WO2024109603A1

WO2024109603A1 - 电阻率检测方法、装置及设备

Info

Publication number: WO2024109603A1
Application number: PCT/CN2023/131720
Authority: WO
Inventors: 何文; 罗鑫洪; 陈小琼; 杨挺; 侯帅; 傅明利; 樊灵孟; 周粤; 洪浚轩; 何浩辉; 李欢; 展云鹏; 贾磊; 黎小林; 惠宝军; 朱闻博; 冯宾; 陈永明; 权德泓
Original assignee: 广东电网有限责任公司东莞供电局; 南方电网科学研究院有限责任公司
Priority date: 2022-11-24
Filing date: 2023-11-15
Publication date: 2024-05-30
Also published as: CN115856021A

Abstract

一种电阻率检测方法、装置及设备。方法包括：确定待测材料（15）的测试电流；控制电流电极（4）和测试刀具（5）与待测材料（15）抵接；通过电流电极（4），将测试电流施加于待测材料（15）；通过测试刀具（5），对施加有测试电流的待测材料（15）进行电阻检测，并根据测试结果，确定待测材料（15）的电阻率。该检测方法实现了对待测材料进行电阻检测，保证了电阻检测的准确性，提高了确定的电阻率的准确性，减少确定电阻率过程中的误差。

Description

电阻率检测方法、装置及设备

本申请要求在2022年11月24日提交中国专利局、申请号为202211481278.6的中国专利申请的优先权，该申请的全部内容通过引用结合在本申请中。

技术领域

本申请涉及电阻率检测技术领域，特别是涉及一种电阻率检测方法、装置及设备。

背景技术

随着电力行业的不断发展，电缆的应用也变得愈加的普遍，电缆已经成为了电力输送等相关行业的必要材料，为保证电缆的质量能够达到电力行业的使用标准，需要对电缆中的半导电屏蔽材料进行电阻率检测。

相关技术中，当需要对电缆中的半导电屏蔽材料进行电阻率检测时，可通过选取半导电屏蔽材料的一个测试样品，然后，操作人员对该测试样品进行电阻率检测，从而确定半导电屏蔽材料的电阻率。

但是，相关技术中电阻率检测的检测精确度较低。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够准确检测待测材料电阻率的电阻率检测方法、装置及设备。

第一方面，本申请提供了一种电阻率检测方法。该方法包括：

确定待测材料的测试电流；

控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接；

通过电流电极，将测试电流施加于待测材料；

通过测试刀具，对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定待测材料的电阻率。

在其中一个实施例中，控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接，包括：

通过整体调节装置，控制电流电极和测试刀具整体向待测材料移动，直至电流电极与待测材料抵接；

通过单独调节装置，控制测试刀具向待测材料移动，直至测试刀具与待测材料抵接；

其中，在移动前的初始状态下，电流电极在竖直方向的最低点低于测试刀具在竖直方向的最低点。

在其中一个实施例中，通过电流电极，将测试电流施加于待测材料，包括：

若检测到电流电极和测试刀具与待测材料抵接，则通过压力传感器，对待测材料进行压力检测；

若压力检测的结果小于预先设定的压力阈值，则通过电流电极，将测试电流施加于待测材料。

在其中一个实施例中，确定待测材料的测试电流，包括：

根据待测材料的材料属性，确定待测材料的有效电流区间；

根据有效电流区间，确定待测材料的测试电流。

在其中一个实施例中，方法还包括：

通过控温箱，将待测材料所处的环境温度调整到测试温度。

在其中一个实施例中，控温箱的温度调节介质为二甲基硅油。

第二方面，本申请还提供了一种电阻率检测装置。装置包括：

确定模块，用于确定待测材料的测试电流；

控制模块，用于分别控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接；

施加模块，用于通过电流电极，将测试电流施加于待测材料；

测试模块，用于通过测试刀具，对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定待测材料的电阻率。

第三方面，本申请还提供了一种电阻率检测设备。装置包括：

凹形底座，凹形底座用于承载待测材料；

电流电极，电流电极用于将测试电流施加于待测材料；

测试刀具，测试刀具用于对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测；

控制器，控制器分别与电流电极和测试刀具连接，用于确定待测材料的测试电流，控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接，控制电流电极将测试电流施加于待测材料，控制测试刀具对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定待测材料的电阻率。

在其中一个实施例中，设备还包括：

控温箱，控温箱用于将待测材料所处的环境温度调整到测试温度。

在其中一个实施例中，设备还包括：

压力传感器，压力传感器用于在电流电极和测试刀具与待测材料抵接之后，对待测材料进行压力检测。

根据本申请的技术方案，通过确定测试电流，保证了后续对待测材料的电阻检测能够顺利进行，防止由于测试电流与待测材料不适配而导致电阻检测的结果不准确；通过控制电流电机与测试刀具和待测材料抵接，保证了能够让电流电机向待测材料施加测试电流，并且，保证了能够让测试刀具对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，保证了后续能够顺利确定待测材料的电阻率；通过电流电极和测试刀具，实现了对待测材料进行电阻检测，保证了电阻检测的准确性，提高了确定的电阻率的准确性，减少确定电阻率过程中的误差。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种电阻率检测方法的流程图；

图2为本申请实施例提供的一种电流电极和测试刀具升降结构示意图；

图3为本申请实施例提供的另一种电流电极和测试刀具升降结构的截面示意图；

图4为本申请实施例提供的一种控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接的方法流程图；

图5为本申请实施例提供的一种测试刀具升降结构的结构示意图；

图6为本申请实施例提供的另一种测试刀具升降结构的截面示意图；

图7为本申请实施例提供的一种向待测材料施加测试电流的方法流程图；

图8为本申请实施例提供的一种测试电流确定的方法流程图；

图9为本申请实施例提供的另一种电阻率检测方法的流程图；

图10为本申请实施例提供的第一种电阻率检测装置的结构框图；

图11为本申请实施例提供的第二种电阻率检测装置的结构框图；

图12为本申请实施例提供的第三种电阻率检测装置的结构框图；

图13为本申请实施例提供的第四种电阻率检测装置的结构框图；

图14为本申请实施例提供的一种电阻率检测设备的结构示意图；

图15为本申请实施例提供的一种三个凹形底座的电阻率检测设备的结构示意图。

附图标记
1、底座；2、升降支架；3、升降台；4、电流电极；5、测试刀具；6、升降
气缸；7、通孔；8、调节台；9、调节气缸；10、调节滑道；11、复位弹簧；12、调节螺栓；13、凹形底座；14、承载凹槽；15、待测材料。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。在本申请的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

在中、高压电力电缆中，为缓和电缆内部电场集中、改善绝缘层内外表面电场应力分布、提高电缆电气强度，可在电缆中的导电线芯和绝缘层、绝缘层和金属屏蔽层之间分别加有一层半导电屏蔽材料，半导电屏蔽材料可称为导体屏蔽层或者绝缘屏蔽层。半导电屏蔽材料具有与导体相近的电位，因而，对于导体外层的内层屏蔽材料来说，越低的电阻率可以使得外部表面场强越接近导体场强，甚至达到与导体具有等电位。从而防止与绝缘接触时场强过高，甚至引起局部放电的情况发生。

为保证电缆的质量能够达到电力行业的使用标准，需要对电缆中的半导电屏蔽材料进行电阻率检测，相关技术中的，当需要对电缆中的半导电屏蔽材料进行电阻率检测时，可通过选取半导电屏蔽材料的一个测试样品，然后，操作人员对该测试样品进行电阻率检测，从而确定半导电屏蔽材料的电阻率。

但是，上述相关技术的电阻率检测过程，无法保证对半导电屏蔽材料电阻率检测的准确性。其中，影响电阻率检测准确性的原因可包括：由于每次检测只能够测试半导电屏蔽材料的一个测试样品，因此，测试样品的更换和选取也可能造成检测结果的误差；相关技术无法在变温状态下，对半导电屏蔽材料的电阻率进行准确检测；相关技术的检测设备没有考虑电流电极与半导电屏蔽材料的接触压力对半导电屏蔽材料电阻率的影响。

本申请公开了一种电阻率检测方法、装置及设备，通过确定测试电流，根据电流电极将测试电流施加于待测材料；根据测试刀具对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测。

图1为本申请实施例提供的一种电阻率检测方法的流程图，该电阻率检测方法可应用于电阻率检测设备，具体由该电阻率检测设备中的控制器执行，该控制器在执行电阻率检测方法时可包括以下步骤：

步骤101，确定待测材料的测试电流。

其中，测试电流指的是能够让待测材料稳定进行电阻检测的电流，可理解为，测试电流是既能够对待测材料进行电阻检测又不会对待测材料造成损坏的电流，并且，根据测试电流能够计算出待测材料对应的电阻率。

需要说明的是，可根据待测材料能够承受的电流范围，确定待测材料的测试电流；具体的，当需要确定待测材料的测试电流时，可根据待测材料的材料和该材料对应的相关信息，确定待测材料所能够承受的电流范围，最后，从待测材料所能够承受的电流范围中选择某电流值作为待测材料的测试电流。

进一步说明，当从待测材料所能够承受的电流范围选择某一电流值作为待测材料的测试电流时，可根据输出测试电流的供电设备的输出电流范围进行选择；具体的，当确定待测材料所能够承受的电流范围后，判断供电设备的输出电流范围与待测材料承受的电流范围是否存在重合范围，若存在重合范围，则从重合范围内选取测试电流，若不存在重合范围，则更换供电设备，选择输出电流范围能够与待测材料承受的电流范围重合的供电设备。

步骤102，控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接。

需要说明的是，控制电流电极和测试刀具升降从而实现与待测材料抵接的方法有很多，例如：可通过升降气缸驱动安装有电流电极和测试刀具的升降台进行升降运动，从而实现控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接；或者，设置升降支架，让升降支架贯穿安装有电流电极和测试刀具的升降台，使得升降台能够沿着升降支架进行上下运动，从而实现控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接。下面将对上述两种控制电流电极和测试刀具升降的方法进行详细说明，具体的：

作为一种实现方法，电阻率检测方法可应用于电阻率检测设备，当通过升降气缸控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接时，电阻率检测设备中电流电极和测试刀具进行高低调节的结构可如图2所示，图2为本申请实施例提供的一种电流电极和测试刀具升降结构示意图；电阻率检测设备中包括底座1，底座1上表面固定设置有升降支架2，升降支架2内升降设置有升降台3，升降台3下表面安装设置有电流电极4和测试刀具5；在升降支架2的顶部设置有升降气缸6，升降气缸6的活塞杆端部贯穿升降支架2与升降台3固定连接；根据上述结构，实现根据升降气缸6驱动升降台3上下移动，从而控制电流电极4和测试刀具5与待测材料抵接。

作为另一种实现方法，电阻率检测方法可应用于电阻率检测设备，当通过升降台和升降支架滑移配合控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接时，电阻率检测设备中电流电极和测试刀具进行高低调节的结构可如图3所示，图3为本申请实施例提供的另一种电流电极和测试刀具升降结构的截面示意图，具体的，电阻率检测方法可应用于电阻率检测设备，电阻率检测设备中包括底座1，底座1上表面固定设置有升降支架2，升降支架2内升降设置有升降台3，升降台3下表面安装设置有电流电极4和测试刀具5；升降台3长度方向的两端均贯穿设置有通孔7，并且，升降支架2贯穿通孔7且与通孔7滑移配合，根据上述结构，实现让升降台3通过通孔7在升降支架2内上下滑移，从而控制电流电极4和测试刀具5与待测材料抵接。

进一步说明，可通过设置固定装置，实现升降台在升降支架内的固定，从而保证对待测材料的电阻检测顺利进行。

其中，固定装置可为栓型结构，通过将栓型结构的固定装置插入通孔实现增加升降台的通孔与升降支架之间的摩擦力，使得升降台能够在升降支架的某一位置保持固定不动。

步骤103，通过电流电极，将测试电流施加于待测材料。

需要说明的是，通过电流电极与待测材料抵接，实现将待测材料接入电流电极所处的电路中，从而实现对待测材料输入电流；进一步说明，电流电机可与供电设备连接，供电设备为电流电极提供电流输出，从而保证在根据测试刀具对待测材料进行电阻检测时，待测材料内存在电流流动。

步骤104，通过测试刀具，对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定待测材料的电阻率。

在本申请的一种实施例中，当通过测试刀具对待测材料进行电阻检测时，可根据测试刀具测量得到施加有测试电流的待测材料的电压值，将待测材料的电压值和电流电极施加给待测材料的电流值代入公式(1)，确定待测材料的电阻值；根据待测材料的宽度和高度，确定待测材料横截面积；将待测材料的电阻、待测材料的横截面积和长度代入公式(2)，确定待测材料的电阻率。

进一步说明，上述公式(1)如下所示：
R＝U/I……(1)

其中，R指的是待测材料的电阻值；U指的是根据测试刀具测量得到的施加有测试电流的待测材料的电压值；I指的是电流电极施加给待测材料的电流值。

进一步说明，上述公式(2)如下所示：
ρ＝RS/L……(2)

其中，ρ指的是待测材料的电阻率；R指的是待测材料的电阻值；S指的是待测材料的横截面积(单位为平方厘米)；L指的是待测材料的长度(单位为厘米)。

需要说明的是，当需要对待测材料进行电阻检测时，通过对待测材料进行多次检测从而保证待测材料电阻率的准确性，例如，当需要确定待测材料的电阻率时，通过测试刀具多次获取施加有测试电流的待测材料的电压，计算出待测材料的平均电压，根据平均电压和公式(1)，计算出待测材料的电阻值；根据待测材料的电阻值和公式(2)，确定待测材料的电阻率。

进一步说明，当根据测试刀具多次获取施加有测试电流的待测材料的电压时，可在每次将测试电流施加于待测材料之前，调整待测材料的位置，例如：将待测材料进行上下翻转或者对待测材料进行左右翻转。

在本申请的一种实施例中，电阻率检测方法可包括多个电流电机和多个测试刀具，从而实现根据多个电流电机和多个测试刀具同时对多个待测材料进行电阻检测，从而同时确定多个待测材料的电阻率。

根据本申请的电阻率检测方法，通过确定测试电流，保证了后续对待测材料的电阻检测能够顺利进行，防止由于测试电流与待测材料不适配而导致电阻检测的结果不准确；通过控制电流电机与测试刀具和待测材料抵接，保证了能够让电流电机向待测材料施加测试电流，并且，保证了能够让测试刀具对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，保证了后续能够顺利确定待测材料的电阻率；通过电流电极和测试刀具，实现了对待测材料进行电阻检测，保证了电阻检测的准确性，提高了确定的电阻率的准确性，减少确定电阻率过程中的误差。

需要说明的是，通过整体调节装置和单独调节装置，实现控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接，可选地，如图4所示，图4为本申请实施例提供的一种控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接的方法流程图，具体的，控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接可以包括以下步骤：

步骤401，通过整体调节装置，控制电流电极和测试刀具整体向待测材料移动，直至电流电极与待测材料抵接。

其中，整体调节装置指的是能够对电流电极和测试刀具进行整体调节的装置，并且，整体调节装置只能够对电流电极和测试刀具进行整体调节，无法针对电流电极或者测试刀具进行单独调节。进一步说明，整体调节装置可如图2中的升降气缸和升降台的组合，通过升降气缸驱动升降台升降可实现对电流电极和测试刀具进行整体调节；或者，整体调节装置可如图3中的升降台和升降支架，通过升降台开设的通孔让升降台在升降支架内升降可实现对电流电极和测试刀具进行整体调节。

步骤402，通过单独调节装置，控制测试刀具向待测材料移动，直至测试刀具与待测材料抵接。

其中，单独调节装置指的是仅能够对测试刀具进行调节的装置，具体的，控制测试刀具进行调节的方法有很多，例如：通过调节气缸对测试刀具进行高低调节；或者，通过调节螺栓对测试刀具进行高低调节；下面将对上述两种对测试刀具进行高低调节的方法进行详细说明，具体的：

作为一种实现方法，电阻率检测方法可应用于电阻率检测设备，当通过调节气缸对测试刀具进行高低调节时，电阻率检测设备中测试刀具的高低调节结构可如图5所示，图5为本申请实施例提供的一种测试刀具升降结构的结构示意图，具体的，电流电极4设置于升降台3下表面，升降台3下表面升降设置有调节台8；升降台3上表面固定有调节气缸9，调节气缸9的活塞杆端部贯穿升降台3且与下方调节台8的上表面固接；测试刀具5固定设置于调节台8下表面。

作为另一种实现方法，电阻率检测方法可应用于电阻率检测设备，当通过调节螺栓对测试刀具进行高低调节时，电阻率检测设备中测试刀具的高低调节结构可如图6所示，图6为本申请实施例提供的另一种测试刀具升降结构的截面示意图，具体的，电流电极4设置于升降台3下表面，升降台3下表面升降设置有调节台8，并且，升降台3下表面固定有调节滑道10，调节台8可在调节滑道10内上下滑移；调节滑道10内设置有复位弹簧11，复位弹簧11的一端与升降台3固接，复位弹簧11的另一端与调节台8固接，升降台3贯穿设置有调节螺栓12，调节螺栓12贯穿升降台3且与升降台3螺纹配合，调节螺栓12带有螺纹的一端与调节台8抵接，测试刀具5设置于调节台8下表面。

进一步说明，在移动前的初始状态下，电流电极在竖直方向的最低点低于测试刀具在竖直方向的最低点。

进一步说明，电流电极和测试刀具的顶端可采用电阻值较低的电阻材料，从而实现减小电流电极和测试刀具与待测材料的接触电阻，保证待测材料电阻率的准确性，其中，电阻值较低的电阻材料可包括：金属银或者含银材料。

根据本申请的电阻率检测方法，通过整体调节装置实现让电流电极与待测材料抵接，保证了能够让电流电机顺利将测试电流施加给待测材料，保证了后续待测材料的电阻检测顺利进行，通过单独调节装置，实现对于测试刀具的升降调节，保证了在将测试电流施加于待测材料之后，测试刀具能够对待测材料进行电阻检测，保证了后续待测材料的电阻率的顺利确定。

需要说明的是，可根据压力传感器，辅助控制电流电机将测试电流施加于待测材料，可选地，如图7所示，图7为本申请实施例提供的一种向待测材料施加测试电流的方法流程图，具体的，向待测材料施加测试电流可以包括以下步骤：

步骤701，若检测到电流电极和测试刀具与待测材料抵接，则通过压力传感器，对待测材料进行压力检测。

在本申请的一种实施例中，为保证压力传感器能够准确测量当电流电极和测试刀具与待测材料抵接时，待测材料所承受的压力，可将压力传感器设置于电流电极和测试刀具的正下方或者正上方，从而防止待测材料承受到的压力在传导到压力传感器之前被分力，保证了压力传感器能够准确测量待测材料所承受的压力。

进一步说明，压力传感器的安装位置可设置于待测材料的下方，并且压力传感器处于电流电极和测试刀具的正下方，从而保证压力传感器在不影响待测材料进行电阻检测的前提下，对待测材料进行压力检测。

步骤702，若压力检测的结果小于预先设定的压力阈值，则通过电流电极，将测试电流施加于待测材料。

需要说明的是，压力阈值表示在不影响对待测材料电阻检测准确率的前提下，电流电极和测试刀具能够施加给待测材料的最大压力；若压力检测的结果小于预先设定的压力阈值，则电流电极和测试刀具施加给待测材料的压力小于最大压力，则表示不会对待测材料电阻检测准确率造成影响；若压力检测的结果大于或者等于预先设定的压力阈值，则电流电极和测试刀具施加给待测材料的压力大于或者等于最大压力，则表示会对待测材料电阻检测准确率造成影响。

在本申请的一种实施例中，不同待测材料对应的压力阈值不同，当需要确定待测材料的压力阈值时，可通过给待测材料施加一个不断增大的压力，向待测材料输入稳定不变的电流并实时监测待测材料内电流的变化，若随着压力的不断增加，待测材料内电流始终恒定，则表示还未达到能够施加给待测材料的最大压力；若随着压力的不断增加，当压力达到某一数值时，待测材料内的电流发生了改变，则该数值下的压力为能够施加给待测材料的最大压力，该最大压力即为压力阈值。

根据本申请的电阻率检测方法，通过压力传感器，实现对于待测材料的压力检测，防止由于电流电极和测试刀具对待测材料施加的压力过大从而导致待测材料的压力检测准确性受到影响；并且，当需要对待测材料多次进行电阻检测时，可通过压力传感器，保证电流电极和测试刀具在每次电阻检测对待测材料施加的压力均相同，进一步提高了电阻检测的准确性。

需要说明的是，可根据待测材料的材料属性，确定待测材料的测试电流，可选地，如图8所示，图8为本申请实施例提供的一种测试电流确定的方法流程图，具体的，确定测试电流可以包括以下步骤：

步骤801，根据待测材料的材料属性，确定待测材料的有效电流区间。

其中，材料属性指的是能够反应待测材料的材料特性的相关信息，根据材料属性和已知材料相关信息，可以确定出待测材料对应的有效电流区间；进一步说明，有效电流区间，指的是不会对待测材料造成损坏的电流值范围区间，若施加给待测材料的测试电流不属于有效电流区间，则可能会导致待测材料发生损坏，从而影响后续对待测材料进行电阻检测的准确性。

步骤802，根据有效电流区间，确定待测材料的测试电流。

具体的，当确定待测材料有效电流区间后，判断输出测试电流的供电设备的输出电流范围与待测材料承受的有效电流区间是否存在重合范围，若存在重合范围，则从重合范围内选取测试电流，若不存在重合范围，则更换供电设备，选择输出电流范围能够与待测材料有效电流区间重合的供电设备。

根据本申请的电阻率检测方法，通过待测材料的材料属性，确定有效电流区间，保证了后续对待测材料进行电阻检测的准确性，防止对待测材料造成破坏，进一步调高了电阻率确定的准确性。

需要说明的是，当待测材料需要在变温状态下确定电阻率时，可根据控温箱，将待测材料所处的环境温度调整到测试温度。在根据电流电极，将测试电流施加于待测材料；然后，通过测试刀具，对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定待测材料的电阻率。

作为一种示例，控温箱的温度调节介质为二甲基硅油。

根据本申请的电阻率检测方法，通过设置控温箱实现了对于待测材料所处的环境温度的调整，实现了让待测材料在变温状态下进行电阻检测，保证了能够将环境温度准确调整到测试温度，提高了待测材料在变温状态下电阻检测的准确性。

在本申请的一种实施例中，如图9所示，图9为本申请实施例提供的另一种电阻率检测方法的流程图，当需要确定对待测材料进行电阻率检测时：

步骤901，根据待测材料的材料属性，确定待测材料的有效电流区间。

步骤902，根据有效电流区间，确定待测材料的测试电流。

步骤903，通过控温箱，将待测材料所处的环境温度调整到测试温度。

步骤904，通过整体调节装置，控制电流电极和测试刀具整体向待测材料移动，直至电流电极与待测材料抵接。

步骤905，通过单独调节装置，控制测试刀具向待测材料移动，直至测试刀具与待测材料抵接。

步骤906，若检测到电流电极和测试刀具与待测材料抵接，则通过压力传感器，对待测材料进行压力检测。

步骤907，若压力检测的结果小于预先设定的压力阈值，则通过电流电极，将测试电流施加于待测材料。

步骤908，通过测试刀具，对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定待测材料的电阻率。

在本申请的一种实施例中，当对两种不同待测材料进行电阻率检测时，其中，两种待检测材料分别为待检测材料A和待检测材料B。通过传统方法和本申请的电阻率检测方法分别对待检测材料A和待检测材料B在23℃和90℃时进行电阻率检测，得到的结果如下表所示。

从表中可知，采用本申请电阻率检测方法检测待检测材料的电阻率时，待检测材料A在23℃时电阻率标准差从2.71减小为0.71，90℃时电阻率的标准差从40.72降低为9.71；待检测材料B在23℃时电阻率的标准差从2.05减小为0.25，90℃时电阻率的标准差从17.61降低为8.68，因此根据上述数据，可充分说明通过本申请电阻率检测方法测定的电阻数据稳定，提高了测试准确性。

应该理解的是，虽然如上的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

基于同样的构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的电阻率检测方法的电阻率检测装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个电阻率检测装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于电阻率检测方法的限定，在此不再赘述。

在一个实施例中，如图10所示，图10为本申请实施例提供的第一种电阻率检测装置的结构框图，提供了一种电阻率检测装置，包括：确定模块100、控制模块200、施加模块300和测试模块400其中：

确定模块100用于确定待测材料的测试电流。

控制模块200用于分别控制电流电极和测试刀具与待测材料抵接。

施加模块300用于通过电流电极，将测试电流施加于待测材料。

测试模块400用于通过测试刀具，对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定待测材料的电阻率。

需要说明的是，当需要在变温状态对待测材料进行电阻检测时，可根据控温箱，将待测材料所处的环境温度调整到测试温度。其中，控温箱的温度调节介质为二甲基硅油。

根据本申请的电阻率检测装置，通过确定测试电流，保证了后续对待测材料的电阻检测能够顺利进行，防止由于测试电流与待测材料不适配而导致电阻检测的结果不准确；通过控制电流电机与测试刀具和待测材料抵接，保证了能够让电流电机向待测材料施加测试电流，并且，保证了能够让测试刀具对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，保证了后续能够顺利确定待测材料的电阻率；通过电流电极和测试刀具，实现了对待测材料进行电阻检测，保证了电阻检测的准确性，提高了确定的电阻率的准确性，减少确定电阻率过程中的误差。

在一个实施例中，如图11所示，图11为本申请实施例提供的第二种电阻率检测装置的结构框图，提供了一种电阻率检测装置，该电阻率检测装置中控制模块200包括：第一控制单元210和第二控制单元220，其中：

第一控制单元210，用于通过整体调节装置，控制电流电极和测试刀具整体向待测材料移动，直至电流电极与待测材料抵接。

第二控制单元220，用于通过单独调节装置，控制测试刀具向待测材料移动，直至测试刀具与待测材料抵接。

根据本申请的电阻率检测装置，通过整体调节装饰实现让电流电极与待测材料抵接，保证了能够让电流电机顺利将测试电流施加给待测材料，保证了后续待测材料的电阻检测顺利进行，通过单独调节装置，实现对于测试刀具的升降调节，保证了在将测试电流施加于待测材料之后，测试刀具能够对待测材料进行电阻检测，保证了后续待测材料的电阻率的顺利确定。

在一个实施例中，如图12所示，图12为本申请实施例提供的第三种电阻率检测装置的结构框图，提供了一种电阻率检测装置，该电阻率检测装置中施加模块300包括：检测单元310和施加单元320，其中：

检测单元310，用于通过压力传感器，若检测到电流电极和测试刀具与待测材料抵接，则对待测材料进行压力检测。

施加单元320，用于若压力检测的结果小于预先设定的压力阈值，则通过电流电极，将测试电流施加于待测材料。

根据本申请的电阻率检测装置，通过压力传感器，实现对于待测材料的压力检测，防止由于电流电极和测试刀具对待测材料施加的压力过大从而导致待测材料的压力检测准确性受到影响；并且，当需要对待测材料多次进行电阻检测时，可通过压力传感器，保证电流电极和测试刀具每次电阻检测对待测材料施加的压力均相同，进一步提高了电阻检测的准确性。

在一个实施例中，如图13所示，图13为本申请实施例提供的第四种电阻率检测装置的结构框图，提供了一种电阻率检测装置，该电阻率检测装置中确定模块100包括：第一确定单元110和第二确定单元120，其中：

第一确定单元110，用于根据待测材料的材料属性，确定待测材料的有效电流区间。

第二确定单元120，用于根据有效电流区间，确定待测材料的测试电流。

根据本申请的电阻率检测装置，通过待测材料的材料属性，确定有效电流区间，保证了后续对待测材料进行电阻检测的准确性，防止对待测材料造成破坏，进一步调高了电阻率确定的准确性。

上述电阻率检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种电阻率检测设备，该电阻率检测设备包括：

凹形底座，凹形底座用于承载待测材料；

电流电极，电流电极用于将测试电流施加于待测材料；

需要说明的是，如图14所示，图14为本申请实施例提供的一种电阻率检测设备的结构示意图，电阻率检测设备包括升降支架2，升降支架2内升降设置有升降台3，升降支架2顶部固定有升降气缸6，升降气缸6的活塞杆端部贯穿升降支架2与下方的升降台3固接，升降台3远离升降气缸6的一侧面设置有电流电机4与测试刀具5；电流电机4和测试刀具5下方设置有凹形底座13。凹形底座13可位于待测材料15的下表面两侧，并且，凹形底座13与待测材料15接触的侧面开设有承载凹槽14，承载凹槽14用于对待测材料15进行承载和限位，放待测材料15放置于承载凹槽14内时，防止待测材料15在进行电阻检测时发生偏移，从而影响电阻检测的结果准确性。进一步说明，通过将凹形底座设置于待测材料的下表面两侧，减少待测材料与凹形底座的接触面积，从而防止待测底座对待测材料的电阻检测造成干扰和影响。

在本申请的一种实施例中，当需要同时对多个待测材料进行电阻检测时，电阻率检测设备可包含多个凹形底座；如图15所示，图15为本申请实施例提供的一种三个凹形底座的电阻率检测设备的结构示意图，当需要同时对三个待测材料进行电阻检测时，电阻率检测设备可包含三个凹形底座13，在三个凹形底座13上方设置分别设置有对应的升降支架2。

根据本申请的电阻率检测设备，通过确定测试电流，保证了后续对待测材料的电阻检测能够顺利进行，防止由于测试电流与待测材料不适配而导致电阻检测的结果不准确；通过控制电流电机与测试刀具和待测材料抵接，保证了能够让电流电机向待测材料施加测试电流，并且，保证了能够让测试刀具对施加有测试电流的待测材料进行电阻检测，保证了后续能够顺利确定待测材料的电阻率；通过电流电极和测试刀具，实现了对待测材料进行电阻检测，保证了电阻检测的准确性，提高了确定的电阻率的准确性，减少确定电阻率过程中的误差。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器(ReRAM)、磁变存储器(Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM)、铁电存储器(Ferroelectric Random Access Memory，FRAM)、相变存储器(Phase Change Memory，PCM)、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

Claims

一种电阻率检测方法，包括：

确定待测材料的测试电流；

控制电流电极和测试刀具与所述待测材料抵接；

通过所述电流电极，将所述测试电流施加于所述待测材料；

通过所述测试刀具，对施加有所述测试电流的所述待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定所述待测材料的电阻率。
根据权利要求1所述的方法，其中，所述控制电流电极和测试刀具与所述待测材料抵接，包括：

通过整体调节装置，控制所述电流电极和所述测试刀具整体向所述待测材料移动，直至所述电流电极与所述待测材料抵接；

通过单独调节装置，控制所述测试刀具向所述待测材料移动，直至所述测试刀具与所述待测材料抵接；

其中，在移动前的初始状态下，所述电流电极在竖直方向的最低点低于所述测试刀具在竖直方向的最低点。
根据权利要求1所述的方法，其中，所述通过所述电流电极，将所述测试电流施加于所述待测材料，包括：

若检测到所述电流电极和所述测试刀具与所述待测材料抵接，则通过压力传感器，对所述待测材料进行压力检测；

若压力检测的结果小于预先设定的压力阈值，则通过所述电流电极，将所述测试电流施加于所述待测材料。
根据权利要求1所述的方法，其中，所述确定待测材料的测试电流，包括：

根据所述待测材料的材料属性，确定所述待测材料的有效电流区间；

根据有效电流区间，确定所述待测材料的所述测试电流。
根据权利要求1所述的方法，还包括：

通过控温箱，将所述待测材料所处的环境温度调整到测试温度。
根据权利要求5所述的方法，其中，所述控温箱的温度调节介质为二甲基硅油。
一种电阻率检测装置，包括：

确定模块，用于确定待测材料的测试电流；

控制模块，用于分别控制电流电极和测试刀具与所述待测材料抵接；

施加模块，用于通过所述电流电极，将所述测试电流施加于所述待测材料；

测试模块，用于通过所述测试刀具，对施加有所述测试电流的所述待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定所述待测材料的电阻率。
一种电阻率检测设备，包括：

凹形底座，所述凹形底座用于承载待测材料；

电流电极，所述电流电极用于将测试电流施加于所述待测材料；

测试刀具，所述测试刀具用于对施加有所述测试电流的所述待测材料进行电阻检测；

控制器，所述控制器分别与所述电流电极和所述测试刀具连接，用于确定所述待测材料的测试电流，控制所述电流电极和所述测试刀具与所述待测材料抵接，控制所述电流电极将所述测试电流施加于所述待测材料，控制所述测试刀具对施加有所述测试电流的所述待测材料进行电阻检测，并根据测试结果，确定所述待测材料的电阻率。
根据权利要求8所述的设备，还包括：

控温箱，所述控温箱用于将所述待测材料所处的环境温度调整到测试温度。
根据权利要求8所述的设备，还包括：

压力传感器，所述压力传感器用于在所述电流电极和所述测试刀具与所述待测材料抵接之后，对所述待测材料进行压力检测。