WO2022059647A1 - 回路接続用接着剤フィルム及びその製造方法、並びに、回路接続構造体の製造方法 - Google Patents

回路接続用接着剤フィルム及びその製造方法、並びに、回路接続構造体の製造方法 Download PDF

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adhesive film
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彰浩 伊藤
友美子 大當
直 工藤
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昭和電工マテリアルズ株式会社
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    • C09J2301/314Additional features of adhesives in the form of films or foils characterized by the chemical, physicochemical or physical properties of the adhesive or the carrier the adhesive layer and/or the carrier being conductive

Definitions

  • the present invention relates to an adhesive film for circuit connection, a method for manufacturing the same, and a method for manufacturing a circuit connection structure.
  • an adhesive material for connecting a liquid crystal display to a tape carrier package (TCP), a flexible printed wiring board (FPC) to TCP, or an FPC to a printed wiring board conductive particles in an adhesive.
  • An adhesive film for circuit connection having an anisotropic conductivity in which is dispersed is used.
  • the circuit connection adhesive film is usually stored in a laminated state on the base material. Therefore, when connecting the circuit member as described above using the circuit connection adhesive film, it is first necessary to transfer the circuit connection adhesive film onto the circuit member. At this time, if the transferability of the adhesive film for circuit connection is insufficient, the productivity is lowered due to the long transfer time, the connection resistance value is increased due to the insufficient adhesion between the circuits, and the bonding is performed. Since there is a concern that the force may decrease, the adhesive film for circuit connection is required to have sufficient transferability.
  • Patent Document 1 proposes a method in which conductive particles are unevenly distributed on one side of an anisotropic conductive adhesive sheet to separate the conductive particles from each other.
  • the present invention uses an adhesive film for circuit connection, a method for producing the same, and the adhesive film, which have sufficient transferability and can suppress the flow of conductive particles generated during the production of the circuit connection structure. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a circuit connection structure.
  • One aspect of the present invention relates to the following circuit connection adhesive film.
  • a first adhesive layer and a second adhesive layer laminated on the first adhesive layer are provided, and the first adhesive layer is a light and thermosetting composition.
  • the second adhesive layer contains a thermosetting composition, and the light and thermosetting composition comprises a polymerizable compound, a photopolymerization initiator, and a thermosetting initiator.
  • An adhesive film for circuit connection containing conductive particles and a thiol compound.
  • the content of the thiol compound is 0.05 to 5.0% by mass based on the total amount of components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition, [1] to [3]. ].
  • the adhesive film for circuit connection according to any one of.
  • thermosetting composition contains a radically polymerizable compound.
  • the flow of conductive particles generated during the manufacture of the circuit connection structure can be suppressed, and peeling at the interface between the circuit member and the adhesive film due to insufficient transferability can be suppressed. It can also be suppressed.
  • the circuit member and the circuit connection portion are generated when the circuit connection structure is used for a long period of time in a high temperature and high humidity environment (for example, 85 ° C., 85% RH). It also tends to suppress peeling at the interface.
  • a high temperature and high humidity environment for example, 85 ° C., 85% RH.
  • Adhesion for circuit connection according to any one of [1] to [6] on a substrate, a first circuit member having a first electrode, a second circuit member having a second electrode, and the substrate.
  • the first circuit member, the circuit connection adhesive film, and the second circuit member are placed so that the first electrode and the second electrode face each other in the step of transferring onto the surface.
  • the step of thermally crimping the first circuit member and the second circuit member to electrically connect the first electrode and the second electrode to each other is provided.
  • an adhesive film for circuit connection and a method for producing the same, and the adhesive film thereof, which have sufficient transferability and can suppress the flow of conductive particles generated during the production of the circuit connection structure, are used. It is possible to provide a method for manufacturing a circuit connection structure that has been used.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an adhesive film for circuit connection according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a circuit connection structure according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a manufacturing process of the circuit connection structure according to the embodiment of the present invention.
  • the numerical range indicated by using "-" indicates a range including the numerical values before and after "-" as the minimum value and the maximum value, respectively.
  • the upper limit value or the lower limit value of the numerical range of one step may be replaced with the upper limit value or the lower limit value of the numerical range of another step.
  • the upper limit value or the lower limit value of the numerical range may be replaced with the value shown in the examples.
  • the upper limit value and the lower limit value described individually can be freely combined.
  • the term "(meth) acrylate” means at least one of an acrylate and a corresponding methacrylate.
  • each component in the composition means the total amount of the plurality of substances present in the composition when a plurality of substances corresponding to each component are present in the composition, unless otherwise specified.
  • FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an adhesive film for circuit connection according to an embodiment.
  • the circuit connection adhesive film 1 (hereinafter, also simply referred to as “adhesive film 1”) is laminated on the first adhesive layer 2 and the first adhesive layer 2.
  • a second adhesive layer 3 is provided.
  • the first adhesive layer 2 contains a cured product (for example, a photo-cured product) of a light and thermosetting composition.
  • the first adhesive layer 2 is composed of, for example, a photocurable product of a light and a thermosetting composition.
  • the first adhesive layer 2 can be further cured by heating. Therefore, it can be said that the first adhesive layer 2 has thermosetting property.
  • the first adhesive layer 2 can also be rephrased as a cured product of a layer containing light and a thermosetting composition (for example, a layer composed of light and a thermosetting composition).
  • the light and thermosetting composition includes (A) a polymerizable compound (hereinafter, also referred to as “(A) component”), (B) a photopolymerization initiator (hereinafter, also referred to as “(B) component”), and the like. It contains (C) a thermal polymerization initiator (hereinafter, also referred to as "(C) component”), (D) conductive particles (hereinafter, also referred to as "(D) component”), and (E) a thiol compound. ..
  • the component (A) is polymerized by irradiating a layer containing light and a thermosetting composition with light energy to cure the light and the thermosetting composition (light). It is obtained by curing). Therefore, the first adhesive layer 2 contains, for example, conductive particles 4 and an adhesive component 5 obtained by curing components other than the conductive particles 4 of the light and thermosetting composition.
  • the adhesive component 5 contains, for example, a polymer of the component (A) and the component (C).
  • the adhesive component may contain a reaction product of the component (A) or the polymer of the component (A) and the component (E).
  • the component (E) is incorporated into the polymer of the component (A) by reacting the component (E) with the polymer of the component (A) or the component (A). You may.
  • the adhesive component 5 may or may not contain the unreacted component (A), component (B) and component (E).
  • the component (A) is, for example, a compound polymerized by a radical, a cation or an anion. Therefore, the component (A) polymerizes when the photopolymerization initiator generates radicals, cations or anions by irradiation with light (for example, ultraviolet light).
  • the component (A) may be any of a monomer, an oligomer or a polymer. As the component (A), one kind of compound may be used alone, or a plurality of kinds of compounds may be used in combination.
  • the component (A) has at least one polymerizable group.
  • the polymerizable group may be a radically polymerizable group (that is, a radically polymerizable group) from the viewpoint of further improving the effect of reducing the connection resistance and obtaining more excellent connection reliability. That is, the component (A) may be a radically polymerizable compound.
  • the radically polymerizable group include a vinyl group, an allyl group, a styryl group, an alkenyl group, an alkenylene group, a (meth) acryloyl group, a (meth) acryloyloxy group, a maleimide group and the like.
  • the number of polymerizable groups contained in the component (A) may be 2 or more from the viewpoint that the physical properties required for reducing the connection resistance and the cross-linking density can be easily obtained after the polymerization.
  • the number of polymerizable groups contained in the component (A) may be 10 or less from the viewpoint of suppressing curing shrinkage during polymerization. Suppressing the curing shrinkage during polymerization is preferable in that a uniform and stable film (first adhesive layer) can be obtained after light irradiation.
  • a polymerizable compound having a number of polymerizable groups within the above range is used, and then a polymerizable compound having a number of polymerizable groups outside the above range is used. May be used additionally.
  • component (A) examples include (meth) acrylate compound, maleimide compound, vinyl ether compound, allyl compound, styrene derivative, acrylamide derivative, nadiimide derivative, natural rubber, isoprene rubber, butyl rubber, nitrile rubber, butadiene rubber, and styrene-.
  • examples thereof include butadiene rubber, acrylonitrile-butadiene rubber, and carboxylated nitrile rubber.
  • Examples of the (meth) acrylate compound include epoxy (meth) acrylate, (poly) urethane (meth) acrylate, methyl (meth) acrylate, polyether (meth) acrylate, polyester (meth) acrylate, polybutadiene (meth) acrylate, and silicone acrylate.
  • (Meta) acrylate polyalkylene glycol di (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol (Meta) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, isocyanuric acid-modified bifunctional (meth) acrylate, isocyanuric acid-modified trifunctional (meth) acrylate, tricyclodecanyl acrylate, dimethylol-tricyclodecanediacrylate, 2- Hydroxy-1,3-diacryloxypropane, 2,2-bis [4- (acryloxymethoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (acryloxypolyethoxy) phenyl] propane, 2,2- Di (meth
  • Maleimide compounds include 1-methyl-2,4-bismaleimidebenzene, N, N'-m-phenylene bismaleimide, N, N'-p-phenylene bismaleimide, N, N'-m-toluylene bismaleimide.
  • N, N'-4,4-biphenylene bismaleimide N, N'-4,4- (3,3'-dimethyl-biphenylene) bismaleimide, N, N'-4,4- (3,3') -Dimethyldiphenylmethane) bismaleimide, N, N'-4,4- (3,3'-diethyldiphenylmethane) bismaleimide, N, N'-4,4-diphenylmethane bismaleimide, N, N'-4,4- Diphenylpropane bismaleimide, N, N'-4,4-diphenylether bismaleimide, N, N'-3,3-diphenylsulfone bismaleimide, 2,2-bis (4- (4-maleimidephenoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (3-s-butyl-4-8 (4-maleimidephenoxy) phenyl) propane, 1,1-bis (4- (4-maleimidephenoxy) phenyl) de
  • vinyl ether compound examples include diethylene glycol divinyl ether, dipropylene glycol divinyl ether, cyclohexanedimethanol divinyl ether, and trimethylolpropane trivinyl ether.
  • allyl compound examples include 1,3-diallyl phthalate, 1,2-diallyl phthalate, and triallyl isocyanurate.
  • the component (A) may contain a (meth) acrylate compound from the viewpoint of excellent balance between the curing reaction rate and the physical properties after curing.
  • the component (A) has both cohesive force for reducing connection resistance and elongation for improving adhesive force, and is (poly) urethane from the viewpoint of obtaining better transferability and better adhesive properties. It may contain a (meth) acrylate compound.
  • the content of the (poly) urethane (meth) acrylate compound is 30% by mass or more and 50% by mass based on the total mass of the component (A) from the viewpoint of obtaining further excellent transferability and further excellent adhesive properties. It may be more than or equal to 70% by mass, may be 96% by mass or less, 93% by mass or less, or 90% by mass or less, and may be 30 to 96% by mass, 50 to 93% by mass or 70 to 90% by mass. good.
  • the component (A) contains a (meth) acrylate compound having a high Tg skeleton such as a tricyclodecane skeleton from the viewpoint of improving the cohesive force, further reducing the connection resistance, and obtaining better transferability. good.
  • the (meth) acrylate compound having a high Tg skeleton preferably has two or more (meth) acryloyloxy groups, and more preferably has two (that is, diacrylate).
  • the content of the (meth) acrylate compound having a high Tg skeleton is based on the total mass of the component (A) from the viewpoint of further improving the cohesive force and further reducing the connection resistance and obtaining further excellent transferability.
  • the component (A) is an acrylic resin, a phenoxy resin, or a polyurethane resin from the viewpoint of balancing the crosslink density and the curing shrinkage, further reducing the connection resistance, improving the connection reliability, and obtaining better transferability.
  • a compound (for example, polyurethane (meth) acrylate) in which a polymerizable group such as a vinyl group, an allyl group, or a (meth) acryloyl group is introduced may be contained in the terminal or side chain of the thermoplastic resin such as.
  • the weight average molecular weight of the compound having a polymerizable group introduced into the terminal or side chain of the thermoplastic resin may be 3000 or more, 5000 or more, or 10,000 or more from the viewpoint of excellent balance between the crosslink density and the curing shrinkage.
  • the weight average molecular weight of the compound having a polymerizable group introduced into the terminal or side chain of the thermoplastic resin is 1 million or less, 500,000 or less, or 250,000 from the viewpoint of excellent compatibility with other components (for example, component (E)). It may be:
  • the weight average molecular weight in the present specification means a value measured by a gel permeation chromatograph (GPC) using a calibration curve using standard polystyrene.
  • the content of the compound having a radically polymerizable group introduced into the terminal or side chain of the thermoplastic resin further reduces the connection resistance, further improves the connection reliability, and obtains further excellent transferability (A).
  • A further excellent transferability
  • the total mass of the components it may be 30% by mass or more, 50% by mass or more or 70% by mass or more, 96% by mass or less, 93% by mass or less or 90% by mass or less, and 30 to 96%. It may be% by mass, 50 to 93% by mass, or 70 to 90% by mass.
  • the component (A) may contain a (meth) acrylate compound represented by the following formula (1) (a (meth) acrylate compound having a phosphoric acid ester structure).
  • a (meth) acrylate compound having a phosphoric acid ester structure In this case, the adhesive strength to the surface of the inorganic substance (metal or the like) is improved, and the adhesiveness between the electrodes (for example, circuit electrodes) is improved.
  • n represents an integer of 1 to 3
  • R represents a hydrogen atom or a methyl group.
  • the (meth) acrylate compound represented by the formula (1) is obtained, for example, by reacting anhydrous phosphoric acid with 2-hydroxyethyl (meth) acrylate.
  • Specific examples of the (meth) acrylate compound represented by the formula (1) include mono (2- (meth) acryloyloxyethyl) acid phosphate, di (2- (meth) acryloyloxyethyl) acid phosphate and the like. Can be mentioned.
  • the content of the (meth) acrylate compound represented by the formula (1) further improves the adhesive force to the surface of the inorganic substance (metal or the like), and further improves the adhesive strength between the electrodes (for example, between the circuit electrodes).
  • (A) Based on the total mass of the component it may be 0.1% by mass or more, 0.5% by mass or more, or 1% by mass or more, and 20% by mass or less, 10% by mass or less, or 5% by mass or less. It may be 0.1 to 20% by mass, 0.5 to 10% by mass, or 1 to 5% by mass.
  • the content of the component (A) is light and thermally cured from the viewpoint of easily obtaining the crosslink density required for further reducing the connection resistance and further improving the connection reliability and further suppressing the flow of conductive particles. Based on the total amount of components other than the conductive particles in the sex composition, it may be 5% by mass or more, 10% by mass or more, 20% by mass or more, 30% by mass or more, or 40% by mass or more.
  • the content of the component (A) is 90 mass based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition from the viewpoint of suppressing the curing shrinkage during polymerization and obtaining more excellent transferability. % Or less, 80% by mass or less, 70% by mass or less, or 60% by mass.
  • the content of the component (A) is 5 to 90% by mass, 10 to 80% by mass, and 20 to 70 based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition. It may be% by mass, 30 to 60% by mass, or 40 to 60% by mass.
  • the "total amount of components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition" does not include the amount of the solvent used at the time of layer formation.
  • the component (B) may be a photoradical polymerization initiator, a photocationic polymerization initiator or a photoanionic polymerization initiator.
  • the component (B) is, for example, irradiated with light having a wavelength in the range of 150 to 750 nm, preferably light having a wavelength in the range of 254 to 405 nm, and more preferably light having a wavelength in the range of 365 nm (for example, ultraviolet light). Generates radicals, cations or anions.
  • the component (B) may be a photoradical polymerization initiator from the viewpoint of facilitating curing at a low temperature for a short time.
  • one kind of compound may be used alone, or a plurality of kinds of compounds may be used in combination.
  • the photoradical polymerization initiator decomposes with light to generate free radicals. That is, the photoradical polymerization initiator is a compound that generates radicals by applying light energy from the outside.
  • the photoradical polymerization initiator include an oxime ester structure, a bisimidazole structure, an acrydin structure, an ⁇ -aminoalkylphenone structure, an aminobenzophenone structure, an N-phenylglycine structure, an acylphosphine oxide structure, a benzyldimethylketal structure, and an ⁇ -hydroxy. Examples thereof include a photopolymerization initiator having a structure such as an alkylphenone structure.
  • a photopolymerization initiator having a structure represented by the following formula (I) may be used from the viewpoint of further improving the effect of suppressing the flow of the conductive particles and the effect of suppressing peeling after transfer.
  • the photopolymerization initiator may have a plurality of structures represented by the formula (I).
  • the structure represented by the formula (I) may be an oxime ester structure, a bisimidazole structure or an acridine structure. That is, the light and thermosetting composition is at least one kind of light selected from the group consisting of a photopolymerization initiator having an oxime ester structure, a photopolymerization initiator having a bisimidazole structure, and a photopolymerization initiator having an acridin structure. It may contain a polymerization initiator. Among these, when a photopolymerization initiator having an oxime ester structure is used, the effect of suppressing the flow of conductive particles and the effect of suppressing exfoliation after transfer tend to be further improved.
  • R 11 , R 12 and R 13 each independently represent an organic group containing a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an aromatic hydrocarbon group.
  • the compound having an oxime ester structure examples include 1-phenyl-1,2-butandion-2- (o-methoxycarbonyl) oxime and 1-phenyl-1,2-propanedione-2- (o-methoxycarbonyl).
  • Compounds having a bisimidazole structure include 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer and 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (m-methoxyphenyl) imidazole dimer.
  • 2- (o-fluorophenyl) -4,5-phenylimidazole dimer 2- (o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer
  • 2- (p-methoxyphenyl) -4 5-Diphenylimidazole dimer
  • 2,4-di (p-methoxyphenyl) -5-phenylimidazole dimer 2- (2,4-dimethoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, etc.
  • 2,4,5-Triarylimidazole dimer can be mentioned.
  • Examples of the compound having an acridine structure include 9-phenylacridine, 1,7-bis (9,9'-acridinyl) heptane and the like.
  • the content of the photopolymerization initiator having the structure represented by the above formula (I) is the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition from the viewpoint of further improving the flow suppressing effect of the conductive particles. May be 0.1% by mass or more, 0.3% by mass or more, 0.45% by mass or more, 0.55% by mass or more, or 0.85% by mass or more.
  • the content of the photopolymerization initiator having the structure represented by the above formula (I) is the total of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition from the viewpoint of further improving the effect of suppressing peeling after transfer. Based on the amount, it may be 1.2% by mass or less, 0.9% by mass or less, or 0.6% by mass or less.
  • the content of the photopolymerization initiator having the structure represented by the above formula (I) is 0.1 to 0.1 based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition. It may be 1.2% by mass, 0.3 to 1.2% by mass, 0.45 to 0.9% by mass, or 0.45 to 0.6% by mass.
  • the content of the component (B) (total content of the photopolymerization initiator) is the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition from the viewpoint of further improving the flow suppressing effect of the conductive particles. It may be 0.3% by mass or more, 0.45% by mass or more, 0.55% by mass or more, or 0.85% by mass or more.
  • the content of the component (B) is 1.2% by mass or less based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and thermosetting composition from the viewpoint of further improving the effect of suppressing peeling after transfer. , 0.9% by mass or less or 0.6% by mass or less.
  • the content of the component (B) is 0.3 to 1.2% by mass and 0.45 to 0 based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition. It may be 9.9% by mass or 0.45 to 0.6% by mass.
  • the component (C) may be a polymerization initiator (thermal radical polymerization initiator, thermal cationic polymerization initiator or thermal anionic polymerization initiator) that generates radicals, cations or anions by heat.
  • the component (C) may be a thermal radical polymerization initiator from the viewpoint that the effect of reducing the connection resistance is further improved and the connection reliability is more excellent.
  • the component (C) one kind of compound may be used alone, or a plurality of kinds of compounds may be used in combination.
  • the thermal radical polymerization initiator decomposes by heat to generate free radicals. That is, the thermal radical polymerization initiator is a compound that generates radicals by applying thermal energy from the outside.
  • the thermal radical polymerization initiator can be arbitrarily selected from conventionally known organic peroxides and azo compounds.
  • the thermal radical polymerization initiator may be an organic peroxide from the viewpoint of further improving the effect of suppressing the flow of conductive particles and the effect of suppressing peeling after transfer, and has better stability, reactivity and compatibility. From this point of view, it may be an organic peroxide having a 1-minute half-life temperature of 90 to 175 ° C. and a weight average molecular weight of 180 to 1000. When the 1-minute half-life temperature of the organic peroxide is within the above range, the storage stability tends to be further excellent, and a sufficiently high radical polymerizable property can be obtained, so that the organic peroxide can be cured in a short time.
  • component (C) examples include 1,1,3,3-tetramethylbutylperoxyneodecanoate, di (4-t-butylcyclohexyl) peroxydicarbonate, and di (2-ethylhexyl) peroxy.
  • the content of the component (C) is an adhesive component (light and thermosetting) from the viewpoint of excellent quick-curing property, flow suppressing effect of conductive particles, and further improvement of peeling suppressing effect after transfer. It may be 0.1% by mass or more, 0.5% by mass or more, or 1% by mass or more based on the total amount of the components other than the conductive particles in the cured product of the composition. From the viewpoint of pot life, the content of the component (C) is 20% by mass or less, 10 by mass or less, based on the total amount of the adhesive component (components other than the conductive particles in the cured product of the light and thermosetting composition). It may be 0% by mass or less or 5% by mass or less.
  • the content of the component (C) based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition may be the same as the above range, and the conductive particles in the first adhesive layer.
  • the content of the component (C) based on the total amount of the components other than the above may be the same as the above range.
  • the component (D) is not particularly limited as long as it is conductive particles, such as metal particles made of metal such as Au, Ag, Ni, Cu, and solder, and conductive carbon particles made of conductive carbon. May be.
  • the component (D) is a coated conductive particle comprising a nucleus containing non-conductive glass, ceramic, plastic (polystyrene, etc.) and the like, and a coating layer containing the metal or conductive carbon and coating the nucleus. May be good.
  • coated conductive particles including metal particles formed of a thermosetting metal or a nucleus containing plastic, and a coating layer containing metal or conductive carbon and coating the nucleus
  • the component (D) may be an insulating coated conductive particle comprising the above-mentioned metal particles, conductive carbon particles or coated conductive particles, and an insulating material such as a resin and covering the surface of the particles. good.
  • the component (D) is an insulating coated conductive particle, even when the content of the component (D) is large, the surface of the particle is coated with the resin, so that the component (D) is short-circuited due to contact with each other. The generation can be suppressed, and the insulation between adjacent electrode circuits can be improved.
  • one of the above-mentioned various conductive particles may be used alone or in combination of two or more.
  • the maximum particle size of the component (D) is preferably smaller than the minimum distance between the electrodes (the shortest distance between adjacent electrodes).
  • the maximum particle size of the component (D) may be 1.0 ⁇ m or more, 2.0 ⁇ m or more, or 2.5 ⁇ m or more from the viewpoint of excellent dispersibility and conductivity.
  • the maximum particle size of the component (D) may be 50 ⁇ m or less, 30 ⁇ m or less, or 20 ⁇ m or less from the viewpoint of excellent dispersibility and conductivity. From these viewpoints, the maximum particle size of the component (D) may be 1.0 to 50 ⁇ m, 2.0 to 30 ⁇ m, or 2.5 to 20 ⁇ m.
  • the particle size of any 300 conductive particles (pcs) is measured by observation using a scanning electron microscope (SEM), and the largest value obtained is the maximum particle size of the component (D). And.
  • the particle size of the component (D) is the diameter of a circle circumscribing the conductive particles in the SEM image.
  • the average particle size of the component (D) may be 1.0 ⁇ m or more, 2.0 ⁇ m or more, or 2.5 ⁇ m or more from the viewpoint of excellent dispersibility and conductivity.
  • the average particle size of the component (D) may be 50 ⁇ m or less, 30 ⁇ m or less, or 20 ⁇ m or less from the viewpoint of excellent dispersibility and conductivity. From these viewpoints, the average particle size of the component (D) may be 1.0 to 50 ⁇ m, 2.0 to 30 ⁇ m, or 2.5 to 20 ⁇ m.
  • the particle size of any 300 conductive particles (pcs) is measured by observation using a scanning electron microscope (SEM), and the average value of the obtained particle sizes is taken as the average particle size.
  • the component (D) may be uniformly dispersed.
  • the particle density of the component (D) in the first adhesive layer 2 may be 100 pcs / mm 2 or more, 1000 pcs / mm 2 or more, and 2000 pcs / mm from the viewpoint that stable connection resistance can be easily obtained. It may be mm 2 or more.
  • the particle density of the component (D) in the first adhesive layer 2 may be 100,000 pcs / mm 2 or less, and may be 50,000 pcs / mm 2 or less, from the viewpoint of improving the insulating property between adjacent electrodes. It may be 10000 pcs / mm 2 or less.
  • the content of the component (D) is 5% by mass or more, 15% by mass or more, or 20% by mass or more based on the total mass of the light and thermosetting composition from the viewpoint of further improving the conductivity. It's okay.
  • the content of the component (D) may be 50% by mass or less, 40% by mass or less, or 30% by mass or less based on the total mass of the light and thermosetting composition from the viewpoint of easily suppressing a short circuit. From these viewpoints, the content of the component (D) may be 5 to 50% by mass, 10 to 40% by mass, or 20 to 30% by mass based on the total mass of the light and thermosetting composition.
  • the content of the component (D) based on the total mass of the cured product of the light and thermosetting composition may be the same as the above range, and the total mass of the first adhesive layer is used as a reference ().
  • the content of the component may be the same as the above range.
  • the content of the component (D) is 0.1% by volume or more, 1% by volume or more, or 5 based on the total volume of the cured product of the light and thermosetting composition from the viewpoint of further improving the conductivity. It may be% by volume or more.
  • the content of the component (D) is 50% by volume or less, 30% by volume or less, or 20% by volume or less based on the total volume of the cured product of the light and thermosetting composition from the viewpoint of easily suppressing a short circuit. good.
  • the content of the component (D) based on the total volume of the light and the thermosetting composition may be the same as the above range, and the content of the component (D) is based on the total volume of the first adhesive layer (D).
  • the content of the component may be the same as the above range.
  • the component (E) is a compound having at least one thiol group.
  • the component (E) functions as an accelerator for the polymerization reaction of the component (A), so that the light and thermosetting composition can be photocured quickly and sufficiently.
  • One of the causes is that the light and the thermosetting composition can be cured to the extent that the flow of the conductive particles can be suppressed without impairing the transferability. It is inferred as.
  • the component (E) may be a monomer or an oligomer.
  • the component (E) one type may be used alone, or a plurality of types may be used in combination.
  • a monomer and an oligomer may be used in combination.
  • the component (E) may be a thiol compound having one thiol group (monofunctional thiol compound), or may be a thiol compound having a plurality of thiol groups (polyfunctional thiol compound).
  • the component (E) when the component (E) is a polyfunctional thiol compound, the component (E) also functions as a cross-linking agent during curing (during the polymerization of the component (A)), so that the cross-linked structure derived from the component (E) is derived. (-CSC-) will be formed.
  • the number of thiol groups may be one or more, two or more, or four or more.
  • the number of thiol groups may be 12 or less or 10 or less from the viewpoint that better transferability can be easily obtained. From these viewpoints, the number of thiol groups may be 1 to 12, 2 to 10, or 4 to 10.
  • the thiol group contained in the component (E) may be a primary thiol group, a secondary thiol group, or a tertiary thiol group.
  • the thiol group contained in the component (E) is a secondary or tertiary thiol group (a thiol in which the carbon atom to be bonded is a secondary or tertiary carbon atom) from the viewpoint of excellent balance between transferability and suppression of flow of conductive particles. It may be a group).
  • all thiol groups may be secondary or tertiary thiol groups from the viewpoint of better balance between transferability and suppression of flow of conductive particles.
  • Examples of the monofunctional thiol compound include 2-mercaptobenzothiazole, 2-methyl-4,5-dihydrofuran-3-thiol, 3-mercapto-1-hexanol, mercaptomethylbutanol, and 3-mercapto-2-methylpen.
  • polyfunctional thiol compound examples include pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate), ethanedithiol, 1,3-propanedithiol, 1,4-butanedithiol, trimethylolpropanetris (3-mercaptopropionate), and the like.
  • Trimethylol propanetris (3-mercaptobutylate), tris-[(3-mercaptopropionyloxy) -ethyl] -isosianurate, tris-[(3-mercaptobutylyloxy) -ethyl] -isosianurate, tetraethyleneglycol
  • Examples thereof include bis (3-mercaptopropionate) and 1,4-bis (3-mercaptobutylyloxy) butane.
  • the component (E) may have a pentaerythritol skeleton represented by the following formula (2) from the viewpoint that the flexibility of the cured product is further improved and more excellent transferability can be easily obtained.
  • the component (E) having a pentaerythritol skeleton may be a compound represented by the following formula (3) from the viewpoint of further excellent balance between transferability and suppression of flow of conductive particles.
  • R 21 , R 22 , R 23 and R 24 each independently represent an alkyl group which may be substituted with a thiol group. However, at least one of R 21 , R 22 , R 23 and R 24 has a thiol group attached to a carbon atom having 0, 1 or 2 hydrogen atoms attached. All of R 21 , R 22 , R 23 and R 24 may have thiol groups bonded to carbon atoms having 0, 1 or 2 bonded hydrogen atoms. The number of carbon atoms of the alkyl group is, for example, 1 to 10.
  • alkyl group that may be substituted with a thiol group examples include 2-mercaptoethyl group, 2-mercaptopropyl group, 2-mercapto-2-methyl-propyl group, 3-mercaptobutyl group and the like.
  • Specific examples of the compound represented by the formula (3) include pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate).
  • the component (E) may be a compound represented by the following formula (4) from the viewpoint that the flexibility of the cured product is further improved and more excellent transferability can be easily obtained.
  • L indicates a linking group.
  • the linking group is, for example, a divalent hydrocarbon group, preferably an alkylene group (also referred to as an alkanediyl group).
  • the number of carbon atoms of the divalent hydrocarbon group is, for example, 1 to 10, preferably 3 to 6.
  • Specific examples of the divalent hydrocarbon group include an ethylene group, a propylene group, a butylene group, a pentylene group, a hexylene group and the like.
  • R 31 and R 32 each independently represent an alkyl group which may be substituted with a thiol group. However, at least one of R 31 and R 32 has a thiol group bonded to a carbon atom having 0, 1 or 2 hydrogen atoms bonded. Both R 31 and R 32 may have a thiol group attached to a carbon atom having 0, 1 or 2 hydrogen atoms attached.
  • the number of carbon atoms of the alkyl group is, for example, 1 to 10.
  • Specific examples of the alkyl group that may be substituted with a thiol group include 2-mercaptoethyl group, 2-mercaptopropyl group, 2-mercapto-2-methyl-propyl group, 3-mercaptobutyl group and the like.
  • Specific examples of the compound represented by the formula (3) include tetraethylene glycol bis (3-mercaptopropionate) and 1,4-bis (3-mercaptobutylyloxy) butane.
  • the molecular weight of the component (E) may be 150 or more, 200 or more, or 250 or more from the viewpoint of suppressing volatilization in the drying step during the manufacturing process when used as a film-like adhesive.
  • the molecular weight of the component (E) may be 5000 or less, 3000 or less, or 1500 or less from the viewpoint of better compatibility with other components. From these viewpoints, the molecular weight of the component (E) may be 150 to 5000, 200 to 3000 or 250 to 1500.
  • the content of the component (E) is 0.05% by mass or more based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition from the viewpoint of further improving the flow suppressing effect of the conductive particles. It may be 0.5% by mass or more, 1.0% by mass or more, or 1.5% by mass or more.
  • the content of the component (E) is 5.0% by mass or less, 3.0% by mass or less, and 2. It may be 5% by mass or less or 2.0% by mass or less. From these viewpoints, the content of the component (E) is 0.05 to 5.0% by mass and 0.05 to 3 based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition. It may be 0.0% by mass, 0.5 to 3.0% by mass, 0.5 to 2.0% by mass, 1.0 to 2.0% by mass, or 1.5 to 2.0% by mass.
  • the total number of moles of thiol groups in the component (E) contained in the light and heat-curable composition is suitable for the light and heat-curable composition from the viewpoint of further improving the balance between transferability and suppression of flow of conductive particles.
  • the total number of moles of the polymerizable group in the component (A) contained for example, the total number of moles of the (meth) acryloyl group in the component (A)
  • the light and thermosetting composition may further contain other components other than those described above.
  • other components include thermoplastic resins, coupling agents, fillers and the like. These components may be contained in the first adhesive layer 2.
  • thermoplastic resin examples include phenoxy resin, polyester resin, polyamide resin, polyurethane resin, polyester urethane resin, acrylic rubber and the like.
  • the first adhesive layer can be easily formed.
  • the light and thermosetting composition contains a thermoplastic resin, it is also possible to relieve the stress of the first adhesive layer generated during the curing of the light and thermosetting composition.
  • the thermoplastic resin has a functional group such as a hydroxyl group, the adhesiveness of the first adhesive layer is likely to be improved.
  • a phenoxy resin may be used as the thermoplastic resin.
  • the content of the thermoplastic resin may be 5% by mass or more, may be 80% by mass or less, and may be 5 to 80, based on the total amount of components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition. It may be% by mass.
  • the coupling agent examples include a silane coupling agent having an organic functional group such as (meth) acryloyl group, mercapto group, amino group, imidazole group and epoxy group (3- (meth) acryloyloxypropyltrimethoxysilane, etc.) and tetra.
  • examples thereof include a silane compound such as alkoxysilane, a tetraalkoxy titanate derivative, and a polydialkyl titanate derivative.
  • the content of the coupling agent may be 0.1% by mass or more and 20% by mass or less based on the total amount of the components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition.
  • a silane coupling agent having a polymerizable group such as a (meth) acryloyl group is not included in the polymerizable compound.
  • the filler examples include non-conductive fillers (non-conductive particles, etc.). When the light and thermosetting composition contains a filler, further improvement in connection reliability can be expected.
  • the filler may be either an inorganic filler or an organic filler.
  • the inorganic filler include metal oxide fine particles such as silica fine particles, alumina fine particles, silica-alumina fine particles, titania fine particles, and zirconia fine particles; and inorganic fine particles such as nitride fine particles.
  • the organic filler include organic fine particles such as silicone fine particles, methacrylate-butadiene-styrene fine particles, acrylic-silicone fine particles, polyamide fine particles, and polyimide fine particles.
  • These fine particles may have a uniform structure or may have a core-shell type structure.
  • the maximum diameter of the filler may be less than the minimum particle size of the conductive particles 4.
  • the content of the filler may be 1% by volume or more, 30% by volume or less, and 1 to 30% by volume based on the total volume of the light and the thermosetting composition.
  • the light and thermosetting composition may contain other additives such as softeners, accelerators, deterioration inhibitors, colorants, flame retardants, thixotropic agents and the like.
  • the content of these additives may be 0.1 to 10% by mass based on the total amount of components other than the conductive particles in the light and the thermosetting composition. These additives may be contained in the first adhesive layer 2.
  • the thickness d1 of the first adhesive layer 2 is 0.1 times or more the average particle size of the conductive particles 4 from the viewpoint that the conductive particles 4 are easily captured between the facing electrodes and the connection resistance can be further reduced. It may be present, 0.2 times or more, and may be 0.3 times or more. The thickness d1 of the first adhesive layer 2 makes it easier for the conductive particles to be crushed when the conductive particles are sandwiched between the electrodes facing each other during thermocompression bonding, and the conductive particles 4 can further reduce the connection resistance.
  • the average particle size of the particles may be 0.8 times or less, and may be 0.7 times or less.
  • the thickness d1 of the first adhesive layer 2 may be 0.1 to 0.8 times, and 0.2 to 0.8 times, the average particle size of the conductive particles 4. It may be 0.3 to 0.7 times.
  • the thickness d1 of the first adhesive layer 2 refers to the thickness of the first adhesive layer located at the separated portion of the adjacent conductive particles 4 and 4.
  • the conductive particles 4 in the first adhesive layer 2 A part may protrude from the first adhesive layer 2 to the second adhesive layer 3 side.
  • the boundary S between the first adhesive layer 2 and the second adhesive layer 3 is located at the separated portion of the adjacent conductive particles 4 and 4. Due to the presence of the boundary S on the conductive particles (along the surface of the conductive particles), the conductive particles 4 in the first adhesive layer 2 are separated from the first adhesive layer 2 to the second adhesive layer 3.
  • the above relationship may be satisfied without protruding to the side.
  • the conductive particles 4 may not be exposed on the surface 2a of the first adhesive layer 2 opposite to the side of the second adhesive layer 3, and the surface 2a on the opposite side may be a flat surface.
  • the relationship between the thickness d1 of the first adhesive layer 2 and the maximum particle size of the conductive particles 4 is the same as the relationship between the thickness d1 of the first adhesive layer 2 and the average particle size of the conductive particles 4. It may be there.
  • the thickness d1 of the first adhesive layer 2 may be 0.1 to 0.8 times, 0.2 to 0.8 times, the maximum particle size of the conductive particles 4, and may be 0.3. It may be up to 0.7 times.
  • the thickness d1 of the first adhesive layer 2 may be appropriately set according to the height of the electrodes of the circuit member to be adhered.
  • the thickness d1 of the first adhesive layer 2 may be 0.5 ⁇ m or more, and may be 20 ⁇ m or less.
  • the second adhesive layer 2 has a second surface. The distance from the surface 2a on the side opposite to the adhesive layer 3 side to the boundary S between the first adhesive layer 2 and the second adhesive layer 3 located at the separated portions of the adjacent conductive particles 4 and 4 ( The distance indicated by d1 in FIG.
  • the length of the exposed portion of the conductive particles 4 may be 0.1 ⁇ m or more, 20 ⁇ m or less, and may be 0.1 to 20 ⁇ m.
  • the thickness of the adhesive layer can be measured by the following method. First, the adhesive film is sandwiched between two pieces of glass (thickness: about 1 mm). Next, a resin composition consisting of 100 g of a bisphenol A type epoxy resin (trade name: JER811, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) and 10 g of a curing agent (trade name: Epomount curing agent, manufactured by Refine Tech Co., Ltd.) is cast. .. Then, the cross section is polished using a polishing machine, and the thickness of each adhesive layer is measured using a scanning electron microscope (SEM, trade name: SE-8020, manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd.).
  • SEM scanning electron microscope
  • the second adhesive layer 3 contains, for example, (a) a polymerizable compound (hereinafter, also referred to as a component (a)) and (b) a thermal polymerization initiator (hereinafter, also referred to as a component (b)). Contains thermosetting compositions.
  • the second adhesive layer 3 is composed of, for example, a thermosetting composition.
  • the thermosetting composition constituting the second adhesive layer 3 is a thermosetting composition that can flow when connected to a circuit, and is, for example, an uncured thermosetting composition.
  • the component (a) is, for example, a compound polymerized by a radical, a cation or an anion generated by a thermal polymerization initiator by heat.
  • the compound exemplified as the component (A) can be used.
  • the component (a) is a radically polymerizable compound having a radically polymerizable group that reacts with radicals from the viewpoint of facilitating connection at low temperature in a short time, further improving the effect of reducing connection resistance, and improving connection reliability. It's okay.
  • Examples of the radically polymerizable compound and its combination are the same as those of the component (A).
  • the component may be any of a monomer, an oligomer or a polymer.
  • A As a component, one kind of compound may be used alone, or a plurality of kinds of compounds may be used in combination.
  • the component (a) may be the same as or different from the component (A).
  • the content of the component (a) is 10% by mass or more based on the total mass of the thermosetting composition from the viewpoint that the crosslink density required for reducing the connection resistance and improving the connection reliability can be easily obtained. It may be 20% by mass or more, and may be 30% by mass or more.
  • the content of the component (a) may be 90% by mass or less based on the total mass of the thermosetting composition from the viewpoint that curing shrinkage during polymerization can be suppressed and good reliability can be obtained. It may be 80% by mass or less, and may be 70% by mass or less. From these viewpoints, the content of the component (a) may be 10 to 90% by mass, 20 to 80% by mass, or 30 to 70% by mass based on the total mass of the thermosetting composition.
  • Component (b): Thermal polymerization initiator As the component (b), the thermal polymerization initiator exemplified as the component (C) can be used.
  • the component (b) may be a thermal radical polymerization initiator from the viewpoint that the effect of reducing the connection resistance is further improved and the connection reliability is more excellent.
  • the example of the thermal radical polymerization initiator in the component (b) is the same as that of the component (C).
  • the content of the component (b) is 0.1% by mass or more and 0.5% by mass based on the total mass of the thermosetting composition from the viewpoint that the effect of reducing the connection resistance is further improved and the connection reliability is more excellent. It may be the above or 1% by mass or more.
  • the content of the component (b) may be 30% by mass or less, 20% by mass or less, or 10% by mass or less based on the total mass of the thermosetting composition from the viewpoint of pot life. From these viewpoints, the content of the component (b) may be 0.1 to 30% by mass, 0.5 to 20% by mass or 1 to 10% by mass based on the total mass of the thermosetting composition. ..
  • the thermosetting composition may further contain other components other than the component (a) and the component (b).
  • other components include thermoplastic resins, coupling agents, fillers, softeners, accelerators, deterioration inhibitors, colorants, flame retardants, thixotropic agents and the like.
  • the details of the other components are the same as the details of the other components in the first adhesive layer 2.
  • the second adhesive layer 3 does not have to contain the photopolymerization initiator and the conductive particles 4.
  • the content of the photopolymerization initiator in the second adhesive layer 3 may be 1% by mass or less, 0.1% by mass or less, or 0% by mass based on the total mass of the second adhesive layer 3.
  • the content of the conductive particles 4 in the second adhesive layer 3 may be 1% by mass or less or 0% by mass based on the total mass of the second adhesive layer.
  • the thickness d2 of the second adhesive layer 3 may be appropriately set according to the height of the electrodes of the circuit member to be adhered.
  • the thickness d2 of the second adhesive layer 3 may be 5 ⁇ m or more from the viewpoint that the space between the electrodes can be sufficiently filled to seal the electrodes and better connection reliability can be obtained. , 200 ⁇ m or less, and may be 5 to 200 ⁇ m.
  • the first in the second adhesive layer 3 The distance from the surface 3a on the side opposite to the adhesive layer 2 side to the boundary S between the first adhesive layer 2 and the second adhesive layer 3 located at the separated portions of the adjacent conductive particles 4 and 4 ( The distance (d2) in FIG. 1 is the thickness of the second adhesive layer 3.
  • the ratio of the thickness d1 of the first adhesive layer 2 to the thickness d2 of the second adhesive layer 3 (thickness d1 of the first adhesive layer 2 1 / thickness d2 of the second adhesive layer 3). Can be sufficiently filled in the space between the electrodes to seal the electrodes, and may be 1 or more, 100 or less, and 1 to 100 from the viewpoint of obtaining better reliability. It may be there.
  • the thickness of the adhesive film 1 (the total thickness of all the layers constituting the adhesive film 1.
  • the thickness d1 of the first adhesive layer 2 and the thickness of the second adhesive layer 3 are used.
  • the total of d2) may be 5 ⁇ m or more, 200 ⁇ m or less, and 5 to 200 ⁇ m.
  • the adhesive film 1 is an anisotropically conductive adhesive film having an anisotropic conductivity.
  • the adhesive film 1 is interposed between the first circuit member having the first electrode and the second circuit member having the second electrode, and heats the first circuit member and the second circuit member. It is crimped and used to electrically connect the first electrode and the second electrode to each other.
  • the adhesive film 1 the flow of conductive particles generated during the manufacture of the circuit connection structure can be suppressed. According to the adhesive film 1, peeling at the interface between the circuit member and the adhesive film 1 due to insufficient transferability can be suppressed. According to the adhesive film 1, there is a tendency that it is possible to suppress peeling at the interface between the circuit member and the circuit connection member, which occurs when the circuit connection structure is used in a high temperature and high humidity environment.
  • circuit connection adhesive film of the present embodiment has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment.
  • the adhesive film for circuit connection may be composed of two layers, a first adhesive layer and a second adhesive layer, other than the first adhesive layer and the second adhesive layer. It may be composed of three or more layers including a layer (for example, a third adhesive layer).
  • the third adhesive layer may be a layer having the same composition as described above for the first adhesive layer or the second adhesive layer, and for the first adhesive layer or the second adhesive layer.
  • the layer may have the same thickness as described above.
  • the circuit connection adhesive film of the above embodiment is an anisotropic conductive adhesive film having anisotropic conductivity, but the circuit connection adhesive film is a conductive adhesive having no anisotropic conductivity. It may be a film.
  • the method for manufacturing the circuit connection adhesive film 1 of the present embodiment is, for example, a preparation step for preparing the first adhesive layer 2 described above (first preparation step) and a method for producing the adhesive film 1 for circuit connection on the first adhesive layer 2. It includes a laminating step of laminating the second adhesive layer 3 described above.
  • the method for manufacturing the circuit connection adhesive film 1 may further include a preparation step (second preparation step) for preparing the second adhesive layer 3.
  • the order in which the first preparation step and the second preparation step are performed is not limited, and the first preparation step may be performed first, or the second preparation step may be performed first.
  • the first adhesive layer 2 is prepared by forming the first adhesive layer 2 on the base material to obtain the first adhesive film. Specifically, first, the component (A), the component (B), the component (C), and the component (D), and other components added as needed are added to the solvent (organic solvent).
  • a varnish composition (varnish-like light and thermosetting composition) is prepared by dissolving or dispersing by stirring and mixing, kneading, or the like. Then, the varnish composition is applied onto the demolding-treated substrate using a knife coater, a roll coater, an applicator, a comma coater, a die coater, etc., and then the solvent is volatilized by heating to form the substrate on the substrate.
  • the layer containing the light and the thermosetting composition is irradiated with light to cure the light and the thermosetting composition (photocuring), and the first adhesive layer 2 is formed on the substrate.
  • Form curing step
  • a solvent having a property of uniformly dissolving or dispersing each component may be used.
  • examples of such a solvent include toluene, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, ethyl acetate, propyl acetate, butyl acetate and the like. These solvents can be used alone or in combination of two or more.
  • Stirring and mixing and kneading in the preparation of the varnish composition can be carried out by using, for example, a stirrer, a raider, a three-roll, a ball mill, a bead mill or a homodisper.
  • the base material is not particularly limited as long as it has heat resistance that can withstand the heating conditions when the solvent is volatilized.
  • stretched polypropylene OPP
  • PET polyethylene terephthalate
  • PET polyethylene naphthalate
  • polyethylene isophthalate are used.
  • Polybutylene terephthalate, polyolefin, polyacetate, polycarbonate, polyphenylene sulfide, polyamide, polyimide, cellulose, ethylene / vinyl acetate copolymer, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, synthetic rubber, liquid crystal polymer, etc. Film can be used.
  • the heating conditions for volatilizing the solvent from the varnish composition applied to the base material may be conditions under which the solvent is sufficiently volatilized.
  • the heating conditions may be 40 ° C. or higher and 120 ° C. or lower for 0.1 minute or longer and 10 minutes or shorter.
  • a part of the solvent may remain in the layer containing the light and the thermosetting composition without being removed.
  • the content of the solvent in the layer containing the light and the thermosetting composition may be 10% by mass or less based on the total mass of the layer containing the light and the thermosetting composition.
  • irradiation light for example, ultraviolet light
  • Light irradiation can be performed using, for example, a low-pressure mercury lamp, a medium-pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, an ultra-high-pressure mercury lamp, a xenon lamp, a metal halide lamp, an LED light source, or the like.
  • the irradiation amount of light is not particularly limited, and the integrated light amount of light having a wavelength of 365 nm may be 100 mJ / cm 2 or more, 200 mJ / cm 2 or more, or 300 mJ / cm 2 or more.
  • the irradiation amount of light is the integrated light amount of light having a wavelength of 365 nm, which may be 10000 mJ / cm 2 or less, 5000 mJ / cm 2 or less, or 3000 mJ / cm 2 or less.
  • the second adhesive layer 3 is prepared by forming the second adhesive layer 3 on the substrate to obtain the second adhesive film.
  • a part of the solvent may remain on the second adhesive layer 3 without being removed.
  • the content of the solvent in the second adhesive layer 3 may be 10% by mass or less based on the total mass of the second adhesive layer 3.
  • the second adhesive layer 3 may be laminated on the first adhesive layer 2 by laminating the first adhesive film and the second adhesive film, and the first adhesion may be performed.
  • a varnish composition obtained by using the component (a) and the component (b) and other components added as needed is applied onto the agent layer 2, and the solvent is volatilized to cause the first adhesion.
  • the second adhesive layer 3 may be laminated on the agent layer 2.
  • Examples of the method of adhering the first adhesive film and the second adhesive film include a method of heat pressing, roll laminating, vacuum laminating and the like. Lamination may be performed under temperature conditions of 0 to 80 ° C.
  • Circuit connection structure and its manufacturing method> a circuit connection structure using the above-mentioned circuit connection adhesive film 1 as a circuit connection material and a method for manufacturing the same will be described.
  • FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing a circuit connection structure of one embodiment.
  • the circuit connection structure 10 includes a first circuit member 13 having a first electrode 12 formed on a main surface 11a of the first circuit board 11 and the first circuit board 11.
  • a second circuit member 16 having a second electrode 15 formed on the main surface 14a of the second circuit board 14 and the second circuit board 14, and the first circuit member 13 and the second circuit member. It is arranged between 16 and includes a circuit connection portion 17 that electrically connects the first electrode 12 and the second electrode 15 to each other.
  • the first circuit member 13 and the second circuit member 16 may be the same or different from each other.
  • the first circuit member 13 and the second circuit member 16 may be a glass substrate or a plastic substrate on which electrodes are formed, a printed wiring board, a ceramic wiring board, a flexible wiring board, a semiconductor silicon IC chip, or the like.
  • the first circuit board 11 and the second circuit board 14 may be formed of an inorganic substance such as semiconductor, glass, or ceramic, an organic substance such as polyimide or polycarbonate, or a composite such as glass / epoxy.
  • the first electrode 12 and the second electrode 15 are gold, silver, tin, ruthenium, rhodium, palladium, osmium, iridium, platinum, copper, aluminum, molybdenum, titanium, indium tin oxide (ITO), and indium zinc oxidation. It may be made of a substance (IZO), indium gallium zinc oxide (IGZO), or the like.
  • the first electrode 12 and the second electrode 15 may be circuit electrodes or bump electrodes. At least one of the first electrode 12 and the second electrode 15 may be a bump electrode. In FIG. 2, the second electrode 15 is a bump electrode.
  • the circuit connection portion 17 contains the cured product of the adhesive film 1 described above.
  • the circuit connection portion 17 is located, for example, on the side of the first circuit member 13 in the direction in which the first circuit member 13 and the second circuit member 16 face each other (hereinafter referred to as “opposite direction”), and the above-mentioned light and the above-mentioned light and It is located on the side of the first region 18 made of a cured product of a component other than the conductive particles 4 of the heat-curable composition and the second circuit member 16 in the facing direction, and is made of the cured product of the above-mentioned heat-curable composition.
  • the circuit connection portion does not have to have two regions as in the first region 18 and the second region 19.
  • the circuit connection portion may include a region in which a cured product of a component other than the light and the conductive particles 4 of the thermosetting composition described above and a cured product of the thermosetting composition described above are mixed.
  • the method for manufacturing the circuit connection structure 10 described above is, for example, bonding the first circuit member 13 having the first electrode 12 and the second circuit member 16 having the second electrode 15 on the substrate.
  • the first circuit board 13 having the first electrode 12 formed on the main surface 11a of the first circuit board 11 and the first circuit board 11, and the second circuit board 14 And a second circuit member 16 having a second electrode 15 formed on the main surface 14a of the second circuit board 14, and an adhesive film with a substrate having an adhesive film 1 on the substrate are prepared.
  • the base material included in the adhesive film with a base material may be the base material used for producing the above-mentioned adhesive film.
  • the adhesive film 1 is transferred (laminated) from the base material onto the surface on which the first electrode 12 of the first circuit member 13 is formed. Specifically, for example, the adhesive film 1 is laminated on the first circuit member 13 so that the first adhesive layer 2 side faces the main surface (mounting surface) 11a of the first circuit member 13. ..
  • the laminating method is not particularly limited, but a roll laminator, a diaphragm type laminator, a vacuum roll laminator, and a vacuum diaphragm type laminator can be adopted. After temporary laminating, crimping may be performed using a thermocompression bonding device.
  • the laminating conditions may be appropriately set according to the type of the laminator, the base material, the first circuit member 13, the second circuit member 16, and the like to be used.
  • the temperature at the time of laminating (crimping temperature) may be 50 to 90 ° C.
  • the pressure at the time of laminating (crimping pressure) may be 0.5 to 1.5 MPa.
  • the laminating time (crimping time) may be 0.5 to 1.5 seconds.
  • a second circuit member 13 on which the adhesive film 1 is laminated is laminated so that the first electrode 12 and the second electrode 15 face each other.
  • the circuit member 16 of the above is arranged.
  • the first circuit member 13, the adhesive film 1, and the second circuit member 16 are heated while the first circuit member 13 and the second circuit member 16 are heated.
  • the first circuit member 13 and the second circuit member 16 are thermocompression bonded to each other.
  • the second adhesive layer 3 contains a flowable uncured thermosetting composition, a gap between the second electrodes 15 and 15 is formed. It flows to fill and hardens by the above heating.
  • the first electrode 12 and the second electrode 15 are electrically connected to each other via the conductive particles 4, and the first circuit member 13 and the second circuit member 16 are adhered to each other, as shown in FIG.
  • the circuit connection structure 10 shown is obtained.
  • the first adhesive layer 2 is a pre-cured layer
  • the conductive particles 4 hardly flow during the thermocompression bonding, and the conductive particles are efficiently produced. Since it is captured between the facing electrodes, the connection resistance between the facing electrodes (between the first electrode 12 and the second electrode 15) is reduced. Therefore, a circuit connection structure having excellent connection reliability can be obtained.
  • the temperature and time at the time of thermocompression bonding may be any temperature as long as the adhesive film 1 can be sufficiently cured and the first circuit member 13 and the second circuit member 16 can be adhered to each other.
  • the thermocompression bonding temperature may be 150 to 200 ° C.
  • the thermocompression bonding time may be 4 to 7 seconds.
  • polyurethane acrylate (UA1) was obtained.
  • the weight average molecular weight of the polyurethane acrylate (UA1) was 15,000.
  • the weight average molecular weight was measured by a gel permeation chromatograph (GPC) using a standard polystyrene calibration curve according to the following conditions.
  • GPC gel permeation chromatograph
  • a layer made of nickel was formed on the surface of the polystyrene particles so that the thickness of the layer was 0.2 ⁇ m. In this way, conductive particles having an average particle size of 4 ⁇ m, a maximum particle size of 4.5 ⁇ m, and a specific gravity of 2.5 were obtained.
  • ⁇ Preparation method of polyester urethane resin 48 parts by mass of isophthalic acid and 37 parts by mass of neopentyl glycol were put into a stainless steel autoclave equipped with a stirrer, a thermometer, a condenser, a vacuum generator and a nitrogen gas introduction tube, and tetrabutoxytitanate as a catalyst. 0.02 parts by mass was charged. Then, the temperature was raised to 220 ° C. under a nitrogen stream, and the mixture was stirred as it was for 8 hours. Then, the pressure was reduced to atmospheric pressure (760 mmHg), and the mixture was cooled to room temperature. This caused a white precipitate to precipitate.
  • polyester polyol was dissolved in MEK (methyl ethyl ketone) and placed in a four-necked flask equipped with a stirrer, a dropping funnel, a reflux condenser and a nitrogen gas introduction tube.
  • MEK methyl ethyl ketone
  • Dibutyltin dilaurate was added as a catalyst in an amount of 0.05 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polyester polyol
  • 4,4'-diphenylmethane diisocyanate in an amount of 50 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polyester polyol was added to MEK.
  • the polyester urethane resin of interest was obtained by dissolving the mixture, charging the mixture with a dropping funnel, and stirring at 80 ° C. for 4 hours.
  • the components shown below were mixed in the blending amounts (parts by mass) shown in Table 1 to prepare the first varnish compositions 1-9.
  • the "content of the thiol compound” shown in Table 1 is a content based on the total amount of the components other than the conductive particles and the solvent in the varnish composition.
  • A1 Diacrylate having a tricyclodecane skeleton (trade name: DCP-A, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.)
  • A2 Polyurethane acrylate synthesized as described above (UA1)
  • A3 2-methacryloyloxyethyl acid phosphate (trade name: Light Ester P-2M, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.)
  • B1 1,2-octanedione, 1- [4- (phenylthio) phenyl-, 2- (O-benzoyloxime)] (trade name: Irgacure (registered trademark) OXE01, manufactured by BASF)
  • C1 Benzoyl peroxide (trade name: Niper BMT-K40, manufactured by NOF CORPORATION)
  • D1 Conductive particles [thiol compound] prepared as described above.
  • E1 Pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate) (Product name: Karenz MTPE1 ("Karenz MT" is a registered trademark. The same shall apply hereinafter), manufactured by Showa Denko KK)
  • E2 1,4-bis (3-mercaptobutylyloxy) butane (trade name: Karenz MTBD1, manufactured by Showa Denko KK)
  • Thermoplastic resin F1: Phenoxy resin (trade name: PKHC, manufactured by Union Carbide) [Coupling agent)
  • G1 3-methacryloyloxypropyltrimethoxysilane (trade name: KBM503, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
  • H1 Silica fine particles (trade name: R104, manufactured by Nippon Aerodil Co., Ltd., average particle size (primary particle size): 12 nm) [solvent]
  • I1 Methyl ethyl ketone
  • thermoplastic resin c1 Polyester urethane resin synthesized as described above
  • the first varnish composition 1 was applied onto a PET film having a thickness of 50 ⁇ m using a coating device. Then, it was dried with hot air at 70 ° C. for 3 minutes to form a layer composed of a light and thermosetting composition having a thickness (thickness after drying) of 4 ⁇ m on the PET film. The thickness here was measured using a contact thickness gauge. Next, the layer composed of light and the thermosetting composition was irradiated with light using a metal halide lamp so that the integrated light amount was 1500 mJ / cm 2 , and the polymerizable compound was polymerized. As a result, the light and thermosetting composition was cured to form a first adhesive layer.
  • a first adhesive film provided with the first adhesive layer (thickness of the region where the conductive particles are present: 4 ⁇ m) on the PET film was obtained.
  • the conductive particle density at this time was about 7000 pcs / mm 2 .
  • the thickness of the first adhesive layer is smaller than the thickness (diameter) of the conductive particles, the thickness of the layer is measured using a contact type thickness gauge, and the thickness of the conductive particles is reflected to be conductive. The thickness of the area where the particles are present is measured. Therefore, after producing a circuit-connecting adhesive film having a two-layer structure in which a first adhesive layer and a second adhesive layer are laminated, they are located at separated portions of adjacent conductive particles by a method described later. The thickness of the first adhesive layer was measured.
  • the second varnish composition 1 was applied onto a PET film having a thickness of 50 ⁇ m using a coating device. Then, it was dried with hot air at 70 ° C. for 3 minutes to form a second adhesive layer (layer made of a thermosetting composition) having a thickness of 8 ⁇ m on the PET film. By the above operation, a second adhesive film having a second adhesive layer on the PET film was obtained.
  • the first adhesive film and the second adhesive film were arranged so that the respective adhesive layers faced each other, and were laminated with a roll laminator while being heated at 40 ° C. together with the PET film as a base material.
  • a circuit connection adhesive film with a PET film was produced, which provided a circuit connection adhesive film having a two-layer structure in which a first adhesive layer and a second adhesive layer were laminated.
  • the thickness of the first adhesive layer of the produced adhesive film for circuit connection was measured by the following method. First, the adhesive film for circuit connection is sandwiched between two sheets of glass (thickness: about 1 mm), 100 g of bisphenol A type epoxy resin (trade name: JER811, manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) and a curing agent (trade name: Epomount). It was cast with a resin composition consisting of 10 g of a curing agent (manufactured by Refine Tech Co., Ltd.).
  • the cross section is polished using a polishing machine, and a scanning electron microscope (SEM, trade name: SE-8020, manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd.) is used to perform the first section located at the separated portion of the adjacent conductive particles.
  • SEM scanning electron microscope
  • the thickness of the adhesive layer was measured.
  • the thickness of the first adhesive layer was 2 ⁇ m.
  • a glass substrate with a thin film electrode manufactured by Geomatec Co., Ltd.
  • a thin film electrode manufactured by Geomatec Co., Ltd.
  • a thin film electrode made of amorphous indium tin oxide (ITO) on the glass substrate
  • the circuit connection adhesive film was transferred onto the glass substrate with a thin film electrode while peeling off the PET film on the first adhesive layer side of the circuit connection adhesive film with PET film obtained above.
  • an adhesive for circuit connection is obtained by heating and pressurizing at 80 ° C. and 1 MPa for 1 second using a thermocompression bonding device (heating method: constant heat type, manufactured by Taiyo Kikai Co., Ltd.).
  • the surface of the film on the side of the first adhesive layer was adhered to the surface of the glass substrate with the thin film electrode on the side of the thin film electrode over a width of 1 mm.
  • the PET film on the second adhesive layer side is peeled off, and the interface between the glass substrate and the circuit connection adhesive film is observed with a microscope from the glass substrate side to obtain a circuit connection adhesive to the glass substrate.
  • the transfer state of the film was evaluated in three stages. Find the percentage of the entire area of the adhesive film for circuit connection that has peeled off from the glass substrate.
  • the one in which peeling occurred (the ratio of the peeled portion was 5% or more and less than 20%) was designated as B, and the one in which peeling occurred (the ratio of the peeled portion was 20% or more of the whole) was designated as C.
  • the results are shown in Table 3.
  • circuit connection structure With a thin film electrode having a COF (manufactured by FLEXSEED) with a pitch of 25 ⁇ m and a thin film electrode (height: 1200 ⁇ ) made of amorphous indium tin oxide (ITO) on a glass substrate via the prepared adhesive film for circuit connection.
  • a glass substrate manufactured by Geomatec Co., Ltd.
  • a heat crimping device heat crimping device (heating method: constant heat type, manufactured by Taiyo Kikai Co., Ltd.) are used to heat and pressurize at 170 ° C. and 6 MPa for 4 seconds.
  • a circuit connection structure (connection structure) was produced by connecting over 1 mm.
  • the circuit connection adhesive film was laminated on the glass substrate so that the surface of the circuit connection adhesive film on the first adhesive layer side faced the glass substrate.
  • the laminating was performed using a thermocompression bonding device (heating method: constant heat type, manufactured by Taiyo Kikai Co., Ltd.) at 80 ° C. and 1 MPa for 1 second.
  • the obtained circuit connection structure was evaluated using a microscope (trade name: ECLIPSE L200, manufactured by Nikon Corporation) for the particle flow state of the resin-exuded portion of the circuit connection adhesive film. Specifically, the produced circuit connection structure was observed from the glass substrate side with a microscope, and the particle state of the portion exuded outside the width of the circuit connection adhesive film was evaluated in three stages. The state where the particles hardly move and there are no particles in the exuded part 1. The state where the particles move a little but the particles are not connected to each other 2. The state where the particles flow and the particles are connected to each other. was set to 3. The results are shown in Table 3.
  • Example 2 to 7 and Comparative Examples 1 to 2 In the same manner as in Example 1, the adhesive film for circuit connection and the circuit connection structure were produced, and the circuit connection structure was prepared, except that the first varnish compositions 2 to 9 were used instead of the first varnish composition 1. , Transferability evaluation, particle fluidity evaluation and peeling evaluation were performed. The results are shown in Table 3.
  • Circuit connection adhesive film 1 ... Circuit connection adhesive film, 2 ... First adhesive layer, 3 ... Second adhesive layer, 4 ... Conductive particles, 10 ... Circuit connection structure, 12 ... Circuit electrode (first electrode), 13 ... 1st circuit member, 15 ... Bump electrode (second electrode), 16 ... 2nd circuit member.

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Abstract

第1の接着剤層2と、第1の接着剤層2上に積層された第2の接着剤層3と、を備え、第1の接着剤層2は、光及び熱硬化性組成物の硬化物を含み、第2の接着剤層3は、熱硬化性組成物を含み、光及び熱硬化性組成物は、重合性化合物と、光重合開始剤と、熱重合開始剤と、導電粒子4と、チオール化合物と、を含有する、回路接続用接着剤フィルム1。

Description

回路接続用接着剤フィルム及びその製造方法、並びに、回路接続構造体の製造方法
 本発明は、回路接続用接着剤フィルム及びその製造方法、並びに、回路接続構造体の製造方法に関する。
 従来、回路接続を行うために各種の接着材料が使用されている。例えば、液晶ディスプレイとテープキャリアパッケージ(TCP)との接続、フレキシブルプリント配線基板(FPC)とTCPとの接続、又はFPCとプリント配線板との接続のための接着材料として、接着剤中に導電粒子が分散された異方導電性を有する回路接続用接着剤フィルムが使用されている。
 回路接続用接着剤フィルムは、通常、基材上に積層された状態で保管される。そのため、回路接続用接着剤フィルムを使用して上記のような回路部材を接続する際には、まず、回路接続用接着剤フィルムを回路部材上に転写する必要がある。この際、回路接続用接着剤フィルムの転写性が不充分であると、転写時間の長時間化による生産性の低下、回路間の接着が不充分になることによる、接続抵抗値の上昇、接着力の低下等が起こる懸念があるため、回路接続用接着剤フィルムには充分な転写性が求められる。
 異方導電性を有する回路接続用接着剤フィルムが使用される精密電子機器の分野では、回路の高密度化が進んでおり、電極幅及び電極間隔が極めて狭くなっている。このため、微小電極上に効率良く導電粒子を捕捉させ、高い接続信頼性を得ることが必ずしも容易ではなくなっている。これに対し、例えば特許文献1では、導電粒子を異方導電性接着シートの片側に偏在させ、導電粒子同士を離間させる手法が提案されている。
国際公開第2005/54388号
 しかしながら、特許文献1の手法では、回路接続時に導電粒子が流動するため、電極間に導電粒子が凝集し、短絡が発生する可能性がある。導電粒子の流動にともなう導電粒子の粗密の分布は、絶縁特性の低下だけでなく、接続抵抗値のばらつきを生じさせる懸念もあり、未だ改良の余地がある。
 これに対し、本発明者らは、鋭意検討の結果、導電粒子が偏在している領域の接着剤を予め光硬化させることで回路接続時の導電粒子の流動を抑制することができることを見出したものの、この方法では充分な転写性が得られず、回路部材と接着剤フィルムとの界面で剥離が発生する場合があることが明らかになった。
 そこで、本発明は、充分な転写性を有しながら、回路接続構造体の製造時に発生する導電粒子の流動を抑制できる回路接続用接着剤フィルム及びその製造方法、並びに、当該接着剤フィルムを用いた回路接続構造体の製造方法を提供することを目的とする。
 本発明の一側面は、以下に示す回路接続用接着剤フィルムに関する。
[1]第1の接着剤層と、前記第1の接着剤層上に積層された第2の接着剤層と、を備え、前記第1の接着剤層は、光及び熱硬化性組成物の硬化物を含み、前記第2の接着剤層は、熱硬化性組成物を含み、前記光及び熱硬化性組成物は、重合性化合物と、光重合開始剤と、熱重合開始剤と、導電粒子と、チオール化合物と、を含有する、回路接続用接着剤フィルム。
[2]前記重合性化合物は、ラジカル重合性化合物を含む、[1]に記載の回路接続用接着剤フィルム。
[3]前記ラジカル重合性化合物は、(メタ)アクリレート化合物を含む、[2]に記載の回路接続用接着剤フィルム。
[4]前記チオール化合物の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.05~5.0質量%である、[1]~[3]のいずれかに記載の回路接続用接着剤フィルム。
[5]前記熱硬化性組成物は、ラジカル重合性化合物を含む、[1]~[4]のいずれかに記載の回路接続用接着剤フィルム。
[6]前記第1の接着剤層の厚さは、前記導電粒子の平均粒径の0.1~0.8倍である、[1]~[5]のいずれかに記載の回路接続用接着剤フィルム。
 上記側面の回路接続用接着剤フィルムによれば、回路接続構造体の製造時に発生する導電粒子の流動を抑制することができ、転写性の不足による回路部材と接着剤フィルムとの界面における剥離を抑制することもできる。
 上記側面の回路接続用接着剤フィルムによれば、回路接続構造体を高温高湿環境下(例えば85℃、85%RH)で長期間使用した際に発生する、回路部材と回路接続部との界面における剥離を抑制することもできる傾向がある。
[7][1]~[6]のいずれかに記載の回路接続用接着剤フィルムの製造方法であって、前記光及び熱硬化性組成物を含む層に対して光を照射することにより、前記光及び熱硬化性組成物を硬化させ、前記第1の接着剤層を形成する工程を備える、回路接続用接着剤フィルムの製造方法。
[8]第1の電極を有する第1の回路部材と、第2の電極を有する第2の回路部材と、基材上に[1]~[6]のいずれかに記載の回路接続用接着剤フィルムを備える基材付き回路接続用接着剤フィルムと、を用意する工程と、前記回路接続用接着剤フィルムを前記基材から前記第1の回路部材の前記第1の電極が形成されている面上に転写する工程と、前記第1の電極と前記第2の電極とが互いに対向するように、前記第1の回路部材と前記回路接続用接着剤フィルムと前記第2の回路部材とをこの順で配置した後、前記第1の回路部材及び前記第2の回路部材を熱圧着して、前記第1の電極及び前記第2の電極を互いに電気的に接続する工程と、を備える、回路接続構造体の製造方法。
 本発明によれば、充分な転写性を有しながら、回路接続構造体の製造時に発生する導電粒子の流動を抑制できる回路接続用接着剤フィルム及びその製造方法、並びに、当該接着剤フィルムを用いた回路接続構造体の製造方法を提供することができる。
図1は、本発明の一実施形態の回路接続用接着剤フィルムを示す模式断面図である。 図2は、本発明の一実施形態の回路接続構造体を示す模式断面図である。 図3は、本発明の一実施形態の回路接続構造体の製造工程を示す模式断面図である。
 本明細書中、「~」を用いて示された数値範囲は、「~」の前後に記載される数値をそれぞれ最小値及び最大値として含む範囲を示す。本明細書中に段階的に記載されている数値範囲において、ある段階の数値範囲の上限値又は下限値は、他の段階の数値範囲の上限値又は下限値に置き換えてもよい。本明細書中に記載されている数値範囲において、その数値範囲の上限値又は下限値は、実施例に示されている値に置き換えてもよい。個別に記載した上限値及び下限値は任意に組み合わせ可能である。本明細書において、「(メタ)アクリレート」とは、アクリレート、及び、それに対応するメタクリレートの少なくとも一方を意味する。「(メタ)アクリロイル」等の他の類似の表現においても同様である。「(ポリ)」とは「ポリ」の接頭語がある場合とない場合の双方を意味する。「A又はB」とは、A及びBのどちらか一方を含んでいればよく、両方とも含んでいてもよい。以下で例示する材料は、特に断らない限り、1種単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。組成物中の各成分の含有量は、組成物中に各成分に該当する物質が複数存在する場合、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数の物質の合計量を意味する。
 以下、場合により図面を参照しつつ、本発明の実施形態について詳細に説明する。ただし、本発明は以下の実施形態に限定されるものではない。
<回路接続用接着剤フィルム>
 図1は、一実施形態の回路接続用接着剤フィルムを示す模式断面図である。図1に示すように、回路接続用接着剤フィルム1(以下、単に「接着剤フィルム1」ともいう。)は、第1の接着剤層2と、第1の接着剤層2上に積層された第2の接着剤層3と、を備える。
(第1の接着剤層)
 第1の接着剤層2は、光及び熱硬化性組成物の硬化物(例えば光硬化物)を含む。第1の接着剤層2は、例えば、光及び熱硬化性組成物の光硬化物で構成されている。ただし、第1の接着剤層2は、加熱によりさらに硬化することができる。したがって、第1の接着剤層2は、熱硬化性を有するということができる。第1の接着剤層2は、光及び熱硬化性組成物を含む層(例えば、光及び熱硬化性組成物で構成される層)の硬化物と言い換えることもできる。光及び熱硬化性組成物は、(A)重合性化合物(以下、「(A)成分」ともいう。)、(B)光重合開始剤(以下、「(B)成分」ともいう。)、(C)熱重合開始剤(以下、「(C)成分」ともいう。)、(D)導電粒子(以下、「(D)成分」ともいう。)、及び、(E)チオール化合物を含有する。
 第1の接着剤層2は、例えば、光及び熱硬化性組成物を含む層に対して光エネルギーを照射することで(A)成分を重合させ、光及び熱硬化性組成物を硬化(光硬化)させることで得られる。したがって、第1の接着剤層2は、例えば、導電粒子4と、光及び熱硬化性組成物の導電粒子4以外の成分を硬化させてなる接着剤成分5と、を含む。接着剤成分5は、例えば、(A)成分の重合体及び(C)成分を含む。接着剤成分は、(A)成分又は(A)成分の重合体と(E)成分との反応生成物を含んでいてもよい。すなわち、(A)成分の重合時には、(E)成分と(A)成分又は(A)成分の重合体とが反応することにより、(E)成分が(A)成分の重合体中に取り込まれてもよい。接着剤成分5は、未反応の(A)成分、(B)成分及び(E)成分を含有していてもよく、含有していなくてもよい。
[(A)成分:重合性化合物]
 (A)成分は、例えば、ラジカル、カチオン又はアニオンにより重合する化合物である。したがって、(A)成分は、光(例えば紫外光)の照射によって光重合開始剤がラジカル、カチオン又はアニオンを発生すると重合する。(A)成分は、モノマー、オリゴマー又はポリマーのいずれであってもよい。(A)成分として、一種の化合物を単独で用いてよく、複数種の化合物を組み合わせて用いてもよい。
 (A)成分は、重合性基を少なくとも1つ有する。重合性基は、接続抵抗の低減効果が更に向上し、より優れた接続信頼性が得られる観点では、ラジカルにより反応する重合性基(すなわち、ラジカル重合性基)であってよい。すなわち、(A)成分は、ラジカル重合性化合物であってよい。ラジカル重合性基としては、例えば、ビニル基、アリル基、スチリル基、アルケニル基、アルケニレン基、(メタ)アクリロイル基、(メタ)アクリロイルオキシ基、マレイミド基等が挙げられる。
 (A)成分が有する重合性基の数は、重合後、接続抵抗を低減するために必要な物性及び架橋密度が得られやすい観点から、2以上であってよい。(A)成分が有する重合性基の数は、重合時の硬化収縮を抑える観点から、10以下であってよい。重合時の硬化収縮を抑えることは、光照射後に、均一で安定した膜(第1の接着剤層)が得られる点で好ましい。本実施形態では、架橋密度と硬化収縮とのバランスをとるために、重合性基の数が上記範囲内の重合性化合物を使用した上で、重合性基の数が上記範囲外の重合性化合物を追加で使用してもよい。
 (A)成分の具体例としては、(メタ)アクリレート化合物、マレイミド化合物、ビニルエーテル化合物、アリル化合物、スチレン誘導体、アクリルアミド誘導体、ナジイミド誘導体、天然ゴム、イソプレンゴム、ブチルゴム、ニトリルゴム、ブタジエンゴム、スチレン-ブタジエンゴム、アクリロニトリル-ブタジエンゴム、カルボキシル化ニトリルゴム等が挙げられる。
 (メタ)アクリレート化合物としては、エポキシ(メタ)アクリレート、(ポリ)ウレタン(メタ)アクリレート、メチル(メタ)アクリレート、ポリエーテル(メタ)アクリレート、ポリエステル(メタ)アクリレート、ポリブタジエン(メタ)アクリレート、シリコーンアクリレート、エチル(メタ)アクリレート、2-シアノエチル(メタ)アクリレート、2-(2-エトキシエトキシ)エチル(メタ)アクリレート、2-エトキシエチル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アクリレート、n-ヘキシル(メタ)アクリレート、2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、イソプロピル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、イソデシル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、n-ラウリル(メタ)アクリレート、2-メトキシエチル(メタ)アクリレート、2-フェノキシエチル(メタ)アクリレート、テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、2-(メタ)アクリロイロキシエチルフォスフェート、N,N-ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、N,N-ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリアルキレングリコールジ(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニロキシエチル(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトール(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、イソシアヌル酸変性2官能(メタ)アクリレート、イソシアヌル酸変性3官能(メタ)アクリレート、トリシクロデカニルアクリレート、ジメチロール-トリシクロデカンジアクリレート、2-ヒドロキシ-1,3-ジアクリロキシプロパン、2,2-ビス[4-(アクリロキシメトキシ)フェニル]プロパン、2,2-ビス[4-(アクリロキシポリエトキシ)フェニル]プロパン、2,2-ジ(メタ)アクリロイロキシジエチルフォスフェート、2-(メタ)アクリロイロキシエチルアシッドフォスフェート等が挙げられる。
 マレイミド化合物としては、1-メチル-2,4-ビスマレイミドベンゼン、N,N’-m-フェニレンビスマレイミド、N,N’-p-フェニレンビスマレイミド、N,N’-m-トルイレンビスマレイミド、N,N’-4,4-ビフェニレンビスマレイミド、N,N’-4,4-(3,3’-ジメチル-ビフェニレン)ビスマレイミド、N,N’-4,4-(3,3’-ジメチルジフェニルメタン)ビスマレイミド、N,N’-4,4-(3,3’-ジエチルジフェニルメタン)ビスマレイミド、N,N’-4,4-ジフェニルメタンビスマレイミド、N,N’-4,4-ジフェニルプロパンビスマレイミド、N,N’-4,4-ジフェニルエーテルビスマレイミド、N,N’-3,3-ジフェニルスルホンビスマレイミド、2,2-ビス(4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル)プロパン、2,2-ビス(3-s-ブチル-4-8(4-マレイミドフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1-ビス(4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル)デカン、4,4’-シクロヘキシリデン-ビス(1-(4マレイミドフェノキシ)-2-シクロヘキシル)ベンゼン、2,2’-ビス(4-(4-マレイミドフェノキシ)フェニル)ヘキサフルオロプロパン等が挙げられる。
 ビニルエーテル化合物としては、ジエチレングリコールジビニルエーテル、ジプロピレングリコールジビニルエーテル、シクロヘキサンジメタノールジビニルエーテル、トリメチロールプロパントリビニルエーテル等が挙げられる。
 アリル化合物としては、1,3-ジアリルフタレート、1,2-ジアリルフタレート、トリアリルイソシアヌレート等が挙げられる。
 (A)成分は、硬化反応速度と硬化後の物性とのバランスに優れる観点では、(メタ)アクリレート化合物を含んでいてよい。
 (A)成分は、接続抵抗を低減させるための凝集力と、接着力を向上させるための伸びを両立し、より優れた転写性とより優れた接着特性とを得る観点では、(ポリ)ウレタン(メタ)アクリレート化合物を含んでいてよい。(ポリ)ウレタン(メタ)アクリレート化合物の含有量は、更に優れた転写性と更に優れた接着特性とを得る観点では、(A)成分の全質量を基準として、30質量%以上、50質量%以上又は70質量%以上であってよく、96質量%以下、93質量%以下又は90質量%以下であってよく、30~96質量%、50~93質量%又は70~90質量%であってよい。
 (A)成分は、凝集力を向上させ、接続抵抗をより低減させる観点及びより優れた転写性を得る観点では、トリシクロデカン骨格等の高Tg骨格を有する(メタ)アクリレート化合物を含んでいてよい。高Tg骨格を有する(メタ)アクリレート化合物は、(メタ)アクリロイルオキシ基を2つ以上有することが好ましく、2つ有する(すなわち、ジアクリレートである)ことがより好ましい。高Tg骨格を有する(メタ)アクリレート化合物の含有量は、凝集力を更に向上させ、接続抵抗を更に低減させる観点及び更に優れた転写性を得る観点では、(A)成分の全質量を基準として、3質量%以上、6質量%以上又は9質量%以上であってよく、30質量%以下、20質量%以下又は15質量%以下であってよく、3~30質量%、6~20質量%又は9~15質量%であってよい。
 (A)成分は、架橋密度と硬化収縮とのバランスをとり、接続抵抗をより低減させ、接続信頼性を向上させる観点及びより優れた転写性を得る観点では、アクリル樹脂、フェノキシ樹脂、ポリウレタン樹脂等の熱可塑性樹脂の末端又は側鎖に、ビニル基、アリル基、(メタ)アクリロイル基等の重合性基を導入した化合物(例えば、ポリウレタン(メタ)アクリレート)を含んでいてよい。
 熱可塑性樹脂の末端又は側鎖に重合性基を導入した化合物の重量平均分子量は、架橋密度と硬化収縮とのバランスに優れる観点では、3000以上、5000以上又は1万以上であってよい。熱可塑性樹脂の末端又は側鎖に重合性基を導入した化合物の重量平均分子量は、他成分(例えば(E)成分)との相溶性に優れる観点では、100万以下、50万以下又は25万以下であってよい。なお、本明細書中の重量平均分子量は、ゲル浸透クロマトグラフ(GPC)より標準ポリスチレンによる検量線を用いて測定した値をいう。
 熱可塑性樹脂の末端又は側鎖にラジカル重合性基を導入した化合物の含有量は、接続抵抗を更に低減させ、接続信頼性を更に向上させる観点及び更に優れた転写性を得る観点では、(A)成分の全質量を基準として、30質量%以上、50質量%以上又は70質量%以上であってよく、96質量%以下、93質量%以下又は90質量%以下であってよく、30~96質量%、50~93質量%又は70~90質量%であってよい。
 (A)成分は、下記式(1)で表される(メタ)アクリレート化合物(リン酸エステル構造を有する(メタ)アクリレート化合物)を含んでいてよい。この場合、無機物(金属等)の表面に対する接着強度が向上し、電極同士(例えば回路電極同士)の接着性が向上する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000001
 式(1)中、nは1~3の整数を示し、Rは、水素原子又はメチル基を示す。
 式(1)で表される(メタ)アクリレート化合物は、例えば、無水リン酸と2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートとを反応させることにより得られる。式(1)で表される(メタ)アクリレート化合物の具体例としては、モノ(2-(メタ)アクリロイルオキシエチル)アシッドフォスフェート、ジ(2-(メタ)アクリロイルオキシエチル)アシッドフォスフェート等が挙げられる。
 式(1)で表される(メタ)アクリレート化合物の含有量は、無機物(金属等)の表面に対する接着力を更に向上させ、電極同士(例えば回路電極同士)の接着強度を更に向上させる観点では、(A)成分の全質量を基準として、0.1質量%以上、0.5質量%以上又は1質量%以上であってよく、20質量%以下、10質量%以下又は5質量%以下であってよく、0.1~20質量%、0.5~10質量%又は1~5質量%であってよい。
 (A)成分の含有量は、接続抵抗を更に低減し、接続信頼性を更に向上させるために必要な架橋密度が得られやすい観点及び導電粒子の流動を更に抑制する観点では、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、5質量%以上、10質量%以上、20質量%以上、30質量%以上又は40質量%以上であってよい。(A)成分の含有量は、重合時の硬化収縮を抑え、更に優れた転写性を得る観点では、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、90質量%以下、80質量%以下、70質量%以下又は60質量%であってよい。これらの観点から、(A)成分の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、5~90質量%、10~80質量%、20~70質量%、30~60質量%又は40~60質量%であってよい。なお、上記「光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量」には、層形成時に使用される溶剤の量は含まれない。
[(B)成分:光重合開始剤]
 (B)成分は、光ラジカル重合開始剤、光カチオン重合開始剤又は光アニオン重合開始剤であってよい。(B)成分は、例えば、150~750nmの範囲内の波長を含む光、好ましくは254~405nmの範囲内の波長を含む光、更に好ましくは365nmの波長を含む光(例えば紫外光)の照射によってラジカル、カチオン又はアニオンを発生する。(B)成分は、低温短時間での硬化がより容易となる観点では、光ラジカル重合開始剤であってよい。(B)成分として、一種の化合物を単独で用いてよく、複数種の化合物を組み合わせて用いてもよい。
 光ラジカル重合開始剤は、光により分解して遊離ラジカルを発生する。つまり、光ラジカル重合開始剤は、外部からの光エネルギーの付与によりラジカルを発生する化合物である。光ラジカル重合開始剤としては、オキシムエステル構造、ビスイミダゾール構造、アクリジン構造、α-アミノアルキルフェノン構造、アミノベンゾフェノン構造、N-フェニルグリシン構造、アシルフォスフィンオキサイド構造、ベンジルジメチルケタール構造、α-ヒドロキシアルキルフェノン構造等の構造を有する光重合開始剤が挙げられる。
 (B)成分としては、導電粒子の流動抑制効果、及び、転写後の剥離の抑制効果が更に向上する観点では、下記式(I)で示される構造を有する光重合開始剤を用いてよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000002
 光重合開始剤は、式(I)で示される構造を複数有していてもよい。式(I)で示される構造は、オキシムエステル構造、ビスイミダゾール構造又はアクリジン構造であってよい。すなわち、光及び熱硬化性組成物は、オキシムエステル構造を有する光重合開始剤、ビスイミダゾール構造を有する光重合開始剤及びアクリジン構造を有する光重合開始剤からなる群より選択される少なくとも一種の光重合開始剤を含有していてよい。これらの中でも、オキシムエステル構造を有する光重合開始剤を用いる場合、導電粒子の流動抑制効果、及び、転写後の剥離の抑制効果が更に向上する傾向がある。
 オキシムエステル構造を有する化合物の中でも、下記式(VI)で示される構造を有する化合物を用いる場合、上記効果がより顕著に得られる傾向がある。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000003
 式(VI)中、R11、R12及びR13は、それぞれ独立して、水素原子、炭素数1~20のアルキル基、又は芳香族系炭化水素基を含む有機基を示す。
 オキシムエステル構造を有する化合物の具体例としては、1-フェニル-1,2-ブタンジオン-2-(o-メトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-1,2-プロパンジオン-2-(o-メトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-1,2-プロパンジオン-2-(o-エトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-1,2-プロパンジオン-2-o-ベンゾイルオキシム、1,3-ジフェニルプロパントリオン-2-(o-エトキシカルボニル)オキシム、1-フェニル-3-エトキシプロパントリオン-2-(o-ベンゾイル)オキシム、1,2-オクタンジオン,1-[4-(フェニルチオ)フェニル-,2-(o-ベンゾイルオキシム)]、エタノン,1-[9-エチル-6-(2-メチルベンゾイル)-9H-カルバゾール-3-イル]-,1-(o-アセチルオキシム)等が挙げられる。
 ビスイミダゾール構造を有する化合物としては、2-(o-クロロフェニル)-4,5-ジフェニルイミダゾール二量体、2-(o-クロロフェニル)-4,5-ジ(m-メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2-(o-フルオロフェニル)-4,5-フェニルイミダゾール二量体、2-(o-メトキシフェニル)-4,5-ジフェニルイミダゾール二量体、2-(p-メトキシフェニル)-4,5-ジフェニルイミダゾール二量体、2,4-ジ(p-メトキシフェニル)-5-フェニルイミダゾール二量体、2-(2,4-ジメトキシフェニル)-4,5-ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5-トリアリールイミダゾール二量体が挙げられる。
 アクリジン構造を有する化合物としては、9-フェニルアクリジン、1,7-ビス(9,9’-アクリジニル)ヘプタン等が挙げられる。
 上記式(I)で示される構造を有する光重合開始剤の含有量は、導電粒子の流動抑制効果が更に向上する観点では、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.1質量%以上、0.3質量%以上、0.45質量%以上、0.55質量%以上又は0.85質量%以上であってよい。上記式(I)で示される構造を有する光重合開始剤の含有量は、転写後の剥離の抑制効果が更に向上する観点では、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、1.2質量%以下、0.9質量%以下又は0.6質量%以下であってよい。これらの観点から、上記式(I)で示される構造を有する光重合開始剤の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.1~1.2質量%、0.3~1.2質量%、0.45~0.9質量%又は0.45~0.6質量%であってよい。
 (B)成分の含有量(光重合開始剤の含有量の合計)は、導電粒子の流動抑制効果が更に向上する観点では、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.3質量%以上、0.45質量%以上、0.55質量%以上又は0.85質量%以上であってよい。(B)成分の含有量は、転写後の剥離の抑制効果が更に向上する観点では、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、1.2質量%以下、0.9質量%以下又は0.6質量%以下であってよい。これらの観点から、(B)成分の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.3~1.2質量%、0.45~0.9質量%又は0.45~0.6質量%であってよい。
[(C)成分:熱重合開始剤]
 (C)成分は、熱によりラジカル、カチオン又はアニオンを発生する重合開始剤(熱ラジカル重合開始剤、熱カチオン重合開始剤又は熱アニオン重合開始剤)であってよい。(C)成分は、接続抵抗の低減効果が更に向上し、接続信頼性により優れる観点では、熱ラジカル重合開始剤であってよい。(C)成分として、一種の化合物を単独で用いてよく、複数種の化合物を組み合わせて用いてもよい。
 熱ラジカル重合開始剤は、熱により分解して遊離ラジカルを発生する。つまり、熱ラジカル重合開始剤は、外部からの熱エネルギーの付与によりラジカルを発生する化合物である。熱ラジカル重合開始剤としては、従来から知られている有機過酸化物及びアゾ化合物から任意に選択することができる。熱ラジカル重合開始剤は、導電粒子の流動抑制効果、及び、転写後の剥離の抑制効果が更に向上する観点では、有機過酸化物であってよく、安定性、反応性及び相溶性がより良好となる観点では、1分間半減期温度が90~175℃であり、且つ、重量平均分子量が180~1000の有機過酸化物であってよい。有機過酸化物の1分間半減期温度が上記範囲にある場合、貯蔵安定性に更に優れる傾向があり、充分に高いラジカル重合性が得られることから、短時間で硬化させることも可能となる。
 (C)成分の具体例としては、1,1,3,3-テトラメチルブチルパーオキシネオデカノエート、ジ(4-t-ブチルシクロヘキシル)パーオキシジカーボネート、ジ(2-エチルヘキシル)パーオキシジカーボネート、クミルパーオキシネオデカノエート、ジラウロイルパーオキサイド、1-シクロヘキシル-1-メチルエチルパーオキシネオデカノエート、t-ヘキシルパーオキシネオデカノエート、t-ブチルパーオキシネオデカノエート、t-ブチルパーオキシピバレート、1,1,3,3-テトラメチルブチルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、2,5-ジメチル-2,5-ジ(2-エチルヘキサノイルパーオキシ)ヘキサン、t-ヘキシルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、t-ブチルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、t-ブチルパーオキシネオヘプタノエート、t-アミルパーオキシ-2-エチルヘキサノエート、ジ-t-ブチルパーオキシヘキサヒドロテレフタレート、t-アミルパーオキシ-3,5,5-トリメチルヘキサノエート、3-ヒドロキシ-1,1-ジメチルブチルパーオキシネオデカノエート、t-アミルパーオキシネオデカノエート、ジ(3-メチルベンゾイル)パーオキサイド、ジベンゾイルパーオキサイド、ジ(4-メチルベンゾイル)パーオキサイド、t-ヘキシルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t-ブチルパーオキシマレイン酸、t-ブチルパーオキシ-3,5,5-トリメチルヘキサノエート、t-ブチルパーオキシラウレート、2,5-ジメチル-2,5-ジ(3-メチルベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t-ブチルパーオキシ-2-エチルヘキシルモノカーボネート、t-ヘキシルパーオキシベンゾエート、2,5-ジメチル-2,5-ジ(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t-ブチルパーオキシベンゾエート、ジブチルパーオキシトリメチルアジペート、t-アミルパーオキシノルマルオクトエート、t-アミルパーオキシイソノナノエート、t-アミルパーオキシベンゾエート等の有機過酸化物;2,2’-アゾビス-2,4-ジメチルバレロニトリル、1,1’-アゾビス(1-アセトキシ-1-フェニルエタン)、2,2’-アゾビスイソブチロニトリル、2,2’-アゾビス(2-メチルブチロニトリル)、4,4’-アゾビス(4-シアノバレリン酸)、1,1’-アゾビス(1-シクロヘキサンカルボニトリル)等のアゾ化合物などが挙げられる。
 (C)成分の含有量は、速硬化性に優れる観点、並びに、導電粒子の流動抑制効果、及び、転写後の剥離の抑制効果が更に向上する観点では、接着剤成分(光及び熱硬化性組成物の硬化物中の導電粒子以外の成分)の合計量を基準として、0.1質量%以上、0.5質量%以上又は1質量%以上であってよい。(C)成分の含有量は、ポットライフの観点では、接着剤成分(光及び熱硬化性組成物の硬化物中の導電粒子以外の成分)の合計量を基準として、20質量%以下、10質量%以下又は5質量%以下であってよい。なお、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準とした(C)成分の含有量は上記範囲と同じであってよく、第1の接着剤層中の導電粒子以外の成分の合計量を基準とした(C)成分の含有量も上記範囲と同じであってよい。
[(D)成分:導電粒子]
 (D)成分は、導電性を有する粒子であれば特に制限されず、Au、Ag、Ni、Cu、はんだ等の金属で構成された金属粒子、導電性カーボンで構成された導電性カーボン粒子などであってよい。(D)成分は、非導電性のガラス、セラミック、プラスチック(ポリスチレン等)などを含む核と、上記金属又は導電性カーボンを含み、核を被覆する被覆層と、を備える被覆導電粒子であってもよい。これらの中でも、熱溶融性の金属で形成された金属粒子、又はプラスチックを含む核と、金属又は導電性カーボンを含み、核を被覆する被覆層と、を備える被覆導電粒子を用いる場合、光及び熱硬化性組成物の硬化物を加熱又は加圧により変形させることが容易となる。そのため、電極同士を電気的に接続する際に、電極と(D)成分との接触面積を増加させ、電極間の導電性をより向上させることができる。
 (D)成分は、上記の金属粒子、導電性カーボン粒子又は被覆導電粒子と、樹脂等の絶縁材料を含み、該粒子の表面を被覆する絶縁層と、を備える絶縁被覆導電粒子であってもよい。(D)成分が絶縁被覆導電粒子であると、(D)成分の含有量が多い場合であっても、粒子の表面が樹脂で被覆されているため、(D)成分同士の接触による短絡の発生を抑制でき、隣り合う電極回路間の絶縁性を向上させることもできる。(D)成分は、上述した各種導電粒子の1種を単独で又は2種以上を組み合わせて用いられる。
 (D)成分の最大粒径は、電極の最小間隔(隣り合う電極間の最短距離)よりも小さいことが好ましい。(D)成分の最大粒径は、分散性及び導電性に優れる観点から、1.0μm以上であってよく、2.0μm以上であってよく、2.5μm以上であってよい。(D)成分の最大粒径は、分散性及び導電性に優れる観点から、50μm以下であってよく、30μm以下であってよく、20μm以下であってよい。これらの観点から、(D)成分の最大粒径は、1.0~50μmであってよく、2.0~30μmであってよく、2.5~20μmであってよい。本明細書では、任意の導電粒子300個(pcs)について、走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた観察により粒径の測定を行い、得られた最も大きい値を(D)成分の最大粒径とする。なお、(D)成分が突起を有する等の理由で球形ではない場合、(D)成分の粒径は、SEMの画像における導電粒子に外接する円の直径とする。
 (D)成分の平均粒径は、分散性及び導電性に優れる観点から、1.0μm以上であってよく、2.0μm以上であってよく、2.5μm以上であってよい。(D)成分の平均粒径は、分散性及び導電性に優れる観点から、50μm以下であってよく、30μm以下であってよく、20μm以下であってよい。これらの観点から、(D)成分の平均粒径は、1.0~50μmであってよく、2.0~30μmであってよく、2.5~20μmであってよい。本明細書では、任意の導電粒子300個(pcs)について、走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた観察により粒径の測定を行い、得られた粒径の平均値を平均粒径とする。
 第1の接着剤層2において、(D)成分は均一に分散されていてよい。第1の接着剤層2における(D)成分の粒子密度は、安定した接続抵抗が得られやすい観点から、100pcs/mm以上であってよく、1000pcs/mm以上であってよく、2000pcs/mm以上であってよい。第1の接着剤層2における(D)成分の粒子密度は、隣り合う電極間の絶縁性を向上させる観点から、100000pcs/mm以下であってよく、50000pcs/mm以下であってよく、10000pcs/mm以下であってよい。
 (D)成分の含有量は、導電性をより向上させることができる観点では、光及び熱硬化性組成物の全質量基準で、5質量%以上、15質量%以上又は20質量%以上であってよい。(D)成分の含有量は、短絡を抑制しやすい観点では、光及び熱硬化性組成物の全質量基準で、50質量%以下、40質量%以下又は30質量%以下であってよい。これらの観点から、(D)成分の含有量は、光及び熱硬化性組成物の全質量基準で、5~50質量%、10~40質量%又は20~30質量%であってよい。なお、光及び熱硬化性組成物の硬化物の全質量を基準とした(D)成分の含有量は上記範囲と同じであってよく、第1の接着剤層の全質量を基準とした(D)成分の含有量も上記範囲と同じであってよい。
 (D)成分の含有量は、導電性をより向上させることができる観点から、光及び熱硬化性組成物の硬化物の全体積基準で、0.1体積%以上、1体積%以上又は5体積%以上であってよい。(D)成分の含有量は、短絡を抑制しやすい観点から、光及び熱硬化性組成物の硬化物の全体積基準で、50体積%以下、30体積%以下又は20体積%以下であってよい。なお、光及び熱硬化性組成物の全体積を基準とした(D)成分の含有量は上記範囲と同じであってよく、第1の接着剤層の全体積基準を基準とした(D)成分の含有量も上記範囲と同じであってよい。
[(E)成分:チオール化合物]
 (E)成分は、チオール基を少なくとも1つ有する化合物である。(E)成分を用いることで、充分な転写性と導電粒子の流動の抑制とを両立することが可能となる。
 上記効果が得られる理由は、明らかではないが、(E)成分が(A)成分の重合反応の促進剤として機能することで、光及び熱硬化性組成物の光硬化を速やかに且つ充分に進行させることができるようになり、結果として、転写性を損なうことなく、導電粒子の流動を抑制できる程度に光及び熱硬化性組成物を硬化させることができるようになることが原因の一つとして推察される。
 (E)成分は、モノマーであっても、オリゴマーであってもよい。(E)成分は、1種を単独で用いてよく、複数種を組み合わせて用いてもよい。例えば、(E)成分として、モノマーとオリゴマーとを併用することもできる。
 (E)成分は、チオール基を1つ有するチオール化合物(単官能チオール化合物)であってよく、チオール基を複数有するチオール化合物(多官能チオール化合物)であってもよい。特に、(E)成分が多官能チオール化合物である場合、硬化時((A)成分の重合時)に(E)成分が架橋剤としても機能することで、(E)成分に由来する架橋構造(-C-S-C-)が形成されることとなる。そのため、(E)成分として多官能チオール化合物を用いる場合、転写性を妨げない柔軟性を有しながら、導電粒子の流動をより一層抑制する高い架橋密度を有する硬化物が得られる傾向がある。このような効果が得られやすくなる観点では、チオール基の数は、1つ以上、2つ以上又は4つ以上であってよい。一方、より優れた転写性が得られやすくなる観点では、チオール基の数は、12以下又は10以下であってよい。これらの観点から、チオール基の数は、1~12、2~10、又は4~10であってよい。
 (E)成分が有するチオール基は、一級チオール基であってよく、二級チオール基であってもよく、三級チオール基であってもよい。(E)成分が有するチオール基は、転写性と導電粒子の流動の抑制とのバランスにより優れる観点では、二級又は三級チオール基(結合する炭素原子が二級又は三級炭素原子であるチオール基)であってよい。(E)成分が多官能チオール化合物である場合、転写性と導電粒子の流動の抑制とのバランスにより優れる観点では、全てのチオール基が、二級又は三級チオール基であってよい。
 単官能チオール化合物としては、例えば、2-メルカプトベンゾチアゾール、2-メチル-4,5-ジヒドロフラン-3-チオール、3-メルカプト-1-ヘキサノール、メルカプトメチルブタノール、3-メルカプト-2-メチルペンタノール、3-メルカプト-3-メチルブタノール、4-エトキシ-2-メチル―2-ブタンチオール、ヘキサンチオール、イソブチルチオール、1,1-ジメチルへプタンチオール、2-エチルヘキシル-3-メルカプトプロピオネート、n-オクチル-3-メルカプトプロピオネート、メトキシブチル-3-メルカプトプロピオネート、ステアリル-3-メルカプトプロピオネート等が挙げられる。
 多官能チオール化合物としては、例えば、ペンタエリスリトールテトラキス(3-メルカプトブチレート)、エタンジチオール、1,3-プロパンジチオール、1,4-ブタンジチオール、トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトプロピオネート)、トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトブチレート)、トリス-[(3-メルカプトプロピオニルオキシ)-エチル]-イソシアヌレート、トリス-[(3-メルカプトブチリルオキシ)-エチル]-イソシアヌレート、テトラエチレングリコール ビス(3-メルカプトプロピオネート)、1,4-ビス(3-メルカプトブチリルオキシ)ブタン等が挙げられる。
 (E)成分は、硬化物の柔軟性がより向上し、より優れた転写性が得られやすくなる観点では、下記式(2)で表されるペンタエリスリトール骨格を有していてよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000004
 ペンタエリスリトール骨格を有する(E)成分は、転写性と導電粒子の流動の抑制とのバランスに更に優れる観点では、下記式(3)で表される化合物であってよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000005
 式(3)中、R21、R22、R23及びR24は、それぞれ独立して、チオール基で置換されていてよいアルキル基を示す。ただし、R21、R22、R23及びR24の少なくとも1つは、結合している水素原子の数が0、1又は2である炭素原子に結合するチオール基を有する。R21、R22、R23及びR24の全てが、結合している水素原子の数が0、1又は2である炭素原子に結合するチオール基を有していてもよい。アルキル基の炭素数は、例えば1~10である。チオール基で置換されていてよいアルキル基の具体例としては、2-メルカプトエチル基、2-メルカプトプロピル基、2-メルカプト-2-メチル-プロピル基、3-メルカプトブチル基等が挙げられる。
 式(3)で表される化合物の具体例としては、ペンタエリスリトールテトラキス(3-メルカプトブチレート)が挙げられる。
 (E)成分は、硬化物の柔軟性がより向上し、より優れた転写性が得られやすくなる観点では、下記式(4)で表される化合物であってもよい。
Figure JPOXMLDOC01-appb-C000006
 式(4)中、Lは、連結基を示す。連結基は、例えば、2価の炭化水素基であり、好ましくは、アルキレン基(アルカンジイル基ともいう)である。2価の炭化水素基の炭素数は、例えば、1~10であり、好ましくは3~6である。2価の炭化水素基の具体例としては、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基、ペンチレン基、ヘキシレン基等が挙げられる。
 式(4)中、R31及びR32は、それぞれ独立して、チオール基で置換されていてよいアルキル基を示す。ただし、R31及びR32の少なくとも1つは、結合している水素原子の数が0、1又は2である炭素原子に結合するチオール基を有する。R31及びR32の両方が、結合している水素原子の数が0、1又は2である炭素原子に結合するチオール基を有していてもよい。アルキル基の炭素数は、例えば1~10である。チオール基で置換されていてよいアルキル基の具体例としては、2-メルカプトエチル基、2-メルカプトプロピル基、2-メルカプト-2-メチル-プロピル基、3-メルカプトブチル基等が挙げられる。
 式(3)で表される化合物の具体例としては、テトラエチレングリコール ビス(3-メルカプトプロピオネート)及び1,4-ビス(3-メルカプトブチリルオキシ)ブタンが挙げられる。
 (E)成分の分子量は、フィルム状接着剤として用いる場合に製造プロセス中の乾燥工程において揮発を抑制する観点では、150以上、200以上又は250以上であってよい。(E)成分の分子量は、他の成分との相溶性がより良好となる観点では、5000以下、3000以下又は1500以下であってよい。これらの観点では、(E)成分の分子量は、150~5000、200~3000又は250~1500であってよい。
 (E)成分の含有量は、導電粒子の流動抑制効果が更に向上する観点では、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.05質量%以上、0.5質量%以上、1.0質量%以上又は1.5質量%以上であってよい。(E)成分の含有量は、転写性が更に向上する観点及び高温高湿試験後の剥離の抑制効果が更に向上する観点では、5.0質量%以下、3.0質量%以下、2.5質量%以下又は2.0質量%以下であってよい。これらの観点から、(E)成分の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.05~5.0質量%、0.05~3.0質量%、0.5~3.0質量%、0.5~2.0質量%、1.0~2.0質量%又は1.5~2.0質量%であってよい。
 光及び熱硬化性組成物に含まれる(E)成分中のチオール基の総モル数は、転写性と導電粒子の流動の抑制とのバランスに更に優れる観点では、光及び熱硬化性組成物に含まれる(A)成分中の重合性基の総モル数(例えば、(A)成分中の(メタ)アクリロイル基の総モル数)に対して、0.05以上、0.1以上又は0.15以上であってよく、0.5以下、0.4以下又は0.3以下であってよく、0.05~0.5、0.1~0.4又は0.15~0.3であってよい。
[その他の成分]
 光及び熱硬化性組成物は、上述した成分以外のその他の成分を更に含有していてよい。その他の成分としては、例えば、熱可塑性樹脂、カップリング剤、充填材等が挙げられる。これらの成分は、第1の接着剤層2に含有されていてもよい。
 熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリエステルウレタン樹脂、アクリルゴム等が挙げられる。光及び熱硬化性組成物が熱可塑性樹脂を含有する場合、第1の接着剤層を容易に形成することができる。光及び熱硬化性組成物が熱可塑性樹脂を含有する場合、光及び熱硬化性組成物の硬化時に発生する、第1の接着剤層の応力を緩和することもできる。熱可塑性樹脂が水酸基等の官能基を有する場合、第1の接着剤層の接着性が向上しやすい。このような観点では、熱可塑性樹脂としてフェノキシ樹脂を用いてよい。熱可塑性樹脂の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、5質量%以上であってよく、80質量%以下であってよく、5~80質量%であってよい。
 カップリング剤としては、(メタ)アクリロイル基、メルカプト基、アミノ基、イミダゾール基、エポキシ基等の有機官能基を有するシランカップリング剤(3-(メタ)アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン等)、テトラアルコキシシラン等のシラン化合物、テトラアルコキシチタネート誘導体、ポリジアルキルチタネート誘導体などが挙げられる。光及び熱硬化性組成物がカップリング剤を含有する場合、接着性を更に向上することができる。カップリング剤の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.1質量%以上であってよく、20質量%以下であってよい。なお、本明細書では、(メタ)アクリロイル基等の重合性基を有するシランカップリング剤は、重合性化合物には含まれないものとする。
 充填材としては、例えば、非導電性のフィラー(非導電粒子等)が挙げられる。光及び熱硬化性組成物が充填材を含有する場合、接続信頼性の更なる向上が期待できる。充填材は、無機フィラー及び有機フィラーのいずれであってもよい。無機フィラーとしては、例えば、シリカ微粒子、アルミナ微粒子、シリカ-アルミナ微粒子、チタニア微粒子、ジルコニア微粒子等の金属酸化物微粒子;窒化物微粒子などの無機微粒子が挙げられる。有機フィラーとしては、例えば、シリコーン微粒子、メタクリレート-ブタジエン-スチレン微粒子、アクリル-シリコーン微粒子、ポリアミド微粒子、ポリイミド微粒子等の有機微粒子が挙げられる。これらの微粒子は、均一な構造を有していてもよく、コア-シェル型構造を有していてもよい。充填材の最大径は、導電粒子4の最小粒径未満であってよい。充填材の含有量は、光及び熱硬化性組成物の全体積を基準として、1体積%以上であってよく、30体積%以下であってよく、1~30体積%であってよい。
 光及び熱硬化性組成物は、軟化剤、促進剤、劣化防止剤、着色剤、難燃化剤、チキソトロピック剤等のその他の添加剤を含有していてもよい。これらの添加剤の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.1~10質量%であってよい。これらの添加剤は、第1の接着剤層2に含有されていてもよい。
 第1の接着剤層2の厚さd1は、導電粒子4が対向する電極間で捕捉されやすくなり、接続抵抗を一層低減できる観点では、導電粒子4の平均粒径の0.1倍以上であってよく、0.2倍以上であってよく、0.3倍以上であってよい。第1の接着剤層2の厚さd1は、熱圧着時に導電粒子が対向する電極間ではさまれた際に、より導電粒子が潰れやすくなり、接続抵抗を一層低減できる観点では、導電粒子4の平均粒径の0.8倍以下であってよく、0.7倍以下であってよい。これらの観点から、第1の接着剤層2の厚さd1は、導電粒子4の平均粒径の0.1~0.8倍であってよく、0.2~0.8倍であってよく、0.3~0.7倍であってよい。なお、第1の接着剤層2の厚さd1は、隣り合う導電粒子4,4の離間部分に位置する第1の接着剤層の厚さをいう。
 第1の接着剤層2の厚さd1と導電粒子4の平均粒径とが上記のような関係を満たす場合、図1に示すように、第1の接着剤層2中の導電粒子4の一部が、第1の接着剤層2から第2の接着剤層3側に突出していてよい。この場合、隣り合う導電粒子4,4の離間部分には、第1の接着剤層2と第2の接着剤層3との境界Sが位置している。導電粒子上に(導電粒子の表面を沿うように)境界Sが存在することにより、第1の接着剤層2中の導電粒子4が第1の接着剤層2から第2の接着剤層3側に突出することなく、上記の関係を満たしていてもよい。導電粒子4は、第1の接着剤層2における第2の接着剤層3側とは反対側の面2aには露出しておらず、反対側の面2aは平坦面となっていてよい。
 第1の接着剤層2の厚さd1と導電粒子4の最大粒径との関係は、上記第1の接着剤層2の厚さd1と導電粒子4の平均粒径との関係と同じであってよい。第1の接着剤層2の厚さd1は、導電粒子4の最大粒径の0.1~0.8倍であってよく、0.2~0.8倍であってよく、0.3~0.7倍であってよい。
 第1の接着剤層2の厚さd1は、接着する回路部材の電極の高さ等に応じて適宜設定してよい。第1の接着剤層2の厚さd1は、0.5μm以上であってよく、20μm以下であってよい。なお、導電粒子4の一部が第1の接着剤層2の表面から露出(例えば、第2の接着剤層3側に突出)している場合、第1の接着剤層2における第2の接着剤層3側とは反対側の面2aから、隣り合う導電粒子4,4の離間部分に位置する第1の接着剤層2と第2の接着剤層3との境界Sまでの距離(図1においてd1で示す距離)が第1の接着剤層2の厚さであり、導電粒子4の露出部分(第1の接着剤層2によって被覆されていない部分)は第1の接着剤層2の厚さには含まれない。導電粒子4の露出部分の長さは、0.1μm以上であってよく、20μm以下であってよく、0.1~20μmであってよい。
 接着剤層の厚さは、以下の方法により測定することができる。まず、接着剤フィルムを2枚のガラス(厚さ:1mm程度)で挟み込む。次いで、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(商品名:JER811、三菱ケミカル株式会社製)100gと、硬化剤(商品名:エポマウント硬化剤、リファインテック株式会社製)10gとからなる樹脂組成物で注型する。その後、研磨機を用いて断面研磨を行い、走査型電子顕微鏡(SEM、商品名:SE-8020、株式会社日立ハイテクサイエンス製)を用いて各接着剤層の厚さを測定する。
(第2の接着剤層)
 第2の接着剤層3は、例えば、(a)重合性化合物(以下、(a)成分ともいう。)及び(b)熱重合開始剤(以下、(b)成分ともいう。)を含有する熱硬化性組成物を含む。第2の接着剤層3は、例えば、熱硬化性組成物で構成されている。第2の接着剤層3を構成する熱硬化性組成物は、回路接続時に流動可能な熱硬化性組成物であり、例えば、未硬化の熱硬化性組成物である。
[(a)成分:重合性化合物]
 (a)成分は、例えば、熱によって熱重合開始剤が発生させたラジカル、カチオン又はアニオンにより重合する化合物である。(a)成分としては、(A)成分として例示した化合物を用いることができる。(a)成分は、低温短時間での接続が容易となり、接続抵抗の低減効果が更に向上し、接続信頼性により優れる観点では、ラジカルにより反応するラジカル重合性基を有するラジカル重合性化合物であってよい。ラジカル重合性化合物及びその組み合わせの例は、(A)成分と同じである。
 (a)成分はモノマー、オリゴマー又はポリマーのいずれであってもよい。(a)成分として、一種の化合物を単独で用いてよく、複数種の化合物を組み合わせて用いてもよい。(a)成分は、(A)成分と同一であっても異なっていてもよい。
 (a)成分の含有量は、接続抵抗を低減し、接続信頼性を向上させるために必要な架橋密度が得られやすい観点では、熱硬化性組成物の全質量基準で、10質量%以上であってよく、20質量%以上であってよく、30質量%以上であってよい。(a)成分の含有量は、重合時の硬化収縮を抑えることができ、良好な信頼性が得られる観点では、熱硬化性組成物の全質量基準で、90質量%以下であってよく、80質量%以下であってよく、70質量%以下であってよい。これらの観点から、(a)成分の含有量は、熱硬化性組成物の全質量基準で、10~90質量%、20~80質量%、30~70質量%であってよい。
[(b)成分:熱重合開始剤]
 (b)成分としては、(C)成分として例示した熱重合開始剤を用いることができる。(b)成分として、一種の化合物を単独で用いてよく、複数種の化合物を組み合わせて用いてもよい。(b)成分は、接続抵抗の低減効果が更に向上し、接続信頼性により優れる観点では、熱ラジカル重合開始剤であってよい。(b)成分における熱ラジカル重合開始剤の例は、(C)成分と同じである。
 (b)成分の含有量は、接続抵抗の低減効果が更に向上し、接続信頼性により優れる観点では、熱硬化性組成物の全質量基準で、0.1質量%以上、0.5質量%以上又は1質量%以上であってよい。(b)成分の含有量は、ポットライフの観点では、熱硬化性組成物の全質量基準で、30質量%以下、20質量%以下又は10質量%以下であってよい。これらの観点から、(b)成分の含有量は、熱硬化性組成物の全質量基準で、0.1~30質量%、0.5~20質量%又は1~10質量%であってよい。
[その他の成分]
 熱硬化性組成物は、(a)成分及び(b)成分以外のその他の成分を更に含有していてよい。その他の成分としては、例えば、熱可塑性樹脂、カップリング剤、充填材、軟化剤、促進剤、劣化防止剤、着色剤、難燃化剤、チキソトロピック剤等が挙げられる。その他の成分の詳細は、第1の接着剤層2におけるその他の成分の詳細と同じである。
 第2の接着剤層3(熱硬化性組成物)は、光重合開始剤及び導電粒子4を含まなくてよい。第2の接着剤層3における光重合開始剤の含有量は、第2の接着剤層3の全質量基準で、1質量%以下、0.1質量%以下又は0質量%であってよい。第2の接着剤層3における導電粒子4の含有量は、第2の接着剤層の全質量基準で、1質量%以下又は0質量%であってよい。
 第2の接着剤層3の厚さd2は、接着する回路部材の電極の高さ等に応じて適宜設定してよい。第2の接着剤層3の厚さd2は、電極間のスペースを充分に充填して電極を封止することができ、より良好な接続信頼性が得られる観点から、5μm以上であってよく、200μm以下であってよく、5~200μmであってよい。なお、導電粒子4の一部が第1の接着剤層2の表面から露出(例えば、第2の接着剤層3側に突出)している場合、第2の接着剤層3における第1の接着剤層2側とは反対側の面3aから、隣り合う導電粒子4,4の離間部分に位置する第1の接着剤層2と第2の接着剤層3との境界Sまでの距離(図1においてd2で示す距離)が第2の接着剤層3の厚さである。
 第2の接着剤層3の厚さd2に対する第1の接着剤層2の厚さd1の比(第1の接着剤層2の厚さd1/第2の接着剤層3の厚さd2)は、電極間のスペースを充分に充填して電極を封止することができ、より良好な信頼性が得られる観点から、1以上であってよく、100以下であってよく、1~100であってよい。
 接着剤フィルム1の厚さ(接着剤フィルム1を構成するすべての層の厚さの合計。図1においては、第1の接着剤層2の厚さd1及び第2の接着剤層3の厚さd2の合計。)は、5μm以上であってよく、200μm以下であってよく、5~200μmであってよい。
 接着剤フィルム1では、導電粒子4が第1の接着剤層2中に分散されている。そのため、接着剤フィルム1は、異方導電性を有する異方導電性接着剤フィルムである。接着剤フィルム1は、第1の電極を有する第1の回路部材と、第2の電極を有する第2の回路部材との間に介在させ、第1の回路部材及び第2の回路部材を熱圧着して、第1の電極及び第2の電極を互いに電気的に接続するために用いられる。
 接着剤フィルム1によれば、回路接続構造体の製造時に発生する導電粒子の流動を抑制できる。接着剤フィルム1によれば、転写性の不足による回路部材と接着剤フィルム1との界面における剥離を抑制することもできる。接着剤フィルム1によれば、回路接続構造体を高温高湿環境下で使用した際に発生する、回路部材と回路接続部材との界面における剥離を抑制することもできる傾向がある。
 以上、本実施形態の回路接続用接着剤フィルムについて説明したが、本発明は上記実施形態に限定されない。
 例えば、回路接続用接着剤フィルムは、第1の接着剤層及び第2の接着剤層の二層から構成されるものであってよく、第1の接着剤層及び第2の接着剤層以外の層(例えば第3の接着剤層)を備える、三層以上の層から構成されるものであってもよい。第3の接着剤層は、第1の接着剤層又は第2の接着剤層について上述した組成と同じ組成を有する層であってよく、第1の接着剤層又は第2の接着剤層について上述した厚さと同じ厚さを有する層であってよい。
 上記実施形態の回路接続用接着剤フィルムは、異方導電性を有する異方導電性接着剤フィルムであるが、回路接続用接着剤フィルムは、異方導電性を有していない導電性接着剤フィルムであってもよい。
<回路接続用接着剤フィルムの製造方法>
 本実施形態の回路接続用接着剤フィルム1の製造方法は、例えば、上述した第1の接着剤層2を用意する用意工程(第1の用意工程)と、第1の接着剤層2上に上述した第2の接着剤層3を積層する積層工程と、を備える。回路接続用接着剤フィルム1の製造方法は、第2の接着剤層3を用意する用意工程(第2の用意工程)を更に備えていてもよい。なお、第1の用意工程及び第2の用意工程を行う順番は限定されず、第1の用意工程を先に行ってもよく、第2の用意工程を先に行ってもよい。
 第1の用意工程では、例えば、基材上に第1の接着剤層2を形成して第1の接着剤フィルムを得ることにより、第1の接着剤層2を用意する。具体的には、まず、(A)成分、(B)成分、(C)成分、及び(D)成分、並びに必要に応じて添加される他の成分を、溶剤(有機溶媒)中に加え、攪拌混合、混練等により、溶解又は分散させて、ワニス組成物(ワニス状の光及び熱硬化性組成物)を調製する。その後、離型処理を施した基材上に、ワニス組成物をナイフコーター、ロールコーター、アプリケーター、コンマコーター、ダイコーター等を用いて塗布した後、加熱により溶剤を揮発させて、基材上に光及び熱硬化性組成物を含む層を形成する。続いて、光及び熱硬化性組成物を含む層に対して光を照射することにより、光及び熱硬化性組成物を硬化(光硬化)させ、基材上に第1の接着剤層2を形成する(硬化工程)。これにより、第1の接着剤フィルムが得られる。
 ワニス組成物の調製に用いる溶剤としては、各成分を均一に溶解又は分散し得る特性を有する溶剤を用いてよい。このような溶剤としては、例えば、トルエン、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル等が挙げられる。これらの溶剤は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用することができる。ワニス組成物の調製の際の攪拌混合及び混練は、例えば、攪拌機、らいかい機、3本ロール、ボールミル、ビーズミル又はホモディスパーを用いて行うことができる。
 基材としては、溶剤を揮発させる際の加熱条件に耐え得る耐熱性を有するものであれば特に制限はなく、例えば、延伸ポリプロピレン(OPP)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート、ポリエチレンイソフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリオレフィン、ポリアセテート、ポリカーボネート、ポリフェニレンサルファイド、ポリアミド、ポリイミド、セルロース、エチレン・酢酸ビニル共重合体、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、合成ゴム系、液晶ポリマー等からなる基材(例えばフィルム)を用いることができる。
 基材へ塗布したワニス組成物から溶剤を揮発させる際の加熱条件は、溶剤が充分に揮発する条件としてよい。加熱条件は、40℃以上120℃以下で0.1分間以上10分間以下であってよい。
 光及び熱硬化性組成物を含む層には、溶剤の一部が除去されずに残っていてもよい。光及び熱硬化性組成物を含む層における溶剤の含有量は、光及び熱硬化性組成物を含む層の全質量を基準として、10質量%以下であってよい。
 硬化工程における光の照射には、波長150~750nmの範囲内の照射光(例えば紫外光)を用いてよい。光の照射は、例えば、低圧水銀灯、中圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、キセノンランプ、メタルハライドランプ、LED光源等を使用して行うことができる。光の照射量は、特に限定されず、波長365nmの光の積算光量で、100mJ/cm以上であってよく、200mJ/cm以上であってよく、300mJ/cm以上であってよい。光の照射量は、波長365nmの光の積算光量で、10000mJ/cm以下であってよく、5000mJ/cm以下であってよく、3000mJ/cm以下であってよい。
 第2の用意工程では、(a)成分及び(b)成分、並びに必要に応じて添加される他の成分を用いること及び光照射を行わないこと以外は、第1の用意工程と同様に、基材上に第2の接着剤層3を形成して第2の接着剤フィルムを得ることにより、第2の接着剤層3を用意する。
 第2の接着剤層3には、溶剤の一部が除去されずに残っていてもよい。第2の接着剤層3における溶剤の含有量は、第2の接着剤層3の全質量を基準として、10質量%以下であってよい。
 積層工程では、第1の接着剤フィルムと第2の接着剤フィルムとを貼り合わせることにより、第1の接着剤層2上に第2の接着剤層3を積層してよく、第1の接着剤層2上に、(a)成分及び(b)成分、並びに必要に応じて添加される他の成分を用いて得られるワニス組成物を塗布し、溶剤を揮発させることにより、第1の接着剤層2上に第2の接着剤層3を積層してもよい。
 第1の接着剤フィルムと第2の接着剤フィルムとを貼り合わせる方法としては、例えば、加熱プレス、ロールラミネート、真空ラミネート等の方法が挙げられる。ラミネートは、0~80℃の温度条件下で行ってよい。
<回路接続構造体及びその製造方法>
 以下、回路接続材料として上述した回路接続用接着剤フィルム1を用いた回路接続構造体及びその製造方法について説明する。
 図2は、一実施形態の回路接続構造体を示す模式断面図である。図2に示すように、回路接続構造体10は、第1の回路基板11及び第1の回路基板11の主面11a上に形成された第1の電極12を有する第1の回路部材13と、第2の回路基板14及び第2の回路基板14の主面14a上に形成された第2の電極15を有する第2の回路部材16と、第1の回路部材13及び第2の回路部材16の間に配置され、第1の電極12及び第2の電極15を互いに電気的に接続する回路接続部17と、を備えている。
 第1の回路部材13及び第2の回路部材16は、互いに同じであっても異なっていてもよい。第1の回路部材13及び第2の回路部材16は、電極が形成されているガラス基板又はプラスチック基板、プリント配線板、セラミック配線板、フレキシブル配線板、半導体シリコンICチップ等であってよい。第1の回路基板11及び第2の回路基板14は、半導体、ガラス、セラミック等の無機物、ポリイミド、ポリカーボネート等の有機物、ガラス/エポキシ等の複合物などで形成されていてよい。第1の電極12及び第2の電極15は、金、銀、錫、ルテニウム、ロジウム、パラジウム、オスミウム、イリジウム、白金、銅、アルミ、モリブデン、チタン、インジウム錫酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、インジウムガリウム亜鉛酸化物(IGZO)等で形成されていてよい。第1の電極12及び第2の電極15は回路電極であってよく、バンプ電極であってもよい。第1の電極12及び第2の電極15の少なくとも一方は、バンプ電極であってよい。図2では、第2の電極15がバンプ電極である。
 回路接続部17は、上述した接着剤フィルム1の硬化物を含む。回路接続部17は、例えば、第1の回路部材13と第2の回路部材16とが互いに対向する方向(以下「対向方向」)における第1の回路部材13側に位置し、上述の光及び熱硬化性組成物の導電粒子4以外の成分の硬化物からなる第1の領域18と、対向方向における第2の回路部材16側に位置し、上述の熱硬化性組成物の硬化物からなる第2の領域19と、少なくとも第1の電極12及び第2の電極15の間に介在して第1の電極12及び第2の電極15を互いに電気的に接続する導電粒子4と、を有する。回路接続部は、第1の領域18及び第2の領域19のように2つの領域を有していなくてもよい。回路接続部は、上述の光及び熱硬化性組成物の導電粒子4以外の成分の硬化物と上述の熱硬化性組成物の硬化物とが混在した領域を含んでいてもよい。
 以上説明した回路接続構造体10の製造方法は、例えば、第1の電極12を有する第1の回路部材13と、第2の電極15を有する第2の回路部材16と、基材上に接着剤フィルム(回路接続用接着剤フィルム)1を備える基材付き接着剤フィルム(基材付き回路接続用接着剤フィルム)と、を用意する工程と、接着剤フィルム1を基材から第1の回路部材13の第1の電極12が形成されている面上に転写(ラミネート)する工程と、第1の電極12と第2の電極15とが互いに対向するように、第1の回路部材13と接着剤フィルム1と第2の回路部材16とをこの順で配置した後、第1の回路部材13及び第2の回路部材16を熱圧着して、第1の電極12及び第2の電極15を互いに電気的に接続する工程と、を備える。
 具体的には、まず、第1の回路基板11及び第1の回路基板11の主面11a上に形成された第1の電極12を有する第1の回路部材13と、第2の回路基板14及び第2の回路基板14の主面14a上に形成された第2の電極15を有する第2の回路部材16と、基材上に接着剤フィルム1を備える基材付き接着剤フィルムを用意する。基材付き接着剤フィルムが備える基材は、上述した接着剤フィルムの製造に用いられる基材であってよい。
 次に、接着剤フィルム1を基材から第1の回路部材13の第1の電極12が形成されている面上に転写(ラミネート)する。具体的には、例えば、第1の接着剤層2側が第1の回路部材13の主面(実装面)11aと対向するようにして接着剤フィルム1を第1の回路部材13上にラミネートする。
 ラミネート方法は特に制限はないが、ロールラミネータ、ダイヤフラム式ラミネータ、真空ロールラミネータ、真空ダイヤフラム式ラミネータを採用することができる。仮ラミネート後、熱圧着装置を用いて圧着してもよい。
 ラミネート条件は、使用するラミネータ、基材、第1の回路部材13、第2の回路部材16等の種類などに応じて適宜設定してよい。ラミネート時の温度(圧着温度)は、50~90℃であってよい。ラミネート時の圧力(圧着圧力)は、0.5~1.5MPaであってよい。ラミネート時間(圧着時間)は、0.5~1.5秒であってよい。
 次に、図3(a)に示すように、第1の電極12と第2の電極15とが互いに対向するように、接着剤フィルム1がラミネートされた第1の回路部材13上に第2の回路部材16を配置する。
 そして、図3(b)に示すように、第1の回路部材13、接着剤フィルム1及び第2の回路部材16を加熱しながら、第1の回路部材13と第2の回路部材16とを厚み方向に加圧することで、第1の回路部材13と第2の回路部材16とを互いに熱圧着する。この際、図3(b)において矢印で示すように、第2の接着剤層3は、流動可能な未硬化の熱硬化性組成物を含むため、第2の電極15,15間の空隙を埋めるように流動するとともに、上記加熱によって硬化する。これにより、第1の電極12及び第2の電極15が導電粒子4を介して互いに電気的に接続され、第1の回路部材13及び第2の回路部材16が互いに接着されて、図2に示す回路接続構造体10が得られる。本実施形態の回路接続構造体10の製造方法では、第1の接着剤層2が予め硬化された層であるため、導電粒子4が上記熱圧着時にほとんど流動せず、導電粒子が効率的に対向する電極間で捕捉されるため、対向する電極間(第1の電極12と第2の電極15との間)の接続抵抗が低減される。そのため、接続信頼性に優れる回路接続構造体が得られる。
 熱圧着時の温度及び時間は、接着剤フィルム1を充分に硬化させ、第1の回路部材13と第2の回路部材16とを接着できる温度であればよい。熱圧着温度は、150~200℃であってよい。熱圧着時間は、4~7秒であってよい。
 以下、実施例により本発明をより具体的に説明するが、本発明は実施例に限定されるものではない。
<ポリウレタンアクリレート(UA1)の合成>
 攪拌機、温度計、塩化カルシウム乾燥管を有する還流冷却管、及び、窒素ガス導入管を備えた反応容器に、ポリ(1,6-ヘキサンジオールカーボネート)(商品名:デュラノール T5652、旭化成ケミカルズ株式会社製、数平均分子量1000)2500質量部(2.50mol)と、イソホロンジイソシアネート(シグマアルドリッチ社製)666質量部(3.00mol)と、を3時間かけて均一に滴下した。次いで、反応容器に充分に窒素ガスを導入した後、反応容器内を70~75℃に加熱して反応させた。次に、反応容器に、ハイドロキノンモノメチルエーテル(シグマアルドリッチ社製)0.53質量部(4.3mmol)と、ジブチル錫ジラウレート(シグマアルドリッチ社製)5.53質量部(8.8mmol)と、を添加した後、2-ヒドロキシエチルアクリレート(シグマアルドリッチ社製)238質量部(2.05mol)を加え、空気雰囲気下70℃で6時間反応させた。これにより、ポリウレタンアクリレート(UA1)を得た。ポリウレタンアクリレート(UA1)の重量平均分子量は15000であった。なお、重量平均分子量は、下記の条件に従って、ゲル浸透クロマトグラフ(GPC)より標準ポリスチレンによる検量線を用いて測定した。
(測定条件)
 装置:東ソー株式会社製 GPC-8020
 検出器:東ソー株式会社製 RI-8020
 カラム:日立化成株式会社製 Gelpack GLA160S+GLA150S
 試料濃度:120mg/3mL
 溶媒:テトラヒドロフラン
 注入量:60μL
 圧力:2.94×10Pa(30kgf/cm
 流量:1.00mL/min
<導電粒子の作製>
 ポリスチレン粒子の表面上に、層の厚さが0.2μmとなるようにニッケルからなる層を形成した。このようにして、平均粒径4μm、最大粒径4.5μm、比重2.5の導電粒子を得た。
<ポリエステルウレタン樹脂の調製方法>
 攪拌機、温度計、コンデンサー、真空発生装置及び窒素ガス導入管が備え付けられたヒーター付きステンレス製オートクレーブに、イソフタル酸48質量部及びネオペンチルグリコール37質量部を投入し、更に、触媒としてのテトラブトキシチタネート0.02質量部を投入した。次いで、窒素気流下220℃まで昇温し、そのまま8時間攪拌した。その後、大気圧(760mmHg)まで減圧し、室温まで冷却した。これにより、白色の沈殿物を析出させた。次いで、白色の沈殿物を取り出し、水洗した後、真空乾燥することでポリエステルポリオールを得た。得られたポリエステルポリオールを充分に乾燥した後、MEK(メチルエチルケトン)に溶解し、攪拌機、滴下漏斗、還流冷却機及び窒素ガス導入管を取り付けた四つ口フラスコに投入した。触媒としてジブチル錫ジラウレートをポリエステルポリオール100質量部に対して0.05質量部となる量投入し、ポリエステルポリオール100質量部に対して50質量部となる量の4,4’-ジフェニルメタンジイソシアネートをMEKに溶解して滴下漏斗で投入し、80℃で4時間攪拌することで、目的とするポリエステルウレタン樹脂を得た。
<第1のワニス組成物(ワニス状の光及び熱硬化性組成物)の調製>
 以下に示す成分を表1に示す配合量(質量部)で混合し、第1のワニス組成物1~9を調製した。なお、表1中に示す「チオール化合物の含有量」は、ワニス組成物中の導電粒子及び溶剤以外の成分の合計量を基準とする含有量である。
[重合性化合物]
 A1:トリシクロデカン骨格を有するジアクリレート(商品名:DCP-A、共栄社化学株式会社製)
 A2:上述のとおり合成したポリウレタンアクリレート(UA1)
 A3:2-メタクリロイルオキシエチルアシッドフォスフェート(商品名:ライトエステルP-2M、共栄社化学株式会社製)
[光重合開始剤]
 B1:1,2-オクタンジオン,1-[4-(フェニルチオ)フェニル-,2-(O-ベンゾイルオキシム)](商品名:Irgacure(登録商標)OXE01、BASF社製)
[熱重合開始剤]
 C1:ベンゾイルパーオキサイド(商品名:ナイパーBMT-K40、日油株式会社製)
[導電粒子]
 D1:上述のとおり作製した導電粒子
[チオール化合物]
 E1:ペンタエリスリトールテトラキス(3-メルカプトブチレート)(商品名:カレンズMTPE1(「カレンズMT」は登録商標。以下同じ。)、昭和電工株式会社製)
 E2:1,4-ビス(3-メルカプトブチリルオキシ)ブタン(商品名:カレンズMTBD1、昭和電工株式会社製)
[熱可塑性樹脂]
 F1:フェノキシ樹脂(商品名:PKHC、ユニオンカーバイド社製)
[カップリング剤)
 G1:3-メタクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(商品名:KBM503、信越化学工業株式会社製)
[充填材]
 H1:シリカ微粒子(商品名:R104、日本アエロジル株式会社製、平均粒径(一次粒径):12nm)
[溶剤]
 I1:メチルエチルケトン
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000007
<第2のワニス組成物(ワニス状の熱硬化性組成物)の調製>
 重合性化合物a1~a3、熱重合開始剤b1、カップリング剤d1、充填材e1及び溶剤f1として、光及び熱硬化性組成物における重合性化合物A1~A3、熱重合開始剤C1、カップリング剤G1、充填材H1及び溶剤I1と同じものを用い、熱可塑性樹脂c1は以下に示す成分を用い、これらの成分を表2に示す配合量(質量部)で混合し、第2のワニス組成物を調製した。
(熱可塑性樹脂)
 c1:上述のとおり合成したポリエステルウレタン樹脂
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000008
<実施例1>
[第1の接着剤フィルムの作製]
 第1のワニス組成物1を、厚さ50μmのPETフィルム上に塗工装置を用いて塗布した。次いで、70℃、3分間の熱風乾燥を行い、PETフィルム上に厚さ(乾燥後の厚さ)が4μmの光及び熱硬化性組成物からなる層を形成した。ここでの厚さは接触式厚み計を用いて測定した。次に、光及び熱硬化性組成物からなる層に対し、メタルハライドランプを用いて積算光量が1500mJ/cmとなるように光照射を行い、重合性化合物を重合させた。これにより、光及び熱硬化性組成物を硬化させ、第1の接着剤層を形成した。以上の操作により、PETフィルム上に第1の接着剤層(導電粒子が存在する領域の厚さ:4μm)を備える第1の接着剤フィルムを得た。このときの導電粒子密度は約7000pcs/mmであった。なお、第1の接着剤層の厚さが、導電粒子の厚さ(直径)より小さい場合、接触式厚み計を用いて層の厚さを測定すると、導電粒子の厚さが反映され、導電粒子が存在する領域の厚さが測定される。そのため、第1の接着剤層と第2の接着剤層とが積層された二層構成の回路接続用接着剤フィルムを作製した後に、後述の方法により、隣り合う導電粒子の離間部分に位置する第1の接着剤層の厚さを測定した。
[第2の接着剤フィルムの作製]
 第2のワニス組成物1を、厚さ50μmのPETフィルム上に塗工装置を用いて塗布した。次いで、70℃、3分間の熱風乾燥を行い、PETフィルム上に厚さが8μmの第2の接着剤層(熱硬化性組成物からなる層)を形成した。以上の操作により、PETフィルム上に第2の接着剤層を備える第2の接着剤フィルムを得た。
[回路接続用接着剤フィルムの作製]
 第1の接着剤フィルムと第2の接着剤フィルムとを、それぞれの接着剤層が対向するように配置し、基材であるPETフィルムとともに40℃で加熱しながら、ロールラミネータでラミネートした。これにより、第1の接着剤層と第2の接着剤層とが積層された二層構成の回路接続用接着剤フィルムを備える、PETフィルム付き回路接続用接着剤フィルムを作製した。
 作製した回路接続用接着剤フィルムの第1の接着剤層の厚さを以下の方法で測定した。まず、回路接続用接着剤フィルムを2枚のガラス(厚み:1mm程度)で挟み込み、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(商品名:JER811、三菱ケミカル株式会社製)100gと、硬化剤(商品名:エポマウント硬化剤、リファインテック株式会社製)10gとからなる樹脂組成物で注型した。その後、研磨機を用いて断面研磨を行い、走査型電子顕微鏡(SEM、商品名:SE-8020、株式会社日立ハイテクサイエンス製)を用いて、隣り合う導電粒子の離間部分に位置する第1の接着剤層の厚さを測定した。第1の接着剤層の厚さは2μmであった。
[転写性の評価]
 ガラス基板上に非結晶酸化インジウム錫(ITO)からなる薄膜電極(高さ:1200Å)を備える、薄膜電極付きガラス基板(ジオマテック社製)を用意した。次いで、上記で得られたPETフィルム付き回路接続用接着剤フィルムの第1の接着剤層側のPETフィルムを剥がしながら、回路接続用接着剤フィルムを薄膜電極付きガラス基板上に転写した。具体的には、熱圧着装置(加熱方式:コンスタントヒート型、株式会社太陽機械製作所製)を用いて、80℃、1MPaで1秒間の条件で加熱加圧を行うことで、回路接続用接着剤フィルムの第1の接着剤層側の面を、薄膜電極付きガラス基板の薄膜電極側の面に幅1mmにわたり接着させた。次いで、第2の接着剤層側のPETフィルムを剥がし、ガラス基板側から、ガラス基板と回路接続用接着剤フィルムとの界面を顕微鏡にて観察することにより、ガラス基板への回路接続用接着剤フィルムの転写状態を3段階で評価した。回路接続用接着剤フィルム全体の面積のうち、ガラス基板から剥離している割合を求め、剥離がほとんど生じていない(剥離部分の割合が全体の5%未満である)ものをA、剥離が少量生じている(剥離部分の割合が全体の5%以上20%未満である)ものをB、剥離が生じている(剥離部分の割合が全体の20%以上である)ものをCとした。結果は表3に示す。
[回路接続構造体の作製]
 作製した回路接続用接着剤フィルムを介して、ピッチ25μmのCOF(FLEXSEED社製)と、ガラス基板上に非結晶酸化インジウム錫(ITO)からなる薄膜電極(高さ:1200Å)を備える薄膜電極付きガラス基板(ジオマテック社製)と、を、熱圧着装置(加熱方式:コンスタントヒート型、株式会社太陽機械製作所製)を用いて、170℃、6MPaで4秒間の条件で加熱加圧を行って幅1mmにわたり接続し、回路接続構造体(接続構造体)を作製した。なお、接続の際には、回路接続用接着剤フィルムにおける第1の接着剤層側の面がガラス基板と対向するように、回路接続用接着剤フィルムをガラス基板上にラミネートした。ラミネートは、熱圧着装置(加熱方式:コンスタントヒート型、株式会社太陽機械製作所製)を用いて、80℃、1MPaで1秒間の条件で行った。
[粒子流動性評価]
 得られた回路接続構造体について、回路接続用接着剤フィルムの樹脂染み出し部分の粒子流動状態を顕微鏡(商品名:ECLIPSE L200、株式会社ニコン製)を用いて評価した。具体的には、作製した回路接続構造体をガラス基板側から、顕微鏡にて観察し、回路接続用接着剤フィルムの幅よりも外側に染み出した部分の粒子状態を3段階で評価した。粒子がほとんど動かず、染み出し部分に粒子がない状態を1、多少粒子が動いているが、粒子同士の連結がみられない状態を2、粒子が流動し、粒子同士の連結が見られる状態を3とした。結果は表3に示す。
[剥離評価]
 高温高湿試験後の回路接続構造体の回路接続部における剥離の有無を顕微鏡(商品名:ECLIPSE L200、株式会社ニコン製)を用いて評価した。具体的には、まず、上述のとおり作製した回路接続構造体を85℃、85%RHの恒温恒湿槽に200h放置することで高温高湿試験を行った。次いで、高温高湿試験後の回路接続構造体の回路接続部を、ガラス基板側から、顕微鏡にて観察し、ガラス基板と回路接続用接着剤フィルムとの界面における剥離状態を3段階で評価した。回路接続用接着剤フィルム全体の面積のうち、ガラス基板から剥離している割合を求め、剥離がほとんど生じていない(剥離部分の割合が全体の5%未満である)ものをA、剥離が少量生じている(剥離部分の割合が全体の5%以上20%未満である)ものをB、剥離が生じている(剥離部分の割合が全体の20%以上である)ものをCとした。結果は表3に示す。
(実施例2~7及び比較例1~2)
 第1のワニス組成物1に代えて第1のワニス組成物2~9をそれぞれ用いたこと以外は、実施例1と同様にして、回路接続用接着剤フィルム及び回路接続構造体の作製、並びに、転写性評価、粒子流動性評価及び剥離評価を行った。結果は表3に示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000009
 1…回路接続用接着剤フィルム、2…第1の接着剤層、3…第2の接着剤層、4…導電粒子、10…回路接続構造体、12…回路電極(第1の電極)、13…第1の回路部材、15…バンプ電極(第2の電極)、16…第2の回路部材。

Claims (8)

  1.  第1の接着剤層と、
     前記第1の接着剤層上に積層された第2の接着剤層と、を備え、
     前記第1の接着剤層は、光及び熱硬化性組成物の硬化物を含み、
     前記第2の接着剤層は、熱硬化性組成物を含み、
     前記光及び熱硬化性組成物は、重合性化合物と、光重合開始剤と、熱重合開始剤と、導電粒子と、チオール化合物と、を含有する、回路接続用接着剤フィルム。
  2.  前記重合性化合物は、ラジカル重合性化合物を含む、請求項1に記載の回路接続用接着剤フィルム。
  3.  前記ラジカル重合性化合物は、(メタ)アクリレート化合物を含む、請求項2に記載の回路接続用接着剤フィルム。
  4.  前記チオール化合物の含有量は、光及び熱硬化性組成物中の導電粒子以外の成分の合計量を基準として、0.05~5.0質量%である、請求項1~3のいずれか一項に記載の回路接続用接着剤フィルム。
  5.  前記熱硬化性組成物は、ラジカル重合性化合物を含む、請求項1~4のいずれか一項に記載の回路接続用接着剤フィルム。
  6.  前記第1の接着剤層の厚さは、前記導電粒子の平均粒径の0.1~0.8倍である、請求項1~5のいずれか一項に記載の回路接続用接着剤フィルム。
  7.  請求項1~6のいずれか一項に記載の回路接続用接着剤フィルムの製造方法であって、
     前記光及び熱硬化性組成物を含む層に対して光を照射することにより、前記光及び熱硬化性組成物を硬化させ、前記第1の接着剤層を形成する工程を備える、回路接続用接着剤フィルムの製造方法。
  8.  第1の電極を有する第1の回路部材と、第2の電極を有する第2の回路部材と、基材上に請求項1~6のいずれか一項に記載の回路接続用接着剤フィルムを備える基材付き回路接続用接着剤フィルムと、を用意する工程と、
     前記回路接続用接着剤フィルムを前記基材から前記第1の回路部材の前記第1の電極が形成されている面上に転写する工程と、
     前記第1の電極と前記第2の電極とが互いに対向するように、前記第1の回路部材と前記回路接続用接着剤フィルムと前記第2の回路部材とをこの順で配置した後、前記第1の回路部材及び前記第2の回路部材を熱圧着して、前記第1の電極及び前記第2の電極を互いに電気的に接続する工程と、を備える、回路接続構造体の製造方法。
PCT/JP2021/033553 2020-09-15 2021-09-13 回路接続用接着剤フィルム及びその製造方法、並びに、回路接続構造体の製造方法 WO2022059647A1 (ja)

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