AT146891B

AT146891B - Photoelektrischer Belichtungsmesser in Verbindung mit einem kinematographischen Aufnahmeapparat.

Info

Publication number: AT146891B
Authority: AT
Original assignee: Zeiss Ikon Ag
Priority date: 1934-07-03
Filing date: 1935-06-05
Publication date: 1936-08-25

Description

Photoelektrischer Belichtungsmesser in Verbindung mit einem kinematographischen Aufnahme- apparat.

Bei photoelektrischen Belichtungsmessern, die mit den verschiedenen Elementen (Objektivblende, Empfindlichkeit des Aufnahmematerials, Winkel des Blendensektors und Aufnahmebildzahl pro Sekunde) eines kinematographischen Aufnahmeapparates durch Widerstände gekuppelt sind, ergeben sich erhebliche Schwierigkeiten in der konstruktiven Anordnung der Widerstände und der Kupplung derselben mit den Apparatelementen.

Durch die im folgenden beschriebene und in der Zeichnung in den Fig. 1-4 in einem Beispiel dargestellte Erfindung werden diese Schwierigkeiten beseitigt. Der Widerstand 1 (Fig. 2) ist an der Frontplatte konzentrisch zum Objektiv angeordnet und wird mittels eines Zeigers 2 nach einer Scheinergradskala 3 verdreht. Auf dem Widerstand 1 (Fig. 3) liegt ein schleifende Kontakt 4, welcher auf einem Ring 5 befestigt ist. Der Ring 5 (Fig. 2) hat ein Loch 6, in welches ein am Auswechselobjektiv 7 (Fig. 3) mit der Blendenstelleinrichtung 8 zu betätigender Stift 9 eingreift. Derselbe bewirkt beim Drehen des Blendenringes 8 ein Schleifen des Kontaktes 4 auf dem Widerstand 1.

Die Blendenstelleinrichtung 8
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Kurve 12 beim Drehen der Scheibe 10 über eine Hebelübertragung 13 eine Bremsbacke 14 gegen den Regulator 15 gedrückt wird. Diese Verstellung ist mit einem zweiten Widerstand 16 derart gekuppelt, dass beim Einstellen der Bildfrequenz der gesamte Widerstand 16 über Zahnräder 17, 18, 19 verdreht wird. Die Einstellung und Kupplung des Blendensektorwinkels wird in bekannter Weise dadurch erreicht, dass die eine Verschlussscheibe 20 fest mit einer Welle 21 verbunden ist, während die zweite Scheibe 22 mit einer geschlitzten Buchse 23 auf der Welle 21 drehbar angeordnet ist.

Wird nun mit einer auf einem Hebel 24 befestigten Gabel 25 die Buchse 26 in einer Geradführung (Vierkant) 27 verschoben, so erfolgt durch die Verschiebung eines Stiftes 28 in der mit einer Nut versehenen Buchse 23 eine Verdrehung des Blendensektors und damit eine Änderung des Blendensektorwinkels. Das Verschwenken des Hebels 24 wird durch eine an einer Einstellscheibe 29 angeordnete Kurve 30 erreicht. Die Einstellscheibe 29 ist nach einer Skala 31 verstellbar. Ausserdem bewirkt die Einstellscheibe 29 über Zahnräder 32,33, 34 eine Verstellung des Kontaktes 35 auf dem Widerstand 16.

Die Sperrschichtzelle 36 des photoelektrischen Belichtungsmessers ist an der Frontseite oberhalb des Objektivs 7 angeordnet, während das Messinstrument 37 unter der oberen Wand so eingebaut ist, dass seine Ablesung dureh ein über dem Suchereinblickfenster 38 befindliches Fenster 39 erfolgen kann. Sperrschichtzelle 36 (Fig. 4), Widerstände 1 und 16 und Messinstrument 37 sind, wie bekannt, in Serie geschaltet.

Die Fig. 5-9 zeigen ein weiteres Ausführungsbeispiel, wobei der Widerstand 1 (Fig. 8), für die Objektivblendenverstellung 8 am Auswechselobjektiv 7 fest angeordnet ist und der Blendeneinstellring 8 den Schleifkontakt 4 trägt. Die Einstellung der Empfindlichkeit des photographisehen Materials ist mittels einer lösbaren Kupplung auf den Widerstand 16 (Fig. 5) für den Blendensektorwinkel und die Bildfrequenz gelegt worden. Sie ist derart angeordnet, dass die Scheibe 29 (Fig. 5 und 6), die die Einstellmarke für den Sektorwinkel trägt, ausgekuppelt werden kann und mittels eines Fensters 40 nach einer auf einem Zahnrad 32 angebrachten Scheinergradskala 3 verstellt werden kann. Die übrige Anordnung ist wie die gemäss den Fig. 1-4.

Claims

PATENT-ANSPRÜCHE : 1. Photoelektrischer Belichtungsmesser in Verbindung mit einem hinnmatographischen Auf- 'nahmeapparat, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstellvorrichtungen für die Objektivblende und für die Empfindlichkeit des Aufnahmematerials sowie die des Blendensektors und der Bildzahl pro Sekunde auf je einen besonderen Widerstand (1 und 16) einwirken.

2. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Widerstand (1) für die Objektivblende und die Empfindlichkeit des Aufnahmematerials konzentrisch zum Objektiv (7) an der Frontplatte des Apparatgehäuses angeordnet ist.

3. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Wider- szand (16), welcher mit dem verstellbaren Blendensektor und der Einrichtung zur Änderung der Bild- frequenz gekuppelt ist, in der Ebene der Einstellmittel für den Blendensektor und die Bildfrequenz liegt.

4. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Wider- stand (16) mit dem Blendensektor und der Stelleinrichtung für die Bildfrequenz über Ausgleichskurven (12 und 30) gekuppelt ist.

5. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der mit der Objektivblende (8) gekuppelte Widerstand (1) am Auswechselobjektiv (7) angeordnet ist.

6. Photoelektrischer Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Wider- stand (16) für den verstellbaren Blendensektor und die Stelleinrichtung für die Bildfrequenz mit einer lösbaren Kupplung zur Einstellung der Empfindlichkeit des Aufnahmematerials versehen ist. EMI2.1