WO2020084966A1 - 電子制御装置 - Google Patents

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power supply
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electronic control
control device
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昌宏 土肥
友里 小原
山下　毅雄
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日立オートモティブシステムズ株式会社
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    • H03K17/22—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H03K17/223—Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches

Definitions

  • the present invention relates to a switching circuit of a power supply device output section in an electronic control device, and more particularly to a technique effective when applied to a vehicle-mounted electronic control device that requires control with a wide drive current such as engine control and battery control. .
  • the power supply unit installed in the electronic control unit can generally be used for a wide range of purposes because it has a high current drive capability. On the other hand, if a power supply device having a high current drive capability is used for low current drive, it becomes an over-spec, which increases the cost of the power supply device (electronic control device).
  • a semiconductor integrated circuit IC (Integrated Circuit) realizes high integration and cost reduction by integrating components in the IC, and a power supply device using the IC is widely commercialized.
  • a power supply device using this IC if a power supply device having high current drive capability is used for low current drive, the cost will increase. Further, if the optimum IC is newly developed for each application, the cost increase due to the over-spec of the power supply device can be solved, but the development period of the IC development and the development cost increase.
  • Patent Document 1 discloses "an IC circuit for a series regulator, which has a built-in PchMOSFET for output control, a control unit which compares an output voltage with a predetermined reference voltage, and drives the PchMOSFET according to the comparison result, A first IC terminal for outputting the bias control signal of the PchMOSFET to the outside of the IC, and by connecting an external PchMOSFET to the first IC terminal, output control by driving the external PchMOSFET is also possible. Is described, and a power supply device using an external PchMOSFET and a built-in PchMOSFET has been proposed.
  • the power supply unit (power supply ASIC: Application Specific Integrated Circuit) installed in the electronic control unit, especially the power supply of the in-vehicle electronic control unit expected to be applied to a wide range of electronic devices such as engines, inverters, and battery controllers.
  • the device power supply ASIC
  • it is required to support a wide range of current drive capability while suppressing the cost increase due to overspec.
  • Patent Document 1 both the external Pch MOSFET and the built-in Pch MOSFET are provided, and it is possible to cope with a wide range of applications from a small current to a large current.
  • a predetermined reference voltage Since the drive of the external Pch MOSFET and the drive of the built-in Pch MOSFET are switched according to the comparison result, there is a fear of malfunction (erroneous switching) due to factors such as noise after startup.
  • an object of the present invention is to provide a power supply device (power supply ASIC) excellent in versatility and reliability capable of supporting electronic devices with a wide range of drive currents while suppressing cost increase, and an electronic control device using the same. It is in.
  • An object of the present invention is to realize a power supply device and an electronic control device that include a power supply circuit that does not accompany it.
  • the present invention provides a first power supply circuit that outputs a first voltage, a second power supply circuit that generates a second voltage from the first voltage, the first power supply circuit, and A second power supply circuit arranged independently of the second power supply circuit, wherein the second power supply circuit outputs a reference power supply for outputting a reference voltage, an amplifier for amplifying the reference voltage, and a second power supply for amplifying the reference voltage.
  • the second MOS FET connected in parallel with the first MOS FET, the voltage detection unit that detects the voltage value of the gate terminal of the first MOS FET, and the output from the amplifier are output from the first MOS FET.
  • a switching unit connected to either the gate terminal or the gate terminal of the second MOS FET, and controlling the switching unit based on a voltage value at startup detected by the voltage detection unit.
  • a power supply device power supply ASIC
  • a power supply device excellent in versatility and reliability capable of supporting electronic devices with a wide range of drive currents and an electronic control device using the power supply device while suppressing cost increase.
  • normal operation can be verified by reading the detection result with a microcomputer via a register.
  • a power supply device (power supply ASIC) that can drive a wide range of currents at low cost without requiring an additional terminal for the external FET and the three terminals of the IC required for driving the built-in FET, and an electronic control device using the same. Can be provided.
  • FIG. 8 is a circuit configuration diagram of a built-in FET drive in the first embodiment. It is a circuit block diagram of an external FET drive in the first embodiment. 6 is a timing chart showing an example at the time of power supply startup in the first embodiment.
  • FIG. 8 is a circuit configuration diagram of a built-in FET drive in the second embodiment. It is a circuit block diagram of external FET drive in a 2nd Example. 8 is a timing chart showing an example at the time of power activation in the second embodiment.
  • It is a circuit configuration diagram of a built-in FET drive in the third embodiment. It is a circuit block diagram of external FET drive in a 3rd Example. It is a timing chart which shows an example at the time of the power supply start in a 3rd Example. It is a circuit block diagram in a 4th Example. It is a circuit block diagram in a 5th Example.
  • Example 1 of the present invention will be described with reference to FIGS. 1A to 2.
  • 1A and 1B are circuit configuration diagrams of the power supply device (power supply ASIC) of this embodiment, and FIG. 2 is a timing chart showing the operation (action) of this embodiment.
  • FIG. 1A shows a power supply device when driving a built-in FET (built-in NMOS FET) 21, and
  • FIG. 1B shows a power supply device when driving an external FET (external NMOS FET) 17.
  • the power supply device shown in FIGS. 1A and 1B includes an integrated circuit 10, a microcomputer 40 serving as a load is connected to an output V2 of the power supply device, and an external FET (external NMOS FET) 17 is included in FIG. 1B. .
  • the integrated circuit 10 includes a first power supply (circuit) 13 that outputs a V1 voltage via a terminal 31, a voltage detection unit 22 that detects a voltage at a terminal 32, a switching unit 23 that switches an output FET according to the detection result, and a detection result.
  • a register 24 for holding (recording) is provided.
  • the register 24 is connected to the microcomputer 40 via a terminal 34 by serial communication or the like.
  • the terminal 32 is connected to the V1 voltage line (connection line of the terminal 31) in FIG. 1A, and is connected to the gate of the external NMOS FET 17 in FIG. 1B.
  • the switching unit 23 is connected to the gate terminal of the first MOS FET (external NMOS FET 17) and further connected to GND via the feedback resistors 14 and 15.
  • the V1 voltage is the output voltage of the first power supply (circuit) 13, and the second power supply circuits 20A and 20B in FIGS. 1A and 1B generate the V2 voltage from the V1 voltage.
  • the first power supply circuit When the power supply device is activated, the first power supply circuit first operates to generate the V1 voltage.
  • the voltage detection unit 22 detects whether the voltage of the terminal 32 is the V1 voltage.
  • the terminal 32 When the terminal 32 is connected to V1 as in FIG. 1A, the terminal 32 has the same voltage as the V1 voltage, and it is determined that the terminal 32 is connected to V1.
  • the switching unit 23 connects the output of the amplifier 12 to the gate of the built-in FET 21.
  • the second power supply circuit 20A starts operating and the reference voltage 11 is amplified by the amplifier 12 to output the output voltage V2 at the built-in FET 21.
  • the output voltage V2 is subjected to negative feedback control by the voltage divided by the negative feedback resistors 14 and 15 connected to the terminal 33 being connected (input) to the inverting input of the amplifier 12, and becomes the desired output voltage V2.
  • the voltage of the terminal 32 is connected to the GND via the pull-down resistor 16 and the feedback resistors 14 and 15 after the start of the first power supply 13. It is connected to 0V.
  • the voltage detection unit 22 detects 0V at the terminal 32 and determines that the terminal 32 is not connected to V1. Based on the detection result, the output of the amplifier 12 is connected to the gate of the external NMOS FET 17 by the switching unit 23. After the connection is completed, the second power supply circuit 20B starts operation, and the desired output voltage V2 is output via the external NMOS FET 17 by the negative feedback operation of the amplifier circuit.
  • the pull-down resistor 16 is arranged between the gate terminal and the source terminal of the first MOS FET (external NMOS FET 17).
  • the power supply device (electronic control device) of this embodiment includes the first power supply circuit 13 that outputs the first voltage (V1) and the first voltage (V1) to the second voltage (V2). And a first MOS FET (external NMOS FET 17) that is arranged independently of the first power supply circuit 13 and the second power supply circuits 20A and 20B.
  • the two power supply circuits 20A and 20B include a reference power supply 11 that outputs a reference voltage, an amplifier 12 that amplifies the reference voltage, and a second MOS FET (parallel to the first MOS FET (external NMOS FET 17)).
  • the built-in NMOS FET 21), the voltage detection unit 22 that detects the voltage value of the gate terminal of the first MOS FET (external NMOS FET 17), and the output from the amplifier 12 are the first MOS FET ( A switching unit 23 connected to either the gate terminal of the attached NMOS FET 17) or the gate terminal of the second MOS FET (built-in NMOS FET 21), and based on the voltage value at the time of startup detected by the voltage detection unit 22. , And controls the switching unit 23. Further, a register 24 that holds (records) the voltage value detected by the voltage detection unit 22 is provided.
  • the first MOS FET is an N-type MOS FET (external NMOS FET 17), and the switching unit 23 uses an amplifier when the voltage value at startup detected by the voltage detection unit 22 is 0V.
  • the output from 12 is connected to the gate terminal of the first MOS FET (external NMOS FET17), and when the voltage is the first voltage (V1), the output from the amplifier 12 is the second MOS FET (built-in NMOS FET21). Connect to the gate terminal of.
  • FIG. 2 is a timing chart showing the operation (action) of this embodiment.
  • the first power supply circuit 13 is activated from the rise of the activation signal, and the output voltage V1 rises. After the rise of the V1 voltage is completed, the detection period of the voltage detection unit 22 is started, and the connection of the terminal 32 voltage is determined.
  • the voltage detection unit 22 detects the voltage value of the gate terminal of the first MOS FET (external NMOS FET 17) at a predetermined time after the activation of the first power supply circuit 13.
  • the voltage of the terminal 32 during this detection period is V1 voltage when connected to the output of the first power supply 13 of FIG. 1A, and 0 V when connected to the external NMOS FET 17 of FIG. 1B.
  • the voltage detection unit 22 determines whether the voltage of the terminal 32 is the V1 voltage or 0V during the detection period.
  • the voltage detection unit 22 has a filter time for detection in order to avoid erroneous detection, and completes detection when the voltage at the terminal 32 is a V1 voltage or 0V for a certain time.
  • the switching unit 23 connects the built-in NMOS FET 21 in the case of FIG. 1A and the external NMOS FET 17 in the case of FIG. 1B according to the detection result. 20A or 20B starts to start (starts output), and a desired V2 voltage is output.
  • the connection of the switching unit 23 does not change after the detection period, and an erroneous connection due to the influence of noise or the like does not occur, so that a stable power supply output is obtained. Can be maintained.
  • the detection result of the voltage of the terminal 32 is held in the register 24, and the detection result can be transmitted to the microcomputer 40 via the terminal 34 by serial communication or the like.
  • the detection result of the terminal 32 can be referred to from the microcomputer 40, and the voltage detection unit 22 can correctly determine and confirm whether the FET connection is normal.
  • the detection result of the register 24 can be rewritten from the microcomputer 40 through the terminal 34 by serial communication.
  • the result of the voltage detection unit 22 is also rewritten, and the connection of the switching unit 23 can be changed accordingly. That is, the register 24 can be rewritten by communication with the microcomputer 40, and the switching unit 23 can be controlled based on the information held (recorded) in the register 24.
  • the power supply device (power supply ASIC) of this embodiment, it is determined whether the terminal 32 of the integrated circuit 10 is connected to the output V1 of the first power supply circuit 13 or the external NMOS FET 17.
  • the FET of the output can be switched by detecting with the power supply detection unit 22 at the time of startup.
  • a low-cost power supply device (power supply ASIC) that can handle a wide range of loads from low current to high current without using additional pins for switching and using the integrated circuit 10 with the same specifications
  • An electronic control device to be mounted can be provided.
  • 3A and 3B are circuit configuration diagrams of the power supply device (power supply ASIC) of this embodiment
  • FIG. 4 is a timing chart showing the operation (action) of this embodiment.
  • an output determination unit 25 that determines whether or not the voltage of the output voltage V2 of the second power supply circuit 20A is normally output is added to the circuit configuration of FIG. 1A.
  • the output determination unit 25 determines whether or not the output voltage V2 of the second power supply circuit 20A is normally output at startup. If the output voltage V2 does not reach the desired (predetermined) voltage within the fixed time, the connection of the switching unit 23 is reversed.
  • the voltage of the terminal 32 may be constant at 0 V as shown in FIG.
  • the external NMOS FET 17 is selected by the detection of the voltage detection unit 22 and the external NMOS FET 17 is selected.
  • the output determination unit 25 determines (determines) that the V2 voltage is not normally output, outputs an NG determination signal, inverts the connection of the switching unit 23, connects to the built-in NMOS FET 21, and restarts. This makes it possible to normally generate the V2 voltage even when the terminal 32 has an open failure.
  • the switching operation of the switching unit 23 is performed by the determination operation of the output determination unit 25.
  • the V2 voltage is output when the connection of is switched to the normal connection.
  • the determination operation of the output determination unit 25 is performed even when a wrong switching connection is selected due to a failure of some components or an erroneous detection of the voltage detection unit 22 and the V2 voltage is not output. This makes it possible to invert the switching unit 23 and create an opportunity for the V2 voltage to be normally output.
  • the connection of the switching unit 23 is further inverted and the restart operation is repeated to recover the failure state in the case of a temporary failure such as a short circuit failure on the substrate. After that, it is possible to output the V2 voltage normally.
  • the output determination unit 25 that determines whether or not the V2 voltage is normally output at the time of startup, a failure such as a terminal open, external noise, etc.
  • the switching unit 23 is inverted and restarted, so that the V2 voltage can be normally output.
  • FIGS. 5A to 6 are circuit configuration diagrams of the power supply device (power supply ASIC) of this embodiment, and FIG. 6 is a timing chart showing the operation (action) of this embodiment.
  • This embodiment is an example of using a PMOS FET as the FET.
  • FIG. 5A is a modification of the built-in NMOS FET 21 of FIG. 3A to a built-in PMOS FET 19
  • FIG. 5B is a modification of the built-in NMOS FET 21 and external NMOS FET 17 of FIG. 3B to built-in PMOS FET 19 and external PMOS FET 18. is there.
  • the pull-down resistor 16 is changed to the pull-up resistor 36.
  • the detection voltage at the terminal 32 is different from that of the external NMOS FET 17 in the first and second embodiments.
  • the pull-up resistor 36 is arranged between the gate terminal and the source terminal of the first MOS FET (external PMOS FET 18).
  • the terminal 32 is connected to the output V1 of the first power supply circuit 13 via the pull-up resistor 36. Therefore, after the output voltage V1 of the first power supply circuit 13 is started, the voltage of the terminal 32 becomes the voltage V1 as shown in FIG.
  • the voltage detection unit 22 connects the external PMOS FET 18 by the switching unit 23. After the connection is completed, the second power supply circuit 20B is activated and the desired V2 voltage is output.
  • FIG. 5A by connecting the terminal 32 to GND, the voltage becomes 0V constant, which is the reverse of FIG. 5B.
  • the voltage detection unit 22 detects 0V of the voltage of the terminal 32 during the detection period, the built-in PMOS FET 19 is connected, and the desired V2 voltage is output.
  • the first MOS FET is a P-type MOS FET (external PMOS FET 18), and the switching unit 23 determines that the voltage value at the time of startup detected by the voltage detection unit 22 is the first voltage (V1 ),
  • the output from the amplifier 12 is connected to the gate terminal of the first MOS FET (external PMOS FET 18), and when it is 0V, the output from the amplifier 12 is the second MOS FET (built-in PMOS FET 19). Connect to the gate terminal of.
  • the voltage of the terminal 32 becomes opposite, so that the dedicated integrated circuit 10 is required.
  • the built-in FET it is not always necessary to distinguish between NMOS and PMOS depending on the configuration of the second power supply circuit including the amplifier 12.
  • the output FET can be switched by detecting the voltage at the terminal 32 as in the first and second embodiments.
  • a low-cost power supply device (power supply ASIC) that can handle a wide range of loads from low current to high current without using additional pins for switching and using the integrated circuit 10 with the same specifications An electronic control device to be mounted can be provided.
  • FIG. 7 shows the circuits of FIGS. 1A and 1B shown in the first embodiment by selecting mounting / non-mounting (wiring connection / non-connection) of components arranged on the same circuit board. It is an example of a circuit configuration.
  • the external NMOS FET 17 and the pull-down resistor 16 in FIG. 7 are not mounted (unconnected) and the 0 ⁇ resistor 35 is mounted (wiring connected), so that the circuit configuration is equivalent to that in FIG. 1A.
  • the 0 ⁇ resistor 35 is not mounted (not connected), and the external NMOS FET 17 and the pull-down resistor 16 are mounted (wiring connected), so that a configuration equivalent to the circuit configuration of FIG. 1B can be realized.
  • the first power supply circuit 13, the second power supply circuit 20B, and the first MOS FET (external NMOS FET 17) are arranged on the same circuit board, and A 0 ⁇ resistor 35 is arranged between the power supply circuit 13 and the gate terminal of the first MOS FET (external NMOS FET 17), and each element of the first MOS FET (external NMOS FET 17), pull-down resistor 16 and 0 ⁇ resistor 35 is arranged.
  • the circuit configuration of the second power supply circuit 20B is determined by selecting the wiring connection.
  • Example 5 of the present invention will be described with reference to FIG.
  • This embodiment is an example in which a PMOS is used as the external FET, and corresponds to a modification of the fourth embodiment (FIG. 7).
  • the first power supply circuit 13, the second power supply circuit 20B, and the first MOS FET (external PMOS FET 18) are arranged on the same circuit board, and A pull-up resistor 36 is arranged between the power supply circuit 13 and the gate terminal of the first MOS FET (external PMOS FET 18), and the gate terminal of the first MOS FET (external PMOS FET 18) is connected via a 0 ⁇ resistor 37.
  • the circuit configuration of the second power supply circuit 20B is determined by selecting the wiring connection of each element of the first MOS FET (external PMOS FET 18), pull-up resistor 36, and 0 ⁇ resistor 37.
  • a second power supply circuit for driving an external FET and driving a built-in FET can be realized by using the same substrate pattern (circuit board) as in the fourth embodiment, and a low-cost power supply device can be realized.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiments, but includes various modifications.
  • the above-described embodiments have been described in detail for the purpose of explaining the present invention in an easy-to-understand manner, and are not necessarily limited to those having all the configurations described.
  • a part of the configuration of a certain embodiment can be replaced with the configuration of another embodiment, and the configuration of another embodiment can be added to the configuration of a certain embodiment.

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Abstract

コスト増加を抑えつつ、幅広い駆動電流の電子機器に対応可能な汎用性および信頼性に優れた電源装置（電源ASIC）とそれを用いた電子制御装置を提供する。　第１の電圧を出力する第１電源回路と、前記第１の電圧から第２の電圧を生成する第２電源回路と、前記第１電源回路および前記第２電源回路とは独立して配置された第１のＭＯＳ ＦＥＴと、を備え、前記第２電源回路は、基準電圧を出力する基準電源と、前記基準電圧を増幅する増幅器と、前記第１のＭＯＳ ＦＥＴと並列に接続された第２のＭＯＳ ＦＥＴと、前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子の電圧値を検出する電圧検出部と、前記増幅器からの出力を前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子または前記第２のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子のいずれかに接続する切替部と、を有し、前記電圧検出部により検出した起動時の電圧値に基づき、前記切替部を制御する。

Description

電子制御装置
　本発明は、電子制御装置における電源装置出力部の切替え回路に係り、特に、エンジン制御やバッテリー制御など幅広い駆動電流での制御が要求される車載用の電子制御装置に適用して有効な技術に関する。
　電子制御装置に搭載される電源装置は、一般的に高い電流駆動能力を持つことで幅広い用途に使用することが出来る。一方で、高い電流駆動能力を持つ電源装置を、低電流駆動の用途で用いるとオーバースペックとなり電源装置（電子制御装置）のコストアップの要因となる。
　ここで、半導体集積回路IC（Integrated Circuit）は、IC内に構成部品を集積することで高集積化と低コスト化を実現しており、ICを用いた電源装置が広く製品化されている。
このICを用いた電源装置の場合も同様に、高い電流駆動能力を持つ電源装置を低電流駆動の用途で使用するとコスト増となる。また、用途毎に最適なICを新規に開発すれば、電源装置のオーバースペックによるコスト増は解消されるが、IC開発の開発期間や開発コストが増大する問題が発生する。
　このように、同一仕様のICを用いた電源装置を幅広い電流駆動の用途に使用できる低コストで汎用性の高い電源装置（電子制御装置）の提供が求められている。
　車載電子制御装置においても、車両の電動化や高機能化に伴い搭載されるマイクロコンピュータ（マイコン）などの半導体の消費電流は増加してきており、電源装置に求められる電流駆動能力は増大している。また一方で、比較的小さい消費電流の電子制御装置にも、同じ電源装置を流用することで、低コスト化と製品開発期間の短縮が可能である。
　本技術分野の背景技術として、例えば、特許文献１のような技術がある。特許文献１には「シリーズレギュレータ用のＩＣ回路であって、内蔵する出力制御用のＰｃｈＭＯＳＦＥＴと、出力電圧を所定の基準電圧と比較して、その比較結果によって前記ＰｃｈＭＯＳＦＥＴを駆動する制御部と、前記ＰｃｈＭＯＳＦＥＴのバイアス制御信号をＩＣ外部へ出力する第１のＩＣ端子と、を具備し、前記第１のＩＣ端子に外付けＰｃｈＭＯＳＦＥＴを接続することで、前記外付けＰｃｈＭＯＳＦＥＴの駆動による出力制御も可能とする」ことが記載されており、外付けＰｃｈＭＯＳＦＥＴと内蔵ＰｃｈＭＯＳＦＥＴを使用する電源装置が提案されている。
特開２００７－１４０６５０号公報
　上述したように、電子制御装置に搭載される電源装置（電源ASIC：Application Specific Integrated Circuit）、特に、エンジンやインバータ、バッテリーコントローラ向けなど幅広い電子機器への適用が期待される車載電子制御装置の電源装置（電源ASIC）においては、オーバースペックによるコスト増加を抑えつつ、幅広い電流駆動能力に対応することが求められている。
　上記特許文献１では、外付けＰｃｈＭＯＳＦＥＴと内蔵ＰｃｈＭＯＳＦＥＴの両方を備えており、小電流から大電流までの広範な用途に対応することができるが、出力電圧を所定の基準電圧と比較して、その比較結果によって外付けＰｃｈＭＯＳＦＥＴと内蔵ＰｃｈＭＯＳＦＥＴの駆動を切替えるため、起動後にノイズ等の要因による誤動作（誤切替え）が懸念される。
　そこで、本発明の目的は、コスト増加を抑えつつ、幅広い駆動電流の電子機器に対応可能な汎用性および信頼性に優れた電源装置（電源ASIC）とそれを用いた電子制御装置を提供することにある。
　具体的には、外付けＦＥＴとＩＣ内臓ＦＥＴを切替えて駆動する電源装置（電源ASIC）において、電子制御装置の安定動作のための確実な切替方法と、低コスト化のためＩＣピンの増加を伴わない電源回路を備える電源装置および電子制御装置を実現することを目的とする。
　上記課題を解決するために、本発明は、第１の電圧を出力する第１電源回路と、前記第１の電圧から第２の電圧を生成する第２電源回路と、前記第１電源回路および前記第２電源回路とは独立して配置された第１のＭＯＳ ＦＥＴと、を備え、前記第２電源回路は、基準電圧を出力する基準電源と、前記基準電圧を増幅する増幅器と、前記第１のＭＯＳ ＦＥＴと並列に接続された第２のＭＯＳ ＦＥＴと、前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子の電圧値を検出する電圧検出部と、前記増幅器からの出力を前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子または前記第２のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子のいずれかに接続する切替部と、を有し、前記電圧検出部により検出した起動時の電圧値に基づき、前記切替部を制御することを特徴とする。
　本発明によれば、コスト増加を抑えつつ、幅広い駆動電流の電子機器に対応可能な汎用性および信頼性に優れた電源装置（電源ASIC）とそれを用いた電子制御装置を実現することができる。
　具体的には、起動時に安定した端子電圧を検出し、その結果をラッチすることで、起動後のノイズ等の影響による意図しない切替動作を防ぐことが出来る。
　また、検出結果をレジスタを介してマイコンで読むことで、正常動作の検証が可能となる。
　さらに、外付けＦＥＴと内蔵ＦＥＴ駆動に必要なＩＣの３端子に対し、追加端子を必要とせず、低コストで幅広い電流駆動が可能な電源装置（電源ASIC）とそれを用いた電子制御装置を提供できる。
　上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明によって明らかにされる。
第１の実施例における内蔵ＦＥＴ駆動の回路構成図である。 第１の実施例における外付けＦＥＴ駆動の回路構成図である。 第１の実施例における電源起動時の一例を示すタイミングチャートである。 第２の実施例における内蔵ＦＥＴ駆動の回路構成図である。 第２の実施例における外付けＦＥＴ駆動の回路構成図である。 第２の実施例における電源起動時の一例を示すタイミングチャートである。 第３の実施例における内蔵ＦＥＴ駆動の回路構成図である。 第３の実施例における外付けＦＥＴ駆動の回路構成図である。 第３の実施例における電源起動時の一例を示すタイミングチャートである。 第４の実施例における回路構成図である。 第５の実施例における回路構成図である。
　以下、図面を用いて本発明の実施例を説明する。なお、各図面において同一の構成については同一の符号を付し、重複する部分についてはその詳細な説明は省略する。
　図１Ａから図２を用いて、本発明の実施例１について説明する。図１Ａおよび図１Ｂは本実施例の電源装置（電源ASIC）の回路構成図を示しており、図２は本実施例の動作（作用）を示すタイミングチャートである。図１Ａは内蔵ＦＥＴ（内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ）２１駆動時の電源装置を示し、図１Ｂは外付けＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ）１７駆動時の電源装置を示す。
　図１Ａ、図１Ｂに示す電源装置は、集積回路１０を備え、本電源装置の出力Ｖ２には負荷となるマイコン４０が接続され、図１Ｂでは、外付けＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ）１７を備える。
　集積回路１０は、端子３１を介してＶ１電圧を出力する第１電源（回路）１３、端子３２の電圧を検出する電圧検出部２２、その検出結果により出力ＦＥＴを切替える切替部２３、また検出結果を保持（記録）するレジスタ２４を備える。レジスタ２４は端子３４を介してマイコン４０とシリアル通信などで接続される。端子３２は、図１ＡではＶ１電圧ライン（端子３１の接続ライン）に接続され、図１Ｂでは外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７のゲートに接続される。切替部２３は、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）のゲート端子に接続され、さらに帰還抵抗１４、１５を介してＧＮＤに接続される。
　ここで、Ｖ１電圧は第１電源（回路）１３の出力電圧であり、図１Ａ、図１Ｂの第２電源回路２０Ａ、２０Ｂは、このＶ１電圧からＶ２電圧を生成する。本電源装置は起動時に、まず第１電源回路が動作しＶ１電圧を生成する。
　次に、第２電源回路２０Ａ、２０Ｂが動作を開始する。この時、電圧検出部２２は、端子３２の電圧がＶ１電圧であるかを検出する。図１Ａのように端子３２がＶ１に接続されている場合は、端子３２はＶ１電圧と同じ電圧となり、Ｖ１に接続されていると判定される。Ｖ１に接続されていると判定されると、切替部２３により増幅器１２の出力は内蔵ＦＥＴ２１のゲートに接続される。
　端子３２の電圧検出およびＦＥＴの接続を完了すると、第２電源回路２０Ａは動作を開始し、基準電圧１１を増幅器１２で増幅することで、内蔵ＦＥＴ２１で出力電圧Ｖ２を出力する。出力電圧Ｖ２は、端子３３に接続される負帰還抵抗１４、１５で分圧された電圧が増幅器１２の反転入力に接続（入力）されることで負帰還制御され所望の出力電圧Ｖ２となる。
　一方、図１Ｂで端子３２が外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７のゲートに接続されている場合は、第１電源１３の起動後には、端子３２電圧はプルダウン抵抗１６、および帰還抵抗１４、１５を介してＧＮＤに接続されており０Ｖとなっている。電圧検出部２２は、端子３２の０Ｖを検出して、端子３２がＶ１に接続されていないことを判定する。検出結果から切替部２３により増幅器１２の出力は外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７のゲートに接続される。接続完了後に、第２電源回路２０Ｂは動作を開始し、増幅回路の負帰還動作により、外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７を介して所望の出力電圧Ｖ２が出力される。プルダウン抵抗１６は、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）のゲート端子とソース端子間に配置される。
　上記のように、本実施例の電源装置（電子制御装置）は、第１の電圧（Ｖ１）を出力する第１電源回路１３と、第１の電圧（Ｖ１）から第２の電圧（Ｖ２）を生成する第２電源回路２０Ａ，２０Ｂと、第１電源回路１３および第２電源回路２０Ａ，２０Ｂとは独立して配置された第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）と、を備え、第２電源回路２０Ａ，２０Ｂは、基準電圧を出力する基準電源１１と、基準電圧を増幅する増幅器１２と、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）と並列に接続された第２のＭＯＳ ＦＥＴ（内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１）と、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）のゲート端子の電圧値を検出する電圧検出部２２と、増幅器１２からの出力を第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）のゲート端子または第２のＭＯＳ ＦＥＴ（内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１）のゲート端子のいずれかに接続する切替部２３と、を有し、電圧検出部２２により検出した起動時の電圧値に基づき、切替部２３を制御する。また、電圧検出部２２により検出した電圧値を保持（記録）するレジスタ２４を備えている。
　また、本実施例では、第１のＭＯＳ ＦＥＴはＮ型ＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）であり、切替部２３は、電圧検出部２２により検出した起動時の電圧値が０Ｖである場合、増幅器１２からの出力を第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）のゲート端子に接続し、第１の電圧（Ｖ１）である場合、増幅器１２からの出力を第２のＭＯＳ ＦＥＴ（内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１）のゲート端子に接続する。
　図２は、本実施例の動作（作用）を示すタイミングチャートである。起動信号の立上りから第１電源回路１３が起動し、出力電圧Ｖ１が立上る。Ｖ１電圧の立上りの完了後に、電圧検出部２２の検出期間が開始され、端子３２電圧の接続が判定される。電圧検出部２２は、第１電源回路１３の起動後から所定の時間で第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）のゲート端子の電圧値を検出する。
　この検出期間の端子３２の電圧は、図１Ａの第１電源１３出力に接続の場合は、Ｖ１電圧となり、図１Ｂの外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７接続の場合は０Ｖとなる。電圧検出部２２は、検出期間中に端子３２電圧がＶ１電圧か０Ｖかを判定する。電圧検出部２２は、誤った検出を避けるため検出のフィルタ時間を持ち、端子３２の電圧がＶ１電圧か０Ｖかを一定時間一定の電圧となっているときに検出を完了する。端子３２の電圧検出が完了（確定）すると、検出結果に応じて切替部２３で図１Ａの場合は内臓ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１が接続され、図１Ｂの場合は外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７が接続され、第２電源回路２０Ａまたは２０Ｂが起動開始（出力開始）し所望のＶ２電圧が出力される。
　電圧検出部２２の検出結果は検出部でラッチ（保持）されるため、検出期間後は切替部２３の接続は変わらず、ノイズ等の影響による誤った接続となったりしないため安定した電源出力を維持できる。
　また、端子３２の電圧の検出結果は、レジスタ２４に保持され、端子３４を介してシリアル通信などによりマイコン４０に検出結果を送信できる。これにより、マイコン４０から端子３２の検出結果を参照することが出来、電圧検出部２２が正しく判定し、正常なＦＥＴ接続となっているかを確認することが可能となる。
　さらにマイコン４０から、端子３４を介してシリアル通信でレジスタ２４の検出結果を書き換えることも可能である。レジスタ２４の値が書き換えられると、電圧検出部２２の結果も同じく書き換えられ、それに伴い切替部２３の接続を変更することが可能である。
つまり、レジスタ２４は、マイコン４０との通信により書き換え可能であり、レジスタ２４に保持（記録）された情報に基づき、切替部２３を制御することができる。
　これにより、図１Ｂの電源装置で、例えばノイズ等の外乱の影響を受けて電圧検出部２２が端子３２の電圧検出を誤り、内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１が接続されＶ２電圧が出力された場合でも、マイコン起動後のレジスタ２４の書換えにより、正常接続の外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７へ接続を変更することが可能となる。
　以上のように、本実施例の電源装置（電源ASIC）では、集積回路１０の端子３２が、第１電源回路１３の出力Ｖ１に接続されているか、外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７に接続されているかを電源起動時に電源検出部２２で検出して、出力のＦＥＴを切替えることが出来る。これにより、切替えの為の追加のピンを必要とせず、同一仕様の集積回路１０を用いて、低電流から大電流までの幅広い負荷に対応可能な低コストな電源装置（電源ASIC）とそれを搭載する電子制御装置を提供することができる。
　図３Ａから図４を用いて、本発明の実施例２について説明する。図３Ａおよび図３Ｂは本実施例の電源装置（電源ASIC）の回路構成図を示しており、図４は本実施例の動作（作用）を示すタイミングチャートである。
　図３Ａは、図１Ａの回路構成に第２電源回路２０Ａの出力電圧Ｖ２の電圧が正常に出力されたかどうかを判定する出力判定部２５が追加されている。この出力判定部２５は、第２電源回路２０Ａの出力電圧Ｖ２が起動時に正常出力するかどうかを判定する。出力電圧Ｖ２が一定時間以内に所望（所定）の電圧とならない場合は、切替部２３の接続を反転させる。
　例えば、図３Ａの回路で、端子３２がオープン故障となった場合、図４に示すように端子３２の電圧は０Ｖ一定となることがある。この場合は、電圧検出部２２の検出で外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７接続が判定され、外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７が選択されるが、実際には外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７は接続されていないため、Ｖ２電圧は出力されない。ここで、出力判定部２５によりＶ２電圧が正常出力されないことを判定（確定）し、ＮＧ判定信号を出力して切替部２３の接続を反転し、内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１に接続し再起動する。これにより、端子３２のオープン故障時も正常にＶ２電圧を生成することが可能となる。
　また、外来ノイズなど特殊な要因により、電圧検出部２２が所望の検出とならず、切替部２３が誤った接続となりＶ２が正常に出力されない場合でも、出力判定部２５の判定動作により切替部２３の接続が正常接続に切り替わることでＶ２電圧が出力される。
　同様に、図３Ｂにおいても、例えば、一部の部品の故障や、電圧検出部２２の誤検出などで誤った切替接続が選択され、Ｖ２電圧が出力されない場合でも、出力判定部２５の判定動作により切替部２３を反転させ、Ｖ２電圧が正常出力する機会を作ることが可能となる。
　さらに、再起動後もＶ２電圧が正常出力しない場合は、さらに切替部２３の接続を反転させ再起動動作を繰り返すことで、基板上のショート故障など一時的な故障であれば、故障状態が回復した後に正常にＶ２電圧を出力することが可能である。
　以上のように、本実施例の電源装置（電源ASIC）では、Ｖ２電圧が起動時に正常出力するかどうかを判定する出力判定部２５を追加することで、端子オープンなどの故障や、外来ノイズなどの要因により、Ｖ２電圧が正常起動しない場合は、切替部２３を反転させて再起動させることで、Ｖ２電圧を正常出力することが可能となる。
　図５Ａから図６を用いて、本発明の実施例３について説明する。図５Ａおよび図５Ｂは本実施例の電源装置（電源ASIC）の回路構成図を示しており、図６は本実施例の動作（作用）を示すタイミングチャートである。本実施例は、ＦＥＴとしてＰＭＯＳ ＦＥＴを使用した場合の例である。
　図５Ａは、図３Ａの内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１を内蔵ＰＭＯＳ ＦＥＴ１９に変更したものであり、図５Ｂは、図３Ｂの内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１と外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７を内蔵ＰＭＯＳ ＦＥＴ１９と外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８に変更したものである。また、プルダウン抵抗１６をプルアップ抵抗３６に変更している。本実施例のように、外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８出力とする場合は、実施例１および２の外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７の場合とは、端子３２の検出電圧が異なる。プルアップ抵抗３６は、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８）のゲート端子とソース端子間に配置される。
　図５Ｂの接続（回路構成）の場合、端子３２はプルアップ抵抗３６を介して第１電源回路１３の出力Ｖ１に接続される。そのため第１電源回路１３の出力電圧Ｖ１の起動後は、図６に示すように端子３２電圧はＶ１電圧となる。電圧検出部２２は端子３２がＶ１電圧となっている場合は、切替部２３により外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８を接続する。接続完了後に、第２電源回路２０Ｂが起動し、所望のＶ２電圧が出力される。
　一方、図５Ａでは、端子３２をＧＮＤに接続することで、図５Ｂとは逆に０Ｖ一定の電圧となる。電圧検出部２２は、検出期間に端子３２電圧の０Ｖを検出し、内蔵ＰＭＯＳ ＦＥＴ１９が接続され、所望のＶ２電圧が出力される。
　つまり、本実施例では、第１のＭＯＳ ＦＥＴはＰ型ＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８）であり、切替部２３は、電圧検出部２２により検出した起動時の電圧値が第１の電圧（Ｖ１）である場合、増幅器１２からの出力を第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８）のゲート端子に接続し、０Ｖである場合、増幅器１２からの出力を第２のＭＯＳ ＦＥＴ（内蔵ＰＭＯＳ ＦＥＴ１９）のゲート端子に接続する。
　このように、外付けＦＥＴにＰＭＯＳを使用する場合は、端子３２の電圧が反対となるため専用の集積回路１０が必要となる。なお、内蔵のＦＥＴに関しては、増幅器１２を含めた第２電源回路の構成により、必ずしもＮＭＯＳとＰＭＯＳの区別をする必要はない。
　このように、外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８を用いて、内臓ＦＥＴと切替る場合でも、実施例１や実施例２と同様に、端子３２の電圧検出により出力のＦＥＴを切替えることが出来る。これにより、切替えの為の追加のピンを必要とせず、同一仕様の集積回路１０を用いて、低電流から大電流までの幅広い負荷に対応可能な低コストな電源装置（電源ASIC）とそれを搭載する電子制御装置を提供することができる。
　図７を用いて、本発明の実施例４について説明する。図７は同一の回路基板を使用して基板上に配置された構成部品の実装・非実装（配線接続・非接続）の選択により実施例１で示した図１Ａと図１Ｂの回路を実現する回路構成例である。
　図７の外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７、プルダウン抵抗１６を非実装（非接続）とし、０Ω抵抗３５を実装（配線接続）することで、図１Ａの回路構成と同等の構成となる。また、逆に０Ω抵抗３５を非実装（非接続）とし、外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７、プルダウン抵抗１６を実装（配線接続）することで図１Ｂの回路構成と同等の構成が実現できる。
　つまり、本実施例の電源装置（電子制御装置）は、第１電源回路１３、第２電源回路２０Ｂ、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）が同一の回路基板上に配置され、第１電源回路１３と第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）のゲート端子間に０Ω抵抗３５が配置され、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ１７）、プルダウン抵抗１６、０Ω抵抗３５の各素子の配線接続の選択により第２電源回路２０Ｂの回路構成を決定する。
　このように、図７の回路構成（回路基板構成）で少数部品の実装・非実装（配線接続・非接続）を変えることで端子３２の接続を変え、同一基板を使用して外付けＦＥＴ駆動、内蔵ＦＥＴ駆動の第２電源回路を実現することができる。これにより複数の用途に同一の基板パターン（回路基板）を使用でき、低コストの電源装置を実現することができる。
　図８を用いて、本発明の実施例５について説明する。本実施例は、外付けＦＥＴにＰＭＯＳを用いた例であり、実施例４（図７）の変形例に相当する。
　実施例４（図７）と同様に、外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８、プルアップ抵抗３６、０Ω抵抗３７の実装・非実装（配線接続・非接続）の選択により、同一の回路基板を使用して外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８駆動と内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ２１を切替えることが出来る。
　外付けＦＥＴ駆動の場合は、外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８、プルアップ抵抗３６を実装（配線接続）し、０Ω抵抗３７を非実装（非接続）とする。また内蔵ＦＥＴ駆動の場合は、逆に外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８、プルアップ抵抗３６を非実装（非接続）とし、０Ω抵抗３７を実装（配線接続）する。
　つまり、本実施例の電源装置（電子制御装置）は、第１電源回路１３、第２電源回路２０Ｂ、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８）は同一の回路基板上に配置され、第１電源回路１３と第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８）のゲート端子間にプルアップ抵抗３６が配置され、かつ、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８）のゲート端子は０Ω抵抗３７を介してＧＮＤに接続され、第１のＭＯＳ ＦＥＴ（外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ１８）、プルアップ抵抗３６、０Ω抵抗３７の各素子の配線接続の選択により第２電源回路２０Ｂの回路構成を決定する。
　これにより、実施例４と同様に同一の基板パターン（回路基板）を使用して外付けＦＥＴ駆動、内蔵ＦＥＴ駆動の第２電源回路を実現することができ、低コストの電源装置を実現することができる。
　なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。
例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
　１０…集積回路
　１１…基準電圧（基準電源）
　１２…増幅器
　１３…第１電源（回路）
　１４，１５…帰還抵抗（負帰還抵抗）
　１６…プルダウン抵抗
　１７…外付けＦＥＴ（外付けＮＭＯＳ ＦＥＴ）
　１８…外付けＦＥＴ（外付けＰＭＯＳ ＦＥＴ）
　１９…内臓ＦＥＴ（内蔵ＰＭＯＳ ＦＥＴ）
　２０Ａ，２０Ｂ…第２電源回路
　２１…内蔵ＦＥＴ（内蔵ＮＭＯＳ ＦＥＴ）
　２２…電圧検出部
　２３…切替部
　２４…レジスタ
　２５…出力判定部
　３１，３２，３３，３４…端子
　３５，３７…０Ω抵抗
　３６…プルアップ抵抗
　４０…マイコン

Claims (14)

  1. 　第１の電圧を出力する第１電源回路と、
    　前記第１の電圧から第２の電圧を生成する第２電源回路と、
    　前記第１電源回路および前記第２電源回路とは独立して配置された第１のＭＯＳ ＦＥＴと、を備え、
    　前記第２電源回路は、基準電圧を出力する基準電源と、
    　前記基準電圧を増幅する増幅器と、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴと並列に接続された第２のＭＯＳ ＦＥＴと、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子の電圧値を検出する電圧検出部と、
    　前記増幅器からの出力を前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子または前記第２のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子のいずれかに接続する切替部と、を有し、
    　前記電圧検出部により検出した起動時の電圧値に基づき、前記切替部を制御する電子制御装置。
  2. 　請求項１に記載の電子制御装置であって、
    　前記電圧検出部により検出した電圧値を記録するレジスタを備える電子制御装置。
  3. 　請求項２に記載の電子制御装置であって、
    　前記第２の電圧が入力されるマイコンを備え、
    　前記レジスタと前記マイコンは、シリアル通信で接続される電子制御装置。
  4. 　請求項３に記載の電子制御装置であって、
    　前記レジスタは、前記マイコンとの通信により書き換え可能であり、
    　前記レジスタに記録された情報に基づき、前記切替部を制御する電子制御装置。
  5. 　請求項１に記載の電子制御装置であって、
    　前記第２の電圧を判定する出力判定部を備え、
    　前記出力判定部は、前記第２の電圧が一定時間以内に所定の電圧とならない場合、前記切替部の接続を反転させる電子制御装置。
  6. 　請求項５に記載の電子制御装置であって、
    　前記出力判定部は、前記第２の電圧が所定の電圧とならない場合、所定の電圧になるまで前記切替部の接続を繰り返し反転させる電子制御装置。
  7. 　請求項１に記載の電子制御装置であって、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴはＮ型ＭＯＳ ＦＥＴであり、
    　前記切替部は、前記電圧検出部により検出した起動時の電圧値が０Ｖである場合、前記増幅器からの出力を前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子に接続し、
    　前記第１の電圧である場合、前記増幅器からの出力を前記第２のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子に接続する電子制御装置。
  8. 　請求項１に記載の電子制御装置であって、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴはＰ型ＭＯＳ ＦＥＴであり、
    　前記切替部は、前記電圧検出部により検出した起動時の電圧値が前記第１の電圧である場合、前記増幅器からの出力を前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子に接続し、
    　０Ｖである場合、前記増幅器からの出力を前記第２のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子に接続する電子制御装置。
  9. 　請求項１に記載の電子制御装置であって、
    　前記電圧検出部は、前記第１電源回路の起動後から所定の時間で前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子の電圧値を検出する電子制御装置。
  10. 　請求項１に記載の電子制御装置であって、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴはＮ型ＭＯＳ ＦＥＴであり、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子とソース端子間にプルダウン抵抗が配置される電子制御装置。
  11. 　請求項１に記載の電子制御装置であって、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴはＰ型ＭＯＳ ＦＥＴであり、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子とドレイン端子間にプルアップ抵抗が配置される電子制御装置。
  12. 　請求項１に記載の電子制御装置であって、
    　前記切替部は、前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子に接続され、
    　さらに抵抗を介してＧＮＤに接続される電子制御装置。
  13. 　請求項１０に記載の電子制御装置であって、
    　前記第１電源回路、前記第２電源回路、前記第１のＭＯＳ ＦＥＴは同一の回路基板上に配置され、
    　前記第１電源回路と前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子間に０Ω抵抗が配置され、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴ、前記プルダウン抵抗、前記０Ω抵抗の各素子の配線接続の選択により前記第２電源回路の回路構成を決定する電子制御装置。
  14. 　請求項１１に記載の電子制御装置であって、
    　前記第１電源回路、前記第２電源回路、前記第１のＭＯＳ ＦＥＴは同一の回路基板上に配置され、
    　前記第１電源回路と前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子間にプルアップ抵抗が配置され、かつ、前記第１のＭＯＳ ＦＥＴのゲート端子は０Ω抵抗を介してＧＮＤに接続され、
    　前記第１のＭＯＳ ＦＥＴ、前記プルアップ抵抗、前記０Ω抵抗の各素子の配線接続の選択により前記第２電源回路の回路構成を決定する電子制御装置。
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