CN108321028A - 继电器光耦检测装置及具有该装置的电磁继电器 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种继电器光耦检测装置，主要包括随动件和光耦检测器，随动件与电磁继电器的磁动构件相连接，随动件还具有一个挡片，挡片与光耦检测器的检测区相对应，电磁继电器的线圈通电或断电后磁动构件发生动作，随动件随磁动构件移动，挡片随之离开或者进入光耦检测器的检测区。该继电器光耦检测装置，通过分析光耦检测器给出的信号检测磁动构件的状态并将其与电磁继电器的线圈通断状态进行比较，由此判断电磁继电器的动作是否准确、继电器是否损坏。该装置可以用独立的电平信号监测动静触点是否闭合或者断开，由此提高了产品使用的安全性，或也可将光耦检测器当做辅助信号继电器使用。本发明还公开了一种具有该装置的电磁继电器。
Description
技术领域
本发明涉及继电器，特别涉及继电器光耦检测装置及具有该装置的电磁继电器。
背景技术
由于继电器在控制电路中有独特的电气、物理特性，其断态的高绝缘电阻和通态的低导通电阻，使得其它任何电子元器件无法与其相比，加上继电器标准化程度高、通用性好、可简化电路等优点，所以继电器广泛应用在航天、航空、军用电子装备、信息产业及国民经济的各种电子设备中。随着科技的飞速发展，继电器在程控通信设备中的使用量还在进一步增加，所以，如何保证继电器的可靠性，满足整机系统的可靠性，成为人们关注的焦点。
电磁继电器是一种在空调等家用电器、光伏、充电桩中使用非常多的开关功能器件，它利用电磁原理实现自动通断从而完成电路的开关控制功能。同时，继电器又属于结构类器件，如继电器中的衔铁、弹片等活动部件，这些部件在长期使用中会存在脱落、折断现象，动静触点易粘连，线圈断线等，从而使继电器的开关功能受到严重影响。在现有技术中，使用结构类辅助触点来监控，会由于辅助触点表面经过一段时间氧化、或主负载触点断开时电弧产生的粉尘颗粒覆盖在辅助触点上造成辅助触点接触不导通，且由于辅助触点也为结构类器件，动作次数多后有较大可能会损坏，就无法实现监测功能或提供错误信号，因此，如何提供一种高可靠性的继电器监测装置对继电器是否出现损坏进行监测是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
中国专利201480067633.2公开了一种电磁继电器，通过设置辅助触点来实现对继电器的监测。但是辅助触点具有以下缺点：小电流信号下，辅助触点时间久易氧化，易受主负载触点电弧烧蚀产生的粉尘、挥发物等影响，而造成接触不导通；且辅助触点为纯机械结构，动作次数多后，弹片弹力易下降或断裂失效、触点表面易磨损氧化造成不导通；还有辅助触点通断需要一定的力，这样就会分掉主负载触点组的力，降低主负载分断或保持的力，也就降低主负载分断及带载能力。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种继电器光耦检测装置，另一个目的是提供一种具有该光耦检测装置的电磁继电器。
根据本发明的一个方面，提供了一种继电器光耦检测装置，主要包括随动件和光耦检测器，随动件与电磁继电器的磁动构件相连接，随动件还具有一个挡片，挡片与光耦检测器的检测区相对应，电磁继电器的线圈通电或断电后磁动构件发生动作，随动件随磁动构件移动，挡片随之离开或者进入光耦检测器的检测区，离开光耦检测器的检测区后光耦检测器的光通路导通，挡片进入光耦检测器的检测区后阻隔光耦检测器的光通路。
进一步地，磁动构件包括衔铁、动簧片或者触点桥。
进一步地，随动件与磁动构件固定连接，或者随动件与磁动构件一体成型。
进一步地，随动件与衔铁固定连接，并与动簧片一体成型。
进一步地，光耦检测器固定于一个线路板上，线路板还设有一个用于输出信号的端子接口，或者使用电子线引出。
采用以上技术方案的继电器光耦检测装置，创造性地使用光耦检测器设置了独立的检测装置。通过检测随动件的挡片，光耦检测器给出一个断开或者导通的信号，通过分析光耦检测器给出的信号检测磁动构件的状态并将其与电磁继电器的线圈的通断状态进行比较，由此判断电磁继电器的动作是否准确。该装置可以用独立的电平信号监测动静触点是否闭合或者断开，由此提高了产品使用的安全性。该继电器光耦检测装置光耦检测器克服了辅助触点方式的缺点，不易产生不导通而误判。而且由于为半导体，光耦通断寿命非常长，动作次数多后不易造成机械故障；不影响主负载触点组的力的分配。
根据本发明的另一个方面，提供了一种电磁继电器，包括：
电磁组件，主要由线圈和线圈内部的铁芯组成，线圈由漆包线在骨架外壁盘绕而成，铁芯的设置方向沿线圈通电后其内部的磁力线方向；
静端组件，主要包括静端子和设于静端子上的至少一个静触点，静端子与外部电路的负载一侧相连接；
磁动构件，包括衔铁、动簧片和触点桥，衔铁设于电磁组件一侧且正对铁芯的一端，动簧片与衔铁固定连接，衔铁与触点桥固定连接，触点桥具有至少一个动触点，动触点与静触点相对应，动簧片的弹性作用使动触点与静触点分离，线圈通电时，铁芯产生的磁性吸引衔铁克服动簧片的弹性里向铁芯靠近，连接于衔铁上的触点桥随之转动，从而使动触点与静触点相互接触，进而达到导通负载与电源之间的连接的效果；
光耦检测装置，包括随动件和光耦检测器，随动件与磁动构件相连接，随动件还具有一个挡片，挡片与光耦检测器的检测区相对应，电磁继电器的线圈通电或断电后磁动构件发生动作，随动件随磁动构件移动，挡片随之离开或者进入光耦检测器的检测区，离开光耦检测器的检测区后光耦检测器的光通路导通，挡片进入光耦检测器的检测区后阻隔光耦检测器的光通路，光耦检测器据此给出一个断开或者导通的信号，通过分析光耦检测器给出的信号检测磁动构件的状态并将其与线圈的通断状态进行比较，由此判断继电器的动作是否准确。
进一步地，光耦检测器设于继电器的盒体外部，盒体设有一个用于容置挡片的通孔，通孔与光耦检测器的检测区相对应，继电器动作时挡片在通孔内伸缩移动。
进一步地，随动件与衔铁固定连接，并与动簧片一体成型。
采用以上技术方案的电磁继电器，设置了独立的检测装置。通过检测随动件的挡片，光耦检测器给出一个断开或者导通的信号，通过分析光耦检测器给出的信号检测磁动构件的状态并将其与电磁继电器的线圈的通断状态进行比较，由此判断电磁继电器的动作是否准确。该装置可以用独立的电平信号监测动静触点是否闭合或者断开，由此提高了产品使用的安全性。
附图说明
图1为本发明一种实施方式的具有光耦检测装置的电磁继电器的结构示意图。
图2为图1所示电磁继电器的装配图。
图3为图1所示电磁继电器的内部结构示意图。
图4为图1所示电磁继电器的爆炸图。
图5为图1所示电磁继电器的纵剖面结构示意图。
图6为图1中光耦检测器的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细的说明。
图1至图6示意性地显示了根据本发明的一种实施方式的电磁继电器。如图所示，该装置包括：电磁组件、静端组件、磁动构件和光耦检测装置。
其中，电磁组件主要由线圈1和线圈1内部的铁芯2组成.
线圈1由漆包线在骨架外壁盘绕而成.
铁芯2的设置方向沿线圈1通电后其内部的磁力线方向。
线圈1一侧还设有一个轭铁10。
静端组件主要包括静端子3和设于静端子3上的至少一个静触点31。
静端子31与外部电路的负载一侧相连接。
磁动构件包括衔铁4、动簧片5和触点桥6。
衔铁4设于电磁组件一侧且正对铁芯2的一端。
动簧片5与衔铁4固定连接，衔铁4与触点桥6固定连接。
触点桥6具有至少一个动触点61。
动触点61与静触点31相对应。
动簧片5的弹性作用使动触点61与静触点31分离。
线圈1通电时，铁芯2产生的磁性吸引衔铁4克服动簧片5的弹性里向铁芯2靠近，连接于衔铁4上的触点桥6随之转动，从而使动触点61与静触点31相互接触，进而达到导通负载与电源之间的连接的效果。
光耦检测装置包括随动件7和光耦检测器8。
随动件7与磁动构件相连接。
随动件7还具有一个挡片71。
挡片71与光耦检测器8的检测区8a相对应。
电磁继电器的线圈1通电后磁动构件发生动作，随动件7随磁动构件移动，挡片71随之离开或者进入光耦检测器8的检测区8a，挡片71进入检测区8a后阻隔光耦检测器8的光通路，离开检测区8a后光耦检测器8的光通路导通，光耦检测器8据此给出一个断开或者导通的信号，通过分析光耦检测器8给出的信号检测磁动构件的状态并将其与线圈1的通断状态进行比较，由此判断继电器的动作是否准确。
光耦检测8设于继电器的盒体9外部，通过一个外盒体92与盒体9固定。
盒体9设有一个用于容置挡片71的通孔9a。
通孔9a与光耦检测器8的检测区8a相对应，继电器动作时挡片1在通孔9a内伸缩移动。
盒体9安装在一个底盖91上。
光耦检测器8固定于一个线路板81上，线路板81还设有一个用于输出信号的端子接口82。
在本实施例中，随动件7与衔铁4固定连接，并与动簧片5一体成型。
在其他的实施例中，随动件7与磁动构件固定连接，或者随动件7与磁动构件一体成型。
以上所述的仅是本发明的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。
Claims (8)
1.继电器光耦检测装置，其特征在于，主要包括随动件和光耦检测器，所述随动件与电磁继电器的磁动构件相连接，所述随动件还具有一个挡片，所述挡片与所述光耦检测器的检测区相对应，所述随动件随所述磁动构件移动，所述挡片随之离开或者进入所述光耦检测器的检测区，所述挡片离开所述光耦检测器的检测区后所述光耦检测器的光通路导通，进入所述光耦检测器的检测区后阻隔所述光耦检测器的光通路，所述光耦检测器据此给出一个导通或者断开的信号。
2.根据权利要求1所述的继电器光耦检测装置，其特征在于，所述磁动构件包括衔铁、动簧片或者触点桥。
3.根据权利要求1所述的继电器光耦检测装置，其特征在于，所述随动件与所述磁动构件固定连接，或者所述随动件与所述磁动构件一体成型。
4.根据权利要求2所述的继电器光耦检测装置，其特征在于，所述随动件与所述衔铁固定连接，并与所述动簧片一体成型。
5.根据权利要求1所述的继电器光耦检测装置，其特征在于，所述光耦检测器固定于一个线路板上，所述线路板还设有一个用于输出信号的端子接口，或者使用电子线引出。
6.一种电磁继电器，包括：
电磁组件，主要由线圈和线圈内部的铁芯组成，所述线圈由漆包线在骨架外壁盘绕而成，所述铁芯的设置方向沿所述线圈通电后其内部的磁力线方向；
静端组件，主要包括静端子和设于所述静端子上的至少一个静触点，所述静端子与外部电路的负载一侧相连接；
磁动构件，包括衔铁、动簧片和触点桥，所述衔铁设于所述电磁组件一侧且正对所述铁芯的一端，所述动簧片与所述衔铁固定连接，所述衔铁与所述触点桥固定连接，所述触点桥具有至少一个动触点，所述动触点与所述静触点相对应，所述动簧片的弹性作用使所述动触点与所述静触点分离，所述线圈通电时，所述铁芯产生的磁性吸引所述衔铁克服所述动簧片的弹性里向所述铁芯靠近，连接于所述衔铁上的所述触点桥随之转动，从而使所述动触点与所述静触点相互接触，进而达到导通负载与电源之间的连接的效果；
光耦检测装置，包括随动件和光耦检测器，所述随动件与所述磁动构件相连接，所述随动件还具有一个挡片，所述挡片与所述光耦检测器的检测区相对应，所述电磁继电器的线圈通电后所述磁动构件发生动作，所述随动件随所述磁动构件移动，所述挡片随之进入或者离开所述光耦检测器的检测区，所述挡片进入所述光耦检测器的检测区后阻隔所述光耦检测器的光通路，离开所述光耦检测器的检测区后所述光耦检测器的光通路导通，所述光耦检测器据此给出一个断开或者导通的信号。
7.根据权利要求6所述的电磁继电器，其特征在于，所述光耦检测器设于继电器的盒体外部，所述盒体设有一个用于容置所述挡片的通孔，所述通孔与所述光耦检测器的检测区相对应，继电器动作时所述挡片在所述通孔内伸缩移动。
8.根据权利要求6所述的电磁继电器，其特征在于，所述随动件与所述衔铁固定连接，并与所述动簧片一体成型。
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