WO2024004444A1 - プラズマ処理装置及び蓄電量の制御方法 - Google Patents

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WO2024004444A1
WO2024004444A1 PCT/JP2023/019150 JP2023019150W WO2024004444A1 WO 2024004444 A1 WO2024004444 A1 WO 2024004444A1 JP 2023019150 W JP2023019150 W JP 2023019150W WO 2024004444 A1 WO2024004444 A1 WO 2024004444A1
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power
plasma processing
power supply
storage unit
power storage
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PCT/JP2023/019150
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望 永島
大祐 吉越
邦彦 山形
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東京エレクトロン株式会社
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/46Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy

Definitions

  • the exemplary embodiments of the present disclosure relate to a plasma processing apparatus and a method for controlling the amount of stored electricity.
  • a plasma processing device is used in plasma processing.
  • a plasma processing apparatus includes a chamber and a substrate support stand (mounting stand) placed within the chamber.
  • the substrate support has a base (lower electrode) and an electrostatic chuck that holds the substrate.
  • a temperature adjustment element for example, a heater
  • a filter is provided between the temperature adjustment element and the power supply for the temperature adjustment element, high frequency noise that enters the power supply line and/or signal line from the high frequency electrode and/or other electrical components in the chamber is attenuated.
  • a filter is provided to either allow or prevent this.
  • An exemplary embodiment of the present disclosure provides a technique for controlling the amount of power stored in a power storage unit of a plasma processing apparatus.
  • a plasma processing apparatus includes a plasma processing chamber, a substrate support section, a high frequency power source, an electrode or an antenna, a power consumption member, a ground frame, a power storage section, a rectification/smoothing section, a power supply output connector, and a power receiving coil.
  • a substrate support is disposed within the plasma processing chamber.
  • the high frequency power source is configured to generate high frequency power.
  • the electrode or antenna is electrically connected to a radio frequency power source to receive radio frequency power to generate a plasma from the gas within the plasma processing chamber.
  • a power consuming member is disposed within the plasma processing chamber or within the substrate support.
  • a ground frame is grounded and surrounds the substrate support along with the plasma processing chamber.
  • the power storage unit is arranged in a space surrounded by the ground frame, and is electrically connected to the power consumption member.
  • the rectification/smoothing section is arranged in a space surrounded by the ground frame.
  • the rectification/smoothing section includes a power supply connector and a rectification circuit.
  • the power supply input connector includes a first power supply input terminal and a second power supply input terminal, and is provided so as to be accessible from the outside of the ground frame.
  • the rectifier circuit includes a diode bridge and is connected between the power supply input connector and the power storage unit.
  • the power supply output connector includes a first power supply output terminal and a second power supply output terminal that are electrically connectable to the first power supply input terminal and the second power supply input terminal, and is detachable from the power supply input connector.
  • the power reception coil is disposed outside the ground frame, is electrically connected to the power supply output connector, and is capable of receiving power from the power transmission coil by electromagnetic induction coupling.
  • a technique for controlling the amount of power stored in a power storage unit of a plasma processing apparatus is provided.
  • FIG. 1 is a diagram for explaining a configuration example of a plasma processing system.
  • FIG. 2 is a diagram for explaining a configuration example of a capacitively coupled plasma processing apparatus.
  • 1 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to an exemplary embodiment;
  • FIG. 3 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to another exemplary embodiment;
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a power transmission unit according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a power transmitting coil section and a power receiving coil section according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a power transmitting coil section and a power receiving coil section according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a power transmitting coil section and a power receiving coil section according to one exemplary embodiment.
  • 7 is a graph showing impedance characteristics of a power receiving coil section according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 2 illustrates an RF filter according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 3 illustrates a rectifying and smoothing section according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 2 illustrates an RF filter according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 2 is a diagram illustrating a communication section of a power transmission section and a communication section of a rectification/smoothing section according to an exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a communication section of a power transmission section and a communication section of a rectification/smoothing section according to another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 23A and 23B is a diagram illustrating a power storage unit according to one exemplary embodiment.
  • 1 is a diagram illustrating a voltage controlled converter according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 3 is a diagram illustrating a constant voltage controller according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a constant voltage controller according to another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram for explaining charging of a power storage unit of a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 30 is a diagram showing a state in which a power receiving coil section is connected to a rectifying/smoothing section of the plasma processing apparatus shown in FIG. 29.
  • FIG. 30 is a diagram showing a state in which a DC stabilized power source is connected to the rectifying/smoothing section of the plasma processing apparatus shown in FIG. 29.
  • FIG. (a) of FIG. 32 is a timing chart of an example of the voltage of the power storage unit, and (b) of FIG. 32 is a timing chart of an example of the current supplied to the power storage unit.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram showing a state in which a DC stabilized power source is connected to a rectifying/smoothing section of a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment. It is a figure which shows the state where the discharge unit is connected to the rectification
  • 5 is a timing chart of an example of voltage of a power storage unit.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration related to discharging a power storage unit in a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration related to discharging a power storage unit in a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • 5 is a timing chart of an example of voltage of a power storage unit.
  • FIG. 1 is a diagram for explaining a configuration example of a plasma processing system.
  • a plasma processing system includes a plasma processing apparatus 1 and a controller 2.
  • the plasma processing system is an example of a substrate processing system
  • the plasma processing apparatus 1 is an example of a substrate processing apparatus.
  • the plasma processing apparatus 1 includes a plasma processing chamber 10, a substrate support section 11, and a plasma generation section 12.
  • the plasma processing chamber 10 has a plasma processing space.
  • the plasma processing chamber 10 also includes at least one gas supply port for supplying at least one processing gas to the plasma processing space, and at least one gas exhaust port for discharging gas from the plasma processing space.
  • the gas supply port is connected to a gas supply section 20, which will be described later, and the gas discharge port is connected to an exhaust system 40, which will be described later.
  • the substrate support section 11 is disposed within the plasma processing space and has a substrate support surface for supporting a substrate.
  • the plasma generation unit 12 is configured to generate plasma from at least one processing gas supplied into the plasma processing space.
  • the plasmas formed in the plasma processing space are capacitively coupled plasma (CCP), inductively coupled plasma (ICP), and ECR plasma (Electron-Cyclotron-Resonance Plasma).
  • CCP capacitively coupled plasma
  • ICP inductively coupled plasma
  • ECR plasma Electro-Cyclotron-Resonance Plasma
  • HWP Helicon wave excited plasma
  • SWP surface wave plasma
  • various types of plasma generation sections may be used, including an AC (Alternating Current) plasma generation section and a DC (Direct Current) plasma generation section.
  • the AC signal (AC power) used in the AC plasma generator has a frequency in the range of 100 kHz to 10 GHz. Therefore, the AC signal includes an RF (Radio Frequency) signal and a microwave signal.
  • the RF signal has a frequency within the range of 100kHz to 150MHz.
  • the control unit 2 processes computer-executable instructions that cause the plasma processing apparatus 1 to perform various steps described in this disclosure.
  • the control unit 2 may be configured to control each element of the plasma processing apparatus 1 to perform the various steps described herein. In one embodiment, part or all of the control unit 2 may be included in the plasma processing apparatus 1.
  • the control unit 2 may include a processing unit 2a1, a storage unit 2a2, and a communication interface 2a3.
  • the control unit 2 is realized by, for example, a computer 2a.
  • the processing unit two a1 may be configured to read a program from the storage unit two a2 and perform various control operations by executing the read program. This program may be stored in the storage unit 2a2 in advance, or may be acquired via a medium when necessary.
  • the acquired program is stored in the storage unit 2a2, and is read out from the storage unit 2a2 and executed by the processing unit 2a1.
  • the medium may be various storage media readable by the computer 2a, or may be a communication line connected to the communication interface 2a3.
  • the processing unit 2a1 may be a CPU (Central Processing Unit).
  • the storage unit 2a2 may include a RAM (Random Access Memory), a ROM (Read Only Memory), an HDD (Hard Disk Drive), an SSD (Solid State Drive), or a combination thereof. Good.
  • the communication interface 2a3 may communicate with the plasma processing apparatus 1 via a communication line such as a LAN (Local Area Network).
  • FIG. 2 is a diagram for explaining a configuration example of a capacitively coupled plasma processing apparatus.
  • the capacitively coupled plasma processing apparatus 1 includes a plasma processing chamber 10, a gas supply section 20, a power supply 30, and an exhaust system 40. Further, the plasma processing apparatus 1 includes a substrate support section 11 and a gas introduction section. The gas inlet is configured to introduce at least one processing gas into the plasma processing chamber 10 .
  • the gas introduction section includes a shower head 13.
  • Substrate support 11 is arranged within plasma processing chamber 10 .
  • the shower head 13 is arranged above the substrate support section 11 . In one embodiment, showerhead 13 forms at least a portion of the ceiling of plasma processing chamber 10 .
  • the plasma processing chamber 10 has a plasma processing space 10s defined by a shower head 13, a side wall 10a of the plasma processing chamber 10, and a substrate support 11. Plasma processing chamber 10 is grounded.
  • the shower head 13 and the substrate support section 11 are electrically insulated from the casing of the plasma processing chamber 10.
  • the substrate support section 11 includes a main body section 111 and a ring assembly 112.
  • the main body portion 111 has a central region 111a for supporting the substrate W and an annular region 111b for supporting the ring assembly 112.
  • a wafer is an example of a substrate W.
  • the annular region 111b of the main body 111 surrounds the central region 111a of the main body 111 in plan view.
  • the substrate W is placed on the central region 111a of the main body 111, and the ring assembly 112 is placed on the annular region 111b of the main body 111 so as to surround the substrate W on the central region 111a of the main body 111. Therefore, the central region 111a is also called a substrate support surface for supporting the substrate W, and the annular region 111b is also called a ring support surface for supporting the ring assembly 112.
  • the main body 111 includes a base 1110 and an electrostatic chuck 1111.
  • Base 1110 includes a conductive member.
  • the conductive member of the base 1110 can function as a bottom electrode.
  • Electrostatic chuck 1111 is placed on base 1110.
  • the electrostatic chuck 1111 includes a ceramic member 1111a and an electrostatic electrode (also referred to as an adsorption electrode, a chuck electrode, or a clamp electrode) 1111b disposed within the ceramic member 1111a.
  • Ceramic member 1111a has a central region 111a. In one embodiment, ceramic member 1111a also has an annular region 111b.
  • another member surrounding the electrostatic chuck 1111 such as an annular electrostatic chuck or an annular insulating member, may have the annular region 111b.
  • ring assembly 112 may be placed on the annular electrostatic chuck or the annular insulation member, or may be placed on both the electrostatic chuck 1111 and the annular insulation member.
  • at least one RF/DC electrode coupled to an RF power source 31 and/or a DC power source 32, which will be described later, may be disposed within the ceramic member 1111a. In this case, at least one RF/DC electrode functions as a bottom electrode.
  • An RF/DC electrode is also referred to as a bias electrode if a bias RF signal and/or a DC signal, as described below, is supplied to at least one RF/DC electrode.
  • the conductive member of the base 1110 and at least one RF/DC electrode may function as a plurality of lower electrodes.
  • the electrostatic electrode 1111b may function as a lower electrode. Therefore, the substrate support 11 includes at least one lower electrode.
  • Ring assembly 112 includes one or more annular members.
  • the one or more annular members include one or more edge rings and at least one cover ring.
  • the edge ring is made of a conductive or insulating material
  • the cover ring is made of an insulating material.
  • the substrate support unit 11 may include a temperature control module configured to adjust at least one of the electrostatic chuck 1111, the ring assembly 112, and the substrate to a target temperature.
  • the temperature control module may include a heater, a heat transfer medium, a flow path 1110a, or a combination thereof.
  • a heat transfer fluid such as brine or gas flows through the flow path 1110a.
  • a channel 1110a is formed within the base 1110 and one or more heaters are disposed within the ceramic member 1111a of the electrostatic chuck 1111.
  • the substrate support section 11 may include a heat transfer gas supply section configured to supply heat transfer gas to the gap between the back surface of the substrate W and the central region 111a.
  • the shower head 13 is configured to introduce at least one processing gas from the gas supply section 20 into the plasma processing space 10s.
  • the shower head 13 has at least one gas supply port 13a, at least one gas diffusion chamber 13b, and a plurality of gas introduction ports 13c.
  • the processing gas supplied to the gas supply port 13a passes through the gas diffusion chamber 13b and is introduced into the plasma processing space 10s from the plurality of gas introduction ports 13c.
  • the showerhead 13 also includes at least one upper electrode.
  • the gas introduction section may include one or more side gas injectors (SGI) attached to one or more openings formed in the side wall 10a.
  • SGI side gas injectors
  • the gas supply section 20 may include at least one gas source 21 and at least one flow rate controller 22.
  • the gas supply 20 is configured to supply at least one process gas from a respective gas source 21 to the showerhead 13 via a respective flow controller 22 .
  • Each flow controller 22 may include, for example, a mass flow controller or a pressure-controlled flow controller.
  • gas supply 20 may include at least one flow modulation device that modulates or pulses the flow rate of at least one process gas.
  • Power supply 30 includes an RF power supply 31 coupled to plasma processing chamber 10 via at least one impedance matching circuit.
  • RF power source 31 is configured to supply at least one RF signal (RF power) to at least one bottom electrode and/or at least one top electrode.
  • RF power supply 31 can function as at least a part of the plasma generation section 12. Further, by supplying a bias RF signal to at least one lower electrode, a bias potential is generated in the substrate W, and ion components in the formed plasma can be drawn into the substrate W.
  • the RF power supply 31 includes a first RF generation section 31a and a second RF generation section 31b.
  • the first RF generation section 31a is coupled to at least one lower electrode and/or at least one upper electrode via at least one impedance matching circuit, and generates a source RF signal (source RF power) for plasma generation. It is configured as follows.
  • the source RF signal has a frequency within the range of 10 MHz to 150 MHz.
  • the first RF generator 31a may be configured to generate multiple source RF signals having different frequencies. The generated one or more source RF signals are provided to at least one bottom electrode and/or at least one top electrode.
  • the second RF generating section 31b is coupled to at least one lower electrode via at least one impedance matching circuit, and is configured to generate a bias RF signal (bias RF power).
  • the frequency of the bias RF signal may be the same or different than the frequency of the source RF signal.
  • the bias RF signal has a lower frequency than the frequency of the source RF signal.
  • the bias RF signal has a frequency within the range of 100kHz to 60MHz.
  • the second RF generator 31b may be configured to generate multiple bias RF signals having different frequencies.
  • the generated one or more bias RF signals are provided to at least one bottom electrode. Also, in various embodiments, at least one of the source RF signal and the bias RF signal may be pulsed.
  • Power source 30 may also include a DC power source 32 coupled to plasma processing chamber 10 .
  • the DC power supply 32 includes a first DC generation section 32a and a second DC generation section 32b.
  • the first DC generator 32a is connected to at least one lower electrode and configured to generate a first DC signal.
  • the generated first DC signal is applied to at least one bottom electrode.
  • the second DC generator 32b is connected to the at least one upper electrode and configured to generate a second DC signal.
  • the generated second DC signal is applied to the at least one top electrode.
  • the first and second DC signals may be pulsed.
  • a sequence of voltage pulses is applied to at least one lower electrode and/or at least one upper electrode.
  • the voltage pulse may have a pulse waveform that is rectangular, trapezoidal, triangular, or a combination thereof.
  • a waveform generator for generating a sequence of voltage pulses from a DC signal is connected between the first DC generator 32a and the at least one bottom electrode. Therefore, the first DC generation section 32a and the waveform generation section constitute a voltage pulse generation section.
  • the voltage pulse generation section is connected to at least one upper electrode.
  • the voltage pulse may have positive polarity or negative polarity.
  • the sequence of voltage pulses may include one or more positive voltage pulses and one or more negative voltage pulses within one period.
  • the first and second DC generation units 32a and 32b may be provided in addition to the RF power source 31, or the first DC generation unit 32a may be provided in place of the second RF generation unit 31b. good.
  • the exhaust system 40 may be connected to a gas exhaust port 10e provided at the bottom of the plasma processing chamber 10, for example.
  • Evacuation system 40 may include a pressure regulating valve and a vacuum pump. The pressure within the plasma processing space 10s is adjusted by the pressure regulating valve.
  • the vacuum pump may include a turbomolecular pump, a dry pump, or a combination thereof.
  • the upper electrode is arranged such that the plasma processing space is located between the upper electrode and the substrate support section 11.
  • a high frequency power source such as the first RF generator 31 a is electrically connected to the upper electrode or the lower electrode in the substrate support 11 .
  • an antenna is arranged such that a plasma processing space is located between the antenna and the substrate support part 11.
  • a high frequency power source such as the first RF generator 31a is electrically connected to the antenna.
  • the antenna is arranged such that the plasma processing space is located between the antenna and the substrate support part 11. Ru.
  • a high frequency power source such as the first RF generator 31a is electrically connected to the antenna via a waveguide.
  • Each plasma processing apparatus described below is configured to supply power to at least one power consuming member in the chamber 10 by wireless power supply (electromagnetic induction coupling), and has the same configuration as the plasma processing apparatus 1. obtain.
  • FIG. 3 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to one exemplary embodiment.
  • the plasma processing apparatus 100A shown in FIG. 3 includes at least one high-frequency power source 300, a power receiving coil section 140, a power storage section 160, and at least one power consumption member 240 (see FIGS. 25 and 26).
  • the plasma processing apparatus 100A may further include a power transmission section 120, a power transmission coil section 130, a rectification/smoothing section 150, a constant voltage control section 180 (an example of a voltage control section), a ground frame 110, and a matching section 301.
  • At least one high-frequency power source 300 includes a first RF generator 31a and/or a second RF generator 31b. At least one high frequency power source 300 is electrically connected to the substrate support section 11 via a matching section 301. Matching section 301 includes at least one impedance matching circuit.
  • the ground frame 110 includes the chamber 10 and is electrically grounded.
  • the ground frame 110 electrically separates an internal space 110h (RF-Hot space) from an external space 110a (atmospheric space).
  • the ground frame 110 surrounds the substrate support part 11 arranged in the space 110h.
  • rectification/smoothing section 150, power storage section 160, and constant voltage control section 180 are arranged in space 110h.
  • the power transmission section 120, the power transmission coil section 130, and the power reception coil section 140 are arranged in the space 110a.
  • the space 110h includes a reduced pressure space (vacuum space) and a non-reduced pressure space (non-vacuum space).
  • the reduced pressure space is the space inside the chamber 10, and the non-decompressed space is the space outside the chamber 10.
  • the substrate support part 11 and the substrate W are arranged in a reduced pressure space.
  • the rectification/smoothing section 150, the power storage section 160, and the constant voltage control section 180 are arranged in a non-decompressed space.
  • the devices arranged in the space 110a that is, the power transmitting section 120, the power transmitting coil section 130, the power receiving coil section 140, etc., are covered with a metal casing made of metal such as aluminum, and the metal casing is grounded. This suppresses leakage of high frequency noise caused by high frequency power such as the first RF signal (source RF signal) and/or the second RF signal (bias RF signal).
  • the metal housing and each power supply line have an insulating distance therebetween. Note that in the following description, high-frequency power such as the first RF signal and/or the second RF signal that propagates toward the power transmission unit 120 is referred to as high-frequency noise, common mode noise, or conductive There is something called noise.
  • the power transmission unit 120 is electrically connected between the AC power supply 400 (for example, a commercial AC power supply) and the power transmission coil unit 130.
  • Power transmission unit 120 receives the frequency of AC power from AC power supply 400 and converts the frequency of the AC power into a transmission frequency, thereby generating AC power having the transmission frequency, that is, transmission AC power.
  • the power transmission coil section 130 includes a power transmission coil 131 (see FIG. 9), which will be described later.
  • Power transmission coil 131 is electrically connected to power transmission section 120.
  • Power transmitting coil 131 receives transmitted AC power from power transmitting section 120 and wirelessly transmits the transmitted AC power to power receiving coil 141 .
  • the power receiving coil section 140 includes a power receiving coil 141 (see FIG. 9), which will be described later.
  • the power receiving coil 141 is coupled to the power transmitting coil 131 by electromagnetic induction.
  • Electromagnetic inductive coupling includes magnetic field coupling and electric field coupling. Further, magnetic field coupling includes magnetic field resonance (also referred to as magnetic field resonance).
  • the distance between the power receiving coil 141 and the power transmitting coil 131 is set to suppress common mode noise (conductive noise). Further, the distance between the power receiving coil 141 and the power transmitting coil 131 is set to a distance that allows power to be supplied.
  • the distance between the power receiving coil 141 and the power transmitting coil 131 is such that the amount of attenuation of high frequency power (that is, high frequency noise) between the power receiving coil 141 and the power transmitting coil 131 is equal to or less than a threshold value, and the power from the power transmitting coil 131 is
  • the power receiving coil 141 is set to be able to receive power.
  • the threshold value of the attenuation amount is set to a value that can sufficiently prevent damage or malfunction of the power transmission unit 120.
  • the attenuation threshold is, for example, ⁇ 20 dB.
  • the transmitted AC power received by the power receiving coil section 140 is output to the rectification/smoothing section 150.
  • the rectification/smoothing section 150 and the power transmission section 120 are electrically connected to each other by a signal line 1250.
  • Rectification/smoothing section 150 transmits an instruction signal to power transmission section 120 via signal line 1250.
  • the instruction signal is a signal for instructing the power transmission unit 120 to supply transmission AC power or to stop supplying transmission AC power.
  • the instruction signal may include a status signal, an abnormality detection signal, and a cooling control signal for the power transmitting coil section 130 and the power receiving coil section 140.
  • the status signal is a value such as the magnitude and/or phase of the voltage, current, and power detected by the voltage detector 155v (see FIG. 14) and the current detector 155i (see FIG. 14) of the rectifier/smoothing section 150.
  • the abnormality detection signal is a signal for transmitting the occurrence of a failure and/or temperature abnormality in the rectifying/smoothing section 150 to the power transmission section 120.
  • the cooling control signal controls a cooling mechanism provided in the power transmitting coil section 130 and the power receiving coil section 140. For example, in the case of air cooling, the cooling control signal controls the rotation speed of the fan. In the case of liquid cooling, the flow rate and/or temperature of the refrigerant is controlled.
  • the constant voltage control unit 180 applies a voltage to at least the power consumption member 240 using the power stored in the power storage unit 160.
  • the constant voltage control unit 180 can control at least application of voltage to the power consumption member 240 and stopping of the voltage application.
  • the power receiving coil 141 functions as a filter for high frequency noise caused by high frequency power such as the first RF signal and/or the second RF signal. Therefore, propagation of high frequency noise to a power source external to the plasma processing apparatus is suppressed.
  • FIG. 4 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to another exemplary embodiment.
  • the plasma processing apparatus 100B shown in FIG. 4 will be described below from the viewpoint of its differences from the plasma processing apparatus 100A.
  • the plasma processing apparatus 100B further includes a voltage control converter 170.
  • Voltage control converter 170 is a DC-DC converter, and is connected between power storage unit 160 and constant voltage control unit 180.
  • Voltage control converter 170 may be configured to input a constant output voltage to constant voltage control unit 180 even when voltage fluctuation occurs in power storage unit 160. Note that voltage fluctuations in power storage unit 160 may occur as a voltage drop depending on the stored power, for example, when power storage unit 160 is configured with an electric double layer.
  • FIG. 5 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the plasma processing apparatus 100C shown in FIG. 5 will be described below from the viewpoint of its differences from the plasma processing apparatus 100B.
  • the plasma processing apparatus 100C further includes an RF filter 190.
  • RF filter 190 is connected between rectification/smoothing section 150 and power transmission section 120.
  • RF filter 190 forms part of signal line 1250.
  • the RF filter 190 has a characteristic of suppressing propagation of high frequency power (high frequency noise) via the signal line 1250. That is, the RF filter 190 includes a low-pass filter that has a high impedance against high-frequency noise (conductive noise) but has a characteristic of passing an instruction signal of a relatively low frequency.
  • power storage unit 160, voltage control converter 170, and constant voltage control unit 180 are integrated with each other. That is, power storage unit 160, voltage control converter 170, and constant voltage control unit 180 are all arranged in a single metal housing or formed on a single circuit board. This reduces the length of each of the pair of power supply lines (plus line and minus line) that connect power storage unit 160 and voltage control converter 170 to each other. Furthermore, it is possible to make the lengths of a pair of power supply lines that connect power storage unit 160 and voltage control converter 170 to be equal to each other. Also. The length of each of the pair of power supply lines (plus line and minus line) that connect voltage control converter 170 and constant voltage control section 180 to each other becomes shorter.
  • FIG. 6 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the plasma processing apparatus 100D shown in FIG. 6 will be described below from the viewpoint of differences from the plasma processing apparatus 100C.
  • the plasma processing apparatus 100D does not include the RF filter 190.
  • the rectification/smoothing section 150 includes a communication section 151 that is a wireless section.
  • the communication unit 151 is arranged in a non-decompressed space.
  • the power transmission unit 120 includes a communication unit 121 that is a wireless unit.
  • the communication unit 121 is arranged in the space 110a.
  • the above-mentioned instruction signal is transmitted between the rectification/smoothing section 150 and the power transmission section 120 using the communication section 151 and the communication section 121. Details of the communication unit 121 and the communication unit 151 will be described later.
  • FIG. 7 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the plasma processing apparatus 100E shown in FIG. 7 will be described below from the viewpoint of its differences from the plasma processing apparatus 100D.
  • the plasma processing apparatus 100E further includes an RF filter 200.
  • RF filter 200 is connected between power receiving coil section 140 and rectification/smoothing section 150.
  • the RF filter 200 has a characteristic of reducing or blocking high frequency noise propagating from the power receiving coil section 140 to the power transmitting coil 131 and the power transmitting section 120. Details of the RF filter 200 will be described later.
  • FIG. 8 is a diagram illustrating a power transmission unit according to one exemplary embodiment.
  • power transmission unit 120 receives the frequency of AC power from AC power supply 400 and converts the frequency of the AC power into a transmission frequency, thereby generating transmission AC power having the transmission frequency.
  • the power transmission section 120 includes a control section 122, a rectification/smoothing section 123, and an inverter 124.
  • the control unit 122 includes a processor such as a CPU or a programmable logic device such as a field-programmable gate array (FPGA).
  • FPGA field-programmable gate array
  • the rectification/smoothing section 123 includes a rectification circuit and a smoothing circuit.
  • the rectifier circuit includes, for example, a diode bridge.
  • the smoothing circuit includes, for example, a line capacitor.
  • the rectifier/smoothing unit 123 performs full-wave rectification and smoothing on the AC power from the AC power supply 400 to generate DC power. Note that the rectification/smoothing unit 123 may generate DC power by half-wave rectification and smoothing of the AC power from the AC power supply 400.
  • the inverter 124 generates transmission AC power having a transmission frequency from the DC power output by the rectification/smoothing section 123.
  • Inverter 124 is, for example, a full bridge inverter and includes multiple triacs or multiple switching elements (eg, FETs).
  • the inverter 124 generates transmission AC power through ON/OFF control of a plurality of triacs or a plurality of switching elements by the control unit 122.
  • the transmitted AC power output from the inverter 124 is output to the power transmission coil section 130.
  • the power transmission unit 120 may further include a voltage detector 125v, a current detector 125i, a voltage detector 126v, and a current detector 126i.
  • Voltage detector 125v detects a voltage value between a pair of power supply lines that connect rectifier/smoothing section 123 and inverter 124 to each other.
  • Current detector 125i detects the current value between rectifier/smoothing section 123 and inverter 124.
  • Voltage detector 126v detects a voltage value between a pair of power supply lines that connect inverter 124 and power transmission coil section 130 to each other.
  • Current detector 126i detects the current value between inverter 124 and power transmission coil section 130.
  • the voltage value detected by the voltage detector 125v, the current value detected by the current detector 125i, the voltage value detected by the voltage detector 126v, and the current value detected by the current detector 126i are sent to the control unit 122. Be notified.
  • the power transmission unit 120 includes the communication unit 121 described above.
  • the communication unit 121 includes a driver 121d, a transmitter 121tx, and a receiver 121rx.
  • the transmitter 121tx is a wireless signal transmitter or an optical signal transmitter.
  • the receiver 121rx is a radio signal receiver or an optical signal receiver.
  • the communication unit 121 drives the transmitter 121tx using the driver 121d to output the signal from the control unit 122 from the transmitter 121tx as a wireless signal or an optical signal.
  • the signal output from the transmitter 121tx is received by the communication unit 151 (see FIG. 14), which will be described later.
  • the communication unit 121 receives a signal such as the above-mentioned instruction signal from the communication unit 151 using the receiver 121rx, and inputs the received signal to the control unit 122 via the driver 121d.
  • the control unit 122 receives an instruction signal from the communication unit 151 via the communication unit 121, a voltage value detected by the voltage detector 125v, a current value detected by the current detector 125i, and a current value detected by the voltage detector 126v.
  • the inverter 124 By controlling the inverter 124 according to the voltage value and the current value detected by the current detector 126i, output and stop of the transmitted AC power are switched.
  • the power transmission coil 131, the resonant capacitor 132a, and the resonant capacitor 132b constitute a resonant circuit with respect to the transmission frequency. That is, the power transmission coil 131, the resonant capacitor 132a, and the resonant capacitor 132b have a resonant frequency that substantially matches the transmission frequency. Note that the power transmission coil section 130 does not need to include either the resonance capacitor 132a or the resonance capacitor 132b.
  • the power transmission coil section 130 may further include a metal casing 130g.
  • the metal housing 130g has an open end and is grounded.
  • the power transmission coil 131 is arranged within the metal casing 130g with an insulated distance secured therebetween.
  • Power transmission coil section 130 may further include a heat sink 134, ferrite material 135, and thermally conductive sheet 136.
  • the heat sink 134 is disposed within the metal housing 130g and is supported by the metal housing 130g. Ferrite material 135 is placed on heat sink 134 .
  • the heat conductive sheet 136 is placed on the ferrite material 135.
  • the power transmitting coil 131 is arranged on the heat conductive sheet 136, and faces the power receiving coil 141 through the open end of the metal housing 130g.
  • a resonance capacitor 132a and a resonance capacitor 132b may be further housed in the metal housing 130g.
  • the power receiving coil section 140 includes a power receiving coil 141.
  • Power receiving coil 141 is electromagnetically coupled to power transmitting coil 131 .
  • the power receiving coil section 140 may include a resonant capacitor 142a and a resonant capacitor 142b.
  • the resonant capacitor 142a is connected between one end of the power receiving coil 141 and one of the pair of power supply lines extending from the power receiving coil section 140.
  • Resonant capacitor 142b is connected between the other of the pair of power supply lines and the other end of power receiving coil 141.
  • the receiving coil 141, the resonant capacitor 142a, and the resonant capacitor 142b constitute a resonant circuit with respect to the transmission frequency.
  • the power receiving coil 141, the resonant capacitor 142a, and the resonant capacitor 142b have a resonant frequency that substantially matches the transmission frequency.
  • the power receiving coil section 140 does not need to include either the resonant capacitor 142a or the resonant capacitor 142b.
  • the power receiving coil section 140 may further include a metal casing 140g.
  • the metal housing 140g has an open end and is grounded.
  • the power receiving coil 141 is arranged within the metal casing 140g with an insulation distance secured therebetween.
  • the power receiving coil section 140 may further include a spacer 143, a heat sink 144, a ferrite material 145, and a heat conductive sheet 146.
  • the spacer 143 is disposed within the metal casing 140g and is supported by the metal casing 140g. The spacer 143 will be described later.
  • Heat sink 144 is arranged on spacer 143.
  • Ferrite material 145 is placed on heat sink 144 .
  • Thermal conductive sheet 146 is arranged on ferrite material 145.
  • the power receiving coil 141 is arranged on the heat conductive sheet 146, and faces the power transmitting coil 131 through the open end of the metal housing 140g. As shown in FIG. 11, a resonance capacitor 142a and a resonance capacitor 142b may be further housed in the metal housing 140g.
  • the spacer 143 is formed from a dielectric material and is provided between the power receiving coil 141 and the metal casing 140g (ground).
  • the spacer 143 provides a spatial stray capacitance between the power receiving coil 141 and the ground.
  • FIG. 12 is a graph illustrating impedance characteristics of a receiving coil section according to one exemplary embodiment.
  • FIG. 12 shows the impedance characteristics of the power receiving coil section 140 depending on the thickness of the spacer 143.
  • the thickness of the spacer 143 corresponds to the distance between the heat sink 144 and the metal housing 140g.
  • the power receiving coil section 140 can adjust the impedance of each of the frequency fH and the frequency fL according to the thickness of the spacer 143. Therefore, according to the power receiving coil section 140, it is possible to provide high impedance at each of the two high frequency power frequencies used in the plasma processing apparatus, such as the first RF signal and the second RF signal. . Further, since high impedance can be obtained in the power receiving coil section 140, loss of high frequency power can be suppressed and a high processing rate (for example, etching rate) can be obtained.
  • a high processing rate for example, etching rate
  • FIG. 13 is a diagram illustrating an RF filter according to one exemplary embodiment.
  • the RF filter 200 is connected between the power receiving coil section 140 and the rectification/smoothing section 150.
  • RF filter 200 includes an inductor 201a, an inductor 201b, a termination capacitor 202a, and a termination capacitor 202b.
  • One end of the inductor 201a is connected to the resonant capacitor 142a, and the other end of the inductor 201a is connected to the rectifying/smoothing section 150.
  • Termination capacitor 202a is connected between one end of inductor 201a and ground.
  • Termination capacitor 202b is connected between one end of inductor 201b and ground.
  • Inductor 201a and termination capacitor 202a form a low pass filter.
  • the inductor 201b and the termination capacitor 202b form a low-pass filter.
  • the RF filter 200 provides high impedance at each of the two radio frequency power frequencies used in the plasma processing apparatus, such as the first RF signal and the second RF signal. Therefore, loss of high frequency power is suppressed, and a high processing rate (for example, etching rate) can be obtained.
  • FIG. 14 is a diagram illustrating a rectifying and smoothing section according to one exemplary embodiment.
  • the rectification/smoothing section 150 includes a control section 152, a rectification circuit 153, and a smoothing circuit 154.
  • the rectifier circuit 153 is connected between the power receiving coil section 140 and the smoothing circuit 154.
  • Smoothing circuit 154 is connected between rectifier circuit 153 and power storage unit 160.
  • the control unit 152 includes a processor such as a CPU or a programmable logic device such as an FPGA (Field-Programmable Gate Array). Note that the control unit 152 may be the same as the control unit 122 or may be different.
  • the rectifier circuit 153 outputs power generated by full-wave rectification of the AC power from the power receiving coil section 140.
  • the rectifier circuit 153 is, for example, a diode bridge. Note that the rectifier circuit 153 may output power generated by half-wave rectification of the AC power from the power receiving coil section 140.
  • the smoothing circuit 154 generates DC power by smoothing the power from the rectifier circuit 153.
  • Smoothing circuit 154 may include an inductor 1541a, a capacitor 1542a, and a capacitor 1542b.
  • One end of the inductor 1541a is connected to one of the pair of inputs of the smoothing circuit 154.
  • the other end of the inductor 1541a is connected to the positive output (V OUT+ ) of the rectifier/smoothing section 150.
  • the positive output of the rectifying/smoothing unit 150 is connected to one or more capacitors of the power storage unit 160 via a positive line 160p (see FIGS. 23(a) and 23(b)) among a pair of power supply lines to be described later. connected to one end of each.
  • One end of the capacitor 1542a is connected to one of a pair of inputs of the smoothing circuit 154 and one end of the inductor 1541a.
  • the other end of the capacitor 1542a is connected to the other of the pair of outputs of the smoothing circuit 154 and the negative output (V OUT- ) of the rectifier/smoothing section 150.
  • the negative output of the rectifier/smoothing unit 150 is connected to one or more capacitors of the power storage unit 160 via a negative line 160m (see FIGS. 23(a) and 23(b)) among a pair of power supply lines described later. are connected to the other end of each.
  • One end of capacitor 1542b is connected to the other end of inductor 1541a.
  • the other end of the capacitor 1542b is connected to the other of the pair of outputs of the smoothing circuit 154 and the negative output (V OUT ⁇ ) of the rectifier/smoothing section 150.
  • the rectification/smoothing section 150 may further include a voltage detector 155v and a current detector 155i.
  • Voltage detector 155v detects a voltage value between the positive output and negative output of rectifier/smoothing section 150.
  • Current detector 155i detects a current value between rectifier/smoothing section 150 and power storage section 160. The voltage value detected by the voltage detector 155v and the current value detected by the current detector 155i are notified to the control unit 152.
  • Control unit 152 generates the above-mentioned instruction signal according to the power stored in power storage unit 160.
  • control unit 152 when the power stored in power storage unit 160 is less than or equal to a first threshold value, control unit 152 generates an instruction signal to instruct power transmission unit 120 to supply power, that is, to output transmitted AC power.
  • the first threshold value is, for example, the power consumption in a load such as the power consumption member 240.
  • a value obtained by multiplying the power consumption in a load such as the power consuming member 240 by a certain value may be used in consideration of margin.
  • control unit 152 if the power stored in power storage unit 160 is larger than the second threshold, control unit 152 instructs power transmission unit 120 to stop power supply, that is, to stop outputting transmitted AC power. generates an instruction signal.
  • the second threshold is a value that does not exceed the limit stored power of power storage unit 160.
  • the second threshold is, for example, a value obtained by multiplying the limit stored power of power storage unit 160 by a certain value (for example, a value of 1 or less).
  • the rectification/smoothing section 150 includes the communication section 151 described above.
  • the communication unit 151 includes a driver 151d, a transmitter 151tx, and a receiver 151rx.
  • the transmitter 151tx is a wireless signal transmitter or an optical signal transmitter.
  • the receiver 151rx is a radio signal receiver or an optical signal receiver.
  • the communication unit 151 drives the transmitter 151tx using the driver 151d to output a signal from the control unit 122, such as an instruction signal, from the transmitter 151tx as a wireless signal or an optical signal.
  • the signal output from the transmitter 151tx is received by the communication unit 121 of the power transmission unit 120.
  • the communication unit 151 receives a signal from the communication unit 121 using the receiver 151rx, and inputs the received signal to the control unit 152 via the driver 151d.
  • FIG. 15 is a diagram illustrating an RF filter 190 according to one exemplary embodiment.
  • the signal line 1250 is a first signal line that electrically connects the signal output (Tx) of the power transmission section 120 and the signal input (Rx) of the rectification/smoothing section 150, and It may include a second signal line that electrically connects the signal input (Rx) of the rectifying/smoothing section 150 to the signal output (Tx) of the rectifying/smoothing section 150.
  • the RF filter 190 provides a low pass filter to each of the plurality of signal lines that make up signal line 1250.
  • the low pass filter may be an LC filter including an inductor and a capacitor.
  • the inductor of the low-pass filter forms part of the corresponding signal line.
  • the capacitor is connected between one end of the inductor connected to power transmission section 120 and ground. According to the RF filter 190, it is possible to suppress the propagation of high frequency power (high frequency noise) via the signal line 1250 between the rectification/smoothing section 150 and the power transmission section 120.
  • FIG. 16 is a diagram illustrating a communication section of a power transmission section and a communication section of a rectification/smoothing section according to an exemplary embodiment.
  • FIGS. 17 and 18 each schematically illustrate a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the communication unit 121 and the communication unit 151 transmit signals such as the above-mentioned instruction signal via wireless communication between each other. It may be configured as follows. Communication via wireless communication may be performed by optical communication. When the communication unit 121 and the communication unit 151 transmit signals between them via wireless communication, the communication unit 121 and the communication unit 151 can be placed at any position unless a shield is interposed between them.
  • the signal line 1250 may be a shielded cable covered with a shield at ground potential.
  • the plurality of signal lines constituting the signal line 1250 may be individually covered with a shield one by one, or may be covered with a shield all together.
  • FIG. 19 is a diagram illustrating a communication section of a power transmission section and a communication section of a rectification/smoothing section according to another exemplary embodiment.
  • FIGS. 20-22 schematically illustrates a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the communication unit 121 and the communication unit 151 communicate signals (optical signals) such as the above-mentioned instruction signal between each other via an optical fiber 1260, that is, by optical fiber communication. It may be configured to perform transmission.
  • the communication unit 121 and the communication unit 151 transmit signals between them via the optical fiber 1260
  • the communication unit 121 and the communication unit 151 make sure that the bending radius of the optical fiber 1260 is within an allowable range. For example, it may be placed at any position. In the examples shown in these figures, the RF filter 190 is also unnecessary.
  • FIGS. 23A and 23B are diagram illustrating a power storage unit according to one exemplary embodiment.
  • power storage unit 160 includes a capacitor 161.
  • the capacitor 161 is connected between a pair of power supply lines, that is, a positive line 160p and a negative line 160m.
  • the positive line 160p extends from the positive output (V OUT+ ) of the rectifying/smoothing section 150 toward the load.
  • the negative line 160m extends from the negative output (V OUT- ) of the rectifying/smoothing section 150 toward the load.
  • Capacitor 161 may be a polar capacitor.
  • Capacitor 161 may be an electric double layer or a lithium ion battery.
  • FIG. 24 is a diagram illustrating a voltage controlled converter according to one exemplary embodiment.
  • Voltage control converter 170 is a DC-DC converter. Voltage control converter 170 is connected between power storage unit 160 and constant voltage control unit 180. A positive line 160p is connected to the positive input (V IN+ ) of the voltage controlled converter 170. A negative line 160m is connected to the negative input (V IN- ) of the voltage control converter 170. A positive output (V OUT+ ) of the voltage control converter 170 is connected to a positive input (V IN+ ) of the constant voltage control section 180 . A negative output (V OUT- ) of the voltage control converter 170 is connected to a negative input (V IN- ) of the constant voltage control section 180.
  • the transformer 174 includes a primary coil 1741, a secondary coil 1742, and a switch 1743.
  • the other end of the primary coil 1741 is connected to the negative input (V IN- ) of the voltage control converter 170 via a switch 1743.
  • One end of the secondary coil 1742 is connected to one end of the capacitor 175 and the positive output (V OUT+ ) of the voltage control converter 170.
  • the other end of the secondary coil 1742 is connected to the other end of the capacitor 175 and the negative output (V OUT ⁇ ) of the voltage control converter 170.
  • a driver 1744 is connected to the switch 1743.
  • Driver 1744 opens and closes switch 1743.
  • the switch 1743 is closed, that is, when the other end of the primary coil 1741 and the negative input (V IN- ) are in a conductive state, the other end of the primary coil 1741 is connected to the negative input (V IN- ) , and the DC power from the voltage control converter 170 is applied to the constant voltage control section 180.
  • Voltage controlled converter 170 may further include a voltage detector 176v and a current detector 176i.
  • Voltage detector 176v detects the voltage value between both ends of secondary coil 1742 or the voltage value between the positive output and negative output of voltage control converter 170.
  • Current detector 176i measures the current value between the other end of secondary coil 1742 and the negative output of voltage control converter 170.
  • the control unit 172 is notified of the voltage value detected by the voltage detector 176v and the current value detected by the current detector 176i. Note that the control section 172 may be the same as or different from at least one of the control section 122 and the control section 152.
  • Control unit 172 controls driver 1744 to cut off the supply of DC power from voltage control converter 170 to constant voltage control unit 180 when the voltage value detected by voltage detector 176v is equal to or higher than the threshold value.
  • the voltage value between the positive output and the negative output of voltage control converter 170 is the sum of the output voltage value of voltage control converter 170 and the line potential difference due to normal mode noise. In this embodiment, damage to the load of voltage control converter 170 due to overvoltage caused by line potential difference due to normal mode noise can be suppressed.
  • Constant voltage control unit 180 is connected between power storage unit 160 and at least one power consumption member 240, and controls application of voltage (application of DC voltage) to at least one power consumption member 240 and stopping thereof. It is configured as follows.
  • Constant voltage control section 180 includes a control section 182 and at least one switch 183.
  • a positive input (V IN+ ) of the constant voltage control section 180 is connected to the power consumption member 240 via a switch 183 .
  • a negative input (V IN- ) of the constant voltage control section 180 is connected to the power consumption member 240.
  • Switch 183 is controlled by control section 182. When switch 183 is closed, DC voltage from constant voltage control section 180 is applied to power consumption member 240 . When switch 183 is open, application of DC voltage from constant voltage control section 180 to power consumption member 240 is stopped.
  • the control unit 182 may be the same as or different from at least one of the control unit 122, the control unit 152, and the control unit 172.
  • the plasma processing apparatus includes a plurality of power consuming members 240.
  • Constant voltage control section 180 includes a control section 182 and a plurality of switches 183.
  • a positive input (V IN+ ) of the constant voltage control section 180 is connected to a plurality of power consumption members 240 via a plurality of switches 183 .
  • a negative input (V IN- ) of the constant voltage control section 180 is connected to the plurality of power consumption members 240.
  • the plurality of power consuming members 240 may include a plurality of heaters (resistance heating elements).
  • a plurality of heaters may be provided within the substrate support section 11.
  • a plurality of resistors 260 are arranged near each of the plurality of heaters.
  • Each of the plurality of resistors 260 has a resistance value that changes depending on temperature.
  • Each of the plurality of resistors 260 is, for example, a thermistor.
  • Each of the plurality of resistors 260 is connected in series with a reference resistor (not shown).
  • Constant voltage control section 180 includes a plurality of measurement sections 184.
  • Each of the plurality of measurement units 184 applies a reference voltage to a series connection of a corresponding resistor among the plurality of resistors 260 and a reference resistor, and detects a voltage value between both ends of the resistor.
  • Each of the plurality of measurement units 184 notifies the control unit 182 of the detected voltage value.
  • the control unit 182 identifies the temperature of the region where the corresponding heater is arranged among the plurality of heaters from the notified voltage value, and controls the DC voltage to the corresponding heater so as to bring the temperature of the region closer to the target temperature.
  • an optical fiber thermometer may be arranged instead of the plurality of resistors 260. In this case, since wiring between the plurality of resistors 260 and the plurality of measurement units 184 is not necessary, the influence of high frequency conductive noise on the power consumption member 240 can be eliminated.
  • the constant voltage control section 180 includes a voltage detector 185v and a plurality of current detectors 185i.
  • Voltage detector 185v detects the voltage value applied to each of the plurality of heaters.
  • the plurality of current detectors 185i measure the value of the current supplied to the corresponding heater among the plurality of heaters, that is, the current value.
  • the plurality of measurement units 184 measure the resistance value of a corresponding one of the plurality of heaters by measuring the current value detected by the corresponding one of the plurality of current detectors 185i and the voltage value detected by the voltage detector 185v.
  • the control unit 182 Specify from The control unit 182 identifies the temperature of each of the plurality of regions in which each of the plurality of heaters is arranged, based on the detected resistance value of each of the plurality of heaters.
  • the control unit 182 controls the application of DC voltage to each of the plurality of heaters so that the temperature of each of the plurality of regions approaches the target temperature.
  • FIG. 27 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the plasma processing apparatus 100G shown in FIG. 27 will be described below from the viewpoint of differences from the plasma processing apparatus 100E shown in FIG. 7.
  • power storage unit 160 is not integrated with voltage control converter 170 and constant voltage control unit 180.
  • power storage unit 160 includes a pair of input switches 160SI and a pair of output switches 160SO.
  • Power storage unit 160 is connected to rectification/smoothing unit 150 via a pair of input switches 160SI.
  • Power storage unit 160 is connected to voltage control converter 170 via a pair of output switches 160SO.
  • the other configuration of the plasma processing apparatus 100G is similar to the corresponding configuration of the plasma processing apparatus 100E.
  • the method of controlling the amount of stored power includes a method of charging power storage unit 160 when power storage unit 160 is mounted on plasma processing apparatus 100G.
  • connection of power storage unit 160 to rectification/smoothing unit 150 is established by setting a pair of input switches 160SI to the ON state (conducting state).
  • connection of power storage unit 160 to voltage control converter 170 is established.
  • processing in the initial charging mode is performed.
  • power storage unit 160 is charged by wireless power supply using power transmission unit 120, power transmission coil unit 130, and power reception coil unit 140.
  • power transmission unit 120 operates in the initial charging mode.
  • Control unit 152 of rectification/smoothing unit 150 indicates completion of charging via communication unit 151 and communication unit 121 when the voltage value of power storage unit 160 detected by voltage detector 155v has reached a predetermined value.
  • the signal is transmitted to power transmission section 120.
  • the control unit 122 of the power transmission unit 120 receives a signal indicating the completion of charging, the control unit 122 shifts from the initial charging mode to the normal operation mode.
  • FIG. 28 is a diagram for explaining charging of the power storage unit of the plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • power storage unit 160 may be charged before being mounted on plasma processing apparatus 100G, and then mounted on plasma processing apparatus 100G.
  • power storage unit 160 may be connected to DC stabilized power supply 510 via a pair of input switches 160SI before being mounted on plasma processing apparatus 100G.
  • the positive electrode of power storage unit 160 may be connected to the positive output of DC stabilized power supply 510 via one of a pair of input switches 160SI and a backflow prevention diode.
  • a pair of input switches 160SI are set to an ON state, and a pair of output switches 160SO are set to an OFF state (non-conducting state).
  • pair of input switches 160SI are set to the OFF state.
  • the charged power storage unit 160 is then mounted on the plasma processing apparatus 100G, connected to the rectifying/smoothing unit 150 via a pair of input switches 160SI, and connected to the voltage control converter 170 via a pair of output switches 160SO. be done. After that, the pair of input switches 160SI and the pair of output switches 160SO are set to the ON state.
  • the method for controlling the amount of power stored in power storage unit 160 may further include a method for discharging power storage unit 160.
  • a pair of input switches 160SI and a pair of output switches 160SO are set to an OFF state (non-conducting state).
  • power storage unit 160 is removed from plasma processing apparatus 100G.
  • the power of power storage unit 160 is discharged to a dummy load or the like connected to power storage unit 160.
  • FIG. 29 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 30 is a diagram showing a state in which a power receiving coil section is connected to the rectifying/smoothing section of the plasma processing apparatus shown in FIG. 29.
  • FIG. 31 is a diagram showing a state in which a DC stabilized power source is connected to the rectifying/smoothing section of the plasma processing apparatus shown in FIG. 29.
  • the plasma processing apparatus 100H shown in FIG. 29 will be described below from the viewpoint of differences from the plasma processing apparatus 100G shown in FIG. 27.
  • the rectification/smoothing section 150 further includes a display 156, a driver 156d, and a power supply input connector 157.
  • the power supply input connector 157 is provided so as to be accessible from the outside of the ground frame 110. That is, the ground frame 110 is provided with an opening 110w that allows access to the power supply input connector 157 from the outside of the ground frame 110.
  • Power supply input connector 157 includes a first power supply input terminal 1571 and a second power supply input terminal 1572. In the examples of FIGS. 30 and 31, each of the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572 is a female terminal, but may be a male terminal.
  • the rectification circuit 153 includes a diode bridge. Rectifier circuit 153 is connected between power supply input connector 157 and power storage unit 160. Rectifier circuit 153 is connected to power storage unit 160 via smoothing circuit 154.
  • the plasma processing apparatus 100H further includes a power supply output connector 450.
  • the power supply output connector 450 includes a first power supply output terminal 451 and a second power supply output terminal 452, and is detachable from the power supply input connector 157.
  • the first power supply output terminal 451 and the second power supply output terminal 452 can be electrically connected to the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572.
  • the first power supply output terminal 451 and the second power supply output terminal 452 are electrically connected to the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572 through the opening 110w.
  • the power supply output connector 450 may further include an insulating member 453.
  • the first power supply output terminal 451 and the second power supply output terminal 452 penetrate the insulating member 453 and protrude from the insulating member 453.
  • the insulating member 453 is connected to the first power supply output terminal 451 and the second power supply output terminal 452 when the first power supply output terminal 451 and the second power supply output terminal 452 are connected to the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572. 451 and the second power supply output terminal 452 and the ground frame 110.
  • the power receiving coil section 140 is arranged outside the ground frame 110, that is, in the space 110a, and is connected to the power supply output connector 450. That is, the power receiving coil 141 is connected to the first power supply output terminal 451 and the second power supply output terminal 452.
  • the RF filter 200 may be connected between the power receiving coil 141 and each of the first power supply output terminal 451 and the second power supply output terminal 452.
  • the power supply output connector 450 is connected to the power supply input connector 157.
  • power receiving coil section 140 arranged outside ground frame 110 is connected to power storage section 160 via power supply output connector 450, power supply input connector 157, and rectification/smoothing section 150.
  • the power receiving coil section 140 is integrated with the power transmitting coil section 130.
  • a fan 134f is attached to the power receiving coil section 140 and the power transmitting coil section 130 to cool them. Note that in the example shown in FIG.
  • the fan 134f is attached to the left side of the power receiving coil section 140 and the power transmitting coil section 130, but the position where the fan 134f is attached is limited to the example shown in FIG. isn't it.
  • the fan 134f may be attached to the right side of the power receiving coil section 140 and the power transmitting coil section 130, or may be attached below.
  • the ground frame 110 of the plasma processing apparatus 100H may further include an optical window 110v.
  • the optical window 110v is interposed between the display 156 and the space outside the ground frame 110 so that the display 156 can be viewed from outside the ground frame 110.
  • the optical window 110v can be opened and closed by a metal shielding member 110c.
  • the optical window 110v is closed by the shielding member 110c when the power receiving coil section 140 is electrically connected to the rectifying/smoothing section 150.
  • the shielding member 110c and the ground frame 110 are electrically connected.
  • FIG. 32 is a timing chart of an example of the voltage of the power storage unit
  • (b) of FIG. 32 is a timing chart of an example of the current supplied to the power storage unit.
  • the method of controlling the amount of power stored in power storage unit 160 includes a method of charging power storage unit 160.
  • power supply unit 500 is used to charge power storage unit 160.
  • Power supply unit 500 includes a DC stabilized power supply 510 and a power supply connector 520.
  • the power supply connector 520 includes a first power supply terminal 521 and a second power supply terminal 522, and is detachable from the power supply input connector 157.
  • the first power supply terminal 521 and the second power supply terminal 522 are connected to a DC stabilized power supply 510 arranged outside the ground frame 110, that is, in the space 110a.
  • the first power supply terminal 521 and the second power supply terminal 522 can be electrically connected to the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572.
  • the power supply connector 520 may further include an insulating member 523.
  • the first power supply terminal 521 and the second power supply terminal 522 penetrate the insulating member 523 and protrude from the insulating member 523.
  • the insulating member 523 is connected to the first power feeding terminal 521 and the second power feeding terminal 522.
  • the ground frame 110 is interposed between each of the two power supply terminals 522 and the ground frame 110.
  • the charging state of power storage unit 160 is monitored by control unit 152.
  • the voltage value of power storage unit 160 may be monitored by control unit 152 using voltage detector 155v.
  • the value of the current flowing from DC stabilized power supply 510 to power storage unit 160 ie, current value
  • control unit 152 using current detector 155i.
  • control unit 152 monitors the voltage value of power storage unit 160 and determines when the voltage value of power storage unit 160 has reached set voltage value V SET . Charging of power storage unit 160 may be completed (i.e., stopped) at time tA or after time TA and before time tE , which will be described later. Alternatively, control unit 152 monitors the voltage value of power storage unit 160 and the current value from DC stabilized power supply 510 to power storage unit 160, and determines the time t A when the voltage value of power storage unit 160 reaches set voltage value V SET . After that, charging of power storage unit 160 may be completed (i.e., stopped) at time tE when the current value reaches threshold value ITH .
  • the threshold value ITH is set, for example, to a value necessary for starting the control unit 152.
  • the threshold value I TH may be set to 0.5A, for example.
  • Control unit 152 transmits a signal to DC stabilized power supply 510 to stop power supply by DC stabilized power supply 510 through communication via communication unit 121 and communication unit 151, and thereby stops charging of power storage unit 160. It's okay.
  • the control unit 152 may display the charging state of the power storage unit 160 using the display 156.
  • Indicator 156 may include a semiconductor light emitting device (ie, an LED).
  • Control unit 152 may control driver 156d to cause display 156 to display a state of charge of power storage unit 160. Note that in this case, the optical window 110v is opened so that the display 156 can be viewed from outside the ground frame 110.
  • the indicator 156 may indicate whether charging of the power storage unit 160 is completed by turning on or turning off the LED. Alternatively, indicator 156 may indicate the charging state of power storage unit 160 by the color of the LED light. For example, indicator 156 may indicate that the voltage value of power storage unit 160 is a voltage value at which rectification/smoothing unit 150 can operate by emitting green light. Further, the indicator 156 may indicate, by emitting orange light, that the voltage value of the power storage unit 160 is a voltage value at which the rectifying/smoothing unit 150 can operate, but that there is room for charging. Further, the indicator 156 may indicate by emitting red light that the voltage value of the power storage unit 160 is such that the rectifier/smoothing unit 150 cannot operate and that charging is required.
  • display 156 may include a 7-segment LED, and may display a numerical value representing the voltage value of power storage unit 160 using the 7-segment LED. Note that when display 156 is used, charging of power storage unit 160 may be manually stopped by the operator when charging is completed.
  • first power supply input terminal 1571 and second power supply input terminal 1572 are connected to power storage unit 160 via a diode bridge of rectification circuit 153 of rectification/smoothing unit 150. Therefore, in order to charge power storage unit 160, it is possible to electrically connect DC stabilized power supply 510 to power storage unit 160 without using a backflow prevention circuit. Further, when electrically connecting the power receiving coil unit 140 to the rectifying/smoothing unit 150 after charging of the power storage unit 160 is completed (see FIG. 30), the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572 is not charged. Therefore, electric shock to the worker is prevented.
  • FIG. 33 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 34 is a diagram showing a state in which the power receiving coil section is connected to the rectifying/smoothing section of the plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 35 is a diagram showing a state in which a DC stabilized power source is connected to the rectifying/smoothing section of the plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 36 is a diagram showing a state in which a discharge unit is connected to a rectifying/smoothing section of a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the plasma processing apparatus 100J shown in FIG. 33 will be described below from the viewpoint of differences from the plasma processing apparatus 100H shown in FIG. 29.
  • the rectification/smoothing section 150 includes a driver 156d and a power supply input connector 157, similar to the rectification/smoothing section 150 of the plasma processing apparatus 100H.
  • the plasma processing apparatus 100J includes a power supply output connector 450 similarly to the plasma processing apparatus 100H.
  • the rectification/smoothing section 150 further includes a display 1561, a display 1562, and a discharge output connector 158.
  • the power supply output connector 450 is connected to the power supply input connector 157.
  • power receiving coil section 140 arranged outside ground frame 110 is connected to power storage section 160 via power supply output connector 450, power supply input connector 157, and rectification/smoothing section 150.
  • the power receiving coil section 140 is integrated with the power transmitting coil section 130.
  • a fan 134f is attached to the power receiving coil section 140 and the power transmitting coil section 130 to cool them.
  • the fan 134f is attached to the right side of the power receiving coil section 140 and the power transmitting coil section 130, but the position where the fan 134f is attached is not limited to the example shown in FIG. do not have.
  • the fan 134f may be attached above or below the power receiving coil section 140 and the power transmitting coil section 130.
  • the power supply output connector 450 may further include an insulating section 454.
  • the insulating section 454 is made of an insulating material.
  • the insulating part 454 is connected to each of the first discharge output terminal 1581 and the second discharge output terminal 1582. It may also be a pair of insulated pins inserted therein.
  • the insulating portion 454 may be an insulating cap that covers the first discharge output terminal 1581 and the second discharge output terminal 1582.
  • FIG. 37 is a timing chart of an example of the voltage of the power storage unit.
  • the method for controlling the amount of power stored in power storage unit 160 of plasma processing apparatus 100J includes a method for charging power storage unit 160.
  • power supply output connector 450 is removed from power supply input connector 157, and power receiving coil unit 140 is removed from plasma processing apparatus 100H.
  • Power supply unit 500 includes DC stabilized power supply 510 and power supply connector 520, as described above in connection with charging power storage unit 160 of plasma processing apparatus 100H.
  • the first power supply terminal 521 and the second power supply terminal 522 are electrically connected to the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572 through the opening 110w.
  • power storage unit 160 of plasma processing apparatus 100J power is supplied from DC stabilized power supply 510 to power storage unit 160, and power storage unit 160 is charged.
  • the charging state of power storage unit 160 is monitored by control unit 152.
  • the voltage value of power storage unit 160 may be monitored by control unit 152 using voltage detector 155v.
  • the value of the current flowing from DC stabilized power supply 510 to power storage unit 160 ie, current value
  • control unit 152 using current detector 155i.
  • control unit 152 monitors the voltage value of power storage unit 160 and determines when the voltage value of power storage unit 160 has reached set voltage value V SET . Charging of power storage unit 160 may be completed (i.e., stopped) at time tA or after time TA and before time tE , which will be described later. Alternatively, control unit 152 monitors the voltage value of power storage unit 160 and the current value from DC stabilized power supply 510 to power storage unit 160, and determines the time t A when the voltage value of power storage unit 160 reaches set voltage value V SET . After that, charging of power storage unit 160 may be completed (i.e., stopped) at time tE when the current value reaches threshold value ITH . The control unit 152 may transmit a signal to the DC stabilized power supply 510 to stop power supply by the DC stabilized power supply 510 through communication via the communication unit 121 and the communication unit 151, and thereby stop charging.
  • the control unit 152 may display the charging state of the power storage unit 160 using the display 1561.
  • the display 1561 may include a semiconductor light emitting element (namely, an LED) similarly to the display 156 in the plasma processing apparatus 100H.
  • Control unit 152 may control driver 156d to cause display 1561 to display a state of charge of power storage unit 160.
  • the insulating member 523 may be formed of an optically transparent material so that the display 1561 can be viewed from outside the ground frame 110.
  • the display showing the charging state of power storage unit 160 on display 1561 may be similar to the display on display 156 in plasma processing apparatus 100H.
  • the power supply unit 500 may further include a tester 530.
  • the power supply connector 520 may include a pair of tester terminals 524.
  • the pair of tester terminals 524 can be connected to the first discharge output terminal 1581 and the second discharge output terminal 1582, and can also be disconnected from the first discharge output terminal 1581 and the second discharge output terminal 1582. It is possible.
  • the pair of tester terminals 524 is connected to the first discharge output terminal when the first power supply terminal 521 and the second power supply terminal 522 are connected to the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572. 1581 and a second discharge output terminal 1582.
  • the pair of tester terminals 524 connect to the first discharge output terminal 1581. and separated from the second discharge output terminal 1582.
  • the tester 530 monitors the voltage value of the power storage unit 160. Therefore, when power storage unit 160 is charged from DC stabilized power supply 510, the state of charge of power storage unit 160 can be monitored by tester 530.
  • first power supply input terminal 1571 and second power supply input terminal 1572 are connected to power storage unit 160 via a diode bridge of rectification circuit 153 of rectification/smoothing unit 150. Therefore, in order to charge power storage unit 160, it is possible to electrically connect DC stabilized power supply 510 to power storage unit 160 without using a backflow prevention circuit. In addition, when electrically connecting the power receiving coil unit 140 to the rectifying/smoothing unit 150 after charging of the power storage unit 160 is completed (see FIG. 34), the first power supply input terminal 1571 and the second power supply input terminal 1572 is not charged. Therefore, electric shock to the worker is prevented.
  • the method of controlling the amount of power stored in power storage unit 160 of plasma processing apparatus 100J includes a method of discharging power storage unit 160.
  • power supply output connector 450 is removed from power supply input connector 157, and power receiving coil unit 140 is removed from plasma processing apparatus 100H.
  • a discharge unit 600 is used as shown in FIG. 36.
  • the discharge unit 600 includes a discharge load 610 and a discharge connector 620.
  • Discharge unit 600 may further include fan 630. Fan 630 is provided to cool discharge load 610.
  • the discharge connector 620 includes a first discharge terminal 621 and a second discharge terminal 622, and is detachable from the discharge output connector 158.
  • the first discharge terminal 621 and the second discharge terminal 622 are connected to a discharge load 610 arranged outside the ground frame 110, that is, in the space 110a.
  • the first discharge terminal 621 and the second discharge terminal 622 can be electrically connected to the first discharge output terminal 1581 and the second discharge output terminal 1582.
  • the first discharge terminal 621 may be connected to the discharge load 610 via a switch 624.
  • the first discharge terminal 621 and the second discharge terminal 622 are set so that the switch 624 is set to the OFF state (that is, the non-conducting state). In this state, it is connected to the first discharge output terminal 1581 and the second discharge output terminal 1582.
  • the first discharge terminal 621 and the second discharge terminal 622 are electrically connected to the first discharge output terminal 1581 and the second discharge output terminal 1582 through the opening 110w.
  • the discharge connector 620 may further include an insulating member 623. The first discharge terminal 621 and the second discharge terminal 622 penetrate the insulating member 623 and protrude from the insulating member 623.
  • the insulating member 623 is connected to the first discharge terminal 621 and the second discharge terminal 622.
  • the ground frame 110 is interposed between each of the two discharge terminals 622 and the ground frame 110.
  • the voltage value of power storage unit 160 decreases from the voltage value VS at the time when power storage unit 160 starts discharging. Discharging of power storage unit 160 is completed at time t F when the voltage value of power storage unit 160 reaches threshold value V TH and is stopped.
  • the threshold value V TH is set, for example, to a value that does not allow the control unit 152 to be activated and does not affect the human body.
  • the threshold value V TH may be set to 2.5V, for example.
  • the control unit 152 may display the discharge state of the power storage unit 160 using the display 1562.
  • Indicator 1562 may include a semiconductor light emitting device (ie, an LED).
  • Control unit 152 may control driver 156d to cause display 1562 to display the discharge state of power storage unit 160.
  • the insulating member 523 may be made of an optically transparent material so that the display 1562 can be viewed from outside the ground frame 110.
  • indicator 1562 may be configured to become inoperable and turn off when power storage unit 160 is completely discharged.
  • the plasma processing apparatus 100J may have a single display that is used in the same way as both the display 1561 and the display 1562 instead of the display 1561 and the display 1562.
  • FIG. 38 is a diagram schematically illustrating a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • FIG. 39 is a diagram illustrating a configuration related to discharging a power storage unit in a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the plasma processing apparatus 100K shown in FIG. 38 will be described below from the viewpoint of differences from the plasma processing apparatus 100E shown in FIG. 7.
  • the plasma processing apparatus 100K further includes a discharge load 65, a plurality of switches 66, and a display 67.
  • the discharge load 65 is a load provided only for discharging the power storage unit 160, that is, a discharge-only load, or at least one of the plurality of power consumption members 240 described above (for example, at least one heater). be.
  • the discharge load 65 is placed at least an insulation distance away from the ground frame 110.
  • the plurality of switches 66 may be provided in the non-decompression space of the space 110h so as to be accessible from the outside of the ground frame 110.
  • the display 67 may be provided so as to be visible from the outside of the ground frame 110.
  • one end of discharge load 65 is connected to one of a pair of power supply lines (for example, positive line 160p) that connects rectifier/smoothing section 150 and power storage section 160.
  • the other end of the discharge load 65 is connected to the other of the pair of power supply lines (for example, the negative line 160m).
  • the plurality of switches 66 include a discharge mode switch 660 and a switch 662 (or a direct mode switch). Further, the display 67 includes a display section 670 and a display section 672. Each of display section 670 and display section 672 is a discharge state display section configured to represent the discharge state of power storage section 160, and may be an LED.
  • the discharge mode switch 660 and the display section 670 are connected in series to the control section 152. Further, switch 662 is connected between discharge load 65 and one of a pair of power supply lines (for example, positive line 160p) that connects rectifier/smoothing section 150 and power storage section 160 to each other. Display unit 672 is connected to power storage unit 160 in parallel with discharge load 65 .
  • a pair of power supply lines for example, positive line 160p
  • the discharge mode switch 660 may be set to the ON state as a hardware interlock when an abnormality occurs in the plasma processing apparatus 100K.
  • discharge mode switch 660 may be manually set to the ON state by an operator in order to discharge power storage unit 160.
  • the switch 662 may be manually set to the ON state by an operator when the discharge mode switch 660 is set to the ON state, or may be set to the ON state under control by the control unit 2 or the control unit 152. It's okay.
  • discharge mode switch 660 and switch 662 may be manually set to the OFF state by an operator, or may be set to OFF state by control by control unit 2 or control unit 152. It's okay.
  • the switch 662 may also be used as the discharge mode switch 660.
  • the method for controlling the amount of power stored in power storage unit 160 of plasma processing apparatus 100K includes a method for discharging power storage unit 160. Discharging of power storage unit 160 starts when discharge mode switch 660 and switch 662 are set to the ON state. When discharge mode switch 660 and switch 662 are set to the ON state, the power of power storage unit 160 is discharged to discharge load 65.
  • the voltage value of power storage unit 160 decreases from the voltage value VS at the start of discharging of power storage unit 160 (see FIG. 37). Discharging of power storage unit 160 is completed at time t F when the voltage value of power storage unit 160 reaches threshold value V TH and is stopped. After the discharge of power storage unit 160 is completed, discharge mode switch 660 and switch 662 are set to the OFF state.
  • the display unit 670 and the display unit 672 perform display (for example, LED light emission) indicating the discharge state of the power storage unit 160 while the power storage unit 160 is discharging.
  • Display unit 670 and display unit 672 may be configured to become inoperable and turn off when power storage unit 160 is completely discharged.
  • the power of power storage unit 160 is discharged to discharge load 65, but the power of power storage unit 160 may be discharged to a load other than discharge load 65.
  • the power of power storage unit 160 may be discharged to at least one of the plurality of power consumption members 240.
  • FIG. 40 is a diagram illustrating a configuration related to discharging a power storage unit in a plasma processing apparatus according to yet another exemplary embodiment.
  • the configuration related to discharging power storage unit 160 shown in FIG. 40 may be employed in plasma processing apparatus 100K.
  • the embodiment of FIG. 40 will be described below from the viewpoint of differences from the embodiment of FIG. 39.
  • the discharge load 65 may be a discharge-only load.
  • the plurality of switches 66 include a discharge mode switch 660, a switch 661 (primary discharge mode switch), and a switch 662 (direct mode switch or secondary discharge mode switch).
  • the display 67 also includes a display section 67a (direct discharge mode display section), a display section 67b (two-stage discharge mode display section), a display section 671 (primary discharge state display section), and a display section 672 (direct mode discharge mode display section). status display section or secondary discharge state display section).
  • Each of the display section 67a, the display section 67b, the display section 671, and the display section 672 may be an LED.
  • the discharge mode switch 660 is connected to the control section 152.
  • the display section 67a and the display section 67b are connected in parallel between the discharge mode switch 660 and the control section 152.
  • the switch 661 and the display section 671 are connected in series to the control section 152.
  • switch 662 is connected between discharge load 65 and one of a pair of power supply lines (for example, positive line 160p) that connects rectifier/smoothing section 150 and power storage section 160 to each other.
  • Display unit 672 is connected to power storage unit 160 in parallel with discharge load 65 .
  • the discharge mode switch 660 may be set to the ON state as a hardware interlock when an abnormality occurs in the plasma processing apparatus 100K.
  • discharge mode switch 660 may be manually set to the ON state by an operator in order to discharge power storage unit 160.
  • the discharge mode switch 660 When the discharge mode switch 660 is set to the ON state, the discharge mode switch 660 is selectively connected to one of the display section 67a and the display section 67b.
  • the switch 662 When the discharge mode switch 660 is connected to the display unit 67a, the switch 662 is set to the ON state, and the discharge of the power storage unit 160 using only the discharge load 65 (i.e., , direct mode discharge).
  • the display unit 67a provides a display (e.g., LED light emission) indicating that direct mode discharge is being performed.
  • the display unit 672 provides a display (e.g., LED light emission) indicating that direct mode discharge is being performed.
  • the display unit 67b provides a display (e.g., LED light emission) indicating that discharge is being performed in the two-stage discharge mode.
  • the display unit 67b provides a display (e.g., LED light emission) indicating that discharge is being performed in the two-stage discharge mode.
  • switch 661 is set to the ON state, and the power of power storage unit 160 is supplied to at least one of the plurality of power consumption members 240 (for example, at least one (heater).
  • the display unit 671 performs a display (for example, light emission from an LED) indicating that the first stage of discharge is being performed.
  • switch 661 In discharging in the two-stage discharge mode, in the second stage, switch 661 is set to the OFF state, switch 662 is set to the ON state, and the power of power storage unit 160 is discharged to discharge load 65. At this time, the display unit 672 displays a display (e.g., LED light emission) indicating that the second stage of discharge is being performed.
  • a display e.g., LED light emission
  • the states of each of the discharge mode switch 660, the switch 661, and the switch 662 may be switched manually by the operator, or may be switched under the control of the control unit 2 or the control unit 152. Good too.
  • the switch 661 may also be used for switching the discharge mode switch 660 to the two-stage discharge mode.
  • the switch 662 may also be used for switching the discharge mode switch 660 to the direct discharge mode. That is, the discharge mode switch 660 may also serve as at least one of the switch 661 and the switch 662.
  • the method of controlling the amount of power stored in power storage unit 160 of plasma processing apparatus 100K includes a method of discharging power storage unit 160.
  • the discharge of power storage unit 160 includes direct mode discharge and two-stage discharge mode.
  • a method of discharging power storage unit 160 in the two-stage discharge mode will be described below with reference to FIG. 41.
  • FIG. 41 is a timing chart of an example of the voltage of the power storage unit.
  • the discharging method in the two-stage discharge mode starts when the discharge mode switch 660 is switched to select the two-stage discharge mode (connection to the display section 67b), and the switch 661 is set to the ON state. . Then, the first stage of discharge is performed. In the first stage of discharge, the power of power storage unit 160 is discharged to at least one (for example, at least one heater) of the plurality of power consumption members 240 described above.
  • the voltage value of power storage unit 160 decreases from the voltage value VS at the start of discharging of power storage unit 160, as shown in FIG.
  • the first stage of discharging of power storage unit 160 is completed and stopped at time t 1 when the voltage value of power storage unit 160 reaches threshold value V 1 .
  • Threshold value V 1 is set, for example, to a value at which the charge in power storage unit 160 cannot be discharged to power consumption member 240 .
  • the threshold value V 1 may be set, for example, to the input lower limit voltage value of the voltage-controlled converter.
  • the switch 661 is set to the OFF state, and the switch 662 is set to the ON state. Then, a second stage of discharge is performed. In the second stage of discharge, the power of power storage unit 160 is discharged to discharge load 65.
  • the voltage value of power storage unit 160 further decreases, as shown in FIG. 41.
  • the second-stage discharge of power storage unit 160 is completed and stopped at time t 2 when the voltage value of power storage unit 160 reaches threshold value V 2 .
  • discharge mode switch 660 and switch 662 are set to the OFF state.
  • the threshold value V2 is set, for example, to a value that does not allow the control unit 152 to be activated and does not affect the human body.
  • the threshold value V TH may be set to 2.5V, for example.
  • the power of the power storage unit 160 is discharged to at least one of the plurality of power consumption members 240 in the first stage of discharge, and the power of the power storage unit 160 is discharged to at least one of the plurality of power consumption members 240 in the second stage of discharge.
  • the discharge of power from power storage unit 160 is not limited to this example.
  • the power of the power storage unit 160 may be discharged to the discharge load 65 in the first stage of discharge, and may be discharged to at least one of the plurality of power consumption members 240 in the second stage of discharge.
  • the power of the power storage unit 160 may be simultaneously discharged to at least one of the plurality of power consumption members 240 and the discharge load 65 only during a specific period.
  • the display unit 671 when the first stage of discharge is being performed, the display unit 671 provides a display (for example, LED light emission) indicating that the first stage of discharge is being performed.
  • the display section 671 may be turned off at time t1 .
  • the display unit 672 displays a display (e.g., LED light emission) indicating that the second stage of discharge is being performed.
  • the display section 672 may be turned off at time t2 .
  • the rectifying/smoothing section further includes a discharge output connector provided so as to be accessible from the outside of the ground frame,
  • the discharge output connector includes a first discharge output terminal and a second discharge output terminal respectively connected to two power supply lines that connect the power storage unit and the rectifier circuit to each other.
  • the rectifying/smoothing section further includes an indicator that is provided so as to be visible from the outside of the ground frame, and is configured to display the discharge state of the power storage section. Or the plasma processing apparatus described in E3.
  • the rectification/smoothing section is a voltage detector configured to detect a voltage value of the power storage unit; a control unit configured to control the display to display the discharge state of the power storage unit based on the voltage value detected by the voltage detector;
  • the plasma processing apparatus according to E4 further comprising:
  • the rectification/smoothing section is a display provided so as to be visible from the outside of the ground frame; a voltage detector configured to detect a voltage value of the power storage unit; a control unit configured to control the display to display the state of charge of the power storage unit based on the voltage value detected by the voltage detector;
  • the plasma processing apparatus according to any one of E1 to E4, further comprising:
  • the ground frame is an optical window that makes the display visible from outside the ground frame; a metal shielding member that can open and close the optical window;
  • the plasma processing apparatus according to any one of E4 to E8, comprising:
  • a method for controlling the amount of electricity stored A plasma processing apparatus to which the method for controlling the amount of stored electricity is applied, a plasma processing chamber; a substrate support disposed within the plasma processing chamber; a high frequency power supply configured to generate high frequency power; an electrode or antenna electrically connected to the radio frequency power source to receive the radio frequency power for generating plasma from gas in the plasma processing chamber; a power consuming member disposed within the plasma processing chamber or within the substrate support; a ground frame that is grounded and surrounds the substrate support along with the plasma processing chamber; a power storage unit disposed in a space surrounded by the ground frame and electrically connected to the power consumption member; a rectifying/smoothing part arranged in the space surrounded by the ground frame, a power supply input connector that includes a first power supply input terminal and a second power supply input terminal and is provided so as to be accessible from the outside of the ground frame; a rectifier circuit including a diode bridge and connected between the power supply input connector and the power storage unit; The rectifying/smoothing
  • the rectifying/smoothing section further includes a discharge output connector provided so as to be accessible from the outside of the ground frame,
  • the discharge output connector includes a first discharge output terminal and a second discharge output terminal respectively connected to two power supply lines that connect the power storage unit and the rectifier circuit to each other,
  • the method for controlling the amount of stored electricity includes: connecting a first discharge terminal and a second discharge terminal connected to a discharge load arranged outside the ground frame to the first discharge output terminal and the second discharge output terminal; discharging the power of the power storage unit to the discharge load;
  • the method for controlling the amount of stored electricity according to E11 further comprising:
  • the plasma processing apparatus further includes a discharge-only load electrically connected to the power storage unit via a switch
  • the method for controlling the amount of stored electricity includes: a step of making the power storage unit conductive to the discharge-only load by the switch; discharging the power of the power storage unit to the discharge-only load;
  • the plasma processing apparatus further includes a discharge-only load electrically connected to the power storage unit via a switch
  • the method for controlling the amount of stored electricity includes: discharging the power of the power storage unit by supplying the power of the power storage unit to the power consumption member; a step of making the power storage unit conductive to the discharge-only load by the switch; discharging the power of the power storage unit to the discharge-only load;
  • the method for controlling the amount of stored electricity according to E11 further comprising:
  • SYMBOLS 1... Plasma processing apparatus, 10... Chamber, 11... Substrate support part, 110... Ground frame, 120... Power transmission part, 130... Power transmission coil part, 131... Power transmission coil, 140... Power receiving coil part, 141... Power receiving coil, 150... Rectification/smoothing section, 160... Power storage section, 170... Voltage control converter, 180... Constant voltage control section, 240... Power consumption member, 300... High frequency power supply.

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Abstract

開示されるプラズマ処理装置は、プラズマ処理チャンバ、基板支持部、グランドフレーム、蓄電部、整流・平滑部、給電出力コネクタ、及び受電コイルを備える。グランドフレームは、グランドフレームは、接地されており、プラズマ処理チャンバと共に基板支持部を囲む。蓄電部及び整流・平滑部は、グランドフレームによって囲まれた空間内に配置されている。整流・平滑部は、給電量力コネクタ及び整流回路を含む。給電入力コネクタは、グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられている。整流回路は、ダイオードブリッジを含み、給電入力コネクタと蓄電部との間で接続されている。給電出力コネクタは、受電コイルに接続されており、給電入力コネクタに着脱可能である。

Description

プラズマ処理装置及び蓄電量の制御方法 関連出願の相互参照
 本出願は、2022年6月29日に出願された「Plasma Processing Apparatus」と題する米国仮特許出願第63/356,713号の優先権を主張し、同米国仮特許出願の全体を参照することにより本明細書に援用する。
 本開示の例示的実施形態は、プラズマ処理装置及び蓄電量の制御方法に関するものである。
 プラズマ処理装置が、プラズマ処理において用いられる。プラズマ処理装置は、チャンバ及びチャンバ内に配置される基板支持台(載置台)を備えている。基板支持台は、基台(下部電極)及び基板を保持する静電チャックを有している。静電チャックの内部には基板の温度を調整するための温度調整素子(例えば、ヒータ)が設けられている。また、温度調整素子と温度調整素子用電源との間には、チャンバ内の高周波電極及び/又はその他の電気的部材から給電ライン及び/又は信号線等の線路上に入ってくる高周波ノイズを減衰させるか阻止するフィルタが設けられている。このようなプラズマ処理装置の一種は、下記の特許文献1に記載されている。
特開2015-173027号公報
 本開示の例示的実施形態は、プラズマ処理装置の蓄電部の蓄電量を制御する技術を提供する。
 一つの例示的実施形態においてプラズマ処理装置が提供される。プラズマ処理装置は、プラズマ処理チャンバ、基板支持部、高周波電源、電極又はアンテナ、電力消費部材、グランドフレーム、蓄電部、整流・平滑部、給電出力コネクタ、及び受電コイルを備える。基板支持部は、プラズマ処理チャンバ内に配置されている。高周波電源は、高周波電力を発生するように構成されている。電極又はアンテナは、プラズマ処理チャンバ内でガスからプラズマを生成するために高周波電力を受けるよう高周波電源に電気的に接続されている。電力消費部材は、プラズマ処理チャンバ内又は基板支持部内に配置されている。グランドフレームは、接地されており、プラズマ処理チャンバと共に基板支持部を囲む。蓄電部は、グランドフレームによって囲まれた空間内に配置されており、電力消費部材と電気的に接続されている。整流・平滑部は、グランドフレームによって囲まれた空間内に配置されている。整流・平滑部は、給電量力コネクタ及び整流回路を含む。給電入力コネクタは、第1の給電入力端子及び第2の給電入力端子を含み、グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられている。整流回路は、ダイオードブリッジを含み、給電入力コネクタと蓄電部との間で接続されている。給電出力コネクタは、第1の給電入力端子及び第2の給電入力端子に電気的に接続可能な第1の給電出力端子及び第2の給電出力端子を含み、給電入力コネクタに着脱可能である。受電コイルは、グランドフレームの外側に配置されており、給電出力コネクタに電気的に接続されており、送電コイルから電磁誘導結合により電力を受けることが可能である。
 一つの例示的実施形態によれば、プラズマ処理装置の蓄電部の蓄電量を制御する技術が提供される。
プラズマ処理システムの構成例を説明するための図である。 容量結合型のプラズマ処理装置の構成例を説明するための図である。 一つの例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 一つの例示的実施形態に係る送電部を示す図である。 一つの例示的実施形態に係る送電コイル部及び受電コイル部を示す図である。 一つの例示的実施形態に係る送電コイル部及び受電コイル部を示す図である。 一つの例示的実施形態に係る送電コイル部及び受電コイル部を示す図である。 一つの例示的実施形態に係る受電コイル部のインピーダンス特性を示すグラフである。 一つの例示的実施形態に係るRFフィルタを示す図である。 一つの例示的実施形態に係る整流・平滑部を示す図である。 一つの例示的実施形態に係るRFフィルタを示す図である。 一つの例示的実施形態に係る送電部の通信部及び整流・平滑部の通信部を示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 別の例示的実施形態に係る送電部の通信部及び整流・平滑部の通信部を示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 図23の(a)及び図23の(b)の各々は、一つの例示的実施形態に係る蓄電部を示す図である。 一つの例示的実施形態に係る電圧制御コンバータを示す図である。 一つの例示的実施形態に係る定電圧制御部を示す図である。 別の例示的実施形態に係る定電圧制御部を示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置の蓄電部に対する充電を説明するための図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 図29に示すプラズマ処理装置の整流・平滑部に受電コイル部が接続された状態を示す図である。 図29に示すプラズマ処理装置の整流・平滑部に直流安定化電源が接続された状態を示す図である。 図32の(a)は、蓄電部の電圧の一例のタイミングチャートであり、図32の(b)は、蓄電部に供給される電流の一例のタイミングチャートである。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置の整流・平滑部に受電コイル部が接続された状態を示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置の整流・平滑部に直流安定化電源が接続された状態を示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置の整流・平滑部に放電ユニットが接続された状態を示す図である。 蓄電部の電圧の一例のタイミングチャートである。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置において蓄電部の放電に関連する構成を示す図である。 更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置において蓄電部の放電に関連する構成を示す図である。 蓄電部の電圧の一例のタイミングチャートである。
 以下、図面を参照して種々の例示的実施形態について詳細に説明する。なお、各図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。
 図1は、プラズマ処理システムの構成例を説明するための図である。一実施形態において、プラズマ処理システムは、プラズマ処理装置1及び制御部2を含む。プラズマ処理システムは、基板処理システムの一例であり、プラズマ処理装置1は、基板処理装置の一例である。プラズマ処理装置1は、プラズマ処理チャンバ10、基板支持部11及びプラズマ生成部12を含む。プラズマ処理チャンバ10は、プラズマ処理空間を有する。また、プラズマ処理チャンバ10は、少なくとも1つの処理ガスをプラズマ処理空間に供給するための少なくとも1つのガス供給口と、プラズマ処理空間からガスを排出するための少なくとも1つのガス排出口とを有する。ガス供給口は、後述するガス供給部20に接続され、ガス排出口は、後述する排気システム40に接続される。基板支持部11は、プラズマ処理空間内に配置され、基板を支持するための基板支持面を有する。
 プラズマ生成部12は、プラズマ処理空間内に供給された少なくとも1つの処理ガスからプラズマを生成するように構成される。プラズマ処理空間において形成されるプラズマは、容量結合プラズマ(CCP:Capacitively Coupled Plasma)、誘導結合プラズマ(ICP:Inductively Coupled Plasma)、ECRプラズマ(Electron-Cyclotron-Resonance Plasma)、ヘリコン波励起プラズマ(HWP:Helicon Wave Plasma)、又は、表面波プラズマ(SWP:Surface Wave Plasma)等であってもよい。また、AC(Alternating Current)プラズマ生成部及びDC(Direct Current)プラズマ生成部を含む、種々のタイプのプラズマ生成部が用いられてもよい。一実施形態において、ACプラズマ生成部で用いられるAC信号(AC電力)は、100kHz~10GHzの範囲内の周波数を有する。従って、AC信号は、RF(Radio Frequency)信号及びマイクロ波信号を含む。一実施形態において、RF信号は、100kHz~150MHzの範囲内の周波数を有する。
 制御部2は、本開示において述べられる種々の工程をプラズマ処理装置1に実行させるコンピュータ実行可能な命令を処理する。制御部2は、ここで述べられる種々の工程を実行するようにプラズマ処理装置1の各要素を制御するように構成され得る。一実施形態において、制御部2の一部又は全てがプラズマ処理装置1に含まれてもよい。制御部2は、処理部2a1、記憶部2a2及び通信インターフェース2a3を含んでもよい。制御部2は、例えばコンピュータ2aにより実現される。処理部2a1は、記憶部2a2からプログラムを読み出し、読み出されたプログラムを実行することにより種々の制御動作を行うように構成され得る。このプログラムは、予め記憶部2a2に格納されていてもよく、必要なときに、媒体を介して取得されてもよい。取得されたプログラムは、記憶部2a2に格納され、処理部2a1によって記憶部2a2から読み出されて実行される。媒体は、コンピュータ2aに読み取り可能な種々の記憶媒体であってもよく、通信インターフェース2a3に接続されている通信回線であってもよい。処理部2a1は、CPU(Central Processing Unit)であってもよい。記憶部2a2は、RAM(Random Access Memory)、ROM(Read Only Memory)、HDD(Hard Disk Drive)、SSD(Solid State Drive)、又はこれらの組み合わせを含んでもよい。通信インターフェース2a3は、LAN(Local Area Network)等の通信回線を介してプラズマ処理装置1との間で通信してもよい。
 以下に、プラズマ処理装置1の一例としての容量結合型のプラズマ処理装置の構成例について説明する。図2は、容量結合型のプラズマ処理装置の構成例を説明するための図である。
 容量結合型のプラズマ処理装置1は、プラズマ処理チャンバ10、ガス供給部20、電源30及び排気システム40を含む。また、プラズマ処理装置1は、基板支持部11及びガス導入部を含む。ガス導入部は、少なくとも1つの処理ガスをプラズマ処理チャンバ10内に導入するように構成される。ガス導入部は、シャワーヘッド13を含む。基板支持部11は、プラズマ処理チャンバ10内に配置される。シャワーヘッド13は、基板支持部11の上方に配置される。一実施形態において、シャワーヘッド13は、プラズマ処理チャンバ10の天部(ceiling)の少なくとも一部を構成する。プラズマ処理チャンバ10は、シャワーヘッド13、プラズマ処理チャンバ10の側壁10a及び基板支持部11により規定されたプラズマ処理空間10sを有する。プラズマ処理チャンバ10は接地される。シャワーヘッド13及び基板支持部11は、プラズマ処理チャンバ10の筐体とは電気的に絶縁される。
 基板支持部11は、本体部111及びリングアセンブリ112を含む。本体部111は、基板Wを支持するための中央領域111aと、リングアセンブリ112を支持するための環状領域111bとを有する。ウェハは基板Wの一例である。本体部111の環状領域111bは、平面視で本体部111の中央領域111aを囲んでいる。基板Wは、本体部111の中央領域111a上に配置され、リングアセンブリ112は、本体部111の中央領域111a上の基板Wを囲むように本体部111の環状領域111b上に配置される。従って、中央領域111aは、基板Wを支持するための基板支持面とも呼ばれ、環状領域111bは、リングアセンブリ112を支持するためのリング支持面とも呼ばれる。
 一実施形態において、本体部111は、基台1110及び静電チャック1111を含む。基台1110は、導電性部材を含む。基台1110の導電性部材は下部電極として機能し得る。静電チャック1111は、基台1110の上に配置される。静電チャック1111は、セラミック部材1111aとセラミック部材1111a内に配置される静電電極(吸着電極、チャック電極、又はクランプ電極ともいう)1111bとを含む。セラミック部材1111aは、中央領域111aを有する。一実施形態において、セラミック部材1111aは、環状領域111bも有する。なお、環状静電チャックや環状絶縁部材のような、静電チャック1111を囲む他の部材が環状領域111bを有してもよい。この場合、リングアセンブリ112は、環状静電チャック又は環状絶縁部材の上に配置されてもよく、静電チャック1111と環状絶縁部材の両方の上に配置されてもよい。また、後述するRF電源31及び/又はDC電源32に結合される少なくとも1つのRF/DC電極がセラミック部材1111a内に配置されてもよい。この場合、少なくとも1つのRF/DC電極が下部電極として機能する。後述するバイアスRF信号及び/又はDC信号が少なくとも1つのRF/DC電極に供給される場合、RF/DC電極はバイアス電極とも呼ばれる。なお、基台1110の導電性部材と少なくとも1つのRF/DC電極とが複数の下部電極として機能してもよい。また、静電電極1111bが下部電極として機能してもよい。従って、基板支持部11は、少なくとも1つの下部電極を含む。
 リングアセンブリ112は、1又は複数の環状部材を含む。一実施形態において、1又は複数の環状部材は、1又は複数のエッジリングと少なくとも1つのカバーリングとを含む。エッジリングは、導電性材料又は絶縁材料で形成され、カバーリングは、絶縁材料で形成される。
 また、基板支持部11は、静電チャック1111、リングアセンブリ112及び基板のうち少なくとも1つをターゲット温度に調節するように構成される温調モジュールを含んでもよい。温調モジュールは、ヒータ、伝熱媒体、流路1110a、又はこれらの組み合わせを含んでもよい。流路1110aには、ブラインやガスのような伝熱流体が流れる。一実施形態において、流路1110aが基台1110内に形成され、1又は複数のヒータが静電チャック1111のセラミック部材1111a内に配置される。また、基板支持部11は、基板Wの裏面と中央領域111aとの間の間隙に伝熱ガスを供給するように構成された伝熱ガス供給部を含んでもよい。
 シャワーヘッド13は、ガス供給部20からの少なくとも1つの処理ガスをプラズマ処理空間10s内に導入するように構成される。シャワーヘッド13は、少なくとも1つのガス供給口13a、少なくとも1つのガス拡散室13b、及び複数のガス導入口13cを有する。ガス供給口13aに供給された処理ガスは、ガス拡散室13bを通過して複数のガス導入口13cからプラズマ処理空間10s内に導入される。また、シャワーヘッド13は、少なくとも1つの上部電極を含む。なお、ガス導入部は、シャワーヘッド13に加えて、側壁10aに形成された1又は複数の開口部に取り付けられる1又は複数のサイドガス注入部(SGI:Side Gas Injector)を含んでもよい。
 ガス供給部20は、少なくとも1つのガスソース21及び少なくとも1つの流量制御器22を含んでもよい。一実施形態において、ガス供給部20は、少なくとも1つの処理ガスを、それぞれに対応のガスソース21からそれぞれに対応の流量制御器22を介してシャワーヘッド13に供給するように構成される。各流量制御器22は、例えばマスフローコントローラ又は圧力制御式の流量制御器を含んでもよい。さらに、ガス供給部20は、少なくとも1つの処理ガスの流量を変調又はパルス化する少なくとも1つの流量変調デバイスを含んでもよい。
 電源30は、少なくとも1つのインピーダンス整合回路を介してプラズマ処理チャンバ10に結合されるRF電源31を含む。RF電源31は、少なくとも1つのRF信号(RF電力)を少なくとも1つの下部電極及び/又は少なくとも1つの上部電極に供給するように構成される。これにより、プラズマ処理空間10sに供給された少なくとも1つの処理ガスからプラズマが形成される。従って、RF電源31は、プラズマ生成部12の少なくとも一部として機能し得る。また、バイアスRF信号を少なくとも1つの下部電極に供給することにより、基板Wにバイアス電位が発生し、形成されたプラズマ中のイオン成分を基板Wに引き込むことができる。
 一実施形態において、RF電源31は、第1のRF生成部31a及び第2のRF生成部31bを含む。第1のRF生成部31aは、少なくとも1つのインピーダンス整合回路を介して少なくとも1つの下部電極及び/又は少なくとも1つの上部電極に結合され、プラズマ生成用のソースRF信号(ソースRF電力)を生成するように構成される。一実施形態において、ソースRF信号は、10MHz~150MHzの範囲内の周波数を有する。一実施形態において、第1のRF生成部31aは、異なる周波数を有する複数のソースRF信号を生成するように構成されてもよい。生成された1又は複数のソースRF信号は、少なくとも1つの下部電極及び/又は少なくとも1つの上部電極に供給される。
 第2のRF生成部31bは、少なくとも1つのインピーダンス整合回路を介して少なくとも1つの下部電極に結合され、バイアスRF信号(バイアスRF電力)を生成するように構成される。バイアスRF信号の周波数は、ソースRF信号の周波数と同じであっても異なっていてもよい。一実施形態において、バイアスRF信号は、ソースRF信号の周波数よりも低い周波数を有する。一実施形態において、バイアスRF信号は、100kHz~60MHzの範囲内の周波数を有する。一実施形態において、第2のRF生成部31bは、異なる周波数を有する複数のバイアスRF信号を生成するように構成されてもよい。生成された1又は複数のバイアスRF信号は、少なくとも1つの下部電極に供給される。また、種々の実施形態において、ソースRF信号及びバイアスRF信号のうち少なくとも1つがパルス化されてもよい。
 また、電源30は、プラズマ処理チャンバ10に結合されるDC電源32を含んでもよい。DC電源32は、第1のDC生成部32a及び第2のDC生成部32bを含む。一実施形態において、第1のDC生成部32aは、少なくとも1つの下部電極に接続され、第1のDC信号を生成するように構成される。生成された第1のDC信号は、少なくとも1つの下部電極に印加される。一実施形態において、第2のDC生成部32bは、少なくとも1つの上部電極に接続され、第2のDC信号を生成するように構成される。生成された第2のDC信号は、少なくとも1つの上部電極に印加される。
 種々の実施形態において、第1及び第2のDC信号がパルス化されてもよい。この場合、電圧パルスのシーケンスが少なくとも1つの下部電極及び/又は少なくとも1つの上部電極に印加される。電圧パルスは、矩形、台形、三角形又はこれらの組み合わせのパルス波形を有してもよい。一実施形態において、DC信号から電圧パルスのシーケンスを生成するための波形生成部が第1のDC生成部32aと少なくとも1つの下部電極との間に接続される。従って、第1のDC生成部32a及び波形生成部は、電圧パルス生成部を構成する。第2のDC生成部32b及び波形生成部が電圧パルス生成部を構成する場合、電圧パルス生成部は、少なくとも1つの上部電極に接続される。電圧パルスは、正の極性を有してもよく、負の極性を有してもよい。また、電圧パルスのシーケンスは、1周期内に1又は複数の正極性電圧パルスと1又は複数の負極性電圧パルスとを含んでもよい。なお、第1及び第2のDC生成部32a,32bは、RF電源31に加えて設けられてもよく、第1のDC生成部32aが第2のRF生成部31bに代えて設けられてもよい。
 排気システム40は、例えばプラズマ処理チャンバ10の底部に設けられたガス排出口10eに接続され得る。排気システム40は、圧力調整弁及び真空ポンプを含んでもよい。圧力調整弁によって、プラズマ処理空間10s内の圧力が調整される。真空ポンプは、ターボ分子ポンプ、ドライポンプ又はこれらの組み合わせを含んでもよい。
 なお、容量結合型のプラズマ処理装置1においては、上部電極は、当該上部電極と基板支持部11との間にプラズマ処理空間が位置するように配置される。第1のRF生成部31aのような高周波電源は、上部電極又は基板支持部11内の下部電極に電気的に接続される。プラズマ処理装置1が誘導結合型のプラズマ処理装置である場合には、アンテナが、当該アンテナと基板支持部11との間にプラズマ処理空間が位置するように配置される。第1のRF生成部31aのような高周波電源は、アンテナに電気的に接続される。プラズマ処理装置1がマイクロ波のような表面波によりプラズマを生成するプラズマ処理装置である場合には、アンテナが、当該アンテナと基板支持部11との間にプラズマ処理空間が位置するように配置される。第1のRF生成部31aのような高周波電源は、導波路を介してアンテナに電気的に接続される。
 以下、種々の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置について説明する。以下に説明する各プラズマ処理装置は、チャンバ10内の少なくとも一つの電力消費部材に無線給電(電磁誘導結合)により電力を供給するように構成されており、プラズマ処理装置1と同じ構成を有し得る。
 図3は、一つの例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。図3に示すプラズマ処理装置100Aは、少なくとも一つの高周波電源300、受電コイル部140、蓄電部160、及び少なくとも一つの電力消費部材240(図25及び図26参照)を含んでいる。プラズマ処理装置100Aは、送電部120、送電コイル部130、整流・平滑部150、定電圧制御部180(一例の電圧制御部)、グランドフレーム110、整合部301を更に含んでいてもよい。
 少なくとも一つの高周波電源300は、第1のRF生成部31a及び/又は第2のRF生成部31bを含む。少なくとも一つの高周波電源300は、整合部301を介して基板支持部11に電気的に接続されている。整合部301は、少なくとも一つのインピーダンス整合回路を含んでいる。
 グランドフレーム110は、チャンバ10を含んでおり、電気的に接地されている。グランドフレーム110は、その内部の空間110h(RF-Hot空間)と外側の空間110a(大気空間)とを電気的に分離している。グランドフレーム110は、空間110h内に配置された基板支持部11を囲んでいる。プラズマ処理装置100Aでは、整流・平滑部150、蓄電部160、及び定電圧制御部180は、空間110h内に配置されている。また、プラズマ処理装置100Aでは、送電部120、送電コイル部130、及び受電コイル部140は、空間110aに配置されている。なお、空間110hは、減圧空間(真空空間)と非減圧空間(非真空空間)を含む。減圧空間は、チャンバ10内の空間であり、非減圧空間は、チャンバ10外の空間である。基板支持部11及び基板Wは、減圧空間内に配置される。整流・平滑部150、蓄電部160、及び定電圧制御部180は、非減圧空間内に配置される。
 空間110aに配置されているデバイス、即ち、送電部120、送電コイル部130、及び受電コイル部140等は、アルミニウムのような金属から形成された金属筐体によって覆われており、当該金属筐体は接地されている。これにより、第1のRF信号(ソースRF信号)及び/又は第2のRF信号(バイアスRF信号)のような高周波電力に起因する高周波ノイズの漏洩が抑制される。かかる金属筐体と各給電ラインは、それらの間に絶縁距離を有している。なお、以下の説明において、第1のRF信号及び/又は第2のRF信号のような高周波電力であって送電部120に向けて伝搬する高周波電力を、高周波ノイズ、コモンモードノイズ、又は伝導性ノイズということがある。
 送電部120は、交流電源400(例えば、商用交流電源)と送電コイル部130との間で電気的に接続されている。送電部120は、交流電源400からの交流電力の周波数を受けて、当該交流電力の周波数を伝送周波数に変換することにより、伝送周波数を有する交流電力、即ち伝送交流電力を生成する。
 送電コイル部130は、後述する送電コイル131(図9参照)を含んでいる。送電コイル131は、送電部120に電気的に接続されている。送電コイル131は、送電部120からの伝送交流電力を受けて、当該伝送交流電力を受電コイル141に無線伝送する。
 受電コイル部140は、後述する受電コイル141(図9参照)を含んでいる。受電コイル141は、送電コイル131と電磁誘導結合されている。電磁誘導結合は、磁界結合及び電界結合を含む。また、磁界結合は、磁界共鳴(磁界共振ともいう)を含む。受電コイル141と送電コイル131との間の距離は、コモンモードノイズ(伝導性ノイズ)を抑制するように設定されている。また、受電コイル141と送電コイル131との間の距離は、給電可能な距離に設定されている。受電コイル141と送電コイル131との間の距離は、受電コイル141と送電コイル131との間での高周波電力(即ち、高周波ノイズ)の減衰量が閾値以下となり、且つ、送電コイル131からの電力を受電コイル141において受電可能なように設定される。減衰量の閾値は、送電部120の破損又は誤動作を十分に防止できる値に設定される。減衰量の閾値は、例えば、-20dBである。受電コイル部140によって受電された伝送交流電力は、整流・平滑部150に出力される。
 整流・平滑部150は、受電コイル部140と蓄電部160との間で電気的に接続されている。整流・平滑部150は、受電コイル部140からの伝送交流電力に対する全波整流及び平滑化により、直流電力を生成する。整流・平滑部150によって生成された直流電力は、蓄電部160において蓄電される。蓄電部160は、整流・平滑部150と定電圧制御部180との間で電気的に接続されている。なお、整流・平滑部150は、受電コイル部140からの伝送交流電力に対する半波整流及び平滑化により、直流電力を生成してもよい。
 整流・平滑部150と送電部120は、信号ライン1250により互いに電気的に接続されている。整流・平滑部150は、信号ライン1250を介して指示信号を送電部120に送信する。指示信号は、伝送交流電力の供給又は伝送交流電力の供給の停止を送電部120に指示するための信号である。指示信号は、ステータス信号、異常検知信号、並びに、送電コイル部130及び受電コイル部140の冷却制御信号を含み得る。ステータス信号は、整流・平滑部150の電圧検出器155v(図14参照)及び電流検出器155i(図14参照)が検出する電圧、電流、電力の大きさ及び/又は位相等の値である。異常検知信号は、整流・平滑部150の故障及び/又は温度異常の発生を送電部120に伝達するための信号である。冷却制御信号は、送電コイル部130及び受電コイル部140に設けられた冷却機構を制御する。冷却制御信号は、例えば、空冷の場合は、ファンの回転数を制御する。また、液冷の場合は、冷媒の流速及び/又は温度等を制御する。
 定電圧制御部180は、蓄電部160において蓄電される電力を用いて、少なくとも電力消費部材240に電圧を印加する。定電圧制御部180は、少なくとも電力消費部材240に対する電圧印加とその停止を制御し得る。
 プラズマ処理装置100Aにおいて、受電コイル141は、第1のRF信号及び/又は第2のRF信号のような高周波電力に起因する高周波ノイズに対するフィルタとして機能する。したがって、プラズマ処理装置の外部の電源への高周波ノイズの伝搬が抑制される。
 図4を参照する。図4は、別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。以下、図4に示すプラズマ処理装置100Bについて、プラズマ処理装置100Aに対するその相違点の観点から説明する。
 プラズマ処理装置100Bは、電圧制御コンバータ170を更に含んでいる。電圧制御コンバータ170は、DC-DCコンバータであり、蓄電部160と定電圧制御部180との間で接続されている。電圧制御コンバータ170は、蓄電部160に電圧変動が生じた場合においても、一定の出力電圧を定電圧制御部180に入力するように構成され得る。なお、蓄電部160における電圧変動は、例えば、蓄電部160を電気二重層で構成した場合に蓄電電力に応じた電圧低下等として生じ得る。
 図5を参照する。図5は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。以下、図5に示すプラズマ処理装置100Cについて、プラズマ処理装置100Bに対するその相違点の観点から説明する。
 プラズマ処理装置100Cは、RFフィルタ190を更に備えている。RFフィルタ190は、整流・平滑部150と送電部120との間で接続されている。RFフィルタ190は、信号ライン1250の一部を構成する。RFフィルタ190は、信号ライン1250を介した高周波電力(高周波ノイズ)の伝搬を抑制する特性を有する。即ち、RFフィルタ190は、高周波ノイズ(伝導性ノイズ)に対して高いインピーダンスを有するが、比較的低い周波数の指示信号を通過させる特性を有するローパスフィルタを含む。
 プラズマ処理装置100Cでは、蓄電部160、電圧制御コンバータ170、及び定電圧制御部180が、互いに一体化されている。即ち、蓄電部160、電圧制御コンバータ170、及び定電圧制御部180は共に、単一の金属筐体内に配置されているか、単一の回路基板上に形成されている。これにより、蓄電部160と電圧制御コンバータ170とを互いに接続する一対の給電ライン(プラスライン及びマイナスライン)の各々の長さが短くなる。また、蓄電部160と電圧制御コンバータ170とを互いに接続する一対の給電ラインの長さを互いに等しくすることが可能である。また。電圧制御コンバータ170と定電圧制御部180とを互いに接続する一対の給電ライン(プラスライン及びマイナスライン)の各々の長さが短くなる。また、電圧制御コンバータ170と定電圧制御部180とを互いに接続する一対の給電ラインの長さを互いに等しくすることが可能である。したがって、ノーマルモードノイズ(プラスラインとマイナスラインの線間の電位差)に起因するデバイスの誤動作及び破損が抑制される。なお、チャンバ10内に当該筐体の周囲に電磁界を遮蔽する別の金属体が設けられている場合は、単一の筐体は、金属製でなくてもよい。
 図6を参照する。図6は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。以下、図6に示すプラズマ処理装置100Dについて、プラズマ処理装置100Cに対する相違点の観点から説明する。
 プラズマ処理装置100Dは、RFフィルタ190を含んでいない。プラズマ処理装置100Dにおいて、整流・平滑部150は、無線部である通信部151を含む。通信部151は、非減圧空間内に配置されている。また、送電部120は、無線部である通信部121を含む。通信部121は、空間110aに配置されている。上述の指示信号は、整流・平滑部150と送電部120との間で通信部151及び通信部121を用いて伝送される。通信部121及び通信部151の詳細については、後述する。
 図7を参照する。図7は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。以下、図7に示すプラズマ処理装置100Eについて、プラズマ処理装置100Dに対するその相違点の観点から説明する。
 プラズマ処理装置100Eは、RFフィルタ200を更に含んでいる。RFフィルタ200は、受電コイル部140と整流・平滑部150との間で接続されている。RFフィルタ200は、受電コイル部140から送電コイル131及び送電部120へ伝搬する高周波ノイズを低減させるか遮断する特性を有する。RFフィルタ200の詳細については、後述する。
 以下、種々の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置における無線給電のための各部の構成について詳細に説明する。
 [送電部の構成]
 図8は、一つの例示的実施形態に係る送電部を示す図である。送電部120は、上述したように、交流電源400からの交流電力の周波数を受けて、当該交流電力の周波数を伝送周波数に変換することにより、伝送周波数を有する伝送交流電力を生成する。
 一実施形態において、送電部120は、制御部122、整流・平滑部123、及びインバータ124を含む。制御部122は、CPUのようなプロセッサ又はFPGA(Field-Programmable Gate Array)のようなプログラム可能なロジックデバイスから構成されている。
 整流・平滑部123は、整流回路と平滑回路を含む。整流回路は、例えばダイオードブリッジを含む。平滑回路は、例えば線間コンデンサを含む。整流・平滑部123は、交流電源400からの交流電力に対する全波整流及び平滑化により、直流電力を生成する。なお、整流・平滑部123は、交流電源400からの交流電力に対する半波整流及び平滑化により、直流電力を生成してもよい。
 インバータ124は、整流・平滑部123によって出力される直流電力から伝送周波数を有する伝送交流電力を生成する。インバータ124は、例えば、フルブリッジインバータであり、複数のトライアック又は複数のスイッチング素子(例えばFET)を含む。インバータ124は、制御部122による複数のトライアック又は複数のスイッチング素子のON/OFF制御により、伝送交流電力を生成する。インバータ124から出力された伝送交流電力は、送電コイル部130に出力される。
 送電部120は、電圧検出器125v、電流検出器125i、電圧検出器126v、及び電流検出器126iを更に含んでいてもよい。電圧検出器125vは、整流・平滑部123とインバータ124とを互いに接続する一対の給電ラインの間の電圧値を検出する。電流検出器125iは、整流・平滑部123とインバータ124との間での電流値を検出する。電圧検出器126vは、インバータ124と送電コイル部130を互いに接続する一対の給電ラインの間の電圧値を検出する。電流検出器126iは、インバータ124と送電コイル部130との間での電流値を検出する。電圧検出器125vによって検出された電圧値、電流検出器125iによって検出された電流値、電圧検出器126vによって検出された電圧値、及び電流検出器126iによって検出された電流値は、制御部122に通知される。
 送電部120は、上述した通信部121を含んでいる。通信部121は、ドライバ121d、送信器121tx、及び受信器121rxを含む。送信器121txは、無線信号の送信器であるか、光信号の送信器である。受信器121rxは、無線信号の受信器であるか、光信号の受信器である。通信部121は、ドライバ121dにより送信器121txを駆動して制御部122からの信号を無線信号又は光信号として送信器121txから出力させる。送信器121txから出力された信号は、後述する通信部151(図14参照)において受信される。また、通信部121は、通信部151から上述の指示信号のような信号を受信器121rxにより受信して、受信した信号をドライバ121dを介して制御部122に入力する。制御部122は、通信部151から通信部121を介して受信した指示信号、電圧検出器125vによって検出された電圧値、電流検出器125iによって検出された電流値、電圧検出器126vによって検出された電圧値、及び電流検出器126iによって検出された電流値に応じてインバータ124を制御することにより、伝送交流電力の出力及びその停止を切り替える。
 [送電コイル部及び受電コイル部]
 図9~図11を参照する。図9~図11の各々は、一つの例示的実施形態に係る送電コイル部及び受電コイル部を示す図である。図9に示すように、送電コイル部130は、送電コイル131に加えて、共振コンデンサ132a及び共振コンデンサ132bを含んでいてもよい。共振コンデンサ132aは、送電部120と送電コイル部130とを互いに接続する一対の給電ラインのうち一方と送電コイル131の一端との間で接続されている。共振コンデンサ132bは、当該一対の給電ラインのうち他方と送電コイル131の他端との間で接続されている。送電コイル131、共振コンデンサ132a、及び共振コンデンサ132bは、伝送周波数に対して共振回路を構成する。即ち、送電コイル131、共振コンデンサ132a、及び共振コンデンサ132bは、伝送周波数に略一致する共振周波数を有する。なお、送電コイル部130は、共振コンデンサ132aと共振コンデンサ132bの何れか一方を含んでいなくてもよい。
 図10及び図11に示すように、送電コイル部130は、金属筐体130gを更に含んでいてもよい。金属筐体130gは、開口端を有しており、接地されている。送電コイル131は、金属筐体130g内に絶縁距離を確保して配置されている。送電コイル部130は、ヒートシンク134、フェライト材135、及び熱伝導シート136を更に含んでいてもよい。ヒートシンク134は、金属筐体130g内に配置されており、金属筐体130gによって支持されている。フェライト材135は、ヒートシンク134上に配置されている。熱伝導シート136は、フェライト材135上に配置されている。送電コイル131は、熱伝導シート136上に配置されており、金属筐体130gの開口端を介して受電コイル141と対面している。図11に示すように、金属筐体130g内には、共振コンデンサ132a及び共振コンデンサ132bが更に収容されていてもよい。
 図9に示すように、受電コイル部140は、受電コイル141を含む。受電コイル141は、送電コイル131と電磁誘導結合される。受電コイル部140は、受電コイル141に加えて、共振コンデンサ142a及び共振コンデンサ142bを含んでいてもよい。共振コンデンサ142aは、受電コイル部140から延びる一対の給電ラインのうち一方と受電コイル141の一端との間で接続されている。共振コンデンサ142bは、当該一対の給電ラインのうち他方と受電コイル141の他端との間で接続されている。受電コイル141、共振コンデンサ142a、及び共振コンデンサ142bは、伝送周波数に対して共振回路を構成する。即ち、受電コイル141、共振コンデンサ142a、及び共振コンデンサ142bは、伝送周波数に略一致する共振周波数を有する。なお、受電コイル部140は、共振コンデンサ142aと共振コンデンサ142bの何れか一方を含んでいなくてもよい。
 図10及び図11に示すように、受電コイル部140は、金属筐体140gを更に含んでいてもよい。金属筐体140gは、開口端を有しており、接地されている。受電コイル141は、金属筐体140g内に絶縁距離を確保して配置されている。受電コイル部140は、スペーサ143、ヒートシンク144、フェライト材145、及び熱伝導シート146を更に含んでいてもよい。スペーサ143は、金属筐体140g内に配置されており、金属筐体140gによって支持されている。スペーサ143については、後述する。ヒートシンク144は、スペーサ143上に配置されている。フェライト材145は、ヒートシンク144上に配置されている。熱伝導シート146は、フェライト材145上に配置されている。受電コイル141は、熱伝導シート146上に配置されており、金属筐体140gの開口端を介して送電コイル131と対面している。図11に示すように、金属筐体140g内には、共振コンデンサ142a及び共振コンデンサ142bが更に収容されていてもよい。
 スペーサ143は、誘電体から形成されており、受電コイル141と金属筐体140g(グランド)との間に設けられている。スペーサ143は、受電コイル141とグランドとの間に空間浮遊容量を与えている。
 [受電コイル部のインピーダンス特性]
 図12を参照する。図12は、一つの例示的実施形態に係る受電コイル部のインピーダンス特性を示すグラフである。図12は、スペーサ143の厚さに応じた受電コイル部140のインピーダンス特性を示している。スペーサ143の厚さは、ヒートシンク144と金属筐体140gとの間の距離に対応する。図12に示すように、受電コイル部140は、スペーサ143の厚さに応じて周波数f及び周波数fの各々のインピーダンスを調整することができる。したがって、受電コイル部140によれば、第1のRF信号及び第2のRF信号のようなプラズマ処理装置において使用される二つの高周波電力の周波数の各々において高いインピーダンスを提供することが可能である。また、受電コイル部140において高いインピーダンスを得ることができるので、高周波電力の損失を抑制して、高い処理レート(例えばエッチングレート)を得ることができる。
 [RFフィルタ200]
 図13を参照する。図13は、一つの例示的実施形態に係るRFフィルタを示す図である。図13に示すように、RFフィルタ200は、受電コイル部140と整流・平滑部150との間で接続されている。RFフィルタ200は、インダクタ201a、インダクタ201b、終端コンデンサ202a、及び終端コンデンサ202bを含む。インダクタ201aの一端は、共振コンデンサ142aに接続されており、インダクタ201aの他端は、整流・平滑部150に接続されている。インダクタ201bの一端は、共振コンデンサ142bに接続されており、インダクタ201bの他端は、整流・平滑部150に接続されている。終端コンデンサ202aは、インダクタ201aの一端とグランドとの間で接続されている。終端コンデンサ202bは、インダクタ201bの一端とグランドとの間で接続されている。インダクタ201a及び終端コンデンサ202aは、ローパスフィルタを形成する。また、インダクタ201b及び終端コンデンサ202bは、ローパスフィルタを形成する。RFフィルタ200によれば、第1のRF信号及び第2のRF信号のようなプラズマ処理装置において使用される二つの高周波電力の周波数の各々において高インピーダンスが得られる。したがって、高周波電力の損失が抑制されて、高い処理レート(例えばエッチングレート)を得ることができる。
 [整流・平滑部]
 図14を参照する。図14は、一つの例示的実施形態に係る整流・平滑部を示す図である。一実施形態において、整流・平滑部150は、制御部152、整流回路153、及び平滑回路154を含む。整流回路153は、受電コイル部140と平滑回路154との間で接続されている。平滑回路154は、整流回路153と蓄電部160との間で接続されている。制御部152は、CPUのようなプロセッサ又はFPGA(Field-Programmable Gate Array)のようなプログラム可能なロジックデバイスから構成されている。なお、制御部152は、制御部122と同一であってもよく、異なっていてもよい。
 整流回路153は、受電コイル部140からの交流電力に対する全波整流により生成した電力を出力する。整流回路153は、例えばダイオードブリッジである。なお、整流回路153は、受電コイル部140からの交流電力に対する半波整流により生成した電力を出力してもよい。
 平滑回路154は、整流回路153からの電力に対する平滑化により直流電力を生成する。平滑回路154は、インダクタ1541a、コンデンサ1542a、及びコンデンサ1542bを含んでいてもよい。インダクタ1541aの一端は、平滑回路154の一対の入力のうち一方に接続されている。インダクタ1541aの他端は、整流・平滑部150の正出力(VOUT+)に接続されている。整流・平滑部150の正出力は、後述する一対の給電ラインのうちプラスライン160p(図23の(a)及び図23の(b)を参照)を介して蓄電部160の一つ以上のコンデンサの各々の一端に接続されている。
 コンデンサ1542aの一端は、平滑回路154の一対の入力のうち一方及びインダクタ1541aの一端に接続されている。コンデンサ1542aの他端は、平滑回路154の一対の出力のうち他方及び整流・平滑部150の負出力(VOUT-)に接続されている。整流・平滑部150の負出力は、後述する一対の給電ラインのうちマイナスライン160m(図23の(a)及び図23の(b)を参照)を介して蓄電部160の一つ以上のコンデンサの各々の他端に接続されている。コンデンサ1542bの一端は、インダクタ1541aの他端に接続されている。コンデンサ1542bの他端は、平滑回路154の一対の出力のうち他方及び整流・平滑部150の負出力(VOUT-)に接続されている。
 整流・平滑部150は、電圧検出器155v及び電流検出器155iを更に含んでいてもよい。電圧検出器155vは、整流・平滑部150の正出力と負出力との間の電圧値を検出する。電流検出器155iは、整流・平滑部150と蓄電部160との間での電流値を検出する。電圧検出器155vによって検出された電圧値及び電流検出器155iによって検出された電流値は、制御部152に通知される。制御部152は、蓄電部160において蓄えられている電力に応じて、上述の指示信号を生成する。例えば、制御部152は、蓄電部160において蓄えられている電力が第1の閾値以下である場合には、送電部120に給電、即ち伝送交流電力の出力を指示するための指示信号を生成する。第1の閾値は、例えば、電力消費部材240といった負荷での消費電力である。また、余裕度を考慮して電力消費部材240といった負荷での消費電力に一定の値(例えば、1以上、3以下の範囲内の値)を乗算した値でもよい。一方、制御部152は、蓄電部160において蓄えられている電力が第2の閾値よりも大きい場合には、送電部120に対して給電の停止、即ち伝送交流電力の出力の停止を指示するための指示信号を生成する。第2の閾値は、蓄電部160の限界蓄電電力を超えない値である。第2の閾値は、例えば、蓄電部160の限界蓄電電力に一定の値(例えば1以下の値)を乗算した値である。
 整流・平滑部150は、上述した通信部151を含んでいる。通信部151は、ドライバ151d、送信器151tx、及び受信器151rxを含む。送信器151txは、無線信号の送信器であるか、光信号の送信器である。受信器151rxは、無線信号の受信器であるか、光信号の受信器である。通信部151は、ドライバ151dにより送信器151txを駆動して指示信号のような制御部122からの信号を送信器151txから無線信号又は光信号として出力させる。送信器151txら出力された信号は、送電部120の通信部121において受信される。また、通信部151は、通信部121からの信号を受信器151rxにより受信して、受信した信号をドライバ151dを介して制御部152に入力する。
 [RFフィルタ190]
 図15を参照する。図15は、一つの例示的実施形態に係るRFフィルタ190を示す図である。図15に示すように、信号ライン1250は、送電部120の信号出力(Tx)と整流・平滑部150の信号入力(Rx)とを電気的に接続する第1の信号ライン、及び送電部120の信号入力(Rx)と整流・平滑部150の信号出力(Tx)とを電気的に接続する第2の信号ラインを含んでいてもよい。信号ライン1250は、送電部120の第1の基準電圧端子(VCC)と整流・平滑部150の第1の基準電圧端子(VCC)とを接続する信号ライン、及び送電部120の第2の基準電圧端子(GND)と整流・平滑部150の第2の基準電圧端子(GND)とを接続する信号ラインを含んでいてもよい。信号ライン1250は、グランド電位のシールドで覆われたシールドケーブルであってもよい。この場合には、信号ライン1250を構成する複数の信号ラインは、一つずつ個別にシールドで覆われてもよく、まとめてシールドで覆われてもよい。RFフィルタ190は、信号ライン1250を構成する複数の信号ラインの各々にローパスフィルタを提供する。ローパスフィルタは、インダクタ及びコンデンサを含むLCフィルタであってもよい。ローパスフィルタのインダクタは、対応する信号ラインの一部を構成する。コンデンサは、送電部120に接続されたインダクタの一端とグランドとの間で接続されている。RFフィルタ190によれば、整流・平滑部150と送電部120との間の信号ライン1250を介した高周波電力(高周波ノイズ)の伝搬を抑制することが可能となる。
 [送電部の通信部及び整流・平滑部の通信部]
 図16~図18を参照する。図16は、一つの例示的実施形態に係る送電部の通信部及び整流・平滑部の通信部を示す図である。図17及び図18の各々は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。図6、図7、図16、図17、及び図18に示すように、通信部121及び通信部151は、互いの間で無線通信を介して上述の指示信号のような信号の伝送を行うように構成されていてもよい。無線通信を介した通信は、光通信により行われてもよい。通信部121及び通信部151がそれらの間で無線通信を介して信号の伝送を行う場合には、通信部121及び通信部151は、それらの間に遮蔽物が介在しなければ、如何なる位置に配置されていてもよい。これらの図に示す例によれば、RFフィルタ190が不要となる。なお、図16~図18に示す例を含む種々の例示的実施形態において、信号ライン1250は、グランド電位のシールドで覆われたシールドケーブルであってもよい。この場合には、信号ライン1250を構成する複数の信号ラインは、一つずつ個別にシールドで覆われてもよく、まとめてシールドで覆われてもよい。
 図19~図22を参照する。図19は、別の例示的実施形態に係る送電部の通信部及び整流・平滑部の通信部を示す図である。図20~図22の各々は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。図19~図22に示すように、通信部121及び通信部151は、互いの間で光ファイバ1260を介して、即ち、光ファイバ通信により、上述の指示信号のような信号(光信号)の伝送を行うように構成されていてもよい。通信部121及び通信部151がそれらの間で光ファイバ1260を介して信号の伝送を行う場合には、通信部121及び通信部151は、光ファイバ1260の曲げ半径が許容される範囲内にあれば、如何なる位置に配置されていてもよい。これらの図に示す例においても、RFフィルタ190が不要となる。
 [蓄電部]
 図23の(a)及び図23の(b)を参照する。図23の(a)及び図23の(b)の各々は、一つの例示的実施形態に係る蓄電部を示す図である。図23の(a)に示すように、蓄電部160は、コンデンサ161を含んでいる。コンデンサ161は、一対の給電ライン、即ち、プラスライン160pとマイナスライン160mとの間で接続されている。プラスライン160pは、整流・平滑部150の正出力(VOUT+)から負荷に向けて延びている。マイナスライン160mは、整流・平滑部150の負出力(VOUT-)から負荷に向けて延びている。コンデンサ161は、有極性のコンデンサであってもよい。コンデンサ161は、電気二重層又はリチウムイオンバッテリであってもよい。
 図23の(b)に示すように、蓄電部160は、複数のコンデンサ161を含んでいてもよい。複数のコンデンサ161は、プラスライン160pとマイナスライン160mとの間で直列接続されている。複数のコンデンサ161は、互いに同一の静電容量を有してもよいし、互いに異なる静電容量を有してもよい。複数のコンデンサ161の各々は、有極性のコンデンサであってもよい。複数のコンデンサ161の各々は、電気二重層又はリチウムイオンバッテリであってもよい。蓄電部160は、それに対する入力電圧とノーマルモードノイズによる線間電位差との合計値が許容入力電圧よりも低くなる条件で用いられる必要がある。蓄電部160が、複数のコンデンサ161の直列接続を含む場合には、蓄電部160の許容入力電圧が高くなる。したがって、図23の(b)に示す例によれば、蓄電部160のノイズ耐性が向上される。
 [電圧制御コンバータ]
 図24を参照する。図24は、一つの例示的実施形態に係る電圧制御コンバータを示す図である。電圧制御コンバータ170は、DC-DCコンバータである。電圧制御コンバータ170は、蓄電部160と定電圧制御部180との間で接続されている。電圧制御コンバータ170の正入力(VIN+)には、プラスライン160pが接続されている。電圧制御コンバータ170の負入力(VIN-)には、マイナスライン160mが接続されている。電圧制御コンバータ170の正出力(VOUT+)は、定電圧制御部180の正入力(VIN+)に接続されている。電圧制御コンバータ170の負出力(VOUT-)は、定電圧制御部180の負入力(VIN-)に接続されている。
 電圧制御コンバータ170は、制御部172、ローパスフィルタ173、トランス174、及びコンデンサ175を含んでいてもよい。ローパスフィルタ173は、インダクタ1731a、コンデンサ1732a、及びコンデンサ1732bを含んでいてもよい。インダクタ1731aの一端は、電圧制御コンバータ170の正入力(VIN+)に接続されている。インダクタ1731aの他端は、トランス174の一次側コイルの一端に接続されている。コンデンサ1732aの一端は、インダクタ1731aの一端及び電圧制御コンバータ170の正入力(VIN+)に接続されている。コンデンサ1732aの他端は、電圧制御コンバータ170の負入力(VIN-)に接続されている。コンデンサ1732bの一端は、インダクタ1731aの他端に接続されている。コンデンサ1732bの他端は、電圧制御コンバータ170の負入力(VIN-)に接続されている。
 トランス174は、一次側コイル1741、二次側コイル1742、及びスイッチ1743を含んでいる。一次側コイル1741の他端は、スイッチ1743を介して電圧制御コンバータ170の負入力(VIN-)に接続されている。二次側コイル1742の一端は、コンデンサ175の一端及び電圧制御コンバータ170の正出力(VOUT+)に接続されている。二次側コイル1742の他端は、コンデンサ175の他端及び電圧制御コンバータ170の負出力(VOUT-)に接続されている。
 スイッチ1743には、ドライバ1744が接続されている。ドライバ1744は、スイッチ1743を開閉する。スイッチ1743が閉じているとき、即ち、一次側コイル1741の他端と負入力(VIN-)が導通状態にあるときには、一次側コイル1741の他端が電圧制御コンバータ170の負入力(VIN-)に接続されて、電圧制御コンバータ170からの直流電力が定電圧制御部180に与えられる。一方、スイッチ1743が開いているとき、即ち、一次側コイル1741の他端と負入力(VIN-)が非導通状態にあるときには、一次側コイル1741の他端と電圧制御コンバータ170の負入力(VIN-)との接続が切断されて、電圧制御コンバータ170から定電圧制御部180への直流電力の供給が遮断される。
 電圧制御コンバータ170は、電圧検出器176v及び電流検出器176iを更に含んでいてもよい。電圧検出器176vは、二次側コイル1742の両端間の電圧値又は電圧制御コンバータ170の正出力と負出力との間での電圧値を検出する。電流検出器176iは、二次側コイル1742の他端と電圧制御コンバータ170の負出力との間での電流値を測定する。電圧検出器176vによって検出された電圧値及び電流検出器176iによって検出された電流値は、制御部172に通知される。なお、制御部172は、制御部122及び制御部152の少なくとも何れか一つと同一であってもよく、異なっていてもよい。
 制御部172は、電圧検出器176vによって検出された電圧値が閾値以上である場合に、ドライバ1744を制御して、電圧制御コンバータ170から定電圧制御部180への直流電力の供給を遮断する。電圧制御コンバータ170の正出力と負出力との間の電圧値は、電圧制御コンバータ170の出力電圧値とノーマルモードノイズによる線間電位差の加算値である。この実施形態では、ノーマルモードノイズによる線間電位差に起因する過電圧による電圧制御コンバータ170の負荷の破損を抑制することができる。
 [定電圧制御部]
 図25及び図26を参照する。図25及び図26は、幾つかの例示的実施形態に係る定電圧制御部を示す図である。定電圧制御部180は、蓄電部160と少なくとも一つの電力消費部材240との間で接続されており、少なくとも一つの電力消費部材240への電圧印加(直流電圧の印加)及びその停止を制御するように構成されている。
 定電圧制御部180は、制御部182及び少なくとも一つのスイッチ183を含んでいる。定電圧制御部180の正入力(VIN+)は、スイッチ183を介して電力消費部材240に接続されている。定電圧制御部180の負入力(VIN-)は、電力消費部材240に接続されている。スイッチ183は、制御部182によって制御される。スイッチ183が閉じられているときには、定電圧制御部180からの直流電圧が電力消費部材240に印加される。スイッチ183が開かれているときには、定電圧制御部180から電力消費部材240への直流電圧の印加が停止される。なお、制御部182は、制御部122、制御部152及び制御部172の少なくとも何れか一つと同一であってもよく、異なっていてもよい。
 図25及び図26に示す実施形態において、プラズマ処理装置は、複数の電力消費部材240を含んでいる。定電圧制御部180は、制御部182及び複数のスイッチ183を含んでいる。定電圧制御部180の正入力(VIN+)は、複数のスイッチ183を介して複数の電力消費部材240に接続されている。定電圧制御部180の負入力(VIN-)は、複数の電力消費部材240に接続されている。
 図25及び図26に示す実施形態において、複数の電力消費部材240は複数のヒータ(抵抗加熱素子)を含んでいてもよい。複数のヒータは、基板支持部11内に設けられていてもよい。図25に示す実施形態では、複数の抵抗体260が複数のヒータそれぞれの近傍に配置されている。複数の抵抗体260の各々は、温度によって変化する抵抗値を有する。複数の抵抗体260の各々は、例えばサーミスタである。複数の抵抗体260の各々は、基準抵抗(図示せず)と直列接続されている。定電圧制御部180は、複数の測定部184を含んでいる。複数の測定部184の各々は、複数の抵抗体260のうち対応する抵抗体と基準抵抗の直列接続に基準電圧を印加して、当該抵抗体の両端間の電圧値を検出する。複数の測定部184の各々は、検出した電圧値を制御部182に通知する。制御部182は、通知された電圧値から複数のヒータのうち対応するヒータが配置されている領域の温度を特定し、当該領域の温度を目標温度に近づけるように、対応するヒータへの直流電圧の印加を制御する。なお、複数の抵抗体260の代わりに光ファイバ温度計を配置してもよい。この場合は、複数の抵抗体260と複数の測定部184との間の配線が不要になるため、電力消費部材240への高周波の伝導性ノイズの影響を無くすことができる。
 図26に示す実施形態において、定電圧制御部180は、電圧検出器185v及び複数の電流検出器185iを含む。電圧検出器185vは、複数のヒータの各々に印加されている電圧値を検出する。複数の電流検出器185iは、複数のヒータのうち対応するヒータに供給される電流の値、即ち電流値を測定する。複数の測定部184は、複数のヒータのうち対応するヒータの抵抗値を、複数の電流検出器185iのうち対応する電流検出器によって検出された電流値と電圧検出器185vによって検出された電圧値から特定する。制御部182は、複数のヒータそれぞれの検出された抵抗値から、複数のヒータそれぞれが配置されている複数の領域それぞれの温度を特定する。制御部182は、複数の領域それぞれの温度を目標温度に近づけるように、複数のヒータそれぞれへの直流電圧の印加を制御する。
 [蓄電部の蓄電量の制御方法]
 図27を参照する。図27は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。以下、図27に示すプラズマ処理装置100Gについて、図7に示すプラズマ処理装置100Eに対する相違点の観点から説明する。
 プラズマ処理装置100Gにおいて、蓄電部160は、電圧制御コンバータ170及び定電圧制御部180と一体化されていない。また、プラズマ処理装置100Gにおいて、蓄電部160は、一対の入力スイッチ160SI及び一対の出力スイッチ160SOを含んでいる。蓄電部160は、一対の入力スイッチ160SIを介して整流・平滑部150に接続されている。蓄電部160は、一対の出力スイッチ160SOを介して電圧制御コンバータ170に接続されている。プラズマ処理装置100Gの他の構成は、プラズマ処理装置100Eの対応の構成と同様である。
 以下、プラズマ処理装置100Gにおける蓄電部160の蓄電量の制御方法について説明する。蓄電量の制御方法は、蓄電部160のプラズマ処理装置100Gへの搭載時における蓄電部160の充電方法を含む。蓄電部160がプラズマ処理装置100Gに搭載される際には、一対の入力スイッチ160SIがON状態(導通状態)に設定されることにより、整流・平滑部150に対する蓄電部160の接続が確立される。また、一対の出力スイッチ160SOがON状態(導通状態)に設定されることにより、電圧制御コンバータ170に対する蓄電部160の接続が確立される。
 そして、初期充電モードでの処理が行われる。初期充電モードでは、送電部120、送電コイル部130、及び受電コイル部140を用いた無線給電により、蓄電部160への充電が行われる。このとき、送電部120は、初期充電モードにて動作する。整流・平滑部150の制御部152は、電圧検出器155vによって検出される蓄電部160の電圧値が所定値に達している場合に、通信部151及び通信部121を介して、充電完了を示す信号を送電部120に送信する。送電部120の制御部122は、充電完了を示す信号を受けると、初期充電モードから通常動作モードに移行する。
 以下、図28を参照する。図28は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置の蓄電部に対する充電を説明するための図である。別の実施形態の充電方法において、蓄電部160は、プラズマ処理装置100Gへの搭載前に充電されてから、プラズマ処理装置100Gに搭載されてもよい。
 具体的には、図28に示すように、プラズマ処理装置100Gへの搭載前に、蓄電部160は、一対の入力スイッチ160SIを介して、直流安定化電源510に接続されてもよい。蓄電部160の正極は、一対の入力スイッチ160SIのうち一方及び逆流防止ダイオードを介して直流安定化電源510の正出力に接続されてもよい。蓄電部160への充電時には、一対の入力スイッチ160SIは、ON状態に設定され、一対の出力スイッチ160SOは、OFF状態(非導通状態)に設定される。蓄電部160の充電の完了後、一対の入力スイッチ160SIは、OFF状態に設定される。
 そして、充電された蓄電部160は、プラズマ処理装置100Gに搭載されて、一対の入力スイッチ160SIを介して整流・平滑部150に接続され、一対の出力スイッチ160SOを介して電圧制御コンバータ170に接続される。しかる後に、一対の入力スイッチ160SI及び一対の出力スイッチ160SOが、ON状態に設定される。
 蓄電部160の蓄電量の制御方法は、蓄電部160の放電方法を更に含んでいてもよい。プラズマ処理装置100Gの蓄電部160の放電方法において、一対の入力スイッチ160SI及び一対の出力スイッチ160SOは、OFF状態(非導通状態)に設定される。次いで、蓄電部160が、プラズマ処理装置100Gから取り外される。そして、プラズマ処理装置100Gの外部において、蓄電部160の電力が、当該蓄電部160に接続されたダミー負荷等に放電される。
 以下、図29~図31を参照する。図29は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。図30は、図29に示すプラズマ処理装置の整流・平滑部に受電コイル部が接続された状態を示す図である。図31は、図29に示すプラズマ処理装置の整流・平滑部に直流安定化電源が接続された状態を示す図である。以下、図29に示すプラズマ処理装置100Hについて、図27に示すプラズマ処理装置100Gに対する相違点の観点から説明する。
 プラズマ処理装置100Hにおいて、整流・平滑部150は、表示器156、ドライバ156d、及び給電入力コネクタ157を更に含んでいる。
 給電入力コネクタ157は、グランドフレーム110の外側からアクセス可能に設けられている。即ち、グランドフレーム110には、グランドフレーム110の外側から給電入力コネクタ157へのアクセスを可能とするための開口110wが設けられている。給電入力コネクタ157は、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572を含んでいる。図30及び図31の例では、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572の各々は、雌型の端子であるが、雄型の端子であってもよい。
 上述したように、整流・平滑部150において、整流回路153は、ダイオードブリッジを含んでいる。整流回路153は、給電入力コネクタ157と蓄電部160との間で接続されている。整流回路153は、平滑回路154を介して蓄電部160に接続されている。
 図30に示すように、プラズマ処理装置100Hは、給電出力コネクタ450を更に備えている。給電出力コネクタ450は、第1の給電出力端子451及び第2の給電出力端子452を含んでおり、給電入力コネクタ157に着脱可能である。第1の給電出力端子451及び第2の給電出力端子452は、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に電気的に接続可能である。第1の給電出力端子451及び第2の給電出力端子452は、開口110wを通って、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に電気的に接続される。このため、給電出力コネクタ450は、絶縁部材453を更に含んでいてもよい。第1の給電出力端子451及び第2の給電出力端子452は、絶縁部材453を貫通して、絶縁部材453から突き出している。絶縁部材453は、第1の給電出力端子451及び第2の給電出力端子452が第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に接続されている状態では、第1の給電出力端子451及び第2の給電出力端子452の各々とグランドフレーム110の間に介在する。
 受電コイル部140は、グランドフレーム110の外側、即ち、空間110aに配置されており、給電出力コネクタ450に接続されている。即ち、即ち、受電コイル141は、第1の給電出力端子451及び第2の給電出力端子452に接続されている。受電コイル141と第1の給電出力端子451及び第2の給電出力端子452の各々との間では、RFフィルタ200が接続されていてもよい。
 受電コイル部140がプラズマ処理装置100Hに搭載される際には、給電出力コネクタ450が給電入力コネクタ157に接続される。これにより、グランドフレーム110の外側に配置されている受電コイル部140が、給電出力コネクタ450、給電入力コネクタ157、及び整流・平滑部150を介して蓄電部160に接続される。なお、図30に示す例では、受電コイル部140は、送電コイル部130と共に一体化されている。受電コイル部140及び送電コイル部130には、これらを冷却するファン134fが取り付けられている。なお、図30に示す例では、ファン134fが、受電コイル部140及び送電コイル部130の左方に取り付けられているが、ファン134fが取り付けられる位置は、図30に示す例に限定されるものではない。ファン134fは、受電コイル部140及び送電コイル部130の右方に取り付けられてもよく、下方に取り付けられてもよい。
 プラズマ処理装置100Hのグランドフレーム110は、光学窓110vを更に含んでいてもよい。光学窓110vは、表示器156をグランドフレーム110の外部から視認可能とするよう、表示器156とグランドフレーム110の外部の空間との間に介在している。光学窓110vは、金属製の遮蔽部材110cにより開閉可能である。光学窓110vは、受電コイル部140が整流・平滑部150と電気的に接続されている状態では、遮蔽部材110cにより閉じられる。光学窓110vが、遮蔽部材110cにより閉じられると、遮蔽部材110cとグランドフレーム110は電気的に接続される。
 以下、図29~図31に加えて、図32の(a)及び図32の(b)を参照して、プラズマ処理装置100Hの蓄電部160の蓄電量の制御方法について説明する。図32の(a)は、蓄電部の電圧の一例のタイミングチャートであり、図32の(b)は、蓄電部に供給される電流の一例のタイミングチャートである。蓄電部160の蓄電量の制御方法は、蓄電部160の充電方法を含む。
 プラズマ処理装置100Hの蓄電部160の充電方法では、給電出力コネクタ450が給電入力コネクタ157から取り外されて、受電コイル部140がプラズマ処理装置100Hから取り外される。
 そして、プラズマ処理装置100Hの蓄電部160の充電方法では、図31に示すように、蓄電部160の充電のために、電源ユニット500が用いられる。電源ユニット500は、直流安定化電源510及び給電コネクタ520を含んでいる。給電コネクタ520は、第1の給電端子521及び第2の給電端子522を含んでおり、給電入力コネクタ157に着脱可能である。第1の給電端子521及び第2の給電端子522は、グランドフレーム110の外側、即ち空間110aに配置された直流安定化電源510に接続されている。第1の給電端子521及び第2の給電端子522は、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に電気的に接続可能である。
 プラズマ処理装置100Hの蓄電部160の充電方法では、図31に示すように、第1の給電端子521及び第2の給電端子522が、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に接続される。第1の給電端子521及び第2の給電端子522は、開口110wを通って、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に電気的に接続される。このため、給電コネクタ520は、絶縁部材523を更に含んでいてもよい。第1の給電端子521及び第2の給電端子522は、絶縁部材523を貫通して、絶縁部材523から突き出している。絶縁部材523は、第1の給電端子521及び第2の給電端子522が第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に接続されている状態では、第1の給電端子521及び第2の給電端子522の各々とグランドフレーム110の間に介在する。
 次いで、プラズマ処理装置100Hの蓄電部160の充電方法では、直流安定化電源510から蓄電部160への給電が行われて、蓄電部160が充電される。なお、直流安定化電源510から蓄電部160に供給される電流の初期的な設定値は、図32の(b)に示す電流値ISETである。
 蓄電部160の充電状態は、制御部152によって監視される。蓄電部160の充電時には、蓄電部160の電圧値が、制御部152によって電圧検出器155vを用いて監視されてもよい。また、蓄電部160の充電時には、直流安定化電源510から蓄電部160に流れる電流の値(即ち、電流値)が、制御部152によって電流検出器155iを用いて監視されてもよい。
 図32の(a)及び図32の(b)に示すように、制御部152は、蓄電部160の電圧値を監視して、蓄電部160の電圧値が、設定電圧値VSETに達した時点tで又は時点Tの後且つ後述する時点tの前に蓄電部160の充電を完了(即ち、停止)してもよい。或いは、制御部152は、蓄電部160の電圧値及び直流安定化電源510から蓄電部160への電流値を監視して、蓄電部160の電圧値が設定電圧値VSETに達した時点tの後に、当該電流値が閾値ITHに達した時点tで、蓄電部160の充電を完了(即ち、停止)してもよい。閾値ITHは、例えば、制御部152が起動するために必要な値に設定される。閾値ITHは、例えば、0.5Aに設定され得る。制御部152は、通信部121及び通信部151を介した通信により、直流安定化電源510による給電を停止する信号を、直流安定化電源510に送信し、これにより蓄電部160の充電を停止してもよい。
 制御部152は、表示器156により蓄電部160の充電状態を表す表示を行ってもよい。表示器156は、半導体発光素子(即ち、LED)を含んでいてもよい。制御部152は、ドライバ156dを制御して、表示器156に蓄電部160の充電状態を表す表示を行わせてもよい。なお、この場合には、表示器156をグランドフレーム110の外部から視認できるように、光学窓110vが開かれる。
 表示器156は、LEDの点灯又は消灯により、蓄電部160の充電が完了しているか否かを表してもよい。或いは、表示器156は、LEDの発光色により、蓄電部160の充電状態を表してもよい。例えば、表示器156は、緑色の発光により蓄電部160の電圧値が整流・平滑部150が動作可能な電圧値であることを示してもよい。また、表示器156は、橙色の発光により、蓄電部160の電圧値が整流・平滑部150が動作可能な電圧値ではあるが、充電の余地があることを示してもよい。また、表示器156は、赤色の発光により蓄電部160の電圧値が整流・平滑部150が動作不可能な電圧値であり、充電が必要であることを示してもよい。或いは、表示器156は、7セグメントLEDを含んでいてもよく、7セグメントLEDにより蓄電部160の電圧値を表す数値を表示してもよい。なお、表示器156が用いられる場合には、蓄電部160の充電は、その完了時に作業者による手動で停止されてもよい。
 プラズマ処理装置100Hでは、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572は、整流・平滑部150の整流回路153のダイオードブリッジを介して蓄電部160に接続される。したがって、蓄電部160の充電のために、逆流防止回路を用いることなく、直流安定化電源510を蓄電部160に電気的に接続することが可能である。また、蓄電部160の充電完了後に、受電コイル部140を整流・平滑部150に電気的に接続する際には(図30参照)、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572は帯電していない。したがって、作業者の感電が防止される。
 以下、図33~図36を参照する。図33は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。図34が、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置の整流・平滑部に受電コイル部が接続された状態を示す図である。図35は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置の整流・平滑部に直流安定化電源が接続された状態を示す図である。図36は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置の整流・平滑部に放電ユニットが接続された状態を示す図である。以下、図33に示すプラズマ処理装置100Jについて、図29に示すプラズマ処理装置100Hとの相違点の観点から説明する。
 図34に示すように、プラズマ処理装置100Jにおいて、整流・平滑部150は、プラズマ処理装置100Hの整流・平滑部150と同様に、ドライバ156d及び給電入力コネクタ157を含んでいる。図34に示すように、プラズマ処理装置100Jは、プラズマ処理装置100Hと同様に、給電出力コネクタ450を備えている。プラズマ処理装置100Jにおいて、整流・平滑部150は、表示器1561、表示器1562、及び放電出力コネクタ158を更に含んでいる。
 プラズマ処理装置100Hの場合と同様に、受電コイル部140がプラズマ処理装置100Jに搭載される際には、給電出力コネクタ450が給電入力コネクタ157に接続される。これにより、グランドフレーム110の外側に配置されている受電コイル部140が、給電出力コネクタ450、給電入力コネクタ157、及び整流・平滑部150を介して蓄電部160に接続される。なお、図34に示す例では、受電コイル部140は、送電コイル部130と共に一体化されている。受電コイル部140及び送電コイル部130には、これらを冷却するファン134fが取り付けられている。なお、図34に示す例では、ファン134fが受電コイル部140及び送電コイル部130の右方に取り付けられているが、ファン134fが取り付けられる位置は、図34に示す例に限定されるものではない。ファン134fは、受電コイル部140及び送電コイル部130の上方に取り付けられてもよく、下方に取り付けられてもよい。
 プラズマ処理装置100Jにおいて、給電出力コネクタ450は、絶縁部454を更に含んでいてもよい。絶縁部454は、絶縁性材料から形成されている。絶縁部454は、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582の各々が雌型の端子である場合には、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582それぞれの中に挿入される一対の絶縁ピンであってもよい。或いは、絶縁部454は、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582を覆う絶縁キャップであってもよい。
 以下、図33~図36に加えて、図32の(a)及び図32の(b)並びに図37を参照して、プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の蓄電量の制御方法について説明する。図37は、蓄電部の電圧の一例のタイミングチャートである。
 プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の蓄電量の制御方法は、蓄電部160の充電方法を含む。プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の充電方法では、給電出力コネクタ450が給電入力コネクタ157から取り外されて、受電コイル部140がプラズマ処理装置100Hから取り外される。
 そして、プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の充電方法では、図35に示すように、電源ユニット500が用いられる。電源ユニット500は、プラズマ処理装置100Hの蓄電部160の充電に関連して上述したように、直流安定化電源510及び給電コネクタ520を含んでいる。
 プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の充電方法では、図35に示すように、第1の給電端子521及び第2の給電端子522が、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に接続される。第1の給電端子521及び第2の給電端子522は、開口110wを通って、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に電気的に接続される。
 次いで、プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の充電方法では、直流安定化電源510から蓄電部160への給電が行われて、蓄電部160が充電される。
 蓄電部160の充電状態は、制御部152によって監視される。蓄電部160の充電時には、蓄電部160の電圧値が、制御部152によって電圧検出器155vを用いて監視されてもよい。また、蓄電部160の充電時には、直流安定化電源510から蓄電部160に流れる電流の値(即ち、電流値)が、制御部152によって電流検出器155iを用いて監視されてもよい。
 図32の(a)及び図32の(b)に示すように、制御部152は、蓄電部160の電圧値を監視して、蓄電部160の電圧値が、設定電圧値VSETに達した時点tで又は時点Tの後且つ後述する時点tの前に蓄電部160の充電を完了(即ち、停止)してもよい。或いは、制御部152は、蓄電部160の電圧値及び直流安定化電源510から蓄電部160への電流値を監視して、蓄電部160の電圧値が設定電圧値VSETに達した時点tの後に、当該電流値が閾値ITHに達した時点tで、蓄電部160の充電を完了(即ち、停止)してもよい。制御部152は、通信部121及び通信部151を介した通信により、直流安定化電源510による給電を停止する信号を、直流安定化電源510に送信し、これにより充電を停止してもよい。
 制御部152は、表示器1561により蓄電部160の充電状態を表す表示を行ってもよい。表示器1561は、プラズマ処理装置100Hにおける表示器156と同様に、半導体発光素子(即ち、LED)を含んでいてもよい。制御部152は、ドライバ156dを制御して、表示器1561に蓄電部160の充電状態を表す表示を行わせてもよい。なお、この場合には、表示器1561をグランドフレーム110の外部から視認できるように、絶縁部材523は、光学的に透明な材料から形成されていてもよい。表示器1561での蓄電部160の充電状態を表す表示は、プラズマ処理装置100Hにおける表示器156の表示と同様であり得る。
 一実施形態において、電源ユニット500は、テスタ530を更に含んでいてもよい。また、給電コネクタ520は、一対のテスタ端子524を含んでいてもよい。一対のテスタ端子524は、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582に接続可能であり、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582に対する接続を解除することも可能である。一対のテスタ端子524は、第1の給電端子521及び第2の給電端子522が第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572に接続されている状態では、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582に接続される。一方、一対のテスタ端子524は、第1の給電端子521及び第2の給電端子522が第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572から引き離されると、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582から引き離される。
 一対のテスタ端子524が第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582に接続されている状態において、テスタ530は、蓄電部160の電圧値を監視する。したがって、直流安定化電源510から蓄電部160への充電時には、テスタ530により蓄電部160の充電状態を監視することができる。
 プラズマ処理装置100Jでは、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572は、整流・平滑部150の整流回路153のダイオードブリッジを介して蓄電部160に接続される。したがって、蓄電部160の充電のために、逆流防止回路を用いることなく、直流安定化電源510を蓄電部160に電気的に接続することが可能である。また、蓄電部160の充電完了後に、受電コイル部140を整流・平滑部150に電気的に接続する際には(図34参照)、第1の給電入力端子1571及び第2の給電入力端子1572は帯電していない。したがって、作業者の感電が防止される。
 プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の蓄電量の制御方法は、蓄電部160の放電方法を含む。プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の放電方法では、給電出力コネクタ450が給電入力コネクタ157から取り外されて、受電コイル部140がプラズマ処理装置100Hから取り外される。
 そして、プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の放電方法では、図36に示すように、放電ユニット600が用いられる。放電ユニット600は、放電用負荷610及び放電コネクタ620を含んでいる。放電ユニット600は、ファン630を更に含んでいてもよい。ファン630は、放電用負荷610を冷却するために、設けられている。
 放電コネクタ620は、第1の放電端子621及び第2の放電端子622を含んでおり、放電出力コネクタ158に着脱可能である。第1の放電端子621及び第2の放電端子622は、グランドフレーム110の外側、即ち空間110aに配置された放電用負荷610に接続されている。第1の放電端子621及び第2の放電端子622は、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582に電気的に接続可能である。第1の放電端子621は、スイッチ624を介して、放電用負荷610に接続されていてもよい。
 プラズマ処理装置100Jの蓄電部160の放電方法では、図36に示すように、第1の放電端子621及び第2の放電端子622が、スイッチ624がOFF状態(即ち、非導通状態)に設定されている状態で、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582に接続される。第1の放電端子621及び第2の放電端子622は、開口110wを通って、第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582に電気的に接続される。このため、放電コネクタ620は、絶縁部材623を更に含んでいてもよい。第1の放電端子621及び第2の放電端子622は、絶縁部材623を貫通して、絶縁部材623から突き出している。絶縁部材623は、第1の放電端子621及び第2の放電端子622が第1の放電出力端子1581及び第2の放電出力端子1582に接続されている状態では、第1の放電端子621及び第2の放電端子622の各々とグランドフレーム110の間に介在する。
 次いで、蓄電部160の放電方法では、スイッチ624がON状態(即ち、導通状態)に設定される。これにより、蓄電部160の電力が放電用負荷610に放電される。
 図37に示すように、蓄電部160の放電中には、蓄電部160の電圧値は、蓄電部160の放電の開始時の電圧値Vから減少する。蓄電部160の放電は、蓄電部160の電圧値が閾値VTHに到達した時点tで完了し、停止される。閾値VTHは、例えば、制御部152を起動することができず、且つ、人体に影響を与えない値に設定される。閾値VTHは、例えば、2.5Vに設定され得る。蓄電部160の放電が完了した後に、スイッチ624がOFF状態に設定されて、放電ユニット600がプラズマ処理装置100Jから取り外される。
 制御部152は、表示器1562により蓄電部160の放電状態を表す表示を行ってもよい。表示器1562は、半導体発光素子(即ち、LED)を含んでいてもよい。制御部152は、ドライバ156dを制御して、表示器1562に蓄電部160の放電状態を表す表示を行わせてもよい。この場合において、表示器1562をグランドフレーム110の外部から視認できるように、絶縁部材523は、光学的に透明な材料から形成されていてもよい。なお、表示器1562は、蓄電部160の放電が完了すると、その動作が不可能となって、消灯するように構成されていてもよい。また、プラズマ処理装置100Jは、表示器1561及び表示器1562の代わりに、表示器1561及び表示器1562の双方と同様に用いられる単一の表示器を有していてもよい。
 かかるプラズマ処理装置100Jによれば、蓄電部160をプラズマ処理装置100Jに搭載した状態で、グランドフレーム110の外側に配置された放電用負荷610に対して蓄電部160の放電を行うことができる。したがって、蓄電部160の放電のための作業における作業者の感電が防止される。
 以下、図38及び図39を参照する。図38は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置を概略的に示す図である。図39は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置において蓄電部の放電に関連する構成を示す図である。以下、図38に示すプラズマ処理装置100Kについて、図7に示すプラズマ処理装置100Eに対する相違点の観点から説明する。
 図38に示すように、プラズマ処理装置100Kは、放電用負荷65、複数のスイッチ66、及び表示器67を更に備えている。放電用負荷65は、蓄電部160の放電のみの用途で設けられた負荷、即ち放電専用負荷であるか、上述の複数の電力消費部材240のうち少なくとも一つ(例えば、少なくとも一つのヒータ)である。放電用負荷65は、グランドフレーム110から絶縁距離以上離れて配置されている。複数のスイッチ66は、グランドフレーム110の外側からアクセス可能であるように、空間110hの非減圧空間に設けられていてもよい。また、表示器67は、グランドフレーム110の外側から視認可能であるように設けられていてもよい。
 図39に示すように、放電用負荷65の一端は、整流・平滑部150と蓄電部160とを互いに接続する一対の給電ラインのうち一方(例えば、プラスライン160p)に接続されている。放電用負荷65の他端は、当該一対の給電ラインのうち他方(例えば、マイナスライン160m)に接続されている。
 複数のスイッチ66は、放電モードスイッチ660及びスイッチ662(又はダイレクトモードスイッチ)を含んでいる。また、表示器67は、表示部670及び表示部672を含んでいる。表示部670及び表示部672の各々は、蓄電部160の放電状態を表すように構成された放電状態表示部であり、LEDであってもよい。
 放電モードスイッチ660及び表示部670は、制御部152に対して直列に接続されている。また、スイッチ662は、整流・平滑部150と蓄電部160とを互いに接続する一対の給電ラインのうち一方(例えば、プラスライン160p)と放電用負荷65との間で接続されている。表示部672は、蓄電部160に対して放電用負荷65と並列に接続されている。
 図39に示す実施形態において、放電モードスイッチ660は、プラズマ処理装置100Kでの異常発生時にハードウェアインターロックとしてON状態に設定されてもよい。或いは、放電モードスイッチ660は、蓄電部160の放電のために、作業者による手動でON状態に設定されてもよい。スイッチ662は、放電モードスイッチ660がON状態に設定されているときに、作業者による手動でON状態に設定されてもよく、或いは、制御部2又は制御部152による制御によってON状態に設定されてもよい。蓄電部160の放電が完了したときには、放電モードスイッチ660及びスイッチ662は、作業者による手動でOFF状態に設定されてもよく、或いは、制御部2又は制御部152による制御によってOFF状態に設定されてもよい。なお、スイッチ662は、放電モードスイッチ660と共用されていてもよい。
 図39に示す実施形態に示す実施形態において、プラズマ処理装置100Kの蓄電部160の蓄電量の制御方法は、蓄電部160の放電方法を含む。蓄電部160の放電は、放電モードスイッチ660及びスイッチ662がON状態に設定されることで開始する。放電モードスイッチ660及びスイッチ662がON状態に設定されると、蓄電部160の電力は放電用負荷65に放電される。
 蓄電部160の放電中には、蓄電部160の電圧値は、蓄電部160の放電の開始時の電圧値Vから減少する(図37参照)。蓄電部160の放電は、蓄電部160の電圧値が閾値VTHに到達した時点tで完了し、停止される。蓄電部160の放電が完了した後に、放電モードスイッチ660及びスイッチ662は、OFF状態に設定される。
 表示部670及び表示部672は、上述の表示器1562と同様に、蓄電部160の放電中に蓄電部160の放電状態を表す表示(例えば、LEDの発光)を行う。表示部670及び表示部672は、蓄電部160の放電が完了すると、その動作が不可能となって、消灯するように構成されていてもよい。
 図39に示す実施形態では、蓄電部160の電力は、放電用負荷65に放電されるが、蓄電部160の電力は、放電用負荷65以外の負荷に放電されてもよい。例えば、蓄電部160の電力は、複数の電力消費部材240のうち少なくとも一つに放電されてもよい。
 以下、図40を参照する。図40は、更に別の例示的実施形態に係るプラズマ処理装置において蓄電部の放電に関連する構成を示す図である。図40に示す蓄電部160の放電に関連する構成は、プラズマ処理装置100Kにおいて採用され得る。以下、図40の実施形態について、図39の実施形態に対する相違点の観点から説明する。
 図40の実施形態において、放電用負荷65は、放電専用負荷であってもよい。図40の実施形態において、複数のスイッチ66は、放電モードスイッチ660、スイッチ661(1次放電モードスイッチ)、及びスイッチ662(ダイレクトモードスイッチ又は2次放電モードスイッチ)を含んでいる。また、表示器67は、表示部67a(ダイレクト放電モード表示部)、表示部67b(2段階放電モード表示部)、表示部671(1次放電状態表示部)、及び表示部672(ダイレクトモード放電状態表示部又は2次放電状態表示部)を含んでいる。表示部67a、表示部67b、表示部671、及び表示部672の各々は、LEDであってもよい。
 放電モードスイッチ660は、制御部152に接続されている。表示部67a及び表示部67bは、放電モードスイッチ660と制御部152との間で並列接続されている。スイッチ661及び表示部671は、制御部152に対して直列に接続されている。また、スイッチ662は、整流・平滑部150と蓄電部160とを互いに接続する一対の給電ラインのうち一方(例えば、プラスライン160p)と放電用負荷65との間で接続されている。表示部672は、蓄電部160に対して放電用負荷65と並列に接続されている。
 図40に示す実施形態において、放電モードスイッチ660は、プラズマ処理装置100Kでの異常発生時にハードウェアインターロックとしてON状態に設定されてもよい。或いは、放電モードスイッチ660は、蓄電部160の放電のために、作業者による手動でON状態に設定されてもよい。
 放電モードスイッチ660がON状態に設定される場合には、放電モードスイッチ660は、表示部67a及び表示部67bのうち一方に選択的に接続する。放電モードスイッチ660が表示部67aに接続している場合には、スイッチ662がON状態に設定されて、図39の実施形態と同様に放電用負荷65だけを用いた蓄電部160の放電(即ち、ダイレクトモード放電)が行われる。この場合には、表示部67aは、ダイレクトモード放電が行われていることを表す表示(例えば、LEDの発光)を行う。また、表示部672は、ダイレクトモード放電が行われていることを表す表示(例えば、LEDの発光)を行う。
 放電モードスイッチ660が表示部67bに接続している場合には、2段階放電モードでの放電が行われる。この場合には、表示部67bは、2段階放電モードでの放電が行われていることを表す表示(例えば、LEDの発光)を行う。2段階放電モードでの放電では、1段階目に、スイッチ661がON状態に設定されて、蓄電部160の電力が、上述の複数の電力消費部材240のうち少なくとも一つ(例えば、少なくとも一つのヒータ)に放電される。このとき、表示部671は、1段階目の放電が行われていることを表す表示(例えば、LEDの発光)を行う。
 2段階放電モードでの放電では、2段階目に、スイッチ661がOFF状態に設定され、且つ、スイッチ662がON状態に設定されて、蓄電部160の電力が放電用負荷65に放電される。このとき、表示部672は、2段階目の放電が行われていることを表す表示(例えば、LEDの発光)を行う。
 図40の実施形態において、放電モードスイッチ660、スイッチ661、及びスイッチ662の各々の状態は、作業者による手動で切り替えられてもよく、或いは、制御部2又は制御部152の制御により切り替えられてもよい。なお、スイッチ661は、放電モードスイッチ660の2段階放電モードへのスイッチングと共用されていてもよい。また、スイッチ662は、放電モードスイッチ660のダイレクト放電モードへのスイッチングと共用されていてもよい。即ち、放電モードスイッチ660が、スイッチ661及びスイッチ662の少なくとも一方を兼ねていてもよい。
 図40に示す実施形態に示す実施形態において、プラズマ処理装置100Kの蓄電部160の蓄電量の制御方法は、蓄電部160の放電方法を含む。蓄電部160の放電は、上述したように、ダイレクトモード放電及び2段階放電モードを含む。以下、図41を参照して、2段階放電モードでの蓄電部160の放電方法について説明する。図41は、蓄電部の電圧の一例のタイミングチャートである。
 2段階放電モードでの放電方法は、放電モードスイッチ660が、2段階放電モードの選択(表示部67bへの接続)に切り替えられ、且つ、及びスイッチ661がON状態に設定されることで開始する。そして、1段階目の放電が行われる。1段階目の放電において、蓄電部160の電力は上述の複数の電力消費部材240のうち少なくとも一つ(例えば、少なくとも一つのヒータ)に放電される。
 蓄電部160の放電中には、蓄電部160の電圧値は、図41に示すように、蓄電部160の放電の開始時の電圧値Vから減少する。1段階目の蓄電部160の放電は、蓄電部160の電圧値が閾値Vに到達した時点tで完了し、停止される。閾値Vは、例えば、蓄電部160の電荷を電力消費部材240への放電することができなくなる値に設定される。閾値Vは、例えば、電圧制御コンバータの入力下限電圧値に設定され得る。
 次いで、スイッチ661がOFF状態に設定されて、スイッチ662がON状態に設定される。そして、2段階目の放電が行われる。2段階目の放電において、蓄電部160の電力は放電用負荷65に放電される。
 2段階目の蓄電部160の放電中には、蓄電部160の電圧値は、図41に示すように、更に減少する。2段階目の蓄電部160の放電は、蓄電部160の電圧値が閾値Vに到達した時点tで完了し、停止される。2段階目の蓄電部160の放電が完了した後に、放電モードスイッチ660及びスイッチ662は、OFF状態に設定される。閾値Vは、例えば、制御部152を起動することができず、且つ、人体に影響を与えない値に設定される。閾値VTHは、例えば、2.5Vに設定され得る。
 図40及び図41に示す実施形態では、蓄電部160の電力は、1段階目の放電においては複数の電力消費部材240のうち少なくとも一つに放電され、2段階目の放電においては放電用負荷65に放電されるが、蓄電部160の電力の放電はこの例に限定されるものではない。蓄電部160の電力は、1段階目の放電においては放電用負荷65に放電され、2段階目の放電においては複数の電力消費部材240のうち少なくとも一つに放電されてもよい。また、特定の期間のみにおいて、蓄電部160の電力は、複数の電力消費部材240のうち少なくとも一つ及び放電用負荷65に同時に放電されてもよい。
 上述したように、表示部671は、1段階目の放電が行われているときに、1段階目の放電が行われていることを示す表示(例えば、LEDの発光)を行う。表示部671は、時点tで消灯してもよい。また、表示部672は、2段階目の放電が行われているときに、2段階目の放電が行われていることを示す表示(例えば、LEDの発光)を行う。表示部672は、時点tで消灯してもよい。
 以上、種々の例示的実施形態について説明してきたが、上述した例示的実施形態に限定されることなく、様々な追加、省略、置換、及び変更がなされてもよい。また、異なる実施形態における要素を組み合わせて他の実施形態を形成することが可能である。
 ここで、本開示に含まれる種々の例示的実施形態を、以下の[E1]~[E14]に記載する。
[E1]
 プラズマ処理チャンバと、
 前記プラズマ処理チャンバ内に配置された基板支持部と、
 高周波電力を発生するように構成された高周波電源と、
 前記プラズマ処理チャンバ内でガスからプラズマを生成するために前記高周波電力を受けるよう前記高周波電源に電気的に接続された電極又はアンテナと、
 前記プラズマ処理チャンバ内又は前記基板支持部内に配置される電力消費部材と、
 接地されており、前記プラズマ処理チャンバと共に前記基板支持部を囲むグランドフレームと、
 前記グランドフレームによって囲まれた空間内に配置されており、前記電力消費部材と電気的に接続される蓄電部と、
 前記グランドフレームによって囲まれた前記空間内に配置された整流・平滑部であり、
  第1の給電入力端子及び第2の給電入力端子を含み、前記グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられた給電入力コネクタと、
  ダイオードブリッジを含み、前記給電入力コネクタと前記蓄電部との間で接続された整流回路と、
 を含む、該整流・平滑部と、
 前記第1の給電入力端子及び前記第2の給電入力端子に電気的に接続可能な第1の給電出力端子及び第2の給電出力端子を含み、前記給電入力コネクタに着脱可能な給電出力コネクタと、
 前記グランドフレームの外側に配置されており、前記給電出力コネクタに電気的に接続されており、送電コイルから電磁誘導結合により電力を受けることが可能な受電コイルと、
を備えるプラズマ処理装置。
[E2]
 前記整流・平滑部は、前記グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられた放電出力コネクタを更に備え、
 前記放電出力コネクタは、前記蓄電部と前記整流回路とを互いに接続する二つの給電ラインにそれぞれ接続された第1の放電出力端子及び第2の放電出力端子を含む、
E1に記載のプラズマ処理装置。
[E3]
 前記蓄電部に電気的にスイッチを介して接続された放電専用負荷を更に備える、E1又はE2に記載のプラズマ処理装置。
[E4]
 前記整流・平滑部は、前記グランドフレームの外側から視認可能であるように設けられた表示器であり、前記蓄電部の放電状態を表示するように構成された、該表示器を更に含む、E2又はE3に記載のプラズマ処理装置。
[E5]
 前記整流・平滑部は、
  前記蓄電部の電圧値を検出するように構成された電圧検出器と、
  前記電圧検出器によって検出される前記電圧値に基づいて前記蓄電部の放電状態を表示するよう前記表示器を制御するように構成された制御部と、
 を更に含む、E4に記載のプラズマ処理装置。
[E6]
 前記表示器は、半導体発光素子を含む、E4又はE5に記載のプラズマ処理装置。
[E7]
 前記整流・平滑部は、
  前記グランドフレームの外側から視認可能であるように設けられた表示器と、
  前記蓄電部の電圧値を検出するように構成された電圧検出器と、
  前記電圧検出器によって検出される前記電圧値に基づいて前記蓄電部の充電状態を表示するよう前記表示器を制御するように構成された制御部と、
 を更に含む、E1~E4の何れか一項に記載のプラズマ処理装置。
[E8]
 前記表示器は、半導体発光素子を含む、E7に記載のプラズマ処理装置。
[E9]
 前記グランドフレームは、
  前記表示器を該グランドフレームの外側から視認可能とする光学窓と、
  前記光学窓を開閉可能な金属製の遮蔽部材と、
 を含む、E4~E8の何れか一項に記載のプラズマ処理装置。
[E10]
 前記整流・平滑部は、前記整流回路と前記蓄電部との間で電気的に接続された平滑回路を更に含む、E1~E9の何れか一項に記載のプラズマ処理装置。
[E11]
 蓄電量の制御方法であって、
 該蓄電量の該制御方法が適用されるプラズマ処理装置は、
  プラズマ処理チャンバと、
  前記プラズマ処理チャンバ内に配置された基板支持部と、
  高周波電力を発生するように構成された高周波電源と、
  前記プラズマ処理チャンバ内でガスからプラズマを生成するために前記高周波電力を受けるよう前記高周波電源に電気的に接続された電極又はアンテナと、
  前記プラズマ処理チャンバ内又は前記基板支持部内に配置される電力消費部材と、
  接地されており、前記プラズマ処理チャンバと共に前記基板支持部を囲むグランドフレームと、
  前記グランドフレームによって囲まれた空間内に配置されており、前記電力消費部材と電気的に接続される蓄電部と、
  前記グランドフレームによって囲まれた前記空間内に配置された整流・平滑部であり、
   第1の給電入力端子及び第2の給電入力端子を含み、前記グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられた給電入力コネクタと、
   ダイオードブリッジを含み、前記給電入力コネクタと前記蓄電部との間で接続された整流回路と、
  を含む、該整流・平滑部と、
  前記第1の給電入力端子及び前記第2の給電入力端子に電気的に接続可能な第1の給電出力端子及び第2の給電出力端子を含み、前記給電入力コネクタに着脱可能な給電出力コネクタと、
  前記グランドフレームの外側に配置されており、前記給電出力コネクタに電気的に接続されており、送電コイルから電磁誘導結合により電力を受けることが可能な受電コイルと、
を備え、
 該蓄電量の該制御方法は、
 前記グランドフレームの外側に配置された直流安定化電源に接続された第1の給電端子及び第2の給電端子を前記第1の給電入力端子及び前記第2の給電入力端子に接続する工程と、
 前記直流安定化電源から前記蓄電部に給電する工程と、
 を含む、蓄電量の制御方法。
[E12]
 前記整流・平滑部は、前記グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられた放電出力コネクタを更に備え、
 前記放電出力コネクタは、前記蓄電部と該整流回路とを互いに接続する二つの給電ラインにそれぞれ接続された第1の放電出力端子及び第2の放電出力端子を含み、
 前記蓄電量の該制御方法は、
  前記グランドフレームの外側に配置された放電用負荷に接続された第1の放電端子及び第2の放電端子を前記第1の放電出力端子及び前記第2の放電出力端子に接続する工程と、
  前記蓄電部の電力を前記放電用負荷に放電する工程と、
 を更に含む、E11に記載の蓄電量の制御方法。
[E13]
 前記プラズマ処理装置は、前記蓄電部に電気的にスイッチを介して接続された放電専用負荷を更に備え、
 前記蓄電量の該制御方法は、
  前記スイッチにより前記蓄電部を前記放電専用負荷に導通させる工程と、
  前記蓄電部の電力を前記放電専用負荷に放電する工程と、
 を更に含む、E11に記載の蓄電量の制御方法。
[E14]
 前記プラズマ処理装置は、前記蓄電部に電気的にスイッチを介して接続された放電専用負荷を更に備え、
 前記蓄電量の該制御方法は、
  前記蓄電部の電力を前記電力消費部材に供給することにより前記蓄電部の電力を放電する工程と、
  前記スイッチにより前記蓄電部を前記放電専用負荷に導通させる工程と、
  前記蓄電部の電力を前記放電専用負荷に放電する工程と、
 を更に含む、E11に記載の蓄電量の制御方法。
 以上の説明から、本開示の種々の実施形態は、説明の目的で本明細書で説明されており、本開示の範囲及び主旨から逸脱することなく種々の変更をなし得ることが、理解されるであろう。したがって、本明細書に開示した種々の実施形態は限定することを意図しておらず、真の範囲と主旨は、添付の特許請求の範囲によって示される。
 1…プラズマ処理装置、10…チャンバ、11…基板支持部、110…グランドフレーム、120…送電部、130…送電コイル部、131…送電コイル、140…受電コイル部、141…受電コイル、150…整流・平滑部、160…蓄電部、170…電圧制御コンバータ、180…定電圧制御部、240…電力消費部材、300…高周波電源。

Claims (14)

  1.  プラズマ処理チャンバと、
     前記プラズマ処理チャンバ内に配置された基板支持部と、
     高周波電力を発生するように構成された高周波電源と、
     前記プラズマ処理チャンバ内でガスからプラズマを生成するために前記高周波電力を受けるよう前記高周波電源に電気的に接続された電極又はアンテナと、
     前記プラズマ処理チャンバ内又は前記基板支持部内に配置される電力消費部材と、
     接地されており、前記プラズマ処理チャンバと共に前記基板支持部を囲むグランドフレームと、
     前記グランドフレームによって囲まれた空間内に配置されており、前記電力消費部材と電気的に接続される蓄電部と、
     前記グランドフレームによって囲まれた前記空間内に配置された整流・平滑部であり、
      第1の給電入力端子及び第2の給電入力端子を含み、前記グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられた給電入力コネクタと、
      ダイオードブリッジを含み、前記給電入力コネクタと前記蓄電部との間で接続された整流回路と、
     を含む、該整流・平滑部と、
     前記第1の給電入力端子及び前記第2の給電入力端子に電気的に接続可能な第1の給電出力端子及び第2の給電出力端子を含み、前記給電入力コネクタに着脱可能な給電出力コネクタと、
     前記グランドフレームの外側に配置されており、前記給電出力コネクタに電気的に接続されており、送電コイルから電磁誘導結合により電力を受けることが可能な受電コイルと、
    を備えるプラズマ処理装置。
  2.  前記整流・平滑部は、前記グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられた放電出力コネクタを更に備え、
     前記放電出力コネクタは、前記蓄電部と前記整流回路とを互いに接続する二つの給電ラインにそれぞれ接続された第1の放電出力端子及び第2の放電出力端子を含む、
    請求項1に記載のプラズマ処理装置。
  3.  前記蓄電部に電気的にスイッチを介して接続された放電専用負荷を更に備える、請求項1に記載のプラズマ処理装置。
  4.  前記整流・平滑部は、前記グランドフレームの外側から視認可能であるように設けられた表示器であり、前記蓄電部の放電状態を表示するように構成された、該表示器を更に含む、請求項2に記載のプラズマ処理装置。
  5.  前記整流・平滑部は、
      前記蓄電部の電圧値を検出するように構成された電圧検出器と、
      前記電圧検出器によって検出される前記電圧値に基づいて前記蓄電部の放電状態を表示するよう前記表示器を制御するように構成された制御部と、
     を更に含む、請求項4に記載のプラズマ処理装置。
  6.  前記表示器は、半導体発光素子を含む、請求項4に記載のプラズマ処理装置。
  7.  前記整流・平滑部は、
      前記グランドフレームの外側から視認可能であるように設けられた表示器と、
      前記蓄電部の電圧値を検出するように構成された電圧検出器と、
      前記電圧検出器によって検出される前記電圧値に基づいて前記蓄電部の充電状態を表示するよう前記表示器を制御するように構成された制御部と、
     を更に含む、請求項1に記載のプラズマ処理装置。
  8.  前記表示器は、半導体発光素子を含む、請求項7に記載のプラズマ処理装置。
  9.  前記グランドフレームは、
      前記表示器を該グランドフレームの外側から視認可能とする光学窓と、
      前記光学窓を開閉可能な金属製の遮蔽部材と、
     を含む、請求項4~8の何れか一項に記載のプラズマ処理装置。
  10.  前記整流・平滑部は、前記整流回路と前記蓄電部との間で電気的に接続された平滑回路を更に含む、請求項1に記載のプラズマ処理装置。
  11.  蓄電量の制御方法であって、
     該蓄電量の該制御方法が適用されるプラズマ処理装置は、
      プラズマ処理チャンバと、
      前記プラズマ処理チャンバ内に配置された基板支持部と、
      高周波電力を発生するように構成された高周波電源と、
      前記プラズマ処理チャンバ内でガスからプラズマを生成するために前記高周波電力を受けるよう前記高周波電源に電気的に接続された電極又はアンテナと、
      前記プラズマ処理チャンバ内又は前記基板支持部内に配置される電力消費部材と、
      接地されており、前記プラズマ処理チャンバと共に前記基板支持部を囲むグランドフレームと、
      前記グランドフレームによって囲まれた空間内に配置されており、前記電力消費部材と電気的に接続される蓄電部と、
      前記グランドフレームによって囲まれた前記空間内に配置された整流・平滑部であり、
       第1の給電入力端子及び第2の給電入力端子を含み、前記グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられた給電入力コネクタと、
       ダイオードブリッジを含み、前記給電入力コネクタと前記蓄電部との間で接続された整流回路と、
      を含む、該整流・平滑部と、
      前記第1の給電入力端子及び前記第2の給電入力端子に電気的に接続可能な第1の給電出力端子及び第2の給電出力端子を含み、前記給電入力コネクタに着脱可能な給電出力コネクタと、
      前記グランドフレームの外側に配置されており、前記給電出力コネクタに電気的に接続されており、送電コイルから電磁誘導結合により電力を受けることが可能な受電コイルと、
    を備え、
     該蓄電量の該制御方法は、
     前記グランドフレームの外側に配置された直流安定化電源に接続された第1の給電端子及び第2の給電端子を前記第1の給電入力端子及び前記第2の給電入力端子に接続する工程と、
     前記直流安定化電源から前記蓄電部に給電する工程と、
     を含む、蓄電量の制御方法。
  12.  前記整流・平滑部は、前記グランドフレームの外側からアクセス可能に設けられた放電出力コネクタを更に備え、
     前記放電出力コネクタは、前記蓄電部と該整流回路とを互いに接続する二つの給電ラインにそれぞれ接続された第1の放電出力端子及び第2の放電出力端子を含み、
     前記蓄電量の該制御方法は、
      前記グランドフレームの外側に配置された放電用負荷に接続された第1の放電端子及び第2の放電端子を前記第1の放電出力端子及び前記第2の放電出力端子に接続する工程と、
      前記蓄電部の電力を前記放電用負荷に放電する工程と、
     を更に含む、請求項11に記載の蓄電量の制御方法。
  13.  前記プラズマ処理装置は、前記蓄電部に電気的にスイッチを介して接続された放電専用負荷を更に備え、
     前記蓄電量の該制御方法は、
      前記スイッチにより前記蓄電部を前記放電専用負荷に導通させる工程と、
      前記蓄電部の電力を前記放電専用負荷に放電する工程と、
     を更に含む、請求項11に記載の蓄電量の制御方法。
  14.  前記プラズマ処理装置は、前記蓄電部に電気的にスイッチを介して接続された放電専用負荷を更に備え、
     前記蓄電量の該制御方法は、
      前記蓄電部の電力を前記電力消費部材に供給することにより前記蓄電部の電力を放電する工程と、
      前記スイッチにより前記蓄電部を前記放電専用負荷に導通させる工程と、
      前記蓄電部の電力を前記放電専用負荷に放電する工程と、
     を更に含む、請求項11に記載の蓄電量の制御方法。

     
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014075579A (ja) * 2012-09-12 2014-04-24 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置及び半導体装置の製造方法
JP2017054646A (ja) * 2015-09-08 2017-03-16 株式会社ダイヘン 高周波電源装置、当該高周波電源装置を備えているプラズマ処理システムおよび非接触給電システム
WO2021211269A1 (en) * 2020-04-14 2021-10-21 Lam Research Corporation Transformer isolator having rf shield structure for effective magnetic power transfer

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4286404B2 (ja) * 1999-10-15 2009-07-01 東京エレクトロン株式会社 整合器およびプラズマ処理装置
JP6099019B2 (ja) * 2011-12-14 2017-03-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 非接触コネクタ装置及びシステム
JP2014176155A (ja) * 2013-03-07 2014-09-22 Hitachi Maxell Ltd 非接触電力伝送装置及び非接触電力伝送方法
US10348129B2 (en) * 2015-02-10 2019-07-09 Exh Corporation Electric power supply system
WO2019182260A1 (ko) * 2018-03-23 2019-09-26 홍잉 인라인 박막 프로세싱 장치
JP7224165B2 (ja) * 2018-12-14 2023-02-17 キヤノントッキ株式会社 アライメント装置、蒸着装置、および、電子デバイスの製造装置
KR102378573B1 (ko) * 2020-06-12 2022-03-23 한양대학교 산학협력단 플라즈마 생성기

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014075579A (ja) * 2012-09-12 2014-04-24 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置及び半導体装置の製造方法
JP2017054646A (ja) * 2015-09-08 2017-03-16 株式会社ダイヘン 高周波電源装置、当該高周波電源装置を備えているプラズマ処理システムおよび非接触給電システム
WO2021211269A1 (en) * 2020-04-14 2021-10-21 Lam Research Corporation Transformer isolator having rf shield structure for effective magnetic power transfer

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