WO2021192253A1

WO2021192253A1 - 供試機器保持装置、及びｅｍｃ試験システム

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Publication number: WO2021192253A1
Application number: PCT/JP2020/014133
Authority: WO
Inventors: 遼太小林; 健二廣瀬; 喬太大塚; 佐々木　雄一
Original assignee: 三菱電機株式会社
Priority date: 2020-03-27
Filing date: 2020-03-27
Publication date: 2021-09-30
Also published as: JP7062148B2; JPWO2021192876A1; WO2021192876A1

Abstract

従来の供試機器保持装置では、供試機器の上方に揚重部が存在するため、揚重部よりも上方に供試機器を飛行動作させることができず、例えば供試機器を上下方向に移動できる範囲が電波暗室の床面から天井までの長さよりも小さくなってしまい、供試機器の移動を制約して他の機材等への衝突を防ぐように保持するとともに、供試機器が電波暗室内の空間を有効に使って飛行することができなかった。　供試機器保持装置（１００）内に、ＥＭＣ試験の対象である供試機器（１０）が飛行して移動する方向が開放された空間を囲む基台（１）と、基台（１）に設けられた複数の固定端部（６）に接続される固定側接続部（７）および供試機器（１０）に接続される機器接続部（８）を有し、供試機器（１０）を保持する保持体（４）とを設ける。

Description

供試機器保持装置、及びＥＭＣ試験システム

　本開示は、供試機器のＥＭＣ（Ｅｌｃｔｒｏ－Ｍａｇｎｅｔｉｃ　Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ）試験を行う際に、供試機器を保持する供試機器保持装置、及びＥＭＣ試験システムに関するものである。

　ドローン等の無人航空機を含む航空機、携帯端末、家電等の電気機器、電子機器は、動作時に電磁波を発生し、発生した電磁波が他の電気機器、電子機器の動作に影響を及ぼしてしまうことがある。一方、電気機器、電子機器は外部からの電磁波に影響を受けて性能が低下したり、誤作動してしまうことがあるため、外部の電磁波環境に対し、適切な動作が維持できる程度の耐性が求められる。

　したがって、電気機器、電子機器を使用するにあたり、その電気機器、電子機器が発生する電磁波が他の機器に影響を与える程度、あるいは他の電気機器、電子機器が発生する電磁波を含む外部の電磁波環境にどの程度耐性があるかを調べておく必要があり、これらを調べる試験をＥＭＣ試験という。

　ＥＭＣ試験のうち、電気機器、電子機器である供試機器によって発生する電磁波による他の機器への影響を調べる試験は、供試機器から多方向に放射される電磁波の強さ等を測定することで行われ、この測定に際し、供試機器を保持する装置が、特許文献１に開示されている。

　特許文献１に開示された供試機器保持装置は、電波暗室の天井面から供試機器を吊り下げて保持するものであり、天井面に設置されたレールに懸垂され、回転可能な揚重部と、この揚重部から異なる３方向に延びる３本の腕部と、これら腕部の先端の滑車にそれぞれ掛けられたワイヤー状の吊材を巻き取る巻き取り装置とを備えている。
　この供試機器保持装置は、それぞれの吊材の一端に供試機器の表面を接続して他端を巻き取り装置で巻き取ることで揚重部から供試機器を吊り下げており、揚重部を回転して供試機器を異なる方向に向けることで、供試機器から多方面に放射される電磁波を一つのアンテナで効率的に測定できるようにしている。

特開２０１８－２０３４０９号公報

　ＥＭＣ試験においては、供試機器に飛行動作をさせながら、放射する電磁波の測定あるいは外部の電磁波環境への耐性を調べる場合があり、この場合、供試機器の移動をある程度制約して他の機材あるいは床への衝突を防ぐように保持する必要がある。一方、供試機器は、有限の大きさを持つ電波暗室内の空間を飛行する際の移動範囲の制約が少ないほうが、様々な試験条件を試すことができる。しかしながら、特許文献１に開示された供試機器保持装置では、供試機器の上方に揚重部が存在するため、揚重部よりも上方に供試機器を飛行動作させることができず、例えば供試機器を上下方向に移動できる範囲が電波暗室の床面から天井までの長さよりも小さくなってしまい、電波暗室内の空間を有効に使うことができなかった。

　本開示は、上記のような問題を解決するためになされたものであって、供試機器の移動を制約して他の機材等への衝突を防ぐように保持するとともに、供試機器が電波暗室内の空間を有効に使って飛行することができる供試機器保持装置、及びＥＭＣ試験システムを提供することを目的とする。

　本開示に係る供試機器保持装置は、ＥＭＣ試験の対象である供試機器が飛行して移動する方向が開放された空間を囲む基台と、基台に設けられた複数の固定端部に接続される固定側接続部及び供試機器に接続される機器接続部を有し、供試機器を保持する保持体と
を備えるものである。

　本開示によれば、供試機器保持装置の基台で囲まれ、供試機器が飛行して移動する方向が開放された空間の中に、保持体を介して固定端部に供試機器を保持することができるので、基台内で供試機器が移動する範囲を複数の固定端部との距離が制約された範囲にすることで、供試機器が他の機材に衝突しないように供試機器を保持できるとともに、基台で囲まれた空間において開放している方向へ供試機器が移動する場合に、電波暗室内の空間を有効に使ってＥＭＣ試験を行うことができる。

実施の形態１に係るＥＭＣ試験システムの斜視図である。実施の形態１に係る供試機器保持装置の上面図である。実施の形態２に係る供試機器保持装置の上面図である。実施の形態３に係る供試機器保持装置の上面図である。実施の形態４に係る供試機器保持装置の上面図である。実施の形態５に係る供試機器保持装置の上面図である。実施の形態６に係るＥＭＣ試験システムの斜視図である。実施の形態７に係るＥＭＣ試験システムの斜視図である。実施の形態８に係る基台の斜視図である。実施の形態８に係る供試機器保持装置の上面図である。実施の形態９に係る基台の側面図である。

実施の形態１．
　実施の形態１の供試機器保持装置は、ＥＭＣ試験の対象である供試機器に飛行動作をさせながら、放射する電磁波の測定あるいは外部の電磁波環境への耐性を調べる場合に供試機器を保持するものであり、以下、供試機器に飛行動作をさせながら、供試機器が放射する電磁波を測定する場合について説明する。

　図１は、実施の形態１に係るＥＭＣ試験システム１０００の斜視図である。ＥＭＣ試験システム１０００は、床面に設けられたターンテーブル２０と、このターンテーブル２０の上に設置され、供試機器１０を保持する供試機器保持装置１００と、この供試機器保持装置１００に保持された供試機器１０から放射される電磁波の測定、または供試機器１０に電磁波の放射を行うアンテナ装置５とを備えている。アンテナ装置５は、アンテナマスト２５と、アンテナマスト２５に支えられたアンテナ１５と、アンテナ１５で受けた電磁波を測定する測定回路（図示せず）、あるいはアンテナ１５に放射電力を供給する供給回路（図示せず）とを備える。なお、図１では供試機器１０の一例として４つのプロペラを備えるドローンを示している。

　図２は、実施の形態１に係る供試機器保持装置１００の上面図である。供試機器保持装置１００は、供試機器１０が飛行して移動する空間を囲む３個の基台１と、基台１に設けられた固定端部６に接続される固定側接続部７及び供試機器１０に接続される機器接続部８を有し、３個の基台１で囲まれた空間に供試機器１０を保持する３つの保持体４とを備えている。３個の基台１で囲まれた空間は、供試機器１０が飛行する空間であり、供試機器１０が主に移動する上下方向が開放されている。

　基台１は、直方体形状の木材で構成され、図示しない木ネジでターンテーブル２０の上に固定されている。それぞれの保持体４は、基台１それぞれの間を接続する第一の吊り体２と、第一の吊り体２の中ごろと供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備えている。第一の吊り体２は弾性体であるゴムで構成され、第二の吊り体３は第一の吊り体２を構成するゴムより硬度が高い綿のロープで構成されている。

　第一の吊り体２は、両端に、基台１に設けられた固定端部６と接続される固定側接続部７を有しており、両端の固定側接続部７がそれぞれ異なる基台１の固定端部６に接続され、張力を生じる状態で張られている。この実施の形態では、第一の吊り体２の固定側接続部７と基台１の固定端部６との接続は、図示しないネジ等の締結具で締め付け固定されている。

　第二の吊り体３は、一方の端部が第一の吊り体２の中ごろと接続されており、他方の端部には供試機器１０と接続される機器接続部８を備えている。機器接続部８は、供試機器１０の一部、すなわちプロペラが設けられている腕部の先端部、及び供試機器１０の本体の側面部に接続されている。

　次に、この実施の形態のＥＭＣ試験システム１０００を用いてＥＭＣ試験の対象である供試機器１０に飛行動作をさせながら、供試機器１０が放射する電磁波を測定する動作について説明する。

　まず、動作していない供試機器１０を供試機器保持装置１００に保持させる。そして、供試機器１０を動作させ、空中で同じ位置に静止するホバリングの状態、あるいは供試機器１０を移動させる制御を行う。この状態で、供試機器１０から発生する電磁波をアンテナ装置５で測定する。これにより、供試機器１０が飛行動作している状態において放射する電磁波を測定することができる。

　このように、供試機器１０を動作させた状態で電磁波を測定する際、供試機器１０に、ある程度の範囲で、前後、左右、上下に移動させる動作、向きを変える動作、あるいは移動してから位置を静止させる動作等をさせながら、電磁波を測定する場合があるため、供試機器１０が移動できる範囲はより制約がないほうが望ましい。

　この実施の形態において３個の基台１で囲まれた空間は、供試機器１０が飛行する空間であり、供試機器１０が移動する上下方向が開放されている。このため、供試機器１０が移動する空間の上及び下を供試機器保持装置１００の機材が占有することがないので、電波暗室の高さを有効に使って電磁波測定を行うことができる。

　供試機器１０は、ホバリングする制御をしても、いずかの方向に揺らいでしまうことがあり、また、上記のように、供試機器１０に前後、左右、上下に移動させながら電磁波測定する場合もある。このような供試機器１０の移動が、操作者の意図と異なってしまう場合、例えば、供試機器１０の制御の仕方、供試機器１０の異常動作、外的要因等で姿勢が崩れて飛行動作不安定になる等の場合、供試機器１０が他の機材あるいは床へ衝突する可能性があるが、供試機器１０は供試機器保持装置１００に保持され、移動できる範囲が制約されているので、他の機材等への衝突を防ぐことができる。

　そして、供試機器１０が移動できる範囲は、それぞれの基台１の間隔、保持体４を構成する第一の吊り体２及び第二の吊り体３の長さ、第一の吊り体２の弾性の強さを選択することによって、調整することができる。

　例えば、図１、２に示すように、ゴムで構成される第一の吊り体２を緩みなく基台１間で張るとともに、第二の吊り体３の長さを、第二の吊り体３が供試機器１０を引っ張る程度に保持するような長さとしておけば、供試機器１０が何らかの影響で激しく飛行したとしても、第一の吊り体２の弾性力を利用して、同じ位置にホバリングする状態に緩やかに移行させることができる。例えば、激しい飛行動作で自機の位置センサが検知する位置情報が乱れたとしても、供試機器１０を保持体４で、ある程度の範囲、姿勢を保って保持しておくことで、位置センサが適正な位置を検知してホバリングする正常な動作を取り戻すことができ、あるいは異常な飛行動作で基台１やその他の機器に供試機器１０が衝突することを防ぐことができる。さらに、このように張力を保って供試機器１０を保持することで、供試機器１０が横方向へずれることを抑えることができ、供試機器１０の位置の再現性を高めた電磁波測定を行うことができる。

　また、図１、２に示した状態よりは第一の吊り体２を緩やかに基台１間で張り、かつ供試機器１０が飛行動作を停止して保持体４に保持されている状態となったときに供試機器１０が床に届かないよう、供試機器１０の重さで伸びる分を含めた第一の吊り体２の長さと弾性の強さ、第二の吊り体３の長さを選択しておくこともできる。この場合、供試機器１０が保持体４から受ける張力が弱く自由に飛行できる範囲を設定することができ、ＥＭＣ試験の自由度が増すとともに、供試機器１０に何らかの異常が発生して動作を停止したとしても、供試機器１０が保持体４で保持されて床に墜落することを防止することができる。

　図１に示したこの実施の形態においては、保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を３個有し、供試機器１０と３か所で接続している。そして、供試機器１０と機器接続部８とが接続される３か所は、供試機器１０の重心を囲むように配置されている。供試機器１０におけるこのような３か所に保持体４の機器接続部８を接続することで、保持体４は供試機器１０が回転、あるいは反転することがないように保持することができる。供試機器１０が回転あるいは反転してしまうと、供試機器１０に搭載されているビジョンセンサ等に異常が発生することがあるが、これを防止することができる。保持体４と供試機器１０との接続点が多いほど、供試機器１０は安定して保持される。つまり、保持体４は、機器接続部を３個以上有することが望ましい。

　以上のようなＥＭＣ試験システム１０００において、供試機器保持装置１００に保持された供試機器１０から多方向に放射される電磁波を測定する方法を説明する。

　まず、図１、２を用いて説明したように、動作していない供試機器１０を供試機器保持装置１００に保持させる。そして、供試機器１０を動作させ、空中で同じ位置にホバリングさせる制御を行う。この状態で、供試機器１０から発生する電磁波をアンテナ装置５で測定する。次に、供試機器１０を回転させる飛行動作を行いながら、供試機器１０の回転と同じ方向にターンテーブル２０を回転し、アンテナ装置５に対する供試機器１０の向きを変えながら供試機器１０から発生する電磁波をアンテナ装置５で測定する。これにより、供試機器１０から多方向に放射される電磁波を効率的に測定することができる。なお、供試機器１０を回転しながら電磁波測定を行う手順は、供試機器１０とターンテーブル２０を回転させながら連続的に電磁波を測定してもよいし、供試機器１０とターンテーブル２０を回転させてから静止して電磁波測定し、また回転させて静止させてから電磁波測定を行う作業を繰り返して行ってもよい。

　以上のように、この実施の形態の供試機器保持装置１００は、基台１で囲まれ、供試機器１０が飛行して移動する方向が開放された空間の中に、保持体４を介して固定端部６に供試機器１０を保持することができるので、供試機器１０が移動できる範囲を制約することで、供試機器１０が他の機材等に衝突しないように供試機器１０を保持できるとともに、供試機器１０が移動する空間の上及び下を供試機器保持装置１００の機材が占有することがないので、電波暗室内の高さを有効に使ったＥＭＣ試験を行うことができる。

　実施の形態１においては、供試機器保持装置１００は、供試機器を起動した直後に飛行動作していない供試機器１０を保持した位置よりも下方に供試機器１０を飛行動作させることができ、供試機器を起動した直後に飛行動作していない供試機器１０を保持した位置よりも下方の飛行動作をした場合のＥＭＣ試験を行うことができる。

実施の形態２．
　実施の形態１では、供試機器保持装置１００が、３個の基台１と、３個の第一の吊り体２と、３個の第二の吊り体３とを備える説明をしたが、それぞれの数はこれに限らない。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を３個以上有し、この３個以上の機器接続部８が、供試機器１０の重心を囲むような供試機器１０における３か所以上に接続されていればよい。以下の説明において実施の形態１で説明した構成及び動作については、同一符号を付して、重複する説明を省略する。

　図３は、実施の形態２に係る供試機器保持装置２００の上面図である。供試機器保持装置２００は、４つのプロペラを備える供試機器１０が飛行して移動する空間を囲む４個の基台１と、基台１に設けられた固定端部６に接続される固定側接続部７及び供試機器１０に接続される機器接続部８を有し、４個の基台１で囲まれた空間に供試機器１０を保持する４つの保持体４とを備えている。４個の基台１で囲まれた空間は、供試機器１０が飛行する空間であり、供試機器１０が主に移動する上下方向が開放されている。それぞれの保持体４は、基台１それぞれの間を接続する第一の吊り体２と、第一の吊り体２の中ごろと供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備えている。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を４個有し、供試機器１０と４か所で接続している。そして、供試機器１０の機器接続部８が接続される４か所は、供試機器１０の重心を囲むように配置されている。

　実施の形態２に係る供試機器保持装置２００を用いて、供試機器１０に飛行動作をさせながら、供試機器１０が放射する電磁波を測定する動作は、実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様に行われ、この供試機器保持装置２００でも実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様の効果を奏する。さらに、供試機器１０と接続する機器接続部８が４個あるので、供試機器保持装置２００は、より安定して供試機器１０を保持することができる。

実施の形態３．
　図４は、実施の形態３に係る供試機器保持装置３００の上面図である。以下の説明において実施の形態１で説明した構成及び動作については、同一符号を付して、重複する説明を省略する。供試機器保持装置３００は、６つのプロペラを備える供試機器１０が飛行して移動する空間を囲む６個の基台１と、基台１に設けられた固定端部６に接続される固定側接続部７及び供試機器１０に接続される機器接続部８を有し、６個の基台１で囲まれた空間に供試機器１０を保持する６つの保持体４とを備えている。６個の基台１で囲まれた空間は、供試機器１０が飛行する空間であり、供試機器１０が主に移動する上下方向が開放されている。それぞれの保持体４は、基台１それぞれの間を接続する第一の吊り体２と、第一の吊り体２の中ごろと供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備えている。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を６個有し、供試機器１０と６か所で接続している。そして、供試機器１０の機器接続部８が接続される６か所は、供試機器１０の重心を囲むように配置されている。

　実施の形態３に係る供試機器保持装置３００を用いて、供試機器１０に飛行動作をさせながら、供試機器１０が放射する電磁波を測定する動作は、実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様に行われ、この供試機器保持装置３００でも実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様の効果を奏する。さらに、供試機器１０と接続する機器接続部８が６個あるので、供試機器保持装置３００は、より安定して供試機器１０を保持することができる。なお、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との個数は、実施の形態１～３で示した個数に限らない。

　なお、実施の形態１～３ではいずれも、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との数を同数とした構成のものを説明したが、これらの個数は同数でなくてもよい。供試機器１０を安定的に保持できるようにするには、保持体４に３個以上の機器接続部８を備えることが望ましいが、３個以上の機器接続部８を備えるように保持体４を構成できれば、第一の吊り体２、第二の吊り体３の数は機器接続部８と同数でなくてもよい。なお、機器接続部８の数が多いほど供試機器１０安定した姿勢に保持することができる。また、基台１は保持体４の固定側接続部７の数に応じた数の固定端部６を備えており、上下が開放されていれば、個数は問わないものであり、例えば一つの板状あるいは円筒状のもので構成してもよい。

実施の形態４．
　上記実施の形態１～３において、供試機器保持装置１００、２００、３００は、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との数を同数とした構成のものを説明したが、これらの個数は同数でなくてもよい。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を３個以上有し、この３個以上の機器接続部８が、供試機器１０の重心を囲むような供試機器１０における３か所以上に接続されていればよい。以下の説明において実施の形態１で説明した構成及び動作については、同一符号を付して、重複する説明を省略する。

　図５は、実施の形態４に係る供試機器保持装置４００の上面図である。供試機器保持装置４００は、６つのプロペラを備える供試機器１０が飛行して移動する空間を囲む６個の基台１と、基台１に設けられた固定端部６に接続される固定側接続部７及び供試機器１０に接続される機器接続部８を有し、６個の基台１で囲まれた空間に供試機器１０を保持する３つの保持体４とを備えている。６個の基台１で囲まれた空間は、供試機器１０が飛行する空間であり、供試機器１０が主に移動する上下方向が開放されている。それぞれの保持体４は、基台１それぞれの間を接続する第一の吊り体２と、第一の吊り体２の中ごろと供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備えている。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を３個有し、供試機器１０と３か所で接続している。そして、供試機器１０の機器接続部８が接続される３か所は、供試機器１０の重心を囲むように配置されている。

　実施の形態４に係る供試機器保持装置４００を用いて、供試機器１０に飛行動作をさせながら、供試機器１０が放射する電磁波を測定する動作は、実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様に行われ、この供試機器保持装置４００でも実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様の効果を奏する。なお、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との個数は、実施の形態４で示した個数に限らない。

実施の形態５．
　上記実施の形態１～４において、供試機器保持装置１００、２００、３００、４００のそれぞれの保持体４は、基台１の間を接続する第一の吊り体２と、第一の吊り体２の中ごろと供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備えていたが、基台１それぞれの固定端部６と固定側接続部７とを接続し、固定側接続部７とは反対側の一端を第二の吊り体３の一端と接続する第一の吊り体２と、第一の吊り体２の一端と機器接続部８とは反対側の一端を接続し、機器接続部８と供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備える保持体４等でもよい。以下の説明において実施の形態１で説明した構成及び動作については、同一符号を付して、重複する説明を省略する。

　図６は、実施の形態５に係る供試機器保持装置５００の上面図である。供試機器保持装置５００は、４つのプロペラを備える供試機器１０が飛行して移動する空間を囲む３個の基台１と、基台１に設けられた固定端部６に接続される固定側接続部７及び供試機器１０に接続される機器接続部８を有し、３個の基台１で囲まれた空間に供試機器１０を保持する３つの保持体４とを備えている。３個の基台１で囲まれた空間は、供試機器１０が飛行する空間であり、供試機器１０が主に移動する上下方向が開放されている。保持体４は、３個の基台１それぞれの固定端部６とそれぞれの固定側接続部７とを接続し、固定側接続部７とは反対側のぞれぞれの一端と第二の吊り体３のそれぞれの一端とを接続する３個の第一の吊り体２と、第一の吊り体２のそれぞれの一端と機器接続部８とは反対側のそれぞれの一端とを接続し、機器接続部８と供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備えている。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を３個有し、供試機器１０と３か所で接続している。そして、供試機器１０の機器接続部８が接続される３か所は、供試機器１０の重心を囲むように配置されている。

　実施の形態５に係る供試機器保持装置５００を用いて、供試機器１０に飛行動作をさせながら、供試機器１０が放射する電磁波を測定する動作は、実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様に行われ、この供試機器保持装置５００でも実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様の効果を奏する。なお、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との個数は、実施の形態５で示した個数に限らない。

実施の形態６．
　上記実施の形態１～５において、供試機器保持装置１００、２００、３００、４００、５００の保持体４は、床面に対して並行な平面上で基台１それぞれの間を接続したが、床面に対して並行な平面上で基台１それぞれの間を接続しなくてもよい。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を３個以上有し、この３個以上の機器接続部８が、供試機器１０の重心を囲むような供試機器１０における３か所以上に接続されていればよい。以下の説明において実施の形態１で説明した構成及び動作については、同一符号を付して、重複する説明を省略する。

　図７は、実施の形態６に係るＥＭＣ試験システム２０００の斜視図である。供試機器保持装置６００は、４つのプロペラを備える供試機器１０が飛行して移動する空間を囲む２個の基台１と、基台１に設けられた固定端部６に接続される固定側接続部７及び供試機器１０に接続される機器接続部８を有し、２個の基台１で囲まれた空間に供試機器１０を保持する３つの保持体４とを備えている。２個の基台１で囲まれた空間は、供試機器１０が飛行する空間であり、供試機器１０が主に移動する上下方向が開放されている。保持体４は、基台１それぞれの間を２か所接続し、一方の基台１の側面において基台１同士を接続した２カ所の接続点を接続する３個の第一の吊り体２と、第一の吊り体２の中ごろと供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備えている。第一の吊り体２は、床面に対して垂直な平面上で２個の基台１の間を接続する。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を３個有し、供試機器１０と３か所で接続している。そして、供試機器１０の機器接続部８が接続される３か所は、供試機器１０の重心を囲むように配置されている。なお、機器接続部８は、供試機器１０の一部、すなわち供試機器１０の本体の側面部、上面部、下面部に接続されている。

　実施の形態６に係る供試機器保持装置６００を用いて、供試機器１０に飛行動作をさせながら、供試機器１０が放射する電磁波を測定する動作は、実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様に行われ、この供試機器保持装置６００でも実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様の効果を奏する。さらに、図７に示すＥＭＣ試験システム２０００の場合は、ターンテーブル２０と、基台１の側面において基台１同士を接続した２カ所の接続点を接続する１個の第一の吊り体２と、その第一の吊り体２に接続する第二の吊り体３とをなくし、供試機器１０の飛行動作によって供試機器１０を回転させ、測定を行ってもよい。このようにすることで、使用する機材を減らすことができる。なお、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との個数は、実施の形態６で示した個数に限らない。

実施の形態７．
　図８は、実施の形態７に係るＥＭＣ試験システム３０００の斜視図である。以下の説明において実施の形態１で説明した構成及び動作については、同一符号を付して、重複する説明を省略する。供試機器保持装置７００は、４つのプロペラを備える供試機器１０が飛行して移動する空間を囲む２個の基台１と、基台１に設けられた固定端部６に接続される固定側接続部７及び供試機器１０に接続される機器接続部８を有し、２個の基台１で囲まれた空間に供試機器１０を保持する３つの保持体４とを備えている。２個の基台１で囲まれた空間は、供試機器１０が飛行する空間であり、供試機器１０が主に移動する上下方向が開放されている。保持体４は、一方の基台１の固定端部６と固定側接続部７とを接続し、固定側接続部７とは反対側の一端と第二の吊り体３の一端とを接続し、もう一方の基台１の固定端部６と固定側接続部７とをそれぞれ２か所接続し、固定側接続部７とは反対側のそれぞれの一端と第二の吊り体３のそれぞれの一端とを接続する３個の第一の吊り体２と、第一の吊り体２のそれぞれの一端と機器接続部８とは反対側のそれぞれの一端とを接続し、機器接続部８と供試機器１０とを接続する第二の吊り体３とを備える。第一の吊り体２は、床面に対して垂直な平面上で供試機器１０及び第二の吊り体３を介して２個の基台１の間を接続する。保持体４は、供試機器１０と接続する機器接続部８を３個有し、供試機器１０と３か所で接続している。そして、供試機器１０の機器接続部８が接続される３か所は、供試機器１０の重心を囲むように配置されている。なお、機器接続部８は、供試機器１０の一部、すなわち供試機器１０の本体の側面部、上面部、下面部に接続されている。

　実施の形態７に係る供試機器保持装置７００を用いて、供試機器１０に飛行動作をさせながら、供試機器１０が放射する電磁波を測定する動作は、実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様に行われ、この供試機器保持装置７００でも実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様の効果を奏する。なお、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との個数は、実施の形態７で示した個数に限らない。

実施の形態８．
　実施の形態１では、基台１を木ネジでターンテーブル２０の上に固定させ、動かないようにして安定したＥＭＣ試験を行えるようにしていた。一方、供試機器１０が持つそれぞれの構造あるいは供試機器１０の飛行パターンの自由度等に合わせて、基台１で囲まれた空間の大きさ、あるいは、保持体４の張力を調整できると、種々のＥＭＣ試験の試験条件に対応することができる。

　そこで、基台１を移動可能な構造とすることで、基台１で囲まれた空間の大きさ、あるいは保持体４の張力を調整にできるようにした供試機器保持装置８００、及びＥＭＣ試験システムについて説明する。以下の説明において実施の形態１で説明した構成及び動作については、同一符号を付して、重複する説明を省略する。

　図９は、実施の形態８に係る基台１の斜視図である。実施の形態８では、実施の形態１の図２の基台１それぞれに、床面における基台１の配置位置を移動可能に支持する移動機構である４個のキャスタ２１と、基台１を床面に固定する固定機構であるストッパ２２とネジ２３とを備える。キャスタ２１、ストッパ２２、ネジ２３は、基台１の底面に備えられており、キャスタ２１は基台１を少ない力で移動できるように支持し、ストッパ２２は、床面との接触により基台１の移動を抑制するとともに基台１の転倒を防ぎ、ネジ２３は、床面に予め設けられたネジ穴にねじ込むことで基台１を床面に固定するものである。

　図１０は、このような基台１を用いた実施の形態８に係る供試機器保持装置８００の上面図である。このような供試機器保持装置８００を用いて、供試機器１０が放射する電磁波を測定する場合、まず動作していない供試機器１０を供試機器保持装置１００に保持させるため、作業者は、キャスタ２１によって移動が容易になった３つの基台１を、それらが囲む空間が所望の広さになるような設置場所へ移動させる。具体的には、それぞれの基台１を図１０の点線矢印で示されたオフセット方向１０１あるいはオフセット方向１０２に移動させる。床面には、これらオフセット方向１０１、１０２に沿ってネジ２３をねじ込むねじ穴が設けられており、適当な位置のねじ穴にネジ２３をねじ込むことで、基台１を床面の所望の位置に固定することができる。このようにすることで、それぞれの基台１を、それらが囲む空間が所望の大きさになるように、あるいは保持体４にかける張力が所望の強さになるように調整することができる。具体的には、基台１をオフセット方向１０１に向かって移動させる場合、基台１の間の距離が小さくなり、保持体４の張力が弱くなる。逆に、基台１をオフセット方向１０２に向かって移動させる場合、基台１の間の距離が大きくなり、保持体４の張力が強くなる。

　ＥＭＣ試験中に、再度保持体４の張力を調整したい場合は、作業者が基台１の床面に設けられたネジ穴にねじ込んだネジ２３を緩めて、基台１を移動可能なようにし、キャスタ２１によって基台１をそれらが囲む空間が所望の広さになるような設置場所へ移動させ、適当な位置のねじ穴にネジ２３をねじ込むことで、基台１を床面の所望の位置に固定し、保持体４にかける張力を調整する。

　この供試機器保持装置８００でも実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様の効果を奏する。さらに、実施の形態８の供試機器保持装置８００は、床面における基台１の配置位置を移動可能に支持する移動機構と、基台１を床面に固定する固定機構とを備えることにより、基台１で囲まれた空間の大きさ、あるいは保持体４の張力を調整にできるようにした。

　なお、実施の形態８において、移動機構は、４個のキャスタ２１であるとしたが、レールと車輪等の床面における基台１の配置位置を移動可能に支持するものであれば、キャスタ２１に限らない。また、キャスタ２１の個数は４個に限らず、１個以上あればよい。キャスタ２１は、手動でも自動でも構わない。キャスタ２１は、基台１の底面に備えられているとしたが、床面における基台１の配置位置を移動可能に支持するものであれば、側面等に備えられていても構わない。基台１はそれぞれ、４個のキャスタ２１を備えるとしたが、隣接する両側の基台１がキャスタ２１を備えていれば、キャスタ２１を備えない基台１があってもよい。その場合は、キャスタ２１を備えない基台１は床面に固定されているため、隣接する両側の基台１をキャスタ２１によって作業者が移動させることにより、基台１で囲まれた空間の大きさ、あるいは保持体４の張力を調整する。

　実施の形態８において、固定機構は、ストッパ２２とネジ２３であるとしたが、ロック機能を備えたキャスタ２１等の基台１を床面に固定するものであれば、ストッパ２２とネジ２３とに限らない。また、ストッパ２２とネジ２３との個数は、それぞれ１個に限らず、複数備えていてもよい。固定機構は、ストッパ２２とネジ２３とであれば手動であるが、電動ロック等の自動のものでも構わない。ストッパ２２とネジ２３とは、基台１の底面に備えられているとしたが、基台１を床面に固定するものであれば、側面等に備えられていても構わない。

　実施の形態８において、供試機器保持装置８００の基台１の移動機構は、オフセット方向１０１とオフセット方向１０２との方向に移動すると説明したが、オフセット方向１０１とオフセット方向１０２以外の方向に移動して、基台１で囲まれた空間の大きさ、あるいは保持体４の張力を調整してもよい。

　実施の形態８において、ＥＭＣ試験システムは、ターンテーブル２０を備えているが、ターンテーブル２０を備えず、ターンテーブル２０の代わりに基台１の移動機構がオフセット方向１０１及びオフセット方向１０２とは垂直方向に移動することにより、供試機器保持装置８００を回転させてもよい。

　実施の形態８において、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との個数は、実施の形態８で示した個数に限らない。

　実施の形態９．
　実施の形態１では、供試機器保持装置１００は、第一の吊り体２の固定側接続部７と基台１の固定端部６との接続は、図示しないネジ等の締結具で締め付け固定し、基台１と第一の吊り体２とが外れないようにして安定したＥＭＣ試験を行えるようにしていた。一方、保持体４を基台１に接続する作業は、高所での作業となることが多く、より短時間で容易に固定することが望まれる。

　そこで、固定端部６をフックとすることで、保持体４を基台１に接続する作業をより短時間で容易にする供試機器保持装置、及びＥＭＣ試験システムについて説明する。以下の説明において実施の形態１で説明した構成及び動作については、同一符号を付して、重複する説明を省略する。

　図１１は、実施の形態９に係る基台１の側面図である。実施の形態９では、基台１の固定端部６は、保持体４の固定側接続部７を留めるためのＬ型の形状のフックで構成されており、保持体４を基台１に接続する作業をより短時間で容易にするように構成されている。固定端部６のフックは、建築用品等で使用される釘付きの金具であり、作業者が基台１に釘を打ち込むことで、固定端部６のフックを基台１に取り付けることができるようになっている。固定端部６のフックに接続する保持体４の固定側接続部７は、端が輪になっている形状である。

　このような供試機器保持装置を用いて、供試機器１０が放射する電磁波を測定する場合、まず動作していない供試機器１０を供試機器保持装置１００に保持させるため、作業者は、基台１の固定端部６のフックに第一の吊り体２の固定側接続部７の端の輪を引っかけて留めることで、基台１のそれぞれの間を第一の吊り体２で接続する。このように引っかける動作にすることで、高所での作業をより短時間に容易に固定することができる。

　この供試機器保持装置でも実施の形態１の供試機器保持装置１００と同様の効果を奏する。さらに、供試機器保持装置の基台１は、固定端部６をフックとすることで、基台１の固定端部６のフックに第一の吊り体２の固定側接続部７の端の輪を引っかけて留めることで、基台１のそれぞれの間を第一の吊り体２で接続できるようにし、高所での作業をより短時間に容易に固定することができるようにした。

　なお、実施の形態９において、固定端部６のフックは、建築用品等で使用される釘付きの金具としたが、基台１に取り付けることができるフックであれば、建築用品等で使用される釘付きの金具に限らない。また、フックの形状がＬ型であるものを説明したが、保持体４を留めることができる形状であれば、Ｊ型等でもよくＬ型に限らない。

　実施の形態９において、固定端部６のフックに接続する保持体４の固定側接続部７は、端が輪になっている形状であるとしたが、端がフックである形状、穴の開いた四角形である形状等の固定端部６のフックに留めることができる形状であればよい。

　実施の形態９において、供試機器保持装置の基台１の固定端部６はフックで構成されているとし、固定端部６のフックに接続する保持体４の固定側接続部７は、端が輪になっており固定端部６のフックに留めることができる形状としたが、供試機器保持装置の基台１の固定端部６を輪のようなフックを留めることができる形状にし、保持体４の固定側接続部７をフックで構成されているとしてもよい。

　実施の形態９において、基台１と、第一の吊り体２と、第二の吊り体３との個数は、実施の形態９で示した個数に限らない。

　なお、実施の形態１～９において、基台１が複数ある場合で説明したが、例えば、床面に沿って基台１同士が接続して、供試機器１０が飛行して移動する空間を囲むのであれば、基台１を単数としてもよい。また、実施の形態１～９において、保持体４が複数ある場合で説明したが、例えば、保持体４が全てつながっており、途中を基台１に留める等してもよい。

　実施の形態１～７、９において、基台１は、図示しない木ネジでターンテーブル２０の上に固定されているとしたが、接着剤、釘、磁石等で基台１をターンテーブル２０の上に固定してもよい。

　実施の形態１～９において、基台１は、木材で構成されるとしたが、発泡材等の電磁波の影響を受けにくい部材であればよく、木材に限らない。基台１は、直方体形状の木材で構成されるとしたが、円柱、三角柱等の形状でもよい。

　実施の形態１～９において、第一の吊り体２は、弾性体であるゴムで構成されるとしたが、弾性がある部材であれば、バネ等の弾性体でもよく、ゴムに限らない。つまり、保持体４は、少なくとも一部が弾性体で構成されていればよい。

　実施の形態１～９において、第一の吊り体２は緩みなく張られたゴムのような弾性体に限らず、チェーン等の剛体、紐等の弾性体ではないものでもよい。このような部材で構成される場合でも、例えば図１、２に示した状態よりは第一の吊り体２を緩やかに基台１間で張り、かつ供試機器１０が飛行動作を停止して保持体４に保持されている状態となったときに供試機器１０が床に届かないよう、供試機器１０の重さで伸びる分を含めた第一の吊り体２の長さと弾性の強さ、第二の吊り体３の長さを選択しておけば、供試機器１０が保持体４から受ける張力が弱く自由に飛行できる範囲を設定することができ、ＥＭＣ試験の自由度を確保するとともに、供試機器１０に何らかの異常が発生して動作を停止したとしても、供試機器１０が保持体４で保持されて床に墜落することを防止することができる。

　実施の形態１～８において、第一の吊り体２の固定側接続部７と基台１の固定端部６との接続は、図示しないネジ等の締結具で締め付け固定されているとしたが、接着剤、釘、磁石等の第一の吊り体２の固定側接続部７と基台１の固定端部６とを接続できるものであればよい。

　実施の形態１～９において、第二の吊り体３は第一の吊り体２を構成するゴムより硬度が高い綿のロープで構成されているとしたが、鉄線、銅線等の第一の吊り体２の弾性体よりも硬度が高い部材または切れづらい丈夫な部材で構成されていれば、綿のロープに限らない。第二の吊り体３は、供試機器１０を供試機器保持装置に固定する際、供試機器１０に備えられたプロペラ等が第二の吊り体３に接触し、第二の吊り体３が切れてしまう可能性がある。第二の吊り体３は、第一の吊り体２よりも硬度が高い部材または切れづらい丈夫な部材にすることで、供試機器１０のプロペラ等が第二の吊り体３に接触したときに第二の吊り体３が切れてしまうことを防ぐことができる。

　実施の形態１～９において、第二の吊り体３は、供試機器１０の一部、すなわちプロペラが設けられている腕部の先端部、供試機器１０の本体の側面部に接続されているが、プロペラ以外であれば、供試機器１０のどこに接続してもよい。

　実施の形態１～９において、ＥＭＣ試験システムでの供試機器保持装置に保持された供試機器１０から多方向に放射される電磁波を測定する方法では、供試機器１０を回転させる飛行動作を行いながら、供試機器１０の回転と同じ方向にターンテーブル２０を回転し、アンテナ装置５に対する供試機器１０の向きを変えながら供試機器１０から発生する電磁波をアンテナ装置５で測定したが、供試機器１０の飛行動作を停止させ、ターンテーブル２０を回転し、アンテナ装置５に対する供試機器１０の向きを変え、ターンテーブル２０を停止させた状態で供試機器１０を再度ホバリングさせ、供試機器１０から発生する電磁波をアンテナ装置５で測定してもよい。

　実施の形態１～９において、ＥＭＣ試験システムでの供試機器保持装置に保持された供試機器１０から多方向に放射される電磁波を測定する方法では、供試機器１０を回転させる飛行動作を行いながら、供試機器１０の回転と同じ方向にターンテーブル２０を回転し、アンテナ装置５に対する供試機器１０の向きを変えながら供試機器１０から発生する電磁波をアンテナ装置５で測定したが、ターンテーブル２０を停止させた状態で、供試機器１０を回転させる飛行動作を行い、アンテナ装置５に対する供試機器１０の向きを変えながら供試機器１０から発生する電磁波をアンテナ装置５で測定し、供試機器１０が回転可能な回転角度までこのような手順を繰り返す。供試機器１０が保持体４の張力により回転不可能な角度まで回転したら、ターンテーブル２０を回転させ、再度ターンテーブル２０を停止させた状態で、供試機器１０を回転させる飛行動作を行い、アンテナ装置５に対する供試機器１０の向きを変えながら供試機器１０から発生する電磁波をアンテナ装置５で測定してもよい。これにより、ターンテーブル２０を回転させる回数を減少させることができるため、供試機器１０から多方面に放射される電磁波を効率的に測定できる。

　実施の形態１～９において、ＥＭＣ試験システムは、ＥＭＣ試験のうち電気機器、電子機器である供試機器１０に飛行動作をさせながら、アンテナ装置５が供試機器保持装置に保持された供試機器１０から放射される電磁波の測定を行う場合について説明したが、ＥＭＣ試験のうち電気機器、電子機器である供試機器１０に飛行動作をさせながら、アンテナ装置５が供試機器保持装置に保持された供試機器１０に電磁波の放射を行い、供試機器１０の外部の電磁波環境への耐性を測定する場合においても適用できる。

　実施の形態１～９において、供試機器保持装置は、飛行動作を行う供試機器１０の一例として、４つのプロペラ、あるいは６つのプロペラを備えるドローン等の無人航空機を保持する場合について説明したが、飛行機等の飛行動作を行う供試機器１０であればよい。

　ところで、上記した実施の形態に示した供試機器保持装置、及びＥＭＣ試験システムは一例に過ぎず、適宜、他の装置と組み合わせて構成するあるいは各実施の形態の任意の構成要素を変形、省略することが出来るものであって、実施の形態単独の構成に限られるものではない。

　１　基台、　２　第一の吊り体、　３　第二の吊り体、
　４　保持体、　５　アンテナ装置、　６　固定端部、
　７　固定側接続部、　８　機器接続部、　１０　供試機器、
　１５　アンテナ、　２０　ターンテーブル、
　２１　キャスタ、　２２　ストッパ、　２３　ネジ、
　２５　アンテナマスト、　１００～８００　供試機器保持装置、
　１０００～３０００　ＥＭＣ試験システム。

Claims

　ＥＭＣ試験の対象である供試機器が飛行して移動する方向が開放された空間を囲む基台と、
　前記基台に設けられた複数の固定端部に接続される固定側接続部および前記供試機器に接続される機器接続部を有し、前記供試機器を保持する保持体と
を備える供試機器保持装置。
　前記保持体は、少なくとも一部が弾性体で構成されている
請求項１に記載の供試機器保持装置。
　前記保持体は、前記固定側接続部が設けられた弾性体で構成される第一の吊り体と、前記機器接続部が設けられ、前記第一の吊り体よりも硬度が高い部材で構成される第二の吊り体とを備える
請求項２に記載の供試機器保持装置。
　前記保持体は、前記機器接続部を３個以上有する
請求項１～３のいずれか１項に記載の供試機器保持装置。
　前記基台は、床面における前記基台の配置位置を移動可能に支持する移動機構と、前記基台を前記床面に固定する固定機構とを備える
請求項１～４のいずれか１項に記載の供試機器保持装置。
　前記固定端部は、フックで構成されている
請求項１～５のいずれか１項に記載の供試機器保持装置。
　前記固定側接続部は、フックで構成されている
請求項１～５のいずれか１項に記載の供試機器保持装置。
　請求項１記載の供試機器保持装置と、
　前記供試機器保持装置に保持された前記供試機器から放射される電磁波の測定を行う、または前記供試機器保持装置に保持された前記供試機器に電磁波の放射を行うアンテナ装置と
を備えたＥＭＣ試験システム。