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Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Uberprüfung und Kontrolle einer Einzel-Glasscheibe oder eines zwei oder mehrere parallele Glasscheiben umfassenden Isolierglas-Elements, z. B. eines Isolierglasfensters, mit einem auf eine der Aussenseiten der Einzel-Glasscheibe oder des Isolierglas-Elements aufsetzbaren Gehäuse und einer in diesem angeordneten ersten Lichtquelle, deren optische Achse im auf der Einzel-Glasscheibe oder dem Isolierglas-Element aufgesetzten Zustand schräg gegenüber der Oberfläche der Einzel-Glasscheibe oder des Isolierglas-Element orientiert ist, wobei in dem Gehäuse zumindest eine erste Durchbrechung zum Durchtritt des von der ersten Lichtquelle in Richtung ihrer optischen Achse aussendbaren Lichtstrahles und der von der Einzel-Glasscheibe oder vom Isolierglas-Element reflektierten parallelen Lichtstrahlen vorge- sehen ist,
und wobei im Gehäuse eine Vorrichtung zur Bestimmung des gegenseitigen Abstandes der reflektierten Lichtstrahlen vorgesehen ist.
Bei der aus der WO 99/58928 A bzw. der US 5 966 214 A bekannten Vorrichtung wird die Dicke der Glasscheiben eines Isolierglas-Elements durch Laser-Triangulation bestimmt, wobei die gegenseitigen Abstände der von den Glasscheiben reflektierten Laserstrahlen mit Hilfe eines Massstabes vermessen werden können. Der durch die Unschärfe der von den reflektierten Licht- strahlen erzeugten Lichtpunkte bedingte Messfehler ermöglicht lediglich eine relativ ungenaue Dicken- und Abstandsbestimmung des Isolierglas-Elements Das Vorhandensein einer Beschich- tung auf den Glasscheiben kann bei dieser bekannten Vorrichtung nicht festgestellt werden, eine Bestimmung der Intensität der auf der Massstabs-Mattscheibe auftreffenden Lichtpunkte ist auch nicht vorgesehen.
Insbesondere vor und während der Errichtung von Gebäuden ist es aber für den Bau- Auftraggeber von besonderer Bedeutung die Qualität und die Funktionstüchtigkeit von Glasschei- ben und Isolierglas-Elementen zu überprüfen und zu kontrollieren. Neben dem Feststellen der genauen tatsächlichen Dicke und dem genauen tatsächlichen gegenseitigen Abstand der Glas- scheiben ist das Überprüfen der richtigen Lage einer Beschichtung auf der einen oder anderen Seite der Glasscheiben von grosser Bedeutung für deren wärmetechnische Funktion. Die Lage der Beschichtung auf der Glasscheibe oder auf dem Isolierglas-Element kann mit freiem Auge nicht bestimmt werden.
Die bisher auch übliche zerstörende Prüfung der Gläser ist mit einem grossen Aufwand verbunden und kann nur stichprobenartig durchgeführt werden
Bei der in der FR 2 751 068 A1 angegebenen Messvorrichtung zur Bestimmung der Glasdicke ist der auf die Glasscheibe einfallende Lichtstrahl immer senkrecht auf deren Oberfläche gerichtet ist und es wird das von den Grenzflachen Glas-Luft gestreute Licht zur Dickenbestimmung heran- gezogen. Dabei wird die Winkeldifferenz zwischen den so gestreuten Strahlen mit Hilfe eines optischen Detektors gemessen. Eine Bestimmung der auf einer der Glasflächen aufgedampften Schicht wird in diesem Dokument aber in keiner Form angesprochen. Es wird nur die Lage der von den beiden an den Glas-Grenzflächen gestreuten Lichtstrahlen gemessen.
Das in der DE 197 58 241 A1 angegebene Messverfahren wertet das zweidimensionale Fres- nel'sche Beugungsmuster aus, das beim Auftreffen eines monochromatischen, kohärenten und parallelen Laserstrahls auf einer Oberfläche entsteht. Das von einer CCD-Zeile und einer CCD- Matrix aufgenommene Beugungsbild lässt dabei Rückschlüsse auf die Kantenstruktur zu. Eine Bestimmung des Abstandes oder der Intensität von reflektierten Strahlen wird aber nicht vorge- nommen.
Schliesslich wird auch bei dem in der DE 195 45 369 C1 geoffenbarten Verfahren lediglich das auf eine CCD-Zeile von einer Prüflingsoberfläche abgebildete Intensitätsprofil eines Streifen- systems von interferierenden Lichtstrahlen ausgewertet. Mehrfach-Gläser können auf die in der DE 195 45 369 C1 angegebenen Weise weder der Dicke nach noch hinsichtlich ihrer Beschichtung vermessen werden.
Eine weitere Methode, eine Beschichtung auf einem Isolierglas-Element festzustellen, besteht in der kapazitiven Messung derselben. Diese ist aber nur bis zu einer bestimmten Dicke des Iso- lierglas-Elements möglich und die dafür geeignete Messvorrichtung muss immer jeweils auf der beschichteten Scheibe des Isolierglas-Elements aufliegen, was nicht immer möglich ist, wenn diese z. B. an der Aussenseite eines Gebäudes ist.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art anzugeben, mit der eine zerstörungsfreie Überprüfung der Lage von auf einer Einzel-Glasscheibe oder den Glasscheiben des Isolierglas-Elements vorhandenen Beschichtungen möglich ist
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Eine weitere Aufgabe besteht darin, die Vorrichtung tragbar, einfach handhabbar und bedie- nungssicher zu gestalten.
Erfindungsgemäss wird dies dadurch erreicht, dass die Vorrichtung zur Bestimmung des gegen- seitigen Abstandes der reflektierten Lichtstrahlen durch einen orts-auflösenden opto-elektronischen Detektor gebildet ist, und dass der opto-elektronische Detektor mit einer Auswerte-Vorrichtung verbunden ist, welche aus den Abständen und Intensitäten der reflektierten Lichtstrahlen die Dicke der Einzel-Glasscheibe bzw. der einzelnen Glasscheiben des Isolierglas-Elements und deren gegenseitigen Abstand und/oder das Vorhandensein und die Lage von auf der Einzel-Glasscheibe oder den einzelnen Glasscheiben des Isolierglas-Elements aufgebrachten Beschichtungen ermit- telt.
Die Verwendung eines opto-elektronischen Detektors ermöglicht eine genaue Vermessung des gegenseitigen Abstandes der von der Einzel-Glasscheibe oder dem Isolierglas-Element reflektier- ten Strahlen, da aus der Intensitätsverteilung der reflektierten Strahlen die Bestimmung der Intensi- tätsmaxima erfolgen kann, die eine sehr genaue Abstandsbestimmung ermöglichen.
Durch Auswertung der reflektierten Intensitäten können auch verlässliche Aussagen über die Anwesenheit von Beschichtungen und deren Lage auf den einzelnen Isolierglasscheiben getroffen werden.
Die Anwendung von ortsauflösenden opto-elektronischen Sensoren bei der Vermessung von reflektierten oder gestreuten Lichtstrahlen ist zwar an sich bekannt, in keinem dieser Dokumente wird aber mit solchen die Überprüfung der Lage einer Glasbeschichtung verwirklicht.
Eine weitgehend standardisierte Messung und Auswertung der reflektierten Lichtstrahlen kann gemäss einer Weiterbildung der Erfindung dadurch geschehen, dass der opto-elektronische Detektor aus einem eine Vielzahl von Bildspeicher-Punkten enthaltenden CCD (Charge Coupled Device) - Element gebildet ist, und dass die von der Einzel-Glasscheibe oder vom Isolierglas-Element reflek- tierten Lichtstrahlen auf die Bildspeicher-Punkte auftreffen.
Da die reflektierten Lichtstrahlen zu ihrer verzerrungsfreien Vermessung in einer Normalebene zu den zu vermessenden Isolierglasscheiben verlaufen sollen, kann in weiterer Ausbildung der Erfindung vorgesehen sein, dass das CCD-Element als CCD-Zeile ausgebildet ist, bei der die Bildspeicher-Punkte linear entlang der Längsachse der CCD-Zeile angeordnet sind, und dass die Längsachse der CCD-Zeile in der durch die reflektierten Lichtstrahlen aufgespannten Ebene ver- läuft.
Eine für die praktische Anwendung und für die Herstellung der erfindungsgemässen Vorrichtung vorteilhafte Ausführungsform der Erfindung kann darin bestehen, dass die zumindest eine erste Durchbrechung zum Durchtritt des von der ersten Lichtquelle aussendbaren Lichtstrahls und der von der Einzel-Glasscheibe oder vom Isolierglas-Element zurückreflektierten Lichtstrahlen - in an sich bekannter Weise - in einer Gehäusewand an der Unterseite des Gehäuses ausgenommen ist, und dass die optische Achse der ersten Lichtquelle, vorzugsweise in einem Winkelbereich von 45 bis 60 , gegenüber der Gehäusewand verläuft.
Eine sehr kompakte Ausbildung der erfindungsgemässen Vorrichtung lässt sich gemäss einer weiteren Variante der Erfindung dadurch erzielen, dass die erste Lichtquelle durch eine Laser-Diode gebildet ist.
Gemäss einer weiteren Ausführungsform der Erfindung kann vorgesehen sein, dass die erste Wanddurchbrechung rechteckförmig ausgebildet ist, und dass die CCD-Zeile entlang der Längsmit- telachse der ersten Wanddurchbrechung und höhenversetzt zu der die ersten Wanddurchbrechung ausbildenden Gehäusewand angeordnet ist
Auf diese Weise können entsprechend viele nebeneinander beabstandete, reflektierte Licht- strahlen vermessen werden, sodass auch Isolierglas-Elemente mit mehreren Glasscheiben und relativ grosser gegenseitiger Beabstandung überprüft werden können.
Eine weitere Ausführungsform der Erfindung kann darin bestehen, dass die Auswertevorrich- tung mit einer Anzeigevorrichtung verbunden ist, über welche die Anzahl, die Dicke, der gegensei- tige Abstand der parallelen Glasscheiben und die Lage einer gegebenenfalls vorhandenen Be- schichtung auf der Vorder- oder Rückseite der Einzel-Glasscheibe oder der Glasscheiben des Isolierglas-Elements anzeigbar ist.
Die Anzeigevorrichtung ermöglicht eine übersichtliche und schnelle Darstellung des Messergeb- nisses.
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Um Einflüsse auf das Messergebnis durch Störlicht gering zu halten, kann gemäss einer anderen Variante der Erfindung vorgesehen sein, dass - in Richtung der reflektierten Strahlen gesehen - in einem Abstand vor der CCD-Zeile ein Interferenzfilter angeordnet ist, das unter Berücksichtigung des Einfallswinkels der reflektierten Strahlen nur für die Wellenlänge des von der ersten Lichtquelle aussendbaren Lichtes durchlässig ist. Auf diese Weise kann praktisch nur Licht mit der von der ersten Lichtquelle ausgestrahlten Wellenlänge in den opto-elektronischen Detektor gelangen, wodurch eine sehr genaue Intensitätsbestimmung der reflektierten Strahlen möglich ist.
Eine weitere Verringerung des Störlichteinflusses lässt sich dadurch erzielen, dass gemäss einer weiteren Ausführungsform der Erfindung die Dicke der Gehäusewand an der Unterseite des Ge- häuses grösser als die Offnungsweite der Durchbrechung zum Durchtntt der zurückreflektierten Lichtstrahlen ist. Von ausserhalb der erfindungsgemässen Vorrichtung schräg auf die Durchbre- chung einfallendes Licht aus der Umgebung der Glasscheibe oder des Isolierglas-Elements kann damit grösstenteils vom Eintritt durch die Durchbrechung abgehalten werden bzw. wird das Storlicht an der Durchbrechungswandung absorbiert.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der in den beigeschlossenen Zeichnungen dargestell- ten Ausführungsbeispiele eingehend erläutert. Es zeigt dabei
Fig.1eine Draufsicht auf das Gehäuse einer Ausführungsform der erfindungsgemässen Vorrich- tung;
Fig.2 eine Draufsicht auf das geöffnete Gehäuse gemäss Fig 1;
Fig.3 ein Schnitt AA durch das Gehäuse gemäss Fig.2;
Fig. 4 ein Schnitt BB durch das Gehäuse gemäss Fig.2,
Fig.5 eine schematische Darstellung des Strahlenganges durch ein Isolierglas-Element und eine weitere Ausführungsform der erfindungsgemässen Vorrichtung,
Fig.6 eine schematische Darstellung der Intensitätsverteilung der von einer Scheibe eines Iso- lierglas-Elements reflektierten Strahlen nach Fig.5 und
Fig. 7 eine schematische Darstellung der Intensitätsverteilung der von einem beschichteten Isolierglas-Element reflektierten Strahlen.
Fig. 1 bis 4 zeigen eine Vorrichtung zur Überprüfung und Kontrolle eines aus zwei parallelen Glasscheiben bestehenden Isolierglas-Elements 41,42, z. B. eines Isolierglasfensters oder eines ähnlichen aus Isolierglas bestehenden Gegenstandes, der auch mehr als zwei parallele Glasplat- ten umfassen kann. Auch die Kontrolle von Einzel-Glasscheiben ist mit dieser Vorrichtung möglich Überprüft und kontrolliert soll der Zustand des Isolierglases nach dessen Herstellung oder nach dessen Einbau in Gebäuden werden, um beispielsweise sicherzustellen, dass gegebenenfalls vorhandene Beschichtungen richtig auf die Glasscheiben aufgebracht worden sind, und ob eine Härtung des Glases auch tatsächlich vorhanden ist und nicht etwa ungehärtetes Glas bei der Herstellung des Isolierglas-Elements verwendet worden ist.
Die Vorrichtung umfasst ein auf eine der Aussenseiten des Isolierglas-Elements 41,42 aufsetz- bares Gehäuse 1 und eine in diesem angeordnete erste Lichtquelle 2, vorzugsweise eine Laser- lichtquelle 2, von der aus ein nach unten gerichteter Lichtstrahl 10 ausgesendet werden kann.
In dem Gehäuse 1 ist an der Unterseite eine erste Durchbrechung 60 zum Durchtritt einerseits des von der ersten Lichtquelle 2 aussendbaren Lichtstrahles 10 und andererseits der vom Isolier- glas-Element 41,42 reflektierten parallelen Lichtstrahlen 11,12, 13,14 vorgesehen Zu diesem Zweck können aber auch zwei oder mehrere Durchbrechungen vorgesehen sein, solange diese den Durchtritt des ausgesendeten und des reflektierten Lichtes nicht behindern.
Das Gehäuse 1 weist an seiner Unterseite drei in Fig.3 nicht dargestellte Auflagepunkte auf, die das Auftreffen des Lichtstrahles 10 im wesentlichen in einer Normalebene zu den Glasscheiben des Isolierglas-Elements 41,42 auch bei leicht gewölbter Glasscheibe 41 gewährleisten, was Voraussetzung für die richtige Funktion der Vorrichtung ist.
Erfindungsgemäss ist vorgesehen, dass ein opto-elektronischer Detektor 3 zur Bestimmung des gegenseitigen Abstandes der reflektierten Lichtstrahlen 11,12, 13,14 und deren Intensität vorge- sehen ist.
Bevorzugt ist der opto-elektronische Detektor aus einem eine Vielzahl von Bildspeicher- Punkten 17 (Fig.6) enthaltenden CCD (Charge Coupled Device)-Element 3 gebildet, das so inner- halb des Gehäuses 1 angeordnet ist, dass die vom Isolierglas-Element 41,42 reflektierten Licht- strahlen 11, 12, 13, 14 auf die Bildspeicher-Punkte 17 auftreffen.
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Die erfindungsgemässe Vorrichtung ist insbesondere für gehärtete, laminierte, beschichtete und gefärbte Gläser anwendbar. Sie kann gegen eine unsachgemässe Inbetriebnahme durch einen weiteren Sensor geschützt werden, welcher feststellt, ob sich eine Glasfläche im Messbereich befindet.
Die Funktionsweise der erfindungsgemässen Vorrichtung wird anhand des in Fig.5 gezeigten Strahlenganges durch ein aus drei parallelen Scheiben 41,42, 43 gebildeten Isolierglas-Elements gezeigt. Diese sind in den meisten Fällen durch einen mit Inertgas gefüllten Zwischenraum vonein- ander getrennt, wodurch bei Durchtritt des ausgesendeten Strahls sowohl Reflexions- als auch Brechungsphänomene zu beobachten sind. Bei Verbundgläsern kann der Abstand zwischen zwei Glasscheiben auch durch ein Laminat gefüllt sein. Auch bei solchen Isolierglasscheiben ist die erfindungsgemässe Vorrichtung anwendbar, sofern eine Änderung des Brechungsindexes zwischen zwei Scheiben erfolgt.
Der schräg auf die Vorderseite der Scheibe 41 auftreffende Strahl 10 wird zu einem Teil reflek- tiert, der reflektierte Strahl 11trifft auf das CCD-Element 3 auf, das in den dargestellten Ausfüh- rungsformen der erfindungsgemässen Vorrichtung als CCD-Zeile 3 ausgebildet ist, bei der die Bildspeicher-Punkte 17 linear entlang der Längsachse der CCD-Zeile 3 angeordnet sind, wobei die Längsachse der CCD-Zeile 3 in der durch den reflektierten Lichtstrahl 10 und die weiteren reflek- tierten Lichtstrahlen 11,12, 13,14, 15,16 aufgespannten Ebene verläuft, sodass diese alle auf die CCD-Zeile 3 auftreffen und dort registriert werden können.
Im Ausführungsbeispiel gemäss Fig.5 ist an der Rückseite der Glasscheibe 41 eine metallische Beschichtung 50 aufgebracht, wie sie für Isolierglas-Elemente üblich ist. Der nicht-reflektierte Anteil des Lichtstrahles 10 wird bei Eintritt in die Glasscheibe 41 entsprechend deren Brechzahl gebro- chen und an der Rückseite der Glasscheibe 41 erneut teilweise reflektiert, wodurch ein zum reflek- tierten Lichtstrahl 11 paralleler reflektierter Lichtstrahl 12 an der Vorderseite der Glasscheibe 41 austritt, der versetzt zum Lichtstrahl 11auf der CCD-Zeile 3 auftrifft. Die weiteren Glasscheiben 42, 43 erzeugen in gleicher Weise an ihrer Vorder- und Rückseite reflektierte Strahlen 13,14 bzw. 15, 16, die zueinander versetzt auf die CCD-Zeile 3 auftreffen.
Die auf dem Weg zur CCD-Zeile 3 bewirkte mehrfache Brechung der reflektierten Strahlen durch die jeweils anderen Glasscheiben des Isolierglas-Elements ist in Fig.5 dargestellt.
Durch die Beschichtung 50 auf der Rückseite der Glasscheibe 41 erhöht sich der Anteil des an dieser Beschichtung 50 reflektierten Lichtes gegenüber einer an dieser Stelle unbeschichteten Glasscheibe.
Die dabei auftretende Intensitätserhöhung des reflektierten Strahles 12 ist in Fig.7 wiedergege- ben, in der die Intensität I des reflektierten und auf die CCD-Zeile 3 auftreffenden Lichtes in Ab- hängigkeit des entlang der CCD-Zeile 3 gemessenen Abstandes x aufgetragen ist. Wie aus Fig.7 ersichtlich, ergibt der an der Vorderseite der Glasscheibe 41 reflektierte Strahl 11 eine erste Inten- sitätsverteilung, deren Maximum 111 kleiner als das Maximum 112 der an der Rückseite der Glas- scheibe 41 und der Beschichtung 50 reflektierten Intensitätsverteilung ist. Die Intensitätsmaxima liegen im Abstand der Glasdicke d1 vor, die somit über die CCD-Zeile 3 bestimmbar ist. Strichliert ist in Fig.7 der Intensitätsverlauf eines Isolierglas-Elements ohne Beschichtung 50 eingezeichnet.
Deutlich ist die für diesen Fall geringere, an der Rückseite der Glasscheibe 41 reflektierte Licht- intensität zu erkennen. Aus diesem Intensitätsunterschied kann das Vorliegen einer metallischen Beschichtung bestimmt werden.
Erwartungsgemäss sind die an der zweiten Glasscheibe 42 reflektierten Lichtstrahlen ohne Be- schichtung 50 höher als mit einer solchen. Darauf muss bei der Auswertung der Messergebnisse Rücksicht genommen werden. Es sind natürlich komplizierte Fälle mit mehreren beschichteten Glasscheiben oder der einfache Fall einer beschichteten Einzel-Glasscheibe in analoger Weise zu bewältigen.
Auch der gegenseitige Abstand a der Glasscheiben 41,42 und die Dicke d2 der Glasscheibe 42 kann aus der Lage der Intensitätsmaxima ermittelt werden.
Aus Fig. 6 geht das dieser Abstandsbestimmung zugrundeliegende Messprinzip hervor, wobei jedem Bildspeicherpunkt 17 der CCD-Zeile 3 eine Orts-Koordinate zugeordnet ist. Bei einer praxis- gerechten Ausführungsform der Erfindung beträgt die Ortsauflösung ungefähr 0,05 mm.
Die von den reflektierten Strahlen 11 und 12 erzeugten Intensitätsverteilungen werden über die Bildspeicherpunkte 17 der CCD-Zeile 3 in diskrete Intensitätsmesspunkte aufgelöst, aus denen die
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Lage und die Hohe der Maxima 111 und 112 bestimmbar sind.
Der Abstand der Maxima ermöglicht die Dickenbestimmung und die Bestimmung des gegen- seitigen Abstandes der Glasplatten.
Zur Bearbeitung der aus der Messung der reflektierten Lichtstrahlen hervorgehenden Intensi- tätswerte ist die CCD-Zeile 3 mit einer Auswerte-Vorrichtung 45 verbunden (Fig.5), welche aus den Intensitäten der reflektierten Lichtstrahlen 11,12, 13,14, 15,16 das Vorhandensein und die Lage von auf den einzelnen Glasscheiben des in Fig.5 vermessenen Isolierglas-Elements 41,42, 43 aufgebrachten Beschichtungen 50 ermittelt.
Die Auswertevorrichtung 45 ist weiters mit einer Anzeigevorrichtung 46, z. B einer LCD- Anzeige, verbunden, über welche die Anzahl, die Dicke, der gegenseitige Abstand der parallelen Glasscheiben und die Lage einer gegebenenfalls vorhandenen Beschichtung auf der Vorder- oder Rückseite der Glasscheiben des Isolierglas-Elements 41,42, 43 gegebenenfalls unter Zuhilfenah- me graphischer Symbole anzeigbar ist. Die Anzeige 46 ist auf der Oberseite des Gehäuses 1 angebracht, wobei Tasten 21,22 und 23 zur Bedienung der erfindungsgemässen Vorrichtung vorgesehen sind (Fig.1).
Da die erfindungsgemässe Vorrichtung tragbar sein soll, ist es vorteilhaft, die erste Lichtquelle als eine Laser-Diode 2, z. B. rotes Licht, < 3mW, auszubilden, deren optische Achse vorzugsweise in einem Winkel von 45 bis 60 , vorzugsweise 52,5 gegenüber der Gehäusewand 61 verläuft.
Wie aus Fig. 2 und 3 ersichtlich, ist die erste Wanddurchbrechung 60 zum Durchtritt des von der Laser-Diode 2 ausgesendeten und vom Isolierglas-Element 41,42 reflektierten Lichtes im gezeigten Ausführungsbeispiel rechteckförmig ausgebildet. Die CCD-Zeile 3 ist entlang der Längs- mittelachse der ersten Wanddurchbrechung 60 und höhenversetzt zu der die erste Wanddurchbre- chung 60 ausbildenden Gehäusewand 61 angeordnet.
Um Störlichteffekte auszuschalten, ist - in Richtung der reflektierten Strahlen 11,12, 13,14 ge- sehen - in einem Abstand vor der CCD-Zeile 3 ein Interferenzfilter 67 angeordnet, das unter Be- rücksichtigung des Einfallswinkels der reflektierten Strahlen 11,12, 13,14 nur für die Wellenlänge des von der ersten Lichtquelle 2 ausgesendeten Lichtes durchlässig ist. Es kann in die erste Durchbrechung 60 eingesetzt sein.
Ein weiteres spektrales Filter 66 kann im Strahlengang des von der Laser-Diode 2 ausgesen- deten Lichtes vor seiner Reflexion durch das Isolierglas-Element angeordnet sein
Schliesslich kann die Dicke der Gehäusewand 61 an der Unterseite des Gehäuses 1 grösser als die Öffnungsweite der Durchbrechung 60 zum Durchtritt der zurückreflektierten Lichtstrahlen 11, 12,13, 14,15, 16 dimensioniert sein Damit wird das Eindringen von Störlicht begrenzt. Dieses wird zum Teil an der Wandung der Durchbrechung 60 absorbiert.
Um die innere Struktur eines Isolierglas-Elements sichtbar zu machen, insbesondere zu über- prüfen, ob dieses gehärtete Glasscheiben enthält oder nicht, ist weiters vorgesehen, dass das Gehäuse 1 zumindest eine zweite Durchbrechung 80 zum Durchtritt des von einer zweiten Licht- quelle 7 aussendbaren, flächigen Leuchtfeldes und ein auf die zweite Gehäusedurchbrechung 80 gerichtetes Gehäusefenster 38 aufweist.
Eine möglichst gleichmässige Ausleuchtung des auf dem Isolierglas-Element 41,42 auftreffen- den Leuchtfeldes wird erreicht, indem die zweite Lichtquelle durch eine, vorzugsweise U-förmige, Leuchtstoffröhre 7 gebildet ist.
Weiters ist eine erste Licht-Polarisationsvorrichtung 33 im Bereich der zweiten Lichtquelle 7 und eine zweite Licht-Polarisationsvorrichtung 32 im Bereich des Gehäusefensters 38 vorgesehen, wobei die erste Licht-Polarisationsvorrichtung 33 das von der zweiten Lichtquelle 7 ausgesendete Licht polarisiert und die zweite Licht-Polarisationsvorrichtung das vom Isolierglas-Element 41,42 reflektierte Licht polarisiert, wobei vorzugsweise eine lineare Polarisierung des Lichtes vorgenom- men wird. Denkbar wäre auch eine zirkuläre Polarisation.
Durch die Beschränkung des einfallenden Lichtes auf eine Polarisationsebene mittels der ers- ten Licht-Polarisationsvorrichtung 33 werden bestimmte Bereiche des Leuchtfeldes bei der Reflexi- on vom Isolierglas-Element 41, 42 so gedreht, dass sie genau in der Polarisationsebene der zwei- ten Licht-Polarisationsvorrichtung 32 zu liegen kommen und erscheinen daher bei Betrachtung des Gehäusefensters 38 hell, andere Bereiche sind aus dieser Polarisationsebene herausgedreht und erscheinen daher verdunkelt.
Gehärtete Gläser haben gegenüber ungehärteten Gläsern ein charakteristisches Aussehen bei
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Betrachtung unter polarisiertem Licht. Es kann daher bei Betrachtung des durch das Leuchtfeld der Lichtquelle 7 ausgeleuchteten Bereiches des Isolierglas-Elements 41,42 sofort beurteilt werden, ob ein gehärtetes oder ein ungehärtetes Glas vorliegt.
Bevorzugt sind die erste Licht-Polarisationsvorrichtung durch ein erstes Pol-Filter 33 und die zweite Licht-Polarisationsvorrichtung durch ein zweites Pol-Filter 32 gebildet.
Das Gehäusefenster 38 ist in einer in einem schrägen Winkel, vorzugsweise 45 , angestellten Gehäusewand 40 des Gehäuses 1 ausgenommen, wobei das zweite Pol-Filter 32 in einem parallel zum Gehäusefenster 38 verlaufenden ersten Rahmenteil 42 eingelassen ist. Ein Betrachter kann damit sehr bequem durch die schräge Seite des Gehäuses 1 und durch die zweite Durchbrechung 80 das von der Lichtquelle 7 beleuchtete Feld auf dem Isolierglas-Element 41, 42 betrachten.
Zur Aufnahme des ersten Pol-Filters 33 ist weiters im Inneren des Gehäuses 1 ein zweiter Rahmenteil 41 angeordnet, dessen Ebene in einem rechten Winkel zum ersten Rahmenteil 42 orientiert ist, sodass der erste und der zweite Rahmenteil 42,41 sich dachartig über der zweiten Durchbrechung 80 erstrecken. Die Leuchtstoffröhre 7 ist parallel zur Ebene des zweiten Rahmen- teils 41 angeordnet.
Die zweite Durchbrechung 80 ist durch ein Schutzglas 82 abgedeckt.
PATENTANSPRÜCHE:
1. Vorrichtung zur Überprüfung und Kontrolle einer Einzel-Glasscheibe oder eines zwei oder mehrere parallele Glasscheiben umfassenden Isolierglas-Elements, z. B. eines Isolierglas- fensters, mit einem auf eine der Aussenseiten der Einzel-Glasscheibe oder des Isolierglas-
Elements aufsetzbaren Gehäuse und einer in diesem angeordneten ersten Lichtquelle, de- ren optische Achse im auf der Einzel-Glasscheibe oder dem Isolierglas-Element aufge- setzten Zustand schräg gegenüber der Oberfläche der Einzel-Glasscheibe oder des Iso- lierglas-Element orientiert ist, wobei in dem Gehäuse zumindest eine erste Durchbrechung zum Durchtritt des von der ersten Lichtquelle in Richtung ihrer optischen Achse aussend- baren Lichtstrahles und der von der Einzel-Glasscheibe oder vom Isolierglas-Element re- flektierten parallelen Lichtstrahlen vorgesehen ist,
und wobei im Gehäuse eine Vorrichtung zur Bestimmung des gegenseitigen Abstandes der reflektierten Lichtstrahlen vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zur Bestimmung des gegenseitigen
Abstandes der reflektierten Lichtstrahlen (11,12, 13,14, 15,16) durch einen orts-auflösen- den opto-elektronischen Detektor (3) gebildet ist, und dass der opto-elektronische Detektor (3) mit einer Auswerte-Vorrichtung (45) verbunden ist, welche aus den Abständen und In- tensitäten der reflektierten Lichtstrahlen (11,12, 13,14, 15,16) die Dicke der Einzel-
Glasscheibe bzw. der einzelnen Glasscheiben des Isolierglas-Elements (41,42, 43) und deren gegenseitigen Abstand und/oder das Vorhandensein und die Lage von auf der Ein- zel-Glasscheibe oder den einzelnen Glasscheiben des Isolierglas-Elements (41,42, 43) aufgebrachten Beschichtungen (50) ermittelt.