AT264586B - Verfahren zum Entfernen von Oxydschichten von Germaniumkörpern - Google Patents
Verfahren zum Entfernen von Oxydschichten von GermaniumkörpernInfo
- Publication number
- AT264586B AT264586B AT801565A AT801565A AT264586B AT 264586 B AT264586 B AT 264586B AT 801565 A AT801565 A AT 801565A AT 801565 A AT801565 A AT 801565A AT 264586 B AT264586 B AT 264586B
- Authority
- AT
- Austria
- Prior art keywords
- germanium
- layer
- dioxide
- titanium
- tetragonal
- Prior art date
Links
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 title claims description 25
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N germanium dioxide Chemical compound O=[Ge]=O YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 42
- 229940119177 germanium dioxide Drugs 0.000 claims description 20
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 16
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 16
- RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N copper;5,10,15,20-tetraphenylporphyrin-22,24-diide Chemical compound [Cu+2].C1=CC(C(=C2C=CC([N-]2)=C(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(N=2)=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=C3[N-]2)C=2C=CC=CC=2)=NC1=C3C1=CC=CC=C1 RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 claims description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 7
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 5
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 4
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N oxogermanium Chemical compound [Ge]=O PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 239000012153 distilled water Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- ing And Chemical Polishing (AREA)
Description
<Desc/Clms Page number 1> Verfahren zum Entfernen von Oxydschichten von Germaniumkörpern Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Entfernen einer Oberflächenschicht aus tetragonalem Ger- maniumdioxyd von Germaniumkörpern. Bei Siliziumhalbleiterkörpem kann Siliziumdioxyd zum Passivieren der Halbleiteroberfläche, zum Begrenzen von Diffusionszonen und zum Verzögern der Diffusion von Verunreinigungen in die Halblei- teroberfläche benutzt werden. Siliziumdioxyd kann auf der Siliziumoberfläche durch Oxydation bei hoher Temperatur erzeugt weiden die Technik der Bildung einer Siliziumdioxydschicht und der Anbringung von Öffnungen für Diffusionszwecke ist allgemein bekannt. Diese Technik wurde bisher nicht bei Germanium durchgeführt, da die gebildeten Oxydschichten keine geeigneten Eigenschaften aufweisen ; die gewöhnlich hexagonale Form von Germaniumdioxyd ist nämlich in Wasser löslich. Es ist wohl vorgeschlagen worden, in diesem Falle Siliziummonoxyd als Diffusionsmaske anzuwenden. In der österr. Patentschrift Nr. 242749 ist die Bildung einer kohärenten Schicht aus tetragonalem Germaniumdioxyd auf einer Germaniumunterlage vorgeschlagen, welche Schicht Eigenschaften besitzt, die darauf hinweisen, dass dieses Material auf Germanium zum Ausführen von Verfahren verwendet werden kann, die denen der Verwendung von Siliziumdioxyd auf Silizium ähnlich sind. Tetragonales Germaniumdioxyd kann auch als Widerstandsmaterial oder als dielektrisches Material für Planarhalbleitervorrichtungen und als Oberflächenmaterial in Schmelztiegeln verwendet werden. Die Schicht tetragonalen Germaniumdioxyds ist gegen viele Lösungsmittel und chemische Stoffe widerstandsfähig : das Material ist z. B. unlöslich in Wasser oder Fluorwasserstoffsäure und es löst sich nur langsam in einer heissen 5Clo Lösung von Natriumhydroxyd. Die Durchführung von Photomaskierungsverfahren oder von Planartechniken bei einem Germaniumkörper mit einer solchen Oberflächenschicht ist infolgedessen weniger leicht, es sei denn, dass ein Verfahren gefunden werden könnte, bei dem das tetragonale Germaniumdioxyd örtlich schnell gelöst werden kann und das sich gegebenenfalls auch zur Anwendung von Photomaskierungsmaterial eignet : die Erfindung zielt auf ein solches Verfahren zum Entfernen von tetragonalem Germaniumdioxyd von der Oberfläche von Germanium ab, das sich zur Anwendung eines Photomaskierungsmaterials eignet. Gemäss der Erfindung wird bei einem Verfahren zum Entfernen tetragonalen Germaniumdioxyds von der Oberfläche eines Germaniumkörpers das Dioxyd mit Titan reduziert, worauf die Reaktionsprodukte entfernt werden. Das Titan kann auf bestimmte Zonen der Schicht des tetragonalen Germaniumdioxyds beschränkt werden. Dies kann z. B. durch Aufbringen unter Verwendung einer Maske oder durch Verwendung eines Photomaskierungsmaterials erreicht werden ; es kann z. B. ein Photomaskierungsmaterial auf einer Titanschicht angebracht werden, die auf der Schicht des tetragonalen Germaniumdioxyds vorhanden ist, oder es kann ein Photomaskierungsmaterial direkt auf der Germaniumoxydschicht und das Titan auf der Oberfläche des Photomaskierungsmaterials angebracht werden. Ein Beispiel des Verfahrens nach der Erfindung wird nachstehend an Hand der schematischen Zeich- <Desc/Clms Page number 2> nungen näher erläutert, in der die Fig. 1 bis 7 einen senkrechten Schnitt durch eine Germaniumscheibe in Reihenfolge der Vorgänge gemäss diesem Beispiel darstellen. Das Verfahren umfasst die nachfolgenden Vorgänge : 1. Das Ausgangsmaterial ist eine Germaniumscheibe-l-, deren Oberfläche mit einer Schicht EMI2.1 2. Eine Schicht aus Titan -3-- wird auf die Schicht-2-im Vakuum unter Anwendung einer üblichen Vakuumtechnik aufgedampft. Die Menge niedergeschlagenen Titans hängt von der Dicke der Germaniumdioxydschicht ab, welche entfernt werden sol Titan genügt zum Entfernen einer Schicht tetragonalen Germaniumdioxyds mit einer Stärke von 1 J1.. Der Vakuumdruck ist etwa 2 X 10-5 mm am Anfang des Aufdampfvorganges und nimmt während des Aufdampfens infolge der Getterwirkung von Titan ab. 3. Ein Photomaskierungsmuster --4-- wird in üblicher Weise auf der Titanschicht angebracht. 4. Die freiliegenden Teile der Titanschicht werden durch Ätzen entfernt ; das Ätzmittel besteht aus einem Gemisch von 1 VoL-Teil konzentrierter Fluorwasserstoffsäure, 4 VoL-Teilen konzentrierter Salpetersäure, 160 Vol.-Teilen destillierten Wassers. Dieses Ätzmittel entfernt das Titan schnell, aber greift die Photomaskierungsschicht nicht an, so dass das Titanmuster-3'-auf der Oberfläche des tetragonalen Germaniumdioxyds geschützt wird. 5. Die Photomaskierungsschicht-4-wird darauf in üblicher Weise durch Tauchen des Germaniumkörpers in ein organisches Lösungsmittel oder eine heisse Chromsäurelösung entfernt. Die Germaniumdioxydschicht hat dann genau definierte Zonen-3'-aus Titan an der Oberfläche. 6. Der Germaniumkörper wird auf etwa 5400 C während 1 h in einer Argonatmosphäre erhitzt, wobei das Titan das Germaniumdioxyd zu Germanium reduziert und selber Titandioxyd als Reaktionsprodukt in dem Teil--5- bildet. Die erwähnte Temperatur und Zeit müssen ausreichen, um 1 J1. Germaniumdioxyd zu entfernen. Die Reaktion kann durch Anwendung einer höheren Temperatur von 6000 C beschleunigt werden, in welchem Falle 1 J1. Germaniumdioxyd innerhalb 3 min entfernt wird. Die Anwendung dieser höheren Temperatur liefert ein schärfer definiertes Muster und ist daher zu bevorzugen. 7. Das Titandioxyd wird dadurch entfernt, dass der Germaniumkörper in konzentrierter Fluorwasserstoffsäure gewaschen wird, wobei sich das durch die Reduktion erhaltene amorphe Germanium und das überschüssige Titan von der Unterlage lösen. Wenn das reduzierte Germanium noch nicht volkom- men durch dieses Ätzmittel entfernt ist, kann weiter ein verdünntes Germaniumätzmittel üblicher Art benutzt werden. Da das Germanium im amorphen Zustand ist, verschwindet es sehr schnell und die Germaniumunterlage wird nur sehr wenig weggeätzt. Die Oberflächenteile --6- der Germaniumunterlage sind dann für Diffusionszwecke zur Verfügung oder zum Anbringen von Metallkontakten, z. B. durch Aufdampfen, zugänglich. Wenn eine Schicht tetragonalen Germaniumdioxyds auf der Oberfläche eines Germaniumkörpers über einem pn-Übergang gebildet wird, zeigt sich nach Erhitzung des Körpers auf etwa 6000 C, dass der Sperrstrom der erhaltenen Halbleitervorrichtung zunimmt. Diese Zunahme des Sperrstroms kann durch Erhitzung des Körpers während 12 h auf 2500 C vor der Erhitzung auf die höhere Temperatur verringert werden. Wenn eine Germaniumdberfläche mit einer Schicht tetragonalen Germaniumoxyds zunächst auf 250 C erhitzt wird, worauf die höhere Temperatur gemäss dem Verfahren nach der Erfindung zur Herstellung der Halbleitervorrichtung angewendet wird, haben die erhaltenen Vorrichtungen einen Sperrstrom, der nicht im gleichen Masse erhöht ist wie in dem Falle, in dem die Erhitzung auf 2500 C nicht durchgeführt wird. Die Schicht tetragonalen Germaniumdioxyds eignet sich dann zur Anwendung als Passivierungsschicht auf der Germaniumoberfläche.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH : Verfahren zum Entfernen von tetragonalem Germaniumdioxyd von der Oberfläche eines Germaniumkörpers für Halbleitervorrichtungen, dadurch gekennzeichnet, dass das Dioxyd mit Titan reduziert wird und die Reaktionsprodukte entfernt werden.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB3629064 | 1964-09-04 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| AT264586B true AT264586B (de) | 1968-09-10 |
Family
ID=10386761
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| AT801565A AT264586B (de) | 1964-09-04 | 1965-09-01 | Verfahren zum Entfernen von Oxydschichten von Germaniumkörpern |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| AT (1) | AT264586B (de) |
-
1965
- 1965-09-01 AT AT801565A patent/AT264586B/de active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE1614999A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Halbleitervorrichtungen mit einer einem vorgegebenen Flaechenmuster entsprechenden dielektrischen Schicht auf der Oberflaeche eines Halbleiterkoerpers | |
| DE1489240B1 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen | |
| DE2227344C3 (de) | ||
| DE2432719A1 (de) | Verfahren zum erzeugen von feinen strukturen aus aufdampfbaren materialien auf einer unterlage | |
| AT264586B (de) | Verfahren zum Entfernen von Oxydschichten von Germaniumkörpern | |
| DE2316520C3 (de) | Verfahren zum Dotieren von Halbleiterplättchen durch Diffusion aus einer auf das Halbleitermaterial aufgebrachten Schicht | |
| DE2853295C2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Speicherplatte für ein Vidikon | |
| DE1546171A1 (de) | Verfahren zum Entfernen von Oxydschichten von Germaniumkoerpern | |
| DE2252832A1 (de) | Halbleiterelement mit elektroden sowie verfahren zu seiner herstellung | |
| DE1929084C3 (de) | Ätzlösung für ein Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelementes | |
| DE2239145A1 (de) | Verfahren zur behandlung von halbleitermaterialien aus iii-v-verbindungen | |
| DE102006060800A1 (de) | Verfahren zum Bilden eines Grabens | |
| DE2327878C3 (de) | Verfahren zum Ätzen von mit Elektroden versehenen Halbleiterscheiben für Halbleiterbauelemente | |
| DE1546014A1 (de) | Verfahren zum AEtzen von Metallschichten mit laengs der Schichtdicke unterschiedlicher Zusammensetzung | |
| DE1619973A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Silicium | |
| DE2057204C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Metall-Halbleiterkontakten | |
| DE1764282C3 (de) | Halbleiteranordnung mit einer eine Aluminiumschicht tragenden, aus Siliziumoxid bestehenden Schicht | |
| DE2250989A1 (de) | Verfahren zur bildung einer anordnung monolithisch integrierter halbleiterbauelemente | |
| DE1186950C2 (de) | Verfahren zum entfernen von unerwuenschten metallen aus einem einen pn-uebergang aufweisenden silicium-halbleiterkoerper | |
| DE1521492C3 (de) | Verfahren zum Herstellen von Aluminiumstrukturen auf Halbleiteroberflächen, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens und Verwendung des Verfahrens | |
| DE2750805A1 (de) | Verfahren zur herstellung metallhaltiger schichten auf oberflaechen von halbleiterbauelementen | |
| DE2141235C3 (de) | Ätzmittel für metallbeschichtete SUiciumhalbleiterscheiben | |
| DE1514949C3 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauelementes oder einer Halbleiterschaltung | |
| DE1614358B2 (de) | Verfahren zum herstellen einer aetzmaske fuer die aetzbehandlung von halbleiterkoerpern | |
| DE2003952A1 (de) | Halbleitervorrichtung mit einem isolierenden Bereich und Verfahren zu ihrer Herstellung |