WO2022186375A1 - 電圧測定システム - Google Patents

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WO2022186375A1
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reference signal
circuit
voltage measurement
oscillator
master
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文昭 小久江
尚久 羽谷
悟朗 森
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ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社
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    • Y02E60/10—Energy storage using batteries

Definitions

  • the present disclosure relates to voltage measurement systems.
  • a voltage measurement system used in a battery module system including battery modules is known (see, for example, Patent Document 1).
  • a battery module has a plurality of battery cells connected in series.
  • a voltage measurement system has a plurality of voltage measurement devices and a control device for controlling them. For example, one of the plurality of voltage measuring devices measures the current flowing through the battery module from the voltage value applied to the resistance element connected in series with the battery module, and each of the other voltage measuring devices measures the battery Cell voltage can be measured. Thereby, the voltage of each battery cell and the current flowing through each battery cell can be measured simultaneously.
  • the voltage and current of the battery module may fluctuate over time depending on the state of the load connected to the battery module. Therefore, if the timing of voltage measurement and current measurement is out of sync, the state of the battery module (state of charge, state of deterioration, etc.) cannot be grasped with high accuracy. Therefore, in a conventional voltage measurement system, the measurement timing of each voltage measurement device is determined based on the clock signal from the oscillator in each voltage measurement device, thereby aligning the measurement timing of each voltage measurement device.
  • the present disclosure is intended to solve such problems, and aims to provide a voltage measurement system that can control the measurement timing of the voltage measurement device with high precision.
  • one aspect of the voltage measurement system is a voltage measurement system that measures the voltage of a battery cell, comprising: a first master oscillator that generates a first master clock signal; a first reference signal generating circuit that generates a first reference signal based on one master clock signal; a first slave oscillator that generates the first clock signal; a first correction circuit for correcting the oscillation frequency of the first slave oscillator based on the first clock signal; a first voltage measurement circuit; and a first measurement control circuit for controlling the first voltage measurement circuit based on the first clock signal.
  • a first voltage measuring device having a normal mode for transmitting and receiving command signals between the first reference signal transmitting device and the first voltage measuring device; a correction mode in which the oscillation frequency of the first slave oscillator is synchronized with the oscillation frequency of the first master oscillator by transmitting the first reference signal from the first reference signal transmitting device to the first voltage measuring device and using the first reference signal; have.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of a voltage measurement system according to Embodiment 1.
  • FIG. FIG. 2 is a flow chart showing the flow of operations in the correction mode in the communication circuit according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a flow chart showing the operation flow in the correction mode in the voltage measuring device according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a schematic graph showing an example of the mode of each signal according to Embodiment 1.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a functional configuration of the correction circuit according to the first embodiment;
  • FIG. FIG. 6 is a diagram showing measurement timings before correction in the voltage measurement system according to the first embodiment.
  • FIG. 7 is a diagram showing corrected measurement timings in the voltage measurement system according to the first embodiment.
  • FIG. 8 is a block diagram showing the functional configuration of the voltage measurement system according to the second embodiment.
  • FIG. 9 is a block diagram showing the functional configuration of the voltage measurement system according to the third embodiment.
  • FIG. 10 is a block diagram showing the functional configuration of the voltage measurement system according to the fourth embodiment.
  • FIG. 11 is a block diagram showing the functional configuration of the voltage measurement system according to the fifth embodiment.
  • FIG. 12 is a block diagram showing the functional configuration of the voltage measurement system according to the sixth embodiment.
  • each figure is a schematic diagram and is not necessarily strictly illustrated. Therefore, the scales and the like are not always the same in each drawing.
  • symbol is attached
  • Embodiment 1 A voltage measurement system according to Embodiment 1 will be described.
  • FIG. 1 is a block diagram showing the functional configuration of a voltage measurement system 10 according to this embodiment. 1 also shows a battery cell 21 to be measured by the voltage measurement system 10, a resistance element 22, and a control device 20 that controls the voltage measurement system 10. FIG. 1
  • the control device 20 is a device that controls the voltage measurement system 10 . Controller 20 transmits command signals for controlling voltage measurement system 10 to voltage measurement system 10 . For example, controller 20 sends a command signal to voltage measurement system 10 to start measuring voltage.
  • the control device 20 can be implemented using, for example, an MCU (Micro-Controller Unit).
  • the voltage measurement system 10 is a system that measures the voltage of the battery cell 21 .
  • voltage measurement system 10 also measures the current flowing through battery cell 21 .
  • the voltage measurement system 10 measures the voltage across the resistance element 22 connected in series with the battery cell 21, and from the voltage and the resistance value of the resistance element 22, the current flowing through the resistance element 22, that is, , the current flowing through the battery cell 21 is measured.
  • voltage measurement system 10 includes communication device 30 and voltage measurement devices 40 and 50 . Communication device 30 and voltage measurement devices 40 and 50 transmit and receive command signals and the like using daisy communication paths. Further, transmission and reception of signals between the communication device 30 and the voltage measuring device 40 and between the voltage measuring device 40 and the voltage measuring device 50 may be performed by, for example, a transformer or the like. As a result, signals can be transmitted and received while maintaining insulation between devices.
  • voltage measurement system 10 includes two voltage measurement devices 40 and 50, but may include three or more voltage measurement devices according to the number of battery cells to be measured.
  • the voltage measurement system 10 has a normal mode and a correction mode.
  • the normal mode is a mode in which command signals are transmitted and received between the communication device 30 and the voltage measurement devices 40 and 50, which is an example of a first reference signal transmission device.
  • a reference signal is transmitted from the communication device 30 to the voltage measurement devices 40 and 50, and the communication device 30 has the oscillation frequencies of the slave oscillators 46 and 56 of the voltage measurement devices 40 and 50, respectively, using the reference signal. This is a mode for synchronizing with the oscillation frequency of the master oscillator 36 .
  • the communication device 30 is a device that communicates with the control device 20 and the voltage measurement devices 40 and 50 .
  • the communication device 30 is an example of a first reference signal transmission device that transmits a reference signal for correcting the oscillation frequencies of the slave oscillators 46 and 56 of the voltage measurement devices 40 and 50, respectively.
  • the communication device 30 has a communication circuit 34 , a master oscillator 36 , a reference signal generation circuit 33 , a mode control circuit 35 and a multiplexer 32 .
  • the communication circuit 34 is a circuit that transmits and receives command signals between the control device 20 and the voltage measurement devices 40 and 50 . For example, when receiving a command signal to start voltage measurement from the control device 20 , the communication circuit 34 transmits the command signal (or a signal corresponding to the command signal) to the voltage measurement devices 40 and 50 . Further, when the communication circuit 34 receives a command signal indicating switching to the normal mode or the correction mode from the control device 20, the communication circuit 34 transmits the command signal (or a signal corresponding to the command signal) to the voltage measurement devices 40 and 50. Send to Further, when the communication circuit 34 receives a command signal indicating switching to the correction mode, the communication circuit 34 transmits a signal instructing the reference signal generation circuit 33 to generate a reference signal.
  • the master oscillator 36 is an example of a first master oscillator that generates a master clock signal.
  • a master clock signal is an example of a first master clock signal used to generate a reference signal.
  • a master clock signal generated by the master oscillator 36 is transmitted to the reference signal generation circuit 33 and the communication circuit 34 .
  • the reference signal generation circuit 33 is an example of a first reference signal generation circuit that generates a reference signal based on the master clock signal in the correction mode.
  • the reference signal generation circuit 33 generates a reference signal according to the command signal received from the communication circuit 34 .
  • the reference signal is an example of a first reference signal generated based on the master clock signal.
  • the reference signal generating circuit 33 repeats ten times generating one pulse every ten clocks of the master clock signal. A pulse train generated in this way can be used as a reference signal. Thereby, a reference signal corresponding to a predetermined number of clocks included in the master clock signal can be generated.
  • the mode control circuit 35 is a circuit that controls the multiplexer 32 according to the mode.
  • the mode control circuit 35 is switched between normal mode and correction mode based on the command signal transmitted from the communication circuit 34 .
  • the mode control circuit 35 causes the multiplexer 32 to transmit the command signal in the normal mode, and causes the multiplexer 32 to transmit the reference signal in the correction mode.
  • the multiplexer 32 is a circuit that transmits and receives command signals and reference signals.
  • the multiplexer 32 switches signals to be transmitted and received based on the command signal from the mode control circuit 35 .
  • Multiplexer 32 transmits and receives command signals in normal mode, and transmits and receives reference signals in correction mode.
  • the voltage measurement device 40 is a device that measures voltage at timing based on the first clock signal generated by the slave oscillator 46 .
  • the voltage measuring device 40 functions as a current measuring device that measures the current flowing through the resistive element 22 and the battery cell 21 by measuring the voltage across the resistive element 22 .
  • the voltage measuring device 40 is an example of a first voltage measuring device that corrects the oscillation frequency of the slave oscillator 46 based on the reference signal received from the communication device 30 . In the normal mode, the voltage measuring device 40 shifts to the correction mode when receiving a command signal indicating the shift to the correction mode from the communication device 30 .
  • Voltage measurement device 40 has selection circuit 41 , multiplexer 42 , correction circuit 43 , communication circuit 44 , mode control circuit 45 , slave oscillator 46 , measurement control circuit 47 , and voltage measurement circuit 48 .
  • the selection circuit 41 is an example of a first selection circuit that transmits and receives command signals and reference signals.
  • the selection circuit 41 switches signals to be transmitted and received based on the command signal from the mode control circuit 45 .
  • the selection circuit 41 transmits and receives command signals to and from the communication device 30 in the normal mode, and receives and transmits the reference signal to the correction circuit 43 and the multiplexer 42 in the correction mode.
  • the multiplexer 42 is an example of a first multiplexer that transmits and receives command signals and reference signals.
  • the multiplexer 42 switches signals to be transmitted and received based on the command signal from the mode control circuit 45 .
  • Multiplexer 42 transmits and receives command signals in normal mode, and transmits and receives reference signals in correction mode. In correction mode, multiplexer 42 transmits the reference signal to other instruments in voltage measurement system 10 . In this embodiment, multiplexer 42 sends the reference signal to voltage measuring device 50 .
  • the correction circuit 43 is an example of a first correction circuit that corrects the oscillation frequency of the slave oscillator 46 based on the reference signal.
  • the correction circuit 43 receives the reference signal from the selection circuit 41 in the correction mode.
  • the reference signal is, for example, a signal indicating time corresponding to a predetermined number of master clock signal trains.
  • the correction circuit 43 corrects the oscillation frequency of the slave oscillator 46 so that the predetermined number of first clock signal trains are included within the time indicated by the reference signal. A correction method by the correction circuit 43 will be described later.
  • the communication circuit 44 is an example of a first communication circuit that transmits and receives command signals between the communication device 30 and the voltage measurement device 50 .
  • the communication circuit 44 receives a command signal to start voltage measurement from the communication device 30 via the selection circuit 41, the command signal (or the signal corresponding to the command signal).
  • the communication circuit 44 transmits the command signal (or a signal corresponding to the command signal) to the mode control circuit 45 and , to the voltage measuring device 50 .
  • the mode control circuit 45 is an example of a first mode control circuit that controls the multiplexer 42 and the selection circuit 41 depending on the mode.
  • the mode control circuit 45 also has a function of causing the correction circuit 43 to start correction.
  • the mode control circuit 45 is switched between normal mode and correction mode based on the command signal transmitted from the communication circuit 44 .
  • the mode control circuit 45 causes the multiplexer 42 and the selection circuit 41 to transmit the command signal in the normal mode, and causes the multiplexer 42 and the selection circuit 41 to transmit the reference signal in the correction mode.
  • the slave oscillator 46 is an example of a first slave oscillator that generates the first clock signal.
  • a first clock signal generated by slave oscillator 46 is sent to correction circuit 43 , communication circuit 44 , and measurement control circuit 47 .
  • the measurement control circuit 47 is an example of a first measurement control circuit that controls the voltage measurement circuit 48 based on the first clock signal.
  • the measurement control circuit 47 causes the voltage measurement circuit 48 to measure the voltage, for example, at intervals determined based on the first clock signal.
  • the voltage measurement circuit 48 is an example of a first voltage measurement circuit that measures the voltage between two terminals. In this embodiment, voltage measurement circuit 48 measures the voltage across resistive element 22 .
  • the voltage measurement circuit 48 includes, for example, an ADC (Analog-Digital Converter), converts an analog measurement value into a digital signal, and outputs the digital signal.
  • ADC Analog-Digital Converter
  • the voltage measuring device 50 is a device that measures voltage at timing based on the second clock signal generated by the slave oscillator 56 .
  • voltage measuring device 50 measures the voltage across battery cell 21 .
  • the voltage measuring device 50 is an example of a second voltage measuring device that corrects the oscillation frequency of the slave oscillator 56 based on the reference signal received from the communication device 30 via the voltage measuring device 40 .
  • the voltage measuring device 50 shifts to the correction mode when it receives a command signal (via the voltage measuring device 40) indicating the shift to the correction mode from the communication device 30 .
  • Voltage measuring device 50 has the same configuration as voltage measuring device 40 .
  • Voltage measurement device 50 has selection circuit 51 , multiplexer 52 , correction circuit 53 , communication circuit 54 , mode control circuit 55 , slave oscillator 56 , measurement control circuit 57 and voltage measurement circuit 58 .
  • the selection circuit 51 is an example of a second selection circuit that transmits and receives command signals and reference signals.
  • the selection circuit 51 switches signals to be transmitted and received based on the command signal from the mode control circuit 55 .
  • the selection circuit 51 transmits and receives command signals to and from the voltage measuring device 40 in the normal mode, and transmits and receives reference signals to and from the correction circuit 53 and the multiplexer 52 in the correction mode.
  • the multiplexer 52 is an example of a second multiplexer that transmits and receives command signals and reference signals.
  • the multiplexer 52 switches signals to be transmitted and received based on the command signal from the mode control circuit 55 .
  • Multiplexer 52 transmits and receives command signals in normal mode, and transmits and receives reference signals in correction mode.
  • the correction circuit 53 is an example of a second correction circuit that corrects the oscillation frequency of the slave oscillator 56 based on the reference signal.
  • the correction circuit 53 receives the reference signal from the selection circuit 51 in the correction mode.
  • the reference signal is, for example, a signal indicating time corresponding to a predetermined number of master clock signal trains.
  • the correction circuit 53 corrects the oscillation frequency of the slave oscillator 56 so that the predetermined number of second clock signal trains are included within the time indicated by the reference signal.
  • the communication circuit 54 is an example of a first communication circuit that transmits and receives command signals between the communication device 30 and the voltage measurement device 40 .
  • the communication circuit 54 receives a command signal to start voltage measurement from the voltage measurement device 40 via the selection circuit 51, the command signal (or a signal corresponding to the command signal) is sent to the measurement control circuit 57.
  • the communication circuit 54 receives a command signal indicating switching to the normal mode or the correction mode from the voltage measurement device 40
  • the communication circuit 54 transmits the command signal (or a signal corresponding to the command signal) to the mode control circuit 55 . Send.
  • the mode control circuit 55 is an example of a second mode control circuit that controls the multiplexer 52 and the selection circuit 51 depending on the mode.
  • the mode control circuit 55 also has a function of causing the correction circuit 53 to start correction.
  • the mode control circuit 55 is switched between normal mode and correction mode based on the command signal transmitted from the communication circuit 54 .
  • the mode control circuit 55 causes the multiplexer 52 and the selection circuit 51 to transmit the command signal in the normal mode, and causes the multiplexer 52 and the selection circuit 51 to transmit the reference signal in the correction mode.
  • the slave oscillator 56 is an example of a second slave oscillator that generates a second clock signal.
  • a second clock signal generated by the slave oscillator 56 is sent to the correction circuit 53 , the communication circuit 54 and the measurement control circuit 57 .
  • the measurement control circuit 57 is an example of a second measurement control circuit that controls the voltage measurement circuit 58 based on the second clock signal.
  • the measurement control circuit 57 causes the voltage measurement circuit 58 to measure the voltage, for example, at intervals determined based on the second clock signal.
  • the voltage measurement circuit 58 is an example of a second voltage measurement circuit that measures the voltage between two terminals. In this embodiment, voltage measurement circuit 58 measures the voltage across battery cell 21 .
  • the voltage measurement circuit 58 includes, for example, an ADC, converts an analog measurement value into a digital signal, and outputs the digital signal.
  • FIG. 2 is a flow chart showing the flow of operations in the correction mode in communication device 30 according to the present embodiment.
  • FIG. 3 is a flow chart showing the flow of operations in the correction mode in voltage measuring device 40 according to the present embodiment.
  • FIG. 4 is a schematic graph showing an example of the mode of each signal according to this embodiment. Graphs (a), (c), and (d) in FIG. 4 show output timings of the master clock signal, the first clock signal, and the second clock signal, respectively. Graph (b) in FIG. 4 shows the time waveform of the reference signal.
  • FIG. 1 the operation of the communication device 30 will be described with reference to FIGS. 2 and 4.
  • FIG. 1 the operation of the communication device 30 will be described with reference to FIGS. 2 and 4.
  • the communication device 30 transmits a correction command signal, which is a command signal indicating switching to the correction mode, to the voltage measurement device 40 (and voltage measurement device 50) (S10).
  • the communication device 30 determines whether or not ACK has been received from the voltage measurement device 40 and the voltage measurement device 50 (S12).
  • ACK is a signal that is transmitted when each of voltage measuring device 40 and voltage measuring device 50 receives a correction command signal.
  • step S12 If the communication device 30 does not receive ACK (No in S12), it repeats step S12.
  • the communication device 30 When the communication device 30 receives ACK (Yes in S12), it switches to the correction mode (S14). Specifically, when the communication circuit 34 receives the ACK, it transmits to the mode control circuit 35 a command signal instructing switching to the correction mode.
  • the communication device 30 generates a reference signal and transmits it to the voltage measuring device 40 (and the voltage measuring device 50) (S16).
  • the communication circuit 34 transmits a command signal for starting generation of the reference signal to the reference signal generation circuit 33 .
  • the reference signal generation circuit 33 generates a reference signal based on the master clock signal from the master oscillator 36 .
  • the master clock signal as shown in graph (a) of FIG. 4, is a signal that is constantly repeatedly output at a predetermined oscillation frequency.
  • the configuration of the reference signal is not particularly limited. In the present embodiment, the reference signal generation circuit 33 repeats generation of one pulse signal every time a predetermined number of clocks of the master clock signal is output for a predetermined number of times.
  • a pulse signal train as shown in the graph (b) of FIG. 4 generated in this manner may be used as the reference signal.
  • the reference signal includes 21 pulse signals generated every five times the master clock signal is output
  • the period from the first pulse signal to the last pulse signal of the reference signal is 100 Corresponds to the period during which one is output.
  • the communication device 30 determines whether or not a predetermined time has passed (S18). If the predetermined time has not passed (No in S18), the transmission of the reference signal is continued. In this embodiment, the transmission of the reference signal continues for a period of time corresponding to the time from the start to the end of transmission of the predetermined number of pulse signals generated by the reference signal generation circuit 33 .
  • the communication device 30 stops transmitting the reference signal (S20) and switches to the normal mode (S22). Specifically, the communication circuit 34 transmits to the mode control circuit 35 a command signal instructing switching to the normal mode. The communication circuit 34 also transmits a command signal to the reference signal generation circuit 33 to stop the reference signal generation.
  • FIG. 3 the operation of the voltage measuring device 40 will be explained using FIGS. 3 and 4.
  • FIG. 3 the operation of the voltage measuring device 40 will be explained using FIGS. 3 and 4.
  • the voltage measuring device 40 receives the correction command signal from the communication device 30 (S30). Specifically, the communication circuit 44 receives the correction command signal via the selection circuit 41 .
  • the voltage measuring device 40 transmits ACK to the communication device 30 (S32). Specifically, the communication circuit 44 transmits ACK to the communication device 30 via the selection circuit 41 .
  • the voltage measuring device 40 switches to the correction mode (S34). Specifically, after transmitting ACK, the communication circuit 44 transmits to the mode control circuit 45 a command signal instructing switching to the correction mode.
  • the voltage measuring device 40 determines whether or not the reference signal has been received (S36). When the voltage measuring device 40 does not receive the reference signal (No in S36), the step S36 is repeated.
  • FIG. 5 is a block diagram showing the functional configuration of the correction circuit 43 according to this embodiment. Note that FIG. 5 also shows the mode control circuit 45 and the slave oscillator 46 . As shown in FIG. 5 , the correction circuit 43 has a pulse counter 81 , an arithmetic circuit 82 and a memory circuit 83 .
  • the pulse counter 81 is a circuit that receives a reference signal and counts the number of pulse signals included in the reference signal. The pulse counter 81 outputs the counted number of pulse signals to the arithmetic circuit 82 .
  • the arithmetic circuit 82 is a circuit that calculates a corrected difference value based on information corresponding to the number of pulse signals included in the reference signal and the oscillation frequency of the slave oscillator 46 before correction. Arithmetic circuit 82 corrects the oscillation frequency of slave oscillator 46 by outputting a signal corresponding to the corrected difference value to slave oscillator 46 .
  • the storage circuit 83 is a circuit that stores information corresponding to the oscillation frequency of the slave oscillator 46 before correction.
  • the storage circuit 83 stores a so-called trimming value corresponding to the oscillation frequency of the slave oscillator 46 before correction.
  • the trimming value is a correction value used to set the pre-correction oscillation frequency of the slave oscillator 46 .
  • the signal from the mode control circuit 45 causes the pulse counter 81 to start counting pulse signals included in the reference signal.
  • the pulse counter 81 outputs the counted number of pulse signals to the arithmetic circuit 82 .
  • the voltage measuring device 40 calculates a corrected difference value (S40).
  • the arithmetic circuit 82 shown in FIG. 5 calculates the corrected difference value from the number of pulse signals included in the reference signal and information corresponding to the oscillation frequency of the slave oscillator 46 before correction.
  • the arithmetic circuit 82 obtains the period corresponding to the reference signal and the number of master clock signals output from the master oscillator 36 during that period.
  • the arithmetic circuit 82 may store in advance how many master clock signals the pulse signal included in the reference signal is generated. Accordingly, the arithmetic circuit 82 can obtain the number of master clock signals output from the master oscillator 36 within the period corresponding to the reference signal based on the number of pulse signals included in the reference signal.
  • Arithmetic circuit 82 further calculates the number of first clock signals output from slave oscillator 46 within a period corresponding to the reference signal based on information corresponding to the oscillation frequency of slave oscillator 46 before correction input from storage circuit 83. (see graph (c) in FIG. 4).
  • the arithmetic circuit 82 calculates a corrected difference value.
  • the voltage measuring device 40 determines whether there is a format error in the reference signal (S42). For example, if the reference signal is not a pulse signal train as shown in graph (b) of FIG. Determine that there is a format error in the reference signal.
  • the voltage measuring device 40 determines that the reference signal has a format error (Yes in S42), it discards the calculated correction difference value and does not perform correction (S46). On the other hand, when the voltage measuring device 40 determines that the reference signal has no format error (No in S42), it performs correction using the calculated correction difference value (S44).
  • the arithmetic circuit 82 shown in FIG. 5 corrects the oscillation frequency of the slave oscillator 46 by transmitting a signal corresponding to the corrected difference value to the slave oscillator 46 . For example, by adjusting the time constant of the circuit included in the slave oscillator 46, the oscillation frequency of the slave oscillator 46 can be corrected.
  • the time constant of the RC circuit can be adjusted.
  • the oscillation frequency of the slave oscillator 46 can be corrected.
  • the trimming value before correction is rewritten to a trimming value corresponding to the correction difference value used for correction.
  • the voltage measuring device 40 switches from the correction mode to the normal mode (S48). Specifically, the communication circuit 44 transmits to the mode control circuit 45 a command signal instructing switching to the normal mode.
  • the correction circuit 43 of the voltage measuring device 40 counts the number of pulse signals included in the reference signal, and corrects the oscillation frequency of the slave oscillator 46 based on the number.
  • the correction circuit 43 corrects the slave oscillator 46 based on the correction difference value calculated from the number of clocks of the master oscillator 36 corresponding to the number of pulse signals and the number of clocks of the slave oscillator 46 in the period corresponding to the reference signal. corrects the oscillation frequency of The oscillation frequency of the slave oscillator 56 of the voltage measuring device 50 can also be corrected in the same manner.
  • FIGS. 4, 6 and 7 are diagrams showing measurement timings before and after correction, respectively, in voltage measurement system 10 according to the present embodiment.
  • FIGS. 6 and 7 Graph (a) showing the current measurement timing shown in FIGS. 6 and 7 corresponds to the voltage measurement timing by the voltage measurement device 40, that is, the timing of measuring the current flowing through the battery cell 21.
  • FIG. Graph (b) showing the voltage measurement timing shown in FIGS. 6 and 7 corresponds to the timing of measuring the voltage of the battery cell 21 by the voltage measurement device 40 .
  • the position of the upward arrow shown in FIGS. 6 and 7 indicates the timing of measurement.
  • the voltage measuring device 40 measures the voltage at the period determined based on the first clock signal output by the slave oscillator 46
  • the voltage measuring device 50 measures the voltage at the slave oscillator 56
  • the voltage is measured at a period determined based on the second clock signal output by the . For example, the voltage is measured each time 1000 clocks of each of the first clock signal and the second clock signal are output.
  • the measurement timing of each voltage measuring device can be controlled with high precision. Also, in this case, as shown in FIG. 7, the current measurement cycle and the voltage measurement cycle can be matched. Therefore, the current measurement timing and the voltage measurement timing can be substantially matched. Therefore, the state of the battery cell can be grasped with high accuracy.
  • the daisy communication path is used to transmit and receive not only the command signal but also the reference signal. Therefore, it is necessary to provide a new communication path for transmitting and receiving the reference signal. do not have.
  • each voltage measuring device can be corrected simultaneously in parallel with one command output from the communication device 30, so correction can be performed easily and quickly.
  • the voltage measurement system 10 according to the present embodiment has a normal mode and a correction mode, and transmits and receives a command signal or a reference signal according to each mode, collision of these signals can be avoided. can.
  • Embodiment 2 A voltage measurement system according to Embodiment 2 will be described.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment is the voltage measurement system according to Embodiment 1 in that the voltage measurement device has a high-precision oscillator, and the oscillation frequency of the master oscillator is corrected in accordance with the high-precision oscillator. 10 different.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment will be described below, focusing on differences from the voltage measurement system 10 according to the first embodiment.
  • FIG. 8 is a block diagram showing the functional configuration of voltage measurement system 110 according to this embodiment. 8 also shows the battery cell 21 to be measured by the voltage measurement system 110, the resistance element 22, and the control device 20 that controls the voltage measurement system 110.
  • FIG. 8 is a block diagram showing the functional configuration of voltage measurement system 110 according to this embodiment. 8 also shows the battery cell 21 to be measured by the voltage measurement system 110, the resistance element 22, and the control device 20 that controls the voltage measurement system 110.
  • voltage measurement system 110 includes communication device 130 and voltage measurement devices 140 and 50 .
  • Voltage measuring apparatus 140 includes selection circuit 41, multiplexer 42, reference signal correction circuit 143, communication circuit 44, mode control circuit 45, high-precision oscillator 146, and measurement control circuit 47. , and a voltage measurement circuit 48 .
  • the high-precision oscillator 146 is an oscillator that generates a high-precision clock signal with higher accuracy than the master oscillator 36.
  • a high-precision clock signal generated by the high-precision oscillator 146 is transmitted to the reference signal correction circuit 143 , the communication circuit 44 and the measurement control circuit 47 .
  • the high-precision oscillator 146 does not have to be included in the components of the voltage measuring device 140 .
  • precision oscillator 146 may transmit a clock signal to voltage measuring device 140 from outside of voltage measuring device 140 .
  • the reference signal correction circuit 143 is a circuit that calculates a correction difference value for correcting the reference signal.
  • the reference signal correction circuit 143 calculates a correction difference value between the high precision clock signal and the master clock signal, like the correction circuit 43 according to the first embodiment.
  • the reference signal correction circuit 143 transmits the calculated correction difference value to the communication device 130 via the communication circuit 34 and the selection circuit 41 .
  • the communication device 130 has a communication circuit 34, a master oscillator 36, a reference signal generation circuit 33, a mode control circuit 35, a multiplexer 32, and a master correction circuit 139.
  • the master correction circuit 139 is a circuit that corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36 based on the high-precision clock signal. By outputting a signal corresponding to the corrected difference value calculated by the reference signal correction circuit 143 of the voltage measuring device 140 to the master oscillator 36, the oscillation frequency of the master oscillator 36 is corrected.
  • the correction of the oscillation frequency of the master oscillator 36 can be performed in the same manner as the correction of the oscillation frequency of the slave oscillator 46 according to the first embodiment.
  • the master oscillator 36 is corrected. Specifically, similarly to the correction method according to Embodiment 1, the communication device 130 switches to the correction mode and transmits the reference signal.
  • the reference signal correction circuit 143 of the voltage measuring device 140 calculates a correction difference value and transmits it to the communication circuit 44 in the same manner as the correction method according to the first embodiment.
  • the communication circuit 44 of the voltage measuring device 140 transmits a signal corresponding to the corrected difference value to the communication device 130 via the selection circuit 41 .
  • the communication circuit 34 of the communication device 130 receives the signal corresponding to the correction difference value via the multiplexer 32 and transmits it to the master correction circuit 139 .
  • the master correction circuit 139 corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36 by outputting a signal corresponding to the corrected difference value to the master oscillator 36 .
  • the oscillation frequency of the master oscillator 36 can be corrected to match the high-precision oscillator 146.
  • the oscillation frequency of the slave oscillator 56 is corrected in the same manner as in the first embodiment.
  • Embodiment 3 A voltage measurement system according to Embodiment 3 will be described.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment differs from voltage measurement system 10 according to Embodiment 1 mainly in that two communication devices are provided.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment will be described below, focusing on differences from the voltage measurement system 10 according to the first embodiment.
  • FIG. 9 is a block diagram showing the functional configuration of voltage measurement system 210 according to this embodiment. 9 also shows the battery cell 21 to be measured by the voltage measurement system 210, the resistance element 22, and the control device 220 that controls the voltage measurement system 210. FIG. 9
  • the voltage measurement system 210 includes communication devices 230, 230a and voltage measurement devices 40, 50.
  • signals are transmitted and received between control device 220, communication device 230, and voltage measurement device 40 using a daisy communication path. Signals are transmitted and received to and from the measuring device 50 using the daisy communication path.
  • the control device 220 has a communication circuit 221 and a control oscillator 222 .
  • the communication circuit 221 is a circuit that transmits and receives command signals to and from the communication devices 230 and 230a.
  • the control oscillator 222 is an oscillator that generates a control clock signal.
  • the communication device 230 is an example of a first reference signal transmission device that receives a control clock signal, which is an externally input clock signal, and transmits a reference signal.
  • the communication device 230 has a communication circuit 34 , a master oscillator 36 , a reference signal generation circuit 33 , a mode control circuit 35 , a multiplexer 32 and a master correction circuit 239 .
  • the master correction circuit 239 is an example of a first master correction circuit that corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36 based on the control clock signal.
  • a control clock signal is input to the master correction circuit 239 .
  • the master correction circuit 239 counts the number of control clock signals within a predetermined period of time, calculates a correction difference value from this number and the number of master clock signals of the master oscillator 36 within a predetermined period of time, and performs the correction.
  • the oscillation frequency of master oscillator 36 may be corrected based on the difference value.
  • the communication device 230a is an example of a second reference signal transmission device that receives a control clock signal, which is a clock signal input from the outside, and transmits a reference signal. Communication device 230 a transmits and receives command signals to and from voltage measurement device 50 , and transmits reference signals to voltage measurement device 50 .
  • the communication device 230a has a communication circuit 34a, a master oscillator 36a, a reference signal generation circuit 33a, a mode control circuit 35a, a multiplexer 32a, and a master correction circuit 239a.
  • the communication circuit 34a, the master oscillator 36a, the reference signal generation circuit 33a, the mode control circuit 35a, the multiplexer 32a, and the master correction circuit 239a are the communication circuit 34, the master oscillator 36, the reference signal generation circuit 33, and the mode control circuit 35, respectively. , multiplexer 32 , and master correction circuit 239 .
  • the master oscillator 36a is an example of a second master oscillator that generates a master clock signal.
  • the master clock signal generated by the master oscillator 36a is an example of a second master clock signal.
  • the reference signal generation circuit 33a is an example of a second reference signal generation circuit that generates a reference signal based on the master clock signal generated by the master oscillator 36a.
  • the reference signal generated by the reference signal generation circuit 33a is an example of a second reference signal generated based on the master clock signal generated by the master oscillator 36a.
  • the master correction circuit 239a is an example of a second master correction circuit that corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36a based on the control clock signal.
  • the master oscillators 36 and 36a are corrected. Specifically, the communication devices 230 and 230a switch to the correction mode based on the command signal from the control device 220 .
  • the master correction circuit 239 calculates the correction difference value based on the control clock signal input from the control device 220 by the method described above.
  • the master correction circuit 239a similarly calculates the correction difference value.
  • the master correction circuit 239 corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36 by inputting a signal corresponding to the corrected difference value to the master oscillator 36 .
  • the master correction circuit 239a similarly corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36a.
  • the oscillation frequencies of the master oscillators 36 and 36a can be corrected based on the control clock signal.
  • Embodiment 4 A voltage measurement system according to Embodiment 4 will be described.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment mainly uses the reference signal transmitted from one of the two communication devices to correct the oscillation frequency of the master oscillator of the other communication device. is different from the voltage measurement system 210 according to the third embodiment.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment will be described below, focusing on differences from the voltage measurement system 210 according to the third embodiment.
  • FIG. 10 is a block diagram showing the functional configuration of voltage measurement system 310 according to this embodiment. Note that FIG. 10 also shows the battery cell 21 to be measured by the voltage measurement system 310 , the resistance element 22 , and the control device 20 that controls the voltage measurement system 310 .
  • the voltage measurement system 310 includes communication devices 330, 330a and voltage measurement devices 40, 50.
  • signals are transmitted and received between the control device 20, the communication device 330, and the voltage measurement device 40 using the daisy communication path.
  • Signals are transmitted and received to and from the measuring device 50 using the daisy communication path.
  • the communication device 330 is an example of a first reference signal transmission device that transmits a reference signal.
  • the communication device 330 has a communication circuit 34 , a master oscillator 36 , a reference signal generation circuit 33 , a mode control circuit 35 and a multiplexer 32 .
  • the communication device 330 according to the present embodiment differs from the communication device 30 according to the first embodiment in that the reference signal is transmitted not only to the voltage measurement device 40 but also to the communication device 330a. do.
  • the communication device 330a is an example of a second reference signal transmission device that transmits a reference signal.
  • the communication device 330a has a communication circuit 34a, a master oscillator 36a, a reference signal generation circuit 33a, a mode control circuit 35a, a multiplexer 32a, and a master correction circuit 339a.
  • the master correction circuit 339a is an example of a second master correction circuit that corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36a based on the master clock signal generated by the master oscillator 36 of the communication device 330.
  • Master correction circuit 339 a receives the reference signal from communication device 330 .
  • the master correction circuit 339a has the same configuration as the correction circuit 43 according to Embodiment 1, and corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36a based on the reference signal.
  • the master oscillator 36a is corrected. Specifically, the communication devices 330 and 330a switch to the correction mode based on the command signal from the control device 20 .
  • the communication device 330 transmits a reference signal generated in the same manner as the reference signal according to the first embodiment to the master correction circuit 339a of the communication device 330a.
  • the master correction circuit 339a calculates a correction difference value based on the received reference signal.
  • the master correction circuit 339a corrects the oscillation frequency of the master oscillator 36a by inputting a signal corresponding to the corrected difference value to the master oscillator 36a.
  • the oscillation frequency of the master oscillator 36a of the communication device 330a can be corrected based on the master clock signal of the master oscillator 36 of the communication device 330a.
  • Embodiment 5 A voltage measurement system according to Embodiment 5 will be described.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment is different from voltage measurement system 10 according to Embodiment 1 mainly in that the voltage measurement device generates the reference signal.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment will be described below, focusing on differences from the voltage measurement system 10 according to the first embodiment.
  • FIG. 11 is a block diagram showing the functional configuration of voltage measurement system 410 according to this embodiment. Note that FIG. 11 also shows the battery cell 21 to be measured by the voltage measurement system 410 , the resistance element 22 , and the control device 20 that controls the voltage measurement system 410 .
  • the voltage measurement system 410 includes voltage measurement devices 440 and 50 .
  • signals are transmitted and received between control device 20, voltage measurement device 440, and voltage measurement device 50 using a daisy communication path.
  • the voltage measuring device 440 is an example of a first reference signal transmitting device that transmits a reference signal.
  • Voltage measurement device 440 has multiplexer 42 , reference signal generation circuit 443 , communication circuit 444 , mode control circuit 45 , master oscillator 446 , measurement control circuit 447 , and voltage measurement circuit 48 .
  • the communication circuit 444 is a circuit that transmits and receives command signals between the control device 20 and the voltage measurement device 50 . For example, when the communication circuit 444 receives a command signal instructing the start of voltage measurement from the control device 20, the command signal (or a signal corresponding to the command signal) is transmitted to the measurement control circuit 447 and the voltage measurement device 50. do. Further, when the communication circuit 444 receives a command signal indicating switching to the normal mode or the correction mode from the control device 20, the communication circuit 444 transmits the command signal (or a signal corresponding to the command signal) to the voltage measurement device 50. do. Further, when receiving a command signal indicating switching to the correction mode, the communication circuit 444 transmits a signal instructing the reference signal generation circuit 443 to generate a reference signal.
  • the master oscillator 446 is an example of a first master oscillator that generates a master clock signal.
  • a master clock signal is an example of a first master clock signal used to generate a reference signal.
  • a master clock signal generated by the master oscillator 446 is transmitted to the reference signal generation circuit 443 , communication circuit 444 and measurement control circuit 447 .
  • the reference signal generation circuit 443 is an example of a first reference signal generation circuit that generates a reference signal based on the master clock signal in the correction mode.
  • the reference signal generation circuit 443 generates a reference signal based on the command signal received from the communication circuit 444 .
  • the reference signal is an example of a first reference signal generated based on the master clock signal.
  • the measurement control circuit 447 is a circuit that controls the voltage measurement circuit 48 based on the master clock signal.
  • the measurement control circuit 447 has the same configuration as the measurement control circuit 47 according to the first embodiment.
  • Voltage measuring device 50 is an example of a first voltage measuring device that corrects the oscillation frequency of slave oscillator 56 based on the reference signal received from voltage measuring device 440 .
  • the voltage measuring device 440 switches to the correction mode based on the command signal from the control device 20.
  • the reference signal generation circuit 443 of the voltage measurement device 440 generates a reference signal and transmits it to the voltage measurement device 50 .
  • voltage measuring device 50 corrects the oscillation frequency of slave oscillator 56 based on the reference signal, like voltage measuring device 50 according to the first embodiment.
  • Embodiment 6 A voltage measurement system according to Embodiment 6 will be described.
  • the voltage measurement system according to the present embodiment mainly uses the first clock signal generated by the corrected slave oscillator to correct the oscillator slower than the slave oscillator, and is different from the voltage measurement system according to the first embodiment. Differs from system 10 .
  • the voltage measurement system according to the present embodiment will be described below, focusing on differences from the voltage measurement system 10 according to the first embodiment.
  • FIG. 12 is a block diagram showing the functional configuration of voltage measurement system 510 according to this embodiment. Note that FIG. 12 also shows the battery cell 21 to be measured by the voltage measurement system 510 , the resistance element 22 , and the control device 20 that controls the voltage measurement system 510 .
  • voltage measurement system 510 includes communication device 30 and voltage measurement devices 540 and 550 .
  • the voltage measurement device 540 includes a selection circuit 41, a multiplexer 42, a correction circuit 43, a communication circuit 544, a mode control circuit 45, a slave oscillator 46, a measurement control circuit 47, a voltage measurement circuit 48, and a low speed correction circuit. It has a circuit 549 and a slow oscillator 546 .
  • the low-speed oscillator 546 is an example of a first low-speed oscillator that generates a low-speed clock signal and has an oscillation frequency lower than that of the slave oscillator 46.
  • a slow oscillator 546 may be used to control the timing of any operations in voltage measuring device 540 .
  • the slow oscillator 546 may be used, for example, to control the timing of balancing between multiple battery cells.
  • the low-speed correction circuit 549 is an example of a first low-speed correction circuit that corrects the oscillation frequency of the low-speed oscillator 546 based on the first clock signal from the slave oscillator 46.
  • the low speed correction circuit 549 corrects the oscillation frequency of the low speed oscillator 546 in the correction mode, for example.
  • the low-speed correction circuit 549 adjusts the number of clocks of the first clock signal output from the slave oscillator 46 within a period corresponding to one pulse of the low-speed clock signal output from the low-speed oscillator 546 to a predetermined number.
  • the oscillation frequency of the low-speed oscillator 546 may be corrected so that
  • the low-speed correction circuit 549 may correct the oscillation frequency of the low-speed oscillator 546 based on the first clock signal from the slave oscillator 46 corrected based on the reference signal.
  • the communication circuit 544 transmits the command signal (or the signal corresponding to the command signal) to the low speed correction circuit 549 when receiving the command signal instructing the correction of the low speed oscillator 546. 1, but identical in other respects.
  • the voltage measurement device 550 includes a selection circuit 51, a multiplexer 52, a correction circuit 53, a communication circuit 554, a mode control circuit 55, a slave oscillator 56, a measurement control circuit 57, a voltage measurement circuit 58, and a low speed correction circuit. It has a circuit 559 and a slow oscillator 556 .
  • the communication circuit 554, the low speed correction circuit 559, and the low speed oscillator 556 have the same configurations as the communication circuit 544, the low speed correction circuit 549, and the low speed oscillator 546 of the voltage measuring device 540, respectively.
  • the low-speed oscillator 556 is an example of a second low-speed oscillator that generates a low-speed clock signal and has an oscillation frequency lower than that of the slave oscillator 56 .
  • the low speed correction circuit 559 is an example of a second low speed correction circuit that corrects the oscillation frequency of the low speed oscillator 556 based on the second clock signal from the slave oscillator 56 .
  • a correction method for the slave oscillators 46 and 56 and the low-speed oscillators 546 and 556 according to this embodiment will be described.
  • the correction method for the slave oscillators 46 and 56 according to the present embodiment is the same as the correction method for the slave oscillators 46 and 56 according to the first embodiment.
  • the low-speed correction circuits 549 and 559 correct the low-speed oscillators 546 and 556, respectively, during the period when the pulse counter 81 (see FIG. 5) in the correction mode counts pulses, for example. This allows the slow oscillators 546, 556 as well as the slave oscillators 46, 56 to be corrected.
  • the low speed correction circuits 549 and 559 may correct the low speed oscillators 546 and 556 after the slave oscillators 46 and 56 are corrected. As a result, not only the timing of voltage measurement in the voltage measuring device 540 but also other operation timings can be controlled with high accuracy.
  • controller is not included in the voltage measurement system in each of the above embodiments, it may be included in the voltage measurement system.
  • the voltage measurement system according to each of the above-described embodiments may be housed in one housing or the like, or may be separated into a plurality of units.
  • a system LSI is an ultra-multifunctional LSI manufactured by integrating multiple components on a single chip. Specifically, it is a computer system that includes a microprocessor, ROM, RAM, etc. . A computer program is stored in the RAM. The system LSI achieves its functions by the microprocessor operating according to the computer program.
  • IC card or module is a computer system composed of a microprocessor, ROM, RAM and the like.
  • the IC card or module may include the super multifunctional LSI.
  • the IC card or module achieves its function by the microprocessor operating according to the computer program. This IC card or this module may have tamper resistance.
  • the present disclosure may be a computer system comprising a microprocessor and memory, the memory storing the computer program, and the microprocessor operating according to the computer program.
  • a voltage measurement system can be used, for example, as a voltage measurement system for an in-vehicle battery module system.

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Abstract

電圧測定システム（１０）は、第一マスタークロック信号を生成する第一マスター発振器（３６）と、第一マスタークロック信号に基づいて第一基準信号を生成する第一基準信号生成回路（３３）とを有する第一基準信号送信装置（通信装置３０）と、第一スレーブ発振器（４６）と、第一基準信号に基づいて第一スレーブ発振器（４６）の発振周波数を補正する第一補正回路（４３）と、第一電圧測定回路（４８）とを有する第一電圧測定装置（４０）とを備え、電圧測定システム（１０）は、第一基準信号送信装置（通信装置３０）と第一電圧測定装置（４０）との間でコマンド信号を送受信する通常モードと、第一基準信号を第一基準信号送信装置（通信装置３０）から第一電圧測定装置（４０）に送信し、第一基準信号を用いて、第一スレーブ発振器（４６）の発振周波数を第一マスター発振器（３６）の発振周波数に同期させる補正モードとを有する。

Description

電圧測定システム
　本開示は、電圧測定システムに関する。
　従来、バッテリモジュールを備えるバッテリモジュールシステムにおいて用いられる電圧測定システムが知られている（例えば、特許文献１など参照）。バッテリモジュールは、直列に接続される複数のバッテリセルを有する。電圧測定システムは、複数の電圧測定装置と、それらを制御するための制御装置とを有する。例えば、複数の電圧測定装置のうち、一つは、バッテリモジュールに直列に接続される抵抗素子に印加される電圧値からバッテリモジュールを流れる電流を測定し、他の電圧測定装置の各々は、バッテリセルの電圧を測定することができる。これにより、各バッテリセルの電圧と、各バッテリセルを流れる電流とを同時に測定できる。
　バッテリモジュールの電圧及び電流は、バッテリモジュールに接続される負荷の状態などに応じて時間的に変動し得る。このため、電圧の測定及び電流の測定のタイミングがずれると、バッテリモジュールの状態（充電率、劣化状態など）を高精度に把握することができない。そこで、従来の電圧測定システムでは、各電圧測定装置内の発振器からのクロック信号に基づいて、各電圧測定装置の測定タイミングを決定することで、各電圧測定装置の測定タイミングを揃えようとしている。
特開２０１５－１４１０６２号公報
　しかしながら、各電圧測定装置内の発振器の発振周波数がずれている場合がある。この場合、各電圧測定装置の測定タイミングがずれ得る。このため、各電圧測定装置内の発振器からのクロック信号に基づいて測定を行っても、バッテリモジュールの状態を高精度に把握することができない。
　本開示は、このような課題を解決するものであり、電圧測定装置の測定タイミングを高精度に制御できる電圧測定システムを提供することを目的とする。
　上記課題を解決するために、本開示に係る電圧測定システムの一態様は、バッテリセルの電圧を測定する電圧測定システムであって、第一マスタークロック信号を生成する第一マスター発振器と、前記第一マスタークロック信号に基づいて第一基準信号を生成する第一基準信号生成回路とを有する第一基準信号送信装置と、第一クロック信号を生成する第一スレーブ発振器と、前記第一基準信号に基づいて前記第一スレーブ発振器の発振周波数を補正する第一補正回路と、第一電圧測定回路と、前記第一クロック信号に基づいて前記第一電圧測定回路を制御する第一測定制御回路とを有する第一電圧測定装置とを備え、前記電圧測定システムは、前記第一基準信号送信装置と前記第一電圧測定装置との間でコマンド信号を送受信する通常モードと、前記第一基準信号を前記第一基準信号送信装置から前記第一電圧測定装置に送信し、前記第一基準信号を用いて、前記第一スレーブ発振器の発振周波数を前記第一マスター発振器の発振周波数に同期させる補正モードとを有する。
　本開示によれば、電圧測定装置の測定タイミングを高精度に制御できる電圧測定システムを提供できる。
図１は、実施の形態１に係る電圧測定システムの機能構成を示すブロック図である。 図２は、実施の形態１に係る通信回路での、補正モードにおける動作の流れを示すフローチャートである。 図３は、実施の形態１に係る電圧測定装置での、補正モードにおける動作の流れを示すフローチャートである。 図４は、実施の形態１に係る各信号の態様の一例を示す模式的なグラフである。 図５は、実施の形態１に係る補正回路の機能構成を示すブロック図である。 図６は、実施の形態１に係る電圧測定システムにおける補正前の測定タイミングを示す図である。 図７は、実施の形態１に係る電圧測定システムにおける補正後の測定タイミングを示す図である。 図８は、実施の形態２に係る電圧測定システムの機能構成を示すブロック図である。 図９は、実施の形態３に係る電圧測定システムの機能構成を示すブロック図である。 図１０は、実施の形態４に係る電圧測定システムの機能構成を示すブロック図である。 図１１は、実施の形態５に係る電圧測定システムの機能構成を示すブロック図である。 図１２は、実施の形態６に係る電圧測定システムの機能構成を示すブロック図である。
　以下、本開示の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本開示の一具体例を示すものである。したがって、以下の実施の形態で示される、数値、形状、材料、構成要素、及び、構成要素の配置位置や接続形態などは、一例であって本開示を限定する主旨ではない。
　また、各図は模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。したがって、各図において縮尺等は必ずしも一致していない。なお、各図において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。
　（実施の形態１）
　実施の形態１に係る電圧測定システムについて説明する。
　［１－１．全体構成］
　本実施の形態に係る電圧測定システムの全体構成について図１を用いて説明する。図１は、本実施の形態に係る電圧測定システム１０の機能構成を示すブロック図である。なお、図１には、電圧測定システム１０の測定対象であるバッテリセル２１と、抵抗素子２２と、電圧測定システム１０を制御する制御装置２０とが併せて示されている。
　制御装置２０は、電圧測定システム１０を制御する装置である。制御装置２０は、電圧測定システム１０に、電圧測定システム１０を制御するためのコマンド信号を送信する。例えば、制御装置２０は、電圧測定システム１０に電圧の測定を開始させるためのコマンド信号を送信する。制御装置２０は、例えば、ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ－Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ　Ｕｎｉｔ）などを用いて実現できる。
　電圧測定システム１０は、バッテリセル２１の電圧を測定するシステムである。本実施の形態では、電圧測定システム１０は、バッテリセル２１に流れる電流も併せて測定する。電圧測定システム１０は、バッテリセル２１に直列に接続される抵抗素子２２の両端間の電圧を測定することで、当該電圧と、抵抗素子２２の抵抗値とから、抵抗素子２２に流れる電流、つまり、バッテリセル２１に流れる電流を測定する。本実施の形態では、電圧測定システム１０は、通信装置３０と、電圧測定装置４０、５０とを備える。通信装置３０、及び、電圧測定装置４０、５０は、デイジー通信経路を使用してコマンド信号などを送受信する。また、通信装置３０と電圧測定装置４０との間、及び、電圧測定装置４０と電圧測定装置５０との間における信号の送受信には、例えば、トランスなどを介在させてもよい。これにより、各装置間の絶縁を維持しつつ、信号を送受信することができる。なお、本実施の形態では、電圧測定システム１０は、二つの電圧測定装置４０、５０を備えるが、測定対象のバッテリセルの個数に合わせて、三つ以上の電圧測定装置を備えてもよい。
　電圧測定システム１０は、通常モードと、補正モードとを有する。通常モードは、第一基準信号送信装置の一例である通信装置３０と電圧測定装置４０、５０との間でコマンド信号を送受信するモードである。補正モードは、基準信号を通信装置３０から電圧測定装置４０、５０に送信し、基準信号を用いて、電圧測定装置４０、５０がそれぞれ有するスレーブ発振器４６、５６の発振周波数を通信装置３０が有するマスター発振器３６の発振周波数に同期させるモードである。
　通信装置３０は、制御装置２０及び電圧測定装置４０、５０と通信を行う装置である。通信装置３０は、電圧測定装置４０、５０がそれぞれ有するスレーブ発振器４６、５６の発振周波数を補正するための基準信号を送信する第一基準信号送信装置の一例である。通信装置３０は、通信回路３４と、マスター発振器３６と、基準信号生成回路３３と、モード制御回路３５と、マルチプレクサ３２とを有する。
　通信回路３４は、制御装置２０及び電圧測定装置４０、５０との間で、コマンド信号を送受信する回路である。通信回路３４は、例えば、制御装置２０から電圧測定開始を指令するコマンド信号を受信した場合に、当該コマンド信号（又は当該コマンド信号に対応する信号）を電圧測定装置４０、５０へ送信する。また、通信回路３４は、制御装置２０から、通常モード又は補正モードへの切り替えを示すコマンド信号を受信した場合に、当該コマンド信号（又は当該コマンド信号に対応する信号）を電圧測定装置４０、５０へ送信する。また、通信回路３４は、補正モードへの切り替えを示すコマンド信号を受信した場合、基準信号生成回路３３へ、基準信号の生成を指令する信号を送信する。
　マスター発振器３６は、マスタークロック信号を生成する第一マスター発振器の一例である。マスタークロック信号は、基準信号を生成するために用いられる第一マスタークロック信号の一例である。マスター発振器３６が生成するマスタークロック信号は、基準信号生成回路３３及び通信回路３４へ送信される。
　基準信号生成回路３３は、補正モードにおいて、マスタークロック信号に基づいて基準信号を生成する第一基準信号生成回路の一例である。基準信号生成回路３３は、通信回路３４から受信するコマンド信号に応じて基準信号を生成する。基準信号は、マスタークロック信号に基づいて生成される第一基準信号の一例である。基準信号生成回路３３は、例えば、マスタークロック信号の１０クロック毎に一つのパルスを生成することを１０回繰り返す。このようにして生成されたパルス列を基準信号とすることができる。これにより、マスタークロック信号に含まれる所定の個数のクロックに対応する基準信号を生成できる。
　モード制御回路３５は、モードに応じてマルチプレクサ３２を制御する回路である。モード制御回路３５は、通信回路３４から送信されるコマンド信号に基づいて、通常モード又は補正モードに切り替えられる。モード制御回路３５は、通常モードにおいて、マルチプレクサ３２にコマンド信号を送信させ、補正モードにおいて、マルチプレクサ３２に基準信号を送信させる。
　マルチプレクサ３２は、コマンド信号及び基準信号を送受信する回路である。マルチプレクサ３２は、モード制御回路３５からのコマンド信号に基づいて、送受信する信号を切り換える。マルチプレクサ３２は、通常モードにおいて、コマンド信号を送受信し、補正モードにおいて、基準信号を送受信する。
　電圧測定装置４０は、スレーブ発振器４６が生成する第一クロック信号に基づいたタイミングで電圧を測定する装置である。本実施の形態では、電圧測定装置４０は、抵抗素子２２の両端間の電圧を測定することで抵抗素子２２及びバッテリセル２１に流れる電流を測定する電流測定装置として機能する。また、電圧測定装置４０は、通信装置３０から受信する基準信号に基づいてスレーブ発振器４６の発振周波数を補正する第一電圧測定装置の一例である。電圧測定装置４０は、通常モードにおいて、通信装置３０からの補正モードへの移行を示すコマンド信号を受信した場合に、補正モードへ移行する。電圧測定装置４０は、選択回路４１と、マルチプレクサ４２と、補正回路４３と、通信回路４４と、モード制御回路４５と、スレーブ発振器４６と、測定制御回路４７と、電圧測定回路４８とを有する。
　選択回路４１は、コマンド信号及び基準信号を送受信する第一選択回路の一例である。選択回路４１は、モード制御回路４５からのコマンド信号に基づいて、送受信する信号を切り換える。選択回路４１は、通常モードにおいて、コマンド信号を通信装置３０との間で送受信し、補正モードにおいては、基準信号を受信し、かつ、基準信号を補正回路４３及びマルチプレクサ４２へ送信する。
　マルチプレクサ４２は、コマンド信号及び基準信号を送受信する第一マルチプレクサの一例である。マルチプレクサ４２は、モード制御回路４５からのコマンド信号に基づいて、送受信する信号を切り換える。マルチプレクサ４２は、通常モードにおいて、コマンド信号を送受信し、補正モードにおいて、基準信号を送受信する。補正モードにおいて、マルチプレクサ４２は、基準信号を、電圧測定システム１０内の他の機器へ送信する。本実施の形態では、マルチプレクサ４２は、基準信号を電圧測定装置５０へ送信する。
　補正回路４３は、基準信号に基づいてスレーブ発振器４６の発振周波数を補正する第一補正回路の一例である。補正回路４３は、補正モードにおいて、選択回路４１から基準信号を受信する。基準信号は、例えば、所定の個数のマスタークロック信号列に対応する時間を示す信号である。補正回路４３は、基準信号が示す時間内に当該所定の個数の第一クロック信号列が含まれるように、スレーブ発振器４６の発振周波数を補正する。補正回路４３による補正方法については、後述する。
　通信回路４４は、通信装置３０及び電圧測定装置５０との間で、コマンド信号を送受信する第一通信回路の一例である。通信回路４４は、例えば、通信装置３０から選択回路４１を介して電圧測定開始を指令するコマンド信号を受信した場合に、測定制御回路４７、及び、電圧測定装置５０へ、当該コマンド信号（又は当該コマンド信号に対応する信号）を送信する。また、通信回路４４は、通信装置３０から、通常モード又は補正モードへの切り替えを示すコマンド信号を受信した場合に、当該コマンド信号（又は当該コマンド信号に対応する信号）をモード制御回路４５、及び、電圧測定装置５０へ送信する。
　モード制御回路４５は、モードに応じてマルチプレクサ４２及び選択回路４１を制御する第一モード制御回路の一例である。モード制御回路４５は、補正回路４３に補正を開始させる機能も有する。モード制御回路４５は、通信回路４４から送信されるコマンド信号に基づいて、通常モード又は補正モードに切り替えられる。モード制御回路４５は、通常モードにおいて、マルチプレクサ４２及び選択回路４１にコマンド信号を送信させ、補正モードにおいて、マルチプレクサ４２及び選択回路４１に基準信号を送信させる。
　スレーブ発振器４６は、第一クロック信号を生成する第一スレーブ発振器の一例である。スレーブ発振器４６が生成する第一クロック信号は、補正回路４３、通信回路４４、及び測定制御回路４７へ送信される。
　測定制御回路４７は、第一クロック信号に基づいて電圧測定回路４８を制御する第一測定制御回路の一例である。測定制御回路４７は、例えば、第一クロック信号に基づいて決定された周期で、電圧測定回路４８に電圧を測定させる。
　電圧測定回路４８は、二つの端子間の電圧を測定する第一電圧測定回路の一例である。本実施の形態では、電圧測定回路４８は、抵抗素子２２の両端間の電圧を測定する。電圧測定回路４８は、例えば、ＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ－Ｄｉｇｉｔａｌ　Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）を含み、アナログの測定値をデジタル信号に変換して出力する。
　電圧測定装置５０は、スレーブ発振器５６が生成する第二クロック信号に基づいたタイミングで電圧を測定する装置である。本実施の形態では、電圧測定装置５０は、バッテリセル２１の両端間の電圧を測定する。また、電圧測定装置５０は、通信装置３０から、電圧測定装置４０を介して受信する基準信号に基づいてスレーブ発振器５６の発振周波数を補正する第二電圧測定装置の一例である。電圧測定装置５０は、通常モードにおいて、通信装置３０からの補正モードへの移行を示すコマンド信号を（電圧測定装置４０を介して）受信した場合に、補正モードへ移行する。電圧測定装置５０は、電圧測定装置４０と同様の構成を有する。電圧測定装置５０は、選択回路５１と、マルチプレクサ５２と、補正回路５３と、通信回路５４と、モード制御回路５５と、スレーブ発振器５６と、測定制御回路５７と、電圧測定回路５８とを有する。
　選択回路５１は、コマンド信号及び基準信号を送受信する第二選択回路の一例である。選択回路５１は、モード制御回路５５からのコマンド信号に基づいて、送受信する信号を切り換える。選択回路５１は、通常モードにおいて、コマンド信号を電圧測定装置４０との間で送受信し、補正モードにおいて、基準信号を送受信し、かつ、基準信号を補正回路５３及びマルチプレクサ５２へ送信する。
　マルチプレクサ５２は、コマンド信号及び基準信号を送受信する第二マルチプレクサの一例である。マルチプレクサ５２は、モード制御回路５５からのコマンド信号に基づいて、送受信する信号を切り換える。マルチプレクサ５２は、通常モードにおいて、コマンド信号を送受信し、補正モードにおいて、基準信号を送受信する。
　補正回路５３は、基準信号に基づいてスレーブ発振器５６の発振周波数を補正する第二補正回路の一例である。補正回路５３は、補正モードにおいて、選択回路５１から基準信号を受信する。基準信号は、例えば、所定の個数のマスタークロック信号列に対応する時間を示す信号である。補正回路５３は、基準信号が示す時間内に当該所定の個数の第二クロック信号列が含まれるように、スレーブ発振器５６の発振周波数を補正する。
　通信回路５４は、通信装置３０及び電圧測定装置４０との間で、コマンド信号を送受信する第一通信回路の一例である。通信回路５４は、例えば、電圧測定装置４０から選択回路５１を介して電圧測定開始を指令するコマンド信号を受信した場合に、測定制御回路５７へ、当該コマンド信号（又は当該コマンド信号に対応する信号）を送信する。また、通信回路５４は、電圧測定装置４０から、通常モード又は補正モードへの切り替えを示すコマンド信号を受信した場合に、当該コマンド信号（又は当該コマンド信号に対応する信号）をモード制御回路５５へ送信する。
　モード制御回路５５は、モードに応じてマルチプレクサ５２及び選択回路５１を制御する第二モード制御回路の一例である。モード制御回路５５は、補正回路５３に補正を開始させる機能も有する。モード制御回路５５は、通信回路５４から送信されるコマンド信号に基づいて、通常モード又は補正モードに切り替えられる。モード制御回路５５は、通常モードにおいて、マルチプレクサ５２及び選択回路５１にコマンド信号を送信させ、補正モードにおいて、マルチプレクサ５２及び選択回路５１に基準信号を送信させる。
　スレーブ発振器５６は、第二クロック信号を生成する第二スレーブ発振器の一例である。スレーブ発振器５６が生成する第二クロック信号は、補正回路５３、通信回路５４、及び測定制御回路５７へ送信される。
　測定制御回路５７は、第二クロック信号に基づいて電圧測定回路５８を制御する第二測定制御回路の一例である。測定制御回路５７は、例えば、第二クロック信号に基づいて決定された周期で、電圧測定回路５８に電圧を測定させる。
　電圧測定回路５８は、二つの端子間の電圧を測定する第二電圧測定回路の一例である。本実施の形態では、電圧測定回路５８は、バッテリセル２１の両端間の電圧を測定する。電圧測定回路５８は、例えば、ＡＤＣを含み、アナログの測定値をデジタル信号に変換して出力する。
　［１－２．補正方法］
　本実施の形態に係るスレーブ発振器４６、５６の発振周波数の補正方法について、図２～図４を用いて説明する。図２は、本実施の形態に係る通信装置３０での、補正モードにおける動作の流れを示すフローチャートである。図３は、本実施の形態に係る電圧測定装置４０での、補正モードにおける動作の流れを示すフローチャートである。図４は、本実施の形態に係る各信号の態様の一例を示す模式的なグラフである。図４のグラフ（ａ）、（ｃ）、及び（ｄ）には、それぞれ、マスタークロック信号、第一クロック信号、及び第二クロック信号の出力タイミングが示されている。図４のグラフ（ｂ）には、基準信号の時間波形が示されている。
　まず、通信装置３０における動作について図２及び図４を用いて説明する。
　図２に示されるように、通信装置３０は、補正モードへの切り替えを示すコマンド信号である補正コマンド信号を電圧測定装置４０（及び電圧測定装置５０）へ送信する（Ｓ１０）。
　続いて、通信装置３０は、電圧測定装置４０及び電圧測定装置５０から、ＡＣＫを受信したか否かを判断する（Ｓ１２）。ＡＣＫは、電圧測定装置４０及び電圧測定装置５０の各々が補正コマンド信号を受信した場合に送信する信号である。
　通信装置３０は、ＡＣＫを受信しない場合（Ｓ１２でＮｏ）、ステップＳ１２を繰り返す。
　通信装置３０は、ＡＣＫを受信した場合（Ｓ１２でＹｅｓ）、補正モードに切り替える（Ｓ１４）。具体的には、通信回路３４が、ＡＣＫを受信した場合、モード制御回路３５へ、補正モードへの切り替えを指令するコマンド信号を送信する。
　続いて、通信装置３０は、基準信号を生成し、電圧測定装置４０（及び電圧測定装置５０）へ送信する（Ｓ１６）。具体的には、通信回路３４が、基準信号生成回路３３に、基準信号の生成を開始させるコマンド信号を送信する。基準信号生成回路３３は、マスター発振器３６からのマスタークロック信号に基づいて基準信号を生成する。マスタークロック信号は、図４のグラフ（ａ）に示されるように、常時所定の発振周波数で繰り返し出力される信号である。基準信号の構成は特に限定されない。本実施の形態では、基準信号生成回路３３は、マスタークロック信号の所定の個数のクロックが出力される毎に一つのパルス信号を生成することを所定の回数だけ繰り返す。このようにして生成された図４のグラフ（ｂ）に示されるようなパルス信号列を基準信号としてもよい。例えば、基準信号が、マスタークロック信号が５個出力される毎に生成されるパルス信号を２１個含む場合、基準信号の最初のパルス信号から最後のパルス信号までの期間は、マスタークロック信号が１００個出力される期間に相当する。
　続いて、通信装置３０は、所定時間経過したか否かを判断する（Ｓ１８）。所定時間が経過していない場合（Ｓ１８でＮｏ）、基準信号の送信を続ける。本実施の形態では、基準信号生成回路３３が生成した、所定の個数のパルス信号の送信の開始から終了までの時間に相当する時間だけ基準信号の送信を続ける。
　続いて、通信装置３０は、所定時間経過した場合（Ｓ１８でＹｅｓ）、基準信号の送信を停止し（Ｓ２０）、通常モードに切り替える（Ｓ２２）。具体的には、通信回路３４は、モード制御回路３５へ、通常モードへの切り替えを指令するコマンド信号を送信する。また、通信回路３４は、基準信号生成回路３３へ、基準信号生成の停止を指令するコマンド信号を送信する。
　次に、電圧測定装置４０における動作について、図３及び図４を用いて説明する。
　電圧測定装置４０は、通信装置３０から補正コマンド信号を受信する（Ｓ３０）。具体的には、通信回路４４が選択回路４１を介して補正コマンド信号を受信する。
　続いて、電圧測定装置４０は、ＡＣＫを通信装置３０へ送信する（Ｓ３２）。具体的には、通信回路４４が、選択回路４１を介して、通信装置３０へＡＣＫを送信する。
　続いて、電圧測定装置４０は、補正モードに切り替える（Ｓ３４）。具体的には、通信回路４４が、ＡＣＫを送信した後、モード制御回路４５へ、補正モードへの切り替えを指令するコマンド信号を送信する。
　続いて、電圧測定装置４０は、基準信号を受信したか否かを判断する（Ｓ３６）。電圧測定装置４０は、基準信号を受信しない場合（Ｓ３６でＮｏ）、ステップＳ３６を繰り返す。
　電圧測定装置４０が基準信号を受信した場合（Ｓ３６でＹｅｓ）、補正を開始する（Ｓ３８）。本実施の形態に係る補正回路４３における補正方法について、図５も用いて説明する。
　図５は、本実施の形態に係る補正回路４３の機能構成を示すブロック図である。なお図５には、モード制御回路４５及びスレーブ発振器４６も併せて示されている。図５に示されるように、補正回路４３は、パルスカウンタ８１と、演算回路８２と、記憶回路８３とを有する。
　パルスカウンタ８１は、基準信号が入力され、基準信号に含まれるパルス信号の個数をカウントする回路である。パルスカウンタ８１は、カウントしたパルス信号の個数を演算回路８２へ出力する。
　演算回路８２は、基準信号に含まれるパルス信号の個数、及び、補正前のスレーブ発振器４６の発振周波数に対応する情報に基づいて、補正差分値を算出する回路である。演算回路８２は、補正差分値に対応する信号をスレーブ発振器４６へ出力することによって、スレーブ発振器４６の発振周波数を補正する。
　記憶回路８３は、スレーブ発振器４６の補正前の発振周波数に対応する情報を記憶する回路である。記憶回路８３には、スレーブ発振器４６の補正前の発振周波数に対応する、いわゆるトリミング値が記憶されている。トリミング値は、スレーブ発振器４６の補正前の発振周波数を設定するために用いられた補正値である。
　補正回路４３において補正を開始する場合、モード制御回路４５からの信号によって、パルスカウンタ８１による基準信号に含まれるパルス信号のカウントを開始する。パルスカウンタ８１は、カウントしたパルス信号の個数を演算回路８２へ出力する。
　続いて、図３に示されるように、電圧測定装置４０は、補正差分値を算出する（Ｓ４０）。本実施の形態では、図５に示される演算回路８２が、基準信号に含まれるパルス信号の個数と、補正前のスレーブ発振器４６の発振周波数に対応する情報とから、補正差分値を算出する。
　より具体的には、演算回路８２は、基準信号に含まれるパルス信号の個数から、基準信号に対応する期間と、当該期間内にマスター発振器３６から出力されるマスタークロック信号の個数とを求める。例えば、基準信号に含まれるパルス信号が、マスタークロック信号が何個出力される毎に生成されるのかを、演算回路８２は予め記憶していてもよい。これにより、演算回路８２は、基準信号に含まれるパルス信号の個数に基づいて、基準信号に対応する期間内にマスター発振器３６から出力されるマスタークロック信号の個数を求めることができる。
　演算回路８２は、さらに、記憶回路８３から入力される補正前のスレーブ発振器４６の発振周波数に対応する情報から、基準信号に対応する期間内にスレーブ発振器４６から出力される第一クロック信号の個数を求める（図４のグラフ（ｃ）参照）。
　以上のようにして求められた、基準信号に対応する期間内に、マスター発振器３６から出力されるマスタークロック信号の個数と、スレーブ発振器４６から出力される第一クロック信号の個数との差分を求めることで、演算回路８２は、補正差分値を算出する。
　続いて、図３に示されるように、電圧測定装置４０は、基準信号にフォーマットエラーがあるかを判断する（Ｓ４２）。例えば、基準信号が、図４のグラフ（ｂ）に示されるようなパルス信号列でない場合、又は、カウントしたパルス信号の個数が所定の範囲内でない場合に、補正回路４３の演算回路８２は、基準信号にフォーマットエラーがあると判断する。
　電圧測定装置４０は、基準信号にフォーマットエラーがあると判断した場合（Ｓ４２でＹｅｓ）、算出した補正差分値を破棄して、補正を行わない（Ｓ４６）。一方、電圧測定装置４０は、基準信号にフォーマットエラーがないと判断した場合（Ｓ４２でＮｏ）、算出した補正差分値を用いて、補正を実行する（Ｓ４４）。本実施の形態では、図５に示される演算回路８２が、補正差分値に対応する信号をスレーブ発振器４６へ送信することで、スレーブ発振器４６の発振周波数を補正する。例えば、スレーブ発振器４６に含まれる回路の時定数を調整することで、スレーブ発振器４６の発振周波数を補正できる。具体的には、スレーブ発振器４６に含まれるＲＣ回路における抵抗成分を調整することで、ＲＣ回路の時定数を調整できる。これにより、スレーブ発振器４６の発振周波数を補正できる。なお、記憶回路８３において、補正前のトリミング値は、補正に用いた補正差分値に対応するトリミング値に書き換えられる。
　続いて、電圧測定装置４０は、補正モードから通常モードへ切り替える（Ｓ４８）。具体的には、通信回路４４が、モード制御回路４５へ、通常モードへの切り替えを指令するコマンド信号を送信する。
　以上のように、電圧測定装置４０の補正回路４３は、基準信号に含まれるパルス信号の個数をカウントし、当該個数に基づいて、スレーブ発振器４６の発振周波数を補正する。補正回路４３は、パルス信号の個数に対応するマスター発振器３６のクロックの個数と、基準信号に対応する期間におけるスレーブ発振器４６のクロックの個数とから算出される補正差分値に基づいて、スレーブ発振器４６の発振周波数を補正する。なお、電圧測定装置５０が有するスレーブ発振器５６の発振周波数も同様に補正することができる。
　［１－３．効果］
　本実施の形態に係る電圧測定システム１０の効果について、図４、図６及び図７を用いて説明する。図６及び図７は、それぞれ、本実施の形態に係る電圧測定システム１０における補正前及び補正後の測定タイミングを示す図である。
　図６及び図７に示される電流測定タイミングを示すグラフ（ａ）は、電圧測定装置４０による電圧測定タイミング、つまり、バッテリセル２１に流れる電流を測定するタイミングに相当する。図６及び図７に示される電圧測定タイミングを示すグラフ（ｂ）は、電圧測定装置４０によるバッテリセル２１の電圧を測定するタイミングに相当する。なお、図６及び図７に示される上向きの矢印の位置が、測定するタイミングを示す。
　上述したように、本実施の形態では、電圧測定装置４０では、スレーブ発振器４６が出力する第一クロック信号に基づいて決定された周期で、電圧を測定し、電圧測定装置５０では、スレーブ発振器５６が出力する第二クロック信号に基づいて決定された周期で、電圧を測定する。例えば、第一クロック信号及び第二クロック信号の各々が１０００クロック出力される毎に電圧が測定される。
　したがって、図４のグラフ（ｃ）及びグラフ（ｄ）に示されるように、スレーブ発振器４６の発振周波数と、スレーブ発振器５６の発振周波数とが一致していない場合、図６に示されるように、電流測定サイクルと、電圧測定サイクルとが異なる。このため、測定開始時には、電流測定タイミングと、電圧測定タイミングとがほぼ一致していても、徐々にそれらのタイミングのずれが大きくなる。このため、バッテリセルの状態を高精度に把握することができない。
　一方、補正によって、スレーブ発振器４６及びスレーブ発振器５６の発振周波数を、マスター発振器３６の発振周波数に一致させることで、各電圧測定装置の測定タイミングを高精度に制御できる。また、この場合、図７に示されるように、電流測定サイクルと、電圧測定サイクルとを一致させることができる。このため、電流測定タイミングと、電圧測定タイミングとをほぼ一致させることができる。したがって、バッテリセルの状態を高精度に把握することができる。
　さらに、本実施の形態に係る電圧測定システム１０では、デイジー通信経路を利用して、コマンド信号だけでなく、基準信号も送受信するため、基準信号を送受信するための新たな通信経路を設ける必要がない。また、デイジー通信経路を利用することで、通信装置３０から出力する一つのコマンドで各電圧測定装置の補正を同時に平行して行うことができるため、簡易かつ迅速に補正を行うことができる。また、本実施の形態に係る電圧測定システム１０では、通常モードと、補正モードとを有し、各モードに合わせて、コマンド信号又は基準信号を送受信するため、これらの信号が衝突することを回避できる。
　（実施の形態２）
　実施の形態２に係る電圧測定システムについて説明する。本実施の形態に係る電圧測定システムは、電圧測定装置が高精度発振器を有し、当該高精度発振器に合わせて、マスター発振器の発振周波数を補正する点において、実施の形態１に係る電圧測定システム１０と相違する。以下、本実施の形態に係る電圧測定システムについて、実施の形態１に係る電圧測定システム１０との相違点を中心に説明する。
　［２－１．全体構成］
　本実施の形態に係る電圧測定システムの全体構成について、図８を用いて説明する。図８は、本実施の形態に係る電圧測定システム１１０の機能構成を示すブロック図である。なお、図８には、電圧測定システム１１０の測定対象であるバッテリセル２１と、抵抗素子２２と、電圧測定システム１１０を制御する制御装置２０とが併せて示されている。
　図８に示されるように、電圧測定システム１１０は、通信装置１３０と、電圧測定装置１４０、５０とを備える。
　本実施の形態に係る電圧測定装置１４０は、選択回路４１と、マルチプレクサ４２と、基準信号補正回路１４３と、通信回路４４と、モード制御回路４５と、高精度発振器１４６と、測定制御回路４７と、電圧測定回路４８とを有する。
　高精度発振器１４６は、マスター発振器３６より高精度な高精度クロック信号を生成する発振器である。高精度発振器１４６が生成する高精度クロック信号は、基準信号補正回路１４３、通信回路４４、及び測定制御回路４７へ送信される。なお、高精度発振器１４６は、電圧測定装置１４０の構成要素に含まれなくてもよい。例えば、高精度発振器１４６は、電圧測定装置１４０の外部からクロック信号を電圧測定装置１４０に送信してもよい。
　基準信号補正回路１４３は、基準信号を補正するための補正差分値を算出する回路である。基準信号補正回路１４３は、実施の形態１に係る補正回路４３と同様に、高精度クロック信号と、マスタークロック信号との補正差分値を算出する。基準信号補正回路１４３は、算出した補正差分値を通信回路３４及び選択回路４１を介して、通信装置１３０へ送信する。
　通信装置１３０は、通信回路３４と、マスター発振器３６と、基準信号生成回路３３と、モード制御回路３５と、マルチプレクサ３２と、マスター補正回路１３９とを有する。
　マスター補正回路１３９は、高精度クロック信号に基づいて、マスター発振器３６の発振周波数を補正する回路である。電圧測定装置１４０の基準信号補正回路１４３によって算出された補正差分値に対応する信号をマスター発振器３６へ出力することで、マスター発振器３６の発振周波数を補正する。マスター発振器３６の発振周波数の補正は、実施の形態１に係るスレーブ発振器４６の発振周波数の補正と同様に行うことができる。
　［２－２．補正方法］
　本実施の形態に係る電圧測定システム１１０におけるマスター発振器３６及びスレーブ発振器５６の発振周波数の補正方法について説明する。
　まず、マスター発振器３６の補正を行う。具体的には、実施の形態１に係る補正方法と同様に、通信装置１３０は、補正モードに切り替え、基準信号を送信する。
　続いて、電圧測定装置１４０の基準信号補正回路１４３は、実施の形態１に係る補正方法と同様に、補正差分値を算出し、通信回路４４へ送信する。
　続いて、電圧測定装置１４０の通信回路４４は、選択回路４１を介して、補正差分値に対応する信号を、通信装置１３０へ送信する。
　続いて、通信装置１３０の通信回路３４は、マルチプレクサ３２を介して、補正差分値に対応する信号を受信し、マスター補正回路１３９へ送信する。
　続いて、マスター補正回路１３９は、補正差分値に対応する信号をマスター発振器３６へ出力することで、マスター発振器３６の発振周波数を補正する。
　以上のように、マスター発振器３６の発振周波数を高精度発振器１４６に合わせて補正できる。
　以下、実施の形態１と同様に、スレーブ発振器５６の発振周波数を補正する。
　これにより、スレーブ発振器５６の発振周波数を高精度発振器１４６の発振周波数に一致させることができる。したがって、本実施の形態に係る電圧測定システム１１０においても、実施の形態１に係る電圧測定システム１０と同様の効果が奏される。また、本実施の形態では、マスター発振器３６の発振周波数を補正することができるため、より一層高精度に各電圧測定装置の測定タイミングを制御できる。
　（実施の形態３）
　実施の形態３に係る電圧測定システムについて説明する。本実施の形態に係る電圧測定システムは、主に、二つの通信装置を備える点において、実施の形態１に係る電圧測定システム１０と相違する。以下、本実施の形態に係る電圧測定システムについて、実施の形態１に係る電圧測定システム１０との相違点を中心に説明する。
　［３－１．全体構成］
　本実施の形態に係る電圧測定システムの全体構成について、図９を用いて説明する。図９は、本実施の形態に係る電圧測定システム２１０の機能構成を示すブロック図である。なお、図９には、電圧測定システム２１０の測定対象であるバッテリセル２１と、抵抗素子２２と、電圧測定システム２１０を制御する制御装置２２０とが併せて示されている。
　図９に示されるように、電圧測定システム２１０は、通信装置２３０、２３０ａと、電圧測定装置４０、５０とを備える。本実施の形態では、制御装置２２０と、通信装置２３０と、電圧測定装置４０との間で、デイジー通信経路を利用して信号の送受信が行われ、制御装置２２０と、通信装置２３０ａと、電圧測定装置５０との間で、デイジー通信経路を利用して信号の送受信が行われる。
　制御装置２２０は、通信回路２２１と、制御用発振器２２２とを有する。
　通信回路２２１は、通信装置２３０及び２３０ａとの間でコマンド信号を送受信する回路である。
　制御用発振器２２２は、制御用クロック信号を生成する発振器である。
　通信装置２３０は、外部から入力されるクロック信号である制御用クロック信号を受信し、基準信号を送信する第一基準信号送信装置の一例である。通信装置２３０は、通信回路３４と、マスター発振器３６と、基準信号生成回路３３と、モード制御回路３５と、マルチプレクサ３２と、マスター補正回路２３９とを有する。
　マスター補正回路２３９は、制御用クロック信号に基づいて、マスター発振器３６の発振周波数を補正する第一マスター補正回路の一例である。マスター補正回路２３９には、制御用クロック信号が入力される。マスター補正回路２３９は、例えば、所定時間内における制御用クロック信号の個数をカウントし、当該個数と、マスター発振器３６の所定時間内におけるマスタークロック信号の個数とから補正差分値を演算し、当該補正差分値に基づいて、マスター発振器３６の発振周波数を補正してもよい。
　通信装置２３０ａは、外部から入力されるクロック信号である制御用クロック信号を受信し、基準信号を送信する第二基準信号送信装置の一例である。通信装置２３０ａは、電圧測定装置５０との間で、コマンド信号を送受信し、電圧測定装置５０へ基準信号を送信する。通信装置２３０ａは、通信回路３４ａと、マスター発振器３６ａと、基準信号生成回路３３ａと、モード制御回路３５ａと、マルチプレクサ３２ａと、マスター補正回路２３９ａとを有する。通信回路３４ａ、マスター発振器３６ａ、基準信号生成回路３３ａ、モード制御回路３５ａ、マルチプレクサ３２ａ、及び、マスター補正回路２３９ａは、それぞれ、通信回路３４、マスター発振器３６、基準信号生成回路３３、モード制御回路３５、マルチプレクサ３２、及び、マスター補正回路２３９と同様の構成を有する。
　マスター発振器３６ａは、マスタークロック信号を生成する第二マスター発振器の一例である。マスター発振器３６ａが生成するマスタークロック信号は、第二マスタークロック信号の一例である。
　基準信号生成回路３３ａは、マスター発振器３６ａが生成するマスタークロック信号に基づいて基準信号を生成する第二基準信号生成回路の一例である。基準信号生成回路３３ａが生成する基準信号は、マスター発振器３６ａが生成するマスタークロック信号に基づいて生成される第二基準信号の一例である。
　マスター補正回路２３９ａは、制御用クロック信号に基づいて、マスター発振器３６ａの発振周波数を補正する第二マスター補正回路の一例である。
　［３－２．補正方法］
　本実施の形態に係る電圧測定システム２１０におけるマスター発振器３６、３６ａ、及びスレーブ発振器４６、５６の発振周波数の補正方法について説明する。
　まず、マスター発振器３６、３６ａの補正を行う。具体的には、通信装置２３０、２３０ａは、制御装置２２０からのコマンド信号に基づいて、補正モードに切り替える。
　続いて、マスター補正回路２３９は、制御装置２２０から入力される制御用クロック信号に基づいて、上述したような方法で、補正差分値を算出する。マスター補正回路２３９ａも同様に補正差分値を算出する。
　続いて、マスター補正回路２３９は、補正差分値に対応する信号をマスター発振器３６へ入力することで、マスター発振器３６の発振周波数を補正する。マスター補正回路２３９ａも同様にマスター発振器３６ａの発振周波数を補正する。
　以上のように、マスター発振器３６、３６ａの発振周波数を制御用クロック信号に基づいて補正できる。
　以下、実施の形態１と同様に、スレーブ発振器４６、５６の発振周波数を補正する。
　これにより、マスター発振器３６、３６ａ、及び、スレーブ発振器４６、５６の発振周波数を制御用発振器２２２の発振周波数に一致させることができる。したがって、本実施の形態に係る電圧測定システム２１０においても、実施の形態１に係る電圧測定システム１０と同様の効果が奏される。
　（実施の形態４）
　実施の形態４に係る電圧測定システムについて説明する。本実施の形態に係る電圧測定システムは、主に、二つの通信装置のうち、一方の通信装置から送信される基準信号を用いて、他方の通信装置が有するマスター発振器の発振周波数を補正する点において、実施の形態３に係る電圧測定システム２１０と相違する。以下、本実施の形態に係る電圧測定システムについて、実施の形態３に係る電圧測定システム２１０との相違点を中心に説明する。
　［４－１．全体構成］
　本実施の形態に係る電圧測定システムの全体構成について、図１０を用いて説明する。図１０は、本実施の形態に係る電圧測定システム３１０の機能構成を示すブロック図である。なお、図１０には、電圧測定システム３１０の測定対象であるバッテリセル２１と、抵抗素子２２と、電圧測定システム３１０を制御する制御装置２０とが併せて示されている。
　図１０に示されるように、電圧測定システム３１０は、通信装置３３０、３３０ａと、電圧測定装置４０、５０とを備える。本実施の形態では、制御装置２０と、通信装置３３０と、電圧測定装置４０との間で、デイジー通信経路を利用して信号の送受信が行われ、制御装置２０と、通信装置３３０ａと、電圧測定装置５０との間で、デイジー通信経路を利用して信号の送受信が行われる。
　通信装置３３０は、基準信号を送信する第一基準信号送信装置の一例である。通信装置３３０は、通信回路３４と、マスター発振器３６と、基準信号生成回路３３と、モード制御回路３５と、マルチプレクサ３２とを有する。本実施の形態に係る通信装置３３０は、基準信号を電圧測定装置４０だけでなく、通信装置３３０ａにも送信する点において、実施の形態１に係る通信装置３０と相違し、その他の点において一致する。
　通信装置３３０ａは、基準信号を送信する第二基準信号送信装置の一例である。通信装置３３０ａは、通信回路３４ａと、マスター発振器３６ａと、基準信号生成回路３３ａと、モード制御回路３５ａと、マルチプレクサ３２ａと、マスター補正回路３３９ａとを有する。
　マスター補正回路３３９ａは、通信装置３３０のマスター発振器３６が生成するマスタークロック信号に基づいて、マスター発振器３６ａの発振周波数を補正する第二マスター補正回路の一例である。マスター補正回路３３９ａは、通信装置３３０からの基準信号を受信する。マスター補正回路３３９ａは、実施の形態１に係る補正回路４３と同様の構成を有し、基準信号に基づいて、マスター発振器３６ａの発振周波数を補正する。
　［４－２．補正方法］
　本実施の形態に係る電圧測定システム３１０におけるマスター発振器３６ａ、及びスレーブ発振器４６、５６の発振周波数の補正方法について説明する。
　まず、マスター発振器３６ａの補正を行う。具体的には、通信装置３３０、３３０ａは、制御装置２０からのコマンド信号に基づいて、補正モードに切り替える。
　続いて、通信装置３３０は、通信装置３３０ａのマスター補正回路３３９ａへ、実施の形態１に係る基準信号と同様に生成された基準信号を送信する。マスター補正回路３３９ａは、受信した基準信号に基づいて、補正差分値を算出する。
　続いて、マスター補正回路３３９ａは、補正差分値に対応する信号をマスター発振器３６ａへ入力することで、マスター発振器３６ａの発振周波数を補正する。
　以上のように、通信装置３３０ａが有するマスター発振器３６ａの発振周波数を、通信装置３３０が有するマスター発振器３６のマスタークロック信号に基づいて補正できる。
　以下、実施の形態１と同様に、スレーブ発振器４６、５６の発振周波数を補正する。
　これにより、マスター発振器３６ａ、及び、スレーブ発振器４６、５６の発振周波数をマスター発振器３６の発振周波数に一致させることができる。したがって、本実施の形態に係る電圧測定システム３１０においても、実施の形態３に係る電圧測定システム２１０と同様の効果が奏される。
　（実施の形態５）
　実施の形態５に係る電圧測定システムについて説明する。本実施の形態に係る電圧測定システムは、主に、電圧測定装置が基準信号を生成する点において実施の形態１に係る電圧測定システム１０と相違する。以下、本実施の形態に係る電圧測定システムについて、実施の形態１に係る電圧測定システム１０との相違点を中心に説明する。
　［５－１．全体構成］
　本実施の形態に係る電圧測定システムの全体構成について、図１１を用いて説明する。図１１は、本実施の形態に係る電圧測定システム４１０の機能構成を示すブロック図である。なお、図１１には、電圧測定システム４１０の測定対象であるバッテリセル２１と、抵抗素子２２と、電圧測定システム４１０を制御する制御装置２０とが併せて示されている。
　図１１に示されるように、電圧測定システム４１０は、電圧測定装置４４０、５０を備える。本実施の形態では、制御装置２０と、電圧測定装置４４０と、電圧測定装置５０との間で、デイジー通信経路を利用して信号の送受信が行われる。
　電圧測定装置４４０は、基準信号を送信する第一基準信号送信装置の一例である。電圧測定装置４４０は、マルチプレクサ４２と、基準信号生成回路４４３と、通信回路４４４と、モード制御回路４５と、マスター発振器４４６と、測定制御回路４４７と、電圧測定回路４８とを有する。
　通信回路４４４は、制御装置２０及び電圧測定装置５０との間で、コマンド信号を送受信する回路である。通信回路４４４は、例えば、制御装置２０から電圧測定開始を指令するコマンド信号を受信した場合に、当該コマンド信号（又は当該コマンド信号に対応する信号）を測定制御回路４４７及び電圧測定装置５０へ送信する。また、通信回路４４４は、制御装置２０から、通常モード又は補正モードへの切り替えを示すコマンド信号を受信した場合に、当該コマンド信号（又は当該コマンド信号に対応する信号）を電圧測定装置５０へ送信する。また、通信回路４４４は、補正モードへの切り替えを示すコマンド信号を受信した場合、基準信号生成回路４４３へ、基準信号の生成を指令する信号を送信する。
　マスター発振器４４６は、マスタークロック信号を生成する第一マスター発振器の一例である。マスタークロック信号は、基準信号を生成するために用いられる第一マスタークロック信号の一例である。マスター発振器４４６が生成するマスタークロック信号は、基準信号生成回路４４３、通信回路４４４、及び、測定制御回路４４７へ送信される。
　基準信号生成回路４４３は、補正モードにおいて、マスタークロック信号に基づいて基準信号を生成する第一基準信号生成回路の一例である。基準信号生成回路４４３は、通信回路４４４から受信するコマンド信号に基づいて基準信号を生成する。基準信号は、マスタークロック信号に基づいて生成される第一基準信号の一例である。
　測定制御回路４４７は、マスタークロック信号に基づいて電圧測定回路４８を制御する回路である。測定制御回路４４７は、実施の形態１に係る測定制御回路４７と同様の構成を有する。
　本実施の形態に係る電圧測定装置５０は、電圧測定装置４４０から受信する基準信号に基づいてスレーブ発振器５６の発振周波数を補正する第一電圧測定装置の一例である。
　［５－２．補正方法］
　本実施の形態に係る電圧測定システム４１０におけるスレーブ発振器５６の発振周波数の補正方法について説明する。
　電圧測定装置４４０は、制御装置２０からのコマンド信号に基づいて、補正モードに切り替える。
　続いて、実施の形態１に係る通信装置３０と同様に、電圧測定装置４４０の基準信号生成回路４４３は、基準信号を生成し、電圧測定装置５０へ送信する。
　続いて、電圧測定装置５０は、実施の形態１に係る電圧測定装置５０と同様に、基準信号に基づいて、スレーブ発振器５６の発振周波数を補正する。
　これにより、スレーブ発振器５６の発振周波数をマスター発振器４４６の発振周波数に一致させることができる。したがって、本実施の形態に係る電圧測定システム４１０においても、実施の形態１に係る電圧測定システム１０と同様の効果が奏される。また、本実施の形態では、通信装置を省略できるため、構成を簡素化することができる。
　（実施の形態６）
　実施の形態６に係る電圧測定システムについて説明する。本実施の形態に係る電圧測定システムは、主に、補正したスレーブ発振器が生成する第一クロック信号を用いて、スレーブ発振器より低速な発振器の補正を行う点において、実施の形態１に係る電圧測定システム１０と相違する。以下、本実施の形態に係る電圧測定システムについて、実施の形態１に係る電圧測定システム１０との相違点を中心に説明する。
　［６－１．全体構成］
　本実施の形態に係る電圧測定システムの全体構成について、図１２を用いて説明する。図１２は、本実施の形態に係る電圧測定システム５１０の機能構成を示すブロック図である。なお、図１２には、電圧測定システム５１０の測定対象であるバッテリセル２１と、抵抗素子２２と、電圧測定システム５１０を制御する制御装置２０とが併せて示されている。
　図１２に示されるように、電圧測定システム５１０は、通信装置３０と、電圧測定装置５４０、５５０とを備える。
　電圧測定装置５４０は、選択回路４１と、マルチプレクサ４２と、補正回路４３と、通信回路５４４と、モード制御回路４５と、スレーブ発振器４６と、測定制御回路４７と、電圧測定回路４８と、低速補正回路５４９と、低速発振器５４６とを有する。
　低速発振器５４６は、低速クロック信号を生成し、スレーブ発振器４６より発振周波数が低い第一低速発振器の一例である。低速発振器５４６は、電圧測定装置５４０における任意の動作のタイミングを制御するために用いられてよい。低速発振器５４６は、例えば、複数のバッテリセル間のバランス調整を行うタイミングなどを制御するために使用されてもよい。
　低速補正回路５４９は、スレーブ発振器４６からの第一クロック信号に基づいて低速発振器５４６の発振周波数を補正する第一低速補正回路の一例である。低速補正回路５４９は、例えば、補正モードにおいて、低速発振器５４６の発振周波数を補正する。低速補正回路５４９は、低速発振器５４６から出力される低速クロック信号の一つのパルスに対応する期間内に、スレーブ発振器４６から出力される第一クロック信号のクロックの個数が、予め定められた個数となるように低速発振器５４６の発振周波数を補正してもよい。
　また、低速補正回路５４９は、基準信号に基づいて補正されたスレーブ発振器４６からの第一クロック信号に基づいて低速発振器５４６の発振周波数を補正してもよい。
　通信回路５４４は、低速発振器５４６の補正を指示するコマンド信号を受信した場合に、低速補正回路５４９へ、当該コマンド信号（又は、当該コマンド信号に対応する信号）を送信する点において、実施の形態１に係る通信回路４４と相違し、その他の点において一致する。
　電圧測定装置５５０は、選択回路５１と、マルチプレクサ５２と、補正回路５３と、通信回路５５４と、モード制御回路５５と、スレーブ発振器５６と、測定制御回路５７と、電圧測定回路５８と、低速補正回路５５９と、低速発振器５５６とを有する。通信回路５５４、低速補正回路５５９、及び、低速発振器５５６は、それぞれ、電圧測定装置５４０が有する通信回路５４４、低速補正回路５４９、及び、低速発振器５４６と同様の構成を有する。低速発振器５５６は、低速クロック信号を生成し、スレーブ発振器５６より発振周波数が低い第二低速発振器の一例である。低速補正回路５５９は、スレーブ発振器５６からの第二クロック信号に基づいて低速発振器５５６の発振周波数を補正する第二低速補正回路の一例である。
　［６－２．補正方法］
　本実施の形態に係るスレーブ発振器４６、５６、及び、低速発振器５４６、５５６の補正方法について説明する。本実施の形態に係るスレーブ発振器４６、５６の補正方法は、実施の形態１に係るスレーブ発振器４６、５６の補正方法と同様である。
　低速補正回路５４９、５５９は、例えば、それぞれ、補正モードにおけるパルスカウンタ８１（図５参照）がパルスをカウントする期間に、低速発振器５４６、５５６を補正する。これにより、スレーブ発振器４６、５６だけでなく、低速発振器５４６、５５６も補正できる。
　また、低速補正回路５４９、５５９は、補正モードにおいて、スレーブ発振器４６、５６が補正された後に、低速発振器５４６、５５６を補正してもよい。これにより、電圧測定装置５４０における電圧測定のタイミングだけでなく他の動作タイミングも高精度に制御することができる。
　（変形例など）
　以上、本開示について、各実施の形態に基づいて説明したが、本開示は、上記各実施の形態に限定されるものではない。
　例えば、上記各実施の形態においては、制御装置は、電圧測定システムに含まれないが、電圧測定システムに含まれてもよい。
　また、上記各実施の形態に係る電圧測定システムは、例えば、一つの筐体内などに収容されてもよいし、複数に分離されていてもよい。
　また、上記各実施の形態に係る電圧測定システムを構成する構成要素の一部又は全部は、１個のシステムＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ　Ｓｃａｌｅ　Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ：大規模集積回路）から構成されているとしてもよい。システムＬＳＩは、複数の構成部を１個のチップ上に集積して製造された超多機能ＬＳＩであり、具体的には、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを含んで構成されるコンピュータシステムである。当該ＲＡＭには、コンピュータプログラムが記憶されている。当該マイクロプロセッサが、当該コンピュータプログラムにしたがって動作することにより、システムＬＳＩは、その機能を達成する。
　また、上記各実施の形態に係る電圧測定システムを構成する構成要素の一部又は全部は、脱着可能なＩＣカード又は単体のモジュールから構成されているとしてもよい。当該ＩＣカード又は当該モジュールは、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどから構成されるコンピュータシステムである。当該ＩＣカード又は当該モジュールは、上記の超多機能ＬＳＩを含むとしてもよい。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムにしたがって動作することにより、当該ＩＣカード又は当該モジュールは、その機能を達成する。このＩＣカード又はこのモジュールは、耐タンパ性を有するとしてもよい。
　本開示は、マイクロプロセッサとメモリを備えたコンピュータシステムであって、当該メモリは、上記コンピュータプログラムを記憶しており、当該マイクロプロセッサは、当該コンピュータプログラムにしたがって動作するとしてもよい。
　また、上記各実施の形態に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態や、本開示の趣旨を逸脱しない範囲で上記各実施の形態における構成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本開示に含まれる。
　本開示に係る電圧測定システムは、例えば、車載用バッテリモジュールシステム用の電圧測定システムなどとして利用できる。
　１０、１１０、２１０、３１０、４１０、５１０　電圧測定システム
　２０、２２０　制御装置
　２１　バッテリセル
　２２　抵抗素子
　３０、１３０、２３０、２３０ａ、３３０、３３０ａ　通信装置
　３２、３２ａ、４２、５２　マルチプレクサ
　３３、３３ａ、４４３　基準信号生成回路
　３４、３４ａ、４４、５４、２２１、４４４、５４４、５５４　通信回路
　３５、３５ａ、４５、５５　モード制御回路
　３６、３６ａ、４４６　マスター発振器
　４０、５０、１４０、４４０、５４０、５５０　電圧測定装置
　４１、５１　選択回路
　４３、５３　補正回路
　４６、５６　スレーブ発振器
　４７、５７、４４７　測定制御回路
　４８、５８　電圧測定回路
　８１　パルスカウンタ
　８２　演算回路
　８３　記憶回路
　１３９、２３９、２３９ａ、３３９ａ　マスター補正回路
　１４３　基準信号補正回路
　１４６　高精度発振器
　２２２　制御用発振器
　５４６、５５６　低速発振器
　５４９、５５９　低速補正回路

Claims (16)

  1. 　バッテリセルの電圧を測定する電圧測定システムであって、
    　第一マスタークロック信号を生成する第一マスター発振器と、前記第一マスタークロック信号に基づいて第一基準信号を生成する第一基準信号生成回路とを有する第一基準信号送信装置と、
    　第一クロック信号を生成する第一スレーブ発振器と、前記第一基準信号に基づいて前記第一スレーブ発振器の発振周波数を補正する第一補正回路と、第一電圧測定回路と、前記第一クロック信号に基づいて前記第一電圧測定回路を制御する第一測定制御回路とを有する第一電圧測定装置とを備え、
    　前記電圧測定システムは、
    　前記第一基準信号送信装置と前記第一電圧測定装置との間でコマンド信号を送受信する通常モードと、
    　前記第一基準信号を前記第一基準信号送信装置から前記第一電圧測定装置に送信し、前記第一基準信号を用いて、前記第一スレーブ発振器の発振周波数を前記第一マスター発振器の発振周波数に同期させる補正モードとを有する
    　電圧測定システム。
  2. 　前記第一基準信号送信装置は、前記コマンド信号を送受信する通信回路と、
    　前記コマンド信号及び前記第一基準信号を送受信するマルチプレクサとをさらに有し、
    　前記マルチプレクサは、前記通常モードにおいて、前記コマンド信号を送受信し、前記補正モードにおいて、前記第一基準信号を送受信する
    　請求項１に記載の電圧測定システム。
  3. 　前記第一電圧測定装置は、コマンド信号を送受信する第一通信回路と、
    　前記コマンド信号及び前記第一基準信号を送受信する第一マルチプレクサとをさらに有し、
    　前記第一マルチプレクサは、前記通常モードにおいて、前記コマンド信号を送受信し、前記補正モードにおいて、前記第一基準信号を送受信する
    　請求項１又は２に記載の電圧測定システム。
  4. 　前記第一電圧測定装置は、前記コマンド信号及び前記第一基準信号を送受信する第一選択回路をさらに有し、
    　前記第一選択回路は、前記通常モードにおいて、前記コマンド信号を前記第一通信回路との間で送受信し、前記補正モードにおいて、前記第一基準信号を受信し、かつ、前記第一基準信号を前記第一補正回路及び前記第一マルチプレクサへ送信する
    　請求項３に記載の電圧測定システム。
  5. 　前記補正モードにおいて、前記第一マルチプレクサは、前記第一基準信号を、前記電圧測定システム内の他の機器へ送信する
    　請求項３又は４に記載の電圧測定システム。
  6. 　前記第一測定制御回路は、前記第一クロック信号に基づいて決定された周期で、前記第一電圧測定回路に電圧を測定させる
    　請求項１～５のいずれか１項に記載の電圧測定システム。
  7. 　前記第一補正回路は、前記第一基準信号に含まれるパルス信号の個数をカウントし、前記個数に基づいて、前記第一スレーブ発振器の発振周波数を補正する
    　請求項１～６のいずれか１項に記載の電圧測定システム。
  8. 　前記第一補正回路は、前記パルス信号の個数に対応する前記第一マスター発振器のクロックの個数と、前記第一基準信号に対応する期間における前記第一スレーブ発振器のクロックの個数とから算出される補正差分値に基づいて、前記第一スレーブ発振器の発振周波数を補正する
    　請求項７に記載の電圧測定システム。
  9. 　前記第一補正回路は、カウントした前記個数が所定の範囲内でない場合に、前記第一スレーブ発振器の発振周波数の補正を行わない
    　請求項７又は８に記載の電圧測定システム。
  10. 　前記第一電圧測定装置は、
    　前記第一スレーブ発振器より発振周波数が低い第一低速発振器と、
    　前記第一スレーブ発振器からの前記第一クロック信号に基づいて前記第一低速発振器の発振周波数を補正する第一低速補正回路とをさらに有する
    　請求項１～９のいずれか１項に記載の電圧測定システム。
  11. 　前記第一低速補正回路は、前記第一基準信号に基づいて補正された前記第一スレーブ発振器からの前記第一クロック信号に基づいて前記第一低速発振器の発振周波数を補正する
    　請求項１０に記載の電圧測定システム。
  12. 　前記第一電圧測定装置を介して前記第一基準信号を受信する第二電圧測定装置をさらに備え、
    　前記第二電圧測定装置は、
    　第二クロック信号を生成する第二スレーブ発振器と、
    　前記第一基準信号に基づいて前記第二スレーブ発振器の発振周波数を補正する第二補正回路と、
    　第二電圧測定回路と、
    　前記第二クロック信号に基づいて前記第二電圧測定回路を制御する第二測定制御回路とを有する
    　請求項１～１１のいずれか１項に記載の電圧測定システム。
  13. 　前記第一基準信号送信装置は、
    　電圧測定回路と、
    　前記第一マスタークロック信号に基づいて前記電圧測定回路を制御する測定制御回路とを有する
    　請求項１～１２のいずれか１項に記載の電圧測定システム。
  14. 　前記第一マスター発振器より高精度な高精度クロック信号を生成する高精度発振器をさらに備え、
    　前記第一基準信号送信装置は、前記高精度クロック信号に基づいて、前記第一マスター発振器の発振周波数を補正する第一マスター補正回路をさらに備える
    　請求項１～１２のいずれか１項に記載の電圧測定システム。
  15. 　第二マスタークロック信号を生成する第二マスター発振器と、前記第二マスタークロック信号に基づいて第二基準信号を生成する第二基準信号生成回路とを有する第二基準信号送信装置をさらに備え、
    　前記第一基準信号送信装置及び前記第二基準信号送信装置の各々は、外部から入力されるクロック信号である制御用クロック信号を受信し、
    　前記第一基準信号送信装置は、前記制御用クロック信号に基づいて、前記第一マスター発振器の発振周波数を補正する第一マスター補正回路をさらに有し、
    　前記第二基準信号送信装置は、前記制御用クロック信号に基づいて、前記第二マスター発振器の発振周波数を補正する第二マスター補正回路をさらに有する
    　請求項１～１２のいずれか１項に記載の電圧測定システム。
  16. 　第二マスタークロック信号を生成する第二マスター発振器と、前記第二マスタークロック信号に基づいて第二基準信号を生成する第二基準信号生成回路とを有する第二基準信号送信装置をさらに備え、
    　前記第二基準信号送信装置は、前記第一マスタークロック信号に基づいて、前記第二マスター発振器の発振周波数を補正する第二マスター補正回路をさらに備える
    　請求項１～１２のいずれか１項に記載の電圧測定システム。
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