WO2023248739A1 - 接点装置 - Google Patents

Abstract

本開示の課題は、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることにある。接点装置（１０）は、接極子（３２）と、固定接点（４１）と、可動接点（４２）と、フォトインタラプタ（６）と、を備える。接極子（３２）は、コイル（３１）に流れる電流により発生する磁界に応じて変位する。可動接点（４２）は、接極子（３２）の変位に応じて、固定接点（４１）と接触する閉位置と固定接点（４１）から離れた開位置との間で移動する。フォトインタラプタ（６）は、発光素子及び受光素子を有する。フォトインタラプタ（６）は、固定接点（４１）と可動接点（４２）とが互いに接触しているか否かを検出する。

Description

接点装置

　本開示は、一般に接点装置に関する。本開示は、より詳細には、固定接点と可動接点とを備える接点装置に関する。

　特許文献１には、電磁継電器が開示されている。特許文献１の電磁継電器は、固定接点と、可動接点を有する可動接極子と、補助固定接点と、補助可動接点を有する補助可動接極子と、一対の補助端子と、を備えている。可動接極子は、可動接点が固定接点に接する閉位置と可動接点が固定接点から離れる開位置との間で一軸に沿って移動する。補助可動接極子は、可動接極子が閉位置と開位置との間で移動することに連動して、補助可動接点が補助固定接点に接する閉位置と補助可動接点が補助固定接点から離れる開位置との間で移動する。可動接極子が閉位置にあるとき、補助可動接極子は開位置にある。可動接極子が開位置にあるとき、補助可動接極子は閉位置にある。一対の補助端子のうち一方には、補助固定接点が固定されており、他方には、補助可動接極子が固定されている。

　補助固定接点、補助可動接極子及び一対の補助端子は、固定接点と可動接点とが溶着しているか否かの検知に用いられる。コイルが通電されていない状態で、一対の補助端子の間に電流が流れる場合は、固定接点と可動接点とが溶着していないと判断される。一方で、コイルが通電されていない状態で、一対の補助端子の間に電流が流れない場合は、固定接点と可動接点とが溶着していると判断される。

特開２０２０－１４９８６６号公報

　特許文献１に記載の電磁継電器では、長期間繰り返し使用されると、補助固定接点或いは補助可動接点で、削れ或いは異物の付着等の不具合が発生する可能性がある。このような不具合が発生すると、溶着検出の信頼性が低下する可能性がある。

　本開示の目的は、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることにある。

　本開示の一態様の接点装置は、接極子と、固定接点と、可動接点と、フォトインタラプタと、を備える。前記接極子は、コイルに流れる電流により発生する磁界に応じて変位する。前記可動接点は、前記接極子の変位に応じて、前記固定接点と接触する閉位置と前記固定接点から離れた開位置との間で移動する。前記フォトインタラプタは、発光素子及び受光素子を有し、前記固定接点と前記可動接点とが互いに接触しているか否かを検出する。

図１は、実施形態の接点装置の分解斜視図である。 図２は、同上の接点装置の装置本体の斜視図である。 図３は、同上の接点装置の装置本体の分解斜視図である。 図４Ａ、図４Ｂはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第１姿勢にある場合の要部の側面図及び正面図である。 図５Ａ、図５Ｂはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第２姿勢にある場合の要部の側面図及び正面図である。 図６Ａは、同上の接点装置が備える透過型のフォトインタラプタの斜視図である。図６Ｂは、同上の透過型のフォトインタラプタの概略断面図である。 図７は、同上の接点装置が備える透過型のフォトインタラプタの発光部の回路図である。 図８Ａ及び図８Ｂはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第１姿勢にある場合の要部の概略を示す断面図である。図８Ｃ及び図８Ｄはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第２姿勢にある場合の要部の概略を示す断面図である。図８Ｅは、一変形例の接点装置において接極子が第１姿勢にある場合の要部の概略を示す断面図である。 図９は、変形例１の接点装置の装置本体の斜視図である。 図１０Ａ、図１０Ｂはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第１姿勢及び第２姿勢にある場合の要部の正面図である。 図１１Ａ、図１１Ｂはそれぞれ、変形例２の接点装置において接極子が第１姿勢及び第２姿勢にある場合の要部の概略を示す断面図である。 図１２Ａ、図１２Ｂはそれぞれ、変形例３の接点装置において接極子が第１姿勢及び第２姿勢にある場合の要部の概略を示す断面図である。 図１３は、変形例４の接点装置の装置本体の斜視図である。 図１４Ａ、図１４Ｂはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第１姿勢にある場合の要部の概略を示す平面図及び断面図である。図１４Ｃ、図１４Ｄはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第２姿勢にある場合の要部の概略を示す平面図及び断面図である。 図１５は、変形例５の接点装置の装置本体の斜視図である。 図１６Ａは、変形例６の接点装置が備える反射型のフォトインタラプタの斜視図である。図１６Ｂ及び図１６Ｃは、同上の接点装置が備える反射型のフォトインタラプタと反射体との位置関係を説明するための図である。 図１７Ａ及び図１７Ｂはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第１姿勢にある場合の要部の概略を示す断面図である。図１７Ｃ及び図１７Ｄはそれぞれ、同上の接点装置において接極子が第２姿勢にある場合の要部の概略を示す断面図である。

　本開示の実施形態の接点装置について、図面を用いて説明する。下記の実施形態において説明する各図は、模式的な図であり、図中の各構成要素の大きさ及び厚さそれぞれの比が必ずしも実際の寸法比を反映しているとは限らない。

　（１）概要
　図１～図３に示すように、本実施形態の接点装置１０は、接極子３２と、固定接点４１と、可動接点４２と、フォトインタラプタ６と、を備える。

　接極子３２は、コイル３１に流れる電流により発生する磁界に応じて変位する。可動接点４２は、接極子３２の変位に応じて、固定接点４１と接触する閉位置と固定接点４１から離れた開位置との間で移動する。

　図６Ｂに示すように、フォトインタラプタ６は、発光素子６２及び受光素子６５を有する。フォトインタラプタ６は、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。

　本実施形態の接点装置１０では、機械的な摩耗が小さいフォトインタラプタ６を用いることで、固定接点と可動接点との溶着検出の信頼性の、低下の抑制を図ることが可能となる。

　（２）詳細
　以下、本実施形態の接点装置１０について、図面を参照しながら詳細に説明する。

　接点装置１０は、電路に挿入されて電路を開閉する装置である。電路は、直流電流が流れる直流電路であってもよいし、交流電流が流れる交流電路であってもよい。接点装置１０は、例えば、太陽光発電システム、ＵＰＳ（Uninterruptible Power Supply；無停電電源）、インバータ等の用途に用いられる。接点装置１０は、固定接点４１、可動接点４２、及び接極子３２に加えて、コイル３１を備えている。そのため本実施形態の接点装置１０は、電気回路を開閉するため、電気的制御で電気接点を復旧、閉成させる部品、すなわちリレーである。本実施形態の接点装置１０は特に、ヒンジ型リレーである。

　図１に示すように、接点装置１０は、装置本体１と、カバー９と、を備えている。図２に示すように、装置本体１は、コイル３１と、接極子３２と、固定接点４１と、可動接点４２と、フォトインタラプタ６と、を備えている。接極子３２は、コイル３１に流れる電流により発生する磁界に応じて変位する。本開示において、「接極子３２が変位する」とは、接極子３２の少なくとも一部が動くことを意味し、接極子３２の平行移動と回転移動（揺動を含む）とのうちの少なくとも一方を含み得る。本実施形態では、接極子３２は、変位として、回転軸Ｘ１（支点；図２参照）の周りで回転（揺動）する。

　以下では、説明の便宜上、コイル３１の中心軸に沿った仮想軸を第１軸Ａ１ともいう。接極子３２は、第１軸Ａ１においてコイル３１と並ぶ第１部分３２１を有している。コイル３１が発生する磁界に応じて接極子３２が変位（回転軸Ｘ１周りで回転）することで、第１部分３２１が、コイル３１に近づいたり遠ざかったりする。また、以下では、接極子３２の回転軸Ｘ１と第１部分３２１とを結ぶ仮想軸を、第２軸Ａ２ともいう。第２軸Ａ２は、第１軸Ａ１と交差（ここでは直交）する。また、以下では、第１軸Ａ１及び第２軸Ａ２と交差（ここでは直交）する仮想軸を、第３軸Ａ３ともいう。第３軸Ａ３は、接極子３２の回転軸Ｘ１に沿っている。

　また、以下では、第１軸Ａ１において、コイル３１から見て接極子３２の第１部分３２１が位置する側を「上」、その反対を「下」ともいう。また、第２軸Ａ２において、接極子３２の回転軸Ｘ１から見て第１部分３２１が位置する側を「前」、その反対を「後」ともいう。また、第３軸Ａ３における両側をそれぞれ「左」（図１における紙面手前側）、「右」（図１における紙面奥側）ともいう。

　図１に示すように、カバー９は、矩形箱状であり、より詳細には下面が開口した中空の箱状である。カバー９は、例えば樹脂製である。カバー９は、左側壁及び右側壁の下端に、それぞれ矩形状の係合孔９１を有している。

　図３に示すように、装置本体１は、ボディ２と、コイル３１及び接極子３２を含む電磁石部３と、固定接点４１及び可動接点４２を含む主接点部４と、フォトインタラプタ６を含む検出部５と、を備えている。

　ボディ２は、例えば樹脂製である。ボディ２は、電磁石部３、主接点部４、及び検出部５を保持する。そのため、ボディ２はコイル３１を保持している。

　図３に示すように、ボディ２は、底壁部２１と、周壁部２２と、第１仕切壁部２３と、側壁部２４と、第２仕切壁部２５と、を一体に有している。

　底壁部２１は、法線方向が第１軸Ａ１に沿った矩形板状である。周壁部２２は、底壁部２１の外周部分から上方に突出する矩形枠状である。

　第１仕切壁部２３は、法線方向が第２軸Ａ２に沿った板状である。第１仕切壁部２３は、底壁部２１の上面から上方へ突出しており、底壁部２１の上方の空間を、前側の第１空間と後側の第２空間とに区画する。第１空間には、電磁石部３のコイル３１が配置される。第２空間には、主接点部４が配置される。第１仕切壁部２３によって、コイル３１と主接点部４との間の電気的な絶縁が図られている。

　側壁部２４は、上辺よりも下辺の方が長い台形の板状である。ボディ２は、側壁部２４を２つ備えている。２つの側壁部２４は、第１仕切壁部２３の第３軸Ａ３の両端（左端及び右端）からそれぞれ突出している。側壁部２４によって、コイル３１と主接点部４との間の電気的な絶縁性が向上する。

　第２仕切壁部２５は、法線方向が第３軸Ａ３に沿った板状である。第２仕切壁部２５は、底壁部２１の上面から上方に突出しており、第２空間を左右に区画する。ボディ２は、第２仕切壁部２５を３つ備えている。３つの第２仕切壁部２５は、第３軸Ａ３において略等間隔に配置されている。３つの第２仕切壁部２５によって、第２空間が４つの収容空間に区画される。

　ボディ２は、左側面及び右側面に、それぞれ係合突部２９を有している。カバー９の２つの係合孔９１にボディ２の２つの係合突部２９がそれぞれ挿入されることで、ボディ２にカバー９が結合される。

　図３に示すように、電磁石部３は、コイル３１及び接極子３２に加えて、ボビン３３と、鉄心３４と、継鉄３５と、一対のコイル端子３６と、を備えている。

　ボビン３３は、例えば樹脂製である。ボビン３３は、円筒部と、上鍔部３３１と、下鍔部３３２と、を一体に有している。

　円筒部は、第１軸Ａ１に沿って延びる中空円筒状である。

　上鍔部３３１は、円筒部の上端縁から前後左右に広がる矩形の板状である。上鍔部３３１の前端の右側部分には第１支持台３３３が設けられ、上鍔部３３１の前端の左側部分には第２支持台３３４が設けられている。

　下鍔部３３２は、円筒部の下端縁から前後左右に広がる矩形の板状である。下鍔部３３２の前端には、一対の挿入孔が形成されている。一対の挿入孔に、一対のコイル端子３６が挿入される。一対のコイル端子３６は、第３軸Ａ３に沿って左右に並んでいる。

　コイル３１は、ボビン３３の円筒部の周りに導線が巻き回されて形成されている。コイル３１の第１端は、一対のコイル端子３６の一方に接続され、コイル３１の第２端は、一対のコイル端子３６の他方に接続されている。

　鉄心３４は、第１軸Ａ１に沿って延びる円柱状である。鉄心３４は、ボビン３３の円筒部内の空間に挿入されている。

　継鉄３５は、法線方向が第２軸Ａ２に沿った矩形の板状の第１継鉄３５１と、法線方向が第１軸Ａ１に沿った矩形の板状の第２継鉄３５５と、を一体に有している。継鉄３５は、第１継鉄３５１と第２継鉄３５５とで、略Ｌ字状に形成されている。

　継鉄３５は、第１継鉄３５１がコイル３１の側面を後側から覆い、第２継鉄３５５がボビン３３の下鍔部３３２を下側から覆うように、ボビン３３に組み付けられる。第２継鉄３５５の中央には、貫通孔が形成されている。貫通孔には鉄心３４の下端が挿入される。

　第１継鉄３５１の上端の左端及び右端には、突部３５２が形成されている。左右２つの突部３５２の間に、Ｕ字状の凹部３５３が形成される。

　接極子３２は、鉄等の磁性材料から形成される。接極子３２は、第１部分３２１と第２部分３２３とを一体に有している。第１部分３２１は板状である。第２部分３２３は板状である。第１部分３２１と第２部分３２３とは、所定の角度（鈍角）で交差している。接極子３２は、第１部分３２１と第２部分３２３とで、略Ｌ字状に形成されている。接極子３２は、第１部分３２１の下面が鉄心３４の上面と対向し、第２部分３２３の前面が第１継鉄３５１の後側に位置するように、配置されている。

　第１部分３２１の後端寄りの部分の左縁及び右縁には、凹所３２２がそれぞれ形成されている。接極子３２は、継鉄３５の２つの突部３５２が２つの凹所３２２内に位置することで、継鉄３５に対して位置決めされている。

　接極子３２において２つの凹所３２２の間をつなぐ部分の下面は、継鉄３５の凹部３５３の底面（上面）と接触している。接極子３２は、継鉄３５との接触部分を回転軸Ｘ１（支点）として、回転（揺動）可能である。接極子３２は、第１部分３２１が鉄心３４から離れた第１姿勢（図４Ａ、図４Ｂ参照）と、第１部分３２１が鉄心３４に近づいた（ここでは接触した）第２姿勢（図５Ａ、図５Ｂ参照）と、の間で変位可能である。なお、見やすさのため、図４Ｂ、図５Ｂではフォトインタラプタ６を想像線で示している。

　接極子３２において、第１部分３２１と第２部分３２３とをつなぐ部分の第３軸Ａ３における中央には、貫通孔３２９が形成されている。貫通孔３２９には、Ｌ字の板ばね状の復帰ばね３０が配置される。復帰ばね３０は、接極子３２が第１姿勢となる向きに、接極子３２に弾性力を与えている。

　接極子３２は、コイル３１が通電されていない状態では、復帰ばね３０の弾性力によって、第１部分３２１が鉄心３４から離れた第１姿勢（図４Ａ、図４Ｂ参照）となる。一対のコイル端子３６の間に電圧が印加されることでコイル３１が通電されると、コイル３１に電流が流れて、コイル３１が磁界を発生させる。接極子３２の第１部分３２１は、この磁界によって鉄心３４に吸引される。これにより、接極子３２は、復帰ばね３０の弾性力に抗して、第１部分３２１が下方へ移動するように回転軸Ｘ１の周りで回転する。これにより、接極子３２は第２姿勢（図５Ａ、図５Ｂ参照）となる。このように、接極子３２は、コイル３１への通電の入り切りに応じて、第１姿勢と第２姿勢との間で変位する。

　図３に示すように、主接点部４は、固定接点４１（主固定接点）及び可動接点４２（主可動接点）に加えて、固定端子部４３と、可動端子部４４と、連結体４５と、を備えている。

　固定端子部４３は、導電性を有する金属製である。固定端子部４３は、接点片４３１と、端子片４３２と、接続片４３３と、を一体に有している。

　接点片４３１には、固定接点４１が設けられている。固定接点４１は、固定端子部４３と別体であって固定端子部４３（接点片４３１）に固定されているが、これに限らず、固定端子部４３の一部（固定端子部４３と一体）であってもよい。接点片４３１は、固定接点４１が前方を向くように、ボディ２の収容空間に配置されている。

　端子片４３２は、外部の電気回路に接続される部分である。図１に示すように、端子片４３２は、ボディ２の下面から下方へ突出する。

　接続片４３３は、接点片４３１と端子片４３２とをつないでいる。

　可動端子部４４は、導電性を有する金属製である。可動端子部４４は、接点片４４１と、被保持片４４２と、接続片４４３と、を一体に有している。

　接点片４４１には、可動接点４２が設けられている。可動接点４２は、可動端子部４４と別体であって可動端子部４４（接点片４４１）に固定されているが、これに限らず、可動端子部４４の一部（可動端子部４４と一体）であってもよい。接点片４４１は、可動接点４２が後方を向くように、ボディ２の収容空間に配置されている。可動接点４２は、第２軸Ａ２において固定接点４１と対向する。

　被保持片４４２は、連結体４５に保持される部分である。

　接続片４４３は、接点片４４１と被保持片４４２とをつないでいる。

　可動端子部４４では、接点片４４１及び接続片４４３が、導電板部よりも弾性係数が大きなばね板部と、ばね板部よりも導電率が高い導電板部との、二層構造である。可動端子部４４では、被保持片４４２は、ばね板部の一層構造である。

　連結体４５は、接極子３２の第２部分３２３を保持し、可動端子部４４の被保持片４４２を保持する。これにより、接極子３２の変位に連動して、可動端子部４４が移動する。可動端子部４４に保持された可動接点４２は、接極子３２の変位に応じて移動する。すなわち、可動接点４２は、コイル３１への通電の入り切りに応じて変位する接極子３２の変位に応じて、開位置と閉位置との間で移動する。可動接点４２は、コイル３１が通電されておらず接極子３２が第１姿勢にある状態では開位置に位置し、コイル３１が通電されており接極子３２が第２姿勢にある状態では閉位置に位置する。

　主接点部４は、固定接点４１、可動接点４２、固定端子部４３及び可動端子部４４を１組とする接点構造を、４つ備えている。４つの接点構造における固定接点４１及び可動接点４２の４つの組は、互いに異なる収容空間に配置されている。以下では便宜上、各接点構造における固定接点４１及び可動接点４２の組のことを、「接点対（或いは、主接点対）」ともいう。

　以下では、４つの接点構造を、必要に応じて第１～第４接点構造と呼んで区別する。第１～第４接点構造は、左から右に向かって並んでいる。第１、第２、第３、第４接点構造は、その接点対がそれぞれ、最も左、左から２番目、右から２番目、最も右の収容空間に配置されている。また、以下では、固定接点４１、可動接点４２、固定端子部４３、及び可動端子部４４についても、同様に先頭に「第１」～「第４」のラベルを付すことで、第１～第４のいずれの接点構造に属するものであるかを特定する場合がある。例えば、第１接点構造が備える固定接点４１を、「第１固定接点４１」と呼ぶ。

　図２に示すように、第１～第４固定接点４１は、第３軸Ａ３に沿って同一直線状に並んでいる。また、第１～第４可動接点４２は、第３軸Ａ３に沿って同一直線状に並んでいる。第３軸Ａ３において隣り合う接点対同士の間には、ボディ２の第２仕切壁部２５がある。これにより、隣り合う接点対の間の電気的な絶縁性が向上する。

　図３に示すように、第１及び第２可動端子部４４は、互いにつながっている。より詳細には、第１可動端子部４４の接続片４４３の導電板部と第２可動端子部４４の接続片４４３の導電板部とが、互いにつながっている。また、第１可動端子部４４の被保持片４４２のばね板部と第２可動端子部４４の被保持片４４２のばね板部とが、互いにつながっている。第１及び第２可動接点４２は、第１及び第２可動端子部４４を介して互いに電気的に接続されている。

　第３及び第４可動端子部４４は、互いにつながっている。より詳細には、第３可動端子部４４の接続片４４３の導電板部と第４可動端子部４４の接続片４４３の導電板部とが、互いにつながっている。また、第３可動端子部４４の被保持片４４２のばね板部と第４可動端子部４４の被保持片４４２のばね板部とが、互いにつながっている。第３及び第４可動接点４２は、第３及び第４可動端子部４４を介して互いに電気的に接続されている。

　接極子３２の第１姿勢（図４Ａ、図４Ｂ参照）と第２姿勢（図５Ａ、図５Ｂ参照）との間の変位に応じて、第１～第４可動接点４２は一緒に移動する。接極子３２が第１姿勢の状態で、第１～第４可動接点４２は、第１～第４固定接点４１からそれぞれ離れている（開位置）。接極子３２が第２姿勢の状態で、第１～第４可動接点４２は、第１～第４固定接点４１とそれぞれ接触する（閉位置）。

　第１及び第２可動接点４２が第１及び第２固定接点４１とそれぞれ接触することで、第１及び第２固定端子部４３間が導通する。第３及び第４可動接点４２が第３及び第４固定接点４１とそれぞれ接触することで、第３及び第４固定端子部４３間が導通する。

　第１～第４固定端子部４３の端子片４３２は、下方から見て、仮想的な長方形の四隅に位置している。第１、第２、第３、及び第４固定端子部４３の端子片４３２は、それぞれ、左後側、右後側、左前側、及び右前側に位置している。可動端子部４４を介して互いに電気的に接続される２つの固定端子部４３（第１固定端子部４３と第２固定端子部４３、又は第３固定端子部４３と第４固定端子部４３）の端子片４３２は、第３軸Ａ３に沿った仮想の直線上に位置している。

　検出部５は、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。検出部５は、接極子３２の一部の位置、又は接極子３２の変位に応じて移動する部材の位置に基づいて、検出を行う。

　図３に示すように、検出部５は、フォトインタラプタ６に加えて、カード５１と、補助固定接点５２と、補助可動接点５３と、補助固定端子部５４と、補助可動端子部５５と、を備えている。

　カード５１は、例えば樹脂製である。カード５１は、接極子３２の第１部分３２１に固定されている。カード５１は、接極子３２の変位に連動して、接極子３２の第１部分３２１と一緒に移動する。カード５１は、接極子３２と一体に変位するので、接極子３２の一部とみなすことができる。

　カード５１は、固定部５１１と、突部５１２と、を有する。

　固定部５１１は、カード５１において接極子３２に固定される部分である。固定部５１１は、前方から見て逆Ｕ字状であり、Ｕ字の左右両側の腕部の下端にそれぞれ爪を有している。固定部５１１のこれらの爪が第１部分３２１の下面に引っ掛けられることで、カード５１が接極子３２に固定される。

　突部５１２は、固定部５１１から前方へ突出する。図２に示すように、突部５１２は、接極子３２の前端よりも前方へ突出する。突部５１２は、略直方体状の直方体部と、直方体部の上面から上方へ突出し第２軸Ａ２に沿って延びる半円柱状の凸部と、を有する。

　補助固定端子部５４は、導電性を有する金属製である。補助固定端子部５４は、突出片５４１と、端子片５４２と、接続片５４３と、を一体に有している。

　突出片５４１は、法線方向が第１軸Ａ１に沿った板状である。突出片５４１に、補助固定接点５２が設けられている。補助固定接点５２は、下方に突出し下面がドーム状となった略円柱状である。突出片５４１は、補助固定接点５２が下を向くように補助固定接点５２を保持している。補助固定接点５２は、突出片５４１と別体であって突出片５４１に固定されているが、突出片５４１と一体であってもよい。突出片５４１は、ボビン３３の第１支持台３３３に固定されて支持されている。

　端子片５４２は、外部の電気回路に接続される部分である。図１に示すように、端子片５４２は、ボディ２の下面から下方へ突出する。

　接続片５４３は、法線方向が第３軸Ａ３に沿った板状である。接続片５４３は、突出片５４１と端子片５４２とをつないでいる。

　補助可動端子部５５は、導電性を有する金属製である。補助可動端子部５５は、突出片５５１と、端子片５５２と、接続片５５３と、ばね片５５４と、段差片５５５と、を一体に有している。

　突出片５５１は、法線方向が第１軸Ａ１に沿った板状である。突出片５５１に、補助可動接点５３が設けられている。補助可動接点５３は、上方に突出し上面がドーム状となった略円柱状である。突出片５５１は、補助可動接点５３が上を向くように補助可動接点５３を保持している。補助可動接点５３は、第１軸Ａ１に沿って補助固定接点５２と対向する。補助可動接点５３は、突出片５５１と別体であって突出片５５１に固定されているが、突出片５５１と一体であってもよい。

　端子片５５２は、外部の電気回路に接続される部分である。図１に示すように、端子片５５２は、ボディ２の下面から下方へ突出する。

　接続片５５３は、法線方向が第３軸Ａ３に沿った板状である。接続片５５３は、ばね片５５４と端子片５５２とをつないでいる。

　ばね片５５４は、板ばね状である。ばね片５５４の第１端は、接続片５５３とつながっている。ばね片５５４の第２端は、突出片５５１とつながっている。ここでは、ばね片５５４の第２端は、段差片５５５を介して突出片５５１とつながっている。ばね片５５４は、第１端側の部分で、ボビン３３の第２支持台３３４に固定されて支持されている。ばね片５５４は、第２支持台３３４に固定された部分を支点として、第２端が第１軸Ａ１に沿って揺動（移動）可能である。ばね片５５４が移動することで、突出片５５１に設けられた補助可動接点５３が一緒に移動する。

　ばね片５５４は、補助可動接点５３が補助固定接点５２から離れる向き（下向き）に付勢されている。すなわち、外部から力を受けていない状態では、ばね片５５４の弾性力によって、補助可動接点５３は補助固定接点５２から離れている（図５Ｂ参照）。

　図２、図４Ｂ、図５Ｂに示すように、ばね片５５４の下面は、カード５１の突部５１２の上面と対向している。

　接極子３２が第１姿勢にある状態で、カード５１の突部５１２は、ばね片５５４に下方から接触してばね片５５４の第２端を相対的に上方に位置させている（図４Ｂ参照）。これにより、補助可動接点５３は補助固定接点５２と接触している。以下では、接極子３２が第１姿勢にある状態での補助可動接点５３の位置を、「第１位置」とも言う。

　接極子３２が第２姿勢にある状態で、カード５１の突部５１２は、ばね片５５４の下面から離れており（図５Ｂ参照）、ばね片５５４の第２端及び突出片５５１は、ばね片５５４の弾性力によって相対的に下方に位置している。これにより、補助可動接点５３は補助固定接点５２から離れている。以下では、接極子３２が第２姿勢にある状態での補助可動接点５３の位置を、「第２位置」とも言う。補助可動接点５３は、接極子３２の変位に応じて、第１位置と第２位置との間で第１軸Ａ１に沿って移動する。

　接点装置１０では、コイル３１が通電されておらず接極子３２が第１姿勢にある状態では、可動接点４２は固定接点４１から離れた開位置にある一方、補助可動接点５３は補助固定接点５２と接触する第１位置にある。また、接点装置１０では、コイル３１が通電されており接極子３２が第２姿勢にある状態では、可動接点４２は固定接点４１と接触する閉位置にある一方、補助可動接点５３は補助固定接点５２から離れた第２位置にある。このように、接点装置１０では、固定接点４１及び可動接点４２（上述の「主接点対」）の接続関係と、補助固定接点５２及び補助可動接点５３（以下、「補助接点対」ともいう）の接続関係とが、互いに反対である。

　補助接点対は、いずれかの接点構造の主接点対で溶着が発生しているか否かの検出に用いられ得る。いずれの接点構造でも溶着が発生していなければ、コイル３１が通電されていない状態で接極子３２は第１姿勢となり、補助可動接点５３は補助固定接点５２と接触する。この場合、端子片５４２と端子片５５２との間に所定の電圧を印加すると、検出閾値以上の電流（以下、「検出電流」ともいう）が流れる。一方、いずれかの接点構造で溶着が発生していると、コイル３１への通電の有無にかかわらず接極子３２が第２姿勢となり、補助可動接点５３が補助固定接点５２から離れる。この場合、端子片５４２と端子片５５２との間に電圧を印加しても、検出電流は流れない。このように、補助接点対では、コイル３１が通電されていない状態で端子片５４２と端子片５５２との間に電圧を印加し、端子片５４２と端子片５５２との間に検出電流が流れるか否かに基づいて、固定接点４１と可動接点４２との間の溶着の有無を検出できる。

　表１に、補助接点対（のみ）を用いた溶着の有無の判定結果の一例を示す。

　表１において、検出電流「有」とは、コイル３１が通電されておらず端子片５４２と端子片５５２との間に電圧を印加した状態で、端子片５４２と端子片５５２との間に検出電流が流れる状態を意味する。また、検出電流「無」とは、コイル３１が通電されておらず端子片５４２と端子片５５２との間に電圧を印加した状態で、端子片５４２と端子片５５２との間に検出電流が流れない状態を意味する。

　接点装置１０では、接極子３２が第２姿勢にあって補助可動接点５３が補助固定接点５２から離れている状態で、補助可動接点５３と補助固定接点５２との間の距離Ｇ１（第１軸Ａ１に沿った距離；図５Ｂ参照）は、０．５ｍｍ以上であってもよく、０．７ｍｍ以上であってもよく、１．０ｍｍ以上であってもよい。接点装置１０では、例えば、いずれかの接点構造で溶着が発生した場合であっても、補助可動接点５３と補助固定接点５２との間の距離Ｇ１が０．５ｍｍ以上に確保されるように、ばね片５５４の弾性力等が設定されている。すなわち、本実施形態の接点装置１０は、ミラーコンタクト機構を備えている。

　図６Ａ、図６Ｂに示すように、フォトインタラプタ６は、発光部６１と、受光部６４と、ケース６７と、を備えている。

　発光部６１は、上述の発光素子６２に加えて、発光素子６２を発光させる発光回路６３を備えている。

　発光素子６２は、例えばＬＥＤ（Light Emitting Diode）を備える。発光部６１は、発光素子６２を２つ備えている。２つの発光素子６２は、例えば、一方の発光素子６２のアノードが他方の発光素子６２のカソードにそれぞれ接続されて、逆並列に接続されている。

　図７に、発光回路６３の一具体例を示す。発光回路６３は、回路基板に搭載された複数の回路部品を含む。本実施形態の接点装置１０では、発光回路６３は、一対の入力端子Ｔ１，Ｔ２と、抵抗Ｒ１，Ｒ２と、逆直列接続された２つのツェナーダイオードＺＤ１，ＺＤ２（すなわち、双方向ツェナーダイオード）と、キャパシタＣ１と、を備えている。抵抗Ｒ１の第１端は、入力端子Ｔ１と接続されている。２つのツェナーダイオードＺＤ１，ＺＤ２の直列回路は、抵抗Ｒ１の第２端と入力端子Ｔ２との間に接続されている。キャパシタＣ１は、２つのツェナーダイオードＺＤ１，ＺＤ２の直列回路の両端間に接続されている。２つの発光素子６２の逆並列回路と抵抗Ｒ２との直列回路が、キャパシタＣ１の両端間に接続されている。

　２つのツェナーダイオードＺＤ１，ＺＤ２は、一対の入力端子Ｔ１，Ｔ２間に印加された電圧を定電圧化する。キャパシタＣ１は、電圧の平滑化用（平滑コンデンサ）である。

　入力端子Ｔ１，Ｔ２間には、外部から直流電圧が印加される。発光部６１では、一対の入力端子Ｔ１，Ｔ２間に電圧が印加されることで、発光素子６２に電流が流れて発光素子６２が発光する（光を放出する）。発光部６１は、逆直列接続された２つのツェナーダイオードＺＤ１，ＺＤ２と、逆並列接続された２つの発光素子６２と、を備えていることで、一対の入力端子Ｔ１，Ｔ２に印加される電圧の向き（極性）にかかわらず、発光素子６２（いずれかの発光素子６２）を発光させることができる。

　受光部６４は、上述の受光素子６５に加えて、受光回路６６を備えている。

　受光素子６５は、発光素子６２から放出された光を受けることが可能な位置に配置されている。受光素子６５は、例えば太陽電池を備える。太陽電池は、光起電力効果によって、受光した光の光エネルギーを電気エネルギーに変換する。

　受光回路６６は、回路基板に搭載された複数の回路部品を含む。本実施形態の接点装置１０では、受光回路６６は、制御回路（ドライバＩＣ）と、ＭＯＳＦＥＴ（metal-oxide-semiconductor field-effect transistor）と、一対の出力端子Ｔ３，Ｔ４と、を備える。

　発光素子６２から放出された光を受光素子６５が受光すると、受光素子６５は電圧を生成し、この電圧は制御回路を通ってＭＯＳＦＥＴのゲートに印加される。ＭＯＳＦＥＴのゲート電圧が閾値電圧に達すると、ＭＯＳＦＥＴがオンされ、一対の出力端子Ｔ３，Ｔ４間の電路が導通する。すなわち、受光回路６６は、閾値レベル以上の強度の光を受光素子６５が受光したことを検出する。

　発光素子６２の発光が停止する或いは発光素子６２からの光が受光素子６５へ届かない状態になると、受光素子６５が生成する電圧が下がり、制御回路によってＭＯＳＦＥＴのゲート電荷が急速に放電される。これによりＭＯＳＦＥＴがオフされ、一対の出力端子Ｔ３，Ｔ４間の電路が遮断される。

　ケース６７は、発光素子６２及び受光素子６５を保持する。ケース６７は、発光素子６２及び受光素子６５を収容する。ケース６７は、発光素子６２と受光素子６５との間の相対的な位置関係が固定されるように、発光素子６２及び受光素子６５を保持する。ケース６７は、発光部６１及び受光部６４を保持している。

　本実施形態の接点装置１０では、フォトインタラプタ６は、いわゆる透過型のフォトインタラプタ６０１である。透過型のフォトインタラプタ６０１では、発光素子６２（より詳細には、発光素子６２の発光面）と受光素子６５（より詳細には、受光素子６５の受光面）とが、互いに対向して配置されている。

　図６Ａ、図６Ｂに示すように、透過型のフォトインタラプタ６０１のケース６７は、発光素子６２を収容する箱状の第１収容部６７１と、受光素子６５を収容する箱状の第２収容部６７２と、第１収容部６７１と第２収容部６７２とをつなぐ接続部６７３とを備え、Ｃ字状に形成されている。第１収容部６７１及び第２収容部６７２は、接続部６７３の両端から同じ向きに突出し、互いに対向している。一対の入力端子Ｔ１，Ｔ２及び一対の出力端子Ｔ３，Ｔ４は、接続部６７３の一面（底面）から突出している。以下では、第１収容部６７１と第２収容部６７２との間の空間を「空間ＳＰ１」ともいう。なお、図６Ａ、６Ｂ以外では、フォトインタラプタ６０１の端子Ｔ１～Ｔ４の図示を省略している。

　図６Ａ、図６Ｂに示すように、第１収容部６７１において第２収容部６７２と対向する側壁には、貫通孔６８が形成されている。貫通孔６８は、発光素子６２から放出された光を外部空間（ここでは空間ＳＰ１）へ放出するための孔である。図６Ａに示すように、貫通孔６８は、ここではスリット（細長い孔）である。貫通孔６８は、接続部６７３から第１収容部６７１が突出する向きに沿って延びている。

　図６Ｂに示すように、第２収容部６７２において第１収容部６７１と対向する側壁には、貫通孔６９が形成されている。貫通孔６９は、外部空間（ここでは空間ＳＰ１）からの光を受光素子６５へ導くための孔である。貫通孔６９は、ここではスリットである。貫通孔６９は、接続部６７３から第２収容部６７２が突出する向きに沿って延びている。貫通孔６８と貫通孔６９とは、互いに対向している。

　透過型のフォトインタラプタ６０１では、発光素子６２から放出された光は、貫通孔６８、空間ＳＰ１、及び貫通孔６９を通って、受光素子６５で直接受光される。以下では、フォトインタラプタ６において、発光素子６２から放出された光が受光素子６５へと至る経路を「経路Ｐ１」ともいう。透過型のフォトインタラプタ６０１では、経路Ｐ１は空間ＳＰ１内の経路であり得る。

　フォトインタラプタ６は、発光素子６２が発光している状態での受光素子６５の光の検出結果、具体的には、発光素子６２が発光している状態で受光素子６５が閾値レベル以上の強度の光を受光したか否かの結果によって、経路Ｐ１上に物体が存在するか否かを検出する。透過型のフォトインタラプタ６０１は、空間ＳＰ１での物体の存否を検出する。なお、フォトインタラプタ６は、受光素子の光の検出結果によって発光素子が発光したか否か（発光素子に電流が流れたか否か）を検出するフォトカプラとは、異なる。

　本実施形態の接点装置１０では、フォトインタラプタ６は、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出するために用いられる。ここでは、フォトインタラプタ６は、補助可動接点５３の位置を検出することによって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。

　具体的には、透過型のフォトインタラプタ６０１は、図２、図４Ｂ、図５Ｂに示すように、空間ＳＰ１内に補助固定接点５２が位置するように、接続部６７３の底面が上を向いた姿勢で配置される。発光素子６２を収容する第１収容部６７１は、補助固定接点５２の前側に位置し、受光素子６５を収容する第２収容部６７２は、補助固定接点５２の後側に位置している。貫通孔６８及び貫通孔６９の長手軸は、第１軸Ａ１に沿っている。上述のように、補助可動接点５３は第１軸Ａ１に沿って移動するので、貫通孔６８及び貫通孔６９の長手軸は、補助可動接点５３が沿って移動する軸（第１軸Ａ１）に沿っている。

　本実施形態の接点装置１０では特に、フォトインタラプタ６は、補助可動接点５３が第１位置にある状態（図４Ｂ参照）で補助可動接点５３が経路Ｐ１上に位置し、補助可動接点５３が第２位置（図５Ｂ参照）にある状態で補助可動接点５３が経路Ｐ１を遮らない位置に、配置されている。なお、補助可動接点５３は、第１位置では空間ＳＰ１内に位置し、第２位置では空間ＳＰ１外に位置していてもよい。

　図８Ａ～図８Ｄを参照して、より詳細に説明する。なお、図８Ｂ、図８Ｄ等では、発光素子６２から放出された光が受光素子６５へと至る経路Ｐ１を、点線矢印で模式的に示してある。

　図８Ａ、図８Ｂに示すように、補助可動接点５３が補助固定接点５２と接触している状態（補助可動接点５３の第１位置）で、補助可動接点５３は、発光素子６２と受光素子６５との間に位置する。この状態では、発光素子６２側から受光素子６５側を見ると、貫通孔６９の全体が補助可動接点５３によって覆い隠されており、また、受光素子６５側から発光素子６２側を見ると、貫通孔６８の全体が補助可動接点５３によって覆い隠されている。そのため、発光素子６２が発光していたとしても、発光素子６２から放出された光は補助可動接点５３によって遮られ、受光素子６５には届かない。

　一方、図８Ｃ、図８Ｄに示すように、補助可動接点５３が補助固定接点５２から離れた状態（補助可動接点５３の第２位置）では、補助可動接点５３は、経路Ｐ１を遮らない位置に位置している。そのため、発光素子６２が発光すると、補助可動接点５３で遮られることなく受光素子６５がその光を受光できる（受光強度が閾値レベル以上となる）。

　見方を変えて説明すると、フォトインタラプタ６は、接極子３２の変位に連動して移動する遮光体７の位置を検出することによって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出している、と言える。遮光体７は、接極子３２の変位に応じて、経路Ｐ１を遮る遮光位置と経路Ｐ１を遮らない非遮光位置との間で移動する物体である。本実施形態の接点装置１０では、補助可動接点５３が、遮光体７として機能する。また、補助可動接点５３の第１位置が「遮光位置」であり、補助可動接点５３の第２位置が「非遮光位置」である。

　フォトインタラプタ６は、いずれかの接点構造の主接点対で溶着が発生しているか否かの検出に用いられ得る。いずれの接点構造でも溶着が発生していなければ、コイル３１が通電されていない状態で接極子３２は第１姿勢となり、補助可動接点５３は第１位置（図８Ａ、図８Ｂ参照）すなわち遮光位置に位置する。この場合、フォトインタラプタ６の発光素子６２が発光しても、補助可動接点５３に遮られて受光素子６５には光が届かない。一方、いずれかの接点構造で溶着が発生していると、コイル３１への通電の有無にかかわらず接極子３２が第２姿勢となり、補助可動接点５３が第２位置（図８Ｃ、図８Ｄ参照）すなわち非遮光位置に位置する。この場合、フォトインタラプタ６の発光素子６２が発光すると、受光素子６５は、発光素子６２から放出された光を受光することができる。このように、フォトインタラプタ６では、コイル３１が通電されていない状態で発光素子６２を発光させ、受光素子６５が光を受光するか否かに基づいて、固定接点４１と可動接点４２との間の溶着の有無を検出できる。

　表２に、フォトインタラプタ６（のみ）を用いた溶着の有無の判定結果の一例を示す。

　表２において、受光状態「非受光」とは、コイル３１が通電されておらず発光素子６２が発光している状態で、発光素子６２からの光を受光素子６５が受光していない状態（受光素子６５の受光強度が閾値レベル未満である状態）を意味する。また、受光状態「受光」とは、コイル３１が通電されておらず発光素子６２が発光している状態で、発光素子６２からの光を受光素子６５が受光している状態（受光素子６５の受光強度が閾値レベル以上である状態）を意味する。

　ここで、本実施形態の接点装置１０では、フォトインタラプタ６だけでなく上述のように補助接点対によっても、主接点対での溶着の発生を検出できる（表１参照）。そのため、補助接点対による判定結果とフォトインタラプタ６による判定結果との組み合わせに基づいて、固定接点４１と可動接点４２との間の溶着の有無を検出することも可能である。

　表３に、補助接点対とフォトインタラプタ６との組み合わせを用いた溶着の有無の判定結果の一例を示す。

　表３の例では、補助接点対による判定結果とフォトインタラプタ６による判定結果との少なくとも一方が「溶着」判定の場合、「溶着」と判定している。これにより、溶着の検出漏れの可能性を低減することが可能となる。例えば、主接点対で溶着が発生しているにもかかわらず漏電等により検出電流が流れており補助接点対で溶着が検出できない場合であっても、フォトインタラプタ６によって溶着を検出することが可能となる。

　このように、本実施形態の接点装置１０では、補助接点対のみによって溶着の発生を検出する従来の装置と比較して、溶着検出の信頼性の向上を図ることが可能となる。また、フォトインタラプタ６は、補助接点対と比較して機械的な摩耗が小さいため、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　なお、フォトインタラプタ６を、固定接点４１と可動接点４２との間の溶着を検出する用途に代えて又は加えて、他の用途、例えば接点装置１０の不具合の原因究明の用途等に用いてもよい。例えば、製造時の動作試験において、コイル３１が非通電にもかかわらず検出電流が流れないという不具合が発生する場合があり得る。この場合、例えば、フォトインタラプタ６が受光状態であれば、接極子３２又は補助可動接点５３の動作不良の可能性があると判断でき、フォトインタラプタ６が非受光状態であれば、補助可動接点５３と補助固定接点５２との間に絶縁性の異物が挟まっている可能性があると判断できる。

　フォトインタラプタ６（ケース６７）の支持方法は、特に限定されない。フォトインタラプタ６は、カバー９に形成された支持部に支持されてもよいし、ボディ２に形成された（例えばボディ２の底壁部２１から上方に突出する）支持台に支持されてもよいし、ボビン３３の第１支持台３３３に支持されてもよい。

　また、フォトインタラプタ６０１の配置は適宜変更可能である。例えば、図８Ｅに示すように、発光素子６２を収容する第１収容部６７１が補助固定接点５２の後側に位置し、受光素子６５を収容する第２収容部６７２が補助固定接点５２の前側に位置してもよい。

　また、フォトインタラプタ６は、コイル３１と固定接点４１とを結ぶ軸（第２軸Ａ２）において、コイル３１を基準として固定接点４１と反対側に位置しているが、これに限らず、コイル３１を基準として固定接点４１と同じ側に位置していてもよい。ただし、フォトインタラプタ６を固定接点４１から離れて位置させることで、固定接点４１と可動接点４２との間で発生し得るアーク等の影響をフォトインタラプタ６が受けにくくなる。

　このように、本実施形態の接点装置１０は、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出するフォトインタラプタ６を備えている。これにより、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　（３）変形例
　上記の実施形態は、本開示の様々な実施形態の１つに過ぎない。上記の実施形態は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。以下、実施形態の変形例を列挙する。上記の実施形態及び以下に説明する変形例は、適宜組み合わせて適用可能である。また、以下の各変形例の接点装置１０において、上記の実施形態の接点装置１０と同様の構成については、説明を省略する場合がある。

　（３．１）変形例１
　本変形例の接点装置１０について、図９、図１０Ａ、図１０Ｂを参照して説明する。

　本変形例の接点装置１０では、図９に示すように、透過型のフォトインタラプタ６０１が、ケース６７の接続部６７３の底面が側方（右方）を向いた姿勢で配置されている。すなわち、実施形態の接点装置１０と比較して、フォトインタラプタ６０１が、発光素子６２と受光素子６５とを結ぶ軸を回転軸として９０度回転して配置されている。

　本変形例の接点装置１０では、貫通孔６８及び貫通孔６９の長手軸は、第３軸Ａ３に沿っている。そのため、貫通孔６８及び貫通孔６９の長手軸は、補助可動接点５３が沿って移動する軸（第１軸Ａ１）と交差（ここでは直交）しており、補助可動接点５３が広がる軸（第３軸Ａ３）に沿っている。

　本変形例の接点装置１０でも、フォトインタラプタ６によって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出できる。これにより、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　また、本変形例の接点装置１０では、補助可動接点５３が第１位置（遮光位置）に位置する状態（図１０Ａ参照）で、発光素子６２から放出された光を補助可動接点５３のみによって遮りやすくなる。また、補助可動接点５３が第２位置（非遮光位置）に位置する状態（図１０Ｂ参照）で、発光素子６２から放出された光を補助可動接点５３が遮りにくくなる。これにより、フォトインタラプタ６の検出精度の向上が図れる。

　なお、フォトインタラプタ６０１の一変形例において、貫通孔６８及び貫通孔６９の長手軸は、第１収容部６７１及び第２収容部６７２が接続部６７３から突出する向きに沿っていなくてもよく、交差（例えば直交）していてもよい。例えば、実施形態の接点装置１０においてこの変形例のフォトインタラプタ６０１を採用し、貫通孔６８及び貫通孔６９の長手軸が、補助可動接点５３が広がる軸（第３軸Ａ３）に沿うようにしてもよい。

　また、フォトインタラプタ６０１の回転角度は９０度に限られず、任意の角度であってよい。例えば、フォトインタラプタ６０１を、上記の回転軸を中心に９０～２７０度の任意の角度だけ回転させてもよく、接続部６７３の底面が下方を向く姿勢としてもよい。

　また、フォトインタラプタ６０１は、例えば、発光素子６２を収容した第１収容部６７１が補助接点対の左側、受光素子６５を収容した第２収容部６７２が補助接点対の右側、接続部６７３が補助接点対の下側に位置するように、配置されてもよい。すなわち、フォトインタラプタ６０１は、発光素子６２の光軸が第３軸Ａ３に沿うように配置されていてもよい。この場合、補助可動端子部５５の段差片５５５に、発光素子６２から放出された光を通すための貫通孔が形成されていてもよい。

　（３．２）変形例２
　本変形例の接点装置１０について、図１１Ａ、図１１Ｂを参照して説明する。

　本変形例の接点装置１０では、透過型のフォトインタラプタ６０１が、補助可動接点５３が補助固定接点５２と接触する第１位置にある状態で補助可動接点５３が経路Ｐ１を遮らず（図１１Ａ参照）、補助可動接点５３が補助固定接点５２から離れた第２位置にある状態で補助可動接点５３が経路Ｐ１上に位置する（図１１Ｂ参照）ように、配置されている。すなわち、補助可動接点５３は、補助可動接点５３が補助固定接点５２から離間した状態（補助可動接点５３の第２位置）で、発光素子６２と受光素子６５との間に位置する。本変形例の接点装置１０では、補助可動接点５３の第２位置が「遮光位置」であり、補助可動接点５３の第１位置が「非遮光位置」である。

　本変形例の接点装置１０でも、フォトインタラプタ６は、いずれかの接点構造の主接点対で溶着が発生しているか否かの検出に用いられ得る。表４に、本変形例の接点装置１０においてフォトインタラプタ６（のみ）を用いた溶着の有無の判定結果の一例を示す。

　本変形例の接点装置１０でも、フォトインタラプタ６によって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出できる。これにより、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　（３．３）変形例３
　本変形例の接点装置１０について、図１２Ａ、図１２Ｂを参照して説明する。

　本変形例の接点装置１０では、検出部５が、補助固定接点５２、補助可動接点５３及び補助固定端子部５４を備えていない。そして、本変形例の接点装置１０では、フォトインタラプタ６は、板状部材（補助可動端子部５５の突出片５５１）の位置を検出することによって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。

　より詳細には、板状部材としての突出片５５１は、ボディ２に保持されたボビン３３の第２支持台３３４にばね片５５４の第１端が支持されることで、間接的にボディ２に設けられている。そして、突出片５５１は、接極子３２の第１姿勢と第２姿勢との間の変位に応じて、相対的に上側の第１位置（図１２Ａ参照）と相対的に下側の第２位置（図１２Ｂ参照）との間で、移動する。本変形例の接点装置１０では、透過型のフォトインタラプタ６０１は、突出片５５１が第１位置（図１２Ａ参照）にある状態で突出片５５１が経路Ｐ１上に位置し、突出片５５１が第２位置（図１２Ｂ参照）にある状態で突出片５５１が経路Ｐ１を遮らない位置に、配置されている。

　見方を変えて説明すると、本変形例の接点装置１０では、補助可動端子部５５の突出片５５１（板状部材）が、遮光体７として機能する。突出片５５１の第１位置が「遮光位置」であり、突出片５５１の第２位置が「非遮光位置」である。

　このように、本変形例の接点装置１０では、板状部材（突出片５５１）は、可動接点４２が開位置にある状態（接極子３２が第１姿勢にある状態）で、発光素子６２と受光素子６５との間に位置する。

　本変形例の接点装置１０でも、フォトインタラプタ６によって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出できる。これにより、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　なお、透過型のフォトインタラプタ６０１は、突出片５５１が第１位置にある状態で突出片５５１が経路Ｐ１を遮らない位置（非遮光位置）に位置し、突出片５５１が第２位置にある状態で突出片５５１が経路Ｐ１上（遮光位置）に位置するように、配置されていてもよい。すなわち、板状部材（突出片５５１）は、可動接点４２が閉位置にある状態（接極子３２が第２姿勢にある状態）で、発光素子６２と受光素子６５との間に位置してもよい。

　また、遮光位置での遮光性を向上させるために、板状部材（突出片５５１）に追加の遮光部材（例えば、上記の実施形態の補助可動接点５３と同形状の物体）が設けられていてもよい。追加の遮光部材は、導電性を有していても有していなくてもよく、任意の材料（例えば樹脂）から形成され得る。

　また、ばね片５５４を遮光体７として用いてもよい。

　また、接点装置１０は、補助可動端子部５５のばね片５５４（及び必要に応じて突出片５５１、段差片５５５）に相当する部分を備えていればよく、端子片５５２及び接続片５５３を備えていなくてもよい。

　（３．４）変形例４
　本変形例の接点装置１０について、図１３を参照して説明する。

　本変形例の接点装置１０では、図１３に示すように、検出部５が、カード５１、補助固定接点５２、補助可動接点５３、補助固定端子部５４及び補助可動端子部５５を備えていない。本変形例の接点装置１０では、フォトインタラプタ６０１は、接極子３２の一部である遮光部の位置を検出することによって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。

　本変形例の接点装置１０では、第１部分３２１から突出する突部３２６を接極子３２が有しており、フォトインタラプタ６０１は、突部３２６の位置を検出することによって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。

　より詳細には、図１３に示すように、突部３２６は、第１部分３２１から前方へ突出する第１突部３２７と、第１突部３２７の前端から第２軸Ａ２に沿って（ここでは右方へ）突出する第２突部３２８とで、Ｌ字状に形成されている。突部３２６は、接極子３２の第１姿勢と第２姿勢との間の変位に応じて、相対的に上側の第１位置（図１３参照）と相対的に下側の第２位置との間で、移動する。

　また、透過型のフォトインタラプタ６０１は、ケース６７の接続部６７３の底面が側方（右方）を向いた姿勢で配置されている。透過型のフォトインタラプタ６０１は、突部３２６が第１位置（図１３参照）にある状態で突部３２６（より詳細には第２突部３２８）が経路Ｐ１上に位置し、突部３２６が第２位置にある状態で突部３２６が経路Ｐ１を遮らない位置に、配置されている。

　見方を変えて説明すると、本変形例の接点装置１０では、接極子３２の一部である遮光部（突部３２６）が、遮光体７として機能する。突部３２６の第１位置が「遮光位置」であり、突部３２６の第２位置が「非遮光位置」である。

　このように、本変形例の接点装置１０では、遮光部（突部３２６）は、可動接点４２が開位置にある状態（接極子３２が第１姿勢にある状態）で、発光素子６２と受光素子６５との間に位置する。

　本変形例の接点装置１０でも、フォトインタラプタ６によって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出できる。これにより、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　なお、突部３２６の形状は、図１３に示す形状に限られない。突部３２６は、例えば、図１４Ａ～図１４Ｄに示すように、第１部分３２１から前方へ突出する直方体状（「第１突部３２７」に相当する部分のみ）であってもよい。図１４Ａ、図１４Ｂは、接極子３２が第１姿勢にあって突部３２６が第１位置にある状態での、突部３２６とフォトインタラプタ６との相対的な位置関係を示す概略図である。図１４Ｃ、図１４Ｄは、接極子３２が第２姿勢にあって突部３２６が第２位置にある状態での、突部３２６とフォトインタラプタ６との相対的な位置関係を示す概略図である。もちろん、突部３２６は、円柱状、Ｔ字状等の他の形状であってもよい。遮光部（突部３２６）は、第１部分３２１の前端以外の場所に設けられていてもよい。

　また、透過型のフォトインタラプタ６０１は、遮光部（突部３２６）が第１位置にある状態で遮光部が経路Ｐ１を遮らない位置（非遮光位置）に位置し、遮光部が第２位置にある状態で遮光部が経路Ｐ１上（遮光位置）に位置するように、配置されていてもよい。すなわち、遮光部（突部３２６）は、可動接点４２が閉位置にある状態（接極子３２が第２姿勢にある状態）で、発光素子６２と受光素子６５との間に位置してもよい。

　また、検出部５は、カード５１、補助固定接点５２、補助可動接点５３、補助固定端子部５４及び補助可動端子部５５を更に備えていてもよい。

　（３．５）変形例５
　本変形例の接点装置１０について、図１５を参照して説明する。

　本変形例の接点装置１０では、図１５に示すように、検出部５が、補助固定接点５２、補助可動接点５３、補助固定端子部５４及び補助可動端子部５５を備えていない。本変形例の接点装置１０では、フォトインタラプタ６０１は、カード５１の突部５１２の位置を検出することによって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。上述のようにカード５１は接極子３２の一部とみなすことができるため、フォトインタラプタ６０１は、接極子３２の一部である遮光部（カード５１の突部５１２）の位置を検出することによって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。

　より詳細には、透過型のフォトインタラプタ６０１は、図１５に示すように、ケース６７の接続部６７３の底面が下方を向いた姿勢で配置されている。発光素子６２を収容する第１収容部６７１は、突部５１２の右側に位置し、受光素子６５を収容する第２収容部６７２は、突部５１２の左側に位置している。カード５１の突部５１２は、接極子３２の第１姿勢と第２姿勢との間の変位に応じて、相対的に上側の第１位置（図１５参照）と相対的に下側の第２位置との間で、移動する。透過型のフォトインタラプタ６０１は、突部５１２が第１位置（図１５参照）にある状態で突部５１２が経路Ｐ１上に位置し、突部５１２が第２位置にある状態で突部５１２が経路Ｐ１を遮らない位置に、配置されている。なお、突部５１２は、第１位置でも第２位置でも、空間ＳＰ１内に位置している。

　見方を変えて説明すると、本変形例の接点装置１０では、接極子３２の遮光部（カード５１の突部５１２）が、遮光体７として機能する。突部５１２の第１位置が「遮光位置」であり、突部５１２の第２位置が「非遮光位置」である。

　このように、本変形例の接点装置１０では、遮光部（突部５１２）は、可動接点４２が開位置にある状態（接極子３２が第１姿勢にある状態）で、発光素子６２と受光素子６５との間に位置する。また、遮光部（突部５１２）は、樹脂製である。また、接極子３２において遮光部（突部５１２）を含む部分（カード５１）は、樹脂製である。

　本変形例の接点装置１０でも、フォトインタラプタ６によって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出できる。これにより、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。また、変形例４のような遮光部（突部３２６）を備えた専用の接極子３２を準備する必要がない。

　なお、透過型のフォトインタラプタ６０１は、遮光部（突部５１２）が第１位置にある状態で遮光部が経路Ｐ１を遮らない位置（非遮光位置）に位置し、遮光部が第２位置にある状態で遮光部が経路Ｐ１上（遮光位置）に位置するように、配置されていてもよい。すなわち、遮光部（突部５１２）は、可動接点４２が閉位置にある状態（接極子３２が第２姿勢にある状態）で、発光素子６２と受光素子６５との間に位置してもよい。

　また、突部５１２の位置、フォトインタラプタ６０１の位置及び姿勢等は、適宜変更可能である。

　また、検出部５は、補助固定接点５２、補助可動接点５３、補助固定端子部５４及び補助可動端子部５５を更に備えていてもよい。その場合、カード５１が、フォトインタラプタ６０１の空間ＳＰ１内で光の経路Ｐ１を遮る第１の突部５１２に加えて、補助可動端子部５５のばね片５５４を動かすための第２の突部５１２を備えていてもよい。或いは、１つの突部５１２によって、光の経路Ｐ１を遮る機能とばね片５５４を動かす機能の両方を行ってもよい。

　（３．６）変形例６
　本変形例の接点装置１０について、図１６Ａ～図１７Ｄを参照して説明する。

　本変形例の接点装置１０は、フォトインタラプタ６として、いわゆる反射型のフォトインタラプタ６０２を備えている。図１６Ａに示すように、反射型のフォトインタラプタ６０２では、発光素子６２の発光面と受光素子６５の受光面とが略同一面上に位置するように、発光素子６２及び受光素子６５がケース６７に収容されている。反射型のフォトインタラプタ６０２は、フォトリフレクタと呼ばれることもある。なお、図１６Ａ以外では、フォトインタラプタ６０２の端子Ｔ１～Ｔ４の図示を省略している。

　図１６Ａに示すように、フォトインタラプタ６０２のケース６７は、矩形箱状の収容部６７０を有している。収容部６７０の所定面（同一面）には、発光素子６２から放出された光を外部空間へ放出するための貫通孔６８と、外部空間からの光を受光素子６５へ導くための貫通孔６９とが、並んで形成されている。図１６Ａに示すように、貫通孔６８及び貫通孔６９の各々は、ここでは丸孔である。

　接点装置１０は、反射体８を更に備えている。反射体８は、例えばミラーである。図１６Ｂに示すように、反射体８は、収容部６７０の所定面と対向するように、収容部６７０と隙間をあけて配置されている。反射体８は、発光素子６２から放出された光が受光素子６５へ向かうように、発光素子６２から放出された光を反射する。以下では、収容部６７０と反射体８との間の空間を「空間ＳＰ２」ともいう。

　反射型のフォトインタラプタ６０２は、空間ＳＰ２での物体の存否を検出する。反射型のフォトインタラプタ６０２では、発光素子６２から放出された光は、貫通孔６８及び空間ＳＰ２を通って反射体８で反射され、空間ＳＰ２及び貫通孔６９を通って受光素子６５で受光される。そのため、反射型のフォトインタラプタ６０２では、発光素子６２から放出された光が受光素子６５へと至る経路Ｐ１は、発光素子６２から放出された光が反射体８へ至る経路Ｐ１１と、反射体８で反射された光が受光素子６５へ至る経路Ｐ１２と、を含む。

　図１６Ｂに示すように、経路Ｐ１１上及び経路Ｐ１２上のいずれにも物体が存在しない場合、発光素子６２から放出された光は、反射体８に反射されて、受光素子６５で受光される。一方、図１６Ｃに示すように、経路Ｐ１１上と経路Ｐ１２上とのうちの少なくとも一方（図１６Ｃの例では、経路Ｐ１１上）に物体（図１６Ｃの例では、遮光体７）が存在する場合、発光素子６２から放出された光は、物体に遮られて受光素子６５には届かない。すなわち、反射型のフォトインタラプタ６０２は、発光素子６２が発光している状態での受光素子６５の光の検出結果、具体的には、発光素子６２が発光している状態で受光素子６５が閾値レベル以上の強度の光を受光したか否かの結果によって、経路Ｐ１上に物体が存在するか否かを検出できる。

　本変形例の接点装置１０では、実施形態の接点装置１０と同様に、補助可動接点５３が遮光体７として機能する。すなわち、フォトインタラプタ６は、補助可動接点５３の位置を検出することによって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出する。例えば、実施形態の接点装置１０における第１収容部６７１の位置に、収容部６７０が配置され、第２収容部６７２の位置に反射体８が配置される。

　本変形例の接点装置１０では、図１７Ａ、図１７Ｂに示すように、補助可動接点５３が補助固定接点５２と接触している状態（補助可動接点５３の第１位置）で、光が発光素子６２から放出され反射体８で反射されて受光素子６５へ至る経路Ｐ１上に補助可動接点５３が位置するように、フォトインタラプタ６０２が配置される。補助可動接点５３が補助固定接点５２から離間している状態（補助可動接点５３の第２位置）では、図１７Ｃ、図１７Ｄに示すように、補助可動接点５３は、経路Ｐ１を遮らない位置にある。

　本変形例の接点装置１０でも、フォトインタラプタ６０２によって、固定接点４１と可動接点４２とが互いに接触しているか否かを検出できる。これにより、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　なお、変形例２の接点装置１０の場合と同様に、補助可動接点５３は、補助可動接点５３が補助固定接点５２から離間している状態（補助可動接点５３の第２位置）で、光が発光素子６２から放出され反射体８で反射されて受光素子６５へ至る経路Ｐ１上に、位置してもよい。この場合、補助可動接点５３が補助固定接点５２と接触している状態（補助可動接点５３の第１位置）では、補助可動接点５３は、経路Ｐ１を遮らない位置にある。

　また、変形例３の接点装置１０の場合と同様に、板状部材（補助可動端子部５５の突出片５５１）を遮光体７として用いてもよい。すなわち、板状部材（突出片５５１）は、可動接点４２が閉位置にある状態で、光が発光素子６２から放出され反射体８で反射されて受光素子６５へ至る経路Ｐ１上に、位置してもよい。或いは、板状部材（突出片５５１）は、可動接点４２が開位置にある状態で、光が発光素子６２から放出され反射体８で反射されて受光素子６５へ至る経路Ｐ１上に、位置してもよい。

　また、変形例４、５の接点装置１０の場合と同様に、接極子３２の遮光部（突部３２６又は突部５１２）を遮光体７として用いてもよい。すなわち、遮光部（突部３２６又は突部５１２）は、可動接点４２が閉位置にある状態で、光が発光素子６２から放出され反射体８で反射されて受光素子６５へ至る経路Ｐ１上に、位置してもよい。或いは、遮光部（突部３２６又は突部５１２）は、可動接点４２が開位置にある状態で、光が発光素子６２から放出され反射体８で反射されて受光素子６５へ至る経路Ｐ１上に、位置してもよい。遮光部（突部５１２）は、樹脂製であってもよい。また、接極子３２において遮光部（突部５１２）を含む部分（カード５１）は、樹脂製であってもよい。

　また、反射型のフォトインタラプタ６０２と反射体８とは、接続部によって互いに接続されていて相対的な位置関係が固定されていてもよい（フォトインタラプタ６０１の接続部６７３を参照）。

　また、図１７Ａ～図１７Ｄの例では、貫通孔６８と貫通孔６９とが第１軸Ａ１に沿って並ぶ姿勢でフォトインタラプタ６０２が配置されているが、これに限らず、例えば貫通孔６８と貫通孔６９とが第３軸Ａ３に沿って並ぶ姿勢で配置されていてもよい。

　また、反射体８の数は１つに限られず、複数であってもよい。

　（３．７）その他の変形例
　一変形例において、電磁石部３、主接点部４等の構造は、適宜変更されてもよい。接点装置１０は、例えば、電磁石部３に永久磁石を使用した有極リレーであってもよいし、ラッチングリレーであってもよい。接点装置１０は、ヒンジ型ではなくシーソー型或いはプランジャ型のリレーであってもよい。接極子３２の変位は、回転移動ではなく平行移動（又は回転移動と平行移動との組み合わせ）であってもよい。また、主接点部４が備える接点構造の数は４つに限られず、１～３つ又は５つ以上であってもよい。

　一変形例において、遮光位置にある状態で、遮光体７は、発光素子６２から放出された光を全て遮らなくてもよく、受光素子６５での光の受光強度が閾値レベル未満となる程度に遮ればよい。同様に、非遮光位置にある状態で、遮光体７は、受光素子６５での光の受光強度が閾値レベル以上となれば、発光素子６２から放出された光の一部を遮ってもよい。

　一変形例において、補助接点対は、カード５１による押付力で補助固定接点５２と補助可動接点５３との間の接圧を確保するいわゆるフレクシャ構造に限られず、ばね片５５４の弾性力によって補助固定接点５２と補助可動接点５３との間の接圧を確保するいわゆるリフトオフ構造であってもよい。

　一変形例において、発光素子６２は赤外線ＬＥＤであってもよいし可視光ＬＥＤであってもよいし、他の素子であってもよい。また、受光素子６５は太陽電池に限られず、フォトトランジスタ等の他の素子であってもよい。

　一変形例において、フォトインタラプタ６は、発光素子６２と受光素子６５とが一体のケース６７に収容されていなくてもよく、互いに別体の収容ケースに収容されていてもよい。例えば、ケース６７は、接続部６７３を備えずに、第１収容部６７１（第１ケース）と第２収容部６７２（第２ケース）とが物理的に分離された構造であってもよい。また、発光素子６２及び受光素子６５のうちの少なくとも一方は、ケースに収容されていなくてもよい。

　一変形例において、フォトインタラプタ６は、接極子３２の変位に応じて移動する移動部材（例えば、接極子３２の第１部分３２１、補助可動端子部５５のばね片５５４等）に固定されて、移動部材と一緒に移動してもよい。遮光体７は、接極子３２の変位に応じて移動しない部材（例えば、ボディ２、ボビン３３等）に固定されていてもよい。

　（４）態様
　以上説明した実施形態及び変形例から明らかなように、本明細書には以下の態様が開示されている。

　第１の態様の接点装置（１０）は、接極子（３２）と、固定接点（４１）と、可動接点（４２）と、フォトインタラプタ（６）と、を備える。接極子（３２）は、コイル（３１）に流れる電流により発生する磁界に応じて変位する。可動接点（４２）は、接極子（３２）の変位に応じて、固定接点（４１）と接触する閉位置と固定接点（４１）から離れた開位置との間で移動する。フォトインタラプタ（６）は、発光素子（６２）及び受光素子（６５）を有する。フォトインタラプタ（６）は、固定接点（４１）と可動接点（４２）とが互いに接触しているか否かを検出する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第２の態様の接点装置（１０）は、第１の態様において、補助固定接点（５２）と、補助可動接点（５３）と、を更に備える。補助可動接点（５３）は、接極子（３２）の変位に連動して移動し、補助固定接点（５２）と接触又は離間する。フォトインタラプタ（６）は、補助可動接点（５３）の位置を検出することによって、固定接点（４１）と可動接点（４２）とが互いに接触しているか否かを検出する。

　この態様によれば、補助可動接点（５３）によって固定接点（４１）と可動接点（４２）との間の溶着を検出でき、かつ、フォトインタラプタ（６）によって固定接点（４１）と可動接点（４２）との間の溶着を検出できる。これにより、溶着検出の信頼性の低下の更なる抑制を図ることが可能となる。

　第３の態様の接点装置（１０）では、第２の態様において、発光素子（６２）と受光素子（６５）とは、互いに対向して配置される。補助可動接点（５３）は、補助可動接点（５３）が補助固定接点（５２）と接触している状態で発光素子（６２）と受光素子（６５）との間に位置する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第４の態様の接点装置（１０）では、第２の態様において、発光素子（６２）と受光素子（６５）とは、互いに対向して配置される。補助可動接点（５３）は、補助可動接点（５３）が補助固定接点（５２）から離間している状態で発光素子（６２）と受光素子（６５）との間に位置する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第５の態様の接点装置（１０）は、第２の態様において、反射体（８）を更に備える。反射体（８）は、発光素子（６２）から放出された光が受光素子（６５）へ向かうように光を反射する。補助可動接点（５３）は、補助可動接点（５３）が補助固定接点（５２）と接触している状態で、光が発光素子（６２）から放出され反射体（８）で反射されて受光素子（６５）へ至る経路（Ｐ１）上に、位置する、又は補助可動接点（５３）が補助固定接点（５２）から離間している状態で、光が発光素子（６２）から放出され反射体（８）で反射されて受光素子（６５）へ至る経路（Ｐ１）上に、位置する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第６の態様の接点装置（１０）では、第１の態様において、接極子（３２）は、遮光部（突部３２６；５１２）を有する。フォトインタラプタ（６）は、遮光部の位置を検出することによって、固定接点（４１）と可動接点（４２）とが互いに接触しているか否かを検出する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第７の態様の接点装置（１０）では、第６の態様において、発光素子（６２）と受光素子（６５）とは、互いに対向して配置される。遮光部は、可動接点（４２）が閉位置にある状態で、発光素子（６２）と受光素子（６５）との間に位置する、又は可動接点（４２）が開位置にある状態で、発光素子（６２）と受光素子（６５）との間に位置する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第８の態様の接点装置（１０）は、第６の態様において、反射体（８）を更に備える。反射体（８）は、発光素子（６２）から放出された光が受光素子（６５）へ向かうように光を反射する。遮光部は、可動接点（４２）が閉位置にある状態で、光が発光素子（６２）から放出され反射体（８）で反射されて受光素子（６５）へ至る経路（Ｐ１）上に、位置する、又は、可動接点（４２）が開位置にある状態で、光が発光素子（６２）から放出され反射体（８）で反射されて受光素子（６５）へ至る経路（Ｐ１）上に、位置する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第９の態様の接点装置（１０）では、第６～第８のいずれか１つの態様において、遮光部（突部５１２）は、樹脂製である。

　この態様によれば、発光素子（６２）からの光が当たる遮光部が樹脂製のため、遮光部での光の反射を抑制でき、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第１０の態様の接点装置（１０）では、第９の態様において、接極子（３２）において遮光部（突部５１２）を含む部分（カード５１）は、樹脂製である。

　この態様によれば、発光素子（６２）からの光が当たる遮光部が樹脂製のため、遮光部での光の反射を抑制でき、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第１１の態様の接点装置（１０）は、第１の態様において、コイル（３１）と、ボディ（２）と、板状部材（突出片５５１）と、を更に備える。ボディ（２）は、コイル（３１）を保持する。板状部材は、ボディ（２）に設けられ、接極子（３２）の変位に応じて移動する。フォトインタラプタ（６）は、板状部材の位置を検出することによって、固定接点（４１）と可動接点（４２）とが互いに接触しているか否かを検出する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第１２の態様の接点装置（１０）では、第１１の態様において、発光素子（６２）と受光素子（６５）とは、互いに対向して配置される。板状部材は、可動接点（４２）が閉位置にある状態で発光素子（６２）と受光素子（６５）との間に位置する、又は可動接点（４２）が開位置にある状態で発光素子（６２）と受光素子（６５）との間に位置する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第１３の態様の接点装置（１０）は、第１１の態様において、反射体（８）を更に備える。反射体（８）は、発光素子（６２）から放出された光が受光素子（６５）へ向かうように光を反射する。板状部材は、可動接点（４２）が閉位置にある状態で、光が発光素子（６２）から放出され反射体（８）で反射されて受光素子（６５）へ至る経路（Ｐ１）上に、位置する、又は、可動接点（４２）が開位置にある状態で、光が発光素子（６２）から放出され反射体（８）で反射されて受光素子（６５）へ至る経路（Ｐ１）上に、位置する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第１４の態様の接点装置（１０）は、第１～第１３のいずれか１つの態様において、遮光体（７）を備える。遮光体（７）は、接極子（３２）の一部（突部３２６；５１２）である、又は接極子（３２）の変位に連動して移動する部材（補助可動接点５３：突出片５５１）である。遮光体（７）は、接極子（３２）の変位に応じて、発光素子（６２）から放出された光が受光素子（６５）へと至る経路（Ｐ１）上に位置して経路（Ｐ１）を遮る遮光位置と、経路（Ｐ１）を遮らない非遮光位置と、の間で移動する。

　この態様によれば、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　第１５の態様の接点装置（１０）は、第１～第１４のいずれか１つの態様において、コイル（３１）を更に備える。フォトインタラプタ（６）は、コイル（３１）と固定接点（４１）とを結ぶ軸において、コイル（３１）を基準として固定接点（４１）と反対側に位置する。

　この態様によれば、フォトインタラプタ（６）が、固定接点（４１）と可動接点（４２）との間で発生し得るアーク等の影響を受けにくくなり、溶着検出の信頼性の低下の抑制を図ることが可能となる。

　１０　接点装置
　２　ボディ
　３１　コイル
　３２　接極子
　３２６　突部（遮光部）
　４１　固定接点
　４２　可動接点
　５１２　突部（遮光部）
　５２　補助固定接点
　５３　補助可動接点
　５５１　突出片（板状部材）
　６　フォトインタラプタ
　６２　発光素子
　６５　受光素子
　７　遮光体
　８　反射体
　Ｐ１　経路

Claims (15)

1. 　コイルに流れる電流により発生する磁界に応じて変位する接極子と、
   　固定接点と、
   　前記接極子の変位に応じて、前記固定接点と接触する閉位置と前記固定接点から離れた開位置との間で移動する可動接点と、
   　発光素子及び受光素子を有し、前記固定接点と前記可動接点とが互いに接触しているか否かを検出するフォトインタラプタと、
   を備える、
   　接点装置。
2. 　補助固定接点と、
   　前記接極子の変位に連動して移動し、前記補助固定接点と接触又は離間する補助可動接点と、
   を更に備え、
   　前記フォトインタラプタは、前記補助可動接点の位置を検出することによって、前記固定接点と前記可動接点とが互いに接触しているか否かを検出する、
   　請求項１に記載の接点装置。
3. 　前記発光素子と前記受光素子とは、互いに対向して配置され、
   　前記補助可動接点は、前記補助可動接点が前記補助固定接点と接触している状態で前記発光素子と前記受光素子との間に位置する、
   　請求項２に記載の接点装置。
4. 　前記発光素子と前記受光素子とは、互いに対向して配置され、
   　前記補助可動接点は、前記補助可動接点が前記補助固定接点から離間している状態で前記発光素子と前記受光素子との間に位置する、
   　請求項２に記載の接点装置。
5. 　前記発光素子から放出された光が前記受光素子へ向かうように前記光を反射する反射体を、更に備え、
   　前記補助可動接点は、
   　　前記補助可動接点が前記補助固定接点と接触している状態で、前記光が前記発光素子から放出され前記反射体で反射されて前記受光素子へ至る経路上に、位置する、又は
   　　前記補助可動接点が前記補助固定接点から離間している状態で、前記光が前記発光素子から放出され前記反射体で反射されて前記受光素子へ至る経路上に、位置する、
   　請求項２に記載の接点装置。
6. 　前記接極子は、遮光部を有し、
   　前記フォトインタラプタは、前記遮光部の位置を検出することによって、前記固定接点と前記可動接点とが互いに接触しているか否かを検出する、
   　請求項１に記載の接点装置。
7. 　前記発光素子と前記受光素子とは、互いに対向して配置され、
   　前記遮光部は、
   　　前記可動接点が前記閉位置にある状態で、前記発光素子と前記受光素子との間に位置する、又は
   　　前記可動接点が前記開位置にある状態で、前記発光素子と前記受光素子との間に位置する、
   　請求項６に記載の接点装置。
8. 　前記発光素子から放出された光が前記受光素子へ向かうように前記光を反射する反射体を、更に備え、
   　前記遮光部は、
   　　前記可動接点が前記閉位置にある状態で、前記光が前記発光素子から放出され前記反射体で反射されて前記受光素子へ至る経路上に、位置する、又は、
   　　前記可動接点が前記開位置にある状態で、前記光が前記発光素子から放出され前記反射体で反射されて前記受光素子へ至る経路上に、位置する、
   　請求項６に記載の接点装置。
9. 　前記遮光部は、樹脂製である、
   　請求項６～８のいずれか１項に記載の接点装置。
10. 　前記接極子において前記遮光部を含む部分は、樹脂製である、
    　請求項９に記載の接点装置。
11. 　前記コイルと、
    　前記コイルを保持するボディと、
    　前記ボディに設けられ、前記接極子の変位に応じて移動する板状部材と、
    を更に備え、
    　前記フォトインタラプタは、前記板状部材の位置を検出することによって、前記固定接点と前記可動接点とが互いに接触しているか否かを検出する、
    　請求項１に記載の接点装置。
12. 　前記発光素子と前記受光素子とは、互いに対向して配置され、
    　前記板状部材は、
    　　前記可動接点が前記閉位置にある状態で、前記発光素子と前記受光素子との間に位置する、又は
    　　前記可動接点が前記開位置にある状態で、前記発光素子と前記受光素子との間に位置する、
    　請求項１１に記載の接点装置。
13. 　前記発光素子から放出された光が前記受光素子へ向かうように前記光を反射する反射体を更に備え、
    　前記板状部材は、
    　　前記可動接点が前記閉位置にある状態で、前記光が前記発光素子から放出され前記反射体で反射されて前記受光素子へ至る経路上に、位置する、又は、
    　　前記可動接点が前記開位置にある状態で、前記光が前記発光素子から放出され前記反射体で反射されて前記受光素子へ至る経路上に、位置する、
    　請求項１１に記載の接点装置。
14. 　遮光体を備え、前記遮光体は、前記接極子の一部、又は前記接極子の変位に連動して移動する部材であり、
    　前記遮光体は、前記接極子の変位に応じて、
    　　前記発光素子から放出された光が前記受光素子へと至る経路上に位置して前記経路を遮る遮光位置と、
    　　前記経路を遮らない非遮光位置と、
    　の間で移動する、
    　請求項１～１３のいずれか１項に記載の接点装置。
15. 　前記コイルを更に備え、
    　前記フォトインタラプタは、前記コイルと前記固定接点とを結ぶ軸において、前記コイルを基準として前記固定接点と反対側に位置する、
    　請求項１～１４のいずれか１項に記載の接点装置。

Images