DE112014000422T5 - An emission display drive scheme providing compensation for drive transistor variations - Google Patents
An emission display drive scheme providing compensation for drive transistor variations Download PDFInfo
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Abstract
Systeme und Verfahren detektieren und kompensieren prozess- oder leistungsbezogene Ungleichförmigkeiten und/oder eine prozess- oder leistungsbezogene Qualitätsminderung in Anzeigen. Die Systeme und die Verfahren können einen Vorrichtungsstrom mit einem oder mit mehreren Referenzströmen vergleichen, um ein Ausgangssignal zu erzeugen, das die Differenz zwischen den Vorrichtungs- und Referenzströmen angibt. Diese Ausgangsspannung kann verstärkt werden und quantisiert werden und daraufhin dazu verwendet werden zu bestimmen, wie sich der Vorrichtungsstrom von dem Referenzstrom unterscheidet, und die Programmierspannung für die interessierende Vorrichtung dementsprechend einzustellen.Systems and methods detect and compensate for process or performance related nonuniformities and / or a process or performance related quality degradation in advertisements. The systems and methods may compare a device current to one or more reference currents to produce an output signal indicative of the difference between the device and reference currents. This output voltage may be amplified and quantized and subsequently used to determine how the device current differs from the reference current and to adjust the programming voltage for the device of interest accordingly.
Description
URHEBERRECHTCOPYRIGHT
Ein Abschnitt der Offenbarung dieses Patentdokuments enthält Material, das dem Urheberrechtsschutz unterliegt. Der Urheberrechtsinhaber hat keinen Einwand gegen die Faksimilewiedergabe der Patentoffenbarung, wie sie in den Akten oder Protokollen in dem Patent- und Warenzeichenbüro erscheint, durch jeden, behält sich aber ansonsten alle Urheberrechte vor.A portion of the disclosure of this patent document contains material that is subject to copyright protection. The copyright owner has no objection to the facsimile reproduction of the patent disclosure, as it appears in the file or protocol in the Patent and Trademark Office, by anyone, but otherwise reserves all copyrights.
GEBIET DER VORLIEGENDEN OFFENBARUNGFIELD OF THE PRESENT DISCLOSURE
Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf die Detektion und Behandlung von Ungleichförmigkeiten in einer Anzeigeschaltungsanordnung.The present disclosure relates to the detection and treatment of nonuniformities in a display circuitry.
HINTERGRUNDBACKGROUND
Organische Lichtemittervorrichtungen (OLEDs) altern, wenn sie Strom leiten. Im Ergebnis dieser Alterung nimmt die Eingangsspannung, die eine OLED benötigt, um einen gegebenen Strom zu erzeugen, im Zeitverlauf zu. Ebenfalls nimmt der Betrag des Stroms, der benötigt wird, um eine gegebene Leuchtdichte zu erzeugen, im Zeitverlauf zu, während der OLED-Wirkungsgrad abnimmt.Organic light emitting devices (OLEDs) age as they conduct electricity. As a result of this aging, the input voltage needed by an OLED to generate a given current increases over time. Also, the amount of current needed to produce a given luminance increases over time as OLED efficiency decreases.
Da OLEDs in Pixeln auf unterschiedlichen Bereichen einer Anzeigetafel unterschiedlich angesteuert werden, altern diese OLEDs unterschiedlich oder vermindert sich ihre Qualität unterschiedlich und mit unterschiedlichen Raten, was zu sichtbaren Unterschieden und Ungleichförmigkeiten zwischen Pixeln auf einer gegebenen Anzeigetafel führen kann.Because OLEDs are driven differently in pixels on different areas of a display panel, these OLEDs age differently or their quality degrades differently and at different rates, which can lead to visible differences and nonuniformities between pixels on a given display panel.
Ein Aspekt des offenbarten Gegenstands verbessert die Anzeigetechnologie dadurch, dass Ungleichförmigkeiten und/oder ein Qualitätsverlust in Anzeigen, insbesondere in Lichtemitteranzeigen, effektiv detektiert werden, und ermöglicht eine schnelle und genaue Kompensation, um die Ungleichförmigkeiten und/oder die Qualitätsminderung zu überwinden.One aspect of the disclosed subject matter improves display technology by effectively detecting non-uniformities and / or degradation in displays, particularly in light-emitting displays, and enables quick and accurate compensation to overcome the non-uniformities and / or degradation.
ZUSAMMENFASSUNGSUMMARY
Ein Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält das Verarbeiten einer Spannung, die einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen bei einem Auslesesystem fließt, entspricht. Außerdem enthält das Verfahren das Umsetzen der Spannung in ein entsprechendes quantisiertes Ausgangssignal, das die Differenz zwischen dem Referenzstrom und dem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom bei dem Auslesesystem angibt. Daraufhin stellt ein Controller einen Programmierwert für die ausgewählte Pixelschaltung um einen Betrag, der auf dem quantisierten Ausgangssignal beruht, in der Weise ein, dass die Speichervorrichtung der ausgewählten Pixelschaltung nachfolgend mit einem Strom oder mit einer Spannung, der bzw. die sich auf den eingestellten Programmierwert bezieht, programmiert ist.A method for compensating for deviations by a measured device current from a reference current in a display having a plurality of pixel circuits each including a memory device, a driving transistor, and a light emitting device includes processing a voltage equal to a difference between a reference current and a measured first device current; which flows across the drive transistor or via the light emitting device of a selected one of the pixel circuits in a readout system. In addition, the method includes converting the voltage to a corresponding quantized output signal indicative of the difference between the reference current and the measured first device current in the readout system. Thereafter, a controller adjusts a programming value for the selected pixel circuit by an amount based on the quantized output signal such that the memory device of the selected pixel circuit is subsequently connected to a current or to a voltage that is commensurate with the programmed programming value is, is programmed.
Ein Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält das Ausführen einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, um die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherzustellen. Außerdem enthält das Verfahren das Ausführen einer ersten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren. Eine erste Spannung, die der ersten Integrationsoperation entspricht, wird in einem ersten Speicherkondensator gespeichert und an der Integrationsschaltung wird eine zweite Rücksetzoperation ausgeführt, die die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt. In der Integrationsschaltung wird eine zweite Stromintegrationsoperation ausgeführt, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren, wobei eine zweite Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem zweiten Speicherkondensator gespeichert wird. Außerdem enthält das Verfahren das Erzeugen einer verstärkten Ausgangsspannung, die der Differenz zwischen der ersten Spannung und der zweiten Spannung entspricht, unter Verwendung eines oder mehrerer Verstärker und das Quantisieren der verstärkten Ausgangsspannung.A method for compensating for deviations by a measured device current from a reference current in a display having a plurality of pixel circuits each including a memory device, a driving transistor, and a light emitting device includes performing a first reset operation on an integrating circuit to bring the integrating circuit to a first known state restore. In addition, the method includes performing a first current integration operation in the integration circuit, the integration operation operable to provide a first input current that is a difference between a reference current and a measured first device current flowing across the drive transistor or via the light emitting device of a selected one of the pixel circuits. corresponds to integrate. A first voltage corresponding to the first integration operation is stored in a first storage capacitor and a second reset operation is performed on the integration circuit which restores the integration circuit to a second known state. In the integration circuit, a second current integration operation is performed to integrate a second input current corresponding to the leakage current on a reference line, wherein a second voltage corresponding to the second current integration operation is stored in a second storage capacitor is stored. In addition, the method includes generating an amplified output voltage corresponding to the difference between the first voltage and the second voltage using one or more amplifiers and quantizing the amplified output voltage.
Ein Verfahren zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält das Ausführen einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, um die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherzustellen. Außerdem enthält das Verfahren das Ausführen einer ersten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren. Eine erste Spannung, die der ersten Integrationsoperation entspricht, wird in einem ersten Speicherkondensator gespeichert und an der Integrationsschaltung wird eine zweite Rücksetzoperation ausgeführt, die die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt. In der Integrationsschaltung wird eine zweite Stromintegrationsoperation ausgeführt, um einen zweiten Strom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren, wobei eine zweite Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, in einem zweiten Speicherkondensator gespeichert wird. Außerdem enthält das Verfahren das Ausführen einer Mehr-Bit-Quantisierungsoperation auf der Grundlage der ersten gespeicherten Spannung und der zweiten gespeicherten Spannung.A method for compensating for deviations by a measured device current from a reference current in a display having a plurality of pixel circuits each including a memory device, a driving transistor, and a light emitting device includes performing a first reset operation on an integrating circuit to bring the integrating circuit to a first known state restore. In addition, the method includes performing a first current integration operation in the integration circuit, the integration operation operable to provide a first input current that is a difference between a reference current and a measured first device current flowing across the drive transistor or via the light emitting device of a selected one of the pixel circuits. corresponds to integrate. A first voltage corresponding to the first integration operation is stored in a first storage capacitor and a second reset operation is performed on the integration circuit which restores the integration circuit to a second known state. In the integration circuit, a second current integration operation is performed to integrate a second current corresponding to the leakage current on a reference line, wherein a second voltage corresponding to the second current integration operation is stored in a second storage capacitor. In addition, the method includes performing a multi-bit quantization operation based on the first stored voltage and the second stored voltage.
Ein System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält ein Auslesesystem. Das Auslesesystem ist konfiguriert zum: a) Verarbeiten einer Spannung, die einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, und b) Umsetzen der Spannung in ein entsprechendes quantisiertes Ausgangssignal, das die Differenz zwischen dem Referenzstrom und dem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom angibt. Außerdem enthält das System einen Controller, der dafür konfiguriert ist, einen Programmierwert für die ausgewählte Pixelschaltung um einen Betrag, der auf dem quantisierten Ausgangssignal beruht, in der Weise einzustellen, dass die Speichervorrichtung der ausgewählten Pixelschaltung nachfolgend mit einem Strom oder mit einer Spannung, der bzw. die sich auf den eingestellten Programmierwert bezieht, programmiert ist.A system for compensating for deviations by a measured device current from a reference current in a display having a plurality of pixel circuits each including a memory device, a driving transistor, and a light emitting device includes a readout system. The readout system is configured to: a) process a voltage corresponding to a difference between a reference current and a measured first device current flowing through the drive transistor or via the light emitting device of a selected one of the pixel circuits, and b) converting the voltage to a corresponding quantized one An output signal indicative of the difference between the reference current and the measured first device current. In addition, the system includes a controller configured to set a programming value for the selected pixel circuit by an amount based on the quantized output signal such that the memory device of the selected pixel circuit is subsequently connected to a current or to a voltage or which refers to the set programming value.
Ein System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält eine Rücksetzschaltung. Die Rücksetzschaltung ist konfiguriert zum Ausführen a) einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherstellt, und b) einer zweiten Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung, wobei die Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt. Außerdem enthält das System eine Integrationsschaltung, die konfiguriert ist zum Ausführen a) einer ersten Stromintegrationsoperation, wobei die erste Stromintegrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einen gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren, und b) einer zweiten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die zweite Integrationsoperation betreibbar ist, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren. Außerdem enthält das System einen ersten Speicherkondensator, der zum Speichern einer ersten Spannung, die der ersten Stromintegration entspricht, konfiguriert ist, und einen zweiten Speicherkondensator, der zum Speichern einer zweiten Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, konfiguriert ist. Außerdem enthält das System eine Verstärkerschaltung, die zum Erzeugen einer verstärkten Ausgangsspannung, die der Differenz zwischen der ersten. Spannung und der zweiten Spannung entspricht, unter Verwendung eines oder mehrerer Verstärker konfiguriert ist, und eine Quantisiererschaltung, die zum Quantisieren der verstärkten Ausgangsspannung konfiguriert ist.A system for compensating for deviations by a measured device current from a reference current in a display having a plurality of pixel circuits each including a memory device, a driving transistor, and a light emitting device includes a reset circuit. The reset circuit is configured to perform a) a first reset operation on an integration circuit, the reset operation setting the integration circuit to a first known state and b) a second reset operation on the integration circuit, the reset operation restoring the integration circuit to a second known state. In addition, the system includes an integration circuit configured to perform a) a first current integration operation, the first current integration operation being a first input current, a difference between a reference current and a measured first device current flowing through the drive transistor or via the light emitting device b) a second current integration operation in the integration circuit, the second integration operation being operable to integrate a second input current corresponding to the leakage current on a reference line. In addition, the system includes a first storage capacitor configured to store a first voltage corresponding to the first current integration, and a second storage capacitor configured to store a second voltage corresponding to the second current integration operation. In addition, the system includes an amplifier circuit for generating an amplified output voltage equal to the difference between the first and second output voltages. Voltage and the second voltage is configured using one or more amplifiers, and a quantizer circuit configured to quantize the amplified output voltage.
Ein System zum Kompensieren von Abweichungen durch einen gemessenen Vorrichtungsstrom von einem Referenzstrom in einer Anzeige mit mehreren Pixelschaltungen, die jeweils eine Speichervorrichtung, einen Ansteuertransistor und eine Lichtemittervorrichtung enthalten, enthält eine Rücksetzschaltung. Die Rücksetzschaltung ist konfiguriert zum Ausführen a) einer ersten Rücksetzoperation an einer Integrationsschaltung, wobei die erste Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen ersten bekannten Zustand wiederherstellt, und b) einer zweiten Rücksetzoperation an der Integrationsschaltung, wobei die zweite Rücksetzoperation die Integrationsschaltung auf einen zweiten bekannten Zustand wiederherstellt. Außerdem enthält das System eine Integrationsschaltung, die konfiguriert ist zum Ausführen a) einer ersten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die erste Integrationsoperation betreibbar ist, um einen ersten Eingangsstrom, der einer Differenz zwischen einem Referenzstrom und einem gemessenen ersten Vorrichtungsstrom, der über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung einer ausgewählten der Pixelschaltungen fließt, entspricht, zu integrieren, und b) einer zweiten Stromintegrationsoperation in der Integrationsschaltung, wobei die Integrationsoperation betreibbar ist, um einen zweiten Eingangsstrom, der dem Leckstrom auf einer Referenzleitung entspricht, zu integrieren. Außerdem enthält das System einen ersten Speicherkondensator, der zum Speichern einer ersten Spannung, die der ersten Stromintegrationsoperation entspricht, konfiguriert ist, und einen zweiten Speicherkondensator, der zum Speichern einer zweiten Spannung, die der zweiten Stromintegrationsoperation entspricht, konfiguriert ist. Außerdem enthält das System eine Quantisiererschaltung, die zum Ausführen einer Mehr-Bit-Quantisierungsoperation auf der Grundlage der ersten gespeicherten Spannung und der zweiten gespeicherten Spannung konfiguriert ist.A system for compensating for deviations by a measured device current from a reference current in a display having a plurality of pixel circuits each including a memory device, a driving transistor, and a light emitting device includes a reset circuit. The reset circuit is configured to perform a) a first reset operation on an integration circuit, the first reset operation restoring the integration circuit to a first known state, and b) a second reset operation on the integration circuit, the second reset operation restoring the integration circuit to a second known state , In addition, the system includes an integration circuit configured to perform a) a first current integration operation in the integration circuit, the first integration operation being operable to provide a first input current equal to a difference between a reference current and a measured first device current through the drive transistor or flows through the light emitting device of a selected one of the pixel circuits, corresponds, and b) a second current integration operation in the integration circuit, the integration operation being operable to integrate a second input current corresponding to the leakage current on a reference line. In addition, the system includes a first storage capacitor configured to store a first voltage corresponding to the first current integration operation and a second storage capacitor configured to store a second voltage corresponding to the second current integration operation. In addition, the system includes a quantizer circuit configured to perform a multi-bit quantization operation based on the first stored voltage and the second stored voltage.
Zusätzliche Aspekte der vorliegenden Offenbarung gehen für den Durchschnittsfachmann auf dem Gebiet angesichts der ausführlichen Beschreibung verschiedener Aspekte hervor, die anhand der Zeichnungen gegeben wird, für die im Folgenden eine Kurzbeschreibung gegeben ist.Additional aspects of the present disclosure will become apparent to one of ordinary skill in the art in view of the detailed description of various aspects given with reference to the drawings, for which a brief description is given below.
KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGENBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
AUSFÜCHRLICHE BESCHREIBUNGDETAILED DESCRIPTION
Systeme und Verfahren, wie sie hier offenbart sind, können verwendet werden, um prozess- oder leistungsbezogene Ungleichförmigkeiten und/oder eine prozess- oder leistungsbezogene Qualitätsminderung in Lichtemitteranzeigen zu detektieren und zu kompensieren. Die offenbarten Systeme verwenden eines oder mehrere Auslesesysteme, um einen Vorrichtungsstrom (z. B. einen Pixelstrom) mit einem oder mit mehreren Referenzströmen zu vergleichen, um ein Ausgangssignal zu erzeugen, das die Differenz zwischen dem Vorrichtungsstrom und den Referenzströmen angibt. Das eine oder die mehreren Auslesesysteme können einen oder mehrere Stromintegratoren und/oder Stromkomparatoren enthalten, die jeweils dafür konfiguriert sein können, das Ausgangssignal unter Verwendung einer unterschiedlichen Schaltungsanordnung zu erzeugen. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, bieten die offenbarten Stromkomparatoren und Stromkomparatoren jeweils ihre eigenen Vorteile und können sie verwendet werden, um bestimmte Leistungsanforderungen zu erfüllen. In bestimmten Implementierungen besitzt das Ausgangssignal die Form einer Ausgangsspannung. Diese Ausgangsspannung kann verstärkt werden und das verstärkte Signal kann unter Verwendung einer Ein- oder Mehr-Bit-Quantisierung digitalisiert werden. Das quantisierte Signal kann daraufhin verwendet werden, um zu bestimmen, wie sich der Vorrichtungsstrom von dem Referenzstrom unterscheidet, und um die Programmierspannung für die interessierende Vorrichtung dementsprechend einzustellen.Systems and methods as disclosed herein may be used to detect and compensate for process or performance related nonuniformities and / or process or performance related degradation in light emitting displays. The disclosed systems use one or more readout systems to compare a device current (eg, a pixel current) with one or more reference currents to produce an output signal indicative of the difference between the device current and the reference currents. The one or more readout systems may include one or more current integrators and / or current comparators, each of which may be configured to generate the output signal using a different circuitry. As will be described in more detail below, the disclosed current comparators and current comparators each have their own advantages and may be used to meet certain performance requirements. In certain implementations, the output signal is in the form of an output voltage. This output voltage can be amplified and the amplified signal can be digitized using one or more bit quantization. The quantized signal may then be used to determine how the device current differs from the reference current and to adjust the programming voltage for the device of interest accordingly.
Auswirkungen elektrischer Ungleichförmigkeit können sich auf zufällige Abweichungen beziehen, die während des Herstellungsprozesses von Pixelschaltungen eingeführt werden, wie sie sich etwa aus der Verteilung unterschiedlicher Korngrößen ergeben. Qualitätsminderungseffekte können sich auf zeit- oder temperatur- oder belastungsabhängige Effekte nach der Herstellung an den Halbleiterkomponenten einer Pixelschaltung wie etwa auf eine Verschiebung der Schwellenspannung des Ansteuertransistors einer stromangesteuerten Lichtemittervorrichtung oder der Lichtemittervorrichtung, die einen Verlust der Elektronenbeweglichkeit in den Halbleiterkomponenten verursacht, beziehen. Einer oder beide Effekte können zu einem Verlust an Leuchtdichte, zu ungleichmäßiger Leuchtdichte und zu einer Anzahl anderer bekannter unerwünschter leistungsmindernder und sichtbarer Abweichungen auf der Lichtemitteranzeige führen. Da die Qualitätsminderung veranlassen kann, dass lokalisierte visuelle Artefakte (z. B. Leuchtdichte- oder Helligkeitsanomalien) auf der Anzeige erscheinen, können Qualitätsminderungseffekte gelegentlich als Leistungsungleichförmigkeiten bezeichnet werden. Ein ”Vorrichtungsstrom” oder ”gemessener Strom” oder ”Pixelstrom”, wie er hier verwendet ist, bezieht sich auf einen Strom (oder auf eine entsprechende Spannung), der von einer Vorrichtung einer Pixelschaltung oder von der Pixelschaltung als Ganzes gemessen wird. Zum Beispiel kann der Vorrichtungsstrom einen gemessenen Strom repräsentieren, der entweder über den Ansteuertransistor oder über die Lichtemittervorrichtung innerhalb einer gegebenen Pixelschaltung während der Messung fließt. Alternativ kann der Vorrichtungsstrom den Strom repräsentieren, der über die gesamte Pixelschaltung fließt. Es wird angemerkt, dass die Messung anfangs in Form einer Spannung anstelle eines Stroms erfolgen kann, wobei die gemessene Spannung in dieser Offenbarung in einen entsprechenden Strom umgesetzt wird, um einen ”Vorrichtungsstrom” zu erzeugen.Effects of electrical nonuniformity may relate to random deviations introduced by pixel circuits during the manufacturing process, such as those resulting from the distribution of different grain sizes. Quality reduction effects may relate to time or temperature dependent or post-fabrication effects on the semiconductor components of a pixel circuit such as a shift in the threshold voltage of the drive transistor of a current driven light emitting device or the light emitting device causing a loss of electron mobility in the semiconductor components. Either or both effects can result in loss of luminance, uneven luminance, and a number of other known undesirable performance degrading and visible variations on the light emitter display. Since the degradation can cause localized visual artifacts (eg, luminance or brightness anomalies) to appear on the display, quality degradation effects can sometimes be referred to as performance non-uniformities. As used herein, a "device current" or "measured current" or "pixel current" refers to a current (or corresponding voltage) measured by a device of a pixel circuit or by the pixel circuit as a whole. For example, the device current may represent a measured current that flows through either the drive transistor or the light emitting device within a given pixel circuit during the measurement. Alternatively, the device current may represent the current that flows across the entire pixel circuit. It is noted that the measurement may initially be in the form of a voltage instead of a current, the measured voltage being converted into a corresponding current in this disclosure to produce a "device current".
Wie oben erwähnt wurde, beschreibt der offenbarte Gegenstand Auslesesysteme, die verwendet werden können, um einen empfangenen Strom oder empfangene Ströme in eine Spannung umzusetzen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom angibt, wobei die Spannung daraufhin weiterverarbeitet werden kann. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, führen die beschriebenen Auslesesysteme diese Operationen unter Verwendung von in den Auslesesystemen enthaltenen Stromkomparatoren und/oder Stromintegratoren aus. Da die offenbarten Stromkomparatoren und Stromintegratoren Eingangssignale verarbeiten, die eine Differenz zwischen einem gemessenen Vorrichtungsstrom und einem Referenzstrom widerspiegeln, anstatt den Vorrichtungs-Strom selbst zu verarbeiten, bieten die offenbarten Stromkomparatoren und Stromintegratoren Vorteile gegenüber anderen Detektionsschaltungen. Zum Beispiel arbeiten die offenbarten Stromkomparatoren und Stromintegratoren über einen niedrigeren Dynamikbereich von Eingangsströmen als andere Detektionsschaltungen und können sie Differenzen zwischen Referenz- und Vorrichtungsströmen genauer detektieren. Außerdem können die offenbarten Stromkomparatoren gemäß bestimmten Implementierungen durch Verwendung eines effizienten Auslese- und Quantisierungsprozesses ein schnelleres Verhalten als eine andere Detektionsschaltungsanordnung bieten. Ähnlich können die offenbarten Stromintegratoren wegen ihrer einzigartigen Architektur ein besseres Rauschverhalten bieten. Wie hier erläutert ist, bestimmt und verarbeitet ein Aspekt der vorliegenden Offenbarung eine Differenz zwischen einem gemessenen Strom und einem Referenzstrom, wobei diese Differenz daraufhin wie hier offenbart als eine Eingangsspannung an einen Quantisierer übergeben wird. Dies unterscheidet sich von herkömmlichen Detektionsschaltungen, die lediglich an einem gemessenen Vorrichtungsstrom als eine Eingabe eine Mehr-Bit-Quantisierung ausführen, ohne den Vorrichtungsstrom mit einem bekannten Referenzstrom zu vergleichen oder eine Weiterverarbeitung an Signalen auszuführen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem bekannten Referenzstrom angeben.As mentioned above, the disclosed subject matter describes readout systems that may be used to convert a received current or currents into a voltage indicative of the difference between a device current and a reference current, whereupon the voltage may be further processed. As will be described in more detail below, the described readout systems perform these operations using current comparators and / or current integrators included in the readout systems. Because the disclosed current comparators and current integrators process input signals that reflect a difference between a measured device current and a reference current rather than processing the device current itself, the disclosed current comparators and current integrators offer advantages over other detection circuits. For example, the disclosed current comparators and current integrators operate over a lower dynamic range of input currents than other detection circuits and can more accurately detect differences between reference and device currents. In addition, according to particular implementations, the disclosed current comparators may provide faster performance than other detection circuitry by using an efficient readout and quantization process. Similarly, the disclosed current integrators can provide better noise performance because of their unique architecture. As discussed herein, one aspect of the present disclosure determines and processes a difference between a measured current and a reference current, which difference is then disclosed as disclosed herein an input voltage is passed to a quantizer. This differs from conventional detection circuits which perform multi-bit quantization on only one measured device current as one input, without comparing the device current with a known reference current or performing further processing on signals representing the difference between a device current and a known reference current specify.
In bestimmten Implementierungen kann ein Nutzer auf der Grundlage spezifischer Notwendigkeiten zwischen einem Stromkomparator und einem Stromintegrator auswählen, da jede Vorrichtung ihre eigenen Vorteile bietet, oder kann ein Computerprogramm in Abhängigkeit von einem gewünschten Geschwindigkeitsverhalten oder von einem gewünschten Rauschverhalten automatisch die Verwendung eines oder beider der hier offenbarten Stromkomparatoren oder Stromintegratoren auswählen. Zum Beispiel können Stromintegratoren ein besseres Rauschunterdrückungsverhalten als Stromkomparatoren bieten, während Stromkomparatoren schneller arbeiten können. Somit kann ein Stromintegrator ausgewählt werden, um Operationen an Signalen auszuführen, die dazu neigen verrauscht zu sein, während ein Stromkomparator ausgewählt werden kann, um Stromvergleichsoperatoren zum schnellen Ändern von Eingangssignalen auszuführen. Somit kann zwischen einem Stromintegrator, wie er hier offenbart ist, wenn niedriges Rauschen wichtig ist, gegenüber einem Komparator, wie er hier offenbart ist, wenn hohe Geschwindigkeit wichtig ist, eine Abwägung erzielt werden.In certain implementations, a user may choose between a current comparator and a current integrator based on specific needs, as each device provides its own advantages, or a computer program may automatically use one or both of these here depending on a desired speed behavior or desired noise behavior disclosed current comparators or current integrators. For example, current integrators can provide better noise rejection performance than current comparators, while current comparators can operate faster. Thus, a current integrator may be selected to perform operations on signals that tend to be noisy while a current comparator may be selected to perform current comparison operators for rapidly changing input signals. Thus, a balance may be achieved between a current integrator as disclosed herein when low noise is important versus a comparator as disclosed herein when high speed is important.
Obwohl die vorliegende Offenbarung in vielen verschiedenen Formen verkörpert werden kann, sind verschiedene Aspekte der vorliegenden Offenbarung in den Zeichnungen gezeigt und beschrieben, wobei die vorliegende Offenbarung selbstverständlich als eine beispielhafte Erläuterung ihrer Prinzipien angesehen wird und den umfassenden Aspekt der vorliegenden Offenbarung nicht auf die dargestellten Aspekte einschränken soll.Although the present disclosure may be embodied in many different forms, various aspects of the present disclosure are shown and described in the drawings, the present disclosure is, of course, to be considered an exemplification of the principles thereof, and the broader aspect of the present disclosure is not limited to the illustrated aspects should restrict.
Das Auslesesystem
Außerdem kann der Controller
Außer den oben beschriebenen Operationen kann der Controller
Die Komponenten, die sich außerhalb der Pixelanordnung
Wie oben erwähnt wurde, kann das Auslesesystem
Das Auslesesystem
Es soll hervorgehoben werden, dass die in
Wie oben erwähnt wurde, kann das System
Nachdem das Auslesesystem
Die Steuereinstellungen für die Schaltmatrix können durch ein Schaltmatrix-Adressenregister bereitgestellt werden. Das System
Die Zeiteinstellung für durch das Auslesesystem
Jedes der Auslesesysteme
Außerdem ist sowohl der CI
Eine gemeinsame Eigenschaft sowohl des CI
In bestimmten Implementierungen kann ein Nutzer zwischen dem CI
Gemäß bestimmten Implementierungen kann eine V2I-Umsetzungsschaltung in einem spezifischen Auslesesystem
Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, erzeugt sowohl der CI
Anders als frühere Systeme, die an einem gemessenen Vorrichtungsstrom lediglich eine Mehr-Bit-Quantisierung ausgeführt haben, ohne den Vorrichtungsstrom mit einem bekannten Referenzstrom zu vergleichen oder an Signalen, die die Differenz zwischen einem Vorrichtungsstrom und einem bekannten Referenzstrom angeben, eine Weiterverarbeitung auszuführen, führen die offenbarten Systeme Quantisierungsoperationen aus, die die Differenz zwischen einem gemessenen Vorrichtungsstrom und einem bekannten Referenzstrom widerspiegeln. In bestimmten Implementierungen wird eine Ein-Bit-Quantisierung ausgeführt, wobei diese Quantisierung eine schnellere und genauere Einstellung von Vorrichtungsströmen ermöglicht, um Verschiebungen der Schwellenspannung, andere Alterungsauswirkungen und die Auswirkungen von Herstellungsungleichförmigkeiten zu berücksichtigen. Optional kann in bestimmten Implementierungen eine Mehr-Bit-Quantisierung ausgeführt werden, wobei die offenbarten Mehr-Bit-Quantisierungsoperationen aber vorherige Quantisierungsoperationen durch Quantisieren eines verarbeiteten Signals, das die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem bekannten Referenzstrom angibt, verbessern. Unter anderen Vorteilen bieten die offenbarten Mehr-Bit-Quantisierungssysteme ein besseres Rauschverhalten und ermöglichen sie eine genauere Einstellung von Vorrichtungsparametern als frühere Mehr-Bit-Quantisierungssysteme.Unlike prior systems which have only performed multi-bit quantization on a measured device current without comparing the device current to a known reference current or performing further processing on signals indicating the difference between a device current and a known reference current the disclosed systems perform quantization operations that reflect the difference between a measured device current and a known reference current. In certain implementations, one-bit quantization is performed, which quantization allows faster and more accurate adjustment of device currents to account for threshold voltage shifts, other aging effects, and the effects of manufacturing non-uniformities. Optionally, in certain implementations, multi-bit quantization may be performed, but the disclosed multi-bit quantization operations improve prior quantization operations by quantizing a processed signal indicative of the difference between the measured device current and the known reference current. Among other advantages, the disclosed multi-bit quantization systems provide better noise performance and enable more accurate adjustment of device parameters than prior multi-bit quantization systems.
Wie oben erwähnt wurde, ist ein gemeinsames Merkmal des CI
Das digitale Ausleseregister
Wie oben erwähnt wurde, kann das Auslesesystem
Das analoge Ausgangsregister
Die Quantisierung der Differenz zwischen den gemessenen Strömen und den Referenzströmen verringert die Anzahl der Iterationen und der Über- und Unterkompensation, die in früheren Kompensationstechniken auftraten. Die Kompensationsschaltungsanordnung braucht keine quantisierte Darstellung eines gemessenen Vorrichtungsstroms mehr zu bearbeiten. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, ermöglicht eine wie hier beschriebene Ein-Bit-Quantisierung eine schnellere und genauere Einstellung von Vorrichtungsströmen, um Verschiebungen der Schwellenspannung und andere Alterungsauswirkungen zu berücksichtigen. Ferner kann in bestimmten Implementierungen eine Mehr-Bit-Quantisierung ausgeführt werden, wobei die offenbarten Mehr-Bit-Quantisierungsoperationen aber frühere Quantisierungsoperationen dadurch verbessern, dass ein verarbeitetes Signal quantisiert wird, das die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem bekannten Referenzstrom angibt. Dieser Quantisierungstyp bietet ein besseres Rauschverhalten und ermöglicht die genauere Einstellung von Vorrichtungsströmen als frühere Mehr-Bit-Quantisierungssysteme.Quantization of the difference between the measured currents and the reference currents reduces the number of iterations and the over- and under-compensation that occurred in previous compensation techniques. The compensation circuitry need no longer process a quantized representation of a measured device current. As will be described in more detail below, one-bit quantization as described herein enables faster and more accurate adjustment of device currents to account for threshold voltage shifts and other aging effects. Further, in certain implementations, multi-bit quantization may be performed, but the disclosed multi-bit quantization operations improve prior quantization operations by quantizing a processed signal that indicates the difference between the measured device current and the known reference current. This type of quantization provides better noise performance and allows more accurate adjustment of device currents than previous multi-bit quantization systems.
Das MODSEL
Die V2I-Umsetzungsschaltung
Genauer erzeugen der Verstärker
Wegen der virtuellen Massebedingung an den Knoten A und B ist die Spannung über den Widerstand
Das System
Wie in
Genauer empfängt der CI
Die V2I-Umsetzungsschaltung
In bestimmten Implementierungen kann ein Stromausleseprozess zum Erzeugen einer Ausgabe, die die Differenzen zwischen gemessenen Vorrichtungsströmen und einem oder mehreren Referenzströmen angibt, während die Auswirkungen des Rauschens minimiert werden, über zwei Phasen stattfinden. Die erzeugte Ausgabe kann durch irgendeinen hier offenbarten Stromintegrator oder Stromkomparator weiterverarbeitet werden.In certain implementations, a current readout process for generating an output indicative of the differences between measured device currents and one or more reference currents while minimizing the effects of noise may occur over two phases. The generated output may be further processed by any current integrator or current comparator disclosed herein.
Während einer ersten Phase der ersten Stromausleseimplementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung
Somit ist der Eingangsstrom in den CI
Nachdem die erste Phase der Stromausleseimplementierung abgeschlossen ist, wird eine Ausgangsspannung, die Iin_phase1 entspricht, in dem CI
Während der zweiten Phase der ersten Stromausleseimplementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung
Dementsprechend ist der Eingangsstrom in den CI
Nachdem die zweite Phase des Stromausleseprozesses abgeschlossen ist, werden die Ausgaben der ersten Phase und der zweiten Phase unter Verwendung einer in dem CI
Inoise ist üblicherweise Hochfrequenzrauschen und seine Auswirkungen werden durch einen Stromintegrator wie etwa den CI
Tabelle 1 fasst die erste Implementierung einer Differentialstromausleseoperation unter Verwendung eines CI
Eine zweite Implementierung einer Stromausleseoperation unter Verwendung des CI
Somit ist der Eingangsstrom in den CI
Wie oben diskutiert wurde, wird eine dem Eingangsstrom entsprechende Spannung, nachdem die erste Phase eines Stromausleseprozesses abgeschlossen ist und während einer zweiten Phase des Stromausleseprozesses, entweder in analoger oder in digitaler Form in dem CI
Während der zweiten Phase der zweiten Implementierung des Stromausleseprozesses ist die V2I-Umsetzungsschaltung
Dementsprechend ist der Eingangsstrom in den CI
Nachdem die zweite Phase des Stromausleseprozesses abgeschlossen ist, werden die Ausgaben der ersten Phase und der zweiten Phase unter Verwendung einer in dem CI
Wie in dem oben beschriebenen ersten Ausleseprozess kann die Ausgangsspannung der Schaltungsanordnung, die die Subtraktionsoperation in dem zweiten Ausleseprozess ausführt, daraufhin verstärkt werden und kann das verstärkte Signal daraufhin durch eine in dem CI
Tabelle 2 fasst die zweite Implementierung eines Stromausleseprozesses unter Verwendung eines CI
Wie der CI
Die Integrationsschaltung
Wie oben erwähnt wurde, kann der CI
In anderen Implementierungen kann der CI
Das System
Während der ersten Phase der Vergleichsoperation wird der Integrationsoperationsverstärker
Während der zweiten Phase der Vergleichsoperation kann der Integrationsoperationsverstärker
Während der dritten Phase der Vergleichsoperation wird der Integrationsoperationsverstärker
Während der vierten Phase der Vergleichsoperation führt der Integrationsoperationsverstärker
Während der fünften Phase der Vergleichsoperation werden die Ausgangsspannungen der zwei Integrationsoperationen verstärkt und subtrahiert, um eine Ausgangsspannung zu erzeugen, die die Differenz zwischen dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem Referenzstrom angibt. Genauer werden in dieser Phase die Ausgaben der Kondensatoren
Die Verwendung mehrerer Operationsverstärker (d. h. der Operationsverstärker
Falls der Integrator während der optionalen sechsten Phase der Vergleichsoperation dafür konfiguriert ist, eine Ein-Bit-Quantisierung auszuführen, wird der Quantisierer
Die Ströme, die während der zweiten und der vierten Phase der oben beschriebenen Vergleichsoperation an den Integrationsoperationsverstärker
Genauer enthält das System
In bestimmten Implementierungen kann das System
Wie oben erwähnt wurde, können die vier Phasen der Vergleichsoperation ähnlich den oben anhand von
Während der zweiten Phase der Vergleichsoperation kann der Integrationsoperationsverstärker
Während der dritten Phase der Vergleichsoperation wird der Integrationsoperationsverstärker
Während der vierten Phase der Vergleichsoperation führt der Integrationsoperationsverstärker
Nach der vierten Phase der Vergleichsoperation unter Verwendung des Systems
Wie oben anhand von
Wie oben anhand von
Während der fünften Phase einer Ein-Bit-Vergleichsoperation werden die Ausgaben des Integrationsoperationsverstärkers durch einen oder mehrere Verstärkungsoperationsverstärker (z. B. den Operationsverstärker
Während einer Ein-Bit-Vergleichsoperation werden die Ausgaben des einen oder der mehreren Verstärkungsoperationsverstärker während der sechsten Phase der Ausleseoperation an einen Quantisierer (z. B. an den Quantisierer
Wie in
In bestimmten Implementierungen kann der CCMP
Um den Beitrag der Leck- und Rauschströme von der Messung zu beseitigen, wird eine benachbarte Überwachungsleitung kurz eingeschaltet, um zu ermöglichen, dass die Leck- und Rauschströme gemessen werden. Wie bei den oben beschriebenen Stromintegratoren wird der über die interessierende Vorrichtung fließende Strom zusammen mit seinen Leck- und Rauschkomponenten und mit einem Referenzstrom gemessen. Der Vorrichtungsstrom kann den Strom über einen Ansteuertransistor eines Pixels (ITFT) und/oder den Strom über die Pixellichtemittervorrichtung (IOLED) enthalten. Daraufhin wird eine dem gemessenen Vorrichtungsstrom und dem gemessenen Referenzstrom entsprechende Spannung gemäß den hier offenbarten Aspekten in analoger oder digitaler Form gespeichert oder innerhalb eines Stromkomparators erzeugt. Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, finden die Auslesungen der Vorrichtungsströme, der Leckströme, der Rauschströme und der Referenzströme über zwei Phasen statt. Diese Zweiphasenausleseprozedur kann als korrelierte Doppelabtastung bezeichnet werden. Nachdem die zwei Auslesephasen abgeschlossen sind, werden die gespeicherten Spannungen verstärkt und subtrahiert, so dass Spannungen, die den Leck- und Rauschströmen entsprechen, die von einer benachbarten Überwachungsleitung (wie etwa in der unmittelbar benachbarten Spalte) gemessen werden, daraufhin von dem gemessenen Strom von dem interessierenden Pixelstrom subtrahiert werden, so dass zur Verwendung beim Kompensieren von Ungleichförmigkeiten und/oder von einer Qualitätsminderung dieser Pixelschaltung nur eine Spannung verbleibt, die der Differenz zwischen dem tatsächlichen Strom über die Pixelschaltung und dem Referenzstrom entspricht.To eliminate the contribution of the leakage and noise currents from the measurement, an adjacent monitor line is briefly turned on to allow the leakage and noise currents to be measured. As with the current integrators described above, the current flowing across the device of interest is measured along with its leakage and noise components and with a reference current. The device current may include the current through a driving transistor of a pixel (I TFT ) and / or the current through the pixel light emitting device (I OLED ). Thereupon, a voltage corresponding to the measured device current and the measured reference current is stored in analog or digital form according to the aspects disclosed herein or generated within a current comparator. As will be described in more detail below, readings of the device currents, the leakage currents, the noise currents and the reference currents take place over two phases. This two-phase readout procedure may be referred to as correlated double sampling. After the two readout phases have been completed, the stored voltages are amplified and subtracted so that voltages corresponding to the leakage and noise currents measured by an adjacent monitor line (such as in the immediately adjacent column) are then subtracted from the measured current of is subtracted from the pixel current of interest, so that for use in compensating for nonuniformities and / or degradation of this pixel circuit, only a voltage corresponding to the difference between the actual current across the pixel circuit and the reference current remains.
Mit anderen Worten, Stromkomparatoren gemäß der vorliegenden Offenbarung nutzen die strukturellen Ähnlichkeiten zwischen den Überwachungsleitungen, um die Leck- und Rauschkomponenten von einer benachbarten Überwachungsleitung zu extrahieren, und subtrahieren daraufhin diese unerwünschten Komponenten von einer durch eine interessierende Überwachungsleitung gemessenen Pixelschaltung, um eine hochgenaue Messung des Vorrichtungsstroms zu erzielen, der daraufhin als eine Differenz zwischen dem gemessenen Strom (unabhängig von Leck- und Rauschströmen) und einem Referenzstrom quantifiziert wird. Diese Differenz ist hochgenau und kann für die genaue und schnelle Kompensation von Ungleichförmigkeiten und/oder einer Qualitätsminderung verwendet werden. Da die tatsächliche Differenz zwischen dem gemessenen Strom einer Pixelschaltung, unbeeinträchtigt durch Leck- oder Rauschstrom, der in der Auslesung inhärent ist, quantifiziert wird, können irgendwelche Ungleichförmigkeiten oder Qualitätsminderungseffekte durch ein Kompensationsschema schnell kompensiert werden. In other words, current comparators according to the present disclosure utilize the structural similarities between the monitor lines to extract the leakage and noise components from an adjacent monitor line, and then subtract these unwanted components from a pixel circuit measured by a monitor line of interest to provide highly accurate measurement of the pixel line Device current, which is then quantified as a difference between the measured current (independent of leakage and noise currents) and a reference current. This difference is highly accurate and can be used for the accurate and rapid compensation of nonuniformities and / or degradation. Since the actual difference between the measured current of a pixel circuit, unimpaired by leakage or noise current inherent in the readout, is quantified, any non-uniformity or degradation effects can be quickly compensated for by a compensation scheme.
Wie in
Genauer empfängt der CCMP
Optional kann die V2I-Umsetzungsschaltung
In
Wie oben in Bezug auf Stromintegratorschaltungen diskutiert wurde, findet ein Stromausleseprozess zum Erzeugen eines Stroms, der die Differenzen zwischen gemessenen Vorrichtungsströmen und einem oder mehreren Referenzströmen angibt, während er die Wirkung des Rauschens minimiert, in bestimmten Implementierungen über zwei Phasen statt. Stromausleseprozesse für CCMPs können ebenfalls über zwei Phasen stattfinden. Genauer sind während einer ersten Phase einer ersten Implementierung die beiden V2I-Umsetungsschaltungen
Somit ist IP während der ersten Phase dieser Implementierung gleich:
Ähnlich ist IN während der ersten Phase dieser Implementierung gleich:
Wie im Folgenden ausführlicher beschrieben wird, wird eine der Differenz zwischen IP und IN entsprechende Ausgangsspannung nach der ersten Phase des Ausleseprozesses und während einer zweiten Phase des Ausleseprozesses innerhalb des CCMP
Während der zweiten Phase der ersten Implementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung
Somit ist IP während der zweiten Phase dieser Implementierung gleich:
Ähnlich ist IN während der zweiten Phase dieser Implementierung gleich:
Die Ausgangsspannung der zweiten Phase ist proportional:
Nachdem die zweite Phase der Messprozedur abgeschlossen ist, werden die Ausgaben der ersten Phase und der zweiten Phase (z. B. unter Verwendung eines Differentialverstärkers) subtrahiert, um eine Ausgangsspannung zu erzeugen, die die Differenz zwischen den Vorrichtungsströmen und den Referenzströmen angibt. Genauer ist die Ausgangsspannung der Subtraktionsoperation proportional:
Tabelle 3 fasst die erste Implementierung einer Differentialstromauslesung unter Verwendung eines CCMP wie oben beschrieben zusammen. In Tabelle 3 repräsentiert ”RD” ein mit dem Gate des Lesetransistors
Eine zweite Implementierung einer Stromauslesung unter Verwendung eines CCMP findet ebenfalls über zwei Phasen statt. Während einer ersten Phase der zweiten Implementierung ist die V2I-Umsetzungsschaltung
Somit ist IP während der ersten Phase der zweiten Implementierung gleich:
Ähnlich ist IN während der ersten Phase der zweiten Implementierung gleich:
Außerdem ist die gespeicherte Ausgangsspannung der ersten Phase proportional:
Während der zweiten Phase der zweiten Implementierung ist sowohl die V2I-Umsetzungsschaltung
Somit ist IP während der zweiten Phase der zweiten Implementierung gleich:
Ähnlich ist IN während der zweiten Phase dieser Implementierung gleich:
Außerdem ist die Ausgangsspannung der zweiten Phase proportional:
Nachdem die zweite Phase des Ausleseprozesses abgeschlossen ist, werden die Ausgaben der ersten Phase und der zweiten Phase (z. B. unter Verwendung eines Differentialverstärkers) subtrahiert, um eine Spannung zu erzeugen, die die Differenz zwischen den Vorrichtungsströmen und den Referenzströmen angibt. Genauer ist die Spannung proportional:
Tabelle 4 fasst die zweite Implementierung einer Differentialstromauslesung unter Verwendung eines CCMP wie oben beschrieben zusammen. In Tabelle 4 repräsentiert ”RD” ein mit dem Gate des Lesetransistors
Wie oben beschrieben wurde, berücksichtigen wie hier offenbarte CCMPs die Leck- und Rauschströme durch Nutzung der strukturellen Ähnlichkeiten zwischen den Überwachungsleitungen, um die Leck- und Rauschkomponenten von einer benachbarten Überwachungsleitung zu extrahieren und daraufhin diese unerwünschten Komponenten von einer durch eine interessierende Überwachungsleitung gemessenen Vorrichtung (z. B. Pixelschaltung) zu subtrahieren, um eine hochgenaue Messung des Vorrichtungsstroms zu erzielen, der daraufhin als eine Differenz zwischen dem gemessenen Strom (unabhängig von Leck- und Rauschströmen) und einem Referenzstrom quantifiziert wird. Da die Auswirkungen von Leck- und Rauschströmen berücksichtigt worden sind, ist diese Differenz hochgenau und kann sie für die genaue und schnelle Kompensation von Ungleichförmigkeiten und/oder einer Qualitätsminderung in der gemessenen Vorrichtung oder in umgebenden Vorrichtungen verwendet werden.
Genauer kann der CCMP
Wie anhand von
Die Ausgabe der Eingangsstufe
In bestimmten Implementierungen enthält die Vorverstärkungsstufe
Die Ausgabe der Vorverstärkungsstufe
Genauer erzeugen der Transkonduktanzverstärker (OTA)
Abgesehen davon, dass die Schalter
Während der ersten Phase der in
Während der zweiten und der dritten Phase der Vergleichsoperation führt der CCMP an den von den Monitorleitungen an einer Anzeigetafel (z. B. an den oben anhand von
Wie oben anhand von
Im Block
Im Block
Falls in einer beispielhaften Implementierung z. B. der Referenzstromwert ”35” ist, der Anfangs-Vorrichtungsreferenzstromwert ”128” ist und die Schrittweite ”64” ist, kann das Korrigieren des Vorrichtungswerts die folgenden Vergleichs- und Einstellschritte umfassen:In an exemplary implementation, if e.g. For example, if the reference current value is "35", the initial device reference current value is "128" and the step size is "64", the correction of the device value may include the following comparison and adjustment steps:
Schritt 1: 128 > 35 → Verringere den Vorrichtungsstromwert um 64 und verringere die Schrittweite auf 32 (128 – 64 = 64; neuer Schritt = 32); Step 1: 128> 35 → Decrease the device current value by 64 and decrease the step size to 32 (128 - 64 = 64, new step = 32);
Schritt 2: 64 > 35 → Verringere den Vorrichtungsstromwert um 32 und verringere die Schrittweite auf 16 (64 – 32 = 32; neuer Schritt = 16);Step 2: 64> 35 → Decrease the device current value by 32 and decrease the step size to 16 (64 - 32 = 32, new step = 16);
Schritt 3: 32 < 35 → Erhöhe den Vorrichtungsstromwert um 161 und verringere die Schrittweite auf 8 (32 + 16 = 48; neuer Schritt = 8);Step 3: 32 <35 → Increase the device current value by 161 and reduce the step size to 8 (32 + 16 = 48, new step = 8);
Schritt 4: 48 > 35 → Verringere den Vorrichtungsstromwert um 8 und verringere die Schrittweite auf 4 (48 – 8 = 40; Schritt = 4);Step 4: 48> 35 → Decrease the device current value by 8 and reduce the step size to 4 (48 - 8 = 40, step = 4);
Schritt 5: 40 > 35 → Verringere den aktuellen Pixelwert um 4 und verringere die Schrittweite auf 2 (40 – 4 = 36 Schritt = 2);Step 5: 40> 35 → Decrease the current pixel value by 4 and reduce the step size to 2 (40 - 4 = 36 step = 2);
Schritt 6: 36 > 35 → Verringere den aktuellen Pixelwert um 2 und verringere die Schrittweite auf 1 (36 – 2 = 34 Schritt = 1);Step 6: 36> 35 → Decrease the current pixel value by 2 and reduce the step size to 1 (36 - 2 = 34 step = 1);
Schritt 7: 34 < 35 → Erhöhe den aktuellen Pixelwert um 1 (34 + 1 = 35) und beende die Vergleichs/Einstellprozedur, da Vorrichtungsströme und Referenzstromwerte gleich sind.Step 7: 34 <35 → Increase the current pixel value by 1 (34 + 1 = 35) and complete the comparison / adjustment procedure, since device currents and reference current values are the same.
Obwohl das Verfahren aus
Wie die Begriffe ”kann” und ”kann optional” hier verwendet sind, sind sie austauschbar. Der Begriff ”oder” enthält das verbindende ”und”, so dass der Ausdruck A oder B oder C A und B, A und C oder A, B und C enthält.As the terms "may" and "optional" are used herein, they are interchangeable. The term "or" includes the linking "and" such that the term A or B or C includes A and B, A and C or A, B and C.
Obwohl bestimmte Implementierungen und Anwendungen der vorliegenden Offenbarung dargestellt und beschrieben worden sind, ist diese Offenbarung selbstverständlich nicht auf die genaue Konstruktion und auf die genauen Zusammensetzungen, die hier offenbart sind, beschränkt und können aus den vorstehenden Beschreibungen verschiedene Abwandlungen, Änderungen und Veränderungen, ohne von dem Schutzumfang der wie in den beigefügten Ansprüchen definierten Erfindung abzuweichen, hervorgehen.Although particular implementations and applications of the present disclosure have been illustrated and described, it should be understood that this disclosure is not limited to the precise construction and precise compositions disclosed herein, and that various modifications, changes, and alterations may be made from the foregoing descriptions without departing from the spirit of the invention to deviate from the scope of the invention as defined in the appended claims, emerge.
Claims (32)
Applications Claiming Priority (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201361752269P | 2013-01-14 | 2013-01-14 | |
US61/752,269 | 2013-01-14 | ||
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