WO2023100831A1 - チップ周部剥離装置、チップ供給装置、チップ供給システム、チップ接合システム、ピックアップ装置、チップ周部剥離方法、チップ供給方法、チップ接合方法およびピックアップ方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 93
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims abstract description 163
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 219
- 206010040844 Skin exfoliation Diseases 0.000 claims description 153
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 127
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 105
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 77
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 64
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 43
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 40
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 33
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 29
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 17
- 238000005304 joining Methods 0.000 claims description 15
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 11
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims 3
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims 3
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 380
- 238000001994 activation Methods 0.000 description 43
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 40
- 230000008569 process Effects 0.000 description 37
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 32
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 32
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 27
- 102100031476 Cytochrome P450 1A1 Human genes 0.000 description 6
- 101000941690 Homo sapiens Cytochrome P450 1A1 Proteins 0.000 description 6
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 101150104869 SLT2 gene Proteins 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 101100095908 Chlamydomonas reinhardtii SLT3 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101000671638 Homo sapiens Vesicle transport protein USE1 Proteins 0.000 description 1
- -1 SiN or AlN Chemical class 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102100040106 Vesicle transport protein USE1 Human genes 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000007306 turnover Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
Definitions
- the present invention relates to a chip periphery peeling device, a chip supply device, a chip supply system, a chip bonding system, a pickup device, a chip periphery peeling method, a chip supply method, a chip bonding method, and a pickup method.
- a wafer ring that holds a film to which a chip is attached, a pusher, and a tray that holds the chip are provided.
- a chip transfer device has been proposed in which a pusher is moved downward in such a state that the chips are pushed out from the film side and transferred into the depressions of the tray (see, for example, Patent Document 1).
- the present invention has been made in view of the above-mentioned reasons, and provides a chip periphery peeling device, a chip supply device, a chip supply system, and a chip supply system capable of suppressing scattering of particles adhering to the end face of a chip to the bonding surface of the surrounding chip.
- An object of the present invention is to provide a chip bonding system, a pick-up device, a method for peeling off the periphery of a chip, a method for supplying a chip, a method for bonding a chip, and a method for picking up a chip.
- the chip periphery peeling device includes: A dicing substrate formed by dicing a portion between a plurality of chip forming regions of a substrate on which a plurality of chip forming regions serving as bases of a plurality of chips are formed, or a sheet to which the plurality of chips are adhered a frame support supporting a fixed annular frame; The central portion of each of the plurality of chip forming regions or the central portion of each of the plurality of chips on the dicing substrate is attached to the sheet, and the central portion of each of the plurality of chip forming regions or the peripheral portion of each of the plurality of chips is adhered to the sheet. and a chip peripheral peeling portion that makes it easier to peel off from the sheet than at least the center portion of the chip peripheral portion.
- the chip peripheral part peeling method includes: A dicing substrate formed by dicing a portion between a plurality of chip forming regions of a substrate on which a plurality of chip forming regions serving as bases of a plurality of chips are formed, or a sheet to which the plurality of chips are adhered While supporting the fixed annular frame, central portions of each of the plurality of chip formation regions on the dicing substrate or central portions of each of the plurality of chips are attached to the sheet and attached to each of the plurality of chip formation regions.
- a peripheral portion peeling step is included in which both end portions of the central portion or the peripheral portions of each of the plurality of chips facing each other with the central portion therebetween are made easier to peel from the sheet than the central portion.
- the central portion of each of the plurality of chip forming regions or the central portion of each of the plurality of chips on the dicing substrate is adhered to the sheet, and the central portion of each of the plurality of chip forming regions or the peripheral portion of each of the plurality of chips is adhered to the sheet.
- At least the opposite ends sandwiching the central portion of the are made to be easier to separate from the sheet than the central portion.
- the present invention since the end portions of the chips can be peeled off in advance when the chips are separated from the sheet, it is possible to remove each of the plurality of chips from the sheet accordingly. It is possible to reduce the stress applied to each of the plurality of chips. Therefore, it is possible to prevent excessive stress from being applied to the chips when each of the plurality of chips is separated from the sheet, and damage to the chips due to excessive stress can be suppressed.
- FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a chip bonding system according to Embodiment 1 of the present invention
- FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view of an example of a chip in which an electrode portion and an insulating portion are flush with each other
- 1 is a schematic configuration diagram of an activation processing apparatus according to Embodiment 1
- FIG. FIG. 4 is an operation explanatory diagram of the cleaning device according to Embodiment 1
- 1 is a schematic configuration diagram of a chip periphery peeling device according to Embodiment 1
- FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a chip supply device, a chip transfer device, and a bonding device according to Embodiment 1 as viewed from the side;
- FIG. 2 is a plan view of the chip holding portion according to Embodiment 1;
- FIG. 2 is a cross-sectional view showing a part of the chip transfer device according to Embodiment 1;
- 2 is a cross-sectional view showing the head of the bonding apparatus according to Embodiment 1;
- FIG. 2 is a plan view showing the head of the bonding apparatus according to Embodiment 1;
- FIG. 4 is a flow chart showing an example of the flow of the chip joining method according to Embodiment 1;
- 3 is a schematic side view showing how the chip periphery peeling device according to Embodiment 1 irradiates a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip with ultraviolet light;
- FIG. 2 is a diagram showing a region irradiated with ultraviolet light in the sheet according to Embodiment 1; 4 is a schematic side view showing how the chip periphery peeling device according to Embodiment 1 presses a pressing member against a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip.
- FIG. 4 is a schematic side view showing a state in which the chip periphery peeling device according to Embodiment 1 brings the pressing member into contact with the sheet;
- FIG. FIG. 4 is a schematic side view showing how the peripheral portion of the chip is peeled off by being pressed by the pressing member in the chip peripheral portion peeling apparatus according to the first embodiment;
- FIG. 2 is a schematic plan view showing how chips are picked up in the chip supply unit of the chip bonding system according to Embodiment 1; 4 is a schematic side view showing how chips are picked up in the chip supply unit of the chip bonding system according to the first embodiment;
- FIG. FIG. 4 shows how chips are picked up in the chip supply unit of the chip bonding system according to Embodiment 1, and shows a state in which the annular frame is moved to the side opposite to the collet side while the chips are held by the collet.
- FIG. 13B is a diagram showing how chips are picked up in the chip supply unit of the chip bonding system according to Embodiment 1, and shows a state in which a part of the chip that has been peeled from the sheet progresses from the state shown in FIG.
- FIG. 4 shows how chips are picked up in the chip supply unit of the chip bonding system according to Embodiment 1, and shows a state in which the chips are detached from the sheet;
- 2 is a schematic plan view showing how chips are supplied from a chip supply unit in the chip bonding system according to the first embodiment;
- FIG. 2 is a schematic side view showing how chips are supplied from a chip supply unit in the chip bonding system according to Embodiment 1;
- FIG. 4 is a schematic plan view showing how a chip is transferred from a chip transfer device to a head in the chip bonding system according to Embodiment 1;
- FIG. 4 is a schematic side view showing how a chip is transferred from a chip transfer device to a head in the chip bonding system according to Embodiment 1;
- FIG. 6 is a schematic configuration diagram of a chip supply device, a chip transfer device, and a bonding device according to Embodiment 2 of the present invention as viewed from the side; 9 is a flow chart showing an example of the flow of a chip bonding method according to Embodiment 2;
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to Embodiment 2, and shows how ultraviolet light is applied to a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to Embodiment 2, and shows how a pressing member is pressed against a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to Embodiment 2, and shows how a pressing member is pressed against a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip feeder according to Embodiment 2, and shows a state where the tip of the needle is brought into contact with the sheet.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the tip supply device according to Embodiment 2, and shows a state in which the pick-up mechanism is moved vertically upward;
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the tip supply device according to Embodiment 2, showing a state where the tip is separated from the sheet;
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to Embodiment 2, and shows how chips are transferred to the chip transfer device.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip feeder according to Embodiment 2, and shows a state where the tip of the needle is brought into contact with the sheet.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the tip supply device according to Embodiment 2, and shows a state in which the pick-up mechanism is moved vertical
- FIG. 10 is a diagram showing how the tip of the needle is brought into contact with the sheet and then pushed out in the tip bonding method according to the comparative example.
- FIG. 10 is a diagram showing how the peripheral portion of the chip bounces up in the chip bonding method according to the comparative example;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram of a chip supply device, a chip transfer device, and a bonding device according to Embodiment 3 of the present invention as viewed from the side;
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to Embodiment 3, and shows how ultraviolet light is applied to a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip feeder according to Embodiment 3, and shows how a pressing member is pressed against a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the tip supply device according to Embodiment 3, showing how the collet is held in contact with the tip.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a portion of the tip supply device according to Embodiment 3, and shows a state where the annular frame is moved to the side opposite to the collet side while the tip is held by the collet. It is a schematic diagram showing a state of stealth dicing.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the chip feeder according to Embodiment 3, and shows how a pressing member is pressed against a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the tip supply device according to Embodiment 3, showing
- FIG. 4 is a schematic diagram showing how the dicing substrate is separated into chips; It is a schematic side view of the chip
- FIG. 11 is a schematic side view of a portion of a tip feeder according to a modification; It is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to the modification, and is a diagram showing how ultraviolet light is applied to a portion of the sheet corresponding to the periphery of the chip.
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the tip supply device according to the modification, and shows how a pressing member is pressed against a portion of the sheet corresponding to the circumference of the tip. It is a schematic side view of the chip
- FIG. 11 is a schematic side view of a portion of a tip feeder according to a modification; It is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to the modification, and is a diagram showing how ultraviolet light is applied to a portion of
- FIG. 11 is a schematic side view of a pickup mechanism according to a modified example
- FIG. 10 is a schematic configuration diagram of a pickup mechanism according to a modified example
- It is a schematic block diagram of the chip
- FIG. 10 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip bonding system according to a modification, showing how a conveying robot conveys an annular frame to which a sheet with chips adhered is fixed, into a chip circumference peeling device
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip bonding system according to a modification, and showing a state in which an annular frame to which a sheet TE to which a chip is attached is fixed is arranged in a chip periphery peeling device;
- FIG. 10 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip bonding system according to a modification, showing how a conveying robot conveys an annular frame to which a sheet with chips adhered is fixed, into a chip
- FIG. 10 is a schematic diagram showing how a transport robot according to a modification turns over an annular frame to which a sheet TE with chips attached is fixed;
- FIG. 11 is a schematic side view showing how a chip periphery peeling device according to a modification irradiates a portion of a sheet corresponding to a periphery of a chip with ultraviolet light.
- FIG. 11 is a schematic side view showing how a chip periphery peeling device according to a modification presses a pressing member against a portion of a sheet corresponding to a periphery of a chip.
- FIG. 10 is a schematic diagram showing how a transport robot according to a modification turns over an annular frame to which a sheet TE with chips attached is fixed;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip bonding system according to a modification, showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE to which a chip is attached is fixed from a chip circumference peeling device to a standby unit; is.
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip joining system according to a modification, and showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE to which chips are stuck is fixed from a standby unit into a buffer section;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip bonding system according to a modification, showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE to which chips are stuck is fixed from a standby unit into a buffer section;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip joining system according to a modification, and showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE to which chips are stuck is fixed from a standby unit into a buffer section;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip joining system according to a modification, and showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE to which chips are stuck is fixed from a standby unit into a buffer section;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip joining system according to a modification, and showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE to which chips are stuck is fixed from a standby unit into a buffer section;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip joining system according to a modification, showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE to which chips are attached is fixed from a buffer section to a standby unit;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip joining system according to a modification, and showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE having chips adhered thereto is fixed, from a standby unit into a chip supplying section;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip joining system according to a modification, and showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE having chips adhered thereto is fixed, from a standby unit into a chip supplying section;
- FIG. 11 is a schematic configuration diagram showing a part of a chip joining system according to a modification, and showing how a conveying section conveys an annular frame to which a sheet TE having chips adhered thereto is fixed, from a standby unit into a chip supplying section;
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the tip supply device according to the modification, and shows a state in which the tip is detached from the sheet. It is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to the modification, and shows how the chip is held by the chip transfer unit. It is a schematic side view which shows a part of chip supply apparatus which concerns on a modification, and is a figure which shows a mode that a chip
- FIG. 10 is a schematic side view showing a part of the tip supply device according to the modification, and shows a state in which the tip is detached from the sheet. It is a schematic side view showing a part of the chip supply device according to the modification
- FIG. 5 is a cross-sectional view of a collet according to a modification
- FIG. 5 is a cross-sectional view of a collet according to a modification
- FIG. 5 is a cross-sectional view of a collet according to a modification
- a chip bonding system is a system for mounting a chip on a substrate.
- the chip is, for example, a semiconductor chip obtained by dividing a diced substrate into individual pieces, in which an electrode portion and an insulating portion are formed within the same bonding surface.
- the mounting surface of the substrate on which the chip is mounted and the bonding surface of the chip are subjected to an activation treatment and then hydrophilized, and then the chip is bonded to the substrate by contacting or applying pressure. Thereafter, or by simultaneous heating, the chip is firmly bonded to the substrate.
- the chip bonding system includes a chip periphery peeling device for peeling the periphery of the chip from the sheet.
- a chip peripheral part peeling device for peeling the periphery of the chip from the sheet.
- a frame supporting portion that supports the annular frame that is mounted thereon; a central portion of each of the plurality of chips is adhered to the sheet; and a chip peripheral peeling part that makes it easy to peel off from the sheet.
- the chip bonding system 1 includes a chip supply device 10, a chip transfer device 39, a bonding device 30, a chip periphery peeling device 50, and an activation processing device 60. , a conveying device 70 , a loading/unloading unit 80 , a cleaning device 85 , and a control unit 90 .
- the transport device 70 has a transport robot 71 having an arm that grips the annular frames RI1, RI2, and RI3 to which the dicing substrate WD or the sheet TE to which the chip CP is attached is fixed.
- the chip CP is formed such that the electrode portion PC and the insulating portion PI are flush with each other in the same bonding surface CPf.
- “flush” means that there is no level difference between the electrode portion PC and the insulating portion PI, and Ra of the joint surface CPf is 1 ⁇ m or less.
- the insulating portion is made of, for example, an oxide such as SiO 2 or Al 2 O 3 , a nitride such as SiN or AlN, an oxynitride such as SiON, or an insulating material such as resin having electrical insulation properties. formed.
- the electrode portion is formed of a conductive material such as a semiconductor material such as Si or Ge, or a metal such as Cu, Al, or solder.
- the sheet TE is made of, for example, a resin, and is coated with an adhesive whose adhesion decreases when ultraviolet light is applied to the surface of the sheet TE to which the chips CP are attached in the thickness direction.
- a dicing substrate WD or a plurality of chips CP obtained by dividing the dicing substrate WD into individual pieces are adhered to the sheet TE with an adhesive on the side opposite to the bonding surface side thereof.
- the transport robot 71 activates the annular frame RI1 or the annular frames RI2 and RI3 that hold the substrate WT received from the carry-in/out unit 80 or the sheet TE to which the chip CP is attached. It is possible to move to positions for transfer to the processing device 60, the cleaning device 85, the bonding device 30, and the chip supply device 10, respectively.
- the annular frames RI1, RI2, and RI3 correspond to annular frames to which the seat TE is fixed.
- the transport robot 71 When the transport robot 71 receives the substrate WT from the loading/unloading unit 80 , the transport robot 71 moves to a position for transferring the substrate WT to the activation processing apparatus 60 while gripping the received substrate WT, and transfers the substrate WT to the activation processing apparatus 60 . do. Further, after the activation processing of the mounting surface WTf of the substrate WT in the activation processing device 60 is completed, the transfer robot 71 receives the substrate WT from the activation processing device 60 and transfers the received substrate WT to the cleaning device 85 . do. Further, the transfer robot 71 receives the substrate WT from the cleaning device 85 after the water cleaning of the substrate WT in the cleaning device 85 is completed, and turns over the substrate WT while gripping the received substrate WT. Move to the transfer position. Then, the transport robot 71 transfers the substrate WT to the bonding device 30 .
- the transport robot 71 grasps the received annular frame RI1 and lifts the annular frame RI1.
- the circular frame RI1 is transferred to the activation processing device 60 by moving to a position where it is transferred to the activation processing device 60 .
- the transport robot 71 receives the annular frame RI1 from the activation processing device 60 after the activation processing of the bonding surface of the chip CP attached to the sheet TE is completed in the activation processing device 60, and The RI1 is transferred to the carrying-in/out unit 80 .
- the conveying robot 71 grips the received annular frames RI2 and RI3.
- the annular frame RI2 is moved to the position where it is transferred to the chip feeder 10, and the annular frame RI2 is transferred to the chip feeder 10.
- a HEPA (High Efficiency Particulate Air) filter (not shown), for example, is installed in the transport device 70 .
- the inside of the transport device 70 is in an atmospheric pressure environment with extremely few particles.
- the activation processing device 60 activates the portion of the dicing substrate WD attached to the sheet TE that will be the bonding surface of the chip CP.
- This dicing substrate WD is formed by dicing a portion between a plurality of chip forming regions of a substrate on which a plurality of chip forming regions serving as bases of a plurality of chips CP are formed.
- the activation processing device 60 includes a chamber 64, a frame support portion 621 that supports an annular frame RI1 that holds the sheet TE, a sheet support portion 612 that is made of a conductive material, and a sheet support portion. and an electrode 613 arranged to face the portion 612 .
- the activation processing apparatus 60 also includes a sheet support drive section 6121 that drives the sheet support section 612 in the direction indicated by the arrow AR20, a cover 622, a plasma generation section 615, and a supply pipe 676 into the chamber 64. and a gas supply unit 677 that supplies nitrogen gas.
- the chamber 64 is connected to a vacuum pump 652 via an exhaust pipe 651 . When the vacuum pump 652 operates, the gas inside the chamber 64 is discharged out of the chamber 64 through the exhaust pipe 651, and the pressure inside the chamber 64 is reduced (decompressed).
- the plasma generating section 615 has a high frequency power source 611 and a matching unit 614 and applies a high frequency bias between the sheet supporting section 612 and the electrode 613 to generate plasma between the sheet supporting section 612 and the electrode 613 .
- Generate PLM As the high frequency power source 611, a power source that generates a high frequency of 13.56 MHz, for example, can be used.
- the plasma generator 615 generates plasma PLM in the vicinity of the dicing substrate DW attached to the sheet TE, so that ions having kinetic energy repeatedly collide with the bonding surfaces of the chips CP on the dicing substrate DW to bond them. The facing part is activated.
- the cover 622 is made of glass, for example, and in a state in which the sheet TE is supported by the sheet support portion 612, the plurality of chips CP of the sheet TE are attached from the side of the sheet TE to which the plurality of chips CP are attached. It covers the part except the part.
- the plurality of chips CP are obtained by dicing the dicing substrate WD which is circular in plan view, they are attached to the circular area in plan view of the sheet TE.
- the cover 622 has a shape that covers the area outside the circular area in plan view to which the plurality of chips CP are attached on the sheet TE.
- the annular frame RI1 is first placed in a state where the portion of the sheet TE to which the dicing substrate DW is adhered is spaced downward from the cover 622 .
- the sheet supporting portion driving portion 6121 pushes up the sheet supporting portion 612 in a direction to approach the cover 622 , so that the dicing substrate DW is arranged inside the cover 622 .
- the portion of the sheet TE other than the portion to which the dicing substrate DW is attached from being exposed to the plasma PLM.
- the cleaning device 85 includes a stage 852, a stage driving section 853 that drives the stage 852 to rotate, and a cleaning head 851 that is arranged vertically above the stage 852 and ejects water vertically downward.
- the stage 852 has a chuck portion that sucks the sheet TE, and holds the sheet TE to which the plurality of chips CP are attached and the annular frames RI2 and RI3 to which the sheet TE is fixed.
- the cleaning device 85 rotates the stage 852 by the stage driving section 853 as indicated by an arrow AR81 in a state in which the annular frames RI2 and RI3 that hold the sheet TE to which the plurality of chips CP are adhered are supported on the stage 852. While discharging water from the cleaning head 851 toward the plurality of chips CP, the cleaning head 815 is reciprocated along the radial direction of the area of the sheet TE to which the plurality of chips CP are adhered, as indicated by an arrow AR82. A plurality of chips CP are washed with water by moving them.
- the chip peripheral peeling device 50 includes a frame supporting portion 521, a frame locking portion 521a for locking the annular frames RI2 and RI3, and a columnar frame supporting portion at the upper end in the vertical direction. and a locking driving portion 522 that supports the frame locking portion 521 and drives the frame locking portion 521a in the vertical direction.
- the frame support portion 521 has an annular shape, and the annular frames RI2, RI2 to which the sheet TE to which the plurality of chips CP are adhered are fixed are arranged so that one side of the sheet TE to which the chips CP are adhered extends vertically downward. Support in a facing position.
- the chip peripheral peeling device 50 also has a base member 523 that collectively supports the frame support portion 521 and the locking drive portion 522, and a horizontal drive portion 53 that drives the base member 523 in the horizontal direction.
- the horizontal drive unit 53 includes a rail 532 extending in the horizontal direction, a slider 531 supporting the base member 523 and sliding along the rail 532, and a rail 534 extending in a direction orthogonal to the rail 532 in the horizontal direction. , and a slider 533 that supports rails 532 and slides along rails 534 .
- the chip peripheral part peeling device 50 has a chip peripheral part peeling part 57 in which the central part of each of the plurality of chips CP is attached to the sheet TE and the peripheral part of each of the plurality of chips CP is peeled from the sheet TE.
- the chip peripheral peeling portion 57 includes an ultraviolet light irradiation portion 55, a sheet pressing mechanism 56 that presses the sheet TE, and an irradiation portion pressing mechanism support portion 514 that collectively supports the ultraviolet light irradiation portion 55 and the sheet pressing mechanism 56.
- the ultraviolet light irradiation unit 55 has a light source 551 that emits ultraviolet light and a mask 552 that shields part of the ultraviolet light emitted from the light source 551 .
- the ultraviolet light irradiation unit 55 is a region including one end of the plurality of chips CP arranged in a plurality of rows, which faces each other in the direction perpendicular to the row direction of two adjacent rows of the chips CP. By irradiating ultraviolet light onto the two adjacent rows of chips CP, the ultraviolet light is simultaneously irradiated onto one end of each chip CP. Note that the ultraviolet light irradiator 55 may irradiate only one end of each chip CP belonging to each row.
- the sheet pressing mechanism 56 includes a pressing member 561 whose leading end presses a portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP, and a pressing member driving unit 562 that drives the pressing member 561 in the vertical direction and in a direction orthogonal to the vertical direction. and have The pressing member driving section 562 presses the pressing member 561 against the portion of the sheet TE corresponding to the peripheral portion of the chip CP by moving the pressing member 561 in the direction toward the sheet TE along the vertical direction.
- the pressing member driving unit 562 presses the pressing member 561 against the portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP, and pushes the pressing member 561 in a direction orthogonal to the pressing direction of the pressing member 561, that is, in a direction orthogonal to the vertical direction.
- the pressing member 561 rubs the sheet TE.
- a force is applied in the direction in which the end portion of the chip CP moves locally and relatively to the sheet TE at the bonding portion between the chip CP and the sheet TE.
- the end of the chip CP slides against the sheet TE.
- the peripheral portion of the chip CP is separated from the sheet TE.
- the chip periphery peeling device 50 further includes a particle suction unit 54 that suctions particles generated in each of the plurality of chips CP from vertically below the sheet TE.
- the particle suction unit 54 has a suction nozzle 54a, and sucks particles generated in the chip CP when the chip peripheral peeling unit 57 puts the peripheral portion of the chip CP into a state where it is easier to peel from the sheet TE than the central portion. Suction is performed by the nozzle 54a.
- the chip supply device 10 extracts one chip CP from among the plurality of chips CP adhered to the sheet TE fixed to the annular frames RI2 and RI3, and attaches the extracted chip CP to the bonding device 30.
- supply to The chip supply device 10 has a chip supply section 11 as shown in FIG.
- the chip supply section 11 has a frame support section 119 , a pickup mechanism 111 that picks up one chip CP from among a plurality of chips CP, and a cover 114 .
- the frame supporting portion 119 fixes the sheet TE to which the plurality of chips CP are adhered in such a posture that the surface of the sheet TE to which the plurality of chips CP are adhered faces vertically upward (+Z direction).
- the frame support portion 119 may support only the annular frame RI2, or may support only the annular frame RI3.
- the chip supply unit 11 includes a frame elevation drive unit 120 that vertically moves the frame support unit 119 up and down, and a rotation direction that rotates the frame support unit 119 and the frame elevation drive unit 120 together in the XY direction or around the Z axis. and a frame horizontal drive unit 113 that drives the frame.
- the pickup mechanism 111 holds one chip CP out of the plurality of chips CP by suction from the side of the plurality of chips CP on the sheet TE, and moves the chip CP in a direction away from the sheet TE, thereby detaching the one chip CP from the sheet TE. state. That is, the pickup mechanism 111 moves the sheet TE to the other side while holding any one of the plurality of chips CP from the one side of the sheet TE to which the plurality of chips CP are attached.
- the chips CP are cut out from the sheet TE in a state in which the sheet TE is bent and the peripheral portions of the chips CP are separated from the sheet TE.
- the pickup mechanism 111 includes a collet 115 that sucks and holds the joint surface CPf side of the chip CP, a collet elevation driving unit 1161 that drives the collet 115 in the vertical direction as indicated by an arrow AR45, the collet 115 as indicated by an arrow AR46, and a collet horizontal driving unit 1162 that collectively drives the collet lifting driving unit 1161 in the horizontal direction.
- the pickup mechanism 111 further has a collet cleaning section 117 that cleans the collet 115 .
- the cover 114 is arranged so as to cover vertically above the plurality of chips CP, and a hole 114 a is provided in a portion facing the pickup mechanism 111 .
- the pick-up mechanism 111 brings the collet 115 closer to the chip CP from vertically above (+Z direction) on the sheet TE to suck and hold the chip CP.
- the chip CP is supplied by lifting the chip CP vertically upward (+Z direction).
- the chips CP adsorbed and held by the collet 115 are conveyed one by one above the cover 114 through the holes 114 a of the cover 114 and transferred to the chip conveying device 39 .
- the frame horizontal drive unit 113 changes the position of the chip CP positioned vertically below the collet 115 by driving the annular frames RI2 and RI3 in the XY directions or directions rotating around the Z axis.
- the pickup mechanism 111 cleans the chuck portion 115a by the collet cleaning portion 117 before the chuck portion 115a of the collet 115 sucks and holds the chip CP.
- the pickup mechanism 111 may wash the collet 115 each time one chip CP is picked up, or may wash the collet 115 each time the chip CP is repeatedly picked up a preset number of times. It may be something to do.
- a chip conveying device (also called a turret) 39 conveys the chip CP supplied from the chip supplying unit 11 to the transfer position Pos1 where the chip CP is transferred to the head 33H of the bonding unit 33 of the bonding device 30.
- the chip transfer device 39 rotates two long plates 391, an arm 394, a chip holder 393 provided at the tip of the arm 394, and the two plates 391 simultaneously. and a plate drive unit 392 that
- the two plates 391 each have an elongated rectangular box shape, and one end turns around the other end positioned between the chip supply section 11 and the head 33H.
- the two plates 391 are arranged such that their longitudinal directions form an angle of 90 degrees with each other, for example. Note that the number of plates 391 is not limited to two, and may be three or more.
- the tip holding part 393 has two leg pieces 393a provided at the tip of the arm 394 and holding the tip CP.
- the plate 391 can accommodate a long arm 394 inside, as shown in FIG. 7B.
- An arm drive section 395 is provided inside the plate 391 to drive the arm 394 along the longitudinal direction of the plate 391 .
- the tip of the arm 394 is protruded outside the plate 391 and the tip of the arm 394 is recessed inside the plate 391 by the arm drive unit 395 . can do.
- the chip conveying device 39 retracts the arm 394 into the plate 391 to store the chip holding portion 393 inside the plate 391 as indicated by an arrow AR55 in FIG. 7B.
- the two leg pieces 393a may be provided with suction grooves (not shown).
- the chip CP since the chip CP is held by suction on the leg piece 392a, the chip CP can be transported without positional deviation.
- a protrusion (not shown) may be provided at the tip of the leg piece 393a in order to prevent the tip CP from popping out due to the centrifugal force generated when the plate 391 turns.
- the head 33H is arranged at a position in the Z-axis direction that overlaps the trajectory OB1 drawn by the tip of the arm 394 when the plate 391 rotates.
- the chip conveying device 39 rotates the plate 391 around the axis AX as indicated by the arrow AR1 in FIG. 1, thereby conveying the chip CP to the transfer position Pos1 overlapping the head 33H. .
- the bonding apparatus 30 is a chip bonding apparatus having a stage unit 31, a bonding section 33 having a head 33H, and a head driving section 36 for driving the head 33H.
- the head 33H has a tip tool 411, a head body portion 413, a tip support portion 432a, and a support portion drive portion 432b, as shown in FIG. 8A, for example.
- the tip tool 411 is made of silicon (Si), for example.
- the head main body 413 includes a holding mechanism 440 having a chuck for holding the tip CP on the tip tool 411 by suction, and a chuck (not shown) for fixing the tip tool 411 to the head main body 413 by vacuum suction.
- the head body portion 413 incorporates a ceramic heater, a coil heater, and the like.
- the tip tool 411 has a through hole 411a formed at a position corresponding to the holding mechanism 440 of the head main body 413, and a through hole 411b into which the tip support portion 432a is inserted.
- the tip support section 432a is, for example, a cylindrical suction post, and is a component support section provided at the tip of the head 33H and movable in the vertical direction.
- the chip support portion 432a supports the central portion, which is the first portion, of the chip CP on the side opposite to the bonding surface CPf side. For example, as shown in FIG. 8B, one chip supporting portion 432a is provided in the central portion.
- the support portion driving portion 432b drives the chip support portion 432a in the vertical direction, and depressurizes the inside of the chip support portion 432a with the chip CP placed on the tip portion of the chip support portion 432a. is attracted to the tip of the tip support portion 432a.
- the support driving unit 432b is positioned at the transfer position (see Pos1 in FIG. 1) to the head 33H in a state where the chip CP is held by the chip holding unit 393 of the chip conveying device 39, and the tip of the chip support unit 432a moves the chip.
- the tip supporting portion 432a is moved vertically above the tip holding portion 393 while supporting the central portion of the CP. As a result, the chip CP is transferred from the chip holder 393 of the chip transfer device 39 to the head 33H.
- the head drive unit 36 moves the head 33H holding the chip CP transferred at the transfer position Pos1 vertically upward (+Z direction) to bring the head 33H close to the stage 315, thereby mounting the chip CP on the mounting surface WTf of the substrate WT.
- the chip CP is surface-bonded to the substrate WT by bringing the flat bonding surface CPf into surface contact.
- the “flat mounting surface WTf” and the “flat bonding surface CPf” mean surfaces having substantially no unevenness and having an RA of 1 ⁇ m or less.
- the RA of the bonding surface CPf of the chip CP or the mounting surface WTf of the substrate WT is preferably 1 ⁇ m or less.
- the mounting surface WTf of the substrate WT and the bonding surface CPf of the chip CP to be bonded to the substrate WT are subjected to activation processing by the activation processing device 60 .
- the mounting surface WTf of the substrate WT is washed with water by the washing device 85 after being subjected to the activation process. Therefore, by bringing the bonding surface CPf of the chip CP into contact with the mounting surface WTf of the substrate WT, the chip CP is bonded to the substrate WT via hydroxyl groups (OH groups) in a so-called hydrophilic manner.
- OH groups hydroxyl groups
- the stage unit 31 includes a stage 315 that holds the substrate WT in a posture in which the mounting surface WTf of the substrate WT on which the chip CP is mounted faces vertically downward ( ⁇ Z direction), and a stage driving section 320 that drives the stage 315.
- a stage 315 is a substrate holder that can move in the X direction, the Y direction, and the rotational direction. Thereby, the relative positional relationship between the bonding portion 33 and the stage 315 can be changed, and the mounting position of each chip CP on the substrate WT can be adjusted.
- control unit 90 is, for example, a programmable logic controller, and has a CPU (Central Processing Unit) unit and an input/output control unit.
- the control unit 90 is connected to the chip supply device 10, the chip transfer device 39, the bonding device 30, the cleaning device 85, the activation processing device 60, the chip periphery peeling device 50, and the transfer robot 71. ing. Then, the control unit 90 outputs control signals to the chip supply device 10, the chip transfer device 39, the bonding device 30, the cleaning device 85, the activation processing device 60, the chip periphery peeling device 50, and the transfer robot 71, respectively. , which controls these actions.
- CPU Central Processing Unit
- the chip bonding system 1 loads the substrate WT loaded from the loading/unloading unit 80 into the activation processing device 60, thereby activating the mounting surface WTf of the substrate WT.
- a substrate mounting surface activation step is performed (step S11).
- the activation processing device 60 performs the activation processing, for example, in a state in which the sheet support portion 612 supports the substrate WT in a posture in which the mounting surface WTf of the substrate WT faces vertically upward.
- the chip bonding system 1 puts the substrate WT that has undergone activation processing from the activation processing device 60 into the cleaning device 85, and performs a water cleaning step of cleaning the mounting surface WTf of the substrate WT with water (step S12).
- the cleaning apparatus 85 cleans the substrate WT by discharging water from the cleaning head 851 toward the substrate WT while rotating the stage 852 with the substrate WT supported by the stage 852 by the stage driving unit 853 . wash.
- OH groups hydroxyl groups
- the chip bonding system 1 transports the cleaned substrate WT to the bonding apparatus 30 (step S13).
- the bonding apparatus 30 causes the stage 315 to hold the received substrate WT.
- the transport robot 71 receives the substrate WT from the cleaning device 85 with its mounting surface WTf facing vertically upward. After that, the transport robot 71 inverts the received substrate WT and holds the substrate WT in a posture in which the mounting surface WTf faces vertically downward. Then, the transfer robot 71 transfers the substrate WT to the stage 315 of the bonding apparatus 30 while maintaining the posture in which the mounting surface WTf faces vertically downward.
- step S21 a portion between a plurality of chip forming regions of the substrate provided with a plurality of chip forming regions serving as bases of the chips CP attached to the sheet TE is removed.
- a dicing step is performed to fabricate the dicing substrate WD by dicing (step S21).
- the annular frame RI ⁇ b>1 to which the sheet TE to which the dicing substrate WD is attached is loaded into the loading/unloading unit 80 .
- the chip bonding system 1 loads the annular frame RI1 loaded from the loading/unloading unit 80 into the activation processing device 60 .
- the activation processing device 60 performs a chip bonding surface activation step of activating the bonding surface CPf side of the chip CP on the dicing substrate WD attached to the sheet TE (step S22).
- this chip bonding surface activation treatment step if there is a gap between the chips CP, the portion of the sheet TE exposed in the gap is etched and the resin derived from the sheet TE adheres to the bonding surface CPf of the chip CP. There is fear. Therefore, the chip bonding surface activation process is performed in a state in which the chips CP are in contact with each other or in a state in which the chips CP are connected to each other so that a part of the sheet TE is not exposed from the gap between the chips CP. is preferred.
- the transport robot 71 takes out the annular frame RI1 to which the sheet TE attached by the dicing substrate WD is fixed from the activation processing device 60, and transports it to the loading/unloading unit 80 again. return.
- step S23 With respect to the annular frame RI1 to which the sheet TE to which the dicing substrate WD after the chip bonding surface activation step is attached is fixed and which is taken out from the loading/unloading unit 80, the sheet TE is stretched to form a plurality of chips CP.
- An extension step is performed to separate them from each other (step S23).
- the annular frame RI2 arranged inside the annular frame RI1 is pressed against the sheet TE and then pressed, so that the sheet TE is radially extended from the central portion of the annular frame RI, and the plurality of chips CP are aligned with each other. keep them apart.
- the annular frame RI3 is fitted to the outside of the annular frame RI2.
- the sheet TE to which the plurality of chips CP are attached while being separated from each other is fixed to the annular frames RI2 and RI3.
- the sheet TE is cut from the annular frame RI1.
- the annular frames RI2 and RI3 to which the sheets TE are fixed are loaded into the loading/unloading unit 80 again.
- the chip bonding system 1 loads the annular frames RI2 and RI3, to which the sheets TE are fixed, which have been loaded into the carry-in/load unit 80, into the cleaning device 85, and cleans the bonding surfaces CPf of the plurality of chips CP with water. Then, a water washing step is performed (step S24).
- a water washing step is performed (step S24).
- the chip bonding system 1 transports the annular frames RI2 and RI3 to which the sheets TE to which the plurality of chips CP are adhered after the water cleaning process are fixed from the cleaning device 85 to the chip periphery peeling device 50 .
- the chip peripheral part peeling device 50 attaches the central part of each of the plurality of chips CP to the sheet TE and makes the peripheral part of each of the plurality of chips CP easier to separate from the sheet TE than the central part.
- a partial peeling step is performed (step S25).
- the horizontal drive unit 53 moves the frame support unit 521 in the horizontal direction so that the sheet TE is positioned vertically below the ultraviolet light irradiation unit 55 of the chip peripheral peeling device 50 .
- a portion corresponding to the periphery of the chip CP is arranged.
- the ultraviolet light irradiation unit 55 irradiates ultraviolet light UVL onto a portion of the sheet TE corresponding to the peripheral portion of the chip CP.
- the ultraviolet light irradiator 55 emits light in the column direction of each of the chips CP in two adjacent columns among the plurality of chips CP arranged in a plurality of columns (six columns in FIG. 10B).
- the ultraviolet light irradiator 55 emits light in the column direction of each of the chips CP in two adjacent columns among the plurality of chips CP arranged in a plurality of columns (six columns in FIG. 10B).
- the horizontal drive unit 53 moves the frame support unit 521 in the horizontal direction so that the chip CP on the sheet TE is vertically below the sheet pressing mechanism 56 of the chip peripheral peeling device 50 as shown in FIG. 11A.
- the part corresponding to the peripheral part is arranged.
- the sheet pressing mechanism 56 of the chip periphery peeling device 50 presses the pressing member 561 against the portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP, as indicated by an arrow AR52.
- the pressing member 561 rubs the sheet TE. Specifically, as shown in FIG.
- the sheet pressing mechanism 56 causes the leading end of the pressing member 561 to contact the sheet TE, and then moves the pressing member 561 to the tip CP on the sheet TE as indicated by an arrow AR52.
- the sheet TE moves toward the tip of the pressing member 561 with respect to the chip CP at the bonding portion between the chip CP and the sheet TE, as indicated by an arrow AR102 in FIG. 11C. be pulled.
- the end portion of the chip CP is deformed, and a force acts on the end portion of the chip CP in a direction of local and relative movement with respect to the sheet TE, as indicated by an arrow AR103.
- the edge of the chip CP slides against the sheet TE, and the edge of the chip CP has a portion CPs separated from the sheet TE.
- this peripheral peeling step first, the end portions of the chips CP are irradiated with ultraviolet light for all of the plurality of rows, and then the end portions of the chips CP are rubbed with the pressing member 561 .
- the peripheral part peeling step each time one region A1 including one end of each of two adjacent rows of chips CP is irradiated with ultraviolet light, the chips included in the region A1 irradiated with ultraviolet light on the sheet TE A process of rubbing the end of the CP with the pressing member 561 may be performed.
- the chip bonding system 1 is an annular frame to which a plurality of chips CP are attached such that their peripheral portions are easier to separate from the sheet TE than the central portion, and the sheet TE is fixed.
- RI2 and RI3 are transported to the chip supply device 10 (step S26).
- the transport robot 71 receives the annular frames RI2 and RI3 holding the sheet TE from the cleaning device 85 with the bonding surfaces CPf of the chips CP facing vertically upward.
- the transfer robot 71 transfers the received annular frames RI2 and RI3 to the chip supply section 11 of the chip supply device 10 as they are.
- the transferred annular frames RI2 and RI3 are supported by the frame support section 119. As shown in FIG.
- the chip bonding system 1 performs a chip bonding step of bonding the chip CP to the substrate WT by bringing the chip CP into contact with the mounting surface WTf of the substrate WT (step S31).
- the chip joining system 1 first performs a pick-up step of picking up one chip CP from among the plurality of chips CP attached to the sheet TE.
- the chip conveying device 39 puts the two plates 391 in a position where they do not overlap with the chip feeding device 10, as shown in FIG. 12A. Then, as indicated by an arrow AR11 in FIG.
- the collet 115 of the pickup mechanism 111 moves vertically downward to abut on one chip CP to perform a suction holding step of sucking and holding one chip CP.
- the frame horizontal drive section 113 moves the frame support section 119 vertically downward, thereby moving the annular frames RI2 and RI3 vertically downward.
- portions CPs separated from the sheet TE are generated around the chip CP.
- the periphery of the chip CP has already been stripped by the chip periphery stripping device 50, almost no stress is exerted on the periphery of the chip CP when the annular frames RI2 and RI3 are moved vertically downward. does not join.
- the chip bonding system 1 directs one plate 391 of the chip conveying device 39 toward the chip supply section 11 as shown in FIG. 14A.
- the pickup mechanism 111 moves the collet 115 vertically downward, as indicated by an arrow AR14 in FIG. 14B, thereby transferring the chip CP to the chip holding portion 393 .
- the chip joining system 1 pivots the plate 391 in the direction of arrow AR13 in FIG. 15A.
- the chip holding portion 393 at the tip of the arm 394 of the chip transfer device 39 is arranged at the transfer position Pos1 vertically above the head 33H of the bonding portion 33 . That is, the chip conveying device 39 conveys the chip CP received from the chip supply unit 11 to the transfer position Pos1 where the chip CP is transferred to the head 33H.
- the head driving section 36 moves the bonding section 33 vertically upward to bring the head 33 ⁇ /b>H close to the chip holding section 393 of the chip conveying device 39 .
- the support portion driving portion 432b moves the chip support portion 432a vertically upward.
- the chip CP held by the chip holding portion 393 is arranged vertically above the chip holding portion 393 while being supported by the upper end portion of the chip supporting portion 432a, as shown in FIG. 15B.
- the chip transfer device 39 retracts the arm 394 into the plate 391 .
- the support portion driving portion 432b moves the chip support portion 432a vertically downward.
- the tip CP is held at the tip of the head 33H.
- the pick-up mechanism 111 moves the collet 115 vertically upward as indicated by an arrow AR15 before sucking and holding the chip CP to be next joined to the substrate WT, and then moves the collet cleaning unit 115 as indicated by an arrow AR16. 116.
- the collet cleaning section 116 performs a collet cleaning step of cleaning the collet 115 . That is, the pickup mechanism 111 cleans the collet 115 by the collet cleaning unit 116 before the collet 115 adsorbs and holds the chip CP.
- the chip bonding system 1 drives the stage 315 and rotates the bonding portion 33 to perform alignment for correcting the relative positional deviation between the chip CP and the substrate WT. Then, the chip bonding system 1 bonds the chip CP to the substrate WT by raising the head 33H.
- the mounting surface WTf of the substrate WT and the bonding surface CPf of the chip CP are hydrophilized and bonded via hydroxyl groups (OH groups).
- the substrate WT with the chip CP mounted thereon is taken out from the chip bonding system 1 and then put into a heat treatment apparatus (not shown) for heat treatment.
- the heat treatment apparatus performs heat treatment of the substrate WT under conditions of, for example, a temperature of 350° C. and one hour.
- the central portion of each of the plurality of chips CP is attached to the sheet TE, and the peripheral portion of each of the plurality of chips CP is larger than the central portion of the sheet.
- the edges of each of the plurality of chips CP have already been peeled off when the chips CP are picked up, even when the chips are thin, the edges of the chips bounce when the chips are peeled off from the sheet, causing particles to adhere to the edge surfaces of the chips. can be suppressed from scattering to the surrounding chips CP. Therefore, it is possible to suppress defective bonding of the chip CP to the substrate WT caused by particles adhering to the bonding surface of the chip CP.
- the chip bonding system 1 since the end portion of the chip CP can be in a state of being peeled in advance at the time of peeling the chip CP from the sheet TE, It is possible to reduce the stress applied to each of the plurality of chips CP when separating each of the plurality of chips CP from the sheet. Therefore, when the plurality of chips CP are separated from the sheet TE, application of excessive stress to the chips CP can be suppressed, and breakage of the chips CP due to excessive stress can be suppressed.
- the chip supply device is configured such that the central portion of each of the plurality of chips is attached to the sheet and the peripheral portion of each of the plurality of chips is more easily separated from the sheet than the central portion. It is different from the first embodiment in that a chip peripheral peeling portion is provided. That is, the chip bonding system according to the present embodiment differs from the first embodiment in that the chip supply device has the functions of the chip peripheral peeling device described in the first embodiment.
- the chip bonding system according to the present embodiment is different from the chip bonding system 1 according to Embodiment 1 shown in FIG. It is.
- the chip feeder 2010 has a chip feeder 2011 as shown in FIG.
- the same reference numerals as in FIG. 6 denote the same configurations as in the first embodiment.
- the chip supply unit 2011 includes a frame support unit 119, a frame elevation drive unit 2120 that vertically moves the frame support unit 119 up and down, a pickup mechanism 2111 that picks up one chip CP from among a plurality of chips CP, It has a frame horizontal drive unit 2113 and a chip peripheral peeling unit 57 .
- the frame horizontal drive unit 2113 collectively moves the frame support unit 119 and the frame elevation drive unit 2120 in the XY directions or in the directions rotating around the Z axis, thereby vertically above the chip peripheral peeling unit 57 or the pickup mechanism 2111.
- the position of the located chip CP is changed.
- the chip peripheral peeling portion 57 is arranged vertically below the annular frames RI2 and RI3 to which the sheet TE supported by the frame support portion 119 is fixed.
- the chip peripheral peeling section 57 has an ultraviolet light irradiation section 55 , a sheet pressing mechanism 56 , and a support section 2514 that collectively supports the ultraviolet light irradiation section 55 and the sheet pressing mechanism 56 .
- the ultraviolet light irradiator 55 irradiates ultraviolet light to a portion of the sheet TE fixed to the annular frames RI ⁇ b>2 and RI ⁇ b>3 supported by the frame supporter 119 , corresponding to the periphery of the chip CP.
- the sheet pressing mechanism 56 presses the tip portion of the pressing member 561 against the portion corresponding to the periphery of the chip CP on the sheet TE fixed to the annular frames RI2 and RI3 supported by the frame support portion 119, and presses the pressing member.
- the pressing member 561 rubs the sheet TE by moving in a direction perpendicular to the pressing direction of the pressing member 561 .
- the pickup mechanism 2111 detaches one chip CP from the sheet TE by projecting one chip CP out of the plurality of chips CP from the side of the sheet TE opposite to the side of the plurality of chips CP.
- the pickup mechanism 2111 cuts out the chip CP while holding the side of the chip CP opposite to the bonding surface CPf side.
- the pickup mechanism 2111 has a needle 2111a and a needle driving section 2111c that moves the needle 2111a in the vertical direction as indicated by arrow AR245 in FIG.
- the cover 114 is arranged to vertically cover the plurality of chips CP, and has a hole 114a in a portion facing the pickup mechanism 2111 . For example, there are four needles 2111a.
- the number of needles 111a may be three, or may be five or more.
- the pickup mechanism 2111 feeds the chips CP by piercing the sheet TE with a needle 2111a from the vertically downward direction (-Z direction) of the sheet TE and lifting the chips CP vertically upward (+Z direction).
- the chips CP attached to the sheet TE are protruded one by one upward from the cover 114 through the holes 114 a of the cover 114 by the needles 2111 a and transferred to the chip conveying device 39 .
- FIG. 17 the same reference numerals as in FIG. 9 denote the steps that are the same as those in the first embodiment.
- the substrate mounting surface activation step (step S11) and the water cleaning step (step S12) are performed, the substrate WT is transported to the bonding device 30 (step 13).
- the dicing step (step S21), the chip bonding surface activation step (step S22), the stretching step (step S23), and the water washing step ( Step S24) is performed.
- the chip bonding system conveys the annular frames RI2 and RI3 to which the sheet TE to which the plurality of chips CP after the water cleaning process are attached are fixed from the cleaning device 85 to the chip supply device 2010 (step S225).
- the chip supply device 2010 performs a chip periphery peeling process in which the center of each of the plurality of chips CP is attached to the sheet TE and the periphery of each of the plurality of chips CP is peeled off from the sheet TE (step S226).
- the frame horizontal driving unit 2113 moves the frame supporting unit 119 in the horizontal direction to move the periphery of the chip CP on the sheet TE vertically above the ultraviolet light irradiation unit 55 .
- the part corresponding to is arranged.
- the ultraviolet light irradiation unit 55 irradiates ultraviolet light UVL onto a portion of the sheet TE corresponding to the peripheral portion of the chip CP.
- the frame horizontal drive unit 2113 moves the frame support unit 119 in the horizontal direction so that the portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP is arranged vertically above the sheet pressing mechanism 56 . .
- the sheet pressing mechanism 56 of the chip periphery peeling device 50 presses the pressing member 561 against a portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP, as indicated by an arrow AR211.
- the sheet TE is rubbed by the pressing member 561 by moving the pressing member 561 in a direction perpendicular to the vertical direction while being pressed against the portion corresponding to the part.
- the peripheral portion of the chip CP is easier to separate from the sheet TE than the central portion.
- the frame horizontal drive unit 2113, the ultraviolet light irradiation unit 55, and the sheet pressing mechanism 56 repeat the series of operations described above, so that the peripheral portions of all the plurality of chips CP adhered to the sheet TE are compared with the central portions. to make it easy to separate from the sheet TE.
- the chip bonding system subsequently performs a chip bonding step (step S31).
- the frame horizontal driving section 2113 moves the frame support section 119 in the horizontal direction, so that the chip CP to be picked up vertically above the pickup mechanism 2111 is moved as shown in FIG. 19A. keep it in place.
- the frame lifting drive section 2120 moves the frame support section 119 vertically upward, and as indicated by an arrow AR213, the pick-up mechanism 2111 moves vertically upward to move the tip of the needle 2111a. portion is brought into contact with the sheet TE.
- the pick-up mechanism 2111 moves vertically upward to move the tip of the needle 2111a. portion is brought into contact with the sheet TE.
- the frame elevation drive section 2120 moves the frame support section 119 vertically downward, thereby moving the annular frames RI2 and RI3 vertically downward.
- the pickup mechanism 2111 further moves vertically upward, so that the tip end of the needle 2111a penetrates the sheet TE, projects the chip CP vertically upward, and separates from the sheet TE. do.
- the tip conveying device 39 directs the arm 394 toward the tip feeding device 2010 in a state in which the arm 394 is retracted inside the plate 391, and then protrudes the tip of the arm 394 to the outside of the plate 391 as shown in FIG. 20B.
- the needle 2111a of the pickup mechanism 2111 is placed between the two leg pieces 292a (see FIG. 7A) of the chip holding portion 393 at the tip of the arm 394. As shown in FIG. Next, when the pickup mechanism 2111 moves vertically downward to the standby position, the chip CP is transferred to the chip holding portion 393 .
- the chip bonding system transports the chip CP received from the chip supply unit 2011 by the chip transport device 39 to the transfer position where the chip CP is transferred to the head 33H. is held at the tip of the head 33H.
- the chip bonding system performs alignment for correcting relative positional deviation between the chip CP and the substrate WT, and then moves up the head 33H to bond the chip CP to the substrate WT.
- the chip bonding apparatus includes a pickup mechanism 9111 having a needle 2111a, a needle driving portion 2111c, and a sheet suction portion 9111b that suctions the periphery of the chip CP to be picked up on the sheet TE.
- the pickup mechanism 9111 according to the comparative example first brings the tip of the needle 2111a into contact with the sheet TE in a state where the sheet suction portion 9111b sucks and holds the sheet TE, and then pushes the needle 2111a vertically upward.
- the end of the chip CP deforms along the sheet TE as indicated by an arrow AR901.
- a force acts on the end portion of the chip CP in a sliding direction with respect to the sheet TE due to the deformation.
- the pick-up mechanism 9111 moves the needle 2111a further vertically upward, and the force acting on the end of the chip CP exceeds the adhesive force between the end of the chip CP and the sheet TE, the arrow in FIG.
- AR902 the end of the chip CP vigorously jumps up vertically. At this time, particles adhering to the end face of the chip CP are scattered around.
- the chips CP are pushed out with the ends of the chips CP separated from the sheet TE, the ends of the chips CP can be suppressed from jumping up.
- the chip supply device 2010 includes the chip peripheral peeling section 57 . Since this eliminates the need for a chip peripheral peeling device, it is possible to reduce the overall size of the chip bonding system accordingly.
- the chip supply device is configured such that the central portion of each of the plurality of chips is attached to the sheet and the peripheral portion of each of the plurality of chips is more easily separated from the sheet than the central portion. It is different from the first embodiment in that a chip peripheral peeling portion is provided. That is, the chip bonding system according to the present embodiment differs from the first embodiment in that the chip supply device has the functions of the chip peripheral peeling device described in the first embodiment.
- the chip bonding system according to the present embodiment is similar to the chip bonding system 1 according to Embodiment 1 shown in FIG. It is.
- the chip supply device 3010 has a chip supply section 3011 as shown in FIG.
- the same reference numerals as in FIG. 6 denote the same configurations as in the first embodiment.
- the chip supply unit 3011 includes a frame support unit 119, a frame elevation drive unit 2120 that vertically moves the frame support unit 119 up and down, a pickup mechanism 3111 that picks up one chip CP from among a plurality of chips CP, It has a frame horizontal driving section 3113 and a chip peripheral peeling section 57 .
- the frame horizontal drive unit 3113 collectively moves the frame support unit 119 and the frame elevation drive unit 2120 in the XY direction or the direction rotating around the Z axis, thereby moving the chip CP positioned vertically below the chip peripheral peeling unit 57 . change the position of
- the chip peripheral peeling portion 57 is arranged vertically above the annular frames RI2 and RI3 to which the sheet TE supported by the frame support portion 119 is fixed.
- the chip peripheral peeling section 57 has an ultraviolet light irradiation section 55 , a sheet pressing mechanism 56 , and a support section 3514 that collectively supports the ultraviolet light irradiation section 55 and the sheet pressing mechanism 56 .
- the ultraviolet light irradiator 55 irradiates ultraviolet light to a portion of the sheet TE fixed to the annular frames RI ⁇ b>2 and RI ⁇ b>3 supported by the frame supporter 119 , corresponding to the periphery of the chip CP.
- the sheet pressing mechanism 56 presses the tip portion of the pressing member 561 against the portion corresponding to the periphery of the chip CP on the sheet TE fixed to the annular frames RI2 and RI3 supported by the frame support portion 119, and presses the pressing member.
- the pressing member 561 rubs the sheet TE by moving in a direction perpendicular to the pressing direction of the pressing member 561 .
- the particle suction unit 54 sucks particles generated in the chip CP with the suction nozzle 54a when the chip peripheral peeling unit 57 makes the peripheral part of the chip CP easier to peel from the sheet TE than the central part.
- the pickup mechanism 3111 includes a collet 3115 capable of changing the direction of the chuck portion 115a that sucks and holds the chip CP vertically upward or vertically downward, a collet elevation driving portion 1161, a collet horizontal driving portion 1162, and a collet cleaning portion. 117 and .
- the pick-up mechanism 3111 brings the collet 3115 closer to the chip CP from the vertically downward direction (-Z direction) of the sheet TE, thereby sucking and holding the chip CP.
- the chip CP is obtained by pulling the chip CP vertically downward (-Z direction).
- the pickup mechanism 3111 changes the posture of the collet 3115 so that the chuck portion 115 a thereof faces vertically downward, and then moves the collet 3115 closer to the chip holding portion 393 of the chip transfer device 39 . Then, the pickup mechanism 3111 transfers the chip CP to the chip conveying device 39 by canceling suction and holding of the chip CP while the chip CP is in contact with the chip holding portion 393 . In addition, the pickup mechanism 3111 cleans the chuck portion 115a by the collet cleaning portion 117 before the chuck portion 115a of the collet 3115 sucks and holds the chip CP.
- the pickup mechanism 3111 may clean the collet 115 each time one chip CP is picked up, or may clean the collet 115 each time the chip CP is repeatedly picked up a preset number of times. It may be something to do.
- the frame horizontal drive section 3113 first moves the frame support section 119 in the horizontal direction in the chip periphery peeling step (step S226) shown in FIG. A portion of the sheet TE corresponding to the peripheral portion of the chip CP is arranged vertically above the .
- the ultraviolet light irradiation unit 55 irradiates ultraviolet light UVL onto a portion of the sheet TE corresponding to the peripheral portion of the chip CP.
- the frame horizontal drive unit 3113 moves the frame support unit 119 in the horizontal direction so that the portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP is arranged vertically below the sheet pressing mechanism 56 .
- the sheet pressing mechanism 56 of the chip periphery peeling device 50 presses the pressing member 561 against a portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP, as indicated by an arrow AR311.
- the sheet TE is rubbed by the pressing member 561 by moving the pressing member 561 in a direction perpendicular to the vertical direction while being pressed against the portion corresponding to the part.
- the peripheral portion of the chip CP is easier to separate from the sheet TE than the central portion.
- the chip bonding system subsequently performs a chip bonding step (step S31).
- the frame horizontal drive section 2113 moves the frame support section 119 in the horizontal direction as indicated by the arrow AR312 in FIG.
- a state in which the chip CP is arranged is made.
- the frame elevation drive section 2120 moves the frame support section 119 vertically downward.
- the pick-up mechanism 3111 moves the collet 3115 vertically upward with its chuck portion 115a facing vertically upward to bring it into contact with one chip CP and then sucks it. keep it.
- the frame elevation drive section 2120 moves the frame support section 119 vertically upward, thereby moving the annular frames RI2 and RI3 vertically upward.
- the chip CP is separated from the sheet TE.
- the pickup mechanism 3111 moves the collet 3115 so that the chuck portion 115 a faces vertically downward, and then moves the collet 3115 vertically downward to abut against the chip holding portion 393 of the chip conveying device 39 .
- the pick-up mechanism 3111 transfers the chip CP to the chip holding unit 393 of the transport device 39 by canceling the sucking and holding of the chip CP by the collet 3115 .
- the chip bonding system transports the chip CP received from the chip supply unit 3011 by the chip transport device 39 to the transfer position where the chip CP is transferred to the head 33H. is held at the tip of the head 33H.
- the chip bonding system performs alignment for correcting relative positional deviation between the chip CP and the substrate WT, and then moves up the head 33H to bond the chip CP to the substrate WT.
- the chip supply device 3010 includes the chip peripheral peeling section 57 as in the second embodiment. Since this eliminates the need for a chip peripheral peeling device, it is possible to reduce the overall size of the chip bonding system accordingly.
- the chip peripheral part peeling device 50 attaches the central part of each of the plurality of chip forming areas on the dicing substrate WD to the sheet TE, and separates the peripheral part of each of the plurality of chip forming areas from the sheet TE more than the central part. It may be in a state in which it is easy to do so.
- the dicing substrate WD is formed by dicing a portion between a plurality of chip forming regions of a substrate on which a plurality of chip regions serving as chips CP are formed.
- a dicing method for forming the dicing substrate WD it is preferable to adopt a stealth dicing method.
- this stealth dicing method for example, as shown in FIG. 25A, a laser processing head 8041 that emits a laser beam having a wavelength that can pass through the dicing substrate WD is placed at a distance from the dicing substrate WD so that the focal point of the laser beam is used for dicing. While being maintained inside the substrate WD, it is moved along between the plurality of chip forming regions ACP. Thereby, the modified portion PAS is formed inside the dicing substrate WD in the portion between the chip forming regions ACP adjacent to each other.
- the stretching process is performed to separate the dicing substrate WD into a plurality of chips CP. do it.
- the frame supporting portion 521 of the chip periphery peeling device 50 may support the annular frames RI2 and RI3 to which the sheet TE to which the dicing substrate WD is attached is fixed.
- the stretching step for example, as shown in FIG. 25B, the sheet TE is stretched as indicated by an arrow AR81, thereby separating the dicing substrate WD into a plurality of chips CP.
- the edge portion P81 of the chip CP in FIG. 25B on the side opposite to the sheet TE side is sharp and has almost no chipping.
- a plasma dicing method may be employed as a dicing method for forming the dicing substrate WD.
- this plasma dicing method after a mask is formed on the dicing substrate WD to cover the plurality of chip forming regions ACP of the dicing substrate WD, the mask side of the dicing substrate WD is exposed to plasma for etching, thereby removing the chip forming regions ACP. It is sufficient to remove the space between
- a modified portion PAS is formed by laser light inside a portion between adjacent chip forming regions of the dicing substrate WD as shown in FIG. 25A. Therefore, when the dicing substrate WD is separated into a plurality of chips CP, the modified layers PAS are exposed on the side surfaces of the chips CP as shown in FIG. 25B. Therefore, if the edge of the chip CP jumps up when the dicing substrate WD is separated into a plurality of chips CP, there is a risk that the modified layer PAS exposed on the side surface of the chip CP will collapse due to the force of the jump, and particles will be generated. . On the other hand, according to this configuration, it is possible to suppress the edge of the chip CP from jumping up, so that it is possible to effectively suppress the generation of particles.
- the chip supply device 10 in a state where the frame supporting portion 119 supports the annular frames RI2 and RI3, feeds a plurality of chips from the side opposite to the chip CP side of the sheet TE fixed to the annular frames RI2 and RI3.
- An ultraviolet light irradiation unit that irradiates the entire chip CP with ultraviolet light may be provided.
- all of the plurality of chips CP are irradiated with ultraviolet light in the chip supply device 10.
- all of the plurality of chips CP are placed on the sheet TE in a state in which they are easily separated from the sheet TE.
- the chip supply device 2010 includes the sheet TE fixed to the annular frames RI2 and RI3 in a state in which the frame supporting portion 119 supports the annular frames RI2 and RI3 in addition to the ultraviolet light irradiation portion 55.
- the chip supply device 10 may have a chip periphery peeling device having a mask moving mechanism for moving the mask 522 to either a position that blocks the optical path of the light source 551 or a position that does not block the optical path.
- the chip peripheral peeling device is moved to a position where the mask 522 blocks the optical path of the light source 551 by the mask moving mechanism, so that only the periphery of the chip CP can be irradiated with ultraviolet light.
- the mask 522 By moving the mask 522 to a position where it does not block the optical path of the light source 551, all of the plurality of chips CP may be irradiated with ultraviolet light.
- the chip supply device 2010 after the periphery of each of the plurality of chips CP is separated from the sheet TE, all of the plurality of chips CP are irradiated with ultraviolet light. is completely separated from the sheet TE and placed on the sheet TE.
- the ultraviolet light irradiation unit 55 irradiates the entire surface of the chip CP with ultraviolet light so as to reduce the adhesive strength of the sheet TE corresponding to the entire chip CP.
- the chip bonding system 1 described in Embodiment 1 may be configured without the chip peripheral peeling device 50 .
- the tip feeder has a pick-up mechanism 6111 as shown in FIG. 26A.
- the pickup mechanism 6111 has a collet 115, a collet elevating drive section 1161, a collet horizontal drive section 1162, a collet cleaning section 117, a needle 2111a, and a needle drive section 2111c.
- FIG. 26A the same reference numerals as in FIGS. 6 and 16 are assigned to the same configurations as in Embodiments 1 and 2.
- the pickup mechanism 6111 also has a sheet suction portion 6111b that suctions the periphery of the chip CP pushed out by the needle 2111a on the sheet TE.
- the pick-up mechanism 6111 feeds the chips CP by sucking and holding the chips CP with the collet 115 and pushing them out with the needle 2111a.
- the collet 115 since the joint surface CPf of the chip CP contacts the collet 115, particles may adhere to the joint surface CPf if the chip CP is repeatedly picked up a plurality of times.
- the contact surface of the collet 115 with the chip CP is cleaned to prevent particles from adhering to the joint surface CPf.
- the pickup mechanism has a needle 2111a, a needle driving portion 2111c, and a sheet suction portion 6111b, and the sheet suction portion 6111b is pushed out by the needle 2111a of the sheet TE.
- a configuration may be adopted in which the needle 211a pushes out the chip CP while the periphery of the chip CP is sucked, and the chip conveying device 39 directly receives and conveys the pushed chip CP.
- the chip feeders 10 and 2010 may be configured without the cover 114 .
- the chip peripheral peeling section 57 sequentially presses both ends of the chip CP one by one. may press both ends of the chip CP at the same time.
- the chip peripheral exfoliation part 4057 according to this modification includes an ultraviolet light irradiation part 4055 that simultaneously irradiates ultraviolet light to portions of the sheet TE corresponding to both ends of one chip CP.
- the ultraviolet light irradiation unit 4055 has a light source 4551 that emits ultraviolet light and a mask 4552 that shields part of the ultraviolet light emitted from the light source 4551.
- the portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP is irradiated with the ultraviolet light that has passed through 4552a.
- the mask 4552 is fixed to the irradiation section pressing mechanism support section 4514 via the mask support section 4515 while being separated from the light source 4551 .
- the sheet pressing mechanism 4056 includes a plurality of pressing members 4561 whose leading end presses a portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP, and the plurality of pressing members 4561 are synchronized in the vertical direction and in a direction orthogonal to the vertical direction. and a pressing member driving portion 4562 for driving.
- the pressing member drive unit 4562 moves the plurality of pressing members 4561 in the vertical direction in a direction approaching the sheet TE, thereby simultaneously pressing the plurality of pressing members 4561 against the portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP. .
- the pressing member drive unit 4562 moves the pressing members 4561 in a direction orthogonal to the vertical direction while pressing the pressing members 4561 against the portion of the sheet TE corresponding to the peripheral portion of the chip CP. , the plurality of pressing members 4561 rub the sheet TE.
- the ultraviolet light irradiation unit 4055 simultaneously irradiates portions of the sheet TE corresponding to both ends of the chip CP with ultraviolet light UVL.
- the sheet pressing mechanism 4056 simultaneously presses a plurality of pressing members 4561 against portions of the sheet TE corresponding to both ends of the chips CP as indicated by arrows AR452. By moving the plurality of pressing members 4561 in a direction orthogonal to , the plurality of pressing members 4561 rub the sheet TE.
- a pick-up mechanism such as 3111 that sucks and holds the chip CP from vertically above may be provided. Further, in this case, the pickup mechanism may suck and hold only the peripheral portion of the chip CP on the bonding surface side.
- the pickup mechanism 3111 presses the central portion of the chip CP from the other side of the sheet TE, which is opposite to the one side to which the chip CP is attached, to bend the sheet TE. Only the peripheral portion of the chip CP on the bonding surface side may be held by suction while the peripheral portion of the chip CP is separated from the sheet. Also, the pickup mechanism 3111 may suck and hold the peripheral portion of the chip CP on the side opposite to the bonding surface side.
- the pickup mechanism 7111 includes a needle 2111a and a needle driving portion 2111b, and a sheet suction portion 6111b that suctions the periphery of the chip CP pushed out by the needle 2111a on the sheet TE. may have
- the collet cleaning unit 117 performs An example of cleaning the collet 115 has been described.
- the chip supply device may include a pick-up mechanism 5111 having a collet 5115 provided with a Bernoulli chuck 5115a as shown in FIG. 29A, for example.
- the same reference numerals as in FIG. 5 denote the same configurations as those in the first embodiment.
- the pickup mechanism 5111 holds the bonding surface CPf side of the chip CP bonded to the substrate WT without contact.
- the chuck portion 115a having the suction holes 115b of the collet 115 holds the chip CP in contact with the bonding surface CPf side of the chip CP. Therefore, it is necessary to clean the chuck part 115a. Adherence of particles to the joint surface CPf can be suppressed.
- the chip bonding system 9 includes an annular frame (hereinafter referred to as "sheet fixing frame") RI2 to which a sheet TE to which a plurality of chips CP are adhered is fixed. , RI3, the central portion of each chip CP is attached to the sheet TE, and both end portions of the periphery of each chip CP facing each other with at least the central portion therebetween are made easier to separate from the sheet TE than the central portion.
- the buffer unit 9092 can store a plurality of sheet fixed frames RI2 and RI3.
- a standby unit 9091 in which the sheet fixing frames RI2 and RI3 are temporarily arranged is arranged between the chip periphery peeling device 50 and the buffer unit 9092 .
- the chip bonding system 9 also includes frame transport devices 9093 and 9094 .
- the standby unit 9091 has a frame mounting table 9911 on which the sheet fixing frames RI2 and RI3 to be conveyed to the chip supply section 11 of the chip supply device 10 or the buffer unit 9092 are temporarily mounted.
- the buffer unit 9092 has a rack 9921 having a plurality of slots capable of accommodating the sheet fixing frames RI2 and RI3, and a rack elevation driving section (not shown) that vertically moves the rack 9921 in the Z-axis direction.
- the center portion is attached to the sheet TE by the chip periphery peeling device 50, and at least both ends of the periphery of each chip CP, which face each other across the center portion, are peeled from the sheet TE more than the center portion.
- the first frame conveying device conveys the sheet fixing frames RI2 and RI3 to which a plurality of chips CP that are likely to be peeled off are attached from the chip periphery peeling device 50 to the buffer unit 9092 or the standby unit 9091.
- the frame conveying device 9093 includes a chuck portion 9933 that holds the sheet fixing frames RI2 and RI3, an arm 9932 to which the chuck portion 9933 is fixed at the tip, and the arm 9932 that is connected to the chip peripheral peeling device 50, the standby unit 9091, and the buffer unit. and an arm drive unit 9931 that moves along the direction in which the 9092 are arranged, that is, along the Y-axis direction.
- the frame conveying device 9094 is a second frame conveying device that conveys the sheet fixing frames RI2 and RI3 arranged in the standby unit 9091 to a position where they are transferred from the standby unit 9091 to the frame support section 119 of the chip feeding device 10.
- the frame conveying device 9094 includes a chuck portion 9943 that holds the sheet fixing frames RI2 and RI3, an arm 9942 to which the chuck portion 9943 is fixed at the tip portion, and a standby unit 9091 and the chip feeding portion 11 of the chip feeding device 10. , and an arm drive unit 9941 that moves along the direction of the X-axis.
- the transport robot 71 of the transport device 70 has a function of turning over the sheet fixing frames RI2 and RI3 by rotating the arm 71a while holding the sheet fixing frames RI2 and RI3 with the arm 71a.
- a frame reversing device (not shown) having a function of reversing the front and back of the sheet fixing frames RI2 and RI3 is separately provided inside or outside the chip periphery peeling device 50. may be
- FIGS. 32A to 33B the same reference numerals as in FIGS. 10A to 11B are assigned to the same configurations as those in the first embodiment.
- the transport robot 71 of the transport device 70 rotates the arm 71a while holding the sheet fixing frames RI2 and RI3 as indicated by an arrow AR91, thereby rotating the sheet fixing frame RI2. , RI3 are reversed.
- the transport robot 71 extends the arm 71 a to insert the tip of the arm 71 a holding the sheet fixing frames RI ⁇ b>2 and RI ⁇ b>2 into the chip periphery peeling device 50 .
- the transport robot 71 rotates the arm 71a as indicated by an arrow AR101 in FIG. 32A so that the surfaces of the sheet fixing frames RI2 and RI3 to which the chips CP of the sheets TE are attached face vertically downward.
- the transport robot 71 transfers the sheet fixing frames RI2 and RI3 held at the tip of the arm 71a to the above-described frame supporting portion 512 of the chip periphery peeling device 50, and then moves the sheet fixing frames RI2 and RI3 to the above-described frame supporting portion 512 of the chip peripheral portion peeling device 50, and then moves the sheet fixing frames RI2 and RI3 as indicated by an arrow AR92 in FIG. 31B. to contract the arm 71a.
- the sheet fixing frames RI2 and RI3 are supported by the frame supporting portion 512 of the chip peripheral peeling device 50. As shown in FIG.
- the chip periphery peeling device 50 performs the chip periphery peeling process described in the first embodiment. Specifically, first, the horizontal drive unit 53 moves the frame support unit 521 in the horizontal direction, thereby vertically lowering the sheet vertically below the ultraviolet light irradiation unit 55 of the chip peripheral peeling device 50 as shown in FIG. 32B. A portion corresponding to the peripheral portion of the chip CP in TE is placed. Next, the ultraviolet light irradiation unit 55 irradiates ultraviolet light UVL onto a portion of the sheet TE corresponding to the peripheral portion of the chip CP.
- the horizontal drive unit 53 moves the frame support unit 521 in the horizontal direction so that the chip CP on the sheet TE is vertically below the sheet pressing mechanism 56 of the chip peripheral peeling device 50 as shown in FIG. 33A.
- the part corresponding to the peripheral part is arranged.
- the sheet pressing mechanism 56 of the chip periphery peeling device 50 presses the pressing member 561 against the portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP, as indicated by an arrow AR52.
- the pressing member 561 rubs the sheet TE.
- the central portion of each of the plurality of chips CP is attached to the sheet TE and the peripheral portion of each of the plurality of chips CP is separated from the sheet TE.
- the transport robot 71 extends the arm 71a again to insert the tip of the arm 71a holding the sheet fixing frames RI2, RI2 into the chip circumference peeling device 50. Subsequently, as shown in FIG. 33B, the transport robot 71 rotates the arm 71a while holding the sheet fixing frames RI2 and RI3 from the opposite side of the sheet fixing frames RI2 and RI3 from the chip CP side, thereby rotating the sheet.
- the surfaces of the fixed frames RI2 and RI3 to which the chips CP of the sheets TE are attached face vertically upward.
- the transport robot 71 transfers the sheet fixing frames RI2 and RI3 held at the tip of the arm 71a to the above-described frame supporting portion 512 of the chip periphery peeling device 50, and then moves the arm 71a as indicated by an arrow AR92. contract the
- the frame conveying device 9093 moves the arm 9932 to a position where the chuck portion 9933 can grip the sheet fixing frames RI2 and RI3. RI3 is grasped.
- the frame conveying device 9093 moves the arm 9932 further in the -Y direction as indicated by arrow AR94 in FIG.
- a series of steps for conveying the sheet fixing frames RI2 and RI3 to the buffer unit corresponds to the first frame conveying step.
- the rack 9921 has three slots SLT1, SLT2, SLT3, for example, as shown in FIG. 35A.
- the buffer unit 9092 arranges the rack 9921 such that the height of the slot SLT2 is substantially the same as the height of the frame mounting table 9911 of the standby unit 9091, for example.
- the frame conveying device 9093 moves the arm 9932 in the -Y direction as indicated by an arrow AR94 to house the sheet fixing frames RI2 and RI3 in the slot SLT2 of the rack 9921.
- the frame transport device 9093 separates the arm 9932 from the rack 9921 by moving the arm 9932 in the +Y direction.
- the buffer unit 9092 moves the rack 9921 in the +Z direction as indicated by an arrow AR95 in FIG. 9921 is placed.
- the frame conveying device 9093 moves the arm 9932 in the -Y direction as indicated by an arrow AR96 to house the sheet fixing frames RI2 and RI3 in the slot SLT3 of the rack 9921.
- FIG. By repeatedly moving the rack 9921 in the Z-axis direction and reciprocating the arm 9932 in the Y-axis direction in this way, a plurality of seat fixing frames RI2 and RI3 are accumulated in the rack 9921. be.
- the frame conveying device 9093 moves the arm 9932 to a position where the chuck portion 9933 can grip the sheet fixing frames RI2 and RI3 stored in the rack 9921, and then causes the chuck portion 9933 to grip the sheet fixing frames RI2 and RI3. .
- the frame conveying device 9093 draws out the sheet fixing frames RI2 and RI3 from the rack 9921 by moving the arm 9932+Y direction as indicated by the arrow AR97 in FIG. Deploy.
- the frame conveying device 9093 releases the gripping state of the sheet fixing frames RI2 and RI3 by the chuck portion 9933, and then moves the arm 9932 further in the +Y direction to mount the frame as indicated by the arrow AR98 in FIG. 36B.
- the frame conveying device 9094 moves the arm 9942 in the +X direction to a position where the chuck portion 9943 can grip the sheet fixing frames RI2 and RI3 arranged in the standby unit 9091, as indicated by an arrow AR99.
- the portion 9943 is caused to grip the sheet fixing frames RI2 and RI3.
- the frame transfer device 9094 transfers the sheet fixing frames RI2 and RI3 to the frame support portion 119 of the chip supply portion 11 by moving in the direction of the arm 9942-Y as indicated by the arrow AR100 in FIG. Transport to position.
- the frame conveying device 9094 releases the gripping state of the sheet fixing frames RI2 and RI3 by the chuck portion 9943 to transfer the sheet fixing frames RI2 and RI3 to the frame support portion 119 of the chip supply portion 11 .
- a series of processes for transporting the sheet fixing frames RI2 and RI3 from the buffer unit to the frame support section 119 corresponds to a second frame transport process.
- the chip bonding system 9 performs the chip bonding step of bonding the chip CP to the substrate WT by bringing the chip CP into contact with the mounting surface WTf of the substrate WT, as described in the first embodiment.
- the chip periphery peeling device 50 irradiates ultraviolet light UVL to a portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP from the vertically lower side of the sheet fixing frames RI2 and RI3.
- the pressing member 561 By moving the pressing member 561 in a direction orthogonal to the vertical direction while pressing the pressing member 561 against the portion of the sheet TE corresponding to the periphery of the chip CP from the vertically lower side of RI2 and RI3, the pressing member 561 may be rubbed against the sheet TE. In this case, it is not necessary to turn over the seat fixing frames RI2 and RI3.
- a plurality of sheet fixing frames RI2 and RI3 in a stage prior to performing the chip periphery peeling process may be accumulated in the buffer unit 9092.
- the chip periphery peeling device 50 may perform the chip periphery peeling process on the sheet fixing frames RI2 and RI3 conveyed from the buffer unit 9092.
- the plurality of chips CP are separated from each other and fixed to the annular frames RI2 and RI3 by stretching the sheet TE to which the dicing substrate WD having the activated bonding surface CPf side of the chip CP is attached.
- An extending step and a cleaning step of washing the bonding surfaces CPf of the plurality of chips CP with water for the annular frames RI2 and RI3 to which the sheets attached with the plurality of chips CP separated from each other are fixed are performed.
- a frame conveying step of conveying the annular frames RI2 and RI3 to the buffer unit 9092 to which the sheets TE to which the plurality of chips CP are adhered are fixed, and the annular frames RI2 and RI3 accumulated in the buffer unit 9092 are transferred to the chips. and a frame conveying step of conveying to the supply device 10 .
- a chip periphery peeling step a sheet to which a plurality of chips CP are attached, the center of which is attached to the sheet TE and the periphery of each of the chips CP is in a state where it is easier to separate from the sheet TE than the center of the chip CP.
- a chip supplying process in which chips are cut out by picking up the peripheral parts of the annular frames RI2 and RI3 to which the TE is fixed from the vertical lower side, and a side opposite to the bonding surface CPf side of the chips CP supplied in the chip supplying process.
- the head 33H is moved toward the stage 31 while the chip CP transferred from the transfer position is held at the tip of the head 33H, and the bonding surface CPf of the chip CP is brought into contact with the mounting surface WTf of the substrate WT. and a bonding step of bonding the chip CP to the mounting surface WTf.
- the chip bonding surface activation process, the stretching process, the water washing process, the chip peripheral peeling process, and the chip supply process are performed in this order, so that in the chip bonding surface activation process, the chip CPs before the stretching process are separated from each other. Since the activation process can be performed in a state of contact or connection, adhesion of the resin derived from the sheet TE to the bonding surface CPf of the chip CP is suppressed. Further, by performing the water cleaning process after the stretching process, the particles generated from the chip CP in the stretching process and adhering to the bonding surface CPf of the chip CP can be removed by the water cleaning.
- the chip CP can be picked up while holding the side opposite to the bonding surface CPf side of the chip CP without contacting the bonding surface CPf of the chip CP. Therefore, since the chip CP can be transported to the head 33H without contacting the bonding surface CPf of the chip CP, the chip CP can be satisfactorily bonded to the substrate WT. Further, until the activation processing step, the processing is performed while the sheet TE to which the dicing substrate WD is adhered is fixed to the annular frame RI1. On the other hand, after the decompression process, it is necessary to perform processing while the plurality of chips CP are separated from each other.
- the stretched seat TE in order to maintain the stretched state of the seat TE after the stretching step, the stretched seat TE is fixed to the annular frames RI2 and RI3, and the stretched state of the seat TE is Allows for handling. This prevents the sheets TE from shrinking and the chips CP from coming into contact with each other and generating particles during processing after the stretching step.
- the sheet fixing frames RI2 and RI3 are buffered during picking up of the chips CP stuck to the sheet TE. It can be returned to the unit 9092 or exchanged with the sheet fixing frames RI2 and RI3 stored in the buffer unit 9092.
- the step of bonding the chip CP to the substrate WT can be continuously performed while exchanging a plurality of types of sheet fixing frames RI2 and RI3, so that chip mounting substrates of various types in small quantities can be efficiently produced. can be done.
- the configuration may be such that the buffer unit 9092 is omitted.
- Embodiment 2 may further include a chip transfer section 10395 for transferring one chip CP cut out from the pickup mechanism 2111 to the chip transfer device 39, as shown in FIG. 38A, for example.
- the chip transfer unit 10395 has two arms 10395a each having a hook 10395c provided at its tip for supporting the chip CP from below vertically, and pivots the two arms 10395a with base ends of the two arms 10395b as fulcrums. and an arm driving portion 10395b.
- the tip of the needle 2111a penetrates the sheet TE, projects the chip CP vertically upward, and is detached from the sheet TE.
- the drive unit 10395b rotates the two arms 10395a in a direction in which the two arms 10395a close, hooks the hooks 10395c at the tips of the arms 10395a to the vertically lower side of the chip CP, and holds the chip CP.
- the chip transfer section 10395 moves vertically upward to detach the chip CP from the tip of the needle 2111a.
- the chip transfer section 10395 moves the chip CP to a transfer position where the chip CP is transferred to the chip holding section 393 at the tip of the arm 394 of the chip transfer device 39. Then, the two arms 10395a are rotated to open and the chip CP is transferred to the chip holding portion 393. As shown in FIG.
- the chip CP can be accurately transferred from the sheet TE to the chip holding portion 393 of the arm 394.
- the pickup mechanism 111 may have a collet 13115 that sucks and holds the chip CP in contact only with the periphery of the joint surface CPf of the chip CP, as shown in FIG. 40, for example.
- the pickup mechanism 111 may It is preferable to have a collet 11115 that sucks and holds the chip CP11 in contact with the outer corner portion P111 of the stepped portion CPk11 on the side. Further, as shown in FIG.
- the pickup mechanism 111 preferably has a collet 12115 that sucks and holds the chip CP11 while being in surface contact with the lower portion CPd11 of the stepped portion CPk11 on the bonding surface CPf11 side of the chip CP11. preferable.
- the above-described chip periphery peeling process can be omitted, and the chip supply process can be performed directly after the water cleaning process. good.
- the example of the chip CP in which the electrode portion and the insulating portion are formed within the same bonding surface CPf has been described.
- An electrode part or an insulating part may be formed on the .
- a far-infrared irradiation unit having a far-infrared light source for irradiating the sheet TE with far-infrared rays may be provided instead of the ultraviolet light irradiation unit 55 as long as the force is reduced.
- the substrate WT may be exposed on its mounting surface WTf in such a state that the conductive portion formed of a conductive material and the insulator portion formed of an insulator are substantially flush with each other.
- the conductive portion may protrude from the insulator portion.
- the electrode portion within the bonding surface CPf of the chip CP may protrude beyond the insulating portion.
- the present invention is suitable for manufacturing CMOS image sensors, memories, arithmetic elements, and MEMS, for example.
- Chip Bonding System 10, 2010, 3010: Chip Supply Device, 11, 2011, 3011: Chip Supply Section, 30: Bonding Device, 31: Stage Unit, 33: Bonding Section, 33H: Head, 36: Head Driving Section , 39: Chip conveying device, 50: Chip periphery peeling device, 53: Horizontal drive unit, 54: Particle suction unit, 54a: Suction nozzle, 55, 4055: Ultraviolet light irradiation unit, 56, 4056: Sheet pressing mechanism, 57 , 4057: chip peripheral peeling unit, 60: activation processing device, 64: chamber, 3064a: hole, 70: transfer device, 71: transfer robot, 80: loading/unloading unit, 85: cleaning device, 90: control unit, 100: Joining device, 111, 2111, 3111, 4111, 6111, 7111: Pick-up mechanism, 113, 2113, 3113: Frame horizontal drive unit, 114, 622: Cover, 114a: Hole, 115, 3115, 5115: Collet, 115a
Landscapes
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Abstract
チップ周部剥離装置(50)は、複数のチップ(CP)が貼着されたシート(TE)が固定された環状フレーム(RI2、RI3)を支持するフレーム支持部(521)と、複数のチップ(CP)それぞれの中央部がシート(TE)に貼着され且つ複数のチップ(CP)それぞれの周部における少なくとも中央部を挟んで対向する両端部が中央部に比べてシート(TE)から剥離し易い状態にするチップ周部剥離部(57)と、を備える。
Description
本発明は、チップ周部剥離装置、チップ供給装置、チップ供給システム、チップ接合システム、ピックアップ装置、チップ周部剥離方法、チップ供給方法、チップ接合方法およびピックアップ方法に関する。
チップを貼り付けたフィルムを保持するウェハリングと、プッシャと、チップを保持するトレイと、を備え、プッシャをウェハリングの上方に近接して配置するとともに、トレイをウェハリングの下方に近接して配置した状態で、プッシャを下方へ動かしてフィルム側からチップを押出してトレイの窪みの中へチップを移載するチップの移載装置が提案されている(例えば特許文献1参照)。
しかしながら、特許文献1に記載されているチップの移載装置の場合、特にチップが薄くなる、或いは、チップのサイズが大きくなると、プッシャでチップを押圧すると、チップがフィルムから剥がれる際、チップの端部が跳ねることにより、ダイシング時にチップの端面に付着したチッピング粉等のチップの端面に付着したパーティクルが周囲のチップの接合面へ飛散してしまう虞がある。また、チップが大きく撓みチップに過大な応力が加わってチップの周部が破損してしまう虞がある。
本発明は、上記事由に鑑みてなされたものであり、チップの端面に付着したパーティクルが周囲のチップの接合面へ飛散することを抑制できるチップ周部剥離装置、チップ供給装置、チップ供給システム、チップ接合システム、ピックアップ装置、チップ周部剥離方法、チップ供給方法、チップ接合方法およびピックアップ方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明に係るチップ周部剥離装置は、
複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板または前記複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持するフレーム支持部と、
前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部と、を備える。
複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板または前記複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持するフレーム支持部と、
前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部と、を備える。
他の観点から見た本発明に係るチップ周部剥離方法は、
複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板または前記複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持した状態で、前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする周部剥離工程を含む。
複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板または前記複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持した状態で、前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする周部剥離工程を含む。
本発明によれば、ダイシング基板における複数のチップ形成領域それぞれの中央部または複数のチップそれぞれの中央部がシートに貼着され且つ複数のチップ形成領域それぞれの中央部または複数のチップそれぞれの周部における少なくとも中央部を挟んで対向する両端部が中央部に比べてシートから剥離し易い状態にする。これにより、複数のチップそれぞれにおける端部が既に剥がれ易くなっているので、厚さの薄いチップでもシートから剥離する際にチップの端部が跳ねてチップの端面に付着したパーティクルが周囲のチップに飛散してしまうことを抑制できる。また、特にチップの厚さが薄い場合、チップをシートから離脱させる際、破損し易くシートから離脱させるのが困難である。これに対して、本発明によれば、チップをシートから離脱させる時点においてチップの端部を事前に剥離した状態とすることができるので、その分、複数のチップそれぞれをシートから離脱させる際に複数のチップそれぞれに加わる応力を低減することができる。従って、複数のチップそれぞれをシートから離脱させる際にチップに過大な応力が加わることを抑制でき、過大な応力に起因したチップの破損が抑制される。
(実施の形態1)
以下、本発明の実施の形態に係るチップ接合システムについて、図面を参照しながら説明する。本実施の形態に係るチップ接合システムは、基板上にチップを実装するシステムである。チップとしては、例えばダイシングされた基板を個片に分割してなる半導体チップであって、同一の接合面内に電極部分と絶縁部分とが形成されているものである。このチップ接合システムは、基板におけるチップが実装される実装面とチップの接合面とについて活性化処理を行った後、親水化してから、チップを基板に接触、または加圧して接合する。その後、または同時に加熱することにより、チップを基板に強固に接合する。また、本実施の形態に係るチップ接合システムは、チップの周部をシートから剥離するチップ周部剥離装置を備える。このチップ周部剥離装置は、チップの基となるチップ形成領域が複数形成された基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板が貼着されたシートが固定された環状フレームを支持するフレーム支持部と、複数のチップそれぞれの中央部がシートに貼着され且つ複数のチップそれぞれの中央部における少なくとも中央部を挟んで対向する両端部が中央部に比べてシートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部と、を備える。
以下、本発明の実施の形態に係るチップ接合システムについて、図面を参照しながら説明する。本実施の形態に係るチップ接合システムは、基板上にチップを実装するシステムである。チップとしては、例えばダイシングされた基板を個片に分割してなる半導体チップであって、同一の接合面内に電極部分と絶縁部分とが形成されているものである。このチップ接合システムは、基板におけるチップが実装される実装面とチップの接合面とについて活性化処理を行った後、親水化してから、チップを基板に接触、または加圧して接合する。その後、または同時に加熱することにより、チップを基板に強固に接合する。また、本実施の形態に係るチップ接合システムは、チップの周部をシートから剥離するチップ周部剥離装置を備える。このチップ周部剥離装置は、チップの基となるチップ形成領域が複数形成された基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板が貼着されたシートが固定された環状フレームを支持するフレーム支持部と、複数のチップそれぞれの中央部がシートに貼着され且つ複数のチップそれぞれの中央部における少なくとも中央部を挟んで対向する両端部が中央部に比べてシートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部と、を備える。
図1に示すように、本実施の形態に係るチップ接合システム1は、チップ供給装置10と、チップ搬送装置39と、ボンディング装置30と、チップ周部剥離装置50と、活性化処理装置60と、搬送装置70と、搬出入ユニット80と、洗浄装置85と、制御部90と、を備える。搬送装置70は、ダイシング基板WDまたはチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI1、RI2、RI3を掴むアームを有する搬送ロボット71を有する。ここで、チップCPは、例えば図2に示すように、同一の接合面CPf内に電極部分PCと絶縁部分PIとが面一となるように形成されたものである。ここで、「面一」とは、電極部分PCと絶縁部分PIとの間に段差が無い状態であり、接合面CPfのRaが1μm以下であることを意味する。なお、絶縁部分は、例えばSiO2、Al2O3等の酸化物、SiN、AlN等の窒化物、SiONのような酸窒化物、或いは電気的絶縁性を有する樹脂のような絶縁体材料から形成されている。また、電極部分は、Si、Ge等の半導体材料、Cu、Al、はんだ等の金属のような導電性材料から形成されている。また、シートTEは、例えば樹脂から形成されており、厚さ方向におけるチップCPが貼着される面側に紫外光が照射されると粘着力が低下する接着剤が塗布されたものである。そして、ダイシング基板WDまたはダイシング基板WDを個片に分割してなる複数のチップCPが、それらの接合面側とは反対側が接着剤によりシートTEに貼着されている。
搬送ロボット71は、図1の矢印AR11に示すように、搬出入ユニット80から受け取った基板WTまたはチップCPが貼着されたシートTEを保持する環状フレームRI1または環状フレームRI2、RI3を、活性化処理装置60、洗浄装置85、ボンディング装置30、チップ供給装置10それぞれへ移載する位置へ移動可能となっている。ここで、環状フレームRI1、RI2、RI3は、シートTEが固定された環状フレームに相当する。搬送ロボット71は、搬出入ユニット80から基板WTを受け取ると、受け取った基板WTを掴んだ状態で活性化処理装置60へ移載する位置へ移動し、基板WTを活性化処理装置60へ移載する。また、搬送ロボット71は、活性化処理装置60において基板WTの実装面WTfの活性化処理が完了した後、活性化処理装置60から基板WTを受け取り、受け取った基板WTを洗浄装置85へ移載する。更に、搬送ロボット71は、洗浄装置85において基板WTの水洗浄が完了した後、洗浄装置85から基板WTを受け取り、受け取った基板WTを掴んだ状態で基板WTを反転させた後、ボンディング装置30へ移載する位置へ移動する。そして、搬送ロボット71は、基板WTをボンディング装置30へ移載する。
また、搬送ロボット71は、搬出入ユニット80からダイシング後のダイシング基板WDが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI1を受け取ると、受け取った環状フレームRI1を掴んだ状態で環状フレームRI1を活性化処理装置60へ移載する位置へ移動し、環状フレームRI1を活性化処理装置60へ移載する。更に、搬送ロボット71は、活性化処理装置60においてシートTEに貼着されたチップCPの接合面の活性化処理が完了した後、活性化処理装置60から環状フレームRI1を受け取り、受け取った環状フレームRI1を搬出入ユニット80へ移載する。その後、搬送ロボット71は、搬出入ユニット80から互いに離間した状態の複数のチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI3を受け取ると、受け取った環状フレームRI2、RI3を掴んだ状態で環状フレームRI2をチップ供給装置10へ移載する位置へ移動し、環状フレームRI2をチップ供給装置10へ移載する。また、搬送装置70内には、例えばHEPA(High Efficiency Particulate Air)フィルタ(図示せず)が設置されている。これにより、搬送装置70内は、パーティクルが極めて少ない大気圧環境になっている。
活性化処理装置60は、シートTEに貼着されたダイシング基板WDにおけるチップCPの接合面となる部分を活性化させる。このダイシング基板WDは、複数のチップCPの基となるチップ形成領域が複数形成された基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたものである。活性化処理装置60は、図3に示すように、チャンバ64と、シートTEを保持する環状フレームRI1を支持するフレーム支持部621と、導電性材料から形成されたシート支持部612と、シート支持部612に対向配置された電極613と、を有する。また、活性化処理装置60は、シート支持部612を矢印AR20に示す方向へ駆動するシート支持部駆動部6121と、カバー622と、プラズマ発生部615と、チャンバ64内へ供給管676を介して窒素ガスを供給するガス供給部677と、を有する。チャンバ64は、排気管651を介して真空ポンプ652に接続されている。そして、真空ポンプ652が作動すると、チャンバ64内の気体が、排気管651を通してチャンバ64外へ排出され、チャンバ64内の気圧が低減(減圧)される。プラズマ発生部615は、高周波電源611と、マッチングユニット614と、を有し、シート支持部612と電極613との間に高周波バイアスを印加することによりシート支持部612と電極613との間にプラズマPLMを発生させる。高周波電源611としては、例えば13.56MHzの高周波を発生させる電源を採用することができる。プラズマ発生部615が、シートTEに貼着されたダイシング基板DWの近傍にプラズマPLMを発生させることにより、運動エネルギを有するイオンが繰り返しダイシング基板DWにおけるチップCPの接合面となる部分に衝突し接合面となる部分が活性化される。
カバー622は、例えばガラスから形成され、シートTEがシート支持部612に支持された状態において、シートTEの複数のチップCPが貼着された側からシートTEにおける複数のチップCPが貼着された部分を除く部分を覆っている。ここで、複数のチップCPが、平面視円形のダイシング基板WDをダイシングしたものである場合、シートTEにおける平面視円形の領域に貼着された状態となっている。この場合、カバー622としては、シートTEにおける複数のチップCPが貼着された平面視円形の領域の外側の領域を覆う形状のものが採用される。ここで、環状フレームRI1は、まず、シートTEにおけるダイシング基板DWが貼着された部分がカバー622から下方へ離間した状態で配置される。その後、シート支持部駆動部6121が、シート支持部612をカバー622に近づける方向へ押し上げることにより、ダイシング基板DWがカバー622の内側に配置される。これにより、シートTEにおけるダイシング基板DWが貼着された部分を除く部分がプラズマPLMに曝されることを抑制できる。
洗浄装置85は、例えば図4に示すように、ステージ852と、ステージ852を回転駆動するステージ駆動部853と、ステージ852の鉛直上方に配置され鉛直下方に向かって水を吐出する洗浄ヘッド851と、を有する。ここで、ステージ852は、シートTEを吸着するチャック部を有し、複数のチップCPが貼着されたシートTEと、シートTEが固定された環状フレームRI2、RI3と、を保持する。洗浄装置85は、ステージ852に複数のチップCPが貼着されたシートTEを保持する環状フレームRI2、RI3が支持された状態で、矢印AR81に示すように、ステージ駆動部853によりステージ852を回転させるとともに、洗浄ヘッド851から水を複数のチップCPに向けて吐出しながら洗浄ヘッド815をシートTEにおける複数のチップCPが貼着された領域を矢印AR82に示すようにその径方向に沿って往復移動させることにより複数のチップCPを水洗浄する。
チップ周部剥離装置50は、例えば図5に示すように、フレーム支持部521と、環状フレームRI2、RI3を係止するフレーム係止部521aと、柱状であり鉛直方向における上端部でフレーム支持部521を支持するとともにフレーム係止部521aを鉛直方向へ駆動する係止駆動部522と、を有する。ここで、フレーム支持部521は、環状であり、複数のチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI2を、シートTEにおけるチップCPが貼着された一面側が鉛直下方を向く姿勢で支持する。また、チップ周部剥離装置50は、フレーム支持部521および係止駆動部522を纏めて支持するベース部材523と、ベース部材523を水平方向へ駆動する水平駆動部53と、を有する。水平駆動部53は、水平方向に延在するレール532と、ベース部材523を支持しレール532に沿って摺動するスライダ531と、水平方向におけるレール532と直交する方向へ延在するレール534と、レール532を支持しレール534に沿って摺動するスライダ533と、を有する。
また、チップ周部剥離装置50は、複数のチップCPそれぞれの中央部がシートTEに貼着され且つ複数のチップCPそれぞれの周部がシートTEから剥離した状態にするチップ周部剥離部57を有する。チップ周部剥離部57は、紫外光照射部55と、シートTEを押圧するシート押圧機構56と、紫外光照射部55とシート押圧機構56とを纏めて支持する照射部押圧機構支持部514と、を有する。紫外光照射部55は、紫外光を放射する光源551と、光源551から放射される紫外光の一部を遮蔽するマスク552と、を有し、光源511から放射されマスク552の窓部552aを透過した紫外光を、シートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射することによりチップCPの周部をシートTEから剥離した状態にする。マスク552は、光源551から離間した状態でマスク支持部515を介して照射部押圧機構支持部514に固定されている。ここで、紫外光照射部55は、複数の列状に配置された複数のチップCPのうち、隣り合う2列のチップCPそれぞれの列方向と直交する方向において対向する一方の端部を含む領域へ紫外光を照射することにより、隣り合う2列のチップCPそれぞれの一方の端部へ紫外光を同時に照射する。なお、紫外光照射部55は、各列に属するチップCPそれぞれの一方の端部のみに照射するものであってもよい。
シート押圧機構56は、先端部がシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分を押圧する押圧部材561と、押圧部材561を鉛直方向および鉛直方向と直交する方向へ駆動する押圧部材駆動部562と、を有する。押圧部材駆動部562は、押圧部材561を鉛直方向に沿ってシートTEに近づく方向へ移動させることにより、押圧部材561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつける。また、押圧部材駆動部562は、押圧部材561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、押圧部材561の押圧方向と直交する方向、即ち、鉛直方向と直交する方向へ押圧部材561を移動させることにより、押圧部材561でシートTEを擦る。このように、押圧部材561でシートTEを擦ることにより、チップCPとシートTEとの接着部分において、チップCPの端部がシートTEに対して局部的且つ相対的に移動する方向へ力が作用してチップCPの端部がシートTEに対して摺動する。そして、チップCPの周部がシートTEから剥離した状態となる。
更に、チップ周部剥離装置50は、シートTEの鉛直下方から複数のチップCPそれぞれで発生するパーティクルを吸引するパーティクル吸引部54を更に有する。パーティクル吸引部54は、吸引ノズル54aを有し、チップ周部剥離部57がチップCPの周部を中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態にするときにチップCPで発生するパーティクルを吸引ノズル54aで吸引する。
図1に戻って、チップ供給装置10は、環状フレームRI2、RI3に固定されたシートTEに貼着された複数のチップCPの中から1つのチップCPを抜き取り、抜き取ったチップCPをボンディング装置30へ供給する。チップ供給装置10は、図6に示すように、チップ供給部11を有する。チップ供給部11は、フレーム支持部119と、複数のチップCPの中から1つのチップCPをピックアップするピックアップ機構111と、カバー114と、を有する。ここで、フレーム支持部119は、シートTEにおける複数のチップCPが貼着された面が鉛直上方(+Z方向)側となる姿勢で、複数のチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI3を支持する。なお、フレーム支持部119は、環状フレームRI2のみを支持してもよいし、環状フレームRI3のみを支持するものであってもよい。また、チップ供給部11は、フレーム支持部119を鉛直方向に沿って昇降させるフレーム昇降駆動部120と、フレーム支持部119およびフレーム昇降駆動部120を纏めてXY方向またはZ軸周りに回転する方向へ駆動するフレーム水平駆動部113と、を有する。
ピックアップ機構111は、複数のチップCPのうちの1つのチップCPを、シートTEにおける複数のチップCP側から吸着保持してシートTEから遠ざかる方向へ移動することにより1つのチップCPをシートTEから離脱した状態にする。即ち、ピックアップ機構111は、シートTEにおける複数のチップCPが貼着された一面側から複数のチップCPのうちのいずれか1つを保持した状態で、シートTEを他面側へ移動させることによりシートTEを撓ませてチップCPの周部がシートTEから剥離した状態で、チップCPをシートTEから切り出す。ピックアップ機構111は、チップCPの接合面CPf側を吸着保持するコレット115と、矢印AR45に示すようにコレット115を鉛直方向へ駆動するコレット昇降駆動部1161と、矢印AR46に示すようにコレット115およびコレット昇降駆動部1161とを纏めて水平方向へ駆動するコレット水平駆動部1162と、を有する。また、ピックアップ機構111は、更に、コレット115を洗浄するコレット洗浄部117を有する。カバー114は、複数のチップCPの鉛直上方を覆うように配置され、ピックアップ機構111に対向する部分に孔114aが設けられている。ピックアップ機構111は、シートTEにおける鉛直上方(+Z方向)からコレット115をチップCPに近づけてチップCPを吸着保持し。チップCPを鉛直上方(+Z方向)へ持ち上げることによりチップCPを供給する。そして、コレット115に吸着保持されたチップCPは、カバー114の孔114aを通じて1個ずつカバー114の上方へ搬送されてチップ搬送装置39に受け渡される。フレーム水平駆動部113は、環状フレームRI2、RI3をXY方向またはZ軸周りに回転する方向へ駆動することにより、コレット115の鉛直下方に位置するチップCPの位置を変化させる。また、ピックアップ機構111は、コレット115のチャック部115aによりチップCPを吸着保持する前に、コレット洗浄部117によりチャック部115aを洗浄する。ここで、ピックアップ機構111は、1つのチップCPをピックアップする毎にコレット115を洗浄するものであってもよいし、或いは、予め設定された回数だけチップCPのピックアップを繰り返す毎にコレット115を洗浄するものであってもよい。
チップ搬送装置(ターレットとも称する)39は、チップ供給部11から供給されるチップCPを、ボンディング装置30のボンディング部33のヘッド33HにチップCPを受け渡す受け渡し位置Pos1まで搬送する。チップ搬送装置39は、図1に示すように、2つの長尺のプレート391と、アーム394と、アーム394の先端部に設けられたチップ保持部393と、2つのプレート391を一斉に回転駆動するプレート駆動部392と、を有する。2つのプレート391は、長尺の矩形箱状であり、チップ供給部11とヘッド33Hとの間に位置する他端部を基点として一端部が旋回する。2つのプレート391は、例えばそれらの長手方向が互いに90度の角度をなすように配置されている。なお、プレート391の数は、2枚に限定されるものではなく、3枚以上であってもよい。
チップ保持部393は、図7Aに示すように、アーム394の先端部に設けられ、チップCPを保持する2つの脚片393aを有する。プレート391は、図7Bに示すように、内側に長尺のアーム394を収容することが可能となっている。そして、プレート391の内側には、アーム394をプレート391の長手方向に沿って駆動するアーム駆動部395が設けられている。これにより、チップ搬送装置39は、アーム駆動部395により、アーム394の先端部をプレート391の外側に突出させた状態にしたり、アーム394の先端部をプレート391の内側に没入させた状態にしたりすることができる。そして、チップ搬送装置39は、プレート391を旋回させる際、図7Bの矢印AR55に示すように、アーム394をプレート391内へ没入させてチップ保持部393をプレート391の内側に収納する。これにより、搬送時におけるチップCPへのパーティクルの付着が抑制される。なお、2つの脚片393aには、吸着溝(図示せず)が設けられていてもよい。この場合、チップCPが脚片392aに吸着保持されるので、チップCPを位置ずれなく搬送することができる。また、プレート391が旋回する際に生じる遠心力によるチップCPの飛び出しを防止するために、脚片393aの先端部に突起(図示せず)を設けてもよい。
ここで、図1に示すように、ヘッド33Hは、Z軸方向において、プレート391が回転したときにアーム394の先端部が描く軌跡OB1と重なる位置に配置されている。チップ搬送装置39は、ピックアップ機構111からチップCPを受け取ると、図1の矢印AR1に示すように、プレート391を軸AX周りに旋回させることによりチップCPをヘッド33Hと重なる受け渡し位置Pos1まで搬送する。
ボンディング装置30は、ステージユニット31と、ヘッド33Hを有するボンディング部33と、ヘッド33Hを駆動するヘッド駆動部36と、を有するチップ接合装置である。ヘッド33Hは、例えば図8Aに示すようにチップツール411と、ヘッド本体部413と、チップ支持部432aと、支持部駆動部432bと、を有する。チップツール411は、例えばシリコン(Si)から形成されている。ヘッド本体部413は、チップCPをチップツール411に吸着保持させるためのチャック部を有する保持機構440と、チップツール411を真空吸着によりヘッド本体部413に固定するためのチャック部(図示せず)と、を有する。また、ヘッド本体部413には、セラミックヒータやコイルヒータ等が内蔵されている。チップツール411は、ヘッド本体部413の保持機構440に対応する位置に形成された貫通孔411aと、チップ支持部432aが内側に挿入される貫通孔411bと、を有する。
チップ支持部432aは、例えば筒状の吸着ポストであり、ヘッド33Hの先端部に設けられ鉛直方向へ移動自在の部品支持部である。チップ支持部432aは、チップCPの接合面CPf側とは反対側における第1部位である中央部を支持する。チップ支持部432aは、例えば図8Bに示すように、中央部に1つ設けられている。
支持部駆動部432bは、チップ支持部432aを鉛直方向へ駆動するとともに、チップ支持部432aの先端部にチップCPが載置された状態でチップ支持部432aの内側をシ減圧することによりチップCPをチップ支持部432aの先端部に吸着させる。支持部駆動部432bは、チップ搬送装置39のチップ保持部393がチップCPを保持した状態でヘッド33Hへの受け渡し位置(図1のPos1参照)に位置し、チップ支持部432aの先端部でチップCPの中央部を支持した状態で、チップ支持部432aをチップ保持部393よりも鉛直上方側へ移動させる。これにより、チップCPが、チップ搬送装置39のチップ保持部393からヘッド33Hへ移載される。
ヘッド駆動部36は、受け渡し位置Pos1において移載されたチップCPを保持するヘッド33Hを鉛直上方(+Z方向)へ移動させることによりヘッド33Hをステージ315に近づけて基板WTの実装面WTfにチップCPを実装する相対位置変更部である。より詳細には、ヘッド駆動部36は、チップCPを保持するヘッド33Hを鉛直上方(+Z方向)へ移動させることによりヘッド33Hをステージ315に近づけて基板WTの平坦な実装面WTfにチップCPの平坦な接合面CPfを面接触させることによりチップCPを基板WTに面接合する。ここで、「平坦な実装面WTf」および「平坦な接合面CPf」とは、略凹凸が無い面でありRAが1μm以下の面であることを意味する。例えば、チップCPの接合面CPfまたは基板WTの実装面WTfに1μm程度の凹凸が存在するとその周囲にボイドが生じてしまう虞がある。このため、チップCPの接合面CPfまたは基板WTの実装面WTfのRAは1μm以下であることが好ましい。ここにおいて、基板WTの実装面WTfとチップCPにおける基板WTに接合される接合面CPfとは、活性化処理装置60により活性化処理が施されている。また、基板WTの実装面WTfは、活性化処理が施された後、洗浄装置85により水洗浄がなされている。従って、基板WTの実装面WTfにチップCPの接合面CPfを接触させることにより、チップCPが基板WTに水酸基(OH基)を介していわゆる親水化接合される。
ステージユニット31は、基板WTにおけるチップCPが実装される実装面WTfが鉛直下方(-Z方向)を向く姿勢で基板WTを保持するステージ315と、ステージ315を駆動するステージ駆動部320と、を有する。ステージ315は、X方向、Y方向および回転方向に移動できる基板保持部である。これにより、ボンディング部33とステージ315との相対位置関係を変更することができ、基板WT上における各チップCPの実装位置を調整することができる。
図1に戻って、制御部90は、例えばプログラマブルロジックコントローラであり、CPU(Central Processing Unit)ユニットと入出力制御ユニットとを有する。制御部90は、チップ供給装置10と、チップ搬送装置39と、ボンディング装置30と、洗浄装置85と、活性化処理装置60と、チップ周部剥離装置50と、搬送ロボット71と、に接続されている。そして、制御部90は、チップ供給装置10、チップ搬送装置39、ボンディング装置30、洗浄装置85、活性化処理装置60、チップ周部剥離装置50および搬送ロボット71それぞれへ制御信号を出力することにより、これらの動作を制御する。
次に、本実施の形態に係るチップ接合システム1を用いたチップ接合方法について図9乃至図14を参照しながら説明する。まず、チップ接合システム1は、図9に示すように、搬出入ユニット80から投入された基板WTを活性化処理装置60へ投入することにより基板WTの実装面WTfに対して活性化処理を施す基板実装面活性化工程を行う(工程S11)。ここで、活性化処理装置60は、例えば、シート支持部612に基板WTの実装面WTfが鉛直上方を向く姿勢で支持させた状態で、活性化処理を実行する。
次に、チップ接合システム1は、活性化処理装置60から活性化処理が施された基板WTを、洗浄装置85へ投入して、基板WTの実装面WTfを水洗浄する水洗浄工程を行う(工程S12)。ここで、洗浄装置85は、ステージ852に基板WTが支持された状態でステージ駆動部853によりステージ852を回転させつつ、洗浄ヘッド851から水を基板WTに向けて吐出することにより基板WTを水洗浄する。これにより、基板WTの実装面WTfに水酸基(OH基)または水分子が比較的多く付着した状態となる。続いて、チップ接合システム1は、洗浄後の基板WTをボンディング装置30へ搬送する(工程S13)。このとき、ボンディング装置30では、ステージ315に受け取った基板WTを保持させる。具体的には、搬送ロボット71が、洗浄装置85から基板WTをその実装面WTfが鉛直上方を向く姿勢で受け取る。その後、搬送ロボット71は、受け取った基板WTを反転させて、基板WTをその実装面WTfが鉛直下方を向く姿勢で保持する。そして、搬送ロボット71は、基板WTをその実装面WTfが鉛直下方を向く姿勢のままボンディング装置30のステージ315へ移載する。
また、前述の工程S11乃至S13の一連の工程と並行して、シートTEに貼着されたチップCPの基となるチップ形成領域が複数設けられた基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることによりダイシング基板WDを作製するダイシング工程が行われる(工程S21)。ダイシング工程の後、ダイシング基板WDが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI1が、搬出入ユニット80へ投入される。そして、チップ接合システム1は、搬出入ユニット80から投入された環状フレームRI1を活性化処理装置60へ投入する。その後、活性化処理装置60は、シートTEに貼着されたダイシング基板WDにおけるチップCPの接合面CPf側を活性化させるチップ接合面活性化工程を行う(工程S22)。このチップ接合面活性化処理工程では、チップCPの間に隙間が存在すると、シートTEにおける当該隙間に露出した部分がエッチングされてシートTE由来の樹脂がチップCPの接合面CPfに付着してしまう虞がある。従って、チップ接合面活性化処理工程では、シートTEの一部がチップCP同士の隙間から露出しないように、チップCP同士が互いに当接している状態またはチップCP同士が互いに繋がった状態で行われるのが好ましい。このチップ接合面活性化処理工程の後、搬送ロボット71が、活性化処理装置60から、ダイシング基板WDで貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI1を取り出して、再び搬出入ユニット80へ戻す。
次に、搬出入ユニット80から取り出されたチップ接合面活性化工程後のダイシング基板WDが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI1について、シートTEを伸張させることにより複数のチップCPが互いに離間した状態にする伸張工程が行われる(工程S23)。この伸張工程では、環状フレームRI1の内側に配置した環状フレームRI2をシートTEに押し当ててから押圧することにより、シートTEを環状フレームRIの中央部から放射状に伸張させて複数のチップCPが互いに離間した状態にする。そして、この状態を維持しつつ、環状フレームRI2の外側に環状フレームRI3を嵌め込む。これにより、複数のチップCPが互いに離間した状態で貼着されたシートTEが、環状フレームRI2、RI3に固定された状態となる。また、伸張工程を行った後、シートTEを環状フレームRI1から切断する。そして、シートTEが固定された環状フレームRI2,RI3が再び搬出入ユニット80へ投入される。
続いて、チップ接合システム1は、搬出入ユニット80に投入されたシートTEが固定された環状フレームRI2,RI3を、洗浄装置85へ投入して、複数のチップCPそれぞれの接合面CPfを水洗浄する水洗浄工程を実行する(工程S24)。ところで、伸張工程において、シートTEを伸張させてダイシング基板WDを、複数のチップCPが互いに離間した状態にする際に、チップCPからパーティクルが発生してチップCPの接合面CPfに付着してしまう虞がある。これに対して、本実施の形態では、伸張工程の後、水洗浄工程を実行するので、伸張工程においてチップCPの接合面CPfに付着したパーティクルを水洗浄により除去することができる。そして、チップ接合システム1は、洗浄装置85から、水洗浄工程後の複数のチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2,RI3をチップ周部剥離装置50へ搬送する。
その後、チップ周部剥離装置50は、複数のチップCPそれぞれの中央部がシートTEに貼着され且つ複数のチップCPそれぞれの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態にする周部剥離工程を行う(工程S25)。ここでは、図10Aに示すように、まず、水平駆動部53が、フレーム支持部521を水平方向へ移動させることにより、チップ周部剥離装置50の紫外光照射部55の鉛直下方にシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分が配置された状態にする。次に、紫外光照射部55が、紫外光UVLをシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射する。ここで、紫外光照射部55は、図10Bに示すように、複数(図10Bでは6列)の列状に配置された複数のチップCPのうち、隣り合う2列のチップCPそれぞれの列方向と直交する方向において対向する一方の端部を含む領域A1へ紫外光を照射することにより、隣り合う2列のチップCPそれぞれの一方の端部へ紫外光を同時に照射する。
続いて、水平駆動部53が、フレーム支持部521を水平方向へ移動させることにより、図11Aに示すように、チップ周部剥離装置50のシート押圧機構56の鉛直下方にシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分が配置された状態にする。その後、チップ周部剥離装置50のシート押圧機構56が、矢印AR52に示すように、押圧部材561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、鉛直方向と直交する方向へ押圧部材561を移動させることにより、押圧部材561でシートTEを擦る。具体的には、シート押圧機構56が、図11Bに示すように、押圧部材561の先端部をシートTEに当接させた後、矢印AR52に示すように、押圧部材561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけると、図11Cの矢印AR102に示すように、チップCPとシートTEとの接着部分において、シートTEがチップCPに対して押圧部材561の先端部に近づく方向へ引っ張られる。これに伴い、チップCPの端部が変形して、チップCPの端部には、矢印AR103に示すような、シートTEに対して局部的且つ相対的に移動する方向へ力が作用する。そして、チップCPの端部がシートTEに対して摺動し、チップCPの端部には、シートTEから剥離した部分CPsが生じる。
この周部剥離工程では、まず、複数列全てについてチップCPの端部に紫外光を照射する処理を行った後、チップCPの端部を押圧部材561により擦る処理を行う。なお、周部剥離工程において、隣り合う2列のチップCPそれぞれの一方の端部を含む1つの領域A1へ紫外光を照射する毎に、シートTEにおける紫外光を照射した領域A1に含まれるチップCPの端部を押圧部材561により擦る処理を行ってもよい。
図9に戻って、次に、チップ接合システム1は、複数のチップCPがそれぞれの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態で貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI3を、チップ供給装置10へ搬送する(工程S26)。このとき、搬送ロボット71が、洗浄装置85からシートTEを保持する環状フレームRI2、RI3をチップCPの接合面CPfが鉛直上方を向く姿勢で受け取る。その後、搬送ロボット71は、受け取った環状フレームRI2、RI3をそのままチップ供給装置10のチップ供給部11へ移載する。そして、チップ供給部11では、移載された環状フレームRI2、RI3をフレーム支持部119に支持させる。
続いて、チップ接合システム1は、チップCPを基板WTの実装面WTfに接触させることにより基板WTに接合するチップ接合工程を行う(工程S31)。ここでは、チップ接合システム1が、まず、シートTEに貼着された複数のチップCPのうちの1つのチップCPをピックアップするピックアップ工程を行う。このピックアップ工程では、チップ搬送装置39が、図12Aに示すように、2つのプレート391をチップ供給装置10と重ならない位置に配置された状態にする。そして、図12Bの矢印AR11に示すように、ピックアップ機構111のコレット115が、鉛直下方へ移動して1つのチップCPに当接して1つのチップCPを吸着保持する吸着保持工程を行う。次に、図13Aの矢印AR12に示すように、フレーム水平駆動部113が、フレーム支持部119を鉛直下方へ移動させることにより、環状フレームRI2、RI3を鉛直下方へ移動させる。これにより、チップCPの周部にシートTEから離脱した部分CPsが生じる。このとき、チップCPの周部は、チップ周部剥離装置50において既に剥離された状態となっているため、環状フレームRI2、RI3を鉛直下方へ移動させる際にチップCPの周部にはほとんど応力が加わらない。ここで、図13Bに示すように、環状フレームRI2、RI3を更に鉛直下方へ移動させていくと、それに伴い、チップCPの周部におけるシートTEから離脱した部分CPsの面積が増大していく。そして、図13Cに示すように、チップCPが、シートTEから離脱した状態となる。そして、ピックアップ機構111は、コレット115をチップ搬送装置39のプレート391の高さよりも高い位置まで持ち上げる。
続いて、チップ接合システム1は、図14Aに示すように、チップ搬送装置39の1つのプレート391をチップ供給部11の方向へ向けた状態にする。その後、ピックアップ機構111が、図14Bの矢印AR14に示すように、コレット115を鉛直下方へ移動させることにより、チップCPをチップ保持部393へ移載する。
次に、チップ接合システム1が、プレート391を図15Aの矢印AR13の方向へ旋回させる。このとき、チップ搬送装置39のアーム394の先端部のチップ保持部393がボンディング部33のヘッド33Hの鉛直上方の移載位置Pos1に配置される。即ち、チップ搬送装置39は、チップ供給部11から受け取ったチップCPをヘッド33HにチップCPを移載する移載位置Pos1まで搬送する。そして、ヘッド駆動部36は、ボンディング部33を鉛直上方へ移動させてヘッド33Hをチップ搬送装置39のチップ保持部393へ近づける。次に、支持部駆動部432bは、チップ支持部432aを鉛直上方へ移動させる。これにより、チップ保持部393に保持されたチップCPは、図15Bに示すように、チップ支持部432aの上端部で支持された状態で、チップ保持部393よりも鉛直上方側に配置される。続いて、チップ搬送装置39は、アーム394をプレート391内へ没入させる。その後、支持部駆動部432bは、チップ支持部432aを鉛直下方へ移動させる。これにより、ヘッド33Hの先端部にチップCPが保持された状態となる。このとき、ピックアップ機構111は、次に基板WTに接合するチップCPを吸着保持する前に、矢印AR15に示すようにコレット115を鉛直上方へ移動させた後、矢印AR16に示すようにコレット洗浄部116へ搬送する。そして、コレット洗浄部116が、コレット115を洗浄するコレット洗浄工程を行う。即ち、ピックアップ機構111は、コレット115によりチップCPを吸着保持する前に、コレット洗浄部116によりコレット115を洗浄する。
その後、チップ接合システム1は、ステージ315を駆動するとともにボンディング部33を回転させることにより、チップCPと基板WTとの相対的な位置ずれを補正するアライメントを実行する。そして、チップ接合システム1は、ヘッド33Hを上昇させることにより、チップCPを基板WTに接合する。ここにおいて、基板WTの実装面WTfとチップCPの接合面CPfとは、水酸基(OH基)を介して親水化接合した状態となる。
そして、前述の一連の工程が完了した後、チップCPが実装された状態の基板WTは、チップ接合システム1から取り出され、その後、熱処理装置(図示せず)に投入され熱処理が行われる。熱処理装置は、例えば温度350℃、1時間の条件で基板WTの熱処理を実行する。
以上説明したように、本実施の形態に係るチップ接合システムによれば、複数のチップCPそれぞれの中央部がシートTEに貼着され且つ複数のチップCPそれぞれの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態にする。これにより、複数のチップCPそれぞれにおける端部がチップCPのピックアップ時において既に剥がれているので、厚さの薄いチップでもシートから剥離する際にチップの端部が跳ねてチップの端面に付着したパーティクルが周囲のチップCPに飛散してしまうことを抑制できる。従って、チップCPの接合面に付着したパーティクルに起因したチップCPの基板WTへの接合不良を抑制することができる。
また、特にチップCPの厚さが薄い場合、チップCPをシートTEから離脱させる際、破損し易くシートTEから離脱させるのが困難である。これに対して、本実施の形態に係るチップ接合システム1によれば、チップCPをシートTEから剥離させる時点においてチップCPの端部を事前に剥離した状態とすることができるので、その分、複数のチップCPそれぞれをシートから離脱させる際に複数のチップCPそれぞれに加わる応力を低減することができる。従って、複数のチップCPそれぞれをシートTEから離脱させる際にチップCPに過大な応力が加わることを抑制でき、過大な応力に起因したチップCPの破損が抑制される。
ところで、チップCPの端部をシートTEから剥離するチップ周部剥離工程を行った後、洗浄装置85により水洗浄を行う水洗浄工程を行う場合、チップCPの中央部しかシートTEに貼着されていないため、洗浄ヘッド615から吐出される水の威力とステージ852が回転することによりチップCPに作用する遠心力とによりチップCPがシートTEから脱離してしまう虞がある。これに対して、本実施の形態に係るチップ接合システム1では、水洗浄工程を行った後、チップ周部剥離工程を行うので、水洗浄工程におけるチップCPのシートTEからの脱離を抑制できる。
(実施の形態2)
本実施の形態に係るチップ接合システムは、チップ供給装置が、複数のチップそれぞれの中央部がシートに貼着され且つ複数のチップそれぞれの周部が中央部に比べてシートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部を備える点で実施の形態1と相違する。つまり、本実施の形態に係るチップ接合システムでは、チップ供給装置が、実施の形態1で説明したチップ周部剥離装置が有する機能を備える点で実施の形態1と相違する。
本実施の形態に係るチップ接合システムは、チップ供給装置が、複数のチップそれぞれの中央部がシートに貼着され且つ複数のチップそれぞれの周部が中央部に比べてシートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部を備える点で実施の形態1と相違する。つまり、本実施の形態に係るチップ接合システムでは、チップ供給装置が、実施の形態1で説明したチップ周部剥離装置が有する機能を備える点で実施の形態1と相違する。
本実施の形態に係るチップ接合システムは、図1に示す実施の形態1に係るチップ接合システム1において、チップ周部剥離装置50を省略し、チップ供給装置10の代わりにチップ供給装置2010を備えるものである。チップ供給装置2010は、図16に示すようなチップ供給部2011を有する。なお、図16において、実施の形態1と同様の構成については図6と同一の符号を付している。チップ供給部2011は、フレーム支持部119と、フレーム支持部119を鉛直方向に沿って昇降させるフレーム昇降駆動部2120と、複数のチップCPの中から1つのチップCPをピックアップするピックアップ機構2111と、フレーム水平駆動部2113と、チップ周部剥離部57と、を有する。フレーム水平駆動部2113は、フレーム支持部119およびフレーム昇降駆動部2120を纏めてXY方向またはZ軸周りに回転する方向へ移動させることにより、チップ周部剥離部57またはピックアップ機構2111の鉛直上方に位置するチップCPの位置を変化させる。
チップ周部剥離部57は、フレーム支持部119に支持されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI3の鉛直下方に配置されている。チップ周部剥離部57は、紫外光照射部55と、シート押圧機構56と、紫外光照射部55とシート押圧機構56とを纏めて支持する支持部2514と、を有する。紫外光照射部55は、紫外光を、フレーム支持部119に支持された環状フレームRI2、RI3に固定されたシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射する。シート押圧機構56は、押圧部材561の先端部をフレーム支持部119に支持された環状フレームRI2、RI3に固定されたシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、押圧部材561の押圧方向と直交する方向へ移動させることにより、押圧部材561でシートTEを擦る。
ピックアップ機構2111は、複数のチップCPのうちの1つのチップCPを、シートTEにおける複数のチップCP側とは反対側から突き出すことにより1つのチップCPをシートTEから離脱した状態にする。ここで、ピックアップ機構2111は、チップCPの接合面CPf側とは反対側を保持して、チップCPを切り出す。ピックアップ機構2111は、ニードル2111aと、ニードル2111aを図16の矢印AR245に示すように鉛直方向へ移動させるニードル駆動部2111cと、を有する。カバー114は、複数のチップCPの鉛直上方を覆うように配置され、ピックアップ機構2111に対向する部分に孔114aが設けられている。ニードル2111aは、例えば4つ存在する。但し、ニードル111aの数は、3つであってもよいし、5つ以上であってもよい。ピックアップ機構2111は、シートTEにおける鉛直下方(-Z方向)からニードル2111aをシートTEに突き刺してチップCPを鉛直上方(+Z方向)へ持ち上げることによりチップCPを供給する。そして、シートTEに貼着された各チップCPは、ニードル2111aによりカバー114の孔114aを通じて1個ずつカバー114の上方へ突き出され、チップ搬送装置39に受け渡される。
次に、本実施の形態に係るチップ接合システムを用いたチップ接合方法について図17乃至図20を参照しながら説明する。なお、図17において、実施の形態1と同様の工程については、図9と同一の符号を付している。図17に示すように、基板実装面活性化工程(工程S11)、水洗浄工程(工程S12)が行われた後、基板WTがボンディング装置30へ搬送される(工程13)。そして、実施の形態1と同様に、工程S11乃至S13の工程と並行して、ダイシング工程(工程S21)、チップ接合面活性化工程(工程S22)、伸張工程(工程S23)、水洗浄工程(工程S24)が行われる。そして、チップ接合システムは、洗浄装置85から、水洗浄工程後の複数のチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2,RI3をチップ供給装置2010へ搬送する(工程S225)。
次に、チップ供給装置2010は、複数のチップCPそれぞれの中央部がシートTEに貼着され且つ複数のチップCPそれぞれの周部がシートTEから剥離した状態にするチップ周部剥離工程を行う(工程S226)。ここでは、図18Aに示すように、まず、フレーム水平駆動部2113が、フレーム支持部119を水平方向へ移動させることにより、紫外光照る射部55の鉛直上方にシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分が配置された状態にする。次に、紫外光照射部55が、紫外光UVLをシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射する。続いて、フレーム水平駆動部2113が、フレーム支持部119を水平方向へ移動させることにより、シート押圧機構56の鉛直上方にシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分が配置された状態にする。その後、図18Bに示すように、チップ周部剥離装置50のシート押圧機構56が、矢印AR211に示すように、押圧部材561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、鉛直方向と直交する方向へ押圧部材561を移動させることにより、押圧部材561でシートTEを擦る。これにより、チップCPの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態になる。そして、フレーム水平駆動部2113、紫外光照射部55およびシート押圧機構56が、前述の一連の動作を繰り返すことにより、シートTEに貼着された複数のチップCP全ての周部を中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態にする。
図16に戻って、続いて、チップ接合システムは、チップ接合工程を行う(工程S31)。ここでは、チップ接合システム1が、まず、フレーム水平駆動部2113が、フレーム支持部119を水平方向へ移動させることにより、図19Aに示すように、ピックアップ機構2111の鉛直上方にピックアップするチップCPが配置された状態にする。次に、矢印AR212に示すように、フレーム昇降駆動部2120がフレーム支持部119を鉛直上方へ移動させるとともに、矢印AR213に示すように、ピックアップ機構2111が、鉛直上方へ移動してニードル2111aの先端部をシートTEに当接させる。続いて、図19Bの矢印AR214に示すように、フレーム昇降駆動部2120が、フレーム支持部119を鉛直下方へ移動させることにより、環状フレームRI2、RI3を鉛直下方へ移動させる。これにより、チップCPの周部が、シートTEから離脱した状態となる。続いて、図20Aに示すように、ピックアップ機構2111は、更に鉛直上方へ移動することにより、ニードル2111aの先端部がシートTEを貫いてチップCPを鉛直上方へ突き出してシートTEから離脱した状態にする。その後、チップ搬送装置39は、アーム394をプレート391の内側に没入させた状態でチップ供給装置2010側に向けてから、図20Bに示すように、アーム394の先端部をプレート391の外側に突出させる。このとき、アーム394の先端部のチップ保持部393の2つの脚片292a(図7A参照)の間にピックアップ機構2111のニードル2111aが配置された状態となる。次に、ピックアップ機構2111が、鉛直下方に向かって待機位置まで移動すると、チップ保持部393にチップCPが移載される。
その後、チップ接合システムは、実施の形態1で説明したように、チップ搬送装置39によりチップ供給部2011から受け取ったチップCPをヘッド33HにチップCPを移載する移載位置まで搬送してチップCPをヘッド33Hの先端部に保持させる。次に、チップ接合システムは、チップCPと基板WTとの相対的な位置ずれを補正するアライメントを実行した後、ヘッド33Hを上昇させることにより、チップCPを基板WTに接合する。
ここで、本実施の形態に係るチップ供給装置2010の特徴について、比較例に係るチップ接合システムと比較しながら説明する。比較例に係るチップ接合装置は、図21Aに示すように、ニードル2111aと、ニードル駆動部2111cと、シートTEにおけるピックアップするチップCPの周囲を吸着するシート吸着部9111bと、を有するピックアップ機構9111を備える。比較例に係るピックアップ機構9111は、まず、シート吸着部9111bでシートTEを吸着保持した状態で、ニードル2111aの先端部をシートTEに当接させてからニードル2111aを鉛直上方へ押し出す。このとき、チップCPの端部が、矢印AR901に示すように、シートTEに沿うように変形する。このとき、チップCPの端部には、変形に伴ってシートTEに対して摺動する方向への力が作用する。そして、ピックアップ機構9111が、ニードル2111aを更に鉛直上方へ移動させたときに、チップCPの端部に作用する力がチップCPの端部とシートTEとの接着力を上回ると、図21Bの矢印AR902に示すようにチップCPの端部が鉛直上方へ勢いよく跳ね上がる。このとき、チップCPの端面に付着したパーティクルが周囲に飛散してしまう。
これに対して、本実施の形態に係るチップ供給装置2010では、チップCPの端部がシートTEから剥離した状態でチップCPを押し出すので、チップCPの端部の跳ね上がりを抑制することができる。
以上説明したように、本実施の形態に係るチップ接合システムによれば、チップ供給装置2010が、チップ周部剥離部57を備える。これにより、チップ周部剥離装置が不要となるので、その分、チップ接合システム全体の小型化を図ることができる。
(実施の形態3)
本実施の形態に係るチップ接合システムは、チップ供給装置が、複数のチップそれぞれの中央部がシートに貼着され且つ複数のチップそれぞれの周部が中央部に比べてシートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部を備える点で実施の形態1と相違する。つまり、本実施の形態に係るチップ接合システムでは、チップ供給装置が、実施の形態1で説明したチップ周部剥離装置が有する機能を備える点で実施の形態1と相違する。
本実施の形態に係るチップ接合システムは、チップ供給装置が、複数のチップそれぞれの中央部がシートに貼着され且つ複数のチップそれぞれの周部が中央部に比べてシートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部を備える点で実施の形態1と相違する。つまり、本実施の形態に係るチップ接合システムでは、チップ供給装置が、実施の形態1で説明したチップ周部剥離装置が有する機能を備える点で実施の形態1と相違する。
本実施の形態に係るチップ接合システムは、図1に示す実施の形態1に係るチップ接合システム1において、チップ周部剥離装置50を省略し、チップ供給装置10の代わりにチップ供給装置3010を備えるものである。チップ供給装置3010は、図22に示すようなチップ供給部3011を有する。なお、図22において、実施の形態1と同様の構成については図6と同一の符号を付している。チップ供給部3011は、フレーム支持部119と、フレーム支持部119を鉛直方向に沿って昇降させるフレーム昇降駆動部2120と、複数のチップCPの中から1つのチップCPをピックアップするピックアップ機構3111と、フレーム水平駆動部3113と、チップ周部剥離部57と、を有する。フレーム水平駆動部3113は、フレーム支持部119およびフレーム昇降駆動部2120を纏めてXY方向またはZ軸周りに回転する方向へ移動させることにより、チップ周部剥離部57の鉛直下方に位置するチップCPの位置を変化させる。
チップ周部剥離部57は、フレーム支持部119に支持されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI3の鉛直上方に配置されている。チップ周部剥離部57は、紫外光照射部55と、シート押圧機構56と、紫外光照射部55とシート押圧機構56とを纏めて支持する支持部3514と、を有する。紫外光照射部55は、紫外光を、フレーム支持部119に支持された環状フレームRI2、RI3に固定されたシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射する。シート押圧機構56は、押圧部材561の先端部をフレーム支持部119に支持された環状フレームRI2、RI3に固定されたシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、押圧部材561の押圧方向と直交する方向へ移動させることにより、押圧部材561でシートTEを擦る。パーティクル吸引部54は、チップ周部剥離部57がチップCPの周部を中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態にするときにチップCPで発生するパーティクルを吸引ノズル54aで吸引する。
ピックアップ機構3111は、チップCPを吸着保持するチャック部115aの向きを鉛直上方または鉛直下方に変更することが可能なコレット3115と、コレット昇降駆動部1161と、コレット水平駆動部1162と、コレット洗浄部117と、を有する。ピックアップ機構3111は、シートTEにおける鉛直下方(-Z方向)からコレット3115をチップCPに近づけてチップCPを吸着保持し。チップCPを鉛直下方(-Z方向)へ引っ張ることによりチップCPを取得する。そして、ピックアップ機構3111は、コレット3115の姿勢をそのチャック部115aが鉛直下方に向くように変更した後、コレット3115をチップ搬送装置39のチップ保持部393に近づける。そして、ピックアップ機構3111は、チップCPをチップ保持部393に当接させた状態でチップCPの吸着保持を解除することにより、チップCPをチップ搬送装置39へ受け渡す。また、ピックアップ機構3111は、コレット3115のチャック部115aによりチップCPを吸着保持する前に、コレット洗浄部117によりチャック部115aを洗浄する。ここで、ピックアップ機構3111は、1つのチップCPをピックアップする毎にコレット115を洗浄するものであってもよいし、或いは、予め設定された回数だけチップCPのピックアップを繰り返す毎にコレット115を洗浄するものであってもよい。
次に、本実施の形態に係るチップ接合システムを用いたチップ接合方法は、実施の形態2で説明したチップ接合方法と略同様であるため、図17および図23および図24を参照しながら説明する。図17に示すチップ周部剥離工程(工程S226)において、図23Aに示すように、まず、フレーム水平駆動部3113が、フレーム支持部119を水平方向へ移動させることにより、紫外光照る射部55の鉛直上方にシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分が配置された状態にする。次に、紫外光照射部55が、紫外光UVLをシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射する。続いて、フレーム水平駆動部3113が、フレーム支持部119を水平方向へ移動させることにより、シート押圧機構56の鉛直下方にシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分が配置された状態にする。その後、図23Bに示すように、チップ周部剥離装置50のシート押圧機構56が、矢印AR311に示すように、押圧部材561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、鉛直方向と直交する方向へ押圧部材561を移動させることにより、押圧部材561でシートTEを擦る。これにより、チップCPの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態になる。
図17に戻って、続いて、チップ接合システムは、チップ接合工程を行う(工程S31)。ここでは、チップ接合システム1が、まず、フレーム水平駆動部2113が、図24Aの矢印AR312に示すように、フレーム支持部119を水平方向へ移動させることにより、ピックアップ機構3111の鉛直上方にピックアップするチップCPが配置された状態にする。次に、矢印AR313に示すように、フレーム昇降駆動部2120がフレーム支持部119を鉛直下方へ移動させる。そして、矢印AR314に示すように、ピックアップ機構3111が、コレット3115を、そのチャック部115aが鉛直上方を向く姿勢にした状態で、鉛直上方へ移動させて1つのチップCPに当接させてから吸着保持させる。次に、図24Bの矢印AR315に示すように、フレーム昇降駆動部2120が、フレーム支持部119を鉛直上方へ移動させることにより、環状フレームRI2、RI3を鉛直上方へ移動させる。これにより、チップCPが、シートTEから離脱した状態となる。続いて、ピックアップ機構3111は、コレット3115を、そのチャック部115aが鉛直下方を向く姿勢にした後、鉛直下方へ移動させてチップ搬送装置39のチップ保持部393に当接させる。その後、ピックアップ機構3111は、コレット3115によるチップCPの吸着保持を解除することによりチップCPを搬送装置39のチップ保持部393に移載する。
その後、チップ接合システムは、実施の形態1で説明したように、チップ搬送装置39によりチップ供給部3011から受け取ったチップCPをヘッド33HにチップCPを移載する移載位置まで搬送してチップCPをヘッド33Hの先端部に保持させる。次に、チップ接合システムは、チップCPと基板WTとの相対的な位置ずれを補正するアライメントを実行した後、ヘッド33Hを上昇させることにより、チップCPを基板WTに接合する。
以上説明したように、本実施の形態に係るチップ接合システムによれば、実施の形態2と同様に、チップ供給装置3010が、チップ周部剥離部57を備える。これにより、チップ周部剥離装置が不要となるので、その分、チップ接合システム全体の小型化を図ることができる。
以上、本発明の各実施の形態について説明したが、本発明は前述の実施の形態に限定されるものではない。例えば、チップ周部剥離装置50が、ダイシング基板WDにおける複数のチップ形成領域それぞれの中央部がシートTEに貼着され且つ複数のチップ形成領域それぞれの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態にするものであってもよい。ここで、ダイシング基板WDは、チップCPの基となるチップ領域が複数形成された基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成される。また、ダイシング基板WDを形成する際のダイシング方法としては、ステルスダイシング法を採用するのが好ましい。このステルスダイシング法では、例えば図25Aに示すように、ダイシング基板WDを透過する波長のレーザ光を放射するレーザ加工ヘッド8041を、ダイシング基板WDとの間の距離をレーザ光の集光点がダイシング基板WDの内部となるように維持しながら、複数のチップ形成領域ACPの間に沿って移動させる。これにより、互いに隣接するチップ形成領域ACPの間の部分におけるダイシング基板WDの内部に改質部PASが形成される。そして、実施の形態1で説明した水洗浄工程、チップ周部剥離工程を行った後、接合工程を行う前に、伸張工程を行うことにより、ダイシング基板WDを複数のチップCPに分離するようにすればよい。ここで、チップ周部剥離工程では、チップ周部剥離装置50のフレーム支持部521が、ダイシング基板WDが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2,RI3を支持するようにすればよい。また、伸張工程では、例えば図25Bに示すように、シートTEが矢印AR81に示すように伸張されることにより、ダイシング基板WDが複数のチップCPに分離される。この場合、特に図25BのチップCPにおけるシートTE側とは反対側のエッジ部分P81が、シャープであり且つチッピングが殆ど無いものとなる。
なお、ダイシング基板WDを形成する際のダイシング方法としては、プラズマダイシング法を採用してもよい。このプラズマダイシング法では、ダイシング基板WDの複数のチップ形成領域ACPを覆うマスクをダイシング基板WD上に形成した後、ダイシング基板WDのマスク側をプラズマに曝露してエッチングすることにより、チップ形成領域ACPの間を削るようにすればよい。
ところで、ステルスダイシング法を採用した場合、図25Aに示すようにダイシング基板WDの隣り合うチップ形成領域の間の部分の内部にレーザ光による改質部PASが形成される。このため、ダイシング基板WDを複数のチップCPに分離した場合、図25Bに示すようにチップCPの側面に改質層PASが露出した状態となる。従って、ダイシング基板WDを複数のチップCPに分離する際にチップCPの端部が跳ね上がると、その勢いによりチップCPの側面に露出した改質層PASが崩れてパーティクルが発生してしまう虞がある。これに対して、本構成によれば、チップCPの端部の跳ね上がりを抑制することができるので、その分、パーティクルの発生を効果的に抑制できる。
実施の形態1において、チップ供給装置10が、フレーム支持部119が環状フレームRI2、RI3を支持した状態で、環状フレームRI2、RI3に固定されたシートTEにおけるチップCP側とは反対側から複数のチップCPの全てに紫外光を照射する紫外光照射部を備えるものであってもよい。この場合、チップ周部剥離装置50において、複数のチップCPそれぞれの周部がシートTEから剥離した状態にされた後、チップ供給装置10において、複数のチップCPの全てに紫外光が照射されることにより、複数のチップCP全てがシートTEから剥離し易い状態でシートTE上に載置された状態となる。
また、実施の形態2において、チップ供給装置2010が、紫外光照射部55の他に、フレーム支持部119が環状フレームRI2、RI3を支持した状態で、環状フレームRI2、RI3に固定されたシートTEにおけるチップCP側とは反対側から複数のチップCPの全てに紫外光を照射する紫外光照射部を備えるものであってもよい。或いは、チップ供給装置10が、マスク522を光源551の光路を遮る位置と光路を遮らない位置とのいずれかへ移動させるマスク移動機構を有するチップ周部剥離装置を有するものであってもよい。そして、チップ周部剥離装置は、マスク移動機構によりマスク522が光源551の光路を遮る位置へ移動されることで、チップCPの周部のみに紫外光を照射可能な状態となり、マスク移動機構によりマスク522が光源551の光路を遮らない位置へ移動されることで、複数のチップCP全てに紫外光を照射可能な状態になるものであってもよい。この場合、チップ供給装置2010において、複数のチップCPそれぞれの周部がシートTEから剥離した状態にされた後、複数のチップCPの全てに紫外光が照射されることにより、複数のチップCP全てがシートTEから完全に剥離した状態でシートTE上に載置された状態となる。
本構成によれば、複数のチップCP全てがシートTEから完全に剥離した状態でシートTE上に載置された状態となるので、チップCPをより円滑に供給することができる。なお、紫外光照射部55が、チップCPの端部にのみ紫外光を照射した後、チップCPの全面に紫外光を照射してチップCP全体に対応するシートTEの粘着力を低下させるようにしてもよい。
実施の形態1で説明したチップ接合システム1において、チップ周部剥離装置50を備えていない構成であってもよい。そして、チップ供給装置が、図26Aに示すようなピックアップ機構6111を有する。このピックアップ機構6111は、コレット115と、コレット昇降駆動部1161と、コレット水平駆動部1162と、コレット洗浄部117と、ニードル2111aと、ニードル駆動部2111cと、を有する。なお、図26Aにおいて、実施の形態1、2と同一の構成については図6および図16と同一の符号を付している。また、ピックアップ機構6111は、シートTEにおけるニードル2111aにより押し出されるチップCPの周囲を吸着するシート吸着部6111bを有する。ピックアップ機構6111は、図26Bに示すように、コレット115でチップCPを吸着保持した状態で、ニードル2111aで押し出すことによりチップCPを供給する。ところで、本変形例では、チップCPの接合面CPfがコレット115と接触するため、チップCPのピックアップを複数回繰り返すと接合面CPfにパーティクルが付着してしまう虞がある。これに対して、本変形例では、コレット115のチップCPとの接触面を洗浄することによりパーティクルの接合面CPfへの付着に対する対策をするというものである。
また、図26Aおよび図26Bに示す変形例において、ピックアップ機構が、ニードル2111aと、ニードル駆動部2111cと、シート吸着部6111bと、を有し、シート吸着部6111bがシートTEにおけるニードル2111aにより押し出されるチップCPの周囲を吸着した状態でニードル211aにより押し出し、チップ搬送装置39が、押し出されたチップCPを直接受け取って搬送する構成であってもよい。
実施の形態1、2において、チップ供給装置10、2010が、カバー114を備えていない構成であってもよい。
各実施の形態では、チップ周部剥離部57が、紫外光照射部55とシート押圧機構56とを有する例について説明したが、これに加えて、シートTEを加熱する加熱部を有するものであってもよい。
各実施の形態では、チップ周部剥離部57が、チップCPの両端部の片側ずつ順次押圧する例について説明したが、これに限らず、例えば、チップ周部剥離部が、少なくとも1つの押圧部材により、チップCPの両端部を同時に押圧するものであってもよい。例えば図27Aおよび図27Bに示すように、本変形例に係るチップ周部剥離部4057は、シートTEにおける1つのチップCPの両端部に対応する部分に同時に紫外光を照射する紫外光照射部4055と、シートTEにおける1つのチップCPの両端部に対応する部分に同時に押圧するシート押圧機構4056と、紫外光照射部4055とシート押圧機構4056とを纏めて支持する照射部押圧機構支持部4514と、を有する。紫外光照射部4055は、紫外光を放射する光源4551と、光源4551から放射される紫外光の一部を遮蔽するマスク4552と、を有し、光源4511から放射されマスク4552の複数の窓部4552aを透過した紫外光を、シートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射する。マスク4552は、光源4551から離間した状態でマスク支持部4515を介して照射部押圧機構支持部4514に固定されている。
シート押圧機構4056は、先端部がシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分を押圧する複数の押圧部材4561と、複数の押圧部材4561を鉛直方向および鉛直方向と直交する方向へ同期して駆動する押圧部材駆動部4562と、を有する。押圧部材駆動部4562は、複数の押圧部材4561を鉛直方向に沿ってシートTEに近づく方向へ移動させることにより、複数の押圧部材4561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に同時に押しつける。また、押圧部材駆動部4562は、複数の押圧部材4561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、鉛直方向と直交する方向へ複数の押圧部材4561をそれぞれ移動させることにより、複数の押圧部材4561でシートTEを擦る。
このチップ周部剥離部4057では、まず、図27Aに示すように、紫外光照射部4055が、紫外光UVLをシートTEにおけるチップCPの両端部に対応する部分それぞれに同時に照射する。次に、図27Bに示すように、シート押圧機構4056が、矢印AR452に示すように、複数の押圧部材4561をシートTEにおけるチップCPの両端部に対応する部分に同時に押しつけた状態で、鉛直方向と直交する方向へ複数の押圧部材4561を移動させることにより、複数の押圧部材4561でシートTEを擦る。
本構成によれば、チップ周部剥離工程における処理能力を向上させることができる。
実施の形態2では、ピックアップ機構2111が、ニードル2111aでチップCPを鉛直上方へ突き出す例について説明したが、これに限らず、例えば、ピックアップ機構2111に代えて、実施の形態3で説明したピックアップ機構3111のような、チップCPを鉛直上方から吸着保持するピックアップ機構を備えるものであってもよい。また、この場合、ピックアップ機構が、チップCPの接合面側の周部のみを吸着保持するものであってもよい。
実施の形態3において、ピックアップ機構3111が、シートTEにおけるチップCPが貼着された一面側とは反対側の他面側からチップCPの中央部を一面側へ押圧することによりシートTEを撓ませてチップCPの周部がシートから剥離した状態で、チップCPの接合面側の周部のみを吸着保持するものであってもよい。また、ピックアップ機構3111が、チップCPの接合面側とは反対側における周部を吸着保持するものであってもよい。
実施の形態2において、例えば図28に示すように、ピックアップ機構7111が、ニードル2111aとニードル駆動部2111bとに加えて、シートTEにおけるニードル2111aにより押し出されるチップCPの周囲を吸着するシート吸着部6111bを有するものであってもよい。
各実施の形態では、チップCPを供給するチップ供給装置10において、チップCPにおける基板WTに接合される接合面WTfを吸着保持するコレット115によりチップCPを吸着保持する直前に、コレット洗浄部117によりコレット115を洗浄する例について説明した。但し、これに限らず、チップ供給装置が、例えば図29Aに示すようなベルヌーイチャック5115aが設けられたコレット5115を有するピックアップ機構5111を備えるものであってもよい。なお、図29Aにおいて、実施の形態1と同様の構成については図5と同一の符号を付している。この場合、ピックアップ機構5111は、チップCPにおける基板WTに接合される接合面CPf側を非接触で保持する。
実施の形態1に係るピックアップ機構111では、図29Bに示すように、コレット115の吸着孔115bを有するチャック部115aがチップCPの接合面CPf側に接触した状態でチップCPを保持する。このため、チャック部115aの洗浄が必要となる、これに対して、本構成によれば、ピックアップ機構5111は、チップCPにおける基板WTに接合される接合面CPf側を非接触で保持するので、接合面CPfへのパーティクル付着を抑制することができる。
実施の形態1において、例えば図30に示すように、チップ接合システム9が、複数のチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレーム(以下、「シート固定フレーム」と称する。)RI2、RI3について、チップCPそれぞれの中央部がシートTEに貼着され且つチップCPそれぞれの周部における少なくとも中央部を挟んで対向する両端部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態にするチップ周部剥離装置50と、シート固定フレームRI2、RI3からピックアップしたチップCPを供給するチップ供給装置10と、チップ供給装置10から供給されるチップCPをヘッド33Hに移載する移載位置まで搬送するチップ搬送装置39と、バッファユニット9092と、を備えるものであってもよい。なお、図30において、実施の形態1と同様の構成については図1と同一の符号を付している。バッファユニット9092は、シート固定フレームRI2、RI3を複数枚蓄積することができる。また、チップ周部剥離装置50とバッファユニット9092との間には、シート固定フレームRI2、RI3が一時的に配置される待機ユニット9091が配設されている。また、チップ接合システム9は、フレーム搬送装置9093、9094を備える。待機ユニット9091は、チップ供給装置10のチップ供給部11またはバッファユニット9092へ搬送するシート固定フレームRI2、RI3が一時的に載置されるフレーム載置台9911を有する。
バッファユニット9092は、シート固定フレームRI2、RI3の収納が可能な複数のスロットを有するラック9921と、ラック9921をZ軸方向へ昇降移動させるラック昇降駆動部(図示せず)と、を有する。フレーム搬送装置9093は、チップ周部剥離装置50により中央部がシートTEに貼着され且つチップCPそれぞれの周部における少なくとも中央部を挟んで対向する両端部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態となった複数のチップCPが貼着されたシート固定フレームRI2、RI3を、チップ周部剥離装置50からバッファユニット9092または待機ユニット9091へ搬送する第1フレーム搬送装置である。フレーム搬送装置9093は、シート固定フレームRI2、RI3を保持するチャック部9933と、先端部にチャック部9933が固定されたアーム9932と、アーム9932をチップ周部剥離装置50、待機ユニット9091およびバッファユニット9092の並び方向、即ち、Y軸方向に沿って移動させるアーム駆動部9931と、を有する。
フレーム搬送装置9094は、待機ユニット9091に配置されたシート固定フレームRI2、RI3を、待機ユニット9091からチップ供給装置10のフレーム支持部119に受け渡す位置まで搬送する第2フレーム搬送装置である。フレーム搬送装置9094は、シート固定フレームRI2、RI3を保持するチャック部9943と、先端部にチャック部9943が固定されたアーム9942と、アーム9942を待機ユニット9091とチップ供給装置10のチップ供給部11との並びに方向、即ち、X軸方向に沿って移動させるアーム駆動部9941と、を有する。
搬送装置70の搬送ロボット71は、アーム71aでシート固定フレームRI2、RI3を保持した状態でアーム71aを回転させることによりシート固定フレームRI2、RI3の表裏を反転させる機能を有する。なお、本変形例において、チップ周部剥離装置50内またはチップ周部剥離装置50外に、シート固定フレームRI2、RI3の表裏を反転させる機能を有するフレーム反転装置(図示せず)を別途備えるものであってもよい。
次に、本変形例に係るチップ接合システム9の動作について、図31A乃至図37を用いて説明する。なお、図32A乃至図33Bにおいて、実施の形態1と同様の構成については図10A乃至図11Bと同じ符号を付している。まず、図31Aに示すように、搬送装置70の搬送ロボット71が、矢印AR91に示すように、アーム71aでシート固定フレームRI2、RI3を保持した状態でアーム71aを回転させることによりシート固定フレームRI2、RI3の表裏を反転させる。そして、搬送ロボット71は、アーム71aを伸張させることによりシート固定フレームRI2、RI2を保持するアーム71aの先端部を、チップ周部剥離装置50内へ挿入する。次に、搬送ロボット71は、図32Aの矢印AR101に示すように、アーム71aを回転させることにより、シート固定フレームRI2、RI3におけるシートTEのチップCPが貼着された面が鉛直下方を向く姿勢にする。そして、搬送ロボット71は、アーム71aの先端部に保持するシート固定フレームRI2、RI3をチップ周部剥離装置50の前述のフレーム支持部512に移載してから、図31Bの矢印AR92に示すようにアーム71aを収縮させる。これにより、シート固定フレームRI2、RI3が、チップ周部剥離装置50のフレーム支持部512に支持された状態となる。続いて、チップ周部剥離装置50が、実施の形態1で説明したチップ周部剥離工程を実行する。具体的には、まず、水平駆動部53が、フレーム支持部521を水平方向へ移動させることにより、図32Bに示すように、チップ周部剥離装置50の紫外光照射部55の鉛直下方にシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分が配置された状態にする。次に、紫外光照射部55が、紫外光UVLをシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射する。
続いて、水平駆動部53が、フレーム支持部521を水平方向へ移動させることにより、図33Aに示すように、チップ周部剥離装置50のシート押圧機構56の鉛直下方にシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分が配置された状態にする。その後、チップ周部剥離装置50のシート押圧機構56が、矢印AR52に示すように、押圧部材561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、鉛直方向と直交する方向へ押圧部材561を移動させることにより、押圧部材561でシートTEを擦る。これにより、複数のチップCPそれぞれの中央部がシートTEに貼着され且つ複数のチップCPそれぞれの周部がシートTEから剥離した状態になる。
次に、搬送ロボット71は、再びアーム71aを伸張させることによりシート固定フレームRI2、RI2を保持するアーム71aの先端部を、チップ周部剥離装置50内へ挿入する。続いて、搬送ロボット71は、図33Bに示すように、シート固定フレームRI2、RI3におけるチップCP側とは反対側からシート固定フレームRI2、RI3を保持した状態でアーム71aを回転させることにより、シート固定フレームRI2、RI3におけるシートTEのチップCPが貼着された面が鉛直上方を向く姿勢にする。そして、搬送ロボット71は、アーム71aの先端部に保持するシート固定フレームRI2、RI3をチップ周部剥離装置50の前述のフレーム支持部512に移載してから、矢印AR92に示すようにアーム71aを収縮させる。
その後、図34Aの矢印AR93に示すように、フレーム搬送装置9093が、チャック部9933によりシート固定フレームRI2、RI3を把持できる位置までアーム9932を移動させてから、チャック部9933によりシート固定フレームRI2、RI3を把持させる。次に、フレーム搬送装置9093は、図34Bの矢印AR94に示すように、アーム9932を更に-Y方向へ移動させることにより、シート固定フレームRI2、RI3を、バッファユニット9092のラック9921に収納させる。このシート固定フレームRI2、RI3を、バッファユニットへ搬送する一連の工程が第1フレーム搬送工程に相当する。
ここで、ラック9921は、例えば図35Aに示すように3つのスロットSLT1、SLT2、SLT3を有する。そして、バッファユニット9092は、例えばスロットSLT2の高さが待機ユニット9091のフレーム載置台9911と略同じ高さとなるように、ラック9921を配置する。この状態で、フレーム搬送装置9093は、矢印AR94に示すように、アーム9932を-Y方向へ移動させることにより、シート固定フレームRI2、RI3をラック9921のスロットSLT2内に収納させる。続いて、フレーム搬送装置9093は、アーム9932を+Y方向へ移動させることによりアーム9932をラック9921から離脱させる。その後、バッファユニット9092は、図35Bの矢印AR95に示すように、ラック9921を+Z方向へ移動させて、スロットSLT1の高さが待機ユニット9091のフレーム載置台9911と略同じ高さとなるようにラック9921を配置する。この状態で、フレーム搬送装置9093は、矢印AR96に示すように、アーム9932を-Y方向へ移動させることにより、シート固定フレームRI2、RI3をラック9921のスロットSLT3内に収納させる。このように、ラック9921のZ軸方向への移動と、アーム9932のY軸方向への往復移動と、が繰り返し実行されることで、ラック9921内に複数のシート固定フレームRI2、RI3が蓄積される。
また、フレーム搬送装置9093は、チャック部9933によりラック9921に収納されたシート固定フレームRI2、RI3を把持できる位置までアーム9932を移動させてから、チャック部9933にシート固定フレームRI2、RI3を把持させる。次に、フレーム搬送装置9093は、図36Aの矢印AR97に示すように、アーム9932+Y方向へ移動させることにより、シート固定フレームRI2、RI3をラック9921から引き出して待機ユニット9091のフレーム載置台9911上に配置する。続いて、フレーム搬送装置9093は、チャック部9933によるシート固定フレームRI2、RI3の把持状態を解除してから、図36Bの矢印AR98に示すように、アーム9932を更に+Y方向へ移動させてフレーム載置台9911から退避させる。その後、フレーム搬送装置9094は、矢印AR99に示すように、チャック部9943により待機ユニット9091内に配置されたシート固定フレームRI2、RI3を把持できる位置までアーム9942を+X方向へ移動させてから、チャック部9943にシート固定フレームRI2、RI3を把持させる。次に、フレーム搬送装置9094が、図37の矢印AR100に示すように、アーム9942-Y方向へ移動させることにより、シート固定フレームRI2、RI3を、チップ供給部11のフレーム支持部119へ受け渡す位置まで搬送する。その後、フレーム搬送装置9094が、チャック部9943によるシート固定フレームRI2、RI3の把持状態を解除することにより、シート固定フレームRI2、RI3をチップ供給部11のフレーム支持部119へ移載する。このシート固定フレームRI2、RI3を、バッファユニットからフレーム支持部119まで搬送する一連の工程が第2フレーム搬送工程に相当する。そして、チップ接合システム9は、実施の形態1で説明した、チップCPを基板WTの実装面WTfに接触させることにより基板WTに接合するチップ接合工程を行う。
なお、本変形例において、チップ周部剥離装置50が、シート固定フレームRI2、RI3の鉛直下方側から、紫外光UVLをシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に照射し、シート固定フレームRI2、RI3の鉛直下方側から、押圧部材561をシートTEにおけるチップCPの周部に対応する部分に押しつけた状態で、鉛直方向と直交する方向へ押圧部材561を移動させることにより、押圧部材561でシートTEを擦るものであってもよい。この場合、シート固定フレームRI2、RI3の表裏を反転させる必要がない。
また、本変形例において、チップ周部剥離工程を行う前段階の複数のシート固定フレームRI2、RI3が、バッファユニット9092に蓄積されるものであってもよい。この場合、チップ周部剥離装置50が、バッファユニット9092から搬送されてきたシート固定フレームRI2、RI3についてチップ周部剥離工程を行うようにすればよい。
結局、本変形例に係るチップ接合方法では、まず、実施の形態1で説明したダイシング基板WDを作製するダイシング工程と、ダイシング基板WDにおけるチップCPの接合面CPf側を活性化させるチップ接合面活性化処理工程と、チップCPの接合面CPf側が活性化されたダイシング基板WDが貼着されたシートTEを伸張することにより複数のチップCPが互いに離間した状態にして環状フレームRI2、RI3に固定する伸張工程と、複数のチップCPが互いに離間した状態で貼着されたシートが固定された環状フレームRI2、RI3について、複数のチップCPそれぞれの接合面CPfを水洗浄する洗浄工程と、を行う。次に、複数のチップが互いに離間した状態で貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI3について、チップCPそれぞれの中央部がシートTEに貼着され且つチップCPそれぞれの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態にするチップ周部剥離工程と、中央部がシートTEに貼着され且つチップCPそれぞれの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態となった複数のチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI3をバッファユニット9092へ搬送するフレーム搬送工程と、バッファユニット9092に蓄積された環状フレームRI2、RI3を、チップ供給装置10へ搬送するフレーム搬送工程と、を行う。その後、チップ周部剥離工程において中央部がシートTEに貼着され且つチップCPそれぞれの周部が中央部に比べてシートTEから剥離し易い状態となった複数のチップCPが貼着されたシートTEが固定された環状フレームRI2、RI3から周部を鉛直下方から支持してピックアップしてチップを切り出すチップ供給工程と、チップ供給工程において供給されるチップCPの接合面CPf側とは反対側を保持した状態で、先端部にチップCPの基板WTの実装面WTfに接合される接合面CPf側とは反対側を支持するヘッド33HにチップCPを移載する移載位置まで搬送するチップ搬送工程と、移載位置から移載されたチップCPがヘッド33Hの先端部に保持された状態で、ヘッド33Hをステージ31側へ移動させて基板WTの実装面WTfにチップCPの接合面CPfを接触させて実装面WTfにチップCPを接合する接合工程と、を行う。
このように、チップ接合面活性化工程、伸張工程、水洗浄工程、チップ周部剥離工程、チップ供給工程の順に行われることにより、チップ接合面活性化工程において、伸張工程前のチップCP同士が当接または繋がった状態で活性化処理を行うことができるので、シートTE由来の樹脂がチップCPの接合面CPfに付着することが抑制される。また、伸張工程の後、水洗浄工程が行われることにより、伸張工程においてチップCPから発生しチップCPの接合面CPfに付着したパーティクルを水洗浄により除去することができる。更に、チップ周部剥離工程を行うことで、チップCPの接合面CPfに接触すること無く、チップCPの接合面CPf側とは反対側を保持してチップCPをピックアップすることができる。このため、チップCPの接合面CPfに接触すること無くチップCPをヘッド33Hまで搬送することができるので、チップCPを基板WTに良好に接合することができる。また、活性化処理工程までは、ダイシング基板WDが貼着されたシートTEを環状フレームRI1に固定した状態で処理が行われる。一方、伸張工程以後は、複数のチップCPが互いに離間した状態で処理を行う必要がある。これに対して、本変形例では、伸張工程以後、シートTEが伸張された状態を維持するために、伸張されたシートTEを環状フレームRI2、RI3に固定し、シートTEが伸張された状態でハンドリングすることを可能としている。これにより、伸張工程以後の処理中において、シートTEが収縮してチップCP同士が接触しパーティクルが発生してしまうことが抑制される。
そして、このように伸張された状態のシートTEが環状フレームRI2、RI3に固定されていることにより、シートTEに貼着されたチップCPのピックアップ途中で、前述のシート固定フレームRI2、RI3をバッファユニット9092に戻したり、バッファユニット9092に蓄積されているシート固定フレームRI2、RI3と交換したりすることができる。これにより、複数種類のシート固定フレームRI2、RI3を交換しながらチップCPの基板WTへの接合工程を連続して行うことができるので、少量多品種のチップ実装基板の生産を効率的に行うことができる。
図30を用いて説明した変形例において、バッファユニット9092が省略された構成であってもよい。
実施の形態2において、例えば図38Aに示すように、ピックアップ機構2111より切り出された1つのチップCPを、チップ搬送装置39へ移載するチップ移載部10395を更に備えるものであってもよい。なお、図38A乃至図39において、実施の形態2と同様の構成については、図20Aおよび図20Bと同一の符号を付している。チップ移載部10395は、チップCPを鉛直下方から支持するフック10395cが先端部に設けられた2つのアーム10395aと、2つのアーム10395bそれぞれの基端部を支点として2つのアーム10395aを旋回駆動させるアーム駆動部10395bと、を有する。
本変形例に係るチップ接合システムでは、ニードル2111aの先端部がシートTEを貫いてチップCPを鉛直上方へ突き出してシートTEから離脱した状態で、矢印AR1001に示すようにチップ移載部10395のアーム駆動部10395bが、2つのアーム10395aが閉じる方向へ2つのアーム10395aを旋回させてアーム10395aの先端部のフック10395cをチップCPの鉛直下方側に引っ掛けてチップCPを保持する。次に、図38Bの矢印AR1002に示すように、チップ移載部10395が、鉛直上方へ移動することによりチップCPをニードル2111aの先端部から離脱させる。続いて、図39の矢印AR1003に示すように、チップ移載部10395が、チップCPを、チップ搬送装置39のアーム394の先端部のチップ保持部393に移載する移載位置まで移動してから、2つのアーム10395aを開くように旋回させてチップCPをチップ保持部393に移載する。
なお、本変形例では、アーム10395bの旋回軸がチップ搬送部39のチップ保持部393の延在方向と直交する例について説明したが、これに限らず、アーム10395bの旋回軸がチップ搬送部39のチップ保持部393の延在方向に沿っている構成であってもよい。
本構成によれば、シートTEとアーム394との間の鉛直方向における隙間が比較的小さい場合であってもチップCPを的確にシートTEからアーム394のチップ保持部393に移載することができる。
実施の形態において、ピックアップ機構111が、例えば図40に示すように、チップCPの接合面CPfの周縁のみに当接した状態でチップCPを吸着保持するコレット13115を有するものであってもよい。なお、例えば図41Aに示すチップCP11のように、ピックアップ機構111が、チップCP11の接合面CPf側の周部に段部CPk11が形成されている場合、ピックアップ機構111が、チップCP11の接合面CPf11側における段部CPk11の外側の角部分P111に当接した状態でチップCP11を吸着保持するコレット11115を有するものが好ましい。また、例えば図41Bに示すように、ピックアップ機構111が、チップCP11の接合面CPf11側における段部CPk11の下側部分CPd11に面接触した状態でチップCP11を吸着保持するコレット12115を有するものがより好ましい。
これらの構成によれば、チップCP、CP11の接合面CPf、CPf11にコレット11115、12115、13115が接触することを抑制できるので、チップCP、CP11の接合面CPf、CPf11の周縁部分の欠損による接合面CPf、CPf11へのパーティクルの付着を抑制することができる。
各実施の形態において、周部が比較的容易にシートTEから剥離するチップCPの場合、前述のチップ周部剥離工程を省略して、水洗浄工程の後、そのまま、チップ供給工程を行ってもよい。
実施の形態では、例えば同一の接合面CPf内に電極部分と絶縁部分とが形成されているチップCPの例について説明したが、これに限定されるものではなく、例えばチップCPの接合面CPf全体に電極部分または絶縁部分が形成されているものであってもよい。
実施の形態では、シートTEに紫外光を照射することによりシートTEの粘着力を低下させる例について説明したが、これに限定されるものではなく、例えばシートTEが、熱が加わることによりその粘着力が低下するものであれば、紫外光照射部55に代えて、遠赤外線をシートTEに照射する遠赤外線光源を有する遠赤外線照射部を備えるものであってもよい。
実施の形態において、基板WTが、その実装面WTfに導電性材料から形成された導電部と絶縁体から形成された絶縁体部とが互いに略面一となる状態で露出していてもよい。なお、導電部は、絶縁体部よりも突出していてもよい。また、チップCPの接合面CPf内の電極部分が、絶縁部分よりも突出していてもよい。
本発明は、本発明の広義の精神と範囲を逸脱することなく、様々な実施の形態及び変形が可能とされるものである。また、上述した実施の形態は、この発明を説明するためのものであり、本発明の範囲を限定するものではない。すなわち、本発明の範囲は、実施の形態ではなく、請求の範囲によって示される。そして、請求の範囲内及びそれと同等の発明の意義の範囲内で施される様々な変形が、この発明の範囲内とみなされる。
本出願は、2021年11月30日に出願された日本国特許出願特願2021-193779号に基づく。本明細書中に日本国特許出願特願2021-193779号の明細書、特許請求の範囲および図面全体を参照として取り込むものとする。
本発明は、例えばCMOSイメージセンサやメモリ、演算素子、MEMSの製造に好適である。
1:チップ接合システム、10,2010,3010:チップ供給装置、11,2011,3011:チップ供給部、30:ボンディング装置、31:ステージユニット、33:ボンディング部、33H:ヘッド、36:ヘッド駆動部、39:チップ搬送装置、50:チップ周部剥離装置、53:水平駆動部、54:パーティクル吸引部、54a:吸引ノズル、55,4055:紫外光照射部、56,4056:シート押圧機構、57,4057:チップ周部剥離部、60:活性化処理装置、64:チャンバ、3064a:孔、70:搬送装置、71:搬送ロボット、80:搬出入ユニット、85:洗浄装置、90:制御部、100:接合装置、111,2111,3111,4111,6111,7111:ピックアップ機構、113,2113,3113:フレーム水平駆動部、114,622:カバー、114a:孔、115,3115,5115:コレット、115a,9933,9943:チャック部、119,521,621:フレーム支持部、120,2120:フレーム昇降駆動部、315:ステージ、320,853:ステージ駆動部、391:プレート、392:プレート駆動部、393:チップ保持部、394:アーム、395,9931,9941,10395b:アーム駆動部、411:チップツール、411a,411b:貫通孔、413:ヘッド本体部、432a:チップ支持部、432b:支持部駆動部、514,4514:照射部押圧機構支持部、515,4515:マスク支持部、521a:フレーム係止部、522:係止部駆動部、523:ベース部材、531,533:スライダ、532,534:レール、551,4551:光源、552,4552:マスク、561,4561:押圧部材、562,4562:押圧部材駆動部、611:高周波電源、612:シート支持部、613:電極、614:マッチングユニット、615:プラズマ発生部、621:フレーム支持部、622:カバー、651:排気管、652:真空ポンプ、676:供給管、677:ガス供給部、851:洗浄ヘッド、852:ステージ、2111a:ニードル、2111c:ニードル駆動部、5115a:ベルヌーイチャック、6111b:シート吸着部、6121:シート支持部駆動部、8041:レーザ加工ヘッド、9091:待機ユニット、9092:バッファユニット、9093,9094:フレーム搬送装置、9911:フレーム載置台、9921:ラック、9931,9941:アーム駆動部、10395:チップ移載部、10395a:アーム、10395c:フック、ACP:チップ形成領域、CP:チップ、CPf:接合面、TE:シート、OB1:軌跡、P81:エッジ部分、PAS:改質部、PLM:プラズマ、RI1,RI2,RI3:環状フレーム、WD:ダイシング基板、WT:基板、WTf:実装面
Claims (48)
- 複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板または前記複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持するフレーム支持部と、
前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部と、を備える、
チップ周部剥離装置。 - 前記シートは、少なくとも紫外光が照射されると粘着力が低下する接着剤により前記ダイシング基板または前記複数のチップが貼着されるものであり、
前記チップ周部剥離部は、前記シートにおける前記複数のチップ形成領域の周部または前記複数のチップの周部に対応する部分に紫外光を照射することにより前記複数のチップ形成領域それぞれの周部または前記複数のチップそれぞれの周部を前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする紫外光照射部を有する、
請求項1に記載のチップ周部剥離装置。 - 前記チップ周部剥離部は、
先端部が前記シートにおける前記複数のチップ形成領域それぞれの周部または前記複数のチップそれぞれの周部に対応する部分を押圧する押圧部材と、
前記押圧部材を前記シートにおける前記複数のチップ形成領域それぞれの周部または前記複数のチップそれぞれの周部に対応する部分に押しつけることにより前記複数のチップ形成領域それぞれの周部または前記複数のチップそれぞれの周部を前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする押圧部材駆動部と、を有する、
請求項1または2に記載のチップ周部剥離装置。 - 前記押圧部材駆動部は、前記押圧部材を前記シートにおける前記複数のチップ形成領域それぞれの周部または前記複数のチップそれぞれの周部に対応する部分に押しつけた状態で、前記押圧部材の押圧方向と直交する方向へ前記押圧部材を移動させることにより、前記押圧部材で前記シートを擦って前記複数のチップ形成領域それぞれの周部または前記複数のチップそれぞれの周部を前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする、
請求項3に記載のチップ周部剥離装置。 - 前記フレーム支持部は、前記環状フレームを、前記シートにおける前記ダイシング基板または前記複数のチップが貼着された面側が鉛直下方を向く姿勢で支持する、
請求項1から4のいずれか1項に記載のチップ周部剥離装置。 - 前記チップ周部剥離部が前記複数のチップ形成領域それぞれの周部または前記複数のチップそれぞれの周部を前記シートから剥離した状態にするときに、前記シートの鉛直下方から前記ダイシング基板または前記複数のチップで発生するパーティクルを吸引するパーティクル吸引部を更に備える、
請求項1から5のいずれか1項に記載のチップ周部剥離装置。 - 前記ダイシング基板は、複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をステルスダイシング法によりダイシングすることにより形成されている、
請求項1から6のいずれか1項に記載のチップ周部剥離装置。 - 前記ダイシング基板は、複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をプラズマダイシング法によりダイシングすることにより形成されている、
請求項1から6のいずれか1項に記載のチップ周部剥離装置。 - 前記チップは、前記基板に接合される同一の接合面内に電極部分と絶縁部分とが形成されている、
請求項1から8のいずれか1項に記載のチップ周部剥離装置。 - 複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板または前記複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持するフレーム支持部と、前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部と、を有するチップ周部剥離装置と、
前記シートにおける前記チップが貼着された一面側とは反対側の他面側から前記チップの中央部を前記一面側へ押圧することにより前記シートを撓ませて前記チップの周部が前記シートから剥離した状態で、前記チップを前記シートから切り出すピックアップ機構を有するチップ供給装置と、を備える、
チップ供給システム。 - 前記ピックアップ機構より切り出された1つの前記チップを、前記チップの前記基板に接合される接合面側が鉛直上方を向く姿勢で前記チップを鉛直下方から支持するフックで保持された状態で、前記チップの前記接合面側とは反対側を保持した状態で前記チップを搬送するチップ搬送装置へ移載するチップ移載部を更に備え、
前記フックは、前記チップの前記接合面側とは反対側における周部を保持する、
請求項10に記載のチップ供給システム。 - 基板にチップを接合するチップ供給システムであって、
シートに貼着された前記チップの基となるチップ形成領域が複数設けられた前記基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより作製されたダイシング基板における前記チップの接合面側を活性化させる活性化処理装置と、
前記チップの接合面側が活性化された前記ダイシング基板が貼着された前記シートを伸張することにより複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された環状フレームについて、複数の前記チップそれぞれの接合面を水洗浄する洗浄装置と、
複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された前記環状フレームについて、前記チップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記シートから剥離した状態にするチップ周部剥離装置と、
前記チップ周部剥離装置により中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態となった複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームからピックアップした前記チップを供給するチップ供給装置と、を備える、
チップ供給システム。 - 基板に接合されるチップを供給するチップ供給装置であって、
複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板または前記複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持するフレーム支持部と、
前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部と、
前記シートにおける前記チップが貼着された一面側とは反対側の他面側から前記チップの中央部を前記一面側へ押圧することにより前記シートを撓ませて前記チップの周部が前記シートから剥離した状態で、前記チップを前記シートから切り出すピックアップ機構と、を備える、
チップ供給装置。 - 前記シートは、少なくとも紫外光が照射されると粘着力が低下する接着剤により前記チップが貼着されるものであり、
前記チップ周部剥離部は、前記シートにおける前記チップの周部に対応する部分に紫外光を照射することにより前記チップの周部を前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする紫外光照射部を有する、
請求項13に記載のチップ供給装置。 - 前記チップ周部剥離部は、
前記シートにおける前記チップの周部に対応する部分を押圧する押圧部材と、
前記押圧部材を前記シートにおける前記チップの周部に対応する部分に押しつけることにより前記チップの周部を前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする押圧部材駆動部と、を有する、
請求項13または14に記載のチップ供給装置。 - 前記押圧部材駆動部は、前記押圧部材を前記シートにおける前記チップの周部に対応する部分に押しつけた状態で、前記押圧部材の押圧方向と直交する方向へ前記押圧部材を移動させることにより、前記押圧部材で前記シートを擦って前記チップの周部を前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする、
請求項15に記載のチップ供給装置。 - 前記チップ周部剥離部が前記複数のチップそれぞれの周部を前記シートから剥離した状態にするときと、前記ピックアップ機構が前記複数のチップを前記シートから離脱させるときと、の少なくとも一方において、前記シートの鉛直下方から前記複数のチップで発生するパーティクルを吸引するパーティクル吸引部を更に備える、
請求項13から16のいずれか1項に記載のチップ供給装置。 - 前記ピックアップ機構は、前記チップにおける前記基板に接合される接合面側を非接触で保持してピックアップする、
請求項13から17のいずれか1項に記載のチップ供給装置。 - 前記ピックアップ機構は、前記シートにおける前記チップが貼着された一面側とは反対側の他面側から前記チップの中央部を前記一面側へ押圧することにより前記シートを撓ませて前記チップの周部が前記シートから剥離した状態で、前記チップの前記接合面側とは反対側における周部を保持する、
請求項18に記載のチップ供給装置。 - 前記ピックアップ機構は、前記チップにおける前記基板に接合される接合面を吸着保持するチャック部と、前記チャック部を洗浄する洗浄部と、を有し、前記チャック部により前記チップを吸着保持する前に、前記洗浄部により前記チャック部を洗浄する、
請求項13から18のいずれか1項に記載のチップ供給装置。 - 前記チップは、前記基板に接合される同一の接合面内に電極部分と絶縁部分とが形成されている、
請求項13から20のいずれか1項に記載のチップ供給装置。 - 前記ダイシング基板は、複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をステルスダイシング法によりダイシングすることにより形成されている、
請求項13から21のいずれか1項に記載のチップ供給装置。 - 前記ダイシング基板は、複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をプラズマダイシング法によりダイシングすることにより形成されている、
請求項13から21のいずれか1項に記載のチップ供給装置。 - 基板にチップを接合するチップ接合システムであって、
前記チップを供給するチップ供給部と、
先端部に前記チップの前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側を支持するヘッドと、
前記チップ供給部から供給される前記チップの前記接合面側とは反対側を保持した状態で前記ヘッドに前記チップを移載する移載位置まで搬送するチップ搬送装置と、
前記基板を保持する基板保持部と、
前記チップ搬送装置から移載された前記チップが前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記チップの接合面を接触させて前記実装面に前記チップを接合するヘッド駆動部と、を備え、
前記チップ供給部は、
前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持するフレーム支持部と、
前記チップの中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップの周部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離部と、
前記シートにおける前記複数のチップが貼着された一面側から前記複数のチップのうちのいずれか1つのチップを保持しながら前記シートを前記一面側とは反対側の他面側へ移動させることにより前記シートを撓ませて前記1つのチップの周部が前記シートから剥離した状態で、前記1つのチップを前記シートから切り出すピックアップ機構と、を有する、
チップ接合システム。 - 前記チップ搬送装置は、前記チップ供給部から供給される前記チップの前記基板に接合される接合面側を非接触で保持するチップ保持部を有し、前記チップ保持部が前記チップを保持した状態で前記ヘッドに前記チップを移載する移載位置まで搬送する、
請求項24に記載のチップ接合システム。 - 前記チップ保持部は、前記チップの前記接合面側とは反対側における周部を保持する、
請求項25に記載のチップ接合システム。 - 前記ピックアップ機構より切り出された1つの前記チップを、前記チップの前記基板に接合される接合面側が鉛直上方を向く姿勢で前記チップを鉛直下方から支持するフックで保持された状態で前記チップ搬送装置へ移載するチップ移載部を更に備える、
請求項24に記載のチップ接合システム。 - 前記チップは、同一の前記接合面内に電極部分と絶縁部分とが形成され、
前記ヘッド駆動部は、前記実装面に前記チップの接合面を面接触させて前記実装面に前記チップを面接合する、
請求項24から27のいずれか1項に記載のチップ接合システム。 - 基板にチップを接合するチップ接合システムであって、
複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームについて、前記チップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記シートから剥離した状態にするチップ周部剥離装置と、
前記チップ周部剥離装置により中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態となった複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームから、少なくとも1つの前記チップの周部を前記シートから剥離させてピックアップした前記チップを供給するチップ供給装置と、
先端部に前記チップの前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側を支持するヘッドと、
前記チップ供給装置から供給される前記チップの前記接合面側とは反対側を保持した状態で前記ヘッドに前記チップを移載する移載位置まで搬送するチップ搬送装置と、
前記基板を保持する基板保持部と、
前記チップ搬送装置から移載された前記チップが前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記チップの接合面を接触させて前記実装面に前記チップを接合するヘッド駆動部と、を備え、
前記チップ供給装置は、
前記シートにおける前記チップが貼着された一面側から前記チップを保持しながら前記シートを前記一面側とは反対側の他面側へ移動させることにより前記シートを撓ませて前記チップの周部が前記シートから剥離した状態で、前記チップを前記シートから切り出すピックアップ機構を有する、
チップ接合システム。 - 複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームを複数蓄積することが可能なバッファユニットと、
前記複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームが一時的に配置される待機ユニットと、
前記チップ周部剥離装置により中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記シートから剥離した状態となった複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームを、前記チップ周部剥離装置から前記バッファユニットまたは前記待機ユニットへ搬送する第1フレーム搬送装置と、
前記待機ユニットに配置された複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームを、前記待機ユニットから前記チップ供給装置へ搬送する第2フレーム搬送装置と、を更に備える、
請求項29に記載のチップ接合システム。 - 基板にチップを接合するチップ接合システムであって、
シートに貼着された前記チップの基となるチップ形成領域が複数設けられた前記基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより作製されたダイシング基板における前記チップの接合面側を活性化させる活性化処理装置と、
前記チップの接合面側が活性化された前記ダイシング基板が貼着された前記シートを伸張することにより複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された環状フレームについて、複数の前記チップそれぞれの接合面を水洗浄する洗浄装置と、
複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された前記環状フレームについて、前記チップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記シートから剥離した状態にするチップ周部剥離装置と、
前記チップ周部剥離装置により中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態となった複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームからピックアップした前記チップを供給するチップ供給装置と、
先端部に前記チップの前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側を支持するヘッドと、
前記チップ供給装置から供給される前記チップの前記接合面側とは反対側を保持した状態で前記ヘッドに前記チップを移載する移載位置まで搬送するチップ搬送装置と、
前記基板を保持する基板保持部と、
前記チップ搬送装置から移載された前記チップが前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板保持部へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記チップの接合面を接触させて前記実装面に前記チップを接合するヘッド駆動部と、を備える、
チップ接合システム。 - 基板に接合されるチップをピックアップするピックアップ装置であって、
前記チップにおける前記基板に接合される接合面を吸着保持するコレットと、
前記コレットを洗浄するコレット洗浄部と、を備え、
前記コレット洗浄部は、前記コレットにより前記チップを吸着保持する前に前記コレットを洗浄する、
ピックアップ装置。 - 複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることにより形成されたダイシング基板または前記複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持した状態で、前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする周部剥離工程を含む、
チップ周部剥離方法。 - 前記シートは、少なくとも紫外光が照射されると粘着力が低下する接着剤により前記チップが貼着されるものであり、
前記周部剥離工程において、前記シートにおける前記チップの周部に対応する部分に紫外光を照射することにより前記チップの周部を前記シートから剥離した状態にする、
請求項33に記載のチップ周部剥離方法。 - 前記周部剥離工程において、前記シートにおける前記チップの周部に対応する部分を押圧する押圧部材を前記シートにおける前記チップの周部に対応する部分に押しつけることにより前記チップの周部を前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする、
請求項33または34に記載のチップ周部剥離方法。 - 前記周部剥離工程において、前記押圧部材を前記シートにおける前記チップの周部に対応する部分に押しつけた状態で、前記押圧部材の押圧方向と直交する方向へ前記押圧部材を移動させることにより、前記押圧部材で前記シートを擦って前記チップの周部を前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする、
請求項35に記載のチップ周部剥離方法。 - シートに貼着されたチップの基となるチップ形成領域が複数設けられた基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることによりダイシング基板を作製するダイシング工程と、
前記ダイシング工程の後、前記ダイシング基板の接合面または前記ダイシング基板が貼着された前記シートを伸張させることにより生成される複数のチップそれぞれの接合面を洗浄する洗浄工程と、
前記洗浄工程の後、前記ダイシング基板における前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップ形成領域それぞれの中央部または前記複数のチップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする周部剥離工程と、を含む、
チップ周部剥離方法。 - 前記ダイシング基板は、複数のチップの基となる複数のチップ形成領域が形成された基板の前記複数のチップ形成領域の間の部分をステルスダイシング法によりダイシングすることにより形成されている、
請求項33から37のいずれか1項に記載のチップ周部剥離方法。 - 基板に接合されるチップを供給するチップ供給方法であって、
複数のチップが貼着されたシートが固定された環状フレームを支持した状態で、前記複数のチップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記複数のチップそれぞれの周部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にする周部剥離工程と、
前記シートにおける前記複数のチップが貼着された一面側から前記複数のチップのうちのいずれか1つのチップを保持しながら前記シートを前記一面側とは反対側の他面側へ移動させることにより前記シートを撓ませて前記1つのチップの周部が前記シートから剥離した状態で、前記1つのチップを前記シートから切り出すピックアップ工程と、を含む、
チップ供給方法。 - 前記ピックアップ工程において、前記チップにおける前記基板に接合される接合面側を非接触で保持してピックアップする、
請求項39に記載のチップ供給方法。 - 前記ピックアップ工程において、前記シートにおける前記チップが貼着された一面側とは反対側の他面側から前記チップの中央部を前記一面側へ押圧することにより前記シートを撓ませて前記チップの周部が前記シートから剥離した状態で、前記チップの前記接合面側とは反対側における周部を保持する、
請求項40に記載のチップ供給方法。 - 前記ピックアップ工程において、前記チップにおける前記基板に接合される接合面を吸着保持するコレットにより前記チップを吸着保持する前に、コレット洗浄部により前記コレットを洗浄する、
請求項39または40に記載のチップ供給方法。 - 基板に接合されるチップをピックアップするピックアップ方法であって、
前記チップにおける前記基板に接合される接合面を吸着保持する吸着保持工程と、
コレットにより前記チップを吸着保持する前に前記コレットを洗浄するコレット洗浄工程と、を含む、
ピックアップ方法。 - 基板にチップを接合するチップ接合方法であって、
複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームについて、前記チップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離工程と、
前記チップ周部剥離工程において中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態となった複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームから鉛直下方から支持してピックアップして前記チップを供給するチップ供給工程と、
前記チップ供給工程において供給される前記チップの前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側を保持した状態で、先端部に前記チップの前記接合面側とは反対側を支持するヘッドに前記チップを移載する移載位置まで搬送するチップ搬送工程と、
前記移載位置から移載された前記チップが前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記チップの前記接合面を接触させて前記実装面に前記チップを接合する接合工程と、を含む、
チップ接合方法。 - 中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態となった複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームを、複数の前記チップが貼着されたシートが固定された前記環状フレームを複数蓄積することが可能なバッファユニットへ搬送する第1フレーム搬送工程と、
前記バッファユニットに蓄積された前記環状フレームを、前記チップ供給工程において前記チップを切り出す位置へ搬送する第2フレーム搬送工程と、を更に含む、
請求項44に記載のチップ接合方法。 - 基板にチップを接合するチップ接合方法であって、
シートに貼着された前記チップの基となるチップ形成領域が複数設けられた前記基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることによりダイシング基板を作製するダイシング工程と、
前記ダイシング基板における前記チップの接合面側を活性化させる活性化処理工程と、
前記チップの接合面側が活性化された前記ダイシング基板が貼着された前記シートを伸張することにより複数の前記チップが互いに離間した状態にして環状フレームに固定する伸張工程と、
複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された前記環状フレームについて、複数の前記チップそれぞれの接合面を水洗浄する洗浄工程と、
複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された前記環状フレームについて、前記チップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離工程と、
前記チップ周部剥離工程において中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態となった複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームから鉛直下方から支持してピックアップして前記チップを供給するチップ供給工程と、
前記チップ供給工程において供給される前記チップの前記接合面側とは反対側を保持した状態で、先端部に前記チップの前記基板の実装面に接合される接合面側とは反対側を支持するヘッドに前記チップを移載する移載位置まで搬送するチップ搬送工程と、
前記移載位置から移載された前記チップが前記ヘッドの先端部に保持された状態で、前記ヘッドを前記ヘッドから前記基板へ向かう第1方向へ相対的に移動させて前記基板の前記実装面に前記チップの接合面を接触させて前記実装面に前記チップを接合する接合工程と、を含む、
チップ接合方法。 - 基板にチップを接合するチップ供給方法であって、
シートに貼着された前記チップの基となるチップ形成領域が複数設けられた前記基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることによりダイシング基板を作製するダイシング工程と、
前記ダイシング基板における前記チップの接合面側を活性化させる活性化処理工程と、
前記チップの接合面側が活性化された前記ダイシング基板が貼着された前記シートを伸張することにより複数の前記チップが互いに離間した状態にして環状フレームに固定する伸張工程と、
複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された前記環状フレームについて、複数の前記チップそれぞれの接合面を水洗浄する洗浄工程と、
複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された前記環状フレームについて、前記チップそれぞれの中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態にするチップ周部剥離工程と、
前記チップ周部剥離工程において中央部が前記シートに貼着され且つ前記チップそれぞれの周部における少なくとも前記中央部を挟んで対向する両端部が前記中央部に比べて前記シートから剥離し易い状態となった複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームから鉛直下方から支持してピックアップして前記チップを供給するチップ供給工程と、を含む、
チップ供給方法。 - 基板にチップを接合するチップ供給方法であって、
シートに貼着された前記チップの基となるチップ形成領域が複数設けられた前記基板の複数のチップ形成領域の間の部分をダイシングすることによりダイシング基板を作製するダイシング工程と、
前記ダイシング基板における前記チップの接合面側を活性化させる活性化処理工程と、
前記チップの接合面側が活性化された前記ダイシング基板が貼着された前記シートを伸張することにより複数の前記チップが互いに離間した状態にして環状フレームに固定する伸張工程と、
複数の前記チップが互いに離間した状態で貼着された前記シートが固定された前記環状フレームについて、複数の前記チップそれぞれの接合面を水洗浄する洗浄工程と、
前記洗浄工程後、複数の前記チップが貼着されたシートが固定された環状フレームから鉛直下方から支持してピックアップして前記チップを供給するチップ供給工程と、を含む、
チップ供給方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2023564980A JPWO2023100831A5 (ja) | 2022-11-29 | チップ周部剥離装置、チップ供給装置、チップ供給システム、チップ接合システム、ピックアップ装置、チップ周部剥離方法、チップ供給方法およびピックアップ方法 | |
CN202280078386.0A CN118318289A (zh) | 2021-11-30 | 2022-11-29 | 晶片周部剥离装置、晶片供应装置、晶片供应系统、晶片接合系统、捡拾装置、晶片周部剥离方法、晶片供应方法、晶片接合方法及捡拾方法 |
TW111145840A TW202341318A (zh) | 2021-11-30 | 2022-11-30 | 晶片周部剝離裝置、晶片供應裝置、晶片供應系統、晶片接合系統、撿拾裝置、晶片周部剝離方法、晶片供應方法、晶片接合方法及撿拾方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021193779 | 2021-11-30 | ||
JP2021-193779 | 2021-11-30 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2023100831A1 true WO2023100831A1 (ja) | 2023-06-08 |
Family
ID=86612265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2022/043849 WO2023100831A1 (ja) | 2021-11-30 | 2022-11-29 | チップ周部剥離装置、チップ供給装置、チップ供給システム、チップ接合システム、ピックアップ装置、チップ周部剥離方法、チップ供給方法、チップ接合方法およびピックアップ方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN118318289A (ja) |
TW (1) | TW202341318A (ja) |
WO (1) | WO2023100831A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2022
- 2022-11-29 WO PCT/JP2022/043849 patent/WO2023100831A1/ja active Application Filing
- 2022-11-29 CN CN202280078386.0A patent/CN118318289A/zh active Pending
- 2022-11-30 TW TW111145840A patent/TW202341318A/zh unknown
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2023100831A1 (ja) | 2023-06-08 |
TW202341318A (zh) | 2023-10-16 |
CN118318289A (zh) | 2024-07-09 |
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