WO2022085566A1 - 実装基板、及び回路基板 - Google Patents

実装基板、及び回路基板 Download PDF

Info

Publication number
WO2022085566A1
WO2022085566A1 PCT/JP2021/038082 JP2021038082W WO2022085566A1 WO 2022085566 A1 WO2022085566 A1 WO 2022085566A1 JP 2021038082 W JP2021038082 W JP 2021038082W WO 2022085566 A1 WO2022085566 A1 WO 2022085566A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
dimension
resin layer
terminal
terminals
electronic component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2021/038082
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
智久 水戸瀬
賢一 川畑
晋 谷口
映子 関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to KR1020237013104A priority Critical patent/KR102878456B1/ko
Priority to US18/032,212 priority patent/US20230395766A1/en
Priority to DE112021005514.3T priority patent/DE112021005514T5/de
Priority to CN202180070878.0A priority patent/CN116349007A/zh
Priority to JP2022557447A priority patent/JPWO2022085566A1/ja
Publication of WO2022085566A1 publication Critical patent/WO2022085566A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28—Applying non-metallic protective coatings
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80—Constructional details
    • H10H20/85—Packages
    • H10H20/857—Interconnections, e.g. lead-frames, bond wires or solder balls
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/182—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with components mounted in printed circuit boards [PCB], e.g. insert-mounted components [IMC]
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3452—Solder masks
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80—Constructional details
    • H10H20/85—Packages
    • H10H20/852—Encapsulations
    • H10H20/853—Encapsulations characterised by their shape
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09—Shape and layout
    • H05K2201/09209—Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09372—Pads and lands
    • H05K2201/09472—Recessed pad for surface mounting; Recessed electrode of component
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09—Shape and layout
    • H05K2201/09818—Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
    • H05K2201/09827—Tapered, e.g. tapered hole, via or groove
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10007—Types of components
    • H05K2201/10106—Light emitting diode [LED]
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/01—Manufacture or treatment
    • H10H20/036—Manufacture or treatment of packages
    • H10H20/0364—Manufacture or treatment of packages of interconnections
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071—Connecting or disconnecting
    • H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071—Connecting or disconnecting
    • H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
    • H10W72/07231—Techniques
    • H10W72/07236—Soldering or alloying
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
    • H10W72/241—Dispositions, e.g. layouts
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
    • H10W72/251—Materials
    • H10W72/252—Materials comprising solid metals or solid metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
    • H10W74/10—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
    • H10W74/15—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition on active surfaces of flip-chip devices, e.g. underfills
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00—Package configurations
    • H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/721—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
    • H10W90/724—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00—Package configurations
    • H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
    • H10W90/734—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

Definitions

  • This disclosure relates to a mounting board and a circuit board.
  • Patent Document 1 a technique for forming a protrusion between a pair of terminals is disclosed.
  • the mounting board according to the present disclosure is a mounting board including an electronic component having at least a pair of first terminals and a circuit board having at least a pair of second terminals, the first terminal and the second.
  • the terminals of the above are joined by a joining material, and the first terminal, the second terminal, and the joining material are arranged in a recess formed in the resin layer, so that the periphery is surrounded by the resin layer, and the first terminal is formed.
  • the total thickness of the terminal, the second terminal, and the bonding material is the dimension h1
  • the dimension h1 is 1 ⁇ m or more and 20 ⁇ m or less
  • the width of the first terminal is the dimension d1 of the resin layer.
  • the width of the recess is dimension d2
  • the value of (dimension d2-dimension d1) is 10 ⁇ m or less.
  • the first terminal, the second terminal, and the joining material are arranged in the recess formed in the resin layer, so that the periphery is surrounded by the resin layer.
  • the dimension h1 which is the total thickness of the first terminal, the second terminal, and the joint material to be 1 ⁇ m or more and 20 ⁇ m or less, the joint portion can be made difficult to break.
  • the value of (dimension d2-dimension d1) to 10 ⁇ m or less, it is possible to prevent the electronic components from peeling off from the circuit board when the mounting substrate receives a physical impact.
  • a constituent material may be arranged between the joining material and the resin layer. As a result, by supporting the electronic components with the constituent materials, it is possible to further prevent the electronic components from peeling off from the circuit board.
  • a component may be arranged between the resin layer existing between the pair of first terminals and the main body of the electronic component. As a result, the main body of the electronic component can be held by the constituent material, and the strength can be improved.
  • the constituent material may come into contact with the main body.
  • the lower surface of the main body of the electronic component can be fixed with the constituent material. Therefore, even if the mounting board receives a physical impact, it becomes difficult for a force to be applied to the joining material and the electronic components are hard to be peeled off from the circuit board.
  • the resin layer existing between the pair of first terminals may come into contact with the main body of the electronic component.
  • the lower surface of the main body of the electronic component is in contact with and supported by the resin layer, even if the mounting board receives a physical impact, it is difficult for a force to be applied to the bonding material and the electronic component is not easily peeled off from the circuit board. Become.
  • the dimension R1 may be smaller than the dimension R2.
  • the main body of the electronic component is surrounded and supported by the surrounding resin layer, even if the mounting board receives a physical impact, it becomes difficult to apply force to the bonding material, and the electronic component becomes It is difficult to peel off from the circuit board.
  • the inner surface of the recess may have a tapered shape. Force is applied to the bonding material from the resin layer when a thermal shock is applied due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the resin layer and the substrate. It becomes difficult for the electronic components to come off from the circuit board in the thermal shock test.
  • the circuit board according to the present disclosure is a circuit board having at least a pair of second terminals, in which a bonding material is arranged on the second terminal, and the second terminal and the bonding material are formed in a resin layer.
  • a bonding material is arranged on the second terminal, and the second terminal and the bonding material are formed in a resin layer.
  • circuit board according to the present disclosure it is possible to obtain a mounting board having the same operation and effect as described above when electronic components are mounted.
  • the dimension h2 may be larger than the thickness of the resin layer.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a mounting board 1 according to an embodiment of the present disclosure.
  • the mounting board 1 includes an electronic component 2 and a circuit board 3.
  • the mounting board 1 is configured by mounting the electronic component 2 on the circuit board 3 via the joining material 4.
  • the electronic component 2 includes a main body 6 and a pair of terminals 7 (first terminal).
  • the main body 6 is a member for exerting a function as an electronic component 2.
  • the terminal 7 is a metal portion formed on the main surface of the main body 6.
  • the electronic component 2 is composed of, for example, a micro LED or the like.
  • the micro LED is a component that emits light in response to an input from the circuit board 3.
  • the circuit board 3 includes a base material 8, a resin layer 9, and a pair of terminals 10 (second terminals).
  • the base material 8 is a flat plate-shaped main body of the circuit board 3.
  • the resin layer 9 is a resin layer formed on the upper surface of the base material 8.
  • the terminal 10 is a metal portion formed on the main surface of the base material 8.
  • Ni, Cu, Ti, Cr, Al, Mo, Pt, Au, an alloy selected from at least two of these, and the like are adopted.
  • the joining material 4 is a member that joins the terminal 7 of the electronic component 2 and the terminal 10 of the circuit board 3.
  • the joining material 4 may contain Sn, or may be composed of an alloy containing Sn. However, the joining material 4 is not necessarily limited to the one containing Sn.
  • the bonding material 4 may be composed of an alloy containing an element that lowers the melting point of Sn. Examples of the element that lowers the melting point of Sn include Bi and the like.
  • the joining material 4 functions as a solder. As a result, the terminal 10, the joining material 4, and the terminal 7 are laminated in order from the upper surface of the base material 8 between the base material 8 and the main body portion 6.
  • solder bonding is performed after the terminal 10, the bonding material 4, and the terminal 7 are laminated. Therefore, a structure is formed in which the metals of the terminal 10, the joining material 4, and the terminal 7 are melted and diffused.
  • the structure after such solder bonding may be a structure containing a brittle intermetallic compound (IMC). In the presence of an intermetallic compound having a brittle structure, reliability tends to decrease. Therefore, the effect of the structure in which the structure of the solder joint is surrounded by the resin layer 9 becomes more remarkable.
  • IMC brittle intermetallic compound
  • a pair of recesses 11 are formed in the resin layer 9.
  • the recess 11 is formed by a through hole penetrating the resin layer 9.
  • the recess 11 has a rectangular shape when viewed from the thickness direction of the circuit board 3 (see FIG. 2).
  • the terminal 7, the terminal 10, and the joining material 4 are arranged in the recess 11 formed in the resin layer 9, and are surrounded by the resin layer 9.
  • a slight gap is formed between the terminal 7, the terminal 10, and the joining material 4 and the inner side surfaces 11a on all sides of the recess 11.
  • the portion existing between the pair of terminals 7 is referred to as a first portion 9A
  • the portion surrounding the electronic component 2 is referred to as a second portion 9B.
  • the heights of the first portion 9A and the second portion 9B from the base material 8 are the same.
  • the first portion 9A of the resin layer 9 existing between the pair of terminals 7 comes into contact with the main body portion 6 of the electronic component 2.
  • the upper surface of the first portion 9A of the resin layer 9 and the lower surface of the main body portion 6 of the electronic component come into contact with each other.
  • FIG. 2 is a schematic plan view showing the positional relationship between the recess 11 and the terminal 7 when the mounting board 1 is viewed from above.
  • components other than the resin layer 9 and the terminal 7 of the electronic component 2 are omitted.
  • the dimension h1 is preferably 1 ⁇ m or more, and more preferably 4 ⁇ m or more. Further, the dimension h1 is preferably 20 ⁇ m or less, more preferably 15 ⁇ m or less, and further preferably 10 ⁇ m or less.
  • a plurality of combinations of "terminals 7, terminals 10, and joining materials 4" are provided in one mounting board 1, but the dimensions h1 related to each combination may be different from each other. In this case, it is preferable to satisfy the above conditions for the dimension h1 related to the combination having the highest height measurement result. However, it is sufficient that at least one dimension h1 satisfying the above conditions exists in the mounting substrate 1.
  • the dimension h1 can be measured by vertically cutting the mounting substrate 1 and observing the cross section by SEM.
  • the (dimension d2-dimension d1) is preferably 10 ⁇ m or less, preferably 6 ⁇ m or less, and 2 ⁇ m. The following is more preferable.
  • the lower limit of (dimension d2-dimension d1) is not particularly limited, and 0 ⁇ m may be set as the lower limit if it does not affect the production.
  • the dimension d1 is preferably 2 ⁇ m or more, and more preferably 5 ⁇ m or more.
  • the dimension d1 is preferably 20 ⁇ m or less, and more preferably 10 ⁇ m or less.
  • the dimension d2 is preferably 2 ⁇ m or more, and more preferably 7 ⁇ m or more.
  • the dimension d2 is preferably 30 ⁇ m or less, and more preferably 15 ⁇ m or less.
  • the distance between one recess 11 and the other recess 11 is preferably 4 ⁇ m or more, preferably 20 ⁇ m or less.
  • the dimensions d1 and d2 can be measured by cutting out the mounting substrate 1 in parallel with the upper surface and observing by SEM.
  • a plurality of combinations of "terminals 7 and recesses 11" are provided in one mounting board 1, but the (dimension d2-dimension d1) related to each combination may be different from each other. In this case, it is sufficient that at least one (dimension d2-dimension d1) satisfying the above conditions exists in the mounting substrate 1. Corners R may be formed at the corners of the recess 11 of the resin layer 9 and the corners of the terminals 7 and 10. The angle R may be set to, for example, 1 ⁇ m, 5 ⁇ m, 10 ⁇ m, or the like.
  • the dimension of either side corresponds to the dimension d1.
  • the dimension of the short side corresponds to the dimension d1.
  • the diameter corresponds to the dimension d1.
  • the minor axis corresponds to the dimension d1.
  • the terminal 7 is a polygon having a pentagon or more, the distance between each vertex and the side facing the vertex is measured, and the one having the shortest distance is defined as the dimension d1.
  • the method of determining the dimension d2 according to the shape of the recess 11 is the same as that of the dimension d1.
  • the height of the first portion 9A of the resin layer 9 existing between the pair of terminals 7 is defined as the dimension R1
  • the height of the second portion 9B of the resin layer 9 surrounding the electronic component 2 is defined as the dimension R1.
  • the dimension is R2.
  • the dimension R1 is preferably 2 ⁇ m or more, and more preferably 4 ⁇ m or more.
  • the dimension R1 is preferably 20 ⁇ m or less, and more preferably 10 ⁇ m or less.
  • the dimension R2 is preferably 3 ⁇ m or more, and more preferably 4 ⁇ m or more.
  • the dimension R2 is preferably 30 ⁇ m or less, and more preferably 10 ⁇ m or less.
  • the dimension R1 and the dimension R2 are set to the same value.
  • the resin layer 9 can be easily formed.
  • the dimension R1 and the dimension R2 may be set to different values from each other.
  • the dimension R1 may be set to a value smaller than the dimension R2.
  • the upper surface of the second portion 9B may be arranged at a position higher than the lower surface of the main body portion 6 of the electronic component 2.
  • the joining material 4 is arranged on the terminal 10. Since the bonding material 4 is in a state before being bonded to the electronic component 2, it is thicker than the bonding material 4 in the state of the mounting substrate 1 of FIG. 1 at least.
  • the joining material 4 may be a metal containing Sn, which is a low-temperature solder, and may have any fine structure as long as its overall composition has a low melting point.
  • the joining material 4 may have a laminated structure having a Sn layer and another metal layer such as Bi.
  • the circuit board 3 may be circulated in a state where Sn and another metal are alloyed by heating in advance.
  • the terminal 10 and the joining material 4 are arranged in the recess 11 formed in the resin layer 9, and are surrounded by the resin layer 9.
  • the dimension h2 is preferably 1 ⁇ m or more, and more preferably 3 ⁇ m or more.
  • the dimension h2 is preferably 20 ⁇ m or less, and more preferably 10 ⁇ m or less.
  • the electronic component 2 is mounted on the circuit board 3. At this time, the pair of terminals 7 of the electronic component 2 are placed on the pair of joining materials 4, respectively. Soldering is performed by heating the circuit board 3 and the electronic component 2 in this state.
  • the heating method may be any of a reflow method of heating in a furnace or the like, a thermocompression bonding method of heating while crimping the electronic component 2, and a light heating method of heating by shining light, and these may be combined.
  • the electronic component 2 is mounted on the circuit board 3, and the mounting board 1 is completed.
  • the terminal 7, the terminal 10, and the joining material 4 are arranged in the recess 11 formed in the resin layer 9, and are surrounded by the resin layer 9. Thereby, a shock absorbing structure by the resin layer 9 can be provided around the joint portion. Further, by setting the dimension h1, which is the total thickness of the terminal 7, the terminal 10, and the joining material 4 to 1 ⁇ m or more and 20 ⁇ m or less, the joint portion can be made difficult to break. Further, by setting the value of (dimension d2-dimension d1) to 10 ⁇ m or less, it is possible to prevent the electronic component 2 from peeling off from the circuit board 3 when the mounting substrate 1 receives a physical impact.
  • the first portion 9A of the resin layer 9 existing between the pair of terminals 7 may come into contact with the main body portion 6 of the electronic component 2.
  • the lower surface of the main body 6 of the electronic component 2 is in contact with and supported by the first portion 9A of the resin layer 9, so that even if the mounting substrate 1 receives a physical impact, a force is applied to the bonding material 4. It becomes difficult to join and the electronic component 2 does not easily come off from the circuit board 3.
  • R1 may be smaller than the dimension R2.
  • the circuit board 3 is a circuit board 3 having at least a pair of terminals 10, and the bonding material 4 is arranged on the terminals 10, and the terminals 10 and the bonding material 4 are housed in a recess 11 formed in the resin layer 9.
  • the periphery is surrounded by the resin layer 9, and when the total thickness of the terminal 10 and the joining material 4 is the dimension h2, the dimension h2 is 1 ⁇ m or more and 20 ⁇ m or less, and the resin layer 9 is formed.
  • the width of the recess 11 is set to the dimension d2, the dimension d2 is 2 ⁇ m or more and 30 ⁇ m or less.
  • the mounting board 1 when the electronic component 2 is mounted, the mounting board 1 having the same operation and effect as described above can be obtained.
  • the constituent material 20 may be arranged between the joining material 4 and the resin layer 9. As a result, the electronic component 2 can be further prevented from being peeled off from the circuit board 3 by being supported by the constituent material 20.
  • the constituent material 20 may be arranged between the first portion 9A of the resin layer 9 existing between the pair of terminals 7 and the main body portion 6 of the electronic component 2.
  • the main body 6 of the electronic component 2 can be held by the constituent material 20, and the strength can be improved.
  • the constituent material 20 may come into contact with the main body portion 6.
  • the lower surface of the main body 6 of the electronic component 2 can be fixed by the constituent material 20. Therefore, even if the mounting board 1 receives a physical impact, it becomes difficult for a force to be applied to the bonding material 4, and the electronic component 2 does not easily come off from the circuit board 3.
  • the inner side surface 11a of the recess 11 may have a tapered shape so that the electronic component 2 side becomes wider.
  • a force is applied to the bonding material 4 from the resin layer 9 when a thermal shock is applied due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the resin layer 9 and the base material 8, but the inner side surface 11a of the recess 11 has a tapered shape, so that the bonding material has a tapered shape. It becomes difficult for the force from the resin layer on the electronic component 2 side to be applied to 4, and the electronic component 2 becomes difficult to peel off from the circuit board 3 in the thermal shock test.
  • the width dimension d2 of the recess 11 (that is, the position of the upper surface of the resin layer 9) is defined as the dimension d2. That is, the dimension d2 is determined at the position where the width dimension is the largest in the recess 11.
  • the height dimension h2 of the bonding material 4 in the circuit board 3 may be higher than the height dimension R2 of the resin layer 9 (see, for example, FIG. 3). Since the dimension h2 is higher than the dimension R2, the terminal 7 can be pushed into the bonding material 4 and brought into close contact with the bonding material 4 when the electronic component 2 is mounted, so that the void between the bonding material 4 and the terminal 7 after bonding is reduced. Therefore, even if the mounting substrate 1 receives an impact, the joining material 4 is less likely to break and the strength can be improved.
  • the mounting boards of Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 and 2 were prepared by the following manufacturing methods.
  • the base material 8 on which the terminal 10 was formed was prepared.
  • a glass epoxy substrate was used as the base material 8.
  • As the terminal 10 a Cu terminal coated with a Ni film was adopted. 100 pairs of terminals 10 were formed on the base material 8.
  • a pair of Bi / Sn laminated pads were formed on the terminal 10 as the joining material 4 to a desired thickness.
  • the paired joining materials 4 were formed at 100 positions.
  • a resin layer 9 was formed on the base material 8 so as to surround the terminal 10 and the bonding material 4.
  • An epoxy resin was used as the resin layer 9.
  • the circuit board 3 as shown in FIG. 3 was obtained.
  • an LED chip was mounted as an electronic component 2 on the circuit board 3. 100 LED chips were mounted on the circuit board 3.
  • the LED chip had an Au terminal as the terminal 7.
  • the mounting board 1 in this state was reflowed at 150 ° C to 190 ° C. As a result, the circuit board 3 and the electronic component 2 are joined.
  • the dimensions of Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 and 2 and the presence or absence of constituent materials are shown in the table of FIG.
  • the following tests were performed on the mounting boards of Examples 1 to 11 and Comparative Examples 1 and 2 as described above.
  • the obtained mounting board was freely dropped 10 times from a height of 30 cm.
  • the ratio of the number of LED chips remaining after the test to the total number of LED chips on the mounting board before the test was examined as the "LED residual ratio".
  • the number ratio of the LED chips that emit light was examined as the "light emission rate of the remaining LED”.
  • the light emission rate of the remaining LED was OK when it was 50% or more.
  • the ratio of the number of light emitting LED chips to the number of LED chips before the test was examined as the "OK ratio after the test".
  • the test results at this time are shown in the table of FIG.
  • Comparative Example 1 it was confirmed that since the dimension h1 is too long, the joint portion is easily broken by an impact, and the number of LED chips that do not emit light increases.
  • Comparative Example 2 it was confirmed that the LED chip could not be protected from the impact of the test because (dimension d2-dimension d1) became too wide, and the LED chip could be easily removed from the circuit board.
  • Examples 1 to 11 it was confirmed that there were many remaining LED chips and that the remaining LED chips could also emit light at a high rate.
  • the dimension h1 is low, the variation in the amount of solder with respect to the formed joint becomes large, so that the joint strength varies, and there are some places where the solder joint cannot withstand the test. It is understood that the luminescence rate is slightly reduced. From Examples 2 and 3, it is understood that the joint portion can be protected and the OK ratio after the test can be increased by making the dimension h1 an appropriate height and reducing (dimension d2-dimension d1). .. From Example 4, it is understood that the higher the dimension h1 as compared with Examples 2 and 3, the joint portion becomes slightly thinner and the number of LED chips that can withstand the test is slightly reduced. From Example 5, it is understood that the higher dimension h1 as compared with Example 4 makes the joint portion slightly thinner and slightly reduces the number of LED chips that can withstand the test.
  • Example 6 it is understood that the joint portion can be protected by reducing (dimension d2-dimension d1), and the OK ratio can be increased after the test.
  • (dimension d2-dimension d1) is larger than that of Example 6, but there are many joints in contact with the wall of the recess, and they are subjected to the test. Since the impact is suppressed by the wall of the recess, it is understood that the decrease in the light emission rate can be suppressed to some extent.
  • Example 10 (dimension d2-dimension d1) is the same as that of Example 9, but since the joint portion becomes elongated due to the high dimension h1 and is easily broken by an impact, the OK ratio after the test is slightly reduced. Is understood. From Example 11, it is understood that all the items are good results.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Slot Machines And Peripheral Devices (AREA)

Abstract

実装基板は、少なくとも一対の第１の端子を有する電子部品と、少なくとも一対の第２の端子を有する回路基板と、を備える実装基板であって、第１の端子、及び第２の端子は、接合材によって接合され、第１の端子、第２の端子、及び接合材は、樹脂層に形成された凹部内に配置されることで、周囲を樹脂層によって囲まれ、第１の端子、第２の端子、及び接合材の厚みの合計を寸法ｈ１とした場合、寸法ｈ１は１μｍ以上であって、２０μｍ以下であり、第１の端子の幅を寸法ｄ１として、樹脂層の凹部の幅を寸法ｄ２とした場合、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）の値は、１０μｍ以下である。

Description

実装基板、及び回路基板
　本開示は、実装基板、及び回路基板に関する。
　電子部品は、はんだを介して回路基板に実装されることが多い。電子部品をはんだを用いて回路基板に実装する際、リフロー工程においてはんだボールが形成されることがあり、当該はんだボールによって電子部品の一対の端子間が短絡するという問題が起きることがあった。このような問題を解決するために、一対の端子間に突起物を形成する技術が開示されている（特許文献１）。
特開２００６－２８６８５１号公報
　近年、電子機器の小型化に伴い、電子機器に使用される電子部品の小型化も進んでおり、例えばマイクロＬＥＤのように、２０μｍ程度の電子部品を回路基板に実装した実装基板の需要も出てきている。しかし電子部品が小さくなればなるほど、はんだを小さくする必要があるが、はんだ量の制御は難しく、接合するはんだ量にばらつきが存在する場合がある。そのためはんだサイズにばらつきが表れ、電子部品を保持する力のバランスが崩れてしまい、接合後のはんだに応力がかかり強度が不十分となることが多くなる。それにより、物理的な衝撃が加わることで電子部品が回路基板から剥がれ落ちやすくなるという問題があった。
　本開示は、電子部品が回路基板から剥がれにくくすることができる実装基板、及び回路基板を提供することを目的とする。
　本開示に係る実装基板は、少なくとも一対の第１の端子を有する電子部品と、少なくとも一対の第２の端子を有する回路基板と、を備える実装基板であって、第１の端子、及び第２の端子は、接合材によって接合され、第１の端子、第２の端子、及び接合材は、樹脂層に形成された凹部内に配置されることで、周囲を樹脂層によって囲まれ、第１の端子、第２の端子、及び接合材の厚みの合計を寸法ｈ１とした場合、寸法ｈ１は１μｍ以上であって、２０μｍ以下であり、第１の端子の幅を寸法ｄ１として、樹脂層の凹部の幅を寸法ｄ２とした場合、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）の値は、１０μｍ以下である。
　本開示に係る実装基板において、第１の端子、第２の端子、及び接合材は、樹脂層に形成された凹部内に配置されることで、周囲を樹脂層によって囲まれる。これにより、接合部分の周囲に樹脂層による衝撃緩衝構造を設けることができる。更に、第１の端子、第２の端子、及び接合材の厚みの合計である寸法ｈ１を１μｍ以上であって、２０μｍ以下とすることで、接合部分を折れにくくすることができる。また、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）の値を１０μｍ以下とすることで、実装基板が物理的な衝撃を受けた場合に、電子部品が回路基板から剥がれにくくすることができる。
　接合材と樹脂層との間には、構成材が配置されてよい。これにより、構成材で支えることで、更に電子部品が回路基板から剥がれにくくすることができる。
　一対の第１の端子間に存在する樹脂層と、電子部品の本体部との間には、構成材が配置されてよい。これにより、電子部品の本体部を構成材で保持することができ、強度を向上できる。
　構成材は、本体部と接触してよい。この場合、電子部品の本体部の下面を構成材で固定することが可能となる。従って、実装基板が物理的な衝撃を受けても、接合材に力が加わりづらくなり電子部品が回路基板から剥がれにくくなる。
　一対の第１の端子間に存在する樹脂層は、電子部品の本体部と接触してよい。この場合、電子部品の本体部の下面が樹脂層と接触し支持されることで、実装基板が物理的な衝撃を受けても、接合材に力が加わりづらくなり電子部品が回路基板から剥がれにくくなる。
　一対の第１の端子間に存在する樹脂層の高さを寸法Ｒ１とし、電子部品を囲む樹脂層の高さを寸法Ｒ２とした場合、寸法Ｒ１は寸法Ｒ２よりも小さくてよい。この場合、電子部品の本体部が周囲の樹脂層に囲まれて支持されるような構成となるため、実装基板が物理的な衝撃を受けても、接合材に力が加わりづらくなり電子部品が回路基板から剥がれにくくなる。
　凹部の内側面は、テーパー形状を有してよい。樹脂層と基板の熱膨張率の差から熱衝撃を加えた際に接合材に樹脂層から力が加わるが、凹部の内側面がテーパー形状を有することで、接合材へ電子部品側の樹脂層からの力が加わり難くなり熱衝撃試験において電子部品が回路基板からはがれ難くなる。
　本開示に係る回路基板は、少なくとも一対の第２の端子を有する回路基板であって、接合材が第２の端子上に配置され、第２の端子、及び接合材は、樹脂層に形成された凹部内に配置されることで、周囲を樹脂層によって囲まれ、第２の端子、及び接合材の厚みの合計を寸法ｈ２とした場合、寸法ｈ２は１μｍ以上であって、２０μｍ以下であり、樹脂層の凹部の幅を寸法ｄ２とした場合、寸法ｄ２は、２μｍ以上であって、３０μｍ以下である。
　本開示に係る回路基板によれば、電子部品を実装したときに、上述と同様な作用・効果を奏する実装基板を得ることができる。
　樹脂層の厚みよりも寸法ｈ２が大きくてよい。この場合、電子部品を実装する際に接合材に第２の端子を押し込み密着させることが出来るため、接合後の接合材と第２の端子の間のボイドが減少する。そのため実装基板が衝撃を受けても接合材が折れ難くなり強度を向上することができる。
　本開示によれば、電子部品が回路基板から剥がれにくくすることができる実装基板、及び回路基板を提供できる。
本開示の実施形態に係る実装基板を示す概略断面図である。 実装基板を上側から見た場合における、凹部と端子との位置関係を示す概略平面図である。 本開示の実施形態に係る回路基板を示す概略断面図である。 変形例に係る実装基板を示す概略断面図である。 変形例に係る実装基板を示す概略断面図である。 変形例に係る実装基板を示す概略断面図である。 変形例に係る実装基板を示す概略断面図である。 実施例及び比較例の条件、及び試験結果を示す表である。
　図１を参照して、本開示の実施形態に係る実装基板１について説明する。図１は、本開示の実施形態に係る実装基板１を示す概略断面図である。図１に示すように、実装基板１は、電子部品２と、回路基板３とを備える。実装基板１は、電子部品２を接合材４を介して回路基板３に実装することによって構成される。
　電子部品２は、本体部６と、一対の端子７（第１の端子）と、を備える。本体部６は、電子部品２としての機能を発揮するための部材である。端子７は、本体部６の主面に形成された金属製の部分である。端子７の材料として、Ｃｕ、Ｔｉ、Ａｕ、Ｎｉ、Ｓｎ、Ｂｉ、Ｐ、Ｂ、Ｉｎ、Ａｇ、Ｚｎ、Ｐｄ、Ｍｏ、Ｐｔ、Ｃｒ、これらの少なくとも二つから選択される合金などが採用される。電子部品２は、例えばマイクロＬＥＤなどによって構成される。マイクロＬＥＤは、回路基板３からの入力に応じて発光する部品である。
　回路基板３は、基材８と、樹脂層９と、一対の端子１０（第２の端子）と、を備える。基材８は、回路基板３の平板状の本体部である。樹脂層９は、基材８の上面に形成された樹脂製の層である。樹脂層９の材料として、例えばエポキシ樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、尿素樹脂、アルキド樹脂などが採用される。特に好ましくは、樹脂層９の材料として、エポキシ樹脂、アクリル樹脂が採用される。端子１０は、基材８の主面に形成された金属製の部分である。端子１０の材料として、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｔｉ、Ｃｒ，Ａｌ、Ｍｏ、Ｐｔ，Ａｕ、これらの少なくとも二つから選択される合金などが採用される。
　接合材４は、電子部品２の端子７と回路基板３の端子１０とを接合する部材である。接合材４は、Ｓｎを含んでいてもよく、Ｓｎを含む合金によって構成されていてもよい。ただし、接合材４は、必ずしもＳｎを含むものに限定されない。接合材４はＳｎのほか、Ｓｎを低融点化させる元素を含んだ合金によって構成されてもよい。Ｓｎを低融点化させる元素として、例えばＢｉなどがあげられる。接合材４は、はんだとして機能する。これによって、基材８と本体部６との間では、基材８の上面から順に、端子１０、接合材４、及び端子７が積層される。なお、当該箇所では、端子１０と接合材４と端子７が積層された後にはんだ接合が行われる。従って、端子１０、接合材４、及び端子７のそれぞれの金属が溶融拡散した構造が形成される。このようなはんだ接合後の構造は、脆い金属間化合物（ＩＭＣ）を含む構造となっていてよい。脆い構造である金属間化合物が存在する場合、信頼性が低下しやすくなる。そのため、当該はんだ接合の構造を樹脂層９で囲む構造による効果がより顕著となる。
　樹脂層９には、一対の凹部１１が形成される。凹部１１は、樹脂層９を貫通する貫通孔によって構成される。これにより、凹部１１の底側では、基材８の上面が露出する。凹部１１は、回路基板３の厚み方向からみて、矩形をなしている（図２参照）。端子７、端子１０、及び接合材４は、樹脂層９に形成された凹部１１内に配置されることで、周囲を樹脂層９によって囲まれる。端子７、端子１０、及び接合材４と、凹部１１の四方の内側面１１ａとの間には、僅かな隙間が形成される。
　樹脂層９のうち、一対の端子７間に存在する部分を第１の部分９Ａと称し、電子部品２を囲む部分を第２の部分９Ｂと称する。本実施形態では、第１の部分９Ａと第２の部分９Ｂの基材８からの高さは同一となる。また、一対の端子７間に存在する樹脂層９の第１の部分９Ａは、電子部品２の本体部６と接触する。具体的には、樹脂層９の第１の部分９Ａの上面と、電子部品の本体部６の下面とが接触する。
　次に、図１及び図２を参照して、実装基板１の各要素における寸法関係について説明する。図２は、実装基板１を上側から見た場合における、凹部１１と端子７との位置関係を示す概略平面図である。図２では、樹脂層９、及び電子部品２の端子７以外の構成要素は省略されている。
　端子７、端子１０、及び接合材４の厚みの合計を寸法ｈ１として説明を行う。このとき、寸法ｈ１は、１μｍ以上であることが好ましく、４μｍ以上であることがより好ましい。また、寸法ｈ１は、２０μｍ以下であることが好ましく、１５μｍ以下であることがより好ましく、１０μｍ以下であることが更に好ましい。一つの実装基板１の中には、「端子７、端子１０、接合材４」の組み合わせが複数組設けられているが、各組合わせに係る寸法ｈ１は、互いに異なっている場合もある。この場合、高さ測定の結果が最も高い組合わせに係る寸法ｈ１について、上記条件を満たすことが好ましい。ただし、実装基板１の中に、上記条件を満たす寸法ｈ１が少なくとも１つ存在していればよい。なお、寸法ｈ１は、実装基板１を垂直に切断して、断面をＳＥＭ観察する事などによって測定可能である。
　端子７の幅を寸法ｄ１として、樹脂層９の凹部１１の幅を寸法ｄ２とした場合、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）は、１０μｍ以下とすることが好ましく、６μｍ以下とすることが好ましく、２μｍ以下とすることが更に好ましい。なお、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）の下限値は特に限定されず、製造に影響がでない場合は、０μｍを下限値としてもよい。
　寸法ｄ１は、２μｍ以上とすることが好ましく、５μｍ以上とすることがより好ましい。寸法ｄ１は、２０μｍ以下とすることが好ましく、１０μｍ以下とすることがより好ましい。寸法ｄ２は、２μｍ以上とすることが好ましく、７μｍ以上とすることがより好ましい。寸法ｄ２は、３０μｍ以下とすることが好ましく、１５μｍ以下とすることがより好ましい。一方の凹部１１と他方の凹部１１との間の距離は、４μｍ以上であって、２０μｍ以下とすることが好ましい。なお、寸法ｄ１及び寸法ｄ２は、実装基板１を上面と平行に切り出し、ＳＥＭ観察によって測定可能である。
　一つの実装基板１の中には、「端子７、凹部１１」の組み合わせが複数組設けられているが、各組合わせに係る（寸法ｄ２－寸法ｄ１）は、互いに異なっている場合もある。この場合、実装基板１の中に、上記条件を満たす（寸法ｄ２－寸法ｄ１）が少なくとも１つ存在していればよい。樹脂層９の凹部１１の角部、及び端子７，１０の角部には、角Ｒが形成されていてよい。角Ｒは、例えば１μｍ、５μｍ、１０μｍなどに設定されてよい。
　図２に示すように、端子７が正方形である場合、いずれかの辺の寸法が寸法ｄ１に該当する。端子７が長方形である場合、短辺の寸法が寸法ｄ１に該当する。端子７が円形である場合、直径が寸法ｄ１に該当する。端子７が楕円形である場合、短径が寸法ｄ１に該当する。端子７が五角形以上の多角形である場合、各頂点とその頂点と対面する辺との距離を測定し、一番短い距離となるものを寸法ｄ１とする。なお、凹部１１の形状に応じた寸法ｄ２の決定方法も、寸法ｄ１と同様である。
　図１に示すように、一対の端子７間に存在する樹脂層９の第１の部分９Ａの高さを寸法Ｒ１とし、電子部品２を囲む樹脂層９の第２の部分９Ｂの高さを寸法Ｒ２とする。この場合、寸法Ｒ１は、２μｍ以上とすることが好ましく、４μｍ以上とすることがより好ましい。寸法Ｒ１は、２０μｍ以下とすることが好ましく、１０μｍ以下とすることがより好ましい。寸法Ｒ２は、３μｍ以上とすることが好ましく、４μｍ以上とすることがより好ましい。寸法Ｒ２は、３０μｍ以下とすることが好ましく、１０μｍ以下とすることがより好ましい。
　図１に示す例では、寸法Ｒ１と寸法Ｒ２は、同じ値に設定されている。この場合、樹脂層９を容易に形成することができる。ただし、寸法Ｒ１と寸法Ｒ２は、互いに異なる値に設定されてもよく。図６に示すように、寸法Ｒ１は寸法Ｒ２よりも小さい値に設定されてもよい。この場合、第２の部分９Ｂの上面が、電子部品２の本体部６の下面よりも高い位置に配置されてよい。
　次に、実装基板１の製造方法、及び製造過程における回路基板３の構成について説明する。
　まず、図３に示すような回路基板３を準備する。当該状態では、接合材４が端子１０上に配置された状態となっている。この接合材４は、電子部品２と接合される前段階の状態であるため、少なくとも図１の実装基板１の状態における接合材４よりも厚い。この接合材４は低温はんだとなるＳｎを含む金属であってよく、その全体組成が低融点となるのであればどのような微細構造であってもよい。例えば回路基板３を流通させる段階では、接合材４は、Ｓｎの層とＢｉなどの他の金属の層とを有する積層構造を有していてもよい。あるいは、予め加熱しておいて、Ｓｎと他の金属とを合金とした状態で、回路基板３を流通させてもよい。
　この状態では、端子１０、及び接合材４は、樹脂層９に形成された凹部１１内に配置されることで、周囲を樹脂層９によって囲まれる。端子１０、及び接合材４の厚みの合計を寸法ｈ２とした場合、寸法ｈ２は１μｍ以上とすることが好ましく、３μｍ以上とすることがより好ましい。寸法ｈ２は、２０μｍ以下とすることが好ましく、１０μｍ以下とすることがより好ましい。
　回路基板３に対して、電子部品２を載せる。このとき、一対の接合材４上に、電子部品２の一対の端子７をそれぞれ載置させる。この状態の回路基板３及び電子部品２を加熱することではんだ付けを行う。加熱方式としては、炉などに入れて加熱するリフロー方式、電子部品２を圧着しながら加熱する熱圧着方式、光を当てることで加熱する光加熱方式のいずれでもよく、これらを組み合わせてもよい。以上により、回路基板３に電子部品２が実装されて、実装基板１が完成する。
　本実施形態に係る実装基板１、及び回路基板３の作用・効果について説明する。
　実装基板１において、端子７、端子１０、及び接合材４は、樹脂層９に形成された凹部１１内に配置されることで、周囲を樹脂層９によって囲まれる。これにより、接合部分の周囲に樹脂層９による衝撃緩衝構造を設けることができる。更に、端子７、端子１０、及び接合材４の厚みの合計である寸法ｈ１を１μｍ以上であって、２０μｍ以下とすることで、接合部分を折れにくくすることができる。また、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）の値を１０μｍ以下とすることで、実装基板１が物理的な衝撃を受けた場合に、電子部品２が回路基板３から剥がれにくくすることができる。
　一対の端子７間に存在する樹脂層９の第１の部分９Ａは、電子部品２の本体部６と接触してよい。この場合、電子部品２の本体部６の下面が樹脂層９の第１の部分９Ａと接触し支持されることで、実装基板１が物理的な衝撃を受けても、接合材４に力が加わりづらくなり電子部品２が回路基板３から剥がれにくくなる。
　一対の端子７間に存在する樹脂層９の第１の部分９Ａの高さを寸法Ｒ１とし、電子部品２を囲む樹脂層９の第２の部分９Ｂの高さを寸法Ｒ２とした場合、寸法Ｒ１は寸法Ｒ２よりも小さくてよい。この場合、電子部品２の本体部６が周囲の樹脂層９の第２の部分９Ｂに囲まれて支持されるような構成となるため、実装基板１が物理的な衝撃を受けても、接合材４に力が加わりづらくなり電子部品２が回路基板３から剥がれにくくなる。
　回路基板３は、少なくとも一対の端子１０を有する回路基板３であって、接合材４が端子１０上に配置され、端子１０、及び接合材４は、樹脂層９に形成された凹部１１内に配置されることで、周囲を樹脂層９によって囲まれ、端子１０、及び接合材４の厚みの合計を寸法ｈ２とした場合、寸法ｈ２は１μｍ以上であって、２０μｍ以下であり、樹脂層９の凹部１１の幅を寸法ｄ２とした場合、寸法ｄ２は、２μｍ以上であって、３０μｍ以下である。
　本実施形態に係る回路基板３によれば、電子部品２を実装したときに、上述と同様な作用・効果を奏する実装基板１を得ることができる。
　本開示は、上述の実施形態に限定されるものではない。
　例えば、図４に示すように、接合材４と樹脂層９との間には、構成材２０が配置されてよい。これにより、構成材２０で支えることで、更に電子部品２が回路基板３から剥がれにくくすることができる。
　また、図５に示すように、一対の端子７間に存在する樹脂層９の第１の部分９Ａと、電子部品２の本体部６との間には、構成材２０が配置されてよい。これにより、電子部品２の本体部６を構成材２０で保持することができ、強度を向上できる。
　更に、図５に示すように、構成材２０は、本体部６と接触してよい。この場合、電子部品２の本体部６の下面を構成材２０で固定することが可能となる。従って、実装基板１が物理的な衝撃を受けても、接合材４に力が加わりづらくなり電子部品２が回路基板３から剥がれにくくなる。
　また、図７に示すように、凹部１１の内側面１１ａは電子部品２側が広くなるようなテーパー形状を有してよい。樹脂層９と基材８の熱膨張率の差から熱衝撃を加えた際に接合材４に樹脂層９から力が加わるが、凹部１１の内側面１１ａがテーパー形状を有することで、接合材４へ電子部品２側の樹脂層からの力が加わり難くなり熱衝撃試験において電子部品２が回路基板３からはがれ難くなる。なお、凹部１１の幅の寸法ｄ２を定義する場合、凹部１１の上端（すなわち樹脂層９の上面の位置）における幅の寸法を寸法ｄ２とする。すなわち、凹部１１において幅の寸法が最も大きくなる箇所にて寸法ｄ２を定める。
　また、回路基板３における接合材４の高さの寸法ｈ２は樹脂層９の高さの寸法Ｒ２より高くてもよい（例えば図３参照）。寸法ｈ２が寸法Ｒ２より高くなることで電子部品２を実装する際に接合材４に端子７を押し込み密着させることが出来るため、接合後の接合材４と端子７の間のボイドが減少する。そのため実装基板１が衝撃を受けても接合材４が折れ難くなり強度を向上することができる。
［実施例］
　本開示に係る実装基板の実施例について説明する。なお、本開示は以降の実施例に限定されるものではない。
　まず、次の様な製造方法で実施例１～１１、及び比較例１，２の実装基板を作成した。まず、端子１０が形成された基材８を準備した。基材８として、ガラスエポキシ基板を採用した。端子１０として、Ｎｉ膜が被覆されたＣｕの端子を採用した。基材８上には、端子１０が１００対形成されていた。次に、端子１０の上に、接合材４として、対となるＢｉ／Ｓｎ積層パッドを所望の厚さに形成した。基材８上において、対となる接合材４は１００箇所に形成された。
　次に、基材８上に、端子１０及び接合材４を囲むように、樹脂層９を形成した。この樹脂層９として、エポキシ樹脂を採用した。これにより、図３に示すような回路基板３が得られた。次に、当該回路基板３に対して、電子部品２としてＬＥＤチップを載せた。回路基板３に対して、１００個のＬＥＤチップが実装された。当該ＬＥＤチップは、端子７としてＡｕ端子を有していた。次に、当該状態における実装基板１を１５０℃～１９０℃でリフローした。これにより、回路基板３及び電子部品２が接合された。実施例１～１１、及び比較例１，２の寸法、及び構成材の有無は、図８の表に示される。
　上述のような実施例１～１１、及び比較例１，２の実装基板に対し、次の様な試験を行った。得られた実装基板を３０ｃｍの高さから１０回自由落下させた。次に、試験前の実装基板の全体のＬＥＤチップの個数に対する、試験後に残るＬＥＤチップの個数割合を「ＬＥＤ残存率」として調べた。残存するＬＥＤチップの中で、発光するＬＥＤチップの個数割合を「残存ＬＥＤの発光率」として調べた。なお、残存ＬＥＤの発光率は、５０％以上をＯＫとした。また、試験前のＬＥＤチップの個数に対する、発光するＬＥＤチップの個数割合を「試験後ＯＫ割合」として調べた。このときの試験結果は、図８の表に示される。
　まず、比較例１は、寸法ｈ１が長すぎるため、衝撃で接合部が折れやすくなり、発光しないＬＥＤチップが多くなることが確認できた。比較例２は、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）が広くなりすぎるため、試験の衝撃からＬＥＤチップを保護することができず、ＬＥＤチップが回路基板から取れやすくなっていることが確認できた。それに比して、実施例１～１１は、残存するＬＥＤチップが多く、且つ、残存したＬＥＤチップも高い割合で発光できることが確認された。
　実施例１からは、寸法ｈ１が低いため、形成される接合部に対するはんだ量ばらつきが大きくなることで接合強度にばらつきが出て、試験にはんだ接合部が耐えられない箇所が若干でることで、発光率が若干低下していることが理解される。実施例２，３からは、寸法ｈ１が適切な高さとなり、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）が小さくなることで、接合部を保護することができ、試験後ＯＫ割合を高くできることが理解される。実施例４からは、実施例２，３に比して寸法ｈ１が高くなることで、接合部が少し細くなり、試験に耐えられるＬＥＤチップが若干減少することが理解される。実施例５からは、実施例４に比して寸法ｈ１が高くなることで、接合部が少し細くなり、試験に耐えられるＬＥＤチップが若干減少することが理解される。
　実施例６からは、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）が小さくなることで接合部を保護することができ、試験後ＯＫ割合を高くできることが理解される。実施例７，８，９からは、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）が実施例６に対して大きくなるが、凹部の壁に接触している接合部が多く存在しており、それらが試験で受ける衝撃は凹部の壁で抑制されるため、発光率の減少を若干抑制出来ていると理解される。実施例１０からは、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）が実施例９と同等であるが、寸法ｈ１が高いことにより接合部が細長くなり衝撃で折れやすくなるため、試験後ＯＫ割合が若干低下することが理解される。実施例１１からは、何れの項目においても良好な結果であることが理解される。
　１…実装基板、２…電子部品、３…回路基板、４…接合材、６…本体部、７…端子（第１の端子）、９…樹脂層、１０…端子（第２の端子）、１１…凹部。

Claims (9)

  1. 　少なくとも一対の第１の端子を有する電子部品と、少なくとも一対の第２の端子を有する回路基板と、を備える実装基板であって、
    　前記第１の端子、及び前記第２の端子は、接合材によって接合され、
    　前記第１の端子、前記第２の端子、及び前記接合材は、樹脂層に形成された凹部内に配置されることで、周囲を前記樹脂層によって囲まれ、
    　前記第１の端子、前記第２の端子、及び前記接合材の厚みの合計を寸法ｈ１とした場合、寸法ｈ１は１μｍ以上であって、２０μｍ以下であり、
    　前記第１の端子の幅を寸法ｄ１として、前記樹脂層の前記凹部の幅を寸法ｄ２とした場合、（寸法ｄ２－寸法ｄ１）の値は、１０μｍ以下である、実装基板。
  2. 　前記接合材と前記樹脂層との間には、構成材が配置される、請求項１に記載の実装基板。
  3. 　一対の前記第１の端子間に存在する前記樹脂層と、前記電子部品の本体部との間には、構成材が配置される、請求項１又は２に記載の実装基板。
  4. 　前記構成材は、前記本体部と接触する、請求項３に記載の実装基板。
  5. 　一対の前記第１の端子間に存在する前記樹脂層は、前記電子部品の本体部と接触する、請求項１又は２に記載の実装基板。
  6. 　一対の前記第１の端子間に存在する前記樹脂層の高さを寸法Ｒ１とし、前記電子部品を囲む前記樹脂層の高さを寸法Ｒ２とした場合、寸法Ｒ１は寸法Ｒ２よりも小さい、請求項１～５の何れか一項に記載の実装基板。
  7. 　前記凹部の内側面は、テーパー形状を有する、請求項１～６の何れか一項に記載の実装基板。
  8. 　少なくとも一対の第２の端子を有する回路基板であって、
    　接合材が前記第２の端子上に配置され、
    　前記第２の端子、及び前記接合材は、樹脂層に形成された凹部内に配置されることで、周囲を前記樹脂層によって囲まれ、
    　前記第２の端子、及び前記接合材の厚みの合計を寸法ｈ２とした場合、寸法ｈ２は１μｍ以上であって、２０μｍ以下であり、
    　前記樹脂層の前記凹部の幅を寸法ｄ２とした場合、寸法ｄ２は、２μｍ以上であって、３０μｍ以下である、回路基板。
  9. 　前記樹脂層の厚みよりも寸法ｈ２が大きい、請求項８に記載の回路基板。
PCT/JP2021/038082 2020-10-19 2021-10-14 実装基板、及び回路基板 Ceased WO2022085566A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020237013104A KR102878456B1 (ko) 2020-10-19 2021-10-14 실장 기판 및 회로 기판
US18/032,212 US20230395766A1 (en) 2020-10-19 2021-10-14 Mounting board and circuit board
DE112021005514.3T DE112021005514T5 (de) 2020-10-19 2021-10-14 Montageplatte und Leiterplatte
CN202180070878.0A CN116349007A (zh) 2020-10-19 2021-10-14 安装基板及电路基板
JP2022557447A JPWO2022085566A1 (ja) 2020-10-19 2021-10-14

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020-175233 2020-10-19
JP2020175233 2020-10-19

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2022085566A1 true WO2022085566A1 (ja) 2022-04-28

Family

ID=81290469

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/038082 Ceased WO2022085566A1 (ja) 2020-10-19 2021-10-14 実装基板、及び回路基板

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20230395766A1 (ja)
JP (1) JPWO2022085566A1 (ja)
KR (1) KR102878456B1 (ja)
CN (1) CN116349007A (ja)
DE (1) DE112021005514T5 (ja)
TW (1) TWI815196B (ja)
WO (1) WO2022085566A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI859860B (zh) * 2022-05-18 2024-10-21 日商 Tdk 股份有限公司 電路基板及安裝基板之製造方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62291086A (ja) * 1986-06-10 1987-12-17 株式会社東芝 配線回路基板
JPH10308573A (ja) * 1997-05-02 1998-11-17 Nec Corp プリント配線板
JPH11214449A (ja) * 1998-01-20 1999-08-06 Murata Mfg Co Ltd 電子回路装置
JP2017098319A (ja) * 2015-11-19 2017-06-01 イビデン株式会社 プリント配線板、プリント配線板の製造方法および半導体装置
JP2019102528A (ja) * 2017-11-29 2019-06-24 新光電気工業株式会社 配線基板、半導体装置、及び配線基板の製造方法
WO2020054581A1 (ja) * 2018-09-14 2020-03-19 日立化成株式会社 電子部品及び電子部品の製造方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11150206A (ja) * 1997-11-17 1999-06-02 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体素子の実装基板
JP4396563B2 (ja) 2005-03-31 2010-01-13 エプソンイメージングデバイス株式会社 電気光学装置の製造方法
TWI536508B (zh) * 2012-08-24 2016-06-01 日本特殊陶業股份有限公司 Wiring board
JP2017183458A (ja) * 2016-03-30 2017-10-05 ソニー株式会社 発光素子組立体及びその製造方法、並びに、表示装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62291086A (ja) * 1986-06-10 1987-12-17 株式会社東芝 配線回路基板
JPH10308573A (ja) * 1997-05-02 1998-11-17 Nec Corp プリント配線板
JPH11214449A (ja) * 1998-01-20 1999-08-06 Murata Mfg Co Ltd 電子回路装置
JP2017098319A (ja) * 2015-11-19 2017-06-01 イビデン株式会社 プリント配線板、プリント配線板の製造方法および半導体装置
JP2019102528A (ja) * 2017-11-29 2019-06-24 新光電気工業株式会社 配線基板、半導体装置、及び配線基板の製造方法
WO2020054581A1 (ja) * 2018-09-14 2020-03-19 日立化成株式会社 電子部品及び電子部品の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI859860B (zh) * 2022-05-18 2024-10-21 日商 Tdk 股份有限公司 電路基板及安裝基板之製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TWI815196B (zh) 2023-09-11
TW202224126A (zh) 2022-06-16
JPWO2022085566A1 (ja) 2022-04-28
DE112021005514T5 (de) 2023-08-17
KR20230070018A (ko) 2023-05-19
US20230395766A1 (en) 2023-12-07
KR102878456B1 (ko) 2025-10-30
CN116349007A (zh) 2023-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3116273B2 (ja) 中継基板、その製造方法、基板と中継基板と取付基板とからなる構造体、基板と中継基板の接続体
US9333593B2 (en) Joining method, joint structure and method for producing the same
KR20030081172A (ko) 반도체 장치 및 그 제조 방법
US20140356055A1 (en) Joining method, joint structure and method for producing the same
CN1321784A (zh) 高密度柱栅阵列连接及其方法
CN100509257C (zh) 一种无铅焊球用于生产焊锡凸起的用途以及焊锡凸起
JP2019063830A (ja) はんだ合金、はんだ接合材料及び電子回路基板
KR20080038028A (ko) 기판에 전자 부품을 탑재하는 방법 및 솔더면을 형성하는방법
KR102908056B1 (ko) 실장 기판, 및 회로 기판
KR102878456B1 (ko) 실장 기판 및 회로 기판
TWI576933B (zh) 封裝結構的形成方法
JP2009188026A (ja) 電子部品
JP2023136796A (ja) 接合構造
JP7763115B2 (ja) 接合構造
CN100550363C (zh) 端子焊盘与焊料的键合构造、具有该键合构造的半导体器件和该半导体器件的制造方法
US20250063665A1 (en) Circuit board and method for manufacturing mounting board
JPH11126957A (ja) 中継基板
JP2019063865A (ja) はんだ合金、はんだ接合材料及び電子回路基板
JP2007027701A (ja) 配線基板
KR101693609B1 (ko) 필러범프제조방법 및 이를 이용하여 제조된 필러범프
JP2007027700A (ja) 配線基板および配線基板の製造方法
JP2011044571A (ja) 半導体装置、外部接続端子、半導体装置の製造方法、及び外部接続端子の製造方法
Tsai et al. Applications of Ag-alloy stud bump for IC and LED packages
US20090050470A1 (en) Method And Device For Enhancing Solderability
JP2013183094A (ja) 電子部品の実装方法及び半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21882707

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2022557447

Country of ref document: JP

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20237013104

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 21882707

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1