WO2024199447A1 - 四元稠环类化合物盐晶型及其制备方法和应用 - Google Patents

四元稠环类化合物盐晶型及其制备方法和应用 Download PDF

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WO2024199447A1
WO2024199447A1 PCT/CN2024/084821 CN2024084821W WO2024199447A1 WO 2024199447 A1 WO2024199447 A1 WO 2024199447A1 CN 2024084821 W CN2024084821 W CN 2024084821W WO 2024199447 A1 WO2024199447 A1 WO 2024199447A1
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李媛媛
呙临松
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江苏豪森药业集团有限公司
上海翰森生物医药科技有限公司
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    • A61K31/55—Heterocyclic compounds having nitrogen as a ring hetero atom, e.g. guanethidine or rifamycins having seven-membered rings, e.g. azelastine, pentylenetetrazole
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    • C07D267/12—Seven-membered rings having the hetero atoms in positions 1 and 4 condensed with carbocyclic rings or ring systems
    • C07D267/16—Seven-membered rings having the hetero atoms in positions 1 and 4 condensed with carbocyclic rings or ring systems condensed with two six-membered rings
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    • C07D267/00—Heterocyclic compounds containing rings of more than six members having one nitrogen atom and one oxygen atom as the only ring hetero atoms
    • C07D267/22—Eight-membered rings
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C07—ORGANIC CHEMISTRY
    • C07D—HETEROCYCLIC COMPOUNDS
    • C07D498/00—Heterocyclic compounds containing in the condensed system at least one hetero ring having nitrogen and oxygen atoms as the only ring hetero atoms
    • C07D498/12—Heterocyclic compounds containing in the condensed system at least one hetero ring having nitrogen and oxygen atoms as the only ring hetero atoms in which the condensed system contains three hetero rings
    • C07D498/16—Peri-condensed systems

Definitions

  • the invention belongs to the field of medicine and biology, and specifically relates to a salt crystal form of a four-membered fused ring compound and a preparation method and application thereof.
  • the tyrosine kinase activity of the ABL1 protein is normally tightly regulated, with the N-terminal cap region of the SH3 domain playing an important role in this.
  • One regulatory mechanism involves myristoylation of the N-terminal cap glycine-2 residue, which then interacts with the myristate binding site in the SH1 catalytic domain.
  • a hallmark of chronic myeloid leukemia (CML) is the Philadelphia chromosome (Ph), formed by a reciprocal translocation of t(9,22) chromosomes in hematopoietic stem cells.
  • This chromosome carries the BCR-ABL1 oncogene, which encodes a chimeric BCR-ABL1 protein that lacks the N-terminal cap and has a constitutively active tyrosine kinase domain.
  • Patent PCT/CN2022/122536 protects a class of four-membered fused ring compounds.
  • the present invention has conducted a comprehensive study on the salt crystal forms of the above-mentioned compounds.
  • the object of the present invention is to provide an acid salt crystalline form of a compound represented by formula (I).
  • Ring A is C 6-10 aryl or 5-6 membered heteroaryl
  • R1 is selected from C1-3 alkyl, C1-3 deuterated alkyl, C1-3 haloalkyl, C1-3 hydroxyalkyl, C1-3 alkoxy, C 13 alkylthio or C 1-3 haloalkoxy;
  • M1 is selected from N or CH;
  • M 2 is selected from NH or CH 2 ;
  • M3 is selected from N or CH
  • R2 or R3 are each independently selected from C1-3 alkyl, C1-3 deuterated alkyl, C1-3 haloalkyl, C1-3 hydroxyalkyl, C1-3 alkoxy, C1-3 alkylthio or C1-3 haloalkoxy;
  • the acid salt is selected from ethyl sulfonate, methane sulfonate, sulfate, hydrochloride, p-toluene sulfonate, benzene sulfonate, isethionate, and 1,5-naphthalene disulfonate.
  • R1 is selected from C1-3 alkyl, C1-3 haloalkyl, C1-3 alkoxy or C1-3 haloalkoxy;
  • M 1 is N
  • M2 is NH
  • R2 or R3 are each independently selected from hydrogen, C1-3 alkyl or C1-3 haloalkyl.
  • R 1 is selected from -CF 2 , -CF 3 , -CF 2 Cl, -OCF 2 , -OCF 3 or -OCF 2 Cl;
  • R2 or R3 are each independently selected from -CH3 , -CH2CH3 , -CF2 , -CF3 or -CF2Cl .
  • it is a hydrobromide salt form, a hydrochloride salt form, a sulfate salt form, a p-toluenesulfonate salt form, a methanesulfonate salt form, a benzenesulfonate salt form, an oxalate salt form, an acetate salt form, an ethylsulfonate salt form, a maleate salt form, a phosphate salt form, a fumarate salt form, a succinate salt form, a malonate salt form, an adipate salt form, a malate salt form, a tartrate salt form, a 1,5-naphthalene disulfonate salt form, a isethionate salt form, a citrate salt form, a hippurate salt form, a lactate salt form, a benzoate salt form, a palmitate salt form or a salicylate salt form;
  • the crystal form is a hydrobromide salt, an ethylsulfonate salt, a methanesulfonate salt, a sulfate salt, a hydrochloride salt, a p-toluenesulfonate salt, a benzenesulfonate salt, an isethionate salt, a 1,5-naphthalene disulfonate salt, a maleate salt, a fumarate salt, a succinate salt, a malate salt or a tartrate salt;
  • ethyl sulfonate crystalline form methane sulfonate crystalline form, sulfate crystalline form, hydrochloride crystalline form, p-toluene sulfonate crystalline form, benzene sulfonate crystalline form, isethionate crystalline form, and 1,5-naphthalene disulfonate crystalline form.
  • the acid salt crystalline form is (3R)-N-(4-(chlorodifluoromethoxy)phenyl)-2-(difluoromethyl)-3-methyl-3,4,5a,6-tetrahydro-5-oxa-1,2a,6,8-tetraazabenzo[4,5]cyclooctyl[1,2,3-cd]indene-11-carboxamide ethylsulfonate crystalline form A, ethylsulfonate crystalline form B, methanesulfonate crystalline form A, methanesulfonate crystalline form B, sulfate crystalline form A, sulfate crystalline form B, sulfate crystalline form C, sulfuric acid crystalline form
  • hydrochloride salt form D hydrochloride salt form D
  • sulfate salt form E sulfate salt form F
  • sulfate salt form G hydrochlor
  • the X-ray powder diffraction spectrum of ethyl sulfonate salt form A has a diffraction peak at 5.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 18.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 5.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 29.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.2 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of ethyl sulfonate salt form B has a diffraction peak at 5.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 8.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 10.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 27.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 28.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.8 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the mesylate salt form A has a diffraction peak at 6.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 24.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 29.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.8 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the mesylate salt form B has a diffraction peak at 6.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 18.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 30.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 6.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 24.0 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form A has a diffraction peak at 5.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.7 ⁇ 0.2° or having a diffraction peak at 16.5 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 12.0 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 12.3 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 17.2 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 13.6 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 25.9 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form B has a diffraction peak at 5.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 9.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 11.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 18.6 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form C has a diffraction peak at 5.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 8.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 10.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.0 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form D has a diffraction peak at 17.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 24.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 26.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 18.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 25.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 18.0 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystalline form E has a diffraction peak at 5.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 9.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 11.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 26.2 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form F has a diffraction peak at 6.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.3 ⁇ 0.2°.
  • diffraction peak at 20.0 ⁇ 0.2° or having a diffraction peak at 18.5 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 20.5 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 14.4 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 24.9 ⁇ 0.2°; or having a diffraction peak at 24.4 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystalline form G has a diffraction peak at 5.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 5.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 29.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 27.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 25.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 10.2 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride form A has a diffraction peak at 22.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 14.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 6.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 25.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.4 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride form B has a diffraction peak at 6.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 27.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 11.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 24.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 4.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 10.2 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride crystal form C has a diffraction peak at 16.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 9.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 5.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 6.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 14.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.7 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the p-toluenesulfonate crystalline form A has a diffraction peak at 16.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 5.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 24.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 26.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.4 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form B has a diffraction peak at 5.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 28.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 14.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 10.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 9.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.4 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form C has a diffraction peak at 5.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 29.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.8 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form D has a diffraction peak at 4.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 5.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 28.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 25.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 14.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.0 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form E has a diffraction peak at 5.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 9.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 8.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 26.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 25.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 25.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 28.2 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of benzenesulfonate crystalline form A has a diffraction peak at 5.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 5.5 ⁇
  • the invention has a diffraction peak at 0.2°; or a diffraction peak at 16.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 27.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 28.8 ⁇ 0.2°; preferably, it contains any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, and more preferably contains any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of benzenesulfonate salt form B has a diffraction peak at 19.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 9.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 5.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 14.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 29.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 23.7 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of benzenesulfonate salt form C has a diffraction peak at 5.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.6 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 8.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.8 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 9.9 ⁇ 0.2°; preferably including any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably including any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the isethionate salt form A has a diffraction peak at 5.4 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 20.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 25.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.1 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 25.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 12.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.5 ⁇ 0.2°; preferably comprising any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably comprising any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the isethionate salt form B has a diffraction peak at 5.9 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 16.7 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 21.2 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 19.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 22.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 10.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 13.0 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 24.3 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 15.5 ⁇ 0.2°; or a diffraction peak at 17.5 ⁇ 0.2°; preferably comprising any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, more preferably comprising any 6, 7 or 8 thereof;
  • the X-ray powder diffraction spectrum of 1,5-naphthalene disulfonate crystalline form A has a diffraction peak at 21.3 ⁇ 0.2°; or has a diffraction peak at 10.2 ⁇ 0.2°; or has a diffraction peak at 9.5 ⁇ 0.2°; or has a diffraction peak at It has a diffraction peak at 17.1 ⁇ 0.2°; or it has a diffraction peak at 9.9 ⁇ 0.2°; or it has a diffraction peak at 16.7 ⁇ 0.2°; or it has a diffraction peak at 25.8 ⁇ 0.2°; or it has a diffraction peak at 5.7 ⁇ 0.2°; or it has a diffraction peak at 8.0 ⁇ 0.2°; or it has a diffraction peak at 23.7 ⁇ 0.2°; preferably includes any 2-5, or 3-5, or 3-6, or 3-8, or 5-8, or 6-8 of the above diffraction peaks, and more preferably includes any 6, 7 or 8 of them.
  • the X-ray powder diffraction pattern of ethyl sulfonate crystal form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the ethylsulfonate salt form A optionally further comprises one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 23.8 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, 18.4 ⁇ 0.2°, 28.0 ⁇ 0.2°, 24.9 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, and 11.8 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of ethyl sulfonate crystal form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the ethyl sulfonate salt form A includes 2 ⁇ of 5.9 ⁇ 0.2°, 17.7 ⁇ 0.2°, 22.3 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 21.0 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 5.6 ⁇ 0.2°, 29.7 ⁇
  • One or more of 0.2°, 23.8 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, 18.4 ⁇ 0.2°, 28.0 ⁇ 0.2°, 24.9 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, and 11.8 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, 4, 6, 8, or 10 of them have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of ethyl sulfonate crystal form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the ethyl sulfonate salt form A comprises 2 ⁇ of 5.9 ⁇ 0.2°, 17.7 ⁇ 0.2°, 22.3 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 21.0 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 5.6 ⁇ 0.2°, 29.7 ⁇ 0.2°, 23.8 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, 18.4 ⁇ 0.2°, 28.0 ⁇ 0.2°, 24.9 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 1
  • One or more of 1.8 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 27.8 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, and 14.5 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of ethyl sulfonate crystal form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the ethyl sulfonate salt form A has an acid number of 1, and its X-ray powder diffraction pattern uses Cu-K ⁇ radiation, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are shown in Table 1.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the ethyl sulfonate salt form A is shown in FIG1 ; its DSC spectrum is substantially as shown in FIG2 ; and its TGA spectrum is substantially as shown in FIG3 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of ethyl sulfonate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the ethylsulfonate salt form B optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 28.9 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 21.1 ⁇ 0.2°, 11.8 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, and 13.1 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of ethyl sulfonate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the ethyl sulfonate salt form B comprises diffraction peaks at 2 ⁇ of 5.6 ⁇ 0.2°, 16.5 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 27.7 ⁇ 0.2°, 15.2 ⁇ 0.2°, 28.9 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 21.1 ⁇ 0.2°, 11.8 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, and 13.1 ⁇ 0.2°; preferably, 4, 6, 8, and 10 diffraction peaks are selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of ethyl sulfonate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the ethyl sulfonate salt form B comprises 2 ⁇ of 5.6 ⁇ 0.2°, 16.5 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 27.7 ⁇ 0.2°, 15.2 ⁇ 0.2°, 28.9 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 21.1 ⁇ 0.2°, 11.8 ⁇ 0.2°, 1 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 13.1 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 25.3 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 25.6 ⁇ 0.2°, 26.3 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof; further preferably, any 2, There are diffraction peaks at 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16 and 18 locations.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of ethyl sulfonate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 2.
  • the ethyl sulfonate salt form B has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 4 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 5 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 6 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form A optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 29.8 ⁇ 0.2°, 19.8 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 14.8 ⁇ 0.2°, 28.0 ⁇ 0.2°, and 33.9 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form A comprises diffraction peaks at 2 ⁇ of 6.0 ⁇ 0.2°, 17.8 ⁇ 0.2°, 21.4 ⁇ 0.2°, 16.5 ⁇ 0.2°, 22.4 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 23.5 ⁇ 0.2°, 29.8 ⁇ 0.2°, 19.8 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 14.8 ⁇ 0.2°, 28.0 ⁇ 0.2°, and 33.9 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the mesylate salt form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form A comprises 2 ⁇ of 6.0 ⁇ 0.2°, 17.8 ⁇ 0.2°, 21.4 ⁇ 0.2°, 16.5 ⁇ 0.2°, 22.4 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 23.5 ⁇ 0.2°, 29.8 ⁇ 0.2°, 19.8 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 14.8 ⁇ 0.2°, 28.0 ⁇ 0.2°, 3
  • One or more of 3.9 ⁇ 0.2°, 22.0 ⁇ 0.2°, 10.7 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 20.7 ⁇ 0.2°, and 27.2 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the mesylate salt form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 3.
  • the mesylate salt form A has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 7 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 8 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 9 .
  • a mesylate salt form B of (3R)-N-(4-(chlorodifluoromethoxy)phenyl)-2-(difluoromethyl)-3-methyl-3,4,5a,6-tetrahydro-5-oxa-1,2a,6,8-tetraazabenzo[4,5]cyclooctyl[1,2,3-cd]indene-11-carboxamide is provided, the number of acids is 1, and its X-ray powder diffraction pattern comprises at least one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 6.0 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, preferably It includes 2 of them, and more preferably includes 3 of them; optionally, it may further include at least one of 2 ⁇ of 30.1 ⁇ 0.2°, 6.6 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, 13.2 ⁇ 0.2°, 15.5 ⁇ 0.2°, and preferably includes 2, 3, 4 or 5 of them.
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form B optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 21.4 ⁇ 0.2°, 24.0 ⁇ 0.2°, 12.0 ⁇ 0.2°, 10.1 ⁇ 0.2°, 24.6 ⁇ 0.2°, 16.6 ⁇ 0.2°, and 19.8 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form B comprises diffraction peaks at 2 ⁇ of 6.0 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, 30.1 ⁇ 0.2°, 6.6 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, 13.2 ⁇ 0.2°, 15.5 ⁇ 0.2°, 21.4 ⁇ 0.2°, 24.0 ⁇ 0.2°, 12.0 ⁇ 0.2°, 10.1 ⁇ 0.2°, 24.6 ⁇ 0.2°, 16.6 ⁇ 0.2°, and 19.8 ⁇ 0.2°; preferably, 4, 6, 8, and 10 diffraction peaks are selected from them.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the mesylate salt form B has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of the mesylate salt form B comprises 2 ⁇ of 6.0 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, 30.1 ⁇ 0.2°, 6.6 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, 13.2 ⁇ 0.2°, 15.5 ⁇ 0.2°, 21.4 ⁇ 0.2°, 24.0 ⁇ 0.2°, 12.0 ⁇ 0.2°, 10.1 ⁇ 0.2°, 24.6 ⁇ 0.2°, 16.6 ⁇ 0.2°, 1
  • 9.8 ⁇ 0.2°, 25.5 ⁇ 0.2°, 20.3 ⁇ 0.2°, 26.0 ⁇ 0.2°, 31.3 ⁇ 0.2°, and 28.4 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of the mesylate salt form B has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 4.
  • the mesylate salt form B has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 10 ; and a DSC pattern substantially as shown in FIG. 11 .
  • the invention relates to a diffraction peak having one or more diffraction peaks of 5.8 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, and 17.6 ⁇ 0.2°, preferably two of them, and more preferably three of them; optionally, the diffraction peak may further include at least one of 2 ⁇ of 19.7 ⁇ 0.2°, 16.5 ⁇ 0.2°, 12.0 ⁇ 0.2°, 12.3 ⁇ 0.2°, and 17.2
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ : 17.6 ⁇ 0.2°, 12.3 ⁇ 0.2°, and 17.2 ⁇ 0.2°;
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form A optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 13.6 ⁇ 0.2°, 25.9 ⁇ 0.2°, 23.5 ⁇ 0.2°, 21.8 ⁇ 0.2°, 14.4 ⁇ 0.2°, 10.4 ⁇ 0.2°, and 24.7 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ : 5.8 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 19.7 ⁇ 0.2°, 16.5 ⁇ 0.2°, 12.0 ⁇ 0.2°, 13.6 ⁇ 0.2° and 25.9 ⁇ 0.2°;
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form A includes diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 5.8 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 19.7 ⁇ 0.2°, 16.5 ⁇ 0.2°, 12.0 ⁇ 0.2°, 12.3 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, 13.6 ⁇ 0.2°, 25.9 ⁇ 0.2°, 23.5 ⁇ 0.2°, 21.8 ⁇ 0.2°, 14.4 ⁇ 0.2°, 10.4 ⁇ 0.2°, and 24.7 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate salt form A includes 2 ⁇ of 5.8 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 19.7 ⁇ 0.2°, 16.5 ⁇ 0.2°, 12.0 ⁇ 0.2°, 12.3 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, 13.6 ⁇ 0.2°, 25.9 ⁇ 0.2°, 23.5 ⁇ 0.2°, 21.8 ⁇ 0.2°, 14.4 ⁇ 0.2°, 10.4 ⁇ 0.2°, 2
  • One or more of 4.7 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 24.5 ⁇ 0.2°, 20.7 ⁇ 0.2°, 9.8 ⁇ 0.2°, and 26.7 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 5.
  • the sulfate crystal form A has an X-ray powder diffraction spectrum substantially as shown in FIG. 17 ; a DSC spectrum substantially as shown in FIG. 18 ; and a TGA spectrum substantially as shown in FIG. 19 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form B optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 11.1 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 27.2 ⁇ 0.2°, 26.8 ⁇ 0.2°, 24.2 ⁇ 0.2°, 25.4 ⁇ 0.2°, and 23.7 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate salt form B includes diffraction peaks at 2 ⁇ of 5.7 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 17.4 ⁇ 0.2°, 22.5 ⁇ 0.2°, 19.3 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 11.1 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 27.2 ⁇ 0.2°, 26.8 ⁇ 0.2°, 24.2 ⁇ 0.2°, 25.4 ⁇ 0.2°, and 23.7 ⁇ 0.2°; preferably, 4, 6, 8, or 10 diffraction peaks are selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate salt form B includes 2 ⁇ of 5.7 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 17.4 ⁇ 0.2°, 22.5 ⁇ 0.2°, 19.3 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 11.1 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 27.2 ⁇ 0.2°, 26.8 ⁇ 0.2°, 24.2 ⁇ 0.2°, 25.4 ⁇ 0.2°, 23 .7 ⁇ 0.2°, 28.5 ⁇ 0.2°, 29.1 ⁇ 0.2°, 15.4 ⁇ 0.2°, 20.8 ⁇ 0.2°, 11.6 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 6.
  • the sulfate crystal form B has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 20 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 21 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 22 .
  • the invention relates to a diffraction peak having one or more diffraction peaks of 5.6 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 8.3 ⁇ 0.2°, preferably 2 of them, and more preferably 3 of them; optionally, the diffraction peak may further include at least one of 2 ⁇ of 12.7 ⁇ 0.2°, 15.3 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, and 15.5 ⁇ 0.2°,
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form C optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 13.1 ⁇ 0.2°, 21.0 ⁇ 0.2°, 25.7 ⁇ 0.2°, 25.3 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, and 18.6 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form C includes diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 5.6 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 8.3 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 15.3 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 15.5 ⁇ 0.2°, 13.1 ⁇ 0.2°, 21.0 ⁇ 0.2°, 25.7 ⁇ 0.2°, 25.3 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, and 18.6 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form C has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate salt form C includes 2 ⁇ of 5.6 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 8.3 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 15.3 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 15.5 ⁇ 0.2°, 13.1 ⁇ 0.2°, 21.0 ⁇ 0.2°, 25.7 ⁇ 0.2°, 25.3 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 18 .6 ⁇ 0.2°, 13.9 ⁇ 0.2°, 23.8 ⁇ 0.2°, 22.3 ⁇ 0.2°, 33.7 ⁇ 0.2°, 24.4 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form C has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 7.
  • the sulfate crystal form C has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 23 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 24 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 25 .
  • a sulfate salt crystalline form D of (3R)-N-(4-(chlorodifluoromethoxy)phenyl)-2-(difluoromethyl)-3-methyl-3,4,5a,6-tetrahydro-5-oxa-1,2a,6,8-tetraazabenzo[4,5]cyclooctyl[1,2,3-cd]indene-11-carboxamide is provided, the number of acids is 1, and its X-ray powder diffraction spectrum comprises at least one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 17.3 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, and 20.6 ⁇ 0.2°, preferably 2 of them, and more preferably 3 of them; optionally, it may further comprise at least one of 2 ⁇ of 26.2 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 15.1 ⁇ 0.2°, and 12.9 ⁇ 0.2°, preferably comprising thereof 2, 3, 4 or 5 of them.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form D has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form D optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 25.9 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 22.9 ⁇ 0.2°, 29.1 ⁇ 0.2°, 6.8 ⁇ 0.2°, and 11.4 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form D has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the sulfate salt form D comprises diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 17.3 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 20.6 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 15.1 ⁇ 0.2°, 12.9 ⁇ 0.2°, 25.9 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 22.9 ⁇ 0.2°, 29.1 ⁇ 0.2°, 6.8 ⁇ 0.2°, and 11.4 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form D has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate salt form D includes 2 ⁇ of 17.3 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 20.6 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 15.1 ⁇ 0.2°, 12.9 ⁇ 0.2°, 25.9 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 22.9 ⁇ 0.2°, 29.1 ⁇ 0.2°, 6.8 ⁇ 0.2°, 1
  • One or more of 1.4 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 34.8 ⁇ 0.2°, 24.9 ⁇ 0.2°, 19.2 ⁇ 0.2°, and 26.6 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form D has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 8.
  • the sulfate crystal form D has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 26 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 27 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 28 .
  • an X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form E of (3R)-N-(4-(chlorodifluoromethoxy)phenyl)-2-(difluoromethyl)-3-methyl-3,4,5a,6-tetrahydro-5-oxa-1,2a,6,8-tetraazabenzo[4,5]cyclooctyl[1,2,3-cd]indene-11-carboxamide which comprises at least one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 5.8 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, and 9.8 ⁇ 0.2°, preferably 2 of them, and more preferably 3 of them; optionally, it may further comprise at least one of 2 ⁇ of 13.8 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, 19.2 ⁇ 0.2°, and 22.2 ⁇ 0.2°, and preferably 2, 3, 4 or 5 of them.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form E has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the sulfate crystalline form E optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 11.1 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 20.6 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 19.7 ⁇ 0.2°, and 15.1 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form E has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form E includes diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 5.8 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, 9.8 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, 19.2 ⁇ 0.2°, 22.2 ⁇ 0.2°, 11.1 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 20.6 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 19.7 ⁇ 0.2°, and 15.1 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form E has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate salt form E includes 2 ⁇ of 5.8 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, 9.8 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, 19.2 ⁇ 0.2°, 22.2 ⁇ 0.2°, 11.1 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 20.6 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 19.7 ⁇ 0.2°, 1
  • One or more of 5.1 ⁇ 0.2°, 29.1 ⁇ 0.2°, 12.1 ⁇ 0.2°, 21.3 ⁇ 0.2°, 12.9 ⁇ 0.2°, and 8.8 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form E has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 9.
  • the sulfate crystal form E has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 29 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 30 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 31 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form F has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate salt form F optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 24.9 ⁇ 0.2°, 24.4 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 27.5 ⁇ 0.2°, and 21.5 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form F has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form F comprises diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 6.0 ⁇ 0.2°, 16.0 ⁇ 0.2°, 22.4 ⁇ 0.2°, 17.3 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 18.5 ⁇ 0.2°, 20.5 ⁇ 0.2°, 14.4 ⁇ 0.2°, 24.9 ⁇ 0.2°, 24.4 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 27.5 ⁇ 0.2°, and 21.5 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form F has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate salt form F comprises 2 ⁇ of 6.0 ⁇ 0.2°, 16.0 ⁇ 0.2°, 22.4 ⁇ 0.2°, 17.3 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 18.5 ⁇ 0.2°, 20.5 ⁇ 0.2°, 14.4 ⁇ 0.2°, 24.9 ⁇ 0.2°, 24.4 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 27.5 ⁇ 0.2°, 2
  • One or more of 1.5 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 23.2 ⁇ 0.2°, 20.9 ⁇ 0.2°, 30.2 ⁇ 0.2°, and 28.8 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form F has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 10.
  • the sulfate crystal form F has an X-ray powder diffraction pattern basically as shown in Figure 32; a DSC pattern basically as shown in Figure 33; and a TGA pattern basically as shown in Figure 34.
  • the invention discloses a diffraction peak having one or more diffraction peaks of 5.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, preferably 2 of them, and more preferably 3 of them; optionally, the diffraction peak may further include at least one of 2 ⁇ of 5.6 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 22.2 ⁇ 0.2°, 29.5 ⁇ 0.2°, and 27.7 ⁇
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form G has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form G optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 25.1 ⁇ 0.2°, 10.2 ⁇ 0.2°, 24.4 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 12.1 ⁇ 0.2°, 24.2 ⁇ 0.2°, and 15.4 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystal form G has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate crystalline form G includes diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 5.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 5.6 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 22.2 ⁇ 0.2°, 29.5 ⁇ 0.2°, 27.7 ⁇ 0.2°, 25.1 ⁇ 0.2°, 10.2 ⁇ 0.2°, 24.4 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 12.1 ⁇ 0.2°, 24.2 ⁇ 0.2°, and 15.4 ⁇ 0.2°; preferably, it includes diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form G has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of sulfate form G includes 2 ⁇ of 5.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 5.6 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 22.2 ⁇ 0.2°, 29.5 ⁇ 0.2°, 27.7 ⁇ 0.2°, 25.1 ⁇ 0.2°, 10.2 ⁇ 0.2°, 24.4 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 12.1 ⁇ 0.2°, 24.2 ⁇ 0.2°, 15 .4 ⁇ 0.2°, 19.6 ⁇ 0.2°, 18.8 ⁇ 0.2°, 23.5 ⁇ 0.2°, 13.1 ⁇ 0.2°, 20.3 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of sulfate crystal form G has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 11.
  • the sulfate crystal form G has an X-ray powder diffraction spectrum basically as shown in FIG. 35 ; a DSC spectrum basically as shown in FIG. 36 ; and a TGA spectrum basically as shown in FIG. 37 .
  • the invention relates to a diffraction peak having one or more diffraction peaks of 22.4 ⁇ 0.2°, 14.0 ⁇ 0.2°, and 17.1 ⁇ 0.2°, preferably two of them, and more preferably three of them; optionally, the diffraction peak may further include at least one of 2 ⁇ of 6.2 ⁇ 0.2°, 19.4 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, and 21.6 ⁇ 0.2°
  • the X-ray powder diffraction pattern of hydrochloride crystal form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form A optionally further comprises one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 19.8 ⁇ 0.2°, 23.4 ⁇ 0.2°, 10.6 ⁇ 0.2°, 30.5 ⁇ 0.2°, 12.4 ⁇ 0.2°, 9.8 ⁇ 0.2°, and 11.1 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof;
  • the X-ray powder diffraction pattern of hydrochloride crystal form A has diffraction peaks at the following positions of 2 ⁇ : 22.4 ⁇ 0.2°, 14.0 ⁇ 0.2°, 17.1 ⁇ 0.2°, 6.2 ⁇ 0.2°, 19.4 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 19.8 ⁇ 0.2° and 23.4 ⁇ 0.2°;
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form A comprises diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 22.4 ⁇ 0.2°, 14.0 ⁇ 0.2°, 17.1 ⁇ 0.2°, 6.2 ⁇ 0.2°, 19.4 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, 19.8 ⁇ 0.2°, 23.4 ⁇ 0.2°, 10.6 ⁇ 0.2°, 30.5 ⁇ 0.2°, 12.4 ⁇ 0.2°, 9.8 ⁇ 0.2°, and 11.1 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride crystal form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form A includes 2 ⁇ of 22.4 ⁇ 0.2°, 14.0 ⁇ 0.2°, 17.1 ⁇ 0.2°, 6.2 ⁇ 0.2°, 19.4 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, 19.8 ⁇ 0.2°, 23.4 ⁇ 0.2°, 10.6 ⁇ 0.2°, 30.5 ⁇ 0.2°, 12.4 ⁇ 0.2°, 13.9 ⁇ 0.2°, 14.1 ⁇ 0.2°, 15.3 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 18.0 ⁇ 0.2°, 19.1 ⁇ 0.2°, 20.
  • 0.2°, 9.8 ⁇ 0.2°, 11.1 ⁇ 0.2°, 24.5 ⁇ 0.2°, 26.6 ⁇ 0.2°, 26.9 ⁇ 0.2°, 31.4 ⁇ 0.2°, 35.2 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof; further preferably, any 2, There are diffraction peaks at 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16 and 18 locations.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride crystal form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 12.
  • the hydrochloride salt form A has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 12 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 13 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 14 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of hydrochloride crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form B optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 20.0 ⁇ 0.2°, 10.2 ⁇ 0.2°, 14.3 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 20.5 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, and 31.0 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of hydrochloride crystal form B has diffraction peaks at the following positions of 2 ⁇ : 6.7 ⁇ 0.2°, 27.0 ⁇ 0.2°, 23.4 ⁇ 0.2°, 13.4 ⁇ 0.2°, 11.0 ⁇ 0.2°, 24.1 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2° and 10.2 ⁇ 0.2°;
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form B comprises diffraction peaks at 2 ⁇ of 6.7 ⁇ 0.2°, 27.0 ⁇ 0.2°, 23.4 ⁇ 0.2°, 13.4 ⁇ 0.2°, 11.0 ⁇ 0.2°, 24.1 ⁇ 0.2°, 15.6 ⁇ 0.2°, 4.5 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 10.2 ⁇ 0.2°, 14.3 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 20.5 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, and 31.0 ⁇ 0.2°; preferably, 4, 6, 8, or 10 diffraction peaks are selected from the group consisting of:
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form B includes 2 ⁇ of 6.7 ⁇ 0.2°, 27.0 ⁇ 0.2°, 23.4 ⁇ 0.2°, 13.4 ⁇ 0.2°, 11.0 ⁇ 0.2°, 24.1 ⁇ 0.2°, 15.6 ⁇ 0.2°, 4.5 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 10.2 ⁇ 0.2°, 14.3 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 20.5 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 31.
  • .0 ⁇ 0.2°, 25.4 ⁇ 0.2°, 30.2 ⁇ 0.2°, 22.3 ⁇ 0.2°, 18.6 ⁇ 0.2°, 17.4 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 13.
  • the hydrochloride salt form B has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 15 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of hydrochloride crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form C optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 14.3 ⁇ 0.2°, 21.7 ⁇ 0.2°, 24.6 ⁇ 0.2°, 10.9 ⁇ 0.2°, 27.2 ⁇ 0.2°, 20.8 ⁇ 0.2°, and 19.7 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of hydrochloride crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form C comprises diffraction peaks at 2 ⁇ of 16.5 ⁇ 0.2°, 20.4 ⁇ 0.2°, 22.2 ⁇ 0.2°, 9.7 ⁇ 0.2°, 17.8 ⁇ 0.2°, 5.3 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 6.0 ⁇ 0.2°, 14.3 ⁇ 0.2°, 21.7 ⁇ 0.2°, 24.6 ⁇ 0.2°, 10.9 ⁇ 0.2°, 27.2 ⁇ 0.2°, 20.8 ⁇ 0.2°, and 19.7 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the hydrochloride salt form C includes 2 ⁇ of 16.5 ⁇ 0.2°, 20.4 ⁇ 0.2°, 22.2 ⁇ 0.2°, 9.7 ⁇ 0.2°, 17.8 ⁇ 0.2°, 5.3 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 6.0 ⁇ 0.2°, 14.3 ⁇ 0.2°, 21.7 ⁇ 0.2°, 24.6 ⁇ 0.2°, 10.9 ⁇ 0.2°, 27.2 ⁇ 0.2°, 20.8 ⁇ 0.2°, 19.
  • .7 ⁇ 0.2°, 15.6 ⁇ 0.2°, 26.0 ⁇ 0.2°, 18.8 ⁇ 0.2°, 30.7 ⁇ 0.2°, 10.5 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of hydrochloride crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 14.
  • the hydrochloride salt form C has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 16 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form A optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 26.6 ⁇ 0.2°, 12.4 ⁇ 0.2°, 15.1 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 21.3 ⁇ 0.2°, 27.7 ⁇ 0.2°, and 20.5 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form A comprises diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 16.8 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, 5.7 ⁇ 0.2°, 22.5 ⁇ 0.2°, 21.8 ⁇ 0.2°, 24.9 ⁇ 0.2°, 22.3 ⁇ 0.2°, 20.8 ⁇ 0.2°, 26.6 ⁇ 0.2°, 12.4 ⁇ 0.2°, 15.1 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 21.3 ⁇ 0.2°, 27.7 ⁇ 0.2°, and 20.5 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form A includes 2 ⁇ of 16.8 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, 5.7 ⁇ 0.2°, 22.5 ⁇ 0.2°, 21.8 ⁇ 0.2°, 24.9 ⁇ 0.2°, 22.3 ⁇ 0.2°, 20.8 ⁇ 0.2°, 26.6 ⁇ 0.2°, 12.4 ⁇ 0.2°, 15.1 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 21.3 ⁇ 0.2°, 27.7 ⁇ 0.2°, One or more of 20.5 ⁇ 0.2°, 24.7 ⁇ 0.2°, 31.2 ⁇ 0.2°, 17.3 ⁇ 0.2°, 32.1 ⁇ 0.2°, and 25.8 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 15.
  • the compound p-toluenesulfonate salt form A has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 38 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 39 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 40 .
  • p-toluenesulfonate crystalline form B of indene-11-carboxamide has 1 acid, and its X-ray powder diffraction pattern contains at least one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 5.5 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, and 13.2 ⁇ 0.2°, preferably 2 of them, and more preferably 3 of them; optionally, it may further contain at least one of 2 ⁇ of 21.9 ⁇ 0.2°, 28.1 ⁇ 0.2°, 14.1 ⁇ 0.2°, 10.9 ⁇ 0.2°, and 17.6 ⁇ 0.2°, preferably 2, 3, 4 or 5 of them.
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form B optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 9.5 ⁇ 0.2°, 20.4 ⁇ 0.2°, 17.8 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 21.5 ⁇ 0.2°, 16.3 ⁇ 0.2°, and 26.5 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form B comprises diffraction peaks at 2 ⁇ of 5.5 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, 13.2 ⁇ 0.2°, 21.9 ⁇ 0.2°, 28.1 ⁇ 0.2°, 14.1 ⁇ 0.2°, 10.9 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 9.5 ⁇ 0.2°, 20.4 ⁇ 0.2°, 17.8 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 21.5 ⁇ 0.2°, 16.3 ⁇ 0.2°, and 26.5 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ at the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form B includes 2 ⁇ of 5.5 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, 13.2 ⁇ 0.2°, 21.9 ⁇ 0.2°, 28.1 ⁇ 0.2°, 14.1 ⁇ 0.2°, 10.9 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 9.5 ⁇ 0.2°, 20.4 ⁇ 0.2°, 17.8 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 21.5 ⁇ 0.2°, One or more of 16.3 ⁇ 0.2°, 26.5 ⁇ 0.2°, 27.4 ⁇ 0.2°, 10.1 ⁇ 0.2°, 12.9 ⁇ 0.2°, 29.2 ⁇ 0.2°, and 22.9 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ at the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 16.
  • the p-toluenesulfonate salt form B has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 41 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 42 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 43 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form C optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 29.0 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, 11.5 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 27.4 ⁇ 0.2°, and 20.9 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form C includes diffraction peaks at 2 ⁇ of 5.8 ⁇ 0.2°, 17.3 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 22.0 ⁇ 0.2°, 19.6 ⁇ 0.2°, 23.1 ⁇ 0.2°, 22.4 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 29.0 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, 11.5 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 27.4 ⁇ 0.2°, and 20.9 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form C includes 2 ⁇ at 5.8 ⁇ 0.2°, 17.3 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 22.0 ⁇ 0.2°, 19.6 ⁇ 0.2°, 23.1 ⁇ 0.2°, 22.4 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 29.0 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 21.6 ⁇ 0.2°, 11.5 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 27.4 ⁇ 0.2° , 20.9 ⁇ 0.2°, 33.2 ⁇ 0.2°, 25.7 ⁇ 0.2°, 9.8 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, and 32.8 ⁇ 0.2° have diffraction peaks at one or more places; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 of them are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 of them have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks represented by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 17.
  • the p-toluenesulfonate salt form C has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 44 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 45 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 46 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form D has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form D optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 14.8 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 20.6 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 30.4 ⁇ 0.2°, 24.8 ⁇ 0.2°, and 27.7 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form D has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate salt form D includes the following positions: 4.9 ⁇ 0.2°, 5.7 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, 22.0 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 28.9 ⁇ 0.2°, 25.5 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 14.8 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 20.6 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 30.4 ⁇ 0.2°, 24.8 ⁇ 0.2°, and 27.7 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, 4, 6, 8, or 10 of the above diffraction peaks are selected from the group consisting of:
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystal form D has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form D comprises 2 ⁇ of 4.9 ⁇ 0.2°, 5.7 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, 22.0 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 28.9 ⁇ 0.2°, 25.5 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 14.8 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 20.6 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 30.4 ⁇ 0.2°, 24.8 ⁇ 0.2°, 35.3 ⁇ 0.2°, 36.7 ⁇ 0.2°, 38.9 ⁇ 0.2°, 39.
  • One or more of 0.2°, 27.7 ⁇ 0.2°, 11.5 ⁇ 0.2°, 34.9 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, and 35.0 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystal form D has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 18.
  • the p-toluenesulfonate salt form D has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 47 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 48 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 49 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form E has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form E optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 25.2 ⁇ 0.2°, 28.2 ⁇ 0.2°, 18.5 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 32.4 ⁇ 0.2°, 11.6 ⁇ 0.2°, and 15.1 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of p-toluenesulfonate crystalline form E has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form E comprises diffraction peaks at 2 ⁇ of 5.4 ⁇ 0.2°, 16.1 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 23.1 ⁇ 0.2°, 26.9 ⁇ 0.2°, 25.7 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 28.2 ⁇ 0.2°, 18.5 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 32.4 ⁇ 0.2°, 11.6 ⁇ 0.2°, and 15.1 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, and 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form E has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the p-toluenesulfonate salt form E comprises 2 ⁇ of 5.4 ⁇ 0.2°, 16.1 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 23.1 ⁇ 0.2°, 26.9 ⁇ 0.2°, 25.7 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 28.2 ⁇ 0.2°, 18.5 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 32.4 ⁇ 0.2°, 11.6 ⁇ 0.2°, 1
  • One or more of 5.1 ⁇ 0.2°, 21.5 ⁇ 0.2°, 23.5 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, and 17.5 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form E has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 19.
  • the p-toluenesulfonate salt form E has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 50 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 51 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 52 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of benzenesulfonate salt form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the benzenesulfonate salt form A optionally further comprises one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 27.3 ⁇ 0.2°, 28.8 ⁇ 0.2°, 11.5 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 25.5 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, and 21.3 ⁇ 0.2°; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 of them. further preferably, comprising any 2, 3, 4, 6 or 7 thereof.
  • the X-ray powder diffraction pattern of benzenesulfonate salt form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the benzenesulfonate salt form A includes diffraction peaks at 2 ⁇ of 55.7 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, 21.8 ⁇ 0.2°, 5.5 ⁇ 0.2°, 16.6 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 20.3 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 28.8 ⁇ 0.2°, 11.5 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 25.5 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, and 21.3 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction pattern of benzenesulfonate salt form A comprises 2 ⁇ of 5.7 ⁇ 0.2°, 17.2 ⁇ 0.2°, 21.8 ⁇ 0.2°, 5.5 ⁇ 0.2°, 16.6 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 17.6 ⁇ 0.2°, 20.3 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 28.8 ⁇ 0.2°, 11.5 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 25.5 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, 2
  • One or more of 1.3 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 11.9 ⁇ 0.2°, 23.8 ⁇ 0.2°, 26.5 ⁇ 0.2°, and 25.3 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of benzenesulfonate salt form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 20.
  • the benzenesulfonate salt form A has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 53 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of benzenesulfonate salt form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the benzenesulfonate salt form B optionally further comprises a 2 ⁇ of 12.8 ⁇ 0.2°, One or more diffraction peaks among 23.7 ⁇ 0.2°, 26.4 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 24.0 ⁇ 0.2°, 20.7 ⁇ 0.2°, and 21.6 ⁇ 0.2°; preferably at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof.
  • the X-ray powder diffraction pattern of benzenesulfonate salt form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the benzenesulfonate salt form B comprises diffraction peaks at 2 ⁇ of 19.7 ⁇ 0.2°, 17.4 ⁇ 0.2°, 13.6 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, 9.7 ⁇ 0.2°, 5.7 ⁇ 0.2°, 14.2 ⁇ 0.2°, 29.1 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 26.4 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 24.0 ⁇ 0.2°, 20.7 ⁇ 0.2°, and 21.6 ⁇ 0.2°; preferably, 4, 6, 8, and 10 diffraction peaks are selected from them.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of benzenesulfonate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ at the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the benzenesulfonate salt form B comprises 2 ⁇ of 19.7 ⁇ 0.2°, 17.4 ⁇ 0.2°, 13.6 ⁇ 0.2°, 22.6 ⁇ 0.2°, 9.7 ⁇ 0.2°, 5.7 ⁇ 0.2°, 14.2 ⁇ 0.2°, 29.1 ⁇ 0.2°, 12.8 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 26.4 ⁇ 0.2°, 27.3 ⁇ 0.2°, 24.0 ⁇ 0.2°, 20.7 ⁇ 0.2°, 2
  • One or more of 1.6 ⁇ 0.2°, 16.2 ⁇ 0.2°, 22.0 ⁇ 0.2°, 22.9 ⁇ 0.2°, 18.7 ⁇ 0.2°, and 19.3 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of benzenesulfonate crystal form B has diffraction peaks at 2 ⁇ at the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 21.
  • the benzenesulfonate salt form B has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 54 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 55 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 56 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of benzenesulfonate salt form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the benzenesulfonate salt form C optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 13.8 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 25.6 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 16.2 ⁇ 0.2°, 18.5 ⁇ 0.2°, and 19.9 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of benzenesulfonate salt form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the benzenesulfonate salt form C includes diffraction peaks at 2 ⁇ of 5.4 ⁇ 0.2°, 16.6 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 15.0 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 19.4 ⁇ 0.2°, 8.3 ⁇ 0.2°, 20.9 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 25.6 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 16.2 ⁇ 0.2°, 18.5 ⁇ 0.2°, and 19.9 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, and 10 selected from them.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of benzenesulfonate crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of benzenesulfonate salt form C includes 2 ⁇ of 5.4 ⁇ 0.2°, 16.6 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 15.0 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 19.4 ⁇ 0.2°, 8.3 ⁇ 0.2°, 20.9 ⁇ 0.2°, 13.8 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 25.6 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 16.2 ⁇ 0.2°, 18.5 ⁇ 0.2°, 19 .9 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 30.2 ⁇ 0.2°, 26.1 ⁇ 0.2°, 27.0 ⁇ 0.2°, and 12.9 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of benzenesulfonate crystal form C has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 22.
  • the benzenesulfonate salt form C has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 57 ; a DSC pattern substantially as shown in FIG. 58 ; and a TGA pattern substantially as shown in FIG. 59 .
  • the X-ray powder diffraction pattern of isethionate salt form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the isethionate salt form A optionally further comprises one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 12.7 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 28.3 ⁇ 0.2°, and 9.9 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof are included; and more preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of isethionate salt form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the isethionate salt form A comprises diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 5.4 ⁇ 0.2°, 16.1 ⁇ 0.2°, 20.9 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 15.1 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 25.7 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 28.3 ⁇ 0.2°, and 9.9 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction pattern of isethionate salt form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the isethionate salt form A comprises 2 ⁇ of 5.4 ⁇ 0.2°, 16.1 ⁇ 0.2°, 20.9 ⁇ 0.2°, 20.0 ⁇ 0.2°, 25.2 ⁇ 0.2°, 15.1 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 25.7 ⁇ 0.2°, 12.7 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 22.1 ⁇ 0.2°, 8.4 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 28.3 ⁇ 0.2°,
  • 9.9 ⁇ 0.2°, 20.7 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, 27.0 ⁇ 0.2°, 26.1 ⁇ 0.2°, and 13.6 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction pattern of isethionate salt form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and interplanar spacing d values are as shown in Table 23.
  • the isethionate salt form A has an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in FIG. 60 .
  • a crystalline form B of the isethionate salt of (3R)-N-(4-(chlorodifluoromethoxy)phenyl)-2-(difluoromethyl)-3-methyl-3,4,5a,6-tetrahydro-5-oxa-1,2a,6,8-tetraazabenzo[4,5]cyclooctyl[1,2,3-cd]indene-11-carboxamide is provided, the number of acids is 1, and its X-ray powder diffraction pattern comprises at least one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 5.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, and 21.2 ⁇ 0.2°, preferably 2 of them, more preferably 3 of them; optionally, it may further comprise at least one of 2 ⁇ of 19.5 ⁇ 0.2°, 22.5 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 13.0 ⁇ 0.2°, and 24.3 ⁇ 0.2°, preferably comprising Contains 2, 3, 4 or 5 of them.
  • the X-ray powder diffraction pattern of isethionate salt form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the isethionate salt form B optionally further comprises one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 15.5 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 17.7 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, and 27.6 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof are included; and more preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction pattern of isethionate salt form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the isethionate salt form B comprises diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 5.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 21.2 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 22.5 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 13.0 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 15.5 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 17.7 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, and 27.6 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected therefrom.
  • the X-ray powder diffraction pattern of isethionate salt form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of the isethionate salt form B comprises 2 ⁇ at 5.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 21.2 ⁇ 0.2°, 19.5 ⁇ 0.2°, 22.5 ⁇ 0.2°, 10.0 ⁇ 0.2°, 13.0 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, 15.5 ⁇ 0.2°, 17.5 ⁇ 0.2°, 20.1 ⁇ 0.2°, 17.7 ⁇ 0.2°, 26.2 ⁇ 0.2°, 16.9 ⁇ 0.2°, One or more of 27.6 ⁇ 0.2°, 18.9 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 30.4 ⁇ 0.2°, 25.1 ⁇ 0.2°, and 22.1 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction pattern of isethionate salt form B has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and crystal plane spacing d values are as shown in Table 24.
  • the isethionate salt form B is substantially as shown in Figure 61; its DSC spectrum is substantially as shown in Figure 62; and its TGA spectrum is substantially as shown in Figure 63.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of 1,5-naphthalene disulfonate crystal form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of 1,5-naphthalene disulfonate crystalline form A optionally further includes one or more diffraction peaks located at 2 ⁇ of 8.0 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 18.2 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, and 13.7 ⁇ 0.2°; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 6-7 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, or 7 thereof are included.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of 1,5-naphthalene disulfonate crystal form A has diffraction peaks at 2 ⁇ of the following positions:
  • the X-ray powder diffraction pattern of 1,5-naphthalene disulfonate crystalline form A includes diffraction peaks at one or more of 2 ⁇ of 21.3 ⁇ 0.2°, 10.2 ⁇ 0.2°, 9.5 ⁇ 0.2°, 17.1 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 5.7 ⁇ 0.2°, 8.0 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 18.2 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, 12.2 ⁇ 0.2°, and 13.7 ⁇ 0.2°; preferably, there are diffraction peaks at 4, 6, 8, or 10 selected from them.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of 1,5-naphthalene disulfonate crystal form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • the X-ray powder diffraction pattern of 1,5-naphthalene disulfonate Form A includes 2 ⁇ of 21.3 ⁇ 0.2°, 10.2 ⁇ 0.2°, 9.5 ⁇ 0.2°, 17.1 ⁇ 0.2°, 9.9 ⁇ 0.2°, 16.7 ⁇ 0.2°, 25.8 ⁇ 0.2°, 5.7 ⁇ 0.2°, 8.0 ⁇ 0.2°, 23.7 ⁇ 0.2°, 23.0 ⁇ 0.2°, 18.2 ⁇ 0.2°, 19.9 ⁇ 0.2°, One or more of 12.2 ⁇ 0.2°, 13.7 ⁇ 0.2°, 22.3 ⁇ 0.2°, 14.4 ⁇ 0.2°, 13.4 ⁇ 0.2°, 24.3 ⁇ 0.2°, and 29.1 ⁇ 0.2° have diffraction peaks; preferably, at least any 2-3, or 4-5, or 7-8, or 10-12, or 15-18 thereof are included; further preferably, any 2, 3, 4, 6, 8, 10, 12, 16, or 18 thereof have diffraction peaks.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of 1,5-naphthalene disulfonate crystal form A has diffraction peaks at the following positions at 2 ⁇ :
  • Cu-K ⁇ radiation is used, and the X-ray characteristic diffraction peaks expressed by 2 ⁇ angles and crystal plane spacing d values are as shown in Table 25.
  • the X-ray powder diffraction spectrum of 1,5-naphthalene disulfonate form A is substantially as shown in Figure 64; its DSC spectrum is substantially as shown in Figure 65; and its TGA spectrum is substantially as shown in Figure 66.
  • the acid salt crystal form of any compound described in formula (I) is a hydrate or anhydrous; when the acid salt crystal form is a hydrate, the number of water is 0.2-3, preferably 0.2, 0.5, 1, 1.5, 2, 2.5 or 3, more preferably 0.5, 1, 2 or 3; further, the water in the hydrate is pipeline water or crystal water or a combination of the two.
  • the crystalline form of the acid salt of any compound of formula (I) is an anhydrate.
  • XRPD may produce certain displacement and intensity deviations due to the detection method, conditions and instruments.
  • its XRPD is shown in spectrum X, but it is understood by those skilled in the art that when the 2 ⁇ deviation of the key characteristic peak displacement is ⁇ 0.5, especially around ⁇ 0.2, it can be identified as the same crystal form.
  • the present invention also provides a method for preparing the acid salt crystalline form of the compound represented by formula (I), comprising the following steps:
  • the amount of the acid is preferably 1.0 to 1.5 equivalents
  • the benign solvent is selected from acetone, toluene, acetonitrile, methanol, isopropanol, dichloromethane, tetrahydrofuran, ethyl formate, isopropyl acetate, toluene, ethyl acetate, 2-methyl-tetrahydrofuran, 2-butanone, Butanol, 1,4-dioxane, isobutanol, N,N-dimethylformamide, N,N-dimethylacetamide, n-propanol or tert-butanol; preferably toluene, ethyl acetate, acetone, methanol or acetonitrile;
  • the organic solvent is selected from methanol, ethanol, ethyl acetate, dichloromethane, acetone, n-hexane, petroleum ether, benzene, toluene, chloroform, acetonitrile, carbon tetrachloride, dichloroethane, tetrahydrofuran, 2-methyl-tetrahydrofuran, 2-butanone, 3-pentanone, heptane, methyl tert-butyl ether, isopropyl ether, 1,4-dioxane, tert-butanol or N,N-dimethylformamide; preferably methanol, ethanol or acetonitrile; the above benign solvent and organic solution need to be miscible when used;
  • the poor solvent is selected from heptane, water, methyl tert-butyl ether, cyclohexane, toluene, isopropyl ether, ethyl acetate, acetone or acetonitrile; preferably water, methyl tert-butyl ether or isopropyl ether;
  • step 2) adding the solution of step 2) to the suspension of step 1) and stirring;
  • the poor solvent is selected from ethanol, acetone, ethyl acetate, ethyl formate, isopropanol, isopropyl acetate, methyl tert-butyl ether, methanol, 1,4-dioxane, 2-butanone, 2-methyl-tetrahydrofuran, anisole, acetonitrile, chlorobenzene, benzene, toluene, n-butanol, isobutanol or 3-pentanone; preferably ethanol, 2-methyl-tetrahydrofuran, acetonitrile, methanol or ethyl acetate;
  • the organic solvent is selected from methanol, ethanol, ethyl acetate, dichloromethane, acetone, n-hexane, petroleum ether, benzene, toluene, chloroform, acetonitrile, carbon tetrachloride, dichloroethane, tetrahydrofuran, 2-methyl-tetrahydrofuran, 2-butanone, 3-pentanone, heptane, methyl tert-butyl ether, isopropyl ether, 1,4-dioxane, tert-butanol or N,N-dimethylformamide; preferably methanol, ethanol or acetonitrile; the above benign solvent and organic solution need to be miscible when used;
  • the acid is selected from hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid, hydrobromic acid, hydrofluoric acid, hydroiodic acid, phosphoric acid, 2,5-dihydroxybenzoic acid, 1-hydroxy-2-naphthoic acid, acetic acid, dichloroacetic acid, trichloroacetic acid, acetohydroxamic acid, adipic acid, benzenesulfonic acid, 4-chlorobenzenesulfonic acid, benzoic acid, 4-acetamidobenzoic acid, 4-aminobenzoic acid, citric acid, cyclohexanesulfamic acid, camphorsulfonic acid, aspartic acid, camphoric acid, gluconic acid, glucuronic acid, glutamic acid, isoascorbic acid, lactic acid, malic acid, mandelic acid, pyroglutamic acid,
  • the present invention also provides a method for preparing the acid salt crystalline form of the compound represented by formula (I), comprising the following steps:
  • step 3 rapidly centrifuging the suspension of step 2), removing the supernatant, and drying the remaining solid to a constant weight to obtain the target product;
  • the poor solvent is selected from methanol, ethanol, dichloromethane, 1,4-dioxane, acetonitrile, dichloromethane, chlorobenzene, chloroform, benzene, toluene, acetone, ethyl acetate, water, 88% acetone, isopropyl acetate, 3-pentanone, ethyl formate, tetrahydrofuran, 2-methyl-tetrahydrofuran, isopropanol, n-butanol, isobutanol, n-propanol, methyl tert-butyl ether, n-heptane, tert-butanol or 2-butanone.
  • the present invention also aims to provide a pharmaceutical composition, which contains a therapeutically effective amount of the crystalline form of the compound of the general formula (I), and one or more pharmaceutically acceptable carriers or excipients.
  • the present invention also provides an acid salt or a crystal form of the compound represented by formula (I), and the use of the pharmaceutical composition in the preparation of a drug for inhibiting the tyrosine kinase activity of a protein selected from the group consisting of Abelson protein (ABL1), Abelson-associated protein (ABL2) and chimeric protein BCR-ABL1.
  • ABL1 Abelson protein
  • ABL2 Abelson-associated protein
  • BCR-ABL1 chimeric protein
  • the present invention also provides an acid salt of the compound represented by formula (I) or a crystal form thereof, and use of the pharmaceutical composition in the preparation of drugs for leukemia-related diseases.
  • the leukemia is chronic myeloid leukemia (CML), acute myeloid leukemia (AML) or acute lymphocytic leukemia (ALL); more preferably, the CML is resistant to standard of care treatments such as one or more of imatinib, nilotinib and dasatinib, and the AML is secondary AML that develops after myelodysplastic syndrome (MDS) or myeloproliferative neoplasm (MPN).
  • MDS myelodysplastic syndrome
  • MPN myeloproliferative neoplasm
  • the present invention also provides an acid salt or a crystal form thereof of the compound represented by formula (I), and use of the pharmaceutical composition in the preparation of a drug for treating cancer-related diseases.
  • the cancer is selected from melanoma, hereditary leiomyomatosis, renal cell carcinoma (HLRCC), brain cancer, glioblastoma or other solid tumors.
  • the present invention also provides an acid salt of the compound represented by formula (I) or a crystal form thereof, and use of the pharmaceutical composition in preparing a drug for treating a disease related to a central nervous system disease.
  • the disease related to the central nervous system disease is stroke, traumatic brain or spinal cord injury, Alzheimer's disease, Parkinson's disease, Huntington's disease or motor neuron disease.
  • alkyl refers to a saturated aliphatic hydrocarbon group, which is a straight or branched chain group containing 1 to 20 carbon atoms, preferably an alkyl group containing 1 to 8 carbon atoms, more preferably an alkyl group containing 1 to 6 carbon atoms, and most preferably an alkyl group containing 1 to 3 carbon atoms.
  • Non-limiting examples include methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, tert-butyl, sec-butyl, n-pentyl, 1,1-dimethylpropyl, 1,2-dimethylpropyl, 2,2-dimethylpropyl, 1-ethylpropyl, 2-methylbutyl, 3-methylbutyl, n-hexyl, 1-ethyl-2-methylpropyl, 1,1,2-trimethylpropyl, 1,1-dimethylbutyl, 1,2-dimethylbutyl, 2,2-dimethylbutyl, 1,3-dimethylbutyl, 2-ethylbutyl, 2-methylpentyl, 3-methylpentyl, 4-methylpentyl, 2,3-dimethylbutyl, n-heptyl, 2-methylhexyl, 3-methylhexyl, 4-methylhexyl, 5-methylhexyl,
  • lower alkyl groups containing 1 to 6 carbon atoms are preferred, non-limiting examples of which include methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, tert-butyl, sec-butyl, n-pentyl, 1,1-dimethylpropyl, 1,2-dimethylpropyl, 2,2-dimethylpropyl, 1-ethylpropyl, 2-methylbutyl, 3-methylbutyl, n-hexyl, 1-ethyl-2-methylpropyl, 1,1,2-trimethylpropyl, 1,1-dimethylbutyl, 1,2-dimethylbutyl, 2,2-dimethylbutyl, 1,3-dimethylbutyl, 2-ethylbutyl, 2-methylpentyl, 3-methylpentyl, 4-methylpentyl, 2,3-dimethylbutyl, and the like.
  • the alkyl group may be substituted or unsubstituted. When substituted, the substituent may be substituted at any available attachment point.
  • the substituent is preferably one or more of the following groups independently selected from alkyl, alkenyl, alkynyl, alkoxy, alkylthio, alkylamino, halogen, mercapto, hydroxy, nitro, cyano, cycloalkyl, heterocycloalkyl, aryl, heteroaryl, cycloalkyloxy, heterocycloalkyloxy, cycloalkylthio, heterocycloalkylthio, oxo, carboxyl or carboxylate groups.
  • Methyl, ethyl, isopropyl, tert-butyl, haloalkyl, deuterated alkyl, alkoxy-substituted alkyl and hydroxy-substituted alkyl are preferred in the present invention.
  • aryl refers to a 6- to 14-membered all-carbon monocyclic or fused polycyclic (i.e., a ring sharing adjacent pairs of carbon atoms) group having a conjugated ⁇ electron system, preferably 6- to 10-membered, such as phenyl and naphthyl. More preferably phenyl.
  • the aryl ring may be fused to a heteroaryl, heterocyclic or cycloalkyl ring, including benzo 3-8-membered cycloalkyl, benzo 3-8-membered heteroalkyl, preferably benzo 3-6-membered cycloalkyl, benzo 3-6-membered heteroalkyl, wherein the heterocyclic group is a heterocyclic group containing 1-3 nitrogen atoms, oxygen atoms, and sulfur atoms; or further comprising a three-membered nitrogen-containing fused ring containing a benzene ring, wherein the ring connected to the parent structure is an aryl ring.
  • the aryl group may be substituted or unsubstituted, and when substituted, the substituent is preferably one or more of the following groups independently selected from alkyl, alkenyl, alkynyl, alkoxy, alkylthio, alkylamino, halogen, mercapto, hydroxy, nitro, cyano, cycloalkyl, heterocycloalkyl, aryl, heteroaryl, cycloalkyloxy, heterocycloalkyloxy, cycloalkylthio, heterocycloalkylthio, carboxyl or carboxylate.
  • heteroaryl refers to a heteroaromatic system containing 1 to 4 heteroatoms, 5 to 14 ring atoms, which The heteroatom is selected from oxygen, sulfur and nitrogen.
  • the heteroaryl is preferably 5 to 10 members, more preferably 5 or 6 members, such as imidazolyl, furanyl, thienyl, thiazolyl, pyrazolyl, oxazolyl, pyrrolyl, triazolyl, tetrazolyl, pyridyl, pyrimidyl, thiadiazole, pyrazinyl, etc., preferably triazolyl, thienyl, imidazolyl, pyrazolyl, oxazolyl, pyrimidyl or thiazolyl; more preferably pyrazolyl and oxazolyl.
  • the heteroaryl ring can be fused to an aryl, heterocyclic or cycloalkyl ring, wherein the ring connected to the parent
  • alkoxy refers to-O-(alkyl) and-O-(unsubstituted cycloalkyl), wherein the definition of alkyl is as described above.
  • the non-limiting examples of alkoxy include: methoxy, ethoxy, propoxy, butoxy, cyclopropyloxy, cyclobutyloxy, cyclopentyloxy, cyclohexyloxy.
  • Alkoxy can be optionally substituted or unsubstituted, and when substituted, substituents are preferably one or more of the following groups, which are independently selected from alkyl, alkenyl, alkynyl, alkoxy, alkylthio, alkylamino, halogen, sulfhydryl, hydroxyl, nitro, cyano, cycloalkyl, heterocycloalkyl, aryl, heteroaryl, cycloalkyloxy, heterocycloalkyloxy, cycloalkylthio, heterocycloalkylthio, carboxyl or carboxylate.
  • substituents are preferably one or more of the following groups, which are independently selected from alkyl, alkenyl, alkynyl, alkoxy, alkylthio, alkylamino, halogen, sulfhydryl, hydroxyl, nitro, cyano, cycloalkyl, heterocycloalkyl, aryl, heteroary
  • Haloalkyl refers to an alkyl group substituted with one or more halogens, wherein alkyl is as defined above.
  • Haloalkoxy refers to an alkoxy group substituted with one or more halogens, wherein alkoxy is as defined above.
  • Hydrophilicity refers to an -OH group.
  • Carboxy refers to -C(O)OH.
  • the hydrogen atoms described in the present invention can be replaced by their isotope deuterium, and any hydrogen atom in the example compounds of the present invention can also be replaced by a deuterium atom.
  • Optional or “optionally” means that the subsequently described event or circumstance may but need not occur, and the description includes instances where the event or circumstance occurs or does not occur.
  • a heterocyclic group optionally substituted with an alkyl group means that an alkyl group may but need not be present, and the description includes instances where the heterocyclic group is substituted with an alkyl group and instances where the heterocyclic group is not substituted with an alkyl group.
  • Substituted means that one or more hydrogen atoms, preferably up to 5, more preferably 1 to 3 hydrogen atoms in the group are replaced independently of each other by a corresponding number of substituents. It goes without saying that the substituents are only in their possible chemical positions, and the skilled person can determine (by experiment or theory) possible or impossible substitutions without undue effort. For example, amino or hydroxy groups with free hydrogens may be unstable when combined with carbon atoms with unsaturated (e.g. olefinic) bonds.
  • Optional substituents include one or more substituents selected from the group consisting of deuterium, halogen, amino, hydroxyl, cyano, oxo, thio, alkyl, alkenyl, alkynyl, deuterated alkyl, haloalkyl, hydroxyalkyl, alkoxy, alkylthio, haloalkoxy, cycloalkyl, heterocyclyl, aryl and heteroaryl, preferably deuterium, halogen, amino, hydroxyl, cyano, oxo, thio, C 1-6 alkyl, C 2-6 alkenyl, C 2-6 alkynyl, C 1-6 deuterated alkyl, C 1-6 haloalkyl, C 1-6 hydroxyalkyl, C 1-6 alkoxy , C 1-6 alkylthio , C 1-6 haloalkoxy, C 3-12 cycloalkyl, 3-12 membered heterocyclyl, C 6-14 aryl
  • “Pharmaceutical composition” means a mixture containing one or more compounds described herein or their physiologically/pharmaceutically acceptable salts or prodrugs and other chemical components, as well as other components such as physiologically/pharmaceutically acceptable carriers and excipients.
  • the purpose of a pharmaceutical composition is to facilitate administration to an organism, facilitate the absorption of the active ingredient, and thus exert biological activity.
  • the same samples of the same crystal form usually have the same main XRPD characteristic peaks, but there may be certain operating errors.
  • the characteristic peak error is usually within ⁇ 0.2° (however, different technicians using different instruments may occasionally have a few characteristic peaks with errors exceeding this range. For example, errors within ⁇ 0.5° or ⁇ 0.3° should all be considered to belong to the XRPD characteristic peaks of the same crystal form). Therefore, peaks with characteristic peak errors within ⁇ 0.5°, ⁇ 0.3° or ⁇ 0.2° can be interpreted as being within the scope of protection of the present invention.
  • Figures 1-3 are XRPD, DSC and TGA diagrams of ethyl sulfonate Form A.
  • Figures 4-6 are XRPD, DSC and TGA diagrams of ethyl sulfonate Form B.
  • Figures 7-9 are XRPD, DSC and TGA diagrams of mesylate salt Form A.
  • FIG. 15 is an XRPD diagram of hydrochloride Form B.
  • FIG. 16 is an XRPD diagram of hydrochloride salt form C.
  • Figures 17-19 are XRPD, DSC and TGA diagrams of sulfate salt form A.
  • Figures 20-22 are XRPD, DSC and TGA diagrams of sulfate salt form B.
  • Figures 23-25 are XRPD, DSC and TGA diagrams of sulfate salt form C.
  • 26-28 are XRPD, DSC and TGA diagrams of sulfate salt form D.
  • Figures 29-31 are XRPD, DSC and TGA diagrams of sulfate salt form E.
  • 32-34 are XRPD, DSC and TGA diagrams of sulfate salt Form F.
  • 35-37 are XRPD, DSC and TGA diagrams of sulfate salt Form G.
  • 38-40 are XRPD, DSC and TGA diagrams of p-toluenesulfonate Form A.
  • 41-43 are XRPD, DSC and TGA diagrams of p-toluenesulfonate Form B.
  • 44-46 are XRPD, DSC and TGA diagrams of p-toluenesulfonate Form C.
  • 47-49 are XRPD, DSC and TGA diagrams of p-toluenesulfonate Form D.
  • 50-52 are XRPD, DSC and TGA diagrams of p-toluenesulfonate Form E.
  • Figure 53 is an XRPD diagram of besylate salt Form A.
  • 54-56 are XRPD, DSC and TGA diagrams of benzenesulfonate salt Form B.
  • Figures 57-59 are XRPD, DSC and TGA diagrams of benzenesulfonate salt Form C.
  • Figure 60 is an XRPD diagram of Form A of the isethionate salt.
  • Figures 61-63 are XRPD, DSC and TGA diagrams of Form B of the isethionate salt.
  • Figures 64-66 are XRPD, DSC and TGA diagrams of 1,5-naphthalene disulfonate Form A.
  • Capillary electrophoresis was used to detect the phosphorylation conversion rate of the substrate peptide segment to determine the IC 50 value of the test compound for the inhibition of kinase (ABL1-WT).
  • the highest concentration of the compound tested in the experiment was 1000nM, and it was diluted 3 times, with a total of 12 concentrations (1000-0.0056nM).
  • the enzyme reaction system was prepared (the concentration of the enzyme ABL1-WT was 1.3nM, the concentration of the substrate FLPeptide2 was 1.5 ⁇ M, and the reaction factor was 10mM MgCl 2 ). After incubation at room temperature for 30min, 5 ⁇ L 4 ⁇ ATP solution was added to start the enzyme reaction.
  • the stop buffer (containing 0.5M EDTA) was added to terminate the reaction.
  • the sample was analyzed using an EZ reader (analysis conditions: pressure-1.5PSI, upper pressure current-2250V, lower pressure current-500V, separation time 40sec, system delay 100.0sec).
  • the conversion rate read by EZ Reader is used to calculate the remaining activity rate according to the following formula.
  • IC 50 was calculated using XLfit, and the fitting formula was selected as Formula 201 to calculate IC 50 .
  • Luminescent Cell Viability Detection Kit (Luminescent Cell Viability Assay) was used to detect the inhibitory effect of drugs on tumor cell proliferation and growth.
  • the cell suspension was plated in a 96-well plate. Different concentrations of drugs were added, with 3 replicates for each concentration, and corresponding solvent controls were set up.
  • the highest concentration detected in Ba/F3 BCR-ABL1-T315I and Ba/F3 BCR-ABL1-E255K cells was 10000nM, with a 3.16-fold gradient dilution, a total of 9 concentrations (10000-1.0058nM).
  • the highest concentration of the compound detected in other cells was 500nM, with a 3.16-fold gradient dilution, a total of 9 concentrations (500-0.0503nM).
  • the cells with the added compounds were cultured for another 72 hours at 37°C and 5% CO2 .
  • the culture plate and its contents were equilibrated to room temperature, and then added Reagent, mix the contents on a shaker for 5 minutes to induce cell lysis, incubate the plate at room temperature in the dark for 20 minutes, and read the luminescence value with a microplate reader.
  • the compounds of the present invention can significantly inhibit the proliferation of Ba/F3 BCR-ABL1-T315I, E255K, E255V, and G250E mutant cells.
  • the proliferation inhibition activity of the compounds of the present invention on in vitro cultured human erythroleukemia cells K562, human peripheral blood basophilic leukemia cells Ku812, and human chronic myeloid leukemia cells KCL22-s and KCL22-r was evaluated.
  • Luminescent Cell Viability Detection Kit detects the inhibitory effect of drugs on tumor cell proliferation and growth. Directly take the logarithmic growth phase cells cultured overnight, blow and mix, count, adjust the cell density according to the different cell density requirements, prepare a cell suspension and spread it on a 96-well plate. Add different concentrations of drugs, set up three replicates for each concentration, and set up corresponding solvent controls. Set up three replicates for each concentration, and set up corresponding solvent controls. The highest concentration of the compound detected is 500nM, 3-fold gradient dilution, a total of 9 concentrations (500-0.076 nM). The cells with the added compounds were cultured for another 72 hours at 37°C and 5% CO 2.
  • the culture plate and its contents were equilibrated to room temperature and The reagent was added and the contents were mixed on a shaker for 3 minutes to induce cell lysis.
  • the culture plate was further incubated at room temperature in the dark for 10 minutes, and the chemiluminescent signal value was measured using a microplate reader (BioTek Synergy H1).
  • test results show that the compound of the present invention can significantly inhibit the proliferation of tumor cells with BCR-ABL1 fusion mutation.
  • test compound on the human chronic myeloid leukemia cell line KCL22-s in the BALB/c nude mouse subcutaneous xenograft tumor model was evaluated.
  • mice BALB/c nude mice, 8-10 weeks.
  • a Take out a strain of KCL22-s cells from the cell bank, resuscitate the cells with RPMI-1640 medium (RPMI-1640 + 10% FBS + 1% P/S), place the resuscitated cells in a cell culture bottle (mark the bottle wall with the cell type, date, name of the culturer, etc.) and culture them in a CO2 incubator (the incubator temperature is 37°C and the CO2 concentration is 5%).
  • RPMI-1640 medium RPMI-1640 + 10% FBS + 1% P/S
  • Cells are subcultured, and the cells are cultured in a CO2 incubator. This process is repeated until the cell number meets the in vivo efficacy requirement.
  • c. Collect the cultured cells, count them with an automatic cell counter, resuspend the cells with PBS according to the counting results to prepare a cell suspension (density 5 ⁇ 10 7 /mL), and place it in an ice box for later use.
  • nude mice were marked with disposable ear tags for both large and small mice.
  • mice were inoculated sequentially (0.1 mL of cell suspension was inoculated per mouse).
  • the tumor was measured and the tumor size was calculated on the 15th day after inoculation.
  • Tumor volume (mm 3 ) length (mm) ⁇ width (mm) ⁇ width (mm)/2
  • mice were randomly divided into groups according to their weight and tumor size.
  • test drug administration method: oral administration; dosage: 1.5, 3, 7.5 mg/kg; administration volume: 10 mL/kg; administration frequency: 1-2 times/day; administration cycle: 15 days; solvent: 0.5% HPMC K4M).
  • Tumors were measured and weighed twice a week after the start of the test drug administration.
  • TGI (%) [1-(average tumor volume at the end of a treatment group administration - average tumor volume at the beginning of administration of the treatment group)/(average tumor volume at the end of treatment of the solvent control group - average tumor volume at the beginning of treatment of the solvent control group)] ⁇ 100%.
  • TGI (%) [1-(average tumor volume at the end of administration of a treatment group - average tumor volume at the beginning of administration of the treatment group)/average tumor volume at the beginning of administration of the treatment group] ⁇ 100%.
  • the compound of the present invention has a significant tumor inhibition effect on a human chronic myeloid leukemia cell line KCL22-s xenograft tumor model.
  • Example 1 140 mg of the free base of Example 1 was weighed, 3.5 mL of acetone was added, and the mixture was heated at 50° C. to dissolve and filtered to prepare the stock solution. 250 ⁇ L of the stock solution was taken, and 22.9 ⁇ L of a 1.0 M methanol solution of ethylsulfonic acid was slowly added to the system. A large amount of solid was precipitated after stirring at 45° C., and the solid was immediately centrifuged and vacuum dried to obtain ethylsulfonate salt form A. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG1 , a DSC pattern as shown in FIG2 , and a TGA pattern as shown in FIG3 .
  • Example 2 100 mg of the free base of Example 1 was weighed, 1 mL of acetonitrile was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 229 ⁇ L of a 1.0 M methanol solution of ethylsulfonic acid was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution, and the solid was vacuum dried after centrifugation to obtain ethylsulfonate salt Form B. After detection and analysis, the ethylsulfonate salt had an XRPD pattern as shown in FIG4 , a DSC pattern as shown in FIG5 , and a TGA pattern as shown in FIG6 .
  • Example 2 Weigh 10 mg of the free base of Example 1, add 100 ⁇ L of ethyl acetate, heat and stir at 50°C, slowly add 22.9 ⁇ L of 1.0 M methanesulfonic acid ethanol solution to the system, dissolve and precipitate a large amount of solid, centrifuge and vacuum After drying, the mesylate salt crystal form A is obtained. After detection and analysis, it has an XRPD graph as shown in FIG7 , a DSC graph as shown in FIG8 , and a TGA graph as shown in FIG9 .
  • Example 2 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of methanol was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1.0 M methanesulfonic acid ethanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution, and the solid was vacuum dried after centrifugation to obtain the mesylate salt form B. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG10 and a DSC pattern as shown in FIG11 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of acetonitrile was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M hydrochloric acid in methanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution, and the solid was vacuum dried after centrifugation to obtain hydrochloride crystal form A. After detection and analysis, it has an XRPD diagram as shown in FIG12 , a DSC diagram as shown in FIG13 , and a TGA diagram as shown in FIG14 .
  • Example 2 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of methanol was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M methanol solution of hydrochloric acid was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution, and the solid was vacuum dried after centrifugation to obtain hydrochloride crystal form B. After detection and analysis, it has an XRPD pattern as shown in FIG15 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of dichloromethane was added, and the mixture was stirred at room temperature. 22.9 ⁇ L of 1M methanol solution of hydrochloric acid was slowly added to the system to dissolve the mixture. A large amount of solid was precipitated after adding MTBE. The solid was centrifuged and vacuum dried to obtain hydrochloride crystal form C. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG16 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of acetonitrile was added, and the mixture was stirred at room temperature. 22.9 ⁇ L of 1M sulfuric acid in methanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution. The solid was centrifuged and vacuum dried to obtain sulfate salt form A. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG. 17 , a DSC pattern as shown in FIG. 18 , and a TGA pattern as shown in FIG. 19 .
  • Example 2 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of methanol was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M sulfuric acid in methanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution, and the solid was vacuum dried after centrifugation to obtain sulfate crystal form B. After detection and analysis, it has an XRPD diagram as shown in FIG20 , a DSC diagram as shown in FIG21 , and a TGA diagram as shown in FIG22 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of chloroform was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M sulfuric acid in methanol solution was slowly added to the system to dissolve the mixture, and a large amount of solid was precipitated after adding MTBE. The mixture was centrifuged and vacuum dried to obtain sulfate crystal form C. After detection and analysis, the crystal had an XRPD pattern as shown in FIG. 23 , a DSC pattern as shown in FIG. 24 , and a TGA pattern as shown in FIG. 25 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of acetone was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M sulfuric acid in methanol solution was slowly added to the system to dissolve the mixture, and a large amount of solid was precipitated after adding MTBE. The mixture was centrifuged and vacuum dried to obtain sulfate salt form D. After detection and analysis, the crystal had an XRPD pattern as shown in FIG. 26 , a DSC pattern as shown in FIG. 27 , and a TGA pattern as shown in FIG. 28 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of dichloromethane was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M sulfuric acid in methanol solution was slowly added to the system to dissolve the mixture, and a large amount of solid was precipitated after adding MTBE. The mixture was centrifuged and vacuum dried to obtain sulfate crystal form E. After detection and analysis, the crystal had an XRPD pattern as shown in FIG. 29 , a DSC pattern as shown in FIG. 30 , and a TGA pattern as shown in FIG. 31 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of 2-butanone was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M sulfuric acid in methanol solution was slowly added to the system to dissolve the mixture, and a large amount of solid was precipitated after adding MTBE. The mixture was centrifuged and vacuum dried to obtain sulfate crystal form F. After detection and analysis, the crystal had an XRPD pattern as shown in FIG32 , a DSC pattern as shown in FIG33 , and a TGA pattern as shown in FIG34 .
  • Example 1 Weigh 100 mg of the free base of Example 1, add 1 mL, heat and stir at 50°C, slowly add 229 ⁇ L of 1M sulfuric acid in methanol solution to the system, dissolve, add MTBE to precipitate a large amount of solid, stir for 4 hours, centrifuge and vacuum dry to obtain sulfate crystal form G. After detection and analysis, it has an XRPD diagram as shown in Figure 35, a DSC diagram as shown in Figure 36, and a TGA diagram as shown in Figure 37.
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of acetonitrile was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M p-toluenesulfonic acid methanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution, and the solid was vacuum dried after centrifugation to obtain p-toluenesulfonate salt form A. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG. 38 , a DSC pattern as shown in FIG. 39 , and a TGA pattern as shown in FIG. 40 .
  • Example 2 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of methanol was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M p-toluenesulfonic acid methanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution, and the solid was vacuum dried after centrifugation to obtain p-toluenesulfonate salt Form B. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG41 , a DSC pattern as shown in FIG42 , and a TGA pattern as shown in FIG43 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of acetonitrile was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M p-toluenesulfonic acid methanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after dissolution, and the solid was immediately centrifuged and vacuum dried to obtain p-toluenesulfonate salt form C. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG. 44 , a DSC pattern as shown in FIG. 45 , and a TGA pattern as shown in FIG. 46 .
  • Example 2 Weigh 240 mg of the free base of Example 1, add 6 mL of tetrahydrofuran, heat or ultrasonicate to dissolve it, filter it, and use it as a stock solution. Take 250 ⁇ L of the stock solution, slowly add 22.9 ⁇ L of 1M benzenesulfonic acid methanol solution to the system, evaporate it open at room temperature, and obtain benzenesulfonate salt form A. After detection and analysis, it has an XRPD pattern as shown in Figure 53.
  • Example 2 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of acetonitrile was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M benzenesulfonic acid methanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after adding MTBE, and the solid was centrifuged and vacuum dried to obtain benzenesulfonate salt form B. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG54 , a DSC pattern as shown in FIG55 , and a TGA pattern as shown in FIG56 .
  • Example 1 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of methanol was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M benzenesulfonic acid methanol solution was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after adding MTBE, and the solid was centrifuged and vacuum dried to obtain benzenesulfonate salt form C. After detection and analysis, the solid had an XRPD pattern as shown in FIG57 , a DSC pattern as shown in FIG58 , and a TGA pattern as shown in FIG59 .
  • Example 2 Weigh 240 mg of the free base of Example 1, add 6 mL of tetrahydrofuran, heat or sonicate to dissolve it, filter it, and use it as a stock solution. Take 250 ⁇ L of the stock solution, slowly add 22.9 ⁇ L of 1M methanol solution of isethionic acid to the system, evaporate it open at room temperature to obtain isethionic salt crystal form A. After detection and analysis, it has an XRPD pattern as shown in Figure 60.
  • Example 2 10 mg of the free base of Example 1 was weighed, 100 ⁇ L of methanol was added, and the mixture was heated and stirred at 50° C. 22.9 ⁇ L of 1M methanol solution of isethionic acid was slowly added to the system, and a large amount of solid was precipitated after adding MTBE, and the solid was centrifuged and vacuum dried to obtain isethionic salt crystal form B. After detection and analysis, it has an XRPD diagram as shown in FIG61 , a DSC diagram as shown in FIG62 , and a TGA diagram as shown in FIG63 .
  • Example 1 Weigh 10 mg of the free base of Example 1, add 100 ⁇ L of methanol, heat and stir at 50°C, slowly add 183 ⁇ L of 0.125M 1,5-naphthalenedisulfonic acid ethanol solution to the system, add MTBE to precipitate a large amount of solid, centrifuge and vacuum dry to obtain 1,5-naphthalenedisulfonate salt form A. After detection and analysis, it has an XRPD diagram as shown in Figure 64, a DSC diagram as shown in Figure 65, and a TGA diagram as shown in Figure 66.
  • the number of bound acids in the sulfate salts of the compounds was quantified by HPLC-ELSD assay.
  • the number of bound acids in the p-toluenesulfonic acid salt of the compound was quantified by HPLC-ELSD assay.
  • each salt crystal form of the compound was taken and observed for 7 days and 14 days under the conditions of light 5000lx, high temperature 60°C, high humidity 92.5%RH, and high temperature and humidity 50°C75%RH.
  • the content was determined by HPLC and external standard method, and the changes of related substances were calculated by chromatographic peak area normalization method.
  • the hygroscopicity of the crystal form of the compound salt under different relative humidity conditions was investigated to provide a basis for the crystal form screening and storage of the compound salt.
  • the compound p-toluenesulfonate crystalline form A is placed in saturated water vapor with different relative humidity to make the compound The compound reaches dynamic equilibrium with water vapor and the percentage of weight gain due to moisture absorption is calculated after equilibrium.
  • the compound p-toluenesulfonate crystalline form A absorbs moisture at RH80% and gains weight by 0.3545%. After two cycles of moisture absorption and desorption at a relative humidity of 0-95%, the XRPD spectrum of p-toluenesulfonate crystalline form A does not change, that is, the crystalline form does not change.
  • the p-toluenesulfonate crystalline form A is stable in a humid environment.
  • thermodynamically stable crystal form is obtained.
  • p-toluenesulfonate crystal form A By beating, changing the crystallization solvent and the crystallization method, a total of 5 p-toluenesulfonate crystal forms were obtained, namely p-toluenesulfonate crystal form A, crystal form B, crystal form C, crystal form D and crystal form E.
  • p-toluenesulfonate crystal form A By beating, changing the crystallization solvent and the crystallization method, a total of 5 p-toluenesulfonate crystal forms were obtained, namely p-toluenesulfonate crystal form A, crystal form B, crystal form C, crystal form D and crystal form E.
  • the compound p-toluenesulfonate crystalline form A was evenly suspended in an aqueous solution containing 0.5% HPMC (hydroxypropyl methylcellulose) K4M, and then gavage was performed on rats. Three rats were administered in parallel at doses of 10 mg/kg and 30 mg/kg. All the amounts of the compound were converted into the same amount of free base.
  • HPMC hydroxypropyl methylcellulose
  • the p-toluenesulfonate crystalline form A of the compound was evenly suspended in an aqueous solution containing 0.5% HPMC (hydroxypropyl methylcellulose) K4M, and then gavage was administered to beagle dogs in three parallel groups.
  • the dosage was 20 mg/kg and the administration volume was 5 mL/kg.
  • the amount of the compound was converted into the same amount of free base.

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Abstract

本发明涉及一种四元稠环类化合物盐晶型及其制备方法和应用。具体涉及一种式(I)所示化合物的四元稠环类化合物盐晶型、制备方法和含有治疗有效量的该化合物或其晶型的药物组合物以及其作为酪氨酸激酶抑制剂药物中的应用。

Description

四元稠环类化合物盐晶型及其制备方法和应用 技术领域
本发明属于医药生物领域，具体涉及四元稠环类化合物的盐晶型及其制备方法和应用。
背景技术
ABL1蛋白的酪氨酸激酶活性通常受到严格调节，SH3域的N-端帽区在此起重要作用。一个调节机制涉及将N-端帽甘氨酸-2残基肉豆蔻酰化，然后与SH1催化结构域中的肉豆蔻酸酯结合位点相互作用。慢性髓性白血病(CML)一个标志是费城染色体(Ph)，由造血干细胞中的t(9,22)染色体相互易位形成。该染色体携带BCR-ABL1癌基因，其编码缺乏N-端帽并具有组成性激活的酪氨酸激酶域的嵌合的BCR-ABL1蛋白。
尽管经由ATP-竞争性机制抑制BCR-ABL1的酪氨酸激酶活性的药物，诸如伊马替尼、尼洛替尼和达沙替尼可能有效治疗CML，然而，一些患者由于耐药性克隆的出现而复发。例如，小分子或其组合可用于通过ATP结合位点，肉豆蔻酰结合位点或两个位点的组合抑制BCR-ABL 1和BCR-ABL 1突变的活性。
专利PCT/CN2022/122536中保护了一类四元稠环类化合物。鉴于药物盐型和晶型的研究对于化合物在临床研究中具有重要意义，也为了改善产物的溶解度及固体稳定性，降低储存成本，延长产品周期，同时提高产物生物利用度，本发明对上述化合物的盐晶型进行了全面的研究。
发明内容
专利PCT/CN2022/122536所涉及的所有内容均以引证的方式添加到本发明中。
本发明的目的在于提供一种式(I)所示化合物的酸式盐晶型，
其中：
环A为C6-10芳基或5-6元杂芳基；
R1选自C1-3烷基、C1-3氘代烷基、C1-3卤代烷基、C1-3羟烷基、C1-3烷氧基、 C13烷硫基或C1-3卤代烷氧基；
M1选自N或CH；
M2选自NH或CH2；
M3选自N或CH；
R2或R3各自独立地选自C1-3烷基、C1-3氘代烷基、C1-3卤代烷基、C1-3羟烷基、C1-3烷氧基、C1-3烷硫基或C1-3卤代烷氧基；
所述酸式盐选自乙基磺酸盐、甲磺酸盐、硫酸盐、盐酸盐、对甲苯磺酸盐、苯磺酸盐、羟乙基磺酸盐、1，5-萘二磺酸盐。
在本发明进一步优选的实施方式中，式(I)所示化合物进一步如通式(I-a)所述：
在本发明进一步优选的实施方式中，环A为苯基或吡啶基；
R1选自C1-3烷基、C1-3卤代烷基、C1-3烷氧基或C1-3卤代烷氧基；
M1为N；
M2为NH；
M3为N；
R2或R3各自独立地选自氢、C1-3烷基或C1-3卤代烷基。
在本发明进一步优选的实施方式中，R1选自-CF2、-CF3、-CF2Cl、-OCF2、-OCF3或-OCF2Cl；
R2或R3各自独立地选自-CH3、-CH2CH3、-CF2、-CF3或-CF2Cl。
在本发明进一步优选的实施方式中，式(I)所示化合物的具体结构如下：

在本发明进一步优选的实施方式中，为氢溴酸盐晶型、盐酸盐晶型、硫酸盐晶型、对甲苯磺酸盐晶型、甲磺酸盐晶型、苯磺酸盐晶型、草酸盐晶型、醋酸盐晶型、乙基磺酸盐晶型、马来酸盐晶型、磷酸盐晶型、富马酸盐晶型、丁二酸盐晶型、丙二酸盐晶型、己二酸盐晶型、苹果酸盐晶型、酒石酸盐晶型、1，5-萘二磺酸盐晶型、羟乙基磺酸盐晶型、柠檬酸盐晶型、马尿酸盐晶型、乳酸盐晶型、苯甲酸盐晶型、棕榈酸盐晶型或水杨酸盐晶型；
优选氢溴酸盐晶型、乙基磺酸盐晶型、甲磺酸盐晶型、硫酸盐晶型、盐酸盐晶型、对甲苯磺酸盐晶型、苯磺酸盐晶型、羟乙基磺酸盐晶型、1，5-萘二磺酸盐晶型、马来酸盐晶型、富马酸盐晶型、丁二酸盐晶型、苹果酸盐晶型或酒石酸盐晶型；
更优选乙基磺酸盐晶型、甲磺酸盐晶型、硫酸盐晶型、盐酸盐晶型、对甲苯磺酸盐晶型、苯磺酸盐晶型、羟乙基磺酸盐晶型、1，5-萘二磺酸盐晶型。
在本发明进一步优选的实施方式中，酸式盐晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的乙基磺酸盐晶型A、乙基磺酸盐晶型B、甲磺酸盐晶型A、甲磺酸盐晶型B、硫酸盐晶型A、硫酸盐晶型B、硫酸盐晶型C、硫 酸盐晶型D、硫酸盐晶型E、硫酸盐晶型F、硫酸盐晶型G、盐酸盐晶型A、盐酸盐晶型B、盐酸盐晶型C、对甲苯磺酸盐晶型A、对甲苯磺酸盐晶型B、对甲苯磺酸盐晶型C、对甲苯磺酸盐晶型D、对甲苯磺酸盐晶型E、苯磺酸盐晶型A、苯磺酸盐晶型B、苯磺酸盐晶型C、羟乙基磺酸盐晶型A、羟乙基磺酸盐晶型B、1，5-萘二磺酸盐晶型A，其中：
乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在5.9±0.2°处具有衍射峰；或者在17.7±0.2°处具有衍射峰；或者在22.3±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在21.0±0.2°处具有衍射峰；或者在18.0±0.2°处具有衍射峰；或者在5.6±0.2°处具有衍射峰；或者在29.7±0.2°处具有衍射峰；或者在23.8±0.2°处具有衍射峰；或者在12.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在5.6±0.2°处具有衍射峰；或者在16.5±0.2°处具有衍射峰；或者在8.4±0.2°处具有衍射峰；或者在10.0±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在23.7±0.2°处具有衍射峰；或者在27.7±0.2°处具有衍射峰；或者在15.2±0.2°处具有衍射峰；或者在28.9±0.2°处具有衍射峰；或者在12.8±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在6.0±0.2°处具有衍射峰；或者在17.8±0.2°处具有衍射峰；或者在21.4±0.2°处具有衍射峰；或者在16.5±0.2°处具有衍射峰；或者在22.4±0.2°处具有衍射峰；或者在12.2±0.2°处具有衍射峰；或者在24.3±0.2°处具有衍射峰；或者在23.5±0.2°处具有衍射峰；或者在29.8±0.2°处具有衍射峰；或者在19.8±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在6.0±0.2°处具有衍射峰；或者在18.0±0.2°处具有衍射峰；或者在22.6±0.2°处具有衍射峰；或者在30.1±0.2°处具有衍射峰；或者在6.6±0.2°处具有衍射峰；或者在12.2±0.2°处具有衍射峰；或者在13.2±0.2°处具有衍射峰；或者在15.5±0.2°处具有衍射峰；或者在21.4±0.2°处具有衍射峰；或者在24.0±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在5.8±0.2°处具有衍射峰；或者在21.6±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在19.7±0.2° 处具有衍射峰；或者在16.5±0.2°处具有衍射峰；或者在12.0±0.2°处具有衍射峰；或者在12.3±0.2°处具有衍射峰；或者在17.2±0.2°处具有衍射峰；或者在13.6±0.2°处具有衍射峰；或者在25.9±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在16.9±0.2°处具有衍射峰；或者在17.4±0.2°处具有衍射峰；或者在22.5±0.2°处具有衍射峰；或者在19.3±0.2°处具有衍射峰；或者在9.9±0.2°处具有衍射峰；或者在20.1±0.2°处具有衍射峰；或者在13.8±0.2°处具有衍射峰；或者在11.1±0.2°处具有衍射峰；或者在18.6±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在5.6±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在8.3±0.2°处具有衍射峰；或者在12.7±0.2°处具有衍射峰；或者在15.3±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在10.0±0.2°处具有衍射峰；或者在15.5±0.2°处具有衍射峰；或者在13.1±0.2°处具有衍射峰；或者在21.0±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在17.3±0.2°处具有衍射峰；或者在24.3±0.2°处具有衍射峰；或者在20.6±0.2°处具有衍射峰；或者在26.2±0.2°处具有衍射峰；或者在22.1±0.2°处具有衍射峰；或者在18.6±0.2°处具有衍射峰；或者在15.1±0.2°处具有衍射峰；或者在12.9±0.2°处具有衍射峰；或者在25.9±0.2°处具有衍射峰；或者在18.0±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在5.8±0.2°处具有衍射峰；或者在17.2±0.2°处具有衍射峰；或者在9.8±0.2°处具有衍射峰；或者在13.8±0.2°处具有衍射峰；或者在20.0±0.2°处具有衍射峰；或者在22.6±0.2°处具有衍射峰；或者在19.2±0.2°处具有衍射峰；或者在22.2±0.2°处具有衍射峰；或者在11.1±0.2°处具有衍射峰；或者在26.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱在6.0±0.2°处具有衍射峰；或者在16.0±0.2°处具有衍射峰；或者在22.4±0.2°处具有衍射峰；或者在17.3±0.2° 处具有衍射峰；或者在20.0±0.2°处具有衍射峰；或者在18.5±0.2°处具有衍射峰；或者在20.5±0.2°处具有衍射峰；或者在14.4±0.2°处具有衍射峰；或者在24.9±0.2°处具有衍射峰；或者在24.4±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱在5.9±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在5.6±0.2°处具有衍射峰；或者在16.9±0.2°处具有衍射峰；或者在22.2±0.2°处具有衍射峰；或者在29.5±0.2°处具有衍射峰；或者在27.7±0.2°处具有衍射峰；或者在25.1±0.2°处具有衍射峰；或者在10.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在22.4±0.2°处具有衍射峰；或者在14.0±0.2°处具有衍射峰；或者在17.1±0.2°处具有衍射峰；或者在6.2±0.2°处具有衍射峰；或者在19.4±0.2°处具有衍射峰；或者在25.2±0.2°处具有衍射峰；或者在17.5±0.2°处具有衍射峰；或者在21.6±0.2°处具有衍射峰；或者在19.8±0.2°处具有衍射峰；或者在23.4±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在6.7±0.2°处具有衍射峰；或者在27.0±0.2°处具有衍射峰；或者在23.4±0.2°处具有衍射峰；或者在13.4±0.2°处具有衍射峰；或者在11.0±0.2°处具有衍射峰；或者在24.1±0.2°处具有衍射峰；或者在15.6±0.2°处具有衍射峰；或者在4.5±0.2°处具有衍射峰；或者在20.0±0.2°处具有衍射峰；或者在10.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在16.5±0.2°处具有衍射峰；或者在20.4±0.2°处具有衍射峰；或者在22.2±0.2°处具有衍射峰；或者在9.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.8±0.2°处具有衍射峰；或者在5.3±0.2°处具有衍射峰；或者在17.5±0.2°处具有衍射峰；或者在6.0±0.2°处具有衍射峰；或者在14.3±0.2°处具有衍射峰；或者在21.7±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在16.8±0.2°处具有衍射峰；或者在19.9±0.2°处具有衍射峰；或者在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在22.5 ±0.2°处具有衍射峰；或者在21.8±0.2°处具有衍射峰；或者在24.9±0.2°处具有衍射峰；或者在22.3±0.2°处具有衍射峰；或者在20.8±0.2°处具有衍射峰；或者在26.6±0.2°处具有衍射峰；或者在12.4±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在5.5±0.2°处具有衍射峰；或者在19.9±0.2°处具有衍射峰；或者在13.2±0.2°处具有衍射峰；或者在21.9±0.2°处具有衍射峰；或者在28.1±0.2°处具有衍射峰；或者在14.1±0.2°处具有衍射峰；或者在10.9±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在9.5±0.2°处具有衍射峰；或者在20.4±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在5.8±0.2°处具有衍射峰；或者在17.3±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在22.0±0.2°处具有衍射峰；或者在19.6±0.2°处具有衍射峰；或者在23.1±0.2°处具有衍射峰；或者在22.4±0.2°处具有衍射峰；或者在20.1±0.2°处具有衍射峰；或者在29.0±0.2°处具有衍射峰；或者在12.8±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在4.9±0.2°处具有衍射峰；或者在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.2±0.2°处具有衍射峰；或者在22.0±0.2°处具有衍射峰；或者在19.5±0.2°处具有衍射峰；或者在28.9±0.2°处具有衍射峰；或者在25.5±0.2°处具有衍射峰；或者在12.7±0.2°处具有衍射峰；或者在14.8±0.2°处具有衍射峰；或者在23.0±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在5.4±0.2°处具有衍射峰；或者在16.1±0.2°处具有衍射峰；或者在9.9±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在8.4±0.2°处具有衍射峰；或者在23.1±0.2°处具有衍射峰；或者在26.9±0.2°处具有衍射峰；或者在25.7±0.2°处具有衍射峰；或者在25.2±0.2°处具有衍射峰；或者在28.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.2±0.2°处具有衍射峰；或者在21.8±0.2°处具有衍射峰；或者在5.5± 0.2°处具有衍射峰；或者在16.6±0.2°处具有衍射峰；或者在23.0±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在20.3±0.2°处具有衍射峰；或者在27.3±0.2°处具有衍射峰；或者在28.8±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在19.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.4±0.2°处具有衍射峰；或者在13.6±0.2°处具有衍射峰；或者在22.6±0.2°处具有衍射峰；或者在9.7±0.2°处具有衍射峰；或者在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在14.2±0.2°处具有衍射峰；或者在29.1±0.2°处具有衍射峰；或者在12.8±0.2°处具有衍射峰；或者在23.7±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在5.4±0.2°处具有衍射峰；或者在16.6±0.2°处具有衍射峰；或者在16.9±0.2°处具有衍射峰；或者在15.0±0.2°处具有衍射峰；或者在12.7±0.2°处具有衍射峰；或者在19.4±0.2°处具有衍射峰；或者在8.3±0.2°处具有衍射峰；或者在20.9±0.2°处具有衍射峰；或者在13.8±0.2°处具有衍射峰；或者在9.9±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在5.4±0.2°处具有衍射峰；或者在16.1±0.2°处具有衍射峰；或者在20.9±0.2°处具有衍射峰；或者在20.0±0.2°处具有衍射峰；或者在25.2±0.2°处具有衍射峰；或者在15.1±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在25.7±0.2°处具有衍射峰；或者在12.7±0.2°处具有衍射峰；或者在19.5±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在5.9±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在21.2±0.2°处具有衍射峰；或者在19.5±0.2°处具有衍射峰；或者在22.5±0.2°处具有衍射峰；或者在10.0±0.2°处具有衍射峰；或者在13.0±0.2°处具有衍射峰；或者在24.3±0.2°处具有衍射峰；或者在15.5±0.2°处具有衍射峰；或者在17.5±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在21.3±0.2°处具有衍射峰；或者在10.2±0.2°处具有衍射峰；或者在9.5±0.2°处具有衍射峰；或者在 17.1±0.2°处具有衍射峰；或者在9.9±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在25.8±0.2°处具有衍射峰；或者在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在8.0±0.2°处具有衍射峰；或者在23.7±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的乙基磺酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°和16.7±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°和21.0±0.2°处；
或者，17.7±0.2°、16.7±0.2°和18.0±0.2°处；
或者，22.3±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、17.7±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处；
或者，22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处。
乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°、28.0±0.2°、24.9±0.2°、10.0±0.2°、11.8±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、23.8±0.2°和12.2±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°和28.0±0.2°处。
乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7± 0.2°、23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°、28.0±0.2°、24.9±0.2°、10.0±0.2°、11.8±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、22.3±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°和12.2±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°和12.2±0.2°处；
或者，17.7±0.2°、16.7±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°、28.0±0.2°、24.9±0.2°和10.0±0.2°处。
乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°、28.0±0.2°、24.9±0.2°、10.0±0.2°、11.8±0.2°、13.8±0.2°、27.8±0.2°、12.7±0.2°、22.6±0.2°、14.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、22.3±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°和18.4±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、17.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°和12.2±0.2°处；
或者，22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°和28.0±0.2°处；
或者，17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°、28.0±0.2°和24.9±0.2°。
最优选地，乙基磺酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表1所示。
表1
进一步优选地，乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱如图1所示；其DSC图谱基本如图2所示；其TGA图谱基本如图3所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺乙基磺酸盐晶型B，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.6±0.2°、10.0±0.2°和17.6±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、17.6±0.2°和23.7±0.2°处；
或者，8.4±0.2°、27.7±0.2°和15.2±0.2°处；
或者，8.4±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°和15.2±0.2°处；
或者，8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°和15.2±0.2°处。
乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为28.9±0.2°、12.8±0.2°、13.8±0.2°、21.1±0.2°、11.8±0.2°、18.6±0.2°、13.1±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、28.9±0.2°和12.8±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°和13.8±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°、13.8±0.2°和21.1±0.2°处。
乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°、13.8±0.2°、21.1±0.2°、11.8±0.2°、18.6±0.2°、13.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°和15.2±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°和12.8±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°和12.8±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°和13.8±0.2°处。
乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°、13.8±0.2°、21.1±0.2°、11.8±0.2°、18.6±0.2°、13.1±0.2°、20.1±0.2°、25.3±0.2°、19.5±0.2°、25.6±0.2°、26.3±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、 3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.6±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°和28.9±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°和12.8±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.5±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、21.1±0.2°和11.8±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、8.4±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、21.1±0.2°和11.8±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°和13.8±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、8.4±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、13.8±0.2°、21.1±0.2°和11.8±0.2°处；
或者16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°、13.8±0.2°、21.1±0.2°和11.8±0.2°。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表2所示。
表2

进一步优选地，乙基磺酸盐晶型B，其X-射线粉末衍射图谱基本如图4所示；其DSC图谱基本如图5所示；其TGA图谱基本如图6所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺甲磺酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、17.8±0.2°和16.5±0.2°处；
或者，17.8±0.2°、16.5±0.2°和22.4±0.2°°处；
或者，21.4±0.2°、16.5±0.2°和12.2±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、16.5±0.2°和22.4±0.2°处；
或者，17.8±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°和12.2±0.2°处；
或者，17.8±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°和23.5±0.2°处；
或者，21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°和23.5±0.2°处。
甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为29.8±0.2°、19.8±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、14.8±0.2°、28.0±0.2°、33.9±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、29.8±0.2°和19.8±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、 12.2±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°和16.7±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°、16.7±0.2°和25.8±0.2°处。
甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、14.8±0.2°、28.0±0.2°、33.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°和29.8±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°和19.8±0.2°处；
或者，17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°和16.7±0.2°处。
甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、14.8±0.2°、28.0±0.2°、33.9±0.2°、22.0±0.2°、10.7±0.2°、23.7±0.2°、20.7±0.2°、27.2±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°和23.5±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°和29.8±0.2°处；
或者，17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°和29.8±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°和25.8±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°、16.7±0.2°和25.8±0.2°处；
或者，21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°、16.7±0.2°和25.8±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°、16.7±0.2°和25.8±0.2°；
或者，17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、14.8±0.2°、28.0±0.2°和33.9±0.2°。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表3所示。
表3
进一步优选地，甲磺酸盐晶型A，其X-射线粉末衍射图谱基本如图7所示；其DSC图谱基本如图8所示；其TGA图谱基本如图9所示。
在本发明进一步优选的实施方案中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的甲磺酸盐晶型B，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选 包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
18.0±0.2°°、12.2±0.2°和13.2±0.2°处；
或者，22.6±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、30.1±0.2°、12.2±0.2°和13.2±0.2°处；
或者，18.0±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°和12.2±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处。
甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为21.4±0.2°、24.0±0.2°、12.0±0.2°、10.1±0.2°、24.6±0.2°、16.6±0.2°、19.8±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、21.4±0.2°和24.0±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、21.4±0.2°、24.0±0.2°和12.0±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、21.4±0.2°、24.0±0.2°、12.0±0.2°和10.1±0.2°处。
甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°、21.4±0.2°、24.0±0.2°、12.0±0.2°、10.1±0.2°、24.6±0.2°、16.6±0.2°、19.8±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
或者，6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°和21.4±0.2°处；
或者，18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°、21.4±0.2°、24.0±0.2°和12.0±0.2°处。
甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°、21.4±0.2°、24.0±0.2°、12.0±0.2°、10.1±0.2°、24.6±0.2°、16.6±0.2°、19.8±0.2°、25.5±0.2°、20.3±0.2°、26.0±0.2°、31.3±0.2°、28.4±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°和21.4±0.2°处；
或者，18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°、21.4±0.2°、24.0±0.2°和12.0±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°、21.4±0.2°、24.0±0.2°、12.0±0.2°和10.1±0.2°；
或者，18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°、21.4±0.2°、24.6±0.2°、16.6±0.2°、19.8±0.2°和25.5±0.2°。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表4所示。
表4

进一步优选地，甲磺酸盐晶型B，其X-射线粉末衍射图谱基本如图10所示；其DSC图谱基本如图11所示。
在本发明进一步优选的实施方案中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的硫酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：17.6±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°和12.0±0.2°处；
或者，21.6±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°和12.3±0.2°处；
或者，17.6±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°和12.3±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处；
或者，21.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处；
或者，17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处。
硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为13.6±0.2°、25.9±0.2°、23.5±0.2°、21.8±0.2°、14.4±0.2°、10.4±0.2°、24.7±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、13.6±0.2°和25.9±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、13.6±0.2°、25.9±0.2°和23.5±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、13.6±0.2°、25.9±0.2°、23.5±0.2°和21.8±0.2°处。
硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、13.6±0.2°、25.9±0.2°、23.5±0.2°、21.8±0.2°、14.4±0.2°、10.4±0.2°、24.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处；
或者，21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°和13.6±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、13.6±0.2°和25.9±0.2°处；
或者，21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、13.6±0.2°、25.9±0.2°和23.5±0.2°处。
硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、13.6±0.2°、25.9±0.2°、23.5±0.2°、21.8±0.2°、14.4±0.2°、10.4±0.2°、24.7±0.2°、27.3±0.2°、24.5±0.2°、20.7±0.2°、9.8±0.2°、26.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处；
或者，21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°和13.6±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、23.5±0.2°和21.8±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.6±0.2°、16.5±0.2°、12.3±0.2°、13.6±0.2°、23.5±0.2°、21.8±0.2°、10.4±0.2°、24.7±0.2°和27.3±0.2°处；
或者21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、13.6±0.2°、25.9±0.2°、23.5±0.2°、21.8±0.2°和14.4±0.2°。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表5所示。
表5
进一步优选地，硫酸盐晶型A，其X-射线粉末衍射图谱基本如图17所示；其DSC图谱基本如图18所示；其TGA图谱基本如图19所示。
在本发明进一步优选的实施方案中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的硫酸盐晶型B，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包 含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.7±0.2°、22.5±0.2°和19.3±0.2°处；
或者，16.9±0.2°、22.5±0.2°和19.3±0.2°处；
或者，16.9±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°和20.1±0.2°处；
或者，17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、和20.1±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°和13.8±0.2°处；
或者，16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°和20.1±0.2°处；
或者，17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°和13.8±0.2°。
硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为11.1±0.2°、18.6±0.2°、27.2±0.2°、26.8±0.2°、24.2±0.2°、25.4±0.2°、23.7±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、11.1±0.2°和18.6±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、11.1±0.2°、18.6±0.2°和27.2±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、11.1±0.2°、18.6±0.2°、27.2±0.2°和26.8±0.2°处；
硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°、11.1±0.2°、18.6±0.2°、27.2±0.2°、26.8±0.2°、24.2±0.2°、25.4±0.2°、23.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
或者，5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°和13.8±0.2°处；
或者，16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°和11.1±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°、11.1±0.2°和18.6±0.2°处；
或者，16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°、11.1±0.2°、18.6±0.2°和27.2±0.2°处。
硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°、11.1±0.2°、18.6±0.2°、27.2±0.2°、26.8±0.2°、24.2±0.2°、25.4±0.2°、23.7±0.2°、28.5±0.2°、29.1±0.2°、15.4±0.2°、20.8±0.2°、11.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°和13.8±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、16.9±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°和11.1±0.2°处；
或者，16.9±0.2°、17.4±0.2°、19.3±0.2°、20.1±0.2°、11.1±0.2°、27.2±0.2°、24.2±0.2°、25.4±0.2°、23.7±0.2°和28.5±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、16.9±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、11.1±0.2°、18.6±0.2°、27.2±0.2°、25.4±0.2°、23.7±0.2°和28.5±0.2°处；
或者，16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°、11.1±0.2°、18.6±0.2°、24.2±0.2°、25.4±0.2°和23.7±0.2°。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表6所示。
表6

进一步优选地，硫酸盐晶型B，其X-射线粉末衍射图谱基本如图20所示；其DSC图谱基本如图21所示；其TGA图谱基本如图22所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的硫酸盐晶型C，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.6±0.2°和12.7±0.2°处；
16.7±0.2°、17.6±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，8.3±0.2°、17.6±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，16.7±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°和15.5±0.2°。
硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为13.1±0.2°、21.0±0.2°、25.7±0.2°、25.3±0.2°、19.5±0.2°、20.1±0.2°、18.6±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、13.1±0.2°和21.0±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、13.1±0.2°、21.0±0.2°和25.7±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、13.1±0.2°、21.0±0.2°、25.7±0.2°和25.3±0.2°处。
硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°、21.0±0.2°、25.7±0.2°、25.3±0.2°、19.5±0.2°、20.1±0.2°、18.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°和13.1±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°和21.0±0.2°处；
或者，16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°、21.0±0.2°和25.7±0.2°处。
硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°、21.0±0.2°、25.7±0.2°、25.3±0.2°、19.5±0.2°、20.1±0.2°、18.6±0.2°、13.9±0.2°、23.8±0.2°、22.3±0.2°、33.7±0.2°、24.4±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°和15.5±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°和13.1±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°和21.0±0.2°处；
或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、 10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°、21.0±0.2°和25.7±0.2°处；
或者，16.7±0.2°、8.3±0.2°、15.3±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°、21.0±0.2°、25.7±0.2°、25.3±0.2°和19.5±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表7所示。
表7
进一步优选地，硫酸盐晶型C，其X-射线粉末衍射图谱基本如图23所示；其DSC图谱基本如图24所示；其TGA图谱基本如图25所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的硫酸盐晶型D，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°中的至少一处，优选包含其 中2处、3处、4处或5处。
例如，硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
17.3±0.2°、26.2±0.2°和12.9±0.2°处；
或者，24.3±0.2°、22.1±0.2°和18.6±0.2°处；
或者，17.3±0.2°、26.2±0.2°和22.1±0.2°处；
或者，24.3±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°和18.6±0.2处；
或者，17.3±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°和12.9±0.2°处；
或者，24.3±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°和12.9±0.2°处；
或者，20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°和12.9±0.2°处。
硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为25.9±0.2°、18.0±0.2°、25.8±0.2°、22.9±0.2°、29.1±0.2°、6.8±0.2°、11.4±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、25.9±0.2°和18.0±0.2°处；
或者，17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°和25.8±0.2°处；
或者，17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°、25.8±0.2°和22.9±0.2°处。
硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°、25.8±0.2°、22.9±0.2°、29.1±0.2°、6.8±0.2°、11.4±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°和12.9±0.2°处；
或者，24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°和25.9±0.2°处；
或者，24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°和25.8±0.2°处。
硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°、25.8±0.2°、22.9±0.2°、29.1±0.2°、6.8±0.2°、11.4±0.2°、19.5±0.2°、34.8±0.2°、24.9±0.2°、19.2±0.2°、26.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°和12.9±0.2°处；
或者，17.3±0.2°、24.3±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°和25.9±0.2°处；
或者，24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°和25.9±0.2°处；
或者，24.3±0.2°、20.6±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°、25.8±0.2°和22.9±0.2°处；
或者，24.3±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、25.8±0.2°、22.9±0.2°、29.1±0.2°、6.8±0.2°、11.4±0.2°和19.5±0.2°处；
或者，20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°、25.8±0.2°和22.9±0.2°处；
或者，20.6±0.2°、18.6±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°、6.8±0.2°、11.4±0.2°、19.5±0.2°、34.8±0.2°、24.9±0.2°和19.2±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表8所示。
表8

进一步优选地，硫酸盐晶型D，其X-射线粉末衍射图谱基本如图26所示；其DSC图谱基本如图27所示；其TGA图谱基本如图28所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、13.8±0.2°和22.6±0.2°处；
或者，17.2±0.2°、20.0±0.2°和19.2±0.2°处；
或者，9.8±0.2°、22.6±0.2°和22.2±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°和22.6±0.2°处；
或者，17.2±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°和19.2±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°和22.2±0.2°处；
或者，17.2±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°和22.2±0.2°处；
或者，9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°和22.2±0.2°处。
硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为11.1±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、18.6±0.2°、19.7±0.2°、15.1±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、11.1±0.2°和26.2±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°和24.3±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°和20.6±0.2°处。
硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、18.6±0.2°、19.7±0.2°、15.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°和22.2±0.2°处；
或者，17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°和11.1±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°和26.2±0.2°处；
或者，17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°和24.3±0.2°处。
硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、18.6±0.2°、19.7±0.2°、15.1±0.2°、29.1±0.2°、12.1±0.2°、21.3±0.2°、12.9±0.2°、8.8±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°和22.2±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.2±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°和11.1±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、18.6±0.2°和19.7±0.2°处；
或者，17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、 19.2±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°和24.3±0.2°处；
或者，17.2±0.2°、9.8±0.2°、20.0±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、18.6±0.2°和19.7±0.2°处；
或者，9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°和20.6±0.2°处；
或者，9.8±0.2°、13.8±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、12.1±0.2°、21.3±0.2°和12.9±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表9所示。
表9
进一步优选地，硫酸盐晶型E，其X-射线粉末衍射图谱基本如图29所示；其DSC图谱基本如图30所示；其TGA图谱基本如图31所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的硫酸盐晶型F，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包 含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、17.3±0.2°和14.4±0.2°处；
或者，16.0±0.2°、20.0±0.2°和18.5±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°和18.5±0.2°处；
或者，16.0±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°和14.4±0.2°处；
或者，22.4±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°和14.4±0.2°处；
或者，16.0±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°和14.4±0.2°处；
或者，22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°和14.4±0.2°处。
硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为24.9±0.2°、24.4±0.2°、17.5±0.2°、26.2±0.2°、18.0±0.2°、27.5±0.2°、21.5±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、24.9±0.2°和24.4±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、24.9±0.2°、24.4±0.2°和17.5±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、24.9±0.2°、24.4±0.2°、17.5±0.2°和26.2±0.2°处。
硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°、24.9±0.2°、24.4±0.2°、17.5±0.2°、26.2±0.2°、18.0±0.2°、27.5±0.2°、21.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°和14.4±0.2°处；
或者，16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°和24.9±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、 18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°、24.9±0.2°和24.4±0.2°处；
或者，16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°、24.9±0.2°、24.4±0.2°和17.5±0.2°处。
硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°、24.9±0.2°、24.4±0.2°、17.5±0.2°、26.2±0.2°、18.0±0.2°、27.5±0.2°、21.5±0.2°、12.8±0.2°、23.2±0.2°、20.9±0.2°、30.2±0.2°、28.8±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°和14.4±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、16.0±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°和24.9±0.2°处；
或者，16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°和24.9±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°、24.9±0.2°和24.4±0.2°处；
或者，6.0±0.2°、16.0±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°、17.5±0.2°、26.2±0.2°和18.0±0.2°处；
或者，16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、26.2±0.2°、18.0±0.2°、27.5±0.2°和21.5±0.2°处；
或者，16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、24.9±0.2°、24.4±0.2°、27.5±0.2°、21.5±0.2°和12.8±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表10所示。
表10

进一步优选地，硫酸盐晶型F，其X-射线粉末衍射图谱基本如图32所示；其DSC图谱基本如图33所示；其TGA图谱基本如图34所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的硫酸盐晶型G，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、5.6±0.2°和16.9±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°和27.7±0.2°处；
或者，16.7±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°和29.5±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°和27.7±0.2°处。
硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为25.1±0.2°、10.2±0.2°、24.4±0.2°、8.4±0.2°、12.1±0.2°、24.2±0.2°、15.4±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、25.1±0.2°和10.2±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、25.1±0.2°、10.2±0.2°和24.4±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、25.1±0.2°、10.2±0.2°、24.4±0.2°和8.4±0.2°处。
硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°、25.1±0.2°、10.2±0.2°、24.4±0.2°、8.4±0.2°、12.1±0.2°、24.2±0.2°、15.4±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°和27.7±0.2°处；
或者，16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°和25.1±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°、25.1±0.2°和10.2±0.2°处；
或者，16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°、25.1±0.2°、10.2±0.2°和24.4±0.2°处。
硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°、25.1±0.2°、10.2±0.2°、24.4±0.2°、8.4±0.2°、12.1±0.2°、24.2±0.2°、15.4±0.2°、19.6±0.2°、18.8±0.2°、23.5±0.2°、13.1±0.2°、20.3±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°和27.7±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°和25.1±0.2°处；
或者，16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°和25.1±0.2°处；
或者，17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°、25.1±0.2°、10.2±0.2°、24.4±0.2°和8.4±0.2°处；
或者，17.6±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°、24.4±0.2°、 8.4±0.2°、19.6±0.2°、18.8±0.2°、23.5±0.2°和13.1±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表11所示。
表11
进一步优选地，硫酸盐晶型G，其X-射线粉末衍射图谱基本如图35所示；其DSC图谱基本如图36所示；其TGA图谱基本如图37所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的盐酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
22.4±0.2°和6.2±0.2°处；
或者，22.4±0.2°、6.2±0.2°和19.4±0.2处；
或者，22.4±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°和25.2±0.2°处；
或者，14.0±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°和17.5±0.2°处；
或者，22.4±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°和21.6±0.2°处；
或者，17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°和21.6±0.2°处。
盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为19.8±0.2°、23.4±0.2°、10.6±0.2°、30.5±0.2°、12.4±0.2°、9.8±0.2°、11.1±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处；
例如，盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、19.8±0.2°和23.4±0.2°处；
或者，22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、19.8±0.2°、23.4±0.2°、10.6±0.2°和30.5±0.2°处。
盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°、19.8±0.2°、23.4±0.2°、10.6±0.2°、30.5±0.2°、12.4±0.2°、9.8±0.2°、11.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°和21.6±0.2°处；
或者，14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°和19.8±0.2°处；
或者，22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°、19.8±0.2°和23.4±0.2°处。
盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°、19.8±0.2°、23.4±0.2°、10.6±0.2°、30.5±0.2°、12.4±0.2°、9.8±0.2°、11.1±0.2°、24.5±0.2°、26.6±0.2°、26.9±0.2°、31.4±0.2°、35.2±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、 3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°和21.6±0.2°处；
或者，22.4±0.2°、14.0±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°和19.8±0.2°处；
或者，22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、26.6±0.2°、26.9±0.2°、31.4±0.2°和35.2±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表12所示。
表12
进一步优选地，盐酸盐晶型A，其X-射线粉末衍射图谱基本如图12所示；其DSC图谱基本如图13所示；其TGA图谱基本如图14所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2- (二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的盐酸盐晶型B，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.7±0.2°和13.4±0.2°处；
或者，6.7±0.2°、13.4±0.2°和1.0±0.2°处；
或者，6.7±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°和24.1±0.2°处；
或者，6.7±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°和4.5±0.2°处；
或者，27.0±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°和4.5±0.2°处。
盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为20.0±0.2°、10.2±0.2°、14.3±0.2°、10.0±0.2°、20.5±0.2°、23.0±0.2°、31.0±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、20.0±0.2°和10.2±0.2°处；
或者，6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、20.0±0.2°、10.2±0.2°、14.3±0.2°和10.0±0.2°处。
盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°、20.0±0.2°、10.2±0.2°、14.3±0.2°、10.0±0.2°、20.5±0.2°、23.0±0.2°、31.0±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°和4.5±0.2°处；
或者，27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°和20.0±0.2°处；
或者，6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°、20.0±0.2°和10.2±0.2°处。
盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°、20.0±0.2°、10.2±0.2°、14.3±0.2°、10.0±0.2°、20.5±0.2°、23.0±0.2°、31.0±0.2°、25.4±0.2°、30.2±0.2°、22.3±0.2°、18.6±0.2°、17.4±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°和4.5±0.2°处；
或者，6.7±0.2°、27.0±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°和20.0±0.2°处；
或者，6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°、20.0±0.2°和10.2±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表13所示。
表13

进一步优选地，盐酸盐晶型B，其X-射线粉末衍射图谱基本如图15所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的盐酸盐晶型C，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.5±0.2°和9.7±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、9.7±0.2°和17.8±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°和6.0±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°和6.0±0.2°处；
或者，20.4±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°和6.0±0.2°处；
或者，22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°和6.0±0.2°处。
盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为14.3±0.2°、21.7±0.2°、24.6±0.2°、10.9±0.2°、27.2±0.2°、20.8±0.2°、19.7±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、14.3±0.2°和21.7±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、14.3±0.2°、21.7±0.2°、24.6±0.2°和10.9±0.2°处。
盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°、14.3±0.2°、21.7±0.2°、24.6±0.2°、10.9±0.2°、27.2±0.2°、20.8±0.2°、19.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°和6.0±0.2°处；
或者，20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°和14.3±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°、14.3±0.2°和21.7±0.2°处。
盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°、14.3±0.2°、21.7±0.2°、24.6±0.2°、10.9±0.2°、27.2±0.2°、20.8±0.2°、19.7±0.2°、15.6±0.2°、26.0±0.2°、18.8±0.2°、30.7±0.2°、10.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°和6.0±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、20.4±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°和14.3±0.2°处；
或者，20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°和14.3±0.2°处；
或者，16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°、14.3±0.2°和21.7±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表14所示。
表14

进一步优选地，盐酸盐晶型C，其X-射线粉末衍射图谱基本如图16所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的对甲苯磺酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.8±0.2°和22.5±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、22.5±0.2°和21.8±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°和24.9±0.2°处；
或者，19.9±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°和20.8±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°和20.8±0.2°处；
或者，19.9±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°和20.8±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°和20.8±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为26.6±0.2°、12.4±0.2°、15.1±0.2°、13.8±0.2°、21.3±0.2°、27.7±0.2°、20.5±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、26.6±0.2°和12.4±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、26.6±0.2°、12.4±0.2°、15.1±0.2°和13.8±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°、12.4±0.2°、15.1±0.2°、13.8±0.2°、21.3±0.2°、27.7±0.2°、20.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°和20.8±0.2°处；
或者，19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°和26.6±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°和12.4±0.2°处；
或者，19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°、12.4±0.2°和15.1±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°、12.4±0.2°、15.1±0.2°、13.8±0.2°、21.3±0.2°、27.7±0.2°、20.5±0.2°、24.7±0.2°、31.2±0.2°、17.3±0.2°、32.1±0.2°、25.8±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°和20.8±0.2°处；
16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、12.4±0.2°、13.8±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°和20.8±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、19.9±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°和26.6±0.2°处；
或者，19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°和26.6±0.2°处；
或者，19.9±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、 26.6±0.2°、32.1±0.2°和25.8±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°和12.4±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、19.9±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°、12.4±0.2°和15.1±0.2°处；
或者，16.8±0.2°、19.9±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°、31.2±0.2°、17.3±0.2°、32.1±0.2°和25.8±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表15所示。
表15
进一步优选地，化合物对甲苯磺酸盐晶型A，其X-射线粉末衍射图谱基本如图38所示；其DSC图谱基本如图39所示；其TGA图谱基本如图40所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd] 茚-11-甲酰胺的对甲苯磺酸盐晶型B，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°、17.6±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.5±0.2°和21.9±0.2°处；
或者，5.5±0.2°、21.9±0.2°和28.1±0.2°处；
或者，5.5±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°和14.1±0.2°处；
或者，5.5±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°和17.6±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为9.5±0.2°、20.4±0.2°、17.8±0.2°、22.1±0.2°、21.5±0.2°、16.3±0.2°、26.5±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、9.5±0.2°和20.4±0.2°处；
或者，5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、9.5±0.2°、20.4±0.2°、17.8±0.2°和22.1±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°、17.6±0.2°、9.5±0.2°、20.4±0.2°、17.8±0.2°、22.1±0.2°、21.5±0.2°、16.3±0.2°、26.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°和17.6±0.2°处；
或者，5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°、17.6±0.2°、9.5±0.2°和20.4±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°、17.6±0.2°、9.5±0.2°、20.4±0.2°、17.8±0.2°、22.1±0.2°、21.5±0.2°、 16.3±0.2°、26.5±0.2°、27.4±0.2°、10.1±0.2°、12.9±0.2°、29.2±0.2°、22.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°和14.1±0.2°处；
或者，5.5±0.2°、19.9±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°和10.9±0.2°处；
或者，5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°和17.6±0.2°处；
或者，5.5±0.2°、19.9±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°、17.6±0.2°和9.5±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表16所示。
表16

进一步优选地，对甲苯磺酸盐晶型B，其X-射线粉末衍射图谱基本如图41所示；其DSC图谱基本如图42所示；其TGA图谱基本如图43所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的对甲苯磺酸盐晶型C，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°和22.0±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、22.0±0.2°和19.6±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°和23.1±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°和20.1±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为29.0±0.2°、12.8±0.2°、21.6±0.2°、11.5±0.2°、13.8±0.2°、27.4±0.2°、20.9±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、29.0±0.2°和12.8±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、29.0±0.2°、12.8±0.2°、21.6±0.2°和11.5±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°、29.0±0.2°、12.8±0.2°、21.6±0.2°、11.5±0.2°、13.8±0.2°、27.4±0.2°、20.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、 22.4±0.2°和20.1±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°、29.0±0.2°和12.8±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°、29.0±0.2°、12.8±0.2°、21.6±0.2°、11.5±0.2°、13.8±0.2°、27.4±0.2°、20.9±0.2°、33.2±0.2°、25.7±0.2°、9.8±0.2°、25.2±0.2°、32.8±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°和20.1±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.3±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°、29.0±0.2°、12.8±0.2°和21.6±0.2°处；
或者，5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°、29.0±0.2°和12.8±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表17所示。
表17

进一步优选地，对甲苯磺酸盐晶型C，其X-射线粉末衍射图谱基本如图44所示；其DSC图谱基本如图45所示；其TGA图谱基本如图46所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的对甲苯磺酸盐晶型D，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
4.9±0.2°和22.0±0.2°处；
或者，4.9±0.2°、22.0±0.2°和19.5±0.2°处；
或者，4.9±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°和28.9±0.2°处；
或者，4.9±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°和12.7±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为14.8±0.2°、23.0±0.2°、20.6±0.2°、27.3±0.2°、30.4±0.2°、24.8±0.2°、27.7±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、14.8±0.2°和23.0±0.2°处；
或者，4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、14.8±0.2°、23.0±0.2°、20.6±0.2°和27.3±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为4.9±0.2°、5.7 ±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°、14.8±0.2°、23.0±0.2°、20.6±0.2°、27.3±0.2°、30.4±0.2°、24.8±0.2°、27.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°和12.7±0.2°处；
或者，4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°、14.8±0.2°和23.0±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°、14.8±0.2°、23.0±0.2°、20.6±0.2°、27.3±0.2°、30.4±0.2°、24.8±0.2°、27.7±0.2°、11.5±0.2°、34.9±0.2°、9.9±0.2°、35.0±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°和12.7±0.2°处；
或者，4.9±0.2°、5.7±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°、14.8±0.2°和23.0±0.2°处；
或者，4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°、14.8±0.2°和23.0±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表18所示。
表18

进一步优选地，对甲苯磺酸盐晶型D，其X-射线粉末衍射图谱基本如图47所示；其DSC图谱基本如图48所示；其TGA图谱基本如图49所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的对甲苯磺酸盐晶型E，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°和16.7±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.7±0.2°和8.4±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°和23.1±0.2°处；
或者，16.1±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°和25.7±0.2°处；
或者，9.9±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°和25.7±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°和25.7±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为25.2±0.2°、28.2±0.2°、18.5±0.2°、16.9±0.2°、32.4±0.2°、11.6±0.2°、15.1±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、25.2±0.2°和28.2±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、25.2±0.2°、28.2±0.2°、18.5±0.2°和16.9±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°、25.2±0.2°、28.2±0.2°、18.5±0.2°、16.9±0.2°、32.4±0.2°、11.6±0.2°、15.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°和25.2±0.2°处；
或者，16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°、25.2±0.2°、28.2±0.2°和18.5±0.2°处。
对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°、25.2±0.2°、28.2±0.2°、18.5±0.2°、16.9±0.2°、32.4±0.2°、11.6±0.2°、15.1±0.2°、21.5±0.2°、23.5±0.2°、20.0±0.2°、13.8±0.2°、17.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°和25.7±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°、25.2±0.2°和28.2±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°、25.2±0.2°和28.2±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表19所示。
表19

进一步优选地，对甲苯磺酸盐晶型E，其X-射线粉末衍射图谱基本如图50所示；其DSC图谱基本如图51所示；其TGA图谱基本如图52所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的苯磺酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.7±0.2°和5.5±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、5.5±0.2°和16.6±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°和23.0±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°和20.3±0.2°处。
苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为27.3±0.2°、28.8±0.2°、11.5±0.2°、13.8±0.2°、25.5±0.2°、19.9±0.2°、21.3±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7 处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、27.3±0.2°和28.8±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、27.3±0.2°、28.8±0.2°、11.5±0.2°和13.8±0.2°处。
苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为55.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°、27.3±0.2°、28.8±0.2°、11.5±0.2°、13.8±0.2°、25.5±0.2°、19.9±0.2°、21.3±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：55.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°和20.3±0.2°处；
或者，55.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°、27.3±0.2°和28.8±0.2°处。
苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°、27.3±0.2°、28.8±0.2°、11.5±0.2°、13.8±0.2°、25.5±0.2°、19.9±0.2°、21.3±0.2°、24.3±0.2°、11.9±0.2°、23.8±0.2°、26.5±0.2°、25.3±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°和20.3±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、17.2±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°、27.3±0.2°和13.8±0.2°处；
或者，5.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°、27.3±0.2°和28.8±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表20所示。
表20
进一步优选地，苯磺酸盐晶型A，其X-射线粉末衍射图谱基本如图53所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的苯磺酸盐晶型B，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
19.7±0.2°和22.6±0.2°处；
或者，19.7±0.2°、22.6±0.2°和9.7±0.2°处；
或者，19.7±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°和5.7±0.2°处；
或者，19.7±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°和29.1±0.2°处。
苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为12.8±0.2°、 23.7±0.2°、26.4±0.2°、27.3±0.2°、24.0±0.2°、20.7±0.2°、21.6±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、12.8±0.2°和23.7±0.2°处；
或者，19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、12.8±0.2°、23.7±0.2°、26.4±0.2°和27.3±0.2°处。
苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°、12.8±0.2°、23.7±0.2°、26.4±0.2°、27.3±0.2°、24.0±0.2°、20.7±0.2°、21.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°和29.1±0.2°处；
或者，19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°、12.8±0.2°和23.7±0.2°处。
苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°、12.8±0.2°、23.7±0.2°、26.4±0.2°、27.3±0.2°、24.0±0.2°、20.7±0.2°、21.6±0.2°、16.2±0.2°、22.0±0.2°、22.9±0.2°、18.7±0.2°、19.3±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°和29.1±0.2°处；
或者，19.7±0.2°、17.4±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°、12.8±0.2°和23.7±0.2°处；
或者，19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°、12.8±0.2°和23.7±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表21所示。
表21
进一步优选地，苯磺酸盐晶型B，其X-射线粉末衍射图谱基本如图54所示；其DSC图谱基本如图55所示；其TGA图谱基本如图56所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的苯磺酸盐晶型C，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°和15.0±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、15.0±0.2°和12.7±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°和19.4±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°和20.9±0.2°处。
苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为13.8±0.2°、9.9±0.2°、25.6±0.2°、25.2±0.2°、16.2±0.2°、18.5±0.2°、19.9±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、13.8±0.2°和9.9±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、13.8±0.2°、9.9±0.2°、25.6±0.2°和25.2±0.2°处。
苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°、13.8±0.2°、9.9±0.2°、25.6±0.2°、25.2±0.2°、16.2±0.2°、18.5±0.2°、19.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°和20.9±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°、13.8±0.2°和9.9±0.2°处。
苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°、13.8±0.2°、9.9±0.2°、25.6±0.2°、25.2±0.2°、16.2±0.2°、18.5±0.2°、19.9±0.2°、22.1±0.2°、30.2±0.2°、26.1±0.2°、27.0±0.2°、12.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°和20.9±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.6±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°、13.8±0.2°、9.9±0.2°和25.6±0.2°、处；
或者，5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°、13.8±0.2°和9.9±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表22所示。
表22
进一步优选地，苯磺酸盐晶型C，其X-射线粉末衍射图谱基本如图57所示；其DSC图谱基本如图58所示；其TGA图谱基本如图59所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的羟乙基磺酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°和20.0±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、20.0±0.2°和25.2±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°和15.1±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°和25.7±0.2°处。
羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为12.7±0.2°、19.5±0.2°、22.1±0.2°、8.4±0.2°、23.7±0.2°、28.3±0.2°、9.9±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、12.7±0.2°和19.5±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、12.7±0.2°、19.5±0.2°、22.1±0.2°和8.4±0.2°处。
羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°、12.7±0.2°、19.5±0.2°、22.1±0.2°、8.4±0.2°、23.7±0.2°、28.3±0.2°、9.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°和25.7±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°、12.7±0.2°和19.5±0.2°处。
羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°、12.7±0.2°、19.5±0.2°、22.1±0.2°、8.4±0.2°、23.7±0.2°、28.3±0.2°、9.9±0.2°、20.7±0.2°、16.9±0.2°、27.0±0.2°、26.1±0.2°、13.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°和25.7±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°、12.7±0.2°、19.5±0.2°和22.1±0.2°处；
或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°、12.7±0.2°和19.5±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表23所示。
表23
进一步优选地，羟乙基磺酸盐晶型A，其X-射线粉末衍射图谱基本如图60所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺的羟乙基磺酸盐晶型B，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°中的至少一处，优选包 含其中2处、3处、4处或5处。
例如，羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°和19.5±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、19.5±0.2°和22.5±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°和10.0±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°和24.3±0.2°处。
羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为15.5±0.2°、17.5±0.2°、20.1±0.2°、17.7±0.2°、26.2±0.2°、16.9±0.2°、27.6±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°和17.5±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、17.5±0.2°、20.1±0.2°和17.7±0.2°处。
羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°、15.5±0.2°、17.5±0.2°、20.1±0.2°、17.7±0.2°、26.2±0.2°、16.9±0.2°、27.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°和24.3±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°、15.5±0.2°和17.5±0.2°处。
羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°、15.5±0.2°、17.5±0.2°、20.1±0.2°、17.7±0.2°、26.2±0.2°、16.9±0.2°、27.6±0.2°、18.9±0.2°、25.8±0.2°、30.4±0.2°、25.1±0.2°、22.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°和24.3±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°、15.5±0.2°和17.5±0.2°处；
或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°、15.5±0.2°和17.5±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表24所示。
表24
进一步优选地，羟乙基磺酸盐晶型B基本如图61所示；其DSC图谱基本如图62所示；其TGA图谱基本如图63所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，提供(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd] 茚-11-甲酰胺的1，5-萘二磺酸盐晶型A，酸的个数为1，其X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、5.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处。
例如，1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
21.3±0.2°和17.1±0.2°处；
或者，21.3±0.2°、17.1±0.2°和9.9±0.2°处；
或者，21.3±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°和16.7±0.2°处；
或者，21.3±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°和5.7±0.2°处。
1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱任选还包含位于2θ为8.0±0.2°、23.7±0.2°、23.0±0.2°、18.2±0.2°、19.9±0.2°、12.2±0.2°、13.7±0.2°中的一处或多处衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者6-7处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、7处。
例如，1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.0±0.2°和23.7±0.2°处；
或者，21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.0±0.2°、23.7±0.2°、23.0±0.2°和18.2±0.2°处。
1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、5.7±0.2°、8.0±0.2°、23.7±0.2°、23.0±0.2°、18.2±0.2°、19.9±0.2°、12.2±0.2°、13.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰。
例如1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°和5.7±0.2°处；
或者，21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、5.7±0.2°、8.0±0.2°和23.7±0.2°处。
1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、5.7±0.2°、8.0±0.2°、23.7±0.2°、23.0±0.2°、18.2±0.2°、19.9±0.2°、 12.2±0.2°、13.7±0.2°、22.3±0.2°、14.4±0.2°、13.4±0.2°、24.3±0.2°、29.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选至少包含其中任意2-3处，或者4-5处，或者7-8处，或者10-12处，或者15-18处；进一步优选，包含其中任意2处、3处、4处、6处、8处、10处、12处、16处、18处有衍射峰。
例如1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°和5.7±0.2°处；
或者，21.3±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、23.0±0.2°、18.2±0.2°、19.9±0.2°和12.2±0.2°处；
或者，21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、5.7±0.2°、8.0±0.2°和23.7±0.2°处。
最优选地，使用Cu-Kα辐射，以2θ角和晶面间距d值表示的X-射线特征衍射峰如表25所示。
表25

进一步优选地，1，5-萘二磺酸盐晶型A，其X-射线粉末衍射图谱基本如图64所示；其DSC图谱基本如图65所示；其TGA图谱基本如图66所示。
在本发明进一步优选的实施方式中，式(I)所示化合物的乙基磺酸盐晶型A、乙基磺酸盐晶型B、甲磺酸盐晶型A、甲磺酸盐晶型B、盐酸盐晶型A、盐酸盐晶型B、盐酸盐晶型C、硫酸盐晶型A、硫酸盐晶型B、硫酸盐晶型C、硫酸盐晶型D、硫酸盐晶型E、硫酸盐晶型F、硫酸盐晶型G、对甲苯磺酸盐晶型A、对甲苯磺酸盐晶型B、对甲苯磺酸盐晶型C、对甲苯磺酸盐晶型D、对甲苯磺酸盐晶型E、苯磺酸盐晶型A、苯磺酸盐晶型B、苯磺酸盐晶型C、羟乙基磺酸盐晶型A、羟乙基磺酸盐晶型B、1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱中相对峰强度为前十强的衍射峰位置分别与图1、图4、图7、图10、图12、图15、图16、图17、图20、图23、图26、图29、图32、图35、图38、图41、图44、图47、图50、图53、图54、图57、图60、图61和图64对应位置衍射峰的2θ误差为±0.2°～±0.5°，优选±0.2°～±0.3°，最优选±0.2°。
在本发明优选的实施方案中，式(I)所述任一化合物的酸式盐晶型为水合物或无水物；当酸式盐晶型为水合物时，水的个数为0.2-3，优选0.2、0.5、1、1.5、2、2.5或3，更优选0.5、1、2或3；进一步的，水合物中的水为管道水或结晶水或两者的结合。
在本发明优选的实施方案中，式(I)所述任一化合物的酸式盐晶型为无水物。
本领域普通技术人员所熟知的是，XRPD可能会因检测方法、条件和仪器的原因产生一定的位移和强度偏差。作为本发明晶型的一个具体示例，其XRPD如图谱X所示，但普通技术人员了解的是，当关键特征峰位移2θ偏差在±0.5，尤其在±0.2左右时，均可以被认定为同一晶型。
本发明还提供一种制备式(I)所示化合物酸式盐晶型的方法，包括如下步骤：
1)称取适量的自由碱，用良性溶剂溶解；
2)称取适量的酸，任选地，用有机溶剂溶解；酸的量优选1.0～1.5当量；
3)把上述两种溶液合并，搅拌析出或滴加不良溶剂后搅拌析出；
4)快速离心或静置干燥得目标产物；
其中：
所述的良性溶剂选自丙酮、甲苯、乙腈、甲醇、异丙醇、二氯甲烷、四氢呋喃、甲酸乙酯、醋酸异丙酯、甲苯、乙酸乙酯、2-甲基-四氢呋喃、2-丁酮、正 丁醇、1,4-二氧六环、异丁醇、N，N-二甲基甲酰胺、N，N-二甲基乙酰胺、正丙醇或叔丁醇；优选甲苯、乙酸乙酯、丙酮、甲醇或乙腈；
所述的有机溶剂选自甲醇、乙醇、乙酸乙酯、二氯甲烷、丙酮、正己烷、石油醚、苯、甲苯、氯仿、乙腈、四氯化碳、二氯乙烷、四氢呋喃、2-甲基-四氢呋喃、2-丁酮、3-戊酮、庚烷、甲基叔丁基醚、异丙醚、1,4-二氧六环、叔丁醇或N，N-二甲基甲酰胺；优选甲醇、乙醇或乙腈；上述良性溶剂和有机溶液使用时需互溶；
所述的不良溶剂选自庚烷、水、甲基叔丁基醚、环己烷、甲苯、异丙醚、乙酸乙酯、丙酮或乙腈；优选水、甲基叔丁基醚或异丙醚；
或者，具体包括如下步骤：
1)称取适量的自由碱，用不良性溶剂混悬；
2)称取适量的酸，用有机溶剂溶解；酸的量优选1.0～1.5当量；
3)将上述步骤2)的溶液加入上述步骤1)的混悬液中，搅拌；
4)快速离心或静置干燥得到目标产物；
其中：
所述的不良性溶剂选自乙醇、丙酮、乙酸乙酯、甲酸乙酯、异丙醇、醋酸异丙酯、甲基叔丁基醚、甲醇、1,4-二氧六环、2-丁酮、2-甲基-四氢呋喃、苯甲醚、乙腈、氯苯、苯、甲苯、正丁醇、异丁醇或3-戊酮；优选乙醇、2-甲基-四氢呋喃、乙腈、甲醇或乙酸乙酯；
所述的有机溶剂选自甲醇、乙醇、乙酸乙酯、二氯甲烷、丙酮、正己烷、石油醚、苯、甲苯、氯仿、乙腈、四氯化碳、二氯乙烷、四氢呋喃、2-甲基-四氢呋喃、2-丁酮、3-戊酮、庚烷、甲基叔丁基醚、异丙醚、1,4-二氧六环、叔丁醇或N，N-二甲基甲酰胺；优选甲醇、乙醇或乙腈；上述良性溶剂和有机溶液使用时需互溶；
酸选自盐酸、硫酸、硝酸、氢溴酸、氢氟酸、氢碘酸、磷酸、2,5-二羟基苯甲酸、1-羟基-2-萘甲酸、醋酸、二氯醋酸、三氯醋酸、乙酰氧肟酸、己二酸、苯磺酸、4-氯苯磺酸、苯甲酸、4-乙酰氨基苯甲酸、4-氨基苯甲酸、癸酸、己酸、辛酸、肉桂酸、柠檬酸、环己烷氨基磺酸、樟脑磺酸、天门冬氨酸、樟脑酸、葡萄糖酸、葡糖醛酸、谷氨酸、异抗坏血酸、乳酸、苹果酸、扁桃酸、焦谷氨酸、酒石酸、十二烷基硫酸、二苯甲酰酒石酸、乙烷-1,2-二磺酸、乙磺酸、蚁酸、富马酸、半乳糖酸、龙胆酸、戊二酸、2-酮戊二酸、乙醇酸、苯甲酰甘氨酸、羟乙基磺酸、乳糖酸、抗坏血酸、天冬氨酸、月桂酸、樟脑酸、马来酸、丙二酸、甲磺酸、1,5-萘二磺酸、萘-2-磺酸、烟酸、油酸、乳清酸、草酸、棕榈酸、双羟萘酸、丙酸、水杨酸、4-氨基水杨酸、癸二酸、硬脂酸、丁二酸、硫氰酸、帕莫酸、甲酸、十一碳烯酸、三氟乙酸、苯磺酸、对甲苯磺酸或L-苹果酸；优选氢溴酸、盐酸、硫酸、对甲苯磺酸、甲磺酸、苯磺酸、草酸、醋酸、乙基磺酸、马来酸、磷 酸、富马酸、丁二酸、丙二酸、己二酸、苹果酸、酒石酸、1，5-萘二磺酸、羟乙基磺酸、柠檬酸、马尿酸、乳酸、苯甲酸、榈酸或水杨酸；更优选氢溴酸、乙基磺酸、甲磺酸、硫酸、盐酸、对甲苯磺酸、苯磺酸、羟乙基磺酸、1，5-萘二磺酸、马来酸、富马酸、丁二酸、苹果酸或酒石酸；进一步优选乙基磺酸、甲磺酸、硫酸、盐酸、对甲苯磺酸、苯磺酸、羟乙基磺酸或1，5-萘二磺酸。
本发明还提供一种制备式(I)所示化合物酸式盐晶型的方法，包括如下步骤：
1)称取适量的化合物盐，用不良溶剂混悬；
2)将步骤1)的混悬液振摇；
3)将步骤2)的混悬液快速离心，去除上清液，剩余固体干燥至恒重，得到目标产物；
其中：
所述的不良性溶剂选自甲醇、乙醇、二氯甲烷、1,4-二氧六环、乙腈、二氯甲烷、氯苯、氯仿、苯、甲苯、丙酮、乙酸乙酯、水、88％丙酮、醋酸异丙酯、3-戊酮、甲酸乙酯、四氢呋喃、2-甲基-四氢呋喃、异丙醇、正丁醇、异丁醇、正丙醇、甲基叔丁基醚、正庚烷、叔丁醇或2-丁酮。
本发明的目的还在于提供了一种药物组合物，其含有治疗有效量的所述式(I)所示通式化合物的晶型，以及一种或多种药学上可接受的载体或赋形剂。
本发明还提供了式(I)所示化合物的酸式盐或其晶型，以及所述的药物组合物在制备抑制选自Abelson蛋白(ABL1)，Abelson相关蛋白(ABL2)和嵌合蛋白BCR-ABL1的蛋白的酪氨酸激酶酶活性药物中的应用。
本发明还提供了式(I)所示化合物的酸式盐或其晶型，以及所述的药物组合物在制备白血病相关疾病药物中的应用，优选地，所述白血病是慢性髓性白血病(CML)，急性髓性白血病(AML)或急性淋巴细胞性白血病(ALL)；更优选地，所述CML对护理标准治疗例如伊马替尼、尼洛替尼和达沙替尼中的一种或多种的治疗具有抗性，所述AML是继发性AML，其在骨髓增生异常综合症(MDS)或骨髓增生性肿瘤(MPN)之后发展。
本发明还提供了式(I)所示化合物的酸式盐或其晶型，以及所述的药物组合物在制备治疗癌症相关疾病药物中的应用，优选地，所述的癌症选自黑素瘤、遗传性平滑肌瘤病、肾细胞癌(HLRCC)、脑癌、、胶质母细胞瘤或其他实体瘤。
本发明还提供了式(I)所示化合物的酸式盐或其晶型，以及所述的药物组合物在制备治疗中枢神经系统疾病相关疾病药物中的应用，优选地，所述的中枢神经系统疾病相关疾病是中风、创伤性脑或脊髓损伤、阿尔茨海默氏症、帕金森氏病、亨廷顿氏症或运动神经元疾病。
发明的详细说明
除非有相反陈述，在说明书和权利要求书中使用的术语具有下述含义。
术语“烷基”指饱和脂肪族烃基团，其为包含1至20个碳原子的直链或支链基团，优选含有1至8个碳原子的烷基，更优选1至6个碳原子的烷基，最更优选1至3个碳原子的烷基。非限制性实例包括甲基、乙基、正丙基、异丙基、正丁基、异丁基、叔丁基、仲丁基、正戊基、1,1-二甲基丙基、1,2-二甲基丙基、2,2-二甲基丙基、1-乙基丙基、2-甲基丁基、3-甲基丁基、正己基、1-乙基-2-甲基丙基、1,1,2-三甲基丙基、1,1-二甲基丁基、1,2-二甲基丁基、2,2-二甲基丁基、1,3-二甲基丁基、2-乙基丁基、2-甲基戊基、3-甲基戊基、4-甲基戊基、2,3-二甲基丁基、正庚基、2-甲基己基、3-甲基己基、4-甲基己基、5-甲基己基、2,3-二甲基戊基、2,4-二甲基戊基、2,2-二甲基戊基、3,3-二甲基戊基、2-乙基戊基、3-乙基戊基、正辛基、2,3-二甲基己基、2,4-二甲基己基、2,5-二甲基己基、2,2-二甲基己基、3,3-二甲基己基、4,4-二甲基己基、2-乙基己基、3-乙基己基、4-乙基己基、2-甲基-2-乙基戊基、2-甲基-3-乙基戊基、正壬基、2-甲基-2-乙基己基、2-甲基-3-乙基己基、2,2-二乙基戊基、正癸基、3,3-二乙基己基、2,2-二乙基己基，及其各种支链异构体等。更优选的是含有1至6个碳原子的低级烷基，非限制性实施例包括甲基、乙基、正丙基、异丙基、正丁基、异丁基、叔丁基、仲丁基、正戊基、1,1-二甲基丙基、1,2-二甲基丙基、2,2-二甲基丙基、1-乙基丙基、2-甲基丁基、3-甲基丁基、正己基、1-乙基-2-甲基丙基、1,1,2-三甲基丙基、1,1-二甲基丁基、1,2-二甲基丁基、2,2-二甲基丁基、1,3-二甲基丁基、2-乙基丁基、2-甲基戊基、3-甲基戊基、4-甲基戊基、2,3-二甲基丁基等。烷基可以是取代的或非取代的，当被取代时，取代基可以在任何可使用的连接点上被取代，所述取代基优选为一个或多个以下基团，其独立地选自烷基、烯基、炔基、烷氧基、烷硫基、烷基氨基、卤素、巯基、羟基、硝基、氰基、环烷基、杂环烷基、芳基、杂芳基、环烷氧基、杂环烷氧基、环烷硫基、杂环烷硫基、氧代基、羧基或羧酸酯基，本发明优选甲基、乙基、异丙基、叔丁基、卤代烷基、氘代烷基、烷氧基取代的烷基和羟基取代的烷基。
术语“芳基”指具有共轭的π电子体系的6至14元全碳单环或稠合多环(也就是共享毗邻碳原子对的环)基团，优选为6至10元，例如苯基和萘基。更优选苯基。所述芳基环可以稠合于杂芳基、杂环基或环烷基环上，包括苯并3-8元环烷基、苯并3-8元杂烷基，优选苯并3-6元环烷基、苯并3-6元杂烷基，其中杂环基为含1-3氮原子、氧原子、硫原子的杂环基；或者还包含含苯环的三元含氮稠环，其中与母体结构连接在一起的环为芳基环。
芳基可以是取代的或非取代的，当被取代时，取代基优选为一个或多个以下基团，其独立地选自烷基、烯基、炔基、烷氧基、烷硫基、烷基氨基、卤素、巯基、羟基、硝基、氰基、环烷基、杂环烷基、芳基、杂芳基、环烷氧基、杂环烷氧基、环烷硫基、杂环烷硫基、羧基或羧酸酯基。
术语“杂芳基”指包含1至4个杂原子、5至14个环原子的杂芳族体系，其 中杂原子选自氧、硫和氮。杂芳基优选为5至10元，更优选为5元或6元，例如咪唑基、呋喃基、噻吩基、噻唑基、吡唑基、噁唑基、吡咯基、三唑基、四唑基、吡啶基、嘧啶基、噻二唑、吡嗪基等，优选为三唑基、噻吩基、咪唑基、吡唑基、噁唑基、嘧啶基或噻唑基；更有选吡唑基和噁唑基。所述杂芳基环可以稠合于芳基、杂环基或环烷基环上，其中与母体结构连接在一起的环为杂芳基环。
术语“烷氧基”指-O-(烷基)和-O-(非取代的环烷基)，其中烷基的定义如上所述。烷氧基的非限制性实例包括：甲氧基、乙氧基、丙氧基、丁氧基、环丙氧基、环丁氧基、环戊氧基、环己氧基。烷氧基可以是任选取代的或非取代的，当被取代时，取代基优选为一个或多个以下基团，其独立地选自烷基、烯基、炔基、烷氧基、烷硫基、烷基氨基、卤素、巯基、羟基、硝基、氰基、环烷基、杂环烷基、芳基、杂芳基、环烷氧基、杂环烷氧基、环烷硫基、杂环烷硫基、羧基或羧酸酯基。
“卤代烷基”指被一个或多个卤素取代的烷基，其中烷基如上所定义。
“卤代烷氧基”指被一个或多个卤素取代的烷氧基，其中烷氧基如上所定义。
“羟基”指-OH基团。
“羧基”指-C(O)OH。
“X选自A、B、或C”、“X选自A、B和C”、“X为A、B或C”、“X为A、B和C”等不同用语均表达了相同的意义，即表示X可以是A、B、C中的任意一种或几种。
本发明所述的氢原子均可被其同位素氘所取代，本发明涉及的实施例化合物中的任一氢原子也均可被氘原子取代。
“任选”或“任选地”意味着随后所描述的事件或环境可以但不必发生，该说明包括该事件或环境发生或不发生的场合。例如，“任选被烷基取代的杂环基团”意味着烷基可以但不必须存在，该说明包括杂环基团被烷基取代的情形和杂环基团不被烷基取代的情形。
“取代的”指基团中的一个或多个氢原子，优选为最多5个，更优选为1～3个氢原子彼此独立地被相应数目的取代基取代。不言而喻，取代基仅处在它们的可能的化学位置，本领域技术人员能够在不付出过多努力的情况下确定(通过实验或理论)可能或不可能的取代。例如，具有游离氢的氨基或羟基与具有不饱和(如烯属)键的碳原子结合时可能是不稳定的。可选的取代基包括包括氘、卤素、氨基、羟基、氰基、氧代基、硫代基、烷基、烯基、炔基、氘代烷基、卤代烷基、羟烷基、烷氧基、烷硫基、卤代烷氧基、环烷基、杂环基、芳基和杂芳基中的一个或多个取代基所取代，优选氘、卤素、氨基、羟基、氰基、氧代基、硫代基、C1-6烷基、C2-6烯基、C2-6炔基、C1-6氘代烷基、C1-6卤代烷基、C1-6羟烷基、C1- 6烷氧基、C1-6烷硫基、C1-6卤代烷氧基、C3-12环烷基、3-12元杂环基、C6-14芳基和5-14元杂芳基。
“药物组合物”表示含有一种或多种本文所述化合物或其生理学上/可药用的盐或前体药物与其他化学组分的混合物，以及其他组分例如生理学/可药用的载体和赋形剂。药物组合物的目的是促进对生物体的给药，利于活性成分的吸收进而发挥生物活性。
同一晶型的相同样品通常具有同样的主要XRPD特征峰，但可能存在一定操作误差，当由本领域普通技术人员，采用相应方法得到的同晶型样品采用相同的仪器和检测方法进行检测时，特征峰误差通常在±0.2°以内(然不同技术人员使用不同仪器可能偶然出现少数特征峰的误差超出该范围，如误差在±0.5°或±0.3°内均应认为属于相同晶型的XRPD特征峰)，因此特征峰误差在±0.5°、±0.3°或±0.2°以内的峰都可被解释为本发明保护范围之内。
附图说明
图1-3为乙基磺酸盐晶型A的XRPD、DSC和TGA图示。
图4-6为乙基磺酸盐晶型B的XRPD、DSC和TGA图示。
图7-9为甲磺酸盐晶型A的XRPD、DSC和TGA图示。
图10-11为甲磺酸盐晶型B的XRPD和DSC图示。
图12-14为盐酸盐晶型A的XRPD、DSC和TGA图示。
图15为盐酸盐晶型B的XRPD图示。
图16为盐酸盐晶型C的XRPD图示。
图17-19为硫酸盐晶型A的XRPD、DSC和TGA图示。
图20-22为硫酸盐晶型B的XRPD、DSC和TGA图示。
图23-25为硫酸盐晶型C的XRPD、DSC和TGA图示。
图26-28为硫酸盐晶型D的XRPD、DSC和TGA图示。
图29-31为硫酸盐晶型E的XRPD、DSC和TGA图示。
图32-34为硫酸盐晶型F的XRPD、DSC和TGA图示。
图35-37为硫酸盐晶型G的XRPD、DSC和TGA图示。
图38-40为对甲苯磺酸盐晶型A的XRPD、DSC和TGA图示。
图41-43为对甲苯磺酸盐晶型B的XRPD、DSC和TGA图示。
图44-46为对甲苯磺酸盐晶型C的XRPD、DSC和TGA图示。
图47-49为对甲苯磺酸盐晶型D的XRPD、DSC和TGA图示。
图50-52为对甲苯磺酸盐晶型E的XRPD、DSC和TGA图示。
图53为苯磺酸盐晶型A的XRPD图示。
图54-56为苯磺酸盐晶型B的XRPD、DSC和TGA图示。
图57-59为苯磺酸盐晶型C的XRPD、DSC和TGA图示。
图60为羟乙基磺酸盐晶型A的XRPD图示。
图61-63为羟乙基磺酸盐晶型B的XRPD、DSC和TGA图示。
图64-66为1，5-萘二磺酸盐晶型A的XRPD、DSC和TGA图示。
具体实施方式
一、化合物的制备
以下结合实施例进一步描述本发明，但这些实施例并非限制着本发明的范围。
实施例1(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺对甲苯磺酸盐
向500mL反应瓶内加入4-氨基-3-溴-5-硝基苯甲酸甲酯(化合物1)20g，十六烷基三甲基溴化铵5.30g、20.07g碳酸钾和200mL乙腈，室温搅拌下滴加10.3g/50mL(S)-2-氯-1-丙醇/乙腈溶液。滴加完毕，加热至回流反应8小时。反应完毕，反应液浓缩至干，向残留物加入乙酸乙酯和水，萃取，有机相使用饱和氯化钠洗涤，无水硫酸钠干燥。过滤，滤液经柱层析纯化后得13.32g化合物3，收率55％。
向100mL反应瓶内加入(R)-3-溴-4-[(1-羟基异丙烷-2-基)氨基]-5-硝基苯甲酸甲酯(化合物3)10g，38mL二氟乙酸，室温条件下加入16.76g铁粉，加热至40-50℃反应3小时。降温，向反应体系中加入乙酸乙酯，过滤，滤液分别使用水和饱和氯化钠洗涤各一次，无水硫酸钠干燥，过滤，滤液浓缩后直接投入下步反应。
将15g(R)-7-溴-2-(二氟甲基)-1-[1-羟丙基-2-基]-1H-苯并[d]咪唑-5-羧酸甲酯(化合物4)、16.2g醋酸钾、7.9g氟化钾、105mL1,4-二氧六环、15mL水加入250m L三口瓶中，氮气置换3次。加2.4g Pd(PPh3)4，氮气置换3次，加热到80℃，滴加5-嘧啶硼酸四氢呋喃溶液(6.1g/15mL)，滴加完毕，再搅拌反应5小时，TLC监控显示原料反应完全，冷却到室温。向反应体系中加入250mL水、120mL乙酸乙酯，3g N-乙酰半胱氨酸，搅拌0.5h，加3L饱和碳酸氢钠溶液，分液，水相用120mL乙酸乙酯萃取，合并有机相，5L饱和氯化钠溶液洗涤，浓缩至干，柱层析纯化后得10.3g化合物6，收率69％。
向250mL反应瓶中加入10g化合物6，5.8g 4-(氯二氟甲氧基)苯胺和100mL四氢呋喃，5-10℃滴加44mL双三甲基硅基胺基锂(1.0M in THF)，滴加完毕，室温搅拌反应15小时。向反应液中滴加氯化铵饱和水溶液100mL淬灭反应，加入200mL乙酸乙酯萃取，有机相浓缩至干。向浓缩物中加100mL乙酸乙酯，加热浓缩液至50℃，搅拌0.5小时，缓慢滴加50mL正庚烷，继续搅拌0.5小时后降温至-20～-30℃，搅拌3小时，过滤，真空干燥得9.1g类白色固体，收率82％。
1HNMR(400Hz,Acetone-d6)δ10.13(s,1H),9.51(s,1H),9.37(s,1H),9.09-9.10(d,J＝2.4Hz,1H),7.90-7.92(m,3H),7.7.81(s,1H),7.74(t,J＝52.4Hz,1H),7.27-7.29(d,J＝8.4Hz,2H),6.04(s,1H),4.66-4.67(m,1H),3.98-4.04(m,1H),3.73-3.77(m,1H),1.56-1.58(d,J＝6.8Hz,3H).
称取9g化合物8，加入90mL乙腈，升温至50℃加热搅拌30分钟，加入对甲苯磺酸的乙醇溶液(4g/20mL)，加完后保温反应22～24小时。过滤，滤饼50℃真空干燥24小时，得到产物10.1g，收率84％。
其他化合物和盐参考实施例1制备。
生物学测试评价
以下结合测试例进一步描述解释本发明，但这些实施例并非意味着限制本发明的范围。
(一)、本发明化合物对ABL1 WT激酶的抑制活性研究
1.试验目的
评价本发明化合物对ABL1 WT激酶的体外抑制活性。
2.试验方法
使用毛细管电泳方法，利用检测底物肽段磷酸化转化率，从而测定待测化合物对激酶(ABL1-WT)抑制的IC50值。试验中化合物检测的最高浓度为1000nM，3倍稀释，共12个浓度(1000-0.0056nM)。首先配制配制酶反应体系(酶ABL1-WT的浓度为1.3nM，底物FLPeptide2浓度为1.5μM，反应因子为10mM MgCl2)室温孵育30min后，加入5μL 4×ATP溶液启动酶反应。室温反应90min后，加入终止缓冲液(包含0.5M EDTA)终止反应。使用EZ reader分析样品(分析条件：压力-1.5PSI，上压电流-2250V，下压电流-500V，分离时间40sec，系统延迟100.0sec)。
3.数据处理
EZ Reader读取的转化率，根据如下公式计算剩余活率。
使用XLfit计算IC50，拟合公式选取公式201计算IC50。
4.试验结果
表1.本发明化合物对ABL1 WT激酶体外酶学抑制活性
体外酶学试验显示，本发明化合物对ABL1 WT激酶显示出良好的抑制活性。
(二)、过表达不同BCR-ABL1融合突变的BaF3细胞株增殖抑制活性
1.试验目的
评价本发明化合物对体外培养的小鼠原B细胞Ba/F3 BCR-ABL1-T315I、Ba/F3 BCR-ABL1-E255K、Ba/F3 BCR-ABL1-E255V、Ba/F3 BCR-ABL1-G250E突变模型的增殖抑制活性。
2.细胞株
3.试验方法
应用发光法细胞活力检测试剂盒(Luminescent Cell Viability Assay)检测药物对肿瘤细胞增殖生长的抑制作用。直接取过夜培养的对数生长期细胞吹打混匀计数后，根据细胞不同密度需求调整细胞密度，配制 成细胞悬液铺于96孔板。加入不同浓度的药物，每个浓度设3复孔，同时设相应的溶媒对照，Ba/F3 BCR-ABL1-T315I、Ba/F3 BCR-ABL1-E255K细胞中最高检测浓度为10000nM，3.16倍梯度稀释，共9个浓度(10000-1.0058nM)，其他细胞中化合物检测的最高浓度为500nM，3.16倍梯度稀释，共9个浓度(500-0.0503nM)。将加完化合物的细胞在37℃、5％ CO2条件下再培养72小时。将培养板及其内容物平衡到室温，加入试剂，在振荡器上混合内容物5分钟诱导细胞裂解，将培养板在室温进一步避光孵育20分钟，用酶标仪读取冷光值。
4.试验结果
表2.本发明化合物对BCR-ABL1突变细胞增殖抑制活性
本发明化合物能够显著抑制Ba/F3 BCR-ABL1-T315I、E255K、E255V、G250E突变细胞的增殖。
(三)、对BCR-ABL1融合突变的肿瘤细胞株的增殖抑制活性研究
1.试验目的
评价本发明化合物对体外培养的人红白血病细胞K562、人外周血嗜碱性白血病细胞Ku812、人慢性粒细胞白血病细胞KCL22-s及KCL22-r的增殖抑制活性。
2.细胞株
3.试验方法
应用发光法细胞活力检测试剂盒(Luminescent Cell Viability Assay)检测药物对肿瘤细胞增殖生长的抑制作用。直接取过夜培养的对数生长期细胞吹打混匀计数后，根据细胞不同密度需求调整细胞密度，配制成细胞悬液铺于96孔板。加入不同浓度的药物，每个浓度设三复孔，同时设相应的溶媒对照，每个浓度设3复孔，同时设相应的溶媒对照，化合物检测的最高浓度为500nM，3倍梯度稀释，共9个浓度(500-0.076 nM)。将加完化合物的细胞在37℃、5％ CO2条件下再培养72小时。将培养板及其内容物平衡到室温，加入试剂，在振荡器上混合内容物3分钟诱导细胞裂解，将培养板在室温进一步避光孵育10分钟，用酶标仪(BioTek SynergyH1)测定化学发光信号值。
4.试验结果
表3本发明化合物对BCR-ABL1基因融合突变细胞增殖抑制活性
试验结果显示，本发明化合物能够显著抑制BCR-ABL1融合突变的肿瘤细胞的增殖。
(四)、人慢性髓系白血病细胞株KCL22-s异种移植瘤模型上的药效研究
1实验目的：
评价受试化合物对人慢性髓系白血病细胞株KCL22-s在BALB/c裸小鼠皮下异种移植瘤模型上的药效。
2实验操作及数据处理：
2.1动物
BALB/c裸小鼠，8-10周。
2.2细胞培养及细胞悬液制备
a,从细胞库中取出一株KCL22-s细胞，用RPMI-1640培养基(RPMI-1640+10％FBS+1％ P/S)复苏细胞，复苏后的细胞置细胞培养瓶中(在瓶壁标记好细胞种类、日期、培养人名字等)置于CO2培养箱中培养(培养箱温度为37℃，CO2浓度为5％)。
b,细胞传代，传代后细胞继续置于CO2培养箱中培养。重复该过程直到细胞数满足体内药效需求。
c,收集培养好的细胞，用全自动细胞计数仪计数，根据计数结果用PBS重悬细胞，制成细胞悬液(密度5×107/mL)，置于冰盒中待用。
2.3细胞接种
a,接种前用一次性大小鼠通用耳标标记裸鼠
b,接种时混匀细胞悬液，用1mL注射器抽取0.1-1mL细胞悬液、排除气泡，然后将注射器置于冰袋上待用。
c,左手保定好裸鼠，用75％酒精消毒裸鼠右侧背部靠右肩位置(接种部位)，30秒后开始接种。
d,依次给试验裸鼠接种(每只小鼠接种0.1mL细胞悬液)。
2.4荷瘤鼠量瘤、分组、给药
a,根据肿瘤生长情况，在接种后第15天量瘤、并计算肿瘤大小。
肿瘤体积计算：肿瘤体积(mm3)＝长(mm)×宽(mm)×宽(mm)/2
b,根据荷瘤鼠体重和肿瘤大小，采用随机分组的方法进行分组。
c,根据分组结果，开始给予测试药物(给药方式：口服给药；给药剂量：1.5、3、7.5mg/kg；给药体积：10mL/kg；给药频率：1-2次/天；给药周期：15天；溶媒：0.5％ HPMC K4M)。
d,开始给予测试药物后每周两次量瘤、称重。
e,实验结束后安乐死动物。
f,用Excel等软件处理数据。化合物抑瘤率TGI(％)的计算：当肿瘤无消退时，TGI(％)＝[1-(某处理组给药结束时平均瘤体积－该处理组开始给药时平均瘤体积)/(溶剂对照组治疗结束时平均瘤体积－溶剂对照组开始治疗时平均瘤体积)]×100％。当肿瘤有消退时，TGI(％)＝[1-(某处理组给药结束时平均瘤体积－该处理组开始给药时平均瘤体积)/该处理组开始给药时平均瘤体积]×100％。
3实验结果：
表4.本发明化合物对KCL22-s异种移植瘤模型的抑瘤药效评价
本发明化合物对人慢性粒细胞白血病细胞株KCL22-s异种移植瘤模型具有显著的抑瘤作用。
二、化合物的盐及晶型研究
1.实验仪器
1.1物理化学检测仪器的一些参数

2.化合物盐的晶型研究
2.1化合物盐的晶型研究
2.1.1实验目的：
筛选化合物成晶型的盐。
2.1.2实验步骤：
1)仪器和设备
2)盐的晶型研究
①溶析或混悬成盐结晶
称取实施例1自由碱10mg，加不同的反应溶剂100μL，分别加入不同的反离子酸溶液(碱：酸＝1：1.2的摩尔反应比)50℃进行反应，结果如下：

②打浆法
称取对甲苯磺酸盐晶型A10mg，加入100uL(100uL移液器)不同的打浆溶剂，室温搅拌2周，得到固体后离心干燥，进行XRD表征，具体如下：
③挥干法
称取对甲苯磺酸盐晶型A适量，加入不同的溶剂，超声或加热使其溶清，过滤，室温敞口挥干，得到固体离心干燥后进行XRD表征，具体如下：
④反溶剂法
称取对甲苯磺酸盐A适量，加入不同的良溶剂，加热使其溶清，过滤，加入反溶剂，观察是否有沉淀析出，有沉淀析出的离心干燥后进行表征，具体如下：


2.1.3实验结果
通过盐的晶型筛选实验，同时根据盐型结晶度以及结晶工艺的难易程度，硫酸盐、对甲苯磺酸盐、乙基磺酸盐和甲磺酸盐最有优势。
2.2化合物的晶型筛选
2.2.1实验目的：
筛选化合物盐的晶型。
2.2.2实验步骤：
(1)仪器和设备
(2)操作程序
1)乙基磺酸盐晶型A的制备
称取140mg实施例1自由碱，加入3.5mL丙酮，50℃加热溶清，过滤，作为贮备液。取贮备液250μL，向体系中缓慢加入22.9μL1.0M乙基磺酸的甲醇溶液，45℃搅拌后析出大量固体，立即离心真空干燥，得到乙基磺酸盐晶型A。经检测分析，其具有如图1所示的XRPD图、如图2所示的DSC图及如图3所示的TGA图。
2)乙基磺酸盐晶型B的制备
称取100mg实施例1自由碱，加入1mL乙腈，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入229μL1.0M乙基磺酸的甲醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空干燥，得到乙基磺酸盐晶型B。经检测分析，其具有如图4所示的XRPD图、如图5所示的DSC图及如图6所示的TGA图。
3)甲磺酸盐晶型A的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL乙酸乙酯，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1.0M甲磺酸的乙醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空 干燥，得到甲磺酸盐晶型A。经检测分析，其具有如图7所示的XRPD图、如图8所示的DSC图及如图9所示的TGA图。
4)甲磺酸盐晶型B的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL甲醇，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1.0M甲磺酸的乙醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空干燥，得到甲磺酸盐晶型B。经检测分析，其具有如图10所示的XRPD图及如图11所示的DSC图。
5)盐酸盐晶型A的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL乙腈，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M盐酸的甲醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空干燥，得到盐酸盐晶型A。经检测分析，其具有如图12所示的XRPD图、如图13所示的DSC图及如图14所示的TGA图。
6)盐酸盐晶型B的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL甲醇，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M盐酸的甲醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空干燥，得到盐酸盐晶型B。经检测分析，其具有如图15所示的XRPD图。
7)盐酸盐晶型C的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL二氯甲烷，室温搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M盐酸的甲醇溶液，溶清，加入MTBE后析出大量固体，离心后真空干燥，得到盐酸盐晶型C。经检测分析，其具有如图16所示的XRPD图。
8)硫酸盐晶型A的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL乙腈，室温搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M硫酸的甲醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空干燥，得到硫酸盐晶型A。经检测分析，其具有如图17所示的XRPD图、如图18所示的DSC图及如图19所示的TGA图。
9)硫酸盐晶型B的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL甲醇，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M硫酸的甲醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空干燥，得到硫酸盐晶型B。经检测分析，其具有如图20所示的XRPD图、如图21所示的DSC图及如图22所示的TGA图。
10)硫酸盐晶型C的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL氯仿，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M硫酸的甲醇溶液，溶清，加入MTBE后析出大量固体，离心后真空干燥，得到硫酸盐晶型C。经检测分析，其具有如图23所示的XRPD图、如图24所示的DSC图及如图25所示的TGA图。
11)硫酸盐晶型D的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL丙酮，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M硫酸的甲醇溶液，溶清，加入MTBE后析出大量固体，离心后真空干燥，得到硫酸盐晶型D。经检测分析，其具有如图26所示的XRPD图、如图27所示的DSC图及如图28所示的TGA图。
12)硫酸盐晶型E的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL二氯甲烷，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M硫酸的甲醇溶液，溶清，加入MTBE后析出大量固体，离心后真空干燥，得到硫酸盐晶型E。经检测分析，其具有如图29所示的XRPD图、如图30所示的DSC图及如图31所示的TGA图。
13)硫酸盐晶型F的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL2-丁酮，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M硫酸的甲醇溶液，溶清，加入MTBE后析出大量固体，离心后真空干燥，得到硫酸盐晶型F。经检测分析，其具有如图32所示的XRPD图、如图33所示的DSC图及如图34所示的TGA图。
14)硫酸盐晶型G的制备
称取100mg实施例1自由碱，加入1mL，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入229μL1M硫酸的甲醇溶液，溶清，加入MTBE后析出大量固体，搅拌4小时后，离心真空干燥，得到硫酸盐晶型G。经检测分析，其具有如图35所示的XRPD图、如图36所示的DSC图及如图37所示的TGA图。
15)对甲苯磺酸盐晶型A的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL乙腈，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M对甲苯磺酸的甲醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空干燥，得到对甲苯磺酸盐晶型A。经检测分析，其具有如图38所示的XRPD图、如图39所示的DSC图及如图40所示的TGA图。
16)对甲苯磺酸盐晶型B的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL甲醇，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M对甲苯磺酸的甲醇溶液，溶清后析出大量固体，离心后真空干燥，得到对甲苯磺酸盐晶型B。经检测分析，其具有如图41所示的XRPD图、如图42所示的DSC图及如图43所示的TGA图。
17)对甲苯磺酸盐晶型C的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL乙腈，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M对甲苯磺酸的甲醇溶液，溶清后析出大量固体，立即离心真空干燥，得到对甲苯磺酸盐晶型C。经检测分析，其具有如图44所示的XRPD图、如图45所示的DSC图及如图46所示的TGA图。
18)对甲苯磺酸盐晶型D的制备
称取50mg对甲苯磺酸盐晶型A，加入15mL2-丁酮，加热或超声使其溶清，过滤，作为贮备液。取贮备液4mL，向体系中缓慢加入反溶剂异丙醚，搅拌后析出沉淀，离心真空干燥，得到对甲苯磺酸盐晶型D。经检测分析，其具有如图47所示的XRPD图、如图48所示的DSC图及如图49所示的TGA图。
19)对甲苯磺酸盐晶型E的制备
称取12mg对甲苯磺酸盐晶型A，加入0.5mL甲醇，加热或超声使其溶清，过滤后室温敞口挥干，得到对甲苯磺酸盐晶型E。经检测分析，其具有如图50所示的XRPD图、如图51所示的DSC图及如图52所示的TGA图。
20)苯磺酸盐晶型A的制备
称取240mg实施例1自由碱，加入6mL四氢呋喃，加热或超声使其溶清，过滤，作为贮备液。取贮备液250μL，向体系中缓慢加入22.9μL1M苯磺酸的甲醇溶液，室温敞口挥干，得到苯磺酸盐晶型A。经检测分析，其具有如图53所示的XRPD图。
21)苯磺酸盐晶型B的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL乙腈，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M苯磺酸的甲醇溶液，加入MTBE后析出大量固体，离心真空干燥，得到苯磺酸盐晶型B。经检测分析，其具有如图54所示的XRPD图、如图55所示的DSC图及如图56所示的TGA图。
22)苯磺酸盐晶型C的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL甲醇，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M苯磺酸的甲醇溶液，加入MTBE后析出大量固体，离心真空干燥，得到苯磺酸盐晶型C。经检测分析，其具有如图57所示的XRPD图、如图58所示的DSC图及如图59所示的TGA图。
23)羟乙基磺酸盐晶型A的制备
称取240mg实施例1自由碱，加入6mL四氢呋喃，加热或超声使其溶清，过滤，作为贮备液。取贮备液250μL，向体系中缓慢加入22.9μL1M羟乙基磺酸的甲醇溶液，室温敞口挥干，得到羟乙基磺酸盐晶型A。经检测分析，其具有如图60所示的XRPD图。
24)羟乙基磺酸盐晶型B的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL甲醇，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入22.9μL1M羟乙基磺酸的甲醇溶液，加入MTBE后析出大量固体，离心真空干燥，得到羟乙基磺酸盐晶型B。经检测分析，其具有如图61所示的XRPD图、如图62所示的DSC图及如图63所示的TGA图。
25)1，5-萘二磺酸盐晶型A的制备
称取10mg实施例1自由碱，加入100μL甲醇，50℃加热搅拌，向体系中缓慢加入183μL 0.125M 1，5-萘二磺酸的乙醇溶液，加入MTBE后析出大量固体，离心真空干燥，得到1，5-萘二磺酸盐晶型A。经检测分析，其具有如图64所示的XRPD图、如图65所示的DSC图及如图66所示的TGA图。
3.化合物盐的定量研究
3.1化合物硫酸盐的定量研究
3.1.1实验目的：
通过HPLC-ELSD试验，对化合物的硫酸盐中结合酸的个数进行定量。
3.1.2实验步骤：
称取适量硫酸铵，用稀释剂乙腈-水(50：50)分别配制成不同浓度的系列线性溶液；称取不同批次硫酸盐适量，用稀释剂乙腈-水(50：50)分别配制成含硫酸盐2mg/mL的溶液。
取上述溶液过滤线性溶液及硫酸盐样品，过滤后进HPLC-ELSD。具体HPLC-ELSD分析方法：
3.1.3实验结果：
表1硫酸盐的定量研究结果
3.1.4实验结论：
根据计算不同批次硫酸盐中SO4 2-百分含量，确认化合物的硫酸盐晶型D结合硫酸个数为1。
3.2化合物的对甲苯磺酸盐定量
3.2.1实验目的：
通过HPLC-ELSD试验，对化合物的对甲苯磺酸盐中结合酸的个数进行定量。
3.2.2实验步骤：
称取适量甲苯-4-磺酸(一水)，用稀释剂乙腈-水(50：50)分别配制成不同 浓度的系列线性溶液；称取不同批次对甲苯磺酸盐适量，用稀释剂乙腈-水(50：50)分别配制成含对甲苯磺酸盐2mg/mL的溶液。
取上述溶液过滤线性溶液及对甲苯磺酸盐样品，过滤后进HPLC-ELSD。具体HPLC-ELSD分析方法：
3.2.3实验结果：
表2对甲苯磺酸盐的定量研究结果
3.2.4实验结论：
根据计算不同批次对甲苯磺酸盐中对甲苯磺酸百分含量，确认化合物的对甲苯磺酸盐晶型A结合对甲苯磺酸个数为1。
4.固体稳定性实验
4.1实验目的：
考察化合物的晶型在光照5000lx、高温60℃、高湿92.5％RH、高温高湿50℃75％RH条件下，化合物的物理化学稳定性，为化合物贮存提供依据。
4.2仪器和液相分析条件
4.2.1仪器与设备：
4.2.2色谱条件：
4.3实验方案：
取化合物不同盐晶型各约1mg，于光照5000lx、高温60℃、高湿92.5％RH、高温高湿50℃75％RH条件下，考察7天、14天，用HPLC，外标法测定含量，并采用色谱峰面积归一化法计算有关物质的变化。
4.4实验结果：
表3稳定性结果
4.5实验结论：
以上数据表明，化合物的盐晶型在光照、高温、高湿及高温高湿条件下均稳定，未见杂质显著增加。
5.动态引湿性实验
5.1实验目的：
考察化合物盐的晶型在不同相对湿度条件下的引湿性，为化合物盐的晶型筛选与贮存提供依据。
5.2实验方案：
将化合物对甲苯磺酸盐晶型A置于不同相对湿度的饱和水蒸气中，使化合 物与水蒸气达到动态平衡，并计算平衡后化合物吸湿增重的百分数。
5.3实验结果：
化合物对甲苯磺酸盐晶型A在RH80％条件下吸湿增重0.3545％；经0-95％相对湿度条件下吸湿与解吸湿循环2次，对甲苯磺酸盐晶型A的XRPD谱图未发生改变，即晶型未转变。
5.4实验结论：
对甲苯磺酸盐晶型A在潮湿环境下晶型稳定。
6.热力学稳定实验
6.1实验目的：
通过多晶筛选及晶型竞争性试验，获得热力学稳定的晶型。
6.2实验方案：
选择有一定溶解度的有机溶剂，将化合物对甲苯磺酸盐晶型A悬浮于溶剂体系中，室温搅拌打浆2周后，离心，弃掉上清液，固体在50℃条件真空干燥(-0.1Mpa)16小时后，测定固体的XRPD，并与原料化合物盐的XRPD比较。
6.3实验结果：
表5多晶筛选试验结果
6.4实验结论：
通过打浆，改变结晶溶剂、结晶方式共得到对甲苯磺酸盐5种晶型，分别为对甲苯磺酸盐晶型A、晶型B、晶型C、晶型D和晶型E。通过对比不同晶型的DSC图谱，可以判断出对甲苯磺酸盐晶型A为这些晶型中热力学最稳定晶型，为无水物。
7.大鼠药代动力学研究
7.1实验目的：
通过动物PK研究，考察化合物对甲苯磺酸盐晶型A的大鼠药代参数。
7.2实验仪器和试剂：
7.3实验动物：
7.4受试化合物：
化合物对甲苯磺酸盐晶型A。
7.5实验方案：
将化合物对甲苯磺酸盐晶型A，用含0.5％的HPMC(羟丙基甲基纤维素)K4M的水溶液混悬均匀后，灌胃，大鼠给药，平行三只大鼠，给药剂量为10mg/kg、30mg/kg，化合物的量全部折算成相同自由碱的量。
7.6实验结果：
表6大鼠药代实验结果

7.7实验结论：
从表中大鼠药代实验结果可以看出，30mg/kg剂量下，本发明化合物对甲苯磺酸盐晶型A表现出良好的代谢性质。
8.犬药代动力学研究
8.1实验目的：
研究对甲苯磺酸盐晶型A的犬药代参数。
8.2实验仪器和试剂：
8.3实验动物：
8.4受试化合物：
化合物对甲苯磺酸盐晶型A。
8.5实验方案：
将化合物对甲苯磺酸盐晶型A，用含0.5％的HPMC(羟丙基甲基纤维素)K4M的水溶液混悬均匀后，灌胃，比格犬给药，平行三只，给药剂量为20mg/kg，给药容量为5mL/kg，化合物的量全部折算成相同自由碱的量。
8.6实验结果：
表7犬药代实验结果

8.7实验结论：
从表中犬药代实验结果可以看出，对甲苯磺酸盐晶型A表现出良好的代谢性质，暴露量及生物利用度显著提高。
同时，对比大鼠药代实验结果，表明化合物在犬体内的生物利用度显著高于大鼠的，说明种属之间存在显著差异，但对甲苯磺酸盐晶型A在大鼠和犬体内暴露量的相对趋势均一致。

Claims (13)

  1. 式(I)所示化合物的酸式盐晶型，
    其中：
    环A为C6-10芳基或5-6元杂芳基；
    R1选自C1-3烷基、C1-3氘代烷基、C1-3卤代烷基、C1-3羟烷基、C1-3烷氧基、C13烷硫基或C1-3卤代烷氧基；
    M1选自N或CH；
    M2选自NH或CH2；
    M3选自N或CH；
    R2或R3各自独立地选自C1-3烷基、C1-3氘代烷基、C1-3卤代烷基、C1-3羟烷基、C1-3烷氧基、C1-3烷硫基或C1-3卤代烷氧基；
    所述酸式盐选自乙基磺酸盐、甲磺酸盐、硫酸盐、盐酸盐、对甲苯磺酸盐、苯磺酸盐、羟乙基磺酸盐、1，5-萘二磺酸盐。
  2. 式(I-a)所示化合物的酸式盐晶型：
    其中，
    环A为苯基或吡啶基；
    R1选自C1-3烷基、C1-3卤代烷基、C1-3烷氧基或C1-3卤代烷氧基；
    M1为N；
    M2为NH；
    M3为N；
    R2或R3各自独立地选自氢、C1-3烷基或C1-3卤代烷基；
    所述酸式盐选自乙基磺酸盐、甲磺酸盐、硫酸盐、盐酸盐、对甲苯磺酸盐、苯磺酸盐、羟乙基磺酸盐、1，5-萘二磺酸盐。
  3. 根据权利要求1或2所述的酸式盐晶型，其特征在于，式(I)所示化合物的具体结构如下：
  4. 根据权利要求1-3任一项所述的酸式盐晶型，其特征在于，所述晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺乙基磺酸盐晶型A-B；
    其中，乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在5.9±0.2°处具有衍射峰；或者在17.7±0.2°处具有衍射峰；或者在22.3±0.2°处具有衍射峰；或者 在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在21.0±0.2°处具有衍射峰；或者在18.0±0.2°处具有衍射峰；或者在5.6±0.2°处具有衍射峰；或者在29.7±0.2°处具有衍射峰；或者在23.8±0.2°处具有衍射峰；或者在12.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在5.6±0.2°处具有衍射峰；或者在16.5±0.2°处具有衍射峰；或者在8.4±0.2°处具有衍射峰；或者在10.0±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在23.7±0.2°处具有衍射峰；或者在27.7±0.2°处具有衍射峰；或者在15.2±0.2°处具有衍射峰；或者在28.9±0.2°处具有衍射峰；或者在12.8±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    或者，所述晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺甲磺酸盐晶型A-B；
    其中，甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在6.0±0.2°处具有衍射峰；或者在17.8±0.2°处具有衍射峰；或者在21.4±0.2°处具有衍射峰；或者在16.5±0.2°处具有衍射峰；或者在22.4±0.2°处具有衍射峰；或者在12.2±0.2°处具有衍射峰；或者在24.3±0.2°处具有衍射峰；或者在23.5±0.2°处具有衍射峰；或者在29.8±0.2°处具有衍射峰；或者在19.8±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在6.0±0.2°处具有衍射峰；或者在18.0±0.2°处具有衍射峰；或者在22.6±0.2°处具有衍射峰；或者在30.1±0.2°处具有衍射峰；或者在6.6±0.2°处具有衍射峰；或者在12.2±0.2°处具有衍射峰；或者在13.2±0.2°处具有衍射峰；或者在15.5±0.2°处具有衍射峰；或者在21.4±0.2°处具有衍射峰；或者在24.0±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    或者，所述晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺硫酸盐晶型A-G；
    其中，硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在5.8±0.2°处具有衍射峰；或者在21.6±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在19.7±0.2°处具有衍射峰；或者在16.5±0.2°处具有衍射峰；或者在12.0±0.2°处 具有衍射峰；或者在12.3±0.2°处具有衍射峰；或者在17.2±0.2°处具有衍射峰；或者在13.6±0.2°处具有衍射峰；或者在25.9±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在16.9±0.2°处具有衍射峰；或者在17.4±0.2°处具有衍射峰；或者在22.5±0.2°处具有衍射峰；或者在19.3±0.2°处具有衍射峰；或者在9.9±0.2°处具有衍射峰；或者在20.1±0.2°处具有衍射峰；或者在13.8±0.2°处具有衍射峰；或者在11.1±0.2°处具有衍射峰；或者在18.6±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在5.6±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在8.3±0.2°处具有衍射峰；或者在12.7±0.2°处具有衍射峰；或者在15.3±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在10.0±0.2°处具有衍射峰；或者在15.5±0.2°处具有衍射峰；或者在13.1±0.2°处具有衍射峰；或者在21.0±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在17.3±0.2°处具有衍射峰；或者在24.3±0.2°处具有衍射峰；或者在20.6±0.2°处具有衍射峰；或者在26.2±0.2°处具有衍射峰；或者在22.1±0.2°处具有衍射峰；或者在18.6±0.2°处具有衍射峰；或者在15.1±0.2°处具有衍射峰；或者在12.9±0.2°处具有衍射峰；或者在25.9±0.2°处具有衍射峰；或者在18.0±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在5.8±0.2°处具有衍射峰；或者在17.2±0.2°处具有衍射峰；或者在9.8±0.2°处具有衍射峰；或者在13.8±0.2°处具有衍射峰；或者在20.0±0.2°处具有衍射峰；或者在22.6±0.2°处具有衍射峰；或者在19.2±0.2°处具有衍射峰；或者在22.2±0.2°处具有衍射峰；或者在11.1±0.2°处具有衍射峰；或者在26.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱在6.0±0.2°处具有衍射峰；或者在16.0±0.2°处具有衍射峰；或者在22.4±0.2°处具有衍射峰；或者在17.3±0.2°处具有衍射峰；或者在20.0±0.2°处具有衍射峰；或者在18.5±0.2°处具有衍 射峰；或者在20.5±0.2°处具有衍射峰；或者在14.4±0.2°处具有衍射峰；或者在24.9±0.2°处具有衍射峰；或者在24.4±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱在5.9±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在5.6±0.2°处具有衍射峰；或者在16.9±0.2°处具有衍射峰；或者在22.2±0.2°处具有衍射峰；或者在29.5±0.2°处具有衍射峰；或者在27.7±0.2°处具有衍射峰；或者在25.1±0.2°处具有衍射峰；或者在10.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    或者，所述晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺盐酸盐晶型A-C；
    其中，盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在22.4±0.2°处具有衍射峰；或者在14.0±0.2°处具有衍射峰；或者在17.1±0.2°处具有衍射峰；或者在6.2±0.2°处具有衍射峰；或者在19.4±0.2°处具有衍射峰；或者在25.2±0.2°处具有衍射峰；或者在17.5±0.2°处具有衍射峰；或者在21.6±0.2°处具有衍射峰；或者在19.8±0.2°处具有衍射峰；或者在23.4±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在6.7±0.2°处具有衍射峰；或者在27.0±0.2°处具有衍射峰；或者在23.4±0.2°处具有衍射峰；或者在13.4±0.2°处具有衍射峰；或者在11.0±0.2°处具有衍射峰；或者在24.1±0.2°处具有衍射峰；或者在15.6±0.2°处具有衍射峰；或者在4.5±0.2°处具有衍射峰；或者在20.0±0.2°处具有衍射峰；或者在10.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在16.5±0.2°处具有衍射峰；或者在20.4±0.2°处具有衍射峰；或者在22.2±0.2°处具有衍射峰；或者在9.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.8±0.2°处具有衍射峰；或者在5.3±0.2°处具有衍射峰；或者在17.5±0.2°处具有衍射峰；或者在6.0±0.2°处具有衍射峰；或者在14.3±0.2°处具有衍射峰；或者在21.7±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    或者，所述晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基- 3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺对甲苯磺酸盐晶型A-E；
    其中，对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在16.8±0.2°处具有衍射峰；或者在19.9±0.2°处具有衍射峰；或者在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在22.5±0.2°处具有衍射峰；或者在21.8±0.2°处具有衍射峰；或者在24.9±0.2°处具有衍射峰；或者在22.3±0.2°处具有衍射峰；或者在20.8±0.2°处具有衍射峰；或者在26.6±0.2°处具有衍射峰；或者在12.4±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在5.5±0.2°处具有衍射峰；或者在19.9±0.2°处具有衍射峰；或者在13.2±0.2°处具有衍射峰；或者在21.9±0.2°处具有衍射峰；或者在28.1±0.2°处具有衍射峰；或者在14.1±0.2°处具有衍射峰；或者在10.9±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在9.5±0.2°处具有衍射峰；或者在20.4±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在5.8±0.2°处具有衍射峰；或者在17.3±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在22.0±0.2°处具有衍射峰；或者在19.6±0.2°处具有衍射峰；或者在23.1±0.2°处具有衍射峰；或者在22.4±0.2°处具有衍射峰；或者在20.1±0.2°处具有衍射峰；或者在29.0±0.2°处具有衍射峰；或者在12.8±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在4.9±0.2°处具有衍射峰；或者在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.2±0.2°处具有衍射峰；或者在22.0±0.2°处具有衍射峰；或者在19.5±0.2°处具有衍射峰；或者在28.9±0.2°处具有衍射峰；或者在25.5±0.2°处具有衍射峰；或者在12.7±0.2°处具有衍射峰；或者在14.8±0.2°处具有衍射峰；或者在23.0±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在5.4±0.2°处具有衍射峰；或者在16.1±0.2°处具有衍射峰；或者在9.9±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在8.4±0.2°处具有衍射峰；或者在23.1±0.2°处具有衍射峰；或者在26.9±0.2°处具有衍射峰；或者在25.7±0.2°处具有衍射峰；或者在25.2±0.2°处具有衍射峰；或者在28.2±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者 5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    或者，所述晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺苯磺酸盐晶型A-C；
    其中，苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.2±0.2°处具有衍射峰；或者在21.8±0.2°处具有衍射峰；或者在5.5±0.2°处具有衍射峰；或者在16.6±0.2°处具有衍射峰；或者在23.0±0.2°处具有衍射峰；或者在17.6±0.2°处具有衍射峰；或者在20.3±0.2°处具有衍射峰；或者在27.3±0.2°处具有衍射峰；或者在28.8±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在19.7±0.2°处具有衍射峰；或者在17.4±0.2°处具有衍射峰；或者在13.6±0.2°处具有衍射峰；或者在22.6±0.2°处具有衍射峰；或者在9.7±0.2°处具有衍射峰；或者在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在14.2±0.2°处具有衍射峰；或者在29.1±0.2°处具有衍射峰；或者在12.8±0.2°处具有衍射峰；或者在23.7±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在5.4±0.2°处具有衍射峰；或者在16.6±0.2°处具有衍射峰；或者在16.9±0.2°处具有衍射峰；或者在15.0±0.2°处具有衍射峰；或者在12.7±0.2°处具有衍射峰；或者在19.4±0.2°处具有衍射峰；或者在8.3±0.2°处具有衍射峰；或者在20.9±0.2°处具有衍射峰；或者在13.8±0.2°处具有衍射峰；或者在9.9±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    或者，所述晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺羟乙基磺酸盐晶型A-B；
    其中，羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在5.4±0.2°处具有衍射峰；或者在16.1±0.2°处具有衍射峰；或者在20.9±0.2°处具有衍射峰；或者在20.0±0.2°处具有衍射峰；或者在25.2±0.2°处具有衍射峰；或者在15.1±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在25.7±0.2°处具有衍射峰；或者在12.7±0.2°处具有衍射峰；或者在19.5±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在5.9±0.2°处具有衍射峰； 或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在21.2±0.2°处具有衍射峰；或者在19.5±0.2°处具有衍射峰；或者在22.5±0.2°处具有衍射峰；或者在10.0±0.2°处具有衍射峰；或者在13.0±0.2°处具有衍射峰；或者在24.3±0.2°处具有衍射峰；或者在15.5±0.2°处具有衍射峰；或者在17.5±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处；
    或者，所述晶型为(3R)-N-(4-(氯二氟甲氧基)苯基)-2-(二氟甲基)-3-甲基-3,4,5a,6-四氢-5-氧杂-1,2a,6,8-四氮杂苯并[4,5]环辛基[1,2,3-cd]茚-11-甲酰胺1，5-萘二磺酸盐晶型A，其中，1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在21.3±0.2°处具有衍射峰；或者在10.2±0.2°处具有衍射峰；或者在9.5±0.2°处具有衍射峰；或者在17.1±0.2°处具有衍射峰；或者在9.9±0.2°处具有衍射峰；或者在16.7±0.2°处具有衍射峰；或者在25.8±0.2°处具有衍射峰；或者在5.7±0.2°处具有衍射峰；或者在8.0±0.2°处具有衍射峰；或者在23.7±0.2°处具有衍射峰；优选包含上述衍射峰中的任意2-5处，或者3-5处，或者3-6处，或者3-8处，或者5-8处，或者6-8处，更优选包含其中任意6处、7处或8处。
  5. 根据权利要求4所述的酸式盐晶型，其特征在于，乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.9±0.2°、16.7±0.2°和21.0±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、17.7±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处，
    或者，17.7±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处；
    乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.6±0.2°、10.0±0.2°和17.6±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°和23.7±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°和15.2±0.2°处；
    甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    6.0±0.2°、17.8±0.2°和16.5±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、16.5±0.2°和22.4±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°24.3±0.2°和23.5±0.2°处，
    或者，21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°和23.5±0.2°处；
    甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    6.0±0.2°、30.1±0.2°和6.6±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、30.1±0.2°、12.2±0.2°和13.2±0.2°处，
    或者，18.0±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°和12.2±0.2°处，
    或者，22.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处，
    或者，22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处；
    硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、 12.3±0.2°、17.2±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.8±0.2°、19.7±0.2°和16.5±0.2°处，
    或者，21.6±0.2°、16.5±0.2°和12.0±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°和12.0±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处，
    或者，17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处；
    硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.7±0.2°、22.5±0.2°和19.3±0.2°处，
    或者，5.7±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°和20.1±0.2°处，
    或者，5.7±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°和13.8±0.2°处，
    或者，17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°和13.8±0.2°；
    硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.6±0.2°、12.7±0.2°和15.3±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°和15.5±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°和15.5±0.2°处，
    或者，8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°和15.5±0.2°；
    硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    17.3±0.2°、26.2±0.2°和12.9±0.2°处，
    或者，24.3±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°和18.6±0.2处，
    或者，17.3±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°和12.9±0.2°处，
    或者，20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°和12.9±0.2°处；
    硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.8±0.2°、13.8±0.2°和22.6±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°和22.6±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°和22.2±0.2°处，
    或者，9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°和22.2±0.2°处；
    硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    6.0±0.2°、17.3±0.2°和14.4±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°和18.5±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°和14.4±0.2°处，
    或者，22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°和14.4±0.2°处；
    硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.9±0.2°、5.6±0.2°和16.9±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°和27.7±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°和27.7±0.2°处，
    或者，17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°和27.7±0.2°处；
    盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    22.4±0.2°、6.2±0.2°和19.4±0.2处，
    或者，22.4±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°和25.2±0.2°处，
    或者，22.4±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°和21.6±0.2°处，
    或者，17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°和21.6±0.2°处；
    盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    6.7±0.2°、13.4±0.2°和1.0±0.2°处，
    或者，6.7±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°和24.1±0.2°处，
    或者，6.7±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°和4.5±0.2°处，
    或者，23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°和4.5±0.2°处；
    盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    16.5±0.2°、9.7±0.2°和17.8±0.2°处，
    或者，16.5±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°和6.0±0.2°处，
    或者，16.5±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°和6.0±0.2°处，
    或者，22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°和6.0±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    16.8±0.2°、19.9±0.2°和5.7±0.2°处，
    或者，16.8±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°和24.9±0.2°处，
    或者，16.8±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°和20.8±0.2°处，
    或者，5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°和20.8±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°、17.6±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.5±0.2°、21.9±0.2°和28.1±0.2°处，
    或者，5.5±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°和14.1±0.2°处，
    或者，5.5±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°和17.6±0.2°处，
    或者，13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°和17.6±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.8±0.2°、22.0±0.2°和19.6±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°和23.1±0.2°处，
    或者，17.3±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°和20.1±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°和 20.1±0.2°处，
    或者，16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°和20.1±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    4.9±0.2°、22.0±0.2°和19.5±0.2°处，
    或者，4.9±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°和28.9±0.2°处，
    或者，4.9±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°和12.7±0.2°处，
    或者，17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°和12.7±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.4±0.2°、16.7±0.2°和8.4±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°和23.1±0.2°处，
    或者，9.9±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°和25.7±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°和25.7±0.2°处，
    或者，9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°和25.7±0.2°处；
    苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.7±0.2°、5.5±0.2°和16.6±0.2°处，
    或者，5.7±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°和23.0±0.2°处，
    或者，5.7±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°和20.3±0.2°处，
    或者，21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°和20.3±0.2°处；
    苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    19.7±0.2°、22.6±0.2°和9.7±0.2°处，
    或者，19.7±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°和5.7±0.2°处，
    或者，19.7±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°和29.1±0.2°处，
    或者，13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°和29.1±0.2°处；
    苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.4±0.2°、15.0±0.2°和12.7±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°和19.4±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°和20.9±0.2°处，
    或者，16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°和20.9±0.2°处；
    羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5，
    例如，羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有 衍射峰：
    5.4±0.2°、20.0±0.2°和25.2±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°和15.1±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°和25.7±0.2°处，
    或者，20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°和25.7±0.2°处；
    羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.9±0.2°、19.5±0.2°和22.5±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°和10.0±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°和24.3±0.2°处，
    或者，21.2±0.2°为19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°和24.3±0.2°处；
    1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱至少包含位于2θ为21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°中的一处或多处衍射峰，优选包含其中2处，更优选包含3处；任选的，进一步还可以包含2θ为17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、5.7±0.2°中的至少一处，优选包含其中2处、3处、4处或5处，
    例如，1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    21.3±0.2°、17.1±0.2°和9.9±0.2°处，
    或者，21.3±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°和16.7±0.2°处，
    或者，21.3±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°和5.7±0.2°处，
    或者，9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°和5.7±0.2°处。
  6. 根据权利要求4所述的酸式盐晶型，其特征在于，乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7± 0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°、28.0±0.2°、24.9±0.2°、10.0±0.2°、11.8±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°和16.7±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°和29.7±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、22.3±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°和12.2±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、17.7±0.2°、22.3±0.2°、16.7±0.2°、21.0±0.2°、18.0±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°和12.2±0.2°处，
    或者，17.7±0.2°、16.7±0.2°、5.6±0.2°、29.7±0.2°、23.8±0.2°、12.2±0.2°、18.4±0.2°、28.0±0.2°、24.9±0.2°和10.0±0.2°处；
    乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°、13.8±0.2°、21.1±0.2°、11.8±0.2°、18.6±0.2°、13.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°和10.0±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°和23.7±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°和15.2±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°和12.8±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°和12.8±0.2°处，
    或者，16.5±0.2°、8.4±0.2°、10.0±0.2°、17.6±0.2°、23.7±0.2°、27.7±0.2°、15.2±0.2°、28.9±0.2°、12.8±0.2°和13.8±0.2°处；
    甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、17.8± 0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、14.8±0.2°、28.0±0.2°、33.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如甲磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°和16.5±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°和12.2±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°和23.5±0.2°处，
    或者，17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°和29.8±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°和19.8±0.2°处，
    或者，17.8±0.2°、21.4±0.2°、16.5±0.2°、22.4±0.2°、12.2±0.2°、24.3±0.2°、23.5±0.2°、29.8±0.2°、19.8±0.2°和16.7±0.2°处；
    甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°、21.4±0.2°、24.0±0.2°、12.0±0.2°、10.1±0.2°、24.6±0.2°、16.6±0.2°、19.8±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如甲磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°和30.1±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°和12.2±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°和15.5±0.2°处，
    或者，18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°和21.4±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、18.0±0.2°°、22.6±0.2°、30.1±0.2°、6.6±0.2°、12.2±0.2°、13.2±0.2°、15.5±0.2°、21.4±0.2°和24.0±0.2°；
    硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、13.6±0.2°、25.9±0.2°、23.5±0.2°、21.8±0.2°、14.4±0.2°、10.4±0.2°、24.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、 6处、8处、10处有衍射峰，
    例如硫酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°和19.7±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°和12.0±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°和17.2±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、13.6±0.2°和25.9±0.2°处，
    或者，21.6±0.2°、17.6±0.2°、19.7±0.2°、16.5±0.2°、12.0±0.2°、12.3±0.2°、17.2±0.2°、13.6±0.2°、25.9±0.2°和23.5±0.2°处；
    硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°、11.1±0.2°、18.6±0.2°、27.2±0.2°、26.8±0.2°、24.2±0.2°、25.4±0.2°、23.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如硫酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°和22.5±0.2°处，
    或者，16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°和20.1±0.2°处，
    或者，5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°和13.8±0.2°处，
    或者，5.7±0.2°、16.9±0.2°、17.4±0.2°、22.5±0.2°、19.3±0.2°、9.9±0.2°、20.1±0.2°、13.8±0.2°、11.1±0.2°和18.6±0.2°处；
    硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°、21.0±0.2°、25.7±0.2°、25.3±0.2°、19.5±0.2°、20.1±0.2°、18.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如硫酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°和12.7±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°和17.6±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°和15.5±0.2°处，
    或者，5.6±0.2°、16.7±0.2°、8.3±0.2°、12.7±0.2°、15.3±0.2°、17.6±0.2°、10.0±0.2°、15.5±0.2°、13.1±0.2°和21.0±0.2°处；
    硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°、25.9±0.2°、18.0±0.2°、25.8±0.2°、22.9±0.2°、29.1±0.2°、6.8±0.2°、11.4±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如硫酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°和26.2±0.2°处，
    或者，17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°和18.6±0.2°处，
    或者，17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°和12.9±0.2°处，
    或者，17.3±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、26.2±0.2°、22.1±0.2°、18.6±0.2°、15.1±0.2°、12.9±0.2°、25.9±0.2°和18.0±0.2°处；
    硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°、26.2±0.2°、24.3±0.2°、20.6±0.2°、18.6±0.2°、19.7±0.2°、15.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如硫酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°和13.8±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°和22.6±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°和22.2±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、17.2±0.2°、9.8±0.2°、13.8±0.2°、20.0±0.2°、22.6±0.2°、19.2±0.2°、22.2±0.2°、11.1±0.2°和26.2±0.2°处；
    硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°、24.9±0.2°、24.4±0.2°、17.5±0.2°、26.2±0.2°、18.0±0.2°、27.5±0.2°、21.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如硫酸盐晶型F的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°和17.3±0.2处，
    或者，6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°和18.5±0.2°处，
    或者，16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°和20.5±0.2°处，
    或者，16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°和24.9±0.2°处，
    或者，6.0±0.2°、16.0±0.2°、22.4±0.2°、17.3±0.2°、20.0±0.2°、18.5±0.2°、20.5±0.2°、14.4±0.2°、24.9±0.2°和24.4±0.2°处；
    硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°、25.1±0.2°、10.2±0.2°、24.4±0.2°、8.4±0.2°、12.1±0.2°、24.2±0.2°、15.4±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如硫酸盐晶型G的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°和5.6±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°和22.2±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°和27.7±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、17.6±0.2°、5.6±0.2°、16.9±0.2°、22.2±0.2°、29.5±0.2°、27.7±0.2°、25.1±0.2°和10.2±0.2°处；
    盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°、19.8±0.2°、23.4±0.2°、10.6±0.2°、30.5±0.2°、12.4±0.2°、9.8±0.2°、11.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如盐酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°和6.2±0.2°处，
    或者，22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°和25.2±0.2°处，
    或者，22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°和21.6±0.2°处，
    或者，22.4±0.2°、14.0±0.2°、17.1±0.2°、6.2±0.2°、19.4±0.2°、25.2±0.2°、17.5±0.2°、21.6±0.2°、19.8±0.2°和23.4±0.2°处，
    盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为6.7±0.2°、27.0± 0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°、20.0±0.2°、10.2±0.2°、14.3±0.2°、10.0±0.2°、20.5±0.2°、23.0±0.2°、31.0±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如盐酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°和13.4±0.2°处，
    或者，6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°和24.1±0.2°处，
    或者，6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°和4.5±0.2°处，
    或者，6.7±0.2°、27.0±0.2°、23.4±0.2°、13.4±0.2°、11.0±0.2°、24.1±0.2°、15.6±0.2°、4.5±0.2°、20.0±0.2°和10.2±0.2°处；
    盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°、14.3±0.2°、21.7±0.2°、24.6±0.2°、10.9±0.2°、27.2±0.2°、20.8±0.2°、19.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如盐酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°和9.7±0.2°处，
    或者，16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°和5.3±0.2°处，
    或者，16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°和6.0±0.2°处，
    或者，16.5±0.2°、20.4±0.2°、22.2±0.2°、9.7±0.2°、17.8±0.2°、5.3±0.2°、17.5±0.2°、6.0±0.2°、14.3±0.2°和21.7±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°、12.4±0.2°、15.1±0.2°、13.8±0.2°、21.3±0.2°、27.7±0.2°、20.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如对甲苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°和22.5±0.2°处，
    或者，16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°和24.9±0.2°处，
    或者，16.8±0.2°、19.9±0.2°、5.7±0.2°、12.4±0.2°、13.8±0.2°、 22.5±0.2°、21.8±0.2°和20.8±0.2°处，
    或者，19.9±0.2°、5.7±0.2°、22.5±0.2°、21.8±0.2°、24.9±0.2°、22.3±0.2°、20.8±0.2°、26.6±0.2°、12.4±0.2°和15.1±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°、17.6±0.2°、9.5±0.2°、20.4±0.2°、17.8±0.2°、22.1±0.2°、21.5±0.2°、16.3±0.2°、26.5±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如对甲苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°和21.9±0.2°处，
    或者，5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°和14.1±0.2°处，
    或者，5.5±0.2°、19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°和17.6±0.2°处，
    或者，19.9±0.2°、13.2±0.2°、21.9±0.2°、28.1±0.2°、14.1±0.2°、10.9±0.2°、17.6±0.2°、9.5±0.2°、20.4±0.2°和17.8±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°、29.0±0.2°、12.8±0.2°、21.6±0.2°、11.5±0.2°、13.8±0.2°、27.4±0.2°、20.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如对甲苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°和22.0±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°和23.1±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°和20.1±0.2°处，
    或者，5.8±0.2°、17.3±0.2°、16.7±0.2°、22.0±0.2°、19.6±0.2°、23.1±0.2°、22.4±0.2°、20.1±0.2°、29.0±0.2°和12.8±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°、14.8±0.2°、23.0±0.2°、20.6±0.2°、27.3±0.2°、30.4±0.2°、24.8±0.2°、27.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如对甲苯磺酸盐晶型D的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°和22.0±0.2°处，
    或者，4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°和28.9±0.2°处，
    或者，4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°和12.7±0.2°处，
    或者，4.9±0.2°、5.7±0.2°、17.2±0.2°、22.0±0.2°、19.5±0.2°、28.9±0.2°、25.5±0.2°、12.7±0.2°、14.8±0.2°和23.0±0.2°处；
    对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°、25.2±0.2°、28.2±0.2°、18.5±0.2°、16.9±0.2°、32.4±0.2°、11.6±0.2°、15.1±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如对甲苯磺酸盐晶型E的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°和16.7±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°和23.1±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°和25.7±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、8.4±0.2°、23.1±0.2°、26.9±0.2°、25.7±0.2°、25.2±0.2°和28.2±0.2°处；
    苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为55.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°、27.3±0.2°、28.8±0.2°、11.5±0.2°、13.8±0.2°、25.5±0.2°、19.9±0.2°、21.3±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如苯磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    55.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°和5.5±0.2°处，
    或者，55.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°和23.0±0.2°处，
    或者，55.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°和20.3±0.2°处，
    或者，55.7±0.2°、17.2±0.2°、21.8±0.2°、5.5±0.2°、16.6±0.2°、23.0±0.2°、17.6±0.2°、20.3±0.2°、27.3±0.2°和28.8±0.2°处；
    苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°、12.8±0.2°、23.7±0.2°、26.4±0.2°、27.3±0.2°、24.0±0.2°、20.7±0.2°、21.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如苯磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°和、22.6±0.2°处，
    或者，19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°和5.7±0.2°处，
    或者，19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°和29.1±0.2°处，
    或者，19.7±0.2°、17.4±0.2°、13.6±0.2°、22.6±0.2°、9.7±0.2°、5.7±0.2°、14.2±0.2°、29.1±0.2°、12.8±0.2°和23.7±0.2°处；
    苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°、13.8±0.2°、9.9±0.2°、25.6±0.2°、25.2±0.2°、16.2±0.2°、18.5±0.2°、19.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如苯磺酸盐晶型C的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°和15.0±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°和19.4±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°和20.9±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.6±0.2°、16.9±0.2°、15.0±0.2°、12.7±0.2°、19.4±0.2°、8.3±0.2°、20.9±0.2°、13.8±0.2°和9.9±0.2°处；
    羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°、12.7±0.2°、19.5±0.2°、22.1±0.2°、8.4±0.2°、23.7±0.2°、28.3±0.2°、9.9±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如羟乙基磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°和20.0±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°和15.1±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°和25.7±0.2°处，
    或者，5.4±0.2°、16.1±0.2°、20.9±0.2°、20.0±0.2°、25.2±0.2°、15.1±0.2°、16.7±0.2°、25.7±0.2°、12.7±0.2°和19.5±0.2°处；
    羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°、15.5±0.2°、17.5±0.2°、20.1±0.2°、17.7±0.2°、26.2±0.2°、16.9±0.2°、27.6±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如羟乙基磺酸盐晶型B的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°和19.5±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°和10.0±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°和24.3±0.2°处，
    或者，5.9±0.2°、16.7±0.2°、21.2±0.2°、19.5±0.2°、22.5±0.2°、10.0±0.2°、13.0±0.2°、24.3±0.2°、15.5±0.2°和17.5±0.2°处；
    1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱包含位于2θ为21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、5.7±0.2°、8.0±0.2°、23.7±0.2°、23.0±0.2°、18.2±0.2°、19.9±0.2°、12.2±0.2°、13.7±0.2°中的一处或多处具有衍射峰；优选的，包含其中任选的4处、6处、8处、10处有衍射峰，
    例如1，5-萘二磺酸盐晶型A的X-射线粉末衍射图谱在2θ为以下位置处有衍射峰：
    21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°和17.1±0.2°处，
    或者，21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°和16.7±0.2°处，
    或者，21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°和5.7±0.2°处，
    或者，21.3±0.2°、10.2±0.2°、9.5±0.2°、17.1±0.2°、9.9±0.2°、16.7±0.2°、25.8±0.2°、5.7±0.2°、8.0±0.2°和23.7±0.2°处。
  7. 根据权利要求4所述的酸式盐晶型，其特征在于，
    所述乙基磺酸盐晶型A具有如图1所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图2所示的DSC图谱；或者具有如图3所示的TGA图谱；
    所述乙基磺酸盐晶型B具有如图4所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图5所示的DSC图谱，或者具有如图6所示的TGA图谱；
    所述甲磺酸盐晶型A具有如图7所示的的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图8所示的DSC图谱，或者具有如图9所示的TGA图谱；
    所述甲磺酸盐晶型B具有如图10所示的的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图11所示的DSC图谱；
    所述硫酸盐晶型A具有如图17所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图18所示的DSC图谱，或者具有如图19所示的TGA图谱；
    所述硫酸盐晶型B具有如图20所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图21所示的DSC图谱，或者具有如图22所示的TGA图谱；
    所述硫酸盐晶型C具有如图23所示的X-射线粉末衍射图谱，具有如图24所示的DSC图谱，或者具有如图25所示的TGA图谱；
    所述硫酸盐晶型D具有如图26所示的X-射线粉末衍射图谱，具有如图27所示的DSC图谱，或者具有如图28所示的TGA图谱；
    所述硫酸盐晶型E具有如图29所示的X-射线粉末衍射图谱，具有如图30所示的DSC图谱，或者具有如图31所示的TGA图谱；
    所述硫酸盐晶型F具有如图32所示的X-射线粉末衍射图谱，具有如图33所示的DSC图谱，或者具有如图34所示的TGA图谱；
    所述硫酸盐晶型G具有如图35所示的X-射线粉末衍射图谱，具有如图36所示的DSC图谱，或者具有如图37所示的TGA图谱；
    所述盐酸盐晶型A具有如图12所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图13所示的DSC图谱，或者具有如图14所示的TGA图谱；
    所述盐酸盐晶型B的具有如图15所示的X-射线粉末衍射图谱；
    所述盐酸盐晶型C的具有如图16所示的X-射线粉末衍射图谱。
    所述对甲苯磺酸盐晶型A具有如图38所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图39所示的DSC图谱，或者具有如图40所示的TGA图谱；
    所述对甲苯磺酸盐晶型B具有如图41所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图42所示的DSC图谱，或者具有如图43所示的TGA图谱；
    所述对甲苯磺酸盐晶型C具有如图44所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图45所示的DSC图谱，或者具有如图46所示的TGA图谱；
    所述对甲苯磺酸盐晶型D具有如图47所示X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图48所示的DSC图谱，或者具有如图49所示的TGA图谱；
    所述对甲苯磺酸盐晶型E具有如图50所示X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图51所示的DSC图谱，或者具有如图52所示的TGA图谱；
    所述苯磺酸盐晶型A具有如图53所示的X-射线粉末衍射图谱；
    所述苯磺酸盐晶型B具有如图54所示的X-射线粉末衍射图谱，具有如图55所示的DSC图谱，或者具有如图56所示的TGA图谱；
    所述苯磺酸盐晶型C具有如图具有如图57所示的X-射线粉末衍射图谱，58所示的DSC图谱，或者具有如图59所示的TGA图谱；
    所述羟乙基磺酸盐晶型A具有如图60所示的X-射线粉末衍射图谱；
    所述羟乙基磺酸盐晶型B具有如图61所示的X-射线粉末衍射图谱，或者具有如图62所示的DSC图谱；或者具有如图63所示的TGA图谱；
    所述1，5-萘二磺酸盐晶型A具有如图64所示的X-射线粉末衍射图谱；或者具有如图65所示的DSC图谱；或者具有如图66所示的TGA图谱。
  8. 根据权利要求1-7任一项所述化合物的酸式盐晶型，其特征在于，酸的个数为0.2-3；优选0.2、0.5、1、1.5、2、2.5或3；更优选0.5、1、2或3；进一步优选1。
  9. 根据权利要求1-8任一项所述化合物的酸式盐晶型，其特征在于，所述酸式盐晶型为水合物或无水物；当酸式盐晶型为水合物时，水的个数为0.2-3，优选0.2、0.5、1、1.5、2、2.5或3，更优选0.5、1、2或3；进一步的，水合物中的水为管道水或结晶水或两者的结合。
  10. 制备权利要求1-9任一项所述化合物的酸式盐晶型的方法，其特征在于，具体包括如下步骤：
    1)称取适量的自由碱，用良性溶剂溶解；
    2)称取适量的酸，任选地，用有机溶剂溶解；酸的量优选1.0～1.5当量；
    3)把上述两种溶液合并，搅拌析出或滴加不良溶剂后搅拌析出；
    4)快速离心或静置干燥得目标产物；
    其中：
    所述良性溶剂选自丙酮、甲苯、乙腈、甲醇、异丙醇、二氯甲烷、四氢呋喃、甲酸乙酯、醋酸异丙酯、甲苯、乙酸乙酯、2-甲基-四氢呋喃、2-丁酮、正丁醇、1,4-二氧六环、异丁醇、N，N-二甲基甲酰胺、N，N-二甲基乙酰胺、正丙醇或叔丁醇；优选甲苯、乙酸乙酯、丙酮、甲醇或乙腈；
    所述有机溶剂选自甲醇、乙醇、乙酸乙酯、二氯甲烷、丙酮、正己烷、石油醚、苯、甲苯、氯仿、乙腈、四氯化碳、二氯乙烷、四氢呋喃、2-甲基-四氢呋喃、2-丁酮、3-戊酮、庚烷、甲基叔丁基醚、异丙醚、1,4-二氧六环、叔丁醇或N，N-二甲基甲酰胺；优选甲醇、乙醇或乙腈；上述良性溶剂和有机溶液使用时需互溶；
    所述不良溶剂选自庚烷、水、甲基叔丁基醚、环己烷、甲苯、异丙醚、乙酸乙酯、丙酮或乙腈；优选水、甲基叔丁基醚或异丙醚；
    或者，具体包括如下步骤：
    1)称取适量的自由碱，用不良性溶剂混悬；
    2)称取适量的酸，用有机溶剂溶解，酸的量优选1.0～1.5当量；
    3)将上述步骤2)的溶液加入上述步骤1)的混悬液中，搅拌；
    4)快速离心或静置干燥得到目标产物；
    其中：
    所述不良性溶剂选自乙醇、丙酮、乙酸乙酯、甲酸乙酯、异丙醇、醋酸异丙酯、甲基叔丁基醚、甲醇、1,4-二氧六环、2-丁酮、2-甲基-四氢呋喃、苯甲醚、乙腈、氯苯、苯、甲苯、正丁醇、异丁醇或3-戊酮；优选乙醇、2-甲基-四氢呋喃、乙腈、甲醇或乙酸乙酯；
    所述有机溶剂选自甲醇、乙醇、乙酸乙酯、二氯甲烷、丙酮、正己烷、石油醚、苯、甲苯、氯仿、乙腈、四氯化碳、二氯乙烷、四氢呋喃、2-甲基-四氢呋喃、2-丁酮、3-戊酮、庚烷、甲基叔丁基醚、异丙醚、1,4-二氧六环、叔丁醇或N，N-二甲基甲酰胺；优选甲醇、乙醇或乙腈；上述良性溶剂和有机溶液使用时需互溶；
    酸选自乙基磺酸、甲磺酸、硫酸、盐酸、对甲苯磺酸、苯磺酸、羟乙基磺酸或1，5-萘二磺酸；
    或者，具体包括如下步骤：
    1)称取适量的化合物盐，用不良溶剂混悬；
    2)将步骤1)的混悬液快速离心，去除上清液，剩余固体干燥至恒重，得到目标产物；
    其中：
    所述不良性溶剂选自甲醇、乙醇、二氯甲烷、1,4-二氧六环、乙腈、二氯甲烷、氯苯、氯仿、苯、甲苯、丙酮、乙酸乙酯、水、88％丙酮、醋酸异丙酯、3-戊酮、甲酸乙酯、四氢呋喃、2-甲基-四氢呋喃、异丙醇、正丁醇、异丁醇、正丙醇、甲基叔丁基醚、正庚烷、叔丁醇或2-丁酮。
  11. 一种药物组合物，其含有治疗有效量的权利要求1-9中任一项所述化合物的酸式盐晶型，以及一种或多种药学上可接受的载体或赋形剂。
  12. 根据权利要求1-9任一项所述化合物的酸式盐晶型，以及权利要求11所述的药物组合物在制备抑制选自Abelson蛋白，Abelson相关蛋白和嵌合蛋白BCR-ABL1的蛋白的酪氨酸激酶活性药物中的应用。
  13. 根据权利要求1-9任一项所述化合物的酸式盐晶型，以及权利要求11所述的药物组合物在制备治疗白血病相关疾病药物中的应用，优选地，所述白血病是慢性髓性白血病，急性髓性白血病或急性淋巴细胞性白血病；更优选地，所述 慢性髓性白血病对护理标准治疗例如伊马替尼、尼洛替尼和达沙替尼中的一种或多种的治疗具有抗性，所述急性髓性白血病是继发性急性淋巴细胞性白血病，其在骨髓增生异常综合症或骨髓增生性肿瘤之后发展。
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