CN1851485A - 一种高温电阻率的测试装置及其测试方法 - Google Patents
一种高温电阻率的测试装置及其测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1851485A CN1851485A CN 200610026917 CN200610026917A CN1851485A CN 1851485 A CN1851485 A CN 1851485A CN 200610026917 CN200610026917 CN 200610026917 CN 200610026917 A CN200610026917 A CN 200610026917A CN 1851485 A CN1851485 A CN 1851485A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- temperature
- megger
- electrode
- sample
- test fixture
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
本发明涉及一种高温电阻率的测试装置及其测试方法,属于材料测试设备领域。本发明的测试装置包括测试夹具(1),温控加热炉(2),高阻计(3),屏蔽机构(4),电源(5),其中电源(5)分别连接高阻计(3)和温控加热炉2,高阻计(3)连接电极测试台(1)检测电阻,屏蔽机构(4)罩于测试夹具(1)内部和外部。本发明的测试方法包括准备电阻的检测装置;测试夹具的校准;待测样品的准备;屏蔽装置接地;高阻计的测量和计算电阻率等步骤。本发明的测量装置和测试方法能对室温电阻率较高(>1012Ω·cm)的材料进行高温(RT~800℃)电阻率测量,结构简单,使用方便,具有较高的可靠性和稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及一种高温电阻率的测试装置及其测试方法,属于材料测试设备领域。
背景技术
电阻率是评价电介质材料特别是铁电陶瓷材料高低温绝缘性能的一个极其重要的指标,它对相关器件的可靠性起着决定性的作用;测试夹具的好坏与否是高低温电阻参数测试准确的关键。按现行标准要求,部分瓷介电容器(GJB1522-92、GJB1313-91等)要求测量高温绝缘电阻;按实际应用要求,高温压电陶瓷要求测量高温电阻率。因此,根据测试要求,在夹具设计时要求在测试温度范围内其空载绝缘电阻>1×1014Ω。但是,由于测试夹具本身漏电和内外干扰信号的影响,在测量室温电阻率较高的电介质材料的电阻时很容易产生较大的误差。所以,在测量高绝缘电阻材料时为了提高测量的准确度,除了提高测试夹具的空载绝缘电阻外,还必须消除或减小内外干扰信号的影响。目前的测量设备或装置在测量电介质材料在室温附近的电阻率尚能满足测试要求;但是在测量高温电阻率时由于测试夹具的空载绝缘电阻随着温度的升高而下降,且消除处于高温环境下的样品的干扰信号也存在一定的问题,所以目前的测试装置还无法实现较高温度(>200℃),特别是高温(~800℃)电阻率的测量。因此为满足实际应用的要求,迫切需要一种具有更高可靠性和稳定性的高温(RT~800℃)电阻率的测试装置。
发明内容
本发明的目的在于提供一种高温电阻率的测试装置及其测试方法,它能对室温电阻率较高(>1012Ω·cm)的电介质材料进行高温(RT~800℃)电阻率测量。
本发明的高温电阻率测量装置,其特征包括:
测试夹具(1),温控加热炉(2),高阻计(3),屏蔽机构(4),电源(5)。其中:
101为公共电极,102为测量电极,103为固定片,104为调节弹簧,105为样品,106为载物台;
201为温度控制器,202为电阻丝加热炉;
401为内屏蔽装置,402为外屏蔽装置。
电源(5)分别连接高阻计(3)和温控加热炉2,高阻计(3)连接电极测试台(1)检测电阻,屏蔽机构(4)罩于测试夹具(1)内部和外部。
公共电极(101)和测量电极(102)分别通过导线与高阻计(3)相连接;样品(105)通过弹簧(104)固紧在均匀涂覆有铂电极层的Al2O3载物台(106)上形成回路;炉膛内屏蔽装置(401)和外屏蔽装置(402)接地;样品(105)通过温度控制器(201)在电阻丝加热炉(202)中进行加热。
所述的公共电极(101)为在Al2O3载物台(106)上均匀涂覆的一层铂电极;
所述的测量电极(102)为铂金电极,测量电极的数目可根据需要而增,以实现一次测量多个样品,提高效率。
电介质的高温电阻率测量装置,测试夹具的主要部分均在炉外即处于常温环境中,使公共电极和测量电极的空载绝缘电阻基本不随样品的温度变化而变化,保证了高温电阻测量的可靠性和稳定性;温度控制装置的控温精度为±0.1℃;炉膛内屏蔽装置和外屏蔽装置可有效地减小或消除内部和外部的干扰信号,从而减小了测量误差,提高了电阻率测量的准确性。
本发明的测试方法包括下述步骤:
1)、准备电阻的检测装置:公共电极(101)和测量电极(102)分别通过导线与高阻计(3)相连接;
2)、测试夹具的校准:通过调节弹簧(104)形成开路,测量公共电极和测量电极的空载绝缘电阻,要求空载绝缘电阻>1×1014Ω;
3)、待测样品的准备:样品(105)的几何尺寸为Φ6~20×0.3~10mm,上下两表面均匀涂覆电极,通过弹簧(104)固紧在Al2O3载物台(106)上并形成回路;
4)、将炉膛内屏蔽装置(401)和外屏蔽装置(402)接地;
5)、将样品(105)通过温度控制器(201)在电阻丝加热炉(202)中进行加热,温度范围为RT~800℃;并记录相应温度下高阻计(3)的测量值;
6)、电阻率的计算:
电阻率ρ(单位为Ω·cm)的计算公式为:
其中,R为高阻计的测量值,单位为Ω;A为测量样品的表面积,单位为cm2;d为测量样品的厚度,单位为cm。
本发明的方法能对室温电阻率较高(>1012Ω·cm)的电介质材料的高温(RT~800℃)电阻率进行测量,本发明结构简单,使用方便,具有较高的可靠性和稳定性。
附图说明
图1是本发明的电阻率测量装置示意图。1为测试夹具,2为温控加热炉,3为高阻计,4为屏蔽机构,5为电源。其中:
101为公共电极,102为测量电极,103为固定片,104为调节弹簧,105为样品,106为载物台;
201为温度控制器,202为电阻丝加热炉;
401为内屏蔽装置,402为外屏蔽装置。
图2是Bi3TiNbO9(BTN)压电陶瓷样品的电阻率~温度曲线关系图。
具体实施方式
本发明利用上述的测量装置和方法,对BTN压电陶瓷的高温电阻率进行测量。温度范围为110℃~700℃,每隔25℃取一个温度点测量相对应的电阻R;样品的面积A=1.10cm2,厚度d=0.10cm;将数据代入公式(1)中计算即得到相应的电阻率,图2为其电阻率~温度曲线关系图。
Claims (5)
1、一种高温电阻率的测试装置,包括测试夹具(1),温控加热炉(2),高阻计(3),屏蔽机构(4),电源(5),其特征在于:
电源(5)分别连接高阻计(3)和温控加热炉2,高阻计(3)连接电极测试台(1)检测电阻,屏蔽机构(4)罩于测试夹具(1)内部和外部。
2、按权利要求1所述的一种高温电阻率的测试装置,其特征在于:
所述的测试夹具(1)包括公共电极(101),测量电极(102),固定片(103),调节弹簧(104),样品(105),载物台(106);
所述温控加热炉(2)包括温度控制器(201),电阻丝加热炉(202);
公共电极(101)和测量电极(102)分别通过导线与高阻计(3)相连接;样品(105)通过弹簧(104)固紧在均匀涂覆有铂电极层的Al2O3载物台(106)上形成回路;炉膛内屏蔽装置(401)和外屏蔽装置(402)接地;样品(105)通过温度控制器(201)在电阻丝加热炉(202)中进行加热。
3、按权利要求1或2所述的一种高温电阻率的测试装置,其特征在于所述的公共电极(101)为铂电极。
4、、按权利要求1或2所述的一种高温电阻率的测试装置,其特征在于所述的测量电极(102)为铂金电极。
5、一种高温电阻率的测试方法,其特征在于包括下述步骤:
1)、准备电阻的检测装置:公共电极(101)和测量电极(102)分别通过导线与高阻计(3)相连接;
2)、测试夹具的校准:通过调节弹簧(104)形成开路,测量公共电极和测量电极的空载绝缘电阻,要求空载绝缘电阻>1×1014Ω;
3)、待测样品的准备:样品(105)上下两表面均匀涂覆电极,通过弹簧(104)固紧在载物台(106)上并形成回路;
4)、将炉膛内屏蔽装置(401)和外屏蔽装置(402)接地;
5)、将样品(105)通过温度控制器(201)在电阻丝加热炉(202)中进行加热,温度范围为RT~800℃;并记录相应温度下高阻计(3)的测量值;
6)、计算电阻率。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 200610026917 CN1851485A (zh) | 2006-05-26 | 2006-05-26 | 一种高温电阻率的测试装置及其测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 200610026917 CN1851485A (zh) | 2006-05-26 | 2006-05-26 | 一种高温电阻率的测试装置及其测试方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1851485A true CN1851485A (zh) | 2006-10-25 |
Family
ID=37132969
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN 200610026917 Pending CN1851485A (zh) | 2006-05-26 | 2006-05-26 | 一种高温电阻率的测试装置及其测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN1851485A (zh) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101949959A (zh) * | 2010-09-13 | 2011-01-19 | 中国科学院物理研究所 | 高温电阻率测量台 |
CN104459329A (zh) * | 2014-11-25 | 2015-03-25 | 苏州市职业大学 | 一种连续温度范围内金属电阻率变化测试装置 |
CN105425047A (zh) * | 2015-12-30 | 2016-03-23 | 芜湖东旭光电装备技术有限公司 | 一种测量二氧化锡电极的高温电阻率的方法 |
CN106707025A (zh) * | 2016-12-06 | 2017-05-24 | 河北工业大学 | 一种具有温度控制的微区电阻率测量装置 |
CN106771623A (zh) * | 2017-01-19 | 2017-05-31 | 西安交通大学 | 一种高温环境下绝缘材料电阻及电阻率的测试装置 |
CN107478905A (zh) * | 2017-08-03 | 2017-12-15 | 天津中环电炉股份有限公司 | 一种电导率测试仪 |
CN107907746A (zh) * | 2017-10-25 | 2018-04-13 | 营口康辉石化有限公司 | 一种聚合物熔融电阻率的测试方法 |
CN109188086A (zh) * | 2018-09-19 | 2019-01-11 | 许昌学院 | 一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法 |
CN109738701A (zh) * | 2019-01-11 | 2019-05-10 | 华北电力大学 | 一种电导测量装置及方法 |
-
2006
- 2006-05-26 CN CN 200610026917 patent/CN1851485A/zh active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101949959B (zh) * | 2010-09-13 | 2012-09-05 | 中国科学院物理研究所 | 高温电阻率测量台 |
CN101949959A (zh) * | 2010-09-13 | 2011-01-19 | 中国科学院物理研究所 | 高温电阻率测量台 |
CN104459329A (zh) * | 2014-11-25 | 2015-03-25 | 苏州市职业大学 | 一种连续温度范围内金属电阻率变化测试装置 |
CN105425047A (zh) * | 2015-12-30 | 2016-03-23 | 芜湖东旭光电装备技术有限公司 | 一种测量二氧化锡电极的高温电阻率的方法 |
CN105425047B (zh) * | 2015-12-30 | 2018-06-19 | 芜湖东旭光电装备技术有限公司 | 一种测量二氧化锡电极的高温电阻率的方法 |
CN106707025A (zh) * | 2016-12-06 | 2017-05-24 | 河北工业大学 | 一种具有温度控制的微区电阻率测量装置 |
CN106707025B (zh) * | 2016-12-06 | 2024-04-05 | 河北工业大学 | 一种具有温度控制的微区电阻率测量装置 |
CN106771623B (zh) * | 2017-01-19 | 2019-10-11 | 西安交通大学 | 一种高温环境下绝缘材料电阻及电阻率的测试装置 |
CN106771623A (zh) * | 2017-01-19 | 2017-05-31 | 西安交通大学 | 一种高温环境下绝缘材料电阻及电阻率的测试装置 |
CN107478905A (zh) * | 2017-08-03 | 2017-12-15 | 天津中环电炉股份有限公司 | 一种电导率测试仪 |
CN107907746A (zh) * | 2017-10-25 | 2018-04-13 | 营口康辉石化有限公司 | 一种聚合物熔融电阻率的测试方法 |
CN109188086A (zh) * | 2018-09-19 | 2019-01-11 | 许昌学院 | 一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法 |
CN109738701A (zh) * | 2019-01-11 | 2019-05-10 | 华北电力大学 | 一种电导测量装置及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1851485A (zh) | 一种高温电阻率的测试装置及其测试方法 | |
Islam et al. | Relaxation oscillator-based active bridge circuit for linearly converting resistance to frequency of resistive sensor | |
CN103954847A (zh) | 一种油纸复合绝缘频域介电谱及电导率测试的试验装置 | |
CN105841836B (zh) | 一种新型瞬态温度传感器 | |
CN108169279B (zh) | 一种基于vo2薄膜的薄膜热导率测量装置及方法 | |
CN105136326B (zh) | 一种温度传感器及其制备方法 | |
CN101692111A (zh) | 二氧化锡电极电阻率的测试装置及测试方法 | |
CN109164303A (zh) | 变温介电常数精密测量装置及测量方法 | |
JP2015230290A (ja) | 結露試験方法および結露試験装置 | |
CN105424767A (zh) | 湿度传感器芯片大批量生产的测试装置及测试方法 | |
CN108802098B (zh) | 一种连续碳化硅薄膜热导率的测量装置及其测量方法 | |
GB2374148A (en) | Evaluating the glass transition temperature of a polymer part during use | |
JPH1090084A (ja) | ガラス、ガラスセラミック等の基板上の温度測定レジスタの較正方法 | |
CN219777762U (zh) | 一种用于测试电阻温度系数的装置 | |
Della Ciana et al. | Development of a dedicated instrumentation for electrical and thermal characterization of chemiresistive gas sensors | |
CN2685873Y (zh) | 动态法热释电系数测试装置 | |
Chen et al. | In situ measurement of fatigue crack growth rates in a silicon carbide ceramic at elevated temperatures using a DC potential system | |
CN114935584A (zh) | 一种自支撑薄膜面内热导率的测量方法 | |
CN113820543A (zh) | 一种薄膜材料电阻率和霍尔效应测量装置及方法 | |
CN213337417U (zh) | 一种薄膜热电材料性能参数测试装置及系统 | |
CN209991931U (zh) | 一种孔面铜一体化测厚装置 | |
AU2019201061A1 (en) | A capacitive sensor | |
Ionescu et al. | Investigation on thermal properties of substrates for printed electronics | |
CN1818689A (zh) | 一种铁电薄膜材料i-v特性的测量方法及测量装置 | |
RU2372625C1 (ru) | Способ определения значений теплоэлектрофизических параметров тестовых образцов проводящих или резистивных структур |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20061025 |