) e um outro constituinte M do qual adensidade pode estar compreendida entre 5 e 10, as diferenças de densidadeentre Si, Al por um lado e M por outro lado, induzem os seguintes problemas:
- risco de segregação e portanto de heterogeneidade na misturade pó antes de injeção que leva finalmente a um alvo inomogêneo emcomposição,
- trajetórias diferentes de cada uma das espécies na veiaplasma para os pós de densidades diferentes, que levam à separação do feixede partículas em quantos feixes quantos forem os níveis de densidadediferentes (respectivamente quantos feixes quanto houver de espécie ou deconstituinte na mistura). Esses feixes distintos levam então aheterogeneidades de microestrutura no alvo, a microestrutura sendo então detipo multicamadas (superposição de camadas AeB).
essas heterogeneidades no alvo induzem efeitos negativos porocasião da realização das camadas finas por pulverização (fenômeno de arcosparasitas, heterogeneidade das composições das camadas finas). Isso podetambém produzir um aumento de rugosidade da superfície do alvoconsecutivo ao gradiente de rendimento de pulverização das diferentes zonasno seio do alvo. Esse aumento de rugosidade pode se traduzir nos casosextremos pelo aparecimento de arcos na superfície (exacerbação do campoelétrico por efeito de ponta).
Por outro lado, certas espécies que devem ser misturadas aosconstituintes apresentam riscos industriais elevados sobretudo quando elasestão presentes sob a forma de metais puros pulverulentos (grande superfícieespecífica) nas gamas de granulometria exigidas para a projeção de plasma(risco de explosão para certos metais devido a sua extrema avidez emoxigênio).
A presente invenção visa portanto corrigir essesinconvenientes propondo para isso um processo de elaboração de alvos porprojeção térmica, notadamente por via plasma que permite a obtenção de alvode microestrutura homogênea, apesar da disparidade das densidadesrespectivas de cada uma das espécies que constituem a mistura inicial.
Para isso, o processo de elaboração, objeto da invenção, porprojeção térmica, notadamente por via plasma, de um alvo, o dito alvocompreendendo pelo menos um composto à base de átomos de naturezadiferente escolhidos notadamente entre os constituintes M que pertencem àfamília (Zr, Mo, Ti, Nb, Ta, Hf, Cr) e silício, caracterizado pelo fato de queinjeta-se pelo menos uma fração do dito composto do qual os constituintesestão ligados por ligações covalentes e/ou iônicas e/ou metálicas em umpropulsor de plasma, o dito propulsor de plasma projetando os constituintesdo dito composto no alvo de maneira a obter uma colocação do dito compostoao nível de uma porção de superfície do dito alvo.
Graças à injeção de um composto de tipo liga (ou queapresenta uma mistura estreita dos átomos) na veia de plasma, não há maisrisco de heterogeneidade entre os átomos constitutivos do dito composto aonível do material colocado.
Em modos de realização preferidos da invenção, é possíveleventualmente recorrer por outro lado a uma e/ou a outra das seguintesdisposições:
- injeta-se uma outra fração do dito composto sob a forma deuma mistura de pós,
- adapta-se a granulometria de cada um dos pós que formam amistura em função de sua densidade respectiva de maneira a que a massamédia respectiva dos mesmos seja a mais próxima possível,
- utilizam-se vários canais de injeção para os quais ajusta-seindependentemente os parâmetros de injeção em função dos materiaisinjetados em cada canal,
- a projeção do composto é realizada no seio de um recintocheio com uma atmosfera neutra depois de uma purgação prévia porcolocação em vácuo,
- a projeção do composto é realizada no seio de um recinto quefoi purgado sob vácuo e depois cheio com um gás neutro, até uma pressão quepode ir de 50 mbars a 1000 mbars,
- realiza-se um movimento relativo entre o alvo e o plasma,
- realiza-se um tratamento de superfície do alvo previamente àcolocação do dito composto,
- o tratamento de superfície compreende uma limpeza daporção de superfície do alvo,
- o tratamento de superfície compreende uma colocação deuma camada de um material de fixação ao nível da porção de superfície doalvo,
- procede-se a uma regulação térmica da porção de superfíciedo alvo por ocasião da projeção de plasma,
- injeta-se pelo menos um silicieto do dito metal M.
De acordo com um outro aspecto da invenção, essa última visaum alvo de dispositivo de pulverização catódica, notadamente assistida porcampo magnético, o dito alvo compreendendo majoritariamente silício,caracterizado pelo fato de que sua composição global é do tipo SixAlyM, Msendo um metal escolhido entre (Zr, Mo, Ti, Nb, Ta, Hf, Cr) e pelo fato deque ela compreende um composto pelo menos do tipo SixMy.
Em modos de realização preferidos da invenção, é possíveleventualmente recorrer por outro lado a uma e/ou a outra das seguintesdisposições:
- o alvo compreende também um composto de tipo silicieto dodito metal,
- o alvo tem uma geometria plana ou tubular,
- o alvo é à base de um material de sustentação feito de cobreou de liga de cobre,- o alvo é revestido de uma camada de fixação à base de umaliga de cobre,
- o alvo é à base de um material de sustentação feito de açoinoxidável,
- o alvo é revestido de uma camada de fixação à base de umaliga de níquel.
De acordo com mais uma outra característica da invenção, essaúltima visa uma composição do composto que compreende os constituinteselaboração de um alvo caracterizada pelo fato de que ela compreende:
- Al: 2 a 20 %
- Si: 25 a 45 %
- ZrSi2: 45 a 70 %.
Outras características e vantagens da invenção aparecerão no15 decorrer da descrição seguinte dada a título de exemplos não limitativos,ilustrada pelas figuras seguintes:
- a figura 1 é uma vista que mostra a microestrutura em cortede um alvo SiZrNAl obtido pelo processo de elaboração de acordo com ainvenção,
- a figura 2 é uma vista que mostra a microestrutura em cortede um alvo ZrSi2Al obtido pelo processo de elaboração de acordo com ainvenção,
- a figura 3 é uma vista que mostra a microestrutura em cortede um alvo ZrSiAl obtido pelo processo de elaboração tradicional (porsinterização).
De acordo com um modo preferido de elaboração de um alvoobjeto da invenção, esse último compreende um suporte cilíndrico ou planofeito de liga de cobre ou feito de aço inoxidável. Esse suporte metálico sofreum tratamento por projeção de grãos abrasivos (granulação 36 ou 24 porexemplo) ou por realização de ranhuras ou estrias por usinagem a fim defavorecer a aderência de uma subcamada de fixação.
Em função da natureza do material que forma o suporte doalvo, o material dessa subcamada de fixação será diferenciado. Assim, paraum suporte feito de aço, a subcamada é realizada em liga à base de Ni (porexemplo NiAl com Ni 75 a 100 % em proporção mássica) enquanto que paraum aplaca de sustentação à base de cobre, a subcamada é uma liga à base decobre, por exemplo de tipo Cu-Al-Fe ou Cu-Al (80 a 95 % de Cu - e 5 a 20 %de Al - e 0 a 5 % de Fé), as proporções expressas sendo mássicas.
Essa subcamada pode ser colocada por uma técnica clássica deprojeção de plasma. É também possível aplicá-la por projeção de arco elétricoou de chama oxiacetilênica. Se for necessário, são utilizados vários canais deinjeção para os quais ajusta-se independentemente os parâmetros de injeçãoem função dos materiais injetados em cada canal, isso permitindo tambémanular os efeitos negativos das disparidades de densidade.
Esse suporte assim revestido com uma subcamada de fixação éinstalado em um recinto, inicialmente colocado em vácuo e posteriormentecheio com uma atmosfera neutra (argônio por exemplo) sob uma pressão de10 a 1000 mbars.
Depois de colocação em movimento relativo o suportedestinado a constituir o alvo em relação ao dispositivo de projeção por plasmae regulação térmica por uma circulação de fluido portador de calor ao nível dosuporte metálico, injeta-se um composto de composição SiZrAl obtida a partirde uma mistura de pós de composição
- ZrSi2 - granulometria 15-50 μπι - Densidade ZrSi2 = 4,88 g/cm3
o
-Si - granulometria 30-90 μπι - Densidade Si = 2,34 g/cm
-Al - granulometria 45-75 μπι - Densidade Al = 2,7 g/cm
Os 3 pós foram misturados nas proporções exigidas, ou seja:- 60 % mássicos de ZrSi2
- 34,5 % mássicos de Si
- 5,5 % mássicos de Al
Nesse exemplo o metal M escolhido que é ligado ao silício soba forma de silicieto é zircônio, mas fica bem entendido que teria sido possívelutilizar um constituinte sob a forma de um metal M escolhido entre (Zr, Mo,Ti, Nb, Ta, Hf, Cr).
A camada funcional Si-M-Al apresenta uma microestruturaconstituída por uma justaposição de zonas cuja composição émajoritariamente Si e por zonas de composição MaSib e por zonas decomposição Al, repartidas de modo homogêneo, o tamanho dessas zonassendo de alguns mícrons a cerca de 100 mícrons.
Esse alvo é especialmente destinado a ser utilizado no seio deuma instalação de colocação de colocação de camada sob vácuo (magnetronem atmosfera neutra ou reativa, notadamente por pulverização catódicaassistida por campo magnético, por descarga coroa, ou por pulverização porfonte iônica), tendo em vista a obtenção de uma camada à base do materialque forma o dito alvo, essa camada sendo à base de um nitreto misto de silícioe de zircônio, e cujo índice de refração está compreendido entre 2,10 e 2,30,preferencialmente entre 2,15 e 2,25. Essa camada é destinada a ser ligada(quer dizer colocada diretamente sobre um substrato ou indiretamente sobreuma outra camada ela própria em contato com um substrato) a um substratofeito de matéria orgânicas (PMMA, PC) ou inorgânica (vidro à base de sílica).
Como pode ser visto nas figuras 1 e 2, é constatado que aestrutura é lamelar. Estratos de cor branca ou cinza claro correspondem aoalumínio enquanto que a fase de cor cinza mais escuro corresponde ao ZrSi2ou ao ZrN. As manchas pretas são a porosidade residual.
A microestrutura lamelar dessas figuras devem ser comparadascom aquela representada na figura 3. Como o mostra essa figura 3, amicroestrutura não é absolutamente lamelar (não há estratos de cor ou cinza),a fase cinza é Si, enquanto que a fase preta corresponde às porosidades e asfases brancas são Zr e Al. Os materiais aparecem sob a forma de partículasuniformemente repartidas na estrutura.
Em conclusão a essas análises quantitativas, é absolutamentepossível, a partir de uma microestrutura, caracterizar o processo de elaboraçãodo alvo assim analisado.

Claims (23)

1. Processo de elaboração por projeção térmica, notadamentepor via plasma, de um alvo, o dito alvo compreendendo pelo menos umcomposto à base de átomos de natureza diferente escolhidos notadamenteentre os constituintes M que pertencem à família (Zr, Mo, Ti, Nb, Ta, Hf, Cr)e silício, caracterizado pelo fato de que injeta-se pelo menos uma fração dodito composto do qual os constituintes estão ligados por ligações covalentese/ou iônicas e/ou metálicas em um propulsor de plasma, o dito propulsor deplasma projetando os constituintes do dito composto no alvo de maneira aobter uma colocação do dito composto ao nível de uma porção de superfíciedo dito alvo.
2. Processo de acordo com a reivindicação 1, caracterizadopelo fato de que injeta-se uma outra fração do dito composto sob a forma deuma mistura de pós.
3. Processo de acordo com uma das reivindicações 1 ou 2,caracterizado pelo fato de que adapta-se a granulometria de cada um dos pósque formam a mistura em função de sua densidade respectiva de maneira aque a massa média respectiva dos mesmos seja a mais próxima possível.
4. Processo de acordo com uma qualquer das reivindicaçõesprecedentes, caracterizado pelo fato de que a projeção do composto érealizada no seio de um recinto cheio com uma atmosfera neutra.
5. Processo de acordo com a reivindicação 4, caracterizadopelo fato de que a projeção do composto é realizada no seio de um recinto quefoi purgado sob vácuo e depois cheio com um gás neutro, até uma pressão quepode ir de 50 mbars a 1000 mbars.
6. Processo de acordo com uma qualquer das reivindicaçõesprecedentes, caracterizado pelo fato de que realiza-se um movimento relativoentre o alvo e o plasma.
7. Processo de acordo com uma qualquer das reivindicaçõesprecedentes, caracterizado pelo fato de que realiza-se um tratamento desuperfície do alvo previamente à colocação do dito composto.
8. Processo de acordo com a reivindicação 7, caracterizadopelo fato de que o tratamento de superfície compreende uma limpeza daporção de superfície do alvo.
9. Processo de acordo com a reivindicação 7, caracterizadopelo fato de que o tratamento de superfície compreende uma colocação deuma camada de um material de fixação ao nível da porção de superfície doalvo.
10. Processo de acordo com uma qualquer das reivindicaçõesprecedentes, caracterizado pelo fato de que procede-se a uma regulaçãotérmica da porção de superfície do alvo por ocasião da projeção de plasma dodito composto.
11. Processo de acordo com uma qualquer das reivindicaçõesprecedentes, caracterizado pelo fato de que injeta-se pelo menos um silicietodo dito metal M.
12. Processo de acordo com uma qualquer das reivindicaçõesprecedentes, caracterizado pelo fato de que utiliza-se vários canais de injeçãopara os quais ajusta-se independentemente os parâmetros de injeção emfunção dos materiais injetados em cada canal.
13. Alvo de dispositivo de pulverização catódica, notadamenteassistida por campo magnético, o dito alvo compreendendo majoritariamentesilício obtido pelo processo de acordo com uma qualquer das reivindicaçõesprecedentes caracterizado pelo fato de que ele tem uma composição do tipoSixAlyM, M sendo um metal escolhido entre (Zr, Mo, Ti, Nb, Ta, Hf, Cr).
14. Alvo de acordo com a reivindicação 13, caracterizado pelofato de que o alvo compreende um composto de tipo silicieto do dito metal.
15. Alvo de acordo com uma das reivindicações 13 ou 14,caracterizado pelo fato de que ele tem uma geometria plana ou tubular.
16. Alvo de acordo com uma das reivindicações 13 a 15,caracterizado pelo fato de que ele é à base de um material de sustentação feitode cobre ou de liga de cobre.
17. Alvo de acordo com a reivindicação 16, caracterizado pelofato de que o alvo é revestido de uma camada de fixação à base de uma ligade cobre.
18. Alvo de acordo com uma das reivindicações 13 a 15,caracterizado pelo fato de que ele é à base de um material de sustentação feitode aço inoxidável.
19. Alvo de acordo com a reivindicação 18, caracterizado pelofato de que o alvo é revestido de uma camada de fixação à base de uma ligade níquel.
20. Composição de um composto que compreende osconstituintes definidos abaixo e expressos em porcentagem mássica, quepermite a elaboração de um alvo de acordo com uma qualquer dasreivindicações 13 a 19, caracterizada pelo fato de que ela compreende:- Al: 2 a 20%- Si: 25 a 45 %- ZrSi2: 45 a 70 %.
21. Composição de acordo com a reivindicação 20,caracterizada pelo fato de que ela é obtida a partir de uma mistura de póscujas granulometrias respectivas são as seguintes:- a granulometria do ZrSi2 é compreendida entre 15-20 μπι- a granulometria do Si é compreendida entre 30-90 μιη- a granulometria de Al é compreendida entre 45-75 μιη.
22. Camada obtida a partir de um alvo de acordo com umaqualquer das reivindicações 13 a 19, caracterizada pelo fato de que ela é àbase de um nitreto misto de silício e de zircônio, e cujo índice de refração estácompreendido entre 2,10 e 2,30, preferencialmente entre 2,15 e 2,25.
23. Conjunto que compreende um substrato e pelo menos umacamada de acordo com a reivindicação 22, caracterizado pelo fato de que adita camada é ligada ao dito substrato.
BRPI0607806-0A 2005-02-08 2006-02-03 Composição e alvo de pulverização catódica BRPI0607806B1 (pt)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0550358 2005-02-08
FR0550358A FR2881757B1 (fr) 2005-02-08 2005-02-08 Procede d'elaboration par projection thermique d'une cible a base de silicium et de zirconium
PCT/FR2006/050094 WO2006085020A1 (fr) 2005-02-08 2006-02-03 Procédé d'élaboration par projection thermique d'une cible à base de silicium et de zirconium

Publications (2)

Publication Number Publication Date
BRPI0607806A2 true BRPI0607806A2 (pt) 2010-10-19
BRPI0607806B1 BRPI0607806B1 (pt) 2019-02-26

Family

ID=34954397

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
BRPI0607806-0A BRPI0607806B1 (pt) 2005-02-08 2006-02-03 Composição e alvo de pulverização catódica

Country Status (15)

Country Link
US (1) US7993503B2 (pt)
EP (1) EP1846588B1 (pt)
JP (1) JP5154950B2 (pt)
KR (1) KR101331828B1 (pt)
CN (1) CN101115861B (pt)
AT (1) ATE476534T1 (pt)
BR (1) BRPI0607806B1 (pt)
CA (1) CA2596622C (pt)
DE (1) DE602006015914D1 (pt)
ES (1) ES2349426T3 (pt)
FR (1) FR2881757B1 (pt)
MX (1) MX2007009552A (pt)
PL (1) PL1846588T3 (pt)
PT (1) PT1846588E (pt)
WO (1) WO2006085020A1 (pt)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2096189A1 (en) * 2008-02-28 2009-09-02 Applied Materials, Inc. Sprayed Si- or Si:Al-target with low iron content
FR2944295B1 (fr) * 2009-04-10 2014-08-15 Saint Gobain Coating Solutions Cible a base de molybdene et procede d'elaboration par projection thermique d'une cible
FR2944294A1 (fr) * 2009-04-10 2010-10-15 Saint Gobain Couche obtenue par pulverisation d'une cible comprenant au moins un compose a base d'une poudre de molybdene
FR2944293B1 (fr) * 2009-04-10 2012-05-18 Saint Gobain Coating Solutions Procede d'elaboration par projection thermique d'une cible
FR2950878B1 (fr) 2009-10-01 2011-10-21 Saint Gobain Procede de depot de couche mince
KR101309648B1 (ko) * 2011-12-27 2013-09-17 재단법인 포항산업과학연구원 Rf 플라즈마를 이용한 몰리브덴 금속타겟 제조방법
CN103320757A (zh) * 2013-07-01 2013-09-25 烟台开发区蓝鲸金属修复有限公司 一种靶材及其制造方法
DE102013016529A1 (de) 2013-10-07 2015-04-09 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Metalloxid-Target und Verfahren zu seiner Herstellung
AT15596U1 (de) 2017-02-28 2018-03-15 Plansee Composite Mat Gmbh Sputtertarget und Verfahren zur Herstellung eines Sputtertargets
DE102017116972A1 (de) * 2017-07-27 2019-01-31 Karlsruher Institut für Technologie Verfahren zur Herstellung einer einphasigen Schicht aus intermetallischen Verbindungen
CN113897585B (zh) * 2021-10-11 2022-06-17 芜湖映日科技股份有限公司 一种硅铬旋转溅射靶材及其制备方法

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4619697A (en) * 1984-08-30 1986-10-28 Mitsubishi Kinzoku Kabushiki Kaisha Sputtering target material and process for producing the same
US5605609A (en) * 1988-03-03 1997-02-25 Asahi Glass Company Ltd. Method for forming low refractive index film comprising silicon dioxide
US5354446A (en) * 1988-03-03 1994-10-11 Asahi Glass Company Ltd. Ceramic rotatable magnetron sputtering cathode target and process for its production
EP0436741B1 (en) * 1989-08-01 1996-06-26 Asahi Glass Company Ltd. DC sputtering method and target for producing films based on silicon dioxide
US5377045A (en) * 1990-05-10 1994-12-27 The Boc Group, Inc. Durable low-emissivity solar control thin film coating
DE69117868T2 (de) * 1990-05-15 1996-07-25 Toshiba Kawasaki Kk Zerstäubungstarget und dessen herstellung
JPH0586463A (ja) * 1991-06-28 1993-04-06 Mitsubishi Materials Corp スパツタリング用ターゲツト及びその製造方法
JP3651909B2 (ja) * 1991-08-28 2005-05-25 旭硝子セラミックス株式会社 セラミックス回転カソードターゲットおよびその製造方法
JPH05214523A (ja) * 1992-02-05 1993-08-24 Toshiba Corp スパッタリングターゲットおよびその製造方法
JPH06158303A (ja) * 1992-11-20 1994-06-07 Mitsubishi Materials Corp スパッタリング用ターゲット及びその製造方法
WO1995004167A1 (fr) * 1993-07-27 1995-02-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Cible en siliciure metallique a point de fusion eleve, son procede de production, couche en siliciure metallique a point de fusion eleve, et dispositif a semi-conducteurs
US5736267A (en) * 1994-08-17 1998-04-07 Asahi Glass Company Ltd. Transparent conductive film and method for its production, and sputtering target
GB9600210D0 (en) * 1996-01-05 1996-03-06 Vanderstraeten E Bvba Improved sputtering targets and method for the preparation thereof
DE19852358C1 (de) * 1998-11-13 2000-05-25 Ver Glaswerke Gmbh Thermisch hoch belastbares Low-E-Schichtsystem
KR20030024854A (ko) * 2000-09-08 2003-03-26 아사히 가라스 가부시키가이샤 원통형상 타겟 및 그 제조방법
US6653027B2 (en) * 2001-02-26 2003-11-25 International Business Machines Corporation Attenuated embedded phase shift photomask blanks
JP4596379B2 (ja) * 2001-07-09 2010-12-08 Jx日鉱日石金属株式会社 ゲート酸化膜形成用ハフニウムシリサイドターゲット
CN1289709C (zh) * 2001-08-13 2006-12-13 贝卡尔特股份有限公司 用于制造溅射靶的方法
DE10140589A1 (de) * 2001-08-18 2003-02-27 Heraeus Gmbh W C Sputtertarget aus einer Siliziumlegierung und Verfahren zur Herstellung eines Sputtertargets
US6605358B1 (en) * 2001-09-13 2003-08-12 Guardian Industries Corp. Low-E matchable coated articles, and methods
US6830817B2 (en) * 2001-12-21 2004-12-14 Guardian Industries Corp. Low-e coating with high visible transmission
JP2005284216A (ja) * 2004-03-31 2005-10-13 Shin Etsu Chem Co Ltd 成膜用ターゲット及び位相シフトマスクブランクの製造方法
US7153578B2 (en) * 2004-12-06 2006-12-26 Guardian Industries Corp Coated article with low-E coating including zirconium silicon oxynitride and methods of making same
US7592068B2 (en) * 2005-01-19 2009-09-22 Centre Luxembourgeois De Recherches Pour Le Verre Et La Ceramique S.A. (C.R.V.C.) Heat treatable coated article with zirconium silicon oxynitride layer(s) and methods of making same

Also Published As

Publication number Publication date
FR2881757A1 (fr) 2006-08-11
MX2007009552A (es) 2007-09-13
PL1846588T3 (pl) 2011-01-31
PT1846588E (pt) 2010-11-09
ATE476534T1 (de) 2010-08-15
CN101115861B (zh) 2012-06-27
FR2881757B1 (fr) 2007-03-30
KR20070103425A (ko) 2007-10-23
WO2006085020A1 (fr) 2006-08-17
EP1846588A1 (fr) 2007-10-24
US20080138620A1 (en) 2008-06-12
JP5154950B2 (ja) 2013-02-27
DE602006015914D1 (de) 2010-09-16
KR101331828B1 (ko) 2013-11-21
CA2596622C (fr) 2013-05-28
BRPI0607806B1 (pt) 2019-02-26
CN101115861A (zh) 2008-01-30
US7993503B2 (en) 2011-08-09
EP1846588B1 (fr) 2010-08-04
ES2349426T3 (es) 2011-01-03
CA2596622A1 (fr) 2006-08-17
JP2008530353A (ja) 2008-08-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
BRPI0607806A2 (pt) processo de elaboração por projeção térmica, notadamente por via plasma, de um alvo, alvo de dispositivo de pulverização catódica, composição de um composto, camada obtida a partir de um alvo, e, conjunto que compreende um substrato e pelo menos uma camada
Lange et al. Oxidation behavior of magnetron sputtered double layer coatings containing molybdenum, silicon and boron
Ma et al. On the study of tailorable interface structure in a diamond/Al12Si composite processed by selective laser melting
Xia et al. Angular-dependent deposition of MoNbTaVW HEA thin films by three different physical vapor deposition methods
Briois et al. Structural investigations of YSZ coatings prepared by DC magnetron sputtering
Sarakinos et al. Synthesis of thin films and coatings by high power impulse magnetron sputtering
CN109604802A (zh) 钨或钨合金与钢的连接方法、型材的连接方法以及型材接头
Zhao et al. Fabrication of Mo2C coating on molybdenum by contact solid carburization
Matson et al. Effect of sputtering parameters on Ta coatings for gun bore applications
da Silva et al. Grid-assisted magnetron sputtering deposition of nitrogen graded TiN thin films
Hou et al. Interdiffusion behavior of Mo-Si-B/Al2O3 composite coating on Nb-Si based alloy
Field et al. A combinatorial comparison of DC and high power impulse magnetron sputtered Cr2AlC
Shah et al. Evaporation: Processes, bulk microstructures, and mechanical properties
Wu et al. Ablation behavior of monolayer and multilayer Ir coatings under carburizing and oxidizing oxyacetylene flames
Jankowski et al. From nanocrystalline to amorphous structure in beryllium-based coatings
Wu et al. Iridium coating deposited by double glow plasma technique—effect of glow plasma on structure of coating at single substrate edge
Wu et al. EBSD study of (1 1 0) orientation of iridium (Ir) coating on niobium (Nb) substrate by double glow plasma
Engwall et al. Sputter deposition of high electrical resistivity Au-Ta alloy coatings on rotating substrates
Gilmore et al. Stabilized zirconia–alumina thin films
JP2003314712A (ja) 温水栓バルブ
Li et al. Enhancing oxidation resistance of Mo metal substrate by sputtering an MoSi2 (N) interlayer as diffusion barrier of MoSi2 (Si) surface coating
Han et al. Oxidation behavior of thermally grown oxide on aluminized coating irradiated by high-current pulsed electron beam
Lackner et al. Growth structure and growth defects in pulsed laser deposited Cr–CrNx–CrCxN1− x multilayer coatings
Cho et al. Characterization of VPS-W coating layers on molybdenum after heat exposure
JPH10237507A (ja) ニッケル又はコバルトをベースとする超合金の部材に肉付けを施す方法

Legal Events

Date Code Title Description
B06G Technical and formal requirements: other requirements [chapter 6.7 patent gazette]

Free format text: SOLICITA-SE A REGULARIZACAO DA PROCURACAO, UMA VEZ QUE BASEADO NO ARTIGO 216 1O DA LPI, O DOCUMENTO DE PROCURACAO DEVE SER APRESENTADO EM SUA FORMA AUTENTICADA; OU SEGUNDO PARECER DA PROCURADORIA MEMO/INPI/PROC/NO 074/93, DEVE CONSTAR UMA DECLARACAO DE VERACIDADE, A QUAL DEVE SER ASSINADA POR UMA PESSOA DEVIDAMENTE AUTORIZADA A REPRESENTAR O INTERESSADO, DEVENDO A MESMA CONSTAR NO INSTRUMENTO DE PROCURACAO, OU NO SEU SUBSTABELECIMENTO.

B07A Application suspended after technical examination (opinion) [chapter 7.1 patent gazette]
B15K Others concerning applications: alteration of classification

Ipc: C23C 4/134 (2016.01), C23C 4/067 (2016.01), C04B 3

B09A Decision: intention to grant [chapter 9.1 patent gazette]
B09X Republication of the decision to grant [chapter 9.1.3 patent gazette]

Free format text: O PRESENTE PEDIDO TEVE UM PARECER DE DEFERIMENTO NOTIFICADO NA RPI NO 2502 DE 18-12-2018, TENDO SIDO CONSTATADO QUE ESTA NOTIFICACAO FOI EFETUADA COM INCORRECOES (O NUMERO DA PETICAO REFERENTE A DESENHOS APRESENTOU ERRO DE DIGITACAO), ASSIM REPUBLICO A REFERIDA PUBLICACAO.

B16A Patent or certificate of addition of invention granted [chapter 16.1 patent gazette]

Free format text: PRAZO DE VALIDADE: 10 (DEZ) ANOS CONTADOS A PARTIR DE 26/02/2019, OBSERVADAS AS CONDICOES LEGAIS.

B21F Lapse acc. art. 78, item iv - on non-payment of the annual fees in time

Free format text: REFERENTE A 15A ANUIDADE.

B24J Lapse because of non-payment of annual fees (definitively: art 78 iv lpi, resolution 113/2013 art. 12)

Free format text: EM VIRTUDE DA EXTINCAO PUBLICADA NA RPI 2616 DE 23-02-2021 E CONSIDERANDO AUSENCIA DE MANIFESTACAO DENTRO DOS PRAZOS LEGAIS, INFORMO QUE CABE SER MANTIDA A EXTINCAO DA PATENTE E SEUS CERTIFICADOS, CONFORME O DISPOSTO NO ARTIGO 12, DA RESOLUCAO 113/2013.